JPH0349391B2 - - Google Patents

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JPH0349391B2
JPH0349391B2 JP59094229A JP9422984A JPH0349391B2 JP H0349391 B2 JPH0349391 B2 JP H0349391B2 JP 59094229 A JP59094229 A JP 59094229A JP 9422984 A JP9422984 A JP 9422984A JP H0349391 B2 JPH0349391 B2 JP H0349391B2
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JP
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circuit
connection
switching
setting
check
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Yasubumi Goto
Hideaki Takashima
Takehiko Tanaka
Hironobu Okano
Kazuo Sasaki
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は例えば自動車並びに電気機器等に使用
されるワイヤハーネスの導通試験装置に関するも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a continuity testing device for wire harnesses used, for example, in automobiles and electrical equipment.

(従来の技術) 各種機器間を接続する接続線回路、例えば自動
車に搭載されたヘツドライト、テールライト、そ
の他の電子装置などの機器と電源との接続、或い
は機器間の接続に当つては、第1図のように各種
機器の設置位置に対応して配線された所謂ワイヤ
ハーネス1を作つておき、これを流れ作業で送ら
れてくる車体2の所定位置に固定したのち、その
入出力端をコネクタ3などによつて接続すること
が行われている。ところでワイヤハーネスにおい
ては、運転の信頼性の確保のために各接続線4が
誤りなく上記機器等との接続に供するコネクタに
対し、正規に接続されることが重要である。
(Prior Art) Connection line circuits that connect various devices, for example, connections between devices such as headlights, tail lights, and other electronic devices installed in automobiles and power supplies, or connections between devices, As shown in Figure 1, a so-called wire harness 1 is made that is wired in accordance with the installation positions of various devices, and after fixing this to a predetermined position on the vehicle body 2 that is sent in the assembly line, the input and output ends are connected. Connection is performed using a connector 3 or the like. By the way, in the wire harness, in order to ensure operational reliability, it is important that each connection line 4 is properly connected to the connector used for connection with the above-mentioned equipment, etc., without error.

しかし接続線4の数は例えば自動車等における
高機能化により益々大となる傾向にある。このた
め例えば第2図aに示すようにコネクタのコンタ
クトの1〜1と、3〜3が接続線41
3によつて単線接続され、2〜2間が空線
であるのが正規の接続状態であるにもかゝわら
ず、第2図bに示すように3〜3間が空線と
なるような誤接続の状態を生ずるのを、稀であつ
ても避けることができない。
However, the number of connection lines 4 tends to become larger and larger due to the increasing functionality of automobiles and the like. For this reason, for example, as shown in FIG .
Although the normal connection state is that a single line is connected by 4 3 and there is an empty line between 2 and 2, there is an empty line between 3 and 3 as shown in Figure 2 b. Even if it is rare, such misconnection cannot be avoided.

そこで一般には接続の誤りを自動的かつ迅速確
実に発見して手直しができるようにするため、第
3図に示すような導通試験装置所謂ワイヤハーネ
スチエツカが用いられている。この装置は、 コネクタ群5、即ち試験台6上に置かれ、か
つ試験台6に設けたコネクタ3の接続されたワ
イヤハーネス1の入力端がコンタクト、出力
端がコンタクトに試験用中継線6を用いて接
続されるコネクタ51,52…5oからなるコネ
クタ群5、 処理回路であるマイクロコンピユータ7(以
下マイコンと称す)、例えばコネクタのコンタ
クト番号に対応したアドレス指定用キーボード
8の例えば〔1〕を押したのち、単線接続キー
9を押すことにより、アドレスを指定して接続
状態を“1”、キーボード8の例えば〔2〕を
押したのち空線キー10を押すことによりアド
レスを指定して、前記第2図aに示す正規の接
続状態が設定される書込み読出し用のメモリ回
路11(RAM)と、後記するチエツク用切換
回路群15の切換指令送出、メモリ11の設定
内容とチエツク用切換回路群15の出力との照
合動作のためのプログラムステツプアツプを行
わせる動作管理用プログラムが、前記アドレス
指定用キーボード8により設定される読出し専
用のメモリ回路12とを備える。そして起動キ
ー13により動作を開始し、照合により異常が
発生したとき動作を一旦停止し、復帰キー14
が押されたとき、最初から再び動作を開始する
マイコン7、 チエツク用切換回路群15、例えば第4図に
示すように、コネクタ群5の側コンタクトを
電源Eの負極性に接続するスイツチングトラン
ジスタTr1と、側コンタクトをスイツチング
トランジスタTr2を介して電源Eの正極性側に
接続すると同時に、側コンタクトに現われる
電位を“1”“0”の信号として検出するレベ
ル検出器Lとからそれぞれなるチエツク用切換
回路151,152…15oを備える。そして上
記スイツチングトランジスタTr1Tr2が、マイ
コン7からの切換信号により1〜1、2
〜2コンタクトの順序で順次オンされて、各
接続線に電流を流すようにし、これにより第2
図bのように1〜1コンタクト間が単線接
続のときレベル検出器Lから“1”、2〜
2、3〜3のように空線のときには“0”
の信号を送出するチエツク用切換回路群15、 表示回路16例えばマイコン7からの指令に
より、チエツク用切換回路群15の切換えと同
期して歩進して、順次およびコンタクトの
番号を表示し、例えば第2図aのように3〜
3間が単線接続状態であるのが正規の接続状
態にあるにもかゝわらず、第2図bのように空
線であつてチエツク用切換回路153の出力が
“0”のとき、照合動作により停止するマイコ
ン7からの指令の送出停止により歩進を停止し
て、異常が発生したコンタクト番号を表示する
と同時に、異常音を発生する表示回路16、 などから形成され、以上要するに第5図に示すフ
ロー図の如き、一連の判定動作を行つてワイヤハ
ーネスの導通チエツクを行うものである。
Therefore, in order to automatically, quickly and reliably detect connection errors and make repairs, a continuity test device, so-called wire harness checker, as shown in FIG. 3 is generally used. This device has a connector group 5, that is, a test relay wire 6 placed on a test stand 6, with the input end of the wire harness 1 connected to the connector 3 provided on the test stand 6 being a contact, and the output end being a contact. A connector group 5 consisting of connectors 5 1 , 5 2 . 1], then press the single line connection key 9 to specify the address and set the connection status to "1". For example, press [2] on the keyboard 8 and then press the blank line key 10 to specify the address. Then, a switching command is sent to the write/read memory circuit 11 (RAM) in which the normal connection state shown in FIG. An operation management program that performs program step-up for comparison with the output of the switching circuit group 15 is provided with a read-only memory circuit 12 that is set by the addressing keyboard 8. Then, the operation is started by pressing the start key 13, and when an abnormality occurs through verification, the operation is temporarily stopped, and the return key 14 is pressed.
When pressed, the microcomputer 7 restarts operation from the beginning, the check switching circuit group 15, for example, as shown in FIG. 4, a switching transistor connects the side contact of the connector group 5 to the negative polarity of the power source E. T r1 and a level detector L which connects the side contact to the positive polarity side of the power supply E via the switching transistor T r2 and at the same time detects the potential appearing at the side contact as a "1" or "0" signal. It is provided with check switching circuits 15 1 , 15 2 . . . 15 o . Then, the switching transistor T r1 T r2 switches from 1 to 1, 2 according to the switching signal from the microcomputer 7.
~2 contacts are turned on sequentially in order to allow current to flow through each connection line, thereby causing the second
As shown in Figure b, when there is a single wire connection between contacts 1 and 1, "1" is output from the level detector L, and 2-
“0” for empty lines like 2, 3-3
The check switching circuit group 15 and the display circuit 16, for example, step by step in synchronization with the switching of the check switching circuit group 15 in response to a command from the microcomputer 7, and display the contact number in sequence, for example. 3~ as shown in Figure 2 a
Although the single-wire connection between 3 and 3 is a normal connection state, when the wire is blank as shown in FIG. 2b and the output of the check switching circuit 153 is "0", The display circuit 16 is formed of a display circuit 16 which stops the forwarding by stopping the transmission of commands from the microcomputer 7 that stops due to the checking operation, displays the contact number where the abnormality has occurred, and at the same time generates an abnormal sound. As shown in the flowchart shown in the figure, continuity of the wire harness is checked by performing a series of determination operations.

なお正規接続モード設定用メモリ回路の設定内
容と、チエツク用切換回路の出力との照合を以上
述べたようにプログラム(ソフト)により行うの
ではなく、ハード回路により行う導通試験装置も
用いられている。
Continuity test equipment is also used that uses a hardware circuit to check the settings of the memory circuit for setting the normal connection mode and the output of the check switching circuit instead of using a program (software) as described above. .

(従来技術の問題点) しかし以上のように照合処理がソフトまたはハ
ードにより行われるものか否かを問わず、従来の
装置のチエツク用切換回路では第4図によつて前
記したように、被試験接続線回路に一方向にしか
電流を流し得ない。従つて例えば第2図aのよう
に接続線44に電流の流通阻止機能をもつ素子、
例えばダイオードD1が電流の流通方向に対して
順方向に接続されている場合には、導通のチエツ
クを行いうるが、接続線45に接続されているダ
イオードD2が逆方向の場合には、電流を流し得
ない。従つて従来の試験器ではダイオードの入つ
たワイヤハーネスの導通チエツクを行うことがで
きない。
(Problems with the Prior Art) However, regardless of whether the collation process is performed by software or hardware, the check switching circuit of the conventional device has problems with the check as described above with reference to FIG. Current can only flow in one direction through the test connection circuit. Therefore, for example, as shown in FIG .
For example, if the diode D1 is connected in the forward direction with respect to the current flow direction, continuity can be checked, but if the diode D2 connected to the connection line 45 is in the opposite direction, then , current cannot flow. Therefore, conventional testers cannot perform continuity checks on wire harnesses containing diodes.

本発明は上記のような場合にも導通チエツクを
行いうる導通試験装置を提供し、チエツク機能の
拡大を図つたものである。
The present invention provides a continuity test device that can perform a continuity check even in the above-mentioned cases, and is intended to expand the checking function.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(問題点を解決するための構成作用) 本発明の特徴とするところは、チエツク用切換
回路を、切換えスイツチの切換えにより被試験接
続線回路に順逆両方向の電流を流しうるように構
成すると同時に、上記スイツチ回路を動作管理プ
ログラム設定用メモリ回路に設定された命令語に
より送出される信号によりダイオードの接続極性
に応じて切換えが行われるようにして、電流の流
通阻止作用をもつ素子が接続されても、チエツク
を行いうるようにしたものである。
(Construction and Action for Solving the Problems) The present invention is characterized in that the check switching circuit is configured to allow current to flow in both forward and reverse directions through the connection line circuit under test by switching the changeover switch. The above-mentioned switch circuit is switched in accordance with the connection polarity of the diode by a signal sent by a command word set in the memory circuit for setting the operation management program, and an element having a current flow blocking effect is connected. It is also possible to check.

(実施例) 第6図は本発明の一実施例を示す要部回路図で
あつて、図中43,44,45,46…は接続線、
D1,D2はダイオード174,175…は本発明の
要部であるチエツク用切換回路であつて、それぞ
れは次の各部から形成されて本発明のチエツク用
切換回路群17を形成する。S11,S12は被試験接
続線回路にコネクタのコンタクトからコンタ
クト方向に電流を流すためのスイツチングトラン
ジスタ、S21,S22は被試験接続線回路にコネクタ
のコンタクトからコンタクト方向即ち逆方向
に電流を流すためのスイツチングトランジスタ、
E1およびE2は電源、L1,L2はレベル検出器であ
る。7はマイコン、11は正規接続モード設定用
メモリ回路、12は動作管理プログラム設定用メ
モリ回路、8はアドレス指定用キーボード、9は
単線接続キー、10は空線接続キー、18,19
は本発明のために設けられたダイオードの接続方
向指定キーであつて、このうち18は順方向指定
キー、19は逆方向指定キーであつて、例えば第
2図aのようにダイオードD1,D2が接続されて
いた場合、次の要領により正規接続モード設定用
メモリ回路11への書込みを行い、動作管理プロ
グラム設定用メモリ回路12に組込まれたチエツ
ク用切換回路群17のダイオード挿入回路の切換
命令語にもとづき次のように動作する。
(Embodiment) FIG. 6 is a circuit diagram of a main part showing an embodiment of the present invention, in which 4 3 , 4 4 , 4 5 , 4 6 . . . are connection lines;
D 1 , D 2 are diodes 17 4 , 17 5 . . . are check switching circuits which are essential parts of the present invention, and each is formed from the following parts to form the check switching circuit group 17 of the present invention. . S 11 and S 12 are switching transistors for flowing current from the connector contact to the contact direction to the connection line circuit under test, and S 21 and S 22 are switching transistors for flowing current from the connector contact to the contact direction, that is, the opposite direction, to the connection line circuit under test. switching transistor for passing current,
E 1 and E 2 are power supplies, and L 1 and L 2 are level detectors. 7 is a microcomputer, 11 is a memory circuit for setting a regular connection mode, 12 is a memory circuit for setting an operation management program, 8 is a keyboard for specifying an address, 9 is a single wire connection key, 10 is a blank wire connection key, 18, 19
are diode connection direction designation keys provided for the present invention, of which 18 are forward direction designation keys and 19 are reverse direction designation keys. For example, as shown in FIG. 2A, diodes D 1 , If D 2 is connected, write to the memory circuit 11 for setting the normal connection mode as follows, and write the diode insertion circuit of the check switching circuit group 17 built into the memory circuit 12 for setting the operation management program. It operates as follows based on the switching command word.

即ち先づ図示しない書込みキーを操作したの
ち、アドレス指定用キーボード8の〔1〕を押
し、次に単線接続キー9、キーボード8の〔2〕、
空線接続キー10、キーボード8の〔3〕、単線
接続キー9、キーボード8の〔4〕、ダイオード
の順方向指定キー18、単線接続キー9、キーボ
ード8の〔5〕、ダイオードの逆方向指定キー、
単線接続キー9の順序で操作して、第7図のよう
に正規接続モードを設定する。そしてチエツクを
開始するときには、起動キー13を操作する。す
るとコンタクト番号4までは動作管理プログラ
ム設定用メモリ回路12にもとづくマイコン7か
らの指令により、切換命令信号P1がチエツク用
切換回路17のスイツチングトランジスタS11
S12のベースに与えられてこれをオンとする。そ
して4コンタクトが指定されると〔電源E1
正極性→スイツチS11→コンタクト→ダイオー
ドD1→側コンタクト→スイツチS12→電源の負
極性〕の回路が形成されて、コンタクトから
コンタクトの方向に接続線に電流を流す。そして
コンタクト番号の指定が5になると、マイコン
7からの切換命令信号P1に代えてP2がチエツク
用切換回路17のスイツチS21,S22に加えられて
これをオンとし、今度は〔電源E2の正極性→ス
イツチS21→側コンタクト→ダイオードD2
側コンタクト→スイツチS22→電源E2の負極性〕
の回路を形成して接続線45に電流を流す。そし
てコンタクト番号が〔6〕になると、再び切換命
令信号P2に代えてP1がチエツク用切換回路17
に加えられて、コンタクトからコンタクトの
方向に電流が流され、レベル検出器L1,L2はそ
のときどきのレベルを検出してマイコン7に加え
て、メモリ回路11に設定された正規接続モード
とチエツク用切換回路群17の出力とを照合す
る。同様にして逆方向より電流を流して電流が阻
止されることを検出できる。
That is, first, after operating a write key (not shown), press [1] on the address designation keyboard 8, then press the single line connection key 9, [2] on the keyboard 8,
Empty wire connection key 10, keyboard 8 [3], single wire connection key 9, keyboard 8 [4], diode forward direction designation key 18, single wire connection key 9, keyboard 8 [5], diode reverse direction designation Key,
By operating the single line connection keys 9 in the order shown, the normal connection mode is set as shown in FIG. When starting the check, the start key 13 is operated. Then, up to contact number 4, the switching command signal P1 is sent to the switching transistor S11 ,
Turn this on given to the base of S 12 . When 4 contacts are specified, a circuit is formed [positive polarity of power supply E 1 → switch S 11 → contact → diode D 1 → side contact → switch S 12 → negative polarity of power supply], and the direction from contact to contact is A current is passed through the connecting wire. When the contact number is designated as 5, instead of the switching command signal P 1 from the microcomputer 7, P 2 is applied to the switches S 21 and S 22 of the check switching circuit 17 to turn them on. Positive polarity of E 2 → switch S 21 → side contact → diode D 2
Side contact → switch S 22 → negative polarity of power supply E 2 ]
A circuit is formed and a current is passed through the connecting wire 4 5 . Then, when the contact number becomes [6], P1 is sent to the check switching circuit 17 again instead of the switching command signal P2 .
In addition to this, a current flows from contact to contact, and level detectors L 1 and L 2 detect the current level and inform the microcomputer 7 as well as the normal connection mode set in the memory circuit 11. The output of the check switching circuit group 17 is compared. Similarly, it is possible to detect that the current is blocked by flowing the current from the opposite direction.

(発明の効果) 以上のように本発明では電流の流通阻止作用を
有する素子、例えばダイオードが接続された場合
にも、予めダイオードの接続方向に対応してキー
により正規接続モード設定用メモリ回路に設定さ
れたダイオードの接続極性を指命する切換命令を
設定する簡単な操作により、従来と同様にチエツ
クを行うことができ、導通試験装置のチエツク機
能を拡大できる。
(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, even when an element having a current blocking effect, such as a diode, is connected, the memory circuit for setting the normal connection mode can be set in advance by using a key corresponding to the connection direction of the diode. A check can be performed in the same manner as before by simply setting a switching command to specify the connection polarity of the set diode, and the checking function of the continuity test device can be expanded.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はワイヤハーネスの説明図、第2図a,
bは接続状態の説明図、第3図は従来の導通試験
装置の説明図、第4図はチエツク用切換回路図、
第5図は処理フロー図、第6図は本発明の一実施
装置例図、第7図はメモリ回路への設定内容の説
明図である。 1……ワイヤハーネス、2……車体、3……コ
ネクタ、4……接続線、5……コネクタ群、51
2……コネクタ、6……試験台、7……マイク
ロコンピユータ、8……アドレス、指定用キーボ
ード、9……単線接続キー、10……空線接続キ
ー、11……正規接続モード設定用メモリ回路、
12……動作管理プログラム設定用メモリ回路、
13……起動キー、14……復帰キー、15……
チエツク用切換回路群、16……表示回路、17
……チエツク用切換回路群、171,172〜……
チエツク用切換回路、S11,S12,S21,S22……ス
イツチングトランジスタ、E1,E2……電源、L1
L2……レベル検出器、18……順方向指定キー、
19……逆方向指定キー。
Figure 1 is an explanatory diagram of the wire harness, Figure 2 a,
b is an explanatory diagram of the connection state, Fig. 3 is an explanatory diagram of a conventional continuity test device, Fig. 4 is a check switching circuit diagram,
FIG. 5 is a process flow diagram, FIG. 6 is a diagram of an example of an apparatus for implementing the present invention, and FIG. 7 is an explanatory diagram of settings to the memory circuit. 1... Wire harness, 2... Vehicle body, 3... Connector, 4... Connection wire, 5... Connector group, 5 1 ,
5 2 ... Connector, 6... Test stand, 7... Microcomputer, 8... Address, keyboard for designation, 9... Single wire connection key, 10... Blank wire connection key, 11... For setting regular connection mode. memory circuit,
12...Memory circuit for setting operation management program,
13...Start key, 14...Return key, 15...
Check switching circuit group, 16...Display circuit, 17
...Check switching circuit group, 17 1 , 17 2 ~...
Check switching circuit, S 11 , S 12 , S 21 , S 22 ... switching transistor, E 1 , E 2 ... power supply, L 1 ,
L 2 ...Level detector, 18...Forward direction designation key,
19...Reverse direction designation key.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 動作管理プログラム設定用メモリ回路と、被
試験接続線回路の正規接続モード設定用メモリ回
路とを備えた処理回路の出力信号により、順次切
換えられて被試験接続線回路に順次電流を流し、
その接続状態を示す信号を送出するチエツク用切
換回路の出力を処理回路の指令により前記正規接
続モード設定用メモリ回路の書込み内容と比較し
て、接続の異常を発見する導通試験装置において
前記チエツク用切換回路を、被試験接続線回路に
順逆両方向に電流を流しうるように構成したこと
を特徴とするワイヤハーネス試験装置。 2 前記チエツク用切換回路を第1、第2切換ス
イツチ群と、その切換えにより被試験接続線の1
端または他端に接続される第1、第2電源とによ
り形成すると共に、上記動作管理プログラム設定
用メモリ回路には、上記電流阻止素子の挿入極性
に対応して電流を流すように前記第1、第2切換
スイツチ群を切換える指令信号の送出機能をもた
せたことを特徴とする、特許請求の範囲第1項記
載のワイヤハーネス試験装置。
[Claims] 1. The output signal of a processing circuit including a memory circuit for setting an operation management program and a memory circuit for setting a normal connection mode of the connection line circuit under test is sequentially switched to the connection line circuit under test. Apply current sequentially,
The output of the check switching circuit that sends out a signal indicating the connection state is compared with the contents written in the normal connection mode setting memory circuit according to a command from the processing circuit in a continuity test device to detect connection abnormalities. A wire harness testing device characterized in that the switching circuit is configured to allow current to flow in both forward and reverse directions through the connection line circuit under test. 2. The check switching circuit is connected to the first and second switch groups, and by switching them, one of the connection lines under test is connected.
the first and second power supplies connected to one end and the other end, and the first and second power supplies are configured to flow in the memory circuit for setting the operation management program in accordance with the insertion polarity of the current blocking element. 2. The wire harness testing device according to claim 1, further comprising a function of transmitting a command signal for switching the second changeover switch group.
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