JPH03287002A - Movement detecting method for speckle pattern and position specifying device using same - Google Patents

Movement detecting method for speckle pattern and position specifying device using same

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JPH03287002A
JPH03287002A JP2087372A JP8737290A JPH03287002A JP H03287002 A JPH03287002 A JP H03287002A JP 2087372 A JP2087372 A JP 2087372A JP 8737290 A JP8737290 A JP 8737290A JP H03287002 A JPH03287002 A JP H03287002A
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Abstract

PURPOSE:To reduce the variance of movement information due to irregularity in the shape of a speckle by averaging the movement information on the speckle pattern at intervals of unit time. CONSTITUTION:When the rough surface of a moving body 1 is irradiated with a coherent electromagnetic wave Bm, the speckle pattern SP is formed with a scattered electromagnetic wave. This pattern is detected by an electromagnetic wave detector 2 and its detection signal is averaged by an averaging processing circuit at intervals of unit time. The variance of the movement information due to the irregularity in the shape of the speckle is reduced by this averaging processing and the moving direction M of the body 1 is detected with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、コヒーレントな電磁波の物体粗面に対する
散乱によって生ずるスペックルパターンの移動情報を検
出するスペックルパターンの移動検出方法及びこれを用
いた位置指定装置(計算機端末、ワークステーションあ
るいは)く−ソナルコンピュータ等において表示画面上
で位置指定を行ったり、各種制御対象に対する位置指定
を行う際に有用な位置指定装置)の改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a speckle pattern movement detection method for detecting movement information of a speckle pattern caused by scattering of coherent electromagnetic waves on a rough surface of an object, and a speckle pattern movement detection method using the same. The present invention relates to improvements in position specifying devices (position specifying devices useful for specifying positions on display screens in computer terminals, workstations, personal computers, etc., and for specifying positions for various controlled objects).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来における位置指定装置として計算機入力用のものを
例に挙げると、安価、操作性に優れる、位置指定精度が
高いという観点から、所謂マウスと称されるものが広く
使用されている。
As an example of a conventional position specifying device for computer input, a so-called mouse is widely used because it is inexpensive, easy to operate, and has high position specifying accuracy.

そして、今のところ主流になっている機械式マウスはあ
らゆる方向に回転可能なボールをノ)ウジングの一部か
ら突出配置したもので、このボールの回転方向及び回転
量によって移動方向及び移動量を検出し、もって、指定
すべき位置を特定するものである。
The current mainstream mechanical mouse has a ball that can be rotated in any direction protruding from a part of the housing, and the direction and amount of movement can be controlled by the direction and amount of rotation of this ball. This is to detect and specify the position to be specified.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、このような従来の機械式マウスにあって
は、機械的なボ4−ルの接触回転を利用するため、耐久
性の点で難があり、また、位置精度の向上にも限度があ
る。
However, since such conventional mechanical mice utilize contact rotation of a mechanical ball, there are problems in terms of durability, and there is also a limit to the improvement in positional accuracy. .

このような機械的マウスの欠点を解消するものとしては
、非接触で移動情報を光学的に検出する光学式マウスが
既に提供されている。
An optical mouse that optically detects movement information in a non-contact manner has already been provided as a solution to the drawbacks of mechanical mice.

この種の光学マウスは、例えば特開昭57−10792
9号、同57−207930号公報に示されるように、
光源とフォトディテクタとが格納された本体部を備え、
規則正しい格子パターンが刻印された専用下敷きの上で
上記本体部を移動させ、移動の際に横切る専用下敷きの
上の格子の数をカウントすることにより移動の情報を検
出するようになっている。
This type of optical mouse is known, for example, from Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-10792.
No. 9, as shown in Publication No. 57-207930,
It includes a main body in which a light source and a photodetector are housed,
Movement information is detected by moving the main body on a special underlay engraved with a regular grid pattern and counting the number of grids on the special underlay that it crosses during movement.

ところが、この種の光学式マウスにあっては、専用下敷
きが必須であるため、使用上の自由度が制限されてしま
うばかりか、専用下敷きが汚れたり、損傷すると使用で
きなくなるため、耐久性の点でも充分ではなく、更に、
移動検出情報の分解能は専用下敷きに刻印された格子の
細かさで決まるため、コストをかけずに移動情報検出の
分解能を上げることは容易ではない。
However, this type of optical mouse requires a special underlay, which not only limits the freedom of use, but also makes it unusable if the underlay gets dirty or damaged, which reduces its durability. Even points are not enough, and furthermore,
Since the resolution of movement detection information is determined by the fineness of the grid engraved on the dedicated underlay, it is not easy to increase the resolution of movement information detection without increasing cost.

このような光学式マウスの欠点を解消するものとして、
本願発明者はスペックルパターンの移動情報を利用した
もの(特開昭63−116878号)を既に提供してい
るが、若干位置指定精度が落ちるという課題が見出され
た。
As a solution to these drawbacks of optical mice,
The inventor of the present application has already provided a method using movement information of speckle patterns (Japanese Patent Laid-Open No. 116878/1983), but it was found that there was a problem that the position specification accuracy was slightly degraded.

尚、このような課題は、上述したマウスばかりでなく、
ロボット等の位置指定装置においても同様に生ずるもの
であり、また、スペックルパターンの移動情報の検出を
利用した各種装置(移動検出装置、速度検出装置等)に
おいても、移動量や移動速度の検出精度がばらついてし
まうという課題が生じ得る。
Note that this problem is not limited to the mouse mentioned above.
The same problem occurs in position specifying devices such as robots, and also in various devices (movement detection devices, speed detection devices, etc.) that use detection of movement information from speckle patterns, detection of movement amount and movement speed. A problem may arise in that accuracy varies.

本願発明者は、上述した課題がスペックルの形状の不規
則さに起因するものであると想定し、スペックルパター
ンの移動検出方法を工夫すると共に、このスペックルパ
ターンの移動検出方法を利用した位置指定装置(本願発
明)を案出するに至ったのである。
The inventor of the present application assumed that the above-mentioned problem was caused by the irregularity of the shape of speckles, and devised a method for detecting movement of speckle patterns, and also utilized this method for detecting movement of speckle patterns. This led to the devising of a position specifying device (the present invention).

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

すなわち、この発明は、第1図(a)に示すように、コ
ヒーレントな電磁波B111の物体粗面lに対する散乱
によって生ずるスペックルパターンの移動情報Mを検出
するに際し、上記スペックルパターンSPの時間変動を
電磁波検出器2にて検出した後に、上記電磁波検出器2
の検出信号を単位時間毎に平均化するようにしたもので
ある。
That is, as shown in FIG. 1(a), the present invention detects movement information M of a speckle pattern caused by scattering of a coherent electromagnetic wave B111 against a rough surface l of an object. is detected by the electromagnetic wave detector 2, and then the electromagnetic wave detector 2
The detection signals are averaged every unit time.

このような方法発明において、この方法発明を適用でき
る対象としては、後述する位置指定装置のほかに、自走
台車等の位置制御を行う上で必要になる移動量検出装置
、速度センサ等の速度検出装置等が挙げられる。
In such a method invention, in addition to the position specifying device described later, the method invention can be applied to the speed of a movement amount detection device, speed sensor, etc. that is necessary for controlling the position of a self-propelled cart, etc. Examples include a detection device.

また、スペックルパターンSPとしては、第1図(a)
に示すように、物体粗面1の散乱によって生ずる結像系
なしの所謂回折界のスペックルによるものでもよいし、
物体粗面lの散乱光を結像レンズにて所定部位に結像さ
せる所謂像界のスペックルによるものであってもよい。
In addition, the speckle pattern SP is shown in Fig. 1(a).
As shown in , it may be caused by so-called diffraction field speckles without an imaging system, which is caused by scattering of the object's rough surface 1, or
It may also be caused by so-called speckle in the image field, in which scattered light from the rough surface l of the object is imaged onto a predetermined portion by an imaging lens.

更に、上記電磁波検出器2としては、上記スペックルパ
ターンSPの移動情報M(移動量のほかに、移動速度、
移動加速度を含む)を検出し得るものであれば適宜選択
して差し支えなく、また、電磁波検出器2からの検出信
号の平均化処理についても、パルス信号を適宜分周する
等適宜設計変更することができる。
Furthermore, the electromagnetic wave detector 2 collects movement information M of the speckle pattern SP (in addition to movement amount, movement speed,
(including moving acceleration) may be selected as appropriate, and the design may be changed as appropriate for the averaging process of the detection signal from the electromagnetic wave detector 2, such as dividing the pulse signal as appropriate. I can do it.

更にまた、上記電磁波検出器2については、リアルタイ
ム処理が容易で、しかも、スペックルパターンSPの移
動方向の正負を含めた移動情報Mを正確に判別するとい
う観点からすれば、第1図(b)に示すように、移動情
報Mを検出する上で必要な方向成分一次元当たり少なく
とも一組の電磁波検出素子2 a、 2 bを並設し、
第1図(c)に示すように、一組の電磁波検出素子2 
a、 2 bからの出力信号の位相差τを検出するよう
に構成することが好ましい。
Furthermore, regarding the electromagnetic wave detector 2, from the viewpoint of easy real-time processing and accurate determination of the movement information M including the positive/negative of the movement direction of the speckle pattern SP, the electromagnetic wave detector 2 shown in FIG. ), at least one set of electromagnetic wave detection elements 2 a and 2 b are arranged in parallel for each dimension of the direction component necessary for detecting the movement information M,
As shown in FIG. 1(c), a set of electromagnetic wave detection elements 2
Preferably, the configuration is such that the phase difference τ between the output signals from a and 2 b is detected.

この場合において、−次元的な移動情報Mを検出する際
には、一つの方向成分に対して一組の電磁波検出素子2
 a、 2 bを並設すればよいが、例えば組をなす電
磁波検出素子2 a、 2 b相互を結ぶ直線が互いに
直交するように二組若しくは三組の電磁波検出素子2 
a、 2 bを用いるようにすれば、二次元的若しくは
三次元的な移動情報を検出することが可能になる。
In this case, when detecting -dimensional movement information M, one set of electromagnetic wave detection elements 2 is used for one direction component.
For example, two or three sets of electromagnetic wave detecting elements 2 may be arranged so that the straight lines connecting the electromagnetic wave detecting elements 2 a and 2 b are orthogonal to each other.
By using a and 2 b, it becomes possible to detect two-dimensional or three-dimensional movement information.

そして更に、上記一組の電磁波検出素子2a。Furthermore, the set of electromagnetic wave detection elements 2a.

2bからなる電磁波検出器2からの出力信号を処理する
処理系としては適宜選定して差し支えないが、求められ
た位相差τに対してスペックルパターンSPの不規則さ
に起因する誤差の影響をより少なくするという観点から
すれば、一次元当たり複数組の電磁波検出素子2a、2
b(アレイ状に組み込んだもの等)を用いて各組の電磁
波検出素子から得られる各位相差τの平均をとったり、
一組の電磁波検出素子2 a、 2 bから得られる位
相差τの時間平均をとったり、両者を併用するような構
成を採用することが好ましい。
Although the processing system for processing the output signal from the electromagnetic wave detector 2 consisting of the electromagnetic wave detector 2b may be selected as appropriate, it is important to consider the influence of errors due to the irregularity of the speckle pattern SP on the obtained phase difference τ. From the viewpoint of reducing the number of electromagnetic wave detection elements 2a, 2 per dimension, multiple sets of electromagnetic wave detection elements 2a, 2
b (such as those assembled in an array) to average each phase difference τ obtained from each set of electromagnetic wave detection elements,
It is preferable to adopt a configuration in which the phase difference τ obtained from a pair of electromagnetic wave detection elements 2 a and 2 b is time-averaged, or in which both are used in combination.

また、上記スペックルパターンの移動検出方法を用いた
位置指定装置発明は、第1図(d)に示すように、物体
粗面1に対して移動可能な可動体3と、この可動体3に
対して移動可能な可動体3の所定部位から物体粗面lに
コヒーレントな電磁波Bmを照射する電磁波源4と、上
記可動体3に紐み込まれると共に電磁波Ba+の照射に
伴って物体粗面lから生ずるスペックルパターンSPの
可動体3に対する相対移動情報を検出する電磁波検出器
2と、この電磁波検出器2にて検出される相対移動情報
を単位時間毎に平均化する平均処理手段5とを備え、こ
の平均処理手段5からの相対移動情報に基づいて指定す
べき位置を特定するようにしたものである。
Further, the invention of a position specifying device using the speckle pattern movement detection method described above includes a movable body 3 movable with respect to the rough surface 1 of the object, and a movable body 3 that On the other hand, there is an electromagnetic wave source 4 that irradiates a coherent electromagnetic wave Bm from a predetermined part of a movable body 3 to the rough surface l of the object; an electromagnetic wave detector 2 that detects relative movement information of the speckle pattern SP with respect to the movable body 3 generated from the electromagnetic wave detector 2; and an averaging processing means 5 that averages the relative movement information detected by the electromagnetic wave detector 2 for each unit time. The position to be designated is specified based on the relative movement information from the averaging means 5.

このような装置発明において、可動体3としては、少な
くとも電磁波源4及び電磁波検出器2を格納することが
でき、しかも、物体粗面lの予め決められた方向あるい
は任意の方向に沿って移動できるものであれば適宜選択
して差し支えない。
In such a device invention, the movable body 3 can house at least the electromagnetic wave source 4 and the electromagnetic wave detector 2, and can also move along a predetermined direction or an arbitrary direction of the rough surface l of the object. You may choose as appropriate as long as it is suitable.

また、上記電磁波源4としては、物体粗面1の凹凸度合
より小さい波長のコヒーレントな電磁波B+nを照射す
るものであれば、レーザを始め適宜選択することができ
る。
Further, the electromagnetic wave source 4 may be appropriately selected, including a laser, as long as it emits a coherent electromagnetic wave B+n having a wavelength smaller than the degree of unevenness of the rough surface 1 of the object.

更に、電磁波検出器2からの検出信号を平均処理手段5
にて平均化した後の信号処理系としては適宜設計変更し
て差し支えないが、外部機器の信号処理系を簡略化する
点からすれば、平均処理手段5からの信号を二値化処理
する信号処理系を付設することか好ましい。また、平均
処理手段5からの相対移動情報を正確に求めるには、移
動基準方向に沿って一次元、二次元若しくは三次元に配
列された電磁波検出素子アレイを用い、相互相関法を用
いるようにすることか好ましい(特開昭63−1168
78号実施例2参照)。
Furthermore, the detection signal from the electromagnetic wave detector 2 is averaged by averaging processing means 5.
The design of the signal processing system after averaging may be changed as appropriate, but from the point of view of simplifying the signal processing system of external equipment, the signal for binarizing the signal from the averaging means 5 It is preferable to add a processing system. Further, in order to accurately obtain the relative movement information from the averaging means 5, it is possible to use an array of electromagnetic wave detection elements arranged one-dimensionally, two-dimensionally, or three-dimensionally along the movement reference direction, and to use a cross-correlation method. It is preferable to
No. 78, Example 2).

また、信号処理部の配設箇所については、外部機器、可
動体3あるいは外部機器への接続機器等適宜選択して差
し支えないか、各種外部機器に対する共用化を図るとい
う観点からすれば、可動体3内に信号処理部を配設する
のか好ましい。そしてまた、スペックルパターンSPの
変形を有効に防止するという観点からすれば、電磁波B
mか照射される物体粗面lと電磁波検出器2との間に再
回折光学系を介在させるように設計することが好ましい
(特開昭63−116878号実施例4参照)。更にま
た、位置指定装置の操作性をより向上させるには、可動
体3と指定対象物との移動し−トを変化させ得るように
設計することが好ましい(特開昭63−116878号
実施例5参照)。
In addition, regarding the location of the signal processing section, it is possible to select an external device, the movable body 3, or a device connected to the external device as appropriate. It is preferable to arrange a signal processing section in 3. Furthermore, from the viewpoint of effectively preventing deformation of the speckle pattern SP, the electromagnetic wave B
It is preferable to design such that a re-diffraction optical system is interposed between the rough surface l of the object to be irradiated and the electromagnetic wave detector 2 (see Example 4 of JP-A-63-116878). Furthermore, in order to further improve the operability of the position specifying device, it is preferable to design it so that the movement path between the movable body 3 and the specified object can be changed (as described in the example of JP-A-63-116878). (see 5).

〔作用〕[Effect]

上述したような技術的手段において、第1図(a)に示
す方法発明によれば、スペックルパターンSPが電磁波
検出器2を通過すると、電磁波検出器2は、その強度パ
ターンに応じた検出信号を出力する。そして、この検出
信号は単位時間毎に平均化され、平均化された信号に基
づいてスペックルパターンSPの移動情報Mが検出され
る。
In the above-mentioned technical means, according to the method invention shown in FIG. Output. Then, this detection signal is averaged for each unit time, and movement information M of the speckle pattern SP is detected based on the averaged signal.

このとき、電磁波検出器2からの検出信号のパルス幅は
スペックルの形状に応じてばらつくことになるが、電磁
波検出器2からの検出信号を平均化した各平均化信号の
パルス幅は略均−なものに設定される。
At this time, the pulse width of the detection signal from the electromagnetic wave detector 2 will vary depending on the shape of the speckle, but the pulse width of each averaged signal obtained by averaging the detection signals from the electromagnetic wave detector 2 will be approximately equal. - set to something.

また、第1図(d)に示す位置指定装置発明によれば、
レーザ等の電磁波源4から物体粗面lに電磁波Bmが照
射され、可動体3が物体粗面1に対して速度v4でU、
だけ移動したとすると、物体粗面1が可動体3に対して
速度V、でU、だけ相対的に移動することになる。
Further, according to the position specifying device invention shown in FIG. 1(d),
An electromagnetic wave Bm is irradiated from an electromagnetic wave source 4 such as a laser to the rough surface l of the object, and the movable body 3 moves at a velocity v4 relative to the rough surface 1 of the object U,
If the object rough surface 1 moves by a distance U at a speed V, the rough surface 1 of the object moves relative to the movable body 3 by a distance U.

そして、上記物体粗面lにて散乱されたスペックルパタ
ーンSPは上記物体粗面1の相対移動に伴って電磁波検
出器2の受光面で速度V、でu8だけ比例的に移動する
The speckle pattern SP scattered by the object rough surface 1 moves proportionally by u8 at a speed V on the light receiving surface of the electromagnetic wave detector 2 as the object rough surface 1 moves relative to the object surface 1.

このとき、上記電磁波検出器2は、その受光面上に移動
するスペックルパターンSPの強度パターンに応じたパ
ルス幅のまちまちな検出信号を出力することになるが、
その検出信号は平均処理手段5にて単位時間毎に平均化
され、略均−のパルス幅信号に変換される。
At this time, the electromagnetic wave detector 2 outputs detection signals with varying pulse widths depending on the intensity pattern of the speckle pattern SP moving on its light receiving surface.
The detection signal is averaged for each unit time by the averaging means 5 and converted into a substantially average pulse width signal.

このため、電磁波検出器2からの検出信号の各平均化信
号は、物体粗面1の可動体3に対する相対移動1を略均
−な間隔毎に検出することになり、この検出信号の平均
化信号に基づいてカーソル等の指定対象物が略均−な間
隔で移動し、その指定対象物の位置が特定される。
Therefore, each averaged signal of the detection signals from the electromagnetic wave detector 2 detects the relative movement 1 of the object rough surface 1 with respect to the movable body 3 at approximately equal intervals, and the averaged detection signals Based on the signal, a specified object such as a cursor is moved at approximately equal intervals, and the position of the specified object is specified.

〔実施例〕〔Example〕

以下、添付図面に示す実施例に基づいてこの発明の詳細
な説明する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the accompanying drawings.

第2図及び第3図は計算機人力用の位置指定装置(所謂
マウス)にこの発明を適用したものである。
2 and 3 show the present invention applied to a position specifying device (so-called mouse) for manual computer operation.

同図において、10は物体粗面、11は底部に摺動用の
押し当てパッドllaを有する可動ハウジング、12は
可動ハウジングlI内に格納されてレーザビームを照射
する電磁波源としての半導体レーザ、13は半導体レー
ザI2をオンオフ制御する半導体レーザコントローラ、
14は半導体レーザ12からのビームを物体粗面10の
照射部位Qに所定のスポット径Wで導くプラスチックレ
ンズ、フレネルレンズ等からなる集光レンズ、15は検
出光学系の光路長を確保するために物体粗面10からの
反射ビームを適宜反射させる反射ミラー 16は検出光
学系の光路終端位置に配設され、物体粗面lOからの反
射ビーム中に生ずるスペックルパターンSPの移動情報
を検出するディテクタ、17はこのディテクタ16から
の出力信号に基づいて計算機入力用の移動制御信号に変
換する信号処理系、18は位置指定操作を行う際の入力
スイッチ、19は外部機器(図示せず)への接続ハーネ
スである。
In the figure, 10 is a rough object surface, 11 is a movable housing having a sliding pressing pad lla at the bottom, 12 is a semiconductor laser housed in the movable housing II and serves as an electromagnetic wave source for emitting a laser beam, and 13 is a movable housing having a sliding pressing pad lla at the bottom. a semiconductor laser controller that controls on/off the semiconductor laser I2;
14 is a condensing lens made of a plastic lens, a Fresnel lens, etc. that guides the beam from the semiconductor laser 12 to the irradiation area Q of the rough object surface 10 with a predetermined spot diameter W; 15 is a condenser lens for ensuring the optical path length of the detection optical system. A reflecting mirror 16 that appropriately reflects the reflected beam from the object rough surface 10 is a detector disposed at the end position of the optical path of the detection optical system, and detects movement information of the speckle pattern SP generated in the reflected beam from the object rough surface 10. , 17 is a signal processing system that converts the output signal from this detector 16 into a movement control signal for computer input, 18 is an input switch for performing a position designation operation, and 19 is a signal for external equipment (not shown). It is a connection harness.

この実施例において、上記ディテクタ16は、特に第4
図に示すように、移動基準方向であるX方向、y方向に
沿って所定間隔離間するフォトダイオードからなる受光
セル16a〜16dを並設したものである。この場合に
おいて、上記集光レンズ14は、ディテクタI6の各受
光セル16a〜!66よりスペックルの平均径が大きく
なるようにビーム径を調整している。
In this embodiment, the detector 16 is particularly
As shown in the figure, light-receiving cells 16a to 16d each consisting of a photodiode are arranged in parallel along the X and Y directions, which are movement reference directions, and are made of photodiodes spaced apart by a predetermined distance. In this case, the condenser lens 14 includes each light receiving cell 16a~! of the detector I6. The beam diameter is adjusted so that the average diameter of speckles becomes larger than that of 66.

また、上記信号処理系17は、特に第5図に示すように
、X方向に並設された受光セル16a、16bからの信
号を処理するxFt分信号処理系17Xと、y方向に並
設された受光セル16a、16cからの信号を処理する
y成分信号処理系17yとで構成されている。
Further, as shown in FIG. 5, the signal processing system 17 is arranged in parallel in the y direction with an xFt signal processing system 17X that processes signals from the light receiving cells 16a and 16b arranged in parallel in the x direction. and a y-component signal processing system 17y that processes signals from the light receiving cells 16a and 16c.

この実施例において、信号処理系17は、対応する一組
の受光セル16a、16b若しくは16a。
In this embodiment, the signal processing system 17 includes a corresponding set of light receiving cells 16a, 16b, or 16a.

16cからの出力を増幅するアンプ21と、このアンプ
2】の出力の直流成分及びノイズや高周波数成分を除去
するカットフィルタ22と、このカットフィルタ22の
出力を閾値0で二値化する二値化回路23と、二値化回
路23からの出力するパルスを例えば5分周する分周器
24とで構成されている。
an amplifier 21 that amplifies the output from the amplifier 2; a cut filter 22 that removes DC components, noise, and high frequency components from the output of the amplifier 2; and a binary filter that binarizes the output of the cut filter 22 with a threshold value of 0. It is composed of a converting circuit 23 and a frequency divider 24 that divides the frequency of the pulse output from the binarizing circuit 23 by, for example, 5.

そして、信号処理系17の出力はコンピュータのマウス
インタフェースに入力され、これに基づいて表示画面2
6上のカーソル27の位置が特定される。
The output of the signal processing system 17 is input to the mouse interface of the computer, and based on this, the display screen 2 is
The position of the cursor 27 on 6 is specified.

次に、この実施例に係る位置指定装置の作動について説
明する。
Next, the operation of the position specifying device according to this embodiment will be explained.

今、半導体レーザ12から照射されたレーザビームが物
体粗面10で反射した後上記ディテクタ16上に到達し
、このディテクタ16上にはスペックルパターンSPが
生じている。
Now, the laser beam irradiated from the semiconductor laser 12 reaches the detector 16 after being reflected by the rough surface 10 of the object, and a speckle pattern SP is generated on the detector 16.

この状態において、上記可動ハウジング11を物体粗面
10上で移動させると、これに対応してディテクタ16
の各受光セル16a〜16d上のスペックルパターンS
Pが移動する。このスベ、。
In this state, when the movable housing 11 is moved on the rough object surface 10, the detector 16
The speckle pattern S on each light receiving cell 16a to 16d of
P moves. This smoothness.

クルパターンSPの移動のX方向成分はX方向に沿って
並設されている一組の16a、16bにより、また、ス
ペックルパターンSPの移動のy方向成分はy方向に沿
って並設される一組の受光セル16a、16cによって
検出されるのである。
The X-direction component of the movement of the speckle pattern SP is caused by a pair of 16a and 16b arranged in parallel along the X direction, and the y-direction component of the movement of the speckle pattern SP is caused by the pair of 16a and 16b arranged in parallel along the y direction. It is detected by a pair of light receiving cells 16a and 16c.

ここで、スペックルパターンSPの各移動成分の検出動
作は実質的に同等であるため、以後X方向成分の移動検
出動作について説明する。
Here, since the detection operations for each movement component of the speckle pattern SP are substantially the same, the movement detection operation for the X-direction component will be described below.

すなわち、第5図において、上記スペックルパターンS
Pが受光セル16a〜同16bの方へ移動すると、受光
セル16aの出力信号はスペックルパターンSPの移動
に応じて変動する。このとき、スペックルパターンSP
の変形が無視できるならば、隣の受光セル16bには、
第6図(a)に示すように、受光セル16aの出力信号
と時間し形で、時間τXだけ遅れた信号が得られる。
That is, in FIG. 5, the speckle pattern S
When P moves toward the light receiving cells 16a to 16b, the output signal of the light receiving cell 16a changes in accordance with the movement of the speckle pattern SP. At this time, speckle pattern SP
If the deformation of can be ignored, the adjacent light receiving cell 16b has
As shown in FIG. 6(a), a signal is obtained which is delayed by a time τX in the form of a time lag with the output signal of the light receiving cell 16a.

この出力信号は、X成分信号処理系17xに入力され、
アンプ21で増幅された後、第6図(b)に示すように
、カットフィルタ22で0ラインを横切る信号に変換さ
れ、しかる後、第6図(c)に示すように、二値化回路
23で0ラインを基準として二値化され、二相のパルス
信号に変換されることになる。
This output signal is input to the X component signal processing system 17x,
After being amplified by the amplifier 21, as shown in FIG. 6(b), it is converted into a signal that crosses the 0 line by the cut filter 22, and then, as shown in FIG. 6(c), the signal is converted to a signal that crosses the 0 line. 23, the signal is binarized with the 0 line as a reference and converted into a two-phase pulse signal.

この二相パルス信号は、第6図(d)に示すように、分
周器24によって例えば5分周され、時間的に平均化さ
れたパルス信号に変換される。このため、分周器24通
過前の各パルス信号にあっては、スペックルの形状の不
規則さが各ノくルス信号のパルス幅に直接影響し、各パ
ルス信号の7<ルス幅がばらついてしまうが、分周パル
ス信号にあっては、各パルス信号のパルス幅は略均−に
設定される。
As shown in FIG. 6(d), this two-phase pulse signal is frequency-divided by a frequency divider 24, for example, by 5, and converted into a temporally averaged pulse signal. Therefore, for each pulse signal before passing through the frequency divider 24, irregularities in the shape of speckles directly affect the pulse width of each pulse signal, and the pulse width of each pulse signal varies. However, in the frequency-divided pulse signal, the pulse width of each pulse signal is set to be approximately equal.

ところで、上記二値化回路23からの二相のパルス信号
については、m相とn相との時間差τXでスペックルパ
ターンSPの移動方向が分かり、そのパルス数がスペッ
クルパターンSPの移動量に比例するものである。よっ
て、分周パルス信号についても、二相の位相差からスペ
ックルパターンSPの移動方向が分かり、そのパルス数
がスペックルパターンSPの移動量に比例するものと言
える。
By the way, regarding the two-phase pulse signal from the binarization circuit 23, the moving direction of the speckle pattern SP can be determined from the time difference τX between the m-phase and the n-phase, and the number of pulses is the moving amount of the speckle pattern SP. It is proportional. Therefore, regarding the frequency-divided pulse signal as well, the moving direction of the speckle pattern SP can be determined from the phase difference between the two phases, and the number of pulses can be said to be proportional to the amount of movement of the speckle pattern SP.

それゆえ、この分周パルス信号がコンピュータのマウス
インタフェースに人力されると、上記分周パルス信号の
パルス幅が略均−に設定されているため、カーソル27
は、マウス(可動)\ウジフグ11)の移動量に対して
略一定の比率で滑らかに移動する。
Therefore, when this frequency-divided pulse signal is manually entered into the computer's mouse interface, the cursor 27
moves smoothly at a substantially constant rate with respect to the amount of movement of the mouse (movable)\Ujifugu 11).

また、この実施例においては、第2図及び第3図に示す
ように、半導体レーザ12の光が直接的あるいは間接的
に使用者あるいは周囲の者の眼に照射される事態を回避
するための安全装置30が付設されている。
In addition, in this embodiment, as shown in FIGS. 2 and 3, in order to avoid the situation where the light of the semiconductor laser 12 is directly or indirectly irradiated into the eyes of the user or people around him, A safety device 30 is attached.

この安全装置30は、上記可動ハウシング11の底部に
挿通孔31を開設し、この挿通孔31には最大寸法I2
(押し当てパッドllaの厚みより大きい寸法に設定さ
れている)だけ突出可能な検出用突起32を進退自在に
嵌挿すると共に、この検出用突起32を復帰スプリング
33にて外方に向けて適宜付勢し、上記検出用突起32
の基端側には、検出用突起32が最大限突出した状態で
オフ動作するリミットスイッチ34を設け、このリミッ
トスイッチ34のオンオフ動作に上記半導体レーザコン
トローラ13を介して半導体レーザ12のオンオフ動作
を連動させるようにしたものである。
This safety device 30 has an insertion hole 31 at the bottom of the movable housing 11, and the insertion hole 31 has a maximum dimension I2.
The detection protrusion 32 that can protrude by a certain amount (the dimension is set to be larger than the thickness of the pressing pad lla) is inserted so that it can move forward and backward, and the detection protrusion 32 is turned outward by the return spring 33 as appropriate. The detection protrusion 32
A limit switch 34 is provided on the proximal end side of the detector 34, which is turned off when the detection protrusion 32 is protruded to the maximum extent. It is designed to be linked.

このため、この実施例においては、第7図(a)に示す
ように、本装置が物体面Aから離れたような場合には、
上記検出用突起32は復帰スプリング33によって最大
限まで突出配置され、これにより、リミットスイッチ3
4がオフになり、そのオフ信号に基づいて半導体レーザ
コントローラ13を介して半導体レーザ12をオフにす
る。よって、このような状況下において、半導体レーザ
12の光が使用者や周囲の者の眼に照射される事態は有
効に回避される。
Therefore, in this embodiment, when the device moves away from the object plane A, as shown in FIG. 7(a),
The detection protrusion 32 is arranged to protrude to the maximum extent by the return spring 33, so that the limit switch 3
4 is turned off, and the semiconductor laser 12 is turned off via the semiconductor laser controller 13 based on the off signal. Therefore, under such circumstances, the situation in which the light of the semiconductor laser 12 is irradiated onto the eyes of the user or those around him can be effectively avoided.

一方、本装置が物体面Aに置かれた時には、第7図(b
)に示すように、上記検出用突起32は物体面Aに当接
して押し込まれ、リミットスイッチ34がオンになり、
半導体レーザコントローラ13を介して半導体レーザ1
2がオンになり、通常の位置指定操作が行われ得る。
On the other hand, when this device is placed on the object plane A, as shown in FIG.
), the detection protrusion 32 is pushed into contact with the object surface A, and the limit switch 34 is turned on.
The semiconductor laser 1 via the semiconductor laser controller 13
2 is turned on and normal positioning operations can occur.

尚、この種の安全装置としては、少なくとも、半導体レ
ーザ12等の電磁波源からの電磁波が直接的若しくは間
接的に使用者や周囲の者の眼に到達する異常状況にある
か否かを検知する異常状況検知手段と、上記電磁波が可
動ハウジング11の外部へ発することを停止させる電磁
波停止手段とを備えていれば、実施例で示されたものに
限られるものではなく、適宜設計変更することが可能で
ある。
Note that this type of safety device at least detects whether or not there is an abnormal situation in which electromagnetic waves from an electromagnetic wave source such as the semiconductor laser 12 directly or indirectly reach the eyes of the user or people nearby. As long as it is equipped with an abnormal situation detection means and an electromagnetic wave stopping means for stopping the electromagnetic waves from being emitted to the outside of the movable housing 11, the design is not limited to that shown in the embodiments, and the design can be changed as appropriate. It is possible.

例えば、上記異常状況検知手段のうち、実施例と同様に
、可動ハウジング11が物体面Aより所定距離だけ離れ
たことを検知することにより異常状況であると判断する
方式としては、電磁波源(スペックル生成用電磁波源と
同一、別異を問わない)から物体面Aに照射される電磁
波の反射強度が距離に応じて変化することを利用し、反
射強度を検出したり、また、電磁波の照射スポットQ(
第2図参照)の位置が距離に応じて変化することを利用
し、照射スポットQの位置を検出したりするものが挙げ
られる。
For example, among the abnormal situation detection means described above, as in the embodiment, a method for determining that an abnormal situation exists by detecting that the movable housing 11 has moved away from the object surface A by a predetermined distance may include an electromagnetic wave source (spec By utilizing the fact that the reflected intensity of electromagnetic waves irradiated to the object surface A changes depending on the distance from the electromagnetic wave source (whether the same or different from the electromagnetic wave source for generating the electromagnetic waves), the reflected intensity can be detected, and the irradiation of electromagnetic waves can be Spot Q (
One example is one that detects the position of the irradiation spot Q by utilizing the fact that the position of the irradiation spot (see FIG. 2) changes depending on the distance.

また、異常状況検知手段の他の方式としては、可動ハウ
ジング11の姿勢を検知し、正常な姿勢以外の姿勢、例
えば装置自体が天地逆転したり、正常な姿勢から90°
以上傾く等を検知した時点で異常状況であると判断する
ものであり、例えば、第8図(a)に示すように、装置
内に配設された姿勢検出器40の可動物体41が正常位
置Nにあるときは正常姿勢であると判断し、第8図(b
)(c)に示すように、姿勢検出器40の可動物体41
が正常位置N以外にあるときは異常姿勢であると判断す
るようにすればよい。
In addition, as another method of the abnormal situation detection means, the attitude of the movable housing 11 is detected, and if the apparatus itself is turned upside down or 90 degrees from the normal attitude.
It is determined that there is an abnormal situation when the tilting or the like is detected. For example, as shown in FIG. When it is in the N position, it is determined that the posture is normal, and the posture shown in Fig. 8 (b
) As shown in (c), the movable object 41 of the attitude detector 40
If the position is outside the normal position N, it may be determined that the position is abnormal.

一方、電磁波遮断手段としては、実施例のように、半導
体レーザ12等の電磁波源への電源の供給を停止させる
等、電磁波の発生そのものを停止させるものであっても
良いし、また、シャッタ等にて電磁波が可動ハウジング
11外部へ照射されるのを阻止するように設計しても差
し支えない。
On the other hand, the electromagnetic wave blocking means may be one that stops the generation of electromagnetic waves itself, such as stopping the power supply to the electromagnetic wave source such as the semiconductor laser 12, as in the embodiment, or a shutter, etc. The movable housing 11 may be designed to prevent electromagnetic waves from being irradiated to the outside of the movable housing 11.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明してきたように、請求項1記載のスペックルパ
ターンの移動検出方法によれば、スペックルパターンの
移動情報を単位時間毎に平均化するようにしたので、ス
ペックルの形状の不規則さに起因する移動情報のばらつ
きを軽減することができ、その分、スペックルパターン
の移動情報の検出精度を向上させることができる。
As explained above, according to the speckle pattern movement detection method according to claim 1, since the movement information of the speckle pattern is averaged for each unit time, irregularities in the speckle shape can be detected. It is possible to reduce variations in the movement information caused by the movement information, and the detection accuracy of the movement information of the speckle pattern can be improved accordingly.

特に、請求項2記載のスペックルパターンの移動検出方
法によれば、移動するスペックルパターン中に並設され
た少なくとも一組の電磁波検出素子にてスペックルパタ
ーンの時間変動を検出し、両者間の位相差を求める等の
簡単な処理でスペックルパターンの移動情報を検出し得
るので、リアルタイム処理が容易で、しかも、スペック
ルパターンの移動方向を含む各種移動情報を簡便に得る
ことができる。
In particular, according to the speckle pattern movement detection method according to claim 2, at least one set of electromagnetic wave detection elements arranged in parallel in the moving speckle pattern detects the temporal fluctuation of the speckle pattern, and Since the movement information of the speckle pattern can be detected through simple processing such as determining the phase difference between the speckle patterns, real-time processing is easy, and various movement information including the movement direction of the speckle pattern can be easily obtained.

また、請求項3記載の位置指定装置によれば、電磁波検
出器にて検出されたスペックルパターンの相対移動情報
を単位時間毎に平均化し、この平均相対移動情報に基づ
いて指定対象物の位置を特定するようにしたので、スペ
ックルの形状の不規則さに起因するスペックルパターン
の相対移動情報のばらつきを軽減して、スペックルパタ
ーンの相対移動情報の検出精度を向上できる分、カーソ
ル等の指定対象物の移動距離のばらつきを軽減でき、位
置指定精度を向上させることができる。
Further, according to the position specifying device according to claim 3, the relative movement information of the speckle pattern detected by the electromagnetic wave detector is averaged for each unit time, and the position of the specified object is determined based on this average relative movement information. This reduces the variation in the relative movement information of the speckle pattern due to the irregularity of the speckle shape, and improves the detection accuracy of the relative movement information of the speckle pattern. It is possible to reduce the variation in the moving distance of the specified object, and improve the position specification accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)はこの発明に係るスペックルパターンの移
動検出方法を示す説明図、第1図(b)(c)は電磁波
検出器の一態様を示す説明図及びその検出動作説明図、
第1図(d)はこの発明に係る位置指定装置の概略構成
を示す説明図、第2図はこの発明を適用したマウスの一
実施例を示す説明図、第3図はその一部破断底面、第4
図は実施例に係るディテクタの構成を示す説明図、第5
図は実施例に係るディテクタの信号処理系を示すブロッ
ク図、第6図(a)〜(d)はその信号処理系の動作タ
イミングを示すタイミングチャート、第7 図(a)(
b)は実施例で用いられる安全装置の作動例を示す説明
図、第8図(a)〜(c)は安全装置の変形例を示す説
明図である。 〔符号の説明〕 SP・・・スペックルパターン Bm・・・電磁波 M・・・移動情報 l・・・物体粗面 2・・・電磁波検出器 2 a、 2 b・・・電磁波検出素子3・・・可動体 4・・・電磁波源 5・・・平均処理手段
FIG. 1(a) is an explanatory diagram showing a speckle pattern movement detection method according to the present invention, FIGS. 1(b) and (c) are explanatory diagrams showing one aspect of an electromagnetic wave detector and its detection operation diagram,
FIG. 1(d) is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a position specifying device according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing an embodiment of a mouse to which this invention is applied, and FIG. 3 is a partially broken bottom view thereof. , 4th
The figure is an explanatory diagram showing the configuration of the detector according to the example,
The figure is a block diagram showing the signal processing system of the detector according to the embodiment, FIGS. 6(a) to (d) are timing charts showing the operation timing of the signal processing system, and FIG. 7(a) (
b) is an explanatory diagram showing an example of the operation of the safety device used in the embodiment, and FIGS. 8(a) to (c) are explanatory diagrams showing modified examples of the safety device. [Explanation of symbols] SP... Speckle pattern Bm... Electromagnetic wave M... Movement information l... Object rough surface 2... Electromagnetic wave detector 2 a, 2 b... Electromagnetic wave detection element 3. ...Movable body 4...Electromagnetic wave source 5...Averaging processing means

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)コヒーレントな電磁波(Bm)の物体粗面(1)に
対する散乱によって生ずるスペックルパターンの移動情
報(M)を検出するに際し、 上記スペックルパターン(SP)の時間変動を電磁波検
出器(2)にて検出した後に、 上記電磁波検出器(2)の検出信号を単位時間毎に平均
化するようにしたことを特徴とするスペックルパターン
の移動検出方法。 2)請求項1記載のものにおいて、 電磁波検出器(2)は、一次元当たり少なくとも一組の
電磁波検出素子(2a、2b)を並設し、一組の電磁波
検出素子(2a、2b)からの出力信号の位相差(τ)
に基づいて移動方向を検出するようにしたことを特徴と
するスペックルパターンの移動検出方法。 3)物体粗面(1)に対して移動可能な可動体(3)と
、 この可動体(3)に組み込まれて可動体(3)の所定部
位から物体粗面(1)にコヒーレントな電磁波(Bm)
を照射する電磁波源(4)と、 上記可動体(3)に組み込まれると共に電磁波(Bm)
の照射に伴って物体粗面(1)から生ずるスペックルパ
ターン(SP)の可動体(3)に対する相対移動情報を
検出する電磁波検出器(2)と、 この電磁波検出器(2)にて検出される相対移動情報を
単位時間毎に平均化する平均処理手段(5)とを備え、 この平均処理手段(5)からの相対移動情報に基づいて
指定すべき位置を特定するようにしたことを特徴とする
位置指定装置。
[Claims] 1) When detecting movement information (M) of a speckle pattern caused by scattering of a coherent electromagnetic wave (Bm) on a rough object surface (1), time fluctuations of the speckle pattern (SP) are detected. A method for detecting movement of a speckle pattern, characterized in that after detection by an electromagnetic wave detector (2), the detection signal of the electromagnetic wave detector (2) is averaged every unit time. 2) In the device according to claim 1, the electromagnetic wave detector (2) has at least one set of electromagnetic wave detection elements (2a, 2b) arranged in parallel per one dimension, and The phase difference (τ) of the output signal of
A method for detecting movement of a speckle pattern, characterized in that a direction of movement is detected based on. 3) A movable body (3) that is movable with respect to the rough object surface (1), and a coherent electromagnetic wave that is built into this movable body (3) and is transmitted from a predetermined part of the movable body (3) to the rough object surface (1). (Bm)
an electromagnetic wave source (4) that irradiates an electromagnetic wave (Bm) that is incorporated into the movable body (3);
an electromagnetic wave detector (2) that detects relative movement information of a speckle pattern (SP) generated from the object's rough surface (1) with respect to the movable body (3) due to irradiation; and averaging processing means (5) for averaging the relative movement information for each unit time, and the position to be designated is specified based on the relative movement information from the averaging means (5). Characteristic positioning device.
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