JPH03192474A - Three-dimensional shape measuring system - Google Patents

Three-dimensional shape measuring system

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Publication number
JPH03192474A
JPH03192474A JP1331160A JP33116089A JPH03192474A JP H03192474 A JPH03192474 A JP H03192474A JP 1331160 A JP1331160 A JP 1331160A JP 33116089 A JP33116089 A JP 33116089A JP H03192474 A JPH03192474 A JP H03192474A
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JP
Japan
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slit
pixel
image
pixels
assigned
Prior art date
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Pending
Application number
JP1331160A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Kimura
木村 正行
Toru Abe
亨 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1331160A priority Critical patent/JPH03192474A/en
Publication of JPH03192474A publication Critical patent/JPH03192474A/en
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Abstract

PURPOSE:To suitably decode even the slit number of a slit image, which is interrupted or missed, as well by dividing a processing into plural steps, gradually decoding the slit image from secure one and decoding the indefinite image by referring the result of the already decoded slit image. CONSTITUTION:A slit picture element extracting means 102, picture element grouping means 103, grouped picture element decoding means 104 and slit number interpolating means 105 are provided. When executing a three-dimensional shape measurement using slit light divided in plural colors, the decoding processing is divided into plural steps even in the case the interruption or miss is generated when extracting the slit image from an observation object in the complicated shape, and the slit images are gradually decoded from reliable ones. Then, the indefinite slit image is decoded by referring the result of the already decoded slit image. Thus, the three-dimensional shape of the observation object can be exactly measured.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概  要〕 色を用いて投影パターンを特徴づける平面コード法を用
いて、人間の顔等の3次元形状を計測する3次元形状計
測方式に関し、 投影パターンとして色で符号化されたスリット光を使用
した平面コード法において、観測画像から抽出されたス
リット像に対して途切れ・欠落に強い色の並びの復号を
可能とすることを目的とし、観測画像から各スリット像
を構成し得るスリット画素とその色を抽出するスリット
画素抽出手段と、該抽出された各スリット画素を、観測
画像上の各行毎に、所定の間隔以上となり又は同じ色と
なる隣接する2つのスリット画素が異なるグループに分
類されるように、グループ分けする画素グループ化手段
と、該分類された各グループのうち、該グループ内のス
リット画素の数がk個以上で、かつ該各スリット画素の
色の並びが投射側のスリット光の色の並びの一部分とな
るグループを検出し、該グループ内の各スリット画素に
該画素の色と同じ色の投射側のスリット光に付与されて
いるスリット番号を付与するグループ化画素復号手段と
、該スリット番号が付与されたスリット画素に基づいて
スリット番号を補間することにより、スリット画素抽出
手段から抽出されたスリット画素のうち、グループ化画
素復号手段によりスリット番号が付与されなかったスリ
ット画素にスリット番号を付与し、グループ化画素復号
手段によりスリット番号が付与されたスリット画素と合
わせて最終的な復号出力を出力するスリット番号補間手
段と、を有するように構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] This invention relates to a three-dimensional shape measurement method for measuring a three-dimensional shape such as a human face using a planar code method that characterizes a projected pattern using color. In the planar coding method using coded slit light, the aim is to enable decoding of color sequences that are resistant to discontinuities and omissions for slit images extracted from observed images. a slit pixel extracting means for extracting slit pixels and their colors that can constitute a slit pixel; a pixel grouping means for grouping pixels so that the pixels are classified into different groups; and a pixel grouping means for grouping the pixels so that the pixels are classified into different groups, and of each of the classified groups, the number of slit pixels in the group is k or more, and the color of each slit pixel is Detects a group whose arrangement is part of the color arrangement of the slit light on the projection side, and assigns to each slit pixel in the group the slit number assigned to the slit light on the projection side of the same color as the pixel color. By interpolating the slit number based on the grouped pixel decoding means to which the slit number is assigned and the slit pixel to which the slit number has been assigned, the grouped pixel decoding means determines the slit number among the slit pixels extracted from the slit pixel extraction means. slit number interpolation means for assigning a slit number to a slit pixel to which no slit number has been assigned and outputting a final decoded output together with the slit pixels to which a slit number has been assigned by the grouping pixel decoding means. do.

[産業上の利用分野] 本発明は、色を用いて投影パターンを特徴づける平面コ
ード法を用いて、人間の顔等の3次元形状を計測する3
次元形状計測方式に関する。
[Industrial Application Field] The present invention is a three-dimensional method for measuring three-dimensional shapes such as human faces using a planar code method that uses colors to characterize projected patterns.
Concerning dimensional shape measurement methods.

〔従来の技術] 近年、医療・個人識別・通信など多くの分野で、人間の
顔等の3次元形状を対象とした処理が盛んに行われてい
る。それに伴い、簡単に人間の顔等の3次元形状を計測
する必要性が高まっている。
[Background Art] In recent years, processing for three-dimensional shapes such as human faces has been actively performed in many fields such as medicine, personal identification, and communications. Along with this, there is an increasing need to easily measure three-dimensional shapes such as human faces.

3次元形状を計測する技術としては、従来、接触式・非
接触式の2種類の方式に大きく分類される。
Conventionally, techniques for measuring three-dimensional shapes are broadly classified into two types: contact type and non-contact type.

顔も含めた人体の形状計測には、古くから接触式の計測
方式が用いられてきた。しかし接触式の方式の場合、以
下のような問題点がある。
Contact measurement methods have long been used to measure the shape of the human body, including the face. However, the contact type method has the following problems.

第1に、得られた3次元データを計算機が扱える形式に
するまで手間がかかる。第2に、人体のように柔らかい
対象の形状を正確に計測することが困難である。第3に
、3次元データを対象表面上で密に採取することが困難
である。第4に、対象は長時間にわたり、成る姿勢のま
ま静止している必要がある。第5に、計測装置が大掛か
りになる。
First, it takes time and effort to convert the obtained three-dimensional data into a format that can be handled by a computer. Second, it is difficult to accurately measure the shape of a soft object such as a human body. Thirdly, it is difficult to collect three-dimensional data densely on the target surface. Fourth, the subject must remain stationary in the pose for a long period of time. Fifth, the measuring device becomes large-scale.

上述のような問題点があるため、接触式の方式は、手軽
に計測できる手法であるとは言い難い。
Due to the problems mentioned above, it is difficult to say that the contact method is an easy method for measurement.

このため現在は非接触式の方式が用いられるようになっ
てきている。
For this reason, non-contact methods are now being used.

非接触式の3次元形状計測方式にも、従来、様々なもの
があるが、その一つに平面コード法と呼ばれる方式があ
る。この方式は、文献「山水、田宗、田村:“距離画像
の入力と処理”、電子情報通信学会技術速報IE86−
128(1987−3)、 Jに詳細に記載されている
。平面コード法は、符号化された1枚のパターン光を対
象に投影し、それを撮影することで、光の投影方向から
見て得られる情報と等価な情報を、対象を撮影した観測
画像から得られるようにしたものである。この手法を用
いると、1枚の観測画像から3次元形状を算出するため
に必要な情報を全て得ることができる。平面コード法を
他の非接触式の手法と比べると次のような特徴がある。
Conventionally, there are various non-contact three-dimensional shape measurement methods, one of which is a method called a plane code method. This method is described in the document “Sansui, Tamune, Tamura: “Input and processing of distance images”, IEICE Technical Bulletin IE86-
128 (1987-3), J. The planar code method projects a single coded pattern of light onto an object and photographs it, thereby obtaining information equivalent to the information obtained from the direction of the light projection from the observed image of the object. It was made so that it could be obtained. Using this method, it is possible to obtain all the information necessary to calculate a three-dimensional shape from a single observation image. The planar code method has the following characteristics when compared with other non-contact methods.

第1に、多眼視性のように対象を異なる方向から撮影し
て複数の画像の間で対応をとる必要が無い。このため、
°対象の姿勢を制限したり、対象の表面に目印を付ける
必要が無い。第2に、光ビームで走査する方式のように
対象を複数回撮影する必要が無いため、対象は長時間に
わたり静止している必要が無い。第3に、レーザ・超音
波などを用いる手法に比べ簡単な装置で計測を行なえる
First, there is no need to photograph an object from different directions and make correspondence between multiple images, unlike in multi-viewing. For this reason,
° There is no need to limit the posture of the object or place marks on the surface of the object. Second, unlike the scanning method using a light beam, there is no need to photograph the object multiple times, so the object does not need to remain stationary for a long period of time. Third, measurements can be performed using simpler equipment than methods that use lasers, ultrasound, etc.

このように平面コード法は、比較的簡単な装置で、被験
者の姿勢に余り制限を付けず、特に人体の形状測定等の
場合、人間の静止可能時間よりもはるかに短い撮影時間
で対象の3次元データを得ることが可能であり、人間の
顔等の3次元形状計測に適した方式である。
In this way, the planar code method is a relatively simple device that does not place many restrictions on the subject's posture, and is particularly useful for measuring the shape of the human body. It is possible to obtain dimensional data and is a method suitable for measuring three-dimensional shapes such as human faces.

平面コード法では、投影側のパターン光と観測画像中の
パターン像との間で対応づけを行い、観測画像に含まれ
ている、光の投影方向から見て得られる情報と等価な情
報を抽出する必要がある。
In the plane code method, a correspondence is created between the pattern light on the projection side and the pattern image in the observed image, and information included in the observed image that is equivalent to the information obtained when viewed from the direction of light projection is extracted. There is a need to.

その際、投影するパターン光が均一であると互いに区別
がなくなるため、対応づけを自動的に行うことが困難と
なる。
At this time, if the patterned light to be projected is uniform, there will be no distinction between them, making it difficult to automatically perform the matching.

そこで、色を用いてパターン光を特徴づけ、色の並び方
で対応づけに必要な情報を符号化する方式が提案されて
いる。この方式は、文献「米沢。
Therefore, a method has been proposed in which pattern light is characterized using colors and information necessary for correspondence is encoded based on the arrangement of colors. This method is described in the literature “Yonezawa.

玉量: “°符号化格子を用いた物体形状の計測゛。Ball amount: “°Measurement of object shape using encoded grid”.

電子情報通信学会論文誌り分冊、 J61−D、6.p
p、411418(197B−6)、 J及びrK、L
、Boyer and A、C,Kak:”Co1or
−Encoded  5tructured  Lig
ht  for RapidActive Rangi
ng−IEEE Trans、 Pattern An
al、 &Machine Intell、、PAMI
−9,L、pp、14−27(1987−1)、」に詳
細に記載されている。この方式を用いると、観測画像か
らパターン像を抽出し、その色の並び方を復号すること
で、投射されたパターン光と観測されたパターン像との
対応づけの自動化が可能となる。
IEICE Transactions Volume, J61-D, 6. p
p, 411418 (197B-6), J and rK, L
,Boyer and A.C.Kak:”Co1or
-Encoded 5structured Lig
ht for Rapid Active Range
ng-IEEE Trans, Pattern An
al, &Machine Intel,,PAMI
-9, L, pp. 14-27 (1987-1). Using this method, by extracting a pattern image from an observed image and decoding the arrangement of its colors, it becomes possible to automatically associate the projected pattern light with the observed pattern image.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、上述の色を用いてパターン光を特徴づける従来
方式において、人間の顔のように形状が複雑で凹凸が激
しく、表面の色が一様でない物体に対し、色で特徴づけ
たパターン光を投影すると、観測画像から抽出されるパ
ターン像に途切れ・欠落が生じやすくなり、パターン像
からの色の並びの正確な復号が難しくなるという問題点
を有しいる。
However, in the conventional method of characterizing patterned light using colors as described above, patterned light characterized by color is used to treat objects with complex shapes, highly uneven surfaces, and uneven surface colors, such as human faces. When projected, there is a problem in that the pattern image extracted from the observed image is likely to be interrupted or missing, making it difficult to accurately decode the color arrangement from the pattern image.

この問題に対しては、パターン光の符号化方式やパター
ン像の抽出方式に工夫を加えるのみでは対処しきれない
This problem cannot be solved simply by adding innovations to the pattern light encoding method or the pattern image extraction method.

本発明は、投影パターンとして色で符号化されたスリッ
ト光を使用した平面コード法において、観測画像から抽
出されたスリット像に対して途切れ・欠落に強い色の並
びの復号を可能とすることを目的とする。
The present invention makes it possible to decode a color sequence that is resistant to discontinuities and omissions in a slit image extracted from an observed image in a planar coding method that uses color-coded slit light as a projection pattern. purpose.

〔課題を解決するための手段] 本発明は、まず、スリット番号が付与された複数のスリ
ット光を観測対象に投射し、その観測対象を撮影した観
測画像から画像上のスリット像に対応するスリット光の
スリット番号を復号し、これをもとに観測対象の3次元
形状を計測する3次元形状計測方式を前提とする。スリ
ット番号が付与された複数のスリット光は、3次元座標
系内で各々固有の投射角で観測対象に投射され、また、
ri1測画像画像影するカメラと観測対象及びスリット
光の相互の位置関係は予め設定される。そして、観測画
像上のスリット像がどのスリット番号のスリット光に関
するものであるかがわかれば、そのスリット像がどのよ
うな投射角で観測対象に投射されたかがわかり、これと
上述の位置関係とがら、当該スリット像に重なる観測対
象の部分の3次元座標系内の座標を一意に決定できる。
[Means for Solving the Problems] The present invention first projects a plurality of slit lights assigned with slit numbers onto an observation target, and from an observation image of the observation target, selects a slit corresponding to a slit image on the image. The premise is a three-dimensional shape measurement method that decodes the light slit number and measures the three-dimensional shape of the observation target based on this. A plurality of slit lights assigned slit numbers are each projected onto an observation target at a unique projection angle within a three-dimensional coordinate system, and
The mutual positional relationship between the camera, the object to be observed, and the slit light that captures the ri1 measurement image is set in advance. If we know which slit number the slit image on the observed image relates to the slit light, we can know at what projection angle that slit image was projected onto the observation target, and based on this and the above-mentioned positional relationship, The coordinates in the three-dimensional coordinate system of the part of the observation target that overlaps the slit image can be uniquely determined.

このようにして、観測対象の複数箇所の座標を決定する
ことにより、観測対象の3次元形状を計測できる。
In this way, by determining the coordinates of multiple locations on the observation target, the three-dimensional shape of the observation target can be measured.

この場合、観測画像のスリット像からスリット番号を決
定できるようにするために、各スリット光はq色(qは
2以上の自然数)のうち1色で特徴付けられる。また、
隣接する2本のスリット光は同色にならず、隣接するに
本(kは2以上の自然数)のスリット光による色の並び
方は全スリット光中に一度しか現れないように、各スリ
ット光の色がq色の中から設定される。
In this case, in order to be able to determine the slit number from the slit image of the observed image, each slit light is characterized by one of q colors (q is a natural number of 2 or more). Also,
Two adjacent slit lights do not have the same color, and the color of each slit light is arranged so that the colors of adjacent slit lights (k is a natural number of 2 or more) appear only once in all slit lights. is set from q colors.

以上のようにして色分けされ、かつ各々にスリット番号
が付与された複数の平行なスリット光が、所定の3次元
座標系内の所定の座標軸に平行になるように観測対象に
投射され、その状態で該観測対象を上記所定の座標軸が
垂直方向となるように観測画像を撮影する。このように
して撮影した観測画像から各スリット光に対応するスリ
ット像とその色を検出し、該各スリット像の色の並びか
らスリット番号を復号することにより、前述したように
して観測対象の3次元形状を計測する。
A plurality of parallel slit lights, which are color-coded as described above and each assigned a slit number, are projected onto the observation target so as to be parallel to a predetermined coordinate axis within a predetermined three-dimensional coordinate system, and the state Then, an observation image of the observation object is photographed so that the predetermined coordinate axis is in the vertical direction. By detecting the slit image and its color corresponding to each slit light from the observation image taken in this way, and decoding the slit number from the color arrangement of each slit image, three of the observation targets are detected as described above. Measure dimensional shapes.

以上の3次元形状計測方式を前提とする本発明のブロッ
ク図を第1図に示す。
FIG. 1 shows a block diagram of the present invention based on the above three-dimensional shape measurement method.

まず、スリット画素抽出手段102は、観測画像101
から各スリット像を構成し得るスリット画素とその色を
抽出する。ここで、前述のスリット光の色の種類の数q
を、例えば赤色、緑色及び青色の3色とすると、上述の
観測画像101は、例えばビデオカメラから出力される
赤色成分画像、緑色成分画像及び青色成分画像の3枚の
画像である。そして、上述のスリット画素抽出手段10
2は、赤色成分画像、緑色成分画像及び青色成分画像の
各画像側に、該各画像上の各行毎に明度値が極大となる
画素をスリット画素として抽出すると共に、該各スリッ
ト画素に該画素が赤色成分画像、緑色成分画像及び青色
成分画像のどの画像内で極大となったかによって、赤色
、緑色又は青色のうちいずれかの対応する色としてスリ
ット画素の色を抽出する。
First, the slit pixel extraction means 102 extracts the observed image 101.
The slit pixels that can constitute each slit image and their colors are extracted from the image. Here, the number of color types of the slit light mentioned above q
For example, if the three colors are red, green, and blue, the above-mentioned observation image 101 is three images, a red component image, a green component image, and a blue component image output from a video camera, for example. Then, the above-mentioned slit pixel extraction means 10
2 extracts pixels with maximum brightness values as slit pixels for each row on each image side of the red component image, green component image, and blue component image, and also extracts the pixels in each slit pixel. The color of the slit pixel is extracted as one of red, green, or blue, depending on which image among the red component image, green component image, and blue component image has the maximum value.

次に、画素グループ化手段103は、上述のようにして
抽出された各スリット画素を、観測画像101上の各行
毎にグループ分けする。この場合、任意の2つのスリッ
ト画素について、それらの間隔が所定の間隔以上となり
、或いはそれらの色が同じ色となる場合には、それら隣
接するスリット画素が異なるグループに分類されるよう
に、グループ分けする。
Next, the pixel grouping means 103 groups each slit pixel extracted as described above into each row on the observed image 101. In this case, if any two slit pixels are spaced apart from each other by a predetermined distance or more, or if they have the same color, the adjacent slit pixels are classified into different groups. Divide.

また、グループ化画素復号手段104は、上述のように
分類された各グループのうち、該グループ内のスリット
画素の数が前述した数であるに個以上で、かつ該各スリ
ット画素の色の並びが投射側のスリット光の色の並びの
一部分となるグループを検出する。そして、そのグルー
プ内の各スリット画素に該画素の色と同じ色の投射側の
スリット光に付与されているスリット番号を付与する。
Further, the grouped pixel decoding means 104 determines that among each group classified as described above, the number of slit pixels in the group is equal to or more than the above-mentioned number, and the color arrangement of each slit pixel is detects a group that is part of the color sequence of the slit light on the projection side. Then, each slit pixel in the group is assigned the slit number assigned to the projection-side slit light of the same color as the pixel.

この場合、同手段は、例えば各スリット画素のスリット
番号の復号を行うと既にスリット番号が与えられている
スリット画素との間でスリット番号の反転を生じる第1
の状態、又は各スリット画素のスリット番号の復号を行
うと1本のスリット光により生じたスリット像内に、異
なるスリット番号を持ったスリット画素が混在する第2
の状態の何れかが発生した場合には、各スリット画素の
スリット番号の復号を行わない。
In this case, the means is a first method that causes, for example, decoding of the slit number of each slit pixel to cause an inversion of the slit number between the slit pixel and the slit pixel to which the slit number has already been assigned.
Or, if the slit number of each slit pixel is decoded, a second slit image in which slit pixels with different slit numbers coexist in the slit image generated by one slit light is generated.
If any of the following conditions occurs, the slit number of each slit pixel is not decoded.

更に、スリット番号補間手段105は、上述のようにし
てスリット番号が付与されたスリット画素に基づいてス
リット番号を補間することにより、スリット画素抽出手
段102から抽出されたスリット画素のうち、グループ
化画素復号手段104によりスリット番号が付与されな
かったスリット画素にスリット番号を付与し、グループ
化画素復号手段104によりスリット番号が付与された
スリット画素と合わせて最終的な復号出力106を出力
する。同手段は、例えば以下のような水平方向補間手段
と垂直方向補間手段とを含む。すなわち、水平方向補間
手段は、観測画像101の各行毎に、スリット番号が未
だ付与されていないスリット画素列が、スリット番号が
付与されているスリット画素で挟まれている場合に、該
スリット画素のスリット番号に基づいて投射側のスリッ
ト光の並びのうち対応するものを参照し、スリット番号
が付与されていない各スリット画素に該画素に対応する
投射側のスリット光に付与されているスリット番号を付
与する。垂直方向補間手段は、水平方向補間手段での処
理の後、第1の場合として、スリット番号が未だ付与さ
れていないスリット画素が、同一のスリット番号が付与
されている2つのスリット画素に8連結で挟まれて接続
する場合に、該挾まれたスリット画素に該同一のスリッ
ト番号を付与する。また、第2の場合として、スリット
番号が未だ付与されていないスリット画素が、スリット
番号が未だ付与されていない端点のスリット画素とスリ
ット番号が付与されているスリット画素に挟まれて8連
結で接続する場合に、該挟まれたスリット画素に該スリ
ット番号を付与する。
Furthermore, the slit number interpolation means 105 interpolates slit numbers based on the slit pixels to which slit numbers have been assigned as described above. The decoding means 104 assigns slit numbers to slit pixels to which no slit numbers have been assigned, and the grouped pixel decoding means 104 outputs a final decoded output 106 together with the slit pixels to which slit numbers have been assigned. The means includes, for example, horizontal interpolation means and vertical interpolation means as described below. That is, in each row of the observed image 101, when a slit pixel column to which no slit number has been assigned is sandwiched between slit pixels to which slit numbers have been assigned, the horizontal interpolation means Based on the slit number, refer to the corresponding row of slit lights on the projection side, and for each slit pixel to which no slit number is assigned, assign the slit number assigned to the slit light on the projection side that corresponds to that pixel. Give. After the processing by the horizontal interpolation means, the vertical interpolation means, in the first case, connects 8 slit pixels to which no slit number has been assigned to two slit pixels that have been assigned the same slit number. When the slit pixels are connected by being sandwiched between them, the same slit number is assigned to the sandwiched slit pixels. In the second case, slit pixels to which no slit number has been assigned yet are sandwiched between the slit pixel at the end point to which no slit number has been assigned and the slit pixel to which a slit number has been assigned, and are connected in 8-connection. In this case, the slit number is assigned to the sandwiched slit pixel.

以上の構成に加えて、スリット画素抽出手段1O2から
抽出されたスリット画素に対して、以下の第1の処理〜
第4の処理を実行し、残ったスリット画素を画素グルー
プ化手段103に出力する前処理手段を有するように構
成してもよい。同手段は、第1の処理として、現在着目
しているスリット画素の8近傍内に異なる色を有するス
リット画素がある場合に、該着目画素を削除する。第2
の処理として、現在着目しているスリット画素の8近傍
内に他のスリット画素が3画素以上ある場合に、該着目
画素を削除する。第3の処理として、現在着目している
スリット画素の8近傍のうち、該着目画素の行とその1
行上の行とに含まれる画素にスリット画素が2つ以上あ
る場合、又は着目画素の行とその1行下の行とに含まれ
る画素にスリット画素が2つ以上ある場合に、着目画素
を削除する。そして、第4の処理として、上述の第1の
処理〜第3の処理の後、スリット画素が8連結で接続す
ることにより形成されるスリット像の長さが所定の長さ
より短ければ、該スリット像は雑音であるとして該スリ
ット像を構成するスリット画素を全て削除する。
In addition to the above configuration, the following first processing ~
It may be configured to include pre-processing means for executing the fourth process and outputting the remaining slit pixels to the pixel grouping means 103. As a first process, this means deletes the currently focused slit pixel if there is a slit pixel having a different color within 8 neighborhoods of the focused slit pixel. Second
As the processing, if there are three or more other slit pixels within 8 neighborhoods of the slit pixel of interest, the pixel of interest is deleted. As the third process, among the eight neighbors of the slit pixel of interest, the row of the pixel of interest and its first
If there are two or more slit pixels in the pixel included in the row above the pixel, or if there are two or more slit pixels in the pixel included in the row of the pixel of interest and the row one row below, the pixel of interest is delete. Then, as a fourth process, if the length of the slit image formed by connecting 8 slit pixels after the above-mentioned first process to third process is shorter than a predetermined length, the slit All slit pixels constituting the slit image are deleted, assuming that the image is noise.

〔作   用〕[For production]

本発明の前提とする色分けされたスリット光を用いる3
次元形状計測方式においては、観測画像からスリット像
を如何に正確に復号するかによって、計測精度が大きく
左右される。一般に、顔のように、表面の色が一様でな
く、複雑な形状をした物体を観測対象とすると、スリッ
ト像を抽出する際に途切れ・欠落が生じ、正しい復号が
困難となる。
Using color-coded slit light, which is the premise of the present invention 3
In the dimensional shape measurement method, measurement accuracy is greatly influenced by how accurately the slit image is decoded from the observed image. Generally, when observing an object such as a face that has an uneven surface color and a complex shape, interruptions and omissions occur when extracting a slit image, making correct decoding difficult.

そこで本発明では、スリット像に対応するスリット光の
スリット番号を復号する場合に、第1図に示される如く
、処理を複数の段階に分け、確実なものから徐々に復号
し、不確かなものに対しては、既に復号されているスリ
ット像の結果を参照し復号を行うようにしている。
Therefore, in the present invention, when decoding the slit number of the slit light corresponding to the slit image, the process is divided into multiple stages as shown in FIG. In contrast, decoding is performed by referring to the results of the slit images that have already been decoded.

すなわち、観測画像101からスリット画素抽出手段1
02により、スリット像を構成する候補となるスリット
画素を抽出した後、画素グループ化手段103とグルー
プ化画素復号手段104により、まず、第1段階の復号
を行う。このうち、画素グループ化手段103では、予
めスリット像の途切れ・欠落の生じている可能性の高い
ところでスリット画素が別々にグループ化される。そし
て、グループ化画素復号手段104が、このようにして
グループ分けされたスリット画素単位で復号を行うこと
によって、間にスリット像の途切れ・欠落が生じている
2つのスリット画素に対して、連続したスリット番号が
与えられる可能性を低(することができる。この場合、
前述の第1の状態又は第2の状態の何れかが発生したら
復号は行われない。観測対象の背後にスクリーンを立て
たような場合、観測画像上のスリット像でのスリット番
号の反転はほとんど生じない。また、スリット像が1本
のスリット光により生じたものならば、そのスリット像
を構成する全ての画素に対し、同しスリット番号を与え
なければならない。従って、上述の第1及び第2の状態
を判定することにより、復号時の誤りを減少させること
ができる。
That is, the slit pixel extraction means 1 from the observed image 101
After slit pixels that are candidates for forming a slit image are extracted by step 02, first stage decoding is performed by pixel grouping means 103 and grouped pixel decoding means 104. Of these, the pixel grouping means 103 groups the slit pixels separately at locations where there is a high possibility that the slit image is interrupted or missing. Then, the grouped pixel decoding means 104 performs decoding on a unit of slit pixel grouped in this way, so that two slit pixels in which a slit image is interrupted or missing between them are It is unlikely that the slit number will be given (can be, in this case,
If either the first state or the second state described above occurs, decoding is not performed. When a screen is set up behind the observation target, the slit number in the slit image on the observation image is almost never reversed. Further, if the slit image is generated by one slit light beam, the same slit number must be given to all pixels forming the slit image. Therefore, by determining the first and second states described above, it is possible to reduce errors during decoding.

上述の第1段階の復号により得られた確実な復号結果を
用いて、スリット番号補間手段105で第2段階の復号
を行う。ここでは、第1段階の復号結果を用いた論理的
な補間処理により、スリット番号が与えられていなかっ
たスリット画素に適切にスリット番号を付与することが
できる。この場合、特に水平方向補間手段で水平方向の
補間処理を行うことにより、異なるスリット像に含まれ
るスリット画素に挟まれた別のスリット像のスリット画
素の補間を適切に行える。また、垂直方向補間手段で垂
直方向の補間処理を行うことにより、1本のスリット像
内でのスリット画素の補間処理を適切に行える。
Using the reliable decoding result obtained by the first stage decoding described above, the slit number interpolation means 105 performs the second stage decoding. Here, a slit number can be appropriately assigned to a slit pixel that has not been assigned a slit number by logical interpolation processing using the first-stage decoding result. In this case, in particular, by performing horizontal interpolation processing using the horizontal interpolation means, it is possible to appropriately interpolate slit pixels of another slit image sandwiched between slit pixels included in different slit images. Further, by performing vertical interpolation processing by the vertical interpolation means, interpolation processing of slit pixels within one slit image can be appropriately performed.

以上のように、多段階に分けて復号を行うことにより、
途切れたり欠落したりしたスリット像のスリット番号も
適切に復号することが可能となる。
As mentioned above, by performing decoding in multiple stages,
It becomes possible to appropriately decode slit numbers of slit images that are interrupted or missing.

また、本発明では、第1図の画素グループ化手段103
での処理の前に、前述の前処理手段を設けることにより
、その後の復号過程での誤りを更に減少させることがで
きる。
Further, in the present invention, the pixel grouping means 103 in FIG.
By providing the above-mentioned pre-processing means before the processing, errors in the subsequent decoding process can be further reduced.

〔実  施  例〕〔Example〕

以下、図面を参照しながら本発明の実施例につき説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

(日の3 1の  ) まず、本発明の実施例の構成について説明する。(Day 3 1) First, the configuration of an embodiment of the present invention will be explained.

第2図は、3次元計測システムの基本計測装置を示した
図である。
FIG. 2 is a diagram showing the basic measuring device of the three-dimensional measuring system.

同図において、光源201から発せられた光は、203
1〜203.の8本の色スリットを有するスリット板2
02を透過することにより、色符号化されたS種類のス
リット光204I〜204゜に変換される。ここで、光
源201としては0HP(オーバーへラドプロジェクタ
)装置の光源を用い、スリット板202としては、OH
Pシート上に8本の色スリット2041〜2045を等
間隔で描いたものを用いる。色符号化されたスリット光
204.〜204.は、例えば約1m離れた所に位置す
る対象205に投射される。
In the figure, the light emitted from the light source 201 is 203
1-203. Slit plate 2 with 8 color slits
02, it is converted into S types of color-coded slit lights 204I to 204°. Here, as the light source 201, a light source of an 0HP (overhead projector) device is used, and as the slit plate 202, an OH
A P sheet with eight colored slits 2041 to 2045 drawn at equal intervals is used. Color coded slit light 204. ~204. is projected onto a target 205 located, for example, approximately 1 meter away.

このようにスリット光2041〜2045の投射を受け
た対象205は、ビデオカメラである画像入力装置20
6で撮影される。これにより、画像入力装置206のカ
メラフレーム(結像位置)上には、同図207に概念的
に示されるように、スリット光204の投射を受けた対
象205のスリット像が結像されることになる。画像入
力装置206としては、512X480画素、1画素が
8bit(256階調)のカラーITVカメラを用い、
同装置は対象205から例えば約1m離れた位置に設置
する。
The object 205 on which the slit lights 2041 to 2045 are projected in this way is the image input device 20 which is a video camera.
Photographed at 6. As a result, a slit image of the object 205 projected by the slit light 204 is formed on the camera frame (imaging position) of the image input device 206, as conceptually shown in 207 of the same figure. become. As the image input device 206, a color ITV camera with 512 x 480 pixels and 8 bits per pixel (256 gradations) is used.
The device is installed, for example, at a position approximately 1 m away from the target 205.

ここで、光源201と画像入力装置206の焦点間の距
Md(後述する)は約0.5m、光源201の光軸と画
像入力装置206の光軸は約30’の角度をなすように
配設する。また、対象205の背後で光源201及び画
像入力装置206から約1.2mの位置に艶消し灰色の
スクリーンを置く。また、対象205は、スクリーンの
直前に配置し、対象205を画像入力装置206で撮影
した場合、対象205が撮影画面からはみ出さないよう
にする。
Here, the distance Md (described later) between the focal points of the light source 201 and the image input device 206 is approximately 0.5 m, and the optical axis of the light source 201 and the optical axis of the image input device 206 are arranged so that they form an angle of approximately 30'. Set up Further, a matte gray screen is placed behind the object 205 at a position approximately 1.2 m from the light source 201 and the image input device 206. Further, the object 205 is placed immediately in front of the screen so that when the object 205 is photographed by the image input device 206, the object 205 does not protrude from the photographing screen.

次に、本実施例では、画像入力装置206で撮影された
観測画像に対して、スリット像の復号処理を行う。その
ための復号処理部の構成を第3図に示す。
Next, in this embodiment, slit image decoding processing is performed on the observation image taken by the image input device 206. The configuration of the decoding processing section for this purpose is shown in FIG.

復号処理部では、第2図の画像入力装置206で撮影さ
れた観測画像301に対して、スリット候補画素抽出部
302、前処理部303、画素グループ化部304、グ
ループ化画素復号部305、水平方向補間部306及び
垂直方向補間部307の順に処理を行い、抽出された各
スリット像にスリット番号が対応付けられた最終的な復
号出力308を得る。これらの詳細な動作については後
述する。
In the decoding processing unit, a slit candidate pixel extraction unit 302, a preprocessing unit 303, a pixel grouping unit 304, a grouped pixel decoding unit 305, a horizontal Processing is performed in the order of the directional interpolation unit 306 and the vertical interpolation unit 307 to obtain a final decoded output 308 in which each extracted slit image is associated with a slit number. These detailed operations will be described later.

(3’3゛M濱の   ) 上記構成の3次元形状計測システムの実施例において、
まず、3次元形状を計測する場合の基本原理について以
下に説明しておく。なお、以下の説明では、第2図の光
源201は単に光源と呼び、画像入力装置206は単に
カメラと呼び、また、スリット光204.〜204sは
単にスリット光と呼ぶことにする。
(3'3゛M beach) In the example of the three-dimensional shape measurement system with the above configuration,
First, the basic principle when measuring a three-dimensional shape will be explained below. In the following description, the light source 201 in FIG. 2 is simply referred to as a light source, the image input device 206 is simply referred to as a camera, and the slit light 204 . ~204s will simply be called slit light.

まず、スリット板202からは、S種類のスリット光が
出るが、今、スリット板202上の各色スリット203
1〜203sには一連のスリット番号を付けておき、従
って、各スリット光もそれに対応して一意に決定される
ものとする。
First, S types of slit light are emitted from the slit plate 202, but now each color slit 203 on the slit plate 202
A series of slit numbers are assigned to 1 to 203s, and each slit light is therefore uniquely determined accordingly.

次に、第2図の3次元形状計測システムで用いる座標系
を第4図に示す。同図の如く、原点0を光源の焦点にと
り、カメラの焦点をX軸上に置く。
Next, FIG. 4 shows a coordinate system used in the three-dimensional shape measuring system shown in FIG. 2. As shown in the figure, the origin 0 is set as the focus of the light source, and the focus of the camera is placed on the X-axis.

また、S種類のスリット光は、y軸に略平行となるよう
に対象205上の任意の点Pに投影されるとする。
It is also assumed that S types of slit lights are projected onto an arbitrary point P on the object 205 so as to be substantially parallel to the y-axis.

今、スリット光が投射された対象205上の任意の点P
の座標P (xo、  yo、Zo )は、次の式(1
)〜(3)で求めることができる。
Now, any point P on the target 205 onto which the slit light is projected
The coordinates P (xo, yo, Zo) of
) to (3).

xo=zocot θ1(1) yo=J   XOd      +zo    ta
n  θt(2)ここで、 d =光源とカメラの焦点間の距離 θ、=X軸とカメラの光軸のなす角 θt=x−z平面とカメラの光軸のなす角θI”X軸と
スリット光のなす角 である。また、距離dの具体的数値は前述した通りであ
り、また、光源及びカメラの特性を予め測定しておけば
、カメラによる観測画像中の画素の位置から02、θ4
を求めることができる。更に、観測画像から抽出される
スリット像において、点Pに重なるスリット像のスリッ
ト番号が決定できればθ1を求めることができる。何故
なら、スリット番号が決定できれば、スリット光が第2
図のスリット板202上のどのスリットで生成されたか
がわかり、第2図の光源201とスリット板202上の
対応するスリットとの位置関係から、第3図の61を一
意に決定できるからである。
xo=zocot θ1(1) yo=J XOd +zo ta
n θt (2) where, d = distance between the light source and the focal point of the camera θ, = angle between the X-axis and the optical axis of the camera θt = angle between the x-z plane and the optical axis of the camera θI'' This is the angle formed by the slit light.The specific value of the distance d is as described above, and if the characteristics of the light source and camera are measured in advance, it is possible to θ4
can be found. Furthermore, in the slit images extracted from the observed image, if the slit number of the slit image overlapping the point P can be determined, θ1 can be determined. This is because if the slit number can be determined, the slit light
This is because it is possible to know which slit on the slit plate 202 in the figure generated the light, and 61 in FIG. 3 can be uniquely determined from the positional relationship between the light source 201 in FIG. 2 and the corresponding slit on the slit plate 202.

以上のようにして、対象205上の適当な複数個の点P
の位置が決定できれば、3次元座標であるxyz座標上
の対象205の位置が決定できることになり、対象20
5の3次元形状を計測できる。
As described above, a plurality of appropriate points P on the target 205 are
If the position of the object 205 can be determined, the position of the object 205 on the three-dimensional xyz coordinates can be determined.
The three-dimensional shape of 5 can be measured.

上述の原理かられかるように、点Pの計測精度は次の2
つの要因により決定される。すなわち、第1の要因は、
光源・カメラ特性の測定精度であり、第2の要因は、観
測画像から抽出されたスリット像の復号精度である。
As can be seen from the above principle, the measurement accuracy of point P is as follows:
Determined by two factors. That is, the first factor is
The second factor is the measurement accuracy of the light source/camera characteristics, and the second factor is the decoding accuracy of the slit image extracted from the observed image.

上記2つの要因を比べると、観測画像から抽出されたス
リット像の復号誤りによる影響の方が、光源・カメラ特
性の測定精度によるものよりもはるかに大きい。
Comparing the above two factors, the influence of the decoding error of the slit image extracted from the observed image is much larger than the influence of the measurement accuracy of the light source and camera characteristics.

本発明は、後に詳述するように、スリット像のスリット
番号の復号を正確に行うことができるスリット像の復号
処理部に特に関連するものである。
The present invention particularly relates to a slit image decoding processing section that can accurately decode the slit number of a slit image, as will be described in detail later.

ここで、本実施例では、第2図の対象205への投影パ
ターンとして、色で符号化されたS種類のスリット光2
04.〜204sを用いる。このスリット光は、第2図
のスリット板202上のS種類のスリット203重〜2
03sにより発生される。
Here, in this embodiment, as a projection pattern onto the target 205 in FIG.
04. ~204s is used. This slit light is transmitted through two to two S type slits 203 on the slit plate 202 in FIG.
Generated by 03s.

色符号化スリット光2041〜204sは、隣接したス
リット光に本の色の並び方から、それらのスリット番号
が一意に決定できるように、全体の配色が決められてい
る。q色を用いてスリット光2041〜204.を特徴
づけるとすると、このように配色されたスリット光は、
q元を用い符号長kを符号化させた符号系列と考えるこ
とができる。本実施例において用いるスリット光204
1〜204.は、以下の■〜■の4つの条件に従い符号
化することにする。なお、この条件は、文献「山本、田
宗2田村: “距離画像の入力と処理°。
The overall color scheme of the color-encoded slit lights 2041 to 204s is determined so that the slit numbers can be uniquely determined based on the way the colors of books are arranged in adjacent slit lights. Slit lights 2041 to 204 using q colors. If we characterize this, the slit light colored in this way is
It can be considered as a code sequence in which code length k is encoded using q elements. Slit light 204 used in this example
1-204. shall be encoded according to the following four conditions (1) to (2). This condition is based on the document ``Yamamoto, Tamo 2 Tamura: ``Input and processing of distance images''.

電子情報通信学会技術速報IE86−128(1987
−3)、 Jの記載に基づいている。
Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Technical Bulletin IE86-128 (1987
-3), based on the description of J.

■スリット光2041〜204.はq色を使って特徴づ
けられる。
■Slit light 2041-204. is characterized using q colors.

01本のスリット光は1色で特徴づけられる。01 slit light is characterized by one color.

■隣接するスリット光は同色にならない。■Adjacent slit lights do not have the same color.

■隣接したに本のスリット光による色の並び方は全スリ
ット光中に一度しか現れない。
■The arrangement of colors caused by adjacent book slit lights appears only once in all slit lights.

上述の■〜■の条件に従って符号化した場合、生成され
る符号系列の最大長、すなわちスリット光の総数Sは、 5=qX、(q−1)k−’ +)c−1(4)となる
。理想的な状況下では、このように符号化されたスリッ
ト光2041〜204sを対象に投影すると、隣接した
に本のスリット像を観測画像から抽出し、その配色を調
べれば、それらに本のスリット像のスリット番号が決定
できる。しかし実際は、観測画像から抽出されるスリッ
ト像に途切れ・欠落が生じ、k本の配色を調べてもスリ
ット番号が一意に決定できなかったり、正しく対応づけ
られない場合が多い。
When encoding is performed according to the conditions of ■ to ■ above, the maximum length of the generated code sequence, that is, the total number S of slit lights, is: 5=qX, (q-1)k-' +)c-1 (4) becomes. Under ideal conditions, when the slit lights 2041 to 204s encoded in this way are projected onto an object, adjacent book slit images are extracted from the observed image, and by examining their color scheme, it is possible to identify the book slit images between them. The slit number of the image can be determined. However, in reality, the slit images extracted from the observed images often have breaks or omissions, and even if k color schemes are examined, the slit numbers cannot be uniquely determined or cannot be correctly correlated.

特徴づけに用いる色の数9を増やせば、少ない本数でス
リット番号の復号が可能となり、スリット像の途切れ・
欠落の影響を受けにくくなる。しかし、スリット像の色
の判別は困難となる。特に、人間の顔のように表面の色
が均一でない物体を対象とすると、対象自体が持つ色の
影響を受けるため判別がより難しくなる。
By increasing the number of colors 9 used for characterization, it becomes possible to decode the slit number with a smaller number of colors, and the slit image becomes discontinuous.
Less susceptible to omissions. However, it becomes difficult to distinguish the color of the slit image. In particular, when an object whose surface color is not uniform, such as a human face, is targeted, discrimination becomes more difficult because it is affected by the color of the object itself.

1本のスリット光を長さ方向に分割し、q色を用いてさ
らに符号化することも考えられる。しかし、複雑な形状
を持つ物体を対象とすると、本来は1本のスリット光に
よるものが途切れ・欠落のため観測画像中では複数のス
リット像として観測されたり、或いは、複数のスリット
光によるものが1本のスリット像として観測される可能
性がある。このような場合、1本のスリット光を1色で
特徴づけておいたほうが、ス゛リット像とスリット光の
対応づけを行いやすい。
It is also conceivable to divide one slit light in the length direction and further encode it using q colors. However, when targeting an object with a complex shape, the image of one slit light may be interrupted or missing, so it may be observed as multiple slit images in the observation image, or the image of multiple slit light may be observed as multiple slit images. There is a possibility that it will be observed as a single slit image. In such a case, it is easier to associate the slit image with the slit light if each slit light is characterized by one color.

符号長が等しい場合、隣接するスリット光を異なる色で
特徴づけると、同色を許す場合に比べ、生成される符号
系列の最大長は短くなる。しかし、隣接するスリット光
の区別がつけやすくなるため、スリット光を対象に投影
する際の密度を上げることができる。
When the code lengths are equal, if adjacent slit lights are characterized by different colors, the maximum length of the generated code sequence will be shorter than if the same color is allowed. However, since it becomes easier to distinguish between adjacent slit lights, it is possible to increase the density when projecting the slit lights onto a target.

以上のことを考慮し、本実施例では、赤(R)・緑(G
)  ・青(B)の3色を用い符号化したスリット20
31〜2035をOHPシートのスリット板202上に
描き、スリット光204.〜204、を特徴づけている
。また、対象105の全体にスリット光が投影されるよ
うに、スリット203+〜203.は符号長に=6で符
号化し、前述の(4)式より、スリットの総数Sを3X
2’−’+6−1=101本とした。第5図に、色符号
化したスリットの例を示す。
Considering the above, in this example, red (R), green (G
) ・Slit 20 encoded using three colors of blue (B)
31 to 2035 are drawn on the slit plate 202 of the OHP sheet, and the slit light 204. ~204, are characterized. Furthermore, the slits 203+ to 203. is encoded with code length = 6, and from equation (4) above, the total number of slits S is 3X
2'-'+6-1=101 pieces. FIG. 5 shows an example of color-coded slits.

第13図(a)に色符号化スリット光を投影し、第2図
の画像入力装置206によって撮影された観測画像の例
を示す。
FIG. 13(a) shows an example of an observation image captured by the image input device 206 of FIG. 2 by projecting color-encoded slit light.

(復号処理部■動作) 次に、本発明に特に関連する復号処理部の動作について
説明する。
(Decoding Processing Unit (2) Operation) Next, the operation of the decoding processing unit that is particularly relevant to the present invention will be described.

復号処理部では、第2図の色符号化したスリット光20
41〜204.を対象205に投影し、それを画像入力
装置206で撮影した観測画像301から上記スリット
光により生じたスリット像を抽出し、スリット番号を復
号する。画像入力装置206から出力される1枚の観測
画像301は、赤・緑・青成分に対応した3枚の画像デ
ータからなる。これは、一般のビデオカメラの標準的な
出力である。以後、各画像データをそれぞれR−G・B
と略すことにする。また、R−G−Bの座標系は第13
図(a)の例に示される如く、水平右方向のU軸と、垂
直下方向のV軸とによって規定され、第2図のスリット
光204I〜204.は、V軸に対し略平行になるよう
に投影される。
In the decoding processing unit, the color-encoded slit light 20 shown in FIG.
41-204. is projected onto the object 205, and the slit image generated by the slit light is extracted from the observation image 301 captured by the image input device 206, and the slit number is decoded. One observation image 301 output from the image input device 206 is composed of three pieces of image data corresponding to red, green, and blue components. This is the standard output of a typical video camera. After that, each image data is converted to R-G/B.
I will abbreviate it as Also, the R-G-B coordinate system is the 13th
As shown in the example of FIG. 2, the slit lights 204I to 204. is projected to be approximately parallel to the V axis.

スリット       302の 上記R−G−Bの各画像データからなる観測画像301
は、まず、スリット候補画素抽出部302に入力しここ
でスリット候補画素が抽出される。
Observation image 301 consisting of the above RGB image data of slit 302
is first input to the slit candidate pixel extraction unit 302, where the slit candidate pixels are extracted.

そのために、R−G−Bの各画像データ別に、横方向(
第13図の例のU軸方向)に1行ずつ走査してゆき、各
行で明度値が極大となる画素を捜す。ここで、値が極大
となる画素とは、行方向で前後の画素の明度値より大き
い明度値を有する画素のことをいう。前述した如く、ス
リット光2041〜204.は、V軸に対しほぼ平行に
なるよう投射されるため、各行は上記スリット光に基づ
いて生じるスリット像にほぼ直交することになる。
For this purpose, each R-G-B image data is
The pixels are scanned line by line in the U-axis direction (in the example shown in FIG. 13), and a pixel with a maximum brightness value is searched for in each line. Here, a pixel with a maximum value refers to a pixel that has a brightness value greater than the brightness values of the pixels before and after it in the row direction. As mentioned above, the slit lights 2041 to 204. is projected substantially parallel to the V axis, so each row is substantially perpendicular to the slit image generated based on the slit light.

従って、スリット像に対応する部分では明るくなり(画
素の明度値が大きくなる)、スリット像の間に対応する
部分では暗くなる(画素の明度値が小さくなる)ため、
明度値が極大となる画素はスリット像を構成する画素の
候補と考えられる。ここで抽出された極大値を持つ画素
をスリット候補画素と呼ぶことにする。1本のスリット
像は、これらスリット候補画素が互いに8連結で接続し
ているものから構成されているとする。
Therefore, the areas corresponding to the slit images become brighter (pixel brightness values become larger), and the areas corresponding between the slit images become darker (pixel brightness values become smaller).
A pixel with a maximum brightness value is considered to be a candidate pixel constituting a slit image. The pixel having the maximum value extracted here will be called a slit candidate pixel. It is assumed that one slit image is composed of eight slit candidate pixels connected to each other.

各スリット候補画素には、R−G−Bのうちどの画像デ
ータ内で極大となったかで、R−G−Bのうち対応する
色情報が付与される。もし、スリット候補画素が複数の
画像データにおいて極大となる場合は、明度値が最大と
なった画像データの色をスリット候補画素の色とする。
Each slit candidate pixel is given corresponding color information among RGB, depending on which image data among RGB has the maximum value. If the slit candidate pixel is the maximum among a plurality of image data, the color of the image data with the maximum brightness value is set as the color of the slit candidate pixel.

IyL 1.1303のΦ 次に、上述のようにして抽出されるスリット候補画素は
前処理部303に入力し、後に実行されるスリット像の
復号が容易かつ正確に行われるようにするため、以下の
処理1〜処理4で示されるような前処理が順に行われ、
異なるスリット光により生じたスリット像が互いに8連
結で接続しないようにする。まず、現在処理を行おうと
するスリフト候補画素を第6図の如<poとし、その画
素の8近傍の各画素に、同図に示す番号P+=Psを付
与する。
Φ of IyL 1.1303 Next, the slit candidate pixels extracted as described above are input to the preprocessing unit 303, and in order to easily and accurately decode the slit image to be performed later, the following is performed. Pre-processing as shown in Process 1 to Process 4 is performed in order,
Slit images generated by different slit lights are prevented from being connected to each other in 8-connection. First, a thrift candidate pixel to be currently processed is set as <po as shown in FIG. 6, and a number P+=Ps shown in the figure is assigned to each of the eight pixels in the vicinity of that pixel.

*処理1・・・成るスリット候補画素P。の8近傍内(
P+−Pa)に、P、と異なる色情報が付与されたスリ
ット候補画素があれば、画素P。
*Processing 1... slit candidate pixel P. Within 8 neighborhoods of (
P+-Pa), if there is a slit candidate pixel to which color information different from P is given, the pixel is P.

を削除する。Delete.

1本のスリ・ノド光は1色で特徴付けられている。One ray of Suri-nod light is characterized by one color.

従って、1本のスリット画像に異なる色情報が付与され
た画素が存在する場合、このスリット像は異なるスリッ
ト光により生じた像が連結したものであると考えられる
。従って、上述の処理1により、複数の色で構成されて
いる1本のスリット像が複数のスリット像に分割され、
各スリ・ノド像を構成する画素は同一の色を持つことに
なる。
Therefore, when a single slit image includes pixels to which different color information is added, this slit image is considered to be a combination of images generated by different slit lights. Therefore, by the above-mentioned process 1, one slit image composed of multiple colors is divided into multiple slit images,
The pixels forming each pickpocket image have the same color.

*処理2・・・成るスリット候補画素P。の8近傍内に
他のスリット候補画素が3画素以上あれば、画素P。を
削除する。
*Processing 2... slit candidate pixel P. If there are three or more other slit candidate pixels within the 8 neighborhood of pixel P. Delete.

*処理3・・・Paがスリット候補画素で、P1〜P5
内にスリット候補画素が2つ以上、又はPとP5〜P8
内にスリット候補画素が2つ以上あれば、画素P0を削
除する。
*Processing 3...Pa is the slit candidate pixel, P1 to P5
There are two or more slit candidate pixels within, or P and P5 to P8
If there are two or more slit candidate pixels within the pixel P0, the pixel P0 is deleted.

同一のスリット光により生じたスリット像が交差・分岐
することは極めて特殊な例であり、はとんどないといえ
る。従って、交差・分岐が生じている箇所では、異なる
スリット光により生じたスリット像が連結していると考
えられる。従って、上述の処理2、処理3を行うことに
より、スリット像が交差・分岐する箇所の画素が取り除
かれ、1本のスリット像が複数のスリット像に分割され
る。
It is a very special case that slit images generated by the same slit light beam intersect or diverge, and it can be said that it is extremely rare. Therefore, it is considered that slit images generated by different slit lights are connected at locations where intersections and branches occur. Therefore, by performing Process 2 and Process 3 described above, pixels at locations where the slit images intersect or diverge are removed, and one slit image is divided into a plurality of slit images.

上述の処理1〜処理3を行った後、何らかの要因により
観測画像301に重畳された雑音等により誤って検出さ
れたスリット候補画素を取り除くため、処理4を行う。
After performing Processes 1 to 3 described above, Process 4 is performed in order to remove slit candidate pixels that are erroneously detected due to noise superimposed on the observed image 301 due to some reason.

*処理4・・・各スリット像の長さ(一方の端点から他
の端点にいくまでに通るスリット候補画素の数)を調べ
、ある値よりも短ければ雑音であるとみなし、そのスリ
・ノド像を構成するスリット候補画素を全て削除する。
*Process 4: Check the length of each slit image (the number of slit candidate pixels passed from one end point to the other end point), and if it is shorter than a certain value, it is considered to be noise, and the slit image is All slit candidate pixels forming the image are deleted.

以上の処理が終了した後、残ったスリット候補画素で構
成されるスリット像が最終的な抽出結果として出力され
る。このようにして出力される抽出結果は次の■〜■の
条件を満たすようになる。
After the above processing is completed, a slit image made up of the remaining slit candidate pixels is output as the final extraction result. The extraction results output in this way satisfy the following conditions (1) to (2).

01本のスリット像を構成する画素は、互いに8連結で
接続している。
The pixels constituting the 01 slit image are connected to each other in 8-connection.

01本のスリット像の太さは1画素である。The thickness of the 01 slit image is 1 pixel.

■1本のスリット像を構成する画素は同一の色情報を有
している。これは、処理1による。
(2) Pixels forming one slit image have the same color information. This is based on Process 1.

■異なる色情報を持つ各スリット像は1画素以上離れて
いる。これも処理1による。
■Each slit image with different color information is separated by one or more pixels. This is also based on process 1.

■スリット像は交差・分岐しない。これは、処理2、処
理3による。
■Slit images do not intersect or diverge. This is based on Process 2 and Process 3.

■スリット像の端点は、スリット像を構成する画素のう
ちで最も上に位置する(V座標の値が最小である)、又
は最も下に位置する(V座標の値が最大である。これは
、処理3による。
■The end point of the slit image is located at the top (the value of the V coordinate is the minimum) or at the bottom (the value of the V coordinate is the maximum) among the pixels that make up the slit image. , according to process 3.

以上の前処理部303での処理により、第13図(a)
に例示された観測画像301から抽出されたスリット像
(スリット候補画素による画像)の例を第13図(b)
に示す。この例では、前述の処理4において、長さが1
5画素以下のスリット像は削除されている。また、同図
の例では、スリット光が右側から投影されているため、
顔の左端、鼻の左側で影になる箇所が生じスリットが欠
落している。また、鼻の下・唇の付近は凹凸が特に激し
いため、スリットが途切れている。
As a result of the above processing in the preprocessing unit 303, as shown in FIG. 13(a).
An example of a slit image (image based on slit candidate pixels) extracted from the observed image 301 illustrated in FIG. 13(b)
Shown below. In this example, in the process 4 described above, the length is 1.
Slit images of 5 pixels or less are deleted. Also, in the example in the same figure, the slit light is projected from the right side, so
There is a shadow on the left side of the face and the left side of the nose, and the slit is missing. Also, the area under the nose and around the lips is particularly uneven, so the slit is interrupted.

′  の− ・な。占 上述の如く前処理部303で抽出されたスリット候補画
素に対して、第3図の画素グループ化部304、グルー
プ化画素復号部305、水平方向補間部306及び垂直
方向補間部307というように順次処理が行われてゆき
、復号化の処理が実行される。ここで、スリット候補画
素によって各スリット像が表現された画像をスリット画
像と呼ぶ。
′ no-・na. As described above, the slit candidate pixels extracted by the preprocessing unit 303 are processed by the pixel grouping unit 304, grouped pixel decoding unit 305, horizontal interpolation unit 306, and vertical interpolation unit 307 in FIG. Processing is performed sequentially, and decoding processing is executed. Here, an image in which each slit image is expressed by slit candidate pixels is called a slit image.

ここでは、復号化の具体的な処理について説明する前に
、スリット画像から各スリット像のスリット番号を復号
する場合の一般的な問題点について説明し、それと第3
図の各処理部との関係について言及する。
Here, before explaining the specific decoding process, we will explain the general problems when decoding the slit number of each slit image from the slit image, and the third
The relationship with each processing unit in the figure will be mentioned.

理想的な状況の下では、(3次元形状計測の基本原理)
の項で前述したように、隣接したに本のスリット像を抽
出し、それらを構成するスリット候補画素に付与されて
いる色情報を調べることにより、与えるべきスリット番
号を決定できる。しかし、抽出されたスリット像中に次
のような状況が生じると、ただ単にスリット像の配色を
調べだけでは、与えるべきスリット番号が一意に決定で
きなかったり、誤った番号を与えてしまうことになる。
Under ideal conditions, (basic principle of 3D shape measurement)
As described above, the slit number to be assigned can be determined by extracting adjacent slit images and examining the color information assigned to the slit candidate pixels composing them. However, if the following situation occurs in the extracted slit image, simply checking the color scheme of the slit image may not be able to uniquely determine the slit number to be assigned, or the wrong number may be assigned. Become.

*状況1・・・スリット像の反転が生じる。*Situation 1: Inversion of the slit image occurs.

*状況2・・・スリット像の途切れ・欠落が生じる。*Situation 2: Slit images are interrupted or missing.

*状況3・・・異なるスリット光により生じたスリット
像が互いに8連結で接続してしまい、1本のスリット像
として抽出される。
*Situation 3: Slit images generated by different slit lights are connected to each other in 8-connection, and are extracted as one slit image.

第7図に、上述の各状況の例を示す。図中、各正方形が
スリット像を構成する画素を表し、正方形内の数字は各
スリット候補画素に与えられるスリット番号であるとす
る。
FIG. 7 shows examples of each of the above-mentioned situations. In the figure, each square represents a pixel constituting a slit image, and the number inside the square is a slit number given to each slit candidate pixel.

上述の状況1は、第7図(a)又は第8図(a)に示す
ように、光源201側と画像入力装置206側との間で
スリットの順番が反転する現像である。この問題に対し
ては、第7図(b)の如く、対象205と背後のスクリ
ーンとの距離を短くすれば、かなり防ぐことができる。
Situation 1 described above is development in which the order of the slits is reversed between the light source 201 side and the image input device 206 side, as shown in FIG. 7(a) or FIG. 8(a). This problem can be significantly prevented by shortening the distance between the object 205 and the screen behind it, as shown in FIG. 7(b).

このため、本実施例で想定する観測画像301(第3図
)中ではスリット像の反転が生じていないものとして復
号を行うことにする。
Therefore, in the observed image 301 (FIG. 3) assumed in this embodiment, decoding is performed on the assumption that no inversion of the slit image has occurred.

また、前述の状況2は、光源201・画像入力装置20
6に対して対象205上に不可視の領域が存在したり、
観測画像301からスリット像を抽出する際に途切れ・
欠落が生じたりすることにより発生する。
Further, in the above-mentioned situation 2, the light source 201 and the image input device 20
6, there is an invisible area on the target 205,
When extracting the slit image from the observation image 301, there may be interruptions.
Occurs due to omissions.

これにより、第7図(b) (途切れ)及び(C)(欠
落)に示すように、隣接するスリット像のスリット番号
が不連続となったり、1本のスリット光により生じたス
リット像が複数のスリット像として抽出されたりする。
As a result, the slit numbers of adjacent slit images become discontinuous, or multiple slit images generated by one slit light beam are generated, as shown in Figure 7(b) (broken) and (C) (missing). It is extracted as a slit image.

復号以前の処理を工夫しただけでは、この状況の発生を
防ぎきれない。この問題に対しては、主に後述する画素
グループ化部304で対処できる。
It is not possible to prevent this situation from occurring simply by improving the processing before decryption. This problem can be mainly addressed by the pixel grouping unit 304, which will be described later.

更に、前述の状況3は、対象205の凹凸が激しい場合
に生じ、第7図(d)に示されるように、同一のスリッ
ト像を構成する画素でも、与えるべきスリット番号が画
素により異なってくる。前述した前処理部303での処
理1においては、異なる色で特徴付けられた複数のスリ
ット光により生じたスリット像が互いに8連結で接続し
ている場合、最終的には1本のスリット像として抽出さ
れることはない。しかし、同一の色で特徴付けられた異
なるスリット光により生じたスリット像が8連結で接続
している場合、処理1では対処できないため、上述のよ
うな現象が生じる。この問題に対しては、主にグループ
化画素復号部305で対処できる。
Furthermore, the above-mentioned situation 3 occurs when the object 205 has severe irregularities, and as shown in FIG. 7(d), the slit number to be given differs depending on the pixel even if the pixels constitute the same slit image. . In the process 1 in the preprocessing unit 303 described above, when the slit images generated by a plurality of slit lights characterized by different colors are connected to each other in an 8-connection, they are finally converted into one slit image. It is never extracted. However, when 8 slit images generated by different slit lights characterized by the same color are connected, processing 1 cannot deal with the problem, and the above-mentioned phenomenon occurs. This problem can be mainly dealt with by the grouped pixel decoding unit 305.

第3図の画素グループ化部304以下の復号処理におい
ては、同図かられかるように、処理を複数の段階に分け
ている。すなわち、確実であるものから順にスリット候
補画素の番号付けを行ってゆき、番号が決定されなかっ
た画素については近傍のスリット候補画素の番号を参照
し順次決定してゆくようにしている。これが本実施例の
大きな特徴である。
In the decoding process below the pixel grouping unit 304 in FIG. 3, the process is divided into a plurality of stages, as can be seen from the figure. That is, the slit candidate pixels are numbered in order of certainty, and for pixels whose numbers have not been determined, they are sequentially determined by referring to the numbers of neighboring slit candidate pixels. This is a major feature of this embodiment.

グループ  304の まず、画素グループ化部304では、第3図の前処理部
303の出力すなわちスリット像を構成するスリット候
補画素について処理を行う。以後の説明では、この画素
をスリット画素と呼ぶことにする。スリット画像におい
て、隣接するスリット画素の間隔が大きい場合、その間
にスリット像の途切れ・欠落が生じている可能性が高い
と考えられる。また、隣接するスリット光は同じ色にな
らないから、隣接する2つのスリット画素の色が同じ場
合も、間に途切れ・欠落が生じている可能性が高い。こ
めような場合は、前述の状況2に該当する。
First of the group 304, the pixel grouping unit 304 processes the output of the preprocessing unit 303 in FIG. 3, that is, the slit candidate pixels constituting the slit image. In the following description, this pixel will be referred to as a slit pixel. In a slit image, if the interval between adjacent slit pixels is large, it is considered that there is a high possibility that the slit image is interrupted or missing between them. Furthermore, since adjacent slit lights do not have the same color, even if two adjacent slit pixels have the same color, there is a high possibility that a break or omission will occur between them. If this happens, it falls under situation 2 above.

そこで、画素グループ化部304では、スリット画像を
横方向に1行ずつ走査し、隣接するスリット画素をグル
ープにまとめていく。ただし、隣接する2つのスリット
画素(P□pb)の間隔が所定の闇値Dtよりも大きい
場合、又はP、、P。
Therefore, the pixel grouping unit 304 scans the slit image horizontally line by line and groups adjacent slit pixels. However, if the interval between two adjacent slit pixels (P□pb) is larger than a predetermined darkness value Dt, or P,,P.

に付与されている色情報が同じである場合には、P−、
Pbを異なるグループに分類する。闇値Diは、スリッ
ト画像全体における隣接するスリット画素間隔の平均で
あるとする。
If the color information given to is the same, P-,
Classify Pb into different groups. It is assumed that the darkness value Di is the average interval between adjacent slit pixels in the entire slit image.

グループは、途切れ・欠落の生じている可能性の高いと
ころで区切られることになるため、グループ化されたス
リット画素を復号の処理単位とすることで、間にスリッ
ト像の途切れ・欠落が生じている2つの画素に対して、
連続したスリット番号が与えられる可能性を低くするこ
とができる。
Groups are separated at places where there is a high possibility of interruptions or omissions, so by using grouped slit pixels as the processing unit for decoding, it is possible to avoid interruptions or omissions in the slit image between them. For two pixels,
It is possible to reduce the possibility that consecutive slit numbers will be given.

第9図に、画素グループ化部304での画素のグループ
化の例を示す。同図において、Dt””2であり、R−
G−Bはスリット画素に付与された色情報によって決ま
る色を表し、G1−G5はグループを表すものとする。
FIG. 9 shows an example of grouping of pixels in the pixel grouping unit 304. In the same figure, Dt""2 and R-
It is assumed that G-B represents a color determined by color information given to a slit pixel, and G1-G5 represents a group.

G2  Ge1間はスリット画素の間隔がり、よりも大
きくなるため、2つのグループに分けられる。G4=0
5間は隣接するスリット画素の色が同色になるため、2
つのグループに分けられる。
Since the spacing between the slit pixels between G2 and Ge1 is larger than that of the slit pixels, the slit pixels are divided into two groups. G4=0
5, adjacent slit pixels have the same color, so 2
divided into two groups.

グループ   ”’  305の 上述のようにして、各スリット画素がグループ化された
スリット画像はグループ化画素復号部305に入力し、
ここでグループ化されたスリット画素が復号される。
The slit image in which each slit pixel is grouped as described above in the group "' 305 is input to the grouped pixel decoding unit 305,
Here, the grouped slit pixels are decoded.

まず、各グループ内のスリット画素の数が符号長に以上
で(前述の(4)式等参照)、スリット画素の色の並び
方がスリット光投影側における符号系列の一部分となる
グループを記録しておく。
First, record the groups in which the number of slit pixels in each group is greater than or equal to the code length (see equation (4), etc. above), and the arrangement of colors of the slit pixels is part of the code sequence on the slit light projection side. put.

そして、含まれるスリット画素の数が多いグループから
順に復号を行い、それぞれのグループに含まれるスリッ
ト画素に、対応するスリット番号を与えていく。例えば
、第10図(a)のような色の並びを有するスリット画
素列に対して、同図(b)の投射側のスリットパターン
列の色の並びのうち等しい部分を参照し、対応するスリ
ット番号を同図(a)の如く付与する。
Then, decoding is performed in order from the groups containing the largest number of slit pixels, and a corresponding slit number is given to the slit pixels included in each group. For example, for a slit pixel array having a color arrangement as shown in FIG. Numbers are assigned as shown in Figure (a).

但し、以下に述べる2つの状態が発生した場合は、その
グループに対する復号を行わないことにする。
However, if the following two conditions occur, the group will not be decoded.

*状態1・・・その復号を行うと、既にスリット番号が
与えられているスリット画素との間で、スリット番号の
反転が生じる。
*State 1: When decoding is performed, the slit number is reversed with respect to the slit pixel to which the slit number has already been assigned.

*状態2・・・その復号を行うと、1本のスリット光に
より生じたスリット像内に、異なるスリット番号を持っ
たスリット画素が混在する。
*State 2: When decoding is performed, slit pixels with different slit numbers coexist within the slit image generated by one slit light.

前述したように、本実施例で扱う観測画像301中では
、スリット像の反転がほとんど生じない。
As described above, in the observation image 301 used in this embodiment, there is almost no inversion of the slit image.

また、スリット像が1本のスリット光により生じたもの
ならば、そのスリット像を構成する全ての画素に対し、
同じスリット番号を与えなければならない。従って、あ
る復号により上述のような状態1又は2が発生した場合
、その復号は誤っていることになる。
Also, if the slit image is generated by one slit light, for all pixels that make up the slit image,
The same slit number must be given. Therefore, if a certain decoding causes state 1 or 2 as described above, that decoding is incorrect.

状態2が発生しているか否かを調べるためには、次に述
べる検査を行い、スリット像が1本のスリット光により
生じたものか、複数のスリット光により生じたものか判
定する。
In order to investigate whether state 2 has occurred, the following test is performed to determine whether the slit image is generated by a single slit beam or by a plurality of slit beams.

複数のスリット光により生じたスリット像が互いに8連
結で接続している場合、両隣のスリット像にも同じ状態
が生じていることは非常に少なく、はとんどの場合はス
リット像の途切れ・欠落が発生している。そこで今、隣
接する3本のスリット像S□S、、Seがあるとし、各
々に含まれるスリット画素をPa  (us、vb )
、Pb  (ub、Vb )。
When slit images generated by multiple slit lights are connected to each other in an 8-connected manner, it is very rare that the same condition occurs in the slit images on both sides, and in most cases, the slit images are interrupted or missing. is occurring. Now, suppose that there are three adjacent slit images S□S, , Se, and the slit pixels included in each are Pa (us, vb )
, Pb (ub, Vb).

Pc  (uc、Vc )とする。成る量V、、Vdが
存在し、V、<v、、 vb+VC<vdのときに、P
、、Pb、PCが以下の■及び■の条件を満足するなら
ば、この範囲内でスリット像Sb及びその両隣のスリッ
ト像S、、Scには途切れ・欠落が発生していないとみ
なし、Sbのこの部分(V、<v、。
Let it be Pc (uc, Vc). If there exists a quantity V,, Vd, and V,<v,, vb+VC<vd, then P
,,Pb,PC satisfy the following conditions (■) and (■), it is assumed that there is no discontinuity or omission in the slit image Sb and the slit images S, , Sc on both sides of it within this range, and Sb This part of (V,<v,.

<V、)は、1本のスリット光により生したものと判断
する。
<V, ) is determined to be generated by one slit beam.

■u@ < ub < Llcかつub  (1m+u
c  ub<D、が成立する。但し、v、=vb =v
c=v(同一値)である。また、Diは、画素グループ
化部304において使用された闇値である。
■u @ < ub < Llc and ub (1m+u
cu ub<D holds true. However, v, = vb = v
c=v (same value). Further, Di is the darkness value used in the pixel grouping unit 304.

■v、=vb =vc=v (同一値)のとき、P。■When v, = vb = vc = v (same value), P.

Pb間及びPb  Pe間に他のスリット画素が存在し
ない。
There are no other slit pixels between Pb and between Pb and Pe.

以上のようにして、グループ化されたスリット画素の復
号が終了したら、この処理により決定された画素のスリ
ット番号を、前述の状態2が発生しない限り、スリット
像に沿って上下のスリット画素に伝搬させていく。
When the decoding of the grouped slit pixels is completed in the above manner, the slit number of the pixel determined by this process is propagated to the upper and lower slit pixels along the slit image, unless the above-mentioned state 2 occurs. I'll let you do it.

第13図(C)に、グループ化画素の復号を行った例を
示す。また、同図(d)に、スリット像に沿って上下の
スリット画素(垂直方向)にスリット番号を伝搬させた
例を示す。同図において、スリット番号が決定された画
素は黒で表しである。
FIG. 13(C) shows an example in which grouped pixels are decoded. Further, FIG. 2D shows an example in which the slit number is propagated to the upper and lower slit pixels (in the vertical direction) along the slit image. In the figure, pixels for which slit numbers have been determined are shown in black.

306の 上述の復号化出力は、更に、水平方向補間部306に入
力する。第13図(1))と(d)図4(ハ)を比較す
ればわかるように、グループ化されたスリット画素を復
号しただけでは、未だ番号付けされていないスリット画
素が多数存在する。そこで、水平方向補間部306では
、まだ番号を与えられていないスリット画素で互いに隣
接しているものを単位として、スリット番号の補間を水
平方向に行う。
The above decoded output of 306 is further input to the horizontal interpolation unit 306 . As can be seen by comparing FIG. 13(1)) with FIG. 4(d) and FIG. 4(c), even if the grouped slit pixels are only decoded, there are still many unnumbered slit pixels. Therefore, the horizontal interpolation unit 306 performs interpolation of slit numbers in the horizontal direction using adjacent slit pixels that have not yet been assigned a number as units.

第11図(a)のように、番号未決定のスリット画素列
が、番号決定済みの画素で挟まれている場合、同図(ト
))の投影側のスリットパターン列と比較し、色の並び
方が投影側のパターン列の一部分と−敗しなくとも、ス
リット画素の番号が一意に決定できることにする。
As shown in Figure 11(a), when a slit pixel row whose number has not yet been determined is sandwiched between pixels whose numbers have already been determined, the color difference is compared with the slit pattern row on the projection side in Figure 11(g)). It is assumed that the slit pixel number can be uniquely determined even if the arrangement is consistent with a part of the pattern row on the projection side.

第13図(e)に、水平方向補間部306での処理結果
の例を示す。同図において、スリット番号が決定された
画素は黒で表しである。
FIG. 13(e) shows an example of the processing results in the horizontal interpolation section 306. In the figure, pixels for which slit numbers have been determined are shown in black.

なお、水平方向の補間が終了したら、グループ化画素復
号部305の場合と同様に、垂直方向にスリット番号を
伝搬させていく。
Note that once the horizontal interpolation is completed, the slit number is propagated in the vertical direction, as in the case of the grouped pixel decoding unit 305.

垂盲 n  日、307の111 上述の水平方向補間部306を通ったスリット画素は、
最後に垂直方向補間部307に入力する。
Dropopia n Day, 307-111 The slit pixels that have passed through the horizontal interpolation unit 306 described above are:
Finally, it is input to the vertical interpolation section 307.

ここでは、水平方向補間部306までの処理でスリット
番号が与えられないスリット画素に対して、以下の手順
に従って番号付けが行われる。
Here, slit pixels that are not given slit numbers in the processing up to the horizontal interpolation unit 306 are numbered according to the following procedure.

*スリット番号が決定されていないスリット画素が、同
一のスリット番号N、を待った2つのスリット画素に挟
まれた場合、間にある未決定のスリット画素にスリット
番号N5を与える。
*If a slit pixel whose slit number has not been determined is sandwiched between two slit pixels waiting for the same slit number N, give the slit number N5 to the undetermined slit pixel in between.

*スリット番号が決定されていないスリット画素が、番
号未決定の端点とスリット番号がN、に決定済みのスリ
ット画素に挟まれた場合、間にある未決定のスリット画
素にスリット番号N、を与える。
*If a slit pixel whose slit number has not been determined is sandwiched between an end point whose number has not been determined and a slit pixel whose slit number has already been determined, give the slit number N to the undetermined slit pixel in between. .

第12図に、上述の処理の動作を示す。同図において、
N1〜Ncは水平方向補間部306までの処理により決
定されているスリット画素のスリット番号を表し、Pa
−PCはスリット番号が未だ決定されていないスリット
画素を表す。上述の処理により、P3〜PCの画素に対
し、それぞれスリット番号N、−N、が与えられること
になる。
FIG. 12 shows the operation of the above processing. In the same figure,
N1 to Nc represent the slit numbers of slit pixels determined by the processing up to the horizontal interpolation unit 306, and Pa
-PC represents a slit pixel whose slit number has not yet been determined. Through the above-described processing, slit numbers N and -N are given to pixels P3 to PC, respectively.

以上、垂直方向補間部307までの全ての処理を行って
得られる復号出力308(第3図)の例を第13図げ)
に示す。同図において、スリット番号が決定された画素
は黒で表しである。同図かられかるように、第13図(
b)の黒い部分で示される、前処理部303(第3図)
で得られたスリット像に対して、最後までスリット番号
が決定されなかった画素は非常にわずかであり、復号化
が適切になされていることがわかる。
Figure 13 shows an example of the decoded output 308 (Figure 3) obtained by performing all the processing up to the vertical interpolation unit 307.
Shown below. In the figure, pixels for which slit numbers have been determined are shown in black. As can be seen from the same figure, Figure 13 (
Pre-processing section 303 (Fig. 3) shown in black part in b)
For the slit image obtained in , there are very few pixels for which the slit number was not determined until the end, which shows that the decoding was performed appropriately.

(3゛ −タ ”のi ゛ “  の  )以上示した
第3図の復号処理部での処理により、観測画像から抽出
された各スリット画素にスリット番号が一意に対応付け
られた復号出力308を得ることができる。
(i `` of 3 ゛ - ta '') Through the processing in the decoding processing unit shown in FIG. Obtainable.

これに基づいて、(3゛−)8渭の  、 )の項で前
述したように、上記スリット番号から、第4図に示され
る各スリット画素に重なる点Pに関するスリット光の投
射角θ1を一意に定めることができ、各スリット画素に
重なる点Pの第4図の座標系上での3次元座標(Xo 
、  yo 、  Zo )を前述の(1)弐〜(3)
式から算出することができる。
Based on this, as mentioned above in the section of (3゛-)8渭, The three-dimensional coordinates (Xo
, yo, Zo) as mentioned above (1)2~(3)
It can be calculated from the formula.

第13図(f)の復号出力308の例より算出された3
次元座標を回転し得られた3次元形状を第14図に示す
3 calculated from the example of the decoded output 308 in FIG. 13(f)
FIG. 14 shows a three-dimensional shape obtained by rotating the dimensional coordinates.

この場合、第3図の観測画像301からは、スリフト像
が抽出された部分の3次元座標しが求められないので、
第14図の例では、得られた3次元座標をB −5pl
 ineの曲面により補関しである。
In this case, the three-dimensional coordinates of the part where the thrift image is extracted cannot be determined from the observed image 301 in FIG.
In the example of Fig. 14, the obtained three-dimensional coordinates are B −5pl
It is complemented by the surface of ine.

この補間技術については、文献rW、J、Gordon
 andR,F、Riesenfeld:’B−5pl
ine Curves and 5urfacesin
 Computer Aided Geometori
c Design、 eds、 R。
This interpolation technique is described in the literature rW, J. Gordon
andR,F, Riesenfeld:'B-5pl
ine Curves and 5 surfacesin
Computer Aided Geometry
c Design, eds, R.

E、Barnhill  and  R,F、Ries
enfeld、  pp、95−126゜Academ
ic Press、 New York(1974)、
 Jに開示されている。
E, Barnhill and R, F, Ries
enfeld, pp, 95-126°Academ
ic Press, New York (1974),
It is disclosed in J.

(発明の効果〕 本発明によれば、色分けされたスリット光を用いる3次
元形状計測方式において、複雑な形状をした観測対象か
らスリット像を抽出する際に途切れ・欠落が生じても、
復号処理を複数の段階に分け、確実なものから徐々に復
号し、不確かなものに対しては、既に復号されているス
リット像の結果を参照して復号を行うようにすることに
より、観測対象の3次元形状を正確に計測することが可
能となる。
(Effects of the Invention) According to the present invention, in a three-dimensional shape measurement method using color-coded slit light, even if breaks or omissions occur when extracting a slit image from an observation object with a complex shape,
By dividing the decoding process into multiple stages, gradually decoding things that are certain, and decoding uncertain things by referring to the results of the slit images that have already been decoded, it is possible to It becomes possible to accurately measure the three-dimensional shape of

これにより、被験者に特殊な状況を強いることなく、単
純な装置での自動計測が実現でき、従来の方式に比べて
簡単に顔の3次元形状を計測することが可能となる。
As a result, automatic measurement can be achieved using a simple device without forcing the subject into special situations, and the three-dimensional shape of the face can be measured more easily than with conventional methods.

具体的な効果としては、画素グループ化手段で予めスリ
ット像の途切れ・欠落の生じている可能性の高いところ
でスリット画素を別々にグループ化した後に、グループ
化画素復号手段で復号することにより、間にスリット像
の途切れ・欠落が生じている2つのスリット画素に対し
て、連続したスリット番号が与えられる可能性を低くす
ることが可能となる。
As a specific effect, the slit pixels are grouped separately in advance by the pixel grouping means at the places where there is a high possibility of interruptions or omissions in the slit image, and then the grouped pixel decoding means decodes the slit pixels. It is possible to reduce the possibility that consecutive slit numbers will be assigned to two slit pixels whose slit images are interrupted or missing.

また、グループ化画素復号手段で復号を行う場合に、生
じる可能性のない状態を論理的に判断して復号を行わな
いようにすることにより、復号時の誤りを減少させるこ
とが可能となる。
Further, when decoding is performed by the grouped pixel decoding means, it is possible to reduce errors during decoding by logically determining a state that is unlikely to occur and not performing decoding.

更に、スリット番号補間手段によりグループ化画素復号
手段での復号結果を用いて論理的な補間処理を行うこと
により、スリット番号が与えられていなかったスリット
画素に適切にスリット番号を付与することができる。こ
の場合、特に水平方向補間手段で水平方向の補間処理を
行うことにより、異なるスリット像に含まれるスリット
画素に挟まれた別のスリット像のスリット画素の補間を
適切に行うことが可能となる。また、垂直方向補間手段
で垂直方向の補間処理を行うことにより、1本のスリッ
ト像内でのスリット画素の補間処理を適切に行うことが
可能となる。
Furthermore, by performing logical interpolation processing using the decoding results of the grouped pixel decoding means by the slit number interpolation means, it is possible to appropriately assign slit numbers to slit pixels to which no slit numbers have been assigned. . In this case, in particular, by performing horizontal interpolation processing using the horizontal interpolation means, it is possible to appropriately interpolate slit pixels of another slit image sandwiched between slit pixels included in different slit images. Further, by performing vertical interpolation processing by the vertical interpolation means, it becomes possible to appropriately perform interpolation processing of slit pixels within one slit image.

以上の効果に加えて、画素グループ化手段での処理の前
に、前処理手段を設けることにより、その後の復号過程
での誤りを更に減少させることが可能となる。
In addition to the above effects, by providing a preprocessing means before the processing by the pixel grouping means, it is possible to further reduce errors in the subsequent decoding process.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明のブロック図、 第2図は、本実施例で前提とする3次元計測システムの
構成図、 第3図は、本実施例における復号処理部の構成図、 第4図は、3次元計測システムの座標系の説明図、 第5図は、色符号化したスリットの例を示した図、 第6図は、画素P。の8近傍を示した図、第7図は、ス
リット像の復号を誤る状況の説明図、 第8図(a)、(b)は、投影されるスリット光と検出
されるスリット像の関係図、 第9図は、画素のグループ化の説明図、第1O図は、グ
ループ化画素の復号処理の説明図、 第11図は、スリット番号の補間処理(水平方向)の説
明図、 第12図は、スリット番号の補間処理(垂直方向)の説
明図、 第13図は、観測画像、スリット画像および復号の様子
を示した図、 第14図は、3次元形状の計測結果の例を示した図であ
る。 101・・・観測画像、 102 103 04 05 06 スリット画素抽出手段、 画素グループ化手段、 グループ化画素復号手段、 スリット番号補間手段、 復号出力。
FIG. 1 is a block diagram of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of a three-dimensional measurement system based on this embodiment. FIG. 3 is a configuration diagram of a decoding processing unit in this embodiment. is an explanatory diagram of the coordinate system of the three-dimensional measurement system; FIG. 5 is a diagram showing an example of a color-coded slit; and FIG. 6 is a diagram of a pixel P. Figure 7 is an explanatory diagram of a situation where the slit image is decoded incorrectly. Figures 8 (a) and (b) are diagrams showing the relationship between the projected slit light and the detected slit image. , Fig. 9 is an explanatory diagram of pixel grouping, Fig. 1O is an explanatory diagram of decoding processing of grouped pixels, Fig. 11 is an explanatory diagram of slit number interpolation processing (horizontal direction), Fig. 12 is an explanatory diagram of slit number interpolation processing (vertical direction), Figure 13 is a diagram showing observed images, slit images, and decoding, and Figure 14 is an example of measurement results of three-dimensional shapes. It is a diagram. 101...Observation image, 102 103 04 05 06 slit pixel extraction means, pixel grouping means, grouped pixel decoding means, slit number interpolation means, decoding output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)q及びkを2以上の所定の自然数とし、各スリット
光がq色のうち1色で特徴付けられ、隣接する2本のス
リット光は同色にならず、隣接するk本のスリット光に
よる色の並び方は全スリット光中に一度しか現れず、か
つ各スリット光にスリット番号が付与された複数の平行
なスリット光を、所定の3次元座標系内の所定の座標軸
に平行になるように観測対象に投射し、その状態で該観
測対象を前記所定の座標軸が垂直方向となるように撮影
した観測画像(101)から前記各スリット光に対応す
るスリット像とその色を検出し、該各スリット像の色の
並びからスリット番号を復号することにより、前記観測
対象の3次元形状を計測する3次元形状計測方式におい
て、 前記観測画像(101)から前記各スリット像を構成し
得るスリット画素とその色を抽出するスリット画素抽出
手段(102)と、 該抽出された各スリット画素を、前記観測画像(101
)上の各行毎に、所定の間隔以上となり又は同じ色とな
る隣接する2つのスリット画素が異なるグループに分類
されるように、グループ分けする画素グループ化手段(
103)と、 該分類された各グループのうち、該グループ内のスリッ
ト画素の数がk個以上で、かつ該各スリット画素の色の
並びが投射側のスリット光の色の並びの一部分となるグ
ループを検出し、該グループ内の各スリット画素に該画
素の色と同じ色の前記投射側のスリット光に付与されて
いるスリット番号を付与するグループ化画素復号手段(
104)と、該スリット番号が付与されたスリット画素
に基づいてスリット番号を補間することにより、前記ス
リット画素抽出手段(102)から抽出されたスリット
画素のうち、前記グループ化画素復号手段(104)に
よりスリット番号が付与されなかったスリット画素にス
リット番号を付与し、前記グループ化画素復号手段(1
04)によりスリット番号が付与されたスリット画素と
合わせて最終的な復号出力(106)を出力するスリッ
ト番号補間手段(105)と、を有することを特徴とす
る3次元形状計測方式。 2)前記グループ化画素復号手段は、前記各スリット画
素のスリット番号の復号を行うと既にスリット番号が与
えられているスリット画素との間でスリット番号の反転
を生じる第1の状態、又は前記各スリット画素のスリッ
ト番号の復号を行うと1本のスリット光により生じたス
リット像内に、異なるスリット番号を持ったスリット画
素が混在する第2の状態の何れかが発生した場合には、
前記各スリット画素のスリット番号の復号を行わないこ
とを特徴とする3次元形状計測装置。 3)前記スリット番号補間手段は、 前記観測画像の各行毎に、前記スリット番号が未だ付与
されていないスリット画素列が、前記スリット番号が付
与されているスリット画素で挟まれている場合に、該ス
リット画素のスリット番号に基づいて前記投射側のスリ
ット光の並びのうち対応するものを参照し、前記スリッ
ト番号が付与されていない各スリット画素に該画素に対
応する前記投射側のスリット光に付与されているスリッ
ト番号を付与する水平方向補間手段と、 該水平方向補間手段での処理の後、第1の場合として、
前記スリット番号が未だ付与されていないスリット画素
が、同一のスリット番号が付与されている2つのスリッ
ト画素に8連結で挟まれて接続する場合に、該挟まれた
スリット画素に該同一のスリット番号を付与し、第2の
場合として、前記スリット番号が未だ付与されていない
スリット画素が、前記スリット番号が未だ付与されてい
ない端点のスリット画素と前記スリット番号が付与され
ているスリット画素に挟まれて8連結で接続する場合に
、該挟まれたスリット画素に該スリット番号を付与する
、垂直方向補間手段と、を含むことを特徴とする請求項
1又は2記載の3次元形状計測方式。 4)前記色の種類q色は赤色、緑色及び青色の3色であ
り、 前記観測画像は、ビデオカメラから出力される赤色成分
画像、緑色成分画像及び青色成分画像の3枚の画像であ
り、 前記スリット画素抽出手段は、前記赤色成分画像、緑色
成分画像及び青色成分画像の各画像別に、該各画像上の
各行毎に明度値が極大となる画素を前記スリット画素と
して抽出すると共に、該各スリット画素に該画素が前記
赤色成分画像、緑色成分画像及び青色成分画像のどの画
像内で極大となったかによって、赤色、緑色又は青色の
うちいずれかの対応する色として前記スリット画素の色
を抽出する、 ことを特徴とする請求項1乃至3記載の3次元形状計測
装置。 5)前記スリット画素抽出手段から抽出された前記スリ
ット画素に対して、 現在着目しているスリット画素の8近傍内に異なる色を
有するスリット画素がある場合に、該着目画素を削除す
る第1の処理と、 現在着目しているスリット画素の8近傍内に他のスリッ
ト画素が3画素以上ある場合に、該着目画素を削除する
第2の処理と、 現在着目しているスリット画素の8近傍のうち、該着目
画素の行とその1行上の行とに含まれる画素にスリット
画素が2つ以上ある場合、又は前記着目画素の行とその
1行下の行とに含まれる画素にスリット画素が2つ以上
ある場合に、前記着目画素を削除する第3の処理と、 前記第1の処理から第3の処理の後、前記スリット画素
が8連結で接続することにより形成されるスリット像の
長さが所定の長さより短ければ、該スリット像は雑音で
あるとして該スリット像を構成する前記スリット画素を
全て削除する第4の処理と、 を実行した後、残ったスリット画素を前記画素グループ
化手段に出力する前処理手段を有する、ことを特徴とす
る請求項1乃至4記載の3次元形状計測装置。
[Claims] 1) Let q and k be predetermined natural numbers of 2 or more, each slit light is characterized by one of q colors, and two adjacent slit lights are not the same color, but the adjacent slit lights are The arrangement of colors from k slit lights appears only once in all slit lights, and each slit light is assigned a slit number, and multiple parallel slit lights are arranged on a predetermined coordinate axis in a predetermined three-dimensional coordinate system. A slit image and its color corresponding to each of the slit lights are obtained from an observation image (101) which is projected onto an observation object so that the light is parallel to In a three-dimensional shape measurement method that measures the three-dimensional shape of the observation target by detecting the color sequence of each slit image and decoding the slit number from the color arrangement of each slit image, slit pixel extraction means (102) for extracting slit pixels that can be configured and their colors;
), pixel grouping means (
103) Among the classified groups, the number of slit pixels in the group is k or more, and the color arrangement of each slit pixel is a part of the color arrangement of the slit light on the projection side. Grouped pixel decoding means (
104) and the grouped pixel decoding means (104) among the slit pixels extracted from the slit pixel extraction means (102) by interpolating the slit number based on the slit pixel to which the slit number has been assigned. A slit number is assigned to a slit pixel to which a slit number has not been assigned by
A three-dimensional shape measuring method characterized by comprising: a slit number interpolation means (105) that outputs a final decoded output (106) together with the slit pixels to which the slit numbers have been assigned according to 04). 2) The grouped pixel decoding means is configured to perform a first state in which decoding the slit number of each slit pixel results in an inversion of the slit number between the slit pixels to which a slit number has already been assigned, or When decoding the slit number of a slit pixel, if one of the second states occurs in which slit pixels with different slit numbers coexist in the slit image created by one slit light,
A three-dimensional shape measuring device characterized in that the slit number of each slit pixel is not decoded. 3) The slit number interpolation means performs the following: in each row of the observation image, when a slit pixel column to which the slit number has not yet been assigned is sandwiched between slit pixels to which the slit number has been assigned, Based on the slit number of the slit pixel, refer to the corresponding one of the array of slit lights on the projection side, and apply the slit light on the projection side corresponding to each slit pixel to which the slit number is not assigned. a horizontal interpolation means for assigning a slit number, and after processing by the horizontal interpolation means, in a first case,
When a slit pixel to which the slit number has not yet been assigned is sandwiched and connected to two slit pixels that have been assigned the same slit number in a 8-connection manner, the sandwiched slit pixel is assigned the same slit number. As a second case, the slit pixel to which the slit number has not yet been assigned is sandwiched between the slit pixel at the end point to which the slit number has not yet been assigned and the slit pixel to which the slit number has been assigned. 3. The three-dimensional shape measuring method according to claim 1, further comprising vertical interpolation means for assigning the slit number to the sandwiched slit pixels when the slit pixels are connected in an 8-connected manner. 4) The color types q are three colors: red, green, and blue, and the observed images are three images output from a video camera: a red component image, a green component image, and a blue component image; The slit pixel extraction means extracts, as the slit pixel, a pixel having a maximum brightness value for each row on each image, for each of the red component image, green component image, and blue component image, and The color of the slit pixel is extracted as one of red, green, or blue, depending on which image of the red component image, green component image, or blue component image the pixel becomes maximum. The three-dimensional shape measuring device according to any one of claims 1 to 3, characterized in that: 5) With respect to the slit pixel extracted by the slit pixel extracting means, if there is a slit pixel having a different color within 8 neighborhoods of the slit pixel of interest, a first step of deleting the pixel of interest; a second process of deleting the pixel of interest if there are three or more other slit pixels within the 8 neighborhoods of the slit pixel of interest; Among them, if there are two or more slit pixels in the pixels included in the row of the pixel of interest and the row one row above it, or if there are slit pixels in the pixels included in the row of the pixel of interest and the row one row below it. a third process of deleting the pixel of interest if there are two or more; and after the first to third processes, a slit image formed by connecting 8 of the slit pixels; If the length is shorter than a predetermined length, the slit image is considered to be noise and all the slit pixels constituting the slit image are deleted. 5. The three-dimensional shape measuring device according to claim 1, further comprising pre-processing means for outputting to the converting means.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000009442A (en) * 1998-06-22 2000-01-14 Fuji Xerox Co Ltd 3-dimensional picture photographing device
JP2001116526A (en) * 1999-10-19 2001-04-27 Fuji Xerox Co Ltd Three-dimensional shape measuring instrument
US6356298B1 (en) 1998-08-18 2002-03-12 Fuji Xerox Co., Ltd. Three-dimensional image photographing system
JP2002206919A (en) * 2001-01-10 2002-07-26 Fuji Xerox Co Ltd Three-dimensional shape measuring device and method therefor
JP2003004425A (en) * 2001-03-21 2003-01-08 Ricoh Co Ltd Optical shape-measuring apparatus
US7075625B2 (en) 2002-08-28 2006-07-11 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder and method
US7078720B2 (en) 2003-08-12 2006-07-18 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder for measuring three-dimensional geometry of object and method thereof
US7502125B2 (en) 2003-08-28 2009-03-10 Fujitsu Limited Measuring technology and computer numerical control technology
JP2019537728A (en) * 2016-11-21 2019-12-26 ケアストリーム・デンタル・テクノロジー・トプコ・リミテッド 3D oral surface characterization

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000009442A (en) * 1998-06-22 2000-01-14 Fuji Xerox Co Ltd 3-dimensional picture photographing device
US6356298B1 (en) 1998-08-18 2002-03-12 Fuji Xerox Co., Ltd. Three-dimensional image photographing system
JP2001116526A (en) * 1999-10-19 2001-04-27 Fuji Xerox Co Ltd Three-dimensional shape measuring instrument
JP2002206919A (en) * 2001-01-10 2002-07-26 Fuji Xerox Co Ltd Three-dimensional shape measuring device and method therefor
JP2003004425A (en) * 2001-03-21 2003-01-08 Ricoh Co Ltd Optical shape-measuring apparatus
US7075625B2 (en) 2002-08-28 2006-07-11 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder and method
US7078720B2 (en) 2003-08-12 2006-07-18 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder for measuring three-dimensional geometry of object and method thereof
US7502125B2 (en) 2003-08-28 2009-03-10 Fujitsu Limited Measuring technology and computer numerical control technology
JP2019537728A (en) * 2016-11-21 2019-12-26 ケアストリーム・デンタル・テクノロジー・トプコ・リミテッド 3D oral surface characterization
JP2021139905A (en) * 2016-11-21 2021-09-16 ケアストリーム・デンタル・テクノロジー・トプコ・リミテッド 3-d intraoral surface characterization

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