JPH02212045A - Device for detecting defective blade - Google Patents

Device for detecting defective blade

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JPH02212045A
JPH02212045A JP1029716A JP2971689A JPH02212045A JP H02212045 A JPH02212045 A JP H02212045A JP 1029716 A JP1029716 A JP 1029716A JP 2971689 A JP2971689 A JP 2971689A JP H02212045 A JPH02212045 A JP H02212045A
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blade
signal
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pulse signal
light
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Yuichi Sato
祐一 佐藤
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Abstract

PURPOSE:To correctly detect a defective blade by comparing the difference in the max. value and min. value of the output from a light receiving means with a set reference value on each specific time, forming a pulse signal when exceeding the set reference value and generating a blade damage signal when the counting value exceeds the specific number. CONSTITUTION:A blade 10 held on the work tool assembly body 2 which works a semiconductor wafer 28 located on a holder assembly body 4, is detected by a light projecting means 30 and light receiving means 32 at its shape (wear and defect) of the peripheral edge part. A blade defect detecting means finds the difference by holding the max. value and min. value of the output fed from the light receiving means 32, comparing it with the set reference value each specific time, generating a pulse signal when the difference exceeds the reference value and outputting a blade breakdown signal when the count value exceeds the specific number. Thus, the defect of the blade can correctly be detected without receiving the effect of a work liquid and so on.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体ウェーへの如き被加工物を加工するブ
レードの不良を検出する検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a detection device for detecting defects in a blade for processing a workpiece such as a semiconductor wafer.

〔従来技術及びその欠点〕[Prior art and its drawbacks]

当業者には周知の如く、半導体デバイスの製造において
は、半導体ウェー八を格子状切断ライン(一般にストリ
ートと称されている)に沿って切断して多数の矩形領域
に分断することが必要である。上記矩形領域の各々は、
一般にチップと称されており、回路パターンを有する。
As is well known to those skilled in the art, in the manufacture of semiconductor devices, it is necessary to cut a semiconductor wafer along grid-like cutting lines (commonly referred to as streets) into a number of rectangular regions. . Each of the above rectangular areas is
It is generally called a chip and has a circuit pattern.

また、磁気ヘッドの製造においては、金属材料に溝入れ
又はスライシング等の精密加工を施している。
Furthermore, in manufacturing magnetic heads, precision processing such as grooving or slicing is performed on metal materials.

半導体ウェーへの上記切断酸いは金属材料の上記精密加
工には10通常、ダイシング・ソー或いはスライサーと
称されている加工装置が使用されている。かかる加工装
置は、回転自在に装着され且つ十分に薄い環状板形態で
あるブレードと、このブレードを回転駆動するための駆
動源と、被加工物を保持するための保持具とを具備して
いる。上記ブレードは、通常、合成又は天然ダイヤモン
ド砥粒の如き超砥粒を、電着、レジンボンド又はメタル
ボンド等の適宜の方法により結合することによって形成
されている。かような加工装置においては、手動又は自
動的に上記保持具と上記ブレードとが相対的に移動せし
められて、回転しているブレードが保持具に保持されて
いる被加工物に作用せしめられ、かくして被加工物に所
要の加工が施される。
For the precision processing of the cutting acid or metal material into semiconductor wafers, a processing device called a dicing saw or a slicer is usually used. This processing device includes a rotatably mounted blade in the form of a sufficiently thin annular plate, a drive source for rotationally driving the blade, and a holder for holding a workpiece. . The blade is usually formed by bonding superabrasive grains, such as synthetic or natural diamond abrasive grains, by an appropriate method such as electrodeposition, resin bonding, or metal bonding. In such a processing device, the holder and the blade are manually or automatically moved relative to each other, so that the rotating blade acts on the workpiece held by the holder, In this way, the required processing is performed on the workpiece.

この種加工装置では、被加工物を所要の通りに十分精密
に切断するためには、上記ブレードが適切な状態にある
ことが必要である。換言すれば、長期間の使用によりブ
レードが過剰に摩耗し、或いはブレードに破損が発生す
ると、被加工物に加えられる加工が劣化し許容し得ない
ものになってしまう。
In this type of processing equipment, it is necessary that the blade be in a suitable condition in order to cut the workpiece with sufficient precision as required. In other words, if the blade becomes excessively worn or damaged due to long-term use, the processing applied to the workpiece will deteriorate and become unacceptable.

そこで、上述した問題を解決するために、加工装置には
、ブレードの不良を検出するための検出装置が装備され
ている。この検出装置の一例として、例えば実開昭60
−123210号公報に開示されているものを挙げるこ
とができ、かかる検出装置は、ブレードに向けて光を投
光する投光手段と、受光した光量に対応した出力信号を
生成する受光手段とを備え、投光手段と受光手段とは、
投光手段から投光された光がブレードに干渉された後受
光手段に受光されるように配置されている。
Therefore, in order to solve the above-mentioned problem, processing equipment is equipped with a detection device for detecting blade defects. As an example of this detection device, for example,
An example of such a detection device is disclosed in Japanese Patent No. 123210, which includes a light projecting device that projects light toward the blade, and a light receiving device that generates an output signal corresponding to the amount of light received. What is the light emitting means and the light receiving means?
The light emitting device is arranged so that the light emitted from the light emitting device is interfered with by the blade and then received by the light receiving device.

上記検出装置では、長期間の使用によりブレードが所定
量以上摩耗され、或いは何らかの理由によりブレードに
破損が発生すると、受光手段が生成する出力信号が太き
(変化し、かくしてブレードが不適切な状態、即ち交換
すべき状態になったことが検出される。
In the above detection device, when the blade is worn beyond a predetermined amount due to long-term use, or when the blade is damaged for some reason, the output signal generated by the light receiving means becomes thick (changes), thus indicating that the blade is in an inappropriate state. In other words, it is detected that a state requiring replacement has been reached.

しかし、従来の検出装置においては、加工時に加工領域
に施される加工液の影響を受けやすく、加工液による屈
折、乱反射等により誤検出が発生し易い問題があった。
However, conventional detection devices have a problem in that they are susceptible to the influence of machining fluid applied to the machining area during machining, and erroneous detection is likely to occur due to refraction, diffused reflection, etc. caused by the machining fluid.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その第
1の目的は、主として破損によるブレードの不良を加工
液等の影響を受けることなく正確に検出することがきる
、優れた検出装置を提供することである。
The present invention has been made in view of the above facts, and its first purpose is to provide an excellent detection device that can accurately detect blade defects mainly due to breakage without being affected by machining fluid or the like. It is to provide.

本発明の第2の目的は、主として摩耗によるブレードの
不良を加工液等の影響を受けることなく正確に検出する
ことができる、優れた検出装置を提供することである。
A second object of the present invention is to provide an excellent detection device that can accurately detect blade defects mainly due to wear without being affected by machining fluid or the like.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明によれば、上記第1の目的に対応して、被加工物
を加工するブレードの周縁部に向けて光を投光する投光
手段と該投光手段からの光を受光する受光手段から成る
光学的検出手段を備え、該受光手段からの出力信号に基
づいてブレードの不良を検出する検出装置において、 該受光手段からの出力信号の最大値(M)を保持する最
大値保持手段と、 該受光手段からの出力信・号の最小値(m)を保持する
最小値保持手段と、 該最大値保持手段に保持された該最大値(M)と該最小
値保持手段に保持された該最小値(m)の差(M−m)
と設定基準値(Vo )とを比較する比較手段と、 該最大値(M)と該最小値(m)との差(M−m)が該
設定基準値(Vo )より大きい((M−m ) > 
V @ )ときにパルス信号を生成するパルス信号生成
手段と、 該パルス信号生成手段からの該パルス信号に関連して不
良信号を生成する不良信号生成手段と、該不良信号を計
数する不良計数手段と、を具備し、 該ブレード不良検知動作中においては、第1の設定時間
(T、)間隔毎に、該比較手段により該最大値保持手段
に保持された該最大値(M)と該最小値保持手段に保持
された該最小値(m)の差(M−m)と該設定基準値(
Vo )との比較が遂行され、該不良信号生成手段は該
パルス信号生成手段が連続して該パルス信号を生成した
ときに該不良信号を生成し、該不良計数手段は第2の設
定時間(T2)内に該不良パルス信号が所定数を越える
とブレード破損信号を生成する、 ことを特徴とする検出装置が提供される。
According to the present invention, in response to the first object, a light projecting means projects light toward the peripheral edge of a blade for processing a workpiece, and a light receiving means receives light from the light projecting means. A detection device for detecting blade defects based on an output signal from the light receiving means, comprising: a maximum value holding means for holding the maximum value (M) of the output signal from the light receiving means; , minimum value holding means for holding the minimum value (m) of the output signal from the light receiving means; and the maximum value (M) held by the maximum value holding means and the minimum value held by the minimum value holding means. Difference (M-m) between the minimum values (m)
and a set standard value (Vo); m ) >
V @ ) pulse signal generation means for generating a pulse signal when the pulse signal is generated; failure signal generation means for generating a failure signal in relation to the pulse signal from the pulse signal generation means; and failure counting means for counting the failure signals. and, during the blade defect detection operation, the maximum value (M) and the minimum value held in the maximum value holding means by the comparison means are determined at each first set time interval (T,). The difference (M-m) between the minimum value (m) held in the value holding means and the set reference value (
Vo), the failure signal generating means generates the failure signal when the pulse signal generation means successively generates the pulse signal, and the failure counting means generates the failure signal for a second set time (Vo). A detection device is provided, characterized in that when the number of defective pulse signals exceeds a predetermined number within T2), a blade breakage signal is generated.

かくの通りの検出装置においては、不良検知動作中は第
1の設定時間(T1)毎に最大値保持手段に保持された
最大値(M)と最小値保持手段に保持された最小値(m
)の差(M−m)と設定基準値(■・)との比較が遂行
され、不良信号生成手段はパルス信号生成手段が連続し
てパルス信号を生成したときのみ不良信号を生成する故
に、受光手段が誤検知してパルス信号生成手段がパルス
信号を一度生成しても、このパルス信号が連続して生成
されない限り不良信号が生成されることはなく、これに
よりブレードの破損を検出する際の加工液等に起因する
誤検知を極めて少なくすることができる。また、不良計
数手段は第2の設定時間(T2)内に不良信号が所定数
を越えるとブレード破損信号を生成する故に、不良信号
が生成された時点でブレード破損信号を生成する従来技
術の場合に比して、加工液等に起因する上記誤検知を一
層少なくすることができる。
In the detection device as described above, during the defect detection operation, the maximum value (M) held in the maximum value holding means and the minimum value (m
) is compared with the set reference value (■・), and since the defective signal generating means generates a defective signal only when the pulse signal generating means continuously generates pulse signals, Even if the light receiving means makes a false detection and the pulse signal generating means generates a pulse signal once, a defective signal will not be generated as long as this pulse signal is not continuously generated. It is possible to extremely reduce false detections caused by machining fluid, etc. In addition, since the defect counting means generates a blade breakage signal when the number of defective signals exceeds a predetermined number within a second set time (T2), in the case of the conventional technology that generates a blade breakage signal at the time when a defective signal is generated. Compared to this, the above-mentioned false detections caused by machining fluid etc. can be further reduced.

また、本発明によれば、上記第2の目的に対応して、被
加工物を加工するブレードの周縁部に向けて光を投光す
る投光手段と該投光手段からの光を受光する受光手段か
ら成る光学的検出手段を備え、該受光手段からの出力信
号に基づいてブレードの不良を検出する検出装置におい
て、周波数の低い信号のみを通す低周波通過手段と、該
低周波通過手段からの信号と設定基準値とを比較する比
較手段を備え、 該受光手段からの出力信号は該低周波通過手段を通して
該比較手段に送給され、該比較手段は該低周波通過手段
からの信号値が該設定基準値を越えるとブレード摩耗信
号を生成する、ことを特徴とする検出装置が提供される
Further, according to the present invention, in accordance with the second object, there is provided a light projecting means for projecting light toward the peripheral edge of a blade for processing a workpiece, and a light projecting means for receiving light from the light projecting means. A detection device comprising an optical detection means consisting of a light receiving means and detecting a defect in a blade based on an output signal from the light receiving means, comprising: a low frequency passing means that passes only low frequency signals; and a set reference value, the output signal from the light receiving means is sent to the comparing means through the low frequency passing means, and the comparing means compares the signal value from the low frequency passing means. A detection device is provided, characterized in that it generates a blade wear signal when the blade wear signal exceeds the set reference value.

かくの通りの検出装置においては、受光手段からの出力
信号が低周波通過手段を通して比較手段に送給される故
に、加工液等に起因する出力信号の変動が低周波通過手
段によりカットされ、これによりブレードの摩耗を検出
する際の加工液等に起因する誤検知を著しく少なくする
ことができる。
In the detection device described above, since the output signal from the light receiving means is sent to the comparison means through the low frequency passing means, fluctuations in the output signal caused by machining fluid etc. are cut by the low frequency passing means. This makes it possible to significantly reduce false detections caused by machining fluid and the like when detecting blade wear.

〔具体例〕〔Concrete example〕

以下、添付図面を参照して更に詳述する。 Further details will be given below with reference to the accompanying drawings.

本発明に従う検出装置の一具体例を装備した加工装置を
示す第1図乃至第3図において、例えば半導体ウェー八
を格子状切断ライン、即ちストリートに沿って切断する
のに適した図示の加工装置は、全体を番号2で示す加工
具組立体と全体を番号4で示す保持具組立体を備えてい
る。
1 to 3 showing a processing apparatus equipped with an embodiment of the detection device according to the present invention, the illustrated processing apparatus is suitable for cutting, for example, a semiconductor wafer along grid cutting lines, i.e., streets. has a processing tool assembly, generally designated 2, and a holding tool assembly, designated generally 4.

加工具組立体2は、所定方向(第1図において左右方向
、第2図において紙面に垂直な方向、第3図において上
下方向)に往復動自在に装着された支持枠体(図示せず
)を備えている。この支持枠体には、第2図において左
方に実質上水平に延びる軸6(第1図及び第2図)が回
転自在に装着されている。支持枠体には、更に、電動モ
ータでよい駆動源8が装着されており、かかる駆動源8
は適宜の伝動手段(図示せず)を介して軸6に駆動連結
されている。軸6の自由端部、即ち第2図において右端
部にはブレード10を有する回転加工具12が装着□さ
れている。この回転加工具12は、一対の支持フランジ
14を備えており、円環状板形層のブレード10が一対
の支持フランジ14間に挟持されている。第1図乃至第
3図に明確に図示する通り、ブレード10の外径は支持
フランジ14の外径よりも大きく、ブレード10の外周
縁部は支持フランジ14の外周縁を越えて突出せしめら
れている。上記ブレード10自体は、合成又は天然ダイ
ヤモンド砥粒の如き超砥粒を、電着、レジンボンド又は
メタルボンド等の適宜の方法により結合することによっ
て形成されたものが好都合である。この回転加工具12
が装着された支持枠体は、上下方向に位置調整自在にな
っている。
The processing tool assembly 2 includes a support frame (not shown) that is attached to be able to reciprocate in a predetermined direction (left-right direction in FIG. 1, direction perpendicular to the plane of the paper in FIG. 2, and up-down direction in FIG. 3). It is equipped with A shaft 6 (FIGS. 1 and 2) extending substantially horizontally to the left in FIG. 2 is rotatably mounted on this support frame. A drive source 8, which may be an electric motor, is further attached to the support frame.
is drivingly connected to the shaft 6 via suitable transmission means (not shown). A rotary processing tool 12 having a blade 10 is attached to the free end of the shaft 6, that is, the right end in FIG. This rotary processing tool 12 includes a pair of support flanges 14, and a blade 10 in the form of an annular plate is held between the pair of support flanges 14. As clearly illustrated in FIGS. 1-3, the outer diameter of the blade 10 is greater than the outer diameter of the support flange 14, and the outer circumferential edge of the blade 10 projects beyond the outer circumferential edge of the support flange 14. There is. The blade 10 itself is conveniently formed by bonding superabrasive grains, such as synthetic or natural diamond abrasive grains, by an appropriate method such as electrodeposition, resin bonding, or metal bonding. This rotary processing tool 12
The support frame body to which the is attached is vertically adjustable.

この支持枠体には、また、水の如き加工液を加工領域に
供給するめの加工液供給手段16が配設されている0図
示の加工液供給手段16は例えば中空パイプから構成す
ることができる一対の供給管18a及び18bを備えて
いる0片方の供給管18aの一端部は回転加工具12の
片側(第2図において左側、第3図において右側)に配
置され、また他方の供給管18bの一端部は回転加工具
12の他側(第2図において右側、第3図において左側
)に配置され、これらはブレードlOに沿って実質上水
平に延びている。供給管18a及び18bの下向側部に
は、軸線方向に間隔を置いて複数個の孔が形成されてい
る。これら供給管18a及び18bの他端部はポンプの
如き加工液供給源20に接続されている。従って、加工
液供給手段20から供給管18a及び18bに送給され
た加工液は、第2図及び第3図に矢印で示す通りにして
加工領域に供給される。
This support frame is also provided with a machining fluid supply means 16 for supplying machining fluid such as water to the machining area. A pair of supply pipes 18a and 18b are provided. One end of one supply pipe 18a is disposed on one side of the rotary processing tool 12 (left side in FIG. 2, right side in FIG. 3), and the other supply pipe 18b One end portion of the rotary processing tool 12 is disposed on the other side (the right side in FIG. 2, the left side in FIG. 3), and these extend substantially horizontally along the blade IO. A plurality of holes are formed at intervals in the axial direction in the downward side portions of the supply pipes 18a and 18b. The other ends of these supply pipes 18a and 18b are connected to a machining fluid supply source 20 such as a pump. Therefore, the machining fluid supplied from the machining fluid supply means 20 to the supply pipes 18a and 18b is supplied to the machining area as shown by arrows in FIGS. 2 and 3.

保持具組立体4は、実質上水平な上面を有する保持具2
4を具備している。この保持具24は、実質上鉛直に延
びる中心軸線を中心として回転自在に装着されていると
共に、上記所定方向にたいして垂直な方向(第1図にお
いて紙面に垂直な方向、第2図及び第3図において左右
方向)に移動自在に装着されている。保持具24の少な
くとも中央領域は通気性を有し、適宜の通気路手段(図
示せず)によって吸引源26(第1図及び第2図)に選
択的に連通される。
The retainer assembly 4 includes a retainer 2 having a substantially horizontal upper surface.
It is equipped with 4. This holder 24 is rotatably mounted around a central axis that extends substantially vertically, and in a direction perpendicular to the above-mentioned predetermined direction (a direction perpendicular to the plane of paper in FIG. It is mounted so that it can move freely in the left and right directions. At least the central region of the retainer 24 is breathable and selectively communicated with a suction source 26 (FIGS. 1 and 2) by suitable vent means (not shown).

かくの通りの加工装置においては、保持具24の上面に
被加工物、図示の場合には半導体ウェーハ28が載置さ
れる。そして、保持具24が吸引源26に連通され、か
くして保持具24の上面に半導体ウェーハ28が真空吸
着される。一方、加工具組立体20支持枠体は、回転加
工具12のブレード10の下端が半導体ウェーハ28に
所期の通りに作用し得る高さに位置付けられる。次いで
、駆動源8が付勢されて軸6及びこれに装着された回転
加工具12が高速で回転せしめられる。そして、加工具
組立体2の支持枠体が適宜の駆動源(図示せず)によっ
て上記所定方向に往復動せしめられると共に、支持枠体
の上記往動及び復動毎に適宜の駆動源(図示せず)によ
って保持具24が上記所定方向に対し垂直な方向に割り
出し移動せしめられる。かくして、回転加工具12のブ
レード10が加工領域にて半導体ウェーハ28に作用し
、半導体ウェーハ28は第3図において上下方向に延び
る複数本の平行切断ライン(図示せず)に沿って切断さ
れる。しかる後に、適宜の駆動源(図示せず)によって
保持具24が実質上鉛直に延びる中心軸線を中心として
90度回転せしめられ、次いで工具組立体2の支持枠体
の上述した往復動と保持具24の上述した割り出し移動
が遂行される。かくして、回転加工具12のブレード1
0によって、半導体ウェーハ28は、既に切断された上
記複数本の平行切断ラインに対し実質上垂直に延びる他
の複数本の平行切断ラインに沿って切断される。かくし
て、半導体ウェーハ28は多数の矩形領域、即ちチップ
に分断される(かかる半導体ウェーハ28の分断は当業
者には周知の如く、半導体ウェーハ28に若干の非切断
厚さを残留せしめて切断するものでもよいし、半導体ウ
ェーハ28の裏面にテープが貼着されている場合にはこ
のテープを除いて半導体ウェーハ28をその厚さ全体に
渡って切断するものでもよい)、上記切断の際には、冷
却液供給手段16から加工領域に向けて水の如き加工液
が噴射され、切断加工中のブレード10及び半導体ウェ
ーハ28に冷却液が供給される。
In the processing apparatus described above, a workpiece, in the illustrated case a semiconductor wafer 28, is placed on the upper surface of the holder 24. Then, the holder 24 is communicated with the suction source 26, and the semiconductor wafer 28 is vacuum-adsorbed onto the upper surface of the holder 24. On the other hand, the processing tool assembly 20 support frame is positioned at a height that allows the lower end of the blade 10 of the rotary processing tool 12 to act on the semiconductor wafer 28 as desired. Next, the drive source 8 is energized to rotate the shaft 6 and the rotary processing tool 12 attached thereto at high speed. Then, the support frame of the processing tool assembly 2 is reciprocated in the predetermined direction by an appropriate drive source (not shown), and an appropriate drive source (not shown) is reciprocated for each forward and backward movement of the support frame. (not shown) allows the holder 24 to be indexed and moved in a direction perpendicular to the predetermined direction. Thus, the blade 10 of the rotary processing tool 12 acts on the semiconductor wafer 28 in the processing area, and the semiconductor wafer 28 is cut along a plurality of parallel cutting lines (not shown) extending vertically in FIG. . Thereafter, the holder 24 is rotated 90 degrees about a substantially vertical central axis by an appropriate drive source (not shown), and then the above-mentioned reciprocating movement of the support frame of the tool assembly 2 and the holder 24 are rotated by an appropriate drive source (not shown). 24 of the above-described index movements are performed. Thus, the blade 1 of the rotary processing tool 12
0, the semiconductor wafer 28 is cut along a plurality of other parallel cutting lines that extend substantially perpendicular to the plurality of parallel cutting lines that have already been cut. Thus, the semiconductor wafer 28 is cut into a number of rectangular regions, or chips (such cutting of the semiconductor wafer 28 is done by cutting the semiconductor wafer 28, leaving some uncut thickness in the semiconductor wafer 28, as is well known to those skilled in the art). Alternatively, if a tape is attached to the back side of the semiconductor wafer 28, the tape may be removed and the semiconductor wafer 28 may be cut over its entire thickness). A processing liquid such as water is injected from the cooling liquid supply means 16 toward the processing area, and the cooling liquid is supplied to the blade 10 and the semiconductor wafer 28 which are being cut.

図示の加工装置における上述した構成及び作用は、既に
公知のものであり、そしてまた本発明が適用される加工
装置の一例を示すにすぎず、それ故に、図示の加工装置
の構成及び作用の詳細については、本明細書においては
説明を省略する。
The above-described configuration and operation of the illustrated processing device are already known and also represent only one example of the processing device to which the present invention is applied, and therefore the details of the configuration and operation of the illustrated processing device are explained below. , the description thereof will be omitted in this specification.

加工装置には、更に、ブレード10の不良を検出するた
めの検出装置が装備されている0図示の検出装置は、投
光手段30と受光手段32から成る光学的検出手段を備
えている(第2図及び第3図)、投光手段30は発光素
子34を具備し、また受光手段32は受光素子36を具
備している。
The processing device is further equipped with a detection device for detecting defects in the blade 10. 2 and 3), the light projecting means 30 is equipped with a light emitting element 34, and the light receiving means 32 is equipped with a light receiving element 36.

発光素子34は、例えば赤外光を発光することができる
発光源でよい、また、受光素子36はホトトランジスタ
(好ましくは、発光源からの光の波長に適合した受光感
度を有する素子)から構成することができる。投光手段
30は発光素子34からの光をモニター領域に導くため
の光伝送手段38を備え、また受光手段32はモニター
領域からの光を受光素子36に導くための光伝送手段4
0を備え、これら光伝送手段38及び40は一本又は複
数本の光ファイバから構成することができる。
The light-emitting element 34 may be, for example, a light-emitting source capable of emitting infrared light, and the light-receiving element 36 is composed of a phototransistor (preferably an element having light-receiving sensitivity matching the wavelength of light from the light-emitting source). can do. The light projecting means 30 includes a light transmitting means 38 for guiding light from the light emitting element 34 to the monitor area, and the light receiving means 32 includes a light transmitting means 4 for guiding the light from the monitor area to the light receiving element 36.
0, and these optical transmission means 38 and 40 can be constructed from one or more optical fibers.

具体例では、光伝送手段38の一端、即ち入力端は発光
素子34に光学的に接続され、その他端、即ち出力端は
ブレードlOの片側(第2図において左側、第3におい
て右側)にてモニター領域に近接して位置している。ま
た、他方の光伝送手段40の一端、即ち入力端は、光伝
送手段38の出力端からモニター領域に向けて投射され
た光を受光するように、ブレード10の他側(第2にお
いて右側、第3図において左側)にてモニター領域に近
接して位置し、その他端、即ち出力端は受光素子36に
光学的に接続されている。具体例では、更に、光伝送手
段38の他端部及び光伝送手段40の一端部は、可撓性
を有する保護部材42及び44によって覆われ、ブレー
ド10に対する相対的位置を微調整することができるよ
うに、適宜の支持手段(図示せず)を介して上記支持枠
体に装着されている。保護部材42及び44の端面、即
ち光伝送手段38の出力端及び他方の光伝送手段40の
入力端には、更に、切削屑等の飛散によってこれらの端
面が傷つくのを防止するために、サファイア片46が配
設されている。
In a specific example, one end, that is, the input end of the optical transmission means 38 is optically connected to the light emitting element 34, and the other end, that is, the output end is connected to one side of the blade IO (left side in FIG. 2, right side in FIG. 3). Located in close proximity to the monitor area. Further, one end of the other optical transmission means 40, that is, the input end is connected to the other side of the blade 10 (the second right side, The other end, ie, the output end, is optically connected to the light receiving element 36. In the specific example, the other end of the optical transmission means 38 and one end of the optical transmission means 40 are further covered with flexible protective members 42 and 44, so that the relative position with respect to the blade 10 can be finely adjusted. It is attached to the support frame via appropriate support means (not shown) so that the support member can be attached to the support frame. The end surfaces of the protective members 42 and 44, that is, the output end of the optical transmission means 38 and the input end of the other optical transmission means 40, are further coated with sapphire to prevent these end surfaces from being damaged by scattering cutting chips, etc. A piece 46 is provided.

かかる検出装置は、更に、モニター領域乃至その近傍に
空気の如き気体を噴出する気体流生成手段を含んでいる
0図示の気体流生成手段は、送風機の如き気体供給源4
8と気体供給源48からモニター領域近傍まで延びてい
る中空円筒状の気体送給管50を含んでおり、空気でよ
い気体が気体供給源48から気体供給管50を通ってモ
ニター領域乃至その近傍に噴射される。従って、加工時
に加工液の噴射によって生成される霧及び/又は加工時
の屑等がモニター領域乃至その近傍に進入するのが、気
体流送給管50から噴射されて流れる気体によって阻止
され、かくして上記霧及び/又は屑等が光伝送手段38
の出力端とブレード10との間の光路及び/又はブレー
ドlOと光伝送手段40の入力端との間の光路中に浮遊
し或いは光伝送手段3日の出力端及び光伝送手段40の
入力端を覆うサファイア片46の表面に付着するのが確
実に阻止される。具体例では、気体流送給管50の一端
部は2つに分岐されており、その一方50aはブレード
10の上記片側に配置され、その他方50bはブレード
10の上記他側に配置されている。そして、このことに
関連して、気体流送給管50の部位(片方の出力端部)
50aはブレード10と光伝送手段38の出力端の間に
て幾分上記出力端に向くように配置され、部位50aに
おける出力端部はブレード10側の部位が突出するよう
に斜めに形成されている。また、気体流送給管50の他
方の部位(他方の出力端部)50bはブレード10と光
伝送手段40の入力端の間にて幾分上記入力端に向くよ
うに配置され、部位50bにおける出力端部はブレード
10側の部位が突出するように斜めに形成されている。
Such a detection device further includes a gas flow generating means for ejecting a gas such as air into or near the monitoring area.
8 and a hollow cylindrical gas supply pipe 50 extending from the gas supply source 48 to the vicinity of the monitor area, and the gas, which may be air, is passed from the gas supply source 48 through the gas supply pipe 50 to the monitor area or its vicinity. is injected into. Therefore, the fog generated by the injection of machining fluid during machining and/or debris from machining are prevented from entering the monitoring area or its vicinity by the gas injected and flowing from the gas flow supply pipe 50. The above-mentioned fog and/or debris are removed from the optical transmission means 38.
Floating in the optical path between the output end of the optical transmission means 3 and the blade 10 and/or the optical path between the blade IO and the input end of the optical transmission means 40 or the output end of the optical transmission means 3 and the input end of the optical transmission means 40 It is reliably prevented from adhering to the surface of the sapphire piece 46 covering the sapphire. In the specific example, one end of the gas flow supply pipe 50 is branched into two parts, one of which 50a is disposed on one side of the blade 10, and the other 50b is disposed on the other side of the blade 10. . In connection with this, the part of the gas flow supply pipe 50 (one output end)
50a is arranged between the blade 10 and the output end of the optical transmission means 38 so as to face the output end somewhat, and the output end of the portion 50a is formed obliquely so that the portion on the blade 10 side protrudes. There is. Further, the other part (the other output end) 50b of the gas flow supply pipe 50 is arranged between the blade 10 and the input end of the optical transmission means 40 so as to face the input end somewhat, and at the part 50b The output end is formed obliquely so that the part on the blade 10 side protrudes.

かく構成されているので、気体流送給管50の部位50
aから矢印(第3図)で示す通りに噴射された気体流は
幾分光伝送手段38の出力端に向けてこの出力見て上端
から下端に向けて移動する部位における端とブレード1
0との間を流れ、また気体流送給管50の部位50bか
ら矢印(第3図)で示す通りに噴射された気体流は幾分
光伝送手段40の入力端に向けてこの入力端とブレード
10との間を流れ、これにより気体流送給管50から噴
射された気体流がブレード10に向けて流れることが防
止され、ブレード10のブレ等を効果的に抑えるこがで
きる。また、第3図から容易に理解される如く、気体流
送給管50の部位50a及び50bから噴射された気体
流は、ブレード10を中心にしてその両側に実質上対称
に流れるようになり、かくしてブレード10のプレ等の
発生を一層少なくすることができる。
With this configuration, the portion 50 of the gas flow supply pipe 50
The gas flow injected from a as shown by the arrow (FIG. 3) is directed somewhat toward the output end of the light transmission means 38, and the end of the blade 1 moves from the upper end to the lower end when looking at this output.
0, and the gas flow injected from the portion 50b of the gas flow supply pipe 50 as shown by the arrow (FIG. 3) is directed somewhat towards the input end of the optical transmission means 40 and the input end. This prevents the gas flow injected from the gas flow supply pipe 50 from flowing toward the blade 10, and can effectively suppress vibration of the blade 10. Further, as can be easily understood from FIG. 3, the gas flows injected from the sections 50a and 50b of the gas flow supply pipe 50 flow substantially symmetrically on both sides of the blade 10, In this way, the occurrence of curling of the blade 10 can be further reduced.

具体例では、第1図乃至第3図から理解される如く、モ
ニター領域はブレードlOの周縁部、詳しくは矢印52
で示すブレード10の回転方向に上下方向中心部、即ち
第1図の右部における上下方向中心部に配置されている
。かく配置することによって、モニター領域を加工領域
から遠ざけることができ、これによりブレード10の不
良を検出する際の加工液の影響を少なくすることができ
る。尚、上記加工装置では、図示していないが、加工領
域及びモニター領域を覆うように、カバー部材が支持枠
体に装着されており、このカバ一部材内に回転加工具1
2、光伝送手段38の出力端部、光伝送手段40の入力
端部並びに供給管18a及び18bの一端部等が配設さ
れている。
In a specific example, as can be seen from FIGS. 1 to 3, the monitor area is the periphery of the blade IO, specifically the area indicated by the arrow 52.
It is arranged at the center in the vertical direction in the rotational direction of the blade 10 as shown by , that is, at the center in the vertical direction on the right side of FIG. By arranging it in this way, the monitor area can be moved away from the machining area, thereby reducing the influence of the machining fluid when detecting defects in the blade 10. Although not shown in the processing apparatus, a cover member is attached to the support frame so as to cover the processing area and the monitor area, and the rotary processing tool 1 is mounted within this cover member.
2. An output end of the optical transmission means 38, an input end of the optical transmission means 40, one end of the supply pipes 18a and 18b, etc. are provided.

この加工装置においては、モニター域にて投光手段30
からブレード10に向けて投射された光は、ブレード1
0の反対側に存在する受光手段32に受光され、かく受
光された光は第4図に示す通りに処理される。即ち、受
光手段32の受光素子36は受光量に比例した大きさの
出力信号を生成し、かかる出力信号が第4図の端子52
に送給される。そして、かく送給された出力信号に基づ
いて、全体を番号54で示すブレード破損不良検出手段
及び全体を番号56で示すブレード摩耗不良検出手段に
より、加工中のブレード10の破損及び摩耗が次に通り
にして検出される。
In this processing device, a light projecting means 30 is used in the monitor area.
The light projected towards the blade 10 from the blade 1
The light is received by the light receiving means 32 located on the opposite side of 0, and the thus received light is processed as shown in FIG. That is, the light receiving element 36 of the light receiving means 32 generates an output signal proportional to the amount of received light, and this output signal is sent to the terminal 52 in FIG.
will be sent to Based on the output signal thus sent, the blade damage/failure detecting means, generally indicated by number 54, and the blade wear/failure detecting means, generally indicated by number 56, detect damage and wear of the blade 10 during machining. be detected on the street.

具体例のブレード破損不良検出手段54は、最大値保持
回路から構成することができる最大値保持手段58及び
最小値保持回路から構成することができる最小値保持手
段60を具備している。受光素子36からの出力信号は
最大値保持手段58及び最小値保持手段60に送給され
、最大値保持手段58はこの出力信号のうち最も大きい
値(M)を保持し、また最小値保持手段60は上記出力
信号のうち最も小さい値(m)を保持する。Jll価値
保持手段58び最小値保持手段60からの信号は差動演
算増幅回路の如き演算増幅手段62に送給され、演算増
幅手段62は最大値保持手段58からの最大値(M) 
2最小値保持手段60からの最小値(m)との差(M−
m)を所要の通りに演算する。この演算増幅手段62か
らの出力信号は比較演算回路の如き比較手段64に送給
される。
The blade breakage defect detection means 54 of the specific example includes a maximum value holding means 58 which can be constructed from a maximum value holding circuit and a minimum value holding means 60 which can be constructed from a minimum value holding circuit. The output signal from the light receiving element 36 is sent to the maximum value holding means 58 and the minimum value holding means 60, and the maximum value holding means 58 holds the largest value (M) of these output signals, and the minimum value holding means 60 holds the smallest value (m) of the above output signals. The signals from the Jll value holding means 58 and the minimum value holding means 60 are sent to an operational amplification means 62 such as a differential operational amplifier circuit, and the operational amplification means 62 receives the maximum value (M) from the maximum value holding means 58.
2 The difference (M-) from the minimum value (m) from the minimum value holding means 60
m) as required. The output signal from the operational amplification means 62 is sent to a comparison means 64, such as a comparator circuit.

比較手段64には電圧設定回路の如き基準値設定手段6
6が接続されており、基準値設定手段66により設定さ
れた設定基準(II(V、)が比較手段64に送給され
る。この比較手段64は、演算増幅手段62からの出力
信号、即ち上記最大値(M)と上記最小値(m)の差(
M−m)と基準値設定手段66からの信号、即ち設定基
準値(Vo )とを比較し、上記最大値(M)と上記最
小値(m)の差(M−m)が上記設定基準(!!(V0
)より大きい((M  m) >Vo )ときに出力信
号を生成する。比較手段64からの出力信号は矩形波発
生回路の如きパルス信号生成手段68に送給され、この
パルス信号生成手段68は比較手段64からの出・力信
号に基づいてパルス信号を生成する。パルス信号生成手
段68からのパルス信号は、周波数−電圧変換回路の如
き周波数−電圧変換手段70に送給され、周波数−電圧
変換手段70はパルス信号生成手段68からのパルス信
号の間隔から周波数を計算し、かかる周波数を電圧に変
換する。
The comparison means 64 includes a reference value setting means 6 such as a voltage setting circuit.
6 is connected, and the setting reference (II(V,)) set by the reference value setting means 66 is sent to the comparison means 64. This comparison means 64 receives the output signal from the operational amplification means 62, The difference between the above maximum value (M) and the above minimum value (m) (
M-m) is compared with the signal from the reference value setting means 66, that is, the set reference value (Vo), and the difference (M-m) between the maximum value (M) and the minimum value (m) is determined as the set standard. (!!(V0
) is greater than ((M m) > Vo ). The output signal from the comparison means 64 is fed to a pulse signal generation means 68, such as a square wave generation circuit, which generates a pulse signal based on the output signal from the comparison means 64. The pulse signal from the pulse signal generation means 68 is sent to a frequency-voltage conversion means 70 such as a frequency-voltage conversion circuit, and the frequency-voltage conversion means 70 converts the frequency from the interval of the pulse signal from the pulse signal generation means 68. Calculate and convert such frequency to voltage.

周波数−電圧変換手段70からの出力信号は範囲比較回
路の如き比較手段72に送給され、かかる比較手段72
は上記出力信号が所定範囲内である、換言すると第1の
設定基準値(vl)より大きく且つ第2の設定基準値(
vl)より小さいかを比較し、上記所定範囲内であると
きに出力信号を生成する。具体例では、周波数−電圧変
換手段70及び比較手段72が不良信号生成手段を構成
し、比較手段72から出力される信号が不良信号となる
。この不良信号は計測回路の如き不良信号計数手段74
に送給される。尚、比較手段72からの信号を直接不良
信号計数手段74に送給することに代えて、パルプ信号
生成手段68と不良信号計数手段74の間にケートを設
け、上記信号に基いて上記ゲートを開放し、パルス信号
生成手段68からの信号を不良計数手段74に送給する
ようにしてもよい、計数手段74にはまたタイマー手段
76からの信号が送給される。計数手段74はタイマー
手段76によって設定される設定時間(第2の設定時間
)(Tz)内における不良パルス信号の個数を計数し、
上記不良パルス信号の個数が所定値(No )を越える
とブレード破損信号を生成する。このブレード破損信号
は、警告ランプの如き表示手段78及び駆動源8に送給
され、表示手段78が点灯してブレード10を交換しな
ければならないことを表示すると共に、駆動源8が除勢
されて加工を停止する。
The output signal from the frequency-to-voltage conversion means 70 is fed to a comparison means 72, such as a range comparison circuit.
indicates that the output signal is within a predetermined range, in other words, it is greater than the first set reference value (vl) and the second set reference value (vl).
vl), and if it is within the predetermined range, an output signal is generated. In a specific example, the frequency-voltage conversion means 70 and the comparison means 72 constitute a defective signal generation means, and the signal output from the comparison means 72 becomes a defective signal. This defective signal is detected by a defective signal counting means 74 such as a measuring circuit.
will be sent to Incidentally, instead of directly sending the signal from the comparing means 72 to the defective signal counting means 74, a gate is provided between the pulp signal generating means 68 and the defective signal counting means 74, and the gate is activated based on the signal. It may be opened so that the signal from the pulse signal generating means 68 is fed to the defect counting means 74, which is also fed a signal from the timer means 76. The counting means 74 counts the number of defective pulse signals within a set time (second set time) (Tz) set by the timer means 76,
When the number of defective pulse signals exceeds a predetermined value (No. 2), a blade damage signal is generated. This blade damage signal is sent to a display means 78, such as a warning lamp, and to the drive source 8, and the display means 78 lights up to indicate that the blade 10 must be replaced, and the drive source 8 is deenergized. to stop machining.

また、具体例のブレード摩耗不良検知手段56は低周波
通過回路の如き低周波通過手段80を備えている。この
低周波通過手段80は受光素子36からの出力信号のう
ち周波数の低いもののみを通す、低周波通過手段80か
らの信号は比較演算回路の如き比較手段82に送給され
る。比較手段82には電圧設定回路の如き基準値設定手
段84が接続されており、基準値設定手段84により設
定された設定基準値(V)が比較手段82に送給される
。この比較手段82は、低周波通過手段80からの出力
信号と基準値設定手段84からの信号、即ち設定基準値
(V)とを比較し、低周波通過手段80からの信号値が
上記設定基準値(V)より大きいときに出力信号、即ち
ブレード摩耗信号を生成する。このブレード摩耗信号は
、警告ランプの如き表示手段84に送給され、表示手段
84が点灯してブレード10が許容値を越えて摩耗した
ことを表示する。
Further, the blade wear defect detection means 56 of the specific example includes a low frequency pass means 80 such as a low frequency pass circuit. This low frequency pass means 80 passes only low frequency output signals from the light receiving element 36, and the signal from the low frequency pass means 80 is sent to a comparison means 82 such as a comparison calculation circuit. A reference value setting means 84 such as a voltage setting circuit is connected to the comparison means 82 , and a set reference value (V) set by the reference value setting means 84 is sent to the comparison means 82 . This comparing means 82 compares the output signal from the low frequency passing means 80 and the signal from the reference value setting means 84, that is, the set reference value (V), and the signal value from the low frequency passing means 80 is determined as the set reference value. An output signal, ie a blade wear signal, is generated when the value (V) is greater than the value (V). This blade wear signal is sent to a display means 84, such as a warning lamp, which illuminates to indicate that the blade 10 has worn beyond an acceptable value.

この具体例では、表示手段78は赤色に点灯してブレー
ド10が破損したことを知らせ、また表示手段84は黄
色に点灯してブレード10が摩耗したことを知らせる。
In this embodiment, the indicator 78 lights red to indicate that the blade 10 is damaged, and the indicator 84 lights yellow to indicate that the blade 10 is worn.

かく構成することに代えて、ブレード破損信号及びブレ
ード摩耗信号によって共通の表示手段を点灯するように
してもよい。
Alternatively, a common display means may be illuminated by the blade breakage signal and the blade wear signal.

また、具体例では、ブレード破損信号が生成されたとき
のみ駆動源8を停止させているが、これに代えて、ブレ
ード摩耗信号が生成されたときにも駆動源8を停止させ
るようにしてもよい。
Further, in the specific example, the drive source 8 is stopped only when the blade damage signal is generated, but instead of this, the drive source 8 may also be stopped when the blade wear signal is generated. good.

ブレード破損検出手段54及びブレード摩耗検出手段5
6による検出操作について説明すると、次の通りである
Blade damage detection means 54 and blade wear detection means 5
The detection operation according to No. 6 will be explained as follows.

主として第4図及び第5図を参照してブレード破損の検
出について述べると、受光手段32の受光素子36から
の出力信号が最大値保持手段58及び最小値保持手段6
0に送給されると、ステップn−1からステップn−2
に移り、最大値保持手段58は上記信号のうち最大値(
M)を保持し、上記保持値より大きい値の信号が入力さ
れると上記保持値に代えてかかる大きい値を保持する。
Detection of blade breakage will be described mainly with reference to FIGS. 4 and 5. The output signal from the light receiving element 36 of the light receiving means 32 is detected by the maximum value holding means 58 and the minimum value holding means 6.
0, step n-1 to step n-2
, the maximum value holding means 58 holds the maximum value (
M) is held, and when a signal with a value larger than the above-mentioned holding value is input, the large value is held instead of the above-mentioned holding value.

また、最小値保持手段60は上記出力信号のうち最小値
(m)を保持し、上記保持値より小さい値の信号が人力
されると上記保持値に代えてこの小さい値を保持する。
Further, the minimum value holding means 60 holds the minimum value (m) of the output signals, and when a signal with a value smaller than the held value is manually input, this small value is held in place of the held value.

最大値保持手段58に保持された最大値(M)と最小値
保持手段60に保持された最小値(m)は演算増幅手段
62に送給され、ステップn−3にて、この最大値(M
)と最小値(m)の差(M−m)が演算され、上記差(
Mm)が増幅される。演算増幅手段62からの出力信号
は比較手段64に送給され、ステップn−4にて、上記
差(M−m)が設定基準値(V、)より大きいか否かが
判断される。具体例の装置でけ、ブレード10の欠け6
0μmが基準値設定手段66によって設定される設定基
準値0.4Vに対応しており、上記差(M−m)が0.
4V以下のときには、ブレードIOに比較的大きな破損
なしく60μm以上の欠けなし)と判断し、ステップn
−4からステップn−1に戻り、上記動作が繰り返し遂
行される。一方、上記差(M−m)が0.4Vを越える
とブレード10の破損の可能性あり(60μm以上の欠
けが発生している可能性あり)と判断し、ステップn−
4からステップn−5に移る。
The maximum value (M) held in the maximum value holding means 58 and the minimum value (m) held in the minimum value holding means 60 are sent to the operational amplification means 62, and in step n-3, this maximum value ( M
) and the minimum value (m) (M-m) is calculated, and the above difference (
Mm) is amplified. The output signal from the operational amplification means 62 is sent to the comparison means 64, and in step n-4 it is determined whether the difference (M-m) is larger than the set reference value (V,). In the device of the specific example, the blade 10 is chipped 6
0 μm corresponds to a set reference value of 0.4 V set by the reference value setting means 66, and the above difference (M−m) is 0.4 V.
When the voltage is 4V or less, it is determined that there is no relatively large damage to the blade IO (no chipping of 60 μm or more), and step n
-4 returns to step n-1, and the above operations are repeated. On the other hand, if the above difference (M-m) exceeds 0.4V, it is determined that there is a possibility of damage to the blade 10 (a chip of 60 μm or more may have occurred), and step n-
4 to step n-5.

かくすると、比較手段64からの出力信号に基づいてパ
ルス信号生成手段68がパルス信号を生成し、ステップ
n−6にてかかるパルス信号によってタイマー手段76
がセットされる。このタイマー手段76は具体例におい
て例えば0.5秒針時するとタイムアツプし、タイマー
手段76がタイムアツプするまで次の通りのブレード不
良検知動作が遂行される。具体例では、パルス信号生成
手段68はタイ−−I :6を含んでおり、このタイマ
ー手段8(・、”’J 、11・ 量定時間(T1)毎
に信号を生成し、かかる信号によって最大値保持手段5
8及び最小値保持手段60がリセットされ、そして最大
値保持手段58に保持される新たな最大値(M)及び最
小値保持手段60に保持される新たな最小値(m)が比
較手段64に送給される。
Thus, the pulse signal generation means 68 generates a pulse signal based on the output signal from the comparison means 64, and in step n-6, the timer means 76 is activated by the pulse signal.
is set. In a specific example, the timer means 76 times up, for example, when the hand reaches 0.5 seconds, and the following blade defect detection operation is performed until the timer means 76 times up. In a specific example, the pulse signal generating means 68 includes a tie--I:6, which generates a signal every quantification time (T1), and by such a signal. Maximum value holding means 5
8 and the minimum value holding means 60 are reset, and the new maximum value (M) held in the maximum value holding means 58 and the new minimum value (m) held in the minimum value holding means 60 are sent to the comparison means 64. will be sent.

具体例の装置では、ブレードlOは30000r。In the specific example device, the blade lO is 30,000r.

ρ、濡、で回転されており、このことに関連して上記第
1の設定時間(T1)は60/30000秒、即ち0.
002秒(好ましくは、誤差を考慮に入れて0.001
8秒程度にするのがよい)に設定されており、従ってタ
イマー手段86はブレードlOの実質上1回転毎に出力
信号を生成する。
In this connection, the first set time (T1) is 60/30000 seconds, that is, 0.
002 seconds (preferably 0.001 seconds taking into account the error)
(preferably on the order of 8 seconds), so that the timer means 86 generates an output signal substantially every revolution of the blade IO.

ブレード不良検知動作が開始されると、ステップn−7
に進み、上述の如く、最大値保持手段58に保持されて
いた最大値(M)及び最小値保持手段60に保持されて
いた最小値(m)が解除(neseL)され、次いでス
テップn−8にて最大値保持手段58が新たに最大値(
M)を保持すると共に、最小値保持手段60が新たに最
小値(m)を保持する。かく保持された最大値(M)及
び最小値(m)は、上述したと同様に、演算増幅手段6
2に送給され、ステップn−9にて、この最大値(M)
と最小値(m)の差(M−m)が演算され、上記差(M
−m)が増幅される。演算増幅手段62からの出力信号
は上記比較手段64に送給され、ステップn−10にて
、上記差(M−m)が設定基準値(■。)より大きいか
否かが判断される。そして、上記差(M−m)が設定基
準値(V・)以下のときには、ブレード10に比較的大
きな破損が実質上存在しないと判断し、ステップn−1
0から再びステップn−7に戻り、上記動作が第1の設
定時間(T1)毎に繰り返される。
When the blade defect detection operation is started, step n-7
As described above, the maximum value (M) held in the maximum value holding means 58 and the minimum value (m) held in the minimum value holding means 60 are released (neseL), and then step n-8 At , the maximum value holding means 58 newly sets the maximum value (
M) is held, and the minimum value holding means 60 holds a new minimum value (m). The maximum value (M) and minimum value (m) thus held are processed by the operational amplification means 6 in the same manner as described above.
2, and in step n-9, this maximum value (M)
The difference (M-m) between the minimum value (m) and the minimum value (m) is calculated, and the above difference (M
-m) is amplified. The output signal from the operational amplification means 62 is sent to the comparison means 64, and in step n-10, it is determined whether the difference (M-m) is larger than the set reference value (■.). When the difference (M-m) is less than the set reference value (V.), it is determined that there is substantially no relatively large damage to the blade 10, and step n-1
The process returns to step n-7 again from 0, and the above operation is repeated every first set time (T1).

一方、上記差(M−m)が設定基準値(■。)を越える
とブレード10に比較的大きな破損が存在すると判断し
、ステップn−10からステップn−11に移る。ステ
ップn−11においては、パルス信号生成手段68から
送給されてきた信号に基づいて周波数−電圧変換手段7
0は、前後する2個の上記パルス信号の間隔に基づいて
その周波数を算出し、その算出した値を電圧に変換する
On the other hand, if the difference (M-m) exceeds the set reference value (■.), it is determined that there is relatively large damage to the blade 10, and the process moves from step n-10 to step n-11. In step n-11, the frequency-voltage conversion means 7 receives the signal sent from the pulse signal generation means 68.
0 calculates the frequency based on the interval between two consecutive pulse signals, and converts the calculated value into a voltage.

この周波数−電圧変換手段70からの出力信号は、比較
手段72に送給され、続いてステップn −12にて、
上記周波数が所定の範囲内であるか否かが判断される。
The output signal from this frequency-to-voltage conversion means 70 is fed to a comparison means 72, followed by step n-12.
It is determined whether the frequency is within a predetermined range.

具体例では、比較手段72はパルス信号の周波数が48
0乃至520Hzの範囲内にあるときに不良信号を生成
する。即ち、パルス信号生成手段68が連続して、換言
すると0.002秒毎にパルス信号を生成したときには
上記周波数が実質上500Hzになり、このときには周
波数−電圧変換手段70からの電圧が480乃至520
セに対応する所定範囲内に入り、従ってステップn−1
2からステップn−13に進み、比較手段72は不良信
号を生成する。これに対し、パルス信号生成手段68が
連続してパルス信号を生成しなかった(0.004秒以
上後に次のパルス信号を生成した)ときには上記周波数
は480Hzよりも小さく、(例えばパルス信号が1つ
おきに生成されたときには周波数は250Hzになり、
また上記パルス信号が2つおきに生成されたときには周
波数は167Hzになり、これらのときはいずれも48
0&よりも小さくなる。)このときには周波数−電圧変
換手段70からの電圧が480七に対応する値よりも小
さくなり、従って比較手段72は不良パルス信号を生成
することはなく、ステップn−12からステップn−7
に戻る。かくの通りであるので、ブレード10に比較的
大きい欠けが存在するときには、容易に理解される如く
、パルス信号生成手段68は連続してパルス信号を生成
するようになり、これにより比較手段72は不良パルス
信号を生成する。これに対し、ブレード10に比較的大
きい欠けが存在せず、加工液等の影響によりパルス信号
生成手段68がパルス信号を誤って生成したときには、
パルス信号生成手段68は連続してパルス信号を生成す
ることが極めて少なく、不良パルス信号が生成されるこ
とがほとんどなく、従って加工液等を原因とする誤検知
が確実に防止される。
In a specific example, the comparison means 72 determines that the frequency of the pulse signal is 48
A fault signal is generated when the frequency is within the range of 0 to 520 Hz. That is, when the pulse signal generating means 68 continuously generates a pulse signal, in other words, every 0.002 seconds, the frequency becomes substantially 500 Hz, and at this time, the voltage from the frequency-voltage converting means 70 ranges from 480 to 520 Hz.
is within the predetermined range corresponding to step n-1.
2, the process proceeds to step n-13, where the comparison means 72 generates a defective signal. On the other hand, when the pulse signal generating means 68 does not continuously generate pulse signals (generates the next pulse signal after 0.004 seconds or more), the frequency is lower than 480 Hz (for example, when the pulse signal is 1 When it is generated every third time, the frequency is 250Hz,
Furthermore, when the above pulse signals are generated every second, the frequency becomes 167Hz, and in both cases, the frequency becomes 48Hz.
becomes smaller than 0&. ) At this time, the voltage from the frequency-voltage conversion means 70 is smaller than the value corresponding to 4807, so the comparison means 72 does not generate a defective pulse signal, and steps n-12 to n-7
Return to As described above, when there is a relatively large chip in the blade 10, the pulse signal generating means 68 will continuously generate pulse signals, as will be easily understood, so that the comparing means 72 will Generate a bad pulse signal. On the other hand, when there is no relatively large chip on the blade 10 and the pulse signal generation means 68 erroneously generates a pulse signal due to the influence of machining fluid, etc.
The pulse signal generating means 68 rarely generates pulse signals continuously, and almost no defective pulse signals are generated. Therefore, false detection caused by machining fluid or the like is reliably prevented.

ステップn−13にて不良信号が生成されると、かかる
不良パルス信号が計数手段74に送給され、ステップn
−14にて、計数手段74は、ブレード不良検知動作が
開始されてから生成された不良信号の個数を数える0次
いで、ステップn−15にて不良パルス信号の上記個数
か所定数を越えたか否かが判断される。具体例では、0
.002秒毎にパルス信号生成手段68がパルス信号を
生成するとすれば、比較手段72は0. 5秒間に不良
パルス信号を最大249個生成することになり、このこ
とに関連して、上記所定数が例えば125個に設定され
ている。かかる個数は実験に基づいて決定され、具体例
では上記第2の所定時間(T2)に125個生成される
と実質上100%の確率でブレード10に破損が発生し
ていた。計数手段74における計数値が上記所定値(例
えば125)より少ないと、ステップn−15からステ
ップn−16に進み、タイマー手段76がタイムアツプ
したか、換言するとブレード不良検知動作が開始されて
から第2の所定時間(T2)である例えば0. 5秒経
過したかが判断される。そして、タイマー手段76がタ
イムアツプしていないときには、ステップn−16から
ステップn−7に戻り、タイマー手段76がタイムアツ
プするまで上述した動作が繰り返し遂行される。一方、
不良信号が所定数生成されることなく上記第2の所定時
間(T2)が経過すると、ステップn−16からステッ
プn−17に進み、計数手段74の計数値がリセットさ
れる。更に、ステップn−18に進んでタイマー手段7
6及び86がリセットされ、しかる後ステップn−1に
戻る。従って、誤検知によりパルス信号生成手段68が
パルス信号を生成してブレード不良検知動作が開始され
ても、ブレード10に実質上欠けが発生していないとき
には、第2の所定時間(T2)の間に不良信号が上記所
定数生成されることはなく、従って後述のブレード破損
信号が生成されることがなく、ブレード不良の誤検知と
なることがない、尚、具体例では、タイマー手段76及
び86がリセットされた時点で最大値保持手段58及び
最小値保持手段60をリセットしていないが、これらを
リセットするようにしてもよい。
When a defective signal is generated in step n-13, the defective pulse signal is sent to the counting means 74, and in step n-13, the defective pulse signal is sent to counting means 74.
At step n-14, the counting means 74 counts the number of defective signals generated since the blade defect detection operation was started.Next, at step n-15, the counting means 74 counts whether the number of defective pulse signals exceeds the predetermined number or not. will be judged. In the specific example, 0
.. If the pulse signal generation means 68 generates a pulse signal every 0.002 seconds, the comparison means 72 generates a pulse signal every 0.002 seconds. A maximum of 249 defective pulse signals will be generated in 5 seconds, and in connection with this, the predetermined number is set to 125, for example. This number is determined based on experiments, and in a specific example, if 125 pieces were generated during the second predetermined time (T2), there was a substantially 100% probability that the blade 10 would be damaged. If the count value in the counting means 74 is less than the predetermined value (for example, 125), the process proceeds from step n-15 to step n-16, and the timer means 76 has timed up, or in other words, it has not been determined whether the timer means 76 has timed up or has elapsed since the blade defect detection operation was started. 2 predetermined time (T2), for example 0. It is determined whether 5 seconds have passed. If the timer means 76 has not timed up, the process returns from step n-16 to step n-7, and the above-described operations are repeated until the timer means 76 times out. on the other hand,
When the second predetermined time (T2) has elapsed without generating a predetermined number of defective signals, the process proceeds from step n-16 to step n-17, and the count value of the counting means 74 is reset. Furthermore, the process proceeds to step n-18 and the timer means 7
6 and 86 are reset, and then the process returns to step n-1. Therefore, even if the pulse signal generating means 68 generates a pulse signal due to an erroneous detection and the blade defect detection operation is started, if there is substantially no chipping in the blade 10, the second predetermined time period (T2) will continue. The predetermined number of defective signals are not generated during the period of time, so the blade failure signal described later is not generated, and there is no false detection of blade failure. Although the maximum value holding means 58 and the minimum value holding means 60 are not reset at the time when is reset, they may be reset.

これに対して、タイマー手段76がタイムアツプする、
換言すればブレード不良検知動作が開始されてから第2
の所定時間(T2)が経過するまでに計数手段74が不
良信号を所定数(例えば125)を計数すると、この計
数手段74はブレード破損信号を生成し、かかるブレー
ド破損信号が表示装置78及び駆動源8に送給される。
In response to this, the timer means 76 times up.
In other words, after the blade defect detection operation starts, the second
If the counting means 74 counts a predetermined number (for example, 125) of defective signals before the predetermined time (T2) of source 8.

かくすると、ステップn−15からステップn−19に
進み、表示手段78が付勢され、かくして表示手段78
はブレード10に比較的大きい欠けが発生したこと表示
する。また、ステップn−20にて駆動源8が除勢され
、半導体ウェーハ28に対する加工が一時的に停止する
。尚、上述した異常停止状態は、破損したブレード10
を新しいブレードlOと交換した後リセットスイッチ(
図示せず)等を操作することによって解除される。
The process then proceeds from step n-15 to step n-19, where the display means 78 is energized, and thus the display means 78
indicates that a relatively large chip has occurred in the blade 10. Further, in step n-20, the drive source 8 is deenergized, and processing on the semiconductor wafer 28 is temporarily stopped. Note that the above-mentioned abnormal stop state is caused by the damaged blade 10.
After replacing the blade with a new blade IO, press the reset switch (
(not shown).

具体例では、タイマー手段76がタイムアツプする前に
て計数手段74が不良信号を所定数計数した時点でブレ
ード破損信号が生成されるが、これに代えて、タイマー
手段76がタイムアツプした時点における計数手段74
の計数値が上記所定定数より大きいときにブレード破損
信号が生成されるようにしてもよい、また、所定時間(
例えば0.5秒)間隔で不良信号計数手段74の計数値
を判断し、上記計数値が所定数(例えば125個)より
大きいときには表示手段78を付勢し、所定数より小さ
いときには計数手段74をリセットするようにし、かく
所定時間間隔の不良パルス信号数を把握するようにして
もよい。
In the specific example, the blade damage signal is generated when the counting means 74 counts a predetermined number of defective signals before the timer means 76 times up. 74
The blade breakage signal may be generated when the count value of is greater than the predetermined constant;
For example, the count value of the defective signal counting means 74 is judged at intervals of 0.5 seconds, and when the count value is larger than a predetermined number (for example, 125), the display means 78 is energized, and when it is smaller than the predetermined number, the counting means 74 is activated. Alternatively, the number of defective pulse signals at a predetermined time interval may be determined.

次いで、主として第4図及び第6図を参照してブレード
摩耗の検出について述べると、受光手段32の受光素子
36からの出力信号は、最大値保持手段58及び最小値
保持手段60に加えて、ブレード摩耗不良検出手段56
における低周波通過手段80にも送給される。この低周
波通過手段80は、例えば5七以下の低周波を通過する
ものでよく、上記出力信号が低周波通過手段80を通過
することによって比較的周波数の高い部分(5Hzを越
える部分)がカットされる。出力信号における比較的周
波数の高い部分は、上述した記載から理解される如(、
ブレード10の欠け、その表面の凹凸に起因して発生し
、また加工液等の悪影響によっても発生する。従って、
上記比較的周波数の高い部分をカットすることによって
ブレードlOの摩耗に関連する出力信号の変化のみが残
り、かくして受光素子36からの出力信号を低周波通過
手段80を通すことによってブレード10の摩耗を正確
に検出することができる。
Next, referring mainly to FIGS. 4 and 6, the detection of blade wear will be described. In addition to the maximum value holding means 58 and the minimum value holding means 60, the output signal from the light receiving element 36 of the light receiving means 32 is Blade wear defect detection means 56
It is also sent to low frequency passing means 80 at. This low frequency passing means 80 may be one that passes low frequencies of, for example, 57 or less, and when the output signal passes through the low frequency passing means 80, relatively high frequency parts (parts exceeding 5 Hz) are cut off. be done. As can be understood from the above description, the relatively high frequency portion of the output signal is
This occurs due to chipping of the blade 10 and unevenness on its surface, and also due to the adverse effects of machining fluid and the like. Therefore,
By cutting the above-mentioned relatively high frequency portion, only the change in the output signal related to the wear of the blade 10 remains, and thus, by passing the output signal from the light receiving element 36 through the low frequency passing means 80, the wear of the blade 10 is reduced. Can be detected accurately.

上記出力信号が低周波通過手段80を通って比較手段8
2に送給されると、ステップn−101からステップn
−102に進み、上記出力信号値が設定基準値(V)よ
り大きいか否かが判断される。具体例の装置では、例え
ばブレードの許容摩耗800μmが基準値設定手段84
によって設定される設定基準値4vに対応しており、上
記出力信号値が設定基準値(V)、即ち4v以下のとき
には、ブレード10が比較的大きく摩耗していない(8
00βm以上摩耗していない)七判断し、ステップn−
102からステップn−101に戻り、上記操作が繰返
し遂行される。一方、上記出力信号値が設定基準値(V
)、即ち4vを越えると、ブレード10が比較的大きく
摩耗している(8006m以上摩耗している)と判断し
、比較手段82はブレード摩耗信号を生成する。かくす
ると、ステップn−102からステップn −103に
移り、ブレード摩耗信号が表示手段84に送給され、か
かるブレード摩耗信号に基づいて表示手段84が付勢さ
れ、かくして表示手段84はブレード10が比較的大き
く摩耗したことを表示する。
The output signal passes through the low frequency passing means 80 to the comparing means 8.
2, step n-101 to step n
-102, it is determined whether the output signal value is greater than a set reference value (V). In the specific example device, for example, the allowable blade wear of 800 μm is set as the reference value setting means 84.
When the output signal value is less than or equal to the set reference value (V), that is, 4 V, the blade 10 is not relatively worn (8 V).
00βm or more)), and step n-
From step n-102, the process returns to step n-101, and the above operations are repeated. On the other hand, the above output signal value is the set reference value (V
), that is, exceeds 4v, it is determined that the blade 10 is relatively heavily worn (worn over 8006 m), and the comparison means 82 generates a blade wear signal. Step n-102 then proceeds to step n-103, where a blade wear signal is sent to the display means 84, and the display means 84 is energized based on the blade wear signal, so that the display means 84 indicates that the blade 10 is Indicates relatively large wear.

尚、上述の状態は、摩耗したブレードlOを新いものと
交換した後リセットスイッチ(図示せず)を操作するこ
とによって解除される。
The above-mentioned state can be canceled by operating a reset switch (not shown) after replacing the worn blade IO with a new one.

以上本発明に従うブレード不良検出装置の一具体例につ
いて説明したが、本発明はかかる具体例に限定されるも
のではなく、本発明の範囲を逸脱することなく種々の変
形乃至修正が可能である。
Although a specific example of the blade defect detection device according to the present invention has been described above, the present invention is not limited to this specific example, and various modifications and changes can be made without departing from the scope of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明に従うブレード不良検出装置の一具体
例を装備した加工装置の一部を示す側面図。 第2図は、第1図の加工装置の回転加工具及びその近傍
を背面から見たところを示す図。 第3図は、回転加工具及びその近傍を示す平面図。 第4図は、第1図のブレード不良検出装置の要部を示す
ブロック図。 第5′図は、第4図のブレード不良検出装置におけるブ
レード破損不良検出手段によるブレード破損検知を説明
するフローチャート。 第6図は、第4図のブレード不良検出袋W、社おけるブ
レード摩耗不良検出手段によるブレード摩耗検知を説明
するフローチャート。 2・・・加工具組立体 4・・・保持具組立体 8・・・駆動源 10・・・ブレード 16・・・加工液供給手段 28・・・半導体ウェーハ 30・・・投光手段 32・・・受光手段 50・・・気体供給管 54・・・ブレード破損不良検出手段 56・・・ブレード摩耗不良検出手段 58・・・最大値保持手段 60・・・最小値保持手段 68・・・パルス信号生成手段 74・・・計数手段 80・・・低周波通過手段 第3図
FIG. 1 is a side view showing a part of a processing device equipped with a specific example of the blade defect detection device according to the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the rotary processing tool and its vicinity of the processing apparatus shown in FIG. 1, viewed from the back. FIG. 3 is a plan view showing the rotary processing tool and its vicinity. FIG. 4 is a block diagram showing the main parts of the blade defect detection device shown in FIG. 1. 5' is a flowchart illustrating blade failure detection by the blade failure detection means in the blade failure detection device of FIG. 4; FIG. FIG. 6 is a flowchart illustrating blade wear detection by the blade defect detection bag W of FIG. 4 and the blade wear defect detection means in the company. 2... Processing tool assembly 4... Holding tool assembly 8... Drive source 10... Blade 16... Processing liquid supply means 28... Semiconductor wafer 30... Light projecting means 32. ...Light receiving means 50...Gas supply pipe 54...Blade damage detection means 56...Blade wear detection means 58...Maximum value holding means 60...Minimum value holding means 68...Pulse Signal generation means 74...Counting means 80...Low frequency passing means FIG.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被加工物を加工するブレードの周縁部に向けて光を
投光する投光手段と該投光手段からの光を受光する受光
手段から成る光学的検出手段を備え、該受光手段からの
出力信号に基づいてブレードの不良を検出する検出装置
において、該受光手段からの出力信号の最大値(M)を
保持する最大値保持手段と、 該受光手段からの出力信号の最小値(m)を保持する最
小値保持手段と、 該最大値保持手段に保持された該最大値(M)と該最小
値保持手段に保持された該最小値(m)の差(M−m)
と設定基準値(V_0)とを比較する比較手段と、 該最大値(M)と該最小値(m)との差(M−m)が該
設定基準値(V_0)より大きい〔(M−m)>V_0
〕ときにパルス信号を生成するパルス信号生成手段と、 該パルス信号生成手段からの該パルス信号に関連して不
良信号を生成する不良信号生成手段と、 該不良信号を計数する不良信号計数手段と、を具備し、 該ブレード不良検知動作中においては、第1の設定時間
(T_1)間隔毎に、該比較手段により該最大値保持手
段に保持された該最大値(M)と該最小値保持手段に保
持された該最小値(m)の差(M−m)と該設定基準値
(V_0)との比較が遂行され、該不良信号生成手段は
該パルス信号生成手段が連続して該パルス信号を生成し
たときに該不良信号を生成し、該不良信号計数手段は第
2の設定時間(T_2)内に該不良信号が所定数を越え
るとブレード破損信号を生成する、 ことを特徴とする検出装置。 2、該不良信号生成手段は、該パルス信号生成手段にて
生成された該パルス信号の間隔を周波数変換し、該パル
ス信号の周波数が所定範囲内であるときに該不良信号を
生成する請求項1記載の検出装置。 3、該第1の設定時間(T_1)は該ブレードが実質上
1回転するに要する時間である請求項1又は2記載の検
出装置。 4、被加工物を加工するブレードの周縁部に向けて光を
投光する投光手段と該投光手段からの光を受光する受光
手段から成る光学的検出手段を備え、該受光手段からの
出力信号に基づいてブレードの不良を検出する検出装置
において、周波数の低い信号のみを通す低周波通過手段
と、該低周波通過手段からの信号と設定基準値とを比較
する比較手段を備え、 該受光手段からの出力信号は該低周波通過手段を通して
該比較手段に送給され、該比較手段は該低周波通過手段
からの信号値が該設定基準値を越えるとブレード摩耗信
号を生成する、ことを特徴とする検出装置。
[Scope of Claims] 1. Optical detection means comprising a light projecting means for projecting light toward the peripheral edge of a blade that processes a workpiece, and a light receiving means for receiving light from the light projecting means. , a detection device for detecting a defective blade based on an output signal from the light receiving means, comprising: a maximum value holding means for holding a maximum value (M) of the output signal from the light receiving means; and an output signal from the light receiving means. a minimum value holding means for holding the minimum value (m) of the maximum value holding means, and a difference (M) between the maximum value (M) held by the maximum value holding means and the minimum value (m) held by the minimum value holding means; -m)
and a set reference value (V_0); m)>V_0
] Pulse signal generation means that sometimes generates a pulse signal; Fault signal generation means that generates a faulty signal in relation to the pulse signal from the pulse signal generation means; Faulty signal counting means that counts the faulty signals; , during the blade defect detection operation, the maximum value (M) held in the maximum value holding means and the minimum value held by the comparison means are determined at every first set time (T_1) interval. A comparison is performed between the difference (M-m) of the minimum value (m) held in the means and the set reference value (V_0), and the pulse signal generating means continuously generates the pulse signal. The defective signal is generated when the defective signal is generated, and the defective signal counting means generates a blade breakage signal when the defective signal exceeds a predetermined number within a second set time (T_2). Detection device. 2. The defective signal generating means converts the frequency of the interval of the pulse signal generated by the pulse signal generating means, and generates the defective signal when the frequency of the pulse signal is within a predetermined range. 1. The detection device according to 1. 3. The detection device according to claim 1 or 2, wherein the first set time (T_1) is a time required for the blade to make substantially one revolution. 4. Optical detection means consisting of a light projecting means for projecting light toward the peripheral edge of the blade that processes the workpiece, and a light receiving means for receiving the light from the light projecting means; A detection device for detecting blade defects based on an output signal, comprising: low frequency passing means for passing only low frequency signals; and comparison means for comparing the signal from the low frequency passing means with a set reference value; an output signal from the light receiving means is fed through the low frequency passing means to the comparing means, the comparing means generating a blade wear signal when a signal value from the low frequency passing means exceeds the set reference value; A detection device characterized by:
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