JPH0213830A - Article measuring apparatus - Google Patents

Article measuring apparatus

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JPH0213830A
JPH0213830A JP63164651A JP16465188A JPH0213830A JP H0213830 A JPH0213830 A JP H0213830A JP 63164651 A JP63164651 A JP 63164651A JP 16465188 A JP16465188 A JP 16465188A JP H0213830 A JPH0213830 A JP H0213830A
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JP
Japan
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sample
flow
particle
diameter
particles
Prior art date
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JP63164651A
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Japanese (ja)
Inventor
Moritoshi Miyamoto
守敏 宮本
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To set an irradiation light with the optimum beam spot automatically depending on measuring conditions by detecting one of particle size information of a sample particle and flow diameter information of a flow thereof to alter and set a beam diameter of the irradiation light based on a detection value thereof. CONSTITUTION:A sample liquid is converged to a fine flow wrapped by a sheath liquid and passes almost through the center of a passage section within a flow cell 4. At this point, sample particles in the sample liquid are separated and flow one at a time sequentially. The sample particles passing one by one is irradiated individually with a laser light emitted from a laser light source 1. Then, a diameter of a flow of the sample liquid wrapped by the sheath liquid within the passage section of the flow cell 4 is determined by a difference between pressurized values applied to a sample liquid container 15 and a sheath liquid container 14 respectively. Then, as shown in drawings (a), (b) and (c), the larger the diameter of the sample diameter, the size of a sideway beam spot is set larger.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は粒子測定装置、例えば検体粒子に光を照射して
散乱光や蛍光を測光することにより粒子測定を行なうフ
ローサイトメータに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a particle measuring device, for example, a flow cytometer that measures particles by irradiating light onto sample particles and measuring scattered light or fluorescence.

[従来の技術] 従来、フローサイトメータ等の粒子測定装置においては
、フローセル内の流通部を順次通過する検体粒子に対し
てレーザ光等の照射光を照射し、それによって発生する
散乱光や蛍光を測光して測光信号により検体粒子の測定
を行なっていた。その際、レーザ光を検体粒子の通過方
向に対して横長の楕円形状に結像したビームスポットを
検体粒子に照射することが一般になされていた。そして
従来は楕円形状のビームスポットを形成するには2個の
シリンドリカルレンズの母線を直交して配置することに
より行なっていた。このため測定条件に応じて様々なビ
ームスポットを得るためには各種のシリンドリカルレン
ズを用意し、ターレット式に交換して組み合わせる必要
がある。
[Prior Art] Conventionally, in a particle measuring device such as a flow cytometer, sample particles passing sequentially through a flow cell are irradiated with light such as a laser beam, and the scattered light and fluorescence generated by the irradiation are emitted. The sample particles were measured using photometric signals. At that time, it has generally been done to irradiate the sample particles with a laser beam imaged in an elliptical shape that is horizontally elongated with respect to the passing direction of the sample particles. Conventionally, an elliptical beam spot has been formed by arranging the generating lines of two cylindrical lenses orthogonal to each other. Therefore, in order to obtain various beam spots depending on the measurement conditions, it is necessary to prepare various cylindrical lenses and to replace and combine them in a turret style.

そこで本願出願人は特願昭62−153845にて簡単
な構成にて制御が容易なズームレンズ系を提案した。こ
れにより検体粒子の粒子径等の測定条件に応じて最適な
形状のビームスポットを簡単な光学系にて形成すること
が可能となった。
Therefore, the applicant of the present application proposed a zoom lens system with a simple structure and easy control in Japanese Patent Application No. 62-153845. This makes it possible to form a beam spot with an optimal shape according to the measurement conditions such as the particle diameter of the sample particles using a simple optical system.

[発明が解決しようとしている問題点]しかしながら、
上述した従来の粒子測定装置では測定条件に応じた適切
なサイズのビームスポットは、検体粒子の種類や測定条
件によって人間が判断して設定していたため、未知の検
体粒子を測定する時や、検体粒子の種類は分かつていて
も粒子径が分からない時は最適なビームスポットを設定
することは困難であった。
[Problem that the invention seeks to solve] However,
In the conventional particle measuring device described above, the beam spot of an appropriate size according to the measurement conditions was set by humans based on the type of sample particles and measurement conditions. Even if the type of particles is known, it is difficult to set the optimal beam spot when the particle size is unknown.

本発明は測定条件に応じた最適な形状の照射ビームスポ
ットを自動的に設定可能で、測定精度の高い粒子測定装
置の提供を目的とする。
An object of the present invention is to provide a particle measuring device that can automatically set an irradiation beam spot with an optimal shape according to measurement conditions and has high measurement accuracy.

[問題点を解決するための手段] 上述した問題点を解決するため、被検部を通過する流れ
の中に存在する検体粒子に照射光を照射して発生する光
を測光することにより検体粒子の測定を行なう粒子測定
装置において、少なくとも検体粒子の粒子径情報と流れ
の流径情報の一方を検出する検出手段と、該検出手段の
出力値に基づいて照射光のビーム径を変更し設定する制
御手段を有する。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-mentioned problems, the analyte particles present in the flow passing through the test area are irradiated with irradiation light and the generated light is photometered. In a particle measuring device that performs measurement, a detection means for detecting at least one of particle diameter information of sample particles and flow diameter information, and a beam diameter of irradiation light is changed and set based on an output value of the detection means. It has control means.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明に係る粒子測定装置の構成図であり、生
体細胞等の検体粒子が混入したサンプル液の入ったサン
プル液容器15と、シース液である蒸留水の入ったシー
ス液容器14は各々加圧されて、サンプル液がシース液
に包まれて細い流れに収斂されてフローセル4内の流通
部のほぼ中央部を通過する。この時サンプル液中の検体
粒子は分離されて1個ずつ順次流れる。この1個ずつ通
過する検体粒子に対して、レーザ光源1から出射された
レーザ光が、光軸に沿って順に配置されたズームレンズ
系2.3の組合せによって任意の楕円形状に収斂され照
射される。ここでズームレンズ系2は検体粒子の通過方
向に対して直交する方向に変倍機能を持ち、ズームレン
ズ系3は検体粒子の通過方向に変倍機能を持つ。また、
これらのズームレンズ系は外部信号により変倍度を制御
することができる。
FIG. 1 is a configuration diagram of a particle measuring device according to the present invention, in which a sample liquid container 15 contains a sample liquid mixed with specimen particles such as biological cells, and a sheath liquid container 14 contains distilled water as a sheath liquid. are each pressurized, and the sample liquid is wrapped in the sheath liquid and converged into a thin flow, which passes through approximately the center of the flow section in the flow cell 4. At this time, the analyte particles in the sample liquid are separated and sequentially flowed one by one. The laser light emitted from the laser light source 1 is converged into an arbitrary elliptical shape by a combination of zoom lens systems 2.3 arranged sequentially along the optical axis and irradiated onto the sample particles passing through the sample particles one by one. Ru. Here, the zoom lens system 2 has a variable power function in a direction perpendicular to the direction in which the sample particles pass, and the zoom lens system 3 has a variable power function in the direction in which the sample particles pass. Also,
The magnification of these zoom lens systems can be controlled by an external signal.

前記検体粒子に光ビームが照射されると散乱光および蛍
光が発生する。前記散乱光の内、光路前方方向に発する
前方散乱光は集光レンズ5、光検出器6によって測光さ
れる。なお照射された光ビームが直接、光検出器6に入
射するのを防ぐため光路中集光レンズ5の前方に不図示
のストッパを設けて直接光を除去している。光検出器6
の出力は演算回路16に入力される。また前記散乱光の
内、照射光光路に直交する側方方向に発する側方散乱光
は集光レンズ7で集光され、ダイクロイックミラー8で
反射されて光検出器11で測光される。一般には側方散
乱光を測光する方向は本実施例のように直交方向である
ことが多いが、直交には限定されず例えば45度方向や
60度方向等であっても良い。また散乱光と共に発生す
る微弱な蛍光を測光するため、集光レンズ7によって集
光されダイクロイックミラー8を通過した蛍光の内、ダ
イクロイックミラー9、光検出器12の組によって緑色
蛍光が検出され、全反射ミラー10、光検出器13の組
によって赤色蛍光が検出される。
When the sample particles are irradiated with a light beam, scattered light and fluorescence are generated. Among the scattered lights, the forward scattered lights emitted in the forward direction of the optical path are photometered by a condenser lens 5 and a photodetector 6. In order to prevent the irradiated light beam from directly entering the photodetector 6, a stopper (not shown) is provided in the optical path in front of the condenser lens 5 to remove the direct light. Photodetector 6
The output is input to the arithmetic circuit 16. Among the scattered lights, the side scattered lights emitted in the lateral direction orthogonal to the irradiation light optical path are collected by the condenser lens 7, reflected by the dichroic mirror 8, and photometered by the photodetector 11. Generally, the direction in which side scattered light is photometered is often orthogonal as in this embodiment, but is not limited to orthogonal and may be, for example, a 45 degree direction or a 60 degree direction. In addition, in order to photometer the weak fluorescence generated together with the scattered light, green fluorescence is detected by the dichroic mirror 9 and photodetector 12 among the fluorescence that is focused by the condenser lens 7 and passed through the dichroic mirror 8. Red fluorescence is detected by a combination of a reflecting mirror 10 and a photodetector 13.

各光検出器の前には各波長域の光のみを通過させるた−
めのバンドパスフィルタ21.22.23が設置されて
いる。光検出器115.12.13の信号は演算回路1
6に入力され、該演算回路16にて粒子測定の演算が行
なわれる。また演算回路16からはズームレンズ系2.
3の変倍度を制御するための制御信号が出力される。
In front of each photodetector, there is a
Third bandpass filters 21, 22, and 23 are installed. The signals of the photodetectors 115, 12, and 13 are sent to the arithmetic circuit 1.
6, and the calculation circuit 16 performs particle measurement calculations. Further, from the arithmetic circuit 16, a zoom lens system 2.
A control signal for controlling the magnification of 3 is output.

次に第2図を用いて本発明の実施例のズームレンズ系2
.3の光学系を説明する。第2図はズームレンズ系の光
学構成図であり、光軸に沿って光学補正型のズームレン
ズ系が2組配置された構成となっている。ただし2組の
ズームレンズ系は、それぞれ平面内及び側面内において
のみズーム機能を持っている。第2図(a)は平面図で
あり、第2図(b)は平面図と直交する方向から見た側
面図である。光軸に沿って配置・°された凸シリンドリ
カルレンズ30、凹シリンドリカルレンズ31、凸シリ
ノリカルレンズ32は、平面内においてのみズーム機能
を持つ光学補正型ズームレンズ系を構成し、凸シリンド
リカルレンズ33、凹シリトリカルレンズ34、凸シリ
ンドリカルレンズ35は側面内においてのみズーム機能
を持つ光学補正型ズームレンズ系を構成している。この
光学補正型ズームレンズ系は、不動のレンズを挟んで2
つの動レンズが一体に連結されて動き、各群のパワーと
レンズ間隔を適切に選べば像位置が一定に保たれ、ズー
ミングの際にピント面が特定の条件以外のところで若干
ずれる性質を持っている。このため、シリンドリカルレ
ンズ30.31,32のズームレンズ系の平面内での焦
点距離を連続的に変化させると、フローセル4の流通部
における平面内での結像ビーム径dが連続的に変化する
。また、シリンドリカルレンズ33.34.35のズー
ムレンズ系の側面内での焦点距離を連続的に変化させる
と、フローセル4の流通部における側面内で9結像ビー
ム径dが連続的に変化する。これによりフローセル4の
流通部でのビームスポットの縦、横のサイズを別々に自
在に変化させることが可能で、任意の縦横サイズのズー
ムスポットを得ることができる。
Next, using FIG. 2, a zoom lens system 2 according to an embodiment of the present invention will be described.
.. The optical system of No. 3 will be explained. FIG. 2 is an optical configuration diagram of the zoom lens system, in which two sets of optically corrected zoom lens systems are arranged along the optical axis. However, the two zoom lens systems each have a zoom function only within the plane and within the side. FIG. 2(a) is a plan view, and FIG. 2(b) is a side view seen from a direction perpendicular to the plan view. A convex cylindrical lens 30, a concave cylindrical lens 31, and a convex cylindrical lens 32 arranged and aligned along the optical axis constitute an optically corrected zoom lens system having a zoom function only within a plane, and a convex cylindrical lens 33, The concave cylindrical lens 34 and the convex cylindrical lens 35 constitute an optically corrected zoom lens system having a zoom function only within the side surface. This optically corrected zoom lens system consists of two
The two dynamic lenses move as one, and if the power and lens spacing of each group are selected appropriately, the image position can be kept constant, but when zooming, the focal plane will shift slightly under certain conditions. There is. Therefore, when the in-plane focal length of the zoom lens system of the cylindrical lenses 30, 31, and 32 is continuously changed, the in-plane imaging beam diameter d in the flow section of the flow cell 4 is continuously changed. . Further, when the focal length of the cylindrical lenses 33, 34, and 35 is continuously changed within the side surface of the zoom lens system, the 9 imaging beam diameter d is continuously changed within the side surface of the flow cell 4. Thereby, the vertical and horizontal sizes of the beam spot in the flow section of the flow cell 4 can be freely changed separately, and a zoom spot of any vertical and horizontal size can be obtained.

さて、次に前記ズームレンズ系の変倍度を調節して測定
条件に適したビームスポットを設定する方法について説
明する。
Next, a method of adjusting the magnification of the zoom lens system to set a beam spot suitable for measurement conditions will be described.

°検体粒子に照射される光の強度が大ぎくなるほど、検
体粒′子から発生する散乱光や蛍光等の光も強くなる。
The greater the intensity of the light irradiated to the sample particles, the stronger the scattered light, fluorescence, and other light generated from the sample particles.

特に側方散乱光や蛍光は微弱であるため、検体粒子に照
射される光の強度もより大きいほうが、すなわち収斂さ
れるビームスポットのサイズが小さいほうが好ましい。
In particular, since side scattered light and fluorescence are weak, it is preferable that the intensity of the light irradiated to the sample particles is also greater, that is, the size of the converged beam spot is smaller.

しかしながらフローセル中を次々と流れる個々の検体粒
子は常に一定位置を流れているわけではなく、フローセ
ル上部から見て前後または左右の若干の位置ずれを伴な
ってばらついている。ここで照射されるレーザビームは
ガウス分布状の強度分布を呈しているため、ビームスポ
ットを小さく絞りすぎると、検体粒子の位置ずれに対し
て照射される光強度の変動が大きくなってしまう。よっ
てなるべくビームスポットのサイズを小さくして照射光
強度を大きくしながらも、位置ずれに対する照射光強度
の変動が大きくならないような、適切なサイズの照射ビ
ームスポットを設定することが、粒子測定装置の測定精
度を向上させるのに重要となる。
However, the individual sample particles that flow one after another through the flow cell do not always flow at a fixed position, but vary with slight positional deviations in the front and back or left and right directions when viewed from the top of the flow cell. Since the laser beam irradiated here has a Gaussian intensity distribution, if the beam spot is narrowed down too much, the fluctuation of the irradiated light intensity will increase with respect to the positional shift of the sample particles. Therefore, it is important to set the irradiation beam spot to an appropriate size so that the irradiation light intensity does not vary greatly due to positional deviation, even though the beam spot size is made as small as possible and the irradiation light intensity is increased. This is important for improving measurement accuracy.

最適ビームスポットの第1の設定方法として、ビームス
ポットの検体粒子の流れに対して直交する横方向のサイ
ズを変倍調節する方法を第3図を用いて以下に説明する
As a first method of setting the optimum beam spot, a method of adjusting the size of the beam spot in the lateral direction perpendicular to the flow of sample particles will be described below with reference to FIG. 3.

ビームスポットを横方向のサイズを設定するためのパラ
メータとして、サンプル液の流れの太さであるサンプル
流径を用いる。フローセル4の流通部内においてシース
液に包まれるサンプル液のサンプル流径は、サンプル液
容器15とシース液容器14へそれぞれ加えられる加圧
値の差によって決定されれる。このサンプル流径は検体
粒子の粒子径等によって値が設定され、一般にはサンプ
ル流径は検体粒子の粒子径になるべく近い値に絞り込ん
で設定することが望ましい。
The sample flow diameter, which is the thickness of the sample liquid flow, is used as a parameter for setting the horizontal size of the beam spot. The sample flow diameter of the sample liquid surrounded by the sheath liquid in the flow section of the flow cell 4 is determined by the difference in the pressurization values applied to the sample liquid container 15 and the sheath liquid container 14, respectively. The value of this sample flow diameter is set depending on the particle diameter of the sample particles, etc., and it is generally desirable to set the sample flow diameter to a value as close as possible to the particle diameter of the sample particles.

ビームスポットを設定するためのサンプル流径を求める
方法として、シース液容器14とサンプル液容器15へ
のそれぞれの加圧値から演算するか、あるいは演算の替
りに経験によって得られた換算表により求めても良い。
The sample flow diameter for setting the beam spot can be calculated from the pressure values applied to the sheath liquid container 14 and the sample liquid container 15, or alternatively, it can be calculated using a conversion table obtained through experience. It's okay.

そのほかの方法として、特願昭60−264158に示
すようにフローセル中のサンプル液流をCCD等を用い
て直接光学的に測定することも可能である。
As another method, it is also possible to directly optically measure the sample liquid flow in a flow cell using a CCD or the like, as shown in Japanese Patent Application No. 60-264158.

モして抜出されたサンプル流径に応じて照射ビームスポ
ットの横方向のサイズを設定する。具体的な設定方法と
して第3図(a) 、 (b) 、 (c)のように、
サンプル流径が大きくなるほど横方向のビームスポット
のサイズも大きく設定する。流れる検体粒子の位置ずれ
はサンプル流径の範囲で起きるため、サンプル流径が大
きくなるほど流れる検体粒子の位置ずれも大きくなる可
能性がある。そのため位置ずれの増加に対する許容度を
高めるために、サンプル流径の大きさに応じてこのよう
に設定する。
The horizontal size of the irradiation beam spot is set according to the flow diameter of the extracted sample. As a specific setting method, as shown in Figure 3 (a), (b), and (c),
The larger the sample flow diameter is, the larger the beam spot size in the lateral direction is set. Since the displacement of the flowing specimen particles occurs within the range of the sample flow diameter, the displacement of the flowing specimen particles may become larger as the sample flow diameter becomes larger. Therefore, in order to increase tolerance to an increase in positional deviation, this setting is made in accordance with the size of the sample flow diameter.

なお縦方向のビームサイズに関しては第3図のように検
体粒子全体を照射するようなサイズのほかに、検体粒子
の粒子径よりも細いスリット状に設定することによって
、スリットスキャン方式で粒子測定を行なうことも可能
である。
Regarding the beam size in the vertical direction, in addition to the size that irradiates the entire sample particle as shown in Figure 3, it is also possible to measure particles using the slit scan method by setting the beam to a slit shape that is thinner than the particle diameter of the sample particle. It is also possible to do so.

基本的には上述のように設定するが、しかしながら最適
設定値はサンプル流径のみならず、測定目的によっても
変化する。すなわち検体粒子へ照射される光強度とCV
値(変動係数)は互いに相反するため、測定目的に応じ
てその兼ね合いを決定しなければならない。例えばごく
微弱にしか発生しない蛍光を測定する時は、多少CV値
が悪くなってもビーム強度を上げて発生する蛍光強度を
大とくする必要があるため、横ビームサイズを小さくす
る。また前方散乱光を測光して粒子測定することが主な
目的であれば、前方散乱光は比較的大きな出力であるか
ら、横方向のビームサイズを大きくすることによりCV
値を良くし、個々の検体粒子の測定データのばらつきを
少なくすることができる。
Basically, the settings are as described above, but the optimal settings vary depending on not only the sample flow diameter but also the purpose of measurement. In other words, the light intensity irradiated to the sample particles and the CV
Since the values (coefficients of variation) are contradictory to each other, the balance must be determined depending on the purpose of measurement. For example, when measuring extremely weak fluorescence, it is necessary to increase the beam intensity to increase the intensity of the generated fluorescence even if the CV value deteriorates to some extent, so the horizontal beam size is made small. Furthermore, if the main purpose is to measure particles by photometry of forward scattered light, since forward scattered light has a relatively large output, CV
It is possible to improve the value and reduce the variation in measurement data of individual sample particles.

次に最適ビームスポットの第2の設定方法として、検体
粒子の流れと同一の縦方向のビームスポットサイズを変
倍調節する方法を以下に説明する。
Next, as a second method for setting the optimum beam spot, a method of adjusting the magnification of the beam spot size in the vertical direction, which is the same as the flow of sample particles, will be described below.

縦方向の最適なビームスポットを得るためのパラメータ
としては検体粒子の粒子径を用い、該粒子径を得るため
の手段として、散乱光、特に前方散乱光強度すなわち光
検出器6の出力を用いる。
The particle size of the sample particles is used as a parameter for obtaining the optimum beam spot in the longitudinal direction, and the scattered light, particularly the forward scattered light intensity, that is, the output of the photodetector 6, is used as a means for obtaining the particle size.

一般に検体粒子の粒子径と前方散乱光強度は相関関係に
あ乞。よって演算回路16において、光検出器6で検出
された前方散乱光強度から検体粒子の粒子径を演算する
Generally, there is a correlation between the particle diameter of the sample particles and the forward scattered light intensity. Therefore, the calculation circuit 16 calculates the particle diameter of the sample particle from the forward scattered light intensity detected by the photodetector 6.

そして求められた粒子径により、ビームスポットの縦方
向について検体粒子の粒子径よりやや大きい程度のサイ
ズにズームレンズ系3を制御して設定する。このように
設定することによって、CV値を悪くすることなく、検
体粒子の測定に最低限必要な大きさのビームサイズを確
保しつつ、より強度の大きな光を検体粒子に照射するこ
とができる。さらに別の効果として第4図(d)のよう
に、ビームスポット中に同時に2個の検体粒子が・入っ
てしまい誤信号を発生する可能性も小さくなる。
Based on the determined particle diameter, the zoom lens system 3 is controlled and set to a size slightly larger than the particle diameter of the sample particles in the vertical direction of the beam spot. By setting in this manner, it is possible to irradiate the sample particles with light of higher intensity while ensuring the minimum beam size necessary for measuring the sample particles without worsening the CV value. Another effect is that, as shown in FIG. 4(d), the possibility of two specimen particles entering the beam spot at the same time and generating an erroneous signal is reduced.

なお、前記第1、第2の設定方法によるビームスポット
横及び縦方向のサイズの設定は単独で行なっても良いが
、第4図(a) 、 (b) 、 (c)のように両者
同時に行なうことによって一層測定精度を向上させるこ
とができる。
Note that the horizontal and vertical beam spot sizes may be set independently using the first and second setting methods, but both may be set simultaneously as shown in Figures 4(a), (b), and (c). By doing so, measurement accuracy can be further improved.

なお以上のビームスポット設定は、測定開始にあたって
少量のサンプル液を流して設定し、ビームスポットを固
定した後に、残りのサンプル液により粒子測定を開始す
る。
Note that the beam spot setting described above is set by flowing a small amount of sample liquid at the start of measurement, and after fixing the beam spot, particle measurement is started using the remaining sample liquid.

以上説明してきた本発明の実施例では、ズームレンズ系
として光学補正型ズームレンズを用いたが、これには限
られず例えば特願昭61−272073や特願昭61−
272074に示されるような機械補正型ズームレンズ
系を用いることも可能である。また本発明は上記フロー
サイトメータには限らず、ラテックス免疫診断装置や粒
子カウンタ等にも適用可能である。
In the embodiments of the present invention described above, an optically corrected zoom lens is used as the zoom lens system, but the invention is not limited to this.
It is also possible to use a mechanically corrected zoom lens system as shown in No. 272074. Further, the present invention is not limited to the above-mentioned flow cytometer, but is also applicable to latex immunodiagnosis devices, particle counters, and the like.

[発明の効果] 本発明によれば、測定条件によって最適なビームスポッ
トの照射光を自動的に設定することができ、測定精度の
高い粒子測定装置を提供することができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, it is possible to automatically set the optimum beam spot irradiation light depending on the measurement conditions, and it is possible to provide a particle measuring device with high measurement accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の粒子測定装置の全体構成図、第2図は
ズームレンズ系の光学構成図、第3図はビームスポット
の横方向のサイズを設定する説明図、 第4図はビームスポットの横及び縦方向のサイズを設定
する説明図、 であり、図中の記号は、
Figure 1 is an overall configuration diagram of the particle measuring device of the present invention, Figure 2 is an optical configuration diagram of the zoom lens system, Figure 3 is an explanatory diagram for setting the horizontal size of the beam spot, and Figure 4 is the beam spot. This is an explanatory diagram for setting the horizontal and vertical size of , and the symbols in the diagram are:

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被検部を通過する流れの中に存在する検体粒子に照
射光を照射して発生する光を測光することにより検体粒
子の測定を行なう粒子測定装置において、少なくとも検
体粒子の粒子径情報と流れの流径情報の一方を検出する
検出手段と、該検出手段の出力値に基づいて照射光のビ
ーム径を変更し設定する制御手段を有することを特徴と
する粒子測定装置。 2、前記制御手段は前記粒子径情報により照射光の流れ
縦方向のビーム径を変更する請求項1記載の粒子測定装
置。 3、前記制御手段は前記流径情報により照射光の流れ横
方向のビーム径を変更する請求項1記載の粒子測定装置
。 4、前記粒子径情報は前記検体粒子より発する散乱光強
度により演算された検体粒子の粒子径である請求項2記
載の粒子測定装置。 5、前記流径情報は検体粒子を含むサンプル液とシース
液のそれぞれの加圧値より演算されるサンプル流径であ
る請求項3記載の粒子測定装置。 6、実質的な測定前に照射光のビーム径を変更して設定
する請求項1記載の粒子測定装置。
[Scope of Claims] 1. In a particle measuring device that measures sample particles by photometering the light generated by irradiating sample particles existing in a flow passing through a sample part with irradiation light, at least Particle measurement characterized by having a detection means for detecting either particle diameter information of particles or flow diameter information of the flow, and control means for changing and setting the beam diameter of irradiation light based on the output value of the detection means. Device. 2. The particle measuring device according to claim 1, wherein the control means changes the beam diameter in the vertical direction of the flow of the irradiation light based on the particle diameter information. 3. The particle measuring device according to claim 1, wherein the control means changes the beam diameter in the lateral direction of the flow of the irradiated light based on the flow diameter information. 4. The particle measuring device according to claim 2, wherein the particle size information is the particle size of the sample particle calculated based on the intensity of scattered light emitted from the sample particle. 5. The particle measuring device according to claim 3, wherein the flow diameter information is a sample flow diameter calculated from respective pressurization values of a sample liquid containing specimen particles and a sheath liquid. 6. The particle measuring device according to claim 1, wherein the beam diameter of the irradiated light is changed and set before actual measurement.
JP63164651A 1988-06-30 1988-06-30 Article measuring apparatus Pending JPH0213830A (en)

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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003004625A (en) * 2001-06-15 2003-01-08 Sysmex Corp Flow sight meter
JP2003532411A (en) * 2000-05-09 2003-11-05 エックスワイ,インコーポレイテッド High-purity X-chromosome-bearing sperm population and Y-chromosome-bearing sperm population
JP2006227013A (en) * 1998-05-14 2006-08-31 Luminex Corp Flow analyzer and multi-analyte diagnostic system
JP2008191163A (en) * 2000-09-06 2008-08-21 Guava Technologies Inc Particle analyzer
JP2008249804A (en) * 2007-03-29 2008-10-16 Fujifilm Corp Confocal fluorescence microscope
JP2011505577A (en) * 2007-12-04 2011-02-24 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド Non-right angle particle detection system and method
US8198093B2 (en) 2003-03-28 2012-06-12 Inguran Llc Methods for sorting particles
JP2013527929A (en) * 2010-05-03 2013-07-04 バイオ−ラッド・ラボラトリーズ・インコーポレーテッド Optical combiner for combining multiple laser beams in a flow cytometer
US8553226B2 (en) 1997-01-31 2013-10-08 Xy, Llc Optical apparatus
US11105744B2 (en) 2017-07-19 2021-08-31 Inguran, Llc Method and system incorporating beam shaping optics and beam stabilization

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8975035B2 (en) 1997-01-31 2015-03-10 Xy, Llc Method of analyzing cells
US8553226B2 (en) 1997-01-31 2013-10-08 Xy, Llc Optical apparatus
JP2006227013A (en) * 1998-05-14 2006-08-31 Luminex Corp Flow analyzer and multi-analyte diagnostic system
EP2258174A3 (en) * 2000-05-09 2012-06-13 Xy, Llc High purity x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations of spermatozoa
JP2003532411A (en) * 2000-05-09 2003-11-05 エックスワイ,インコーポレイテッド High-purity X-chromosome-bearing sperm population and Y-chromosome-bearing sperm population
EP2258171A3 (en) * 2000-05-09 2012-06-13 Xy, Llc High purity X-chromosome bearing and Y-chromosome bearing populations of spermatozoa
JP2008191163A (en) * 2000-09-06 2008-08-21 Guava Technologies Inc Particle analyzer
JP2003004625A (en) * 2001-06-15 2003-01-08 Sysmex Corp Flow sight meter
US8241914B2 (en) 2003-03-28 2012-08-14 Inguran Llc EPI-damage apparatus and methods for sorting particles
US8198092B2 (en) 2003-03-28 2012-06-12 Inguran, Llc Digital sampling apparatus and methods for sorting particles
US8206987B2 (en) 2003-03-28 2012-06-26 Inguran Llc Photo-damage method for sorting particles
US8206988B2 (en) 2003-03-28 2012-06-26 Inguran Llc Method and apparatus for orienting sperm in a fluid stream
US8198093B2 (en) 2003-03-28 2012-06-12 Inguran Llc Methods for sorting particles
JP2008249804A (en) * 2007-03-29 2008-10-16 Fujifilm Corp Confocal fluorescence microscope
JP2011505577A (en) * 2007-12-04 2011-02-24 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド Non-right angle particle detection system and method
JP2013527929A (en) * 2010-05-03 2013-07-04 バイオ−ラッド・ラボラトリーズ・インコーポレーテッド Optical combiner for combining multiple laser beams in a flow cytometer
US11105744B2 (en) 2017-07-19 2021-08-31 Inguran, Llc Method and system incorporating beam shaping optics and beam stabilization

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