JPH01258074A - X線画像処理装置 - Google Patents
X線画像処理装置Info
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- JPH01258074A JPH01258074A JP63084754A JP8475488A JPH01258074A JP H01258074 A JPH01258074 A JP H01258074A JP 63084754 A JP63084754 A JP 63084754A JP 8475488 A JP8475488 A JP 8475488A JP H01258074 A JPH01258074 A JP H01258074A
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- 238000005316 response function Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
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- Animal Behavior & Ethology (AREA)
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- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、被写体を透過したX線量に基き構成されるX
線画像を処理する装置であって、X線画像に含まれる散
乱X線を除去処理するX線画像処理装置に関する。
線画像を処理する装置であって、X線画像に含まれる散
乱X線を除去処理するX線画像処理装置に関する。
(従来の技術)
従来、一般にX線診断装置におけるX線検出器には、画
像情報として有効な直接X線と、被写体等により散乱さ
れた散乱X線とが入射されCいる。この散乱X線は、X
線画像のコントラスト、鮮鋭度を劣化させる主な要因と
なっているため、散乱X線の除去は画質の向上を図る上
で極めて重要なものになっている。
像情報として有効な直接X線と、被写体等により散乱さ
れた散乱X線とが入射されCいる。この散乱X線は、X
線画像のコントラスト、鮮鋭度を劣化させる主な要因と
なっているため、散乱X線の除去は画質の向上を図る上
で極めて重要なものになっている。
そこで従来より前記散乱X線を除去したX線画像を得る
一つの装置として、次のような装置が知られている。す
なわちこの装置によれば、直接X線成分および散乱X線
成分を含む原画像が第1の記憶部に記憶され、散乱X線
の被写体入射X線に対する検出器上での応答関数がフー
リエ変換された形式で第2の記憶部に記憶される。そし
てこの第2の記憶部の出力と被写体の撮影条件とから周
波数空間上でのフィルタ係数が第1の演算手段で求めら
れ、さらにこのフィルタ係数と前記原画像とを実空間上
または周波数空間上でフィルタリングする第2の演算手
段により散乱X線成分が算出される。さらに減算手段に
より点空間上で前記原画像から散乱X線成分が減算され
、直接X線画像が得られる。このように原画像に素抜は
部が存在しないときには、散乱X線を除去したX線画像
を得ることができる。
一つの装置として、次のような装置が知られている。す
なわちこの装置によれば、直接X線成分および散乱X線
成分を含む原画像が第1の記憶部に記憶され、散乱X線
の被写体入射X線に対する検出器上での応答関数がフー
リエ変換された形式で第2の記憶部に記憶される。そし
てこの第2の記憶部の出力と被写体の撮影条件とから周
波数空間上でのフィルタ係数が第1の演算手段で求めら
れ、さらにこのフィルタ係数と前記原画像とを実空間上
または周波数空間上でフィルタリングする第2の演算手
段により散乱X線成分が算出される。さらに減算手段に
より点空間上で前記原画像から散乱X線成分が減算され
、直接X線画像が得られる。このように原画像に素抜は
部が存在しないときには、散乱X線を除去したX線画像
を得ることができる。
(発明が解決しようとする課題)
然し乍ら、上記従来の装置にあっては、次のような問題
がある。X線検出器面上での散乱X線の入射線に対する
応答関数は、被写体のあるエリアと、被写体のないエリ
ア(素抜は部)とでは前記応答関数の形が大きく異なる
。然し乍ら、一つの形の応答関数から求めたフィルタ係
数でフィルタリングして散乱X線成分を算出しているの
で、散乱X線成分を正確に算出することができない。
がある。X線検出器面上での散乱X線の入射線に対する
応答関数は、被写体のあるエリアと、被写体のないエリ
ア(素抜は部)とでは前記応答関数の形が大きく異なる
。然し乍ら、一つの形の応答関数から求めたフィルタ係
数でフィルタリングして散乱X線成分を算出しているの
で、散乱X線成分を正確に算出することができない。
特に入射X線が直ちに前記検出器に入射する素抜は部の
近くでは、その誤差が大きくなる。すなわち前述した原
画像に素抜は部が存在するときには、素抜は部周辺の散
乱X線が大きく見積もられてしまう。このため、得られ
た直接X線画像の素抜は部の周囲にはアーチファクト(
白・黒)が発生してしまい、その散乱X線を適確に除去
することができないという問題があった。
近くでは、その誤差が大きくなる。すなわち前述した原
画像に素抜は部が存在するときには、素抜は部周辺の散
乱X線が大きく見積もられてしまう。このため、得られ
た直接X線画像の素抜は部の周囲にはアーチファクト(
白・黒)が発生してしまい、その散乱X線を適確に除去
することができないという問題があった。
そこで本発明の目的は、原画像に素抜は部が存在する場
合であっても、散乱X線を適確に除去し得、アーチファ
クトを発生することなく、良好な直接X線成分のみの画
像を得、しかも散乱X線の除去処理により被曝線量を減
少し得るX線画像処理装置を提供することにある。
合であっても、散乱X線を適確に除去し得、アーチファ
クトを発生することなく、良好な直接X線成分のみの画
像を得、しかも散乱X線の除去処理により被曝線量を減
少し得るX線画像処理装置を提供することにある。
[発明の構成]
(課題を解決する為の手段)
本発明は上記の課題を解決し目的を達成する為に次のよ
うな手段を講じた。直接X線成分および散乱X線成分を
含む原画像を記憶する第1の記憶部と、X線検出器面上
での散乱X線の応答関数を記憶する第2の記憶部と、被
写体の撮影条件および前記第2の記憶部の出力に基いて
フィルタの係数を決定する決定手段と、前記第1の記憶
部の原画像から素抜はエリアを検出する検出手段と、こ
の素抜はエリア以外のエリアの原画像に前記決定手段で
決定したフィルタ係数を用いてフィルタリングし、散乱
X線成分を算出する第1の演算手段と、前記原画像から
前記散乱X線成分を減算する第2の演算手段とを備える
ようにしたものである。
うな手段を講じた。直接X線成分および散乱X線成分を
含む原画像を記憶する第1の記憶部と、X線検出器面上
での散乱X線の応答関数を記憶する第2の記憶部と、被
写体の撮影条件および前記第2の記憶部の出力に基いて
フィルタの係数を決定する決定手段と、前記第1の記憶
部の原画像から素抜はエリアを検出する検出手段と、こ
の素抜はエリア以外のエリアの原画像に前記決定手段で
決定したフィルタ係数を用いてフィルタリングし、散乱
X線成分を算出する第1の演算手段と、前記原画像から
前記散乱X線成分を減算する第2の演算手段とを備える
ようにしたものである。
(作用)
このような手段を講じたことにより、次のような作用を
呈する。散乱X線の応答関数を格納した第2の記憶部の
出力と、被写体の撮影条件とが決定手段に入力され、こ
れらに基いてフィルタ係数が決定される。また検出手段
により原画像から素抜はエリアが検出され、第1の演算
手段により素抜はエリア以外のエリアの原画像が前記決
定手段で決定したフィルタ係数でフィルタリングされる
。その結果、原画像に素抜は部が存在する場合であって
も、素抜は部が検出され、かつこれに対応するフィルタ
係数、すなわち被写体の存在するエリアは被写体による
応答関数から求めたフィルタ係数で、原画像の素抜は部
は被写体が存在しないときの応答関数から求めたフィル
タ係数で、フィルタリングされるので、素抜は部のある
原画像から散乱X線成分が適確に除去され、アーチファ
クトを発生することなく、良好な直接X線成分のみの画
像を得ることができ、しかも散乱X線の除去処理により
被曝線量を減少できる。
呈する。散乱X線の応答関数を格納した第2の記憶部の
出力と、被写体の撮影条件とが決定手段に入力され、こ
れらに基いてフィルタ係数が決定される。また検出手段
により原画像から素抜はエリアが検出され、第1の演算
手段により素抜はエリア以外のエリアの原画像が前記決
定手段で決定したフィルタ係数でフィルタリングされる
。その結果、原画像に素抜は部が存在する場合であって
も、素抜は部が検出され、かつこれに対応するフィルタ
係数、すなわち被写体の存在するエリアは被写体による
応答関数から求めたフィルタ係数で、原画像の素抜は部
は被写体が存在しないときの応答関数から求めたフィル
タ係数で、フィルタリングされるので、素抜は部のある
原画像から散乱X線成分が適確に除去され、アーチファ
クトを発生することなく、良好な直接X線成分のみの画
像を得ることができ、しかも散乱X線の除去処理により
被曝線量を減少できる。
(実施例)
第1図は本発明に係るX線画像処理装置の一実施例を示
す図である。第1図において、二次元メモリlは第1の
記憶部であり、X線撮影装置で撮影された原画像T(x
、y)(直接X線成分および散乱X線成分を含む)を記
憶するものである。
す図である。第1図において、二次元メモリlは第1の
記憶部であり、X線撮影装置で撮影された原画像T(x
、y)(直接X線成分および散乱X線成分を含む)を記
憶するものである。
散乱線応答関数格納メモリ2は第2の記憶部であり、被
写体が存在するときの散乱線応答関数と、素抜は部(被
写体が存在しない部分)における散乱線応答関数と、を
記憶するものである。フィルタ係数決定手段4は撮影条
件情報3からの被写体の撮影条件および第2の記憶部の
出力を入力し、これに基いて被写体があるときのフィル
タ係数Fl (x、y)と素抜は部のフィルタ係数F
2 (x、y)を決定するものである。素抜は部検出
手段5は、原画像T (x、y)から素抜はエリアと被
写体のあるエリアとを検出するものである。この素抜は
部検出手段5により原画像T (x、y)の画像データ
が予め撮影線量から決定したしきい値Q1より大きな値
を与える画素(x、y)は、素抜は部として、またしき
い値Q1より小さい値を与える画素(x、y)は、被写
体のある部分として検出されるものとなっている。また
撮影線量が画像毎に大きく変化し、しきい値Q1を決定
することができない場合には、次の方法でしきい値Q1
を決定してもよい。
写体が存在するときの散乱線応答関数と、素抜は部(被
写体が存在しない部分)における散乱線応答関数と、を
記憶するものである。フィルタ係数決定手段4は撮影条
件情報3からの被写体の撮影条件および第2の記憶部の
出力を入力し、これに基いて被写体があるときのフィル
タ係数Fl (x、y)と素抜は部のフィルタ係数F
2 (x、y)を決定するものである。素抜は部検出
手段5は、原画像T (x、y)から素抜はエリアと被
写体のあるエリアとを検出するものである。この素抜は
部検出手段5により原画像T (x、y)の画像データ
が予め撮影線量から決定したしきい値Q1より大きな値
を与える画素(x、y)は、素抜は部として、またしき
い値Q1より小さい値を与える画素(x、y)は、被写
体のある部分として検出されるものとなっている。また
撮影線量が画像毎に大きく変化し、しきい値Q1を決定
することができない場合には、次の方法でしきい値Q1
を決定してもよい。
第2図は素抜は部を検出するために使用する画像データ
のヒストグラムを示す図である。原画像T (x、y)
からその画像データの値に対する頻度を求め、ヒストグ
ラムを描く。画像に素抜は部がある場合には、図示の如
くヒストグラムの右端に鋭いピークが発生する。このピ
ークが素抜は部の画像データであるので、ピークより少
し小さな値、すなわちピークの左端の値をしきい値Q1
とし、素抜は部はしきい値Q1により検出されるものと
なっている。フィルタ演算回路6は素抜はエリア以外の
エリアの原画像に前記決定手段4で決定したフィルタ係
数でフィルタリングし、散乱X線成分を算出するもので
ある。すなわちフィルタ演算回路6は原画像T(x、y
)のうち被写体が存在するエリアにはフィルタ係数Fl
(x、y)を乗算し、原画像T (x、y)のうち
素抜は部にはフィルタ係数F2 (x、y)を乗算し
両者を合計して散乱X線成分S (x、y)を算出する
ものである。この計算は次式で行われる。
のヒストグラムを示す図である。原画像T (x、y)
からその画像データの値に対する頻度を求め、ヒストグ
ラムを描く。画像に素抜は部がある場合には、図示の如
くヒストグラムの右端に鋭いピークが発生する。このピ
ークが素抜は部の画像データであるので、ピークより少
し小さな値、すなわちピークの左端の値をしきい値Q1
とし、素抜は部はしきい値Q1により検出されるものと
なっている。フィルタ演算回路6は素抜はエリア以外の
エリアの原画像に前記決定手段4で決定したフィルタ係
数でフィルタリングし、散乱X線成分を算出するもので
ある。すなわちフィルタ演算回路6は原画像T(x、y
)のうち被写体が存在するエリアにはフィルタ係数Fl
(x、y)を乗算し、原画像T (x、y)のうち
素抜は部にはフィルタ係数F2 (x、y)を乗算し
両者を合計して散乱X線成分S (x、y)を算出する
ものである。この計算は次式で行われる。
S(x、y)=、f、f T(xi、yl)・PL(x
l−x、yl−y)dxl・dylI +、l’、f T(x2.y2) ・F2(x2−x、
y2−y)dx2 ・dy2ここでDl ;被写体のあ
るエリア D2 ;素抜は部 ・・
・(1)減算手段7は(1)式により算出した散乱X線
成分S (x、y)を原画像T (x、y)から減算し
、直接X線成分のみによる画像P (x、y)を得るも
のである。
l−x、yl−y)dxl・dylI +、l’、f T(x2.y2) ・F2(x2−x、
y2−y)dx2 ・dy2ここでDl ;被写体のあ
るエリア D2 ;素抜は部 ・・
・(1)減算手段7は(1)式により算出した散乱X線
成分S (x、y)を原画像T (x、y)から減算し
、直接X線成分のみによる画像P (x、y)を得るも
のである。
次にこのように構成された実施例の作用を説明する。ま
ず、直接X線成分および散乱X線成分を含む原画像が二
次元メモリlに記憶され、X線検出器面上での散乱X線
の応答関数を格納した散乱線応答関数格納メモリ2の出
力と、撮影条件情報3から被写体の撮影条件とがフィル
タ係数決定手段4に入力され、これに基きフィルタ係数
が決定される。すなわちこのフィルタ係数決定手段4に
より被写体があるときのフィルタ係数Fl (x、y
)と素抜は部のフィルタ係数F2 (x、y)が決定
される。
ず、直接X線成分および散乱X線成分を含む原画像が二
次元メモリlに記憶され、X線検出器面上での散乱X線
の応答関数を格納した散乱線応答関数格納メモリ2の出
力と、撮影条件情報3から被写体の撮影条件とがフィル
タ係数決定手段4に入力され、これに基きフィルタ係数
が決定される。すなわちこのフィルタ係数決定手段4に
より被写体があるときのフィルタ係数Fl (x、y
)と素抜は部のフィルタ係数F2 (x、y)が決定
される。
一方、素抜は部検出手段5により原画像から素抜はエリ
アが検出され、フィルタ演算回路6により素抜はエリア
以外のエリアの原画像は前記フィルタ係数決定手段4で
決定したフィルタ係数でフィルタリングされ、散乱X線
成分が算出される。
アが検出され、フィルタ演算回路6により素抜はエリア
以外のエリアの原画像は前記フィルタ係数決定手段4で
決定したフィルタ係数でフィルタリングされ、散乱X線
成分が算出される。
すなわちフィルタ演算回路Bにより(1)式に示す如く
、原画像T (x、y)のうち被写体が存在するエリア
はフィルタ係数Fl (x、y)が乗算され、原画像
T (x、y)のうち素抜は部はフィルタ係数F2
(x、y)が乗算され両者が合計され、散乱X線成分S
(x、y)が算出される。さらに減算手段7により原
画像T(x、y)から前記散乱X線成分S (x、y)
が減算され、直接X成分のみの画像P (x、y)が得
られる。したがって、原画像に素抜は部が存在する場合
であっても、素抜は部が検出され、かつ被写体の存在す
るエリアはフィルタ係数Fl (x、y)で、原画像
の素抜は部はフィルタ係数F2 (x、y)で、それ
ぞれに対応した別々のフィルタ係数でフィルタリングさ
れるので、素抜は部のある原画像から散乱X線成分が適
確に除去され、アーチファクトを発生することなく、良
好な直接X線成分のみの画像を得ることができ、しかも
散乱X線の除去処理により被曝線量を減少することがで
きる。
、原画像T (x、y)のうち被写体が存在するエリア
はフィルタ係数Fl (x、y)が乗算され、原画像
T (x、y)のうち素抜は部はフィルタ係数F2
(x、y)が乗算され両者が合計され、散乱X線成分S
(x、y)が算出される。さらに減算手段7により原
画像T(x、y)から前記散乱X線成分S (x、y)
が減算され、直接X成分のみの画像P (x、y)が得
られる。したがって、原画像に素抜は部が存在する場合
であっても、素抜は部が検出され、かつ被写体の存在す
るエリアはフィルタ係数Fl (x、y)で、原画像
の素抜は部はフィルタ係数F2 (x、y)で、それ
ぞれに対応した別々のフィルタ係数でフィルタリングさ
れるので、素抜は部のある原画像から散乱X線成分が適
確に除去され、アーチファクトを発生することなく、良
好な直接X線成分のみの画像を得ることができ、しかも
散乱X線の除去処理により被曝線量を減少することがで
きる。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
[発明の効果]
本発明によれば、散乱X線の応答関数を格納した第2の
記憶部の出力と、被写体の撮影条件とが決定手段に入力
され、これらに基いてフィルタ係数が決定され、検出手
段により原画像から素抜はエリアが検出され、第1の演
算手段により素抜はエリア以外のエリアの原画像が前記
決定手段で決定したフィルタ係数でフィルタリングされ
る。その結果、原画像に素抜は部が存在する場合であっ
ても、素抜は部が検出され、かつこれに対応するフィル
タ係数すなわち、被写体の存在するエリアは被写体によ
る応答関数から求めたフィルタ係数で、原画像の素抜は
部は被写体がないときの応答関数から求めたフィルタ係
数で、フィルタリングされるので、素抜は部のある原画
像から散乱X線成分が適確に除去され、アーチファクト
を発生することなく、良好な直接X線成分のみの画像を
得ることができ、しかも散乱X線の除去処理により被曝
線量を減少し得、実用上多大なる効果を奏するX線画像
処理装置を提供できる。
記憶部の出力と、被写体の撮影条件とが決定手段に入力
され、これらに基いてフィルタ係数が決定され、検出手
段により原画像から素抜はエリアが検出され、第1の演
算手段により素抜はエリア以外のエリアの原画像が前記
決定手段で決定したフィルタ係数でフィルタリングされ
る。その結果、原画像に素抜は部が存在する場合であっ
ても、素抜は部が検出され、かつこれに対応するフィル
タ係数すなわち、被写体の存在するエリアは被写体によ
る応答関数から求めたフィルタ係数で、原画像の素抜は
部は被写体がないときの応答関数から求めたフィルタ係
数で、フィルタリングされるので、素抜は部のある原画
像から散乱X線成分が適確に除去され、アーチファクト
を発生することなく、良好な直接X線成分のみの画像を
得ることができ、しかも散乱X線の除去処理により被曝
線量を減少し得、実用上多大なる効果を奏するX線画像
処理装置を提供できる。
第1図は本発明に係るX線画像処理装置の一実施例を示
す図、第2図は素抜は部を検出するために使用する画像
データのヒストグラムを示す図である。 ■・・・二次元メモリ、2・・・散乱線応答関数格納メ
モリ、3・・・撮影条件情報、4・・・フィルタ係数決
定手段、5・・・素抜は部検出手段、6・・・フィルタ
演算回路、7・・・減算手段。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
す図、第2図は素抜は部を検出するために使用する画像
データのヒストグラムを示す図である。 ■・・・二次元メモリ、2・・・散乱線応答関数格納メ
モリ、3・・・撮影条件情報、4・・・フィルタ係数決
定手段、5・・・素抜は部検出手段、6・・・フィルタ
演算回路、7・・・減算手段。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- 直接X線成分および散乱X線成分を含む原画像を記憶
する第1の記憶部と、X線検出器面上での散乱X線の応
答関数を記憶する第2の記憶部と、被写体の撮影条件お
よび前記第2の記憶部の出力に基いてフィルタ係数を決
定する決定手段と、前記第1の記憶部の原画像から素抜
けエリアを検出する検出手段と、この素抜けエリア以外
のエリアの原画像に前記決定手段で決定したフィルタ係
数を用いてフィルタリングし、散乱X線成分を算出する
第1の演算手段と、前記原画像から前記散乱X線成分を
減算する第2の演算手段と、を具備したことを特徴とす
るX線画像処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8475488A JPH0740293B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | X線画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8475488A JPH0740293B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | X線画像処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01258074A true JPH01258074A (ja) | 1989-10-16 |
JPH0740293B2 JPH0740293B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=13839478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8475488A Expired - Lifetime JPH0740293B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | X線画像処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0740293B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0411473A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 骨塩定量分析方法および装置 |
EP1081947A2 (en) * | 1999-08-31 | 2001-03-07 | General Electric Company | Correction methods and apparatus for digital x-ray imaging |
JP2017012444A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理プログラム |
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1988
- 1988-04-06 JP JP8475488A patent/JPH0740293B2/ja not_active Expired - Lifetime
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