JPH01141357A - Sample partial injection method for automatic analyzing device - Google Patents

Sample partial injection method for automatic analyzing device

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JPH01141357A
JPH01141357A JP29762887A JP29762887A JPH01141357A JP H01141357 A JPH01141357 A JP H01141357A JP 29762887 A JP29762887 A JP 29762887A JP 29762887 A JP29762887 A JP 29762887A JP H01141357 A JPH01141357 A JP H01141357A
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sample
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dispensing
cleaning
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裕康 内田
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佐藤 猛英
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Abstract

PURPOSE:To raise the partial injection accuracy at the time of partial injection of a small quantity of samples by controlling the cleaning operation of a sample nozzle after having sucked the sample in accordance with the sample partial injection quantity. CONSTITUTION:First of all, a sample nozzle 1 attached to a sampling arm 4 is moved onto a sample container 10, and thereafter, allowed to descend, and by a microsyringe 5, the prescribed quantity of sample is sucked into the sample nozzle 1. Subsequently, the sample nozzle 1 is moved onto a reaction cell 12a, and the sample is discharged into the reaction cell 12a. Thereafter, the sample nozzle is moved to a cleaning tank 14, and the inside and the outside of the sample nozzle 1 are cleaned by discharging the cleaning water from the sample nozzle 1 and a cleaning nozzle 15. In such a sample partial injection, when the partial injection quantity is small, the time for cleaning the outside surface of the sample nozzle 1 in the cleaning tank 14 between the sample suction and the sample discharge is secured by shortening the time required for sucking and discharging the sample. In such a way, the partial injection accuracy is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自動分析装置のサンプル分注方法に係り、特に
血清等の極く微量の試料を正確に分注するのに好適なサ
ンプル分注方法に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a sample dispensing method for an automatic analyzer, and particularly to a sample dispensing method suitable for accurately dispensing extremely small amounts of samples such as serum. It is about the method.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の自動分析装置におけるサンプル分注装置は、特開
昭62−137565号公報に記載しであるように、サ
ンプルノズル、液面センサー、サンプルノズルに接続さ
れたマイクロシリンジ、サンプルノズルを駆動するサン
プリング機構、サンプルノズルの洗浄槽等から構成され
、サンプル分注動作は次のように行われる。サンプルノ
ズルをサンプル容器内のサンプル中へ移動し、マイクロ
シリンジによりサンプルノズル内に所定量のサンプルを
吸引し、その後、サンプリング機構でサンプルノズルを
反応容器上に移動し、マイクロシリンジの吐出動作で反
応容器内にサンプルノズル内の試料を分注する。しかる
後、サンプルノズルは洗浄槽に移され、ノズルの内、外
周を洗浄して次の試料の吸引を待つ。
A sample dispensing device in a conventional automatic analyzer includes a sample nozzle, a liquid level sensor, a microsyringe connected to the sample nozzle, and a sampling device that drives the sample nozzle, as described in Japanese Patent Laid-Open No. 137565/1983. It consists of a mechanism, a cleaning tank for the sample nozzle, etc., and the sample dispensing operation is performed as follows. Move the sample nozzle into the sample in the sample container, aspirate a predetermined amount of sample into the sample nozzle using the microsyringe, then move the sample nozzle onto the reaction container using the sampling mechanism, and react with the discharge operation of the microsyringe. Dispense the sample in the sample nozzle into the container. Thereafter, the sample nozzle is transferred to a cleaning tank, the inside and outside of the nozzle are cleaned, and the next sample is sucked.

この一連の動作は、装置によって固定される1マシンサ
イクル内に、例えば、シングルラインで処理能力が60
0T/hの装置では、マシンサイクルは6秒となり、こ
の時間内に完了するように制御される。
This series of operations can be performed within one machine cycle fixed by the device, for example, with a processing capacity of 60 on a single line.
In a 0T/h device, the machine cycle is 6 seconds, and the machine cycle is controlled to be completed within this time.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の自動分析装置では、装置の処理能力、サイクルタ
イム等に関係なく、1分析光たりのサンプル量を、例え
ば、3〜2oμQとして分析法が設計され、それに基づ
いて分析している。このサンプル量の下限値の3μQは
、例えば、サイクルタイムが6秒の場合での装置がサン
プリング精度を確保し得る限界値として決定されたもの
で、これに対し上記した従来の分析法では測定不可能で
あった。
In conventional automatic analyzers, an analysis method is designed with the amount of sample per one analysis light set to, for example, 3 to 2 μQ, regardless of the processing capacity, cycle time, etc. of the device, and analysis is performed based on this. The lower limit of the sample amount, 3 μQ, was determined as the limit value at which the device can ensure sampling accuracy when the cycle time is, for example, 6 seconds, whereas the conventional analysis method described above cannot measure it. It was possible.

1、検体濃度の高い免疫項目や尿をサンプルとした分析
1. Analysis using immunological items or urine samples with high sample concentrations.

2、比色測定項目であっても上記した分析条件で分析し
た結果が、装置の測定範囲を越えた値を示し、再度同一
試料を装置の測定範囲内で分析。
2. Even if it is a colorimetric measurement item, the result of analysis under the above analysis conditions shows a value that exceeds the measurement range of the device, and the same sample is analyzed again within the measurement range of the device.

等、装置の応用範囲の拡大、高機能化から希釈によりサ
ンプルを低濃度化したりあるいはサンプル量を減少する
等の操作で装置の測定範囲内で測定してその結果を濃度
換算することが望まれている。
For example, it is desirable to expand the scope of application of the device and improve its functionality, making it possible to lower the concentration of the sample by diluting it or reducing the amount of sample to perform measurements within the measurement range of the device and convert the results into concentration. ing.

上記した2案のうち、前者は装置内にサンプルの希釈装
置を必要とし、装置が複雑になる。また、後者は従来の
サンプル量の下限値よりさらに1/3〜115の量のサ
ンプリングを正確に精度よく行うための技術的解決を必
要とする。
Of the above two proposals, the former requires a sample dilution device within the apparatus, making the apparatus complicated. Furthermore, the latter requires a technical solution to accurately and accurately sample an amount that is 1/3 to 115 times smaller than the lower limit of the conventional sample amount.

第5図に従来装置でのサンプル分注の正確度。Figure 5 shows the accuracy of sample dispensing using the conventional device.

精度を示す。同図で明らなかように、サンプル分注量が
ある下限値以下では急激にその正確度、精度とも著しく
損なわれる。したがって、従来装置では、この両者が安
定している下限をもってサンプル分注限界としていた。
Show accuracy. As is not clear from the figure, when the amount of sample dispensed is below a certain lower limit value, both accuracy and precision are rapidly and significantly impaired. Therefore, in the conventional apparatus, the lower limit at which both of these are stable is defined as the sample dispensing limit.

本発明の目的は、正確度、精度の不安定な極微量のサン
プル分注を正確、かつ、精度よく行うことによってサイ
クルタイムが6秒といった高処理能力の装置においても
サンプル希釈装置を付加することなく高精度のサンプル
を装置の測定範囲で分析可能とすることができる自動分
析装置のサンプル分注方法を提供することにある。
The purpose of the present invention is to add a sample dilution device to a high-throughput device with a cycle time of 6 seconds by accurately and precisely dispensing extremely small amounts of samples with unstable accuracy and precision. An object of the present invention is to provide a sample dispensing method for an automatic analyzer, which allows a highly accurate sample to be analyzed within the measurement range of the device.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記目的は、サンプルノズルと、このサンプルノズルを
保持し、このサンプルノズルのサンプル容器2反応容器
、ノズル洗浄槽等の移動2位置決めを行うサンプルノズ
ル移動機構と、上記サンプルノズルへの洗浄水の送水ポ
ンプに接続されたマイクロシリンジとを備え上記サンプ
ルノズル洗浄槽等から構成されたサンプル分注装置を用
いてサンプル分注量の多少によって装置が動作中、非動
作中を問わず、その動作制御を選択し得るようにして達
成するようにした。
The above purpose is to provide a sample nozzle, a sample nozzle moving mechanism that holds this sample nozzle, moves and positions the sample container, reaction vessel, nozzle cleaning tank, etc. of this sample nozzle, and supplies cleaning water to the sample nozzle. Using a sample dispensing device that is equipped with a microsyringe connected to a pump and configured with the sample nozzle cleaning tank, etc., the operation of the device can be controlled depending on the amount of sample dispensed, regardless of whether it is in operation or not. I made it possible to achieve it by making it possible to choose.

極微量のサンプル分注の正確さ、精度に影響する要因と
しては。
What are the factors that affect the accuracy and precision of dispensing extremely small amounts of samples?

イ、サンプル吸引時にサンプルノズル外周に付着したサ
ンプルが反応容器にノズルから所定量のサンプルの分注
が行われるときに引張られて一緒に分注され、その影響
はサンプル分注量が少なくなるほど大きく、正確さを損
うとともに、その量は不安定なために精度も得られない
B. When a predetermined amount of sample is dispensed from the nozzle into the reaction vessel, the sample that adheres to the outer periphery of the sample nozzle during sample suction is pulled and dispensed together, and this effect becomes larger as the amount of sample dispensed decreases. , the accuracy is lost, and since the quantity is unstable, precision cannot be obtained.

口、サンプルノズルの移動速度が速いとき及び加減速時
のノズルとマイクロシリンジを接続している配管内の液
の遠心力、慣性力によるノズル内のサンプルの飛散。
When the moving speed of the sample nozzle is high or when the sample nozzle is accelerated or decelerated, the sample inside the nozzle scatters due to the centrifugal force and inertial force of the liquid in the piping connecting the nozzle and microsyringe.

等があり、なかでも(イ)のノズル外周に付着したサン
プルの影響が大きい。したがって、サンプル分注精度を
確保するには、まず、ノズル外周へのサンプルの付着を
なくすかもしくは付着したサンプルをノズル内のサンプ
ルを反応容器に分注する前に何等かの方法で取り除けば
よいが、ノズル先端のサンプルの付着は、サンプルとノ
ズル間のぬれ性で避は難く、一方、サイクルタイム6秒
では、サンプルの吸引、吐出、ノズルの洗浄及びサンプ
ル容器9反応容器、ノズル洗浄槽間のノズルの移動を行
うだけの時間しかなく、したがって、ノズルがサンプル
容器から反応容器へ移動する途中でノズル先端部に付着
した余分なサンプルを払い落とすことが困難であり、そ
の時間を倉出するため、例えば、ノズルの移動速度を高
めたのでは、サンプルの飛び敗りの影響が出る。したが
って、ノズルの移動速度は、サンプル分注精度への影響
のない状態に維持したままでノズル先端に付着したサン
プルを払い落とす時間を設けることは、現状のサンプル
分注方法ではその精度が得られない。
Among these, the influence of the sample attached to the outer periphery of the nozzle (a) is particularly large. Therefore, in order to ensure sample dispensing accuracy, it is first necessary to eliminate sample adhesion to the nozzle periphery or remove the adhering sample by some method before dispensing the sample inside the nozzle into the reaction vessel. However, it is difficult to avoid sample adhesion at the nozzle tip due to the wettability between the sample and the nozzle.On the other hand, at a cycle time of 6 seconds, sample adhesion, sample suction, discharge, nozzle cleaning, and separation between the sample container, reaction container, and nozzle cleaning tank are difficult to avoid due to the wettability between the sample and the nozzle. Therefore, it is difficult to shake off excess sample that has adhered to the nozzle tip while the nozzle is moving from the sample container to the reaction container, and it is difficult to remove the excess sample that adheres to the nozzle tip while the nozzle is moving from the sample container to the reaction container. Therefore, for example, if the moving speed of the nozzle is increased, the sample may be thrown away. Therefore, the current sample dispensing method cannot achieve this accuracy by maintaining the nozzle moving speed at a state that does not affect the sample dispensing accuracy and providing time to shake off the sample adhering to the nozzle tip. do not have.

例えば、3μQ未満のサンプル分注に対してのみサンプ
ル分注に係るサンプル分注用マイクロシリンジ、サンプ
リング機構、サンプルノズル洗浄槽等を除いた部分の動
作は、本来のタイムチャート動作に保持したままで、上
記した各ユニットの制御タイムチャートを、例えば、下
記の方法で変更して達せられる。
For example, only for sample dispensing of less than 3 μQ, the operation of the parts other than the sample dispensing microsyringe, sampling mechanism, sample nozzle cleaning tank, etc., can be maintained at the original time chart operation. , can be achieved by changing the control time chart of each unit described above, for example, in the following manner.

a、タイムチャートは、通常の場合、装置の最大能力で
設計をされており、したがって、サンプル分注に対する
タイムチャートも最大分注能力。
a. The time chart is usually designed at the maximum capacity of the device, and therefore the time chart for sample dispensing is also designed at the maximum dispensing capacity.

上記した例では20μQを対象に作られている。The above example is made for 20μQ.

したがって、サンプル分注量を、例えば、3μQ未満に
限定すれば、その吸引、吐出時間を短縮することができ
、それによってサンプルノズル先端の洗浄時間を確保で
きる。
Therefore, by limiting the amount of sample dispensed to, for example, less than 3 μQ, the suction and ejection time can be shortened, thereby ensuring the time for cleaning the tip of the sample nozzle.

b、(a)の場合では十分なノズル先端の洗浄時間が確
保されない場合は、3μQ未満の分注に限ってのみ2サ
イクルを使用する。
b. In the case of (a), if sufficient cleaning time for the nozzle tip is not secured, two cycles are used only for dispensing less than 3 μQ.

〔作用〕[Effect]

上記したように、通常の分析法の範囲を越えた極微量の
サンプル分注に対してのみその条件内でサンプルの吸引
、吐出のための余分の時間を短縮する。あるいはサンプ
ル分注に2サイクルを使用することにより、ノズルの移
動速度、範囲、サンプルの吸引、吐出速度等の条件を変
更することなくノズル外周に付着したサンプルをその吐
出前にノズル洗浄槽でノズル外周洗いで払い落とす時間
を確保でき、サンプル分注精度の確保を可能とすること
ができる。
As described above, the extra time for sample suction and ejection is shortened within the conditions only when dispensing a very small amount of sample that exceeds the range of normal analysis methods. Alternatively, by using two cycles for sample dispensing, the sample adhering to the nozzle periphery can be removed from the nozzle in a nozzle cleaning tank before being discharged without changing conditions such as nozzle movement speed, range, sample suction, and discharge speed. By washing the outer periphery, it is possible to secure time for brushing off, and it is possible to ensure sample dispensing accuracy.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の方法の一実施例を第1図〜第4図を用いて
詳細に説明する。
An embodiment of the method of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 1 to 4.

第1図は本発明の自動分析装置のサンプル分注方法の一
実施例を説明するための構成図である。
FIG. 1 is a block diagram for explaining one embodiment of the sample dispensing method of the automatic analyzer of the present invention.

第1図において、1はステンレス鋼よりなる金属パイプ
の先端を絞ったサンプルノズルで、液面センサ2が絶縁
されて被覆チューブ3により一体化されている。4はサ
ンプルノズル1が取り付けられたサンプリングアームで
、図示は省略したが、旋回・上下運動自在に構成されて
いる。5はマイクロシリンジで、シール部材5aでシー
ルされたプランジャ5bが上下可能に構成され、その一
端は可撓材よりなる配管5Cでサンプルノズル1に、他
端はサンプルノズル1の内周洗浄用の第1の電磁弁6.
送水ポンプ7を介して洗浄水8aが入っている給水タン
ク8に接続されている。9はその外周にサンプルが注入
されているサンプル容器10を搭載したサンプルディス
クで、上記のサンプルノズル1の旋回上の所定の位置に
個々のサンプル容器10を搬送2位置決め可能に支持機
構(図示は省略)により支持されている。11は反応デ
ィスクで、これもその外周に複数個の直方体状の長穴状
の反応セル12aを一体に成形した反応容器12が複数
個ネジ13により固定されている。この反応ディスク1
1も、図示は省略したが、回転支持機構によりサンプル
ノズル1の旋回軌跡上の所定の位置に各反応セル12a
を順次搬送・位置決め可能に支持されている。14はサ
ンプルノズル1の洗浄槽で、円筒状を呈し、そのうち、
サンプルノズル1の旋回軌跡にあたる部分が、その運動
の妨げとならないように7字状あるいはU字状に切り開
かれており、サンプルノズル1の旋回の半径方向に斜め
上方から対向してサンプルノズル1の外周の洗浄用のノ
ズル15が固定しである。洗浄ノズル15は、第2の電
磁弁16を介して先の送水ポンプ7に配管されている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a sample nozzle made of a metal pipe made of stainless steel with a narrowed end, and a liquid level sensor 2 is insulated and integrated with a covering tube 3. Reference numeral 4 denotes a sampling arm to which the sample nozzle 1 is attached, and although not shown, it is configured to be able to freely rotate and move up and down. Reference numeral 5 designates a microsyringe, in which a plunger 5b sealed with a sealing member 5a is configured to be able to move up and down, one end of which is connected to the sample nozzle 1 through a flexible pipe 5C, and the other end is connected to the sample nozzle 1 for cleaning the inner periphery of the sample nozzle 1. First solenoid valve6.
It is connected via a water pump 7 to a water tank 8 containing cleaning water 8a. Reference numeral 9 denotes a sample disk on which a sample container 10 into which a sample is injected is mounted, and a support mechanism (not shown) is used to transport and position each sample container 10 at a predetermined position on the rotation of the sample nozzle 1. (omitted). Reference numeral 11 denotes a reaction disk, on the outer periphery of which a plurality of reaction vessels 12 each having a plurality of rectangular parallelepiped long-hole reaction cells 12a integrally molded therein are fixed with screws 13. This reaction disk 1
1, each reaction cell 12a is also placed at a predetermined position on the rotation trajectory of the sample nozzle 1 by a rotation support mechanism (not shown).
are supported so that they can be sequentially transported and positioned. 14 is a cleaning tank for the sample nozzle 1, which has a cylindrical shape;
The part corresponding to the turning trajectory of the sample nozzle 1 is cut out in a 7-shape or a U-shape so as not to impede its movement, and the part corresponding to the turning trajectory of the sample nozzle 1 is cut out in a 7-shape or a U-shape so as not to interfere with its movement. A nozzle 15 for cleaning the outer periphery is fixed. The cleaning nozzle 15 is connected to the water pump 7 via a second electromagnetic valve 16 .

17は液面センサ2を正極とし、サンプルノズル1を負
極としてサンプル容器10内の試料の液位を検知するた
めの検出回路、18は上記したこれ等の構成要素の動作
を制御するマイクロコンピュータシステムである。
17 is a detection circuit for detecting the liquid level of the sample in the sample container 10 with the liquid level sensor 2 as the positive electrode and the sample nozzle 1 as the negative electrode, and 18 is a microcomputer system that controls the operation of these components described above. It is.

上記の如く構成されたサンプル分注装置の動作を第2図
に示したタイムチャートにより説明する。
The operation of the sample dispensing device configured as described above will be explained with reference to the time chart shown in FIG.

第2図は反応ディスク11の動作を基準に示したもので
、反応ディスク11はサイクル毎に1回の回転動作で1
回転+1反応セルまたは半回転+1反応セルの如き反応
セル12aの歩進送りを行い、その停止時間内に洗浄さ
れて再匝用可能となった反応セル12aに所定量のサン
プルが上記構成のサンプル分注装置で分注され、次のサ
イクルでは、サンプルの上に図示はしないが試薬分注機
構で所定量の試薬が分注されるとともに、新しい反応セ
ルにはサンプルが分注される。試薬を加えられたサンプ
ルは、濃度に応じた呈色反応を示し、その吸光度が反応
ディスク11の回転毎に測定される。
FIG. 2 shows the operation of the reaction disk 11 as a reference, and the reaction disk 11 rotates once per cycle.
The reaction cell 12a, such as a +1 rotation reaction cell or a half rotation +1 reaction cell, is fed step by step, and a predetermined amount of sample is transferred to the reaction cell 12a, which has been cleaned and can be re-filled, during the stoppage time of the sample having the above configuration. The sample is dispensed by a dispensing device, and in the next cycle, a predetermined amount of reagent is dispensed onto the sample by a reagent dispensing mechanism (not shown), and the sample is dispensed into a new reaction cell. The sample to which the reagent is added exhibits a color reaction depending on the concentration, and its absorbance is measured each time the reaction disk 11 rotates.

このようにして反応ディスク11の停止毎にサンプルの
分注、試薬の分注、撹拌、必要により所定位置での第2
試薬の分注、攪拌、所定の測定が終了した反応セルの洗
浄等を繰り返して分析が続けられる。ここで、第2図の
a ”’ a ’で示した1サイクル内の各構成要素の
通常の動作を説明する。
In this way, each time the reaction disk 11 is stopped, sample dispensing, reagent dispensing, stirring, and secondary
Analysis is continued by repeating the dispensing of reagents, stirring, and washing of the reaction cell after a predetermined measurement. Here, the normal operation of each component within one cycle, indicated by a'' in FIG. 2, will be explained.

aの時点でサンプリングアーム4に取り付けられたサン
プルノズル1は、サンプル容器10の上に位置している
。そこからサンプリングアーム4は下降を始め、液面セ
ンサ2がサンプルの液面を検知し、サンプルノズル1の
先端を所定量だけサンプル中に突込んだ位置で停止する
。次いで、alに時点が進むと、マイクロシリンジ5に
よりサンプルノズル1の所定量に若干の余裕を加えたサ
ンプルが吸引される。したがって、このサンプルの吸引
時間は上記したように装置仕様での最大サンプル分注量
に合わせて設定されている。82時点では、プランジャ
5bの送り機構のバックラッシュ補正が行われ、83時
点に達すると、サンプリングアーム4が上昇を始め、そ
の上死点で停止する。以上の動作は反応ディスク11の
回転動作中に行われ、反応ディスク11の回転が停止し
た84時点では、サンプリングアーム4がサンプル容器
10上から反応セル12a上へ移動を開始する。その移
動はas時点で終了するとともに、サンプリングアーム
4は反応セル12a中へ下降を始め、その下降途中のa
s時点からマイクロシリンジ5が動作して反応セル12
a中へ所定量のサンプルを吐出しながらサンプルノズル
1の外周に付着したサンプルもともに置いてくる。この
サンプルの吐出時間も上記したサンプルの吸引時間と同
じく装置仕様の最大分注量に合わせて設定されている。
At time a, the sample nozzle 1 attached to the sampling arm 4 is located above the sample container 10. From there, the sampling arm 4 begins to descend, the liquid level sensor 2 detects the liquid level of the sample, and stops at the position where the tip of the sample nozzle 1 has plunged into the sample by a predetermined amount. Next, when time advances to al, a predetermined amount of sample from the sample nozzle 1 plus a slight margin is aspirated by the microsyringe 5. Therefore, the sample suction time is set in accordance with the maximum sample dispensing amount in the device specifications, as described above. At time 82, backlash correction of the sending mechanism of the plunger 5b is performed, and when reaching time 83, the sampling arm 4 begins to rise and stops at the top dead center. The above operations are performed while the reaction disk 11 is rotating, and at time 84 when the reaction disk 11 stops rotating, the sampling arm 4 starts moving from above the sample container 10 to above the reaction cell 12a. The movement ends at point as, and the sampling arm 4 begins to descend into the reaction cell 12a, and during its descent, a
From time s, the microsyringe 5 operates and the reaction cell 12
While discharging a predetermined amount of sample into the sample nozzle 1, the sample attached to the outer periphery of the sample nozzle 1 is also placed. The sample ejection time is also set in accordance with the maximum dispensing amount of the device specifications, similar to the sample suction time described above.

サンプルの吐出の終った後は、87時点からサンプルノ
ズル1が上昇、86時点で反応セル12a上から洗浄槽
14中へ移動を開始する。
After the sample has been discharged, the sample nozzle 1 rises from time 87, and starts moving from above the reaction cell 12a into the cleaning tank 14 at time 86.

洗浄槽14中にサンプルノズル1がくると、 89時点
でサンプルノズル1中に残っていた若干の余裕分のサン
プルが吐出されるとともに第1の電磁弁6及び第2の電
磁弁16が開となってサンプルノズル1の内、外周が次
のサンプルへの干渉がないまでに送水ポンプ7の働きに
よりサンプルノズル1からの洗浄水の吐出及び洗浄ノズ
ル15からサンプルノズル1の先端に洗浄ボを吹き付け
て洗浄される。洗浄が終了したato時点でサンプルノ
ズル1はサンプル容器10へ移動するとともに、サンプ
ルノズル1内での洗浄水とサンプルの接触によるサンプ
ルの薄まりを防止するため、若干量の空気がサンプルノ
ズル1内にマイクロシリンジ5によって吸引され、a′
のサンプルノズル1は再びサンプル容器10上に位置し
て次のサイクル動作を開始する。上記した説明は、比較
的サンプル分注量が多く、その分注精度の確保、維持が
容易な場合を示したもので、この場合でもサンプル吸引
時にサンプルノズル1の外周に付着したサンプルがその
分注精度、正確度に影響を与えなくはないが、例えば、
上記した如く、このサイクルタイムを6秒とした装置で
は、サンプルの吸引、吐出速度、また、サンプルノズル
1の移動速度及びサンプルノズル1の内、外周の洗浄時
間等はその性能、精度を維持するのに限界に近く、サン
プルの吸引から吐出の間にサンプルノズル1の先端に付
着したサンプルを取り除く時間を見出すことは不可能で
、また1分注量に対するその割合も微小のため、その影
響を無視し得、上記したサンプルノズル1の先端の付着
サンプルの除去動作も不要であった。
When the sample nozzle 1 enters the cleaning tank 14, the sample remaining in the sample nozzle 1 at time 89 is discharged, and the first solenoid valve 6 and the second solenoid valve 16 are opened. Before the inner and outer periphery of the sample nozzle 1 interferes with the next sample, the water pump 7 discharges cleaning water from the sample nozzle 1 and sprays a cleaning bottle from the cleaning nozzle 15 onto the tip of the sample nozzle 1. and then washed. At the ato point when cleaning is completed, the sample nozzle 1 moves to the sample container 10, and a small amount of air is introduced into the sample nozzle 1 to prevent the sample from diluting due to contact between the cleaning water and the sample inside the sample nozzle 1. Aspirated by the microsyringe 5, a'
The sample nozzle 1 is again positioned on the sample container 10 to start the next cycle operation. The above explanation shows a case where the amount of sample dispensed is relatively large and it is easy to ensure and maintain the dispensing accuracy. Even in this case, the amount of sample attached to the outer periphery of the sample nozzle 1 during sample suction is Note: Although it does affect precision and accuracy, for example,
As mentioned above, in a device with a cycle time of 6 seconds, the performance and accuracy of the sample suction and discharge speeds, the moving speed of the sample nozzle 1, the cleaning time of the inner and outer periphery of the sample nozzle 1, etc. are maintained. However, it is almost impossible to find the time to remove the sample adhering to the tip of sample nozzle 1 between suction and discharge of the sample, and the ratio of the sample to the dispensed amount is small, so the influence of This was negligible, and the operation to remove the sample adhered to the tip of the sample nozzle 1 described above was also unnecessary.

次に、装置の機能、性能上の要求からの上記したサンプ
ル分注量よりさらに微少の分注を正確に、精度よく行う
ためのサンプルノズル1の先端部の付着サンプルの除去
を行うための装置動作を第3図により説明する。第3図
はサンプル分注量を極少に限定することで、付着サンプ
ルの除去のための動作時間を設けたもので1例えば、そ
の限定量を3μQ未満とし、第2図の場合の最大量を2
0μQとすると、その吸引、吐出に要する時間はともに
1/3〜176に短縮可能となる。ここでは、その時間
を172に短縮したタイムチャートを示した。この場合
であっても、サンプル分注装置としての性能、精度の確
保に影響する上記したサンプルの吸引、吐出速度、サン
プルノズル1の移動速度、サンプルノズル1の内、外周
の洗浄時間等は従来と同じにしても、第3図に示したよ
うに、サンプリングアーム4がサンプル容器1oか為反
応セル12a上へ移動する間にノズル洗浄槽14上に停
止して、第2の電磁弁16を開にして送水ポンプ7によ
り2本の洗浄ノズル15によりサンプルノズル1の先端
部に向けて洗浄水を吐出し、付着サンプルの除去を行う
時間を設けることができる。
Next, in order to accurately and precisely dispense a smaller amount of sample than the above-mentioned sample dispensing amount due to the function and performance requirements of the device, we will introduce a device for removing the sample adhered to the tip of the sample nozzle 1. The operation will be explained with reference to FIG. In Figure 3, the amount of sample dispensed is limited to an extremely small amount to provide operating time for removing the adhered sample.1For example, the limited amount is set to less than 3 μQ, and the maximum amount in the case of Figure 2 is 2
When it is set to 0 μQ, the time required for suction and discharge can both be shortened to ⅓ to 176 times. Here, a time chart is shown in which the time is shortened to 172. Even in this case, the above-mentioned sample suction and discharge speeds, sample nozzle 1 movement speed, cleaning time for the inside and outer periphery of the sample nozzle 1, etc., which affect the performance and accuracy of the sample dispensing device, are conventional. However, as shown in FIG. 3, while the sampling arm 4 moves from the sample container 1o to the reaction cell 12a, it stops above the nozzle cleaning tank 14 and closes the second solenoid valve 16. When the sample nozzle 1 is opened, the water pump 7 discharges washing water from the two washing nozzles 15 toward the tip of the sample nozzle 1, allowing time to remove the adhered sample.

以上の説明で明らかなように、本発明の方法の実施例に
よれば、1つの装置、例えば、サンプル分注装置に対し
てその性能、精度を幅広い仕様範囲にわたって確保、維
持するために、そのサンプル分注量によって、分注量に
応じた複数個の動作条件を使い分けるようにしたもので
、それにより、例えば、3μQ未満のサンプル分注に対
しても、それ以上の分注量の場合と同様の正確度、精度
の確保を可能にしたもので、また、この分注量による装
置の動作制御の選択、実行はマイクロコンピュータシス
テムにより行われるため、非常に容易に行い得る。
As is clear from the above description, according to the embodiment of the method of the present invention, in order to ensure and maintain the performance and accuracy of one device, for example, a sample dispensing device, over a wide range of specifications, Multiple operating conditions are used depending on the amount of sample dispensed, so that, for example, when dispensing a sample of less than 3 μQ, it can be used for dispensing a sample of less than 3 μQ. It is possible to ensure similar accuracy and precision, and since the selection and execution of the operation control of the apparatus based on the dispensed amount is performed by a microcomputer system, it can be performed very easily.

第4図は上記した動作制御の変更を3μQ未満の分注に
限ってのみ2サイクル使用して行った例のタイムチャー
トで、この場合は、サンプル分注動作に係る部分のみを
2サイクル分の時間を使用してlサイクル動作を行わせ
るもので、反応ディスク11等は従来通りでサイクルタ
イム変更は不要である。1回のサンプル分注に対して2
サイクルを使用することで、装置の処理能力はその限定
サイクルの場合のみ低下するが、サンプル分注装置に対
する制御が容易となり、その精度確保も容易となる。
Figure 4 is a time chart of an example in which the above-mentioned change in operation control is performed using two cycles only for dispensing less than 3 μQ. The system uses time to perform one cycle operation, and the reaction disk 11 and the like are the same as before, and there is no need to change the cycle time. 2 for one sample dispensing
By using cycles, the throughput of the device is reduced only for the limited cycles, but it becomes easier to control the sample dispensing device and ensure its accuracy.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した本発明によれば、自動分析装置としての処
理能力を低下することなしに、1〜20μΩの広t!囲
なサンプル分注に対して安定した正確度、精度の確保、
維持が可能となり、また、検体希釈機能を設けることな
く、高濃度な検体の分析を可能とし、自動分析装置に利
用してその性能向上、経済的な効果がある。
According to the present invention described above, a wide t! Ensuring stable accuracy and precision for large sample dispensing,
Furthermore, it is possible to analyze high-concentration samples without providing a sample dilution function, and it can be used in automatic analyzers to improve their performance and have economical effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の自動分析装置のサンプル分注方法の一
実施例を説明するための構成図、第2図〜第4図は第1
図の構成要素の動作制御を示すタイムチャート、第5図
は従来装置のサンプル分注の特性図である。 1・・・サンプルノズル、2・・・液面センサ、4・・
・サンプリングアーム、5・・・マイクロシリンジ、6
゜16・・・電磁弁、7・・・送水ポンプ、8・・・給
水タンク、9・・・サンプルディスク、10・・・サン
プル容器、11・・・反応ディスク、12・・・反応容
器、12a・・・反応センサ、14・・・ノズル洗浄槽
、15・・・洗浄ノズル、18・・・マイクロコンピュ
ータシステム。 代理人 弁理士 小川筋力(、。 第 5 目 サンフ”ル方逢量 手続補正書く方式) 昭和 fl−月 11
FIG. 1 is a block diagram for explaining one embodiment of the sample dispensing method of the automatic analyzer of the present invention, and FIGS.
FIG. 5 is a time chart showing the operation control of the components shown in the figure, and FIG. 5 is a characteristic diagram of sample dispensing of the conventional apparatus. 1...Sample nozzle, 2...Liquid level sensor, 4...
・Sampling arm, 5...Microsyringe, 6
゜16...Solenoid valve, 7...Water pump, 8...Water tank, 9...Sample disk, 10...Sample container, 11...Reaction disk, 12...Reaction container, 12a... Reaction sensor, 14... Nozzle cleaning tank, 15... Cleaning nozzle, 18... Microcomputer system. Agent: Patent attorney Shinobu Ogawa (,. 5th method of writing amendments to patent attorney procedures) Showa FL-Mon. 11

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、サンプルノズルと、該サンプルノズルを保持し、該
サンプルノズルのサンプル容器、反応容器、ノズル洗浄
槽等への移動、位置決めを行うサンプルノズル移動機構
と、前記サンプリングノズルへの洗浄水の送水ポンプに
接続されたマイクロシリンジとを備え、前記ノズル洗浄
槽等から構成されたサンプル分注装置を用いてサンプル
分注量の多少によつて装置が動作中、非動作中を問わず
その動作制御を選択し得るようにしたことを特徴とする
自動分析装置のサンプル分注方法。
1. A sample nozzle, a sample nozzle moving mechanism that holds the sample nozzle, moves and positions the sample nozzle to a sample container, reaction container, nozzle cleaning tank, etc., and a pump that supplies cleaning water to the sampling nozzle. The sample dispensing device is equipped with a microsyringe connected to the nozzle cleaning tank, etc., and the operation of the device is controlled whether the device is in operation or not, depending on the amount of sample dispensed. A sample dispensing method for an automatic analyzer, characterized in that the sample dispensing method is selectable.
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