JP7416411B2 - Estimation device and estimation method - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 239000002910 solid waste Substances 0.000 claims description 423
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 184
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 156
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 85
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 4
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 37
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 23
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 23
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 23
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 14
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 14
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 13
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 12
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 12
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 11
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 11
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 10
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 9
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 7
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 7
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 7
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 5
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 3
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001328 terahertz time-domain spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N acrylonitrile butadiene styrene Chemical compound C=CC=C.C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004676 acrylonitrile butadiene styrene Substances 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 2,2,4,4,6,6-hexaphenoxy-1,3,5-triaza-2$l^{5},4$l^{5},6$l^{5}-triphosphacyclohexa-1,3,5-triene Chemical compound N=1P(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP=1(OC=1C=CC=CC=1)OC1=CC=CC=C1 RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000000572 ellipsometry Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
Images
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Processing Of Solid Wastes (AREA)
Description
本発明は、推定装置、及び、推定方法に関する。 The present invention relates to an estimation device and an estimation method.
固形廃棄物(例えば、廃棄プラスチック等)は、固形廃棄物を構成する材料に基づいて選別され、材料毎に再利用される。従って、例えば、固形廃棄物から材料を生成することにより固形廃棄物が再利用される場合、固形廃棄物の選別が高い精度にて行われれば、生成される材料の純度を高めることができる。 Solid waste (eg, waste plastic, etc.) is sorted based on the materials that make up the solid waste, and each material is reused. Thus, for example, when solid waste is recycled by producing materials from it, the purity of the produced material can be increased if the solid waste is sorted with high precision.
このため、固形廃棄物を構成する材料を推定する推定装置が知られている。例えば、特許文献1に記載の推定装置は、中赤外線を固形廃棄物へ入射させ、固形廃棄物にて反射されることにより固形廃棄物から出射された中赤外線を検出し、検出された中赤外線の強度に基づいて材料を推定する。
For this reason, estimation devices for estimating the materials constituting solid waste are known. For example, the estimation device described in
ところで、固形廃棄物は、内部に金属を含むことがある。例えば、包装袋等の廃棄プラスチックは、内側の表面にアルミニウム等の金属からなる膜を有することがある。また、例えば、リチウムイオン電池が容器の内部に収容されていることがある。リチウムイオン電池は、発火することがある。従って、火災の発生を回避するために、固形廃棄物がリチウムイオン電池を含むか否かを高い精度にて推定できることが望ましい。 By the way, solid waste may contain metal inside. For example, waste plastics such as packaging bags may have a film made of metal such as aluminum on the inner surface. Further, for example, a lithium ion battery may be housed inside the container. Lithium-ion batteries can catch fire. Therefore, in order to avoid the occurrence of a fire, it is desirable to be able to estimate with high accuracy whether solid waste contains lithium ion batteries.
上記推定装置においては、固形廃棄物にて反射される中赤外線の強度に基づいて材料を推定する。しかしながら、中赤外線は、固形廃棄物を透過しにくい。従って、上記推定装置において、固形廃棄物の内部を構成する材料を推定することは困難である。換言すると、上記推定装置においては、固形廃棄物を構成する材料を高い精度にて推定できない、という課題があった。 In the above estimation device, the material is estimated based on the intensity of mid-infrared rays reflected by solid waste. However, mid-infrared rays have difficulty penetrating solid waste. Therefore, in the estimation device described above, it is difficult to estimate the materials constituting the inside of solid waste. In other words, the above estimation device has a problem in that it is not possible to estimate with high accuracy the materials that constitute solid waste.
本発明の目的の一つは、固形廃棄物を構成する材料を高い精度にて推定することである。 One of the objects of the present invention is to estimate with high accuracy the materials that constitute solid waste.
一つの側面では、推定装置は、固形廃棄物を構成する材料を推定する。推定装置は、
10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を生成する電磁波生成部と、生成された電磁波を固形廃棄物へ入射させる入射部と、固形廃棄物から出射された電磁波を検出する検出部と、検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物を構成する材料を推定する推定部と、を備える。
In one aspect, the estimating device estimates the materials that make up the solid waste. The estimation device is
An electromagnetic wave generation section that generates electromagnetic waves having a frequency of 10 GHz to 10 THz, an input section that makes the generated electromagnetic waves enter the solid waste, a detection section that detects the electromagnetic waves emitted from the solid waste, and an electromagnetic wave that is detected. an estimation unit that estimates materials constituting the solid waste based on the strength of the solid waste.
他の一つの側面では、推定方法は、固形廃棄物を構成する材料を推定する。推定方法は、10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を生成し、生成された電磁波を固形廃棄物へ入射させ、固形廃棄物から出射された電磁波を検出し、検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物を構成する材料を推定する、ことを含む。 In another aspect, the estimation method estimates the materials that make up the solid waste. The estimation method involves generating electromagnetic waves with a frequency of 10 GHz to 10 THz, injecting the generated electromagnetic waves into solid waste, detecting the electromagnetic waves emitted from the solid waste, and based on the intensity of the detected electromagnetic waves, including estimating the materials that make up solid waste.
固形廃棄物を構成する材料を高い精度にて推定できる。 The materials that make up solid waste can be estimated with high accuracy.
以下、本発明の、推定装置、及び、推定方法に関する各実施形態について図1乃至図11を参照しながら説明する。 EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, each embodiment regarding the estimation apparatus and estimation method of this invention is described with reference to FIG. 1 thru|or FIG. 11.
<第1実施形態>
(概要)
第1実施形態の推定装置は、固形廃棄物を構成する材料を推定する。推定装置は、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を生成する電磁波生成部と、生成された電磁波を固形廃棄物へ入射させる入射部と、固形廃棄物から出射された電磁波を検出する検出部と、検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物を構成する材料を推定する推定部と、を備える。
<First embodiment>
(overview)
The estimation device of the first embodiment estimates materials that constitute solid waste. The estimation device includes an electromagnetic wave generation section that generates electromagnetic waves having a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz], an input section that makes the generated electromagnetic waves enter the solid waste, and an electromagnetic wave emitted from the solid waste. The present invention includes a detection unit that performs detection, and an estimation unit that estimates materials constituting solid waste based on the intensity of the detected electromagnetic waves.
ところで、固形廃棄物を構成する材料と、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波の、固形廃棄物における伝搬特性と、は強い相関を有する。本例では、伝搬特性は、電磁波を透過する性質と、電磁波を反射する性質と、電磁波を吸収する性質と、のうちの少なくとも1つを含む。一方、上記推定装置によれば、固形廃棄物から出射された電磁波は、当該電磁波の固形廃棄物における伝搬特性を高い精度にて反映できる。従って、固形廃棄物から出射された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物を構成する材料を高い精度にて推定できる。 By the way, there is a strong correlation between the materials constituting solid waste and the propagation characteristics of electromagnetic waves having a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz] in solid waste. In this example, the propagation characteristics include at least one of a property of transmitting electromagnetic waves, a property of reflecting electromagnetic waves, and a property of absorbing electromagnetic waves. On the other hand, according to the estimation device, the electromagnetic waves emitted from the solid waste can reflect the propagation characteristics of the electromagnetic waves in the solid waste with high accuracy. Therefore, the materials constituting the solid waste can be estimated with high accuracy based on the intensity of the electromagnetic waves emitted from the solid waste.
また、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波は、中赤外線よりも固形廃棄物を透過しやすい。従って、上記推定装置によれば、固形廃棄物の内部を構成する材料を高い精度にて推定できる。この結果、例えば、固形廃棄物が内側の表面にアルミニウム等の金属からなる膜を有するか否か、又は、固形廃棄物がリチウムイオン電池を含むか否か等を高い精度にて推定できる。
次に、第1実施形態の推定装置について、より詳細に説明する。
Further, electromagnetic waves having a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz] more easily penetrate solid waste than mid-infrared rays. Therefore, according to the above-mentioned estimation device, it is possible to estimate the materials constituting the inside of the solid waste with high accuracy. As a result, it is possible to estimate with high accuracy, for example, whether the solid waste has a film made of metal such as aluminum on its inner surface, or whether the solid waste contains a lithium ion battery.
Next, the estimation device of the first embodiment will be described in more detail.
(構成)
図1に表されるように、推定装置1は、電磁波生成部11と、入射部12と、検出部13と、記憶部14と、推定部15と、を備える。図1は、推定装置1の構成を概念的に表すブロック図である。図1において、実線の矢印、及び、点線の矢印は、電磁波の伝搬、及び、情報の伝達をそれぞれ表す。
(composition)
As shown in FIG. 1, the
推定装置1は、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。例えば、固形廃棄物2は、プラスチックが主成分である材料からなる、容器、袋、ラップ、フィルム、家電部品、自動車部品、又は、電線被覆を含む。例えば、容器は、ボトル、チューブ、パック、カップ、トレイ、又は、ケース等である。例えば、プラスチックは、ポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、又は、ポリプロピレン等である。
固形廃棄物2は、内側の表面にアルミニウム等の金属からなる膜を有していてもよい。また、固形廃棄物2は、内部にリチウムイオン電池を含んでいてもよい。
また、固形廃棄物2は、複数の容器が圧縮されるとともに、梱包された塊(換言すると、ベール)であってもよい。この場合、容器は、ポリエチレンテレフタレートが主成分である材料からなる容器(例えば、ペットボトル)であってよい。
なお、固形廃棄物2は、紙が主成分である材料からなる容器又は袋を含んでいてもよい。
The
Moreover, the
Note that the
例えば、推定装置1は、固形廃棄物2を構成する材料が金属を含むか否かを推定する。また、例えば、推定装置1は、固形廃棄物2を構成する材料が、ポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、又は、ポリプロピレンのいずれが主成分である材料であるかを推定する。また、例えば、推定装置1は、固形廃棄物2を構成する材料が、所定の成分(例えば、臭素(Br)、アンチモン(Sb)、又は、塩素(Cl)等)を含むか否か、又は、当該材料に含まれる当該成分の量を推定する。例えば、臭素は、難燃剤等の添加材に含まれる。例えば、アンチモン、又は、塩素は、難燃剤、又は、可塑剤等の添加材に含まれる。
For example, the estimating
電磁波生成部11は、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波(換言すると、サブテラヘルツ波、又は、テラヘルツ波)を生成する。なお、本明細書において、サブテラヘルツ波、又は、テラヘルツ波は、光と表されることがある。
The electromagnetic
本例では、電磁波生成部11は、GUNNダイオード、IMPATT(Impact Avalanche and Transit Time)ダイオード、又は、共鳴トンネルダイオード(RTD:Resonant Tunneling Diode)を含む。なお、電磁波生成部11は、CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)を用いた発振器と、発振器により生成された電磁波の周波数をn(nは、1以上の実数)倍する周波数逓倍器(例えば、位相同期回路等)と、を含んでいてもよい。
本例では、電磁波生成部11は、連続波を生成する。なお、電磁波生成部11は、パルス波を生成してもよい。例えば、電磁波生成部11に含まれるダイオードは、数ピコ秒乃至数百ピコ秒の時間で高速に動作してよい。
In this example, the electromagnetic
In this example, the electromagnetic
入射部12は、電磁波生成部11により生成された電磁波を固形廃棄物2へ入射させる。例えば、入射部12は、レンズ、及び、放物面鏡のうちの少なくとも1つを含む光学系を備える。本例では、入射部12は、電磁波生成部11により生成された電磁波を、電磁波生成部11と固形廃棄物2とを通る所定の入射方向に平行な平行光に変換する。なお、入射部12は、電磁波生成部11により生成された電磁波を固形廃棄物2内の焦点位置にて集束させてもよい。
The
検出部13は、固形廃棄物2から出射された電磁波を検出する。本例では、検出部13は、ショットキーバリア(Schottky Barrier)ダイオードを備えるとともに、ショットキーバリアダイオードを用いて電磁波を検出する。例えば、検出部13に含まれるダイオードは、数ピコ秒乃至数百ピコ秒の時間で高速に動作してよい。
The
本例では、固形廃棄物2から出射された電磁波は、入射部12によって固形廃棄物2に入射させられ、且つ、固形廃棄物2にて反射された電磁波(換言すると、反射波)である。換言すると、本例では、検出部13は、固形廃棄物2にて反射されることにより固形廃棄物2から出射された電磁波の強度を検出する。
In this example, the electromagnetic wave emitted from the
記憶部14は、反射強度情報を記憶する。反射強度情報は、反射強度と、材料と、が互いに対応付けられた情報である。反射強度は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度である。
The
推定部15は、検出部13により検出された電磁波の強度と、記憶部14に記憶されている反射強度情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
なお、推定装置1は、反射波の強度に代えて、反射率を用いてもよい。反射率は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度の、固形廃棄物2に入射された電磁波の強度に対する比である。
The estimating
Note that the
(動作)
次に、推定装置1の動作について説明する。
電磁波生成部11は、電磁波を生成する。次いで、入射部12は、電磁波生成部11により生成された電磁波を固形廃棄物2に入射させる。入射部12によって固形廃棄物2に入射させられた電磁波のうちの一部は、固形廃棄物2を透過し、一方、当該電磁波のうちの他の一部は、固形廃棄物2にて反射される。
(motion)
Next, the operation of the
The electromagnetic
次いで、検出部13は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度を検出する。そして、推定部15は、検出部13により検出された電磁波の強度と、記憶部14により記憶されている反射強度情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
Next, the
以上、説明したように、第1実施形態の推定装置1において、電磁波生成部11は、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を生成する。入射部12は、電磁波生成部11により生成された電磁波を固形廃棄物2へ入射させる。検出部13は、固形廃棄物2から出射された電磁波を検出する。推定部15は、検出部13により検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
As described above, in the
ところで、固形廃棄物2を構成する材料と、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波の、固形廃棄物2における伝搬特性と、は強い相関を有する。一方、推定装置1によれば、固形廃棄物2から出射された電磁波は、当該電磁波の固形廃棄物2における伝搬特性を高い精度にて反映できる。従って、固形廃棄物2から出射された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
By the way, there is a strong correlation between the materials constituting the
また、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波は、中赤外線よりも固形廃棄物2を透過しやすい。従って、推定装置1によれば、固形廃棄物2の内部を構成する材料を高い精度にて推定できる。この結果、例えば、固形廃棄物2が内側の表面にアルミニウム等の金属からなる膜を有するか否か、又は、固形廃棄物2がリチウムイオン電池を含むか否か等を高い精度にて推定できる。
Moreover, electromagnetic waves having a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz] more easily penetrate the
更に、第1実施形態の推定装置1において、検出部13は、固形廃棄物2にて反射されることにより固形廃棄物2から出射された電磁波を検出する。
Furthermore, in the
金属は、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を反射しやすい。そこで、推定装置1は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度に基づいて固形廃棄物2を構成する材料を推定する。これによれば、固形廃棄物2を構成する材料が金属を含むか否かを高い精度にて推定できる。この結果、例えば、固形廃棄物2が内側の表面にアルミニウム等の金属からなる膜を有するか否か、又は、固形廃棄物2がリチウムイオン電池を含むか否か等を高い精度にて推定できる。
Metals tend to reflect electromagnetic waves having a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz]. Therefore, the
ところで、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度は、電磁波が伝搬する方向における固形廃棄物2の長さ(換言すると、固形廃棄物2の厚さ)に応じて変化する。これに対し、固形廃棄物2にて反射される電磁波の強度は、固形廃棄物2の厚さに応じて変化しにくい。従って、推定装置1によれば、固形廃棄物2の厚さが変化する場合であっても、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
By the way, the intensity of the electromagnetic waves that pass through the
なお、第1実施形態の変形例の推定装置1は、反射波に代えて、透過波に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。透過波は、入射部12によって固形廃棄物2に入射させられ、且つ、固形廃棄物2を透過した電磁波である。この場合、検出部13は、固形廃棄物2を透過することにより固形廃棄物2から出射された電磁波を検出する。
Note that the
10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、反射される電磁波の強度が比較的近く、且つ、透過する電磁波の強度が比較的大きく異なる、複数の材料が存在する。例えば、ポリエチレンとポリ塩化ビニルとは、10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、反射される電磁波の強度が比較的近く、且つ、透過する電磁波の強度が比較的大きく異なる。この場合、第1実施形態の変形例の推定装置1のように、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
In the frequency range of 10 [GHz] to 10 [THz], there are a plurality of materials whose reflected electromagnetic waves have relatively similar intensities and transmitted electromagnetic waves which have relatively large differences in intensities. For example, polyethylene and polyvinyl chloride have relatively similar intensities of reflected electromagnetic waves at frequencies of 10 [GHz] to 10 [THz], and relatively large differences in the intensities of transmitted electromagnetic waves. In this case, like the
図2は、プラスチックの透過率の、電磁波の周波数に対する変化を表す。曲線C1は、厚さが3[mm]であるとともに、ポリプロピレンが主成分である材料からなる平板の透過率を表す。曲線C2は、厚さが6[mm]であるとともに、ポリエチレンが主成分である材料からなる平板の透過率を表す。曲線C3は、厚さが1[mm]であるとともに、ポリ塩化ビニルが主成分である材料からなる平板の透過率を表す。曲線群C4は、厚さが0.5[mm]であるとともに、ポリエチレンテレフタレートが主成分である材料からなる平板の透過率を表す。曲線群C4に含まれる3つの曲線は、黒色、白色、及び、透明の平板の透過率をそれぞれ表す。 FIG. 2 shows the change in transmittance of plastic with respect to the frequency of electromagnetic waves. A curve C1 represents the transmittance of a flat plate having a thickness of 3 mm and made of a material whose main component is polypropylene. Curve C2 represents the transmittance of a flat plate having a thickness of 6 mm and made of a material whose main component is polyethylene. Curve C3 represents the transmittance of a flat plate having a thickness of 1 [mm] and made of a material whose main component is polyvinyl chloride. The curve group C4 represents the transmittance of a flat plate having a thickness of 0.5 [mm] and made of a material whose main component is polyethylene terephthalate. The three curves included in the curve group C4 represent the transmittance of black, white, and transparent flat plates, respectively.
例えば、図2に表されるように、0.3[THz]乃至0.6[THz]の周波数において、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、及び、ポリエチレンテレフタレートの間で透過率が比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1は、0.3[THz]乃至0.6[THz]の周波数を有する電磁波を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in FIG. 2, there is a relatively large difference in transmittance between polypropylene, polyvinyl chloride, and polyethylene terephthalate at frequencies from 0.3 [THz] to 0.6 [THz]. Therefore, for example, the
また、例えば、図2に表されるように、1.5[THz]乃至3.0[THz]の周波数において、ポリプロピレン、ポリエチレン、及び、ポリ塩化ビニルの間で透過率が比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1は、1.5[THz]乃至3.0[THz]の周波数を有する電磁波を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
Furthermore, for example, as shown in FIG. 2, the transmittance of polypropylene, polyethylene, and polyvinyl chloride differs relatively greatly at frequencies from 1.5 [THz] to 3.0 [THz]. Therefore, for example, the
図3は、ABS(Acrylonitrile Butadiene Styrene)樹脂における臭素(Br)の含有率(本例では、重量%濃度)に対する屈折率の変化を表す。本例では、臭素は、難燃剤に含まれる。難燃剤は、添加剤の一例である。本例では、ABS樹脂の屈折率は、0.2[THz]乃至0.7[THz]の周波数を有する電磁波を用いて測定された。 FIG. 3 shows changes in refractive index with respect to bromine (Br) content (in this example, weight % concentration) in ABS (acrylonitrile butadiene styrene) resin. In this example, bromine is included in the flame retardant. Flame retardants are an example of additives. In this example, the refractive index of the ABS resin was measured using electromagnetic waves having a frequency of 0.2 [THz] to 0.7 [THz].
図3に表されるように、ABS樹脂の屈折率は、ABS樹脂における臭素の含有率が高くなるほど大きくなる。従って、例えば、推定装置1は、0.2[THz]乃至0.7[THz]の周波数を有する電磁波を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。例えば、推定装置1は、固形廃棄物2を構成する材料における臭素の含有率を高い精度にて推定できる。
As shown in FIG. 3, the refractive index of the ABS resin increases as the bromine content in the ABS resin increases. Therefore, for example, the
従って、例えば、ケミカルリサイクル、又は、マテリアルリサイクル等のように、固形廃棄物2から材料を生成することにより固形廃棄物2が再利用される場合、推定装置1によって、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定することにより、生成される材料の純度を高めることができる。
Therefore, when the
また、この場合、推定装置1は、透過波の強度に代えて、透過率を用いてもよい。透過率は、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度の、固形廃棄物2に入射された電磁波の強度に対する比である。
Further, in this case, the
また、第1実施形態の変形例の推定装置1は、反射波に加えて、透過波に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Moreover, the
固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度と、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度と、の両方に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する場合、固形廃棄物2にて電磁波が反射される程度に加えて、固形廃棄物2にて電磁波が吸収される程度を材料の推定に反映できる。従って、固形廃棄物2を構成する材料をより一層高い精度にて推定できる。
When estimating the materials constituting the
また、第1実施形態の変形例の推定装置1は、非特許文献1に記載されたテラヘルツ時間領域分光法を用いて分光分析を行うことにより、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。なお、推定装置1は、テラヘルツ時間領域分光法に代えて、又は、テラヘルツ時間領域分光法に加えて、エリプソメトリ法を用いることにより分光分析を行ってもよい。
非特許文献1:深澤 亮一、「テラヘルツ時間領域分光法と分析化学」、ぶんせき、日本分析化学会、2005年6月、第366巻、p.290-296
Furthermore, the
Non-patent document 1: Ryoichi Fukasawa, "Terahertz time-domain spectroscopy and analytical chemistry", Bunseki, Japanese Society for Analytical Chemistry, June 2005, Vol. 366, p. 290-296
<第2実施形態>
次に、第2実施形態の推定装置について説明する。第2実施形態の推定装置は、第1実施形態の推定装置に対して、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて材料の推定を行う点が相違している。以下、相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の説明において、第1実施形態にて使用した符号と同じ符号を付したものは、同一又は略同様のものである。
<Second embodiment>
Next, an estimation device according to a second embodiment will be explained. The estimating device of the second embodiment is different from the estimating device of the first embodiment in that the material is estimated based on the intensities of a plurality of electromagnetic waves detected for a plurality of frequencies. The differences will be mainly explained below. In the description of the second embodiment, the same reference numerals as those used in the first embodiment indicate the same or substantially similar parts.
図4に表されるように、第2実施形態の推定装置1Aは、第1実施形態の電磁波生成部11、入射部12、及び、検出部13に代えて、電磁波源支持体101Aと、回転軸102Aと、第1平行光生成部110Aと、第2平行光生成部120Aと、分岐部131Aと、透過波検出部141Aと、反射波検出部142Aと、固形廃棄物支持部151Aと、を備える。
As shown in FIG. 4, the
図4及び図5に表されるように、電磁波源支持体101Aは、z軸方向にて延在する回転軸102Aを有するとともに、回転軸102Aが回転の中心軸であるように(換言すると、回転の中心軸がz軸方向にて延在するように)回転可能に支持される。例えば、電磁波源支持体101Aは、推定装置1Aの、図示されない筐体に支持される。
As shown in FIGS. 4 and 5, the electromagnetic wave source support 101A has a
電磁波源支持体101Aは、回転軸102Aに対する周方向における、互いに異なる複数の位置にて、第1平行光生成部110A及び第2平行光生成部120Aをそれぞれ支持する。本例では、回転軸102Aと、第1平行光生成部110A及び第2平行光生成部120Aのそれぞれと、の間の距離は、等しい。
The electromagnetic
本例では、推定装置1Aは、電磁波源支持体101Aを回転させる、図示されない駆動装置を備える。なお、推定装置1Aは、駆動装置に代えて、又は、駆動装置に加えて、電磁波源支持体101Aが手動によって回転するように構成されていてもよい。
In this example, the
第1平行光生成部110Aは、電磁波源111Aと、絞り部112Aと、レンズ部113Aと、を備える。
電磁波源111Aは、第1周波数を有する電磁波を生成する。本例では、第1周波数は、0.4[THz]である。
The first parallel
The electromagnetic wave source 111A generates electromagnetic waves having a first frequency. In this example, the first frequency is 0.4 [THz].
絞り部112Aは、電磁波源111Aとレンズ部113Aとの間にて、電磁波の一部のみを通過させる。本例では、絞り部112Aは、電磁波源111Aにより生成された電磁波のうちの、第1周波数を有する電磁波を通過させるとともに、第1周波数と異なる周波数を有する電磁波を反射することにより遮断する。
The
本例では、絞り部112Aは、固形廃棄物2と、電磁波源111Aから電磁波が出射される位置と、を結ぶ第1直線L1に沿って延在する、中空の円錐台筒状である。本例では、第1直線L1は、z軸方向にて延在する。本例では、第1直線L1は、光軸が通る直線を構成する。
In this example, the
固形廃棄物支持部151Aは、z軸に直交する平面(換言すると、xy平面)である載置面を有する。本例では、載置面は、固形廃棄物支持部151Aのうちの、z軸の正方向(本例では、鉛直上方向)における端面を構成する。
The solid
固形廃棄物支持部151Aは、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を、十分に高く透過する材料からなる。本例では、固形廃棄物支持部151Aは、プラスチック(例えば、ポリテトラフルオロエチレン、ポリプロピレン、又は、ポリカーボネート等)が主成分である材料からなる。なお、固形廃棄物支持部151Aは、セラミック(例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、又は、窒化珪素等)が主成分である材料からなっていてもよい。
本例では、固形廃棄物2は、固形廃棄物支持部151Aの載置面に載置される。
The solid
In this example, the
レンズ部113Aは、電磁波源111Aにより生成され、且つ、絞り部112Aを通過した電磁波を第1直線L1に平行な平行光に変換する。換言すると、レンズ部113Aは、電磁波源111Aから電磁波が出射される位置が、レンズ部113Aの焦点に位置する位置を有する。
The
本例では、レンズ部113Aは、ポリテトラフルオロエチレンからなる平凸レンズである。なお、レンズ部113Aは、平凸レンズに代えて、両凸レンズ、又は、凹レンズであってもよい。また、レンズ部113Aは、高抵抗シリコンからなっていてもよい。例えば、高抵抗シリコンは、フロートゾーン法(浮遊鋳造法)を用いて製造される。
In this example, the
第2平行光生成部120Aは、第1平行光生成部110Aと同様に、電磁波源121Aと、絞り部122Aと、レンズ部123Aと、を備える。第2平行光生成部120Aは、第1周波数と異なる第2周波数を有する電磁波を出射する点を除いて、第1平行光生成部110Aと同様に構成される。従って、電磁波源121Aは、第2周波数を有する電磁波を生成する。本例では、第2周波数は、0.5[THz]である。
The second parallel
このような構成により、推定装置1Aは、電磁波源支持体101Aが回転することによって、固形廃棄物2へ入射する電磁波の出射元を、第1平行光生成部110Aと第2平行光生成部120Aとの間で切り替え可能である。
With such a configuration, the
分岐部131Aは、第1平行光生成部110A、又は、第2平行光生成部120Aから出射された電磁波のうちの、一部(本例では、略半分(換言すると、約半分))を透過するとともに、当該電磁波のうちの、他の部分を反射する。本例では、分岐部131Aは、高抵抗シリコンからなるハーフミラーである。なお、分岐部131Aは、ハーフミラー以外のビームスプリッタであってもよい。
The branching
分岐部131Aは、固形廃棄物2にて反射された電磁波のうちの、一部(本例では、略半分)を透過するとともに、固形廃棄物2にて反射された電磁波のうちの、他の部分を反射する。
The
透過波検出部141Aは、第1直線L1に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。本例では、透過波検出部141Aは、第1直線L1に直交する平面において格子状に配列された複数の画素を有するとともに、画素毎に電磁波の強度を検出する。透過波検出部141Aは、アレイセンサ、又は、カメラと表されてもよい。
The transmitted
反射波検出部142Aは、第2直線L2に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。第2直線L2は、第1直線L1を通る電磁波が、固形廃棄物2にて反射された後に、分岐部131Aにて反射された電磁波が伝搬する方向にて延在する。本例では、第2直線L2は、y軸方向にて延在する。本例では、第2直線L2は、光軸が通る直線を構成する。
The reflected
本例では、反射波検出部142Aは、第2直線L2に直交する平面において格子状に配列された複数の画素を有するとともに、画素毎に電磁波の強度を検出する。反射波検出部142Aは、アレイセンサ、又は、カメラと表されてもよい。
In this example, the reflected
このような構成により、推定装置1Aは、透過波検出部141Aが、固形廃棄物2を透過することにより固形廃棄物2から出射された電磁波の強度を検出するとともに、反射波検出部142Aが、固形廃棄物2にて反射されることにより固形廃棄物2から出射された電磁波の強度を検出する。
With such a configuration, in the
本例では、電磁波源支持体101A、回転軸102A、電磁波源111A、及び、電磁波源121Aは、電磁波生成部に対応する。本例では、レンズ部113A、レンズ部123A、及び、分岐部131Aは、入射部に対応する。本例では、透過波検出部141A、及び、反射波検出部142Aは、検出部に対応する。
In this example, the electromagnetic
なお、推定装置1Aは、第1平行光生成部110A又は第2平行光生成部120Aにより出射された電磁波を固形廃棄物2内の焦点位置にて集束させるレンズ又は放物面鏡を備えていてもよい。この場合、推定装置1Aは、当該レンズ又は放物面鏡と、固形廃棄物2と、の間にて、電磁波を集光させる絞り部を備えていてもよい。
Note that the
第2実施形態の記憶部14は、強度変化率情報を記憶する。強度変化率情報は、反射強度変化率と、透過強度変化率と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報である。反射強度変化率は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合である。透過強度変化率は、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合である。
The
第2実施形態の推定部15は、第1周波数に対して透過波検出部141Aにより検出された電磁波(換言すると、第1平行光生成部110Aにより出射され、且つ、固形廃棄物2を透過した電磁波)の強度(換言すると、第1透過強度)と、第2周波数に対して透過波検出部141Aにより検出された電磁波(換言すると、第2平行光生成部120Aにより出射され、且つ、固形廃棄物2を透過した電磁波)の強度(換言すると、第2透過強度)と、に基づいて、透過強度変化率を算出する。
The
本例では、推定部15は、数式1に基づいて透過強度変化率Gtを算出する。F1、及び、F2は、第1周波数、及び、第2周波数をそれぞれ表す。T1、及び、T2は、第1透過強度、及び、第2透過強度をそれぞれ表す。
更に、推定部15は、第1周波数に対して反射波検出部142Aにより検出された電磁波(換言すると、第1平行光生成部110Aにより出射され、且つ、固形廃棄物2にて反射された電磁波)の強度(換言すると、第1反射強度)と、第2周波数に対して反射波検出部142Aにより検出された電磁波(換言すると、第2平行光生成部120Aにより出射され、且つ、固形廃棄物2にて反射された電磁波)の強度(換言すると、第2反射強度)と、に基づいて、反射強度変化率を算出する。
Furthermore, the
本例では、推定部15は、数式2に基づいて反射強度変化率Grを算出する。R1、及び、R2は、第1反射強度、及び、第2反射強度をそれぞれ表す。
加えて、推定部15は、算出された透過強度変化率と、算出された反射強度変化率と、記憶部14に記憶されている強度変化率情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
In addition, the
(動作)
次に、推定装置1Aの動作について説明する。
先ず、固形廃棄物2が固形廃棄物支持部151Aの載置面に載置される。
推定装置1Aは、電磁波源支持体101Aが回転することにより、固形廃棄物2へ入射する電磁波の出射元を、第1平行光生成部110Aに設定する。電磁波源111Aは、第1周波数を有する電磁波を生成する。次いで、絞り部112A、及び、レンズ部113Aは、電磁波源111Aにより生成された電磁波を平行光に変換し、変換された平行光を固形廃棄物2に入射させる。固形廃棄物2に入射させられた電磁波のうちの一部は、固形廃棄物2を透過し、一方、当該電磁波のうちの他の一部は、固形廃棄物2にて反射される。
(motion)
Next, the operation of the
First, the
The
透過波検出部141Aは、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度(本例では、第1透過強度)を検出する。反射波検出部142Aは、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度(本例では、第1反射強度)を検出する。
The transmitted
次いで、推定装置1Aは、電磁波源支持体101Aが回転することにより、固形廃棄物2へ入射する電磁波の出射元を、第2平行光生成部120Aに切り替える。電磁波源121Aは、第2周波数を有する電磁波を生成する。次いで、絞り部122A、及び、レンズ部123Aは、電磁波源121Aにより生成された電磁波を平行光に変換し、変換された平行光を固形廃棄物2に入射させる。固形廃棄物2に入射させられた電磁波のうちの一部は、固形廃棄物2を透過し、一方、当該電磁波のうちの他の一部は、固形廃棄物2にて反射される。
Next, the
透過波検出部141Aは、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度(本例では、第2透過強度)を検出する。反射波検出部142Aは、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度(本例では、第2反射強度)を検出する。
The transmitted
そして、推定部15は、透過波検出部141Aにより検出された、第1透過強度及び第2透過強度に基づいて透過強度変化率を算出する。更に、推定部15は、反射波検出部142Aにより検出された、第1反射強度及び第2反射強度に基づいて反射強度変化率を算出する。
次いで、推定部15は、算出された透過強度変化率と、算出された反射強度変化率と、記憶部14に記憶されている強度変化率情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
Then, the
Next, the
以上、説明したように、第2実施形態の推定装置1Aによれば、第1実施形態の推定装置1と同様の作用及び効果が奏される。
更に、第2実施形態の推定装置1Aは、反射波に加えて、透過波に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
As described above, according to the
Furthermore, the
これによれば、固形廃棄物2にて電磁波が反射される程度に加えて、固形廃棄物2にて電磁波が吸収される程度を材料の推定に反映できる。従って、固形廃棄物2を構成する材料をより一層高い精度にて推定できる。
According to this, in addition to the degree to which electromagnetic waves are reflected by
更に、第2実施形態の推定装置1Aにおいて、電磁波源111A及び電磁波源121Aを含む電磁波生成部は、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成する。加えて、推定部15は、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
Furthermore, in the
例えば、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度は、固形廃棄物2の厚さに応じて比較的大きく変化する。ところで、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合(換言すると、強度変化率)は、固形廃棄物2の厚さに応じて変化しにくい。
For example, the intensity of electromagnetic waves transmitted through the
そこで、推定装置1Aにおいては、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。これによれば、固形廃棄物2の厚さが比較的大きく変化する場合であっても、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
Therefore, in the
例えば、図2に表されるように、0.4[THz]の周波数と、0.5[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、及び、ポリエチレンテレフタレートの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、0.4[THz]の周波数と、0.5[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in Figure 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, the transmittance The rate of change) varies relatively widely between polypropylene, polyvinyl chloride, and polyethylene terephthalate. Therefore, for example, the
例えば、ポリエチレンからなる固形廃棄物2は、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度の、周波数に対する変化において、極小値周波数(例えば、略2.2THzの周波数)にて極小値を有する。従って、極小値周波数の近傍において、強度変化率の大きさが大きくなりやすい。そこで、極小値周波数の近傍の複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、当該材料を高い精度にて推定できる。
For example, the
例えば、図2に表されるように、2.1[THz]の周波数と、2.2[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリエチレン、及び、ポリ塩化ビニルの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、2.1[THz]の周波数と、2.2[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in Figure 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, the transmittance The rate of change) varies relatively widely between polypropylene, polyethylene, and polyvinyl chloride. Therefore, for example, the
また、例えば、図2に表されるように、2.2[THz]の周波数と、2.9[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリエチレン、及び、ポリ塩化ビニルの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、2.2[THz]の周波数と、2.9[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in FIG. 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, , transmittance change rate) are relatively significantly different between polypropylene, polyethylene, and polyvinyl chloride. Therefore, for example, the
更に、第2実施形態の推定装置1Aにおいて、電磁波源111A及び電磁波源121Aを含む電磁波生成部は、電磁波源支持体101Aを備える。電磁波源支持体101Aは、回転可能に支持されるとともに、回転の中心軸に対する周方向における、互いに異なる複数の位置にて、複数の電磁波源(本例では、電磁波源111A及び電磁波源121A)をそれぞれ支持する。
Furthermore, in the
これによれば、電磁波源支持体101Aを回転させることにより、分岐部131A、透過波検出部141A、及び、反射波検出部142Aを複数の電磁波源に対して共用できる。この結果、推定装置1Aを小型化できる。
According to this, by rotating the electromagnetic
ところで、第2実施形態の推定装置1Aが備える平行光生成部は、第1平行光生成部110A、及び、第2平行光生成部120Aの2個である。なお、第2実施形態の変形例の推定装置1Aが備える平行光生成部の数は、3個以上であってもよい。
By the way, there are two parallel light generation units included in the
また、第2実施形態の変形例の推定装置1Aは、推定装置1Aの筐体の内側に、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を十分に高く吸収する反射防止材を備えていてもよい。
Further, the
また、第2実施形態の変形例の推定装置1Aは、透過波検出部141Aに代えて、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を十分に強く反射する反射板と、当該反射板を移動させる移動機構と、を備えていてもよい。この場合、移動機構は、反射板が、固形廃棄物支持部151Aの鉛直下方において、z軸方向に直交する平面に沿って延在する反射位置と、当該反射位置と異なる非反射位置と、の間で反射板の位置を切り替え可能に構成される。
Furthermore, in place of the transmitted
また、第2実施形態の推定装置1Aは、透過強度変化率と反射強度変化率との両方に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。なお、第2実施形態の変形例の推定装置1Aは、強度変化率情報に代えて、透過強度変化率と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報を記憶するとともに、当該情報と、算出された透過強度変化率と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。また、第2実施形態の変形例の推定装置1Aは、強度変化率情報に代えて、透過強度変化率と、反射強度と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報を記憶するとともに、当該情報と、検出された反射強度と、算出された透過強度変化率と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Furthermore, the
また、第2実施形態の推定装置1Aにおいて、電磁波生成部(本例では、電磁波源111A、及び、電磁波源121Aのそれぞれ)は、生成される電磁波が直線偏波であるとともに、当該電磁波の電界が振動する平面と当該電磁波の磁界が振動する平面との交線にて回転の中心軸が延在するように回転可能に支持され、且つ、推定部15は、電磁波生成部の前記交線に対する回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
In addition, in the
この場合、例えば、推定装置1Aは、互いに異なる複数の回転角度状態にて検出された複数の電磁波の強度の平均値に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。また、この場合、電磁波生成部(本例では、電磁波源111A、及び、電磁波源121Aのそれぞれ)は、駆動装置によって回転駆動されてもよいし、手動によって回転するように構成されていてもよい。
In this case, for example, the
10GHz乃至10THzの周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2に入射する電磁波の偏波面の、電磁波が伝搬する方向に対する回転角度が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい回転角度である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 GHz to 10 THz, electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Aにおいては、電磁波生成部の回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定される。従って、固形廃棄物2に入射する電磁波の偏波面の、電磁波が伝搬する方向に対する回転角度が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい回転角度である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
<第3実施形態>
次に、第3実施形態の推定装置について説明する。第3実施形態の推定装置は、第2実施形態の推定装置に対して、固形廃棄物2を挟持する挟持部を備える点が相違している。以下、相違点を中心として説明する。なお、第3実施形態の説明において、第2実施形態にて使用した符号と同じ符号を付したものは、同一又は略同様のものである。
<Third embodiment>
Next, an estimation device according to a third embodiment will be described. The estimating device of the third embodiment is different from the estimating device of the second embodiment in that it includes a holding part that holds the
図6に表されるように、第3実施形態の推定装置1Bは、第2実施形態の推定装置1Aに加えて、固形廃棄物押圧部161Bを備える。
固形廃棄物押圧部161Bは、z軸に直交する平面(換言すると、xy平面)である押圧面を有する。本例では、押圧面は、固形廃棄物押圧部161Bのうちの、z軸の負方向(本例では、鉛直下方向)における端面を構成する。押圧面は、固形廃棄物支持部151Aの載置面の鉛直上方に位置する。従って、固形廃棄物押圧部161Bの押圧面は、固形廃棄物支持部151Aの載置面に対向する。換言すると、本例では、固形廃棄物支持部151Aの載置面と、固形廃棄物押圧部161Bの押圧面と、は、互いに対向する一対の対向面に対応する。
As shown in FIG. 6, the
The solid
推定装置1Bは、固形廃棄物押圧部161Bを鉛直方向にて移動させる、図示されない移動機構を備える。移動機構は、押圧面が、固形廃棄物2を介して載置面を押圧する押圧状態と、押圧面が、固形廃棄物2及び載置面から隔てられた非押圧状態と、の間で固形廃棄物押圧部161Bの位置を切り替え可能に構成される。
The
なお、推定装置1Bは、固形廃棄物押圧部161Bを鉛直下方へ付勢する、図示されない付勢部を備えていてもよい。
本例では、固形廃棄物支持部151A、及び、固形廃棄物押圧部161Bは、固形廃棄物2を挟持する挟持部に対応する。
Note that the
In this example, the solid
以上、説明したように、第3実施形態の推定装置1Bによれば、第2実施形態の推定装置1Aと同様の作用及び効果が奏される。
更に、第3実施形態の推定装置1Bは、互いに対向する一対の対向面を有するとともに、当該一対の対向面の間に固形廃棄物2を挟持する挟持部(本例では、固形廃棄物支持部151A、及び、固形廃棄物押圧部161B)を備える。
As described above, the
Furthermore, the
例えば、包装袋は、形状が変化しやすい。従って、例えば、包装袋は、平面上に載置された場合であっても、一部が当該平面に対して鉛直上方の位置を有すること(例えば、一部が折れ曲がること、又は、皺を有すること等)が多い。ところで、固形廃棄物2と検出部(本例では、透過波検出部141A、又は、反射波検出部142A)との間の距離(本例では、第1直線L1を通る光軸に沿った距離)が変化すると、検出部により検出される電磁波の強度も変化しやすい。従って、この場合、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できない虞がある。
For example, packaging bags tend to change shape. Therefore, for example, even if a packaging bag is placed on a flat surface, a part of the packaging bag may be vertically above the flat surface (for example, a part of the packaging bag may be bent or wrinkled). etc.) are common. By the way, the distance between the
これに対し、推定装置1Bにおいては、互いに対向する一対の対向面の間に固形廃棄物2が挟持される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が所定の距離に維持される。この結果、固形廃棄物2の形状が変化しやすい場合であっても、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
なお、第3実施形態の変形例の推定装置1Bは、固形廃棄物2と検出部(本例では、透過波検出部141A、又は、反射波検出部142A)との間の距離を変動させる距離変動部を備えるとともに、推定部15は、当該距離が互いに異なる複数の距離状態にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Note that the
例えば、推定装置1Bは、押圧面が、固形廃棄物2を介して載置面を押圧する押圧状態において、固形廃棄物支持部151A及び固形廃棄物押圧部161Bを第1直線L1に沿った方向にて振動させる振動機構を備えていてもよい。この場合、推定装置1Bは、互いに異なる複数の時点にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。例えば、推定装置1Bは、互いに異なる複数の時点にて検出された複数の電磁波の強度の平均値に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
For example, in a pressing state in which the pressing surface presses the placement surface via the
また、例えば、推定装置1Bは、透過波検出部141Aを第1直線L1に沿った方向にて振動させる振動機構、及び、反射波検出部142Aを第2直線L2に沿った方向にて振動させる振動機構の少なくとも一方を備えていてもよい。この場合も、推定装置1Bは、互いに異なる複数の時点にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
For example, the
10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2と検出部との間の距離(本例では、第1直線L1及び第2直線L2を通る光軸に沿った距離)が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz], electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Bにおいては、固形廃棄物2と検出部との間の距離が互いに異なる複数の距離状態にてそれぞれ検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
また、第3実施形態の変形例の推定装置1Bにおいて、挟持部は、固形廃棄物2のうちの互いに異なる複数の位置の少なくとも一部の、固形廃棄物2と検出部とを通る所定の検出方向における位置が互いに異なるように固形廃棄物2を挟持するとともに、推定部15は、当該複数の位置にそれぞれ対応する複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Furthermore, in the
例えば、図7に表されるように、推定装置1Bは、固形廃棄物押圧部161Bに代えて、固形廃棄物押圧部161Cを備えていてもよい。固形廃棄物押圧部161Cは、平板状の基体部1611Cと、格子状に配列された複数の凸部1612Cと、を備える。各凸部1612Cは、基体部1611Cのz軸の負方向における端面から、z軸の負方向へ突出する。本例では、各凸部1612Cは、円錐台状である。なお、各凸部1612Cは、円錐台状と異なる形状(例えば、円柱状、角柱状、角錐台状、又は、半球状等)であってもよい。また、各凸部1612Cは、角部が角丸形状を有していてもよい。
For example, as shown in FIG. 7, the
この場合、載置面は、複数の凸部1612Cに沿った形状をそれぞれ有する(例えば、複数の凸部1612Cがそれぞれ嵌入される)複数の凹部を有することが好適である。また、例えば、固形廃棄物支持部151Aは、押圧状態において、載置面が複数の凸部1612Cに沿った形状を有するように弾性変形可能な材料により構成されていてもよい。
In this case, it is preferable that the mounting surface has a plurality of recesses each having a shape along the plurality of
10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2と検出部との間の距離(本例では、第1直線L1及び第2直線L2を通る光軸に沿った距離)が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz], electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Bにおいては、固形廃棄物2のうちの複数の位置の少なくとも一部の、検出方向(本例では、第1直線L1に沿った方向)における位置が互いに異なるように固形廃棄物2が挟持される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
<第4実施形態>
次に、第4実施形態の推定装置について説明する。第4実施形態の推定装置は、第1実施形態の推定装置に対して、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて材料の推定を行う点が相違している。以下、相違点を中心として説明する。なお、第4実施形態の説明において、第1実施形態にて使用した符号と同じ符号を付したものは、同一又は略同様のものである。
<Fourth embodiment>
Next, an estimation device according to a fourth embodiment will be described. The estimating device of the fourth embodiment is different from the estimating device of the first embodiment in that the material is estimated based on the intensities of a plurality of electromagnetic waves detected for a plurality of frequencies. The differences will be mainly explained below. In the description of the fourth embodiment, the same reference numerals as those used in the first embodiment indicate the same or substantially similar elements.
図8に表されるように、第4実施形態の推定装置1Dは、第1実施形態の電磁波生成部11、入射部12、及び、検出部13に代えて、複数の第1周波数検出部171Dと、複数の第2周波数検出部172Dと、搬送部3Dと、を備える。なお、推定装置1Dが備える第1周波数検出部171Dの数は、1個であってもよい。また、推定装置1Dが備える第2周波数検出部172Dの数は、1個であってもよい。
As shown in FIG. 8, the
複数の第1周波数検出部171Dは、x軸方向にて延在する直線に沿って配列される。複数の第1周波数検出部171Dは、x軸方向において、搬送部3Dの、後述の搬送面の略全体に亘って位置する。
The plurality of first
各第1周波数検出部171Dは、電磁波源1711Dと、絞り部1712Dと、レンズ部1713Dと、透過波検出部1714Dと、反射波検出部1715Dと、を備える。なお、複数の第1周波数検出部171Dが備える、複数の電磁波源1711D、複数の絞り部1712D、及び、複数のレンズ部1713Dの少なくとも一部は、一体に構成されていてもよい。また、複数の第1周波数検出部171Dが備える、複数の透過波検出部1714Dは、一体に構成されていてもよい。また、複数の第1周波数検出部171Dが備える、複数の反射波検出部1715Dは、一体に構成されていてもよい。
Each first
電磁波源1711Dは、第1周波数を有する電磁波を生成する。本例では、第1周波数は、2.1[THz]である。
絞り部1712Dは、電磁波源1711Dとレンズ部1713Dとの間にて、電磁波の一部のみを通過させる。本例では、絞り部1712Dは、電磁波源1711Dにより生成された電磁波のうちの、第1周波数を有する電磁波を通過させるとともに、第1周波数と異なる周波数を有する電磁波を反射することにより遮断する。
The
本例では、絞り部1712Dは、固形廃棄物2と、電磁波源1711Dから電磁波が出射される位置と、を結ぶ第3直線L3に沿って延在する、中空の円錐台筒状である。本例では、第3直線L3は、x軸方向に直交する平面(換言すると、yz平面)において、z軸方向に対して傾斜する方向にて延在する。本例では、第3直線L3は、光軸が通る直線を構成する。
In this example, the
搬送部3Dは、y軸方向にて延在する。搬送部3Dは、一対のローラ31Dと、ベルト32Dと、を備える。
一対のローラ31Dのそれぞれは、回転の中心軸がx軸方向にて延在するように、回転可能に支持される。一対のローラ31Dは、回転の中心軸が、y軸方向にて延在する同一の直線上に位置する。本例では、推定装置1Dは、一対のローラ31Dのうちの少なくとも一方を回転駆動する駆動部を備える。
The
Each of the pair of
ベルト32Dは、一対のローラ31Dに巻回される。ベルト32Dの外周面のうちの、z軸の正方向における端面は、搬送面を構成する。ベルト32Dは、一対のローラ31Dの回転に伴って、搬送面を搬送方向(本例では、y軸の正方向)へ移動させる。
ベルト32Dは、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を、十分に高く透過する材料からなる。本例では、ベルト32Dは、プラスチック(例えば、ポリテトラフルオロエチレン、ポリプロピレン、又は、ポリカーボネート等)が主成分である材料からなる。なお、ベルト32Dは、セラミック(例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、又は、窒化珪素等)が主成分である材料からなっていてもよい。
本例では、固形廃棄物2は、ベルト32Dの搬送面に載置される。
The
In this example, the
レンズ部1713Dは、電磁波源1711Dにより生成され、且つ、絞り部1712Dを通過した電磁波を第3直線L3に平行な平行光に変換する。換言すると、レンズ部1713Dは、電磁波源1711Dから電磁波が出射される位置が、レンズ部1713Dの焦点に位置する位置を有する。
The
本例では、レンズ部1713Dは、ポリテトラフルオロエチレンからなる平凸レンズである。なお、レンズ部1713Dは、平凸レンズに代えて、両凸レンズ、又は、凹レンズであってもよい。また、レンズ部1713Dは、高抵抗シリコンからなっていてもよい。例えば、高抵抗シリコンは、フロートゾーン法(浮遊鋳造法)を用いて製造される。
In this example, the
透過波検出部1714Dは、第3直線L3に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。本例では、透過波検出部1714Dは、第3直線L3に直交する平面において格子状に配列された複数の画素を有するとともに、画素毎に電磁波の強度を検出する。透過波検出部1714Dは、アレイセンサ、又は、カメラと表されてもよい。
The transmitted
反射波検出部1715Dは、第4直線L4に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。第4直線L4は、第3直線L3を通る電磁波が、固形廃棄物2にて反射された後に伝搬する方向にて延在する。本例では、第4直線L4は、y軸に直交する平面(換言すると、zx平面)に対して、第3直線L3と面対称であるように延在する。本例では、第4直線L4は、光軸が通る直線を構成する。
The reflected
本例では、反射波検出部1715Dは、第4直線L4に直交する平面において格子状に配列された複数の画素を有するとともに、画素毎に電磁波の強度を検出する。反射波検出部1715Dは、アレイセンサ、又は、カメラと表されてもよい。
In this example, the reflected
このような構成により、推定装置1Dは、透過波検出部1714Dが、固形廃棄物2を透過することにより固形廃棄物2から出射された電磁波の強度を検出するとともに、反射波検出部1715Dが、固形廃棄物2にて反射されることにより固形廃棄物2から出射された電磁波の強度を検出する。
With such a configuration, in the
複数の第2周波数検出部172Dは、y軸方向における位置と、検出に用いられる電磁波の周波数と、が異なる点を除いて、複数の第1周波数検出部171Dと同様に構成される。
従って、各第2周波数検出部172Dは、各第1周波数検出部171Dと同様に、電磁波源1721Dと、絞り部1722Dと、レンズ部1723Dと、透過波検出部1724Dと、反射波検出部1725Dと、を備える。
The plurality of second
Therefore, like each first
電磁波源1721Dは、第1周波数と異なる第2周波数を有する電磁波を生成する。本例では、第2周波数は、2.2[THz]である。各第2周波数検出部172Dにおいては、各第1周波数検出部171Dにおける、第3直線L3及び第4直線L4に代えて、第5直線L5及び第6直線L6がそれぞれ用いられる。従って、透過波検出部1724Dは、第5直線L5に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。また、反射波検出部1725Dは、第6直線L6に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。
本例では、電磁波源1711D、及び、電磁波源1721Dは、電磁波生成部に対応する。本例では、レンズ部1713D、及び、レンズ部1723Dは、入射部に対応する。本例では、透過波検出部1714D、反射波検出部1715D、透過波検出部1724D、及び、反射波検出部1725Dは、検出部に対応する。
In this example, the
なお、推定装置1Dは、第1周波数検出部171D、又は、第2周波数検出部172Dにおいて出射された電磁波を固形廃棄物2内の焦点位置にて集束させるレンズ又は放物面鏡を備えていてもよい。この場合、推定装置1Dは、当該レンズ又は放物面鏡と、固形廃棄物2と、の間にて、電磁波を集光させる絞り部を備えていてもよい。
Note that the
第4実施形態の記憶部14は、強度変化率情報を記憶する。強度変化率情報は、反射強度変化率と、透過強度変化率と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報である。反射強度変化率は、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合である。透過強度変化率は、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合である。
The
第4実施形態の推定部15は、第1時点において、第1周波数に対して透過波検出部1714Dにより検出された電磁波(換言すると、第1周波数検出部171Dにおいて出射され、且つ、固形廃棄物2を透過した電磁波)の強度(換言すると、第1透過強度)と、第2時点において、第2周波数に対して透過波検出部1724Dにより検出された電磁波(換言すると、第2周波数検出部172Dにおいて出射され、且つ、固形廃棄物2を透過した電磁波)の強度(換言すると、第2透過強度)と、に基づいて、透過強度変化率を算出する。
The estimating
本例では、第2時点は、第1時点よりも搬送時間だけ後の時点である。搬送時間は、第3直線L3が搬送面と交差する位置(換言すると、第1周波数を有する電磁波が固形廃棄物2へ入射する位置)と、第5直線L5が搬送面と交差する位置(換言すると、第2周波数を有する電磁波が固形廃棄物2へ入射する位置)と、の間の搬送方向における距離を、搬送面が搬送方向へ移動する速度により除した値である。
本例では、推定部15は、第2実施形態と同様に、上記数式1に基づいて透過強度変化率Gtを算出する。
In this example, the second time point is a time point later than the first time point by the transport time. The transport time is determined by the position where the third straight line L3 intersects the transport surface (in other words, the position where the electromagnetic wave having the first frequency is incident on the solid waste 2) and the position where the fifth straight line L5 intersects with the transport surface (in other words, the position where the electromagnetic wave having the first frequency is incident on the solid waste 2). Then, it is the value obtained by dividing the distance in the transport direction between the position where the electromagnetic wave having the second frequency is incident on the
In this example, the estimating
更に、推定部15は、第1時点において、第1周波数に対して反射波検出部1715Dにより検出された電磁波(換言すると、第1周波数検出部171Dにおいて出射され、且つ、固形廃棄物2にて反射された電磁波)の強度(換言すると、第1反射強度)と、第2時点において、第2周波数に対して反射波検出部1725Dにより検出された電磁波(換言すると、第2周波数検出部172Dにおいて出射され、且つ、固形廃棄物2にて反射された電磁波)の強度(換言すると、第2反射強度)と、に基づいて、反射強度変化率を算出する。
本例では、推定部15は、上記数式2に基づいて反射強度変化率Grを算出する。
Further, the estimating
In this example, the estimating
加えて、推定部15は、算出された透過強度変化率と、算出された反射強度変化率と、記憶部14に記憶されている強度変化率情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
In addition, the
(動作)
次に、推定装置1Dの動作について説明する。
先ず、固形廃棄物2がベルト32Dの搬送面に載置される。
推定装置1Dは、一対のローラ31Dの少なくとも一方を回転駆動することにより、搬送面を搬送方向へ移動させる。これにより、搬送面に載置された固形廃棄物2は、搬送方向へ移動する。
(motion)
Next, the operation of the
First, the
The estimating
電磁波源1711Dは、第1周波数を有する電磁波を生成する。次いで、絞り部1712D、及び、レンズ部1713Dは、電磁波源1711Dにより生成された電磁波を平行光に変換し、変換された平行光を固形廃棄物2に入射させる。固形廃棄物2に入射させられた電磁波のうちの一部は、固形廃棄物2を透過し、一方、当該電磁波のうちの他の一部は、固形廃棄物2にて反射される。
透過波検出部1714Dは、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度(本例では、第1透過強度)を検出する。反射波検出部1715Dは、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度(本例では、第1反射強度)を検出する。
The transmitted
同様に、電磁波源1721Dは、第2周波数を有する電磁波を生成する。次いで、絞り部1722D、及び、レンズ部1723Dは、電磁波源1721Dにより生成された電磁波を平行光に変換し、変換された平行光を固形廃棄物2に入射させる。固形廃棄物2に入射させられた電磁波のうちの一部は、固形廃棄物2を透過し、一方、当該電磁波のうちの他の一部は、固形廃棄物2にて反射される。
Similarly,
透過波検出部1724Dは、固形廃棄物2を透過した電磁波の強度(本例では、第2透過強度)を検出する。反射波検出部1725Dは、固形廃棄物2にて反射された電磁波の強度(本例では、第2反射強度)を検出する。
The transmitted
そして、推定部15は、第1時点にて透過波検出部1714Dにより検出された第1透過強度、及び、第1時点よりも搬送時間だけ後の第2時点にて透過波検出部1724Dにより検出された第2透過強度に基づいて透過強度変化率を算出する。
Then, the estimating
更に、推定部15は、第1時点にて反射波検出部142Aにより検出された第1反射強度、及び、第1時点よりも搬送時間だけ後の第2時点にて反射波検出部1725Dにより検出された第2反射強度に基づいて反射強度変化率を算出する。
Furthermore, the
次いで、推定部15は、算出された透過強度変化率と、算出された反射強度変化率と、記憶部14に記憶されている強度変化率情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
本例では、推定部15は、所定の推定周期が経過する毎に、上記材料の推定を繰り返し行う。
Next, the
In this example, the
以上、説明したように、第4実施形態の推定装置1Dによれば、第1実施形態の推定装置1と同様の作用及び効果が奏される。
更に、第4実施形態の推定装置1Dは、反射波に加えて、透過波に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
As described above, according to the
Furthermore, the estimating
これによれば、固形廃棄物2にて電磁波が反射される程度に加えて、固形廃棄物2にて電磁波が吸収される程度を材料の推定に反映できる。従って、固形廃棄物2を構成する材料をより一層高い精度にて推定できる。
According to this, in addition to the degree to which electromagnetic waves are reflected by
更に、第4実施形態の推定装置1Dにおいて、電磁波源1711D及び電磁波源1721Dを含む電磁波生成部は、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成する。加えて、推定部15は、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
Furthermore, in the
例えば、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度は、固形廃棄物2の厚さに応じて比較的大きく変化する。ところで、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度が、電磁波の周波数に対して変化する割合(換言すると、強度変化率)は、固形廃棄物2の厚さに応じて変化しにくい。
For example, the intensity of electromagnetic waves transmitted through the
そこで、推定装置1Dにおいては、複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。これによれば、固形廃棄物2の厚さが比較的大きく変化する場合であっても、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
Therefore, in the
例えば、図2に表されるように、0.4[THz]の周波数と、0.5[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、及び、ポリエチレンテレフタレートの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、0.4[THz]の周波数と、0.5[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in Figure 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, the transmittance The rate of change) varies relatively widely between polypropylene, polyvinyl chloride, and polyethylene terephthalate. Therefore, for example, the
例えば、ポリエチレンからなる固形廃棄物2は、固形廃棄物2を透過する電磁波の強度の、周波数に対する変化において、極小値周波数(例えば、略2.2THzの周波数)にて極小値を有する。従って、極小値周波数の近傍において、強度変化率の大きさが大きくなりやすい。そこで、極小値周波数の近傍の複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、当該材料を高い精度にて推定できる。
For example, the
例えば、図2に表されるように、2.1[THz]の周波数と、2.2[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリエチレン、及び、ポリ塩化ビニルの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、2.1[THz]の周波数と、2.2[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in Figure 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, the transmittance The rate of change) varies relatively widely between polypropylene, polyethylene, and polyvinyl chloride. Therefore, for example, the
また、例えば、図2に表されるように、2.2[THz]の周波数と、2.9[THz]の周波数と、の2つの周波数に対して、透過率が変化する割合(換言すると、透過率変化率)は、ポリプロピレン、ポリエチレン、及び、ポリ塩化ビニルの間で、比較的大きく異なる。従って、例えば、推定装置1Aは、2.2[THz]の周波数と、2.9[THz]の周波数と、を用いるとともに、固形廃棄物2を透過した、複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定することにより、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
For example, as shown in FIG. 2, the rate at which the transmittance changes (in other words, , transmittance change rate) are relatively significantly different between polypropylene, polyethylene, and polyvinyl chloride. Therefore, for example, the
ところで、第4実施形態の推定装置1Dが材料の推定に用いる電磁波の周波数は、第1周波数、及び、第2周波数の2個である。なお、第4実施形態の変形例の推定装置1Dが材料の推定に用いる電磁波の周波数は、3個以上であってもよい。
By the way, there are two frequencies of electromagnetic waves that the
また、第4実施形態の変形例の推定装置1Dは、透過波検出部1714D又は透過波検出部1724Dに代えて、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を十分に強く反射する反射板と、電磁波源と、絞り部と、レンズ部と、反射波検出部と、を備えていてもよい。この場合、反射板は、搬送面の鉛直下方において、z軸方向に直交する平面に沿って延在してよい。
Further, the
また、第4実施形態の推定装置1Dは、透過強度変化率と反射強度変化率との両方に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。なお、第4実施形態の変形例の推定装置1Dは、強度変化率情報に代えて、透過強度変化率と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報を記憶するとともに、当該情報と、算出された透過強度変化率と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。また、第4実施形態の変形例の推定装置1Dは、強度変化率情報に代えて、透過強度変化率と、反射強度と、固形廃棄物2を構成する材料と、が互いに対応付けられた情報を記憶するとともに、当該情報と、検出された反射強度と、算出された透過強度変化率と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Furthermore, the
また、第4実施形態の変形例の推定装置1Dは、推定部15により推定された材料に基づいて固形廃棄物2を選別する選別装置を備えていてもよい。
Furthermore, the estimating
また、第4実施形態の変形例の推定装置1Dにおいて、電磁波生成部(本例では、電磁波源1711D、及び、電磁波源1721Dのそれぞれ)は、生成される電磁波が直線偏波であるとともに、当該電磁波の電界が振動する平面と当該電磁波の磁界が振動する平面との交線にて回転の中心軸が延在するように回転可能に支持され、且つ、推定部15は、電磁波生成部の前記交線に対する回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。この場合、例えば、推定装置1Dは、互いに異なる複数の回転角度状態にて検出された複数の電磁波の強度の平均値に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。また、この場合、電磁波生成部(本例では、電磁波源1711D、及び、電磁波源1721Dのそれぞれ)は、駆動装置によって回転駆動される。
Further, in the
10GHz乃至10THzの周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2に入射する電磁波の偏波面の、電磁波が伝搬する方向に対する回転角度が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい回転角度である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 GHz to 10 THz, electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Dにおいては、電磁波生成部の回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定される。従って、固形廃棄物2に入射する電磁波の偏波面の、電磁波が伝搬する方向に対する回転角度が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい回転角度である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
また、例えば、図9に表されるように、第4実施形態の変形例の推定装置1Eは、複数の第2周波数検出部172Dに代えて、複数の第3周波数検出部173Eを備えていてもよい。
For example, as shown in FIG. 9, the
複数の第3周波数検出部173Eは、光軸の角度と、検出に用いられる電磁波の周波数と、が異なる点を除いて、複数の第1周波数検出部171Dと同様に構成される。
従って、各第3周波数検出部173Eは、各第1周波数検出部171Dと同様に、電磁波源1731Eと、絞り部1732Eと、レンズ部1733Eと、透過波検出部1734Eと、反射波検出部1735Eと、を備える。
The plurality of third
Therefore, like each first
電磁波源1731Eは、第1周波数と異なる第2周波数を有する電磁波を生成する。本例では、第2周波数は、2.2[THz]である。各第3周波数検出部173Eにおいては、各第1周波数検出部171Dにおける、第3直線L3及び第4直線L4に代えて、第7直線L7及び第8直線L8がそれぞれ用いられる。従って、透過波検出部1734Eは、第7直線L7に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。また、反射波検出部1735Eは、第8直線L8に直交する平面における、互いに異なる複数の位置にて、電磁波の強度を検出する。
本例では、第7直線L7及び第8直線L8は、yz平面においてz軸方向に対して傾斜する角度が、第3直線L3及び第4直線L4とそれぞれ異なる。 In this example, the seventh straight line L7 and the eighth straight line L8 have different angles of inclination with respect to the z-axis direction in the yz plane from the third straight line L3 and the fourth straight line L4, respectively.
第4実施形態の変形例の推定装置1Eにおいて、推定部15は、第1周波数に対して透過波検出部1714Dにより検出された第1透過強度と、第1透過強度と同じ時点において、第2周波数に対して透過波検出部1734Eにより検出された第2透過強度と、に基づいて、透過強度変化率を算出する。更に、推定部15は、第1透過強度と同じ時点において、第1周波数に対して反射波検出部1715Dにより検出された第1反射強度と、第1透過強度と同じ時点において、第2周波数に対して反射波検出部1735Eにより検出された第2反射強度と、に基づいて、反射強度変化率を算出する。加えて、推定部15は、算出された透過強度変化率と、算出された反射強度変化率と、記憶部14に記憶されている強度変化率情報と、に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
第4実施形態の変形例の推定装置1Eによれば、第4実施形態の推定装置1Dと同様の作用及び効果が奏される。
In the
According to the
<第5実施形態>
次に、第5実施形態の推定装置について説明する。第5実施形態の推定装置は、第4実施形態の推定装置に対して、固形廃棄物2を挟持する挟持部を備える点が相違している。以下、相違点を中心として説明する。なお、第5実施形態の説明において、第4実施形態にて使用した符号と同じ符号を付したものは、同一又は略同様のものである。
<Fifth embodiment>
Next, an estimation device according to a fifth embodiment will be described. The estimating device of the fifth embodiment is different from the estimating device of the fourth embodiment in that it includes a holding part that holds the
図10に表されるように、第5実施形態の推定装置1Fは、第4実施形態の推定装置1Dに加えて、固形廃棄物押圧部4Fを備える。
As shown in FIG. 10, the
固形廃棄物押圧部4Fは、鉛直方向における位置が異なる点、及び、搬送方向における長さが異なる点を除いて、搬送部3Dと同様に構成される。従って、固形廃棄物押圧部4Fは、搬送部3Dと同様に、一対のローラ41Fと、ベルト42Fと、を備える。
The solid
本例では、固形廃棄物押圧部4Fは、搬送方向における長さが、搬送部3Dよりも短い。なお、固形廃棄物押圧部4Fは、搬送方向における長さが、搬送部3Dと等しくてもよい。
In this example, the length of the solid
ベルト42Fの外周面のうちの、z軸の負方向における端面は、押圧面を構成する。ベルト42Fは、一対のローラ41Fの回転に伴って、押圧面を搬送方向へ移動させる。本例では、推定装置1Fは、一対のローラ41Fのうちの少なくとも一方を回転駆動する駆動部を備える。なお、推定装置1Fは、駆動部を備えなくてもよい。この場合、押圧面は、接している固形廃棄物2又は搬送面の移動に伴って移動してよい。
An end surface of the outer peripheral surface of the
ベルト42Fは、10[GHz]乃至10[THz]の周波数を有する電磁波を、十分に高く透過する材料からなる。本例では、ベルト42Fは、プラスチック(例えば、ポリテトラフルオロエチレン、ポリプロピレン、又は、ポリカーボネート等)が主成分である材料からなる。なお、ベルト42Fは、セラミック(例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、又は、窒化珪素等)が主成分である材料からなっていてもよい。
The
固形廃棄物押圧部4Fは、押圧面が固形廃棄物2を押圧するように、搬送面の鉛直上方に位置する。従って、固形廃棄物押圧部4Fの押圧面は、搬送部3Dの搬送面に対向する。換言すると、本例では、搬送部3Dの搬送面と、固形廃棄物押圧部4Fの押圧面と、は、互いに対向する一対の対向面に対応する。
The solid
本例では、搬送部3D、及び、固形廃棄物押圧部4Fは、固形廃棄物2を挟持する挟持部に対応する。
なお、推定装置1Fは、押圧面を鉛直下方へ付勢する、図示されない付勢部を備えていてもよい。また、推定装置1Fは、押圧面が搬送方向にて移動しないように構成されていてもよい。この場合、固形廃棄物2は、搬送面の移動に伴って、押圧面に対して摺動してよい。
In this example, the conveying
Note that the
以上、説明したように、第5実施形態の推定装置1Fによれば、第4実施形態の推定装置1Dと同様の作用及び効果が奏される。
更に、第5実施形態の推定装置1Fは、互いに対向する一対の対向面を有するとともに、当該一対の対向面の間に固形廃棄物2を挟持する挟持部(本例では、搬送部3D、及び、固形廃棄物押圧部4F)を備える。
As described above, the
Furthermore, the
例えば、包装袋は、形状が変化しやすい。従って、例えば、包装袋は、平面上に載置された場合であっても、一部が当該平面に対して鉛直上方の位置を有すること(例えば、一部が折れ曲がること、又は、皺を有すること等)が多い。ところで、固形廃棄物2と検出部(本例では、透過波検出部1714D、反射波検出部1715D、透過波検出部1724D、又は、反射波検出部1725D)との間の距離(本例では、第3直線L3及び第4直線L4を通る光軸に沿った距離、又は、第5直線L5及び第6直線L6を通る光軸に沿った距離)が変化すると、検出部により検出される電磁波の強度も変化しやすい。従って、この場合、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できない虞がある。
For example, packaging bags tend to change shape. Therefore, for example, even if a packaging bag is placed on a flat surface, a part of the packaging bag may be vertically above the flat surface (for example, a part of the packaging bag may be bent or wrinkled). etc.) are common. By the way, the distance between the
これに対し、推定装置1Fにおいては、互いに対向する一対の対向面の間に固形廃棄物2が挟持される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が所定の距離に維持される。この結果、固形廃棄物2の形状が変化しやすい場合であっても、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
なお、第5実施形態の変形例の推定装置1Fは、固形廃棄物2と検出部(本例では、透過波検出部1714D、反射波検出部1715D、透過波検出部1724D、又は、反射波検出部1725D)との間の距離を変動させる距離変動部を備えるとともに、推定部15は、当該距離が互いに異なる複数の距離状態にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Note that the
例えば、推定装置1Fは、搬送部3D及び固形廃棄物押圧部4Fを第3直線L3又は第4直線L4に沿った方向にて振動させる振動機構を備えていてもよい。この場合、推定装置1Fは、互いに異なる複数の時点にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。例えば、推定装置1Fは、互いに異なる複数の時点にて検出された複数の電磁波の強度の平均値に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
For example, the
また、例えば、推定装置1Fは、透過波検出部1714Dを第3直線L3に沿った方向にて振動させる振動機構、透過波検出部1724Dを第5直線L5に沿った方向にて振動させる振動機構、反射波検出部1715Dを第4直線L4に沿った方向にて振動させる振動機構、及び、反射波検出部1725Dを第6直線L6に沿った方向にて振動させる振動機構の少なくとも1つを備えていてもよい。この場合も、推定装置1Fは、互いに異なる複数の時点にてそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定する。
For example, the
10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2と検出部との間の距離(本例では、第3直線L3及び第4直線L4を通る光軸に沿った距離、又は、第5直線L5及び第6直線L6を通る光軸に沿った距離)が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz], electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Fにおいては、固形廃棄物2と検出部との間の距離が互いに異なる複数の距離状態にてそれぞれ検出された電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
また、第5実施形態の変形例の推定装置1Fにおいて、挟持部は、固形廃棄物2のうちの互いに異なる複数の位置の少なくとも一部の、固形廃棄物2と検出部とを通る所定の検出方向における位置が互いに異なるように固形廃棄物2を挟持するとともに、推定部15は、当該複数の位置にそれぞれ対応する複数の電磁波の強度に基づいて、固形廃棄物2を構成する材料を推定してもよい。
Furthermore, in the
例えば、図11に表されるように、推定装置1Fは、ベルト42Fに代えて、ベルト42Gを備えていてもよい。なお、図11は、ベルト42Gの外周面の一部のみを表す。
For example, as shown in FIG. 11, the
ベルト42Gの外周面は、x軸方向において周期的に繰り返される波状の、複数の凸部421Gを有する。各凸部421Gは、z軸方向にて突出する。本例では、各凸部421Gは、zx平面により切断されたベルト42Gの断面において、角丸長方形状である。なお、各凸部421Gは、zx平面により切断されたベルト42Gの断面において、他の形状(例えば、多角形状、半円形状、又は、半楕円形状等)であってもよい。
The outer peripheral surface of the
この場合、搬送面は、複数の凸部421Gに沿った形状をそれぞれ有する(例えば、複数の凸部421Gがそれぞれ嵌入される)複数の凹部を有することが好適である。また、例えば、ベルト32Dは、ベルト42Gが押圧された状態において、搬送面が複数の凸部421Gに沿った形状を有するように弾性変形可能な材料により構成されていてもよい。
In this case, it is preferable that the conveyance surface has a plurality of recesses each having a shape along the plurality of
10[GHz]乃至10[THz]の周波数において、固形廃棄物2に入射する電磁波と、固形廃棄物2にて反射された電磁波と、は干渉しやすい。従って、例えば、固形廃棄物2と検出部との間の距離(本例では、第3直線L3及び第4直線L4を通る光軸に沿った距離、又は、第5直線L5及び第6直線L6を通る光軸に沿った距離)が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である場合、固形廃棄物2を構成する材料の推定における精度が低下しやすい。
At a frequency of 10 [GHz] to 10 [THz], electromagnetic waves incident on the
これに対し、上記変形例の推定装置1Fにおいては、固形廃棄物2のうちの複数の位置の少なくとも一部の、検出方向(本例では、第3直線L3及び第4直線L4に沿った方向、又は、第5直線L5及び第6直線L6に沿った方向)における位置が互いに異なるように固形廃棄物2が挟持される。従って、固形廃棄物2と検出部との間の距離が、干渉により電磁波を弱め合う程度が比較的大きい距離である状態において検出された電磁波の強度のみに基づいて、固形廃棄物2を構成する材料が推定されることを抑制できる。この結果、固形廃棄物2を構成する材料を高い精度にて推定できる。
On the other hand, in the
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されない。例えば、上述した実施形態に、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において当業者が理解し得る様々な変更が加えられてよい。 Note that the present invention is not limited to the embodiments described above. For example, various changes that can be understood by those skilled in the art may be made to the embodiments described above without departing from the spirit of the present invention.
1,1A,1B,1D,1E,1F 推定装置
11 電磁波生成部
12 入射部
13 検出部
14 記憶部
15 推定部
101A 電磁波源支持体
102A 回転軸
110A 第1平行光生成部
120A 第2平行光生成部
171D 第1周波数検出部
172D 第2周波数検出部
173E 第3周波数検出部
111A,121A,1711D,1721D,1731E 電磁波源
112A,122A,1712D,1722D,1732E 絞り部
113A,123A,1713D,1723D,1733E レンズ部
131A 分岐部
141A,1714D,1724D,1734E 透過波検出部
142A,1715D,1725D,1735E 反射波検出部
151A 固形廃棄物支持部
1611C 基体部
1612C 凸部
161B,161C 固形廃棄物押圧部
2 固形廃棄物
3D 搬送部
4F 固形廃棄物押圧部
31D,41F ローラ
32D,42F,42G ベルト
421G 凸部
1, 1A, 1B, 1D, 1E,
Claims (10)
10GHz乃至10THzのうちの、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成する電磁波生成部と、
前記生成された電磁波を前記固形廃棄物へ入射させる入射部と、
前記固形廃棄物から出射された電磁波を検出する検出部と、
前記複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて前記材料を推定する推定部と、
を備え、
前記電磁波生成部は、
前記複数の電磁波をそれぞれ生成する複数の電磁波源と、
回転可能に支持されるとともに、前記回転の中心軸に対する周方向における、互いに異なる複数の位置にて前記複数の電磁波源をそれぞれ支持する支持体と、
を備える、推定装置。 An estimation device for estimating materials constituting solid waste,
an electromagnetic wave generation unit that generates a plurality of electromagnetic waves each having a plurality of different frequencies from 10 GHz to 10 THz;
an incidence section that causes the generated electromagnetic waves to enter the solid waste;
a detection unit that detects electromagnetic waves emitted from the solid waste;
an estimation unit that estimates the material based on the intensities of the plurality of electromagnetic waves detected for the plurality of frequencies;
Equipped with
The electromagnetic wave generation section is
a plurality of electromagnetic wave sources each generating the plurality of electromagnetic waves;
a support that is rotatably supported and supports each of the plurality of electromagnetic wave sources at a plurality of mutually different positions in a circumferential direction with respect to the central axis of rotation;
An estimation device comprising:
10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を生成する電磁波生成部と、
前記生成された電磁波を前記固形廃棄物へ入射させる入射部と、
前記固形廃棄物から出射された電磁波を検出する検出部と、
前記検出された電磁波の強度に基づいて前記材料を推定する推定部と、
を備え、
前記電磁波生成部は、前記生成される電磁波が直線偏波であるとともに、前記電磁波の電界が振動する平面と前記電磁波の磁界が振動する平面との交線にて回転の中心軸が延在するように回転可能に支持され、
前記推定部は、前記電磁波生成部の前記交線に対する回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された複数の前記強度に基づいて前記材料を推定する、推定装置。 An estimation device for estimating materials constituting solid waste,
an electromagnetic wave generation unit that generates electromagnetic waves having a frequency of 10 GHz to 10 THz;
an incidence section that causes the generated electromagnetic waves to enter the solid waste;
a detection unit that detects electromagnetic waves emitted from the solid waste;
an estimation unit that estimates the material based on the intensity of the detected electromagnetic waves;
Equipped with
In the electromagnetic wave generation unit, the generated electromagnetic waves are linearly polarized waves, and a central axis of rotation extends at an intersection between a plane in which the electric field of the electromagnetic waves oscillates and a plane in which the magnetic field of the electromagnetic waves oscillates. rotatably supported,
The estimating unit is an estimating device that estimates the material based on the plurality of intensities detected in a plurality of rotation angle states in which rotation angles of the electromagnetic wave generation unit with respect to the intersection line are different from each other.
前記電磁波生成部は、10GHz乃至10THzのうちの、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成し、
前記推定部は、前記複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて前記材料を推定し、
前記推定部は、前記強度が前記周波数に対して変化する割合である強度変化率を算出し、前記算出された強度変化率に基づいて前記材料を推定する、推定装置。 The estimation device according to claim 1 or 2 ,
The electromagnetic wave generation unit generates a plurality of electromagnetic waves each having a plurality of different frequencies from 10 GHz to 10 THz,
The estimation unit estimates the material based on the intensities of the plurality of electromagnetic waves respectively detected for the plurality of frequencies ,
The estimating unit is an estimating device, wherein the estimating unit calculates an intensity change rate that is a rate at which the intensity changes with respect to the frequency, and estimates the material based on the calculated intensity change rate.
互いに対向する一対の対向面を有するとともに、前記一対の対向面の間に前記固形廃棄物を挟持する挟持部を備え、
前記挟持部のうちの、前記一対の対向面を構成する部分は、10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を透過する材料からなる、推定装置。 The estimation device according to claim 1 or 2 ,
A holding part having a pair of opposing surfaces facing each other and holding the solid waste between the pair of opposing surfaces,
In the estimating device, a portion of the holding portion that constitutes the pair of opposing surfaces is made of a material that transmits electromagnetic waves having a frequency of 10 GHz to 10 THz.
前記挟持部は、前記固形廃棄物のうちの互いに異なる複数の位置の少なくとも一部の、前記固形廃棄物と前記検出部とを通る所定の検出方向における位置が互いに異なるように前記固形廃棄物を挟持し、
前記推定部は、前記複数の位置にそれぞれ対応する複数の前記強度に基づいて前記材料を推定する、推定装置。 The estimation device according to claim 4,
The holding section holds the solid waste so that at least some of the plurality of different positions of the solid waste are at different positions in a predetermined detection direction passing through the solid waste and the detection section. holding,
The estimation unit is an estimating device that estimates the material based on the plurality of intensities respectively corresponding to the plurality of positions.
10GHz乃至10THzのうちの、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成し、
前記生成された電磁波を前記固形廃棄物へ入射させ、
前記固形廃棄物から出射された電磁波を検出し、
前記複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて前記材料を推定する、
ことを含み、
前記複数の電磁波の生成は、回転の中心軸に対する周方向における、互いに異なる複数の位置にて、前記複数の電磁波をそれぞれ生成する複数の電磁波源をそれぞれ支持する支持体を回転させることにより行われる、推定方法。 An estimation method for estimating materials constituting solid waste, the method comprising:
Generating a plurality of electromagnetic waves each having a plurality of different frequencies from 10GHz to 10THz,
Injecting the generated electromagnetic waves into the solid waste,
detecting electromagnetic waves emitted from the solid waste;
estimating the material based on the intensity of a plurality of electromagnetic waves detected for each of the plurality of frequencies;
including that
The generation of the plurality of electromagnetic waves is performed by rotating a support that supports a plurality of electromagnetic wave sources that respectively generate the plurality of electromagnetic waves at a plurality of mutually different positions in the circumferential direction with respect to the central axis of rotation. ,estimation method.
10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を生成し、
前記生成された電磁波を前記固形廃棄物へ入射させ、
前記固形廃棄物から出射された電磁波を検出し、
前記検出された電磁波の強度に基づいて前記材料を推定する、
ことを含み、
前記材料の推定は、前記生成される電磁波が直線偏波であるとともに、前記電磁波の電界が振動する平面と前記電磁波の磁界が振動する平面との交線にて回転の中心軸が延在するように回転可能に支持された電磁波生成部の前記交線に対する回転角度が互いに異なる複数の回転角度状態にてそれぞれ検出された複数の前記強度に基づいて行われる、推定方法。 An estimation method for estimating materials constituting solid waste, the method comprising:
Generate electromagnetic waves with a frequency of 10 GHz to 10 THz,
Injecting the generated electromagnetic waves into the solid waste,
detecting electromagnetic waves emitted from the solid waste;
estimating the material based on the intensity of the detected electromagnetic waves;
including that
The estimation of the material is that the generated electromagnetic waves are linearly polarized waves, and the central axis of rotation extends at the intersection of the plane in which the electric field of the electromagnetic waves oscillates and the plane in which the magnetic field of the electromagnetic waves oscillates. The estimation method is performed based on a plurality of intensities detected in a plurality of rotation angle states in which rotation angles of an electromagnetic wave generation unit rotatably supported with respect to the intersection line are different from each other.
前記電磁波の生成は、10GHz乃至10THzのうちの、互いに異なる複数の周波数をそれぞれ有する複数の電磁波を生成することを含み、
前記材料の推定は、前記複数の周波数に対してそれぞれ検出された複数の電磁波の強度に基づいて行われ、
前記材料の推定は、前記強度が前記周波数に対して変化する割合である強度変化率を算出し、前記算出された強度変化率に基づいて行われる、推定方法。 The estimation method according to claim 6 or claim 7 ,
The generation of the electromagnetic waves includes: generating a plurality of electromagnetic waves each having a plurality of different frequencies from 10 GHz to 10 THz,
The estimation of the material is performed based on the intensity of a plurality of electromagnetic waves detected for each of the plurality of frequencies,
The estimation method of the material is performed by calculating an intensity change rate, which is a rate at which the intensity changes with respect to the frequency, and based on the calculated intensity change rate.
互いに対向する一対の対向面を有する挟持部が、前記一対の対向面の間に前記固形廃棄物を挟持することを含み、
前記挟持部のうちの、前記一対の対向面を構成する部分は、10GHz乃至10THzの周波数を有する電磁波を透過する材料からなる、推定方法。 The estimation method according to claim 6 or claim 7 ,
A holding part having a pair of opposing surfaces facing each other holds the solid waste between the pair of opposing surfaces,
In the estimation method, a portion of the holding portion that constitutes the pair of opposing surfaces is made of a material that transmits electromagnetic waves having a frequency of 10 GHz to 10 THz.
前記固形廃棄物の挟持は、前記固形廃棄物のうちの互いに異なる複数の位置の少なくとも一部の、前記固形廃棄物と前記検出部とを通る所定の検出方向における位置が互いに異なるように行われ、
前記材料の推定は、前記複数の位置にそれぞれ対応する複数の前記強度に基づいて行われる、推定方法。 The estimation method according to claim 9,
The solid waste is held such that at least some of the plurality of different positions of the solid waste are at different positions in a predetermined detection direction passing through the solid waste and the detection section. ,
The estimation method includes estimating the material based on the plurality of intensities respectively corresponding to the plurality of positions.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020013597A JP7416411B2 (en) | 2020-01-30 | 2020-01-30 | Estimation device and estimation method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020013597A JP7416411B2 (en) | 2020-01-30 | 2020-01-30 | Estimation device and estimation method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021120625A JP2021120625A (en) | 2021-08-19 |
JP7416411B2 true JP7416411B2 (en) | 2024-01-17 |
Family
ID=77269898
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020013597A Active JP7416411B2 (en) | 2020-01-30 | 2020-01-30 | Estimation device and estimation method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7416411B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023033186A1 (en) * | 2021-09-06 | 2023-03-09 | 学校法人 芝浦工業大学 | Substance identification device and substance identification method |
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JP2019074542A (en) | 2019-02-22 | 2019-05-16 | パイオニア株式会社 | Acquisition apparatus |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016050935A (en) | 2014-08-29 | 2016-04-11 | キヤノン株式会社 | Inspection device and inspection method |
JP2019074542A (en) | 2019-02-22 | 2019-05-16 | パイオニア株式会社 | Acquisition apparatus |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021120625A (en) | 2021-08-19 |
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