JP7347678B2 - Fault location identification device, fault location identification method, and fault location identification program - Google Patents
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Description
本発明は、故障個所特定装置、故障個所特定方法、および、故障個所特定プログラムの技術である。 The present invention is a technology for a fault location identification device, a fault location identification method, and a fault location identification program.
光伝送ネットワークは、WDM(Wavelength Division Multiplexing)信号などの光信号を送信する側のトランスポンダ(TRPD:Transponder)と、受信する側のトランスポンダとが光ファイバを介して対向しており、それらのトランスポンダ間の光ファイバには、光増幅器が直列に多段接続される構成が一般的である。
光伝送ネットワークの区間は、トランスポンダと光増幅器との間の区間、または、光増幅器と光増幅器との間の区間として構成される。多くの区間から光信号の品質劣化が発生した区間を特定することで、劣化を回復するために必要なパッケージやリンクの特定を行うことができる。In an optical transmission network, a transponder (TRPD) that transmits an optical signal such as a WDM (Wavelength Division Multiplexing) signal and a transponder that receives it face each other via an optical fiber. The optical fiber generally has a configuration in which optical amplifiers are connected in multiple stages in series.
A section of the optical transmission network is configured as a section between a transponder and an optical amplifier or between an optical amplifier and an optical amplifier. By identifying the section where optical signal quality deterioration has occurred from among many sections, it is possible to identify the packages and links necessary to recover from the deterioration.
光信号の品質劣化発生の個所特定については、光信号の品質である光信号対雑音比(OSNR:Optical Signal-To-Noise Ratio)を測定する方法がある。例えば、非特許文献1には、伝送路上の複数の区間にモニタ装置を設けて、それぞれの区間の光信号のOSNRを測定する旨が記載されている。これにより、低いOSNRを測定したモニタ装置が属する区間を、そのまま品質劣化が発生した区間として個所特定できる。
To identify the location where optical signal quality deterioration occurs, there is a method of measuring the optical signal-to-noise ratio (OSNR), which is the quality of the optical signal. For example, Non-Patent
非特許文献1のように、各区間をモニタ装置で直接測定する手法は、精度が高い反面、装置導入のコストが高くなってしまう。もちろん、導入コストだけでなく、モニタ装置を稼働させるための電力コストや、モニタ装置そのものが故障したときの保守コストなども高くなってしまう。
Although the method of directly measuring each section with a monitor device, as in
そこで、本発明は、複数の区間を通過する光パスにおける故障個所の区間を、低コストで特定可能とすることを主な課題とする。 Therefore, the main object of the present invention is to make it possible to identify a faulty section of an optical path passing through a plurality of sections at low cost.
前記課題を解決するために、本発明の故障個所特定装置は、以下の特徴を有する。
本発明は、光パスの経路を通過する光信号に損失を発生させる損失発生器が光パスの各区間に備えられており、
各区間の前記損失発生器に対して、損失を発生させるための制御信号を送信する指示部と、
光パスの受信端点におけるトランスポンダでの測定データを取得し、その測定データと、前記制御信号で損失を発生させた区間データとの組み合わせを故障個所の区間を特定するための分類器に学習させる学習部とを有することを特徴とする。In order to solve the above problems, the failure location identification device of the present invention has the following features.
In the present invention, each section of the optical path is provided with a loss generator that generates a loss in the optical signal passing through the optical path.
an instruction unit that transmits a control signal for generating a loss to the loss generator in each section;
Training that acquires measurement data from a transponder at the receiving end point of an optical path, and trains a classifier to identify the section where the failure occurs based on the combination of the measurement data and section data where loss occurred in the control signal. It is characterized by having a part.
本発明によれば、複数の区間を通過する光パスにおける故障個所の区間を、低コストで特定可能とすることができる。 According to the present invention, it is possible to identify a faulty section of an optical path that passes through a plurality of sections at low cost.
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、光伝送システム100の構成図である。
光伝送システム100は、WDM(Wavelength Division Multiplexing)信号などの光信号を送信する側のトランスポンダであるTRPD7Aと、受信する側のトランスポンダであるTRPD7Bとが光ファイバを介して対向している。もちろん、トランスポンダは送信器の機能と受信器の機能との両方有するので、TRPD7Aが図示しない光パスから光信号を受信してもよいし、TRPD7Bが図示しない光パスへ光信号を送信してもよい。
光伝送システム100は、図面左側である光信号の送信側から順に、TRPD7Aと、1つ以上の損失発生器1と、1つ以上の光増幅器2と、TRPD7Bとが光ファイバの光パスとして直列に接続されている。FIG. 1 is a configuration diagram of an
In the
The
以下、光伝送システム100の光増幅器2ごとに区切られた区間Di(i=1,2,…n+1)を定義する。具体的には、光信号の送信側から順に、TRPD7Aと第1光増幅器2との間の区間D1と、第1光増幅器2と第2光増幅器2との間の区間D2と、…、第n-1光増幅器2と第n光増幅器2との間の区間Dn、第n光増幅器2とTRPD7Bとの間の区間Dn+1とがそれぞれ存在する。
Hereinafter, sections Di (i=1, 2,...n+1) divided for each
各区間の光増幅器2は、自区間から受信した光信号について、次区間に出力する光信号の出力強度が一定になるように、増幅の自動レベル制御(ALC:Automatic Level Control)を行う。これにより、光増幅器2は自区間内で発生した損失の合計値を補償することで、TRPD7Bにおける光信号の品質劣化を抑制する。
また、光伝送システム100の各区間には、損失発生器1が接続されている。損失発生器1は、自区間を通過する強度xの光信号を程度aだけ損失させることで、強度(x-a)の光信号を後段の光増幅器2またはTRPD7Bに出力する。The
Furthermore, a
なお、光増幅器2が光信号の品質劣化を抑制するために光信号を増幅させるのに対し、損失発生器1は光信号を劣化させるために恣意的に損失を発生させている。このような一見すると相反する機能を同じ区間に併存させた理由は、モデル学習用の模擬環境を与えるためである。
よって、光伝送システム100は、故障個所特定装置3からの制御により、損失発生器1を動作させて故障を疑似的に発生させる学習フェーズと、損失発生器1を動作させずに実際の故障を検出する運用フェーズとを切り替えて動作する。Note that while the
Therefore, the
故障個所特定装置3は、光伝送システム100の各区間のうち、どの区間が故障個所なのかを特定する。そのため、故障個所特定装置3は、指示部31と、学習部33と、分類器32と、特定部34とを有する。
分類器32は、TRPD7Bが受信した光信号の測定データを入力とすると、その測定データに対応する故障個所の区間を特定するモデル学習用のデータ構造である(詳細は図5)。
特定部34は、運用フェーズにおけるTRPD7Bの測定データを入力とすると、その測定データに対応する故障個所の区間を分類器32を用いて特定する。The failure
The
The
指示部31は、学習フェーズにおいて、学習部33の入力となる学習用データの生成のために、各損失発生器1に対して光信号の損失を模擬的に発生させるよう制御する。なお、図1では1つの損失発生器1だけに制御信号を送信する旨の矢印を図示したが、実際には、区間D1~区間Dn+1の各区間の損失発生器1に対して、個別に制御信号を送信できる。学習用データは、以下のデータの組み合わせである。
・今回の光信号を損失させた損失発生器1の区間を示すデータ(区間D1~Dn+1のいずれかを示す区間ID)。
・今回の光信号を損失させた損失量。
・今回の光信号を損失させた結果であるTRPD7Bの測定データ。In the learning phase, the
- Data indicating the section of the
・The amount of loss caused by the loss of this optical signal.
・TRPD7B measurement data that is the result of losing the optical signal this time.
学習部33は、学習フェーズにおいて、指示部31の制御により取得した学習用データから、機械学習アルゴリズムを用いて、分類器32を作成する。機械学習アルゴリズムは、例えば、以下のものを使用できる。
・SVM(support vector machine)は、各データを分類するための境界線について、境界線の近くに位置するデータとの距離(マージン)を最大化するように、境界線を自動生成するアルゴリズムである(詳細は図5)。
・k近傍法(KNN:k-nearest neighbor algorithm)は、あるデータの分類を行う場合、そのデータの近傍に位置するk個のデータの分類の投票で決定するアルゴリズムである。In the learning phase, the
・SVM (support vector machine) is an algorithm that automatically generates boundary lines for classifying each data so as to maximize the distance (margin) from data located near the boundary line. (See Figure 5 for details).
- The k-nearest neighbor algorithm (KNN) is an algorithm in which when classifying certain data, the classification is determined by voting on the classification of k pieces of data located in the vicinity of the data.
図2は、故障個所特定装置3のハードウェア構成図である。
故障個所特定装置3は、CPU901と、RAM902と、ROM903と、HDD904と、通信I/F905と、入出力I/F906と、メディアI/F907とを有するコンピュータ900として構成される。
通信I/F905は、外部の通信装置915と接続される。入出力I/F906は、入出力装置916と接続される。メディアI/F907は、記録媒体917からデータを読み書きする。さらに、CPU901は、RAM902に読み込んだプログラム(アプリケーションや、その略のアプリとも呼ばれる)を実行することにより、各処理部を制御する。そして、このプログラムは、通信回線を介して配布したり、CD-ROM等の記録媒体917に記録して配布したりすることも可能である。FIG. 2 is a hardware configuration diagram of the failure
The failure
Communication I/
図3は、光伝送システム100の処理概要を示すフローチャートである。
通信事業者は、デジタルコヒーレント伝送技術が適用された光コア・メトロ網として光伝送システム100を構築する。光伝送システム100には、図1で説明したように、複数の光増幅器2間の各区間に、損失発生器1が配備される(S11)。
学習フェーズとして、故障個所特定装置3の学習部33は、損失発生器1を順に稼働させて各区間に損失を発生させ、TRPD7Bの測定データから分類器32の学習を行う(S12)。
運用フェーズとして、通信事業者は運用を開始し、TRPD7Bは受信した光信号から光レベル劣化につながる故障を検出する(S13)。
故障個所特定装置3の特定部34は、S13で検出した故障データを分類器32に入力し、故障個所を特定する。そして、特定部34は、故障個所を通知する判別画面(図7)を保守者の端末に表示させる(S14)。
保守者は、故障区間の経路切り替えや交換対応を行い、故障を回復する(S15)。FIG. 3 is a flowchart showing an overview of the processing of the
A communication carrier constructs an
As a learning phase, the
In the operation phase, the communication carrier starts operation, and the
The
The maintenance person performs route switching and replacement of the failed section to recover from the failure (S15).
図4は、S12の学習フェーズにおける分類器32の学習処理を示すフローチャートである。以下、カウンタ変数i,aを用いて説明する。変数iは区間を選択し、変数aは区間iの損失発生器1に発生させる損失量を示す。まず、区間i=0から処理を開始する。
学習部33は、i=i+1(現在のiの値に1を加算)する(S101)。学習部33は、iがn+1以下か否かを判定する(S102)。S102でYesならS103に進み、NoならS104に進む。
学習部33は、後記するS114で分類器32に追加される測定データの各区間iをラベルとして、分類器32を生成する(S104)。つまり、分類器32は、測定データを入力すると、どの区間iが故障個所なのかを示すラベルを出力するように学習される。FIG. 4 is a flowchart showing the learning process of the
The
The
学習部33は、i番目の区間の損失発生器1を選択し(S103)、その損失発生器1に対して発生させる損失量aの初期値(=0[dB])を代入する(S111)。学習部33は、区間iに損失aを発生させるように、指示部31を介して区間iの損失発生器1に指示する(S112)。
学習部33は、区間iで損失aを発生させたときの測定データをTRPD7Bに計測させる(S113)。測定データは、例えば、図5の光受信パワー(光信号の強度情報)およびPre-FEC BER(光信号により伝達する符号の損失情報)が挙げられる。
Preとは、データ送信前に(事前に)誤り訂正用の符号をあらかじめ光信号に付与することである。
FEC(Forward Error Correction)とは、光信号の受信側が誤り訂正用の符号を用いて、光信号中の誤りを訂正することである。
BER(Bit Error Rate)とは、光信号中の訂正した誤りのビットの割合を示す。The
The
Pre means to add an error correction code to the optical signal (in advance) before data transmission.
FEC (Forward Error Correction) is a process in which the receiving side of an optical signal corrects errors in the optical signal using an error correction code.
BER (Bit Error Rate) indicates the ratio of corrected error bits in an optical signal.
学習部33は、S113で得た[区間i,損失a]の測定データを分類器32に追加することで学習を行う(S114)。ここで、学習部33は、aが所定値(例えば20)以下か否かを判定する(S115)。S115でYesならS116に進み、NoならS101に戻る。
学習部33は、a=a+1(現在のaの値に1を加算)し(S116)、処理をS112に戻す。The
The
図5は、学習部33が作成した分類器32を示すグラフの一例である。この事例では、波長が1558[nm]の光信号を実測した測定データを用いている。
グラフの横軸は、Pre-FEC BERであり、光信号の伝送で発生した誤りビットの割合を示す。正常な光信号の領域201からグラフの右に行くほど誤りの割合が高くなり、光信号の品質劣化が大きくなる。
グラフの縦軸は、受信光パワー[dBm]であり、TRPD7Bが受信した光信号の信号強度である。正常な光信号の領域201からグラフの下に行くほど信号が弱くなり、光信号の品質劣化が大きくなる。
グラフ上に配置されるノードの記号種類は測定データの区間iを示し、例えば、■(i=1)、△(i=2)である。つまり、図5のグラフは、i=1~4まで計測されているので、n=3の場合を示す。なお、図5では同じ種類のノードがグラフに3つずつ配置されている(■が3個、△が3個)のは、図4の損失量aが3通りの例である。FIG. 5 is an example of a graph showing the
The horizontal axis of the graph is Pre-FEC BER, which indicates the rate of error bits that occur during optical signal transmission. The further to the right of the graph from the normal
The vertical axis of the graph is the received optical power [dBm], which is the signal strength of the optical signal received by the
The symbol type of the node placed on the graph indicates the interval i of the measurement data, and is, for example, ■ (i=1), Δ (i=2). In other words, the graph in FIG. 5 shows the case where n=3 since measurements were made for i=1 to 4. In addition, in FIG. 5, three nodes of the same type are arranged in the graph (three ■ and three Δ), which is an example of three types of loss a in FIG.
学習部33は、SVMの機械学習により、グラフ上に配置される同じ種類(同じ区間)のノードを一か所にグルーピングできるように、グラフの領域を区分線211~213で区切る。例えば、区分線211より左側のグラフ領域221はi=4のノード3つだけが存在するので、区間i=4の領域である。一方、区分線211~212で挟まれたグラフ領域222はi=3のノード3つだけが存在するので、区間i=3の領域である。
同様に、区分線212~213で挟まれたグラフ領域223は区間i=2の領域であり、区分線213より右側のグラフ領域224は区間i=1の領域である。Using SVM machine learning, the
Similarly, the
このように、入力された測定データを受け、それらを区間ごとにグルーピングする区分線211~213を分類器32として学習しておく。これにより、特定部34は、運用フェーズの測定データを分類器32に入力し、その測定データがどのグラフ領域に位置するかによって、故障個所の区間を特定できる。
In this way, the
図6は、S14の運用フェーズにおける分類器32を用いた故障個所の特定処理を示すフローチャートである。
特定部34は、運用フェーズでTRPD7Bが測定した測定データを受信する(S201)。測定データは、WDM信号の1波長分の光受信パワー(図5の縦軸)、WDM信号の全波長分のトータル光受信パワー、Pre-FEC BER(図5の横軸)などが例示される。FIG. 6 is a flowchart showing the failure location identification process using the
The
特定部34は、トータル光受信パワーが所定閾値を超過したか否かを判定する(S202)。S202でYesなら最終区間(i=n+1)を個所特定し(S205C)、NoならS203に進む。
特定部34は、Pre-FEC BERが所定閾値を超過したか否かを判定する(S203)。S203でYesならS204に進み、Noなら故障無しと判定する(S205A)。
特定部34は、S201の測定データ(受信光パワーおよびPre-FEC BER)を個所特定用の分類器32に入力することで(S204)、区間(n+1以外)を個所特定する(S205B)。The specifying
The identifying
The
図7は、故障個所を通知する判別画面の画面図である。
判別画面は、図5の分類器32のグラフから、学習フェーズの測定データを削除し、S204で入力した運用フェーズの測定データ(ノード231)を付加したものである。区分線211~213およびグラフ領域221~224は、図5で説明した通りである。
図7の例では、ノード231がグラフ領域223の内部に存在するので、特定部34は区間i=2を故障個所と特定する。このように、判別画面を表示することで、保守者は故障個所の特定根拠を知ることができる。また、保守者は正常な光信号の領域201からノード231までの距離が長いほど、光レベルの劣化が大きいことを把握できる。FIG. 7 is a screen diagram of a determination screen that notifies the failure location.
The determination screen is obtained by deleting the learning phase measurement data from the graph of the
In the example of FIG. 7, since the
図8は、特定部34が特定した故障個所で発生した故障の種別の一例を示すグラフである。
グラフ301は、故障の種別が経年劣化であるときの受信光レベルの時間変化を示す。経年劣化では、正常な光レベルを示す閾値Thを下回る傾向にある。
グラフ302は、故障の種別が誤制御であるときの受信光レベルの時間変化を示す。誤制御では、正常な光レベルを示す閾値Thを中心にグラフの曲線が上下する傾向にある。
このように、光信号の強度は一定ではなく時間変化することもある。特定部34は、光増幅器2の制御周期より遅い応答、かつTRPD7Bで取得可能なデータ間隔が故障変動周期の半分以下であれば、故障区間を特定できる。FIG. 8 is a graph showing an example of the types of failures that have occurred at the failure locations identified by the
A
A
In this way, the intensity of the optical signal is not constant and may change over time. The
[効果]
光伝送システム100は、光パスの経路を通過する光信号に損失を発生させる損失発生器1が光パスの各区間に備えられており、
本発明の故障個所特定装置3は、
各区間の損失発生器1に対して、損失を発生させるための制御信号を送信する指示部31と、
光パスの受信端点におけるTRPD7Bでの測定データを取得し、その測定データと、制御信号で損失を発生させた区間データとの組み合わせを故障個所の区間を特定するための分類器32に学習させる学習部33とを有することを特徴とする。[effect]
The
The failure
an
Training that acquires measurement data at the
これにより、光パスの経路途中の各区間では測定データを取得しなくても済む。よって、複数の区間を通過する光パスにおける故障個所の区間を、低コストで特定可能とすることができる。 This eliminates the need to acquire measurement data at each section along the optical path. Therefore, it is possible to identify the section where the failure point is located in the optical path passing through a plurality of sections at a low cost.
本発明は、指示部31が、同じ区間の損失発生器1に対して、複数種類の損失量を指示する制御信号を送信し、
学習部33が、同じ区間で複数種類の損失量を発生させたときの測定データをグルーピングする区間別の分類情報を分類器32に学習させることを特徴とする。In the present invention, the
A feature is that the
これにより、複数種類の損失量に対応して、重度の故障でも軽度の故障でも、幅広く故障個所を特定できる。 This makes it possible to identify a wide range of failure locations, whether it is a severe failure or a minor failure, in response to multiple types of loss amounts.
本発明は、学習部33が、SVMにより測定データをグルーピングすることを特徴とする。
The present invention is characterized in that the
これにより、測定データに多少のノイズが混入していても、そのノイズを過剰学習しないことで分類器32の認識率の低下を抑制できる。
Thereby, even if some noise is mixed in the measurement data, the recognition rate of the
本発明は、学習部33が、同じ区間で複数種類の損失量を発生させたときの測定データとして、光信号の強度情報と、光信号により伝達する符号の損失情報との組み合わせデータを用いることを特徴とする。
In the present invention, the
これにより、受信端での光信号の強度情報と、光信号により伝達する符号の損失情報とが、故障個所ごとに依存する性質を用いて、受信端で取得した測定データのみから個所特定を行う分類器32を作成できる。
As a result, the strength information of the optical signal at the receiving end and the loss information of the code transmitted by the optical signal depend on each failure location, and the location can be identified only from the measurement data acquired at the receiving end. A
本発明は、故障個所特定装置3が、さらに、特定部34を有しており、
特定部34が、分類器32を学習させた後で損失発生器1の動作をオフにした運用フェーズにおいてTRPD7Bでの測定データを取得し、その測定データを分類器32に入力することで出力される区間データから、故障個所の区間を特定することを特徴とする。In the present invention, the failure
The
これにより、損失発生器1の動作をオフにし、分類器32を用いて低コストに故障個所の区間を特定できる。
また、比較例として、受信端でのモニタ装置と、伝送路上の複数装置とを設定変更することで、複数の箇所の光信号のOSNRを測定するシステムを考える。この比較例のシステムでは、測定対象の光パスが経由するすべてのWSSの設定変更を伴うため、光伝送網の規模が大きい場合に測定時間が増大する。また、設定変更は光信号の品質に影響を及ぼすことから、誤設定により意図しない光信号の品質劣化を招くリスクがある。
一方、本発明では、学習フェーズとして事前に分類器32を作成しておき、運用フェーズでは損失発生器1の設定変更を伴わず、受信端での情報取得のみで素早く個所特定を行う。As a result, the operation of the
As a comparative example, consider a system that measures the OSNR of optical signals at multiple locations by changing the settings of a monitor device at the receiving end and multiple devices on the transmission path. In the system of this comparative example, the measurement time increases when the scale of the optical transmission network is large because the settings of all WSSs that the optical path to be measured passes through are changed. Further, since changing the settings affects the quality of the optical signal, there is a risk of unintended quality deterioration of the optical signal due to incorrect settings.
On the other hand, in the present invention, the
本発明は、特定部34が、運用フェーズにおけるTRPD7Bでの測定データとして、複数の波長での光信号の受信強度の総和が所定閾値を超過していたときには、光パスの経路のうちのTRPD7Bに至る最終区間を故障個所の区間として特定することを特徴とする。
In the present invention, when the measurement data at the
これにより、最終区間の光増幅器2で誤作動が発生しても、その個所を故障個所の区間として特定できる。
As a result, even if a malfunction occurs in the
1 損失発生器
2 光増幅器
3 故障個所特定装置
31 指示部
32 分類器
33 学習部
34 特定部
7A TRPD
7B TRPD(トランスポンダ)
100 光伝送システム1
7B TRPD (Transponder)
100 Optical transmission system
Claims (8)
各区間の前記損失発生器に対して、損失を発生させるための制御信号を送信する指示部と、
光パスの受信端点におけるトランスポンダでの測定データを取得し、その測定データと、前記制御信号で損失を発生させた区間データとの組み合わせを、故障個所の区間を特定するための分類器に学習させる学習部とを有することを特徴とする
故障個所特定装置。Each section of the optical path is equipped with a loss generator that generates loss in the optical signal passing through the optical path.
an instruction unit that transmits a control signal for generating a loss to the loss generator in each section;
Obtain measurement data from the transponder at the receiving end point of the optical path, and train a classifier to identify the section where the failure occurs using the combination of the measurement data and the section data where the loss occurred in the control signal. A failure location identification device characterized by having a learning section.
前記学習部は、同じ区間で複数種類の損失量を発生させたときの前記測定データをグルーピングする区間別の分類情報を前記分類器に学習させることを特徴とする
請求項1に記載の故障個所特定装置。The instruction unit transmits the control signal instructing a plurality of types of loss amounts to the loss generators in the same section,
The failure location according to claim 1, wherein the learning unit causes the classifier to learn classification information for each section for grouping the measurement data when a plurality of types of loss amounts occur in the same section. Specific equipment.
請求項2に記載の故障個所特定装置。The failure location identification device according to claim 2, wherein the learning unit groups the measurement data using an SVM (support vector machine).
請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の故障個所特定装置。The learning unit is characterized in that the learning unit uses combined data of intensity information of an optical signal and loss information of a code transmitted by the optical signal as the measurement data when a plurality of types of loss amounts are generated in the same section. The failure location identification device according to any one of claims 1 to 3.
前記特定部は、前記分類器を学習させた後で前記損失発生器の動作をオフにした運用フェーズにおいて前記トランスポンダでの前記測定データを取得し、その測定データを前記分類器に入力することで出力される区間データから、故障個所の区間を特定することを特徴とする
請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の故障個所特定装置。The failure location identification device further includes an identification section,
The identification unit acquires the measurement data of the transponder during an operation phase in which the operation of the loss generator is turned off after learning the classifier, and inputs the measurement data to the classifier. The fault location identification device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that the fault location identification device identifies the fault location section from the output section data.
請求項5に記載の故障個所特定装置。The identification unit is configured to transmit information to the transponder in the optical path when the sum of received intensities of optical signals at a plurality of wavelengths exceeds a predetermined threshold as the measurement data of the transponder in the operation phase. 6. The failure location identification device according to claim 5, wherein the final section reached is identified as the section of the failure location.
故障個所特定装置は、指示部と、学習部とを有しており、
前記指示部は、各区間の前記損失発生器に対して、損失を発生させるための制御信号を送信し、
前記学習部は、光パスの受信端点におけるトランスポンダでの測定データを取得し、その測定データと、前記制御信号で損失を発生させた区間データとの組み合わせを、故障個所の区間を特定するための分類器に学習させることを特徴とする
故障個所特定方法。Each section of the optical path is equipped with a loss generator that generates loss in the optical signal passing through the optical path.
The failure location identification device has an instruction section and a learning section,
The instruction unit transmits a control signal for generating a loss to the loss generator in each section,
The learning unit acquires measurement data from the transponder at the receiving end point of the optical path, and combines the measurement data with the section data in which the loss occurred in the control signal to identify the section where the failure occurs. A fault location identification method characterized by training a classifier.
Applications Claiming Priority (1)
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