JP7122678B2 - Switches and test methods for switches - Google Patents

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Description

本開示は、一般に開閉器、及び開閉器の試験方法に関する。より詳細には、本開示は、電源と負荷とを繋ぐ電路を遮断する開閉器、及び開閉器の試験方法に関する。 The present disclosure relates generally to switches and methods of testing switches. More specifically, the present disclosure relates to a switch that interrupts an electric circuit connecting a power source and a load, and a test method for the switch.

特許文献1には、漏電遮断器が開示されている。この漏電遮断器は、漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器と、この零相変流器の二次出力に基づいて交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部と、を備えている。また、この漏電遮断器は、零相変流器に巻き回されたテスト巻線に、テストスイッチが押下されたときに漏電動作テストのための模擬漏電電流を供給するテスト装置を備えている。 Patent Literature 1 discloses an earth leakage circuit breaker. This earth leakage circuit breaker includes a zero-phase current transformer whose primary winding is an AC circuit to be detected, and a leakage detector that determines whether or not there is a leakage in the AC circuit based on the secondary output of this zero-phase current transformer. and Further, this earth leakage breaker is equipped with a test device that supplies a simulated earth leakage current for an earth leakage operation test to the test winding wound around the zero-phase current transformer when the test switch is pressed.

特開2015-032420号公報JP 2015-032420 A

特許文献1に記載の漏電遮断器(開閉器)では、漏電遮断器の漏電動作(遮断動作)をテストした場合、漏電遮断器に電気的に接続された電路が遮断される。このため、動作試験を行って電路を遮断してから漏電遮断器が元の状態に復帰するまで、この電路に接続された負荷を一時的に使用することができなくなる等、負荷が電路の遮断による影響を受けやすい、という問題があった。 In the earth leakage breaker (switch) described in Patent Document 1, when the earth leakage operation (breaking operation) of the earth leakage breaker is tested, the electric circuit electrically connected to the earth leakage breaker is cut off. For this reason, the load connected to this circuit cannot be used temporarily until the ground fault circuit breaker returns to its original state after the operation test is performed and the circuit is interrupted. There was a problem that it was easily affected by

本開示は、動作試験を行って電路を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路の遮断による負荷への影響を低減することのできる開閉器、及び開閉器の試験方法を提供することを目的とする。 The present disclosure provides a switch and a test method for the switch that can reduce the impact on the load due to the interruption of the electric circuit after the operation test is conducted and the electric circuit is interrupted until the original state is restored. intended to provide

本開示の一態様に係る開閉器は、引き外し部と、処理部と、を備える。前記引き外し部は、電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。前記処理部は、前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間を、前記接点を介さないバイパス経路で繋いだ状態で、動作試験を実行する。前記動作試験は、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する。前記バイパス経路は、前記電源を第1電源として、前記第1電源とは異なる第2電源に電気的に接続されている。
本開示の一態様に係る開閉器は、引き外し部と、処理部と、を備える。前記引き外し部は、電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。前記処理部は、前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間が前記接点を介さないバイパス経路に繋がっているか否かを判定する。そして、前記処理部は、前記電源と前記負荷との間が前記バイパス経路に繋がっていると判定すると、前記電源と前記負荷との間を、前記バイパス経路で繋いだ状態で、動作試験を実行する。前記動作試験は、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する。
A switch according to an aspect of the present disclosure includes a tripping section and a processing section. The tripping unit performs a tripping operation of mechanically shifting a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state. When the processing unit receives a trigger for performing an interruption operation for interrupting the electric circuit including the tripping operation, the operation test is performed in a state in which the power source and the load are connected by a bypass route that does not pass through the contact. to run. The operation test tests an operation of at least part of the breaking operation. The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state that conducts the bypass path and an interrupted state that interrupts the bypass path. The bypass path uses the power supply as a first power supply and is electrically connected to a second power supply different from the first power supply.
A switch according to an aspect of the present disclosure includes a tripping section and a processing section. The tripping unit performs a tripping operation of mechanically shifting a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state. The processing unit determines whether or not the power source and the load are connected to a bypass path that does not pass through the contact when receiving a trigger for performing a disconnection operation for disconnecting the electric circuit including the tripping operation. . When the processing unit determines that the power supply and the load are connected to the bypass path, the processing unit performs an operation test in a state in which the power supply and the load are connected by the bypass path. do. The operation test tests an operation of at least part of the breaking operation. The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state that conducts the bypass path and an interrupted state that interrupts the bypass path.

本開示の一態様に係る開閉器の試験方法は、引き外し部を備えた開閉器の試験方法である。前記引き外し部は、電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。この試験方法は、前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間を、前記接点を介さないバイパス経路で繋いだ状態で、動作試験を行う。前記動作試験は、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する。前記バイパス経路は、前記電源を第1電源として、前記第1電源とは異なる第2電源に電気的に接続されている。
本開示の一態様に係る開閉器の試験方法は、引き外し部を備えた開閉器の試験方法である。前記引き外し部は、電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。この試験方法は、前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間が前記接点を介さないバイパス経路に繋がっているか否かを判定する。そして、この試験方法は、前記電源と前記負荷との間を、前記バイパス経路で繋いだ状態で、動作試験を行う。前記動作試験は、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する。
A test method for a switch according to an aspect of the present disclosure is a test method for a switch including a tripping portion. The tripping unit performs a tripping operation of mechanically shifting a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state. In this test method, when a trigger for performing an interruption operation for interrupting the electric circuit including the tripping operation is received, an operation test is performed in a state in which the power source and the load are connected by a bypass route that does not pass through the contact. I do. The operation test tests an operation of at least part of the breaking operation. The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state that conducts the bypass path and an interrupted state that interrupts the bypass path. The bypass path uses the power supply as a first power supply and is electrically connected to a second power supply different from the first power supply.
A test method for a switch according to an aspect of the present disclosure is a test method for a switch including a tripping portion. The tripping unit performs a tripping operation of mechanically shifting a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state. In this test method, upon receiving a trigger for performing an interruption operation for breaking the electric circuit, including the tripping operation, it is determined whether or not the power supply and the load are connected to a bypass path that does not pass through the contact. . In this testing method, an operation test is performed with the power supply and the load connected by the bypass path. The operation test tests an operation of at least part of the breaking operation. The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state that conducts the bypass path and an interrupted state that interrupts the bypass path.

本開示は、動作試験を行って電路を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路の遮断による負荷への影響を低減することができる、という利点がある。 The present disclosure has the advantage that it is possible to reduce the impact on the load caused by the interruption of the electric circuit after the operation test is conducted and the electric circuit is interrupted until the original state is restored.

図1Aは、本開示の一実施形態に係る開閉器(第1開閉器)の概略構成を示す説明図である。図1Bは、同上の開閉器(第2開閉器)の概略構成を示す説明図である。FIG. 1A is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a switch (first switch) according to an embodiment of the present disclosure. FIG. 1B is an explanatory diagram showing a schematic configuration of the same switch (second switch). 図2は、同上の開閉器が用いられる分電盤の概略構成を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a distribution board using the same switch. 図3は、同上の開閉器の動作を説明するためのフローチャートである。FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of the same switch. 図4Aは、本開示の一実施形態の第1変形例に係る開閉器(第1開閉器)の概略構成を示す説明図である。図4Bは、同上の開閉器(第2開閉器)の概略構成を示す説明図である。FIG. 4A is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a switch (first switch) according to the first modification of the embodiment of the present disclosure. FIG. 4B is an explanatory diagram showing a schematic configuration of the same switch (second switch). 図5は、本開示の一実施形態の第2変形例に係る開閉器が用いられる分電盤の概略構成を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a distribution board using a switch according to the second modification of the embodiment of the present disclosure.

(1)概要
本実施形態の開閉器2は、図1A~図2に示すように、電源P1と負荷B1とを繋ぐ電路L1を遮断する機能を有している。本開示でいう「電源」は、系統電源(商用電源)であるが、例えば太陽光発電装置又は蓄電池などの分散型電源であってもよい。本実施形態では、開閉器2は、分電盤1に設けられる主幹ブレーカである。開閉器2は、図1A及び図1Bに示すように、引き外し部24と、処理部22と、を備えている。
(1) Overview As shown in FIGS. 1A to 2, the switch 2 of the present embodiment has a function of cutting off the electric circuit L1 connecting the power source P1 and the load B1. The “power source” referred to in the present disclosure is a system power source (commercial power source), but may be a distributed power source such as a photovoltaic power generation device or a storage battery, for example. In this embodiment, the switch 2 is a main breaker provided in the distribution board 1 . The switch 2 includes a tripping section 24 and a processing section 22, as shown in FIGS. 1A and 1B.

引き外し部24は、電源と負荷B1とを繋ぐ電路L1に電気的に接続される接点C1を、閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。引き外し動作は、開閉器2に備え付けのハンドルを操作した場合、及び電路L1が正常状態とは異なる異常状態となった場合に行われ得る。本実施形態では、異常状態は、漏電が発生した状態と、中性線L13が欠相した状態と、を含み得る。前者の状態は、例えば電路L1に電気的に接続されている負荷B1が故障若しくは短絡した場合、又は絶縁体が劣化した場合などに生じ得る。後者の状態は、分電盤1への配電方式が単相三線式であって、例えば中性線L13が劣化により断線した場合、又は中性線L13の結線が不良であった場合などに生じ得る。このような異常状態が発生した場合に、引き外し部24により引き外し動作が行われることで、電路L1が遮断され、電路L1に電気的に接続された負荷B1が保護される。 The tripping unit 24 performs a tripping operation to mechanically shift the contact C1 electrically connected to the electric line L1 connecting the power supply and the load B1 from the closed state to the open state. The tripping operation can be performed when a handle attached to the switch 2 is operated, and when the electric line L1 is in an abnormal state different from the normal state. In the present embodiment, the abnormal state may include a state in which an electrical leak has occurred and a state in which the neutral line L13 is open. The former state can occur, for example, when the load B1 electrically connected to the electric line L1 fails or short-circuits, or when the insulator deteriorates. The latter state occurs when the power distribution system to the distribution board 1 is a single-phase three-wire system and, for example, the neutral line L13 is disconnected due to deterioration, or the connection of the neutral line L13 is defective. obtain. When such an abnormal state occurs, a tripping operation is performed by the tripping unit 24 to cut off the electric circuit L1 and protect the load B1 electrically connected to the electric circuit L1.

処理部22は、引き外し動作を含む電路L1を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、電源P1と負荷B1との間を、接点C1を介さないバイパス経路L2で繋いだ状態で、動作試験を実行する。動作試験は、遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。本開示でいう「トリガ」は、開閉器2に備え付けの試験用釦20が作業者により押されることである。また、本実施形態では、処理部22は、電源P1と負荷B1との間を、予めバイパス経路L2で繋いだ状態で、動作試験を実行する。つまり、本実施形態では、処理部22が、電源P1と負荷B1との間を電路L1で繋ぐ状態からバイパス経路L2で繋ぐ状態に切り替えているわけではない。もちろん、後述する「(4.1)第1変形例」で説明するように、処理部22が、電源P1と負荷B1との間を電路L1で繋ぐ状態からバイパス経路L2で繋ぐ状態に切り替えてもよい。 When the processing unit 22 receives a trigger for performing a disconnection operation for disconnecting the electric circuit L1 including a tripping operation, the operation test is performed in a state in which the power supply P1 and the load B1 are connected by the bypass route L2 that does not pass through the contact C1. to run. The operation test tests the operation of at least part of the breaking operation. The “trigger” referred to in the present disclosure means that the test button 20 attached to the switch 2 is pushed by the operator. Further, in the present embodiment, the processing unit 22 executes the operation test in a state in which the power source P1 and the load B1 are connected in advance by the bypass path L2. In other words, in the present embodiment, the processing unit 22 does not switch the state of connecting the power supply P1 and the load B1 from the state of connecting the electric line L1 to the state of connecting the power source P1 and the load B1 by the bypass route L2. Of course, as described later in "(4.1) First Modification", the processing unit 22 switches from the state in which the power source P1 and the load B1 are connected by the electric line L1 to the state in which the bypass line L2 is connected. good too.

上述のように、本実施形態では、電源P1と負荷B1との間を、接点C1を介さないバイパス経路L2で繋いだ状態で動作試験が行われる。このため、本実施形態では、接点C1が開いて電路L1が遮断されても、バイパス経路L2を介して電源P1から負荷B1への電力供給を続けることが可能である。したがって、本実施形態では、動作試験を行って電路L1を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路L1の遮断による負荷B1への影響を低減することができるという利点がある。 As described above, in this embodiment, the operation test is performed with the power source P1 and the load B1 connected by the bypass path L2 that does not pass through the contact C1. Therefore, in this embodiment, even if the contact C1 is opened and the electric path L1 is cut off, the power supply P1 can continue to supply power to the load B1 through the bypass path L2. Therefore, in the present embodiment, there is an advantage that the impact on the load B1 due to the interruption of the electric line L1 can be reduced during the period from when the operation test is performed and the electric line L1 is cut off until the original state is restored. .

(2)詳細
以下、本実施形態の開閉器2について図1A~図2を用いて詳細に説明する。以下の説明では、特に断りがない限り、図2の上下左右を分電盤1の上下左右と規定する。
(2) Details Hereinafter, the switch 2 of this embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 1A to 2. FIG. In the following description, unless otherwise specified, the top, bottom, left, and right of FIG. 2 are defined as the top, bottom, left, and right of the distribution board 1 .

(2.1)分電盤
まず、分電盤1について図2を用いて説明する。分電盤1は、図2に示すように、開閉器(主幹ブレーカ)2と、複数の分岐ブレーカ3と、計測アダプタ4と、検知部5と、これらを収容するキャビネット10と、を備えている。本実施形態では、分電盤1は、一例として戸建住宅に設置される場合を例示するが、この例に限らない。つまり、分電盤1は、設置可能な施設であれば、例えば集合住宅の各住戸、事務所、店舗、工場、及び病院等の施設に設置されてもよい。
(2.1) Distribution Board First, the distribution board 1 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2, the distribution board 1 includes a switch (master breaker) 2, a plurality of branch breakers 3, a measurement adapter 4, a detection unit 5, and a cabinet 10 that accommodates them. there is In this embodiment, the distribution board 1 is installed in a detached house as an example, but it is not limited to this example. In other words, the distribution board 1 may be installed in facilities such as each dwelling unit of collective housing, offices, shops, factories, hospitals, etc., as long as the facilities are installable.

開閉器2は、キャビネット10の内部に配置されている。開閉器2は、一次側端子201と、二次側端子202とを備えている。本実施形態の分電盤1では配電方式として単相三線式を想定しているので、開閉器2の一次側端子201には、電源P1(系統電源(商用電源))の単相三線式の引き込み線が電気的に接続される。また、開閉器2の二次側端子202には、第1電圧極(L1相)の導電バー、第2電圧極(L2相)の導電バー、及び中性極(N相)の導電バーが接続されている。 The switch 2 is arranged inside the cabinet 10 . The switch 2 has a primary side terminal 201 and a secondary side terminal 202 . In the distribution board 1 of the present embodiment, a single-phase three-wire system is assumed as a power distribution system. The service lines are electrically connected. In addition, the secondary side terminal 202 of the switch 2 has a conductive bar of the first voltage pole (L1 phase), a conductive bar of the second voltage pole (L2 phase), and a conductive bar of the neutral pole (N phase). It is connected.

複数の分岐ブレーカ3は、中性極の導電バーの上側と下側とに分かれて、それぞれ複数個ずつ左右方向に並ぶように配置されている。各分岐ブレーカ3は、一対の一次側端子と、一対の二次側端子とを備えている。分岐ブレーカ3には100V用と200V用がある。100V用の分岐ブレーカ3が備える一対の一次側端子は、第1電圧極の導電バー及び第2電圧極の導電バーのうちの一方と、中性極の導電バーとにそれぞれ電気的に接続される。200V用の分岐ブレーカ3が備える一対の一次側端子は、第1電圧極の導電バーと、第2電圧極の導電バーとにそれぞれ電気的に接続される。また、分岐ブレーカ3の二次側端子には、対応する配線が電気的に接続される。各分岐ブレーカ3の二次側端子に接続された配線には、例えば照明器具や空調機器、テレビ受像器、給湯設備等の機器、又は壁スイッチ等の配線器具が負荷B1として1つ以上接続される。 A plurality of branch breakers 3 are divided into upper and lower sides of the conductive bar of the neutral pole, and a plurality of each are arranged so as to line up in the left-right direction. Each branch breaker 3 has a pair of primary side terminals and a pair of secondary side terminals. The branch breaker 3 is available for 100V and 200V. A pair of primary side terminals included in the branch breaker 3 for 100V are electrically connected to one of the conductive bar of the first voltage pole and the conductive bar of the second voltage pole and the conductive bar of the neutral pole, respectively. be. A pair of primary side terminals included in the branch breaker 3 for 200V are electrically connected to the conductive bar of the first voltage pole and the conductive bar of the second voltage pole, respectively. Corresponding wiring is electrically connected to the secondary side terminal of the branch breaker 3 . The wiring connected to the secondary terminal of each branch breaker 3 is connected to one or more loads B1, for example, devices such as lighting fixtures, air conditioners, television receivers, hot water supply equipment, or wiring devices such as wall switches. be.

検知部5は、複数の分岐ブレーカ3の各々に接続された負荷B1に流れる電流を検知するように構成されている。検知部5は、例えば、基板と、複数のコイル51と、を有している。基板は、左右方向に長い板状である。基板には、複数の孔が形成されている。複数の孔には、導電バーから延びて分岐ブレーカ3の一次側端子に接続される端子がそれぞれ挿入される。コイル51は、例えばロゴスキコイルであり、基板の孔の周りに形成されている。本実施形態では、検知部5は、複数のコイル51の各々に誘起される電流を計測することにより、複数の分岐ブレーカ3の各々に接続された負荷B1を流れる電流を検知する。 The detector 5 is configured to detect the current flowing through the load B1 connected to each of the multiple branch breakers 3 . The detector 5 has, for example, a substrate and a plurality of coils 51 . The substrate has a plate shape elongated in the left-right direction. A plurality of holes are formed in the substrate. Terminals extending from the conductive bar and connected to the primary terminals of the branch breaker 3 are inserted into the plurality of holes. The coil 51 is, for example, a Rogowski coil and is formed around the hole in the substrate. In this embodiment, the detector 5 detects the current flowing through the load B1 connected to each of the branch breakers 3 by measuring the current induced in each of the multiple coils 51 .

計測アダプタ4は、キャビネット10の内部に配置されている。計測アダプタ4は、分電盤1内の開閉器2及び分岐ブレーカ3の少なくとも一方を通過する電力を計測する計測機能、及びキャビネット10の外部に配置された機器と通信する通信機能を有している。 The measurement adapter 4 is arranged inside the cabinet 10 . The measurement adapter 4 has a measurement function of measuring the power passing through at least one of the switch 2 and the branch breaker 3 in the distribution board 1, and a communication function of communicating with devices arranged outside the cabinet 10. there is

より詳しくは、本実施形態の計測アダプタ4は、開閉器2に流れる電流を計測する主幹検知部及び検知部5と、電気的に接続されている。ここに、主幹検知部は、例えばカレントトランス(CT)からなる電流センサを備えている。そして、計測アダプタ4は、検知部5及び主幹検知部が計測した電流の値のそれぞれを電力値に変換する機能(計測機能)を有している。 More specifically, the measurement adapter 4 of the present embodiment is electrically connected to the main detector and the detector 5 that measure the current flowing through the switch 2 . Here, the master detection unit has a current sensor, for example, a current transformer (CT). The measurement adapter 4 has a function (measurement function) of converting each of the current values measured by the detection unit 5 and the master detection unit into power values.

また、計測アダプタ4は、HEMS(Home Energy Management System)に対応する機器(以下、HEMS対応機器という)の制御を行うように構成されたコントローラとの間で通信する機能(通信機能)を有している。コントローラは、キャビネット10の外部に配置された機器である。ここに、HEMS対応機器は、例えばスマートメータ、太陽光発電装置、蓄電装置、燃料電池、電気自動車、エアコン、照明器具、給湯装置、冷蔵庫、又はテレビ受像機等を含む。なお、HEMS対応機器は、これらの機器に限定されない。 The measurement adapter 4 also has a function (communication function) to communicate with a controller configured to control a device compatible with HEMS (Home Energy Management System) (hereinafter referred to as HEMS compatible device). ing. A controller is a device arranged outside the cabinet 10 . Here, HEMS-compatible devices include, for example, smart meters, solar power generation devices, power storage devices, fuel cells, electric vehicles, air conditioners, lighting fixtures, water heaters, refrigerators, television receivers, and the like. Note that HEMS-compatible devices are not limited to these devices.

計測アダプタ4とコントローラとの間の通信方式は、例えば920MHz帯の特定小電力無線局(免許を要しない無線局)、Wi-Fi(登録商標)、Bluetooth(登録商標)等の通信規格に準拠した、電波を媒体とした無線通信であってもよい。また、計測アダプタ4とコントローラとの間の通信方式は、有線LAN(Local Area Network)等の通信規格に準拠した有線通信であってもよい。また、計測アダプタ4とコントローラとの間の通信における通信プロトコルは、例えばEthernet(登録商標)、ECHONET Lite(登録商標)等を用いてもよい。 The communication method between the measurement adapter 4 and the controller conforms to communication standards such as a 920 MHz band specific low-power radio station (radio station that does not require a license), Wi-Fi (registered trademark), and Bluetooth (registered trademark). Alternatively, wireless communication using radio waves as a medium may be used. Also, the communication method between the measurement adapter 4 and the controller may be wired communication conforming to a communication standard such as a wired LAN (Local Area Network). As a communication protocol for communication between the measurement adapter 4 and the controller, for example, Ethernet (registered trademark), ECHONET Lite (registered trademark), or the like may be used.

本実施形態の分電盤1では、計測アダプタ4は、検知部5が計測した複数の負荷B1の各々の電流値を検知部5から受け取る。さらに、計測アダプタ4は、主幹検知部が計測した電流値を主幹検知部から受け取る。計測アダプタ4は、検知部5及び主幹検知部が計測した電流値のそれぞれを電力値(瞬時電力値)に変換する。計測アダプタ4は、収集した瞬時電力のデータを所定時間に亘って積算した電力量のデータを演算する機能を有している。したがって、計測アダプタ4と通信するコントローラは、複数の負荷B1の各々での瞬時電力や電力量に基づいてHEMS対応機器を制御することができる。 In the distribution board 1 of the present embodiment, the measurement adapter 4 receives the current value of each of the multiple loads B1 measured by the detection unit 5 from the detection unit 5 . Furthermore, the measurement adapter 4 receives the current value measured by the master detector from the master detector. The measurement adapter 4 converts each of the current values measured by the detection unit 5 and the master detection unit into power values (instantaneous power values). The measurement adapter 4 has a function of calculating power amount data by accumulating collected instantaneous power data over a predetermined period of time. Therefore, the controller that communicates with the measurement adapter 4 can control the HEMS-compatible device based on the instantaneous power and power amount of each of the multiple loads B1.

また、計測アダプタ4は、太陽光発電装置、蓄電装置、及び電気自動車に電気的に接続される電力変換装置(パワーコンディショナ)のうちの少なくとも1つとの間で通信する機能(通信機能)を有している。なお、電力変換装置は、分電盤1から電気自動車への単方向充電を行うための電力変換の他、双方向に電力変換を行うことで電気自動車の蓄電池の充電と放電との両方に用いられる構成であってもよい。計測アダプタ4と太陽光発電装置、蓄電装置、及び電力変換装置との間の通信方式は、例えばRS-485等の通信規格に準拠した有線通信である。 In addition, the measurement adapter 4 has a function (communication function) of communicating with at least one of a solar power generation device, a power storage device, and a power conversion device (power conditioner) electrically connected to the electric vehicle. have. In addition to power conversion for unidirectional charging from the distribution board 1 to the electric vehicle, the power converter is used for both charging and discharging of the storage battery of the electric vehicle by performing bidirectional power conversion. The configuration may be such that The communication method between the measurement adapter 4, the solar power generation device, the power storage device, and the power conversion device is wired communication conforming to a communication standard such as RS-485, for example.

(2.2)開閉器
次に、開閉器2について図1A及び図1Bを用いて説明する。開閉器2は、図1A及び図1Bに示すように、試験用釦20(図2参照)と、伝達回路21と、処理部22と、駆動回路23と、引き外し部24と、通信部25と、電源回路26と、を備えている。また、開閉器2は、処理部22と駆動回路23との間の電路を開閉するスイッチSW0を備えている。スイッチSW0は、a接点(常開接点)であって、例えばサイリスタ等の半導体素子である。
(2.2) Switch Next, the switch 2 will be described with reference to FIGS. 1A and 1B. As shown in FIGS. 1A and 1B, the switch 2 includes a test button 20 (see FIG. 2), a transmission circuit 21, a processing section 22, a drive circuit 23, a tripping section 24, and a communication section 25. , and a power supply circuit 26 . The switch 2 also includes a switch SW<b>0 that opens and closes an electric circuit between the processing unit 22 and the drive circuit 23 . The switch SW0 is an a-contact (normally open contact) and is a semiconductor element such as a thyristor.

開閉器2は、漏電が発生すると電路L1を遮断させる機能(第1機能)を有する場合、図1Aに示すように、零相変流器(センサ)27と、スイッチSW1と、抵抗器R0と、をさらに備えている。また、開閉器2は、中性線L13の欠相が発生すると電路L1を遮断させる機能(第2機能)を有する場合、図1Bに示すように、リード線28と、分圧回路29と、をさらに備えている。 When the switch 2 has a function (first function) of interrupting the electric circuit L1 when an electric leakage occurs, as shown in FIG. , is further provided. Further, when the switch 2 has a function (second function) to cut off the electric circuit L1 when a phase loss of the neutral line L13 occurs, as shown in FIG. 1B, the lead wire 28, the voltage dividing circuit 29, is further provided.

以下の説明では、図1Aに示す開閉器2と図1Bに示す開閉器2とを区別する場合、第1機能を有する開閉器2を「第1開閉器2A」、第2機能を有する開閉器2を「第2開閉器2B」という。 In the following description, when distinguishing between the switch 2 shown in FIG. 1A and the switch 2 shown in FIG. 2 is called "second switch 2B".

伝達回路21は、アナログ回路(Analog Front End)であって、アンプと、フィルタと、A/Dコンバータと、を有している。アンプは、伝達回路21に入力されたアナログ信号(電圧信号)を増幅する。フィルタは、伝達回路21に入力されたアナログ信号に含まれるノイズ成分を除去する。A/Dコンバータは、伝達回路21に入力されたアナログ信号をディジタル信号に変換し、変換したディジタル信号を処理部22へ出力する。 The transmission circuit 21 is an analog circuit (Analog Front End) and has an amplifier, a filter, and an A/D converter. The amplifier amplifies the analog signal (voltage signal) input to the transmission circuit 21 . The filter removes noise components contained in the analog signal input to the transmission circuit 21 . The A/D converter converts the analog signal input to the transmission circuit 21 into a digital signal and outputs the converted digital signal to the processing unit 22 .

処理部22は、プロセッサ及びメモリを有するコンピュータシステムを有している。そして、プロセッサが適宜のプログラムを実行することにより、コンピュータシステムが処理部22として機能する。プログラムは、メモリに予め記録されていてもよいし、インターネット等の電気通信回線を通じて、又はメモリカード等の非一時的な記録媒体に記録されて提供されてもよい。 The processing unit 22 has a computer system with a processor and memory. The computer system functions as the processing unit 22 by the processor executing appropriate programs. The program may be prerecorded in a memory, or may be provided by being recorded in a non-temporary recording medium such as a memory card or through an electric communication line such as the Internet.

処理部22は、電路L1の状態が異常状態となった場合に引き外し部24に引き外し動作を行わせる遮断処理を実行する機能を有している。また、処理部22は、試験用釦20が押された場合に、電源P1と負荷B1との間を、接点C1を介さないバイパス経路L2で繋いだ状態で、引き外し部24に引き外し動作を行わせる動作試験を実行する機能を有している。処理部22は、遮断処理及び動作試験のいずれを実行する場合においても、伝達回路21の出力するディジタル信号を監視している。 The processing unit 22 has a function of executing a cutoff process that causes the tripping unit 24 to perform a tripping operation when the state of the electric line L1 becomes abnormal. Further, when the test button 20 is pressed, the processing unit 22 causes the tripping unit 24 to perform a tripping operation while the power source P1 and the load B1 are connected by the bypass path L2 that does not pass through the contact C1. It has a function to execute an operation test to perform The processing unit 22 monitors the digital signal output from the transmission circuit 21 when executing any of the cut-off process and the operation test.

遮断処理及び動作試験の各々において、処理部22は、伝達回路21の出力するディジタル信号の信号値(電圧値)が閾値を上回る(以下、「第1条件を満たす」という)と、スイッチSW0をオフからオンに切り替えることにより、駆動回路23を動作させる。そして、駆動回路23が動作することにより、引き外し部24が駆動し、引き外し動作が実行される。 In each of the blocking process and the operation test, the processing unit 22 turns the switch SW0 on when the signal value (voltage value) of the digital signal output from the transmission circuit 21 exceeds the threshold value (hereinafter referred to as "satisfying the first condition"). By switching from off to on, the driving circuit 23 is operated. By operating the drive circuit 23, the tripping unit 24 is driven and the tripping operation is performed.

本実施形態では、処理部22は、例えば試験用釦20が押されたか否かを監視し、第1条件を満たし、かつ、試験用釦20が押されていれば(以下、「第2条件を満たす」という)、動作試験を実行する。つまり、処理部22は、第1条件を満たしていても、第2条件を満たしていない場合、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定せずに、引き外し部24に引き外し動作を行わせる。一方、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たしている場合、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定し、繋がっていれば引き外し部24に引き外し動作を行わせる。遮断処理については、後述する「(3.1)遮断処理」にて詳細に説明する。また、動作試験については、後述する「(3.2)動作試験」にて詳細に説明する。 In this embodiment, the processing unit 22 monitors, for example, whether or not the test button 20 is pressed, and if the first condition is satisfied and the test button 20 is pressed (hereinafter referred to as “second condition ), and perform an operation test. That is, if the first condition is satisfied but the second condition is not satisfied, the processing unit 22 does not determine whether or not the power source P1 and the load B1 are connected to the bypass route L2. The removing part 24 is made to perform a tripping operation. On the other hand, when both the first condition and the second condition are satisfied, the processing unit 22 determines whether or not the power source P1 and the load B1 are connected to the bypass route L2. The part 24 is made to perform a tripping operation. The blocking process will be described in detail later in "(3.1) Blocking process". Further, the operation test will be described in detail in "(3.2) Operation test" described later.

駆動回路23は、コイルを含む電磁石装置を有している。駆動回路23は、スイッチSW0がオフからオンに切り替わった際に、コイルに電流が流れるように構成されている。そして、駆動回路23は、コイルに電流が流れることで電磁石装置が発生する吸引力により、引き外し部24のラッチ部材(後述する)を動かすように構成されている。 The drive circuit 23 has an electromagnet device including a coil. The drive circuit 23 is configured such that current flows through the coil when the switch SW0 is switched from off to on. The driving circuit 23 is configured to move a latch member (described later) of the tripping portion 24 by an attractive force generated by the electromagnet device when current flows through the coil.

引き外し部24は、接点C1を開閉する開閉機構と、接点C1が閉状態を維持するように開閉機構を機械的に制御するラッチ部材と、を有している。開閉機構は、接点C1が閉状態から開状態へ向かう向きに、接点C1を付勢している。引き外し部24は、駆動回路23によりラッチ部材を動かされ、ラッチ部材による開閉機構のラッチ状態を解除されると、開閉機構により接点C1が閉状態から開状態へと切り替えられ、電路L1を遮断する。また、引き外し部24は、作業者が開閉器2に備え付けのハンドルを操作した場合にも、ラッチ部材を動かされ、開閉機構により接点C1が閉状態から開状態へと切り替えられて電路L1を遮断する。なお、接点C1が開状態にある場合に、作業者が開閉器2に備え付けのハンドルを操作(上記の操作とは逆の操作)することで、開閉機構は元の状態(つまり、ラッチ部材により接点C1が閉状態を維持するようにラッチされる状態)へ復帰する。 The tripping unit 24 has an opening/closing mechanism that opens and closes the contact C1, and a latch member that mechanically controls the opening/closing mechanism so that the contact C1 is kept closed. The opening/closing mechanism biases the contact C1 in the direction from the closed state to the open state. In the tripping part 24, when the latch member is moved by the drive circuit 23 and the latched state of the opening/closing mechanism by the latch member is released, the contact C1 is switched from the closed state to the open state by the opening/closing mechanism, and the electric circuit L1 is cut off. do. Also, when the operator operates the handle provided on the switch 2, the tripping part 24 also moves the latch member, and the contact C1 is switched from the closed state to the open state by the opening/closing mechanism to open the electric line L1. Cut off. When the contact C1 is in the open state, the operator operates the handle provided on the switch 2 (reverse operation to the above operation), thereby restoring the opening/closing mechanism to the original state (that is, by the latch member). contact C1 is latched to maintain the closed state).

通信部25は、計測アダプタ4と通信する機能を有している。通信部25と計測アダプタ4との通信方式は、例えば有線LAN(Local Area Network)等の通信規格に準拠した有線通信である。通信部25は、計測アダプタ4と通信することにより、計測アダプタ4が有する情報(例えば、電力値など)を取得する。また、通信部25は、計測アダプタ4を中継器としてコントローラと通信することにより、コントローラが有する情報(例えば、HEMS対応機器の使用状況など)を取得する。 The communication unit 25 has a function of communicating with the measurement adapter 4 . The communication method between the communication unit 25 and the measurement adapter 4 is wired communication conforming to a communication standard such as a wired LAN (Local Area Network). The communication unit 25 acquires information (eg, power value, etc.) possessed by the measurement adapter 4 by communicating with the measurement adapter 4 . In addition, the communication unit 25 acquires information held by the controller (for example, the usage status of the HEMS-compatible device, etc.) by communicating with the controller using the measurement adapter 4 as a relay.

電源回路26は、伝達回路21、処理部22、駆動回路23、及び通信部25に対して動作電力を供給する。電源回路26は、例えばAC/DCコンバータ等の適宜の回路により、開閉器2に電気的に接続されている引き込み線を介して電源P1から供給される電力を所定の電力に変換することで、動作電力を生成する。 The power supply circuit 26 supplies operating power to the transmission circuit 21 , the processing unit 22 , the driving circuit 23 and the communication unit 25 . The power supply circuit 26 converts the power supplied from the power supply P1 through a lead-in line electrically connected to the switch 2 into a predetermined power using an appropriate circuit such as an AC/DC converter. Generate operating power.

第1開閉器2Aでは、零相変流器27が電路L1に設けられている。本実施形態では、第1電圧極に電気的に接続される第1電圧線L11、第2電圧極に電気的に接続される第2電圧線L12、及び中性極に電気的に接続される中性線L13のうち、第2電圧線L12及び中性線L13が零相変流器27を貫通している。零相変流器27に巻かれた二次巻線の両端は、伝達回路21の一対の入力端に電気的に接続されている。したがって、零相変流器27の二次巻線に誘導された電圧が、アナログ信号として伝達回路21に入力される。 In the first switch 2A, a zero-phase current transformer 27 is provided in the electric line L1. In this embodiment, the first voltage line L11 electrically connected to the first voltage pole, the second voltage line L12 electrically connected to the second voltage pole, and the neutral pole are electrically connected to The second voltage line L12 and the neutral line L13 of the neutral line L13 pass through the zero-phase current transformer 27 . Both ends of the secondary winding wound around the zero-phase current transformer 27 are electrically connected to a pair of input terminals of the transmission circuit 21 . Therefore, the voltage induced in the secondary winding of zero-phase current transformer 27 is input to transmission circuit 21 as an analog signal.

また、第1開閉器2Aでは、第2電圧線L12と中性線L13とが、スイッチSW1及び抵抗器R0の直列回路を介して電気的に接続されている。スイッチSW1は、a接点(常開接点)であって、作業者が試験用釦20を押すことによりオフからオンへと切り替わるように構成されている。 In addition, in the first switch 2A, the second voltage line L12 and the neutral line L13 are electrically connected via a series circuit of the switch SW1 and the resistor R0. The switch SW1 is an a-contact (normally open contact), and is configured to be switched from off to on when the operator presses the test button 20 .

第2開閉器2Bでは、中性線L13に電気的に接続されたリード線28の一端が、伝達回路21の一対の入力端のうちの第1端に電気的に接続されている。また、第1電圧線L11と第2電圧線L12との間に、抵抗器R1,R2の直列回路からなる分圧回路29が電気的に接続されている。抵抗器R1の抵抗値と、抵抗器R2の抵抗値とは、同じである。抵抗器R1,R2の接続点は、スイッチSW2を介して伝達回路21の一対の入力端のうちの第2端に電気的に接続されている。 In the second switch 2B, one end of the lead wire 28 electrically connected to the neutral line L13 is electrically connected to the first end of the pair of input ends of the transmission circuit 21. As shown in FIG. A voltage dividing circuit 29 formed of a series circuit of resistors R1 and R2 is electrically connected between the first voltage line L11 and the second voltage line L12. The resistance value of resistor R1 and the resistance value of resistor R2 are the same. A connection point between the resistors R1 and R2 is electrically connected to the second terminal of the pair of input terminals of the transmission circuit 21 via the switch SW2.

スイッチSW2は、c接点であって、抵抗器R1,R2の接続点と伝達回路21の入力端(第2端)とを繋ぐ第1状態と、処理部22に電気的に接続された電線L4と伝達回路21の入力端(第2端)とを繋ぐ第2状態と、をとり得る。スイッチSW2は、電路L1が正常状態にある場合、第1状態である。また、スイッチSW2は、試験用釦20を押された場合、処理部22に制御されることにより、第1状態から第2状態に切り替わる。 The switch SW2 is a c-contact, and is in a first state connecting the connection point of the resistors R1 and R2 and the input end (second end) of the transmission circuit 21, and the electric wire L4 electrically connected to the processing unit 22. and the input end (second end) of the transmission circuit 21 . The switch SW2 is in the first state when the electric line L1 is in a normal state. Moreover, when the test button 20 is pressed, the switch SW2 is switched from the first state to the second state by being controlled by the processing section 22 .

本実施形態では、電源P1と負荷B1との間には、予備ブレーカD1が開閉器2と並列に電気的に接続されている。予備ブレーカD1は、例えば主幹ブレーカである。予備ブレーカD1の一次側端子は、開閉器2の一次側端子201に電気的に接続されている。また、予備ブレーカD1の二次側端子は、開閉器2の二次側端子202に電気的に接続されている。予備ブレーカD1は、例えば作業者が予備ブレーカD1に備え付けのハンドルを操作することにより、予備ブレーカD1を通る予備電路L2を導通させる導通状態と、予備電路L2を遮断させる遮断状態と、を切り替えるように構成されている。予備電路L2は、電路L1とは異なり、開閉器2の接点C1を介さずに、電源P1と負荷B1との間を繋ぐ。つまり、予備電路L2は、接点C1を介さないバイパス経路L2である。以下、特に断りの無い限り、「予備電路」を「バイパス経路」という。本実施形態では、電路L1及び予備電路(バイパス経路)L2は、同一の電源P1に電気的に接続されている。 In this embodiment, a spare breaker D1 is electrically connected in parallel with the switch 2 between the power source P1 and the load B1. The spare breaker D1 is, for example, a main breaker. A primary side terminal of the spare breaker D1 is electrically connected to a primary side terminal 201 of the switch 2 . A secondary side terminal of the spare breaker D1 is electrically connected to the secondary side terminal 202 of the switch 2 . The backup breaker D1 is switched between a conductive state in which the backup circuit L2 passing through the backup breaker D1 is conductive and a cut-off state in which the backup circuit L2 is cut off, for example, by an operator operating a handle attached to the backup breaker D1. is configured to The backup electric line L2 connects the power supply P1 and the load B1 without going through the contact C1 of the switch 2 unlike the electric line L1. That is, the backup electric path L2 is a bypass path L2 that does not pass through the contact C1. Hereinafter, unless otherwise specified, the “standby circuit” will be referred to as the “bypass route”. In this embodiment, the electric line L1 and the backup electric line (bypass route) L2 are electrically connected to the same power source P1.

本実施形態では、後述する「(3.2)動作試験」で述べるように、予備ブレーカD1は、動作試験を行う場合に用いられる。したがって、予備ブレーカD1は、動作試験を行わない場合においては遮断状態にある。 In the present embodiment, as described later in "(3.2) Operation test", the spare breaker D1 is used when performing an operation test. Therefore, the spare breaker D1 is in a cut-off state when the operation test is not performed.

(3)動作
以下、本実施形態の開閉器2の動作について説明する。本実施形態では、上述のように開閉器2は第1開閉器2A又は第2開閉器2Bであるので、以下では第1開閉器2A及び第2開閉器2Bの各々の動作について説明する。
(3) Operation The operation of the switch 2 of this embodiment will be described below. In this embodiment, as described above, the switch 2 is the first switch 2A or the second switch 2B, so the operation of each of the first switch 2A and the second switch 2B will be described below.

(3.1)遮断処理
まず、第1開閉器2Aにおける処理部22の遮断処理について図1Aを用いて説明する。伝達回路21の一対の入力端には、零相変流器27の二次巻線の誘導電圧が入力される。ここで、電路L1に漏電が発生していない状態では、零相変流器27を貫通する2本の電線(ここでは、第2電圧線L12及び中性線L13)を流れる電流に差が生じないため、零相変流器27の二次巻線には誘導電圧が発生しない。したがって、電路L1に漏電が発生していない状態では、処理部22には閾値を上回る信号値(電圧値)のディジタル信号が入力されないため、処理部22は遮断処理を実行しない。
(3.1) Shutoff Processing First, the shutoff processing of the processing unit 22 in the first switch 2A will be described with reference to FIG. 1A. A pair of input terminals of the transmission circuit 21 receives the induced voltage of the secondary winding of the zero-phase current transformer 27 . Here, when there is no leakage in the electric line L1, there is a difference between the currents flowing through the two electric wires (here, the second voltage line L12 and the neutral line L13) passing through the zero-phase current transformer 27. Therefore, no induced voltage is generated in the secondary winding of the zero-phase current transformer 27 . Therefore, when no electric leakage occurs in the electric line L1, a digital signal having a signal value (voltage value) exceeding the threshold value is not input to the processing unit 22, so the processing unit 22 does not perform cutoff processing.

一方、電路L1の一部にて漏電が発生すると、零相変流器27を貫通する2本の電線を流れる電流に差が生じる。この電流の差分に応じて、零相変流器27の二次巻線に誘導電圧が発生し、誘導電圧がアナログ信号として伝達回路21に入力される。伝達回路21に入力されたアナログ信号は、伝達回路21にて処理された後にディジタル信号に変換され、変換されたディジタル信号が処理部22に入力される。 On the other hand, when an electric leakage occurs in part of the electric line L1, a difference occurs between the currents flowing through the two electric wires passing through the zero-phase current transformer 27 . An induced voltage is generated in the secondary winding of the zero-phase current transformer 27 according to this current difference, and the induced voltage is input to the transmission circuit 21 as an analog signal. The analog signal input to the transmission circuit 21 is converted into a digital signal after being processed by the transmission circuit 21 , and the converted digital signal is input to the processing section 22 .

処理部22は、入力されたディジタル信号の信号値(電圧値)が閾値を上回る(第1条件を満たす)と、試験用釦20が押されているか否か(第2条件を満たすか否か)を判定する。ここでは、試験用釦20が押されていない。したがって、処理部22は、第1条件を満たすが、第2条件を満たさないので、遮断処理を実行する。つまり、処理部22は、スイッチSW0をオフからオンに切り替えることにより、駆動回路23を動作させる。そして、駆動回路23が動作することにより、引き外し部24が駆動し、引き外し動作が実行される。このようにして、第1開閉器2Aでは、電路L1にて漏電が発生すると、引き外し部24により引き外し動作が実行されることで、電路L1が遮断される。 When the signal value (voltage value) of the input digital signal exceeds the threshold value (the first condition is satisfied), the processing unit 22 determines whether the test button 20 is pressed (whether the second condition is satisfied). ) is determined. Here, the test button 20 is not pressed. Therefore, although the processing unit 22 satisfies the first condition, it does not satisfy the second condition, so it executes the blocking process. That is, the processing unit 22 operates the drive circuit 23 by switching the switch SW0 from off to on. By operating the drive circuit 23, the tripping unit 24 is driven and the tripping operation is performed. In this way, in the first switch 2A, when a short circuit occurs in the electric circuit L1, the tripping operation is performed by the tripping unit 24, whereby the electric circuit L1 is cut off.

次に、第2開閉器2Bにおける処理部22の遮断処理について図1Bを用いて説明する。伝達回路21の一対の入力端には、抵抗器R1,R2の接続点の電位(つまり、第1電圧極と第2電圧極との中間電位)と、中性線L13の電位との差分の電圧が入力されている。ここで、中性線L13の欠相が発生していない状態では、抵抗器R1,R2の接続点の電位と、中性線L13の電位との差分の電圧(以下、「差分電圧」という)は、殆ど零である。したがって、中性線L13の欠相が発生していない状態では、処理部22には閾値を上回る信号値(電圧値)のディジタル信号が入力されないため、処理部22は遮断処理を実行しない。 Next, the interruption processing of the processing unit 22 in the second switch 2B will be described with reference to FIG. 1B. A pair of input terminals of the transmission circuit 21 have a difference between the potential at the connection point of the resistors R1 and R2 (that is, the intermediate potential between the first voltage pole and the second voltage pole) and the potential of the neutral line L13. Voltage is being input. Here, in a state where no open phase of the neutral wire L13 occurs, the voltage of the difference between the potential of the connection point of the resistors R1 and R2 and the potential of the neutral wire L13 (hereinafter referred to as "differential voltage") is almost zero. Therefore, in a state where no open phase of the neutral line L13 occurs, the processing unit 22 does not execute the cutoff processing because a digital signal having a signal value (voltage value) exceeding the threshold value is not input to the processing unit 22.

一方、中性線L13の欠相が発生すると、中性線L13の電位が不安定になることから、差分電圧が零よりも大きくなる。そして、この差分電圧がアナログ信号として伝達回路21に入力される。伝達回路21に入力されたアナログ信号は、伝達回路21にて処理された後にディジタル信号に変換され、変換されたディジタル信号が処理部22に入力される。 On the other hand, when an open phase occurs in the neutral wire L13, the potential of the neutral wire L13 becomes unstable, so the differential voltage becomes greater than zero. Then, this differential voltage is input to the transmission circuit 21 as an analog signal. The analog signal input to the transmission circuit 21 is converted into a digital signal after being processed by the transmission circuit 21 , and the converted digital signal is input to the processing section 22 .

処理部22は、入力されたディジタル信号の信号値(電圧値)が閾値を上回る(第1条件を満たす)と、試験用釦20が押されているか否か(第2条件を満たすか否か)を判定する。ここでは、試験用釦20が押されていない。したがって、処理部22は、第1条件を満たすが、第2条件を満たさないので、遮断処理を実行する。つまり、処理部22は、スイッチSW0をオフからオンに切り替えることにより、駆動回路23を動作させる。そして、駆動回路23が動作することにより、引き外し部24が駆動し、引き外し動作が実行される。このようにして、第2開閉器2Bでは、中性線L13の欠相が発生すると、引き外し部24により引き外し動作が実行されることで、電路L1が遮断される。 When the signal value (voltage value) of the input digital signal exceeds the threshold value (the first condition is satisfied), the processing unit 22 determines whether the test button 20 is pressed (whether the second condition is satisfied). ) is determined. Here, the test button 20 is not pressed. Therefore, although the processing unit 22 satisfies the first condition, it does not satisfy the second condition, so it executes the blocking process. That is, the processing unit 22 operates the drive circuit 23 by switching the switch SW0 from off to on. By operating the drive circuit 23, the tripping unit 24 is driven and the tripping operation is performed. In this manner, in the second switch 2B, when a phase failure occurs in the neutral wire L13, the tripping unit 24 performs a tripping operation, thereby breaking the electric circuit L1.

(3.2)動作試験
まず、第1開閉器2Aにおける動作試験について図1Aを用いて説明する。まず、作業者は、予備ブレーカD1に備え付けのハンドルを操作することにより、予備ブレーカD1を遮断状態から導通状態に切り替える。これにより、電源P1と負荷B1との間は、バイパス経路L2により繋がれることになる。
(3.2) Operation Test First, an operation test for the first switch 2A will be described with reference to FIG. 1A. First, an operator switches the spare breaker D1 from the cut-off state to the conducting state by operating the handle provided for the spare breaker D1. As a result, the power supply P1 and the load B1 are connected by the bypass path L2.

次に、作業者が試験用釦20を押すと、直接的又は間接的に試験用釦20に押されることにより、スイッチSW1がオフからオンに切り替わる。これにより、第2電圧線L12から分岐して抵抗器R0に電流が流れることで、零相変流器27を貫通する2本の電線(ここでは、第2電圧線L12及び中性線L13)を流れる電流に差が生じ、差分に応じて零相変流器27の二次巻線に誘導電圧が発生する。つまり、作業者が試験用釦20を押すことで、電路L1の一部に漏電が発生した状態、言い換えれば遮断動作が行われる状態が擬似的に発生する。これにより、処理部22には、閾値を上回る信号値(電圧値)のディジタル信号が入力される。 Next, when the operator presses the test button 20, the switch SW1 is switched from OFF to ON by directly or indirectly pressing the test button 20. FIG. As a result, a current is branched from the second voltage line L12 and flows through the resistor R0, thereby causing two electric wires (here, the second voltage line L12 and the neutral line L13) penetrating the zero-phase current transformer 27. , and an induced voltage is generated in the secondary winding of the zero-phase current transformer 27 according to the difference. In other words, when the operator presses the test button 20, a state in which a short circuit has occurred in part of the electric line L1, in other words, a state in which a cutoff operation is performed is simulated. As a result, a digital signal having a signal value (voltage value) exceeding the threshold is input to the processing unit 22 .

処理部22は、入力されたディジタル信号の信号値(電圧値)が閾値を上回る(第1条件を満たす)と、試験用釦20が押されているか否か(第2条件を満たすか否か)を判定する。ここでは、試験用釦20が押されている。したがって、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たすので、動作試験を実行する。 When the signal value (voltage value) of the input digital signal exceeds the threshold value (the first condition is satisfied), the processing unit 22 determines whether the test button 20 is pressed (whether the second condition is satisfied). ) is determined. Here, the test button 20 is pushed. Accordingly, the processing section 22 satisfies both the first condition and the second condition, and therefore executes the operation test.

動作試験においては、処理部22は、まず、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定する。一例として、処理部22は、カレントトランス等によりバイパス経路L2を流れる電流を監視し、バイパス経路L2を流れる電流の電流値が所定の電流値を上回るか否かにより、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定する。そして、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっていると判定すると、処理部22は、駆動回路23を駆動する。これにより、引き外し部24による引き外し動作が実行されるので、電路L1が遮断される。電路L1が遮断された状態においては、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているので、電源P1から負荷B1への電力供給が維持される。 In the operation test, the processing unit 22 first determines whether or not the power supply P1 and the load B1 are connected to the bypass path L2. As an example, the processing unit 22 monitors the current flowing through the bypass route L2 using a current transformer or the like, and determines whether or not the current value of the current flowing through the bypass route L2 exceeds a predetermined current value. It is determined whether or not the path is connected to the bypass route L2. Then, when determining that the power source P1 and the load B1 are connected to the bypass path L2, the processing unit 22 drives the drive circuit 23 . As a result, the tripping operation by the tripping unit 24 is executed, so that the electric line L1 is cut off. When the electric circuit L1 is cut off, the power supply P1 and the load B1 are connected to the bypass path L2, so the power supply from the power supply P1 to the load B1 is maintained.

次に、第2開閉器2Bにおける作業者による手動の動作試験について図1Bを用いて説明する。まず、作業者は、予備ブレーカD1に備え付けのハンドルを操作することにより、予備ブレーカD1を遮断状態から導通状態に切り替える。これにより、電源P1と負荷B1との間は、バイパス経路L2により繋がれることになる。 Next, an operator's manual operation test for the second switch 2B will be described with reference to FIG. 1B. First, an operator switches the spare breaker D1 from the cut-off state to the conducting state by operating the handle provided for the spare breaker D1. As a result, the power supply P1 and the load B1 are connected by the bypass path L2.

次に、作業者が試験用釦20を押すと、直接的又は間接的に試験用釦20に押されることにより、スイッチSW2が第1状態から第2状態に切り替わる。そして、処理部22は、第2状態のスイッチSW2を介して電圧信号を出力することにより、伝達回路21の一対の入力端に零よりも大きい電圧を印加する。つまり、作業者が試験用釦20を押すことで、中性線L13の欠相が発生した状態、言い換えれば遮断動作が行われる状態が擬似的に発生する。これにより、処理部22には、閾値を上回る信号値(電圧値)のディジタル信号が入力される。 Next, when the operator presses the test button 20, the switch SW2 is switched from the first state to the second state by being directly or indirectly pressed by the test button 20. FIG. Then, the processing unit 22 applies a voltage greater than zero to the pair of input terminals of the transmission circuit 21 by outputting a voltage signal via the switch SW2 in the second state. In other words, when the operator presses the test button 20, a state in which a phase loss of the neutral line L13 occurs, in other words, a state in which an interruption operation is performed occurs in a simulated manner. As a result, a digital signal having a signal value (voltage value) exceeding the threshold is input to the processing unit 22 .

処理部22は、入力されたディジタル信号の信号値(電圧値)が閾値を上回る(第1条件を満たす)と、試験用釦20が押されているか否か(第2条件を満たすか否か)を判定する。ここでは、試験用釦20が押されている。したがって、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たすので、第1開閉器2Aの場合と同様の動作試験を実行する。 When the signal value (voltage value) of the input digital signal exceeds the threshold value (the first condition is satisfied), the processing unit 22 determines whether the test button 20 is pressed (whether the second condition is satisfied). ) is determined. Here, the test button 20 is pushed. Therefore, since the processing unit 22 satisfies both the first condition and the second condition, the same operation test as in the case of the first switch 2A is performed.

つまり、開閉器2における動作試験は、図3に示すような態様で行われる。すなわち、作業者により試験用釦20が押された場合(S1:Yes)、処理部22は、次に電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定する(S2)。バイパス経路L2が繋がっていると判定した場合(S2:Yes)、処理部22は、駆動回路23を駆動させる。これにより、開閉器2では遮断動作が実行される(S3)。一方、バイパス経路L2が繋がっていないと判定した場合(S2:No)、処理部22は、駆動回路23を駆動させない。このため、開閉器2では遮断動作が実行されない。なお、処理部22は、例えば発光素子による発光などにより、バイパス経路L2が繋がっていない旨を報知してもよい。この態様では、予備ブレーカD1を操作して電源P1と負荷B1との間をバイパス経路L2で繋ぐように、作業者に促すことが可能である。 In other words, the operation test of the switch 2 is performed in the manner shown in FIG. That is, when the operator presses the test button 20 (S1: Yes), the processing unit 22 next determines whether or not the power source P1 and the load B1 are connected to the bypass route L2 (S2 ). When determining that the bypass route L2 is connected (S2: Yes), the processing unit 22 drives the drive circuit 23. FIG. As a result, the switch 2 performs a breaking operation (S3). On the other hand, when determining that the bypass route L2 is not connected (S2: No), the processing unit 22 does not drive the driving circuit 23. FIG. Therefore, the switch 2 does not perform the breaking operation. Note that the processing unit 22 may notify that the bypass route L2 is not connected, for example, by emitting light from a light emitting element. In this aspect, it is possible to prompt the operator to operate the spare breaker D1 to connect the power supply P1 and the load B1 with the bypass path L2.

上述のように、本実施形態では、電源P1と負荷B1との間を、接点C1を介さないバイパス経路L2で繋いだ状態で動作試験が行われる。このため、本実施形態では、接点C1が開いて電路L1が遮断されても、バイパス経路L2を介して電源P1から負荷B1への電力供給を続けることが可能である。したがって、本実施形態では、動作試験を行って電路L1を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路L1の遮断による負荷B1への影響を低減することができるという利点がある。 As described above, in this embodiment, the operation test is performed with the power source P1 and the load B1 connected by the bypass path L2 that does not pass through the contact C1. Therefore, in this embodiment, even if the contact C1 is opened and the electric path L1 is cut off, the power supply P1 can continue to supply power to the load B1 through the bypass path L2. Therefore, in the present embodiment, there is an advantage that the impact on the load B1 due to the interruption of the electric line L1 can be reduced during the period from when the operation test is performed and the electric line L1 is cut off until the original state is restored. .

(4)変形例
上述の実施形態は、本開示の様々な実施形態の一つに過ぎない。上述の実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。また、開閉器2の動作試験と同様の機能は、開閉器2の試験方法、(コンピュータ)プログラム、又はプログラムを記録した非一時的記録媒体等で具現化されてもよい。
(4) Modifications The above-described embodiment is just one of various embodiments of the present disclosure. The above-described embodiments can be modified in various ways according to design and the like as long as the object of the present disclosure can be achieved. Moreover, the function similar to the operation test of the switch 2 may be embodied by a test method of the switch 2, a (computer) program, or a non-temporary recording medium recording the program.

一態様に係る開閉器2の試験方法は、引き外し部24を備えた開閉器2の試験方法である。引き外し部24は、電源P1と負荷B1とを繋ぐ電路L1に電気的に接続される接点C1を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。この試験方法は、引き外し動作を含む電路L1を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、電源P1と負荷B1との間を、接点C1を介さないバイパス経路L2で繋いだ状態で、遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。 A test method for the switch 2 according to one aspect is a test method for the switch 2 including the tripping portion 24 . The tripping unit 24 performs a tripping operation to mechanically shift the contact C1 electrically connected to the electric line L1 connecting the power source P1 and the load B1 from the closed state to the open state. In this test method, when a trigger for performing an interrupting operation to interrupt the electric circuit L1 including a tripping operation is received, the interrupting operation is performed in a state in which the power source P1 and the load B1 are connected by a bypass route L2 that does not pass through the contact C1. test the operation of at least a portion of the

以下、上述の実施形態の変形例を列挙する。以下に説明する変形例は、適宜組み合わせて適用可能である。 Modifications of the above-described embodiment are listed below. Modifications described below can be applied in combination as appropriate.

(4.1)第1変形例
第1変形例に係る開閉器2αは、図4A及び図4Bに示すように、予備ブレーカD1を用いずに動作試験を行う点で、上述の実施形態の開閉器2と相違する。また、本変形例の開閉器2αは、電路L1に対して、接点C1と並列に補助接点C2が電気的に接続されている点で、上述の実施形態の開閉器2と相違する。補助接点C2は、a接点(常開接点)であって、処理部22からの信号を受けてオフとオンとを切り替えるように構成されている。そして、本変形例では、補助接点C2を介する経路が、接点C1を介さない経路であるバイパス経路L2に相当する点で、上述の実施形態の開閉器2と相違する。
(4.1) First Modification A switch 2α according to a first modification, as shown in FIGS. It is different from vessel 2. Further, the switch 2α of this modified example differs from the switch 2 of the above-described embodiment in that an auxiliary contact C2 is electrically connected to the electric circuit L1 in parallel with the contact C1. The auxiliary contact C2 is an a-contact (normally open contact) and is configured to receive a signal from the processing section 22 and switch between off and on. This modification differs from the switch 2 of the above-described embodiment in that the path through the auxiliary contact C2 corresponds to the bypass path L2 that does not pass through the contact C1.

本変形例では、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たすと判定すると、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定せずに、補助接点C2をオフからオンに切り替える。これにより、開閉器2の一次側端子201と二次側端子202との間は、接点C1を介する経路(電路L1)から、補助接点C2を介する経路(バイパス経路L2)に切り替わる。その後、処理部22は、駆動回路23を駆動させることにより、引き外し部24による引き外し動作を行わせる。つまり、本変形例では、処理部22は、所定の条件(ここでは、試験用釦20が押されたこと)を満たすと、電路L1をバイパス経路L2に切り替えて、動作試験を実行する。 In this modification, when the processing unit 22 determines that both the first condition and the second condition are satisfied, the processing unit 22 does not determine whether or not the power source P1 and the load B1 are connected to the bypass route L2. Switch contact C2 from off to on. As a result, the path between the primary side terminal 201 and the secondary side terminal 202 of the switch 2 is switched from the path (electrical path L1) via the contact C1 to the path (bypass path L2) via the auxiliary contact C2. Thereafter, the processing unit 22 causes the tripping unit 24 to perform the tripping operation by driving the drive circuit 23 . That is, in this modification, when a predetermined condition (in this case, the test button 20 is pressed) is satisfied, the processing unit 22 switches the electric circuit L1 to the bypass route L2 and executes the operation test.

上述のように、本変形例では、上述の実施形態と同様に、電源P1と負荷B1との間をバイパス経路L2で繋いだ状態で動作試験を行うことが可能である。また、本変形例では、開閉器2に内蔵された補助接点C2を用いて電路L1とバイパス経路L2とを切り替えることができるので、動作試験を行う際に予備ブレーカD1を用いなくて済む、という利点がある。本変形例は、予備ブレーカD1を設置するスペースが無い場合に、有効である。 As described above, in this modified example, it is possible to perform an operation test with the power source P1 and the load B1 connected by the bypass path L2, as in the above-described embodiment. In addition, in this modified example, the auxiliary contact C2 built in the switch 2 can be used to switch between the electric circuit L1 and the bypass route L2, so that it is not necessary to use the spare breaker D1 when performing the operation test. There are advantages. This modification is effective when there is no space for installing the spare breaker D1.

(4.2)第2変形例
第2変形例に係る開閉器2βは、図5に示すように、予備ブレーカD1を用いずに動作試験を行う点で、上述の実施形態の開閉器2と相違する。また、本変形例の開閉器2βはが用いられる分電盤1αは、連系ブレーカ31を介してパワーコンディショナE11が電気的に接続されている点で、上述の実施形態の分電盤1と相違する。
(4.2) Second Modification A switch 2β according to a second modification, as shown in FIG. differ. In addition, the distribution board 1α in which the switch 2β of the present modification is used is electrically connected to the power conditioner E11 via the interconnection breaker 31. differ from

本変形例では、分電盤1αは、パワーコンディショナE11を介して太陽電池E12及び蓄電池E13が電気的に接続されている点で、上述の実施形態と相違する。そして、本変形例では、パワーコンディショナE11により系統連系モードから自立運転モードに切り替わった場合、以下のように経路が切り替わる。すなわち、開閉器2βを介した電源P1と負荷B1との間を繋ぐ経路から、連系ブレーカ31を介した太陽電池E12又は蓄電池E13と負荷B1との間を繋ぐ経路へと切り替わる。つまり、本変形例では、連系ブレーカ31を介した経路が、バイパス経路L2に相当する。そして、本変形例では、バイパス経路L2は、電源P1を第1電源P1として、第1電源P1とは異なる第2電源P2(太陽電池E12又は蓄電池E13)に電気的に接続されている。 In this modification, the distribution board 1α is different from the above embodiment in that the solar cell E12 and the storage battery E13 are electrically connected via the power conditioner E11. Then, in this modification, when the power conditioner E11 switches from the grid connection mode to the self-sustained operation mode, the route switches as follows. That is, the path connecting the power source P1 and the load B1 via the switch 2β is switched to the path connecting the solar cell E12 or the storage battery E13 via the grid breaker 31 and the load B1. That is, in this modified example, the route through the interconnection breaker 31 corresponds to the bypass route L2. In this modification, the bypass path L2 uses the power source P1 as the first power source P1 and is electrically connected to a second power source P2 (solar cell E12 or storage battery E13) different from the first power source P1.

本変形例では、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たすと判定すると、パワーコンディショナE11が自立運転モードであるか否かを判定することにより、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2に繋がっているか否かを判定する。一例として、処理部22は、通信部25及びコントローラを介して、パワーコンディショナE11から自立運転モードに切り替わったことを示す情報を受けた場合、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2で繋がっていると判定する。そして、電源P1と負荷B1との間がバイパス経路L2で繋がっていると判定した場合、処理部22は、駆動回路23を駆動させることにより、引き外し部24による引き外し動作を行わせる。 In this modification, when determining that both the first condition and the second condition are satisfied, the processing unit 22 determines whether or not the power conditioner E11 is in the self-sustained operation mode. is connected to the bypass route L2. As an example, when the processing unit 22 receives information from the power conditioner E11 via the communication unit 25 and the controller indicating that the mode has been switched to the self-sustained operation mode, the bypass route L2 is provided between the power supply P1 and the load B1. Determine that they are connected. When determining that the power source P1 and the load B1 are connected by the bypass route L2, the processing unit 22 drives the driving circuit 23 to cause the tripping unit 24 to perform the tripping operation.

上述のように、本変形例では、上述の実施形態と同様に、電源P1と負荷B1との間をバイパス経路L2で繋いだ状態で動作試験を行うことが可能である。また、本変形例では、パワーコンディショナE11が自立運転モードであれば、バイパス経路L2が第1電源P1とは異なる第2電源P2に接続されるので、動作試験を行う際に予備ブレーカD1を用いなくて済む、という利点がある。本変形例は、予備ブレーカD1を設置するスペースが無い場合に、有効である。 As described above, in this modified example, it is possible to perform an operation test with the power source P1 and the load B1 connected by the bypass path L2, as in the above-described embodiment. Further, in this modification, if the power conditioner E11 is in the self-sustained operation mode, the bypass path L2 is connected to the second power supply P2 different from the first power supply P1. There is an advantage that it does not need to be used. This modification is effective when there is no space for installing the spare breaker D1.

ところで、本変形例では、処理部22は、第1条件及び第2条件の両方を満たすと判定し、かつ、パワーコンディショナE11が系統連系モードであると判定した場合、パワーコンディショナE11を系統連系モードから自立運転モードに切り替えてもよい。一例として、処理部22は、通信部25及びコントローラを介して、パワーコンディショナE11に上記の指令を与えることが可能である。つまり、本変形例では、処理部22は、所定の条件(ここでは、試験用釦20が押されたこと)を満たすと、パワーコンディショナE11を自立運転モードに切り替えさせることで、電路L1をバイパス経路L2に切り替えて、動作試験を実行してもよい。この態様では、試験用釦20が押された時点でのパワーコンディショナE11の動作モードに依らず、動作試験を行うことが可能である。 By the way, in this modification, when the processing unit 22 determines that both the first condition and the second condition are satisfied and determines that the power conditioner E11 is in the grid connection mode, the power conditioner E11 is The grid connection mode may be switched to the isolated operation mode. As an example, the processing unit 22 can give the above command to the power conditioner E11 via the communication unit 25 and the controller. That is, in this modification, when a predetermined condition (in this case, the test button 20 is pressed) is satisfied, the processing unit 22 switches the power conditioner E11 to the self-sustained operation mode, thereby opening the electric circuit L1. An operation test may be performed by switching to the bypass route L2. In this mode, the operation test can be performed regardless of the operation mode of the power conditioner E11 when the test button 20 is pressed.

(4.3)その他の変形例
本開示における開閉器2は、例えば、処理部22等に、コンピュータシステムを含んでいる。コンピュータシステムは、ハードウェアとしてのプロセッサ及びメモリを主構成とする。コンピュータシステムのメモリに記録されたプログラムをプロセッサが実行することによって、本開示における開閉器2としての機能が実現される。プログラムは、コンピュータシステムのメモリに予め記録されてもよく、電気通信回線を通じて提供されてもよく、コンピュータシステムで読み取り可能なメモリカード、光学ディスク、ハードディスクドライブ等の非一時的記録媒体に記録されて提供されてもよい。コンピュータシステムのプロセッサは、半導体集積回路(IC)又は大規模集積回路(LSI)を含む1ないし複数の電子回路で構成される。ここでいうIC又はLSI等の集積回路は、集積の度合いによって呼び方が異なっており、システムLSI、VLSI(Very Large Scale Integration)、又はULSI(Ultra Large Scale Integration)と呼ばれる集積回路を含む。さらに、LSIの製造後にプログラムされる、FPGA(Field-Programmable Gate Array)、又はLSI内部の接合関係の再構成若しくはLSI内部の回路区画の再構成が可能な論理デバイスについても、プロセッサとして採用することができる。複数の電子回路は、1つのチップに集約されていてもよいし、複数のチップに分散して設けられていてもよい。複数のチップは、1つの装置に集約されていてもよいし、複数の装置に分散して設けられていてもよい。ここでいうコンピュータシステムは、1以上のプロセッサ及び1以上のメモリを有するマイクロコントローラを含む。したがって、マイクロコントローラについても、半導体集積回路又は大規模集積回路を含む1ないし複数の電子回路で構成される。
(4.3) Other Modifications The switch 2 in the present disclosure includes a computer system in, for example, the processing unit 22 and the like. A computer system is mainly composed of a processor and a memory as hardware. The functions of the switch 2 in the present disclosure are realized by the processor executing a program recorded in the memory of the computer system. The program may be recorded in advance in the memory of the computer system, may be provided through an electric communication line, or may be recorded in a non-temporary recording medium such as a computer system-readable memory card, optical disk, or hard disk drive. may be provided. A processor in a computer system consists of one or more electronic circuits, including semiconductor integrated circuits (ICs) or large scale integrated circuits (LSIs). The integrated circuit such as IC or LSI referred to here is called differently depending on the degree of integration, and includes integrated circuits called system LSI, VLSI (Very Large Scale Integration), or ULSI (Ultra Large Scale Integration). Furthermore, an FPGA (Field-Programmable Gate Array), which is programmed after the LSI is manufactured, or a logic device capable of reconfiguring the bonding relationship inside the LSI or reconfiguring the circuit partitions inside the LSI, shall also be adopted as the processor. can be done. A plurality of electronic circuits may be integrated into one chip, or may be distributed over a plurality of chips. A plurality of chips may be integrated in one device, or may be distributed in a plurality of devices. A computer system, as used herein, includes a microcontroller having one or more processors and one or more memories. Accordingly, the microcontroller also consists of one or more electronic circuits including semiconductor integrated circuits or large scale integrated circuits.

また、例えば処理部22における複数の機能が、1つの筐体内に集約されていることは開閉器2に必須の構成ではない。つまり、処理部22の構成要素は、複数の筐体に分散して設けられていてもよい。さらに、例えば処理部22の少なくとも一部の機能は、例えば、サーバ装置及びクラウド(クラウドコンピューティング)等によって実現されてもよい。 Further, it is not an essential configuration of the switch 2 that, for example, a plurality of functions of the processing unit 22 are integrated in one housing. In other words, the constituent elements of the processing unit 22 may be distributed over a plurality of housings. Furthermore, for example, at least part of the functions of the processing unit 22 may be realized by, for example, a server device and the cloud (cloud computing).

上述の実施形態において、処理部22は、負荷B1を使用していない場合、又は負荷B1を使用しているが負荷B1で消費される電力が小さい場合に、動作試験を行ってもよい。つまり、処理部22は、負荷B1で使用される電力が閾値よりも低い場合、動作試験を実行してもよい。一例として、処理部22は、通信部25を介して計測アダプタ4から主幹検知部で計測された電流値に基づく電力値を取得し、取得した電力値が所定の電力値を下回る場合、動作試験を実行してもよい。また、一例として、処理部22は、通信部25を介して計測アダプタ4から検知部5で計測された電流値に基づく電力値を取得し、所定の負荷B1での電力値が所定の電力値を下回る場合、動作試験を実行してもよい。その他、一例として、処理部22は、通信部25及びコントローラを介して、電力事業者からのDR(Demand Response)を受けた場合、動作試験を実行してもよい。 In the above-described embodiment, the processing unit 22 may perform the operation test when the load B1 is not used, or when the load B1 is used but the power consumed by the load B1 is small. That is, the processing unit 22 may execute the operation test when the power used by the load B1 is lower than the threshold. As an example, the processing unit 22 acquires a power value based on the current value measured by the master detection unit from the measurement adapter 4 via the communication unit 25, and if the acquired power value is lower than a predetermined power value, the operation test may be executed. Further, as an example, the processing unit 22 acquires a power value based on the current value measured by the detection unit 5 from the measurement adapter 4 via the communication unit 25, and the power value at the predetermined load B1 is the predetermined power value. , an operational test may be performed. In addition, as an example, the processing unit 22 may execute an operation test when receiving a DR (Demand Response) from the electric power company via the communication unit 25 and the controller.

上述の実施形態において、動作試験の内容は、遮断処理の内容と異なっていてもよい。言い換えれば、電路L1の状態が異常状態となった場合の遮断動作と、作業者が試験用釦20を操作した場合に行われる遮断動作とは、内容が異なっていてもよい。例えば、動作試験では、引き外し部24を動作させなくてもよい。その他、例えば動作試験では、駆動回路23及び引き外し部24の両方を動作させなくてもよい。この場合、作業者が開閉器2に備え付けのハンドルを操作し、開閉器2を元の状態(接点C1が閉じている状態)に復帰させる作業をしなくて済む。 In the above-described embodiments, the contents of the operation test may differ from the contents of the blocking process. In other words, the interruption operation when the state of the electric circuit L1 becomes abnormal may be different from the interruption operation performed when the operator operates the test button 20 . For example, in the operation test, the tripping unit 24 may not be operated. In addition, for example, in an operation test, it is not necessary to operate both the drive circuit 23 and the tripping section 24 . In this case, the operator does not have to operate the handle provided on the switch 2 to restore the switch 2 to its original state (the contact C1 is closed).

上述の実施形態では、第1開閉器2Aの零相変流器27には、第2電圧線L12及び中性線L13が貫通しているが、第1電圧線L11及び中性線L13が貫通していてもよい。 In the above-described embodiment, the zero-phase current transformer 27 of the first switch 2A is penetrated by the second voltage line L12 and the neutral wire L13. You may have

(まとめ)
以上述べたように、第1の態様に係る開閉器(2,2α,2β)は、引き外し部(24)と、処理部(22)と、を備える。引き外し部(24)は、電源(P1)と負荷(B1)とを繋ぐ電路(L1)に電気的に接続される接点(C1)を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。処理部(22)は、引き外し動作を含む電路(L1)を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、電源(P1)と負荷(B1)との間を、接点(C1)を介さないバイパス経路(L2)で繋いだ状態で、動作試験を実行する。動作試験は、遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。
(summary)
As described above, the switch (2, 2α, 2β) according to the first aspect includes the tripping section (24) and the processing section (22). The tripping unit (24) performs a tripping operation that mechanically shifts the contact (C1) electrically connected to the electric circuit (L1) connecting the power source (P1) and the load (B1) from the closed state to the open state. I do. When the processing unit (22) receives a trigger for performing a disconnection operation for disconnecting the electrical circuit (L1) including the tripping operation, the power supply (P1) and the load (B1) are bypassed via the contact (C1). An operation test is performed in the state of being connected by the path (L2). The operation test tests the operation of at least part of the breaking operation.

この態様によれば、動作試験を行って電路(L1)を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路(L1)の遮断による負荷(B1)への影響を低減することができる、という利点がある。 According to this aspect, it is possible to reduce the impact on the load (B1) due to the disconnection of the electric circuit (L1) during the period from when the operation test is performed and the electric circuit (L1) is cut off until the original state is restored. It has the advantage of being able to

第2の態様に係る開閉器(2α)では、第1の態様において、電路(L1)及びバイパス経路(L2)は、同一の電源(P1)に電気的に接続されている。 In the switch (2α) according to the second aspect, in the first aspect, the electric line (L1) and the bypass path (L2) are electrically connected to the same power supply (P1).

この態様によれば、動作試験を行うために、電源(P1)と別の電源を用意しなくて済む、という利点がある。 According to this aspect, there is an advantage that it is not necessary to prepare a power supply separate from the power supply (P1) in order to conduct the operation test.

第3の態様に係る開閉器(2β)では、第1の態様において、バイパス経路(L2)は、電源(P1)を第1電源(P1)として、第1電源(P1)とは異なる第2電源(P2)に電気的に接続されている。 In the switch (2β) according to the third aspect, in the first aspect, the bypass path (L2) uses the power source (P1) as the first power source (P1), and the second power source (P1) is different from the first power source (P1). It is electrically connected to the power supply (P2).

この態様によれば、動作試験を行うために、第1電源(P1)と電路(L1)とが繋がっている状態から、第1電源(P1)とバイパス経路(L2)とが繋がっている状態に切り替えなくて済む、という利点がある。 According to this aspect, in order to perform the operation test, the state in which the first power supply (P1) and the bypass path (L2) are connected is changed from the state in which the first power supply (P1) and the electric line (L1) are connected. There is an advantage that you do not have to switch to

第4の態様に係る開閉器(2,2α,2β)では、第1~第3のいずれかの態様において、処理部(22)は、所定の条件を満たすと、電路(L1)をバイパス経路(L2)に切り替えて、動作試験を実行する。 In the switch (2, 2α, 2β) according to the fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the processing unit (22) switches the electric circuit (L1) to the bypass path when a predetermined condition is satisfied. Switch to (L2) and perform an operation test.

この態様によれば、作業者が電路(L1)をバイパス経路(L2)に切り替える作業を行う必要がないので、利便性が向上する、という利点がある。 According to this aspect, the operator does not need to switch the electrical circuit (L1) to the bypass route (L2), so there is an advantage that convenience is improved.

第5の態様に係る開閉器(2,2α,2β)では、第1~第4のいずれかの態様において、処理部(22)は、負荷(B1)で使用される電力が閾値よりも低い場合、動作試験を実行する。 In the switch (2, 2α, 2β) according to the fifth aspect, in any one of the first to fourth aspects, the processing unit (22) causes the power used by the load (B1) to be lower than the threshold If so, perform an operational test.

この態様によれば、負荷(B1)が省電力で動作している状態、又は不使用の状態で動作試験が実行されるので、遮断による負荷(B1)への影響が小さくて済む、という利点がある。 According to this aspect, since the operation test is executed in a state where the load (B1) is operating in a power-saving state or in a non-use state, there is an advantage that the impact on the load (B1) due to interruption is small. There is

第6の態様に係る開閉器(2,2α,2β)の試験方法は、引き外し部(24)を備えた開閉器(2)の試験方法である。引き外し部(24)は、電源(P1)と負荷(B1)とを繋ぐ電路(L1)に電気的に接続される接点(C1)を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う。この試験方法は、引き外し動作を含む電路(L1)を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、電源(P1)と負荷(B1)との間を、接点(C1)を介さないバイパス経路(L2)で繋いだ状態で、遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する。 A test method for a switch (2, 2α, 2β) according to the sixth aspect is a test method for a switch (2) having a tripping portion (24). The tripping unit (24) performs a tripping operation that mechanically shifts the contact (C1) electrically connected to the electric circuit (L1) connecting the power source (P1) and the load (B1) from the closed state to the open state. I do. In this test method, when a trigger that performs an interruption operation to cut off the electric circuit (L1) including the tripping operation is received, a bypass path ( At least part of the breaking operation is tested while it is connected at L2).

この態様によれば、動作試験を行って電路(L1)を遮断してから元の状態に復帰するまでの間において、電路(L1)の遮断による負荷(B1)への影響を低減することができる、という利点がある。 According to this aspect, it is possible to reduce the impact on the load (B1) due to the disconnection of the electric circuit (L1) during the period from when the operation test is performed and the electric circuit (L1) is cut off until the original state is restored. It has the advantage of being able to

第2~第5の態様に係る構成は、開閉器(2)に必須の構成ではなく、適宜省略可能である。 The configurations according to the second to fifth aspects are not essential configurations for the switch (2), and can be omitted as appropriate.

2,2α,2β 開閉器
22 処理部
24 引き外し部
B1 負荷
C1 接点
L1 電路
L2 バイパス経路
P1 電源(第1電源)
P2 第2電源
2, 2α, 2β switch 22 processing unit 24 tripping unit B1 load C1 contact L1 electrical circuit L2 bypass path P1 power source (first power source)
P2 2nd power supply

Claims (8)

電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う引き外し部と、
前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間を、前記接点を介さないバイパス経路で繋いだ状態で、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する動作試験を実行する処理部と、を備え、
前記バイパス経路は、
前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有し、
前記電源を第1電源として、前記第1電源とは異なる第2電源に電気的に接続されている、
開閉器。
a tripping unit that performs a tripping operation to mechanically shift a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state;
When a trigger for performing a breaking operation for breaking the electric circuit including the tripping operation is received, at least a part of the breaking operation is performed while the power supply and the load are connected by a bypass path not via the contact. and a processing unit that performs an operation test for testing the operation of
The bypass route is
a backup breaker or an auxiliary contact for switching between a conductive state in which the bypass path is conductive and a cutoff state in which the bypass path is cut off;
The power source is a first power source, and is electrically connected to a second power source that is different from the first power source.
switch.
電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う引き外し部と、
前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間が前記接点を介さないバイパス経路に繋がっているか否かを判定し、前記電源と前記負荷との間が前記バイパス経路に繋がっていると判定すると、前記電源と前記負荷との間を前記バイパス経路で繋いだ状態で、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験する動作試験を実行する処理部と、を備え
前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する、
開閉器。
a tripping unit that performs a tripping operation to mechanically shift a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power source and a load from a closed state to an open state;
When a trigger for performing an interruption operation for breaking the electric circuit including the tripping operation is received, it is determined whether or not the power supply and the load are connected to a bypass path not via the contact, and the power supply and the load are connected to each other. When it is determined that the power supply and the load are connected to the bypass path, an operation test is performed to test at least a part of the cutoff operation while the power supply and the load are connected by the bypass path. and a processing unit for
The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state in which the bypass path is conducted and an interrupted state in which the bypass path is interrupted.
switch.
前記電路及び前記バイパス経路は、同一の電源に電気的に接続されている、
請求項2に記載の開閉器。
the electrical path and the bypass path are electrically connected to the same power source;
The switch according to claim 2.
前記バイパス経路は、前記電源を第1電源として、前記第1電源とは異なる第2電源に電気的に接続されている、
請求項2に記載の開閉器。
The bypass path is electrically connected to a second power supply different from the first power supply, using the power supply as a first power supply.
The switch according to claim 2.
前記処理部は、所定の条件を満たすと、前記電路を前記バイパス経路に切り替えて、前記動作試験を実行する、
請求項1~4のいずれか1項に記載の開閉器。
When a predetermined condition is satisfied, the processing unit switches the electric circuit to the bypass route and executes the operation test.
The switch according to any one of claims 1 to 4.
前記処理部は、前記負荷で使用される電力が閾値よりも低い場合、前記動作試験を実行する、
請求項1~5のいずれか1項に記載の開閉器。
The processing unit performs the operation test when the power used by the load is lower than a threshold.
The switch according to any one of claims 1-5.
電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う引き外し部、を備えた開閉器の試験方法であって、
前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間を、前記接点を介さないバイパス経路で繋いだ状態で、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験し、
前記バイパス経路は、
前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有し、
前記電源を第1電源として、前記第1電源とは異なる第2電源に電気的に接続されている、
開閉器の試験方法。
A test method for a switch equipped with a tripping unit that performs a tripping operation to mechanically shift a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power supply and a load from a closed state to an open state,
When a trigger for performing a breaking operation for breaking the electric circuit including the tripping operation is received, at least a part of the breaking operation is performed while the power supply and the load are connected by a bypass path not via the contact. to test the behavior of
The bypass route is
a backup breaker or an auxiliary contact for switching between a conductive state in which the bypass path is conductive and a cutoff state in which the bypass path is cut off;
The power source is a first power source, and is electrically connected to a second power source that is different from the first power source.
Switchgear test method.
電源と負荷とを繋ぐ電路に電気的に接続される接点を閉状態から開状態へ機械的に移行させる引き外し動作を行う引き外し部、を備えた開閉器の試験方法であって、
前記引き外し動作を含む前記電路を遮断する遮断動作を行うトリガを受け付けると、前記電源と前記負荷との間が前記接点を介さないバイパス経路に繋がっているか否かを判定し、前記電源と前記負荷との間が前記バイパス経路に繋がっていると判定すると、前記電源と前記負荷との間を前記バイパス経路で繋いだ状態で、前記遮断動作の少なくとも一部の動作を試験し、
前記バイパス経路は、前記バイパス経路を導通させる導通状態と、前記バイパス経路を遮断させる遮断状態と、を切り替える予備ブレーカ又は補助接点を有する、
開閉器の試験方法。
A test method for a switch equipped with a tripping unit that performs a tripping operation to mechanically shift a contact electrically connected to an electric circuit connecting a power supply and a load from a closed state to an open state,
When a trigger for performing an interruption operation for breaking the electric circuit including the tripping operation is received, it is determined whether or not the power supply and the load are connected to a bypass path not via the contact, and the power supply and the load are connected to each other. When it is determined that the power supply and the load are connected to the bypass path, testing at least a part of the cutoff operation while the power supply and the load are connected by the bypass path ,
The bypass path has a spare breaker or an auxiliary contact that switches between a conducting state in which the bypass path is conducted and an interrupted state in which the bypass path is interrupted.
Switchgear test method.
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