JP6996225B2 - Imaging device, image forming device, actual distance calculation method, and program - Google Patents
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本発明は、撮像装置、画像形成装置、実距離算出方法、およびプログラムに関する。 The present invention relates to an image pickup apparatus, an image forming apparatus, an actual distance calculation method, and a program.
インクジェット方式の画像形成装置は、記録ヘッドを搭載したキャリッジを主走査方向に往復移動させながら記録ヘッドからインクを吐出し、記録媒体上に画像を形成する構成のものが多い。このとき、キャリッジの往路移動時と復路移動時とでは、記録媒体上の同じ位置にインクを付着させようとしてもずれが生じる場合がある。このような位置ずれは、インクの着弾位置ずれとも呼ばれる。 Many inkjet image forming devices have a configuration in which an ink is ejected from a recording head while a carriage equipped with a recording head is reciprocated in the main scanning direction to form an image on a recording medium. At this time, there may be a deviation between the outward movement and the return movement of the carriage even if the ink is attached to the same position on the recording medium. Such misalignment is also called ink landing misalignment.
インクの着弾位置ずれは、往復移動における移動方向の違いだけでなく、例えば、キャリッジに対する記録ヘッドの取り付け誤差などに起因して生じる場合もある。すなわち、複数の記録ヘッドを用いて画像形成を行う場合に、キャリッジに対する各記録ヘッドの取り付け誤差などにより記録ヘッド間の相対的な位置関係が設計通りにならず、記録ヘッド間でインクの着弾位置ずれが生じることもある。 The ink landing position deviation may occur not only due to the difference in the moving direction in the reciprocating movement, but also due to, for example, an error in attaching the recording head to the carriage. That is, when image formation is performed using a plurality of recording heads, the relative positional relationship between the recording heads does not match the design due to an error in mounting each recording head with respect to the carriage, and the ink landing position between the recording heads. Misalignment may occur.
インクの着弾位置ずれが生じる場合は、例えば、画像形成装置による画像形成位置に関わるパラメータを調整して位置ずれを解消させることが求められる。このような画像形成位置の調整を行うために、記録媒体上に所定のテストパターンを形成してそれを様々なセンサで読み取ることで、インクの着弾位置ずれを検出する方法が知られている。 When the ink landing position shift occurs, for example, it is required to adjust the parameters related to the image formation position by the image forming apparatus to eliminate the position shift. In order to adjust such an image formation position, there is known a method of detecting an ink landing position shift by forming a predetermined test pattern on a recording medium and reading it with various sensors.
例えば特許文献1の記録装置では、キャリッジの往路移動時に形成される第1ドット群と、キャリッジの復路移動時に形成される第2ドット群および第3ドット群とを含むテストパターンを形成し、このテストパターンを二次元センサで撮像する。そして、当該記録装置では、撮像画像を解析してテストパターンの二次元周波数特性を取得し、この二次元周波数特性に基づいてキャリッジの往復移動時におけるインクの着弾位置ずれを検出している。
For example, in the recording device of
インクの着弾位置ずれに応じて画像形成位置を適切に調整するためには、その位置ずれ量を知る必要がある。ここで、特許文献1の記録装置のように、テストパターンの撮像画像を解析してインクの着弾位置ずれを検出する場合、検出した着弾位置ずれの撮像画像における位置ずれ量から実際の位置ずれ量(実距離)が分かれば、インクの着弾位置ずれに応じて画像形成位置を適切に調整できる。
In order to appropriately adjust the image formation position according to the ink landing position shift, it is necessary to know the position shift amount. Here, when the image of the test pattern is analyzed and the ink landing position shift is detected as in the recording device of
しかし、特許文献1の記録装置では、テストパターンの撮像画像を解析することでインクの着弾位置ずれが生じていることを検出できるものの、その位置ずれ量までも検出することはできない。また、仮に撮像画像における位置ずれ量が検出できたとしても、その撮像画像における位置ずれ量から実距離を求めるには、撮像画像における距離と実距離との比率を知る必要がある。ここで、撮像画像における距離と実距離との比率は、二次元センサと被写体との間の距離が変動すると変化するため、二次元センサとテストパターンとの間の距離が変動する環境では、撮像画像における位置ずれ量から実距離を求めることができない。さらに、反射型の二次元センサを用いた場合、受光部のスポット径が大きいと細かい線が読み取りにくくなるため、撮像画像のテストパターンの位置の特定が困難だった。
However, although the recording device of
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、撮像部とテストパターンとの間の距離が変動する場合であっても、撮像部により撮像された撮像画像におけるテストパターンの位置が特定し易く、撮像画像に基づく位置ずれ量に応じた実距離を適切に算出することを可能にすることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and even when the distance between the image pickup unit and the test pattern fluctuates, the position of the test pattern in the image captured by the image pickup unit is specified. It is easy to make it possible to appropriately calculate the actual distance according to the amount of misalignment based on the captured image.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、一対の第1マーカ、および該一対の第1マーカとは異なる条件で形成された第2マーカを含むテストパターンと、前記一対の第1マーカまたは前記第2マーカのうちいずれか一方とともに形成され、前記テストパターンの位置を特定する基準となる基準マーカと、を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出部と、前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記第2マーカの位置ずれ量との比率を算出する比率算出部と、を備え、前記基準マーカは、前記撮像部により撮像される撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、前記位置検出部は、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the present invention comprises a pair of first markers and a pair of test patterns including a second marker formed under conditions different from the pair of first markers. In an image pickup unit that images a reference marker formed together with either the first marker or the second marker and a reference marker for specifying the position of the test pattern, and an image captured by the image pickup unit. Between the position detection unit that detects the reference marker and identifies and detects the positions of the pair of first markers and the second marker based on the detected reference markers, and the pair of first markers in the captured image. The reference marker includes a ratio calculation unit for calculating the ratio between the distance of the second marker and the displacement amount of the second marker in the captured image, and the reference marker has a predetermined range smaller than the imaging range imaged by the imaging unit. A reference frame surrounding the reference frame, the position detection unit detects the reference frame, identifies the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame, and detects each of them .
本発明によれば、撮像部とテストパターンとの間の距離が変動する場合であっても、撮像部により撮像された撮像画像におけるテストパターンの位置が特定し易く、撮像画像に基づく位置ずれ量に応じた実距離を適切に算出することを可能にできるという効果を奏する。 According to the present invention, even when the distance between the image pickup unit and the test pattern fluctuates, the position of the test pattern in the image captured by the image pickup unit can be easily specified, and the amount of misalignment based on the image pickup image can be easily specified. It has the effect of making it possible to appropriately calculate the actual distance according to the above.
以下に添付図面を参照して、撮像装置、画像形成装置、実距離算出方法、およびプログラムの実施の形態を詳細に説明する。なお、以下で説明する実施形態では、画像形成装置の一例として、被搬送物の一例である記録媒体にインクを吐出して画像を形成するインクジェットプリンタを例示する。この画像形成装置は、記録媒体に形成したテストパターンを撮像し、その撮像画像を用いてインクの着弾位置ずれが生じている場合に位置ずれ量に相当する距離を算出し、画像形成に関わるパラメータを調整する機能を持つ。つまり、本実施形態の画像形成装置は、撮像装置としての機能を有する。ただし、本発明の適用例は以下で説明する実施形態に限らない。本発明は、テストパターンを撮像し、その撮像画像を用いて位置ずれ量に相当する距離を算出する様々なタイプの画像形成装置に対して広く適用できる。 The imaging device, the image forming device, the actual distance calculation method, and the embodiment of the program will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the embodiment described below, as an example of the image forming apparatus, an inkjet printer that ejects ink to a recording medium, which is an example of an object to be transported, to form an image will be exemplified. This image forming apparatus captures a test pattern formed on a recording medium, calculates a distance corresponding to the amount of misalignment when the ink landing position shift occurs using the captured image, and parameters related to image formation. Has a function to adjust. That is, the image forming apparatus of this embodiment has a function as an image pickup apparatus. However, the application example of the present invention is not limited to the embodiment described below. The present invention can be widely applied to various types of image forming apparatus that capture a test pattern and calculate a distance corresponding to the amount of misalignment using the captured image.
(第1の実施形態)
<画像形成装置の機械的構成>
まず、図を参照しながら、本実施形態の画像形成装置100の機械的な構成例について説明する。図1は、第1の実施形態の画像形成装置の内部を透視して示す斜視図である。図2は、第1の実施形態の画像形成装置の内部の機械的構成を示す上面図である。図3は、キャリッジの説明図である。
(First Embodiment)
<Mechanical configuration of image forming device>
First, a mechanical configuration example of the
図1に示すように、本実施形態の画像形成装置100は、主走査方向(図中矢印A方向)に往復移動するキャリッジ5を備える。キャリッジ5は、主走査方向に沿って延設された主ガイドロッド3により支持されている。また、キャリッジ5には連結片5aが設けられている。連結片5aは、主ガイドロッド3と平行に設けられた副ガイド部材4に係合し、キャリッジ5の姿勢を安定化させる。
As shown in FIG. 1, the
キャリッジ5は、駆動プーリ9と従動プーリ10との間に張架されたタイミングベルト11に連結されている。駆動プーリ9は、主走査モータ8の駆動により回転する。従動プーリ10は、駆動プーリ9との間の距離を調整する機構を有し、タイミングベルト11に対して所定のテンションを与える役割を持つ。キャリッジ5は、主走査モータ8の駆動によりタイミングベルト11が送り動作されることにより、主走査方向に往復移動する。キャリッジ5の移動量や移動速度は、例えば図2に示すように、キャリッジ5に設けられたエンコーダセンサ13がエンコーダシート14のマークを検知して出力するエンコーダ値に基づいて制御される。
The
キャリッジ5には、図3に示すように、記録ヘッド6A、6B、6Cが搭載されている。記録ヘッド6Aは、イエロー(Y)インクを吐出する多数のノズルを並べたノズル列6Ay、シアン(C)インクを吐出する多数のノズルを並べたノズル列6Ac、マゼンタ(M)インクを吐出する多数のノズルを並べたノズル列6Am、およびブラック(K)インクを吐出する多数のノズルを並べたノズル列6Akが、一列ずつ並んでいる。同様に、記録ヘッド6Bは、ノズル列6By、6Bc、6Bm、6Bk、記録ヘッド6Cは、ノズル列6Cy、6Cc、6Cm、6Ckが並んでいる。以下、これらの記録ヘッド6A、6B、6Cを総称して記録ヘッド6と表記する。記録ヘッド6は、その吐出面(ノズル面)が下方(記録媒体P側)に向くように、キャリッジ5に支持されている。
As shown in FIG. 3, the
記録ヘッド6にインクを供給するためのインク供給体であるカートリッジ7は、キャリッジ5には搭載されず、画像形成装置100内の所定の位置に配置されている。カートリッジ7と記録ヘッド6はパイプで連結されており、このパイプを介して、カートリッジ7から記録ヘッド6に対してインクが供給される。
The
記録ヘッド6の吐出面と対向する位置には、図2に示すように、プラテン16が設けられている。プラテン16は、記録ヘッド6から記録媒体P上にインクを吐出する際に、記録媒体Pを支持するためのものである。プラテン16には、厚み方向に貫通する貫通孔が多数設けられ、個々の貫通孔を取り囲むようにリブ状の突起が形成されている。そして、プラテン16の記録媒体Pを支持する面とは逆側に設けられた吸引ファンを作動させることで、プラテン16上から記録媒体Pが脱落することを抑制する構成となっている。記録媒体Pは、後述の副走査モータ12(図13参照)によって駆動される搬送ローラにより挟持され、プラテン16上を、副走査方向(図中矢印B方向)に間欠的に搬送される。
As shown in FIG. 2, a
記録ヘッド6には、上述したように、副走査方向に並ぶように形成された多数のノズルが設けられている。本実施形態の画像形成装置100は、記録媒体Pを副走査方向に間欠的に搬送し、記録媒体Pの搬送が停止している間に、キャリッジ5を主走査方向に往復移動させながら、画像データに応じて記録ヘッド6のノズルを選択的に駆動し、記録ヘッド6からプラテン16上の記録媒体P上にインクを吐出して、記録媒体Pに画像を記録する。
As described above, the
また、本実施形態の画像形成装置100は、記録ヘッド6の信頼性を維持するための維持機構15を備える。維持機構15は、記録ヘッド6の吐出面の清掃やキャッピング、記録ヘッド6からの不要なインクの排出などを行う。
Further, the
また、キャリッジ5には、図3に示すように、記録媒体P上に形成された後述のテストパターンTP(図15-1参照)を撮像するための撮像部20が搭載されている。撮像部20の詳細は後述する。
Further, as shown in FIG. 3, the
本実施形態の画像形成装置100を構成する上記の各構成要素は、外装体1の内部に配置されている。外装体1にはカバー部材2が開閉可能に設けられている。画像形成装置100のメンテナンス時やジャム発生時には、カバー部材2を開けることにより、外装体1の内部に設けられた各構成要素に対して作業を行うことができる。
Each of the above-mentioned components constituting the
図3で示した撮像部20には、テストパターンTPと同時に撮像される基準チャートを有するものと、有していないものがある。基準チャートとは、例えば、各測色パッチ(図9参照)のRGB値を用いてテストパターンTPの測色値を算出するものである。
The
<撮像部の具体例1>
まず、基準チャートを有する撮像部20の具体例について説明する。図4は、撮像部の外観を示す斜視図である。図5は、撮像部の分解斜視図である。図6は、図4中のX1方向から見た撮像部の縦断面図である。図7は、図4中のX2方向から見た撮像部の縦断面図である。図8は、撮像部の平面視図である。
<Specific example 1 of the imaging unit>
First, a specific example of the
撮像部20は、例えば矩形の箱状に形成された筐体51を備える。筐体51は、例えば、所定の間隔を空けて対向する底板部51aおよび天板部51bと、これら底板部51aと天板部51bとを繋ぐ側壁部51c、51d、51e、51fを有する。筐体51の底板部51aと側壁部51d、51e、51fは、例えばモールド成形により一体に形成され、これに対して天板部51bと側壁部51cとが着脱可能な構成とされる。図5では天板部51bと側壁部51cとを取り外した状態を示している。
The
撮像部20は、例えば筐体51の一部が所定の支持部材に支持された状態で、テストパターンTPが形成された記録媒体Pの搬送経路に設置される。このとき、撮像部20は、図6および図7に示すように、搬送される記録媒体Pに対して筐体51の底板部51aが間隙dを介して略平行な状態で対向するように、所定の支持部材に支持される。
The
テストパターンTPが形成された記録媒体Pと対向する筐体51の底板部51aには、筐体51の外部のテストパターンTPを筐体51の内部から撮像可能にするための開口部53が設けられている。
The
また、筐体51の底板部51aの内面側には、支え部材63を介して開口部53と隣り合うようにして、基準チャート300が配置されている。基準チャート300は、テストパターンTPの測色やRGB値の取得を行う際に、後述のセンサ部26によりテストパターンTPとともに撮像されるものである。なお、基準チャート300の詳細については後述する。
Further, a
一方、筐体51内部の天板部51b側には、回路基板54が配置されている。図8に示すように、回路基板54には、回路基板54側の面が開放されている四角の箱形状の筐体51が、締結部材54bによって固定されている。なお、筐体51は、四角の箱形状に限るものではなく、例えば、開口部53が形成されている底板部51aを有する円筒の箱形状や楕円筒の箱形状等であってもよい。
On the other hand, the
また、筐体51の天板部51bと回路基板54との間には、画像を撮像するセンサ部26が配置されている。センサ部26は、図6に示すように、CCD(Charge Coupled Device)センサまたはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサなどの二次元センサ27と、センサ部26の撮像範囲の光学像を二次元センサ27の受光面(撮像領域)に結像する結像レンズ28とを備える。二次元センサ27は、被写体からの反射光を受光する受光素子が二次元に並ぶ受光素子アレイである。
Further, a
センサ部26は、例えば、筐体51の側壁部51eと一体に形成されたセンサホルダ56により保持される。センサホルダ56には、回路基板54に形成された貫通孔54aと対向する位置にリング部56aが設けられている。リング部56aは、センサ部26の結像レンズ28側の突出した部分の外形形状に倣った大きさの貫通孔を有する。センサ部26は、結像レンズ28側の突出した部分をセンサホルダ56のリング部56aに挿通することで、結像レンズ28が回路基板54の貫通孔54aを介して筐体51の底板部51a側を臨むようにして、センサホルダ56により保持される。
The
このとき、センサ部26は、図6中の一点鎖線で示す光軸が筐体51の底板部51aに対して略垂直となり、且つ、開口部53と後述の基準チャート300とが撮像範囲に含まれるように、センサホルダ56により位置決めされた状態で保持される。これにより、センサ部26は、二次元センサ27の撮像領域の一部で、筐体51外部のテストパターンTPを、開口部53を介して撮像する。加えて、センサ部26は、二次元センサ27の撮像領域の他の一部で、筐体51の内部に配置された基準チャート300を撮像することができる。
At this time, in the
なお、センサ部26は、各種の電子部品が実装される回路基板54に対して、例えばフレキシブルケーブルを介して電気的に接続される。また、回路基板54には、画像形成装置100のメイン制御基板に対して撮像部20を接続するための接続ケーブルが装着される外部接続コネクタ57が設けられている。
The
撮像部20には、センサ部26の中心を通る副走査方向の中心線OA上であって、センサ部26の中心からそれぞれ副走査方向に所定量だけ等間隔で離れた位置の回路基板54に、一対の光源58が配設されている。光源58は、センサ部26による撮像時にその撮像範囲を略均一に照明する。光源58としては、例えば省スペース/省電力に有利なLED(Light Emitting Diode)が用いられる。
The
本実施形態においては、図7や図8に示すように、結像レンズ28の中心を基準として、開口部53と基準チャート300が並ぶ方向と直交する方向に均等に配置された一対のLEDを光源58として用いている。
In the present embodiment, as shown in FIGS. 7 and 8, a pair of LEDs evenly arranged in a direction orthogonal to the direction in which the
光源58として用いる2つのLEDは、例えば回路基板54の底板部51a側の面に実装される。ただし、光源58は、センサ部26の撮像範囲を拡散光により略均一に照明できる位置に配置されればよく、必ずしも回路基板54に直接実装されていなくてもよい。また、2つのLEDの位置は、二次元センサ27を中心として対称位置に配置することにより、基準チャート300側と同一照明条件での撮像面の撮像を可能にしている。また、本実施形態では、光源58としてLEDを用いたが、光源58の種類はLEDに限定されるものではない。例えば、有機ELなどを光源58として用いるようにしてもよい。有機ELを光源58として用いた場合は、太陽光の分光分布に近い照明光が得られるため、測色精度の向上が期待できる。
The two LEDs used as the
また、図8に示すように、センサ部26は、光源58と二次元センサ27の直下に、光吸収体55cを備えている。光吸収体55cは、光源58からの光を二次元センサ27以外の方向に反射または吸収する。光吸収体55cは、鋭角な形状で、光源58からの入射光が、光吸収体55c内面へ反射するように形成されており、入射方向へは反射しない構造になっている。
Further, as shown in FIG. 8, the
また、筐体51内部には、センサ部26と該センサ部26により開口部53を介して撮像される筐体51外部のテストパターンTPとの間の光路中に、光路長変更部材59が配置されている。光路長変更部材59は、光源58の光に対して十分な透過率を有する屈折率nの光学素子である。光路長変更部材59は、筐体51外部のテストパターンTPの光学像の結像面を筐体51内部の基準チャート300の光学像の結像面に近づける機能を持つ。つまり、この撮像部20では、センサ部26と筐体51外部の被写体との間の光路中に光路長変更部材59を配置することによって光路長を変更する。これにより、撮像部20は、筐体51外部のテストパターンTPの光学像の結像面と、筐体51内部の基準チャート300の結像面とを、ともにセンサ部26の二次元センサ27の受光面に合わせるようにしている。したがって、センサ部26は、筐体51外部のテストパターンTPと筐体51内部の基準チャート300との双方にピントの合った画像を撮像することができる。
Further, inside the
光路長変更部材59は、例えば図6に示すように、一対のリブ60、61によって、底板部51a側の面の両端部が支持されている。また、光路長変更部材59の天板部51b側の面と回路基板54との間に押さえ部材62が配置されることで、光路長変更部材59が筐体51内部で動かないようになっている。光路長変更部材59は、筐体51の底板部51aに設けられた開口部53を塞ぐように配置される。そのため、光路長変更部材59は、筐体51外部から開口部53を介して筐体51内部に進入するインクミストや塵埃などの不純物が、センサ部26や光源58、基準チャート300などに付着するのを防止する機能も有することになる。
As shown in FIG. 6, for example, in the optical path
なお、以上説明した撮像部20の機械的な構成はあくまで一例であり、これに限らない。撮像部20は、少なくとも、筐体51内部に設けられた光源58が点灯している間に、筐体51内部に設けられたセンサ部26により、筐体51外部のテストパターンTPを開口部53を介して撮像する構成であればよい。撮像部20は、上記の構成に対して様々な変形や変更が可能である。
The mechanical configuration of the
例えば、上述した撮像部20では、筐体51の底板部51aの内面側に基準チャート300を配置している。しかしながら、筐体51の底板部51aの基準チャート300が配置される位置に開口部53とは別の開口部を設けるとともに、この開口部が設けられた位置に筐体51の外側から基準チャート300を取り付ける構成であってもよい。この場合、センサ部26は、開口部53を介して記録媒体Pに形成されたテストパターンTPを撮像するとともに、開口部53とは別の開口部を介して、筐体51の底板部51aに外側から取り付けられた基準チャート300を撮像することになる。この例では、基準チャート300に汚れなどの不良が生じた場合に、交換を容易に行える利点がある。
For example, in the
次に、図9を参照しながら、撮像部20の筐体51に配置される基準チャート300の具体例について説明する。図9は、基準チャートの具体例を示す図である。
Next, a specific example of the
図9に示す基準チャート300は、測色用の測色パッチを配列した複数の測色パッチ列310~340、距離計測用ライン350、およびチャート位置特定用マーカ360を有する。
The
測色パッチ列310~340は、YMCKの1次色の測色パッチを階調順に配列した測色パッチ列310と、RGBの2次色の測色パッチを階調順に配列した測色パッチ列320と、グレースケールの測色パッチを階調順に配列した測色パッチ列(無彩色の階調パターン)330と、3次色の測色パッチを配列した測色パッチ列340と、を含む。
The color
距離計測用ライン350は、複数の測色パッチ列310~340を囲む矩形の枠として形成されている。チャート位置特定用マーカ360は、距離計測用ライン350の四隅の位置に設けられていて、各測色パッチの位置を特定するためのマーカとして機能する。センサ部26により撮像される基準チャート300の画像から、距離計測用ライン350とその四隅のチャート位置特定用マーカ360を特定することで、基準チャート300の位置および各測色パッチの位置を特定することができる。
The
測色用の測色パッチ列310~340を構成する各測色パッチは、センサ部26の撮像条件を反映した色味の基準として用いられる。なお、基準チャート300に配置されている測色用の測色パッチ列310~340の構成は、図9に示す例に限定されるものではなく、任意の測色パッチ列を適用することが可能である。例えば、可能な限り色範囲が広く特定できる測色パッチを用いてもよいし、また、YMCKの1次色の測色パッチ列310や、グレースケールの測色パッチ列330は、画像形成装置100に使用される色材の測色値のパッチで構成されていてもよい。また、RGBの2次色の測色パッチ列320は、画像形成装置100で使用される色材で発色可能な測色値のパッチで構成されていてもよく、さらに、Japan Colorなどの測色値が定められた基準色票を用いてもよい。
Each color measurement patch constituting the color
なお、本実施形態では、一般的なパッチ(色票)の形状の測色パッチ列310~340を有する基準チャート300を用いているが、基準チャート300は、必ずしもこのような測色パッチ列310~340を有する形態でなくてもよい。基準チャート300は、測色に利用可能な複数の色が、それぞれの位置を特定できるように配置された構成であればよい。
In the present embodiment, the
基準チャート300は、上述したように、筐体51の底板部51aの内面側に開口部53と隣り合うように配置されているため、センサ部26によって、筐体51外部のテストパターンTPと同時に撮像することができる。なお、ここでの同時に撮像とは、筐体51外部のテストパターンTPと基準チャート300とを含む1フレームの画像データを取得することを意味する。つまり、画素ごとのデータ取得に時間差があっても、筐体51外部のテストパターンTPと基準チャート300とが1フレーム内に含まれる画像データを取得すれば、筐体51外部のテストパターンTPと基準チャート300とを同時に撮像したことになる。
As described above, the
<撮像部の具体例2>
次に、基準チャートを有していない撮像部20の具体例について説明する。以下では、図10、11を参照しながら、撮像部20の具体例について詳細に説明する。図10は、撮像部の縦断面図である。図11は、図10の撮像部をX2方向から見た平面図である。
<Specific example 2 of the imaging unit>
Next, a specific example of the
図10に示すように、撮像部20は、キャリッジ5に固定されている基板41上に、光源42とセンサ部26が搭載されている。
As shown in FIG. 10, the
光源42としては、例えば、LEDが用いられており、被写体である記録媒体Pに形成されたテストパターンTPに照明光を照射して、その反射光(乱反射光または正反射光)がセンサ部26に入射される。光源42は、図11に示すように、記録媒体Pに形成されるテストパターンTPを取り囲むように4つ配置されており、テストパターンTPに均一な照明光を照射する。
As the
センサ部26は、CCDセンサやCMOSセンサなどの二次元センサ27と、結像レンズ28とを備えている。センサ部26は、光源42からテストパターンTPに出射された照明光の反射光を、結像レンズ28を通して二次元センサ27に入射させる。二次元センサ27は、入射された光を光電変換によりアナログ信号に変換し、テストパターンTPの撮像画像として出力する。
The
<記録ヘッドの駆動ノズル数>
次に、記録ヘッド6のノズル数について説明する。図3に示したように、本実施形態の記録ヘッド6A、6B、6Cは、それぞれ、イエロー(Y)、シアン(C)、マゼンタ(M)、およびブラック(K)のインク滴を吐出するノズルが一列ずつ並んでいる。
<Number of drive nozzles for recording head>
Next, the number of nozzles of the
ここで、液滴吐出特性として、駆動ノズル数とインクの液滴吐出速度との関係について説明する。図12は、記録ヘッドの液滴吐出特性の説明図である。駆動ノズル数とは、同一記録ヘッド6内の同時にインク滴を吐出するノズルの数のことをいう。駆動ノズル数に応じて、液滴吐出速度(Vj)は大きく変動する。変動する理由には、構造的な要因と電気的な要因がある。
Here, the relationship between the number of drive nozzles and the ink droplet ejection speed will be described as the droplet ejection characteristics. FIG. 12 is an explanatory diagram of the droplet ejection characteristic of the recording head. The number of drive nozzles refers to the number of nozzles in the
構造的な要因として、ピエゾ(圧電素子)アクチュエータ方式の記録ヘッド6の場合の1例を挙げる。ピエゾアクチュエータ方式では、ピエゾに駆動波形を印加して圧電素子を変異させることで、加圧室内のインクを加圧し、ノズルからインク滴を吐出する。この時、駆動するノズルの数によって加圧室内のインクへ加わる圧力が変化し、液滴吐出速度(Vj)が変化する。サーマル方式のインクジェット記録装置であっても、加圧室内でバブルを発生させてインクを加圧するので、同様の現象が起こる。
As a structural factor, an example in the case of the
電気的な要因としては、記録ヘッド6は、駆動ノズル数および配線長によって、キャパシタンス、インダクタンスが変化するような振る舞いをする。この変化によって駆動波形生成回路から出力される波形に変動が生じ、液滴吐出速度(Vj)に影響することになる。
As an electrical factor, the
駆動ノズル数によって、どちらの要因の影響が支配的なのかが異なる。駆動ノズル数がn1付近は、構造的な要因による影響が大きい。一方、駆動ノズル数がn2を超えると、電気的な要因による影響が大きい。電気的な要因による液滴吐出速度(Vj)変動のばらつきは、回路定数の調整などで比較的容易に小さくすることが可能だが、構造的な要因によるばらつきを小さくすることは難しい。 Which factor is dominant depends on the number of drive nozzles. When the number of drive nozzles is around n1, the influence of structural factors is large. On the other hand, when the number of drive nozzles exceeds n2, the influence of electrical factors is large. The variation in the droplet ejection speed (Vj) due to electrical factors can be relatively easily reduced by adjusting the circuit constants, but it is difficult to reduce the variation due to structural factors.
図12で示したように、駆動ノズル数が大きい方が液滴吐出速度(Vj)が安定する。従って、本実施形態の記録ヘッド6の各色のノズル数は、n2以上とすることが望ましい。
As shown in FIG. 12, the larger the number of drive nozzles, the more stable the droplet ejection speed (Vj). Therefore, it is desirable that the number of nozzles for each color of the
<画像形成装置のハードウェア構成>
次に、図13を参照しながら、本実施形態の画像形成装置100のハードウェア構成について説明する。図13は、第1の実施形態の画像形成装置のハードウェア構成図である。
<Hardware configuration of image forming device>
Next, the hardware configuration of the
本実施形態の画像形成装置100は、図13に示すように、CPU110、ROM102、RAM103、記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105、副走査ドライバ106、制御用FPGA(Field-Programmable Gate Array)120、記録ヘッド6、エンコーダセンサ13、撮像部20、主走査モータ8、および副走査モータ12を備えている。
As shown in FIG. 13, the
CPU110、ROM102、RAM103、記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105、副走査ドライバ106、および制御用FPGA120は、メイン制御基板130に搭載されている。また、記録ヘッド6、エンコーダセンサ13、および撮像部20は、上述したようにキャリッジ5に搭載されている。
The
CPU110は、画像形成装置100の全体の制御を司る。例えば、CPU110は、RAM103を作業領域として利用して、ROM102に格納された各種の制御プログラムを実行し、画像形成装置100における各種動作を制御するための制御指令を出力する。特に、本実施形態の画像形成装置100では、テストパターンTPおよび当該テストパターンTPの位置を特定する基準となる基準枠F(図15-1参照)を形成する機能や距離計測装置としての機能、距離に基づいて画像形成の位置に関わるパラメータを調整する機能などを、このCPU110により実現する。なお、これらの機能の詳細については後述する。
The
記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105、副走査ドライバ106は、それぞれ、記録ヘッド6、主走査モータ8、副走査モータ12を駆動するためのドライバである。
The
制御用FPGA120は、CPU110と連携して画像形成装置100における各種動作を制御する。制御用FPGA120は、機能的な構成要素として、例えば、CPU制御部121、メモリ制御部122、インク吐出制御部123、センサ制御部124、およびモータ制御部125を備える。
The
CPU制御部121は、CPU110と通信を行って、制御用FPGA120が取得した各種情報をCPU110に伝えるとともに、CPU110から出力された制御指令を入力する。
The
メモリ制御部122は、CPU110がROM102やRAM103にアクセスするためのメモリ制御を行う。
The
インク吐出制御部123は、CPU110からの制御指令に応じて記録ヘッドドライバ104の動作を制御することにより、記録ヘッドドライバ104により駆動される記録ヘッド6からのインクの吐出タイミングを制御する。
The ink
センサ制御部124は、エンコーダセンサ13から出力されるエンコーダ値などのセンサ信号に対する処理を行う。例えばセンサ制御部124は、エンコーダセンサ13から出力されるエンコーダ値に基づいて、キャリッジ5の位置、移動速度、移動方向などを計算する処理を実行する。
The
モータ制御部125は、CPU110からの制御指令に応じて主走査ドライバ105の動作を制御することにより、主走査ドライバ105により駆動される主走査モータ8を制御して、キャリッジ5の主走査方向への移動を制御する。また、モータ制御部125は、CPU110からの制御指令に応じて副走査ドライバ106の動作を制御することにより、副走査ドライバ106により駆動される副走査モータ12を制御して、プラテン16上の記録媒体Pの副走査方向への移動を制御する。
The
なお、以上の各部は、制御用FPGA120により実現する制御機能の一例であり、これら以外にも様々な制御機能を制御用FPGA120により実現する構成としてもよい。また、上記の制御機能の全部または一部を、CPU110または他の汎用のCPUにより実行されるプログラムによって実現する構成であってもよい。また、上記の制御機能の一部を、制御用FPGA120とは異なる他のFPGAやASIC(Application Specific Integrated Circuit)などの専用のハードウェアにより実現する構成であってもよい。
It should be noted that each of the above parts is an example of the control function realized by the
記録ヘッド6は、CPU110および制御用FPGA120により動作制御される記録ヘッドドライバ104により駆動され、プラテン16上の記録媒体Pにインクを吐出して画像を形成する。
The
エンコーダセンサ13は、エンコーダシート14のマークを検知して得られるエンコーダ値を制御用FPGA120に出力する。このエンコーダ値は、制御用FPGA120のセンサ制御部124において、キャリッジ5の位置、移動速度および移動方向を計算するために用いられる。センサ制御部124がエンコーダ値から計算したキャリッジ5の位置、移動速度および移動方向は、CPU110に送られる。CPU110は、このキャリッジ5の位置、移動速度および移動方向に基づき、主走査モータ8を制御するための制御指令を生成してモータ制御部125に出力する。
The
撮像部20は、CPU110による制御のもとで記録媒体P上に形成されたテストパターンTPおよび基準枠F(図15-1参照)を撮像し、撮像画像に対して各種処理を行うものであって、二次元センサ用CPU140、および二次元センサ27を備えている。
The
二次元センサ27は、上述したように、CCDセンサまたはCMOSセンサなどであって、二次元センサ用CPU140から送られた各種設定信号に基づく所定の動作条件によって、テストパターンTPおよび基準枠Fを撮像する。そして、二次元センサ27は、撮像した撮像画像を二次元センサ用CPU140に送る。
As described above, the two-
二次元センサ用CPU140は、二次元センサ27の制御や二次元センサ27により撮像された撮像画像に対する処理を行う。具体的には、二次元センサ用CPU140は、撮像部20に各種設定信号を送ることにより、二次元センサ27の各種動作条件の設定を行う。また、二次元センサ用CPU140は、テストパターンTPおよび基準枠Fを撮像した撮像画像から基準枠Fに基づいてテストパターンTPのマーカを検出する機能や、撮像画像における距離と実距離との比率を算出する機能を実現する。なお、これらの機能の詳細については後述する。
The two-
また、撮像部20には、RAMやROMが備えられ、二次元センサ用CPU140は、例えば、RAMを作業領域として利用して、ROMに格納された各種の制御プログラムを実行し、撮像部20における各種動作を制御するための制御指令を出力する。また、二次元センサ用CPU140は、二次元センサ27の光電変換により得られたアナログ信号をデジタルの画像データにAD変換し、その画像データに対してシェーディング補正やホワイトバランス補正、γ補正、画像データのフォーマット変換などの各種の画像処理を行う機能を内蔵している。なお、撮像画像に対する各種の画像処理は、その一部あるいは全部を撮像部20の外部で行うように構成してもよい。
Further, the
本実施形態の画像形成装置100では、上述のCPU110および制御用FPGA120によって制御される記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105および副走査ドライバ106と、これらにより駆動される記録ヘッド6、主走査モータ8および副走査モータ12により、記録媒体Pに画像を形成する画像形成部が構成される。
In the
図13では、二次元センサ用CPU140および撮像部20がキャリッジ5に搭載された構成となっていたが、二次元センサ用CPU140および撮像部20は、記録媒体P上に形成されたテストパターンTPを適切に撮像できるように配置されていればよく、必ずしもキャリッジ5に搭載されていなくてもよい。
In FIG. 13, the two-
<画像形成装置の機能構成>
次に、図14を参照しながら、画像形成装置100のCPU110および二次元センサ用CPU140により実現される特徴的な機能について説明する。図14は、第1の実施形態の画像形成装置の機能構成を示すブロック図である。
<Functional configuration of image forming device>
Next, with reference to FIG. 14, characteristic functions realized by the
CPU110は、例えば、RAM103を作業領域として利用して、ROM102に格納された制御プログラムを実行することにより、パターン形成部111、実距離算出部114、および調整部115などの機能を実現する。また、撮像部20の二次元センサ用CPU140は、例えばRAMを作業領域として利用して、ROMに格納された制御プログラムを実現することにより、位置検出部142、および比率算出部143などの機能を実現する。
The
CPU110のパターン形成部111は、例えばROM102などに予め格納されたパターンデータを読み込み、このパターンデータに応じた画像形成動作を上述した画像形成部に行わせることにより、記録媒体P上にテストパターンTPおよび基準枠Fを形成する。パターン形成部111により記録媒体P上に形成されたテストパターンTPおよび基準枠Fは、撮像部20により撮像される。
The
ここで、テストパターンTPと基準枠Fについて説明する。図15-1は、記録媒体に形成されたテストパターンおよび基準枠の一例を示す図である。図15-1に示すように、テストパターンTPは、少なくとも一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2とを含むマーカのセットMである。図15-1に示すテストパターンTPは、一対の第1マーカM1a、M1b間の中間に第2マーカM2が配置されている。一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2は、記録媒体Pの搬送方向である副走査方向(図中矢印B方向)に延びる線状に形成されている。そして、図15-1では、このマーカのセットMが記録媒体Pの主走査方向(図中矢印A方向)に3つ形成されている。 Here, the test pattern TP and the reference frame F will be described. FIG. 15-1 is a diagram showing an example of a test pattern and a reference frame formed on a recording medium. As shown in FIG. 15-1, the test pattern TP is a set M of markers including at least a pair of first markers M1a, M1b and a second marker M2. In the test pattern TP shown in FIG. 15-1, the second marker M2 is arranged between the pair of first markers M1a and M1b. The pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2 are formed in a linear shape extending in the sub-scanning direction (arrow B direction in the figure) which is the transport direction of the recording medium P. Then, in FIG. 15-1, three sets M of the markers are formed in the main scanning direction of the recording medium P (direction of arrow A in the figure).
また、第2マーカM2は、一対の第1マーカM1a、M1bとは異なる条件で形成されている。ここで、異なる条件とは、例えば、記録ヘッド6を搭載したキャリッジ5の移動方向の違いや、インクを吐出する記録ヘッド6の違いなどである。
Further, the second marker M2 is formed under different conditions from the pair of first markers M1a and M1b. Here, the different conditions are, for example, a difference in the moving direction of the
以下の実施形態では、第2マーカM2を、一対の第1マーカM1a、M1bとはキャリッジ5の移動方向(往路移動か復路移動か)が異なる条件で形成するものとして説明する。具体的には、例えば、図15-1に示すテストパターンTPに含まれる一対の第1マーカM1a、M1bは、キャリッジ5の往路移動時に、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド6が有する複数のノズルのうちの所定のノズルから記録媒体P上にインクを吐出することにより形成される。一方、テストパターンTPに含まれる第2マーカM2は、キャリッジ5の復路移動時に、一対の第1マーカM1a、M1bの形成時にインクを吐出したノズルと同一のノズルから記録媒体P上にインクを吐出することにより形成される。
In the following embodiment, the second marker M2 will be described as being formed under conditions in which the movement direction (outward movement or return movement) of the
上述したように、キャリッジ5の往路移動時と復路移動時とでは、インクの着弾位置ずれが生じる場合がある。したがって、テストパターンTPに含まれる一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2のうち、一対の第1マーカM1a、M1b同士の位置関係はほとんど変動しないのに対し、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の相対的な位置関係にはずれが生じ得る。この位置ずれが、キャリッジ5の往路移動時と復路移動時との違いによるインクの着弾位置ずれである。
As described above, the ink landing position may be displaced between the outward movement and the return movement of the
また、上述の説明では、キャリッジ5の往路移動時に一対の第1マーカM1a、M1bを形成し、キャリッジ5の復路移動時に第2マーカM2を形成しているが、これとは逆に、キャリッジ5の往路移動時に第2マーカM2を形成し、キャリッジ5の復路移動時に一対の第1マーカM1a、M1bを形成してもよい。
Further, in the above description, a pair of first markers M1a and M1b are formed when the
また、上述の説明では、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2とを、記録ヘッド6が有する複数のノズルのうち、同一のノズルからインクを吐出させて形成するものとしたが、一対の第1マーカM1a、M1bの形成時にインクを吐出するノズルと、第2マーカM2の形成時にインクを吐出するノズルが異なっていてもよい。この場合、これらのノズル間に主走査方向での位置ずれがあるとその影響を受けるが、1つの記録ヘッド6におけるノズル間の位置ずれは、キャリッジ5の移動方向の違いによるインクの着弾位置ずれに比べるとごく僅かであり、無視できるレベルである。
Further, in the above description, the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2 are formed by ejecting ink from the same nozzle among the plurality of nozzles of the
なお、第2マーカM2を、一対の第1マーカM1a、M1bとは異なる記録ヘッド6を用いて形成した場合にも同様の説明が成り立つ。すなわち、キャリッジ5に対する記録ヘッド6の取り付け誤差などにより記録ヘッド6間の相対的な位置関係が設計値からずれると、インクの着弾位置ずれとなって現れる。この場合、第2マーカM2を、一対の第1マーカM1a、M1bとは異なる記録ヘッド6を用いて形成すると、テストパターンTPに含まれる一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2のうち、一対の第1マーカM1a、M1b同士の位置関係はほとんど変動しないのに対し、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の相対的な位置関係にはずれが生じることになる。
The same description holds true when the second marker M2 is formed by using a
ここで、テストパターンTPは、一対の第1マーカM1a、M1bと、これら一対の第1マーカM1a、M1bとは異なる条件で形成される第2マーカM2とを含んだ構成であればよく、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との位置関係は任意に設定できる。テストパターンTPに含まれる一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2それぞれを形成する位置やタイミング(このタイミングによりキャリッジ5の往路移動時に形成するか復路移動時に形成するかが決まる)は、上記のパターンデータによって示されている。
Here, the test pattern TP may be configured as long as it includes a pair of first markers M1a and M1b and a second marker M2 formed under conditions different from those of the pair of first markers M1a and M1b. The positional relationship between the first markers M1a and M1b and the second marker M2 can be arbitrarily set. The position and timing of forming each of the pair of first markers M1a, M1b and the second marker M2 included in the test pattern TP (this timing determines whether the
また、図15-1では、一対の第1マーカM1a、M1bまたは第2マーカM2のうちいずれか一方とともに形成され、テストパターンTPの位置を特定する基準となる基準枠Fが形成されている。基準枠Fは、一対の第1マーカM1a、M1bとともに形成される場合は往路移動時に形成され、第2マーカM2とともに形成される場合は復路移動時に形成される。基準枠Fは、二対の基準線Fa、Fbにより矩形状に形成され、一方の一対の基準線Fbは記録媒体Pの搬送方向である副走査方向(矢印B方向)に形成され、他方の一対の基準線Faは主走査方向(矢印A方向)に形成されている。また、基準枠Fは、テストパターンTPのマーカと区別が可能なように、例えばテストパターンTPの線状のマーカの線より太い線で基準線Fa、Fbが形成される。そして、基準枠Fの内側に位置する検出範囲RdのテストパターンTPが検出されることになる。なお、本実施形態の基準枠Fは、一対の第1マーカM1a、M1bとともに形成されているものとする。なお、基準線Fa、Fbは、基準マーカの一例である。 Further, in FIG. 15-1, a reference frame F is formed together with any one of the pair of first markers M1a and M1b or the second marker M2, and serves as a reference for specifying the position of the test pattern TP. The reference frame F is formed at the time of outward movement when formed together with the pair of first markers M1a and M1b, and is formed at the time of return movement when formed together with the second marker M2. The reference frame F is formed in a rectangular shape by two pairs of reference lines Fa and Fb, and one pair of reference lines Fb is formed in the sub-scanning direction (arrow B direction) which is the transport direction of the recording medium P, and the other. The pair of reference lines Fa are formed in the main scanning direction (arrow A direction). Further, in the reference frame F, for example, the reference lines Fa and Fb are formed by a line thicker than the line of the linear marker of the test pattern TP so as to be distinguishable from the marker of the test pattern TP. Then, the test pattern TP of the detection range Rd located inside the reference frame F is detected. It is assumed that the reference frame F of the present embodiment is formed together with the pair of first markers M1a and M1b. The reference lines Fa and Fb are examples of reference markers.
撮像部20は、図15-1に示す撮像範囲Riを撮像することで、テストパターンTPと基準枠Fを撮像する。つまり、基準枠Fは、記録媒体Pに対して、撮像範囲Riより小さい所定範囲を取り囲んで形成されている。また、図15-1に示すように、一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2は、基準枠Fの副走査方向の長さよりも長い線で形成され、さらに、撮像部20により撮像される撮像範囲Riの副走査方向(図中矢印B方向)の長さよりも長い線で形成されている。これは、図12で述べた記録ヘッド6のノズルから吐出されるインクの吐出特性を考慮している。
The
ここで、基準枠Fの形成位置について説明する。基準チャート300(図9参照)を有していない撮像部20で撮像する場合(図10、11参照)、撮像範囲の中央近傍に基準枠Fを位置するよう撮像範囲Riを設定することが望ましい。また、基準チャート300を有している撮像部20で撮像する場合(図4~8参照)、撮像範囲における基準チャート300がない開口部53から撮像可能な位置で、かつ光源58から出射される光の光軸に近い位置に基準枠Fが位置するように撮像範囲Riを設定することが望ましい。
Here, the formation position of the reference frame F will be described. When imaging with the
図14に戻り、二次元センサ用CPU140の位置検出部142は、撮像部20により撮像された撮像画像に対して2値化処理などの所定の処理を施すことによって、撮像画像における基準枠Fを検出し、検出した基準枠Fの内側であって、基準枠Fに基づいて一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置を特定して各々検出する。
Returning to FIG. 14, the position detection unit 142 of the
図15-1を参照すると、記録媒体Pには、複数のマーカのセットMおよび位置ずれの算出に用いない複数のマーカMdが形成されている。そして、撮像部20により、テストパターンTPおよび基準枠Fが含まれている撮像範囲Riが撮像される。位置検出部142は、まず、撮像範囲Riにおける基準枠Fを検出する。
Referring to FIG. 15-1, the recording medium P is formed with a set M of a plurality of markers and a plurality of markers Md not used for calculating the misalignment. Then, the
図16は、撮像部による撮像位置と二次元センサのセンサ出力値との関係を示す図である。図16は、図15-1における基準枠Fを測定位置SAまたは測定位置SBのいずれかでのセンサ出力値を示している。すなわち、測定位置SAの場合、一対の基準線Fbが図16のf1、f2の値となる。また、測定位置SBの場合、一対の基準線Faが図16のf1、f2の値となる。このように、主走査方向の基準線Faと副走査方向の基準線Fbの位置を検出することで、撮像範囲Riにおける基準枠Fが判別できる。 FIG. 16 is a diagram showing the relationship between the image pickup position by the image pickup unit and the sensor output value of the two-dimensional sensor. FIG. 16 shows the sensor output value of the reference frame F in FIG. 15-1 at either the measurement position SA or the measurement position SB. That is, in the case of the measurement position SA, the pair of reference lines Fb are the values of f1 and f2 in FIG. Further, in the case of the measurement position SB, the pair of reference lines Fa are the values of f1 and f2 in FIG. In this way, by detecting the positions of the reference line Fa in the main scanning direction and the reference line Fb in the sub-scanning direction, the reference frame F in the imaging range Ri can be determined.
そして、基準枠Fは一対の第1マーカM1a、M1bまたは第2マーカM2のうちいずれか一方とともに形成されているため、位置検出部142は、テストパターンTPのマーカ位置が特定し易くなる。つまり、上述したように、本実施形態では、一対の第1マーカM1a、M1bとともに基準枠Fを形成しているため、一対の第1マーカM1a、M1bと基準枠Fとの位置関係のずれは生じにくい。従って、基準枠Fの基準線Fbから所定距離にある一対の第1マーカM1a、M1bの位置を特定して検出し、一対の第1マーカM1a、M1bの間に位置する第2マーカM2の位置を特定して検出する。 Since the reference frame F is formed together with any one of the pair of first markers M1a and M1b or the second marker M2, the position detection unit 142 can easily identify the marker position of the test pattern TP. That is, as described above, in the present embodiment, since the reference frame F is formed together with the pair of first markers M1a and M1b, the deviation of the positional relationship between the pair of first markers M1a and M1b and the reference frame F is large. It is unlikely to occur. Therefore, the positions of the pair of first markers M1a and M1b located at a predetermined distance from the reference line Fb of the reference frame F are specified and detected, and the positions of the second markers M2 located between the pair of first markers M1a and M1b. Is identified and detected.
基準枠Fから一対の第1マーカM1a、M1bの位置を特定する場合、撮像画像の倍率を調整して特定してもよい。図15-2は、倍率を調整した撮像画像の一例を示す図である。図15-2に示すように、基準枠Fを基準にして撮像画像の倍率を調整すると、基準枠Fの基準線FbからマーカのセットMまでの画像上の位置が大きく変動しないため、一対の第1マーカM1a、M1bの位置を容易に特定することができる。 When specifying the positions of the pair of first markers M1a and M1b from the reference frame F, the magnification of the captured image may be adjusted to specify the positions. FIG. 15-2 is a diagram showing an example of a captured image in which the magnification is adjusted. As shown in FIG. 15-2, when the magnification of the captured image is adjusted with reference to the reference frame F, the position on the image from the reference line Fb of the reference frame F to the marker set M does not change significantly, so that a pair. The positions of the first markers M1a and M1b can be easily specified.
ここで検出される位置は、pixel単位で表される画像の二次元座標上の位置である。撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2は、多くの場合、複数のpixelによって形成された線として検出されるが、例えば副走査方向の所定位置にある線の中心位置など、予め定めた代表位置を、第1マーカM1a、M1bや第2マーカM2の位置として検出すればよい。位置検出部142により検出された撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置は、比率算出部143に渡される。 The position detected here is a position on the two-dimensional coordinates of the image expressed in pixel units. In many cases, the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2 in the captured image are detected as lines formed by a plurality of pixels, such as the center position of a line at a predetermined position in the sub-scanning direction. , The predetermined representative position may be detected as the position of the first marker M1a, M1b or the second marker M2. The positions of the pair of first markers M1a, M1b and the second marker M2 in the captured image detected by the position detection unit 142 are passed to the ratio calculation unit 143.
ここで、基準枠Fを形成していない場合のテストパターンTPの検出について説明する。図17は、記録媒体に形成されたテストパターンを示す図である。図17に示すように、基準枠Fがない場合は、撮像範囲Riの所定の基準位置Ri0から主走査方向および副走査方向に向かって撮像範囲Ri全体を測定し、一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2を検出することになる。したがって、テストパターンTPのマーカの位置ずれが生じた場合、マーカMdをテストパターンTPと誤って認識するなど、一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2を正確に特定できない場合があり、その結果、位置ずれ量を算出することができない。これに対し、本実施形態は基準枠Fを形成することでテストパターンTPを確実に特定して検出することができる。 Here, the detection of the test pattern TP when the reference frame F is not formed will be described. FIG. 17 is a diagram showing a test pattern formed on a recording medium. As shown in FIG. 17, when there is no reference frame F, the entire imaging range Ri is measured from a predetermined reference position Ri 0 of the imaging range Ri toward the main scanning direction and the sub-scanning direction, and the pair of first markers M1a is measured. , M1b and the second marker M2 will be detected. Therefore, if the marker of the test pattern TP is misaligned, the pair of first markers M1a, M1b and the second marker M2 may not be accurately identified, such as erroneously recognizing the marker Md as the test pattern TP. As a result, the amount of misalignment cannot be calculated. On the other hand, in the present embodiment, the test pattern TP can be reliably identified and detected by forming the reference frame F.
なお、上述では、二対の基準線Fa、Fbにより矩形状に形成された長方形状の基準枠Fを基準としてテストパターンTPを検出する構成となっているが、一対の基準線Fbを基準としてテストパターンTPを検出する構成にしてもよい。例えば、基準枠Fの代わりに副走査方向に延びる一対の基準線Fbを基準とした場合、主走査方向のセンサ出力値から基準線Fbを特定すれば、2本の基準線Fbの内側に挟まれたテストパターンTPを検出できる。ただし、図15-1に示すように、検出範囲Rdが2か所設けられている場合、すなわち、マーカのセットM自体が副走査方向(図中矢印B)に並んでいる場合には、副走査方向の位置も特定する必要があるため、基準線Faも必要となる。 In the above description, the test pattern TP is detected with reference to the rectangular reference frame F formed in a rectangular shape by the two pairs of reference lines Fa and Fb, but the test pattern TP is detected with reference to the pair of reference lines Fb. It may be configured to detect the test pattern TP. For example, when a pair of reference lines Fb extending in the sub-scanning direction are used as a reference instead of the reference frame F, if the reference line Fb is specified from the sensor output value in the main scanning direction, the reference line Fb is sandwiched inside the two reference lines Fb. The test pattern TP can be detected. However, as shown in FIG. 15-1, when the detection ranges Rd are provided at two places, that is, when the marker set M itself is aligned in the sub-scanning direction (arrow B in the figure), the sub Since it is necessary to specify the position in the scanning direction, the reference line Fa is also required.
二次元センサ用CPU140の比率算出部143は、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置に基づいて、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と、撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量との比率を算出する。
The ratio calculation unit 143 of the
具体的に、図18を参照して、当該比率の算出方法を説明する。図18は、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と第2マーカM2の位置ずれ量との比率の算出方法の説明図である。図18に示すように、比率算出部143は、検出された一対の第1マーカM1a、M1bの位置から撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bの距離2Dを求める。そして、検出された第2マーカM2の位置と、第2マーカM2の理想位置との差分により、撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量sを求める。ここで、第2マーカM2の理想位置とは、本実施形態では一対の第1マーカM1a、M1b間の中間に相当する位置、すなわち第1マーカM1aと第1マーカM1bのそれぞれの位置から、一対の第1マーカM1a、M1b間の距離の1/2の距離にある位置である。図18では、第1マーカM1aおよび第1マーカM1bそれぞれの位置から等距離Dにある位置(図18における点線の位置)である。そして、撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量sを、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離2Dで除算することで比率を算出する。比率算出部143により算出された上記の比率は、実距離算出部114に渡される。
Specifically, a method of calculating the ratio will be described with reference to FIG. FIG. 18 is an explanatory diagram of a method of calculating the ratio between the distance between the pair of first markers M1a and M1b in the captured image and the amount of misalignment of the second marker M2. As shown in FIG. 18, the ratio calculation unit 143 obtains the
なお、本実施形態では、第2マーカM2の理想位置が一対の第1マーカM1a、M1bの中間位置である例を説明するが、一対の第1マーカM1a、M1bの中間位置でなくてもよい。すなわち、第2マーカM2が一対の第1マーカM1a、M1bと共に撮像可能であって、予め定められた位置に形成されるのであれば、第2マーカM2の理想位置は、一対の第1マーカM1a、M1bのいずれか一方に近い位置でもよいし、一対の第1マーカM1a、M1bの間でなくてもよい。 In this embodiment, an example in which the ideal position of the second marker M2 is an intermediate position between the pair of first markers M1a and M1b will be described, but the ideal position may not be the intermediate position between the pair of first markers M1a and M1b. .. That is, if the second marker M2 can be imaged together with the pair of first markers M1a and M1b and is formed at a predetermined position, the ideal position of the second marker M2 is the pair of first markers M1a. , M1b may be close to either one, or may not be between the pair of first markers M1a and M1b.
ここで、図15-1に例示したテストパターンTPを記録媒体Pに形成した際に、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に相対的な位置ずれが生じた場合について考える。図19は、テストパターンに含まれる一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に相対的な位置ずれが生じた例を説明する図である。 Here, when the test pattern TP illustrated in FIG. 15-1 is formed on the recording medium P, a relative positional deviation occurs between the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2. think. FIG. 19 is a diagram illustrating an example in which a relative positional deviation occurs between the pair of first markers M1a and M1b included in the test pattern and the second marker M2.
図15-1に例示したテストパターンTPは、上述したように、一対の第1マーカM1a、M1b間の中間に相当する位置(理想位置)に第2マーカM2が形成されるはずであるが、記録媒体Pの搬送量の変動に起因するインクの着弾位置ずれによって、図19に示すように、第2マーカM2が第1マーカM1bに近い位置に形成されたとする。このときの撮像画像上における第2マーカM2と第1マーカM1aとの間の距離をaとし、撮像画像上における第2マーカM2と第1マーカM1bとの間の距離をbとする。 In the test pattern TP illustrated in FIG. 15-1, as described above, the second marker M2 should be formed at a position (ideal position) corresponding to the middle between the pair of first markers M1a and M1b. As shown in FIG. 19, it is assumed that the second marker M2 is formed at a position close to the first marker M1b due to the ink landing position shift due to the fluctuation of the transport amount of the recording medium P. At this time, the distance between the second marker M2 and the first marker M1a on the captured image is a, and the distance between the second marker M2 and the first marker M1b on the captured image is b.
一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に相対的な位置ずれが生じた場合であっても、一対の第1マーカM1a、M1bは同じ条件(搬送量が同じ)で形成されるため、一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離に変動はない。つまり、図19における距離a+b(一対の第1マーカM1a、M1b間の距離)に対応する実距離は、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に相対的な位置ずれが生じても変動しない。 Even if a relative positional deviation occurs between the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2, the pair of first markers M1a and M1b are formed under the same conditions (same transfer amount). Therefore, there is no change in the actual distance between the pair of first markers M1a and M1b. That is, the actual distance corresponding to the distance a + b (distance between the pair of first markers M1a and M1b) in FIG. 19 has a relative positional deviation between the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2. It does not change even if it occurs.
図20は、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量を説明する図である。図20では、一対の第1マーカM1a、M1b間の中点を原点とし、実距離を横軸、撮像画像上の距離を縦軸とする座標上で、一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置をプロットしたものである。この図20の例では、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に、図19のような相対的な位置ずれが生じているものとしている。 FIG. 20 is a diagram illustrating the amount of misalignment of the second marker M2 with respect to the pair of first markers M1a and M1b. In FIG. 20, each of the pair of first markers M1a and M1b has coordinates with the midpoint between the pair of first markers M1a and M1b as the origin, the actual distance as the horizontal axis, and the distance on the captured image as the vertical axis. It is a plot of the position. In the example of FIG. 20, it is assumed that the relative positional deviation as shown in FIG. 19 occurs between the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2.
図20において、プロットされた一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線の傾きが、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離との比率に相当する。つまり、この直線の傾きが、撮像画像における距離と実距離との比率(画像倍率)を表している。また、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2との間に相対的な位置ずれが生じていない場合の第2マーカM2の位置は原点となるので、プロットされた一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線と横軸との交点と、原点との間の距離sが、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量である。 In FIG. 20, the inclination of the straight line connecting the positions of the pair of first markers M1a and M1b plotted is the distance between the pair of first markers M1a and M1b in the captured image and the distance between the pair of first markers M1a and M1b. It corresponds to the ratio with the actual distance. That is, the slope of this straight line represents the ratio (image magnification) between the distance and the actual distance in the captured image. Further, since the position of the second marker M2 is the origin when there is no relative positional deviation between the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2, the plotted pair of first markers The distance s between the intersection of the straight line connecting the positions of M1a and M1b and the horizontal axis and the origin is the amount of misalignment of the second marker M2 with respect to the pair of first markers M1a and M1b.
上記の撮像画像における距離と実距離との比率(画像倍率)は、撮像部20とテストパターンTPとの間の距離の変動により変化する。本実施形態の画像形成装置100は、上述したように、リブ状の突起が形成された凹凸形状を有するプラテン16上に、テストパターンTPが形成された記録媒体Pを支持する構成であるため、プラテン16の凹凸形状の影響により撮像部20とテストパターンTPとの間の距離が変動し、この比率が変化することがある。
The ratio of the distance to the actual distance (image magnification) in the above-mentioned captured image changes depending on the fluctuation of the distance between the
図21は、撮像部とテストパターンとの間の距離が変動した場合の一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量を説明する図である。撮像部20とテストパターンTPとの距離が小さくなると、撮像画像上における第1マーカM1aと第2マーカM2との間の距離は、図19に示したaよりも大きい値のa’となり、撮像画像上における第1マーカM1bと第2マーカM2との間の距離は、図19に示したbよりも大きい値のb’となる。このため、プロットされた一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線の傾きは、図20の例よりも大きくなる。
FIG. 21 is a diagram illustrating the amount of misalignment of the second marker M2 with respect to the pair of first markers M1a and M1b when the distance between the imaging unit and the test pattern fluctuates. When the distance between the
一方、撮像部20とテストパターンTPとの距離が大きくなると、撮像画像上における第1マーカM1aと第2マーカM2との間の距離は、図19に示したaよりも小さい値のa’’となり、撮像画像上における第1マーカM1bと第2マーカM2との間の距離は、図19に示したbよりも値の小さいb’’となる。このため、プロットされた一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線の傾きは、図19の例よりも小さくなる。しかしながら、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量sは、一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線の傾きが変化しても変わることはない。
On the other hand, when the distance between the
また、プロットされた一対の第1マーカM1a、M1bそれぞれの位置を結ぶ直線と縦軸の交点と、原点との距離が、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量である。撮像部20とテストパターンTPとの距離が小さくなると一対の第1マーカM1a、M1bの距離は大きくなるが、撮像画像における位置ずれ量も比率で大きくなる。一方、撮像部20とテストパターンTPとの距離が大きくなると一対の第1マーカM1a、M1bの距離は小さくなるが、撮像画像における位置ずれ量も同じ比率で小さくなる。つまり、撮像部とテストパターンとの間の距離が変動した場合でも、一対の第1マーカM1a、M1bの距離と撮像画像における位置ずれ量との比率が変わることはない。
Further, the distance between the origin and the intersection of the straight line connecting the positions of the pair of first markers M1a and M1b plotted and the vertical axis is the position of the second marker M2 with respect to the pair of first markers M1a and M1b in the captured image. The amount of deviation. As the distance between the
図14に戻り、CPU110の実距離算出部114は、一対の第1マーカM1a、M1bの実距離に、比率算出部143により算出した比率を乗算して、一対の第1マーカM1a、M1bに対する第2マーカM2の位置ずれ量sの実距離を算出する。実距離算出部114により算出された実距離は、調整部115に渡される。
Returning to FIG. 14, the actual
CPU110の調整部115は、実距離算出部114が算出した第2マーカM2の位置ずれ量sの実距離に基づいて、画像形成部による画像形成位置に関わるパラメータの補正量を算出し、算出した補正量により調整する。画像形成位置に関わるパラメータとは、例えば、記録ヘッド6のインク吐出タイミングを制御するパラメータ、キャリッジ5の移動速度を制御するパラメータなどである。調整部115は、これらのパラメータの調整値を制御用FPGA120に伝えることで、インク吐出制御部123やモータ制御部125などによる制御動作を調整する。
The adjusting
<画像形成装置の動作>
次に、図22-1~図22-3を参照しながら、画像形成装置100の画像形成位置の調整に関わる動作の概要について説明する。図22-1、図22-2、図22-3は、第1の実施形態の画像形成装置における画像形成位置の調整に関わる動作の流れを示すフローチャートである。
<Operation of image forming device>
Next, with reference to FIGS. 22-1 to 22-3, an outline of the operation related to the adjustment of the image forming position of the
まず、図22-1に示すように、プラテン16上に記録媒体Pがセットされると、メイン制御基板130にあるCPU110のパターン形成部111が、ROM102などから読み込んだパターンデータに応じた画像形成動作を画像形成部に行わせることにより、記録媒体P上にテストパターンTPおよび基準枠Fを形成する(ステップS10)。
First, as shown in FIG. 22-1, when the recording medium P is set on the
次に、図22-2に示すように、撮像部20の二次元センサ27が、ステップS10でCPU110のパターン形成部111により形成されたテストパターンTPおよび基準枠Fを撮像し、テストパターンTPおよび基準枠Fの撮像画像を出力する(ステップS11)。
Next, as shown in FIG. 22-2, the two-
次に、二次元センサ用CPU140の位置検出部142が、ステップS11で出力されたテストパターンTPおよび基準枠Fの撮像画像を解析し、撮像範囲内に基準枠Fがあるか否かを判断する(ステップS12)。
Next, the position detection unit 142 of the
基準枠Fがあった場合(ステップS12:Yes)、位置検出部142は、基準枠Fを特定し、基準枠F内に規定数のマーカが存在するか否かを判断する(ステップS13)。規定数のマーカが存在する場合(ステップS13:Yes)、位置検出部142は、撮像画像における基準枠Fに基づいて一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置を特定して各々検出する(ステップS14)。 When there is a reference frame F (step S12: Yes), the position detection unit 142 identifies the reference frame F and determines whether or not a predetermined number of markers are present in the reference frame F (step S13). When a specified number of markers are present (step S13: Yes), the position detection unit 142 identifies the positions of the pair of first markers M1a, M1b and the second marker M2 based on the reference frame F in the captured image, and respectively. Detect (step S14).
一方、ステップS12において基準枠Fがなかった場合(ステップS12:No)、およびステップS13において基準枠Fに規定数のマーカが存在しない場合(ステップS13:No)、位置検出部142は、エラーと判断し(ステップS15)、処理を終了する。 On the other hand, when there is no reference frame F in step S12 (step S12: No) and when the specified number of markers does not exist in the reference frame F in step S13 (step S13: No), the position detection unit 142 causes an error. The determination is made (step S15), and the process is terminated.
次に、二次元センサ用CPU140の比率算出部143は、検出された一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の撮像画像における位置を用いて、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と、撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量との比率を算出する(ステップS16)。
Next, the ratio calculation unit 143 of the
その後、図22-3に示すように、CPU110の実距離算出部114がステップS10でテストパターンTPの形成に用いたパターンデータと、二次元センサ用CPU140の比率算出部143によりステップS16で算出された比率とを用いて、一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離に上記の比率を乗算して、第2マーカM2の位置ずれ量の実距離を算出する(ステップS17)。
After that, as shown in FIG. 22-3, the pattern data used by the actual
次に、CPU110の調整部115が、ステップS17で算出された第2マーカM2の位置ずれ量の実距離により、インクの着弾位置ずれが生じているか否かを判定する(ステップS18)。ここでインクの着弾位置ずれが生じていないと判定された場合は(ステップS18:No)、そのまま一連の動作が終了する。
Next, the adjusting
一方、インクの着弾位置ずれが生じていると判定された場合は(ステップS18:Yes)、調整部115が、ステップS17で算出された第2マーカM2の位置ずれ量の実距離に基づいて、画像形成の位置に関わるパラメータを調整して(ステップS19)、一連の動作が終了する。
On the other hand, when it is determined that the ink landing position shift has occurred (step S18: Yes), the adjusting
このように、本実施形態の画像形成装置100は、一対の第1マーカM1a、M1bおよび一対の第1マーカM1a、M1bとは異なる条件で形成された第2マーカM2を含むテストパターンTPと、基準枠Fとを形成し、このテストパターンTPおよび基準枠Fを撮像部20により撮像する。次に、撮像画像における基準枠Fを特定し、特定した基準枠Fに基づいてテストパターンTPの一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置を特定し、各々検出する。そして、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と、撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量との比率を算出し、一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離に上記の比率を乗算して、第2マーカM2の位置ずれ量の実距離を算出する。そして、この位置ずれ量の実距離に基づいて画像形成位置に関わるパラメータを調整する。
As described above, the
したがって、本実施形態の画像形成装置100によれば、撮像部20とテストパターンTPとの間の距離が変動する環境であっても、テストパターンTPおよび基準枠Fを撮像した撮像画像をもとにインクの着弾位置ずれの位置ずれ量に応じた実距離を適切に算出することを可能にでき、位置ずれ量に応じて画像形成位置に関わるパラメータを調整することで、画像品質を向上させることができる。また、撮像部20により撮像された撮像画像から基準枠Fを特定して、当該基準枠Fに基づいて一対の第1マーカM1a、M1bおよび第2マーカM2の位置を特定して検出するため、撮像画像におけるテストパターンTPの位置が特定し易い。
Therefore, according to the
<第2マーカの位置ずれ量の実距離の他の算出方法>
上述した実施形態では、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と撮像画像における第2マーカM2の位置ずれ量との比率を算出し、一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離に当該比率を乗算して、第2マーカM2の位置ずれ量の実距離を算出する構成となっていたが、以下のような方法で第2マーカM2の位置ずれ量の実距離を算出してもよい。
<Other calculation method of the actual distance of the misalignment amount of the second marker>
In the above-described embodiment, the ratio between the distance between the pair of first markers M1a and M1b in the captured image and the amount of misalignment of the second marker M2 in the captured image is calculated, and the actual result between the pair of first markers M1a and M1b is calculated. The actual distance of the misalignment amount of the second marker M2 was calculated by multiplying the distance by the ratio. However, the actual distance of the misalignment amount of the second marker M2 is calculated by the following method. You may.
比率算出部143が、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1b間の距離と、撮像画像における一対の第1マーカM1a、M1bのうちの一方と第2マーカM2との距離との比率を算出する。例えば、図19を参照すると、a/(a+b)またはb/(a+b)がここで算出する比率である。 The ratio calculation unit 143 calculates the ratio between the distance between the pair of first markers M1a and M1b in the captured image and the distance between one of the pair of first markers M1a and M1b in the captured image and the second marker M2. do. For example, referring to FIG. 19, a / (a + b) or b / (a + b) is the ratio calculated here.
そして、実距離算出部114が、一対の第1マーカM1a、M1b間の実距離に、比率算出部143により算出された比率を乗算して、一対の第1マーカM1a、M1bのうちの一方と第2マーカM2との距離の実距離を算出する。そして、テストパターンTPの形成に用いたパターンデータにおける一対の第1マーカM1a、M1bのうちの一方と第2マーカM2との距離から、算出した一対の第1マーカM1a、M1bのうちの一方と第2マーカM2との距離の実距離を差し引くことで、第2マーカM2の位置ずれ量の実距離を算出する。そして、算出された第2マーカM2の位置ずれ量の実距離に基づいて、画像形成位置に関わるパラメータを調整できる。
Then, the actual
<テストパターンの変形例>
本実施形態で用いるテストパターンTPは、図15-1に示した例に限らず、様々な変形が可能である。以下、このようなテストパターンTPの変形例を説明する。
<Modification example of test pattern>
The test pattern TP used in this embodiment is not limited to the example shown in FIG. 15-1, and can be variously modified. Hereinafter, a modified example of such a test pattern TP will be described.
図15-1に例示したテストパターンTPは、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2が副走査方向に延びる線状に形成された構成となっていたが、ノズル曲がりの影響が発生しない、もしくは無視できるほどに小さいのであれば、線状ではなくドットで形成してもよい。図23は、ドットで形成されたテストパターンおよび基準枠の一例を示す図である。例えば、図23に示すように、基準枠F内に、ドットによる一対の第1マーカM1a、M1bと、一対の第1マーカM1a、M1bの中点にドットによる第2マーカM2とを含むマーカのセットMを形成する構成としてもよい。 The test pattern TP illustrated in FIG. 15-1 had a configuration in which a pair of first markers M1a and M1b and a second marker M2 were formed in a linear shape extending in the sub-scanning direction, but the influence of nozzle bending occurred. If not, or if it is small enough to be ignored, it may be formed by dots instead of linear. FIG. 23 is a diagram showing an example of a test pattern and a reference frame formed by dots. For example, as shown in FIG. 23, a marker including a pair of first markers M1a and M1b with dots and a pair of first markers M1a and M1b with dots at the midpoint of the reference frame F. It may be configured to form a set M.
図24は、ドットで形成されたテストパターンおよび基準枠の他の例を示す図である。図24に示すように、基準枠F内に、ドットによる一対の第1マーカM1a、M1bと、一対の第1マーカM1a、M1bの中点にドットによる第2マーカM2とを含むマーカのセットMを複数形成する構成としてもよい。図24では、9つのマーカのセットMが形成された図を示している。 FIG. 24 is a diagram showing another example of a test pattern and a reference frame formed by dots. As shown in FIG. 24, a set of markers M including a pair of first markers M1a and M1b with dots and a pair of first markers M1a and M1b with dots at the midpoint of the reference frame F. May be configured to form a plurality of. FIG. 24 shows a diagram in which a set M of nine markers is formed.
また、図25に例示したテストパターンTPは、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2が、基準枠Fの副走査方向の長さよりも長い線で、副走査方向に延びる線状に形成された構成となっていたが、ノズル曲がりの影響が発生しない、もしくは無視できるほどに小さいのであれば、所定の長さの線状で形成してもよい。図25は、所定の長さの線状で形成されたテストパターンおよび基準枠の一例を示す図である。図25に示すように、基準枠F内に、所定の長さの線状による一対の第1マーカM1a、M1bと、一対の第1マーカM1a、M1bの中間に同じ長さの線状による第2マーカM2とを含むマーカのセットMを複数形成する構成としてもよい。図25では、9つのマーカのセットMが形成された図を示している。 Further, in the test pattern TP illustrated in FIG. 25, the pair of first markers M1a and M1b and the second marker M2 are lines longer than the length of the reference frame F in the sub-scanning direction and extend in the sub-scanning direction. Although it was formed, it may be formed in a linear shape having a predetermined length as long as it is not affected by nozzle bending or is small enough to be ignored. FIG. 25 is a diagram showing an example of a test pattern and a reference frame formed by a line of a predetermined length. As shown in FIG. 25, in the reference frame F, a pair of first markers M1a and M1b having a predetermined length and a pair of first markers M1a and M1b having the same length are intermediate with each other. A plurality of marker sets M including the two marker M2 may be formed. FIG. 25 shows a diagram in which a set M of nine markers is formed.
また、図15-1に例示したテストパターンTPは、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2とにより形成され、基準枠F内に配置された構成となっていたが、基準枠Fが一対の第1マーカM1a、M1bを兼ねた構成としてもよい。図26は、基準枠がテストパターンの一部を兼ねている場合の一例を示す図である。図26に示すように、基準枠Fの副走査方向の一対の基準線Fbが一対の第1マーカM1a、M1bを兼ねており、一対の第1マーカM1a、M1bの中間に第2マーカM2が配置された構成となっている。これにより、基準枠Fの検出とともにテストパターンTPが検出できる。 Further, the test pattern TP illustrated in FIG. 15-1 was formed by a pair of the first markers M1a and M1b and the second marker M2, and was arranged in the reference frame F. May also serve as a pair of first markers M1a and M1b. FIG. 26 is a diagram showing an example of a case where the reference frame also serves as a part of the test pattern. As shown in FIG. 26, the pair of reference lines Fb in the sub-scanning direction of the reference frame F also serve as the pair of first markers M1a and M1b, and the second marker M2 is located between the pair of first markers M1a and M1b. It has an arranged configuration. As a result, the test pattern TP can be detected together with the detection of the reference frame F.
図27は、基準枠がテストパターンの一部を兼ねている場合の他の例を示す図である。図27に示すように、基準枠Fの副走査方向の一対の基準線Fbが一対の第1マーカM1a、M1bを兼ねており、一対の第1マーカM1a、M1bの間に複数の第2マーカM2が配置された構成としてもよい。図27では、9本の第2マーカM2が配置されている。これにより、基準枠Fの検出とともにテストパターンTPが検出できる。 FIG. 27 is a diagram showing another example when the reference frame also serves as a part of the test pattern. As shown in FIG. 27, a pair of reference lines Fb in the sub-scanning direction of the reference frame F also serve as a pair of first markers M1a and M1b, and a plurality of second markers are placed between the pair of first markers M1a and M1b. The configuration may be such that M2 is arranged. In FIG. 27, nine second markers M2 are arranged. As a result, the test pattern TP can be detected together with the detection of the reference frame F.
<基準線の特定例>
本実施形態では、基準線Fbを一対の第1マーカM1a、M1bとともに形成された例を示したが、複数の基準位置を形成して基準線Fbを特定してもよい。図28-1は、基準位置から仮想的に基準線を特定する場合の説明図である。図28-2は、仮想的に特定された基準線に沿ってトリミングした画像例を示す図である。
<Specific example of reference line>
In the present embodiment, an example in which the reference line Fb is formed together with the pair of first markers M1a and M1b is shown, but a plurality of reference positions may be formed to specify the reference line Fb. FIG. 28-1 is an explanatory diagram when the reference line is virtually specified from the reference position. FIG. 28-2 is a diagram showing an example of an image trimmed along a virtually specified reference line.
図28-1に示すように、例えば、副走査方向に沿った一対の基準位置Fcを二組形成する。図28-1では、基準位置Fcを太線の×状の基準マークで示している。各組の基準位置Fcをそれぞれ繋ぐことで、仮想的な基準線Fbを特定することができ、これにより、撮像画像の倍率を調整することができる。 As shown in FIG. 28-1, for example, two sets of a pair of reference position Fcs along the sub-scanning direction are formed. In FIG. 28-1, the reference position Fc is indicated by a thick x-shaped reference mark. By connecting each set of reference position Fc, a virtual reference line Fb can be specified, and thereby the magnification of the captured image can be adjusted.
図28-2では、例えば、仮想的な基準線Fbに沿って撮像画像をトリミングしている。トリミングした画像の幅を、予め定めた幅になるように変倍を揃えた後、画像の端辺、すなわち仮想的な基準線Fbから所定の距離にある一対の第1マーカM1a、M1bの位置を特定して検出できる。そして、一対の第1マーカM1a、M1bの間に位置する第2マーカM2の位置を特定して検出する。 In FIG. 28-2, for example, the captured image is cropped along a virtual reference line Fb. After adjusting the scaling of the trimmed image width so that it has a predetermined width, the positions of the pair of first markers M1a and M1b at a predetermined distance from the edge of the image, that is, the virtual reference line Fb. Can be identified and detected. Then, the position of the second marker M2 located between the pair of first markers M1a and M1b is specified and detected.
(第2の実施形態)
第1の実施形態の画像形成装置では、キャリッジに搭載された二次元センサ用CPUにおいて、撮像画像からのテストパターンの位置検出処理、および比率算出処理を行う構成となっていたが、位置検出処理および比率算出処理をメイン制御基板において行ってもよい。
(Second embodiment)
In the image forming apparatus of the first embodiment, the CPU for the two-dimensional sensor mounted on the carriage is configured to perform position detection processing and ratio calculation processing of the test pattern from the captured image. However, the position detection processing is performed. And the ratio calculation process may be performed on the main control board.
まず、図29を参照しながら、本実施形態の画像形成装置200のハードウェア構成について説明する。図29は、第2の実施形態の画像形成装置のハードウェア構成図である。
First, the hardware configuration of the
本実施形態の画像形成装置200は、図29に示すように、CPU210、ROM102、RAM103、記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105、副走査ドライバ106、制御用FPGA120、記録ヘッド6、エンコーダセンサ13、撮像部40、主走査モータ8、および副走査モータ12を備えている。
As shown in FIG. 29, the
CPU210、ROM102、RAM103、記録ヘッドドライバ104、主走査ドライバ105、副走査ドライバ106、および制御用FPGA120は、メイン制御基板230に搭載されている。また、記録ヘッド6、エンコーダセンサ13、および撮像部40は、キャリッジ50に搭載されている。
The
ここで、CPU210、および撮像部40の構成以外は、第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
Here, since the configuration is the same as that of the first embodiment except for the configuration of the
CPU210は、第1の実施形態と同様に、画像形成装置200の全体の制御を司る。特に、本実施形態の画像形成装置200では、テストパターンTPおよび当該テストパターンTPの位置を特定する基準となる基準枠F(図15-1参照)を形成する機能や距離計測装置としての機能、距離に基づいて画像形成の位置に関わるパラメータを調整する機能などを、このCPU210により実現する。
The
撮像部40は、CPU210による制御のもとで記録媒体P上に形成されたテストパターンTPおよび基準枠F(図15-1参照)を撮像するものであって、二次元センサ27を備えている。
The
二次元センサ27は、上述したように、CCDセンサまたはCMOSセンサなどであって、CPU210から制御用FPGA120を介して送られた各種設定信号に基づく所定の動作条件によって、テストパターンTPおよび基準枠Fを撮像する。そして、二次元センサ27は、撮像した撮像画像を、制御用FPGA120を介してCPU210に出力する。
As described above, the two-
次に、図30を参照しながら、画像形成装置200のCPU210により実現される特徴的な機能について説明する。図30は、第2の実施形態の画像形成装置の機能構成を示すブロック図である。
Next, with reference to FIG. 30, a characteristic function realized by the
CPU210は、例えば、RAM103を作業領域として利用して、ROM102に格納された制御プログラムを実行することにより、パターン形成部111、位置検出部212、比率算出部213、実距離算出部114、および調整部115などの機能を実現する。
The
ここで、パターン形成部111、実距離算出部114、および調整部115の機能は第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
Here, since the functions of the
また、位置検出部212、および比率算出部213の機能は、第1の実施形態の位置検出部142、比率算出部143と同様であるが、第1の実施形態と異なり、CPU210において実行される。
Further, the functions of the
第2の実施形態の画像形成装置200における画像形成位置の調整に関わる動作の流れについては、第1の実施形態と同様であるため説明を省略する(図22参照)。
Since the flow of the operation related to the adjustment of the image forming position in the
このように、本実施形態の画像形成装置200では、位置検出部212および比率算出部213を含むすべての機能を、メイン制御基板230のCPU210により行う。このように構成した場合も、第1の実施形態の画像形成装置100と同様の効果を奏する。
As described above, in the
本実施形態では、基準枠Fを用いてキャリッジの往路移動時と復路移動時との違いによるインクの着弾位置ずれ量を算出し、画像形成位置に関わるパラメータの補正を行うものであったが、記録媒体Pの搬送誤差や、記録ヘッドの取り付け誤差による位置ずれ量の算出に対して適用してもよい。 In the present embodiment, the reference frame F is used to calculate the amount of ink landing position deviation due to the difference between the outward movement and the return movement of the carriage, and the parameters related to the image formation position are corrected. It may be applied to the calculation of the amount of misalignment due to the transport error of the recording medium P and the mounting error of the recording head.
例えば、記録媒体Pの搬送誤差による位置ずれに対して適用する場合、搬送する前に一対の第1マーカM1a、M1bを搬送方向(副走査方向)に直交する方向(主走査方向)に延びる線として形成する。そして、記録媒体Pを搬送した後に、第2マーカM2を搬送方向(副走査方向)に直交する方向(主走査方向)に延びる線として形成する。基準枠Fは、第1の実施形態と同様に、一対の第1マーカM1a、M1bまたは第2マーカM2のいずれか一方とともに形成する。この場合、記録媒体Pを搬送する前と後という異なる条件で一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2が形成される。 For example, when applied to a misalignment due to a transport error of the recording medium P, a line extending a pair of first markers M1a and M1b in a direction orthogonal to the transport direction (sub-scanning direction) (main scanning direction) before transporting. Form as. Then, after the recording medium P is conveyed, the second marker M2 is formed as a line extending in a direction (main scanning direction) orthogonal to the conveying direction (sub-scanning direction). The reference frame F is formed together with either one of the pair of first markers M1a and M1b or the second marker M2, as in the first embodiment. In this case, a pair of first markers M1a and M1b and a second marker M2 are formed under different conditions, that is, before and after the recording medium P is conveyed.
また、例えば、記録ヘッドの取り付け誤差による位置ずれに対して適用する場合、第1のヘッドで一対の第1マーカM1a、M1bを、記録媒体Pの搬送方向(副走査方向)に直交する方向(主走査方向)に延びる線として形成する。そして、第1のヘッドと異なる第2のヘッドで第2マーカM2を、記録媒体Pの搬送方向(副走査方向)に直交する方向(主走査方向)に延びる線として形成する。基準枠Fは、第1の実施形態と同様に一対の第1マーカM1a、M1bまたは第2マーカM2のいずれか一方とともに形成する。この場合、異なる記録ヘッドという異なる条件で、一対の第1マーカM1a、M1bと第2マーカM2が形成される。 Further, for example, when applied to a misalignment due to a mounting error of the recording head, the pair of first markers M1a and M1b on the first head are oriented in a direction orthogonal to the transport direction (sub-scanning direction) of the recording medium P (secondary scanning direction). It is formed as a line extending in the main scanning direction). Then, the second marker M2 is formed by a second head different from the first head as a line extending in a direction (main scanning direction) orthogonal to the conveying direction (sub-scanning direction) of the recording medium P. The reference frame F is formed together with either one of the pair of first markers M1a and M1b or the second marker M2 as in the first embodiment. In this case, a pair of first markers M1a and M1b and a second marker M2 are formed under different conditions of different recording heads.
なお、本実施形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、ROM等に予め組み込まれて提供される。本実施形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD-ROM、フレキシブルディスク(FD)、CD-R、DVD(Digital Versatile Disc)等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して提供するように構成してもよい。 The program executed by the image forming apparatus of the present embodiment is provided by being incorporated in a ROM or the like in advance. The program executed by the image forming apparatus of the present embodiment is a file in an installable format or an executable format on a computer such as a CD-ROM, a flexible disc (FD), a CD-R, or a DVD (Digital Versatile Disc). It may be configured to be recorded and provided on a readable recording medium.
さらに、本実施形態の画像形成装置で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成しても良い。また、本実施形態の画像形成装置で実行されるプログラムをインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成しても良い。 Further, the program executed by the image forming apparatus of the present embodiment may be stored on a computer connected to a network such as the Internet and provided by downloading via the network. Further, the program executed by the image forming apparatus of the present embodiment may be configured to be provided or distributed via a network such as the Internet.
本実施形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、上述した各部(パターン形成部、位置検出部、比率算出部、実距離算出部、調整部)を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはCPU(プロセッサ)が上記ROMからプログラムを読み出して実行することにより上記各部が主記憶装置上にロードされ、上記各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。また、例えば、上述した各部の機能のうちの一部または全部が専用のハードウェア回路で実現されてもよい。 The program executed by the image forming apparatus of the present embodiment has a module configuration including each of the above-mentioned parts (pattern forming part, position detecting part, ratio calculation part, actual distance calculation part, adjustment part), and is an actual hardware. As the hardware, the CPU (processor) reads the program from the ROM and executes the program, so that each part is loaded on the main storage device and each part is generated on the main storage device. Further, for example, some or all of the functions of the above-mentioned parts may be realized by a dedicated hardware circuit.
以上、本発明の具体的な実施形態について詳細に説明したが、本発明は上述した実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で様々な変形や変更を加えながら具体化することができる。 Although the specific embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and various modifications and changes are made at the implementation stage without departing from the gist thereof. However, it can be materialized.
例えば、上述した実施形態では、シリアルヘッド方式のインクジェットプリンタとして構成された画像形成装置への適用例を説明したが、本発明は、様々なタイプの画像形成装置に適用できる。例えば、ラインヘッド方式のインクジェットプリンタでは、記録ヘッド間の位置ずれに起因するインクの着弾位置ずれが生じ得る。本発明を適用することにより、このようなインクの着弾位置ずれが生じた場合にその位置ずれ量を正しく求めることができ、位置ずれ量に応じて画像形成位置に関わるパラメータを調整することで、画像品質を向上させることができる。 For example, in the above-described embodiment, an example of application to an image forming apparatus configured as a serial head type inkjet printer has been described, but the present invention can be applied to various types of image forming apparatus. For example, in a line head type inkjet printer, ink landing position shift may occur due to position shift between recording heads. By applying the present invention, when such an ink landing position shift occurs, the position shift amount can be correctly obtained, and by adjusting the parameter related to the image formation position according to the position shift amount, the position shift can be obtained. Image quality can be improved.
また、例えば、タンデム型の電子写真方式の画像形成装置においては、各色の像を形成する感光体ドラムの位置ずれなどにより、インクジェットプリンタでのインクの着弾位置ずれに相当する画像の位置ずれが生じ得る。本発明を適用することにより、このような画像の位置ずれが生じた場合にその位置ずれ量を正しく求めることができ、位置ずれ量に応じて画像形成位置に関わるパラメータを調整することで、画像品質を向上させることができる。 Further, for example, in a tandem type electrophotographic image forming apparatus, an image misalignment corresponding to an ink landing position misalignment in an inkjet printer occurs due to a misalignment of a photoconductor drum forming an image of each color. obtain. By applying the present invention, when such an image misalignment occurs, the misalignment amount can be correctly obtained, and by adjusting the parameters related to the image formation position according to the misalignment amount, the image can be obtained. The quality can be improved.
また、例えば、熱によって記録媒体に印字を行なうサーマルプリンタにおいては、サーマルヘッドの位置ずれなどにより、インクジェットプリンタでのインクの着弾位置ずれに相当する画像の位置ずれが生じ得る。本発明を適用することにより、このような画像の位置ずれが生じた場合にその位置ずれ量を正しく求めることができ、位置ずれ量に応じて画像形成位置に関わるパラメータを調整することで、画像品質を向上させることができる。 Further, for example, in a thermal printer that prints on a recording medium by heat, an image misalignment corresponding to an ink landing position misalignment in an inkjet printer may occur due to a misalignment of the thermal head or the like. By applying the present invention, when such an image misalignment occurs, the misalignment amount can be correctly obtained, and by adjusting the parameters related to the image formation position according to the misalignment amount, the image can be obtained. The quality can be improved.
また、本実施形態の画像形成には、用紙などの記録媒体への出力だけでなく、基板の形成も含まれる。上記実施形態では、本発明の画像形成装置を、プリンタに適用した例を挙げて説明したが、コピー機能、プリンタ機能、スキャナ機能およびファクシミリ機能のうち少なくとも2つの機能を有する複合機、複写機等の画像形成装置にも適用することができる。 Further, the image formation of the present embodiment includes not only output to a recording medium such as paper but also formation of a substrate. In the above embodiment, an example in which the image forming apparatus of the present invention is applied to a printer has been described, but a multifunction device, a copying machine, etc. having at least two functions of a copy function, a printer function, a scanner function, and a facsimile function have been described. It can also be applied to the image forming apparatus of.
5、50 キャリッジ
6(6A、6B、6C) 記録ヘッド
20、40 撮像部
27 二次元センサ
28 結像レンズ
100、200 画像形成装置
110 CPU
111 パターン形成部
114 実距離算出部
115 調整部
140 二次元センサ用CPU
142、212 位置検出部
143、213 比率算出部
P 記録媒体
TP テストパターン
M1a、M1b 第1マーカ
M2 第2マーカ
5, 50 Carriage 6 (6A, 6B, 6C)
111
142, 212
Claims (10)
前記撮像部により撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出部と、
前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記第2マーカの位置ずれ量との比率を算出する比率算出部と、
を備え、
前記基準マーカは、前記撮像部により撮像される撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、
前記位置検出部は、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する、撮像装置。 A test pattern including a pair of first markers and a second marker formed under conditions different from the pair of first markers, and one of the pair of first markers or the second marker is formed. An image pickup unit that captures an image of a reference marker that serves as a reference for specifying the position of the test pattern.
A position detection unit that detects a reference marker in an image captured by the imaging unit, identifies the positions of the pair of first markers and the second marker based on the detected reference marker, and detects each of them.
A ratio calculation unit that calculates the ratio between the distance between the pair of first markers in the captured image and the amount of misalignment of the second marker in the captured image.
Equipped with
The reference marker is a reference frame that surrounds a predetermined range smaller than the imaging range imaged by the imaging unit.
The position detection unit is an image pickup apparatus that detects the reference frame, identifies and detects the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame .
前記基準マーカは、前記所定の方向に延びる線を含む、請求項1に記載の撮像装置。 The pair of first markers and the second marker are formed in a linear shape extending in a predetermined direction.
The imaging device according to claim 1, wherein the reference marker includes a line extending in the predetermined direction.
前記撮像部により撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出部と、
前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記一対の第1マーカのうちの一方および前記第2マーカの距離との比率を算出する比率算出部と、
を備え、
前記基準マーカは、前記撮像部により撮像される撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、
前記位置検出部は、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する、撮像装置。 A test pattern including a pair of first markers and a second marker formed under conditions different from the pair of first markers, and one of the pair of first markers or the second marker is formed. An image pickup unit that captures an image of a reference marker that serves as a reference for specifying the position of the test pattern.
A position detection unit that detects a reference marker in an image captured by the imaging unit, identifies the positions of the pair of first markers and the second marker based on the detected reference marker, and detects each of them.
A ratio calculation unit that calculates the ratio between the distance between the pair of first markers in the captured image and the distance between one of the pair of first markers in the captured image and the distance between the second markers.
Equipped with
The reference marker is a reference frame that surrounds a predetermined range smaller than the imaging range imaged by the imaging unit.
The position detection unit is an image pickup apparatus that detects the reference frame, identifies and detects the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame .
前記画像形成部を用いて、一対の第1マーカ、および該一対の第1マーカとは異なる条件で形成された第2マーカを含むテストパターンと、前記一対の第1マーカまたは前記第2マーカのうちいずれか一方とともに形成され、前記テストパターンの位置を特定する基準となる基準マーカと、を形成するパターン形成部と、
前記テストパターンと前記基準マーカとを撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出部と、
前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記第2マーカの位置と、前記一対の第1マーカ間の実距離とに基づいて、前記第2マーカの位置ずれ量の実距離を算出する実距離算出部と、
を備え、
前記基準マーカは、前記撮像部により撮像される撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、
前記位置検出部は、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する、画像形成装置。 The image forming part that forms the image and the image forming part
A test pattern including a pair of first markers and a second marker formed under conditions different from the pair of first markers using the image forming unit, and the pair of first markers or the second marker. A pattern forming portion that is formed together with one of the two and serves as a reference marker for specifying the position of the test pattern, and a pattern forming portion that forms the reference marker.
An imaging unit that captures the test pattern and the reference marker,
A position detection unit that detects a reference marker in an image captured by the imaging unit, identifies the positions of the pair of first markers and the second marker based on the detected reference marker, and detects each of them.
The amount of misalignment of the second marker based on the distance between the pair of first markers in the captured image, the position of the second marker in the captured image, and the actual distance between the pair of first markers. The actual distance calculation unit that calculates the actual distance of
Equipped with
The reference marker is a reference frame that surrounds a predetermined range smaller than the imaging range imaged by the imaging unit.
The position detection unit is an image forming apparatus that detects the reference frame, identifies and detects the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame .
前記撮像ステップで撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出ステップと、
前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記第2マーカの位置と、前記一対の第1マーカ間の実距離とに基づいて、前記第2マーカの位置ずれ量を算出する実距離算出ステップと、
を含み、
前記基準マーカは、前記撮像ステップで撮像した撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、
前記位置検出ステップでは、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する、実距離算出方法。 A test pattern including a pair of first markers and a second marker formed under conditions different from the pair of first markers, and one of the pair of first markers or the second marker is formed. An imaging step for imaging a reference marker that serves as a reference for specifying the position of the test pattern, and
A position detection step in which a reference marker in the captured image captured in the imaging step is detected, and the positions of the pair of first markers and the second marker are specified and detected based on the detected reference marker.
The amount of misalignment of the second marker based on the distance between the pair of first markers in the captured image, the position of the second marker in the captured image, and the actual distance between the pair of first markers. And the actual distance calculation step to calculate
Including
The reference marker is a reference frame that surrounds a predetermined range smaller than the imaging range captured in the imaging step.
In the position detection step, an actual distance calculation method in which the reference frame is detected, and the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame are specified and detected respectively .
一対の第1マーカ、および該一対の第1マーカとは異なる条件で形成された第2マーカを含むテストパターンと、前記一対の第1マーカまたは前記第2マーカのうちいずれか一方とともに形成され、前記テストパターンの位置を特定する基準となる基準マーカと、を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された撮像画像における基準マーカを検出し、検出した前記基準マーカに基づいて前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出する位置検出部と、
前記撮像画像における前記一対の第1マーカ間の距離と、前記撮像画像における前記第2マーカの位置ずれ量との比率を算出する比率算出部と、
して機能させ、
前記基準マーカは、前記撮像部により撮像される撮像範囲より小さい所定範囲を取り囲む基準枠であって、
前記位置検出部は、前記基準枠を検出し、検出した前記基準枠の内部にある前記一対の第1マーカおよび前記第2マーカの位置を特定して各々検出するためのプログラム。 Computer,
A test pattern including a pair of first markers and a second marker formed under conditions different from the pair of first markers, and one of the pair of first markers or the second marker is formed. An image pickup unit that captures an image of a reference marker that serves as a reference for specifying the position of the test pattern.
A position detection unit that detects a reference marker in an image captured by the imaging unit, identifies the positions of the pair of first markers and the second marker based on the detected reference marker, and detects each of them.
A ratio calculation unit that calculates the ratio between the distance between the pair of first markers in the captured image and the amount of misalignment of the second marker in the captured image.
To make it work
The reference marker is a reference frame that surrounds a predetermined range smaller than the imaging range imaged by the imaging unit.
The position detection unit is a program for detecting the reference frame, identifying the positions of the pair of first markers and the second marker inside the detected reference frame, and detecting each of them .
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