JP6954308B2 - Method of manufacturing the release layer - Google Patents

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Description

本発明は、剥離層の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for producing a release layer.

近年、電子デバイスには薄型化及び軽量化という特性に加え、曲げることができるという機能を付与することが求められている。このことから、従来の重く脆弱で曲げることができないガラス基板に代わって、軽量なフレキシブルプラスチック基板を用いることが求められる。
特に、新世代ディスプレイでは、軽量なフレキシブルプラスチック基板(以下、樹脂基板と表記する)を用いたアクティブマトリクス型フルカラーTFTディスプレイパネルの開発が求められている。
In recent years, in addition to the characteristics of thinning and weight reduction, electronic devices are required to be provided with a function of being bendable. For this reason, it is required to use a lightweight flexible plastic substrate instead of the conventional heavy, fragile and inflexible glass substrate.
In particular, in the new generation display, development of an active matrix type full-color TFT display panel using a lightweight flexible plastic substrate (hereinafter referred to as a resin substrate) is required.

そこで、樹脂フィルムを基板とした電子デバイスの製造方法が各種検討され始めており、新世代ディスプレイでは、既存のTFTディスプレイパネル製造用の設備が転用可能なプロセスの検討が進められている。特許文献1、2及び3では、ガラス基板上にアモルファスシリコン薄膜層を形成し、その薄膜層上にプラスチック基板を形成した後に、ガラス基板側からレーザーを照射してアモルファスシリコンを結晶化させ、その結晶化に伴い発生する水素ガスによりプラスチック基板をガラス基板から剥離する方法が開示されている。 Therefore, various methods for manufacturing electronic devices using a resin film as a substrate have begun to be studied, and for new-generation displays, studies are underway on a process in which existing equipment for manufacturing TFT display panels can be diverted. In Patent Documents 1, 2 and 3, an amorphous silicon thin film layer is formed on a glass substrate, a plastic substrate is formed on the thin film layer, and then a laser is irradiated from the glass substrate side to crystallize the amorphous silicon. A method of peeling a plastic substrate from a glass substrate by hydrogen gas generated by crystallization is disclosed.

また、特許文献4では、特許文献1〜3で開示された技術を用いて被剥離層(特許文献4において「被転写層」と記載されている)をプラスチックフィルムに貼りつけて液晶表示装置を完成させる方法が開示されている。 Further, in Patent Document 4, a peelable layer (described as “transfer layer” in Patent Document 4) is attached to a plastic film by using the techniques disclosed in Patent Documents 1 to 3 to form a liquid crystal display device. The method of completion is disclosed.

しかし、特許文献1〜4で開示された方法、特に特許文献4で開示された方法では、レーザー光を透過させるために透光性の高い基板を使用することが必須であること、基板を通過させ、更にアモルファスシリコンに含まれる水素を放出させるのに十分な、比較的大きなエネルギーのレーザー光の照射が必要とされること、レーザー光の照射によって被剥離層に損傷を与えてしまう場合があること、といった問題がある。
しかも、被剥離層が大面積である場合には、レーザー処理に長時間を要するため、デバイス作製の生産性を上げることが難しい。
However, in the methods disclosed in Patent Documents 1 to 4, particularly the method disclosed in Patent Document 4, it is essential to use a highly translucent substrate in order to transmit laser light, and the method passes through the substrate. In addition, it is necessary to irradiate a laser beam with a relatively large energy sufficient to release hydrogen contained in amorphous silicon, and the irradiation of the laser beam may damage the layer to be peeled off. There is a problem such as that.
Moreover, when the layer to be peeled has a large area, it takes a long time for laser processing, so that it is difficult to increase the productivity of device fabrication.

このような問題を解決する手段として、特許文献5では、現行のガラス基板を基体(以下、ガラス基体という)として用い、このガラス基体上に環状オレフィンコポリマーのようなポリマーを用いて剥離層を形成し、その剥離層上にポリイミドフィルム等の耐熱樹脂フィルムを形成後、そのフィルム上にITO透明電極やTFT等を真空プロセスで形成・封止後、最終的にガラス基体を剥離・除去する製造工程が採用されている。 As a means for solving such a problem, in Patent Document 5, a current glass substrate is used as a substrate (hereinafter referred to as a glass substrate), and a release layer is formed on the glass substrate by using a polymer such as a cyclic olefin copolymer. A manufacturing process in which a heat-resistant resin film such as a polyimide film is formed on the peeling layer, an ITO transparent electrode, a TFT, or the like is formed and sealed on the film by a vacuum process, and then the glass substrate is finally peeled and removed. Has been adopted.

ところで、現在、TFTとしては、アモルファスシリコンTFTと比較して移動度が2倍速い低温ポリシリコンTFTが使用されている。この低温ポリシリコンTFTは、アモルファスシリコン蒸着後、400℃以上で脱水素アニールを行い、パルスレーザーを照射し、シリコンを結晶化させる必要がある(以下、これらをTFT工程という)が、上記脱水素アニール工程の温度は、既存のポリマーのガラス転移(以下Tg)以上である。
しかしながら、既存のポリマーは、Tg以上の温度に加熱された場合、密着性が高まることが知られており(例えば、特許文献6参照)、加熱処理後に剥離層と樹脂基板との密着性が高まり、樹脂基板を基体から剥離することが困難となることがあった。
By the way, at present, as a TFT, a low-temperature polysilicon TFT whose mobility is twice as fast as that of an amorphous silicon TFT is used. This low-temperature polysilicon TFT needs to be dehydroanylated at 400 ° C. or higher after vapor deposition of amorphous silicon and irradiated with a pulse laser to crystallize the silicon (hereinafter, these are referred to as TFT steps). The temperature of the annealing step is higher than the glass transition (hereinafter Tg) of the existing polymer.
However, it is known that the existing polymer has increased adhesion when heated to a temperature of Tg or higher (see, for example, Patent Document 6), and the adhesion between the release layer and the resin substrate is enhanced after the heat treatment. , It may be difficult to peel off the resin substrate from the substrate.

特開平10−125929号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125929 特開平10−125931号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125931 国際公開第2005/050754号International Publication No. 2005/050754 特開平10−125930号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-125930 特開2010−111853号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-111853 特開2008−188792公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2008-188792

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく剥離することができる剥離層の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method for producing a release layer that can be peeled off without damaging the resin substrate of a flexible electronic device.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、分子内にアルカリ可溶性基を有するポリアミック酸と、有機溶媒とを含む組成物を用い、剥離層形成時の焼成温度を所定の最高到達温度以上とすることで、基体との優れた密着性及びフレキシブル電子デバイスに用いられる樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を形成できることを見出し、本発明を完成させた。 As a result of diligent studies to solve the above problems, the present inventors used a composition containing a polyamic acid having an alkali-soluble group in the molecule and an organic solvent, and determined the firing temperature at the time of forming the release layer. The present invention has been found that a release layer having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate used for a flexible electronic device, and appropriate peelability can be formed by setting the temperature to the maximum temperature reached or higher. Completed.

従って、本発明は、
1. 下記式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸の少なくとも1種と有機溶剤とを含む剥離層形成用組成物を基体上に塗布し、最高温度450〜550℃で焼成する工程を含む剥離層の製造方法、

Figure 0006954308
(式中、Xは、互いに独立して、2つのカルボン酸誘導体を有する4価の芳香族基であり、Yは、互いに独立して、2価の芳香族基であり、Z1及びZ2は、互いに独立して、1価の有機基であり、式(1A)において、Y、Z1及びZ2の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、式(1B)において、Y及び2つのZ1の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、式(1C)において、Y及び2つのZ2の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、mは、互いに独立して自然数を表す。)
2. 上記アルカリ可溶性基が、カルボキシ基又はフェノール性水酸基である1の剥離層の製造方法、
3. 上記Yが、下記式(2)〜(5)で表される芳香族基を含む1又は2の剥離層の製造方法、
Figure 0006954308
(式中、Wは、互いに独立して、カルボキシ基又は水酸基を表し、R1〜R3は、互いに独立して、ハロゲン原子で置換されていてもよい、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数2〜20のアルケニレン基、炭素数2〜20のアルキニレン基、炭素数6〜20のアリーレン基もしくは炭素数2〜20のヘテロアリーレン基、エーテル基、エステル基又はアミド基を表し、○は結合手を表す。)
4. 上記Yが、下記式(6)〜(9)で表される芳香族基を含む3の剥離層の製造方法、
Figure 0006954308
(式中、表し、○は結合手を表す。)
5. 上記Z1が、下記式(10)で表される1価の有機基である1〜4のいずれかの剥離層の製造方法、
Figure 0006954308
(式中、Z3は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)
6. 上記Z2が、下記式(11)で表される1価の有機基である1〜5のいずれかの剥離層の製造方法、
Figure 0006954308
(式中、Z3は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)
7. 上記Yが、さらにアルカリ可溶性基を有しない芳香族基を含む3〜6のいずれかの剥離層の製造方法、
8. 上記アルカリ可溶性基を有しない芳香族基が、フェニレン基、ビフェニレン基又はターフェニレン基である7の剥離層の製造方法、
9. 1〜8のいずれかの製造方法を用いて形成される剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法、
10. 1〜8のいずれかの製造方法を用いて形成した剥離層上に、樹脂基板形成用組成物を塗布した後、最高温度450℃以上で焼成して樹脂基板を形成する工程を含むフレキシブル電子デバイスの製造方法、
11. 前記樹脂基板が、ポリイミド樹脂基板である9又は10のフレキシブル電子デバイスの製造方法
を提供する。Therefore, the present invention
1. 1. A step of applying a composition for forming a release layer containing at least one of the polyamic acids represented by the following formulas (1A) to (1C) and an organic solvent on a substrate and firing at a maximum temperature of 450 to 550 ° C. is included. Method of manufacturing the release layer,
Figure 0006954308
(In the formula, X is a tetravalent aromatic group having two carboxylic acid derivatives independent of each other, and Y is a divalent aromatic group independently of each other, Z 1 and Z 2 Are monovalent organic groups independently of each other, in formula (1A) at least one of Y, Z 1 and Z 2 has an alkali-soluble group, and in formula (1B) Y and two Z. At least one of 1 has an alkali-soluble group, and in formula (1C), at least one of Y and two Z 2 has an alkali-soluble group, and m represents a natural number independently of each other.)
2. A method for producing a release layer of 1 in which the alkali-soluble group is a carboxy group or a phenolic hydroxyl group.
3. 3. A method for producing a release layer of 1 or 2 containing an aromatic group represented by the following formulas (2) to (5).
Figure 0006954308
(In the formula, W represents a carboxy group or a hydroxyl group independently of each other, and R 1 to R 3 are independent of each other and may be substituted with a halogen atom. It represents an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms, an alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms, an arylene group having 6 to 20 carbon atoms or a heteroarylene group having 2 to 20 carbon atoms, an ether group, an ester group or an amide group. Represents a bond.)
4. The method for producing a release layer of 3 containing an aromatic group represented by the following formulas (6) to (9), wherein Y is the method for producing the release layer.
Figure 0006954308
(In the formula, it is represented, and ○ represents the bond.)
5. A method for producing a release layer according to any one of 1 to 4, wherein Z 1 is a monovalent organic group represented by the following formula (10).
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ◯ represents a bond.)
6. A method for producing a release layer according to any one of 1 to 5, wherein Z 2 is a monovalent organic group represented by the following formula (11).
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ◯ represents a bond.)
7. The method for producing a release layer according to any one of 3 to 6, wherein Y further contains an aromatic group having no alkali-soluble group.
8. The method for producing an exfoliated layer of 7, wherein the aromatic group having no alkali-soluble group is a phenylene group, a biphenylene group or a terphenylene group.
9. A method for manufacturing a flexible electronic device including a resin substrate, which comprises using a release layer formed by using any of the manufacturing methods 1 to 8.
10. A flexible electronic device including a step of applying a resin substrate forming composition onto a release layer formed by any of the production methods 1 to 8 and then firing at a maximum temperature of 450 ° C. or higher to form a resin substrate. Manufacturing method,
11. The resin substrate provides a method for manufacturing 9 or 10 flexible electronic devices in which the resin substrate is a polyimide resin substrate.

本発明の剥離層の製造方法を採用することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する剥離層を再現性よく得ることができる。それ故、本発明の製造方法を実施することで、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体上に形成された樹脂基板や、更にその上に設けられる回路等に損傷を与えることなく、当該回路等とともに当該樹脂基板を、当該基体から分離することが可能となる。したがって、本発明の製造方法は、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造プロセスの簡便化やその歩留り向上等に寄与し得る。 By adopting the method for producing a release layer of the present invention, it is possible to obtain a release layer having excellent adhesion to a substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate release property with good reproducibility. Therefore, by implementing the manufacturing method of the present invention, in the manufacturing process of the flexible electronic device, the circuit, etc., without damaging the resin substrate formed on the substrate and the circuit, etc. provided on the substrate, etc. At the same time, the resin substrate can be separated from the substrate. Therefore, the manufacturing method of the present invention can contribute to the simplification of the manufacturing process of the flexible electronic device provided with the resin substrate and the improvement of the yield thereof.

以下、本発明について、より詳細に説明する。
本発明に係る剥離層の製造方法は、下記式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸の少なくとも1種と、有機溶媒とを含む剥離層形成用組成物を基体上に塗布し、最高温度450〜550℃で焼成する工程を含むことを特徴とする。
ここで、本発明における剥離層とは、所定の目的でガラス基体直上に設けられる層であって、その典型例としては、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、基体と、ポリイミドといった樹脂からなるフレキシブル電子デバイスの樹脂基板との間に当該樹脂基板を所定のプロセス中において固定するために設けられ、且つ、当該樹脂基板上に電子回路等の形成した後において当該樹脂基板が当該基体から容易に剥離できるようにするために設けられる剥離層が挙げられる。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
In the method for producing a release layer according to the present invention, a composition for forming a release layer containing at least one of the polyamic acids represented by the following formulas (1A) to (1C) and an organic solvent is applied onto a substrate. It is characterized by including a step of firing at a maximum temperature of 450 to 550 ° C.
Here, the release layer in the present invention is a layer provided directly above the glass substrate for a predetermined purpose, and as a typical example thereof, in the manufacturing process of a flexible electronic device, a flexible electron composed of a substrate and a resin such as polyimide is used. The resin substrate is provided between the device and the resin substrate in a predetermined process, and the resin substrate can be easily peeled off from the substrate after an electronic circuit or the like is formed on the resin substrate. Examples thereof include a release layer provided for such a purpose.

Figure 0006954308
Figure 0006954308

上記各式において、Xは、互いに独立して2つのカルボン酸誘導体を有する4価の芳香族基であり、Yは、互いに独立して2価の芳香族基であり、Z1及びZ2は、互いに独立して、1価の有機基であるが、式(1A)において、Y、Z1及びZ2の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、式(1B)において、Y及び2つのZ1の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、式(1C)において、Y及び2つのZ2の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有する。
mは、互いに独立して自然数を表すが、2以上の整数が好ましい。
In each of the above formulas, X is a tetravalent aromatic group having two carboxylic acid derivatives independently of each other, Y is a divalent aromatic group independently of each other, and Z 1 and Z 2 are. , Independent of each other, monovalent organic groups, but in formula (1A) at least one of Y, Z 1 and Z 2 has an alkali-soluble group, and in formula (1B) Y and two Z1 At least one of them has an alkali-soluble group, and in the formula (1C), at least one of Y and two Z2 has an alkali-soluble group.
m represents a natural number independently of each other, but an integer of 2 or more is preferable.

上記Xは、ベンゼン環を1〜5個含む4価の芳香環が好ましく、4価のベンゼン環、4価のナフタレン環、4価のビフェニル環がより好ましく、4価のベンゼン環、4価のビフェニル環がより一層好ましい。 The above X is preferably a tetravalent aromatic ring containing 1 to 5 benzene rings, more preferably a tetravalent benzene ring, a tetravalent naphthalene ring, and a tetravalent biphenyl ring, and more preferably a tetravalent benzene ring or a tetravalent ring. The biphenyl ring is even more preferred.

上記Yの2価の芳香族基としては、ベンゼン環を1〜5個含む芳香族基が好ましく、下記式(2’)〜(5’)で示されるものがより好ましい。 As the divalent aromatic group of Y, an aromatic group containing 1 to 5 benzene rings is preferable, and those represented by the following formulas (2') to (5') are more preferable.

Figure 0006954308
Figure 0006954308

上記式(2’)〜(5’)において、R1〜R3は、互いに独立して、ハロゲン原子で置換されていてもよい、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数2〜20のアルケニレン基、炭素数2〜20のアルキニレン基、炭素数6〜20のアリーレン基もしくは炭素数2〜20のヘテロアリーレン基、エーテル基、エステル基又はアミド基を表し、○は結合手を表す。In the above formulas (2') to (5'), R 1 to R 3 are alkylene groups having 1 to 20 carbon atoms and 2 to 20 carbon atoms which may be substituted with halogen atoms independently of each other. It represents an alkenylene group, an alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms, an arylene group having 6 to 20 carbon atoms or a heteroarylene group having 2 to 20 carbon atoms, an ether group, an ester group or an amide group, and ◯ represents a bond.

ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられるが、フッ素原子が好ましい。
炭素数1〜20、好ましくは炭素数1〜10のアルキレン基としては、直鎖、分岐、環状のいずれでもよく、例えば、メチレン、メチルメチレン、ジメチルメチレン、エチレン、トリメチレン、プロピレン、テトラメチレン、ペンタメチレン、ヘキサメチレン基等が挙げられる。
炭素数2〜20、好ましくは炭素数2〜10のアルケニレン基としては、直鎖、分岐、環状のいずれでもよく、例えば、エテニレン、プロペニレン、ブテニレン、ペンテニレン、へキセニレン、ヘプテニレン、オクテニレン、ノネニレン基等が挙げられる。
炭素数2〜20、好ましくは炭素数2〜10のアルキニレン基としては、直鎖、分岐、環状のいずれでもよく、例えば、エチニレン、プロピニレン、ブチニレン、ペンチニレン、へキシニレン、ヘプチニレン、オクチニレン、ノニニレン基等が挙げられる。
Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
The alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, preferably 1 to 10 carbon atoms may be linear, branched, or cyclic, and may be, for example, methylene, methylmethylene, dimethylmethylene, ethylene, trimethylene, propylene, tetramethylene, or penta. Examples thereof include methylene and hexamethylene groups.
The alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms, preferably 2 to 10 carbon atoms may be linear, branched or cyclic, and may be, for example, ethenylene, propenylene, butenylene, pentenylene, hexenylene, heptenylene, octenylene, nonenylene group or the like. Can be mentioned.
The alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms, preferably 2 to 10 carbon atoms may be linear, branched or cyclic, and may be, for example, ethynylene, propynylene, butynylene, pentinylene, hexynylene, heptinylene, octinilen, noninylene group or the like. Can be mentioned.

また、Yが少なくとも1つのアルカリ可溶性基を有する2価の芳香族基である場合、少なくとも1つのアルカリ可溶性基で置換されたベンゼン環を含む有機基であることが好ましく、特に、少なくとも1つのアルカリ可溶性基で置換されたベンゼン環を2つ以上含む有機基であることがより好ましく、下記式(2)〜(5)で表される芳香族基がより一層好ましく、特に、下記式(6)〜(9)で表される構造が更に好ましく、隣接する結合手に対してオルト位にフェノール性水酸基を有する式(6)、(7)および(9)で表される構造が最適である。 When Y is a divalent aromatic group having at least one alkali-soluble group, it is preferably an organic group containing a benzene ring substituted with at least one alkali-soluble group, and in particular, at least one alkali. It is more preferable that the organic group contains two or more benzene rings substituted with soluble groups, and the aromatic groups represented by the following formulas (2) to (5) are even more preferable, and in particular, the following formula (6). The structures represented by (9) are more preferable, and the structures represented by the formulas (6), (7) and (9) having a phenolic hydroxyl group at the ortho position with respect to the adjacent bond are most suitable.

Figure 0006954308
(式中、Wは、アルカリ可溶性基、好ましくはカルボキシ基又はフェノール性水酸基を表し、R1〜R3および○は上記と同じ意味を表す。)
Figure 0006954308
(In the formula, W represents an alkali-soluble group, preferably a carboxy group or a phenolic hydroxyl group, and R 1 to R 3 and ◯ have the same meanings as described above.)

Figure 0006954308
(式中、○は結合手を表す。)
Figure 0006954308
(In the formula, ○ represents a bond.)

本発明で用いるポリアミック酸において、上記Yは、アルカリ可溶性基を有する2価の芳香族基とアルカリ可溶性基を有しない2価の芳香族基との双方を含んでいてもよい。
この場合、全Yにおけるアルカリ可溶性基を有する2価の芳香族基の割合は、0.1〜99.9モル%程度とすることができるが、1〜50モル%が好ましく、1〜10モル%がより好ましい。
In the polyamic acid used in the present invention, the Y may contain both a divalent aromatic group having an alkali-soluble group and a divalent aromatic group having no alkali-soluble group.
In this case, the proportion of the divalent aromatic group having an alkali-soluble group in all Y can be about 0.1 to 99.9 mol%, preferably 1 to 50 mol%, and 1 to 10 mol%. % Is more preferable.

また、上記式(1A)〜(1C)において、Z1およびZ2は1価の有機基であるが、ベンゼン環を含む1価の有機基が好ましく、ベンゼン環を1つ含む1価の有機基が好ましく、テトラカルボン酸末端側に結合するZ1は、下記式(10A)で示される1価の有機基が好ましく、ジアミン末端側に結合するZ2は、下記式(11A)で示される1価の有機基が好ましい。Further, in the above formulas (1A) to (1C), Z 1 and Z 2 are monovalent organic groups, but a monovalent organic group containing a benzene ring is preferable, and a monovalent organic group containing one benzene ring is preferable. The group is preferable, Z 1 bonded to the tetracarboxylic acid terminal side is preferably a monovalent organic group represented by the following formula (10A), and Z 2 bonded to the diamine terminal side is represented by the following formula (11A). A monovalent organic group is preferred.

Figure 0006954308
(式中、○は結合手を表す。)
Figure 0006954308
(In the formula, ○ represents a bond.)

また、Z1およびZ2がアルカリ可溶性基を有する2価の芳香族基である場合、当該アルカリ可溶性基は芳香環に直結していることが好ましく、また、アルカリ可溶性基は1つであることが好ましい。
より具体的には、テトラカルボン酸末端側に結合するZ1は、下記式(10B)で示される1価の有機基が好ましく、アルカリ可溶性基がNHに対してオルト位に存在する下記式(10)で示される1価の有機基がより好ましく、ジアミン末端側に結合するZ2は、下記式(11B)で示される1価の有機基が好ましく、アルカリ可溶性基がCOに対してオルト位に存在する下記式(11)で示される1価の有機基がより好ましい。
特に、重合体末端が水酸基を有することで、上層に用いるフレキシブル基板と骨格の相違ができるために、得られる膜の剥離層としての機能の向上を図ることができる。
When Z 1 and Z 2 are divalent aromatic groups having an alkali-soluble group, the alkali-soluble group is preferably directly linked to the aromatic ring, and the number of alkali-soluble groups is one. Is preferable.
More specifically, Z 1 bonded to the terminal side of the tetracarboxylic acid is preferably a monovalent organic group represented by the following formula (10B), and the alkali-soluble group is present at the ortho position with respect to NH (the following formula). The monovalent organic group represented by 10) is more preferable, and Z 2 bonded to the diamine terminal side is preferably a monovalent organic group represented by the following formula (11B), and the alkali-soluble group is in the ortho position with respect to CO. The monovalent organic group represented by the following formula (11) present in is more preferable.
In particular, since the polymer terminal has a hydroxyl group, the skeleton can be different from that of the flexible substrate used for the upper layer, so that the function of the obtained film as a release layer can be improved.

Figure 0006954308
(式中、Z3は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ◯ represents a bond.)

Figure 0006954308
(式中、Z3は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ◯ represents a bond.)

上記式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸は、所定の芳香族テトラカルボン酸二無水物成分と芳香族ジアミン成分とを、所定の比率で反応させて得ることができる。
以下、本発明の製造方法で使用するポリアミック酸の合成に用いる芳香族テトラカルボン酸二無水物成分と芳香族ジアミン成分について説明する。
The polyamic acid represented by the above formulas (1A) to (1C) can be obtained by reacting a predetermined aromatic tetracarboxylic dianhydride component and an aromatic diamine component at a predetermined ratio.
Hereinafter, the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride component and the aromatic diamine component used for the synthesis of the polyamic acid used in the production method of the present invention will be described.

上記式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸の合成に使用する芳香族テトラカルボン酸二無水物としては、分子内に2つのジカルボン酸無水物部位を有し、かつ、芳香環を有する限り特に限定されるものではないが、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族テトラカルボン酸二無水物が好ましい。 The aromatic tetracarboxylic acid dianhydride used for the synthesis of the polyamic acid represented by the above formulas (1A) to (1C) has two dicarboxylic acid anhydride moieties in the molecule and has an aromatic ring. As long as it has, it is not particularly limited, but an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride containing 1 to 5 benzene nuclei is preferable.

上記芳香族テトラカルボン酸二無水物の具体例としては、ピロメリット酸二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,2’,3,3’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−2,3,3’,4’−テトラカルボン酸二無水物、ビフェニル−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、アントラセン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,7,8−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−1,2,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,6,7−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−2,3,9,10−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,5,6−テトラカルボン酸二無水物、フェナントレン−3,4,9,10−テトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸、3,4−ジカルボキシ−1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフタレンコハク酸、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロイソプロピリデン、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフタル酸等が挙げられ、これらは単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride include pyromellitic acid dianhydride, benzene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, and naphthalene-1,2,3,4-tetra. Carous acid dianhydride, naphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,7,8- Tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,4,5,8 -Tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyl-2,2', 3,3'-tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyl-2,3,3', 4'-tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyl-3, 3', 4,4'-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene -1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, anthracene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenantren-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride , Phenantren-1,2,7,8-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenantren-1,2,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, Phenantren-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride Phenantren-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-2,3,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-3,4,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride Anhydrous, phenanthrene-3,4,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, 3,3', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid, 3,3', 4,4'-diphenyl ether tetracarboxylic acid, 3,3', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid, 3,4-dicarboxy-1,2,3,4-tetrahydro-1-naphthalene succinic acid, 2,2-bis (3,4-di) Carboxyphenyl) hexafluoroisopropyridene, 4,4'-hexafluoroisopropyridene diphthalic acid and the like can be mentioned, and these may be used alone or in combination of two or more.

一方、ジアミン成分は、ベンゼン核を1〜5つ含む芳香族ジアミンが好ましく、少なくとも1つのアルカリ可溶性基で置換された芳香族ジアミンがより好ましく、カルボキシ基又はフェノール性水酸基を有する芳香環を有する芳香族ジアミンがより一層好ましく、フェノール性水酸基で置換された芳香族基を含む芳香族ジアミンがさらに好ましい。 On the other hand, the diamine component is preferably an aromatic diamine containing 1 to 5 benzene nuclei, more preferably an aromatic diamine substituted with at least one alkali-soluble group, and an aromatic having an aromatic ring having a carboxy group or a phenolic hydroxyl group. Group diamines are even more preferred, and aromatic diamines containing aromatic groups substituted with phenolic hydroxyl groups are even more preferred.

フェノール性水酸基を有する芳香族ジアミンとしては、例えば、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル(4BP)、3,3’−ジアミノ−2,2’−ジヒドロキシビフェニル(2BP)、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(BAHF)、2,2−ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン(BAPF)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシベンゾフェノン(AHPK)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシ−フェニルエーテル(AHPE)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシ−チオフェニルエーテル、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BAPA)、(3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェニル(3−アミノ4−ヒドロキシ)アニリド(AHPA)、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン(BSDA)、ビス−N,N’−(p−アミノベンゾイル)−ヘキサフルオロ−2,2’−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BABHBPA)、[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,4−ジアミノフェノール、3,5−ジアミノフェノール、2,5−ジアミノフェノール、4,6−ジアミノレゾルシノール、2,5−ジアミノハイドロキノン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)チオエーテル、ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)チオエーテル、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)エーテル、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)メタン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)スルホン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシビフェニル(3BP)、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシ−5,5’−ジメチルビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシ−5,5’−ジメトキシビフェニル、1,4−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]プロパン、又は、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼンが挙げられるが、これに限定されるものではない。 Examples of the aromatic diamine having a phenolic hydroxyl group include 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl (4BP), 3,3'-diamino-2,2'-dihydroxybiphenyl (2BP), and 2 , 2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (BAHF), 2,2-bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis [4 -(3-Amino-4-hydroxyphenoxy) phenyl] Hexafluoropropane, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane (BAPF), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybenzophenone (AHPK) , 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-phenyl ether (AHPE), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-thiophenyl ether, 2,2'-bis (3-amino-) 4-Hydroxyphenyl) propane (BAPA), (3-amino-4-hydroxy) phenyl (3-amino4-hydroxy) anilide (AHPA), bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfone (BSDA), bis -N, N'-(p-aminobenzoyl) -hexafluoro-2,2'-bis (4-hydroxyphenyl) propane (BABHBPA), [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,4- Diaminophenol, 3,5-diaminophenol, 2,5-diaminophenol, 4,6-diaminoresorcinol, 2,5-diaminohydroquinone, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) thioether, bis (4-amino- 3,5-Dihydroxyphenyl) thioether, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) ether, bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) ether, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane, Bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) methane, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfone, bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) sulfone, 4,4'-diamino- 3,3'-Dihydroxybiphenyl (3BP), 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-5,5'-dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-5,5 '-Dimethoxybiphenyl, 1,4-bis (3-amino-4-hydroxyphenoxy) benzene, 1,3-bis (3-Amino-4-hydroxyphenoxy) benzene, 1,4-bis (4-amino-3-hydroxyphenoxy) benzene, 1,3-bis (4-amino-3-hydroxyphenoxy) benzene, bis [4-amino-3-hydroxyphenoxy) Examples thereof include (3-amino-4-hydroxyphenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-amino-4-hydroxyphenoxy) phenyl] propane, and 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene. , Not limited to this.

上記ジアミン成分のうち、好ましくは3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル(4BP)、3,3’−ジアミノ−2,2’−ジヒドロキシビフェニル(2BP)、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(BAHF)、2,2−ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン(BAPF)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシベンゾフェノン(AHPK)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシ−フェニルエーテル(AHPE)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシ−チオフェニルエーテル、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BAPA)、(3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェニル(3−アミノ4−ヒドロキシ)アニリド(AHPA)、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン(BSDA)、ビス−N,N’−(p−アミノベンゾイル)−ヘキサフルオロ−2,2’−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BABHBPA)、[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,4−ジアミノフェノール、2,5−ジアミノフェノール、4,6−ジアミノレゾルシノール、2,5−ジアミノハイドロキノン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)チオエーテル、ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)チオエーテル、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシビフェニル(3BP)、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシ−5,5’−ジメチルビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシ−5,5’−ジメトキシビフェニル、1,4−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノ−4−ヒドロキシフェノキシ)フェニル]プロパン、又は、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼンが挙げられる。 Of the above diamine components, preferably 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl (4BP), 3,3'-diamino-2,2'-dihydroxybiphenyl (2BP), 2,2'-bis (3-Amino-4-hydroxyphenyl) Hexafluoropropane (BAHF), 2,2-bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) Hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (3-amino) -4-Hydroxyphenoxy) phenyl] Hexafluoropropane, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane (BAPF), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybenzophenone (AHPK), 3,3' -Diamino-4,4'-dihydroxy-phenyl ether (AHPE), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-thiophenyl ether, 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) Propane (BAPA), (3-amino-4-hydroxy) phenyl (3-amino4-hydroxy) anilide (AHPA), bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfone (BSDA), bis-N, N' -(P-Aminobenzoyl) -hexafluoro-2,2'-bis (4-hydroxyphenyl) propane (BABHBPA), [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,4-diaminophenol, 2, 5-Diaminophenol, 4,6-diaminoresorcinol, 2,5-diaminohydroquinone, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) thioether, bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) thioether, bis (3) -Amino-4-hydroxyphenyl) ether, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfone, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxybiphenyl (3BP), 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-5,5'-dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxy-5,5'-dimethoxybiphenyl, 1, 4-Bis (3-amino-4-hydroxyphenoxy) benzene, 1,3-bis (3-amino-4-hydroxyphenoxy) benzene, 1,4-bis (4-amino-3-hydroxyphenoxy) benzene, 1 , 3-Bis (4-amino-3-hydroxyphenoxy) benzene, Bis [4- (3-Amino-4-hydroxyphenoxy) Examples thereof include phenyl] sulfone, bis [4- (3-amino-4-hydroxyphenoxy) phenyl] propane, and 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene.

特に好適なものとして、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン(BAPF)、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BAPA)、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(BAHF)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシ−フェニルエーテル(AHPE)、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシベンゾフェノン(AHPK)、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルフィド(BSDA)、(3−アミノ−4−ヒドロキシ)フェニル(3−アミノ−4−ヒドロキシ)アニリド(AHPA)、ビス−N,N’−(p−アミノベンゾイル)−ヘキサフルオロ−2,2’−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン(BABHBPA)等が挙げられる。 Particularly suitable are bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane (BAPF), 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane (BAPA), 2,2'-bis (2,2'-bis (BAPA). 3-Amino-4-hydroxyphenyl) Hexafluoropropane (BAHF), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxy-phenyl ether (AHPE), 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybenzophenone (AHPK), bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfide (BSDA), (3-amino-4-hydroxy) phenyl (3-amino-4-hydroxy) anilides (AHPA), bis-N, N' -(P-Aminobenzoyl) -hexafluoro-2,2'-bis (4-hydroxyphenyl) propane (BABHBPA) and the like can be mentioned.

カルボキシ基を有する芳香族ジアミンとしては、2,4−ジアミノ安息香酸、2,5−ジアミノ安息香酸、3,5−ジアミノ安息香酸、4,6−ジアミノ−1,3−ベンゼンジカルボン酸、2,5−ジアミノ−1,4−ベンゼンジカルボン酸、ビス(4−アミノ−3−カルボキシフェニル)エーテル、ビス(4−アミノ−3,5−ジカルボキシフェニル)エーテル、ビス(4−アミノ−3−カルボキシフェニル)スルホン、ビス(4−アミノ−3,5−ジカルボキシフェニル)スルホン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシ−5,5’−ジメチルビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシ−5,5’−ジメトキシビフェニル、1,4−ビス(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、3,3’−ジカルボキシ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン等が挙げられる。 Examples of the aromatic diamine having a carboxy group include 2,4-diaminobenzoic acid, 2,5-diaminobenzoic acid, 3,5-diaminobenzoic acid, 4,6-diamino-1,3-benzenedicarboxylic acid, 2, 5-Diamino-1,4-benzenedicarboxylic acid, bis (4-amino-3-carboxyphenyl) ether, bis (4-amino-3,5-dicarboxyphenyl) ether, bis (4-amino-3-carboxyphenyl) Phenyl) sulfone, bis (4-amino-3,5-dicarboxyphenyl) sulfone, 4,4'-diamino-3,3'-dicarboxybiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dicarboxy -5,5'-Dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dicarboxy-5,5'-dimethoxybiphenyl, 1,4-bis (4-amino-3-carboxyphenoxy) benzene, 1 , 3-bis (4-amino-3-carboxyphenoxy) benzene, bis [4- (4-amino-3-carboxyphenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (4-amino-3-carboxyphenoxy) phenyl] Examples thereof include propane, 2,2-bis [4- (4-amino-3-carboxyphenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 3,3'-dicarboxy-4,4'-diaminodiphenylmethane and the like.

また、上述したように、上記ポリアミック酸の合成に使用するジアミン成分としては、アルカリ可溶性基を有しない芳香族ジアミンも使用することができる。
アルカリ可溶性基を有しない芳香族ジアミンの具体例としては、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2,4,6−トリメチル−1,3−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラメチル−1,4−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル(ODA)、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、4,4−メチレン−ビス(2−メチルアニリン)、4,4’−メチレン−ビス(2,6−ジメチルアニリン)、4,4−メチレン−ビス(2,6−ジエチルアニリン)、4,4’−メチレン−ビス(2−イソプロピル−6−メチルアニリン)、4,4’−メチレン−ビス(2,6−ジイソプロピルアニリン)、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、ベンジジン、o−トリジン、m−トリジン、3,3’,5,5’−テトラメチルベンジジン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパンが挙げられる。
Further, as described above, as the diamine component used for the synthesis of the polyamic acid, an aromatic diamine having no alkali-soluble group can also be used.
Specific examples of aromatic diamines having no alkali-soluble group include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2,4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl. -1,4-phenylenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether (ODA), 3,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 4,4'-diamino Diphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 4,4-methylene-bis (2-methylaniline), 4,4'-methylene-bis (2,6-dimethylaniline), 4 , 4-Methylene-bis (2,6-diethylaniline), 4,4'-methylene-bis (2-isopropyl-6-methylaniline), 4,4'-methylene-bis (2,6-diisopropylaniline) , 4,4'-Diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, benzidine, o-trizine, m-trizine, 3,3', 5,5'-tetramethylbenzidine, 1,4-bis (4) −Aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- Examples thereof include (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, and 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane.

ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分の仕込み比は、目的とする分子量や分子量分布、ジアミンの種類やテトラカルボン酸二無水物の種類等を考慮して適宜決定されるため一概に規定できず、1:1(モル比)を基準に所望の分子鎖末端に応じた比率とすればよく、テトラカルボン酸由来の分子鎖両末端とする場合(式(1B))、ジアミン成分1モルに対して、テトラカルボン酸二無水物成分1.05〜3.0モルが好ましく、1.07〜2.5モルがより好ましく、1.1〜2.0モルがより一層好ましく、ジアミン由来の分子鎖両末端とする場合(式(1C))、テトラカルボン酸二無水物成分1モルに対して、ジアミン成分1.00〜2.5モルが好ましく、1.01〜1.5モルがより好ましく、1.02〜1.3モルがより一層好ましい。 The charging ratio of the diamine component and the tetracarboxylic acid dianhydride component cannot be unconditionally specified because it is appropriately determined in consideration of the target molecular weight and molecular weight distribution, the type of diamine, the type of tetracarboxylic acid dianhydride, and the like. The ratio may be set according to the desired molecular chain end based on 1: 1 (molar ratio), and when both ends of the molecular chain derived from tetracarboxylic acid are used (formula (1B)), the ratio is based on 1 mol of the diamine component. The tetracarboxylic acid dianhydride component is preferably 1.05 to 3.0 mol, more preferably 1.07 to 2.5 mol, further preferably 1.1 to 2.0 mol, and a molecular chain derived from diamine. In the case of both ends (formula (1C)), 1.00 to 2.5 mol of the diamine component is preferable, and 1.01 to 1.5 mol is more preferable with respect to 1 mol of the tetracarboxylic acid dianhydride component. 1.02 to 1.3 mol is even more preferable.

このような反応に用いる有機溶媒は、反応に悪影響を及ぼさない限り特に限定されないが、その具体例としては、m−クレゾール、2−ピロリドン、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、N−ビニル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、3−メトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−エトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−プロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−イソプロポキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−sec−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、3−tert−ブトキシ−N,N−ジメチルプロピルアミド、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。なお、有機溶媒は、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。 The organic solvent used for such a reaction is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction, and specific examples thereof include m-cresol, 2-pyrrolidone, N-methyl-2-pyrrolidone, and N-ethyl-2-. Pyrrolidone, N-vinyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, 3-methoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-ethoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3- Propoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-isopropoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3-sec-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, 3 -Tart-butoxy-N, N-dimethylpropylamide, γ-butyrolactone and the like can be mentioned. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more.

特に、反応に用いる有機溶媒は、ジアミン及びテトラカルボン酸二無水物並びにポリアミック酸をよく溶解することから、式(S1)で表されるアミド類、(S2)で表されるアミド類及び式(S3)で表されるアミド類から選ばれる少なくとも1種が好ましい。 In particular, since the organic solvent used in the reaction dissolves diamine, tetracarboxylic dianhydride and polyamic acid well, the amides represented by the formula (S1), the amides represented by the formula (S2) and the formula (S2). At least one selected from the amides represented by S3) is preferable.

Figure 0006954308
Figure 0006954308

式中、R1及びR2は、互いに独立して、炭素数1〜10のアルキル基を表す。R3は、水素原子、又は炭素数1〜10のアルキル基を表す。hは、自然数を表すが、好ましくは1〜3、より好ましくは1又は2である。In the formula, R 1 and R 2 represent alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms independently of each other. R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. h represents a natural number, preferably 1 to 3, more preferably 1 or 2.

炭素数1〜10のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、s−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基等が挙げられる。これらのうち、炭素数1〜3のアルキル基が好ましく、炭素数1又は2のアルキル基がより好ましい。 Alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, s-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group and n-. Examples thereof include a hexyl group, an n-heptyl group, an n-octyl group, an n-nonyl group and an n-decyl group. Of these, an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is preferable, and an alkyl group having 1 or 2 carbon atoms is more preferable.

反応温度は、用いる溶媒の融点から沸点までの範囲で適宜設定すればよく、通常0〜100℃程度であるが、得られるポリアミック酸の溶液中でのイミド化を防いでポリアミック酸単位の高含有量を維持するためには、好ましくは0〜70℃程度であり、より好ましくは0〜60℃程度であり、より一層好ましくは0〜50℃程度である。 The reaction temperature may be appropriately set in the range from the melting point to the boiling point of the solvent to be used, and is usually about 0 to 100 ° C., but imidization in the obtained polyamic acid solution is prevented and the polyamic acid unit is high. In order to maintain the amount, it is preferably about 0 to 70 ° C, more preferably about 0 to 60 ° C, and even more preferably about 0 to 50 ° C.

反応時間は、反応温度や原料物質の反応性に依存するため一概に規定できないが、通常1〜100時間程度である。 The reaction time cannot be unconditionally defined because it depends on the reaction temperature and the reactivity of the raw material, but it is usually about 1 to 100 hours.

以上説明したテトラカルボン酸二無水物成分とジアミン成分とを反応させて得られたポリアミック酸に、さらに、Z1及び/又はZ2を与える、アルカリ可溶性基を有する末端封止化合物またはアルカリ可溶性基を有しない末端封止化合物を反応させることで、式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸を得ることができる。
より具体的には、テトラカルボン酸末端側に結合するZ1を与える末端封止化合物としては、芳香族モノアミンを好適に用いることができる。
芳香族モノアミンは、炭素数6〜30の芳香環を有するものが好ましく、炭素数6〜15の芳香環を有するものが好ましく、炭素数6〜10の芳香環を有するものがより一層好ましく、上述のとおり、ベンゼン環を1つ含むものが好ましい。
A terminal-sealing compound having an alkali-soluble group or an alkali-soluble group that further imparts Z 1 and / or Z 2 to the polyamic acid obtained by reacting the tetracarboxylic acid dianhydride component and the diamine component described above. The polyamic acid represented by the formulas (1A) to (1C) can be obtained by reacting the terminal-sealing compound having the above.
More specifically, an aromatic monoamine can be preferably used as the terminal-sealing compound that gives Z 1 that binds to the terminal side of the tetracarboxylic acid.
The aromatic monoamine preferably has an aromatic ring having 6 to 30 carbon atoms, preferably has an aromatic ring having 6 to 15 carbon atoms, and more preferably has an aromatic ring having 6 to 10 carbon atoms. As described above, those containing one benzene ring are preferable.

アルカリ可溶性基を有しない芳香族モノアミンの具体例としては、アニリン、1−ナフチルアミン、2−ナフチルアミン、1−アミノアントラセン、2−アミノアントラセン、9−アミノアントラセン、9−アミノフェナントラセン、2−アミノビフェニル、3−アミノビフェニル、4−アミノビフェニル等が挙げられる。
アルカリ可溶性基を有する芳香族モノアミンの具体例としては、2−アミノフェノール、3−アミノフェノール、4−アミノフェノール等のフェノール性水酸基を有する芳香族モノアミン;2−アミノ安息香酸、3−アミノ安息香酸、4−アミノ安息香酸等のカルボキシ基を有する芳香族モノアミンなどが挙げられる。
これらの中でも、Z1を与える末端封止化合物としては、アルカリ可溶性基を有する芳香族モノアミンが好ましく、フェノール性水酸基を有する芳香族モノアミンがより好ましく、2−アミノフェノールがより一層好ましい。
Specific examples of aromatic monoamines having no alkali-soluble group include aniline, 1-naphthylamine, 2-naphthylamine, 1-aminoanthracene, 2-aminoanthracene, 9-aminoanthracene, 9-aminophenanthracene and 2-amino. Biphenyl, 3-aminobiphenyl, 4-aminobiphenyl and the like can be mentioned.
Specific examples of aromatic monoamines having an alkali-soluble group include aromatic monoamines having phenolic hydroxyl groups such as 2-aminophenol, 3-aminophenol, and 4-aminophenol; 2-aminobenzoic acid and 3-aminobenzoic acid. , 4-Aminobenzoic acid and the like, which include aromatic monoamines having a carboxy group.
Among these, as the terminal-sealing compound that gives Z 1 , an aromatic monoamine having an alkali-soluble group is preferable, an aromatic monoamine having a phenolic hydroxyl group is more preferable, and 2-aminophenol is even more preferable.

一方、ジアミン末端側に結合するZ2を与える末端封止化合物としては、芳香族カルボン酸を好適に用いることができる。
芳香族カルボン酸は、炭素数6〜30の芳香環を有するものが好ましく、炭素数6〜15の芳香環を有するものが好ましく、炭素数6〜10の芳香環を有するものがより一層好ましく、上述のとおり、ベンゼン環を1つ含むものが好ましい。
On the other hand, an aromatic carboxylic acid can be preferably used as the terminal-sealing compound that gives Z 2 to be bonded to the diamine terminal side.
The aromatic carboxylic acid preferably has an aromatic ring having 6 to 30 carbon atoms, preferably has an aromatic ring having 6 to 15 carbon atoms, and even more preferably has an aromatic ring having 6 to 10 carbon atoms. As described above, those containing one benzene ring are preferable.

末端封止後にアルカリ可溶性基を有しない芳香族カルボン酸の具体例としては、安息香酸、1−ナフタレンカルボン酸、2−ナフタレンカルボン酸、1−アントラセンカルボン酸、2−アントラセンカルボン酸、9−アントラセンカルボン酸、2−フェニル安息香酸、3−フェニル安息香酸、4−フェニル安息香酸等の芳香族モノカルボン酸が挙げられる。
末端封止後にアルカリ可溶性基を有する芳香族カルボン酸の具体例としては、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸等の芳香族ジカルボン酸;サリチル酸、3−ヒドロキシ安息香酸、4−ヒドロキシ安息香酸等のフェノール性水酸基を有する芳香族モノカルボン酸などが挙げられる。
なお、上記カルボン酸は、酸ハロゲン化物や、酸無水物の形態であってもよい。
これらの中でも、Z2を与える末端封止化合物としては、末端封止後にアルカリ可溶性基を有する芳香族カルボン酸が好ましく、芳香族ジカルボン酸が好ましく、フタル酸がより一層好ましい。
Specific examples of aromatic carboxylic acids that do not have an alkali-soluble group after terminal sealing include benzoic acid, 1-naphthalenecarboxylic acid, 2-naphthalenecarboxylic acid, 1-anthracenecarboxylic acid, 2-anthracenecarboxylic acid, and 9-anthracene. Examples thereof include aromatic monocarboxylic acids such as carboxylic acid, 2-phenylbenzoic acid, 3-phenylbenzoic acid and 4-phenylbenzoic acid.
Specific examples of aromatic carboxylic acids having an alkali-soluble group after terminal encapsulation include aromatic dicarboxylic acids such as phthalic acid, isophthalic acid and terephthalic acid; phenols such as salicylic acid, 3-hydroxybenzoic acid and 4-hydroxybenzoic acid. Examples thereof include aromatic monocarboxylic acids having a sex hydroxylation.
The carboxylic acid may be in the form of an acid halide or an acid anhydride.
Among these, as the terminal-sealing compound that gives Z 2 , an aromatic carboxylic acid having an alkali-soluble group after terminal-sealing is preferable, an aromatic dicarboxylic acid is preferable, and a phthalic acid is even more preferable.

本発明の式(1A)〜(1C)で表されるポリアミック酸が、ジアミン成分としてアルカリ可溶性基を有しないジアミン成分のみを用いる場合(すなわち、全てのYにアルカリ可溶性基を有しない場合)は、Z1及び/又はZ2がアルカリ可溶性基を有している必要があり、この場合、合成されたポリアミック酸の分子鎖末端のいずれか一方又は両方を、上述したアルカリ可溶性基を有するモノアミンやカルボン酸で封止すればよい。When the polyamic acid represented by the formulas (1A) to (1C) of the present invention uses only a diamine component having no alkali-soluble group as the diamine component (that is, when all Ys do not have an alkali-soluble group) , Z 1 and / or Z 2 must have an alkali-soluble group, in which case either or both of the molecular chain ends of the synthesized polyamic acid may be monoamines or the above-mentioned monoamines having an alkali-soluble group. It may be sealed with a carboxylic acid.

末端封止化合物の仕込み量は、上記ポリアミック酸1モルに対して1モル以上であればよいが、2モル以上が好ましく、2〜4モルがより好ましく、2〜3モルが更に好ましい。なお、芳香族モノアミンを用いる場合、その添加量は、上記ポリアミック酸の合成に使用したテトラカルボン酸二無水物1モルに対して、好ましくは0.1モル以上、より好ましくは0.2〜4モル、更に好ましくは0.2〜3モルを目安とすればよい。また、芳香族カルボン酸の添加量は、上記ポリアミック酸の合成に使用したジアミン成分1モルに対して、好ましくは0.1モル以上、より好ましくは0.2〜4モル、更に好ましくは0.2〜3モルを目安とすればよい。 The amount of the end-sealing compound charged may be 1 mol or more, preferably 2 mol or more, more preferably 2 to 4 mol, still more preferably 2 to 3 mol, based on 1 mol of the polyamic acid. When an aromatic monoamine is used, the amount added is preferably 0.1 mol or more, more preferably 0.2 to 4 mol, based on 1 mol of the tetracarboxylic acid dianhydride used for the synthesis of the polyamic acid. A mole, more preferably 0.2 to 3 mol, may be used as a guide. The amount of the aromatic carboxylic acid added is preferably 0.1 mol or more, more preferably 0.2 to 4 mol, still more preferably 0, with respect to 1 mol of the diamine component used in the synthesis of the polyamic acid. A few moles may be used as a guide.

ポリアミック酸の分子鎖末端の封止において用いる有機溶媒は、反応に悪影響を及ぼさない限り特に限定されるものではなく、上記ポリアミック酸合成で例示した溶媒と同様のものを用いることができる。
ポリアミック酸の分子鎖末端を封止する際の反応温度は、ポリアミック酸の合成時と同様に、用いる溶媒の融点から沸点までの範囲で適宜設定すればよく、通常0〜100℃程度であるが、合成したポリアミック酸の分子鎖末端を確実に封止する観点から、好ましくは0〜70℃程度、より好ましくは0〜60℃程度、更に好ましくは0〜50℃程度とすることができる。反応時間は、反応温度や原料物質の反応性に依存するため一概に規定できないが、通常1〜100時間程度である。
The organic solvent used for sealing the end of the molecular chain of the polyamic acid is not particularly limited as long as it does not adversely affect the reaction, and the same solvent as that exemplified in the above-mentioned polyamic acid synthesis can be used.
The reaction temperature at the time of sealing the molecular chain ends of the polyamic acid may be appropriately set in the range from the melting point to the boiling point of the solvent to be used, as in the case of synthesizing the polyamic acid, and is usually about 0 to 100 ° C. From the viewpoint of reliably sealing the molecular chain ends of the synthesized polyamic acid, the temperature can be preferably about 0 to 70 ° C, more preferably about 0 to 60 ° C, and even more preferably about 0 to 50 ° C. The reaction time cannot be unconditionally defined because it depends on the reaction temperature and the reactivity of the raw material, but it is usually about 1 to 100 hours.

このようにして得られる、分子鎖末端のいずれか一方又は両方が封止されているポリアミック酸の重量平均分子量は、通常5,000〜500,000程度であるが、得られる膜の剥離層としての機能を向上させる観点から、好ましくは6,000〜200,000程度、より好ましくは7,000〜150,000程度である。なお、本発明において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)測定によるポリスチレン換算値である。 The weight average molecular weight of the polyamic acid obtained in this manner, in which either one or both of the ends of the molecular chain is sealed, is usually about 5,000 to 500,000, but as a release layer of the obtained film. From the viewpoint of improving the function of the above, it is preferably about 6,000 to 200,000, more preferably about 7,000 to 150,000. In the present invention, the weight average molecular weight is a polystyrene-equivalent value measured by gel permeation chromatography (GPC).

本発明においては、通常、末端封止後の反応溶液をそのまま、又は希釈若しくは濃縮して得られる溶液を、本発明の剥離層形成用組成物として用いることができる。なお、上記反応溶液は必要に応じてろ過してもよい。ろ過することで、得られる剥離層の密着性、剥離性等の悪化の原因となり得る不純物の混入を低減できるだけでなく、効率よく剥離層形成用組成物を得ることができる。また、前記反応溶液からポリアミック酸を単離した後、再度溶媒に溶解して剥離層形成用組成物としてもよい。この場合の溶媒としては、前述した反応に用いる有機溶媒等が挙げられる。 In the present invention, a solution obtained by diluting or concentrating the reaction solution after end-sealing as it is can be used as the composition for forming a release layer of the present invention. The reaction solution may be filtered if necessary. By filtering, not only can the mixing of impurities that can cause deterioration of the adhesion and peelability of the obtained release layer be reduced, but also a composition for forming the release layer can be efficiently obtained. Further, after isolating the polyamic acid from the reaction solution, it may be dissolved in a solvent again to obtain a composition for forming a release layer. Examples of the solvent in this case include the organic solvent used in the above-mentioned reaction.

希釈に用いる溶媒は、特に限定されず、その具体例としては、前記反応の反応溶媒の具体例と同様のものが挙げられる。希釈に用いる溶媒は、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。中でも、ポリアミック酸をよく溶解することから、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、N−エチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトンが好ましく、N−メチル−2−ピロリドンがより好ましい。 The solvent used for dilution is not particularly limited, and specific examples thereof include the same as the specific examples of the reaction solvent for the reaction. The solvent used for dilution may be used alone or in combination of two or more. Among them, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, N-ethyl-2 because it dissolves polyamic acid well. -Pyrrolidone and γ-butyrolactone are preferable, and N-methyl-2-pyrrolidone is more preferable.

また、単独ではポリアミック酸を溶解しない溶媒であっても、ポリアミック酸が析出しない範囲であれば、本発明の剥離層形成用組成物に混合することができる。特に、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、エチルカルビトール、ブチルカルビトール、エチルカルビトールアセテート、エチレングリコール、1−メトキシ−2−プロパノール、1−エトキシ−2−プロパノール、1−ブトキシ−2−プロパノール、1−フェノキシ−2−プロパノール、プロピレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールジアセテート、プロピレングリコール−1−モノメチルエーテル−2−アセテート、プロピレングリコール−1−モノエチルエーテル−2−アセテート、ジプロピレングリコール、2−(2−エトキシプロポキシ)プロパノール、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸n−ブチル、乳酸イソアミル等の低表面張力を有する溶媒を適度に混在させることができる。これにより、基板への塗布時に塗膜均一性が向上することが知られており、本発明の剥離層形成用組成物においても好適に用いられる。 Further, even if the solvent does not dissolve the polyamic acid by itself, it can be mixed with the composition for forming a release layer of the present invention as long as the polyamic acid does not precipitate. In particular, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, ethylene glycol, 1-methoxy-2-propanol, 1-ethoxy-2-propanol, 1-butoxy-2-propanol, 1-phenoxy. -2-propanol, propylene glycol monoacetate, propylene glycol diacetate, propylene glycol-1-monomethyl ether-2-acetate, propylene glycol-1-monoethyl ether-2-acetate, dipropylene glycol, 2- (2-ethoxy Propoxy) Solvents having low surface tension such as propanol, methyl lactate, ethyl lactate, n-propyl lactate, n-butyl lactate, and isoamyl lactate can be appropriately mixed. It is known that this improves the uniformity of the coating film when it is applied to a substrate, and it is also preferably used in the composition for forming a release layer of the present invention.

本発明の剥離層形成用組成物におけるポリアミック酸の濃度は、作製する剥離層の厚み、組成物の粘度等を勘案して適宜設定するものではあるが、通常1〜30質量%程度、好ましくは1〜20質量%程度である。このような濃度とすることで、0.05〜5μm程度の厚さの剥離層を再現性よく得ることができる。ポリアミック酸の濃度は、ポリアミック酸の原料であるジアミンとテトラカルボン酸二無水物の使用量を調整する、上記反応溶液をろ過した後そのろ液を希釈又は濃縮する、単離したポリアミック酸を溶媒に溶解させる際にその量を調整する等して調整することができる。 The concentration of the polyamic acid in the composition for forming a release layer of the present invention is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, the viscosity of the composition, etc., but is usually about 1 to 30% by mass, preferably about 1 to 30% by mass. It is about 1 to 20% by mass. With such a concentration, a release layer having a thickness of about 0.05 to 5 μm can be obtained with good reproducibility. The concentration of the polyamic acid is adjusted by adjusting the amount of diamine and tetracarboxylic acid dianhydride which are the raw materials of the polyamic acid, filtering the reaction solution and then diluting or concentrating the filtrate, and using the isolated polyamic acid as a solvent. It can be adjusted by adjusting the amount of the solution when it is dissolved in.

また、剥離層形成用組成物の粘度は、作製する剥離層の厚み等を勘案して適宜設定するものではあるが、特に0.05〜5μm程度の厚さの膜を再現性よく得ることを目的とする場合、通常、25℃で10〜10,000mPa・s程度、好ましくは20〜5,000mPa・s程度である。 Further, the viscosity of the composition for forming a release layer is appropriately set in consideration of the thickness of the release layer to be produced, etc., but it is particularly necessary to obtain a film having a thickness of about 0.05 to 5 μm with good reproducibility. For the purpose, it is usually about 10 to 10,000 mPa · s at 25 ° C., preferably about 20 to 5,000 mPa · s.

ここで、粘度は、市販の液体の粘度測定用粘度計を使用して、例えば、JIS K7117−2に記載の手順を参照して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。好ましくは、粘度計としては、円錐平板型(コーンプレート型)回転粘度計を使用し、好ましくは同型の粘度計で標準コーンロータとして1°34’×R24を使用して、組成物の温度25℃の条件にて測定することができる。このような回転粘度計としては、例えば、東機産業(株)製TVE−25Lが挙げられる。 Here, the viscosity can be measured using a commercially available viscometer for measuring the viscosity of a liquid, for example, with reference to the procedure described in JIS K7117-2, under the condition that the temperature of the composition is 25 ° C. .. Preferably, a conical plate type (cone plate type) rotational viscometer is used as the viscometer, and 1 ° 34'x R24 is preferably used as the standard cone rotor with the same type viscometer, and the temperature of the composition is 25. It can be measured under the condition of ° C. Examples of such a rotational viscometer include TVE-25L manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.

なお、本発明に係る剥離層形成用組成物は、ポリアミック酸と有機溶媒のほかに、例えば膜強度を向上させるために、架橋剤等の成分を含んでもよい。 In addition to the polyamic acid and the organic solvent, the composition for forming a release layer according to the present invention may contain components such as a cross-linking agent in order to improve the film strength, for example.

以上説明した剥離層形成用組成物を基体上に塗布した後、最高温度450〜550℃以上で焼成する工程を含む焼成法にて、ポリアミック酸を熱イミド化することで、基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性とを有する、ポリイミド膜からなる剥離層を得ることができる。
本発明において、上記焼成時の最高温度は450〜550℃、かつ、ポリイミドの耐熱温度以下の範囲であれば特に限定されるものではないが、上述した基体との密着性や、樹脂基板との適度な密着性及び剥離性を向上させることを考慮すると、500℃以上が好ましい。また、その上限は通常550℃程度であるが、510℃程度が好ましい。加熱温度を上記範囲とすることで、得られる膜の脆弱化を防ぎつつ、イミド化反応を十分に進行させることも可能となる。
加熱時間は、加熱温度によって異なるため一概に規定できないが、通常1分〜5時間である。また、イミド化率は、50〜100%の範囲であればよい。
By applying the composition for forming a release layer described above onto a substrate and then thermally imidizing the polyamic acid by a firing method including a step of firing at a maximum temperature of 450 to 550 ° C. or higher, the polyamic acid is excellently bonded to the substrate. It is possible to obtain a release layer made of a polyimide film, which has appropriate adhesion, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate release property.
In the present invention, the maximum temperature at the time of firing is not particularly limited as long as it is in the range of 450 to 550 ° C. and the heat resistant temperature of polyimide or less, but it is not particularly limited as long as it has the above-mentioned adhesion to the substrate and the resin substrate. Considering that the appropriate adhesion and peelability are improved, 500 ° C. or higher is preferable. The upper limit is usually about 550 ° C, but preferably about 510 ° C. By setting the heating temperature in the above range, it is possible to sufficiently proceed the imidization reaction while preventing the resulting film from becoming fragile.
The heating time cannot be unconditionally specified because it varies depending on the heating temperature, but is usually 1 minute to 5 hours. The imidization rate may be in the range of 50 to 100%.

また、上記焼成時の温度は、最高温度が上記範囲となる限り、それ以下の温度で焼成する工程を含んでいてもよい。
本発明における加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に450〜550℃で加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で加熱し、100℃超〜450℃未満で加熱し、450℃以上で加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜150℃で加熱した後に、150℃超〜350℃で加熱し、次いで350℃超〜450℃未満で加熱し、最後に450〜550℃で加熱する手法が挙げられる。
Further, the firing temperature may include a step of firing at a temperature lower than that as long as the maximum temperature is within the above range.
As a preferable example of the heating mode in the present invention, there is a method of heating at 50 to 150 ° C., then gradually increasing the heating temperature as it is, and finally heating at 450 to 550 ° C. In particular, as a more preferable example of the heating mode, there is a method of heating at 50 to 100 ° C., heating at more than 100 ° C. to less than 450 ° C., and heating at 450 ° C. or higher. Further, as another more preferable example of the heating embodiment, after heating at 50 to 150 ° C., heating at more than 150 ° C. to 350 ° C., then heating at more than 350 ° C. to less than 450 ° C., and finally 450 to 550 ° C. There is a method of heating with.

また、焼成時間を考慮した場合の加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で1分間〜2時間加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に400℃以上で30分間〜4時間加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で1分間〜2時間加熱し、100℃超〜450℃未満で5分間〜2時間加熱し、450℃以上で30分間〜4時間加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜150℃で1分間〜2時間加熱した後に、150℃超〜350℃で5分間〜2時間、次いで350℃超〜450℃未満で30分間〜4時間、最後に450〜510℃で30分間〜4時間加熱する手法が挙げられる。 Further, as a preferable example of the heating mode in consideration of the firing time, after heating at 50 to 150 ° C. for 1 minute to 2 hours, the heating temperature is gradually increased as it is, and finally at 400 ° C. or higher for 30 minutes. A method of heating for ~ 4 hours can be mentioned. In particular, as a more preferable example of the heating mode, heating is performed at 50 to 100 ° C. for 1 minute to 2 hours, above 100 ° C. to below 450 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and at 450 ° C. or higher for 30 minutes to 4 hours. There is a method to do. Further, as another more preferable example of the heating embodiment, after heating at 50 to 150 ° C. for 1 minute to 2 hours, the temperature exceeds 150 ° C. to 350 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and then the temperature exceeds 350 ° C. to less than 450 ° C. 30. A method of heating for 30 minutes to 4 hours at 450 to 510 ° C. for 1 minute to 4 hours and finally at 450 to 510 ° C. can be mentioned.

なお、本発明の剥離層を基体上に形成する場合、剥離層は基体の一部表面に形成されていてもよいし、全面に形成されていてもよい。基体の一部表面に剥離層を形成する態様としては、基体表面のうち所定の範囲にのみ剥離層を形成する態様、基体表面全面にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状に剥離層を形成する態様等がある。なお、本発明において、基体とは、その表面に本発明の剥離層形成用組成物が塗られるものであって、フレキシブル電子デバイス等の製造に用いられるものを意味する。 When the release layer of the present invention is formed on the substrate, the release layer may be formed on a part of the surface of the substrate or may be formed on the entire surface of the substrate. Examples of forming the release layer on a part of the surface of the substrate include forming the release layer only in a predetermined range on the surface of the substrate, and forming the release layer in a pattern such as a dot pattern or a line and space pattern on the entire surface of the substrate. There are modes of formation and the like. In the present invention, the substrate means a substrate on which the composition for forming a release layer of the present invention is coated, which is used for manufacturing a flexible electronic device or the like.

基体(基材)としては、例えば、ガラス、金属(シリコンウエハ等)、スレート等が挙げられるが、特に、本発明に係る剥離層形成用組成物から得られる剥離層がそれに対する十分な密着性を有することから、ガラスが好ましい。なお、基体表面は、単一の材料で構成されていてもよく、2以上の材料で構成されていてもよい。2以上の材料で基体表面が構成される態様としては、基体表面のうち、ある範囲はある材料で構成され、その余の表面はその他の材料で構成されている態様、基体表面全体にドットパターン、ラインアンドスペースパターン等のパターン状にある材料がその他の材料中に存在する態様等がある。 Examples of the substrate (base material) include glass, metal (silicon wafer, etc.), slate, and the like. In particular, the release layer obtained from the release layer forming composition according to the present invention has sufficient adhesion to it. Therefore, glass is preferable. The surface of the substrate may be made of a single material or may be made of two or more materials. A mode in which the surface of the substrate is composed of two or more materials is a mode in which a certain range of the surface of the substrate is composed of a certain material and the remaining surface is composed of other materials, and a dot pattern is formed on the entire surface of the substrate. , A pattern in which a patterned material such as a line-and-space pattern is present in other materials, and the like.

塗布する方法は、特に限定されないが、例えば、キャストコート法、スピンコート法、ブレードコート法、ディップコート法、ロールコート法、バーコート法、ダイコート法、インクジェット法、印刷法(凸版、凹版、平版、スクリーン印刷等)等が挙げられる。 The method of coating is not particularly limited, but for example, a cast coating method, a spin coating method, a blade coating method, a dip coating method, a roll coating method, a bar coating method, a die coating method, an inkjet method, and a printing method (letter plate, intaglio plate, planographic plate). , Screen printing, etc.).

加熱に用いる器具としては、例えば、ホットプレート、オーブン等が挙げられる。加熱雰囲気は、空気下であっても不活性ガス下であってもよく、また、常圧下であっても減圧下であってもよい。 Examples of the appliance used for heating include a hot plate, an oven, and the like. The heating atmosphere may be under air or under an inert gas, and may be under normal pressure or reduced pressure.

剥離層の厚さは、通常0.01〜50μm程度、生産性の観点から、好ましくは0.05〜20μm程度、より好ましくは0.05〜5μm程度であり、加熱前の塗膜の厚さを調整して所望の厚さを実現する。 The thickness of the release layer is usually about 0.01 to 50 μm, preferably about 0.05 to 20 μm, more preferably about 0.05 to 5 μm from the viewpoint of productivity, and the thickness of the coating film before heating. To achieve the desired thickness.

以上説明した剥離層は、基体、特にガラスの基体との優れた密着性及び樹脂基板との適度な密着性と適度な剥離性を有する。それ故、本発明の剥離層は、フレキシブル電子デバイスの製造プロセスにおいて、当該デバイスの樹脂基板に損傷を与えることなく、当該樹脂基板を、その樹脂基板上に形成された回路等とともに、基体から剥離させるために好適に用いることができる。 The release layer described above has excellent adhesion to a substrate, particularly a glass substrate, appropriate adhesion to a resin substrate, and appropriate peelability. Therefore, the release layer of the present invention detaches the resin substrate from the substrate together with the circuit and the like formed on the resin substrate without damaging the resin substrate of the device in the manufacturing process of the flexible electronic device. It can be preferably used to make it.

以下、本発明の剥離層を用いたフレキシブル電子デバイスの製造方法の一例について説明する。
本発明の剥離層形成用組成物を用いて、上述の方法によって、ガラス基体上に剥離層を形成する。この剥離層の上に、樹脂基板を形成するための樹脂基板形成用溶液を塗布し、この塗膜を焼成することで、本発明の剥離層を介して、ガラス基体に固定された樹脂基板を形成する。
上記塗膜の焼成温度は、樹脂の種類等に応じて適宜設定されるものであるが、本発明では、この焼成時の最高温度を450〜550℃以上とすることが好ましく、480℃以上とすることがより好ましく、490℃以上とすることがより一層好ましく、500℃以上とすることがさらに好ましい。樹脂基板作製の際の焼成時の最高温度をこの範囲とすることで、下地である剥離層と基体との密着性や、剥離層と樹脂基板との適度な密着性及び剥離性をより向上させることができる。
この場合も、最高温度が上記範囲となる限り、それ以下の温度で焼成する工程を含んでいてもよい。
Hereinafter, an example of a method for manufacturing a flexible electronic device using the release layer of the present invention will be described.
The release layer forming composition of the present invention is used to form a release layer on a glass substrate by the above-mentioned method. A solution for forming a resin substrate for forming a resin substrate is applied onto the release layer, and the coating film is fired to obtain a resin substrate fixed to the glass substrate via the release layer of the present invention. Form.
The firing temperature of the coating film is appropriately set according to the type of resin and the like, but in the present invention, the maximum temperature at the time of firing is preferably 450 to 550 ° C or higher, and is preferably 480 ° C or higher. It is more preferably 490 ° C. or higher, and even more preferably 500 ° C. or higher. By setting the maximum temperature at the time of firing during the production of the resin substrate within this range, the adhesion between the release layer as a base and the substrate, and the appropriate adhesion and peelability between the release layer and the resin substrate are further improved. be able to.
In this case as well, as long as the maximum temperature is within the above range, the step of firing at a temperature lower than that may be included.

樹脂基板作製時の加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に450〜550℃で加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で加熱し、100℃超〜450℃未満で加熱し、450℃以上で加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜100℃で加熱した後に、100℃超〜200℃で、次いで200℃超〜300℃未満で加熱し、300℃〜400℃未満で加熱し、400℃〜450℃未満で加熱し、最後に450〜550℃で加熱する手法が挙げられる。 As a preferable example of the heating mode at the time of producing the resin substrate, there is a method of heating at 50 to 150 ° C., then gradually increasing the heating temperature as it is, and finally heating at 450 to 550 ° C. In particular, as a more preferable example of the heating mode, there is a method of heating at 50 to 100 ° C., heating at more than 100 ° C. to less than 450 ° C., and heating at 450 ° C. or higher. Further, as another more preferable example of the heating mode, after heating at 50 to 100 ° C., heating at more than 100 ° C. to 200 ° C., then above 200 ° C. to less than 300 ° C., and then heating at 300 ° C. to less than 400 ° C. Then, a method of heating at 400 ° C. to less than 450 ° C. and finally heating at 450 to 550 ° C. can be mentioned.

また、焼成時間を考慮した場合の加熱態様の好ましい一例としては、50〜150℃で5分間〜2時間加熱した後に、そのまま段階的に加熱温度を上昇させて最終的に450〜550℃で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。特に、加熱態様のより好ましい一例としては、50〜100℃で5分間〜2時間加熱し、100℃超〜450℃未満で5分間〜2時間加熱し、450℃以上で30分〜4時間加熱する手法が挙げられる。更に、加熱態様のより好ましい他の一例としては、50〜100℃で5分間〜2時間加熱した後に、100℃超〜200℃で5分間〜2時間、次いで200℃超〜300℃未満で30分間〜4時間、300℃〜400℃未満で30分間〜4時間、400℃〜450℃未満で30分間〜4時間、最後に450〜550℃で30分間〜4時間加熱する手法が挙げられる。 Further, as a preferable example of the heating mode in consideration of the firing time, after heating at 50 to 150 ° C. for 5 minutes to 2 hours, the heating temperature is gradually increased as it is, and finally 30 at 450 to 550 ° C. A method of heating for minutes to 4 hours can be mentioned. In particular, as a more preferable example of the heating mode, heating is performed at 50 to 100 ° C. for 5 minutes to 2 hours, above 100 ° C. to below 450 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and at 450 ° C. or higher for 30 minutes to 4 hours. There is a method to do. Further, as another more preferable example of the heating embodiment, after heating at 50 to 100 ° C. for 5 minutes to 2 hours, the temperature exceeds 100 ° C. to 200 ° C. for 5 minutes to 2 hours, and then the temperature exceeds 200 ° C. to less than 300 ° C. 30. Examples include a method of heating for minutes to 4 hours, 30 minutes to 4 hours at 300 ° C. to less than 400 ° C., 30 minutes to 4 hours at 400 ° C. to less than 450 ° C., and finally 30 minutes to 4 hours at 450 to 550 ° C.

樹脂基板は剥離層を全て覆うようにして、剥離層の面積と比較して大きい面積で、樹脂基板を形成する。樹脂基板としては、フレキシブル電子デバイスの樹脂基板として代表的なポリイミドからなる樹脂基板が挙げられ、それを形成するための樹脂溶液としては、ポリイミド溶液やポリアミック酸溶液が挙げられる。当該樹脂基板の形成方法は、常法に従えばよい。 The resin substrate covers the entire release layer, and forms the resin substrate in an area larger than the area of the release layer. Examples of the resin substrate include a resin substrate made of polyimide, which is a typical resin substrate for flexible electronic devices, and examples of the resin solution for forming the resin substrate include a polyimide solution and a polyamic acid solution. The method for forming the resin substrate may be a conventional method.

次に、本発明の剥離層を介して基体に固定された当該樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、例えば剥離層に沿って樹脂基板をカットし、この回路とともに樹脂基板を剥離層から剥離して、樹脂基板と基体とを分離する。この際、基体の一部を剥離層とともにカットしてもよい。 Next, a desired circuit is formed on the resin substrate fixed to the substrate via the release layer of the present invention, and then, for example, the resin substrate is cut along the release layer, and the resin substrate is formed together with this circuit. The resin substrate and the substrate are separated by peeling from the peeling layer. At this time, a part of the substrate may be cut together with the release layer.

なお、特開2013−147599号公報では、これまで高輝度LEDや三次元半導体パッケージ等の製造において使用されてきたレーザーリフトオフ法(LLO法)をフレキシブルディスプレイの製造に適用することが報告されている。上記LLO法は、回路等が形成された面とは反対の面から、特定の波長の光線、例えば、波長308nmの光線をガラス基体側から照射することを特徴とするものである。照射された光線は、ガラス基体を透過し、ガラス基体近傍のポリマー(ポリイミド)のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。その結果、ディスプレイの性能を決定づけることとなる、樹脂基板上に設けられた回路等に影響を与えることなく、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-147599 reports that the laser lift-off method (LLO method), which has been used in the manufacture of high-brightness LEDs and three-dimensional semiconductor packages, is applied to the manufacture of flexible displays. .. The LLO method is characterized in that a ray having a specific wavelength, for example, a ray having a wavelength of 308 nm is emitted from the glass substrate side from a surface opposite to the surface on which a circuit or the like is formed. The irradiated light rays pass through the glass substrate, and only the polymer (polyimide) in the vicinity of the glass base absorbs the light rays and evaporates (sublimates). As a result, the resin substrate can be selectively peeled from the glass substrate without affecting the circuit or the like provided on the resin substrate, which determines the performance of the display.

本発明の剥離層は、上記LLO法の適用が可能となる特定波長(例えば308nm)の光線を十分に吸収するという特徴を持つため、LLO法の犠牲層として用いることができる。そのため、本発明に組成物を用いて形成した剥離層を介してガラス基体に固定された樹脂基板の上に、所望の回路を形成し、その後、LLO法を実施して308nmの光線を照射すると、該剥離層のみがこの光線を吸収して蒸発(昇華)する。これにより、上記剥離層が犠牲となり(犠牲層として働く)、ガラス基体から樹脂基板を選択的に剥離することが可能となる。 Since the release layer of the present invention has a feature of sufficiently absorbing light rays having a specific wavelength (for example, 308 nm) to which the LLO method can be applied, it can be used as a sacrificial layer of the LLO method. Therefore, when a desired circuit is formed on a resin substrate fixed to a glass substrate via a release layer formed by using the composition in the present invention, and then an LLO method is carried out to irradiate a light beam of 308 nm. Only the release layer absorbs this light beam and evaporates (sublimates). As a result, the release layer is sacrificed (acts as a sacrifice layer), and the resin substrate can be selectively peeled from the glass substrate.

以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明は、これら実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

[1]化合物の略語
NMP:N−メチルピロリドン
BCS:ブチルセロソルブ
p−PDA:p−フェニレンジアミン
6FAP:2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン
2AP:2−アミノフェノール
BPDA:3,3−4,4−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
TFMB:2,2’−ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン
PMDA:ピロメリット酸二無水物
PA:フタル酸無水物
CBDA:1,2,3,4−シクロブタンテトラカルボン酸−1,2:3,4−二無水物
[1] Abbreviation of compound NMP: N-methylpyrrolidone BCS: Butyl cellosolve p-PDA: p-phenylenediamine 6FAP: 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane 2AP: 2-aminophenol BPDA : 3,3-4,4-biphenyltetracarboxylic dianhydride TFMB: 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine PMDA: pyromellitic acid dianhydride PA: phthalic anhydride CBDA: 1,2, 3,4-Cyclobutanetetracarboxylic acid-1,2: 3,4-dianhydride

[2]重量平均分子量及び分子量分布の測定
ポリマーの重量平均分子量(以下Mwと略す)と分子量分布は、日本分光(株)製GPC装置(Shodex(登録商標)カラムKF803LおよびKF805L)を用い溶出溶媒としてジメチルホルムアミドを流量1ml/分、カラム温度50℃の条件で測定した。なお、Mwはポリスチレン換算値とした。
[2] Measurement of weight average molecular weight and molecular weight distribution The weight average molecular weight (hereinafter abbreviated as Mw) and molecular weight distribution of the polymer are determined by using a GPC apparatus (Shodex® columns KF803L and KF805L) manufactured by JASCO Corporation and an elution solvent. Dimethylformamide was measured under the conditions of a flow rate of 1 ml / min and a column temperature of 50 ° C. In addition, Mw was a polystyrene conversion value.

[3]ポリマーの合成
以下の方法によって、ポリアミック酸を合成した。
なお、得られたポリマー含有反応液からポリマーを単離せず、後述の通りに、反応液を希釈することで、樹脂基板形成用組成物又は剥離層形成用組成物を調製した。
[3] Polymer synthesis A polyamic acid was synthesized by the following method.
The polymer was not isolated from the obtained polymer-containing reaction solution, and the reaction solution was diluted to prepare a resin substrate forming composition or a release layer forming composition as described later.

<合成例S1 ポリアミック酸(S1の合成)>
p−PDA3.176g(0.02937モル)をNMP88.2gに溶解し、BPDA8.624g(0.02931モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは107,300、分子量分布4.6であった。
<Synthesis example S1 polyamic acid (synthesis of S1)>
3.176 g (0.02937 mol) of p-PDA was dissolved in 88.2 g of NMP, 8.624 g (0.02931 mol) of BPDA was added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 107,300 and the molecular weight distribution was 4.6.

<合成例L1 ポリアミック酸(L1)の合成>
p−PDA1.507g(0.0139モル)をNMP43.2gに溶解し、PMDA3.166g(0.01452モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で2時間反応させた。その後、更に2AP0.127g(0.0012モル)を添加し、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは48,500、分子量分布2.08であった。
<Synthesis example L1 Synthesis of polyamic acid (L1)>
1.507 g (0.0139 mol) of p-PDA was dissolved in 43.2 g of NMP, 3.166 g (0.01452 mol) of PMDA was added, and then the reaction was carried out at 23 ° C. for 2 hours under a nitrogen atmosphere. Then, 0.127 g (0.0012 mol) of 2AP was further added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 48,500 and the molecular weight distribution was 2.08.

<合成例L2 ポリアミック酸(L2)の合成>
p−PDA1.119g(0.01103モル)をNMP35.2gに溶解し、PMDA3.006g(0.01378モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で2時間反応させた。その後、更に2AP0.602g(0.00551モル)を添加し、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは11,700、分子量分布1.76であった。
<Synthesis example L2 Synthesis of polyamic acid (L2)>
1.119 g (0.01103 mol) of p-PDA was dissolved in 35.2 g of NMP, 3.006 g (0.01378 mol) of PMDA was added, and then the mixture was reacted at 23 ° C. for 2 hours under a nitrogen atmosphere. Then, 0.602 g (0.00551 mol) of 2AP was further added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 11,700 and the molecular weight distribution was 1.76.

<合成例L3 ポリアミック酸(L3)の合成>
p−PDA0.681g(0.00629モル)をNMP35.2gに溶解し、PMDA2.746g(0.01259モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で2時間反応させた。その後、更に2AP1.373g(0.012588モル)を添加し、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは8,000、分子量分布1.57であった。
<Synthesis example L3 Synthesis of polyamic acid (L3)>
0.681 g (0.00629 mol) of p-PDA was dissolved in 35.2 g of NMP, 2.746 g (0.01259 mol) of PMDA was added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 2 hours under a nitrogen atmosphere. Then, 1.373 g (0.012588 mol) of 2AP was further added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 8,000 and the molecular weight distribution was 1.57.

<合成例L4 ポリアミック酸(L4)の合成>
p−PDA1.5206g(0.01406モル)と6FAP0.105g(0.00287モル)をNMP35.2gに溶解し、PMDA3.004g(0.01377モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で22時間反応させた。その後、更にPA0.170g(0.00115モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で22時間反応させた。得られたポリマーのMwは22,100、分子量分布1.93であった。
<Synthesis example L4 Synthesis of polyamic acid (L4)>
1.5206 g (0.01406 mol) of p-PDA and 0.105 g (0.00287 mol) of 6FAP were dissolved in 35.2 g of NMP, 3.004 g (0.01377 mol) of PMDA was added, and then at 23 ° C. under a nitrogen atmosphere. The reaction was carried out for 22 hours. Then, after adding 0.170 g (0.00115 mol) of PA, the reaction was carried out at 23 ° C. for 22 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 22,100 and the molecular weight distribution was 1.93.

<比較合成例B1 ポリアミック酸(B1)の合成>
p−PDA1.29g(0.00107モル)をNMP43.2gに溶解し、BPDA3.509g(0.00119モル)を添加した後、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは34,000、分子量分布2.03であった。
<Comparative Synthesis Example B1 Synthesis of Polyamic Acid (B1)>
1.29 g (0.00107 mol) of p-PDA was dissolved in 43.2 g of NMP, 3.509 g (0.00119 mol) of BPDA was added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 34,000 and the molecular weight distribution was 2.03.

<比較合成例B2 ポリアミック酸(B2)の合成>
TFMB2.86g(0.0089モル)をNMP35.2gに溶解し、CBDA1.944g(0.00991モル)を加え、窒素雰囲気下、23℃で24時間反応させた。得られたポリマーのMwは69,200、分子量分布2.2であった。得られた溶液は、PGMEに可溶であった。
<Comparative synthesis example B2 Synthesis of polyamic acid (B2)>
2.86 g (0.0089 mol) of TFMB was dissolved in 35.2 g of NMP, 1.944 g (0.00991 mol) of CBDA was added, and the mixture was reacted at 23 ° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere. The Mw of the obtained polymer was 69,200 and the molecular weight distribution was 2.2. The resulting solution was soluble in PGME.

[4]樹脂基板形成用組成物の調製
合成例S1で得られた反応液を、それぞれ、そのまま樹脂基板形成用組成物として用いた。
[4] Preparation of Resin Substrate Forming Composition The reaction solutions obtained in Synthesis Example S1 were used as they were as the resin substrate forming composition.

[5]剥離層形成用組成物の調製
[実施例1−1]
合成例L1で得られた反応液に、BCSとNMPを加え、ポリマー濃度が5wt%、BCSが20質量%となるように希釈し、剥離層形成用組成物を得た。
[5] Preparation of composition for forming a release layer [Example 1-1]
BCS and NMP were added to the reaction solution obtained in Synthesis Example L1 and diluted so that the polymer concentration was 5 wt% and BCS was 20% by mass to obtain a composition for forming a release layer.

[実施例1−2〜1−4]
合成例L1で得られた反応液の代わりに、それぞれ合成例L2〜L4で得られた反応液を用いた以外は、実施例1−1と同様の方法で、剥離層形成用組成物を得た。
[Examples 1-2 to 1-4]
A composition for forming a release layer was obtained in the same manner as in Example 1-1, except that the reaction solutions obtained in Synthesis Examples L2 to L4 were used instead of the reaction solutions obtained in Synthesis Example L1. rice field.

[比較例1−1〜1−2]
合成例L1で得られた反応液の代わりに、それぞれ比較合成例B1及びB2で得られた反応液を用いた以外は、実施例1−1と同様の方法で、剥離層形成用組成物を得た。
[Comparative Examples 1-1 to 1-2]
The composition for forming a release layer was prepared in the same manner as in Example 1-1, except that the reaction solutions obtained in Comparative Synthesis Examples B1 and B2 were used instead of the reaction solutions obtained in Synthesis Example L1. Obtained.

[6]剥離層及び樹脂基板の作製
[実施例2−1]
スピンコーター(条件:回転数3,000rpmで約30秒)を用いて、実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物L1を、ガラス基体としての100mm×100mmガラス基板(以下同様)の上に塗布した。
そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて100℃で2分間加熱し、その後、オーブンを用いて、300℃で30分間加熱し、加熱温度を400℃まで昇温(10℃/分)し、400℃で30分間加熱し、更に、500℃まで昇温(10℃/分)し、500℃で10分間加熱し、ガラス基板上に厚さ約0.1μmの剥離層を形成し、剥離層付きガラス基板を得た。なお、昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。
[6] Preparation of Release Layer and Resin Substrate [Example 2-1]
Using a spin coater (condition: about 30 seconds at a rotation speed of 3,000 rpm), the release layer forming composition L1 obtained in Example 1-1 was subjected to a 100 mm × 100 mm glass substrate as a glass substrate (the same applies hereinafter). Applied on top.
Then, the obtained coating film is heated at 100 ° C. for 2 minutes using a hot plate, and then heated at 300 ° C. for 30 minutes using an oven to raise the heating temperature to 400 ° C. (10 ° C./min). ), Heat at 400 ° C. for 30 minutes, further heat up to 500 ° C. (10 ° C./min), and heat at 500 ° C. for 10 minutes to form a release layer with a thickness of about 0.1 μm on the glass substrate. , A glass substrate with a release layer was obtained. During the temperature rise, the substrate with the film was not taken out of the oven, but was heated in the oven.

バーコーター(ギャップ:250μm)を用いて、上記で得られたガラス基板上の剥離層(樹脂薄膜)の上に樹脂基板形成用組成物S2を塗布した。そして、得られた塗膜を、ホットプレートを用いて80℃で30分間加熱し、その後、オーブンを用いて、窒素雰囲気にした後、140℃で30分間加熱し、加熱温度を210℃まで昇温(2℃/分、以下同様)し、210℃で30分間加熱し、加熱温度を300℃まで昇温し、300℃で30分間加熱し、加熱温度を400℃まで昇温し、400℃で30分間、加熱温度を500℃まで昇温し、500℃で60分間加熱し、剥離層上に厚さ約20μmのポリイミド基板を形成し、樹脂基板・剥離層付きガラス基板を得た。昇温の間、膜付き基板をオーブンから取り出すことはせず、オーブン内で加熱した。 Using a bar coater (gap: 250 μm), the resin substrate forming composition S2 was applied onto the release layer (resin thin film) on the glass substrate obtained above. Then, the obtained coating film is heated at 80 ° C. for 30 minutes using a hot plate, then used in an oven to create a nitrogen atmosphere, and then heated at 140 ° C. for 30 minutes to raise the heating temperature to 210 ° C. Warm (2 ° C / min, and so on), heat at 210 ° C for 30 minutes, raise the heating temperature to 300 ° C, heat at 300 ° C for 30 minutes, raise the heating temperature to 400 ° C, 400 ° C. The heating temperature was raised to 500 ° C. for 30 minutes, and the mixture was heated at 500 ° C. for 60 minutes to form a polyimide substrate having a thickness of about 20 μm on the release layer to obtain a resin substrate and a glass substrate with a release layer. During the temperature rise, the substrate with the membrane was not removed from the oven, but was heated in the oven.

[実施例2−2〜2−4]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物L1の代わりに、それぞれ実施例1−2〜1−4で得られた剥離層形成用組成物L2〜L4を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、剥離層及びポリイミド基板を作製し、剥離層付きガラス基板及び樹脂基板・剥離層付きガラス基板を得た。
[Examples 2-2 to 2-4]
Except that the release layer forming compositions L2 to L4 obtained in Examples 1-2 to 1-4 were used instead of the release layer forming composition L1 obtained in Example 1-1, respectively. A release layer and a polyimide substrate were prepared in the same manner as in Example 2-1 to obtain a glass substrate with a release layer and a resin substrate / glass substrate with a release layer.

[比較例2−1〜2−2]
実施例1−1で得られた剥離層形成用組成物L1の代わりに、それぞれ比較例1−1〜1−2で得られた剥離層形成用組成物B1及びB2を用いた以外は、実施例2−1と同様の方法で、剥離層及びポリイミド基板を作製し、剥離層付きガラス基板及び樹脂基板・剥離層付きガラス基板を得た。
[Comparative Examples 2-1 to 2-2]
Except that the release layer forming compositions B1 and B2 obtained in Comparative Examples 1-1 to 1-2 were used instead of the release layer forming composition L1 obtained in Example 1-1, respectively. A release layer and a polyimide substrate were prepared in the same manner as in Example 2-1 to obtain a glass substrate with a release layer and a resin substrate / glass substrate with a release layer.

[7]剥離性の評価
上記実施例2−1〜2−4及び比較例2−1〜2−2で得られた剥離層付きガラス基板について、剥離層とガラス基板との剥離性を、下記手法にて確認した。なお、下記の試験は、同一のガラス基板で行った。
[7] Evaluation of peelability With respect to the glass substrate with a peeling layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 and Comparative Examples 2-1 to 2-2, the peelability between the peeling layer and the glass substrate is described below. Confirmed by the method. The following tests were performed on the same glass substrate.

<樹脂薄膜のクロスカット試験剥離性評価>
実施例2−1〜2−4及び比較例2−1〜2−2で得られた剥離層付きガラス基板上の剥離層をクロスカット(縦横1mm間隔、以下同様)し、100マスカットを行った。すなわち、このクロスカットにより、1mm四方のマス目を100個形成した。
そして、この100マスカット部分に粘着テープを貼り付けて、そのテープを剥がし、以下の基準に基づき、剥離性を評価した。結果を表1に示す。
<判定基準>
5B:0%剥離(剥離なし)
4B:5%未満の剥離
3B:5〜15%未満の剥離
2B:15〜35%未満の剥離
1B:35〜65%未満の剥離
0B:65%〜80%未満の剥離
B:80%〜95%未満の剥離
A:95%〜100%未満の剥離
AA:100%剥離(すべて剥離)
<Cross-cut test peelability evaluation of resin thin film>
The release layers on the glass substrate with the release layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 and Comparative Examples 2-1 to 2-2 were cross-cut (1 mm intervals in length and width, the same applies hereinafter), and 100 muscats were performed. .. That is, 100 1 mm square squares were formed by this cross cut.
Then, an adhesive tape was attached to the 100 muscat portion, the tape was peeled off, and the peelability was evaluated based on the following criteria. The results are shown in Table 1.
<Criteria>
5B: 0% peeling (no peeling)
4B: Peeling less than 5% 3B: Peeling less than 5-15% 2B: Peeling less than 15-35% 1B: Peeling less than 35-65% 0B: Peeling less than 65% -80% B: 80% -95 Peeling less than% A: Peeling from 95% to less than 100% AA: Peeling from 100% (all peeling)

<樹脂基板の剥離性の評価>
実施例2−1〜2−4及び比較例2−1〜2−2で得られた樹脂基板・剥離層付きガラス基板の樹脂基板を、カッターを用いて25mm幅の短冊状にカットした。そして、カットした樹脂基板の先端にセロハンテープを貼り付け、これを試験片とした。この試験片を、(株)アトニック製プッシュプルテスターを用いて剥離角度が90°となるように剥離試験を行い、下記の基準に基づいて剥離性を評価した。結果を表1に示す。
<判定基準>
5B:0%剥離(剥離なし)
4B:5%未満の剥離
3B:5〜15%未満の剥離
2B:15〜35%未満の剥離
1B:35〜65%未満の剥離
0B:65%〜80%未満の剥離
B:80%〜95%未満の剥離
A:95%〜100%未満の剥離
AA:100%剥離(すべて剥離)
<Evaluation of peelability of resin substrate>
The resin substrate of the resin substrate / glass substrate with a release layer obtained in Examples 2-1 to 2-4 and Comparative Examples 2-1 to 2-2 was cut into strips having a width of 25 mm using a cutter. Then, a cellophane tape was attached to the tip of the cut resin substrate, and this was used as a test piece. This test piece was subjected to a peeling test using a push-pull tester manufactured by Atonic Co., Ltd. so that the peeling angle was 90 °, and the peelability was evaluated based on the following criteria. The results are shown in Table 1.
<Criteria>
5B: 0% peeling (no peeling)
4B: Peeling less than 5% 3B: Peeling less than 5-15% 2B: Peeling less than 15-35% 1B: Peeling less than 35-65% 0B: Peeling less than 65% -80% B: 80% -95 Peeling less than% A: Peeling from 95% to less than 100% AA: Peeling from 100% (all peeling)

Figure 0006954308
Figure 0006954308

表1の結果より、実施例2−1〜2−4の剥離層は、ガラス基板から剥離層が剥がれることなく樹脂基板のみを剥離することができたが、比較例2−1及び2−2では樹脂基板を剥離できなかったことが確認された。 From the results in Table 1, in the release layer of Examples 2-1 to 2-4, only the resin substrate could be peeled off without peeling the release layer from the glass substrate, but Comparative Examples 2-1 and 2-2. It was confirmed that the resin substrate could not be peeled off.

Claims (10)

下記式(1A)〜(1B)で表されるポリアミック酸の少なくとも1種と有機溶剤とを含む剥離層形成用組成物を基体上に塗布し、最高温度450〜550℃で焼成する工程を含む剥離層の製造方法。
Figure 0006954308
式中、Xは、互いに独立して、2つのカルボン酸誘導体を有する4価の芳香族基であり、Yは、互いに独立して、2価の芳香族基であり、Z1及びZ2は、互いに独立して、1価の有機基であり、式(1A)において、Y、Z1及びZ2の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、式(1B)において、Y及び2つのZ1の少なくとも1つがアルカリ可溶性基を有し、mは、互いに独立して自然数を表し、
上記Z 1 は、下記式(10)で表される1価の有機基である。
Figure 0006954308
(式中、Z 3 は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)]
A step of applying a composition for forming a release layer containing at least one of the polyamic acids represented by the following formulas (1A) to (1B) and an organic solvent on a substrate and firing at a maximum temperature of 450 to 550 ° C. is included. A method for producing a release layer.
Figure 0006954308
[In the formula, X is a tetravalent aromatic group having two carboxylic acid derivatives independent of each other, and Y is a divalent aromatic group independently of each other, Z 1 and Z 2 Are monovalent organic groups independently of each other, in formula (1A) at least one of Y, Z 1 and Z 2 has an alkali-soluble group, and in formula (1B) Y and two Z. 1 has at least one alkali-soluble group, m is to display the natural number independently of each other,
Z 1 is a monovalent organic group represented by the following formula (10).
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ○ represents a bond.)]
上記アルカリ可溶性基が、カルボキシ基又はフェノール性水酸基である請求項1記載の剥離層の製造方法。 The method for producing a release layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble group is a carboxy group or a phenolic hydroxyl group. 上記Yが、下記式(2)〜(5)で表される芳香族基を含む請求項1又は2記載の剥離層の製造方法。
Figure 0006954308
(式中、Wは、互いに独立して、カルボキシ基又は水酸基を表し、R1〜R3は、互いに独立して、ハロゲン原子で置換されていてもよい、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数2〜20のアルケニレン基、炭素数2〜20のアルキニレン基、炭素数6〜20のアリーレン基もしくは炭素数2〜20のヘテロアリーレン基、エーテル基、エステル基又はアミド基を表し、○は結合手を表す。)
The method for producing a release layer according to claim 1 or 2, wherein Y contains an aromatic group represented by the following formulas (2) to (5).
Figure 0006954308
(In the formula, W represents a carboxy group or a hydroxyl group independently of each other, and R 1 to R 3 are independent of each other and may be substituted with a halogen atom. It represents an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms, an alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms, an arylene group having 6 to 20 carbon atoms or a heteroarylene group having 2 to 20 carbon atoms, an ether group, an ester group or an amide group. Represents a bond.)
上記Yが、下記式(6)〜(9)で表される芳香族基を含む請求項3記載の剥離層の製造方法。
Figure 0006954308
(式中、表し、○は結合手を表す。)
The method for producing a release layer according to claim 3, wherein Y contains an aromatic group represented by the following formulas (6) to (9).
Figure 0006954308
(In the formula, it is represented, and ○ represents the bond.)
上記Z2が、下記式(11)で表される1価の有機基である請求項1〜のいずれか1項記載の剥離層の製造方法。
Figure 0006954308
(式中、Z3は、カルボキシ基又は水酸基を表し、○は結合手を表す。)
The method for producing a release layer according to any one of claims 1 to 4 , wherein Z 2 is a monovalent organic group represented by the following formula (11).
Figure 0006954308
(In the formula, Z 3 represents a carboxy group or a hydroxyl group, and ◯ represents a bond.)
上記Yが、さらにアルカリ可溶性基を有しない芳香族基を含む請求項3〜のいずれか1項記載の剥離層の製造方法。 The method for producing a release layer according to any one of claims 3 to 5 , wherein Y further contains an aromatic group having no alkali-soluble group. 上記アルカリ可溶性基を有しない芳香族基が、フェニレン基、ビフェニレン基又はターフェニレン基である請求項記載の剥離層の製造方法。 The method for producing a release layer according to claim 6 , wherein the aromatic group having no alkali-soluble group is a phenylene group, a biphenylene group or a terphenylene group. 請求項1〜のいずれか1項記載の製造方法を用いて形成される剥離層を用いることを特徴とする、樹脂基板を備えるフレキシブル電子デバイスの製造方法。 A method for manufacturing a flexible electronic device including a resin substrate, which comprises using a release layer formed by using the manufacturing method according to any one of claims 1 to 7. 請求項1〜のいずれか1項記載の製造方法を用いて形成した剥離層上に、樹脂基板形成用組成物を塗布した後、最高温度450℃以上で焼成して樹脂基板を形成する工程を含むフレキシブル電子デバイスの製造方法。 A step of applying a resin substrate forming composition onto a release layer formed by the production method according to any one of claims 1 to 7 and then firing at a maximum temperature of 450 ° C. or higher to form a resin substrate. A method of manufacturing a flexible electronic device including. 前記樹脂基板が、ポリイミド樹脂基板である請求項又は記載のフレキシブル電子デバイスの製造方法。 The method for manufacturing a flexible electronic device according to claim 8 or 9 , wherein the resin substrate is a polyimide resin substrate.
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