JP6657664B2 - Chemical state measurement method - Google Patents
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Description
本発明は、硫黄を含有する高分子複合材料において、架橋部分の硫黄の情報を高精度に得ることが可能な化学状態測定方法に関する。 The present invention relates to a chemical state measuring method capable of obtaining information on sulfur in a crosslinked portion with high accuracy in a polymer composite material containing sulfur.
従来、硫黄加硫剤等の硫黄含有化合物を用いて架橋した加硫ゴム中の硫黄架橋構造を分析する手法としては、LiAlH4やプロパン2−チオールといった試薬で選択的に架橋を切断し、その前後での膨潤度から、Flory−Rehnerの式(例えば、非特許文献1参照)を用いて加硫ゴム中のモノスルフィド結合(R−S1−R)、ジスルフィド結合(R−S2−R)、ポリスルフィド結合(R−Sn−R(n≧3))の架橋密度[mol/cm3]を算出する方法が知られていた。
Conventionally, as a method of analyzing a sulfur cross-linked structure in a vulcanized rubber cross-linked using a sulfur-containing compound such as a sulfur vulcanizing agent, the cross-linking is selectively cut with a reagent such as LiAlH 4 or propane 2-thiol. Based on the degree of swelling before and after, a monosulfide bond (RS 1 -R) and a disulfide bond (RS 2 -R) in the vulcanized rubber are obtained using the Flory-Rehner formula (for example, see Non-Patent
硫黄含有化合物を用いて架橋した加硫ゴムをはじめとする硫黄含有高分子複合材料中の硫黄架橋構造を制御することができれば、力学物性等の硫黄含有高分子複合材料に要求される性能をより精緻に制御することが可能となるものと考えられ、硫黄含有高分子複合材料中の硫黄架橋構造の分析は、上記要求性能を制御するうえで非常に重要である。 If the sulfur cross-linked structure in sulfur-containing polymer composite materials such as vulcanized rubber cross-linked using sulfur-containing compounds can be controlled, the performance required for sulfur-containing polymer composite materials such as mechanical properties will be improved. It is thought that precise control is possible, and the analysis of the sulfur crosslinked structure in the sulfur-containing polymer composite material is very important in controlling the required performance.
上述のように、従来から加硫ゴム中の硫黄架橋構造を分析する手法が知られていたが、従来法では、加硫ゴム中のモノスルフィド結合(R−S1−R)、ジスルフィド結合(R−S2−R)、ポリスルフィド結合(R−Sn−R(n≧3))の3種類の架橋密度しか算出することができなかった。そして更には、ポリスルフィド結合(R−Sn−R(n≧3))を優先的に切断するプロパン2−チオールは強い臭気のために使用できないことも多く、そのため、モノスルフィド結合(R−S1−R)、及び、ジスルフィド結合を含んだポリスルフィド結合(R−Sn−R(n≧2))の2種類の架橋密度を算出して、硫黄架橋構造を分析する場合も多かった。しかしながら、これらの方法では、ポリスルフィド結合の詳細(R−Sn−R(n=2、3、4、5、6、7、8))は分からず、硫黄架橋構造を制御して要求性能を制御するには不充分であった。このように、より詳細に硫黄架橋構造を分析する方法について改善の余地があった。 As described above, a technique for analyzing a sulfur crosslinked structure in a vulcanized rubber has been conventionally known. However, in the conventional method, a monosulfide bond (RS 1 -R) and a disulfide bond (RS Only three types of crosslink densities of R—S 2 —R) and polysulfide bonds (R—S n —R (n ≧ 3)) could be calculated. And further, polysulfide bond (R-S n -R (n ≧ 3)) often may not be used for preferentially cleave propane 2-thiol strong odor and therefore, monosulfide bonds (R-S 1 -R), and calculates the two kinds of the crosslinking density of the polysulfide bond containing a disulfide bond (R-S n -R (n ≧ 2)), it was often the case of analyzing a sulfur bridge structure. However, in these methods, polysulfide bond details (R-S n -R (n = 2,3,4,5,6,7,8)) is not known, the required performance by controlling the sulfur bridge structure It was not enough to control. Thus, there is room for improvement in the method of analyzing the sulfur crosslinked structure in more detail.
こうした背景を受けて、本発明者らは、特願2015―130060、特願2015−138963において、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルをリバースモンテカルロ法でフィッティングすることにより、架橋密度を測定する方法を提案した。しかしながら、この方法は、以下の点で改善の余地があった。 Against this background, the present inventors measured the crosslink density by fitting the X-ray absorption spectrum of a sulfur-containing polymer composite material by a reverse Monte Carlo method in Japanese Patent Application Nos. 2015-130060 and 2015-138963. Suggested how to. However, this method has room for improvement in the following points.
硫黄含有高分子複合材料は、通常、架橋反応を促進するために、酸化亜鉛(ZnO)が配合されているが、図1に示すように、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルは、ZnOの有無によってプロファイルが変化する。これは、酸化亜鉛と硫黄との反応で生成する硫黄酸化物(硫酸亜鉛:ZnSO4)に起因するものと考えられる。また、硫黄酸化物は、硫黄含有高分子複合材料の劣化時にも生成するため、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルは、硫酸亜鉛以外の硫黄酸化物の影響も受けていると考えられる。 Usually, zinc oxide (ZnO) is blended in the sulfur-containing polymer composite material in order to promote a crosslinking reaction. However, as shown in FIG. 1, the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material is as follows. The profile changes depending on the presence or absence of ZnO. This is considered to be due to sulfur oxide (zinc sulfate: ZnSO 4 ) generated by the reaction between zinc oxide and sulfur. In addition, since sulfur oxides are generated even when the sulfur-containing polymer composite is deteriorated, it is considered that the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite is also affected by sulfur oxides other than zinc sulfate. .
このように、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルには、架橋部分の硫黄だけでなく、硫黄酸化物中の硫黄の情報も含んでいる。そのため、そのまま解析に使用しても、架橋部分の硫黄の情報を正確に得ることは困難である。 As described above, the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material includes not only the sulfur in the crosslinked portion but also information on the sulfur in the sulfur oxide. For this reason, it is difficult to accurately obtain information on the sulfur in the crosslinked portion even if it is used for analysis as it is.
本発明は、前記課題を解決し、架橋部分の硫黄の情報を高精度に得ることが可能な化学状態測定方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a chemical state measuring method capable of obtaining information on sulfur in a crosslinked portion with high accuracy.
本発明は、硫黄含有高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する除去工程とを含む化学状態測定方法に関する。 The present invention relates to a measuring step of irradiating a sulfur-containing polymer composite material with high-intensity X-rays and measuring an X-ray absorption spectrum while changing the energy of the X-rays. And a removing step for removing oxide components.
上記除去工程では、少なくとも、硫黄酸化物と、硫黄酸化物以外の硫黄連結数の異なる複数の化合物との標準試料のX線吸収スペクトルを用いて、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルのXANES領域を波形分離することにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルにおける硫黄酸化物の比率を算出し、得られた硫黄酸化物の比率に基づき、硫黄含有高分子複合材料のEXAFS振動から硫黄酸化物のEXAFS振動を差し引くことにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去することが好ましい。 In the removing step, at least the sulfur oxide and the X-ray absorption spectrum of a standard sample of a plurality of compounds having different numbers of sulfur linkages other than the sulfur oxide are used to obtain the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material. By XAES region waveform separation, the sulfur oxide ratio in the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material is calculated, and the EXAFS vibration of the sulfur-containing polymer composite material is calculated based on the obtained sulfur oxide ratio. It is preferable to remove the sulfur oxide component from the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material by subtracting the EXAFS vibration of the sulfur oxide from.
上記測定工程では、X線を用いて走査するエネルギー範囲を2300〜4000eVとすることで、硫黄K殻吸収端付近の硫黄のX線吸収スペクトルを測定することが好ましい。 In the measurement step, it is preferable to measure the X-ray absorption spectrum of sulfur near the sulfur K-shell absorption edge by setting the energy range for scanning using X-rays to 2300 to 4000 eV.
上記測定工程では、X線は、光子数が107(photons/s)以上、輝度が1010(photons/s/mrad2/mm2/0.1%bw)以上であることが好ましい。 In the measurement step, the X-rays preferably have a photon number of 10 7 (photons / s) or more and a luminance of 10 10 (photons / s / mrad 2 / mm 2 /0.1% bw) or more.
本発明によれば、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去することにより、架橋部分の硫黄の情報を高精度に得ることが可能となる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, by removing the component of a sulfur oxide from the X-ray absorption spectrum of a sulfur-containing polymer composite material, it becomes possible to obtain the information on the sulfur in the crosslinked portion with high accuracy.
本発明は、硫黄含有高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する除去工程とを含む化学状態測定方法である。 The present invention relates to a measuring step of irradiating a sulfur-containing polymer composite material with high-intensity X-rays and measuring an X-ray absorption spectrum while changing the energy of the X-rays. And a removing step of removing oxide components.
本発明では、測定工程、除去工程を順に実施することで、硫黄酸化物の成分が除去されたX線吸収スペクトルが得られる。このX線吸収スペクトルを解析することにより、架橋部分の硫黄の情報を高精度に得ることができる。得られた情報を解析することで、ポリマー間を橋かけする硫黄の数や量を正確に得ることが期待できる。 In the present invention, by performing the measurement step and the removal step in this order, an X-ray absorption spectrum from which the sulfur oxide component has been removed can be obtained. By analyzing this X-ray absorption spectrum, information on sulfur in the crosslinked portion can be obtained with high accuracy. By analyzing the obtained information, it is expected that the number and amount of sulfur bridging between the polymers can be accurately obtained.
本発明における測定工程では、硫黄含有高分子複合材料(以下、単に「試料」ともいう。)に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する。上記測定工程において、X線吸収スペクトルを測定する方法としては、例えば、XAFS(X−ray Absorption Fine Structure:吸収端近傍X線吸収微細構造)法が挙げられる。 In the measurement step in the present invention, a sulfur-containing polymer composite material (hereinafter, also simply referred to as a “sample”) is irradiated with high-intensity X-rays, and an X-ray absorption spectrum is measured while changing the energy of the X-rays. In the above measurement step, an X-ray absorption fine structure (X-ray absorption fine structure: X-ray absorption fine structure near the absorption edge) method may be used as a method for measuring the X-ray absorption spectrum, for example.
硫黄加硫剤等の硫黄含有化合物を用いたゴム材料をはじめとする硫黄を含有する高分子複合材料における架橋密度を測定する方法として、硫黄K殻吸収端付近におけるXAFS法は有用である。
XAFS法はX線を照射し、狙った原子におけるX線吸収量を測定する方法であり、化学状態(結合)の違いによって吸収できるX線エネルギーが異なることを利用して詳細な化学状態(結合)を調べることができる。しかしながら、硫黄含有高分子複合材料中には、モノスルフィド結合、ジスルフィド結合、ポリスルフィド結合等の硫黄の結合長さが異なる硫黄架橋が存在し、これらはスペクトルで検出されるピークエネルギーが近い。また、酸化亜鉛を配合した場合には硫化亜鉛も生成され、そのスペクトルも観察される。このように硫黄含有高分子複合材料中の硫黄の化学状態は複雑であるため、硫黄成分を含まない高分子材料に比べて、得られるXAFSスペクトルはブロードなスペクトルとなる傾向がある。従って、硫黄含有高分子複合材料の分析には、より高精度な測定が要求される。そこで、XAFS法においてより高精度な測定を行うために、高輝度X線を用いることができる。
As a method for measuring the crosslink density of a sulfur-containing polymer composite material such as a rubber material using a sulfur-containing compound such as a sulfur vulcanizing agent, the XAFS method near the sulfur K shell absorption edge is useful.
The XAFS method is a method of irradiating X-rays and measuring the amount of X-ray absorption at a target atom. The XAFS method utilizes the fact that the X-ray energy that can be absorbed differs depending on the chemical state (bond), and the detailed chemical state (bonding) is used. ) Can be checked. However, in the sulfur-containing polymer composite material, there are sulfur bridges having different sulfur bond lengths such as a monosulfide bond, a disulfide bond, and a polysulfide bond, and these have similar peak energies detected in the spectrum. When zinc oxide is added, zinc sulfide is also generated, and its spectrum is observed. As described above, since the chemical state of sulfur in the sulfur-containing polymer composite material is complicated, the obtained XAFS spectrum tends to be a broad spectrum as compared with a polymer material containing no sulfur component. Therefore, more accurate measurement is required for the analysis of the sulfur-containing polymer composite material. Therefore, in order to perform more accurate measurement in the XAFS method, high-brightness X-rays can be used.
また、XAFS法による分析では、吸収端(吸収が立ち上がるエネルギー)から50eV位までのピークが出現する領域であるXANES(X−ray Absorption Near Edge Structure)領域、それよりも高エネルギーの緩やかな振動成分が出現する領域であるEXAFS(Extended X−ray Absorption Fine Structure)領域での分析がある。XANES領域は、試料に狙った原子の吸収端近傍のX線を照射した際、内殻準位にいた電子が励起状態に遷移するため、狙った原子がどのような原子と結合しているか(化学状態)がわかる。一方、EXAFS領域は、内殻電子が原子核の束縛を離れ、光電子として飛び出す。その際、光電子は波として表わされるため、近くに他の原子がいる場合には、波が干渉して返ってくる。そのため、中心原子の周囲の原子数、原子種、原子間距離等の情報が得られる。本発明においては、後述する除去工程に供するX線吸収スペクトルとして、硫黄K殻吸収端付近におけるXAFS法で得られたEXAFS領域のスペクトル(以下、「EXAFS振動」ともいう。)を用いることが好ましい。 In the analysis by the XAFS method, an XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure) region in which a peak from the absorption edge (energy at which absorption rises) to about 50 eV appears, and a slower vibration component having a higher energy than the XANES region There is an analysis in an EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) region, which is a region where appears. In the XANES region, when the sample is irradiated with X-rays near the absorption edge of the target atom, the electrons at the inner core level transition to an excited state, and therefore, what kind of atom is bonded to the target atom ( Chemical state). On the other hand, in the EXAFS region, core electrons leave the binding of atomic nuclei and jump out as photoelectrons. At this time, since the photoelectrons are represented as waves, if there are other atoms nearby, the waves interfere and return. Therefore, information such as the number of atoms around the central atom, the type of atom, and the distance between atoms can be obtained. In the present invention, it is preferable to use a spectrum in the EXAFS region near the sulfur K-shell absorption edge obtained by the XAFS method (hereinafter, also referred to as “EXAFS vibration”) as the X-ray absorption spectrum to be used in the removal step described later. .
本発明の方法に供される硫黄含有高分子複合材料としては、硫黄加硫剤等の硫黄含有化合物を用いて架橋され、硫黄架橋構造を有する高分子複合材料であれば特に限定されず、例えば、硫黄加硫剤等の硫黄含有化合物、ゴム成分、他の配合材料を含むゴム組成物を架橋して得られた硫黄架橋ゴムなどが挙げられる。 The sulfur-containing polymer composite material subjected to the method of the present invention is not particularly limited as long as it is crosslinked using a sulfur-containing compound such as a sulfur vulcanizing agent and has a sulfur crosslinked structure. And a sulfur-crosslinked rubber obtained by crosslinking a rubber composition containing a sulfur-containing compound such as a sulfur vulcanizing agent, a rubber component, and other compounding materials.
上記硫黄含有化合物としては、例えば、粉末硫黄、沈降硫黄、コロイド硫黄、不溶性硫黄、高分散性硫黄等の硫黄加硫剤等が挙げられる。 Examples of the sulfur-containing compound include sulfur vulcanizing agents such as powdered sulfur, precipitated sulfur, colloidal sulfur, insoluble sulfur, and highly dispersible sulfur.
上記ゴム成分としては、天然ゴム(NR)、イソプレンゴム(IR)、ブタジエンゴム(BR)、スチレンブタジエンゴム(SBR)、アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)、クロロプレンゴム(CR)、ブチルゴム(IIR)、ハロゲン化ブチルゴム(X−IIR)、スチレンイソプレンブタジエンゴム(SIBR)等のジエン系ゴム等が挙げられる。また、ゴム成分は、水酸基、アミノ基等の変性基を1つ以上含むものでもよい。更には、ゴム成分として種々のエラストマーを用いることもできる。 Examples of the rubber component include natural rubber (NR), isoprene rubber (IR), butadiene rubber (BR), styrene butadiene rubber (SBR), acrylonitrile butadiene rubber (NBR), chloroprene rubber (CR), butyl rubber (IIR), and halogen. And diene rubbers such as butyl rubber (X-IIR) and styrene isoprene butadiene rubber (SIBR). Further, the rubber component may include one or more modifying groups such as a hydroxyl group and an amino group. Further, various elastomers can be used as the rubber component.
更にゴム成分としては、前記ゴム成分と1種類以上の樹脂とが複合された複合材料も使用できる。上記樹脂としては特に限定されず、例えば、ゴム工業分野で汎用されているものが挙げられ、例えば、C5系脂肪族石油樹脂、シクロペンタジエン系石油樹脂等の石油樹脂が挙げられる。 Further, as the rubber component, a composite material in which the rubber component and one or more resins are composited can be used. The resin is not particularly limited, and includes, for example, those widely used in the field of rubber industry, for example, petroleum resins such as C5 aliphatic petroleum resin and cyclopentadiene petroleum resin.
上記硫黄含有高分子複合材料には、カーボンブラック、シリカ等の充填剤、シランカップリング剤、酸化亜鉛、ステアリン酸、老化防止剤、ワックス、オイル、硫黄以外の加硫剤、加硫促進剤等、従来公知のゴム分野の配合物を適宜配合してもよい。このようなゴム材料(ゴム組成物)は、公知の混練方法、加硫方法等を用いて製造できる。このようなゴム材料としては、例えば、タイヤ用加硫ゴム材料(タイヤ用加硫ゴム組成物)等が挙げられる。 Fillers such as carbon black and silica, silane coupling agents, zinc oxide, stearic acid, antioxidants, waxes, oils, vulcanizing agents other than sulfur, vulcanization accelerators, etc. A conventionally known compound in the rubber field may be appropriately compounded. Such a rubber material (rubber composition) can be produced using a known kneading method, vulcanization method, or the like. Examples of such a rubber material include vulcanized rubber materials for tires (vulcanized rubber compositions for tires).
高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する具体的な方法としては、以下のような透過法、蛍光法、電子収量法等が汎用されている。 As a specific method of irradiating high-intensity X-rays and measuring the X-ray absorption spectrum while changing the energy of the X-rays, the following transmission method, fluorescence method, electron yield method, and the like are widely used.
(透過法)
試料を透過してきたX線強度を検出する方法である。透過光強度測定には、フォトダイオードアレイ検出器等が用いられる。
(Transmission method)
This is a method for detecting the X-ray intensity transmitted through the sample. A photodiode array detector or the like is used for the transmitted light intensity measurement.
(蛍光法)
試料にX線を照射した際に発生する蛍光X線を検出する方法である。検出器は、Lytle検出器、半導体検出器等がある。前記透過法の場合、試料中の含有量が少ない元素のX線吸収測定を行うと、シグナルが小さい上に含有量の多い元素のX線吸収によりバックグラウンドが高くなるためS/B比の悪いスペクトルとなる。それに対し蛍光法(特にエネルギー分散型検出器等を用いた場合)では、目的とする元素からの蛍光X線のみを測定することが可能であるため、含有量が多い元素の影響が少ない。そのため、含有量が少ない元素のX線吸収スペクトル測定を行う場合に有効である。また、蛍光X線は透過力が強い(物質との相互作用が小さい)ため、試料内部で発生した蛍光X線を検出することが可能となる。そのため、本手法は透過法に次いでバルク情報を得る方法として最適である。
(Fluorescence method)
This is a method of detecting fluorescent X-rays generated when a sample is irradiated with X-rays. The detector includes a Lytle detector, a semiconductor detector, and the like. In the case of the transmission method, when the X-ray absorption measurement of an element having a small content in a sample is performed, the signal is small and the background becomes high due to the X-ray absorption of the element having a large content, so that the S / B ratio is poor. It becomes a spectrum. On the other hand, in the fluorescence method (particularly when an energy dispersive detector or the like is used), it is possible to measure only the fluorescent X-ray from the target element, so that the effect of the element having a large content is small. Therefore, it is effective when performing an X-ray absorption spectrum measurement of an element having a small content. Further, since the fluorescent X-ray has a high penetrating power (the interaction with the substance is small), the fluorescent X-ray generated inside the sample can be detected. Therefore, this method is the best method for obtaining bulk information after the transmission method.
(電子収量法)
試料にX線を照射した際に流れる電流を検出する方法である。そのため試料が導電物質である必要がある。また、表面敏感(試料表面の数nm程度の情報)であるという特徴もある。試料にX線を照射すると元素から電子が脱出するが、電子は物質との相互作用が強いため、物質中での平均自由行程が短い。
(Electron yield method)
This is a method of detecting a current flowing when a sample is irradiated with X-rays. Therefore, the sample needs to be a conductive material. Another feature is that the surface is sensitive (information about several nm on the surface of the sample). When a sample is irradiated with X-rays, electrons escape from the element, but the electrons have a strong interaction with the substance, so that the mean free path in the substance is short.
このように、透過法は、XAFSの基本的な測定方法で、入射光強度と試料を透過したX線強度を検出してX線吸収量を測定する方法であるため、試料のバルク情報が得られ、対象化合物が一定以上の濃度(例えば、数wt%以上)でなければ測定が困難という特徴がある。電子収量法は、表面敏感な方法であり、試料表面の数十nm程度の情報が得られる。一方、蛍光法は、電子収量法に比べて表面からある程度深い部分からの情報が得られるという特徴と、対象化合物濃度が低くても測定できるという特徴がある。本発明では、蛍光法が好適に用いられる。
そこで、蛍光法について、より具体的に以下説明する。
As described above, the transmission method is a basic measurement method of XAFS, and is a method of measuring the amount of X-ray absorption by detecting the intensity of incident light and the intensity of X-rays transmitted through the sample. In addition, if the concentration of the target compound is not less than a certain level (for example, several wt% or more), it is difficult to measure. The electron yield method is a surface-sensitive method, and information about several tens of nanometers on the surface of a sample can be obtained. On the other hand, the fluorescence method has a feature that information can be obtained from a portion somewhat deeper than the surface as compared with the electron yield method, and a feature that it can be measured even when the concentration of the target compound is low. In the present invention, a fluorescence method is preferably used.
Thus, the fluorescence method will be described more specifically below.
蛍光法とは、試料にX線を照射した際に発生する蛍光X線をモニタリングする方法であり、X線吸収量と蛍光X線の強度に比例関係があることを用いて、蛍光X線の強度からX線吸収量を間接的に求める方法となる。蛍光法を行う場合、電離箱を用いた方法とSDD(シリコンドリフト検出器)やSSD(シリコンストリップ検出器)等の半導体検出器を用いることが多い。電離箱では比較的簡便に測定ができるが、エネルギー分別が困難なことと、試料からの散乱X線や対象元素以外の蛍光X線が入ってしまうためバックグランドを上げてしまうことがあり、試料と検出器との間にソーラースリットやフィルターを設置する必要がある。SDDやSSDを用いた場合、好感度でかつ、エネルギー分別が可能であるため、目的元素からの蛍光X線のみを取り出すことができ、S/B比よく測定することが可能となる。 The fluorescence method is a method of monitoring fluorescent X-rays generated when a sample is irradiated with X-rays, and uses the fact that there is a proportional relationship between the amount of absorbed X-rays and the intensity of the fluorescent X-rays. This is a method of indirectly obtaining the amount of X-ray absorption from the intensity. In the case of performing the fluorescence method, a method using an ionization chamber and a semiconductor detector such as an SDD (silicon drift detector) or an SSD (silicon strip detector) are often used. The ionization chamber can measure relatively easily, but it is difficult to classify the energy, and the background may be raised because X-rays scattered from the sample or fluorescent X-rays other than the target element enter. It is necessary to install a solar slit or a filter between the sensor and the detector. In the case of using SDD or SSD, since it is sensitive and energy can be separated, only fluorescent X-rays from the target element can be extracted, and measurement can be performed with a good S / B ratio.
上記測定工程において用いるX線は、光子数が107photons/s以上であることが好ましい。これにより高精度の測定が可能となる。上記X線の光子数は、109photons/s以上であることがより好ましい。上記X線の光子数の上限は特に限定されないが、放射線ダメージがない程度以下のX線強度を用いることが好ましい。 It is preferable that the number of photons of the X-ray used in the above measurement step is 10 7 photons / s or more. This enables highly accurate measurement. The number of photons of the X-ray is more preferably at least 10 9 photons / s. Although the upper limit of the number of photons of the X-ray is not particularly limited, it is preferable to use an X-ray intensity that is equal to or less than the radiation damage.
上記測定工程において用いるX線は、輝度が1010photons/s/mrad2/mm2/0.1%bw以上であることが好ましい。
XAFS法は、X線エネルギーで走査するため光源には連続X線発生装置が必要であり、詳細な化学状態を解析するには高いS/N比及びS/B比のX線吸収スペクトルを測定する必要がある。シンクロトロンから放射されるX線は、1010photons/s/mrad2/mm2/0.1%bw以上の輝度を有し、且つ連続X線源であるため、XAFS測定には最適である。なお、bwはシンクロトロンから放射されるX線のband widthを示す。上記X線の輝度は、1011photons/s/mrad2/mm2/0.1%bw以上であることがより好ましい。上記X線の輝度の上限は特に限定されないが、放射線ダメージがない程度以下のX線強度を用いることが好ましい。
It is preferable that the X-ray used in the above measurement step has a luminance of 10 10 photons / s / mrad 2 / mm 2 /0.1% bw or more.
The XAFS method requires a continuous X-ray generator as a light source to scan with X-ray energy, and measures the X-ray absorption spectrum with a high S / N ratio and S / B ratio to analyze a detailed chemical state. There is a need to. X-rays emitted from a synchrotron have a luminance of 10 10 photons / s / mrad 2 / mm 2 /0.1% bw or more and are a continuous X-ray source, so they are optimal for XAFS measurement. . Here, bw indicates the band width of X-rays emitted from the synchrotron. The luminance of the X-ray is more preferably 10 11 photons / s / mrad 2 / mm 2 /0.1% bw or more. The upper limit of the luminance of the X-ray is not particularly limited, but it is preferable to use an X-ray intensity that is equal to or lower than the radiation damage.
上記測定工程におけるX線を用いて走査するエネルギー範囲としては、2300〜4000eVの範囲が好適である。上記範囲を走査することで、硫黄K殻吸収端付近の硫黄のX線吸収スペクトルを測定でき、試料中の硫黄の化学状態の情報が得られる。上記エネルギー範囲としてより好ましくは2350〜3500eVである。 The energy range for scanning using X-rays in the measurement step is preferably in the range of 2300 to 4000 eV. By scanning the above range, the X-ray absorption spectrum of sulfur near the sulfur K shell absorption edge can be measured, and information on the chemical state of sulfur in the sample can be obtained. The above energy range is more preferably 2350-3500 eV.
本発明における除去工程では、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する。以下、除去方法の一例を説明する。 In the removing step in the present invention, a sulfur oxide component is removed from the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material. Hereinafter, an example of the removing method will be described.
まず、標準試料のX線吸収スペクトルを用いて、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルのXANES領域を波形分離することにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルにおける硫黄酸化物の比率を算出する。 First, using the X-ray absorption spectrum of the standard sample, the XANES region of the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material is waveform-separated to obtain the sulfur oxide in the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material. Calculate the ratio.
標準試料は、少なくとも、硫黄酸化物と、硫黄酸化物以外の硫黄連結数の異なる複数の化合物(以下、「硫黄試料」ともいう。)とを使用する。硫黄酸化物は、本工程での除去の対象とするものであり、硫黄試料は、架橋部分の硫黄に相当するものである。 As the standard sample, at least a sulfur oxide and a plurality of compounds having different numbers of sulfur linkages other than the sulfur oxide (hereinafter, also referred to as “sulfur sample”) are used. The sulfur oxide is to be removed in this step, and the sulfur sample corresponds to the sulfur in the crosslinked portion.
硫黄酸化物としては、例えば、上述の硫酸亜鉛(ZnSO4)の他、R−SO4(Rは炭化水素基)で表される構造を有する化合物を使用することもできる。硫黄含有高分子複合材料の架橋部分等が酸化している場合は、R−SO4で表される構造を有する化合物を使用することが好適である。 The sulfur oxides, for example, addition to the above-mentioned zinc sulfate (ZnSO 4), R-SO 4 (R is a hydrocarbon group) can also be used a compound having a structure represented by. If crosslinking moiety such sulfur-containing polymer composite material is oxidized, it is preferable to use a compound having a structure represented by R-SO 4.
硫黄試料としては、例えば、モノ結合(C−S−C)を有する化合物、ジ結合(C−S−S−C)を有する化合物、ポリ結合(C−Sn−C、n≧3)を有する化合物を使用することができる。 Examples of the sulfur sample include a compound having a mono bond (C-S-C), a compound having a di-bond (C-S-S-C), and a poly bond (C- Sn- C, n≥3). Can be used.
以下、標準試料として下記化合物を、硫黄含有高分子複合材料として硫黄架橋ゴムを使用した場合について説明する。なお、標準試料は下記化合物に限定されるものではなく、硫黄部分が類似していれば他の化合物を用いることも可能である。硫黄架橋ゴムの調製方法及び配合内容は、後述の実施例と同様である。
(標準試料)
・モノ結合を有する化合物:poly(3−hexyl thiophen)
・ジ結合を有する化合物:poly(ethylene glycol)with disulfide linkage
・ポリ結合を有する化合物:sulfur
・硫黄酸化物:ZnSO4
Hereinafter, the case where the following compound is used as a standard sample and a sulfur crosslinked rubber is used as a sulfur-containing polymer composite material will be described. The standard sample is not limited to the following compounds, and other compounds can be used as long as the sulfur moiety is similar. The method of preparing the sulfur crosslinked rubber and the content of the compounding are the same as in the examples described later.
(Standard sample)
Compound having a mono bond: poly (3-hexyl thiophen)
A compound having a di bond: poly (ethylene glycol) with disulide linkage
Compound having poly bond: sulfur
・ Sulfur oxide: ZnSO 4
X線吸収スペクトルの測定条件及び解析条件は、以下のとおりである。なお、今回用いたSDDのような半導体検出器は、高計測測定の場合に数え落としが発生するため、数え落とし補正を実施した。数え落とし補正の方法は、文献「伊藤真義、谷田肇、放射光 July 2008 Vol.21 No.4」等で開示されている。
(使用装置)
XAFS:SPring−8 BL27SUのBブランチのXAFS測定装置
(測定条件)
輝度:1×1016photons/s/mrad2/mm2/0.1%bw
光子数:5×1010photons/s
分光器:結晶分光器
検出器:SDD(シリコンドリフト検出器)
測定法:蛍光法
エネルギー範囲:2360〜3500eV
(XAFS解析)
(株)リガク製のXAFS解析統合ソフトウェアREX2000
The measurement conditions and analysis conditions of the X-ray absorption spectrum are as follows. Note that the semiconductor detector such as the SDD used this time was counted down in the case of high-measurement measurement. The counting correction method is disclosed in the literature “Masayoshi Ito, Hajime Yada, synchrotron radiation July 2008 Vol.21 No.4” and the like.
(Used equipment)
XAFS: XAFS measurement device of B branch of SPring-8 BL27SU (measurement conditions)
Luminance: 1 × 10 16 photos / s / mrad 2 / mm 2 /0.1% bw
Number of photons: 5 × 10 10 photons / s
Spectrometer: Crystal spectrometer Detector: SDD (Silicon drift detector)
Measurement method: Fluorescence energy range: 2360-3500 eV
(XAFS analysis)
XAFS analysis integrated software REX2000 manufactured by Rigaku Corporation
図2は、硫黄架橋ゴムのX線吸収スペクトルと、標準試料のX線吸収スペクトルを用いてフィッティングを行った結果とを示すグラフである。各スペクトルは、最も強度の高い2470eV付近のピークの強度が1となるように規格化している。この結果に基づき、硫黄架橋ゴムのX線吸収スペクトルのXANES領域を波形分離することにより、硫黄架橋ゴムのX線吸収スペクトルにおける硫黄酸化物の比率(係数α)を算出することができる。 FIG. 2 is a graph showing the X-ray absorption spectrum of the sulfur crosslinked rubber and the result of fitting using the X-ray absorption spectrum of the standard sample. Each spectrum is normalized such that the peak intensity around 2470 eV, which is the highest intensity, is 1. Based on this result, the XANES region of the X-ray absorption spectrum of the sulfur crosslinked rubber is subjected to waveform separation, whereby the ratio (coefficient α) of sulfur oxide in the X-ray absorption spectrum of the sulfur crosslinked rubber can be calculated.
次に、算出した係数αに基づき、硫黄含有高分子複合材料のEXAFS振動から硫黄酸化物のEXAFS振動を差し引くことにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する。 Next, the sulfur oxide component is removed from the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material by subtracting the EXAFS vibration of the sulfur oxide from the EXAFS vibration of the sulfur-containing polymer composite material based on the calculated coefficient α. I do.
図3は、硫黄架橋ゴムのX線吸収スペクトルを示すグラフであり、図4は、図3のスペクトルから抜き出したEXAFS振動(図3の破線部分)を示すグラフである。また、図5は、ZnSO4のX線吸収スペクトルを示すグラフであり、図6は、図5のスペクトルから抜き出したEXAFS振動(図5の破線部分)に係数αを掛けたものを示すグラフである。そして、硫黄架橋ゴムのEXAFS振動(図4)から、硫黄酸化物の成分、すなわち、ZnSO4のEXAFS振動に係数αを掛けたもの(図6)を差し引くことにより、図7に示すように、ZnSO4の成分が除外された硫黄架橋ゴムのEXAFS振動が得られる。 FIG. 3 is a graph showing an X-ray absorption spectrum of the sulfur crosslinked rubber, and FIG. 4 is a graph showing EXAFS vibration extracted from the spectrum of FIG. 3 (broken line portion in FIG. 3). FIG. 5 is a graph showing the X-ray absorption spectrum of ZnSO 4 , and FIG. 6 is a graph showing the EXAFS vibration extracted from the spectrum of FIG. 5 (broken line portion in FIG. 5) multiplied by a coefficient α. is there. Then, by subtracting the component of the sulfur oxide, that is, the EXAFS vibration of ZnSO 4 multiplied by the coefficient α (FIG. 6) from the EXAFS vibration of the sulfur crosslinked rubber (FIG. 4), as shown in FIG. The EXAFS vibration of the sulfur crosslinked rubber excluding the component of ZnSO 4 is obtained.
以上の手順により、硫黄架橋ゴムのX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去することができる。そして、除去後のスペクトルに基いて種々の解析を行うことで、架橋部分の硫黄の状態を正確に解析することができる。 By the above procedure, the components of the sulfur oxide can be removed from the X-ray absorption spectrum of the sulfur crosslinked rubber. By performing various analyzes based on the spectrum after the removal, the state of sulfur in the crosslinked portion can be accurately analyzed.
実施例に基づいて、本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらのみに限定されるものではない。 The present invention will be specifically described based on examples, but the present invention is not limited to these.
〔試料の調製〕
以下の配合内容に従い、硫黄及び加硫促進剤以外の材料を充填率が58%になるように(株)神戸製鋼所製の1.7Lバンバリーミキサーに充填し、80rpmで140℃に到達するまで混練した(工程1)。工程1で得られた混練物に、硫黄及び加硫促進剤を以下の配合にて添加し、160℃で20分間加硫することでゴム試料(硫黄架橋ゴム)を得た(工程2)。
(Preparation of sample)
In accordance with the following composition, materials other than sulfur and the vulcanization accelerator are charged into a 1.7 L Banbury mixer manufactured by Kobe Steel Co., Ltd. so that the filling ratio becomes 58%, and the temperature reaches 140 ° C. at 80 rpm. It was kneaded (step 1). To the kneaded product obtained in
配合は、天然ゴム50質量部、ブタジエンゴム50質量部、カーボンブラック60質量部、オイル5質量部、老化防止剤2質量部、ワックス2.5質量部、酸化亜鉛3質量部、ステアリン酸2質量部、粉末硫黄1.2質量部、及び加硫促進剤1質量部とした。なお、使用材料は以下のとおりである。
天然ゴム:TSR20
ブタジエンゴム:宇部興産(株)製のBR150B
カーボンブラック:キャボットジャパン(株)製のショウブラックN351
オイル:(株)ジャパンエナジー製のプロセスX−140
老化防止剤:大内新興化学工業(株)製のノクラック6C(N−1,3−ジメチルブチル−N’−フェニル−p−フェニレンジアミン)
ワックス:日本精蝋(株)製のオゾエース0355
酸化亜鉛:東邦亜鉛(株)製の銀嶺R
ステアリン酸:日油(株)製の椿
粉末硫黄(5%オイル含有):鶴見化学工業(株)製の5%オイル処理粉末硫黄(オイル分5質量%含む可溶性硫黄)
加硫促進剤:大内新興化学工業(株)製のノクセラーCZ(N−シクロヘキシル−2−ベンゾチアジルスルフェンアミド)
The compounding is 50 parts by mass of natural rubber, 50 parts by mass of butadiene rubber, 60 parts by mass of carbon black, 5 parts by mass of oil, 2 parts by mass of antioxidant, 2.5 parts by mass of wax, 3 parts by mass of zinc oxide, 2 parts by mass of stearic acid. Parts, 1.2 parts by mass of powdered sulfur, and 1 part by mass of a vulcanization accelerator. The materials used are as follows.
Natural rubber: TSR20
Butadiene rubber: BR150B manufactured by Ube Industries, Ltd.
Carbon black: Show Black N351 manufactured by Cabot Japan
Oil: Process X-140 manufactured by Japan Energy Co., Ltd.
Antiaging agent: Nocrack 6C (N-1,3-dimethylbutyl-N'-phenyl-p-phenylenediamine) manufactured by Ouchi Shinko Chemical Industry Co., Ltd.
Wax: Ozoace 0355 manufactured by Nippon Seiro Co., Ltd.
Zinc oxide: Ginrei R manufactured by Toho Zinc Co., Ltd.
Stearic acid: Camellia powder sulfur manufactured by NOF Corporation (containing 5% oil): 5% oil-treated powder sulfur manufactured by Tsurumi Chemical Industry Co., Ltd. (soluble sulfur containing 5% by mass of oil)
Vulcanization accelerator: Noxeller CZ (N-cyclohexyl-2-benzothiazylsulfenamide) manufactured by Ouchi Shinko Chemical Industry Co., Ltd.
(実施例)
得られたゴム試料と、標準試料とについて、硫黄K殻吸収端付近におけるXAFS法による測定を実施してXAFSスペクトルを得た。使用した標準試料、XAFS法の測定条件及び解析条件は、上述の実施形態と同様である。
(Example)
The obtained rubber sample and the standard sample were measured by the XAFS method near the sulfur K shell absorption edge to obtain an XAFS spectrum. The used standard sample, measurement conditions and analysis conditions of the XAFS method are the same as those in the above-described embodiment.
得られたXAFSスペクトルから、上述の実施形態と同様の手順により、硫黄酸化物(硫酸亜鉛:ZnSO4)の成分を除去した。そして、フーリエ変換により、EXAFS振動を動径分布関数に変換した。結果を図8に示す。なお、図8には、比較例として、除去前のスペクトルを併記した。 From the obtained XAFS spectrum, a component of sulfur oxide (zinc sulfate: ZnSO 4 ) was removed by the same procedure as in the above-described embodiment. The EXAFS vibration was converted to a radial distribution function by Fourier transform. FIG. 8 shows the results. FIG. 8 also shows a spectrum before removal as a comparative example.
図8に示すように、実施例のスペクトルは、比較例のスペクトルと異なるプロファイルを有しており、硫黄酸化物の成分が除去されていることが確認できた。 As shown in FIG. 8, the spectrum of the example had a profile different from that of the spectrum of the comparative example, and it was confirmed that the sulfur oxide component was removed.
Claims (3)
硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する除去工程とを含み、
少なくとも、硫黄酸化物と、硫黄酸化物以外の硫黄連結数の異なる複数の化合物との標準試料のX線吸収スペクトルを用いて、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルのXANES領域を波形分離することにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルにおける硫黄酸化物の比率を算出し、
得られた硫黄酸化物の比率に基づき、硫黄含有高分子複合材料のEXAFS振動から硫黄酸化物のEXAFS振動を差し引くことにより、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する化学状態測定方法。 A measuring step of irradiating the sulfur-containing polymer composite material with high-intensity X-rays and measuring an X-ray absorption spectrum while changing the energy of the X-rays;
A removal step of removing a component of the sulfur oxides from the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite seen including,
At least the XANES region of the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material is waveform-separated using the X-ray absorption spectra of a standard sample of a sulfur oxide and a plurality of compounds having a different number of sulfur linkages other than the sulfur oxide. By calculating the sulfur oxide ratio in the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite material,
By subtracting the EXAFS vibration of the sulfur oxide from the EXAFS vibration of the sulfur-containing polymer composite based on the obtained ratio of the sulfur oxide, the sulfur oxide component can be obtained from the X-ray absorption spectrum of the sulfur-containing polymer composite. Chemical state measurement method to be removed .
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