JP6617046B2 - Measuring device and measuring system - Google Patents

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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

本発明は、測定装置および測定システムに関する。   The present invention relates to a measuring apparatus and a measuring system.

上記技術分野において、特許文献1には、ビームを移動脚および固定脚の合計3点で支持する技術が開示されている(同文献5頁10行目〜14行目および8頁11行目等)。また、特許文献2には、凹凸ゲージそのものをスライドさせて凹凸寸法を測定する技術が記載されています(同文献段落[0026]等)。   In the above technical field, Patent Document 1 discloses a technique for supporting a beam at a total of three points of a moving leg and a fixed leg (page 5, line 10 to line 14, page 8, line 11, etc.). ). Patent Document 2 describes a technique for measuring the uneven dimensions by sliding the uneven gauge itself (paragraph [0026], etc.).

実開昭64−17402号公報Japanese Utility Model Publication No. 64-17402 特開2002−122408号公報JP 2002-122408 A

しかしながら、上記文献に記載の技術では、安価で簡易な装置で、測定面が曲面や垂直面、傾斜面の被測定物の表面精度を測定することができなかった。   However, the technique described in the above document cannot measure the surface accuracy of an object to be measured whose measurement surface is a curved surface, vertical surface, or inclined surface with an inexpensive and simple apparatus.

本発明の目的は、上述の課題を解決する技術を提供することにある。   The objective of this invention is providing the technique which solves the above-mentioned subject.

上記目的を達成するため、本発明に係る測定装置は、
被測定物の表面の凹凸を測定する測定手段と、
前記測定手段を取り付けるスライダと、
前記スライダの移動方向を規制し、前記スライダを所定の移動方向に案内するガイドレールと、
前記ガイドレールの一端を前記被測定物に固定しつつ支持する第1支持手段と、
前記ガイドレールの他端を前記被測定物に固定しつつ支持する第2、第3支持手段と、
前記第2、第3支持手段が取り付けられた折り曲げ可能な取付手段と、
を備え、
前記スライダを前記ガイドレールに沿って移動させて、前記測定手段を移動させることにより前記被測定物の表面の凹凸を所定の間隔で測定する。
In order to achieve the above object, a measuring apparatus according to the present invention comprises:
Measuring means for measuring irregularities on the surface of the object to be measured;
A slider for attaching the measuring means;
A guide rail that regulates the moving direction of the slider and guides the slider in a predetermined moving direction;
First support means for supporting one end of the guide rail while fixing the one end to the object to be measured;
Second and third support means for supporting the other end of the guide rail while fixing the other end to the object to be measured;
A foldable attachment means to which the second and third support means are attached;
With
By moving the slider along the guide rail and moving the measuring means, the unevenness of the surface of the object to be measured is measured at a predetermined interval.

上記目的を達成するため、本発明に係る測定システムは、
上記測定装置と、
情報処理装置と、
を含む測定システムであって、
前記情報処理装置は、
前記測定手段で測定した測定データを受信する受信手段と、
受信した測定データを処理する処理手段と、
前記処理手段で処理した測定データを表示する表示手段と、
を有する。
In order to achieve the above object, a measurement system according to the present invention comprises:
The measuring device;
An information processing device;
A measuring system comprising:
The information processing apparatus includes:
Receiving means for receiving measurement data measured by the measuring means;
Processing means for processing the received measurement data;
Display means for displaying the measurement data processed by the processing means;
Have

本発明によれば、測定面が曲面や垂直面、傾斜面の場合にも表面精度を測定することができる。   According to the present invention, the surface accuracy can be measured even when the measurement surface is a curved surface, a vertical surface, or an inclined surface.

本発明の第1実施形態に係る測定装置の全体構成を示す概略正面斜視図である。It is a schematic front perspective view which shows the whole structure of the measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の全体構成を示す概略背面斜視図である。1 is a schematic rear perspective view showing an overall configuration of a measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の他の全体構成を示す概略正面斜視図である。It is a schematic front perspective view which shows the other whole structure of the measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の構成を説明する正面図である。It is a front view explaining the structure of the measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の構成を説明する上面図である。It is an upper surface figure explaining the composition of the measuring device concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の構成を説明する側面図である。It is a side view explaining the composition of the measuring device concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置により測定したデータの処理手順を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the process sequence of the data measured by the measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置により測定したデータのデータ処理の一例を説明する図である。It is a figure explaining an example of data processing of data measured by a measuring device concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置により測定したデータのデータ処理の他の例を説明する図である。It is a figure explaining the other example of the data processing of the data measured with the measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係る測定装置の全体構成を示す側面図である。It is a side view which shows the whole structure of the measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る測定装置の全体構成を示す側面図である。It is a side view which shows the whole structure of the measuring apparatus which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る測定装置の全体構成を示す側面図である。It is a side view which shows the whole structure of the measuring apparatus which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る測定装置の全体構成を示す側面図である。It is a side view which shows the whole structure of the measuring apparatus which concerns on 4th Embodiment of this invention.

以下に、本発明を実施するための形態について、図面を参照して、例示的に詳しく説明記載する。ただし、以下の実施の形態に記載されている、構成、数値、処理の流れ、機能要素などは一例に過ぎず、その変形や変更は自由であって、本発明の技術範囲を以下の記載に限定する趣旨のものではない。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be exemplarily described in detail with reference to the drawings. However, the configuration, numerical values, process flow, functional elements, and the like described in the following embodiments are merely examples, and modifications and changes are free, and the technical scope of the present invention is described in the following description. It is not intended to be limited.

[第1実施形態]
<前提技術について>
例えば、自動車事故などで損傷した自動車鋼板を板金や塗装などにより修正した場合の仕上がり面の確認は、板金技術者や塗装技術者などの手先や指先などの感覚に頼る方法が一般的であった。よって、経験の浅い板金技術者や塗装技術者が、熟練した技術者から指導を受ける場合に、熟練技術者から自らの行った板金や塗装の良し悪しを評価してもらっても、技術レベルに差異があるため下された評価が適切なのか否かを判断できないこともあった。また、ユーザや保険会社などが、修復具合や作業工賃などについて、客観的な評価を行うのは困難であった。すなわち、板金面や塗装面の基準面に対する「高い」、「低い」は、技術者の感覚として判断することはできても、その感覚を数値で表したり、評価したりすることは困難であった。
[First Embodiment]
<About prerequisite technologies>
For example, when a steel plate damaged in an automobile accident or the like is corrected by sheet metal or painting, it is common to check the finished surface by relying on the sense of the hand or fingertip of a sheet metal engineer or paint engineer. . Therefore, even if an inexperienced sheet metal engineer or paint engineer receives guidance from a skilled engineer, even if he / she evaluates the quality of the sheet metal or paint performed by the skilled engineer, there is a difference in the technical level. In some cases, it was not possible to judge whether the evaluation given was appropriate. In addition, it has been difficult for users, insurance companies, and the like to objectively evaluate restoration conditions, work costs, and the like. In other words, “high” and “low” with respect to the reference surface of the sheet metal surface or the painted surface can be judged as an engineer's sensation, but it is difficult to express or evaluate that sensation numerically. It was.

したがって、板金仕上がり面や塗装仕上がり面の精度(高い、低い)を数値で表示できる機器が望まれており、このような機器があれば、板金技術者の育成や、技術力の確認、技術力の向上に役立てることができる。また、このような機器を用いた検定制度や認定制度が普及すれば、技術者にとっても、ユーザにとっても有意義であり、ユーザは、修理工場などの技術レベルを数値によって容易に把握することができる。したがって、例えば、自動車事故による損傷が大きな損傷であれば、多少料金が高くても、技術レベルが高い工場を選択することができる。これとは反対に、小さくて目立たない損傷であれば技術レベルが低くても料金の安い工場を選択することができる。よって、ユーザは、このような機器による評価を1つの指標として、自己の目的や予算に合わせて修理工場や板金技術者、塗装技術者などを選択できるようになる。   Therefore, there is a need for equipment that can display numerically the accuracy (high and low) of the finished surface of the sheet metal and the finished surface of the paint. With such a device, training of sheet metal engineers, confirmation of technical capabilities, technical capabilities It can be used to improve. In addition, if an examination system and a certification system using such devices become widespread, it will be meaningful to both engineers and users, and the user can easily grasp the technical level of repair shops etc. by numerical values. . Therefore, for example, if the damage caused by an automobile accident is large, a factory with a high technical level can be selected even if the fee is somewhat high. On the other hand, if the damage is small and inconspicuous, a low-cost factory can be selected even if the technical level is low. Therefore, the user can select a repair shop, a sheet metal engineer, a paint engineer, or the like according to his / her own purpose and budget using the evaluation by such an apparatus as one index.

<本実施形態の技術>
本発明の第1実施形態としての測定装置100について、図1A乃至図7を用いて説明する。図1Aは、本実施形態に係る測定装置100の全体構成の概略を説明する正面斜視図である。また、図1Bは、本実施形態に係る測定装置100の全体構成の概略を説明する背面斜視図である。また、図2は、本実施形態に係る測定装置100の他の全体構成の概略を説明する正面斜視図である。なお、以下の説明では板金面の表面精度の測定を例に説明をするが、塗装面の表面精度の測定にも適用することができる。
<Technology of this embodiment>
A measuring apparatus 100 as a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A to 7. FIG. 1A is a front perspective view illustrating the outline of the overall configuration of the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. FIG. 1B is a rear perspective view for explaining the outline of the overall configuration of the measuring apparatus 100 according to this embodiment. FIG. 2 is a front perspective view for explaining an outline of another overall configuration of the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. In the following description, the measurement of the surface accuracy of the sheet metal surface will be described as an example, but it can also be applied to the measurement of the surface accuracy of the painted surface.

測定装置100は、被測定物に取り付けて、被測定物の表面140の凹凸を測定する装置である。図1に示すように、測定装置100は、インジケータ101と、スライダ102と、ガイドレール103と、支持部104とを含む。   The measuring apparatus 100 is an apparatus that is attached to a measurement object and measures the unevenness of the surface 140 of the measurement object. As shown in FIG. 1, the measuring apparatus 100 includes an indicator 101, a slider 102, a guide rail 103, and a support unit 104.

インジケータ101は、シャフト111などの測定子が摺動して上下する機構となっており、ある基準点に対して、シャフト111がどれだけプラス(またはマイナス)方向へ移動したかにより被測定物の表面140の凹凸を測定する。このようなインジケータ101としては、例えば、デジタル型のインジケータが代表的であるが、被測定物の表面140の凹凸を測定できれば、アナログ型のインジケータなどであってもよい。なお、ここでは、シャフト111などの摺動する測定子を備えるインジケータ101を例として説明をしたが、インジケータ101として適用できる測定機器はこれには限定されず、例えば、レーザ光や超音波を用いた測定機器をインジケータ101としてもよい。また、シャフト111の先端は表面140を傷付けない形状としてもよく、また、先端にカバーなどの保護部材を設けてもよい。   The indicator 101 has a mechanism in which a measuring element such as a shaft 111 slides up and down, and depending on how much the shaft 111 moves in a plus (or minus) direction with respect to a certain reference point, The unevenness of the surface 140 is measured. As such an indicator 101, for example, a digital type indicator is typical, but an analog type indicator or the like may be used as long as the unevenness of the surface 140 of the object to be measured can be measured. Note that, here, the indicator 101 including the sliding probe such as the shaft 111 has been described as an example, but the measuring instrument applicable as the indicator 101 is not limited to this, and for example, laser light or ultrasonic waves are used. The measuring device used may be used as the indicator 101. Further, the tip of the shaft 111 may have a shape that does not damage the surface 140, and a protective member such as a cover may be provided at the tip.

また、インジケータ101には、測定したデータを外部機器へ転送するためのケーブル150が接続されている。ケーブル150は、例えば、不図示のパソコン(PC:Personal Computer)や携帯端末(スマートフォン、PDA(Personal Data Assistant, Personal Digital Assistant))などに接続されている。インジケータ101から転送されたデータは、パソコンなどで処理され、処理結果がディスプレイなどに表示される。   The indicator 101 is connected to a cable 150 for transferring measured data to an external device. The cable 150 is connected to, for example, a personal computer (PC) or a mobile terminal (smart phone, PDA (Personal Data Assistant, Personal Digital Assistant)) not shown. The data transferred from the indicator 101 is processed by a personal computer or the like, and the processing result is displayed on a display or the like.

スライダ102には、インジケータ101が取り付けられる。なお、本実施形態では、インジケータ101とスライダ102とを別個の構成、つまり、インジケータ101をスライダ102に取り付ける構成で説明をしたが、インジケータ101とスライダ102とは、一体的に形成してもよい。   An indicator 101 is attached to the slider 102. In the present embodiment, the indicator 101 and the slider 102 have been described as separate configurations, that is, the configuration in which the indicator 101 is attached to the slider 102. However, the indicator 101 and the slider 102 may be integrally formed. .

ガイドレール103は、スライダ102の移動方向を規制して、スライダ102を所定の移動方向に案内する部材である。例えば、本実施形態においては、ガイドレール103は、スライダ102を図1A(図1B、図2)の左右方向へと案内する。そして、スライダ102の移動に伴って、インジケータ101も左右方向へと移動する。これにより、インジケータ101は、被測定物の表面140上を移動しながら、所定の間隔(ピッチ)で表面140の凹凸を測定する。   The guide rail 103 is a member that regulates the moving direction of the slider 102 and guides the slider 102 in a predetermined moving direction. For example, in this embodiment, the guide rail 103 guides the slider 102 in the left-right direction of FIG. 1A (FIGS. 1B and 2). As the slider 102 moves, the indicator 101 also moves in the left-right direction. Accordingly, the indicator 101 measures the unevenness of the surface 140 at a predetermined interval (pitch) while moving on the surface 140 of the object to be measured.

支持部104は、ガイドレール103を支えつつ、ガイドレール103がインジケータ101による測定中に被測定物上で動かないように、ガイドレール103を被測定物上に固定する部材である。支持部104は、被測定物の表面140と接触する接触部141が、表面140に対して凸形状となるなど、ゆるやかな曲面形状となっている。このように、接触部141の形状を凸形状や曲面形状などとすることにより、支持部104が、1点で表面140と接触するので、ガイドレール103が被測定物上で安定する。   The support unit 104 is a member that supports the guide rail 103 and fixes the guide rail 103 on the measurement target so that the guide rail 103 does not move on the measurement target during measurement by the indicator 101. The support portion 104 has a gently curved shape such that the contact portion 141 that contacts the surface 140 of the object to be measured has a convex shape with respect to the surface 140. Thus, by making the shape of the contact portion 141 convex or curved, the support portion 104 comes into contact with the surface 140 at one point, so that the guide rail 103 is stabilized on the object to be measured.

さらに、接触部141が磁石(磁性体)を含んでいれば、ガイドレール103をより安定して被測定物に固定することができる。このように、接触部141に磁石を用いれば、被測定物の表面140が垂直面であっても容易に表面140の表面精度を測定できる。また、接触部141の接触面を樹脂などでコーティングしたり、接触部141自体をゴムなどの柔らかい部材で構成すれば、被測定物の表面140を傷付けることがない。なお、接触部141は、曲面形状には限定されず、図2に示したように、外側から内側へ向けて傾斜するようなテーパー形状としてもよく、被測定物の表面140上で座りの良い形状であれば、様々な形状とすることができる。   Furthermore, if the contact portion 141 includes a magnet (magnetic material), the guide rail 103 can be more stably fixed to the object to be measured. Thus, if a magnet is used for the contact portion 141, the surface accuracy of the surface 140 can be easily measured even if the surface 140 of the object to be measured is a vertical surface. Further, if the contact surface of the contact portion 141 is coated with a resin or the like, or the contact portion 141 itself is made of a soft member such as rubber, the surface 140 of the object to be measured is not damaged. Note that the contact portion 141 is not limited to a curved surface shape, and may have a tapered shape that is inclined from the outside to the inside as shown in FIG. 2, and may sit on the surface 140 of the object to be measured. If it is a shape, it can be set as various shapes.

図3は、本実施形態に係る測定装置100の構成を説明する正面図である。スライダ102は、磁石121を備えている。スライダ102に磁石121を設けることにより、スライダ102とガイドレール103とが密着するようになる。これにより、インジケータ101やスライダ102が、ガイドレール103から脱落したり、スライダ102がガイドレール103から浮き上がったり、スライダ102がガタついたりすることを防止できるので、測定精度の低下を防止できる。   FIG. 3 is a front view illustrating the configuration of the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. The slider 102 includes a magnet 121. By providing the magnet 121 on the slider 102, the slider 102 and the guide rail 103 come into close contact with each other. Accordingly, the indicator 101 and the slider 102 can be prevented from falling off the guide rail 103, the slider 102 from being lifted from the guide rail 103, and the slider 102 from being rattled, so that a reduction in measurement accuracy can be prevented.

なお、ここでは、スライダ102側に磁石121を設ける例で説明をしたが、磁石121は、スライダ102とガイドレール103との両方に設けてもよいし、ガイドレール103側に設けてもよい。スライダ102とガイドレール103とのどちらか一方に磁石121を設ける場合には、磁石121を設けない方は、磁石121を吸い付ける材質とするのが好ましい。また、磁石121を設ける代わりに、ガイドレール103に溝を彫り、スライダ102に突出部を設けて、溝に沿ってスライダ102をスライドさせてもよいし、これとは反対に、スライダ102に溝を彫り、ガイドレール103に突出部を設けてもよい。   Here, an example in which the magnet 121 is provided on the slider 102 side has been described, but the magnet 121 may be provided on both the slider 102 and the guide rail 103 or on the guide rail 103 side. In the case where the magnet 121 is provided on one of the slider 102 and the guide rail 103, it is preferable that a material that does not provide the magnet 121 is made of a material that sucks the magnet 121. Further, instead of providing the magnet 121, a groove may be carved in the guide rail 103, a protrusion may be provided on the slider 102, and the slider 102 may be slid along the groove. And a guide rail 103 may be provided with a protrusion.

図4は、本実施形態に係る測定装置100の構成を説明する上面図である。スライダ102は、スライダ102の移動方向を制限するガイドレール103に沿って図の矢印の方向にスライドする。   FIG. 4 is a top view illustrating the configuration of the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. The slider 102 slides in the direction of the arrow in the figure along the guide rail 103 that restricts the moving direction of the slider 102.

支持部104は、3つ設けられ、ガイドレール103を3点で支える。より詳細には、支持部104は、1つをガイドレール103の一方の端部の下部に設け、残りの2つの支持部104は、ガイドレール103の他方の端部の下部から図4の上下方向にはみ出した位置に設けられている。   Three support portions 104 are provided to support the guide rail 103 at three points. More specifically, one support portion 104 is provided at the lower portion of one end portion of the guide rail 103, and the remaining two support portions 104 are arranged from the lower portion of the other end portion of the guide rail 103 to the top and bottom of FIG. It is provided at a position protruding in the direction.

支持部104を設ける位置は、ここに示した位置には限定されず、ガイドレール103の図4中の上下左右方向へのズレを防止し、ガイドレール103を被測定物上に安定して置いておくことができる位置であればいずれの位置に設けてもよい。そして、このように3点でガイドレール103を支持することにより、図4の上下方向および左右方向にガイドレール103がずれることを効果的に防止することができる。なお、本実施形態においては、3つの支持部104を設けてガイドレール103を支える例で説明をしたが、支持部104を設ける個数はこれには限定されず、4個以上設けても、あるいは2個設けてもよい。   The position where the support portion 104 is provided is not limited to the position shown here, and the guide rail 103 is prevented from being displaced in the vertical and horizontal directions in FIG. 4, and the guide rail 103 is stably placed on the object to be measured. It may be provided at any position as long as it can be kept. Further, by supporting the guide rail 103 at three points in this way, it is possible to effectively prevent the guide rail 103 from being displaced in the vertical direction and the horizontal direction in FIG. In the present embodiment, the example in which the three support portions 104 are provided to support the guide rail 103 has been described. However, the number of support portions 104 is not limited to this, and four or more support portions 104 may be provided. Two may be provided.

図5は、本実施形態に係る測定装置100の構成を説明する側面図である。図5に示したように、本実施形態においては、ガイドレール103は、断面形状がU字型の形状となっている。つまり、ガイドレール103は、断面U字型の柱状部材である。そして、スライダ102がスライドしながら移動すると、インジケータ101もスライダ102の動き追従して移動する。なお、ガイドレール103の断面形状はU字型の形状には限られず、例えば、L字型の形状としてもよい。   FIG. 5 is a side view illustrating the configuration of the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. As shown in FIG. 5, in this embodiment, the guide rail 103 has a U-shaped cross section. That is, the guide rail 103 is a columnar member having a U-shaped cross section. When the slider 102 moves while sliding, the indicator 101 also moves following the movement of the slider 102. Note that the cross-sectional shape of the guide rail 103 is not limited to a U-shape, and may be an L-shape, for example.

このように、インジケータ101を被測定物上で移動させることができるので、シャフト111を被測定物の表面140をなぞるように移動させることができる。このように、シャフト111が被測定物の表面140をなぞるので、シャフト111が被測定物の表面140の凹凸に合わせて上下し、これにより、インジケータ101は、被測定物の表面140の凹凸を測定することができる。なお、スライダ102の滑りを良くするために、スライダ102とガイドレール103との接触面にルーセンなどの油(潤滑油)を塗布してもよい。また、被測定物としてアルミパネルの計測を行う場合には、アルミパネルの裏面に磁石などを取り付けて支持部104を被測定物に固定してもよい。   Thus, since the indicator 101 can be moved on the object to be measured, the shaft 111 can be moved so as to trace the surface 140 of the object to be measured. Thus, since the shaft 111 traces the surface 140 of the object to be measured, the shaft 111 moves up and down in accordance with the unevenness of the surface 140 of the object to be measured, whereby the indicator 101 shows the unevenness of the surface 140 of the object to be measured. Can be measured. In order to improve the sliding of the slider 102, oil (lubricating oil) such as Lucene may be applied to the contact surface between the slider 102 and the guide rail 103. Further, when measuring an aluminum panel as an object to be measured, a support member 104 may be fixed to the object to be measured by attaching a magnet or the like to the back surface of the aluminum panel.

図6は、本実施形態に係る測定装置100により測定したデータの処理手順を説明するフローチャートである。   FIG. 6 is a flowchart for explaining a processing procedure of data measured by the measuring apparatus 100 according to the present embodiment.

ステップS601において、被測定物の測定対象とする表面140上に測定装置100をセットして、インジケータ101を移動させながら被測定物の表面140の測定を開始する。そして、スライダ102をガイドレール103上を移動させることにより、インジケータ101を所定の距離移動させて表面140の凹凸の計測データを取得する。   In step S601, the measuring apparatus 100 is set on the surface 140 to be measured of the object to be measured, and the measurement of the surface 140 of the object to be measured is started while the indicator 101 is moved. Then, by moving the slider 102 on the guide rail 103, the indicator 101 is moved by a predetermined distance to obtain measurement data of the unevenness of the surface 140.

ステップS603において、測定装置100は、測定が終了したか否かを判断する。測定が終了していなければ(ステップS603のNO)、測定装置100は測定を継続する。測定が終了していれば(ステップS603のYES)、測定装置100は、次のステップへ進む。なお、測定装置100による測定終了か否かの判断は、例えば、シャフト111の上下動が継続している間は測定中であると判断し、これとは反対に、シャフト111の上下動が停止した場合に測定が終了したと判断してもよい。また、測定装置100を用いて測定をしているユーザが測定の終了を判断してもよい。さらに、スライダ102の移動の有無により測定の終了か否かを判断してもよい。   In step S603, the measuring apparatus 100 determines whether the measurement is finished. If the measurement has not been completed (NO in step S603), the measuring apparatus 100 continues the measurement. If the measurement has been completed (YES in step S603), the measuring apparatus 100 proceeds to the next step. The determination by the measuring apparatus 100 as to whether or not the measurement is finished is, for example, determined that the measurement is being performed while the vertical movement of the shaft 111 continues, and the vertical movement of the shaft 111 is stopped on the contrary. It may be determined that the measurement has been completed. In addition, a user who is measuring using the measuring apparatus 100 may determine the end of the measurement. Further, whether or not the measurement is finished may be determined based on whether or not the slider 102 has moved.

ステップS605において、測定装置100は、取得した測定データをPCなどのデータ処理機器へと転送する。なお、測定装置100のユーザがデータ転送ボタンなどを操作して測定データを転送してもよい。   In step S605, the measuring apparatus 100 transfers the acquired measurement data to a data processing device such as a PC. Note that the measurement data may be transferred by the user of the measuring apparatus 100 operating a data transfer button or the like.

ステップS607において、測定装置100から転送された測定データを受信したPCは、取得した測定データを処理する。また、処理した測定データに基づいて、測定データを評価してもよい。ステップS609において、PCは処理したデータをディスプレイなどへと表示して、ユーザに提示する。   In step S607, the PC that has received the measurement data transferred from the measurement apparatus 100 processes the acquired measurement data. Further, the measurement data may be evaluated based on the processed measurement data. In step S609, the PC displays the processed data on a display or the like and presents it to the user.

図7は、本実施形態に係る測定装置100により測定したデータのデータ処理の一例を説明する図である。例えば、複数の測定点(A1,A2,A3,A4,A5・・・)のうちの連続する3つの測定点の中心位置を演算し、演算した中心位置に基づいて表面140の滑らかさを判定する。また、連続する3測定点の中心位置を演算し、演算した中心位置同士の距離の総和に基づいて表面140の滑らかさを判定してもよい。この場合、例えば、距離の総和の大小に基づいて表面の滑らかさを判定してもよい。   FIG. 7 is a diagram for explaining an example of data processing of data measured by the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. For example, the center position of three consecutive measurement points among a plurality of measurement points (A1, A2, A3, A4, A5...) Is calculated, and the smoothness of the surface 140 is determined based on the calculated center position. To do. Alternatively, the center position of three consecutive measurement points may be calculated, and the smoothness of the surface 140 may be determined based on the sum of the distances between the calculated center positions. In this case, for example, the smoothness of the surface may be determined based on the sum of the distances.

図8は、本実施形態に係る測定装置100により測定したデータのデータ処理の他の例を説明する図である。例えば、目標線801と実際の施工線802との差(d1,d2,d3・・・)を最小二乗法(d1 2+d2 2+d3 2+・・・)で演算して、演算結果に基づいて表面140の滑らかさを判定してもよい。また、これらの判定結果を得点化(スコア化)してもよい。 FIG. 8 is a diagram for explaining another example of data processing of data measured by the measuring apparatus 100 according to the present embodiment. For example, the difference (d 1 , d 2 , d 3 ...) Between the target line 801 and the actual construction line 802 is calculated by the least square method (d 1 2 + d 2 2 + d 3 2 +...). The smoothness of the surface 140 may be determined based on the calculation result. These determination results may be scored (scored).

本実施形態によれば、安価で簡易な装置で、測定面が曲面や垂直面、傾斜面の場合にも板金面や塗装面などの表面精度を測定し、判定することができる。また、安価な装置であっても精度の高い測定や評価を容易、確実に行うこともできる。   According to the present embodiment, even when the measurement surface is a curved surface, a vertical surface, or an inclined surface, it is possible to measure and determine the surface accuracy of a sheet metal surface, a painted surface, and the like with an inexpensive and simple apparatus. In addition, even an inexpensive device can easily and reliably perform highly accurate measurement and evaluation.

[第2実施形態]
次に本発明の第2実施形態に係る測定装置900について、図9を用いて説明する。図9は、本実施形態に係る測定装置900の全体構成を説明するための側面図である。本実施形態に係る測定装置900は、上記第1実施形態と比べると、支持部が取り付けられる取付板が折曲(湾曲)している点で異なる。その他の構成および動作は、第1実施形態と同様であるため、同じ構成および動作については同じ符号を付してその詳しい説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a measuring apparatus 900 according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a side view for explaining the overall configuration of the measuring apparatus 900 according to the present embodiment. The measuring apparatus 900 according to the present embodiment is different from the first embodiment in that the mounting plate to which the support portion is attached is bent (curved). Since other configurations and operations are the same as those in the first embodiment, the same configurations and operations are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

測定装置900は、取付板901に取り付けられた支持部904をさらに備えている。支持部104は、ガイドレール103の下部に設けられており、支持部904は、上から見て、ガイドレール103の外側にはみ出した位置に配置されている。また、支持部が904が取り付けられている取付板901は、水平板ではなく、2か所の折り曲げ点911において折り曲げられ、全体として湾曲した形状となっている。これにより、測定装置900は、被測定物の表面140が曲面や傾斜面であっても、容易、確実に測定することができる。   The measuring apparatus 900 further includes a support portion 904 attached to the attachment plate 901. The support part 104 is provided in the lower part of the guide rail 103, and the support part 904 is arranged at a position protruding from the outside of the guide rail 103 when viewed from above. The mounting plate 901 to which the support portion 904 is attached is not a horizontal plate but is bent at two folding points 911 and has a curved shape as a whole. As a result, the measuring apparatus 900 can easily and surely measure even if the surface 140 of the object to be measured is a curved surface or an inclined surface.

また、このように折り曲げ点911で取付板901を折り曲げることにより、ガイドレール103やアジャスタ902などへの取付板901の取り付けが容易となる。なお、取付板901を2か所の折り曲げ点911で折り曲げるのではなく、取付板901全体を湾曲させてもよい。さらに、折り曲げ点911にヒンジなどを設けておけば、水平面を測定する場合は、取付板901を水平に伸ばして測定すればよく、曲面を測定する場合は、ヒンジを調節して、取付板901を湾曲させて測定すればよい。   Further, by bending the attachment plate 901 at the bending point 911 in this way, the attachment plate 901 can be easily attached to the guide rail 103, the adjuster 902, or the like. Instead of bending the mounting plate 901 at the two bending points 911, the entire mounting plate 901 may be curved. Further, if a hinge or the like is provided at the bending point 911, when measuring a horizontal plane, the mounting plate 901 may be extended horizontally, and when measuring a curved surface, the hinge is adjusted to adjust the mounting plate 901. The curve may be measured.

また、測定装置900は、ガイドレール103を挟み込んで固定するアジャスタ902を備える。アジャスタ902は、締付力を調節するための調節ねじ921を備える。   In addition, the measuring apparatus 900 includes an adjuster 902 that sandwiches and fixes the guide rail 103. The adjuster 902 includes an adjustment screw 921 for adjusting the tightening force.

本実施形態によれば、被測定物の表面が水平面であっても、傾斜面であっても、容易、確実に表面精度を測定し、判定することができる。   According to this embodiment, even if the surface of the object to be measured is a horizontal surface or an inclined surface, the surface accuracy can be measured and determined easily and reliably.

[第3実施形態]
次に本発明の第3実施形態に係る測定装置1000について、図10を用いて説明する。図10は、本実施形態に係る測定装置1000の全体構成を説明するための側面図である。本実施形態に係る測定装置1000は、上記第2実施形態と比べると、アタッチメントを有する点で異なる。その他の構成および動作は、第2実施形態と同様であるため、同じ構成および動作については同じ符号を付してその詳しい説明を省略する。
[Third Embodiment]
Next, a measuring apparatus 1000 according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a side view for explaining the overall configuration of the measuring apparatus 1000 according to the present embodiment. The measuring apparatus 1000 according to the present embodiment is different from the second embodiment in that it has an attachment. Since other configurations and operations are the same as those of the second embodiment, the same configurations and operations are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

測定装置1000は、さらに、アタッチメント1001を備えている。アジャスタ902は、このアタッチメント1001に取り付けられている。このような構成とすることで被測定物の表面140が垂直面であっても測定装置1000を用いて測定することができる。また、調節ねじ921により、アジャスタ902の締付力を調節することにより、ガイドレール103を確実に保持し、測定中にガイドレール103がずれたり、インジケータ101が脱落したり、落下したりしない。   The measuring apparatus 1000 further includes an attachment 1001. The adjuster 902 is attached to the attachment 1001. With such a configuration, even if the surface 140 of the object to be measured is a vertical surface, measurement can be performed using the measuring apparatus 1000. Further, by adjusting the tightening force of the adjuster 902 with the adjusting screw 921, the guide rail 103 is securely held, and the guide rail 103 is not displaced during the measurement, and the indicator 101 is not dropped or dropped.

本実施形態によれば、被測定物の表面が垂直面であっても、インジケータが動いたり、脱落したり、落下したりすることがないので、容易、確実に表面精度を測定し、判定することができる。   According to this embodiment, even if the surface of the object to be measured is a vertical surface, the indicator does not move, drop off, or drop, so that the surface accuracy can be measured and determined easily and reliably. be able to.

[第4実施形態]
次に本発明の第4実施形態に係る測定装置1100について、図11を用いて説明する。図11は、本実施形態に係る測定装置1100の全体構成を説明するための側面図である。本実施形態に係る測定装置1100は、上記第1実施形態乃至第3実施形態と比べると、断面L字型の柱状のガイドレールを有する点で異なる。その他の構成および動作は、第1実施形態乃至第3実施形態と同様であるため、同じ構成および動作については同じ符号を付してその詳しい説明を省略する。
[Fourth Embodiment]
Next, a measuring apparatus 1100 according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 11 is a side view for explaining the overall configuration of the measuring apparatus 1100 according to the present embodiment. The measuring apparatus 1100 according to this embodiment is different from the first to third embodiments in that it has a columnar guide rail having an L-shaped cross section. Since other configurations and operations are the same as those in the first to third embodiments, the same configurations and operations are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

測定装置1100は、スライダ1102とガイドレール1103とを備える。スライダ1102には、インジケータ101が取り付けられる。スライダ1102は、さらに磁石1121を備える。   The measuring apparatus 1100 includes a slider 1102 and a guide rail 1103. An indicator 101 is attached to the slider 1102. The slider 1102 further includes a magnet 1121.

ガイドレール1103は、断面L字型の柱状部材となっている。そして、スライダ1102とガイドレール1103とが対向する位置に配置され、スライダ1102がガイドレール1103上を移動する。ガイドレール1103は、スライダ1102の移動方向を規制し、所定の移動方向にスライダ1102を案内することにより、インジケータ101が被測定物の表面140上を移動する。   The guide rail 1103 is a columnar member having an L-shaped cross section. Then, the slider 1102 and the guide rail 1103 are arranged at positions facing each other, and the slider 1102 moves on the guide rail 1103. The guide rail 1103 regulates the moving direction of the slider 1102 and guides the slider 1102 in a predetermined moving direction, so that the indicator 101 moves on the surface 140 of the object to be measured.

本実施形態では、磁石1121は、スライダ1102に設けられた例で説明をしたが、磁石1121を設ける場所はこれには限定されない。例えば、磁石1121は、ガイドレール1103に設けてもよいし、スライダ1102とガイドレール1103との両方に設けてもよい。   In this embodiment, the magnet 1121 has been described as an example provided on the slider 1102, but the place where the magnet 1121 is provided is not limited thereto. For example, the magnet 1121 may be provided on the guide rail 1103, or may be provided on both the slider 1102 and the guide rail 1103.

本実施形態によれば、被測定物の表面が水平面であっても、傾斜面であっても、垂直面であっても、容易、確実に表面精度を測定し、判定することができる。   According to the present embodiment, the surface accuracy can be measured and determined easily and reliably regardless of whether the surface of the object to be measured is a horizontal surface, an inclined surface, or a vertical surface.

[第5実施形態]
次に本発明の第5実施形態に係る測定装置1200について、図12を用いて説明する。図12は、本実施形態に係る測定装置1200の全体構成を説明するための側面図である。本実施形態に係る測定装置1200は、上記第4実施形態と比べると、三角柱型のガイドレールを有する点で異なる。その他の構成および動作は、第4実施形態と同様であるため、同じ構成および動作については同じ符号を付してその詳しい説明を省略する。
[Fifth Embodiment]
Next, a measuring apparatus 1200 according to the fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a side view for explaining the overall configuration of the measuring apparatus 1200 according to the present embodiment. The measurement apparatus 1200 according to the present embodiment is different from the fourth embodiment in that it has a triangular prism guide rail. Since other configurations and operations are the same as those in the fourth embodiment, the same configurations and operations are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

測定装置1200は、ガイドレール1203を備える。ガイドレール1203は、断面形状が三角形であり、全体の形状としては三角柱となっている。しかしながら、ガイドレール1203の形状はこれには限定されず、例えば、半円柱や多角形柱などであってもよい。また、ガイドレール1203の底面の形状は、すなわち、表面140と接触する面の形状は、表面140にフィットする形状であれば、平面形状には限られず、例えば、表面140に対して凸形状や凹形状などであってもよい。   The measuring device 1200 includes a guide rail 1203. The guide rail 1203 has a triangular cross-sectional shape and is a triangular prism as a whole. However, the shape of the guide rail 1203 is not limited to this, and may be, for example, a semi-cylindrical column or a polygonal column. Further, the shape of the bottom surface of the guide rail 1203, that is, the shape of the surface in contact with the surface 140 is not limited to a planar shape as long as the shape fits the surface 140. It may be a concave shape.

そして、ガイドレール1203は、ゴムなどの弾性部材で形成されており、さらに、磁性体を含むのが好ましい。つまり、ガイドレール1203は、磁性体を含むゴムなどで形成されている。また、ガイドレール1203の材料は、所定の柔軟性や可撓性、磁性などを有していれば、これらの材料に限定されない。このように、被測定物の表面140が曲面であっても、ガイドレール1203をゴム材料などで形成すれば、フィットさせることができるので、ガイドレール1203を容易、確実に表面140上に固定することができる。   And the guide rail 1203 is formed with elastic members, such as rubber | gum, and also contains a magnetic body further. That is, the guide rail 1203 is made of rubber containing a magnetic material. The material of the guide rail 1203 is not limited to these materials as long as it has predetermined flexibility, flexibility, magnetism, and the like. As described above, even if the surface 140 of the object to be measured is a curved surface, if the guide rail 1203 is formed of a rubber material or the like, it can be fitted. Therefore, the guide rail 1203 is easily and surely fixed on the surface 140. be able to.

本実施形態によれば、ガイドレールを被測定物の表面にフィットさせることができるので、容易、確実に表面精度を測定し、判定することができる。   According to this embodiment, since the guide rail can be fitted to the surface of the object to be measured, the surface accuracy can be measured and determined easily and reliably.

[他の実施形態]
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態に限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。また、それぞれの実施形態に含まれる別々の特徴を如何様に組み合わせたシステムまたは装置も、本発明の範疇に含まれる。
[Other Embodiments]
While the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments. Various changes that can be understood by those skilled in the art can be made to the configuration and details of the present invention within the scope of the present invention. In addition, a system or an apparatus in which different features included in each embodiment are combined in any way is also included in the scope of the present invention.

また、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用されてもよいし、単体の装置に適用されてもよい。さらに、本発明は、実施形態の機能を実現する情報処理プログラムが、システムあるいは装置に直接あるいは遠隔から供給される場合にも適用可能である。したがって、本発明の機能をコンピュータで実現するために、コンピュータにインストールされるプログラム、あるいはそのプログラムを格納した媒体、そのプログラムをダウンロードさせるWWW(World Wide Web)サーバも、本発明の範疇に含まれる。特に、少なくとも、上述した実施形態に含まれる処理ステップをコンピュータに実行させるプログラムを格納した非一時的コンピュータ可読媒体(non-transitory computer readable medium)は本発明の範疇に含まれる。   In addition, the present invention may be applied to a system composed of a plurality of devices, or may be applied to a single device. Furthermore, the present invention can also be applied to a case where an information processing program that implements the functions of the embodiments is supplied directly or remotely to a system or apparatus. Therefore, in order to realize the functions of the present invention on a computer, a program installed in the computer, a medium storing the program, and a WWW (World Wide Web) server that downloads the program are also included in the scope of the present invention. . In particular, at least a non-transitory computer readable medium storing a program for causing a computer to execute the processing steps included in the above-described embodiments is included in the scope of the present invention.

Claims (9)

被測定物の表面の凹凸を測定する測定手段と、
前記測定手段を取り付けるスライダと、
前記スライダの移動方向を規制し、前記スライダを所定の移動方向に案内するガイドレールと、
前記ガイドレールの一端を前記被測定物に固定しつつ支持する第1支持手段と、
前記ガイドレールの他端を前記被測定物に固定しつつ支持する第2、第3支持手段と、
前記第2、第3支持手段が取り付けられた折り曲げ可能な取付手段と、
を備え、
前記スライダを前記ガイドレールに沿って移動させて、前記測定手段を移動させることにより前記被測定物の表面の凹凸を所定の間隔で測定する測定装置。
Measuring means for measuring irregularities on the surface of the object to be measured;
A slider for attaching the measuring means;
A guide rail that regulates the moving direction of the slider and guides the slider in a predetermined moving direction;
First support means for supporting one end of the guide rail while fixing the one end to the object to be measured;
Second and third support means for supporting the other end of the guide rail while fixing the other end to the object to be measured;
A foldable attachment means to which the second and third support means are attached;
With
A measuring apparatus for measuring irregularities on the surface of the object to be measured at predetermined intervals by moving the slider along the guide rail and moving the measuring means.
前記支持手段は、前記被測定物に接触する接触部が凸形状またはテーパー形状である請求項1に記載の測定装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the support means has a convex shape or a tapered shape at a contact portion that contacts the object to be measured. 前記支持手段の前記接触部は、磁石を含む請求項に記載の測定装置。 The measuring apparatus according to claim 2 , wherein the contact portion of the support means includes a magnet. 前記スライダおよび前記ガイドレールの少なくともいずれか一方には、磁石が設けられている請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定装置。   The measuring device according to claim 1, wherein a magnet is provided on at least one of the slider and the guide rail. 前記ガイドレールは、断面U字型の柱状部材である請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the guide rail is a columnar member having a U-shaped cross section. 前記ガイドレールは、断面L字型の柱状部材である請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the guide rail is a columnar member having an L-shaped cross section. 前記ガイドレールは、三角柱、半円柱または多角柱である請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the guide rail is a triangular prism, a semi-cylindrical column, or a polygonal column. 前記測定手段は、前記被測定物の表面に接触し、前記表面の凹凸に合わせて摺動する測定子を備える請求項1乃至7のいずれか1項に記載の測定装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the measuring unit includes a measuring element that contacts the surface of the object to be measured and slides according to the unevenness of the surface. 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の測定装置と、
情報処理装置と、
を含む測定システムであって、
前記情報処理装置は、
前記測定手段で測定した測定データを受信する受信手段と、
受信した測定データを処理する処理手段と、
前記処理手段で処理した測定データを表示する表示手段と、
を有する測定システム。
A measuring device according to any one of claims 1 to 8,
An information processing device;
A measuring system comprising:
The information processing apparatus includes:
Receiving means for receiving measurement data measured by the measuring means;
Processing means for processing the received measurement data;
Display means for displaying the measurement data processed by the processing means;
Having a measuring system.
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