JP6325506B2 - 故障診断機能を有するレーザ装置 - Google Patents
故障診断機能を有するレーザ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6325506B2 JP6325506B2 JP2015219445A JP2015219445A JP6325506B2 JP 6325506 B2 JP6325506 B2 JP 6325506B2 JP 2015219445 A JP2015219445 A JP 2015219445A JP 2015219445 A JP2015219445 A JP 2015219445A JP 6325506 B2 JP6325506 B2 JP 6325506B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- unit
- light
- diode module
- light detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 190
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 65
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 33
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 32
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 32
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 32
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 10
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 25
- 230000008569 process Effects 0.000 description 23
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/0014—Measuring characteristics or properties thereof
- H01S5/0021—Degradation or life time measurements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
- H01S5/02469—Passive cooling, e.g. where heat is removed by the housing as a whole or by a heat pipe without any active cooling element like a TEC
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06825—Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4012—Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Lasers (AREA)
Description
本願の2番目の発明によれば、1番目の発明に係るレーザ装置において、前記制御部は、前記判定部による判定が実行される際に、各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対して供給される前記駆動電流が、連続的または段階的に変化するように前記駆動条件を設定するように構成される。
本願の3番目の発明によれば、1番目の発明に係るレーザ装置において、前記制御部は、前記判定部による判定が実行される際に、各々の前記レーザ発振ユニットに含まれる前記複数のレーザダイオードモジュールグループを、互いの駆動時間が重なり合わないようにそれぞれ順次駆動させる駆動サイクルを、各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対して供給される前記駆動電流を変化させて、複数回にわたって実行するように前記駆動条件を設定するように構成される。
本願の4番目の発明によれば、1番目から3番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記判定部による判定が実行される際に、前記レーザ装置のレーザ光出射端が、前記レーザ装置から外部に放出されるレーザ光が光吸収部に吸収されるようになる退避位置まで移動するように構成される。
本願の5番目の発明によれば、4番目の発明に係るレーザ装置において、前記光吸収部が、当該光吸収部に入射するレーザ光の光出力を測定する第3の光検出部を備える。
本願の6番目の発明によれば、1番目から5番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記レーザ発振ユニットが複数の前記第1の光検出部を備える。
本願の7番目の発明によれば、1番目から6番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、少なくとも2つの前記第2の光検出部を備える。
本願の8番目の発明によれば、1番目から7番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、各々の前記レーザ発振ユニットが、前記少なくとも1つのレーザダイオードモジュールを冷却する冷却プレートと、前記冷却プレートの温度を検出する温度検出部と、をさらに備えており、前記判定部が、前記温度検出部の検出結果にさらに基づいて、前記レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定するように構成される。
本願の9番目の発明によれば、1番目から8番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記判定部が、予め定められる時間に、前記レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定するように構成される。
本願の10番目の発明によれば、1番目から9番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記記録部は、前記記録部によって記録されている前記光出力特性が、前記判定部による判定が実行される際に新たに取得される前記光出力特性によって上書きされるように構成される。
本願の11番目の発明によれば、1番目から9番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記記録部は、前記判定部による判定が実行される際に新たに取得される追加の前記光出力特性を記録するように構成される。
本願の12番目の発明によれば、11番目の発明に係るレーザ装置において、前記記録部は、前記追加の光出力特性を取得時間とともに記録するように構成される。
本願の13番目の発明によれば、1番目から12番目のいずれかの発明に係るレーザ装置において、前記判定部による判定の結果を表示する表示部を備える。
2 レーザダイオードモジュールグループ(LDG)
3 レーザ発振ユニット(LOU)
4 第1の光結合手段(1stBC)
5 第1の光検出手段(1stPD)
6 第2の光結合手段(2ndBC)
7 第2の光検出手段(2ndPD)
8 電源部
9 記録部
10 制御部
11 判定部
12 操作部
13 表示部
14 レーザダイオードモジュール(LDM)
15 光ファイバ
16 高反射ファイバ・ブラッグ・グレーティング
17 低反射ファイバ・ブラッグ・グレーティング
18 加工ヘッド(レーザ光出射端)
19 レーザ光
20 光吸収部(第3光検出手段(3rdPD))
21 光ファイバ
22 遮光カバー
23 ワーク
24 1番目の第1光検出手段(1stPD−1)
25 2番目の第1光検出手段(1stPD−2)
26 レーザ媒体
Claims (13)
- 複数のレーザ発振ユニットを備えていて、前記複数のレーザ発振ユニットから放出されるレーザ光を結合して外部に放出するように構成されたレーザ装置であって、
各々の前記レーザ発振ユニットは、
発光源または励起光源として作用する少なくとも1つのレーザダイオードモジュールから構成される複数のレーザダイオードモジュールグループと、
前記複数のレーザダイオードモジュールグループから放出されるレーザ光を結合する第1の光結合部と、
前記第1の光結合部によって結合されたレーザ光の出力を検出する少なくとも1つの第1の光検出部と、
を備えており、
前記レーザ装置は、
前記複数のレーザ発振ユニットから放出されるレーザ光を結合する第2の光結合部と、
前記第2の光結合部によって結合されたレーザ光の出力を検出する少なくとも1つの第2の光検出部と、
前記複数のレーザダイオードモジュールグループに対して互いに独立して駆動電流を供給可能な電源部と、
各々の前記レーザダイオードモジュールグループにおける、駆動電流とレーザ光の出力との間の関係を表す光出力特性を記録する記録部と、
各々の前記レーザダイオードモジュールグループに供給されるべき駆動電流を表す駆動条件を前記電源部に対して指令する制御部と、
レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定する判定部と、
前記駆動条件を設定するのに使用される操作部と、を備えており、
前記判定部は、前記複数のレーザ発振ユニットのうちの少なくとも2つの前記レーザ発振ユニットについて同時に、各々の前記レーザ発振ユニットに含まれる前記複数のレーザダイオードモジュールグループを、互いの駆動時間が重なり合わないようにそれぞれ順次駆動させたときにおける、前記第1の光検出部および前記第2の光検出部の検出結果に基づいて、前記レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定するように構成され、
診断処理が開始されると、前記制御部からの指令に従って、前記電源部は前記複数のレーザダイオードモジュールグループに対して駆動電流を供給し、
前記判定部は、
最初に前記第2の光検出部の検出値が正常であるか否かを判断し、
(a)前記第2の光検出部の検出値が正常であると判定した場合において、
前記第1の光検出部の検出値が全て正常であるか否かを判断し、少なくとも1つの前記第1の光検出部の検出値が正常ではないと判定される場合は、正常ではないと判定された前記第1の光検出部が故障していると判定し、全ての前記第1の光検出部の検出値が正常であると判定される場合は、前記レーザ装置において故障は発生していないと判定し、
(b)前記第2の光検出部の検出値が正常でないと判定した場合において、
全ての前記第1の光検出部の検出値が正常であるか否かを判定し、
少なくとも1つの前記第1の光検出部の検出値が正常ではないと判定された場合は、該当するレーザ発振ユニット内の各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対応する前記第1の光検出部の検出値が全て異常であるか否かを判定し、
少なくとも1つの前記レーザダイオードモジュールグループに対応する前記第1の光検出部の検出値が異常なしと判定された場合は、該検出値が異常であると判定された前記レーザダイオードモジュールグループが劣化していると判定し、
各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対応する前記第1の光検出部の検出値が全て異常であると判定された場合は、前記該当するレーザ発振ユニットまたは前記第1の光検出部が故障していると判定し、
前記第1の光検出部の検出値が全て正常であると判定された場合は、前記第2の光結合部または前記第2の光検出部が故障していると判定するように構成される、レーザ装置。 - 前記制御部は、前記判定部による判定が実行される際に、各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対して供給される前記駆動電流が、連続的または段階的に変化するように前記駆動条件を設定するように構成される、請求項1に記載のレーザ装置。
- 前記制御部は、前記判定部による判定が実行される際に、各々の前記レーザ発振ユニットに含まれる前記複数のレーザダイオードモジュールグループを、互いの駆動時間が重なり合わないようにそれぞれ順次駆動させる駆動サイクルを、各々の前記レーザダイオードモジュールグループに対して供給される前記駆動電流を変化させて、複数回にわたって実行するように前記駆動条件を設定するように構成される、請求項1に記載のレーザ装置。
- 前記判定部による判定が実行される際に、前記レーザ装置のレーザ光出射端が、前記レーザ装置から外部に放出されるレーザ光が光吸収部に吸収されるようになる退避位置まで移動するように構成される、請求項1から3のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 前記光吸収部が、当該光吸収部に入射するレーザ光の光出力を測定する第3の光検出部を備える、請求項4に記載のレーザ装置。
- 前記レーザ発振ユニットが複数の前記第1の光検出部を備える、請求項1から5のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 少なくとも2つの前記第2の光検出部を備える、請求項1から6のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 各々の前記レーザ発振ユニットが、
前記少なくとも1つのレーザダイオードモジュールを冷却する冷却プレートと、
前記冷却プレートの温度を検出する温度検出部と、
をさらに備えており、
前記判定部が、前記温度検出部の検出結果にさらに基づいて、前記レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定するように構成される、請求項1から7のいずれか1項に記載のレーザ装置。 - 前記判定部が、予め定められる時間に、前記レーザ装置の構成要素の故障または劣化の有無を判定するように構成される、請求項1から8のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 前記記録部は、前記記録部によって記録されている前記光出力特性が、前記判定部による判定が実行される際に新たに取得される前記光出力特性によって上書きされるように構成される、請求項1から9のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 前記記録部は、前記判定部による判定が実行される際に新たに取得される追加の前記光出力特性を記録するように構成される、請求項1から9のいずれか1項に記載のレーザ装置。
- 前記記録部は、前記追加の光出力特性を取得時間とともに記録するように構成される、請求項11に記載のレーザ装置。
- 前記判定部による判定の結果を表示する表示部を備える、請求項1から12のいずれか1項に記載のレーザ装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015219445A JP6325506B2 (ja) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | 故障診断機能を有するレーザ装置 |
DE102016121211.3A DE102016121211B4 (de) | 2015-11-09 | 2016-11-07 | Lasersystem mit fehlerdiagnosefunktion |
US15/346,185 US9685758B2 (en) | 2015-11-09 | 2016-11-08 | Laser system having fault diagnosis function |
CN201610983802.8A CN106684701B (zh) | 2015-11-09 | 2016-11-09 | 激光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015219445A JP6325506B2 (ja) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | 故障診断機能を有するレーザ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017092206A JP2017092206A (ja) | 2017-05-25 |
JP6325506B2 true JP6325506B2 (ja) | 2018-05-16 |
Family
ID=58585086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015219445A Active JP6325506B2 (ja) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | 故障診断機能を有するレーザ装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9685758B2 (ja) |
JP (1) | JP6325506B2 (ja) |
CN (1) | CN106684701B (ja) |
DE (1) | DE102016121211B4 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018034184A (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | レーザ発振器およびレーザ加工装置 |
JP6767314B2 (ja) * | 2017-06-27 | 2020-10-14 | 大井電気株式会社 | レーザ制御装置 |
JP6807811B2 (ja) * | 2017-07-19 | 2021-01-06 | 株式会社フジクラ | レーザ装置、レーザ装置の光源の劣化度推定方法 |
JP6619410B2 (ja) * | 2017-12-05 | 2019-12-11 | ファナック株式会社 | レーザ加工装置 |
CN108170096B (zh) * | 2017-12-25 | 2019-11-22 | 南京鑫业诚智能科技有限公司 | 一种多激光测头同步检测的方法 |
JP6605651B2 (ja) * | 2018-03-27 | 2019-11-13 | 株式会社フジクラ | レーザモジュール及びレーザ装置 |
WO2019215798A1 (ja) * | 2018-05-07 | 2019-11-14 | 三菱電機株式会社 | レーザ装置、レーザ加工機およびレーザ装置の出力制御方法 |
JP7270169B2 (ja) | 2018-05-15 | 2023-05-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | レーザ装置及びそれを用いたレーザ加工装置 |
JP7258132B2 (ja) * | 2019-05-28 | 2023-04-14 | 三菱電機株式会社 | レーザ光発生装置およびそれを備えたレーザ加工装置 |
WO2024052998A1 (ja) * | 2022-09-06 | 2024-03-14 | ファナック株式会社 | レーザ発振器及びレーザ加工装置 |
CN117030198B (zh) * | 2023-10-10 | 2023-12-22 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种激光器跳模检测器、检测方法、电子设备及存储介质 |
CN117074836B (zh) * | 2023-10-12 | 2024-03-12 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种激光器检测方法、检测器、电子设备及存储介质 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2834521B2 (ja) * | 1990-03-15 | 1998-12-09 | 株式会社日立製作所 | Ledアレイの診断装置 |
JP3231862B2 (ja) * | 1992-11-19 | 2001-11-26 | 株式会社東芝 | レーザシステムの故障診断装置 |
JP3634713B2 (ja) * | 2000-03-22 | 2005-03-30 | キヤノン株式会社 | マルチビームレーザ試験装置 |
JP4714967B2 (ja) * | 2000-07-12 | 2011-07-06 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザ励起固体レーザ装置 |
JP4353353B2 (ja) * | 2002-09-20 | 2009-10-28 | 株式会社リコー | 画像形成装置 |
JP2004207420A (ja) * | 2002-12-25 | 2004-07-22 | Toshiba Corp | レーザ装置および映像表示装置 |
JP2005317841A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レーザ装置 |
US20080273123A1 (en) * | 2005-09-14 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laser Picture Formation Device |
JP4341600B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2009-10-07 | 三菱電機株式会社 | 固体レーザ装置 |
JP2007214170A (ja) | 2006-02-07 | 2007-08-23 | Fujikura Ltd | 光ファイバ増幅器、光ファイバレーザ装置及び故障検出方法 |
CN102066035B (zh) * | 2008-06-20 | 2014-11-12 | 通快机床两合公司 | 激光加工设备 |
DE102009005999A1 (de) * | 2009-01-23 | 2010-09-16 | Trumpf Laser Gmbh + Co. Kg | Verfahren zur Bestimmung der Degradation und/oder Effizienz von Lasermodulen und Lasereinheit |
JP2011079013A (ja) * | 2009-10-06 | 2011-04-21 | Miyachi Technos Corp | レーザマーキング装置 |
JP2012124304A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 高出力面発光レーザアレイの駆動方法、高出力面発光レーザアレイ群の制御方法、および光出力制御システム |
JP5729107B2 (ja) * | 2011-04-20 | 2015-06-03 | 村田機械株式会社 | レーザ発振器制御装置 |
US9444219B2 (en) * | 2012-02-14 | 2016-09-13 | Nec Corporation | Repeater, excitation light supply device used for the same, and excitation light supply method |
JP6032075B2 (ja) * | 2013-03-18 | 2016-11-24 | 富士通株式会社 | 光伝送装置および光伝送システム |
JP6210532B2 (ja) * | 2013-07-05 | 2017-10-11 | 古河電気工業株式会社 | レーザ装置 |
WO2015111711A1 (ja) | 2014-01-24 | 2015-07-30 | 株式会社フジクラ | 制御方法、制御装置、および光源装置 |
JP5889934B2 (ja) * | 2014-02-25 | 2016-03-22 | 株式会社フジクラ | ファイバレーザ装置及びその異常検出方法 |
-
2015
- 2015-11-09 JP JP2015219445A patent/JP6325506B2/ja active Active
-
2016
- 2016-11-07 DE DE102016121211.3A patent/DE102016121211B4/de active Active
- 2016-11-08 US US15/346,185 patent/US9685758B2/en active Active
- 2016-11-09 CN CN201610983802.8A patent/CN106684701B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106684701A (zh) | 2017-05-17 |
US9685758B2 (en) | 2017-06-20 |
US20170133819A1 (en) | 2017-05-11 |
DE102016121211A1 (de) | 2017-05-11 |
JP2017092206A (ja) | 2017-05-25 |
CN106684701B (zh) | 2019-04-02 |
DE102016121211B4 (de) | 2021-09-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6325506B2 (ja) | 故障診断機能を有するレーザ装置 | |
EP3113301B1 (en) | Fiber laser device and method for detecting abnormality thereof | |
JP6259435B2 (ja) | レーザ光を合波して出力するレーザ発振器 | |
US20150051728A1 (en) | Detecting method of abnormality of machine tool operation | |
US20140103853A1 (en) | Motor control device | |
JP2006281421A (ja) | ロボットおよびロボットの異常検出方法 | |
JP5260097B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JP2005034885A (ja) | レーザ溶接装置 | |
US10401261B2 (en) | Actuator monitoring system | |
JP2005317841A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP7329733B2 (ja) | ダイレクトダイオードレーザ方式のレーザ発振装置、および、レーザ発振装置の故障診断方法 | |
CN116018245A (zh) | 状态监视装置、状态异常判别方法以及状态异常判别程序 | |
JPWO2015193985A1 (ja) | 位置決めシステム | |
JP4668737B2 (ja) | 発電機の並列運転監視方法および装置 | |
WO2003067722A1 (fr) | Oscillateur laser | |
US7792426B2 (en) | Method and device for operating an optical transmitting device having a plurality of optical transmitters that can be driven independently | |
KR102100860B1 (ko) | 라이다 다이오드 고장 진단 장치 및 방법 | |
CN110091052B (zh) | 评价装置、评价方法及显示装置 | |
JP5657292B2 (ja) | 変位検出装置 | |
JPWO2019215798A1 (ja) | レーザ装置、レーザ加工機およびレーザ装置の出力制御方法 | |
JP6132426B2 (ja) | レーザー装置 | |
US10840664B2 (en) | Laser cutting device, method of diagnosing laser oscillator and computer-readable recording medium | |
JP5805417B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JP6295000B1 (ja) | 稼働状況監視装置 | |
JP5166488B2 (ja) | レーザダイオードの寿命予測システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170809 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170815 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20171121 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180213 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20180220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180320 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180412 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6325506 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |