JP6285659B2 - 波長可変光源 - Google Patents

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Description

本発明は、波長可変光源に関する。
従来、波長可変光源は、波長多重通信用の通信用レーザとして用いられ、特定波長にチューニングして使用されていた。波長可変光源は、高効率化、高精度化、小型化、高速化が可能であり、シンプルな分光分析器や断層画像取得装置等の用途にも利用可能であるものとして注目されつつある。このような波長可変光源に関する技術が、特許文献1及び特許文献2に記載されている。
特許文献1には、小型で製造が容易であり、且つ広範な波長可変範囲で高出力を得ることが可能な波長可変レーザが記載されている。この波長可変レーザは、1個のレーザ素子及び一対の反射鏡により構成された外部共振器と、外部共振器内の光路上に光路に対して傾けて配置された透過ファブリペロ干渉フィルタと、を備えている。この透過ファブリペロ干渉フィルタは、マイクロマシン技術で形成したファブリペロ型の透過ファブリペロ干渉フィルタであり、2枚の薄膜ミラー間のギャップを制御して透過させる波長を変化させる。透過ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長を制御することにより、波長可変レーザから出射される光の発振波長を変化させることができる。
特許文献2には、広範な波長可変帯域を有する発光装置が記載されている。この発光装置は、波長帯域が夫々異なる複数の面発光レーザと、これら波長帯域を合せた全域を波長可変帯域として光の波長を可変制御する制御部と、を備えている。各面発光レーザへ供給される電流量を制御することにより、面発光レーザから照射される光の波長を変化させることができる。
特許第3450180号公報 特開2009−163779号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載された波長可変レーザでは、波長可変レーザの出射光の波長帯域はレーザ素子から出射される光の波長帯域により決定される。したがって、波長可変レーザの出射光の波長帯域を、レーザ素子から出射される光の波長帯域以上に拡大することができない。また、上記特許文献2に記載された発光装置では、面発光レーザへ供給される電流量を制御するため、面発光レーザの動作状態が一定でない。したがって、出射光の光特性が安定しないおそれがある。
そこで、本発明は、出射光の光特性を安定化すると共に出射光の波長帯域を拡大することが可能な波長可変光源を提供することを目的とする。
本発明の波長可変光源は、第1波長帯域を有する第1光を増幅する第1レーザ媒質と、第1レーザ媒質と光共振器を構成する第1全反射ミラー及び第1部分反射ミラーと、第2波長帯域を有する第2光を増幅する第2レーザ媒質と、第2レーザ媒質と光共振器を構成する第2全反射ミラー及び第2部分反射ミラーと、一対の第1ミラーを有し、第1光の第1光路上における第1レーザ媒質と第1部分反射ミラーとの間の位置であり且つ第2光の第2光路上における第2レーザ媒質と第2部分反射ミラーとの間の位置である第1位置において、第1光及び第2光を選択的に透過及び反射させる第1ファブリペロ干渉フィルタと、一対の第2ミラーを有し、第1光路上における第1レーザ媒質と第1ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置であり且つ第2光路上における第2レーザ媒質と第1ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置である第2位置において、第1光及び第2光を選択的に透過及び反射させる第2ファブリペロ干渉フィルタと、第1ファブリペロ干渉フィルタの一方の第1ミラー及び第2ファブリペロ干渉フィルタの一方の第2ミラーを連動して動作させる第1駆動機構と、第2ファブリペロ干渉フィルタの他方の第2ミラーを動作させる第2駆動機構と、を備える。
この波長可変光源は、波長帯域が一致していない異なる光を増幅する第1レーザ媒質及び第2レーザ媒質を備えている。波長可変光源の出射光の波長帯域は、それぞれのレーザ媒質で増幅される光の波長帯域をあわせたものとなるため、波長可変光源の出射光の波長帯域を拡大することができる。また、第1駆動機構が一方の第1ミラーと一方の第2ミラーを連動して動作させ、第2駆動機構が他方の第2ミラーを駆動させるため、第1ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長と第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長を等しくしたり異ならせたりすることができる。第1ファブリペロ干渉フィルタ及び第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長の組み合わせにより、第1レーザ媒質を含む光共振器と第2レーザ媒質を含む光共振器とが選択的に構成される。このため、第1レーザ媒質及び第2レーザ媒質の動作状態を一定に保ったままで発振させるレーザ媒質を切り替えることができる。したがって、波長可変光源は、出射光の光特性を安定化すると共に出射光の波長帯域を拡大することができる。
本発明の波長可変光源は、一対の第1ミラー間の第1ギャップ及び一対の第2ミラー間の第2ギャップが周期的に変化するように、第1駆動機構を制御する制御部を更に備えてもよい。ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長は、ファブリペロ干渉フィルタを構成する一対のミラー間のギャップに基づいている。これにより第1ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長と第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長が周期的に変化されるため、波長可変光源の出射光の波長を周期的に変化させることができる。
本発明の波長可変光源では、制御部は、第1駆動機構の共振周波数で一方の第1ミラー及び一方の第2ミラーを往復動作させてもよい。この制御によれば、第1ミラー及び第2ミラーが第1駆動機構の共振周波数で動作されるため、第1ミラーと第2ミラーを所定振幅で駆動するために必要なエネルギーが抑制され、高効率且つ高周波で第1ミラーと第2ミラーを駆動することができる。
本発明の波長可変光源では、制御部は、第2ミラーの状態が、第2ギャップが第1ギャップと異なる第1状態と、第2ギャップが第1ギャップと等しい第2状態と、に切り替わるように、第2駆動機構を制御してもよい。この制御によれば、第2ギャップが第1ギャップと異なる第1の状態では、第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長を、第1ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長と異ならせることができる。一方、第2ギャップが第1ギャップと等しい第2の状態では、第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長を、第1ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長と等しくすることができる。
本発明の波長可変光源では、第1ファブリペロ干渉フィルタ、第2ファブリペロ干渉フィルタ、第1駆動機構、及び第2駆動機構は、同一の半導体基板に形成されていてもよい。この構成は、半導体基板に機械的構造が作り込まれた、いわゆるMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)デバイスの構成である。この構成によれば、第1ファブリペロ干渉フィルタ、第2ファブリペロ干渉フィルタ、第1駆動機構及び第2駆動機構が半導体プロセスにより半導体基板に形成されるため、これらが精度良く位置決めされた構成を容易に製造することができる。
本発明の波長可変光源は、第1光路上における第1レーザ媒質と第2ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置において、第1光をコリメートする第1光学部品と、第2光路上における第2レーザ媒質と第2ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置において、第2光をコリメートする第2光学部品と、を更に備えてもよい。この構成によれば、第1レーザ媒質で増幅された第1光と第2レーザ媒質で増幅された第2光とを効率良く利用することができる。
本発明によれば、出射光の光特性を安定化すると共に出射光の波長帯域を拡大することが可能な波長可変光源が提供される。
第1実施形態の波長可変光源の基本構成を示す図である。 図1の波長可変光源の光共振器の基本構成を示す図である。 図1の波長可変光源における出射光の波長帯域、第1波長帯域及び第2波長帯域の関係を示す図である。 図1の波長可変光源における発振状態を示す表である。 図1の波長可変光源における第1発振状態(a)、及び第2発振状態(b)を示す図である。 図1の波長可変光源の第1駆動機構及び第2駆動機構に入力される制御信号の時間変化(a)、並びに第1ファブリペロ干渉フィルタ及び第2ファブリペロ干渉フィルタを透過する波長の時間変化(b)を示すグラフである。 図1の波長可変光源における第1発振状態(a)、及び第2発振状態(b)を示す図である。 第1実施形態の波長可変光源の具体的構成の断面図である。 図8の波長可変光源の要部断面図である。 図8の波長可変光源の平面図である。 図8の波長可変光源のブラッグミラーの波長特性(a)、及びファブリペロ干渉フィルタの波長特性(b)を示すグラフである。 図8の波長可変光源における第1発振状態を示す図である。 図8の波長可変光源における第2発振状態を示す図である。 第2実施形態の波長可変光源の具体的構成の平面図である。 図14のA−A線に沿った端面図である。 図14のB−B線に沿った端面図である。 変形例1の波長可変光源の基本構成を示す図である。 変形例1の波長可変光源の具体的構成における第1発振状態を示す図である。 変形例1の波長可変光源の具体的構成における第2発振状態を示す図である。 変形例1の波長可変光源の具体的構成における第3発振状態を示す図である。 変形例2の波長可変光源の基本構成を示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明を実施するための形態を詳細に説明する。図面の説明において同一又は相当部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
[第1実施形態]
<波長可変光源の基本構成>
まず、波長可変光源の基本構成について説明する。図1に示されるように、波長可変光源1Aは、レーザ発振型の波長可変レーザ光源である。波長可変光源1Aから出射される出射光Loutは所定の波長帯域BLと所定の波長間隔Δλとを有している。波長可変光源1Aは、第1光共振器R1、第2光共振器R2、第3光共振器R3及び光制御器Cを備えている。
第1光共振器R1は、第1波長帯域B1(B1=λ1−1〜λ1−2)を有する第1光L1を出射するものである。この第1波長帯域B1は出射光Loutの波長帯域BLの一部をなす(図3参照)。第1光共振器R1は、第1レーザ媒質M1と、全反射ミラー(第1全反射ミラー)K1Aと、ハーフミラー(第1部分反射ミラー)K2とにより構成されている。第1光共振器R1は、第1光L1の第1光路OP1を形成している。ハーフミラーK2で反射されて全反射ミラーK1Aに到達した第1光L1の波長が、第1レーザ媒質M1のゲイン帯域内であるとき、第1光L1は全反射ミラーK1AとハーフミラーK2との間で発振し、ハーフミラーK2から出射光Loutが出射される。
第1レーザ媒質M1は、第1波長帯域B1を有する第1光L1を出射及び増幅する。また、第1レーザ媒質M1のゲイン帯域は第1波長帯域B1と等価である。全反射ミラーK1Aは、第1光路OP1上において第1レーザ媒質M1の光出射面M1aの反対側に配置されている。全反射ミラーK1Aは、第1波長帯域B1の第1光L1を反射するものであり、理想的には第1波長帯域B1において反射率は100%であるが、必ずしも100%である必要はない。全反射ミラーK1Aは、第1レーザ媒質M1と一体であってもよいし、第1レーザ媒質M1の光出射面M1aと反対側の面から離間して配置されてもよい。波長可変光源1Aは、第1光共振器R1を構成するために、後述するファブリペロ干渉フィルタを用いている。このため、第1レーザ媒質M1へ第1光L1を戻すためにハーフミラーK2が第1光路OP1上に配置されている。ハーフミラーK2は、第1波長帯域B1を含む波長帯域において、全反射ミラーK1Aよりも低い反射率を有している。
第2光共振器R2は、第1光共振器R1とは異なる第2波長帯域B2(λ2−1〜λ2−2)を有する出射光Loutを出射するものである。この第2波長帯域B2は出射光Loutの波長帯域BLの一部をなす(図3参照)。第2光共振器R2は、第2レーザ媒質M2と、全反射ミラー(第2全反射ミラー)K1Bと、ハーフミラー(第2部分反射ミラー)K2とにより構成されている。第2光共振器R2は、第2光L2の第2光路OP2を形成している。ハーフミラーK2で反射されて全反射ミラーK1Bに到達した第2光L2の波長が、第2レーザ媒質M2のゲイン帯域内であるとき、第2光L2は全反射ミラーK1BとハーフミラーK2との間で発振し、ハーフミラーK2から出射光Loutが出射される。
第2レーザ媒質M2は、第2波長帯域B2を有する第2光L2を出射及び増幅する。また、第2レーザ媒質M2のゲイン帯域は第2波長帯域B2と等価である。全反射ミラーK1Bは、第2光路OP2上において第2レーザ媒質M2の光出射面M2aの反対側に配置され、第2波長帯域B2の第2光L2を反射する。
ここで、図2に示されるように、全反射ミラーK1A,K1BからハーフミラーK2までの光路長PLは、波長間隔Δλ毎に、波長間隔Δλの範囲内で波長の整数倍以上となる距離に設定される。例えば、出射光Loutの波長帯域BLの中心波長λcが1μmであり波長間隔Δλが0.1nmである場合、光の波長が0.9999μmでも発振可能とするために、光路長PLが10mm以上に設定される。
出射光Loutの波長帯域BL、第1光L1の第1波長帯域B1、第2光L2の第2波長帯域B2の関係について説明する。図3に示されるように、第1波長帯域B1と第2波長帯域B2とは、互いに異なっている。例えば、第1波長帯域B1が短波長側の帯域(λ1−1〜λ1−2)であり、第2波長帯域B2が長波長側の帯域(λ2−1〜λ2−2)であるとする。第1波長帯域B1の最も長い波長(λ1−2)は、第2波長帯域B2の最も短い波長(λ2−1)と同じである(図3(a)参照)。また、第1波長帯域B1の最も長い波長(λ1−2)は、第2波長帯域B2の最も短い波長(λ2−1)より長くてもよい(図3(b)参照)。すなわち、第1波長帯域B1と第2波長帯域B2は、一部の帯域が重複してもよい。そして、出射光Loutの波長帯域BLは、第1波長帯域B1と第2波長帯域B2とを合わせた第1波長帯域B1の最も短い波長(λ1−1)から、第2波長帯域B2の最も長い波長(λ2−2)までの帯域(λ1−1〜λ2−2)になる。
再び図1に示されるように、光制御器Cは、出射光Loutが有する波長を掃引するための第1ファブリペロ干渉フィルタFP1(以下「第1フィルタFP1」という)と、第1レーザ媒質M1の第1光L1及び第2レーザ媒質M2の第2光L2を選択的に反射又は透過して第1フィルタFP1に導く第2ファブリペロ干渉フィルタFP2(以下「第2フィルタFP2」という)と、第1フィルタFP1を透過する波長λp1を制御するための第1駆動機構A1と、第2フィルタFP2を透過する波長λp2を制御するための第2駆動機構A2と、第1駆動機構A1と第2駆動機構A2を制御するための駆動制御部(制御部)DCと、を有している。
第1フィルタFP1は、第1光L1及び第2光L2に含まれる特定波長の光を選択的に透過及び反射させてハーフミラーK2に導く。ファブリペロ型の波長選択フィルタは、2枚のミラーが並行に配置された構成を有し、それぞれのミラーには屈折率の異なる膜を交互に並べたブラッグミラーが利用されている。第1フィルタFP1は、一対の第1ミラーS1a,S1bを有している。第1フィルタFP1を透過する波長λp1は第1ミラーS1a,S1b間の第1ギャップG1により規定される。ここで、第1フィルタFP1を透過する波長λp1は、λp1=2×G1/mである。mは任意の整数である。
第1フィルタFP1は、第1位置に配置されている。第1位置は、第1光路OP1上における第1レーザ媒質M1とハーフミラーK2との間の位置であり、且つ第2光路OP2上における第2レーザ媒質M2とハーフミラーK2との間の位置である。また、第1フィルタFP1は、反射光を第1レーザ媒質M1及び第2レーザ媒質M2に戻さないために、第1光路OP1及び第2光路OP2に対して傾けて配置されている。第1光路OP1及び第2光路OP2と第1フィルタFP1とのなす角度は、90°からずれていればよく、例えば45°である。
第2フィルタFP2は、第1光L1及び第2光L2に含まれる特定波長の光を選択的に透過及び反射させて第1フィルタFP1に導く。第2フィルタFP2は、一対の第2ミラーS2a,S2bを有し、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は第2ミラーS2a,S2b間の第2ギャップG2により規定される。ここで、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、λp2=2×G2/mである。mは任意の整数である。
第2フィルタFP2は、第2位置に配置されている。第2位置は、第1光路OP1上における第1レーザ媒質M1と第1フィルタFP1との間の位置であり、且つ第2光路OP2上における第2レーザ媒質M2と第1フィルタFP1との間の位置である。また、第2フィルタFP2は、反射光を第2レーザ媒質M2に戻さないために、第2光路OP2の方向に対して傾けて配置されている。第2光路OP2と第2フィルタFP2とのなす角度は、90°からずれていればよく、例えば45°である。
レンズ(第1光学部品)P1は、第1光路OP1上における第1レーザ媒質M1と第2フィルタFP2との間の位置に配置されている。また、レンズ(第2光学部品)P2は、第2光路OP2上における第2レーザ媒質M2と第2フィルタFP2との間の位置に配置されている。
第1駆動機構A1は、第1フィルタFP1の第1ミラーS1aと、第2フィルタFP2の第2ミラーS2aとを連動して動作させる。第1駆動機構A1は、フレームF1と駆動源D1とを有している。フレームF1は、2個のミラー接続端と、1個の駆動源接続端とを有している。それぞれのミラー接続端には第1ミラーS1a及び第2ミラーS2aが接続され、駆動源接続端には駆動源D1が接続されている。第1駆動機構A1は、第1フィルタFP1の第1ギャップG1及び第2フィルタFP2の第2ギャップG2が周期的に変化するように、第1ミラーS1a及び第2ミラーS2aを動作させる。第1ギャップG1及び第2ギャップG2が変化すればよいので、第1ミラーS1a及び第2ミラーS2aを動作させる方向は問わない。第1ミラーS1a及び第2ミラーS2aは、第1光路OP1及び第2光路OP2と直交する方向に動作させてもよいし、第1光路OP1及び第2光路OP2の方向に動作させてもよい。
第2駆動機構A2は、第2フィルタFP2の他方の第2ミラーS2bを動作させる。第2駆動機構A2は、フレームF2と駆動源D2とを有している。フレームF2は、一端側に第2ミラーS2bが接続され、他端側に駆動源D2が接続されている。第2ミラーS2bは、第2ギャップG2が第1ギャップG1と等しい第1の状態と、第2ギャップG2が第1ギャップG1と異なる第2の状態とに切り替わるように、動作される。
駆動制御部DCは、第1駆動機構A1と第2駆動機構A2に制御信号を入力して、これらを制御する。すなわち、駆動制御部DCは、第1駆動機構A1と第2駆動機構A2を制御することにより、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2を制御する。以下、駆動制御部DCによる第1フィルタFP1と第2フィルタFP2の具体的な制御について説明する。
図4に示されるように、第1レーザ媒質M1が発振する場合は第1発振状態である。第1発振状態は、第1フィルタFP1が第1波長帯域B1に含まれる波長の光を透過し、第2フィルタFP2が第1波長帯域B1に含まれる波長の光を反射する(透過しない)状態であり、且つ第1レーザ媒質M1のゲイン帯域と第1波長帯域B1とが重複する状態である。この第1発振状態では、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と、第2フィルタFP2を透過する波長λp2とが異なっている。駆動制御部DCは、第1フィルタFP1が第1波長帯域B1の光を透過するように第1ギャップG1を制御する。また、駆動制御部DCは、第2フィルタFP2を透過する波長λp2が第1フィルタFP1を透過する波長λp1と異なるように、第2ミラーS2bを第1状態に制御する。
図5(a)に示されるように、第1発振状態では、第1レーザ媒質M1、全反射ミラーK1A及びハーフミラーK2により第1光共振器R1が形成されている。まず、第1レーザ媒質M1を発振させるためには、第1フィルタFP1を透過する波長λp1が、第1レーザ媒質M1のゲイン帯域に含まれている必要がある。ゲイン帯域は、第1波長帯域B1(λ1−1〜λ1−2)であるとする。そして、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、λp1とは異なる値に設定される。この設定により、第2フィルタFP2では波長λp1の光が必ず反射されることになる。したがって、第1光L1に含まれる波長λp1の光は、第2フィルタFP2で反射された後に、第1フィルタFP1で透過されてハーフミラーK2で反射され、逆の経路を辿って全反射ミラーK1Aに到達する。したがって、全反射ミラーK1AとハーフミラーK2との間で第1光共振器R1が形成されるので、第1レーザ媒質M1が発振して波長λp1の出射光Loutが出射される。なお、第1発振状態では、第2レーザ媒質M2の第2光L2は、光の一部又は全部が第2フィルタFP2で反射される。
また、図4に示されるように、第2レーザ媒質M2が発振する場合は第2発振状態である。第2発振状態は、第1フィルタFP1が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過し、第2フィルタFP2が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過する状態であり、且つ第2レーザ媒質M2のゲイン帯域と第2波長帯域B2とが重複する状態である。この第2発振状態では、第2フィルタFP2を透過する波長λp2が第1フィルタFP1を透過する波長λp1と等しい。駆動制御部DCは、第1フィルタFP1が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過するように第1ギャップG1を制御する。また、駆動制御部DCは、第2フィルタFP2を透過する波長λp2が第1フィルタFP1を透過する波長λp1と等しくなるように、第2ミラーS2bを第2状態に制御する。
図5(b)に示されるように、第2発振状態では、第2レーザ媒質M2、全反射ミラーK1B及びハーフミラーK2により第2光共振器R2が形成されている。まず、第2レーザ媒質M2を発振させるためには、第1フィルタFP1を透過する波長λp1が、第2レーザ媒質M2のゲイン帯域に含まれている必要がある。ゲイン帯域は、第2波長帯域B2(λ2−1〜λ2−2)である。そして、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、波長λp1と等しい値に設定される。この設定により、第2フィルタFP2では波長λp1の第2光L2が透過され、この第2光L2は第1フィルタFP1で透過されることになる。したがって、第2光L2に含まれる波長λp1の光は、第2フィルタFP2を透過した後に、第1フィルタFP1を透過してハーフミラーK2で反射され、逆の経路を辿って全反射ミラーK1Bに到達する。したがって、全反射ミラーK1BとハーフミラーK2との間で第2光共振器R2が形成されるので、第2レーザ媒質M2が発振して波長λp1の出射光Loutが出射される。
なお、第2状態においては、第2フィルタFP2の第2ギャップG2が第1フィルタFP1の第1ギャップG1と等しくなるように、第1駆動機構A1と第2駆動機構A2とを、協調して動作させる。また、第1レーザ媒質M1の第1光L1は、第2波長帯域B2の光の一部又は全部が第2フィルタFP2で反射された後に、第1フィルタFP1で全て反射される。
なお、図4に示されるように、第1フィルタFP1を透過する帯域B1及び第2フィルタFP2を透過する帯域B2の組み合わせによれば、別の第1非発振状態及び第2非発振状態も取り得る。第1非発振状態は、第1フィルタFP1が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過し、第2フィルタFP2が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を反射する状態であるが、第1レーザ媒質M1のゲイン帯域と第2波長帯域B2とが重複しない状態である。また、第2非発振状態は、第1フィルタFP1が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過し、第2フィルタFP2が第2波長帯域B2に含まれる波長の光を透過する状態であるが、第2レーザ媒質M2のゲイン帯域と第2波長帯域B2とが重複しない状態である。これら第1非発振状態及び第2非発振状態では、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2は両方とも発振しないため、駆動制御部DCは、これらの状態に第1フィルタFP1を透過する波長λp1及び第2フィルタFP2を透過する波長λp2を制御することはない。
図6(a)は、駆動制御部DCから第1駆動機構A1及び第2駆動機構A2に入力される制御信号の時間変化を示す。縦軸は制御信号の電圧であり、横軸は時間である。グラフGP1は第1駆動機構A1に入力される制御信号を示し、グラフGP2は第2駆動機構A2に入力される制御信号を示す。また、図6(b)は、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2の時間変化を示す。縦軸は透過波長であり、横軸は時間である。グラフGP3は第1フィルタFP1を透過する波長λp1を示し、グラフGP4は第2フィルタFP2を透過する波長λp2を示す。
図6(a)及び図6(b)に示されるように、第1フィルタFP1を透過する波長λp1の振幅(グラフGP3)は、第1レーザ媒質M1の第1光L1の第1波長帯域B1と、第2レーザ媒質M2の光L2の第2波長帯域B2とを包含している。この波長帯域は、波長可変光源1Aから出射される出射光Loutの波長帯域BLに対応している(図3参照)。第1フィルタFP1を透過する波長λp1は、第1駆動機構A1に入力される制御信号(グラフGP1)により実現される。なお、第1駆動機構A1に入力される制御信号の周波数は、波長可変光源1Aから出射される出射光Loutの波長掃引速度に対応している。第1駆動機構A1の動作制御は、制御信号の電圧に応じた比較的低速な動作であってもよい。また、第1駆動機構A1の動作制御は、第1駆動機構A1の共振周波数と一致する周波数の制御信号を印加することにより実現される比較的高速な共振動作であってもよい。
まず、駆動制御部DCは、区間Z1(t0〜t2)において第1駆動機構A1に正弦波状の制御信号(V0〜V1)を入力し、第2駆動機構A2に制御信号(V2)を入力する(図6(a)参照)。
第1フィルタFP1では、固定された他方の第1ミラーS1bに対して一方の第1ミラーS1aが離間し、第1フィルタFP1を透過する波長λp1はλ1−1からλ1−2へ変化する。すなわち、第1フィルタFP1を透過する波長λp1は徐々に長くなる。第2フィルタFP2では、他方の第2ミラーS2bが制御信号(V2)に対応する位置に動作されて第1状態になる。そして、第1状態である他方の第2ミラーS2bに対して、一方の第2ミラーS2aが往復動作する。この第2ミラーS2aの動作は、第1フィルタFP1の第1ミラーS1aの動作と同期している。しかし、第2フィルタFP2の第2ギャップG2は、第1フィルタFP1の第1ギャップG1と等しくない。したがって、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第1フィルタFP1を透過する波長λp1とは異なる値をもって変化する。したがって、区間Z1では、第1発振状態が実現されている。
次に、駆動制御部DCは、区間Z2(t2〜t3)において、第1駆動機構A1に正弦波状の制御信号(V1〜V3〜V1)を入力し、第2駆動機構A2に制御信号(V1)を入力する。
第1フィルタFP1では、固定された他方の第1ミラーS1bに対して一方の第1ミラーS1aが離間した後に近接するように往復動作するため、第1フィルタFP1を透過する波長λp1はλ1−2(=λ2−1)からλ2−2へ変化した後に、再びλ1−2へ変化する。第2フィルタFP2では、他方の第2ミラーS2bが制御信号(V1)に対応する位置に動作されて第2状態になる。そして、第2状態である他方の第2ミラーS2bに対して、一方の第2ミラーS2aが往復動作する。この第2ミラーS2aの動作は、第1フィルタFP1の第1ミラーS1aの動作と同期している。そして、第2フィルタFP2の第2ギャップG2は、第1フィルタFP1の第1ギャップG1と等しい。したがって、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第1フィルタFP1と等しい値をもって変化する。したがって、区間Z2では、第2発振状態が実現されている。
続いて、駆動制御部DCは、区間Z3において、第1駆動機構A1に正弦波状の制御信号(V1〜V0〜V1)を入力し、第2駆動機構A2に制御信号(V2)を入力する。これら制御信号によれば、区間Z1と同様に、第1発振状態が実現される。
上述したように、第1発振状態を実現する区間Z2と、第2発振状態を実現する区間Z3が交互に繰り返されることにより、波長可変光源1Aから出射光Loutが出射される。
ここで、駆動制御部DCは、区間Z1において第2駆動機構A2に入力する制御信号を、区間Z1a(t0〜t1)において一定電圧の制御信号(V2)とし、次の区間Z1b(t1〜t2)において電圧の大きさを徐々に変化させる制御信号(V2〜V1)とする。
第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第2駆動機構A2へ一定電圧の制御信号(V1)が入力されたとき、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と完全に同じになる。一方、第2駆動機構A2へ入力される制御信号がV1以外の場合では、若干ずれた状態となる。第2レーザ媒質M2が発振する第2発振状態は、第2フィルタFP2を透過する波長λp2が第1フィルタFP1を透過する波長λp1と等しくなっている必要がある。一方、第1レーザ媒質M1が発振する第1発振状態は、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2とが異なっていればよいので、区間Z1a(t1〜t2)および区間Z1b(t3〜t4)においても、第1レーザ媒質M1は、第1フィルタFP1を透過する波長λp1で発振し続ける。したがって、第2駆動機構A2への制御信号が入力されてから、実際に第2駆動機構A2が想定した位置まで動くまでに所定の時間を要したとしても、第1発振状態が維持される。
また、他方の第2ミラーS2bの第1状態と第2状態の切替動作を高速に行うと、共振周波数成分により、制御信号を一定電圧(V1,V2)に固定しても瞬時に第2駆動機構A2が停止せず、リンギング等が発生する場合がある。しかし、他方の第2ミラーS2bの移動距離は、ファブリペロ干渉フィルタでのフィルタ半値幅の数倍に相当する波長分(例えば1nm)である。したがって、制御信号の振幅(電圧幅)はわずかであり、且つ、滑らかに動作させてもよいため、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2の発振切替をスムーズにロス無く行うことができる。
また、理想的には第1フィルタFP1の第1ギャップG1は第1駆動機構A1の動作位置に比例して変化し、第1フィルタFP1を透過する波長λp1も第1ギャップG1に対して直線的に変化する。しかし、第1駆動機構A1に静電アクチュエータ等を用いた場合には、アクチュエータの動作位置は駆動電圧に対して直線的ではない。例えば、くし歯タイプの静電アクチュエータは、動作位置が駆動電圧の2乗に比例する。平行平板型の静電アクチュエータは、動作位置と駆動電圧の関係が更に複雑である。また、電圧印加後の静電アクチュエータの動作においては、アクチュエータの電気的時定数や機械的時定数に応じた時間遅れが生ずる。また、第1駆動機構A1と第2駆動機構A2が別の構成要素であるかぎり、製造誤差等による個体差が存在する。したがって、第1フィルタFP1と第2フィルタFP2のそれぞれの動作位置と駆動電圧の関係を校正するためのデータを事前に取得する。そして、校正データを用いて動作位置と駆動電圧の関係を補正しつつ動作させるとよい。
なお、それぞれのミラーの駆動周波数が数10〜数100Hz程度であれば、電気回路的には、比較的高速な処理ではない。したがって、第1フィルタFP1と第2フィルタFP2とを、補正なしに協調させて動作させることができる。
ところで、第1光共振器R1と第2光共振器R2を有する構成では、第1レーザ媒質M1から第2レーザ媒質M2へ切り替える時、又は第2レーザ媒質M2から第1レーザ媒質M1へ切り替える時に、波長可変光源1Aからの出射光Loutが不連続になる場合がある。
この不連続な出射光Loutを生じさせる一要因として、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2のゲインの相違が挙げられる。出射光Loutは、第1フィルタFP1を透過する波長λp1の半値幅以外の出射はないため、半値幅内の波長を有する出射光Loutが出射される。しかし、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2とでゲインが異なる場合には、出射光Loutの光強度が急激に変化するおそれがある。この問題の対応策として、第1レーザ媒質M1のゲインと第2レーザ媒質M2のゲインを予め評価し、平均的に同じゲインになるよう、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2へ印加する電流量を調整する方法がある。
更に、不連続な出射光Loutを生じさせる別の要因を検討する。例えば、第1レーザ媒質M1が発振している第1発振状態時において、第2レーザ媒質M2は、電流注入が持続されているにもかかわらず発振していない。したがって、第1発振状態では、第2レーザ媒質M2内にエネルギーが蓄えられることになる。そして、第1レーザ媒質M1から第2レーザ媒質M2に発振が切り替わった直後、すなわち第2レーザ媒質M2の最初の発振時に、蓄えられたエネルギーが急激に放出されて、尖頭値の高いパルスが発生する。この現象は、いわゆるQスイッチの原理と同じ現象である。このパルスが発生する場合、波長可変光源1Aを利用した測定器では、検出器側の飽和現象を発生させ、測定の妨げになるおそれがある。
そこで、図1に示されるように、波長可変光源1Aは、不連続な出射光Loutを生じさせるパルスを抑制するための第3光共振器R3を備えている。第3光共振器R3は、2個の形態を有している。第1の形態である第3光共振器R3aは、第1レーザ媒質M1、全反射ミラーK1A、ハーフミラーK3及び第3ファブリペロ干渉フィルタFP3(以下「第3フィルタFP3」という)により構成されている。また、第2の形態である第3光共振器R3bは、第2レーザ媒質M2、全反射ミラーK1B、ハーフミラーK3及び第3フィルタFP3により構成されている。
第3フィルタFP3は、第1フィルタFP1と同様の構成を有する波長選択フィルタである。第3フィルタFP3は、第2フィルタFP2を透過した第1光路OP1、及び第2フィルタFP2で反射された第2光路OP2上に配置されている。第3フィルタFP3は、第2レーザ媒質M2と第3フィルタFP3との間に第2フィルタFP2が位置するように配置されている。また第3フィルタFP3は、一対の第3ミラーS3a,S3bを有している。第3フィルタFP3の一方の第3ミラーS3aは、第1駆動機構A1に接続されている。したがって、第3ミラーS3aは、第1ミラーS1aと第2ミラーS2aと連動して動作する。一方、他方の第3ミラーS3bは、定位置に固定されている。
なお、第1フィルタFP1の他方の第1ミラーS1b又は第3フィルタFP3の他方の第3ミラーS3bに新たな駆動機構を取り付けてもよい。そして、第3フィルタFP3の第3ギャップG3が第1フィルタFP1の第1ギャップG1と等しくなるように、第1ミラーS1b又は第3ミラーS3bの初期位置を調整する。第1フィルタFP1と第3フィルタFP3とが製造誤差等により完全に同じ構成ではない場合がある。この構成によれば、第1ミラーS1b又は第3ミラーS3bの調整により、第1フィルタFP1と第3フィルタFP3との動作を精度良く同期させることができる。
ハーフミラーK3は、第1光路OP1及び第2光路OP2上において、第2フィルタFP2とハーフミラーK3との間に第3フィルタFP3が位置するように配置されている。ハーフミラーK3は、全反射ミラーあるいはハーフミラーである。ハーフミラーK3の反射率は、レーザ発振に十分な反射率があればよい。このようなハーフミラーK3には、シリコン等の屈折率の高い物質を用いたミラーを用いることができる。屈折率の高い物質を用いたミラーは、端面のフレネル反射で30%程度反射することができ、且つ波長依存性はほとんど無いため好適である。
第3光共振器R3によるパルスを抑制する作用について説明する。第3光共振器R3を用いてパルスを抑制する場合には、図3(b)に示されるように、波長切替をスムーズに行うために、第1レーザ媒質M1の第1波長帯域B1と第2レーザ媒質M2の第2波長帯域B2を一部オーバーラップさせる。この重複帯域BD(λ2−1〜λ1−2)では、第1レーザ媒質M1及び第2レーザ媒質M2のいずれの媒質であってもゲインが得られる状態になる。
第1レーザ媒質M1から第2レーザ媒質M2へ切り替える場合の動作を説明する。図7(a)に示されるように、第1レーザ媒質M1が発振している第1発振状態では、第2レーザ媒質M2の第2光L2は、第2フィルタFP2で反射され、第3フィルタFP3に入射している。ここで、第1フィルタFP1を透過する波長λp1がλ1−1〜λ2−1の間であるとき(図3(b)の区間W1)、第3フィルタFP3を透過する波長λp3もλ1−1〜λ2−1の間になる。第2光L2は、λ1−1〜λ2−1の波長の光を含まないので、すべて反射される。次に、第1フィルタFP1を透過する波長λp1が変化して重複帯域BD内(図3(b)の区間W2)の波長になると、第3フィルタFP3を透過する波長λp3も重複帯域BD内(図3(b)の区間W2)の波長になる。そうすると、第2光L2に含まれている波長λp1の光が第3フィルタFP3を透過するようになり、ハーフミラーK3で反射され、逆の経路を辿って全反射ミラーK1Bに到達する。したがって、全反射ミラーK1BとハーフミラーK3との間で光路が形成される。しかも、波長λp1は、第2レーザ媒質M2のゲイン帯域内であるので、第3共振器R3bが形成されて第2レーザ媒質M2に蓄えられたエネルギーが解放される。
次に、第2レーザ媒質M2から第1レーザ媒質M1へ切り替える場合の動作を説明する。図7(b)に示されるように、第2レーザ媒質M2が発振している第2発振状態では、第1レーザ媒質M1の第1光L1は、第2フィルタFP2で反射されている。ここで、第1フィルタFP1を透過する波長λp1がλ1−2〜λ2−2の間であるとき(図3(b)の区間W3)、第2フィルタFP2を透過する波長λp2もλ1−2〜λ2−2の間になる。第1光L1は、λ1−2〜λ2−2の波長の光を含まないので、すべて反射される。次に、第1フィルタFP1を透過する波長λp1が変化して重複帯域BD内(図3(b)の区間W2)の波長になると、第1光L1における波長λp1の光が第2フィルタFP2と第3フィルタFP3を透過した後にハーフミラーK3で反射され、逆の経路を辿って全反射ミラーK1Aに到達する。したがって、全反射ミラーK1AとハーフミラーK3との間で光路が形成される。しかも、波長λp1は、第1レーザ媒質M1のゲイン帯域内であるので、第3共振器R3aが形成されて第1レーザ媒質M1に蓄えられたエネルギーが解放される。
上述したように、レーザ媒質を切り替える少し前、すなわち、オーバーラップさせた波長帯域BDにおいて、非発振側のレーザ媒質でも発振が始まる。第3共振器R3a,R3bにおける発振では、尖頭値の高いパルスが発振したとしても発振した光が出射側に取り出されることがない。
以下、波長可変光源1Aの作用効果について説明する。
波長可変光源に用いられている半導体レーザ素子をレーザ発振させるためには、レーザ媒質内に電子が直接遷移する準位を形成する必要がある。そして、半導体レーザ素子を効率良く発振させるために、レーザ媒質が有する準位の数が少なくなるように結晶成長させる。一方、準位の数が少ないレーザ媒質は、発振波長が限定されるため、波長可変光源に用いるレーザ媒質として適当でない。そのため、波長可変光源用のレーザ媒質は、不純物等を増やして、結晶内に存在する準位の数が増加するように結晶成長させる。この結晶成長によれば、換言すると結晶欠陥を増加させていることになり、無制限に発振幅を増やすことはできない。したがって、単一のレーザ媒質で波長可変幅を拡大する方法には限界がある。
分光分析において可変波長帯域が狭い場合には、分析対象である波長帯域を全てカバーすることが困難になるため、複数の光源を用意する必要がある。例えば、光干渉断層計(OCT)では、可変波長幅が分解能を決定する因子であり、可変波長帯域が広いほど分解能が高くなる。中心波長の異なる光源を複数用いる場合には、光カプラや、シャッタの切り替え等の方法により複数の光源から出射された光を合波する。例えば、OCT等のように、一本のシングルモード光ファイバから光を出射する場合には、ファイバカプラ等で光を合波する必要があり、その場合には、原理的に50%のパワーロスが発生する。
以上のように、波長可変光源を種々の計測装置に適用しようとすると、可変波長範囲を何らかの方法で拡大する必要があり、安価で高効率に可変波長範囲を拡大できる波長可変光源が検討されている。
上述した問題点に対して、この波長可変光源1Aは、波長帯域が互いに異なる光を増幅する第1レーザ媒質M1と、第2レーザ媒質M1とを備えている。波長可変光源1Aの出射光Loutの波長帯域BLは、それぞれのレーザ媒質M1,M2で増幅される光L1,L2の波長帯域B1,λ2をあわせたものとなるため、波長帯域が異なる光を増幅するレーザ媒質M1,M2を備えることにより、出射光Loutの波長帯域BLを拡大することができる。また、第1駆動機構A1が一方の第1ミラーS1aと一方の第2ミラーS2aを連動して動作させ、第2駆動機構A1が他方の第2ミラーS2bを駆動させるため、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2を等しくしたり異ならせたりすることができる。この第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2の組み合わせにより、第1レーザ媒質M1の第1光L1を共振させる第1光共振器R1と第2レーザ媒質M2の第2光L2を発振させる第2光共振器R2とが選択的に形成される。このため、第1レーザ媒質M1及び第2レーザ媒質M2の動作状態を一定に保ったままで発振させるレーザ媒質M1,M2を切り替えることができる。したがって、波長可変光源1Aは、出射光Loutの光特性を安定化すると共に出射光Loutの波長帯域BLを拡大することができる。
また、波長可変光源1Aは、第1フィルタFP1を透過する波長λp1と第2フィルタFP2を透過する波長λp2が周期的に変化されるため、波長可変光源1Aの出射光Loutの波長帯域BLを周期的に変化させることができる。
また、波長可変光源1Aの第1ミラーS1aと第2ミラーS2aは第1駆動機構A1の共振周波数で動作されるため、第1ミラーS1aと第2ミラーS2aを所定振幅で駆動するために必要なエネルギーが抑制され、高効率且つ高周波で第1ミラーS1aと第2ミラーS2aを駆動することができる。
また、波長可変光源1Aの駆動制御部DCにより行われる制御によれば、第2ギャップG2が第1ギャップG1と異なる第1の状態では、第2フィルタFP2を透過する波長λp2を第1フィルタFP1を透過する波長λp1と異ならせることができ、第2ギャップG2が第1ギャップG1と等しい第2の状態では、第2フィルタFP2を透過する波長λp2を第1フィルタFP1を透過する波長λp1と等しくすることができる。
また、波長可変光源1Aによれば、レンズP1,P2を備えているので、第1レーザ媒質M1で増幅された第1光L1と第2レーザ媒質M2で増幅された第2光L2とを効率良く利用することができる。
また、波長可変光源1Aによれば、光カプラ等の結合による光源よりも、小型化が容易であり、且つ高速で高効率の動作を実現することができる。
また、波長可変光源1Aは、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2を常に通電状態にする事が可能となり、第1レーザ媒質M1と第2レーザ媒質M2を熱的に安定な動作状態で動作させることができる。更に、出射光Loutは、ハーフミラーK2から同一光路上に出射されるため、光ファイバと結合する等の後段の光学設計が容易になる。
また、波長可変光源1Aは、光L1,L2を第1光共振器R1又は第2光共振器R2で共振させるレーザ発振タイプの光源である。ここで、レーザ発振タイプである波長可変光源1Aを備えた分光装置と、ハロゲンランプといった白色光源を備えた分光装置とを比較しつつ波長可変光源1Aの作用効果を更に説明する。
白色光源を備えた分光装置では、白色光源から出射された光を試料に照射し、その反射光あるいは、透過光を分光器へ導く。分光器の光入射口では分解能を向上させるためスリットを用いて光のスポットサイズを制限する。スポットサイズの制限によれば、信号成分を含む光を損失していることにもなる。スリットを通った光は、回折格子で分光され、波長毎の信号として、イメージセンサの各ピクセルで検出される。その信号を信号読出回路が読み出し、パソコン等によりデータ処理されて、スペクトルイメージとして表示される。
一方、波長可変光源1Aを備えた分光装置では、分光器やイメージセンサは不要であるため、小型で安価な検出部を構成できる。スペクトル情報を得る場合には、パソコン等から出力された制御信号に同期して波長可変光源1Aの出射光Loutの波長をスキャンし、波長毎のデータを取得する。なお、波長可変光源1Aを備えた分光装置によれば、波長スキャンが必要であるが、分光器のイメージセンサにおけるピクセル情報の読み出しにも同程度の時間を要するため、測定時間に関する優劣はない。
更に、レーザ発振タイプの波長可変光源1Aでは、他の方式と比べて、注入したエネルギーのほとんどが、発振する光に変換されるので、電力利用効率が高く、且つ高輝度な出射光Loutを得る事が可能となる。また、出射光Loutは、ガウシアンビームのコヒーレントな光であり、比較的広いコリメート光へ変換したり、小さなビームに集光することができる。したがって、用途に応じて試料に合わせた光の照射方法を採用できる。
また、分光器を備えた分光装置では、1nm以下の波長分解能を実現する場合にはスリット幅が細くなり光利用効率は著しく劣化する。一方、波長可変光源1Aは、レーザ発振であるために、基本的に1nm以下の波長分解能を容易に実現できる。
なお、第2レーザ媒質M2の第2光L2は、第2フィルタFP2に直接入射させてもよいが、第1レーザ媒質M1の第1光L1と同じ方向に出射するように配置し、全反射ミラー等の光学部品を用いて第2フィルタFP2に導くように配置してもよい。
<波長可変光源の具体的構成>
次に、上述した波長可変光源1Aを実現する具体的構成について説明する。波長可変光源1Aの製造には、MEMS技術である表面マイクロマシニングが用いられる。表面マイクロマシニングによれば、波長可変光源1Aを小型で且つ、安価に製造することができる。
図8に示されるように、波長可変光源1Bは、第1フィルタFP1、第2フィルタFP2、第3フィルタFP3、第1駆動機構A1、及び第2駆動機構A2がシリコン基板(半導体基板)2に形成されたMEMS構造体3を有している。シリコン基板2の裏面2aには、金属膜からなる全反射ミラー4が形成されている。また、シリコン基板2上には、基板電極12が形成されている。このMEMS構造体3上には、レーザダイオードLD1,LD2、レンズP1,P2、全反射ミラー6、ハーフミラーK2、ハーフミラーK3、及び出力レンズPuが配置されている。
MEMS構造体3は、シリコン基板2の表面2bから上方に離間して配置された下部ミラー層BMと、下部ミラー層BMから上方に離間して配置された上部ミラー層TMとを有している。下部ミラー層BM及び上部ミラー層TMは、ファブリペロ型の波長選択フィルタのためのブラッグミラー構造を有している。シリコン基板2と下部ミラー層BMとの間には、下部ミラー層BMを支持する支持部7が複数配置され、支持部7間には複数のエアーギャップAG1が形成されている。下部ミラー層BMと上部ミラー層TMとの間には、上部ミラー層TMを支持する支持部8が配置され、支持部8間にはエアーギャップAG2が形成されている。下部ミラー層BM上に上部ミラー層TMが形成された構成は、ファブリペロ干渉フィルタをなす構造であり、支持部7により複数のファブリペロ干渉フィルタに分割されている。したがって、MEMS構造体3では、シリコン基板2の表面2bに沿った方向にファブリペロ干渉フィルタが複数並設されている。
図9に示されるように、下部ミラー層BMは、シリコン基板2の酸化シリコン膜T1上に形成されている。下部ミラー層BMの厚さK1は出射光Loutの波長帯域BLの中心波長λcに対して(1/4×λc/n)に設定されている。nは各層の屈折率である。下部ミラー層BMは、4層のポリシリコン膜T2と3層の窒化シリコン膜T3とが交互に積層された構造を有している。下部ミラー層BMの表面をなすポリシリコン膜T2aには下部電極9が電気的に接続されている。
また、下部ミラー層BMは、シリコン基板2との間にエアーギャップAG1を形成するためのエッチングホール12aを有している。なお、第2フィルタFP2下のエアーギャップAG1は、下部ミラー層BMの一部をなすように、出射光Loutの中心波長λcに対して(1/4λc)に設定されている。
図10(a)に示されるように、下部電極9は、下部ミラー層BMの表面をなすポリシリコン膜T2aの左中央部に設けられている。下部電極9には配線パターン11aの一端が接続され、配線パターン11aの他端には円形状の可動部11に接続されている。可動部11は、周囲領域13から電気的に絶縁するための絶縁パターン11bに囲まれている。この可動部11は、周囲領域13と電気的に絶縁されている一方で物理的には一体化されている。
図9に示されるように、上部ミラー層TMは、ポリシリコン膜T2a上に形成された酸化シリコン膜T4を介して下部ミラー層BM上に形成されている。上部ミラー層TMは、下部ミラー層BMと同様の構造を有している。上部ミラー層TMの表面をなすポリシリコン膜T2bには上部電極14が電気的に接続されている。また、上部ミラー層TMには、エアーギャップAG2を形成するためのエッチングホール12bが形成されている。
図10(b)に示されるように、上部ミラー層TMは、上部電極14が電気的に接続された周囲領域16から電気的に絶縁された円形状の可動部17を有している。可動部17は、周囲領域16から電気的に絶縁するために絶縁パターン18に囲まれている。可動部17を周囲領域16に対して電気的に絶縁することにより、下部電極9に電圧を印加したときに、その電位差に起因する静電力で引っ張られて上部ミラー層TMの可動部17が動くことを避けることができる。また、可動部17は、周囲領域16と電気的に絶縁されている一方で物理的には一体化されている。
ここで、図11(a)に示された上部ミラー層TM及び下部ミラー層BMの反射特性の具体例を説明する。図11(a)の横軸は波長を示し、縦軸は反射率を示す。また、グラフGP5は上部ミラー層TMの反射特性を示し、グラフGP6は下部ミラー層BMの反射特性を示す。グラフGP5,GP6を確認すると、上部ミラー層TMと下部ミラー層BMは、出射光Loutの波長帯域BL(例えば1.2um〜1.4um)において、98%以上の反射率を有していることがわかる。この上部ミラー層TM及び下部ミラー層BMによれば、中心波長1.3umであり可変波長範囲±100nmにおいて、98%以上の光を透過するファブリペロ干渉フィルタが構成され得る。
続いて、図8に示されるように、下部ミラー層BMと上部ミラー層TMにより形成された第1フィルタFP1及び第2フィルタFP2について説明する。第1フィルタFP1は、下部ミラー層BMの周囲領域13と、上部ミラー層TMとにより形成されている。MEMS構造体3は、互いに等価な3個の第1フィルタFP1a〜FP1cが形成されている。一方、第2フィルタFP2は、下部ミラー層BMの可動部11と、上部ミラー層TMとにより形成されている。
第1フィルタFP1を透過する波長λp1及び第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、エアーギャップAG2により決定される。波長λp1,λp2とエアーギャップAG2との関係は、AG2=1/2×λp1(λp2)である。エアーギャップAG2は、下部ミラー層BMに対して上部ミラー層TMが近接又は離間することにより変化される。
ここで、図11(b)に示されている第1〜第3フィルタFP1〜FP3を透過する波長λp1〜λp3の透過特性の具体例について説明する。これら第1〜第3フィルタFP1〜FP3は、図11(a)に示された反射特性を有する上部ミラー層TM及び下部ミラー層BMにより構成されているものとする。図11(b)の横軸は透過波長を示し、縦軸は透過率を示す。グラフGP7はエアーギャップAG2が1.76μmであるときの波長特性を示す。グラフGP8はエアーギャップAG2が1.9μmであるときの波長特性を示す。グラフGP9はエアーギャップAG2が2.0μmであるときの波長特性を示す。グラフGP10はエアーギャップAG2が2.13μmであるときの波長特性を示す。グラフGP7〜GP10を確認すると、第1〜第3フィルタFP1〜FP3を透過する波長λp1〜λp3を1.2μm〜1.4μmに設定するためには、エアーギャップAG2を1.76μm〜2.13μmの間で変化させればよいことがわかる。また、これらエアーギャップAG2のいずれにおいても透過波長はピーク点で98%以上の透過率が得られることがわかる。
上部ミラー層TMは、上部ミラー層TMと下部ミラー層BMとの間に発生させる静電力により駆動される。例えば、上部電極14に図6(a)のグラフGP1に示される制御信号が入力され、下部電極9に図6(b)のグラフGP2に示される制御信号が入力され、基板電極12には基準電位(GND)の制御信号が入力されるとする。このとき、上部ミラー層TMと下部ミラー層BMとの間に所定の電位差が生じ、平行平板コンデンサの原理によりこの電位差に対応する静電力が発生する。したがって、第1フィルタFP1a〜FP1cを透過する波長λp1、第2フィルタFP2を透過する波長λp2、及び第3フィルタFP3を透過する波長λp3が周期的に変化する。波長可変光源1Bでは、上部ミラー層TMが第1ミラーS1a、第2ミラーS2a、第3ミラーS3aに対応し、且つそれぞれのミラーを動作させる第1駆動機構A1のフレームF1であり、駆動源D1に対応する。また、下部ミラー層BMが第2ミラーS2bに対応し、且つ第2ミラーS2bを動作させる第2駆動機構A2のフレームF2であり、駆動源D2に対応する。
ここで、下部電極9に入力される制御信号の電圧が、基板電極12に入力される制御信号の電圧と異なる場合には、下部ミラー層BMの可動部11とシリコン基板2との間に電位差が発生する。したがって、下部ミラー層BMの可動部11とシリコン基板2との間に静電力が発生して、下部ミラー層BMの可動部11とシリコン基板2との間のエアーギャップAG1が変化する。しかし、下部ミラー層BMの周囲領域13とシリコン基板2との間には電位差が発生していないため、下部ミラー層BMが動作することはない。したがって、この状態は、第2フィルタFP2のギャップG2が第1フィルタFP1のギャップG1と異なる第1状態である。すなわち、下部電極9と基板電極12とに異なる電圧の制御信号が入力された状態のとき、第2ミラーS2bは、第1状態になる。
一方、下部電極9に入力される制御信号の電圧が、基板電極12に入力される制御信号の電圧と等しい場合、すなわち接地電位(GND)である場合には、下部ミラー層BMの全体とシリコン基板2との間には電位差が発生しないため、静電力が発生しない。このため、下部ミラー層BMが動作することはない。この状態のとき、下部ミラー層BMと上部ミラー層TMとの間のエアーギャップAG2は、場所ごとに異なることはなく、互いに同じ幅になる。したがって、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第1フィルタFP1a〜FP1cを透過する波長λp1及び第3フィルタFP3を透過する波長λp3と等しくなる。すなわち、下部電極9と基板電極12とに同じ電圧の制御信号が入力された状態のとき、第2ミラーS2bは、第2状態になる。
図8に示されるように、レーザダイオードLD1は第1レーザ媒質M1と全反射ミラーK1Aが一体化されたものであり、例えば、表面発光レーザ素子(VCSEL)を用いることができる。レーザダイオードLD1は、第1フィルタFP1aに第1光L1が斜めに入射するように、MEMS構造体3上に配置されている。第1光路OP1上のレーザダイオードLD1と第1フィルタFP1aとの間には、レンズP1が配置されている。
レーザダイオードLD2は第2レーザ媒質M2と全反射ミラーK1Bが一体化されたものである。レーザダイオードLD2は、第2フィルタFP2に第2光L2が斜めに入射するように、MEMS構造体3上に配置されている。レーザダイオードLD2がシリコン基板2の表面となす傾き角度は、レーザダイオードLD1がMEMS構造体3の表面3aとなす角度と同じである。第2光路OP2上のレーザダイオードLD2と第2フィルタFP2との間には、レンズP2が配置されている。
ハーフミラーK2は、第1光共振器R1又は第2光共振器R2のためのものであり、MEMS構造体3上であって第1フィルタFP1bを透過した光の進行方向上に配置されている。ハーフミラーK2には、第1フィルタFP1bを透過した第1光L1又は第2光L2が入射される。また、ハーフミラーK2を透過した光をコリメートするためのレンズP3がハーフミラーK2を透過した光の進行方向上に配置されている。ハーフミラーK3は、第3光共振器R3のためのものであり、MEMS構造体3上であって第3フィルタFP3を透過した光の進行方向上に配置されている。ハーフミラーK3には第3フィルタFP3を透過した第1光L1又は第2光L2が入射される。
ハーフミラーK2,K3がMEMS構造体3の表面3aとなす傾き角度は、レーザダイオードLD1,LD2がMEMS構造体3の表面3aとなす傾き角度に対して−90°とされている。ただし、レーザダイオードLD1,LD2とハーフミラーK2,K3の傾き角度そのものは、本質的ではなく、0°(第1フィルタFP1及び第2フィルタFP2に対して垂直に入射する場合)以外の所望の角度に設定できる。しかし、傾き角度を大きくなると、第1フィルタFP1及び第2フィルタFP2自体を透過する波長特性に対する角度依存性が大きくなるので、傾き角度は45°以下であることが好ましい。
レーザダイオードLD1、第1フィルタFP1a及びレーザダイオードLD2は、レーザダイオードLD1の第1光L1が第1フィルタFP1aで反射してレーザダイオードLD2に入射しないように配置されている。
また、レーザダイオードLD1、第1フィルタFP1a、及び全反射ミラー6は、レーザダイオードLD1の第1光L1が第1フィルタFP1aで反射して全反射ミラー6に入射しないように配置されている。このような配置によれば、第1フィルタFP1aで光L1が反射されることにより意図しない光共振器が形成されることを防止できる。
また、第2フィルタFP2で反射されたレーザダイオードLD2の第2光L2は、全反射ミラー6及び第1フィルタFP1cで反射され、ハーフミラーK2とハーフミラーK3の間に進行するように、ハーフミラーK2とハーフミラーK3が互いに離間して配置される。このような配置によれば、第1フィルタFP1cで反射された第2光L2が逆の経路を辿ってレーザダイオードLD2に入射されることにより意図しない光共振器が形成されることを防止できる。
全反射ミラー6は、表面3aに対して平行になるように、レーザダイオードLD2とハーフミラーK2との間に配置されている。全反射ミラー6には、第2フィルタFP2を透過した第1光L1又は第2フィルタFP2で反射された第2光L2が入射され、これら第1光L1及び第2光L2を第1フィルタFP1cへ反射する。
全反射ミラー4は、金属膜からなり、シリコン基板2の裏面2aに形成されている。全反射ミラー4には、第1フィルタFP1aと透過した第1光L1が入射され、第2フィルタFP2へ向けて反射する。また、全反射ミラー4には、第2フィルタFP2で反射された第1光L1が入射され、第1フィルタFP1bへ向けて反射する。また、全反射ミラー4には、第2フィルタFP2を透過した第2光L2が入射され、第1フィルタFP1bへ向けて反射する。また、全反射ミラー4には、全反射ミラー6で反射された後に第1フィルタFP1cを透過した第1光L1又は第2光L2が入射され、第1フィルタFP1dの方向に向けて反射する。
続いて、波長可変光源1Bの動作について説明する。第1発振状態(図4参照)である区間Z1,T3(図6(a)参照)において、上部電極14に制御信号(図6(a)のグラフGP1)を入力し、下部電極9に制御信号(図6(a)のグラフGP2)を入力し、基板電極12を接地電位(GND)に接続する。図12に示されるように、下部ミラー層BMの可動部11(図10(a)参照)は、シリコン基板2の電位がGNDであるため、シリコン基板2側に引っ張られ、上部ミラー層TMとのエアーギャップAG2が拡大される。すなわち、第1フィルタFP1a〜FP1cのエアーギャップAG2と、第2フィルタFP2のエアーギャップAG2とが異なる。したがって、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第1フィルタFP1a〜第1フィルタFP1dを透過する波長λp1と異なるため、第1フィルタFP1で透過する光が、第2フィルタFP2で反射される状態になる。
図12に示されるように、この第1発振状態において、レーザダイオードLD1の第1光L1は、第1フィルタFP1aを透過し、全反射ミラー4で反射されて、更に第2フィルタFP2で反射される。そして、再び全反射ミラー4で反射され、第1フィルタFP1bを透過してハーフミラーK2に到達する。したがって、第1フィルタFP1を透過する波長λp1が、レーザダイオードLD1のゲイン帯域であるとき、レーザダイオードLD1が発振する第1光共振器R1が形成され、出射光Loutが出射される。
一方、レーザダイオードLD2は、ハーフミラーK3との間で第3光共振器R3を形成している。より詳細には、レーザダイオードLD2の第2光L2は、第2フィルタFP2で反射された後に、全反射ミラー6で再び反射される。そして、第1フィルタFP1cを透過し、全反射ミラー4で反射された後に第3フィルタFP3を透過してハーフミラーK3に到達する。ここで、第1フィルタFP1a〜P1cを透過する波長λp1がレーザダイオードLD2のゲイン帯域内であるときレーザ発振する。このレーザ発振により、レーザダイオードLD2からレーザダイオードLD1への切り替え時に尖頭値の高いパルスの発生が抑制される。
次に、第2発振状態(図4参照)である区間Z2(図6(a)参照)において、上部電極14に制御信号(図6(a)のグラフGP1)を入力し、下部電極9に制御信号(図6(a)のグラフGP2)を入力する。ここでグラフGP2の電圧値V1は、接地電位である。この状態において、図13に示されるように、下部ミラー層BMの可動部11は、所定位置に固定される。第2フィルタFP2のエアーギャップAG2は、第1フィルタFP1のエアーギャップAG2と等しい。したがって、第2フィルタFP2を透過する波長λp2は、第1フィルタFP1a〜FP1cを透過する波長λp1と等しい。
図13に示されるように、この第2発振状態において、レーザダイオードLD2の第2光L2は、第2フィルタFP2を透過し、全反射ミラー4で反射されて、第1フィルタFP1bを透過してハーフミラーK2に到達する。したがって、レーザダイオードLD2が発振する第2光共振器R2が形成される。
一方、レーザダイオードLD1は、ハーフミラーK3との間で第3光共振器R3を形成している。より詳細には、レーザダイオードLD1の第1光L1は、第1フィルタFP1aを透過し、全反射ミラー4で反射され、第2フィルタFP2を透過した後に、全反射ミラー6で反射される。そして、第1フィルタFP1cを透過し、再び全反射ミラー4で反射された後に、第3フィルタFP3を透過してハーフミラーK3に到達する。ここで、第1フィルタFP1a〜FP1cを透過する波長λp1がレーザダイオードLD1のゲイン帯域内であるとき、レーザダイオードLD1はレーザ発振する。このレーザ発振により、レーザダイオードLD1からレーザダイオードLD2への切り替え時に尖頭値の高いパルスの発生が抑制される。
[第2実施形態]
第2実施形態に係る波長可変光源について説明する。図14〜図16に示されるように、第2実施形態に係る波長可変光源1Cは、波長可変光源1Aの基本構成に基づいて動作するものであり、以下、波長可変光源1Cの具体的構成について説明する。波長可変光源1Cは、シリコン深堀エッチング技術やアルカリエッチング技術を利用したバルクマイクロマシニングにより製造される点で、波長可変光源1Bと相違する。
ファブリペロ型の波長選択フィルタは、二枚のブラッグミラー間のエアーギャップを制御信号の電圧値で変化させて透過波長を制御する。ブラッグミラーは、屈折率が互いに異なる層を交互に配置し、各層の屈折率を考慮した透過中心波長λnと各層の厚さtとの関係を(λn=1/4×t)に設定している。なお、透過中心波長λnと各層の厚さtとの関係は、(2×t=n+1/2×λn)(nは1以上の整数)とされてもよい。しかしながら、nを大きくすると反射波長帯域が狭くなるため、透過中心波長λnが波長可変光源の出射光Loutの波長帯域BL以下にならないようにnを設定する。エアーギャップAGとファブリペロ干渉フィルタを透過する波長λpとの関係は、(2×AG=n×λp)であればよいが、nを大きくすると、ファブリペロ干渉フィルタの透過帯域に高次の波長λpが存在するため、波長可変光源における出射光Loutの波長帯域BL内において、透過波長λpが複数存在しないようにnを設定する。
表面マイクロマシニングを利用した場合、CVD装置等でブラッグミラーを構成する膜を形成するため、成膜制御性や実用面から各層の厚さは1μm以下に設定されている。波長可変光源1Aは、出射光Loutの波長帯域BLが例えば1.3μm帯であった。その場合、ポリシリコン膜T2の厚さ、エアーギャップAG1及びエアーギャップAG2は、いずれも概ね数百nmである。一方、より長波長である数μmの波長を有する光を対象とした波長選択フィルタを形成する場合には、各層の厚みは1μmを超える。したがって、表面マイクロマシニングでは、製造の難易度が高くなる。このような長波長帯域を対象とした波長可変光源には、バルクマイクロマシニングを用いた製造方法が適している。
図14に示されるように、波長可変光源1Cは、MEMS構造体21と、MEMS構造体21上に配置されたカバー22(図15参照)とを有している。MEMS構造体21は、シリコン基板23を有し、このシリコン基板23には、第1〜第3フィルタFP1〜FP3及び第1〜第3駆動機構A1〜A3が形成されている。また、シリコン基板23には、ハーフミラーK8,K9及び第1〜第3方向転換ミラーK5〜K7が形成されている。一方、カバー22には、レーザダイオードLD1,LD2、レンズP1,P2、及び出力レンズPuが設けられている。
図15に示されるように、レーザダイオードLD1は、カバー22の外表面22a側に配置された面発光レーザ素子(VCSEL)であり、第1光路OP1に第1光L1を出射する。第1光路OP1上のカバー22の内表面22b側には、レンズP1が配置されている。また、図16に示されるように、レーザダイオードLD2は、外表面22a側に配置された面発光レーザ素子であり、第2光路OP2に第2光L2を出射する。第2光路OP2上の内表面22b側には、レンズP2が配置されている。
図15に示されるように、第1方向転換ミラーK5は、シリコン基板23の表面23aと直交する方向N1に沿った第1光路OP1の方向を、シリコン基板23の表面23aに沿った方向N2へ90°転換する。したがって、第1方向転換ミラーK5は、方向N1に対して45°傾いた反射面K5aを有している。
また、図16に示されるように、第2方向転換ミラーK6は、シリコン基板23の表面23aと直交する方向N1に沿った第2光路OP2の方向を、シリコン基板23の表面23aに沿った方向N2へ90°転換する。したがって、第2方向転換ミラーK6は、方向N1に対して45°傾いた反射面K6aを有している。
図14に示されるように、第1方向転換ミラーK5及び第2方向転換ミラーK6は、第1方向転換ミラーK5で方向転換された第1光路OP1aが第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2aに対して90°となるようにそれぞれ配置されている。
図16に示されるように、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2a上には、第3方向転換ミラーK7が配置されている。第3方向転換ミラーK7は、入射した光が出力レンズPuへ進行するように、第1光路OP1及び第2光路OP2の方向を90°転換する。
これら第1〜第3方向転換ミラーK5〜K7は深堀エッチング法(DRIE)では形成できない。しかし、アルカリ液による結晶異方性エッチング法を併用することで、方向N1に対する反射面K5a〜K7aの角度が高精度に制御された第1〜第3方向転換ミラーK5〜K7を形成する事ができる。
第3方向転換ミラーK7で方向が転換された第1光路OP1及び第2光路OP2上には、出力レンズPuがカバー22の内表面22bに設けられている。
図14に示されるように、ハーフミラーK8は、第1光共振器R1及び第2光共振器R2を形成するものであり、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2上において、第2方向転換ミラーK6と第3方向転換ミラーK7の間に配置されている。また、ハーフミラーK9は、第3光共振器R3を形成するものであり、第1方向転換ミラーK5で方向転換された第1光路OP1a上に配置されている。
ハーフミラーK8,K9は、シリコンと空気の屈折率差による端面でのフレネル反射を利用した構成を有している。ハーフミラーK8,K9の反射率は、数μmでの波長帯域では波長による依存性は非常に小さく、ほぼ30%程度である。また、ハーフミラーK8,K9は、入射面及び出射面の何れか一方の面を他方の面に対し、傾けている。この構造によれば、ハーフミラーK8,K9の入射面及び出射面が互いに平行である場合に多重反射が発生し波長によって反射率が変化する現象を抑制できる。この傾き角度により、ハーフミラーK8の出射光は、若干曲げられるが、出射側での取り出し位置と角度が変わるだけであり、波長可変光源1Cの動作には影響ない。なお、ハーフミラーK8,K9は、DRIE法で形成できる。
MEMS構造体21には、第1〜第3フィルタFP1〜FP3が形成されている。第2フィルタFP2は、第1方向転換ミラーK5で方向転換された第1光路OP1aと、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2aとの交点に配置されている。第1フィルタFP1は、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2a上において第2フィルタFP2とハーフミラーK8との間に配置されている。第3フィルタFP3は、第1方向転換ミラーK5で方向転換された第1光路OP1aにおいて第2フィルタFP2とハーフミラーK9との間に配置されている。
第1フィルタFP1の第1ミラーS1a、第2フィルタFP2の第2ミラーS2a及び第3フィルタFP3の第3ミラーS3aは、全て第1駆動機構A1に接続されており、常に同じ動作をする。第1フィルタFP1の他方の第1ミラーS1bは、第3駆動機構A3に接続され、第1ミラーS1aに対して独立して動作可能である。第2フィルタFP2の他方の第2ミラーS2bは、第3駆動機構A3に接続され、一方の第3ミラーS3aに対して独立して動作可能である。第3フィルタFP3の他方の第3ミラーS3bは、シリコン基板23に対して固定されている。
ここで、第1駆動機構A1に取り付けられた第1ミラーS1a、第2ミラーS2a及び第3ミラーS3aは、波長掃引のため高速に往復動作する。この動作によればそれぞれのミラーが慣性によりたわみを生じる場合がある。したがって、第1〜第3ミラーS1a〜S3aは、第1駆動機構A1に対してそれぞれのミラーの両端が連結された両端支持構造とされている。
一方、第2駆動機構A2に連結された他方の第2ミラーS2b及び第3駆動機構A3に連結された他方の第1ミラーS1bの動作は、第1駆動機構A1に取り付けられたそれぞれのミラーの動作よりも遥かに低速であり、且つ移動量もわずかである。この動作によれば、第2ミラーS2b及び第1ミラーS1bを動作させたときのたわみは無視できるほどに小さい。したがって、第2ミラーS2bは、第2駆動機構A2に対してミラーの一端が連結された片持ち支持構造とされている。同様に、第1ミラーS1bは、第3駆動機構A3に対してミラーの一端が連結された片持ち支持構造とされている。
なお、第1〜第3フィルタFP1〜FP3の構成にシリコンを含む半導体層が利用できるのは、シリコンが赤外光に対して透明であるからである。
バルクマイクロマシニングにより形成される波長可変光源1Cには、駆動機構として静電アクチュエータが用いられる。第1〜第3駆動機構A1〜A3は、静電アクチュエータである。第1〜第3駆動機構A1〜A3は、くし歯構造の固定電極24aと可動電極24bとを有している。固定電極24aは、シリコン基板23に対して固定されている。一方、可動電極24bは、シリコン基板23から上方に離間し、シリコン基板23に対して動くことができる。これら固定電極24a及び可動電極24bに電圧を印加することにより、静電力を発生させて可動電極24bを駆動する。可動電極24bには、MEMS構造体21に固定されたアンカー24cから延在するバネ24dと、ファブリペロ干渉フィルタを構成するミラーを連結するためのフレーム24fと、が接続されている。これら可動電極24b、アンカー24c、バネ24d及びフレーム24fは一体に形成されている。
第1駆動機構A1は、第1ミラーS1a、第2ミラーS2a及び第3ミラーS3aが連結され、第1方向転換ミラーK5で方向転換された第1光路OP1の方向にそれぞれのミラーS1a,S2a,S3aを動作させる。第2駆動機構A2は、他方の第2ミラーS2bが連結され、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2の方向に第2ミラーS2bを動作させる。第3駆動機構A3は、他方の第1ミラーS1bが連結され、第2方向転換ミラーK6で方向転換された第2光路OP2の方向に第1ミラーS1bを動作させる。
ここで、第1駆動機構A1は、質量系をなすフレーム24f及び各ミラーS1a,S2a,S3aと、バネ24dとによりバネ−マス振動系を構成している。したがって、第1駆動機構A1の共振周波数とは、フレーム24f及び各ミラーS1a,S2a,S3aの質量mと、バネ24dの弾性係数kと、減衰係数ξとにより、規定される値である。第1駆動機構A1の共振周波数は、フレーム24fの質量、バネ24dの寸法等を設計パラメータとして所望の値に設定される。
また、第3駆動機構A3は、第1フィルタFP1の第1ミラーS1aと第1ミラーS1bとの第1ギャップG1を調整するためのものである。理想的には、第1フィルタFP1の第1ギャップG1と、第2フィルタFP2の第2ギャップG2は等しくなるように設計されている。しかし、製造上のばらつきにより完全に一致させることは困難である。したがって、このばらつきを補正するために第3駆動機構A3を形成している。第1フィルタFP1のギャップG1と、第2フィルタFP2のギャップG2とを精度良く一致するように製造できる場合には、第3駆動機構A3を省略し、第1フィルタFP1の他方の第1ミラーS1bをシリコン基板23に固定してもよい。
続いて、波長可変光源1Cの動作について説明する。第1発振状態(図4参照)である区間Z1,T3(図6(a)参照)において、第2駆動機構A2の固定電極24aと可動電極24bとの間に制御信号(図6(a)のグラフGP2)を入力すると共に、第1駆動機構A1の固定電極24aと可動電極24bとの間に制御信号(図6(a)のグラフGP1)を入力する。これら制御信号によれば、第1フィルタFP1を透過する光が、第2フィルタFP2で反射される状態となる。そして、第1フィルタFP1を透過する波長λp1がレーザダイオードLD1のゲイン帯域内で変化するため、レーザダイオードLD1の第1光L1は、ハーフミラーK8との間で第1光共振器R1を形成している。したがって、レーザダイオードLD1が発振し、波長可変光源1Cから出射光Loutが出射される。
なお、第1発振状態において、レーザダイオードLD2の第2光L2は、ハーフミラーK9との間で第3光共振器R3を形成している。このレーザ発振により、レーザダイオードLD2からレーザダイオードLD1への切り替え時に尖頭値の高いパルスの発生が抑制される。
次に、第2発振状態(図4参照)である区間Z2(図6(a)参照)において、第2駆動機構A2の固定電極24aに制御信号(図6(a)のグラフGP2)を入力すると共に、第1駆動機構A1の固定電極24aと可動電極24bとの間に制御信号(図6(a)のグラフGP1)を入力する。これら制御信号によれば、第1フィルタFP1を透過する光が、第2フィルタFP2も透過する状態となる。そして、第1フィルタFP1を透過する波長λp1がレーザダイオードLD2のゲイン帯域内で変化するため、レーザダイオードLD2の第2光L2は、ハーフミラーK8との間で第2光共振器R2を形成している。したがって、レーザダイオードLD2が発振し、波長可変光源1Cから出射光Loutが出射される。
なお、第2発振状態において、レーザダイオードLD1の第2光L1は、ハーフミラーK9との間で第3光共振器R3を形成している。このレーザ発振により、レーザダイオードLD1からレーザダイオードLD2への切り替え時に尖頭値の高いパルスの発生が抑制される。
上述した波長可変光源1Cは、波長可変光源1Aと同様の効果を奏することができる。
更に、波長可変光源1Cは、バルクマイクロマシニングにより製造されるため、表面マイクロマシニングにより製造された波長可変光源1Aよりも長波長の出射光Loutを出射することができる。例えば、シリコン層の厚さが2μm〜3μmであり、ギャップG1〜G3が3μm〜7μmであるファブリペロ型の波長選択フィルタを製造することができる。この寸法を有する波長選択フィルタによれば、透過波長を数μmの波長帯域に設定し、波長が数μm(例えば5μm)の出射光Loutを出射させることができる。
また、波長可変光源1Cは、レーザ媒質にVCSEL等の面発光レーザ素子を用い、シリコン基板からなりレンズを成形又は取り付けたカバーをMEMS構造体21上に配置している。このような構成によれば、波長可変光源1Cがより小型化されると共に容易に組み立てることができる。
なお、波長可変光源1CのMEMS構造体21は、SOI(Silicon On Insulator)基板に対して、シリコン深堀エッチング法(DRIE:Deep Reactive Ion Etching)を用いることで作成できる。また、ファブリペロ型の波長選択フィルタのためのブラッグミラーは、DRIE法により、シリコン層と空気層を交互に配置することで実現できる。このとき、静電アクチュエータとブラッグミラーは同一のフォトマスクを用いて、1回のDRIEで作成できる為、高精度に且つ少ない工程で作成できる。
また、第1〜第3方向転換ミラーK5〜K7以外の構成部品は、全て1回のDRIE法で作成でき、相対的な位置関係は高精度に制御できる。このため、レーザダイオードLD1,LD2と出力レンズPuの位置合わせ以外の調整は不要となる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。
図17に示されるように、変形例1の波長可変光源1Dは、3個のレーザ媒質M1〜M3を備えていてもよい。
図18〜図19に示されるように、表面マイクロマシニングにより形成された波長可変光源1Dは、レーザダイオードLD1の第1光L1が入射される第1フィルタFP1aと、レーザダイオードLD2の第2光L2が入射される第2フィルタFP2と、レーザダイオードLD3の第3光L3が入射される第3フィルタFP3と、を備えている。
これらファブリペロ干渉フィルタは、第1フィルタFP1a、第2フィルタFP2、第3フィルタFP3の順に並設されている。また、第1フィルタFP1b、第4ファブリペロ干渉フィルタFP4(以下「第4フィルタFP4」という)及び第5ファブリペロ干渉フィルタFP5(以下「第5フィルタFP5」という)がこの順に、第3フィルタFP3に並設されている。
第2フィルタFP2を構成する下部ミラー層BMには、絶縁領域に囲まれた複数の可動部26a〜26cが形成されている。第2フィルタFP2を構成する下部ミラー層BMの領域には、絶縁領域に囲まれた可動部26aが形成されている。可動部26aには第1下部電極9aが電気的に接続され、可動部26aに所定の電圧を与えることが可能である。第3フィルタFP3を構成する下部ミラー層BMの領域には、絶縁領域に囲まれた可動部26bが形成されている。可動部26bには第2下部電極9bが電気的に接続され、可動部26bに所定の電圧を与えることが可能である。第4フィルタFP4を構成する下部ミラー層BMの領域には、絶縁領域に囲まれた可動部26cが形成されている。可動部26cには第3下部電極9cが電気的に接続され、可動部26cに所定の電圧を与えることが可能である。
波長可変光源1Dの動作について説明する。まず、第1発振状態とするためには、第2フィルタFP2、第3フィルタFP3及び第4フィルタFP4のそれぞれの可動部26a〜26cに接地電位(GND)ではない電圧を印加する。この場合、第1フィルタFP1a,FP1b及び第5フィルタFP5を透過する光は、第2フィルタFP2、第3フィルタFP3及び第4フィルタFP4で反射される。したがって、図18に示されるように、レーザダイオードLD1はハーフミラーK2との間で第1光共振器R1を形成し、第1フィルタFP1a,FP1b及び第5フィルタFP5を透過する波長λp1でレーザ発振する。
レーザダイオードLD1の次に、レーザダイオードLD2が発振される。レーザダイオードLD1からレーザダイオードLD2への切替え付近では、レーザダイオードLD2は、ハーフミラーK3との間で第3光共振器R3を構成するため、尖頭値の高いレーザ発振は抑えられる。
レーザダイオードLD3の第3光L3は、第3フィルタFP3で反射した後に、全反射ミラー6で反射され、第4フィルタFP4で更に反射されるが、第4フィルタFP4で反射された光の光路上には反射ミラーが配置されていない。したがって、レーザダイオードLD3の第3光L3は発振できない。すなわち、レーザダイオードLD1が発振する第1発振状態では、レーザダイオードLD3は常に非発振状態にある。ただし、発振するレーザダイオードLD1〜LD3は、レーザダイオードLD1、レーザダイオードLD2、レーザダイオードLD3、レーザダイオードLD2、レーザダイオードLD1の順に切り替わる。すなわち、レーザダイオードLD1の次にレーザダイオードLD3に切り替わることは無いため、第1発振状態のときにレーザダイオードLD3について尖頭値の高いレーザ発振の問題を考慮する必要は無い。
次に、レーザダイオードLD2が発振している第2発振状態とするためには、第2フィルタFP2の可動部26aを接地電位(GND)とし、第3フィルタFP3及び第4フィルタFP4のそれぞれの可動部26b,26cには接地電位(GND)ではない電圧を印加する。この状態では、第2フィルタFP2を透過する波長λp2が、第1フィルタFP1a,FP1b及び第5フィルタFP5を透過する波長λp1と等しくなる。したがって、図19に示されるように、レーザダイオードLD2はハーフミラーK2との間で第2光共振器R2を形成し、第2フィルタFP2を透過する波長λp2でレーザ発振する。
次に、レーザダイオードLD3が発振している第3発振状態とするためには、第2フィルタFP2の可動部26a及び第3フィルタFP3の可動部26bを接地電位(GND)とし、第4フィルタFP4の可動部26cには接地電位(GND)ではない電圧を印加する。この状態では、第2フィルタFP2を透過する波長λp2及び第3フィルタFP3を透過する波長λp3が、第1フィルタFP1a,FP1b及び第5フィルタFP5を透過する波長λp1と等しくなる。したがって、図20に示されるように、レーザダイオードLD3はハーフミラーK2との間で第4光共振器R4を形成し、第3フィルタFP3を透過する波長λp3でレーザ発振する。
レーザダイオードLD1〜LD3を備える構成であっても、出射光Loutの波長を掃引するために高速に動作させるミラーは上部ミラー層TMである。下部ミラー層BMのそれぞれの可動部26a〜26cは、低速であり、且つわずかに変化させれば良く、容易に制御できる。
波長可変光源1Dによれば、3個のレーザ媒質M1〜M3を切り替える事が可能になり、出射光Loutの波長帯域BLを一層拡大することができる。
なお、波長可変光源は、上述した構成を応用することにより、原理上は3個以上レーザ媒質を備えることができる。しかし、レーザ媒質の数が増加すると、光共振器の光路長が長くなる。ファブリペロ干渉フィルタにおける選択波長の純度を向上させるためには、ファブリペロ干渉フィルタに入射されるビームは、出来る限り平行光で無ければならない。しかし、ビームは回折広がりを有するため、光共振器の光路長が長くなると平行光からのずれが大きくなり、波長選択性が悪くなる。また、ファブリペロ干渉フィルタにも有効波長帯域が存在するため、無限にレーザ媒質をふやすことはできない。したがって、波長可変光源が備え得るレーザ媒質の数は3個程度である。
図21に示されるように、変形例2の波長可変光源1Eは、尖頭値の高いパルスの発生を抑制するための第3光共振器R3を備えていない構成であってもよい。この波長可変光源1Eによれば、波長可変光源1Aと同様に出射光Loutの波長帯域BLの広い波長可変レーザ光源を作成する事が可能となる。また、波長可変光源1Aよりも構造が簡素化されているため、容易に製造することができる。
また、上記第1及び第2実施形態では、第1及び第2部分反射ミラーは、一体のハーフミラーK2であったが、第1及び第2部分反射ミラーは、互いに別個のハーフミラーであってもよい。
1A〜1E…波長可変光源、2,23…シリコン基板(半導体基板)、A1…第1駆動機構、A2…第2駆動機構、B1…第1波長帯域、B2…第2波長帯域、DC…駆動制御部(制御部)、FP1…第1フィルタ(第1ファブリペロ干渉フィルタ)、FP2…第2フィルタ(第2ファブリペロ干渉フィルタ)、G1…第1ギャップ、G2…第2ギャップ、K1A…全反射ミラー(第1全反射ミラー)、K1B…全反射ミラー(第2全反射ミラー)、K2…ハーフミラー(第1部分反射ミラー、第2部分反射ミラー)、L1…第1光、L2…第2光、L3…第3光、Lout…出射光、M1…第1レーザ媒質、M2…第2レーザ媒質、OP1…第1光路、OP2…第2光路、P1…レンズ(第1光学部品)、P2…レンズ(第2光学部品)、R1…第1光共振器、R2…第2光共振器、S1a,S1b…第1ミラー、S2a,S2b…第2ミラー、S3a,S3b…第3ミラー。

Claims (6)

  1. 第1波長帯域を有する第1光を増幅する第1レーザ媒質と、
    前記第1レーザ媒質と光共振器を構成する第1全反射ミラー及び第1部分反射ミラーと、
    第2波長帯域を有する第2光を増幅する第2レーザ媒質と、
    前記第2レーザ媒質と光共振器を構成する第2全反射ミラー及び第2部分反射ミラーと、
    一対の第1ミラーを有し、前記第1光の第1光路上における前記第1レーザ媒質と前記第1部分反射ミラーとの間の位置であり且つ前記第2光の第2光路上における前記第2レーザ媒質と前記第2部分反射ミラーとの間の位置である第1位置において、前記第1光及び前記第2光に含まれる特定波長の光を選択的に透過及び反射させて前記第1部分反射ミラー及び/又は前記第2部分反射ミラーに導く第1ファブリペロ干渉フィルタと、
    一対の第2ミラーを有し、前記第1光路上における前記第1レーザ媒質と前記第1ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置であり且つ前記第2光路上における前記第2レーザ媒質と前記第1ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置である第2位置において、前記第1光及び前記第2光を選択的に透過及び反射させる第2ファブリペロ干渉フィルタと、
    前記第1ファブリペロ干渉フィルタの一方の前記第1ミラー及び前記第2ファブリペロ干渉フィルタの一方の前記第2ミラーを連動して動作させる第1駆動機構と、
    前記第2ファブリペロ干渉フィルタの他方の前記第2ミラーを動作させる第2駆動機構と、
    を備える、波長可変光源。
  2. 一対の前記第1ミラー間の第1ギャップ及び一対の前記第2ミラー間の第2ギャップが周期的に変化するように、前記第1駆動機構を制御する制御部を更に備える、請求項1記載の波長可変光源。
  3. 前記制御部は、前記第1駆動機構の共振周波数で一方の前記第1ミラー及び一方の前記第2ミラーを往復動作させる、請求項2記載の波長可変光源。
  4. 前記制御部は、前記第2ミラーの状態が、前記第2ギャップが前記第1ギャップと異なる第1状態と、前記第2ギャップが前記第1ギャップと等しい第2状態と、に切り替わるように、前記第2駆動機構を制御する請求項2又は3記載の波長可変光源。
  5. 前記第1ファブリペロ干渉フィルタ、前記第2ファブリペロ干渉フィルタ、前記第1駆動機構、及び前記第2駆動機構は、同一の半導体基板に形成されている、請求項1〜4のいずれか一項記載の波長可変光源。
  6. 前記第1光路上における前記第1レーザ媒質と前記第2ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置において、前記第1光をコリメートする第1光学部品と、
    前記第2光路上における前記第2レーザ媒質と前記第2ファブリペロ干渉フィルタとの間の位置において、前記第2光をコリメートする第2光学部品と、
    を更に備える、請求項1〜5のいずれか一項記載の波長可変光源。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6943452B2 (ja) * 2016-06-15 2021-09-29 シーウェア システムズSi−Ware Systems 一体型スペクトルユニット
JP6480091B1 (ja) 2017-07-06 2019-03-06 浜松ホトニクス株式会社 ミラーユニット及び光モジュール

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02152288A (ja) * 1988-12-05 1990-06-12 Hitachi Ltd レーザ光の波長制御方法とそれを用いたエキシマレーザ装置および露光装置
JP3450180B2 (ja) 1998-04-20 2003-09-22 日本電気株式会社 波長可変レーザー
JP2000028931A (ja) * 1998-07-09 2000-01-28 Tdk Corp 多波長フィルタアレイ
CN1316696C (zh) * 2001-03-16 2007-05-16 英特尔公司 可调外腔激光器
JP4083464B2 (ja) * 2002-05-02 2008-04-30 富士通株式会社 波長可変光源装置およびそれを用いた光増幅器
CN1502975A (zh) * 2002-11-26 2004-06-09 台达电子工业股份有限公司 可调式光源装置
US7061618B2 (en) * 2003-10-17 2006-06-13 Axsun Technologies, Inc. Integrated spectroscopy system
WO2006018758A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. System for varying the wavelength of a light source.
EP1935069A4 (en) * 2005-10-13 2011-03-09 Sensilaser Technologies Inc METHOD AND DEVICE FOR REDUCING LASER PHASE RUSH
US7382810B2 (en) * 2006-01-13 2008-06-03 Exfo Electro-Optical Engineering, Inc. Widely-tunable laser apparatus
JP2009163779A (ja) 2006-04-18 2009-07-23 Alps Electric Co Ltd 発光装置及び前記発光装置を用いたホログラム再生装置
WO2008093448A1 (ja) * 2007-01-29 2008-08-07 Optical Comb, Inc. 波長走査型光源及び光コヒーレンストモグラフィー装置
JP2009060022A (ja) * 2007-09-03 2009-03-19 Optical Comb Inc 波長走査型光源
JP5142803B2 (ja) * 2008-04-24 2013-02-13 株式会社日立製作所 半導体レーザ装置
JP5240095B2 (ja) * 2008-09-03 2013-07-17 日本電気株式会社 波長可変レーザ光源、及びその駆動方法
WO2011001571A1 (ja) * 2009-06-29 2011-01-06 日本電気株式会社 波長可変レーザ光源、及びその駆動方法
JP2012037572A (ja) * 2010-08-03 2012-02-23 Hamamatsu Photonics Kk レーザ光整形及び波面制御用光学系
CN102709799B (zh) * 2012-06-18 2016-01-20 天津奇谱光电技术有限公司 一种宽带连续可调谐激光器

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