JP5899908B2 - Sample analysis disc - Google Patents

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本発明は、光学的な方法により血液等の生体試料に含まれる抗原もしくは抗体などの生体高分子を分析するための、試料用分析ディスクに関する。   The present invention relates to a sample analysis disk for analyzing a biopolymer such as an antigen or an antibody contained in a biological sample such as blood by an optical method.

近年、疾患の診断や健康診断における疾病の早期発見などを目的として、血液等に含まれる生体試料から抗原や抗体を検出する免疫検査法(イムノアッセイ)が様々な場面で用いられている。免疫検査法(イムノアッセイ)とは、生体試料に含まれる特定の抗原(または抗体)と特異的に結合する抗体(または抗原)に測定が可能な標識をつけ、両者が反応した結果を定量することで試料に含まれる抗原(または抗体)の濃度を求め疾患の判定を行う方法である。   In recent years, immunoassays for detecting antigens and antibodies from biological samples contained in blood or the like have been used in various situations for the purpose of early diagnosis of diseases in disease diagnosis and health checkup. An immunoassay is a method in which a measurable label is attached to an antibody (or antigen) that specifically binds to a specific antigen (or antibody) contained in a biological sample, and the result of the reaction of both is quantified. In this method, the concentration of the antigen (or antibody) contained in the sample is determined to determine the disease.

この方法は比較的感度が高く、操作方法が簡単であることから様々な標識方法が開発された。例えば標識に放射性同位元素を使ったRIA法(ラジオイノムアッセイ)や酵素を利用したEIA法(エンザイムイムノアッセイ)、蛍光標識を使ったFIA法、化学発光を使ったCLIA法などがある。   Since this method is relatively sensitive and easy to operate, various labeling methods have been developed. For example, there are RIA method (radioinom assay) using radioisotope for labeling, EIA method (enzyme immunoassay) using enzyme, FIA method using fluorescent label, CLIA method using chemiluminescence.

中でも酵素を利用した方法のひとつであるELISA法(Enzyme-Linked ImmunoSorbent Assay)は、マイクロプレートを用いた検査方法が広く一般に普及して利用されている。マイクロプレートを使った方法は、96穴プレートと汎用のマイクロプレートリーダーを用いて多数の検体を一度に測定することが可能で、コストが比較的安価である。また、放射性物質を使うRIA法と比べ、使用する場所の制限が少ないといったメリットがある。しかしながら、プレートに抗体を固定する前処理、抗体と抗原を反応させる反応時間、反応しなかった標識を洗い流すB/F(bond/free)分離、標識の酵素反応などそれぞれに数十分から数時間を要し、トータルの検査時間は数時間から1日程度かってしまうという問題がある。   Among them, an ELISA method (Enzyme-Linked ImmunoSorbent Assay), which is one of the methods using an enzyme, is widely used as a test method using a microplate. The method using a microplate can measure a large number of samples at a time using a 96-well plate and a general-purpose microplate reader, and is relatively inexpensive. In addition, compared to the RIA method that uses radioactive materials, there are advantages such as fewer restrictions on the place to use. However, pretreatment to fix the antibody on the plate, reaction time to react the antibody and antigen, B / F (bond / free) separation to wash away the unreacted label, enzyme reaction of the label, etc. And the total inspection time is from several hours to one day.

このため検査時間を短縮するために、微細加工の技術を利用してマイクロプレートの各ウェルでの操作手順を数センチ角のチップ上に置き換えた分析用チップ(Lab on a chip)も開発されている。抗体の固定や専用の試薬をチップ上に準備し、一般的なELISA法の前処理をあらかじめチップに施しておくことで処理時間を短縮する。また、抗原−抗体反応を数十マイクロメートルから数ミリメートルの狭い流路の中で行うことで反応時間を短縮している。これは、各検査用に専用の分析チップとすることで、検査時間を数十分に短縮することが可能としている。従来、患者の検体を採取した後、検査室に送り結果が出るまでに長い時間がかかっていた検査が、心筋マーカーなど一部の検査においては、診察室や患者のベッドサイドでの検査、いわゆるPOCT(ポイント・オブ・ケア・テスト)が可能な機器が開発されている。   For this reason, in order to shorten the inspection time, an analysis chip (Lab on a chip) has been developed by using microfabrication technology and replacing the operation procedure in each well of the microplate on a chip of several centimeters square. Yes. The processing time is shortened by preparing antibodies on the chip and immobilizing antibodies and preparing pre-treatments for general ELISA in advance. In addition, the reaction time is shortened by performing the antigen-antibody reaction in a narrow channel of several tens of micrometers to several millimeters. This makes it possible to shorten the inspection time by several tens of minutes by using a dedicated analysis chip for each inspection. Conventionally, after taking a patient sample, it took a long time to send it to the laboratory, but in some examinations such as myocardial markers, examinations in the examination room or the patient's bedside, so-called Devices capable of POCT (Point of Care Test) are being developed.

特表2004−533606号公報Special table 2004-533606 gazette 特表2006−521558号公報JP-T-2006-521558 特表2002−530786号公報JP-T-2002-530786

特許文献1および特許文献2には、多検体を同時に検査が可能というマイクロプレートの利点と、短い時間で検査結果が得られる分析用チップの利点を合わせた特徴を持つ分析デバイスとして、円盤型の分析デバイスが提案されている。具体的には、円盤状のデバイスに複数のマイクロチャネル構造を設け、試料に含まれる物質を反応させるための固相物質が流路の一部に充填されている。蛍光色素等の標識をレーザにより励起して得られる蛍光の強度を光検出器によって検出することにより測定が行われる。また特許文献3には、ディスクを使用した方法で、光ディスクの構造を利用した方法が開示されている。光ディスクのトラック形状が形成されている面と同一の面に生体試料や粒子を付着させ、光ピックアップを用いて信号の変化を検出する方法が示されている。   Patent Document 1 and Patent Document 2 disclose a disc-shaped analysis device having a feature that combines the advantages of a microplate capable of simultaneously testing multiple specimens and the advantage of an analysis chip that can obtain test results in a short time. Analytical devices have been proposed. Specifically, a plurality of microchannel structures are provided in a disk-shaped device, and a solid phase substance for reacting a substance contained in a sample is filled in a part of the channel. The measurement is performed by detecting the intensity of fluorescence obtained by exciting a label such as a fluorescent dye with a laser with a photodetector. Further, Patent Document 3 discloses a method using a structure of an optical disk by using a disk. A method is shown in which a biological sample or particles are attached to the same surface as the surface on which the track shape of an optical disk is formed, and a change in signal is detected using an optical pickup.

特許文献1および特許文献2の方法は、ディスク上に設けられた流路に試料を展開し試薬と反応した結果を蛍光強度や吸光度の変化として検出し、試料に含まれる抗原や抗体の量を測定している。検出方法としてはウェルプレートを用いた方法と原理的に同じであり、溶液中に含まれる標識物質の濃度を蛍光や吸光度で測定している。そのため、定量的な測定が出来る濃度範囲が狭く、濃度の高い試料については数段階に希釈した複数のサンプルを用意する必要があった。一方、低濃度の試料を感度良く検出する方法として特許文献3では光ディスクのフォーカス面にラッテックスビーズや磁気ビーズを結合させて検出する方法が示されているが、光ディスクのフォーカス面には一般的にトラッキング信号を得るためのグルーブまたはピットのような凹凸構造が設けてあり、その凹凸構造の凹部分もしくは凸部分のどちらか一方にのみ標識用ビーズが載置されないとトラッキング信号を乱したり、隣接トラックでのクロストークが発生したりするなど、試料の定量性に問題を与えてしまう。   In the methods of Patent Document 1 and Patent Document 2, the result of developing a sample in a flow path provided on a disk and reacting with a reagent is detected as a change in fluorescence intensity or absorbance, and the amount of antigen or antibody contained in the sample is determined. Measuring. The detection method is the same in principle as the method using a well plate, and the concentration of the labeling substance contained in the solution is measured by fluorescence or absorbance. Therefore, it is necessary to prepare a plurality of samples diluted in several stages for a sample having a narrow concentration range in which quantitative measurement is possible and a high concentration. On the other hand, as a method for detecting a low-concentration sample with high sensitivity, Patent Document 3 discloses a method of detecting a latex bead or magnetic bead on the focus surface of an optical disc. An uneven structure such as a groove or pit for obtaining a tracking signal is provided, and if the bead for labeling is not placed only on either the concave portion or the convex portion of the uneven structure, the tracking signal is disturbed, Problems such as the occurrence of crosstalk between adjacent tracks cause problems in the quantitativeness of the sample.

本発明はこのような問題点に鑑みなされたものであり、分析する試料に含まれる抗原や抗体を高い精度で検出が可能な、試料分析用ディスクを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a sample analysis disk capable of detecting an antigen or antibody contained in a sample to be analyzed with high accuracy.

上記目的を達成するために、第1の発明に係る試料分析用ディスク(100)は、ディスク面におけるグルーブ(107)およびランド(108)からなる溝構造またはピット(109)が設けられた構造を有するトラック領域(105)に固定化された生体高分子が結合している標識用ビーズ(110)を、光学的読み取り手段によって数量を計測するための試料分析用ディスク(100)において、前記溝構造または前記ピット(109)として構成される凹部(120)を構成する面と凸部(121)を構成する面に対して、いずれか一方の面を親水性のある10〜20nm程の表面粗さとし、他方の面を撥水性のある表面粗さとし、前記凹部(120)を構成する面と前記凸部(121)を構成する面において親水性のある表面粗さとしたいずれか一方の面のみに、前記標識用ビーズが固定化されることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the sample analysis disk (100) according to the first aspect of the present invention has a structure provided with a groove structure or pits (109) comprising grooves (107) and lands (108) on the disk surface. In the sample analysis disk (100) for measuring the quantity of the labeling beads (110) to which the biopolymer immobilized on the track region (105) is bonded by an optical reading means, the groove structure Alternatively, with respect to the surface constituting the concave portion (120) configured as the pit (109) and the surface constituting the convex portion (121) , either one of the surfaces has a hydrophilic surface roughness of about 10 to 20 nm. The other surface has water-repellent surface roughness, and the surface that forms the concave portion (120) and the surface that forms the convex portion (121) have hydrophilic surface roughness. Only on one surface or that the labeling beads, characterized in that it is immobilized.

の発明に係る試料分析用ディスク(100)は、第1の発明において、前記固定化される標識用ビーズ(110)の直径Rと、前記グルーブ(107)またはピット(109)の幅Wとの比率R/Wが、0.6≦R/W<1.0の関係を満たすことを特徴とする。 The sample analysis disk (100) according to the second aspect of the present invention is the same as that of the first aspect , wherein the labeling bead (110) to be immobilized has a diameter R and a width W of the groove (107) or pit (109). The ratio R / W satisfies the relationship of 0.6 ≦ R / W <1.0.

の発明に係る試料分析用ディスク(100)は、第1または第2の発明において、前記グルーブ(107)またはピット(109)の幅Wと、前記試料分析用ディスク(100)の半径方向において隣接するグルーブ(107)またはピット(109)との周期Tとの比率W/Tが、0.65≦W/Tの関係を満たすことを特徴とする。 A sample analysis disk (100) according to a third aspect of the present invention is the first or second aspect of the invention, wherein the groove (107) or the pit (109) has a width W and a radial direction of the sample analysis disk (100). The ratio W / T between the adjacent groove (107) or pit (109) and the period T satisfies the relationship of 0.65 ≦ W / T.

本発明の試料分析用ディスクによれば、光ディスクの情報を再生する光学ピックアップと同様の構成で検出が可能であり、装置の小型化、低価格化が可能となるとともに、分析する試料に含まれる抗原や抗体を高い精度で測定することができる。   According to the sample analysis disk of the present invention, detection can be performed with the same configuration as the optical pickup for reproducing information on the optical disk, and the apparatus can be reduced in size and price, and included in the sample to be analyzed. Antigens and antibodies can be measured with high accuracy.

本発明に係る試料分析用ディスクの読み取り装置の概念ブロック図Conceptual block diagram of a sample analysis disk reader according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの構成概念図Configuration conceptual diagram of a sample analysis disk according to the present invention 本発明に係る試料分析用ディスクにおけるトラック領域の断面模式図Schematic cross-sectional view of a track region in a sample analysis disk according to the present invention 本発明に係る試料分析用ディスクにおけるトラック領域の断面模式図Schematic cross-sectional view of a track region in a sample analysis disk according to the present invention 本発明に係る試料分析用ディスクの断面構造とビーズの読み取り状態を表した模式図Schematic diagram showing the cross-sectional structure of the sample analysis disk according to the present invention and the reading state of the beads 試料分析用ディスク上における試料の反応を示す模式図Schematic diagram showing sample reaction on sample analysis disk 試料分析用ディスク上における試料の反応を示す模式図Schematic diagram showing sample reaction on sample analysis disk 試料分析用ディスク上における試料の反応を示す模式図Schematic diagram showing sample reaction on sample analysis disk 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクの製造工程を説明する模式図Schematic diagram illustrating the manufacturing process of the sample analysis disk according to the present invention. 本発明に係る試料分析用ディスクを用いた、標識用ビーズ検出信号例Example of bead detection signal for labeling using sample analysis disk according to the present invention 標識用ビーズ検出信号の比較例Comparison example of labeling bead detection signal

図1は、本発明における試料分析用ディスク100を光学的に読み取り、抗体や抗原の検出を行う読み取り装置1の構成ブロック図である。   FIG. 1 is a configuration block diagram of a reading apparatus 1 that optically reads a sample analysis disk 100 according to the present invention and detects antibodies and antigens.

読み取り装置1の構成は、データやコンテンツ情報が記録された光ディスクを読み取る装置と同一の構成である。読み取り装置1は、スピンドルモータ2、対物レンズ3、アクチュエータ4、ビームスプリッタ5、レーザ発振器6、コリメータレンズ7、集光レンズ8、光検出部9、制御部10を備える。   The configuration of the reading device 1 is the same as that of a device that reads an optical disc on which data and content information are recorded. The reading device 1 includes a spindle motor 2, an objective lens 3, an actuator 4, a beam splitter 5, a laser oscillator 6, a collimator lens 7, a condenser lens 8, a light detection unit 9, and a control unit 10.

制御部10は、回転制御部11、計測部12、フォーカスト・ラッキング制御部13を備える。読み取り装置1の構成は、上記以外にも必要に応じて他の要素を備えてもよい。   The control unit 10 includes a rotation control unit 11, a measurement unit 12, and a focused racking control unit 13. The configuration of the reading device 1 may include other elements as necessary in addition to the above.

スピンドルモータ2は、回転制御部11の制御によって試料分析用ディスク100を所定の回転速度で回転させる。対物レンズ3は、例えば開口数(NA)が0.85の対物レンズであり、レーザ発振器6から出力されたレーザ光を、試料分析用ディスク100の読み取り面に集光させる。   The spindle motor 2 rotates the sample analysis disk 100 at a predetermined rotation speed under the control of the rotation control unit 11. The objective lens 3 is, for example, an objective lens having a numerical aperture (NA) of 0.85, and condenses the laser light output from the laser oscillator 6 on the reading surface of the sample analysis disk 100.

アクチュエータ4は、フォーカスト・ラッキング制御部13の制御によって、レーザ発振器6から出力されたレーザ光を、試料分析用ディスク100の読み取り面に集光させるための調整を行う、例えば2軸のアクチュエータである。ビームスプリッタ5は、レーザ発振器6から出力されたレーザ光を対物レンズ3の方向に反射させるとともに、試料分析用ディスク100からの反射光を光検出部9に導く。   The actuator 4 is, for example, a biaxial actuator that performs adjustment for condensing the laser light output from the laser oscillator 6 on the reading surface of the sample analysis disk 100 under the control of the focused racking control unit 13. is there. The beam splitter 5 reflects the laser light output from the laser oscillator 6 in the direction of the objective lens 3 and guides the reflected light from the sample analysis disk 100 to the light detection unit 9.

レーザ発振器6は、例えばBlu-ray(BD)ディスクの再生用と同一の波長405nmの半導体レーザ発振器である。コリメータレンズ7は、レーザ発振器6から出力されたレーザ光を並行な光束とする。   The laser oscillator 6 is a semiconductor laser oscillator having a wavelength of 405 nm, which is the same as that for reproducing a Blu-ray (BD) disc, for example. The collimator lens 7 converts the laser beam output from the laser oscillator 6 into a parallel light beam.

集光レンズ8は、ビームスプリッタ5より導かれた光を光検出部9に導く。光検出部9は、フォトダイオードであり、試料分析用ディスク100から反射された光の光量に対応する検出信号を計測部12およびフォーカスト・ラッキング制御部13に出力する。   The condenser lens 8 guides the light guided from the beam splitter 5 to the light detection unit 9. The light detection unit 9 is a photodiode, and outputs a detection signal corresponding to the amount of light reflected from the sample analysis disk 100 to the measurement unit 12 and the focused racking control unit 13.

制御部10は、例えばCPU(Central Processing Unit)やDSP(Digital Signal Processor)により構成され、図示しない記憶部等を備える。制御部10は、図示しない操作部による操作に応じた各種制御、光検出部9により出力された検出信号に基づく各種制御等を行う。上記各種制御のうち、本発明の説明に必要な制御として、回転制御部11による制御、計測部12による制御、フォーカスト・ラッキング制御部13による制御がある。回転制御部11、計測部12、フォーカスト・ラッキング制御部13は、制御部10における処理やプログラム等によって実現される。   The control unit 10 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit) and a DSP (Digital Signal Processor), and includes a storage unit (not shown). The control unit 10 performs various controls according to operations by an operation unit (not shown), various controls based on detection signals output from the light detection unit 9, and the like. Among the various controls described above, the control necessary for the description of the present invention includes control by the rotation control unit 11, control by the measurement unit 12, and control by the focused racking control unit 13. The rotation control unit 11, the measurement unit 12, and the focused / racing control unit 13 are realized by processing, a program, and the like in the control unit 10.

回転制御部11は、スピンドルモータ2を制御し、試料分析用ディスク100を所定の回転数で回転させる。計測部12は、光検出部9により出力された検出信号よりRF信号を生成し、生成したRF信号によりグルーブ107やピット109上に固定化された標識用ビーズ110を計数する。   The rotation control unit 11 controls the spindle motor 2 to rotate the sample analysis disk 100 at a predetermined number of rotations. The measurement unit 12 generates an RF signal from the detection signal output from the light detection unit 9, and counts the labeling beads 110 immobilized on the groove 107 and the pit 109 by the generated RF signal.

フォーカスト・ラッキング制御部13は、光検出部9により出力された検出信号よりFE(フォーカスエラー)信号やTE(トラッキングエラー)信号を生成し、生成した各信号の値によって、アクチュエータ4等を制御し、試料分析用ディスク100の読み取り面に集光させる制御や、トラックに追従させる制御を行う。   The focused racking control unit 13 generates an FE (focus error) signal and a TE (tracking error) signal from the detection signal output from the light detection unit 9, and controls the actuator 4 and the like according to the value of each generated signal. Then, control for condensing on the reading surface of the sample analysis disk 100 and control for following the track are performed.

次に、本発明の試料分析用ディスク100の構造について、図2から図4を用いて説明する。図2は、本発明に係る試料分析用ディスク100の概念図である。   Next, the structure of the sample analysis disk 100 of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a conceptual diagram of a sample analysis disk 100 according to the present invention.

試料分析用ディスク100は、例えばCD(Compact Disc)やDVD(Digital Versatile Disc)等と同じ直径の円盤形状であり、素材もポリカーボネートなど同様な素材を用いる。   The sample analysis disc 100 has a disk shape with the same diameter as, for example, a CD (Compact Disc), a DVD (Digital Versatile Disc), and the like, and a similar material such as polycarbonate is used.

試料分析用ディスク100は、内周側に複数の注入孔101を、試料分析用ディスク100の中心に対して回転対称に備えられる。注入孔101は、試料を滴下させるための孔であり、その容積は検査に必要な試料を計量する大きさになっている。   The sample analysis disk 100 is provided with a plurality of injection holes 101 on the inner peripheral side in a rotationally symmetrical manner with respect to the center of the sample analysis disk 100. The injection hole 101 is a hole for dropping a sample, and its volume is sized to measure a sample required for inspection.

また、注入孔101の各々からは滴下された試料が流れる流路102が、試料分析用ディスク100の中心から見て放射状に備えられる。さらに、流路102の各々に接続され、試料分析用ディスク100の外周部に位置する検出領域104が備えられる。また、流路102の一部には、試料に含まれる特定の抗原に対して結合する抗体が修飾された標識用ビーズ110が規定量充填されているビーズ充填部103が備えられる。   In addition, flow paths 102 through which the dropped sample flows from each of the injection holes 101 are provided in a radial pattern when viewed from the center of the sample analysis disk 100. Furthermore, a detection region 104 is provided which is connected to each of the flow paths 102 and located on the outer periphery of the sample analysis disk 100. In addition, a part of the channel 102 is provided with a bead filling unit 103 filled with a predetermined amount of labeling beads 110 modified with an antibody that binds to a specific antigen contained in the sample.

試料分析用ディスク100は、ディスク上で抗原、抗体、標識用ビーズ110などの試料の反応操作を施すエリアを設けるために、MEMS等のプロセスを利用し、流路102を設けることも可能である。   The sample analysis disk 100 can be provided with a flow path 102 by using a process such as MEMS in order to provide an area for performing a reaction operation of a sample such as an antigen, an antibody, and a labeling bead 110 on the disk. .

さらに、試料分析用ディスク100の外周部には、検出領域104を含むように、光ディスクの信号面と同様の構造である、スパイラル状のグルーブ107またはピット109が形成されるトラック領域105が備えられる。トラック領域105にグルーブ107が形成されていることにより、試料分析用ディスク100の読み取り面には、図3Aに示すように、溝となるグルーブ107とランド108とが存在する。また、トラック領域105にピット109が形成されている場合は、図3Bに示すように、スパイラル状にピット109が形成されている。   Furthermore, a track area 105 having a spiral groove 107 or pit 109 having a structure similar to that of the signal surface of the optical disk is provided on the outer periphery of the sample analysis disk 100 so as to include the detection area 104. . Since the groove 107 is formed in the track region 105, the groove 107 and the land 108 serving as a groove exist on the reading surface of the sample analysis disk 100 as shown in FIG. 3A. When the pit 109 is formed in the track area 105, the pit 109 is formed in a spiral shape as shown in FIG. 3B.

このため、図3Aにおいては、グルーブ107が凹部120であり、ランド108が凸部121である。また、図3Bにおいては、ピット109が凹部120であり、ピット109以外が凸部121となる。   Therefore, in FIG. 3A, the groove 107 is the concave portion 120 and the land 108 is the convex portion 121. In FIG. 3B, the pit 109 is a concave portion 120 and the portions other than the pit 109 are convex portions 121.

図4は、試料分析用ディスク100の断面構造と標識用ビーズ110の読み取り状態を表した模式図である。試料分析用ディスク100の内周側には、深さ100μmから500μmの流路102が形成されており、分析対象の試料が通過する流路102の一部に特定の抗体が修飾された標識用ビーズ110が充填されているビーズ充填部103が備えられる。   FIG. 4 is a schematic diagram showing the cross-sectional structure of the sample analysis disk 100 and the reading state of the labeling beads 110. A flow path 102 having a depth of 100 μm to 500 μm is formed on the inner peripheral side of the sample analysis disk 100, and for labeling in which a specific antibody is modified in a part of the flow path 102 through which the sample to be analyzed passes. A bead filling unit 103 filled with beads 110 is provided.

抗原−抗体反応は溶液中で抗原と抗体が接触することで反応し標識用ビーズ110と分析対象の抗原が結合する。一般にイムノアッセイで対象としている抗原の溶液中の濃度は非常に薄い。そのため流路102の大きさを小さくし、狭い領域に多くの標識用ビーズ110を充填し反応効率を上げることで短時間に標識用ビーズ110と結合するようにする。   The antigen-antibody reaction reacts when the antigen and the antibody come into contact with each other in the solution, and the labeling beads 110 and the antigen to be analyzed bind. In general, the concentration of an antigen targeted in an immunoassay in a solution is very low. Therefore, the size of the flow path 102 is reduced, and a large number of labeling beads 110 are filled in a narrow region to increase the reaction efficiency, so that the labeling beads 110 are bound in a short time.

ビーズ充填部103において試料と反応した標識用ビーズ110は試料分析用ディスク100の回転による遠心力でさらに外側の領域に流れ検出領域104に展開される。検出領域104は光ディスクと同様にグルーブ107やピット109が設けられている。BDの場合、厚さ0.1mmの保護層106を通して信号を読み取るように規格が定められている。一般的なBD用光ピックアップの対物レンズ3は、保護層106までの距離(作動距離)が0.3mmから0.4mm程度で設計されているものが多い。よって、装置の設計余裕を考慮すると流路102の深さに対して検出領域104で試料が展開される厚さ方向のスペースは薄くすることが好ましい。   The labeling beads 110 that have reacted with the sample in the bead filling unit 103 flow further to the outer region by the centrifugal force generated by the rotation of the sample analysis disk 100 and are developed in the detection region 104. In the detection area 104, grooves 107 and pits 109 are provided as in the optical disc. In the case of BD, a standard is set so that a signal is read through a protective layer 106 having a thickness of 0.1 mm. The objective lens 3 of a general BD optical pickup is often designed with a distance (working distance) to the protective layer 106 of about 0.3 mm to 0.4 mm. Therefore, in consideration of the design margin of the apparatus, it is preferable to make the space in the thickness direction in which the sample is developed in the detection region 104 with respect to the depth of the flow path 102 thinner.

また標識用ビーズ110を1個ずつ計数するために、流路102に充填されている標識用ビーズ110が厚さ方向に重ならない十分な面積となる必要がある。検出領域104の面積は、流路102に充填された標識用ビーズ110の個数と標識用ビーズ110の直径から決まる面積を掛けた面積よりも、グルーブ107もしくはピット109の面積が大きくなるように作られている。標識用ビーズ110に磁気ビーズを使用した場合には、磁気によりグルーブ107やピット109の形成された面に標識用ビーズ110を誘導することで反応時間を短縮することも出来る。   Further, in order to count the labeling beads 110 one by one, it is necessary that the labeling beads 110 filled in the flow channel 102 have a sufficient area that does not overlap in the thickness direction. The area of the detection region 104 is set so that the area of the groove 107 or the pit 109 is larger than the area obtained by multiplying the area determined by the number of the labeling beads 110 filled in the flow path 102 and the diameter of the labeling beads 110. It has been. When magnetic beads are used as the labeling beads 110, the reaction time can be shortened by guiding the labeling beads 110 to the surface on which the grooves 107 and pits 109 are formed by magnetism.

試料分析用ディスク100の構造がグルーブ構造の場合、検出領域104に捕捉されている標識用ビーズ110の位置を、対物レンズ3により集光されたスポット光が通過した場合、反射した反射光の位相が変化し、光検出部9で得られる検出信号の光量が変化する。標識用ビーズ110の直径がBDの最短ピット長とほぼ等しい場合、トラック上に標識用ビーズ110が1個から検出することが出来る。   When the sample analysis disk 100 has a groove structure, when the spot light collected by the objective lens 3 passes through the position of the labeling bead 110 captured in the detection region 104, the phase of the reflected light reflected. Changes, and the amount of light of the detection signal obtained by the light detector 9 changes. When the diameter of the labeling bead 110 is substantially equal to the shortest pit length of the BD, it is possible to detect from one labeling bead 110 on the track.

標識用ビーズ110を検出した位置は試料分析用ディスク100の検出領域104、すなわちグルーブ107やピット109を持つ部分で流路102と接続していない部分に、予めアドレス信号として記録しておくことで半径方向とトラック方向の情報を得ることが出来る。   The position where the labeling beads 110 are detected is recorded in advance as an address signal in the detection area 104 of the sample analysis disk 100, that is, the portion having the groove 107 and the pit 109 and not connected to the flow path 102. Information on the radial direction and the track direction can be obtained.

その他の方法として、グルーブ構造の場合はグルーブ107をカッティングする際にディスクの半径方向にうねりを生じるように試料分析用ディスク100を製作し、その変動をTE信号から検出して、周波数からディスク上のアドレスを計算する方法であるウォブル検出を利用しても良い。   As another method, in the case of the groove structure, the sample analysis disk 100 is manufactured so that undulation is generated in the radial direction of the disk when the groove 107 is cut, the fluctuation is detected from the TE signal, and the frequency is measured from the disk. Wobble detection, which is a method for calculating the address, may be used.

また、信号面にBD―RやBD−RWのような記録型または追記型のディスクと同様な相変化材料や色素材料を用いることで情報を追記することも可能である。例えば滴下した試料のIDナンバーを追記することで、装置から一旦試料分析用ディスク100を取り出し、再び分析のために装置で読み取る場合の試料の特定に利用する。また、すでに利用済みの試料分析用ディスク100に誤って別の試料を滴下してしまうことを防止することが出来る。   In addition, information can be additionally recorded on the signal surface by using a phase change material or a dye material similar to that of a recording or write-once disc such as BD-R or BD-RW. For example, by adding the ID number of the dropped sample, the sample analysis disk 100 is once taken out from the apparatus and used for specifying the sample when it is read again by the apparatus for analysis. Further, it is possible to prevent another sample from being accidentally dropped onto the sample analysis disk 100 that has already been used.

次に、本発明の試料分析用ディスク100を用いた、分析用試料の分析について、図5および図6に基づき説明する。   Next, analysis of an analysis sample using the sample analysis disk 100 of the present invention will be described with reference to FIGS.

注入孔101より試料が注入され、読み取り装置1によって試料分析用ディスク100を回転させると滴下された試料は遠心力により抗原−抗体反応のための流路102に導かれる。流路102につながる部分には試料に含まれる特定の抗原に対して結合する抗体が修飾された標識用ビーズ110が規定量充填されている。   When a sample is injected from the injection hole 101 and the sample analysis disk 100 is rotated by the reader 1, the dropped sample is guided to the flow path 102 for antigen-antibody reaction by centrifugal force. A portion connected to the flow path 102 is filled with a predetermined amount of a labeling bead 110 modified with an antibody that binds to a specific antigen contained in the sample.

標識用ビーズ110は直径が100nmから1μm程度の大きさのポリマー粒子、または内部にフェライト等の磁性材料を含む磁気ビーズ等を用いる。また、金コロイドなどの金属微粒子やシリカビーズ等を用いることも可能である。標識用ビーズ110の直径は、標識用ビーズ110の直径は、検出に利用する光学系により最適な大きさが決定する。光学的解像限界dは使用するレーザの波長λと、対物レンズの開口数NAから、次式のように表すことができる。

Figure 0005899908
As the labeling beads 110, polymer particles having a diameter of about 100 nm to 1 μm, or magnetic beads containing a magnetic material such as ferrite inside are used. It is also possible to use metal fine particles such as gold colloid or silica beads. As for the diameter of the labeling bead 110, the optimum size of the diameter of the labeling bead 110 is determined by the optical system used for detection. The optical resolution limit d can be expressed by the following equation from the wavelength λ of the laser used and the numerical aperture NA of the objective lens.
Figure 0005899908

光学系を限定しなければこの範囲ではないが、現在一般に普及している光ディスクの中で、もっとも高解像度のものはBlu−ray Disc(BD)で波長405nmの半導体レーザの光を開口数(NA)0.85の対物レンズでディスク上にスポットを集光させることができる。BDの信号の最短ピット長は約150nmである。したがって、BDの光学系を利用する場合には、上記光学的解像限界dを表す式より、標識用ビーズの大きさは直径およそ120nm程度の大きさまで信号として検出することが出来る。既存の光ディスクのドライブ、特に光ピックアップに利用されている部品を利用することが出来れば、現在高額な分析装置と同等もしくはそれ以上の高精度な生体高分子が測定(検出)できる分析装置を非常に安価に製造することが出来るという利点がある。   Although this range is not required unless the optical system is limited, the optical disc having the highest resolution among optical discs currently in widespread use is a Blu-ray Disc (BD) that emits light from a semiconductor laser having a wavelength of 405 nm. ) The spot can be condensed on the disk with an objective lens of 0.85. The shortest pit length of the BD signal is about 150 nm. Therefore, when a BD optical system is used, the size of the labeling bead can be detected as a signal having a diameter of about 120 nm from the above-described equation representing the optical resolution limit d. An analyzer that can measure (detect) highly accurate biopolymers equivalent to or higher than that of currently expensive analyzers if the components used in existing optical disk drives, especially optical pickups, can be used. There is an advantage that it can be manufactured inexpensively.

また、標識用ビーズ110の表面には試料に含まれる抗原200と特異的に結合する抗体210をあらかじめ結合させておく。抗体210の種類には様々なものがあり、例えばB型肝炎の検査の場合には血液中に含まれるHBs抗原と特異的に結合するHBsAgモノクローナル抗体を修飾しておく。修飾する抗体210の種類は検出する抗原200の種類にあわせ特異的に結合するものを選択する。   An antibody 210 that specifically binds to the antigen 200 contained in the sample is bound to the surface of the labeling bead 110 in advance. There are various types of antibodies 210. For example, in the case of testing for hepatitis B, an HBsAg monoclonal antibody that specifically binds to an HBs antigen contained in blood is modified. The type of antibody 210 to be modified is selected to specifically bind to the type of antigen 200 to be detected.

流路102中で抗体210が修飾された標識用ビーズ110と試料が混合されると、試料に含まれる抗原200が標識用ビーズ110の表面に修飾された抗体210と結合し、標識用ビーズ110、抗体210、抗原200の複合物が形成される。   When the sample is mixed with the labeling bead 110 modified with the antibody 210 in the channel 102, the antigen 200 contained in the sample binds to the antibody 210 modified on the surface of the labeling bead 110, and the labeling bead 110. , A complex of antibody 210 and antigen 200 is formed.

この段階で溶液中には試料に含まれる抗原200の量に応じて、抗原200と抗体210が反応した複合物の標識用ビーズ110と、抗原200と反応していない標識用ビーズ110が一定の割合で存在している。さらに試料分析用ディスク100の遠心力により、流路102で反応した溶液を外周部の検出領域104に展開させる。   At this stage, depending on the amount of the antigen 200 contained in the sample, the labeling beads 110 of the complex in which the antigen 200 and the antibody 210 have reacted and the labeling beads 110 that have not reacted with the antigen 200 are constant. Present in proportion. Further, due to the centrifugal force of the sample analysis disk 100, the solution reacted in the flow channel 102 is developed in the detection region 104 in the outer peripheral portion.

検出領域104は、流路102の底面が接する面が、光ディスクの信号面と同様に、スパイラル状のグルーブ構造またはピット構造となっている。グルーブ構造の場合、グルーブ107の幅は標識として使用する標識用ビーズ110の直径とほぼ同じ幅になっている。また、ピット構造の場合は、各ピット109の幅が標識用ビーズ110の直径とほぼ同じ幅になっていることが好ましい。   The detection area 104 has a spiral groove structure or a pit structure in the same manner as the signal surface of the optical disk at the surface where the bottom surface of the flow path 102 contacts. In the case of the groove structure, the width of the groove 107 is substantially the same as the diameter of the labeling bead 110 used as the label. In the case of a pit structure, it is preferable that the width of each pit 109 is substantially the same as the diameter of the marker bead 110.

グルーブ107もしくはピット109の幅に対して、標識用ビーズ110の直径に小さく例えば半分以下の直径である場合、グルーブ107内に複数個の標識用ビーズ110が凝集して固定化され、試料を精度良く検出することが困難となってしまう。そのため、グルーブ107もしくはピット109の幅は、標識用ビーズ110の大きさと同じかそれ以下が好ましく、標識用ビーズ110が2個以上固定化しないためには、標識用ビーズ110の大きさは、グルーブ107もしくはピット109の幅に対して、最低でも半分以上である必要がある。好ましくは、標識用ビーズ110の直径(大きさ)Rと基板表面上の微細凹凸周期構造であるグルーブ107またはピット109の幅Wの比率R/Wが、以下の式に示される関係を満たす必要がある。

Figure 0005899908
If the diameter of the labeling bead 110 is smaller than the diameter of the groove 107 or the pit 109, for example, less than half the diameter, the plurality of labeling beads 110 are aggregated and fixed in the groove 107, and the sample is accurately It becomes difficult to detect well. Therefore, the width of the groove 107 or the pit 109 is preferably equal to or smaller than the size of the labeling bead 110. In order not to immobilize two or more labeling beads 110, the size of the labeling bead 110 should be The width of 107 or pit 109 needs to be at least half or more. Preferably, the ratio R / W of the diameter (size) R of the labeling bead 110 and the width W of the groove 107 or the pit 109 which is a fine uneven periodic structure on the substrate surface needs to satisfy the relationship represented by the following formula: There is.
Figure 0005899908

反対に標識用ビーズ110の直径が、グルーブ107またはピット109の幅よりも大きい場合、標識用ビーズ110がグルーブ107またはピット109からはみ出す形となるため、トラッキング信号を乱したり、隣接トラックでのクロストークが発生したりするなど、試料の定量性に問題を与えてしまう。   On the other hand, when the diameter of the labeling bead 110 is larger than the width of the groove 107 or the pit 109, the labeling bead 110 protrudes from the groove 107 or the pit 109. Problems such as the occurrence of crosstalk and the quantitative properties of the sample.

更には、例えばピペット等で試料を滴下させただけの場合、ランド108の部分にも標識用ビーズ110が固定化されてしまうため、クロストーク成分が発生して精度良く計測することが困難となってしまう。このため、ランド108に標識用ビーズ110が固定化されないような、ランド108とグルーブ107の幅の比率、もしくはピット109の幅についても配慮し、グルーブ107もしくはピット109の内部にのみ標識用ビーズ110が固定化される必要がある。   Furthermore, for example, when the sample is simply dropped with a pipette or the like, the labeling beads 110 are also immobilized on the land 108, so that a crosstalk component is generated and it is difficult to measure accurately. End up. Therefore, considering the ratio of the width of the land 108 and the groove 107 or the width of the pit 109 so that the labeling bead 110 is not fixed to the land 108, the labeling bead 110 is placed only in the groove 107 or the pit 109. Need to be fixed.

良好なTE信号を得るためには、一般的にランドグルーブ比(ランド108とグルーブ107の幅の比率)は0.5程度が良いとされているが、トラッキング誤差信号を損ねない範囲内でランドグルーブ比が大きい方が好ましい。好ましくは、基板表面上の微細凹凸周期構造であるグルーブ107またはピット109の幅Wと、グルーブ107またはピット109の周期Tの比率W/Tが、以下の式の関係を満たす必要がある。

Figure 0005899908
In order to obtain a good TE signal, the land / groove ratio (ratio of the width between the land 108 and the groove 107) is generally set to about 0.5, but the land / groove ratio is within a range that does not impair the tracking error signal. A larger groove ratio is preferred. Preferably, the ratio W / T of the groove 107 or pit 109, which is a fine uneven periodic structure on the substrate surface, and the period T of the groove 107 or pit 109 needs to satisfy the relationship of the following equation.
Figure 0005899908

グルーブ107またはピット109の深さは、TE信号の出力に最適な深さ(一般的にはλ/8程度)とするのが好ましいが、用いる標識用ビーズ110の大きさと出力(検出)信号の関係や、試料分析用ディスク100の表面におけるキズやゴミとの信号を区別するなどの観点から、最適な信号レベルが得られる深さにすればよく、この限りではない。   The depth of the groove 107 or the pit 109 is preferably the optimum depth (generally about λ / 8) for the output of the TE signal, but the size of the labeling beads 110 to be used and the output (detection) signal. The depth may be set to an optimum signal level from the viewpoint of the relationship and the signal from scratches and dust on the surface of the sample analysis disk 100, and the present invention is not limited to this.

これらの検出領域104には、標識用ビーズ110の表面に修飾したものと同じ種類の抗体210がシランカップリング等の方法で固定されている。検出領域104に展開された溶液に含まれている抗原200、すなわち流路102の中で抗体210が修飾された標識用ビーズ110と反応した複合物は、さらに検出領域104に固定されている抗体210と結合し、標識用ビーズ110、抗体210、抗原200、固相化抗体によるサンドイッチ型の複合物を形成し、検出領域104の基板上に固定化される。抗原200と反応していない標識用ビーズ110は、検出領域104にとどまらず、遠心力によりさらにディスク外周送られ、検出領域104の外に排出される。   In these detection regions 104, an antibody 210 of the same type as that modified on the surface of the labeling bead 110 is fixed by a method such as silane coupling. The antigen 200 contained in the solution developed in the detection region 104, that is, the complex that has reacted with the labeling beads 110 modified with the antibody 210 in the flow channel 102 is further immobilized on the detection region 104. 210 is bound to form a sandwich-type complex of the labeling bead 110, the antibody 210, the antigen 200, and the immobilized antibody, and is immobilized on the substrate of the detection region 104. The labeling beads 110 that have not reacted with the antigen 200 are not limited to the detection area 104 but are further fed to the outer periphery of the disk by centrifugal force, and are discharged out of the detection area 104.

グルーブ107のみに固定化された標識用ビーズ110の反応速度を早めたり、検出精度を向上させるために、標識用ビーズ110の内部にフェライトなどの磁性体材料を用いて、試料分析用ディスク100の外部または内部より磁気操作を行うことも可能である。   In order to speed up the reaction speed of the labeling beads 110 immobilized only on the groove 107 or improve the detection accuracy, a magnetic material such as ferrite is used inside the labeling beads 110, so that the sample analysis disk 100 can be used. It is also possible to perform a magnetic operation from outside or inside.

図5は試料分析用ディスク100上で、抗原200と抗体210が反応した後の複合物の構成を模式的に表した図である。図5Aは、ウェルプレートで行われるのと同様の抗原−抗体反応を利用したサンドイッチ法による原理により、試料に含まれる抗原200に計測可能な標識である標識用ビーズ110が付けられた状態で、検出領域104に固定されていることになる。サンドイッチ法は検出対象の絶対量に対して出力がリニアに得られることから定量測定が行いやすい方法として多く用いられている。固定化の方法はこれに限らず、競合法など他の方法を用いることも出来る。   FIG. 5 is a diagram schematically showing the structure of the composite after the antigen 200 and the antibody 210 react on the sample analysis disk 100. FIG. 5A shows a state in which a labeling bead 110 that is a measurable label is attached to an antigen 200 contained in a sample according to a principle based on a sandwich method using an antigen-antibody reaction similar to that performed in a well plate. It is fixed to the detection area 104. The sandwich method is often used as a method that facilitates quantitative measurement because an output is obtained linearly with respect to the absolute amount of a detection target. The immobilization method is not limited to this, and other methods such as a competition method can also be used.

また、検出対象が抗原200ではなく抗体210の場合には、図5Bに示すように、抗体210に特異的に結合する抗原200を検出領域104に固定化しておき、二次抗体211により標識用ビーズ110を結合させる方法によって、抗原200の検出と同様にサンドイッチ法による測定を行うことが出来る。   When the detection target is not the antigen 200 but the antibody 210, as shown in FIG. 5B, the antigen 200 that specifically binds to the antibody 210 is immobilized on the detection region 104 and labeled with the secondary antibody 211. By the method of binding the beads 110, the measurement by the sandwich method can be performed similarly to the detection of the antigen 200.

図6は、試料分析用ディスク100の半径方向に対して異なる抗体をつけた場合の検出領域104の説明をするものである。分析対象の試料に含まれる複数の抗原200A〜200Cに対して特異的に結合するモノクローナル抗体212を試料分析用ディスク100のトラックを複数の領域に分けて固定してある。   FIG. 6 illustrates the detection region 104 when different antibodies are attached to the radial direction of the sample analysis disk 100. A monoclonal antibody 212 that specifically binds to a plurality of antigens 200A to 200C contained in a sample to be analyzed is fixed by dividing the track of the sample analysis disk 100 into a plurality of regions.

標識用ビーズ110には、複数の抗原に結合するポリクローナル抗体213が修飾されている。検出領域104に展開された標識用ビーズ110は、半径位置に応じて異なる抗原と反応し、グルーブ107またはピット109に結合する。   The labeling beads 110 are modified with a polyclonal antibody 213 that binds to a plurality of antigens. The labeling beads 110 developed in the detection region 104 react with different antigens depending on the radial position, and bind to the groove 107 or the pit 109.

通常、蛍光や酵素反応により複数の抗原を同時に検出するためには、複数の標識を利用して、蛍光波長の違いや発色の違いを検出しているが、その場合は複数の波長の光源や波長フィルターと光検出器の組み合わせが必要となる。図6に示した手法は、試料分析用ディスク100の半径位置をアドレスから得ることにより、同じ検出方法で複数の抗原をほぼ同時に計測することが出来る。さらに、複数の抗原の含まれる比率から、統計的に疾病の可能性を判定するような分析方法の場合にも、同一試料を同じ条件で測定することが出来、別々に計測した場合の誤差に比べ測定ばらつきを小さくすることが可能となる。   Usually, in order to detect multiple antigens simultaneously by fluorescence or enzymatic reaction, multiple labels are used to detect differences in fluorescence wavelength or color development. A combination of wavelength filter and photodetector is required. The technique shown in FIG. 6 can measure a plurality of antigens almost simultaneously by the same detection method by obtaining the radial position of the sample analysis disk 100 from the address. In addition, even in the case of analysis methods that statistically determine the possibility of disease from the ratio of multiple antigens, the same sample can be measured under the same conditions, and errors when measured separately In comparison, it is possible to reduce measurement variations.

次に、本発明の試料分析用ディスク100の製造方法について、図7Aから図7Gを用いて説明する。本発明の試料分析用ディスク100は、CD、DVDなどと類似の方法で作製される。   Next, a method for manufacturing the sample analysis disk 100 of the present invention will be described with reference to FIGS. 7A to 7G. The sample analysis disk 100 of the present invention is manufactured by a method similar to that for CDs, DVDs, and the like.

先ず、図7Aに示すように、光学研磨が施され、洗浄し十分に乾燥させた円盤状の基板501に対し、マグネトロンスパッタ等により膜厚が10nm〜100nm程度の無機レジスト膜502を成膜する。基板501としては、石英ガラス基板またはシリコンウエハー基板を使用することができる。特にシリコンウエハー基板は、半導体分野で使用されており、十分に研磨及び洗浄された状態で入手が可能であり、石英ガラスに比べ表面が平滑性と洗浄度とが高い。さらに、シリコンウエハー基板は導電性を有するため、スタンパを作製する際に別途導電膜を形成する必要が無いため好適である。   First, as shown in FIG. 7A, an inorganic resist film 502 having a thickness of about 10 nm to 100 nm is formed by magnetron sputtering or the like on a disc-shaped substrate 501 that has been optically polished, washed and sufficiently dried. . As the substrate 501, a quartz glass substrate or a silicon wafer substrate can be used. In particular, a silicon wafer substrate is used in the semiconductor field, and can be obtained in a sufficiently polished and cleaned state, and has a higher surface smoothness and cleanliness than quartz glass. Furthermore, since the silicon wafer substrate has conductivity, it is preferable that a separate conductive film need not be formed when the stamper is manufactured.

次に、図7Bに示すように、基板501上に形成された無機レジスト膜502に対し、DVD等の既存の露光装置等で用いられるような波長400nm程度のレーザ光504を、開口数NAが0.9程度の対物レンズ505で集光させることによって入力情報信号に基づいて露光を行い、所望の潜像パターン503を形成する。   Next, as shown in FIG. 7B, laser light 504 having a wavelength of about 400 nm as used in an existing exposure apparatus such as a DVD is applied to the inorganic resist film 502 formed on the substrate 501 with a numerical aperture NA. By condensing with an objective lens 505 of about 0.9, exposure is performed based on the input information signal to form a desired latent image pattern 503.

次に、図7Cに示すように、基板501上の無機レジスト膜502に形成された潜像パターン503に対し現像を行い、潜像パターン503を除去しレジストパターン506を形成する。ここで、現像の際に用いられる現像液としては、主としてアルカリ性の現像液を用いる。   Next, as shown in FIG. 7C, development is performed on the latent image pattern 503 formed on the inorganic resist film 502 on the substrate 501, and the latent image pattern 503 is removed to form a resist pattern 506. Here, as the developer used in the development, an alkaline developer is mainly used.

無機レジスト膜502としては、露光に使用するレーザ光504の波長における露光感度が高いタングステン(W)の酸化物が用いられる。タングステン(W)の酸化物の一種であるWO2は室温で安定であり、過熱することによりWO3となる。スパッタリング法で形成されたWO2はアモルファス構造であり、レーザ光504で露光されることにより加熱され結晶構造のWO3となることで、現像液に用いられるアルカリ溶液に可溶となる。 As the inorganic resist film 502, an oxide of tungsten (W) having high exposure sensitivity at the wavelength of the laser beam 504 used for exposure is used. WO 2 which is a kind of oxide of tungsten (W) is stable at room temperature, and becomes WO 3 when heated. WO 2 formed by a sputtering method has an amorphous structure and is heated by being exposed to a laser beam 504 to become WO 3 having a crystal structure, so that it becomes soluble in an alkaline solution used as a developer.

次に、図7Dに示すように、基板501上に形成されたレジストパターン506をマスクとして、基板501の露出部をドライエッチングすることにより基板501に直接エッチングパターン507を形成する。エッチングガスとして、CF4、CHF3、C38、C48等のフルオロカーボン系ガスを用いることにより、レジストパターン504に対して基板501のエッチングレートを高くすることができ、選択比の大きなエッチングかできる。 Next, as shown in FIG. 7D, an etching pattern 507 is formed directly on the substrate 501 by dry etching the exposed portion of the substrate 501 using the resist pattern 506 formed on the substrate 501 as a mask. By using a fluorocarbon gas such as CF 4 , CHF 3 , C 3 F 8 , and C 4 F 8 as an etching gas, the etching rate of the substrate 501 can be increased with respect to the resist pattern 504, and the selectivity ratio can be increased. Big etching can be done.

特に、基板501に石英ガラスを用いて、フロロカーボン系ガスとしてCHF3を用いたエッチングは、図7Dにおける下方向へのエッチングレートが、左右方向へのエッチングレート比べ大きな異方性エッチングを行うことができるため、円盤状の基板501のディスク半径方向におけるエッチングパターン507の断面形状は矩形に近い形となり、凹凸形状の側面は円盤状の基板501の板面に対して概ね直交した状態となる。更に、エッチングによって凹凸形状を形成するため、従来レジスト膜の膜厚で規定されていた凹凸形状の深さが、エッチング条件により制御可能であり、深い溝の形成も可能である。 In particular, etching using CHF 3 as the fluorocarbon-based gas using quartz glass for the substrate 501 can perform anisotropic etching in which the etching rate in the downward direction in FIG. 7D is larger than the etching rate in the horizontal direction. Therefore, the cross-sectional shape of the etching pattern 507 in the disk radial direction of the disk-shaped substrate 501 is nearly rectangular, and the side surface of the concavo-convex shape is substantially orthogonal to the plate surface of the disk-shaped substrate 501. Furthermore, since the concavo-convex shape is formed by etching, the depth of the concavo-convex shape, which has been conventionally defined by the film thickness of the resist film, can be controlled by the etching conditions, and deep grooves can be formed.

このエッチング工程で用いるフルオロカーボン系ガスに微量の水素ガスを添加することによりエッチングの際に生成されるラジカルポリマーの量を増やすことができ、凹凸構造の凹部120と凸部121で異なる表面粗さとすることが出来る。結果として、図7Dで示したエッチングパターン507の表面粗さを大きくすることができ、凹部120を凸部121よりも親水性のある表面粗さとすることが出来る。   By adding a small amount of hydrogen gas to the fluorocarbon-based gas used in this etching step, the amount of radical polymer generated during etching can be increased, and the surface roughness of the concave and convex portions 120 and 121 of the concavo-convex structure is different. I can do it. As a result, the surface roughness of the etching pattern 507 shown in FIG. 7D can be increased, and the concave portion 120 can be made more hydrophilic than the convex portion 121.

エッチング工程で添加する水素の量により表面粗さをコントロールすることができ、特に本実施例のように親水性のある表面粗さとする場合、10〜20nm程の表面粗さが最適である。表面粗さが30nm以上となるとトラッキング信号および検出信号のノイズが増え測定精度に影響を与えてしまう。   The surface roughness can be controlled by the amount of hydrogen added in the etching step. Particularly when the surface roughness is hydrophilic as in this embodiment, the surface roughness of about 10 to 20 nm is optimal. If the surface roughness is 30 nm or more, the noise of the tracking signal and the detection signal increases, which affects the measurement accuracy.

次に、図7Eに示すように、基板501上に形成されたレジストパターン506に対して、フロロカーボン系ガスを用いて、フロロカーボン系ガス雰囲気下で電圧を印加して等方的にレジストパターンのアッシングおよびトリミングを行い、レジストパターン506の除去、及び表面の粗度を低減し、入力情報信号に基づいたエッチングパターン507を有する円盤状の原盤508を得る。   Next, as shown in FIG. 7E, the resist pattern 506 formed on the substrate 501 is isotropically ashed by applying a voltage in a fluorocarbon-based gas atmosphere using a fluorocarbon-based gas. Then, trimming is performed to remove the resist pattern 506 and reduce the roughness of the surface, thereby obtaining a disk-shaped master 508 having an etching pattern 507 based on the input information signal.

ここで、フロロカーボン系ガスとしては、CF4、CHF3、C38、C48等を用いる。特に、CF4は、等方性エッチングを行いやすいため、エッチングガスとして好適である。 Here, CF 4 , CHF 3 , C 3 F 8 , C 4 F 8 or the like is used as the fluorocarbon-based gas. In particular, CF 4 is suitable as an etching gas because it is easy to perform isotropic etching.

図7Fに示すように、円盤状の光ディスクの原盤508の凹凸形状が形成された面に対してスパッタリング法により厚さ50〜200nmのNi膜を形成した後、電鋳法により、厚さ100〜500μmのNiメッキ膜を形成することにより、原盤508に形成されているエッチングパターン507を転写して凸凹形状を有する円盤状のスタンパ509を作製する。   As shown in FIG. 7F, after a Ni film having a thickness of 50 to 200 nm is formed by sputtering on the surface of the disc-shaped optical disc master 508 on which the uneven shape is formed, a thickness of 100 to 100 nm is formed by electroforming. By forming a Ni plating film of 500 μm, the etching pattern 507 formed on the master disk 508 is transferred to produce a disk-shaped stamper 509 having an uneven shape.

スタンパ509に形成される凸凹形状は、原盤508に形成されているエッチングパターン507と凹凸が逆の関係になる。次に、図7(g)に示すように、凸凹形状を有する円盤状のスタンパ509を射出成型機(図示せず)に装着して、射出成型法により、内周から外周に向かって、或いは外周から内周に向かって入力情報信号に基づいたグルーブ107またはピット109が螺旋状に形成された凹凸形状を有する円盤状の試料分析用ディスク100を成形する。上記射出成形を繰り返すことにより、試料分析用ディスク100を大量に複製することができる。   The uneven shape formed on the stamper 509 has an inverse relationship between the unevenness and the etching pattern 507 formed on the master 508. Next, as shown in FIG. 7 (g), a disc-shaped stamper 509 having an uneven shape is mounted on an injection molding machine (not shown), and from the inner periphery to the outer periphery, or by the injection molding method. A disk-shaped sample analysis disk 100 having an uneven shape in which grooves 107 or pits 109 are formed in a spiral shape based on an input information signal from the outer periphery toward the inner periphery is formed. By repeating the injection molding, the sample analysis disk 100 can be replicated in large quantities.

次に、本発明における試料分析用ディスク100を、本発明の製造方法に基づいて製造し、試料を分析した実施例について説明する。   Next, an example in which the sample analysis disk 100 according to the present invention is manufactured based on the manufacturing method of the present invention and the sample is analyzed will be described.

先ず、図7Aに示すように、表面研磨を施し洗浄及び乾燥を行った石英ガラスからなる基板501に対し、マグネトロンスパッ夕方式によりタングステン(W)の合金ターゲットを用いて、アルゴン44sccm、酸素6sccmを導入して反応性スパッタリングを行い、無機レジスト膜502として膜厚が50nmであるアモルファス構造の無機レジスト膜502を形成した。   First, as shown in FIG. 7A, argon (44 sccm) and oxygen (6 sccm) are applied to a substrate 501 made of quartz glass that has been subjected to surface polishing, washed, and dried using a tungsten (W) alloy target by a magnetron sputtering method. Introducing and performing reactive sputtering, an inorganic resist film 502 having an amorphous structure with a thickness of 50 nm was formed as the inorganic resist film 502.

次に、図7Bに示すように、石英ガラス製の基板501上に形成されたアモルファス構造の無機レジスト膜502に対し、波長405nmの半導体レーザによるレーザ光504と、NA=0.90の対物レンズ505を有する回転一軸系の露光装置を用いて、線速度5.0m/sの速さで露光を行い、トラックピッチ320nmの等幅のグルーブ107とランド108が連続したパターンであるランドグルーブ形状の潜像パターン503を形成した。アモルファス構造の無機レジスト膜502の露光された潜像パターン503の領域は結晶状態に変化する。レーザ光504の発光パターンを制御することにより、ピット形状やランダム変調信号などランドグルーブ形状以外の任意の潜像パターン503を形成することができる。   Next, as shown in FIG. 7B, a laser beam 504 by a semiconductor laser with a wavelength of 405 nm and an objective lens with NA = 0.90 are applied to the amorphous inorganic resist film 502 formed on the quartz glass substrate 501. The exposure is performed at a linear velocity of 5.0 m / s using a rotating uniaxial exposure apparatus 505, and the land groove shape is a pattern in which a groove 107 having a track width of 320 nm and a land 108 are continuous. A latent image pattern 503 was formed. The exposed latent image pattern 503 region of the amorphous inorganic resist film 502 changes to a crystalline state. By controlling the light emission pattern of the laser beam 504, an arbitrary latent image pattern 503 other than the land groove shape such as a pit shape or a random modulation signal can be formed.

次に、図7Cに示すように、石英ガラス製の基板501上に形成された潜像パターン503に対し、現像をおこなった。現像は、アルカリ性であるテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド溶液(濃度2.38wt%)を現像液として用い、潜像パターン503が形成された石英ガラス製の基板501を室温で20分間液侵して、潜像パターン503を除去することによりレジストパターン506を形成した。   Next, as shown in FIG. 7C, the latent image pattern 503 formed on the quartz glass substrate 501 was developed. The development uses an alkaline tetramethylammonium hydroxide solution (concentration: 2.38 wt%) as a developing solution. The quartz glass substrate 501 on which the latent image pattern 503 is formed is immersed at room temperature for 20 minutes to form a latent image. A resist pattern 506 was formed by removing the pattern 503.

次に、図7Dに示すように、石英ガラス製の基板501上に形成されたレジストパターン506をマスクとして、CHF3と水素ガスの混合ガスを用いて、石英ガラス製の基板501の露出部に対してドライエッチングを行なった。混合ガスにおける水素ガスの混合比分圧は0.1とした。   Next, as shown in FIG. 7D, with the resist pattern 506 formed on the quartz glass substrate 501 as a mask, a mixed gas of CHF3 and hydrogen gas is used to expose the exposed portion of the quartz glass substrate 501. Then dry etching was performed. The mixed specific partial pressure of hydrogen gas in the mixed gas was set to 0.1.

ドライエッチングは、異方性を高めるため4Paの雰囲気下で100Wの電力を6分間印加することにより行ない、石英ガラス製の基板501にラインアンドスペース形状のエッチングパターン507を形成した。エッチングパターン507は、深さ140nmであり、グルーブ半値幅は220nmであった。   Dry etching was performed by applying a power of 100 W for 6 minutes in an atmosphere of 4 Pa in order to increase anisotropy, and an etching pattern 507 having a line and space shape was formed on a quartz glass substrate 501. The etching pattern 507 had a depth of 140 nm and a groove half width of 220 nm.

次に、図7Dに示すように、石英ガラス製の基板501上に形成されたエッチングパターン507に対し、CF4ガスを用いてアッシングをおこなった。アッシングは、CF4と02との混合比5:2のガスを用い15Paの雰囲気下で70Wの電力を印加することによって行い、レジストパターン506の除去を行う。これによって、図7Eに示すエッチングパターン507を有する原盤508が形成された。 Next, as shown in FIG. 7D, ashing was performed on the etching pattern 507 formed on the quartz glass substrate 501 using CF4 gas. Ashing is performed by applying a power of 70 W in a 15 Pa atmosphere using a gas having a mixing ratio of CF 4 and O 2 of 5: 2 to remove the resist pattern 506. As a result, a master 508 having an etching pattern 507 shown in FIG. 7E was formed.

次に、図7Fに示すように、原盤508上にスパッタリング法により厚さ150nmのNi膜を形成した後、電鋳法により、厚さ300μmのNiメッキ膜を形成することにより、原盤508に形成されているエッチングパターン507を転写してスタンパ509を作製した。   Next, as shown in FIG. 7F, a Ni film having a thickness of 150 nm is formed on the master disk 508 by a sputtering method, and then a Ni plating film having a thickness of 300 μm is formed by an electroforming method. The stamper 509 was manufactured by transferring the etched pattern 507.

次に、図7Gに示すように、スタンパ509を射出成型機に装着して、射出成型法により、内周から外周に向かって、螺旋状のランドグルーブ形状が形成された試料分析用ディスク100を成形した。成形された試料分析用ディスク100の形状は、厚さは1.1mmであり、トラックピッチが320nm、深さ140nmで、グルーブ半値幅は220nmであった。また、原子間力顕微鏡(AFM)によりグルーブ107およびランド108の表面粗さを測定したところ、グルーブ107の表面粗さは約16nm、ランド108の表面粗さは約3nmであった。   Next, as shown in FIG. 7G, a stamper 509 is attached to an injection molding machine, and a sample analysis disk 100 in which a spiral land groove shape is formed from the inner periphery toward the outer periphery by an injection molding method. Molded. The formed sample analysis disk 100 had a thickness of 1.1 mm, a track pitch of 320 nm, a depth of 140 nm, and a groove half width of 220 nm. Further, when the surface roughness of the groove 107 and the land 108 was measured by an atomic force microscope (AFM), the surface roughness of the groove 107 was about 16 nm, and the surface roughness of the land 108 was about 3 nm.

次に、上記実施例で作製された試料分析用ディスク100上に、抗体となるビオチンを10μLピペットで滴下させた。次に、濃度100μg/mLの直径140nmの標識用ビーズ110の表面にビオチンを修飾させ、さらにビオチンに特異的に反応するアビジンを修飾させた溶媒1μLを基板上の10μLビオチンを滴下した場所にピペットで滴下させ、基板上でサンドイッチ抗原−抗体反応を行った後、未反応の標識用ビーズ110を純水で洗い流し、その後基板表面を乾燥させた。   Next, biotin as an antibody was dropped onto the sample analysis disk 100 produced in the above example with a 10 μL pipette. Next, pipette 1 μL of a solvent in which biotin is modified on the surface of a labeling bead 110 having a diameter of 100 nm at a concentration of 100 μg / mL and further modified with avidin that specifically reacts with biotin onto the substrate where 10 μL biotin is dropped. After performing the sandwich antigen-antibody reaction on the substrate, unreacted labeling beads 110 were washed away with pure water, and then the substrate surface was dried.

この試料分析用ディスク100を線速度5.0m/s一定で回転させながら、波長405nmの半導体レーザ光を0.35mWで発光し、NAが0.85の対物レンズ3で基板表面に集光させ、反射して戻ってきた光を光検出部9における4分割フォトダイオードで受光し、フォトダイオードの各成分の信号を制御してスパイラル状のグルーブ107にトラッキングをかけながら総和信号を観察した。   While rotating the sample analysis disk 100 at a constant linear velocity of 5.0 m / s, semiconductor laser light having a wavelength of 405 nm is emitted at 0.35 mW, and is focused on the substrate surface by the objective lens 3 having an NA of 0.85. The reflected light was received by a four-divided photodiode in the light detection section 9, and the total signal was observed while tracking the spiral groove 107 by controlling the signal of each component of the photodiode.

標識用ビーズ110の計測カウント数は、100トラック分の合計をカウントした。その結果、標識用ビーズ110のカウント数は45685個であった。検出信号の一部分が例えば図8のように計測することができ、標識用ビーズ110の1個に対応する信号が標識用ビーズ110の存在しない信号レベルに対し、十分低い信号レベルとして検出することができ、その周波数成分を解析した結果、確かに標識用ビーズ110の1個分の直径である140nmと一致した。   The total number of counts for the labeling beads 110 was 100 tracks. As a result, the count number of the labeling beads 110 was 45685. A part of the detection signal can be measured as shown in FIG. 8, for example, and a signal corresponding to one of the labeling beads 110 can be detected as a sufficiently low signal level with respect to the signal level where the labeling beads 110 are not present. As a result of analyzing the frequency component, it was confirmed that the frequency component was 140 nm, which is the diameter of one of the labeling beads 110.

図8は、標識用ビーズ110を検出したときの検出電圧を表した図であり、例えば検出信号が平坦な部分Aは、標識用ビーズ110が検出されていない箇所であり、Bのように部分的に低い値をとる箇所は、標識用ビーズ110が検出された箇所である。このように、標識用ビーズ110を検出した信号を明確に特定することができる。   FIG. 8 is a diagram showing a detection voltage when the labeling bead 110 is detected. For example, a portion A where the detection signal is flat is a portion where the labeling bead 110 is not detected, and a portion like B is shown. A place having a very low value is a place where the labeling beads 110 are detected. In this way, the signal that detects the labeling bead 110 can be clearly identified.

次に、高濃度から低濃度の標識用ビーズ110のカウント精度を確認するため、上記実施例で用いた標識用ビーズ110の表面にビオチンを修飾させ、さらにビオチンに特異的に反応するアビジンを修飾させた溶媒の濃度に対し、100倍、10倍、1倍、1/10倍、1/100倍、1/1000倍の6種類の濃度の溶媒を用いる以外は上記実施例と同様の方法で標識用ビーズ110の個数をカウントした結果を表1に示す。濃度に比例した計測結果が得られ、高濃度から低濃度まで非常に精度の高い計測結果が得られている。また、濃度1倍の結果が図8の計測結果とほぼ一致し、再現性も高いことが確認できた。

Figure 0005899908
Next, in order to confirm the counting accuracy of the high-concentration to low-concentration bead 110, biotin is modified on the surface of the labeling bead 110 used in the above example, and further, avidin that specifically reacts with biotin is modified. The same method as in the above example, except that six types of solvent concentrations of 100 times, 10 times, 1 time, 1/10 time, 1/100 time, and 1/1000 times the solvent concentration were used. The results of counting the number of labeling beads 110 are shown in Table 1. A measurement result proportional to the concentration is obtained, and a highly accurate measurement result is obtained from a high concentration to a low concentration. Moreover, it was confirmed that the result of 1-fold concentration almost coincided with the measurement result of FIG. 8 and the reproducibility was high.
Figure 0005899908

次に、比較例1として標識用ビーズ110の直径が、グルーブ107の幅よりも大きい場合の例として、用いる標識用ビーズ110の直径を300nmとした以外は上記実施例と同様の方法で、標識用ビーズ110のカウントを行った。標識用ビーズ110の直径が大きく、隣接するトラックへのクロストーク成分の増加による影響により安定したトラッキングを取ることが困難で、標識用ビーズ110の個数をカウントすることができなかった。   Next, as an example in which the diameter of the labeling bead 110 is larger than the width of the groove 107 as Comparative Example 1, the labeling bead 110 is labeled in the same manner as in the above example except that the diameter of the labeling bead 110 used is 300 nm. The beads 110 for use were counted. The diameter of the bead 110 for labeling is large, and it is difficult to take stable tracking due to the influence of the increase in the crosstalk component to the adjacent track, and the number of the bead 110 for labeling cannot be counted.

次に、比較例2として、標識用ビーズ110の直径が、グルーブ107の幅よりも小さい場合の例として、用いる標識用ビーズ110の直径を100nmとした以外は上記実施例と同様の方法で、標識用ビーズ110のカウントを行った。この場合、トラッキング信号は安定しており、標識用ビーズ110の個数をカウントすることができた。その結果を表2に示す。また、検出信号の一部分について、図9に示す。

Figure 0005899908
Next, as a comparative example 2, as an example in which the diameter of the labeling bead 110 is smaller than the width of the groove 107, a method similar to the above example except that the diameter of the labeling bead 110 to be used is 100 nm, The labeling beads 110 were counted. In this case, the tracking signal was stable, and the number of labeling beads 110 could be counted. The results are shown in Table 2. A part of the detection signal is shown in FIG.
Figure 0005899908

図9は、標識用ビーズ110を検出したときの検出電圧を表した図であり、例えば検出信号が平坦な部分Aは、標識用ビーズ110が検出されていない箇所であり、Bのように部分的に低い値をとる箇所は、標識用ビーズ110が検出された箇所であるが、Cのように不明瞭な信号も検出されている。これは、標識用ビーズ110が小さすぎるため、グルーブ107に対して複数の標識用ビーズ110が固定化されたり、グルーブ107の中心からオフセットした状態で標識用ビーズ110が固定化された結果によるもので、溶媒の濃度に比例した結果が得られず、高濃度から低濃度まで精度の高い結果を得ることはできなかった。   FIG. 9 is a diagram showing a detection voltage when the labeling bead 110 is detected. For example, a portion A where the detection signal is flat is a portion where the labeling bead 110 is not detected, and a portion like B is shown. The place having a very low value is the place where the bead 110 for labeling is detected, but an unclear signal such as C is also detected. This is because a plurality of labeling beads 110 are fixed to the groove 107 because the labeling beads 110 are too small, or the labeling beads 110 are fixed while being offset from the center of the groove 107. Therefore, a result proportional to the concentration of the solvent could not be obtained, and a highly accurate result could not be obtained from a high concentration to a low concentration.

次に、比較例3として、原盤作製工程でのエッチングガスをCHF3のみで行なうことによって、グルーブ107の表面粗さとランド108の表面粗さとをほぼ同一とした試料分析用ディスク100を作成し、同様に標識用ビーズ110を計測した。   Next, as Comparative Example 3, a sample analysis disk 100 in which the surface roughness of the groove 107 and the surface roughness of the land 108 are substantially the same is created by performing only the CHF3 etching gas in the master production process. The labeling beads 110 were measured.

作製された試料分析用ディスク100は実施例1と同様の形状で、厚さは1.1mmであり、トラックピッチが320nm、深さ140nmで、グルーブ半値幅は220nmであった。原子間力顕微鏡(AFM)によりグルーブ107およびランド108の表面粗さを測定したところ、グルーブ107の表面粗さは約4nm、ランド108の表面粗さは約3nmであった。   The sample analysis disc 100 thus produced had the same shape as that of Example 1, the thickness was 1.1 mm, the track pitch was 320 nm, the depth was 140 nm, and the groove half-width was 220 nm. When the surface roughness of the groove 107 and the land 108 was measured by an atomic force microscope (AFM), the surface roughness of the groove 107 was about 4 nm, and the surface roughness of the land 108 was about 3 nm.

この試料分析用ディスク100用いて実施例と同様の方法で標識用ビーズ110のカウントを行なった結果を表3に示す。

Figure 0005899908
Table 3 shows the results of counting the labeling beads 110 using the sample analysis disk 100 in the same manner as in the example.
Figure 0005899908

比較例3の結果としては、比較例2と同様に検出信号レベルが不均一であった。また、グルーブ107とランド108の表面粗さがほぼ同一であるため、グルーブ107だけでなくランド108にも標識用ビーズ110が載置されている。したがって、隣接するグルーブ107およびランド108によるクロストーク成分が増え、トラッキング信号が乱れる。さらに、標識用ビーズ110の存在しない信号レベルにとランド108に載置された標識用ビーズ110の信号レベルは区別がつかないため、実施例と比較すると、標識用ビーズ110の計測数は半分程度となってしまい、高濃度から低濃度までの試料の計測に対して、精度の高い結果を得ることは出来なかった。 As a result of Comparative Example 3, similarly to Comparative Example 2, the detection signal level was non-uniform. Further, since the surface roughness of the groove 107 and the land 108 is substantially the same, the labeling beads 110 are placed not only on the groove 107 but also on the land 108. Therefore, crosstalk components due to adjacent grooves 107 and lands 108 increase, and the tracking signal is disturbed. Furthermore, since the signal level of the labeling bead 110 placed on the land 108 is indistinguishable from the signal level where the labeling bead 110 does not exist, the number of measurement of the labeling bead 110 is about half that of the embodiment. Therefore, it was impossible to obtain a highly accurate result for measurement of samples from a high concentration to a low concentration.

本発明の実施の形態は、その要旨を逸脱しない限り、様々に変更可能である。上記実施例においては、ビオチンとアビジンによる反応により低濃度から高濃度の免疫学的生体高分子の結合した標識用ビーズ110の個数をカウントした例を示したが、計測したい生体高分子の種類に応じて、例えばB型肝炎などの抗原とそれに対応する抗体を同様の形で用いることも可能である。   The embodiment of the present invention can be variously modified without departing from the gist thereof. In the above embodiment, an example was shown in which the number of labeling beads 110 bound with low to high concentration immunological biopolymers was counted by reaction with biotin and avidin. Accordingly, for example, an antigen such as hepatitis B and the corresponding antibody can be used in the same manner.

さらに、抗原−抗体サンドイッチ法も同様に用いることが出来る。また、基板の面積的な制限の許す範囲で複数の種類の抗原−抗体反応をディスクの円周上のエリアを区分けして同時に行い、複数の種類の標識用ビーズ110のカウントを同時に計測することも可能である。   Furthermore, an antigen-antibody sandwich method can be used in the same manner. Also, a plurality of types of antigen-antibody reactions are simultaneously performed by dividing an area on the circumference of the disk within the range allowed by the area limitation of the substrate, and the counts of a plurality of types of labeling beads 110 are simultaneously measured. Is also possible.

また、用いられる抗原200、抗体210、標識用ビーズ110の種類と試料分析用ディスク100の表面における表面粗さや濡れ性などによっては、表紙起用ビーズ110と試料分析用ディスク100との密着性が悪く、抗原200や抗体210と反応した標識用ビーズ110が純水で洗い流されてしまい、濃度に比例した精度の高い検出が困難となる場合がある。このような場合、標識用ビーズ110の密着性を確保するため、試料分析用ディスク100の表面に薄膜を形成したり、シランカップリング剤の塗布やプラズマ処理などの表面処理を、基板表面上で抗原―抗体反応をさせる前に最適な条件化の下で実施することも可能である。   Further, depending on the types of the antigen 200, the antibody 210, and the labeling beads 110 used, and the surface roughness and wettability on the surface of the sample analysis disk 100, the adhesion between the cover starting beads 110 and the sample analysis disk 100 is poor. In some cases, the labeling beads 110 that have reacted with the antigen 200 or the antibody 210 are washed away with pure water, making it difficult to detect with high accuracy in proportion to the concentration. In such a case, a thin film is formed on the surface of the sample analysis disk 100, or surface treatment such as application of a silane coupling agent or plasma treatment is performed on the substrate surface in order to ensure adhesion of the bead 110 for labeling. It is also possible to carry out the reaction under optimal conditions before the antigen-antibody reaction.

また、隣接する凹部120と凸部121は、凹凸形状を構成する側面を共有しているが、この側面は凹部120または凸部121のいずれを構成するものとしてもよい。   Moreover, although the adjacent recessed part 120 and the convex part 121 share the side surface which comprises uneven | corrugated shape, this side surface is good also as what comprises either the recessed part 120 or the convex part 121. FIG.

1:読み取り装置、2:スピンドルモータ、3:対物レンズ、4:アクチュエータ、5:ビームスプリッタ、6:レーザ発振器、7:コリメータレンズ、8:集光レンズ、9:光検出部、10:制御部、100:試料分析用ディスク、101:注入孔、102:流路、103:ビーズ充填部、104:検出領域、105:トラック領域、106:保護層、107:グルーブ、108:ランド、109:ピット、110:標識用ビーズ、120:凹部、121:凸部、200:抗原、210:抗体   1: Reading device, 2: Spindle motor, 3: Objective lens, 4: Actuator, 5: Beam splitter, 6: Laser oscillator, 7: Collimator lens, 8: Condensing lens, 9: Light detection unit, 10: Control unit , 100: Sample analysis disk, 101: Injection hole, 102: Flow path, 103: Bead filling section, 104: Detection area, 105: Track area, 106: Protection layer, 107: Groove, 108: Land, 109: Pit 110: Labeling beads, 120: Concavity, 121: Convex, 200: Antigen, 210: Antibody

Claims (3)

ディスク面におけるグルーブおよびランドからなる溝構造またはピットが設けられた構造を有するトラック領域に固定化された生体高分子が結合している標識用ビーズを、光学的読み取り手段によって数量を計測するための試料分析用ディスクにおいて、
前記溝構造または前記ピットとして構成される凹部を構成する面と凸部を構成する面に対して、いずれか一方の面を親水性のある10〜20nm程の表面粗さとし、他方の面を撥水性のある表面粗さとし、前記凹部を構成する面と前記凸部を構成する面において親水性のある表面粗さとしたいずれか一方の面のみに、前記標識用ビーズが固定化されることを特徴とする、試料分析用ディスク。
For measuring the number of labeling beads to which a biopolymer immobilized on a track region having a groove structure or pit structure comprising grooves and lands on the disk surface is bound by an optical reading means In the disk for sample analysis,
One of the surfaces of the groove structure or the surface constituting the concave portion configured as the pit and the surface constituting the convex portion has a hydrophilic surface roughness of about 10 to 20 nm, and the other surface is repelled. The labeling beads are immobilized only on one of the surfaces having an aqueous surface roughness and having a hydrophilic surface roughness on the surface forming the concave portion and the surface forming the convex portion. Sample analysis disk.
前記固定化される標識用ビーズの直径Rと、前記グルーブまたはピットの幅Wとの比率R/Wが、0.6≦R/W<1.0の関係を満たすことを特徴とする、請求項1に記載の試料分析用ディスク。 A ratio R / W between a diameter R of the labeling beads to be immobilized and a width W of the groove or pit satisfies a relationship of 0.6 ≦ R / W <1.0. Item 2. The sample analysis disk according to Item 1 . 前記グルーブまたはピットの幅Wと、前記試料分析用ディスクの半径方向において隣接するグルーブまたはピットとの周期Tとの比率W/Tが、0.65≦W/Tの関係を満たすことを特徴とする、請求項1または2に記載の試料分析用ディスク。 A ratio W / T between a width W of the groove or pit and a period T between the groove or pit adjacent in the radial direction of the sample analysis disk satisfies a relationship of 0.65 ≦ W / T. The disk for sample analysis according to claim 1 or 2 .
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