JP5408818B1 - Gas barrier structure and method for forming gas barrier structure - Google Patents

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Abstract

優れたガスバリア性や透明性が得られるとともに、密着性や耐クラック性等に優れたガスバリア層を備えたガスバリア構造体、およびそのようなガスバリア構造体の効率的な形成方法を提供する。
基材上に、ガスバリア層を備えたガスバリア構造体、およびそのようなガスバリア構造体の形成方法であって、ガスバリア層が、ポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を含んでなるガスバリア層形成用材料に由来しており、当該ガスバリア層形成用材料に、プラズマイオン注入処理してあることを特徴とする。
Provided are a gas barrier structure provided with a gas barrier layer that has excellent gas barrier properties and transparency, and has excellent adhesion and crack resistance, and an efficient method for forming such a gas barrier structure.
A gas barrier structure comprising a gas barrier layer on a substrate, and a method for forming such a gas barrier structure, wherein the gas barrier layer comprises a polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or any one of them. It is derived from a gas barrier layer forming material comprising a polar polymer, and the gas barrier layer forming material is subjected to plasma ion implantation.

Description

本発明は、ガスバリア構造体、およびガスバリア構造体の製造方法に関し、特に、所定の極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料に由来したガスバリア層を備えたガスバリア構造体、およびガスバリア構造体の形成方法に関する。   The present invention relates to a gas barrier structure and a method for producing the gas barrier structure, and in particular, a gas barrier structure including a gas barrier layer derived from a gas barrier layer forming material containing a predetermined polar polymer and a polysilazane compound, and a gas barrier structure The present invention relates to a body forming method.

従来、プラスチックフィルム等の高分子成形体は、低価格であり加工性に優れるため、所望の機能を付与して、種々の分野で用いられている。
例えば、食品や医薬品の包装用フィルムには、蛋白質や油脂等の酸化や変質を抑制して味や鮮度を保持するため、水蒸気や酸素の透過を防ぐガスバリア性のプラスチックフィルムが用いられている。
Conventionally, a polymer molded body such as a plastic film is inexpensive and excellent in workability, and thus has a desired function and is used in various fields.
For example, a gas barrier plastic film that prevents the permeation of water vapor and oxygen is used for food and pharmaceutical packaging films to maintain the taste and freshness by suppressing the oxidation and alteration of proteins and fats and oils.

また、近年、液晶デバイスや有機エレクトロルミネッセンスデバイス(有機EL素子)を用いた画像表示装置において、薄型化、軽量化、フレキシブル化等を実現するために、電極形成用の基板として、ガラス板に代えて透明プラスチックフィルム、例えば、ポリエステルフィルムを用いることが検討されている。
しかしながら、ポリエステルフィルム等の透明プラスチックフィルムは、水蒸気や酸素等を透過しやすく、それに起因して、画像表示装置の内部に設けられた各種素子の性能劣化や電極腐蝕をひき起こしやすいという問題があった。
In recent years, in an image display device using a liquid crystal device or an organic electroluminescence device (organic EL element), a glass plate is used as a substrate for electrode formation in order to realize a reduction in thickness, weight, and flexibility. Therefore, the use of a transparent plastic film such as a polyester film has been studied.
However, a transparent plastic film such as a polyester film is likely to transmit water vapor, oxygen, etc., and as a result, there is a problem that it tends to cause performance deterioration and electrode corrosion of various elements provided in the image display device. It was.

そこで、水蒸気や酸素等の透過を抑制すること等を目的として、透明プラスチックフィルムに金属酸化物からなる透明ガスバリア層を積層したフレキシブルディスプレイ基板が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
より具体的には、透明プラスチックフィルムの表面に金属酸化物からなるガスバリア層を積層する第1工程、形成したガスバリア層上に、透明保護層を積層する第2工程、および透明保護層上に透明導電層をさらに積層する第3工程、を包含するフレキシブルディスプレイ基板の製造方法であって、積層後の各層の変化を抑制するために、第1工程、第2工程、および第3工程を同一の真空装置内で行うことを特徴としている。
Therefore, a flexible display substrate in which a transparent gas barrier layer made of a metal oxide is laminated on a transparent plastic film has been proposed for the purpose of suppressing permeation of water vapor, oxygen, and the like (see, for example, Patent Document 1).
More specifically, a first step of laminating a gas barrier layer made of a metal oxide on the surface of a transparent plastic film, a second step of laminating a transparent protective layer on the formed gas barrier layer, and a transparent on the transparent protective layer A method of manufacturing a flexible display substrate including a third step of further laminating a conductive layer, wherein the first step, the second step, and the third step are the same in order to suppress changes in each layer after the lamination. It is characterized by being performed in a vacuum apparatus.

また、プラスチックフィルムの少なくとも一方の面に、ポリシラザン化合物からなるポリシラザン膜を形成し、当該ポリシラザン膜に、プラズマ処理を施して、ガスバリア膜とすることを特徴としたガスバリアフィルムの製造方法が開示されている(例えば、特許文献2参照)。   Also disclosed is a method for producing a gas barrier film, wherein a polysilazane film made of a polysilazane compound is formed on at least one surface of a plastic film, and the polysilazane film is subjected to plasma treatment to form a gas barrier film. (For example, refer to Patent Document 2).

さらに、基材に対する密着性や屈曲性等を高めるために、ポリシラザン化合物に、アクリル樹脂を混合してなるコーティング組成物も提案されている(例えば、特許文献3参照)。
より具体的には、溶剤として、ハロゲン化炭化水素等を用い、それに対して数平均分子量が100〜5万の所定構造を有するポリシラザンと、アクリル系樹脂と、を溶解してなるコーティング用組成物である。
Furthermore, a coating composition obtained by mixing an acrylic resin with a polysilazane compound has been proposed in order to improve adhesion to a substrate, flexibility, and the like (see, for example, Patent Document 3).
More specifically, a coating composition obtained by dissolving a polysilazane having a predetermined structure having a number average molecular weight of 100 to 50,000 and an acrylic resin, using a halogenated hydrocarbon or the like as a solvent. It is.

特開2000−338901号公報JP 2000-338901 A 特開2007−237588号公報JP 2007-237588 A 特開平7−292321号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-292321

しかしながら、特許文献1に開示されたフレキシブルディスプレイ基板の製造方法によれば、第1工程において、蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法等によって、透明プラスチックフィルムの表面に、金属酸化物のみからなるガスバリア層を積層するために、柔軟性が劣っており、例えば、得られたフレキシブルディスプレイ基板を丸めたり、折り曲げたりすると、ガスバリア層にクラックが発生し、ガスバリア性が著しく低下するという問題が見られた。   However, according to the method for manufacturing a flexible display substrate disclosed in Patent Document 1, in the first step, the surface of the transparent plastic film is made of only a metal oxide by vapor deposition, ion plating, sputtering, or the like. Since the gas barrier layer is laminated, the flexibility is inferior. For example, when the obtained flexible display substrate is rounded or bent, there is a problem that the gas barrier layer cracks and the gas barrier property is remarkably lowered. It was.

また、特許文献2に開示されたガスバリアフィルムの製造方法は、フィルムに対してポリシラザン膜を形成した後に、プラズマ処理を施し、それをガスバリアフィルムとして用いているものの、ガスバリア性が未だ不十分であり、また、柔軟性も劣っているという問題が見られた。   Moreover, although the manufacturing method of the gas barrier film disclosed by patent document 2 performs plasma treatment after forming a polysilazane film | membrane with respect to a film, and uses it as a gas barrier film, gas barrier property is still inadequate. Moreover, the problem that flexibility was also inferior was seen.

さらにまた、特許文献3に開示されたコーティング用組成物は、塗布後、乾燥するだけであって、プラズマイオン注入処理までは行っていないために、ガスバリア性が不十分であるという問題が見られた。
すなわち、従来のガスバリア層を備えたガスバリアフィルムやフレキシブルディスプレイ基板は、繰り返し曲げると、柔軟性に欠けていることから、ガスバリア層にクラックが生じやすく、ガスバリア性が低下するという問題が見られた。
Furthermore, since the coating composition disclosed in Patent Document 3 is only dried after being applied and not subjected to plasma ion implantation treatment, there is a problem that the gas barrier property is insufficient. It was.
That is, a gas barrier film or a flexible display substrate having a conventional gas barrier layer is not flexible when it is repeatedly bent. Therefore, there is a problem that the gas barrier layer is easily cracked and the gas barrier property is lowered.

そこで、本発明者らは、このような問題を鋭意検討した結果、ガスバリア層が、所定極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料に対して、プラズマイオン注入処理してあることによって、柔軟性が、向上し、かつガスバリア性も優れるという事実を見出し、本発明を完成させたものである。
すなわち、本発明は、柔軟性に優れたガスバリア層を備えたガスバリア構造体、およびそのようなガスバリア構造体の効率的な形成方法を提供することを目的とする。
Accordingly, as a result of intensive studies on such problems, the present inventors have determined that the gas barrier layer has been subjected to plasma ion implantation treatment for the gas barrier layer forming material containing a predetermined polar polymer and a polysilazane compound. The present inventors have found the fact that the flexibility is improved and the gas barrier property is excellent, and the present invention has been completed.
That is, an object of the present invention is to provide a gas barrier structure including a gas barrier layer having excellent flexibility, and an efficient method for forming such a gas barrier structure.

本発明によれば、基材上に、ガスバリア層を備えたガスバリア構造体であって、ガスバリア層が、ポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層(以下、プレバリア層と称する場合がある。)に、プラズマイオン注入処理してあり、水酸基含有ポリマが、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つであって、カルボキシル基含有ポリマが、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であって、ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値とすることを特徴とするガスバリア構造体が提供され、上述した問題点を解決することができる。
すなわち、基材上に積層された、所定の極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に対して、プラズマイオン注入処理して、ガスバリア層を形成していることから、柔軟性と、被膜強度がそれぞれ高まり、ひいては、耐クラック性を向上させたり、作成工程でのキズの発生を有効に防止したりすることができる。
また、このような水酸基含有ポリマやカルボキシル基含有ポリマを用いることによって、ポリシラザン化合物との相溶性が良好になって、柔軟性と、被膜強度とがそれぞれ高まり、ひいては、さらに優れた耐クラック性や作成工程でのキズの発生を有効に防止することができる。
また、このような極性ポリマの配合量とすることによって、ポリシラザン化合との相溶性が良好になって、ガスバリア層形成用材料の取り扱いや安定性が良好になるとともに、さらに優れた柔軟性や被膜強度を得ることができる。
According to the present invention, a gas barrier structure comprising a gas barrier layer on a substrate, wherein the gas barrier layer comprises a polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or one of the polar polymers. A layer made of a gas barrier layer forming material (hereinafter sometimes referred to as a pre-barrier layer) is subjected to plasma ion implantation treatment, and the hydroxyl group-containing polymer is polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene- and at least one selected from the group consisting of vinyl alcohol copolymers, carboxyl group-containing polymer is an ethylene - (meth) What acrylate copolymer der, the total amount of the gas barrier layer forming material to Te, characterized in that the amount of polar polymer within a range of 10 to 50 wt% The gas barrier structure is provided that can solve the problems described above.
That is, because the gas barrier layer is formed by performing plasma ion implantation on the layer made of the gas barrier layer forming material containing a predetermined polar polymer and polysilazane compound laminated on the base material, The flexibility and the coating strength are increased, and as a result, the crack resistance can be improved and the generation of scratches in the production process can be effectively prevented.
Further, by using such a hydroxyl group-containing polymer or carboxyl group-containing polymer, the compatibility with the polysilazane compound is improved, and the flexibility and the film strength are increased respectively. It is possible to effectively prevent the generation of scratches in the production process.
In addition, the blending amount of such a polar polymer improves the compatibility with the polysilazane compound, improves the handling and stability of the gas barrier layer forming material, and further improves the flexibility and coating. Strength can be obtained.

また、本発明のガスバリア構造体を構成するにあたり、ガスバリア層が、膜厚が10〜30nmの少なくともケイ素、酸素、および窒素を含む表層を含んでおり、当該表層におけるXPSで測定されるこれら元素の全体量に対して、ケイ素量を25〜45mol%の範囲内の値、酸素量を5〜74mol%の範囲内の値、および窒素量を0.1〜15mol%の範囲内の値とすることが好ましい。
このように所定組成の表層を含むガスバリア層とすることによって、さらに優れたガスバリア性が得られる。
In constituting the gas barrier structure of the present invention, the gas barrier layer includes a surface layer containing at least silicon, oxygen, and nitrogen having a film thickness of 10 to 30 nm, and these elements measured by XPS in the surface layer are included. The silicon content is a value within the range of 25 to 45 mol%, the oxygen content is within the range of 5 to 74 mol%, and the nitrogen content is within the range of 0.1 to 15 mol% with respect to the total amount. Is preferred.
Thus, by making it the gas barrier layer containing the surface layer of a predetermined composition, the further outstanding gas barrier property is obtained.

さらにまた、本発明のガスバリア構造体を構成するにあたり、ガスバリア層(表層)における弾性率を1〜2.5GPaの範囲内の値とすることが好ましい。
このような弾性率を有するガスバリア層とすることによって、優れた柔軟性と被膜強度を得ることができる。
Furthermore , in constituting the gas barrier structure of the present invention, it is preferable to set the elastic modulus in the gas barrier layer (surface layer) to a value in the range of 1 to 2.5 GPa.
By using a gas barrier layer having such an elastic modulus, excellent flexibility and coating strength can be obtained.

また、本発明の別の発明は、基材上に、ガスバリア層を備えてなるガスバリア構造体の形成方法であって、下記工程(1)〜(2)を含むことを特徴とするガスバリア構造体の形成方法である。
(1)ポリシラザン化合物と、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つである水酸基含有ポリマおよびエチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であるカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を、ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値で含むガスバリア層形成用材料からなる層を、基材上に積層する積層工程
(2)ガスバリア層形成用材料からなる層にプラズマイオン注入して、ガスバリア層とするイオン注入工程
すなわち、工程(1)で、所定の極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層を基材上に積層し、工程(2)で、所定の極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に対して、プラズマイオン注入処理して、ガスバリア層を形成することにより、柔軟性と、被膜強度とがそれぞれ高まり、ひいては、耐クラック性に優れ、作成工程でのキズの発生が少ないガスバリア層を備えたガスバリア構造体を得ることができる。
Another invention of the present invention is a method for forming a gas barrier structure comprising a gas barrier layer on a substrate, which comprises the following steps (1) to (2): It is the formation method.
(1) A polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer which are at least one selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene-vinyl alcohol copolymer A gas barrier layer containing a carboxyl group-containing polymer or any one polar polymer with a blending amount of the polar polymer within a range of 10 to 50% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material. Step of laminating a layer made of a forming material on a substrate (2) Ion implantation step of plasma ion implantation into a layer made of a material for forming a gas barrier layer to form a gas barrier layer In other words, in step (1) A layer comprising a gas barrier layer forming material comprising a polar polymer and a polysilazane compound By laminating on the base material, in step (2), a layer made of a gas barrier layer forming material containing a predetermined polar polymer and polysilazane compound is subjected to plasma ion implantation treatment to form a gas barrier layer. Thus, it is possible to obtain a gas barrier structure provided with a gas barrier layer having increased flexibility and coating strength, and thus excellent crack resistance and less scratches in the production process.

図1は、本発明のガスバリア構造体の断面を説明するために供する模式図である。FIG. 1 is a schematic view for explaining a cross section of a gas barrier structure of the present invention. 図2(a)〜(e)は、本発明のガスバリア構造体の製造方法を説明するために供する図である。2 (a) to 2 (e) are views for explaining the method for manufacturing the gas barrier structure of the present invention. 図3は、イオン注入装置の一例を説明するために供する図である。FIG. 3 is a diagram provided for explaining an example of an ion implantation apparatus.

[第1の実施形態]
第1の実施形態は、基材上に、ガスバリア層を備えたガスバリア構造体であって、ガスバリア層が、ポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に、プラズマイオン注入処理してあり、水酸基含有ポリマが、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つであって、カルボキシル基含有ポリマが、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であって、ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値とすることを特徴とするガスバリア構造体である。
本発明のガスバリア構造体の一例を図1に示す。
ここで、図1に示すガスバリア構造体50は、基材12と、基材12上に、ガスバリア層10を備える。
以下、第1の実施形態のガスバリア構造体につき、適宜図面を参照して、具体的に説明する。
[First embodiment]
The first embodiment is a gas barrier structure including a gas barrier layer on a substrate, and the gas barrier layer includes a polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or any one polar polymer, A layer made of a gas barrier layer-forming material comprising plasma ion implantation treatment, and the hydroxyl group-containing polymer is selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene-vinyl alcohol copolymer. and at least one that, carboxyl group-containing polymer is an ethylene - 10-50 (meth) What acrylate copolymer der, with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material, the amount of polar polymer A gas barrier structure having a value within the range of wt% .
An example of the gas barrier structure of the present invention is shown in FIG.
Here, the gas barrier structure 50 shown in FIG. 1 includes the base material 12 and the gas barrier layer 10 on the base material 12.
Hereinafter, the gas barrier structure of the first embodiment will be specifically described with reference to the drawings as appropriate.

1.基材
基材の種類は、柔軟性を有するものであれば、特に制限されるものでなく、プラスチック樹脂フィルム、プラスチック樹脂プレート、ガラス基板(セラミック基板を含む)、等が挙げられる。
プラスチック樹脂フィルムまたはブラス樹脂プレートに使用される樹脂としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリフェニレンエーテル、ポリエーテルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリオレフィン、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリスルフォン、ポリエーテルスルフォン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、アクリル系樹脂、シクロオレフィン系ポリマ、芳香族系重合体等が挙げられる。
ポリエステルとしては、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアリレート等が挙げられる。
シクロオレフィン系ポリマとしては、ノルボルネン系重合体、単環の環状オレフィン系重合体、環状共役ジエン系重合体、ビニル脂環式炭化水素重合体、及びこれらの水素化物が挙げられる。
基材の厚さは、使用目的等に応じて決定すればよいが、柔軟性および扱いが容易であるという点から、1〜1000μmであることが好ましく、5〜100μmであることがより好ましい。
1. Base material The kind of base material is not particularly limited as long as it has flexibility, and examples thereof include a plastic resin film, a plastic resin plate, and a glass substrate (including a ceramic substrate).
Resins used for plastic resin films or brass resin plates include polyimide, polyamide, polyamideimide, polyphenylene ether, polyether ketone, polyether ether ketone, polyolefin, polyester, polycarbonate, polysulfone, polyether sulfone, polyphenylene sulfide, Examples include polyarylate, acrylic resin, cycloolefin polymer, and aromatic polymer.
Examples of the polyester include polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and polyarylate.
Examples of cycloolefin polymers include norbornene polymers, monocyclic olefin polymers, cyclic conjugated diene polymers, vinyl alicyclic hydrocarbon polymers, and hydrides thereof.
Although the thickness of a base material should just be determined according to a use purpose etc., it is preferable that it is 1-1000 micrometers from the point that a softness | flexibility and handling are easy, and it is more preferable that it is 5-100 micrometers.

2.ガスバリア層
本発明のガスバリア構造体におけるガスバリア層は、ポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に由来しており、当該ガスバリア層形成用材料からなる層につき、プラズマイオン注入処理して得られるものである。
当該ガスバリア層は、酸素や水蒸気等の透過を抑制する特性(以下、「ガスバリア性」という)を有する層である。
2. Gas barrier layer The gas barrier layer in the gas barrier structure of the present invention is derived from a layer made of a material for forming a gas barrier layer comprising a polysilazane compound and a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or one of the polar polymers. The layer made of the gas barrier layer forming material is obtained by plasma ion implantation.
The gas barrier layer is a layer having a characteristic of suppressing permeation of oxygen, water vapor, or the like (hereinafter referred to as “gas barrier property”).

(1)ガスバリア層形成用材料ポリシラザン化合物
ガスバリア層形成用材料の一部を構成するポリシラザン化合物は、分子内に−Si−N−結合(シラザン結合)を含む繰り返し単位を有する化合物であり、下記一般式(1)で表される繰り返し単位を有する化合物である。具体的には、有機ポリシラザン、無機ポリシラザン、変性ポリシラザン等が挙げられる。
以下、好適なポリシラザン化合物をより具体的に説明する。
但し、各種ポリシラザン化合物が挙げられる中でも、Rx、Ry、Rzがすべて水素原子である無機ポリシラザンを用いることが特に好ましい。
この理由は、かかる無機ポリシラザン(パーヒドロポリシラザン)であれば、後述する所定の極性ポリマと混合使用した場合であっても、極性ポリマを過剰に反応することがなく、プラズマイオン注入法によってガスバリア層とした場合に、さらに優れたガスバリア特性や柔軟性等を有するガスバリア構造体を得ることができるためである。
また、用いるポリシラザン化合物の数平均分子量は、特に限定されないが、100〜50000の範囲内の値であることが好ましい。
(1) Gas Barrier Layer Forming Material Polysilazane Compound The polysilazane compound constituting part of the gas barrier layer forming material is a compound having a repeating unit containing a —Si—N— bond (silazane bond) in the molecule. It is a compound which has a repeating unit represented by Formula (1). Specific examples include organic polysilazane, inorganic polysilazane, and modified polysilazane.
Hereinafter, a suitable polysilazane compound will be described more specifically.
However, among various polysilazane compounds, it is particularly preferable to use inorganic polysilazane in which Rx, Ry, and Rz are all hydrogen atoms.
The reason for this is that such an inorganic polysilazane (perhydropolysilazane) does not react excessively with the polar polymer even when mixed with a predetermined polar polymer described later, and the gas barrier layer is formed by plasma ion implantation. This is because it is possible to obtain a gas barrier structure having further excellent gas barrier characteristics and flexibility.
The number average molecular weight of the polysilazane compound to be used is not particularly limited, but is preferably a value within the range of 100 to 50,000.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(1)中、Rx、RyおよびRzは、それぞれ独立して、水素原子、無置換若しくは置換基を有するアルキル基、無置換若しくは置換基を有するシクロアルキル基、無置換若しくは置換基を有するアルケニル基、無置換若しくは置換基を有するアリール基またはアルキルシリル基等の非加水分解性基であり、添字nは任意の自然数を表わす。) (In the general formula (1), Rx, Ry and Rz each independently represent a hydrogen atom, an unsubstituted or substituted alkyl group, an unsubstituted or substituted cycloalkyl group, an unsubstituted or substituted group. A non-hydrolyzable group such as an alkenyl group, an unsubstituted or substituted aryl group or an alkylsilyl group, and the subscript n represents an arbitrary natural number.)

また、上述した無置換若しくは置換基を有するアルキル基のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基等の炭素数1〜10のアルキル基が挙げられる。
また、上述した無置換若しくは置換基を有するシクロアルキル基のシクロアルキル基としては、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基等の炭素数3〜10のシクロアルキル基が挙げられる。
また、上述した無置換若しくは置換基を有するアルケニル基のアルケニル基としては、例えば、ビニル基、1−プロペニル基、2−プロペニル基、1−ブテニル基、2−ブテニル基、3−ブテニル基等の炭素数2〜10のアルケニル基が挙げられる。
また、上述したアルキル基、シクロアルキル基、およびアルケニル基の置換基としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等のハロゲン原子;ヒドロキシル基;チオール基;エポキシ基;グリシドキシ基;(メタ)アクリロイルオキシ基;フェニル基、4−メチルフェニル基、4−クロロフェニル基等の無置換若しくは置換基を有するアリール基等が挙げられる。
また、上述した無置換若しくは置換基を有するアリール基としては、例えば、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基等の炭素数6〜10のアリール基が挙げられる。
また、上述したアリール基の置換基としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等のハロゲン原子;メチル基、エチル基等の炭素数1〜6のアルキル基;メトキシ基、エトキシ基等の炭素数1〜6のアルコキシ基;ニトロ基;シアノ基;ヒドロキシル基;チオール基;エポキシ基;グリシドキシ基;(メタ)アクリロイルオキシ基;フェニル基、4−メチルフェニル基、4−クロロフェニル基等の無置換若しくは置換基を有するアリール基等が挙げられる。
また、上述したアルキルシリル基としては、トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、トリイソプロピルシリル基、トリt−ブチルシリル基、メチルジエチルシリル基、ジメチルシリル基、ジエチルシリル基、メチルシリル基、エチルシリル基等が挙げられる。
なお、Rx、Ry、Rzとしては、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、またはフェニル基が好ましく、水素原子が特に好ましい。
Examples of the alkyl group of the above-described unsubstituted or substituted alkyl group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, and a t-butyl group. C1-C10 alkyl groups, such as a butyl group, n-pentyl group, isopentyl group, neopentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, are mentioned.
Examples of the unsubstituted or substituted cycloalkyl group include cycloalkyl groups having 3 to 10 carbon atoms such as a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a cycloheptyl group.
Examples of the alkenyl group of the above-described unsubstituted or substituted alkenyl group include a vinyl group, 1-propenyl group, 2-propenyl group, 1-butenyl group, 2-butenyl group, and 3-butenyl group. Examples thereof include alkenyl groups having 2 to 10 carbon atoms.
In addition, examples of the substituent for the alkyl group, cycloalkyl group, and alkenyl group described above include halogen atoms such as fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, and iodine atom; hydroxyl group; thiol group; epoxy group; glycidoxy group; ) Acryloyloxy group; unsubstituted or substituted aryl group such as phenyl group, 4-methylphenyl group, 4-chlorophenyl group and the like.
Moreover, as an aryl group which has the above-mentioned unsubstituted or substituted group, C6-C10 aryl groups, such as a phenyl group, 1-naphthyl group, 2-naphthyl group, are mentioned, for example.
In addition, examples of the substituent of the aryl group include halogen atoms such as fluorine atom, chlorine atom, bromine atom and iodine atom; alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms such as methyl group and ethyl group; methoxy group and ethoxy group Nitro group; cyano group; hydroxyl group; thiol group; epoxy group; glycidoxy group; (meth) acryloyloxy group; phenyl group, 4-methylphenyl group, 4-chlorophenyl group, etc. Examples thereof include an unsubstituted or substituted aryl group.
Examples of the alkylsilyl group described above include trimethylsilyl group, triethylsilyl group, triisopropylsilyl group, tri-t-butylsilyl group, methyldiethylsilyl group, dimethylsilyl group, diethylsilyl group, methylsilyl group, and ethylsilyl group. .
In addition, as Rx, Ry, and Rz, a hydrogen atom, a C1-C6 alkyl group, or a phenyl group is preferable, and a hydrogen atom is especially preferable.

(i)無機ポリシラザン化合物
また、一般式(1)において、Rx、Ry、Rzが全て水素原子である無機ポリシラザン化合物(パーヒドロポリシラザン)が好ましい。
かかる、無機ポリシラザン化合物としては、下記一般式(2)〜(3)および式(4)で表わされる構造を含む化合物が挙げられる。
(I) Inorganic polysilazane compound Moreover, in General formula (1), the inorganic polysilazane compound (perhydropolysilazane) whose Rx, Ry, and Rz are all hydrogen atoms is preferable.
Examples of the inorganic polysilazane compound include compounds including structures represented by the following general formulas (2) to (3) and formula (4).

すなわち、下記一般式(2)で表わされる繰り返し単位を有する直鎖状構造を有するとともに、1分子中に3〜10個のSiH3基を有する数平均分子量が690〜2000の範囲内の値であるパーヒドロポリシラザン(特公昭63−16325号公報)が挙げられる。That is, it has a linear structure having a repeating unit represented by the following general formula (2) and a number average molecular weight having 3 to 10 SiH 3 groups in one molecule is in a range of 690 to 2000. One perhydropolysilazane (Japanese Patent Publication No. 63-16325) can be mentioned.

Figure 0005408818
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(一般式(2)中、添字bは任意の自然数を表わす。) (In the general formula (2), the subscript b represents an arbitrary natural number.)

また、下記一般式(3)で表わされる繰り返し単位を有する直鎖状構造と分岐構造とを有するパーヒドロポリシラザンが挙げられる。   Moreover, the perhydropolysilazane which has a linear structure and a branched structure which have a repeating unit represented by following General formula (3) is mentioned.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(3)中、Y1は、水素原子または下記一般式(3´)で表わされる基であり、添字cおよびdはそれぞれ任意の自然数を表わす。)(In general formula (3), Y 1 is a hydrogen atom or a group represented by the following general formula (3 ′), and subscripts c and d each represent an arbitrary natural number.)

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(3´)中、Y2は、水素原子、または一般式(3´)で表わされる基であり、添字eは任意の自然数を表わし、*は結合位置を表わす。)(In General Formula (3 ′), Y 2 is a hydrogen atom or a group represented by General Formula (3 ′), subscript e represents an arbitrary natural number, and * represents a bonding position.)

さらに、例えば、下記式(4)で表わされるパーヒドロポリシラザン構造を有する、分子内に直鎖状構造、分岐構造および環状構造を有するパーヒドロポリシラザンが挙げられる。   Furthermore, for example, perhydropolysilazane having a perhydropolysilazane structure represented by the following formula (4) and having a linear structure, a branched structure and a cyclic structure in the molecule can be mentioned.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(ii)有機ポリシラザン化合物
また、一般式(1)中のRx、Ry、Rzの少なくとも一つが水素原子ではなく、有機基である有機ポリシラザン化合物も好適である。
かかる有機ポリシラザン化合物としては、下記一般式(5)〜(9)で表わされる構造を含む化合物が挙げられる。
(Ii) Organic polysilazane compound An organic polysilazane compound in which at least one of Rx, Ry, and Rz in the general formula (1) is not a hydrogen atom but an organic group is also suitable.
Examples of the organic polysilazane compound include compounds having structures represented by the following general formulas (5) to (9).

すなわち、下記一般式(5)で表わされる構造を繰り返し単位として、主として重合度が3〜5の環状構造を有する化合物が挙げられる。   That is, a compound having a cyclic structure having a degree of polymerization of 3 to 5 mainly using a structure represented by the following general formula (5) as a repeating unit.

Figure 0005408818
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(一般式(5)中、Rx´は、無置換若しくは置換基を有するアルキル基、無置換若しくは置換基を有するシクロアルキル基、無置換若しくは置換基を有するアルケニル基、無置換若しくは置換基を有するアリール基、またはアルキルシリル基を表わし、以下の一般式においても同様である。) (In general formula (5), Rx ′ has an unsubstituted or substituted alkyl group, an unsubstituted or substituted cycloalkyl group, an unsubstituted or substituted alkenyl group, an unsubstituted or substituted group. This represents an aryl group or an alkylsilyl group, and the same applies to the following general formulas.)

また、下記一般式(6)で表わされる構造を繰り返し単位として、主として重合度が3〜5の環状構造を有する化合物が挙げられる。   Moreover, the compound which has a cyclic structure with a degree of polymerization of 3-5 mainly using the structure represented by following General formula (6) as a repeating unit is mentioned.

Figure 0005408818
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(一般式(6)中、Rz´は、無置換若しくは置換基を有するアルキル基、無置換若しくは置換基を有するシクロアルキル基、またはアルキルシリル基である。) (In general formula (6), Rz ′ represents an unsubstituted or substituted alkyl group, an unsubstituted or substituted cycloalkyl group, or an alkylsilyl group.)

また、下記一般式(7)で表わされる構造を繰り返し単位として、主として重合度が3〜5の環状構造を有する化合物が挙げられる。   Moreover, the compound which has a cyclic structure with a polymerization degree of 3-5 mainly using the structure represented by the following general formula (7) as a repeating unit is mentioned.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(7)中、Ry´は、無置換若しくは置換基を有するアルキル基、無置換若しくは置換基を有するシクロアルキル基、無置換若しくは置換基を有するアルケニル基、無置換若しくは置換基を有するアリール基、またはアルキルシリル基である。) (In General Formula (7), Ry ′ has an unsubstituted or substituted alkyl group, an unsubstituted or substituted cycloalkyl group, an unsubstituted or substituted alkenyl group, an unsubstituted or substituted group. An aryl group or an alkylsilyl group.)

また、下記式(8)で表わされる構造を分子内に有するポリオルガノ(ヒドロ)シラザン化合物が挙げられる。   Moreover, the polyorgano (hydro) silazane compound which has a structure represented by following formula (8) in a molecule | numerator is mentioned.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

さらに、下記一般式(9)で表わされる繰り返し構造を有するポリシラザン化合物が挙げられる。   Furthermore, the polysilazane compound which has a repeating structure represented by following General formula (9) is mentioned.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(9)中、Y3は、水素原子、または下記一般式(9´)で表わされる基であり、添字fおよびgは任意の自然数を表わす。)(In the general formula (9), Y 3 is a hydrogen atom or a group represented by the following general formula (9 ′), and the subscripts f and g represent arbitrary natural numbers.)

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(9´)中、Y4は、水素原子、または一般式(9´)で表わされる基であり、添字hは任意の自然数を表わし、*は結合位置を表わす。)(In general formula (9 ′), Y 4 represents a hydrogen atom or a group represented by general formula (9 ′), subscript h represents an arbitrary natural number, and * represents a bonding position.)

なお、上述した有機ポリシラザン化合物は、公知の方法により製造することができる。
例えば、下記一般式(10)で表わされる無置換若しくは置換基を有するハロゲノシラン化合物と2級アミンとの反応生成物に、アンモニアまたは1級アミンを反応させることにより得ることができる。
なお、用いる2級アミン、アンモニアおよび1級アミンは、目的とするポリシラザン化合物の構造に応じて、適宜選択することができる。
In addition, the organic polysilazane compound mentioned above can be manufactured by a well-known method.
For example, it can be obtained by reacting ammonia or a primary amine with the reaction product of an unsubstituted or substituted halogenosilane compound represented by the following general formula (10) and a secondary amine.
In addition, the secondary amine, ammonia, and primary amine to be used can be suitably selected according to the structure of the target polysilazane compound.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

(一般式(10)中、Xは、ハロゲン原子を表わし、R1は、上述したRx、Ry、Rz、Rx´、Ry´およびRz´のいずれかの置換基であって、mは、1〜3の自然数を表す。)(In the general formula (10), X represents a halogen atom, R 1 is a substituent of any one of Rx, Ry, Rz, Rx ′, Ry ′ and Rz ′ described above, and m is 1 Represents a natural number of ~ 3)

(iii)変性ポリシラザン
また、本発明においては、ポリシラザン化合物として、変性ポリシラザンを用いることも好ましい。
かかる変性ポリシラザンとしては、例えば、金属原子(当該金属原子は架橋をなしていてもよい。)を含むポリメタロシラザン、繰り返し単位が[(SiH2i(NH)j)]および[(SiH2kO](添字i、jおよびkは、それぞれ独立して1、2または3である。)で表わされるポリシロキサザン、ポリシラザンにボロン化合物を反応させて製造するポリボロシラザン、ポリシラザンとメタルアルコキシドとを反応させて製造するポリメタロシラザン、無機シラザン高重合体や改質ポリシラザン、ポリシラザンに有機成分を導入した共重合シラザン、ポリシラザンにセラミックス化を促進するための触媒的化合物を付加または添加した低温セラミックス化ポリシラザン、ケイ素アルコキシド付加ポリシラザン、グリシドール付加ポリシラザン、アセチルアセトナト錯体付加ポリシラザン、金属カルボン酸塩付加ポリシラザン等が挙げられる。
その他、上述したポリシラザン化合物またはその変性物に、アミン類および/または酸類を添加してなるポリシラザン組成物、パーヒドロポリシラザンにメタノール等のアルコールあるいはヘキサメチルジシラザンを末端N原子に付加して得られる化合物等が挙げられる。
(Iii) Modified polysilazane In the present invention, it is also preferable to use a modified polysilazane as the polysilazane compound.
Examples of such a modified polysilazane include a polymetallosilazane containing a metal atom (the metal atom may be cross-linked), and repeating units of [(SiH 2 ) i (NH) j )] and [(SiH 2 ) K O] (subscripts i, j and k are each independently 1, 2 or 3). Polyborosilazane, polysilazane and metal produced by reacting a boron compound with polysiloxazan or polysilazane represented by Polymetallosilazane produced by reacting with alkoxide, inorganic silazane high polymer, modified polysilazane, copolymerized silazane in which organic components are introduced into polysilazane, and a catalytic compound for promoting ceramicization are added to or added to polysilazane. Low temperature ceramicized polysilazane, silicon alkoxide addition polysilazane, glycidol addition Rishirazan, acetylacetonato complexes addition polysilazane include metal carboxylate added polysilazane.
In addition, a polysilazane composition obtained by adding amines and / or acids to the above-described polysilazane compound or a modified product thereof, obtained by adding alcohol such as methanol or hexamethyldisilazane to a terminal N atom to perhydropolysilazane. Compounds and the like.

(2)ガスバリア層形成用材料極性ポリマ
また、ガスバリア層形成用材料の一部を構成する極性ポリマとして、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方を用いることを特徴とする。
すなわち、上述したポリシラザン化合物と、極性ポリマとの組み合わせによって、得られるガスバリア層において、柔軟性と、被膜強度とがそれぞれ高まり、かつ、バリア性にも優れるガスバリア層とすることができるためである。
したがって、水酸基含有ポリマあるいはカルボキシル基含有ポリマとして、水酸基およびカルボキシル基、あるいはいずれか一方を有する各種ポリマ、すなわち、アクリル酸エステル共重合体、エチレン−アクリル酸エステル共重合体、ポリエステル系樹脂、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルホルマールやポリビニルブチラール等のポリビニルアセタ−ル樹脂(PVAc)、エチレンービニルアルコール共重合体(EVOH)、ビニルアルコール−(N−ビニルホルムアミド)共重合体、ビニルアルコール−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、エチレン−メタアクリル酸共重合体等の一種単独または二種以上の組み合わせが挙げられる。
以下、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマに大別して、さらに詳細に説明する。
(2) Gas barrier layer-forming material polar polymer Further, as the polar polymer constituting a part of the gas barrier layer-forming material, a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or one of them is used.
That is, the combination of the polysilazane compound and the polar polymer described above is because the obtained gas barrier layer can be made to be a gas barrier layer with improved flexibility and coating strength and excellent barrier properties.
Therefore, as the hydroxyl group-containing polymer or carboxyl group-containing polymer, various polymers having a hydroxyl group and / or a carboxyl group, that is, an acrylate ester copolymer, an ethylene-acrylate ester copolymer, a polyester resin, and polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl acetal resins (PVAc) such as polyvinyl formal and polyvinyl butyral, ethylene-vinyl alcohol copolymer (EVOH), vinyl alcohol- (N-vinylformamide) copolymer, vinyl alcohol-vinyl acetate One kind of a copolymer, an ethylene-acrylic acid copolymer, an ethylene-methacrylic acid copolymer, or a combination of two or more kinds may be mentioned.
Hereinafter, it will be described in more detail by roughly classifying into hydroxyl group-containing polymers and carboxyl group-containing polymers.

(i)水酸基含有ポリマ
本発明に用いる水酸基含有ポリマとしては、分子内に水酸基を有し、シラザン化合物との相溶性が良いものであって、すなわち、水酸基含有ポリマとしては、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つであることを特徴とする。
この理由は、このような水酸基含有ポリマを用いることによって、ポリシラザン化合物との相溶性が良好になって、さらに優れたガスバリア性を得ることができるためである。
(I) Hydroxyl group-containing polymer The hydroxyl group-containing polymer used in the present invention has a hydroxyl group in the molecule and has good compatibility with a silazane compound . That is, examples of the hydroxyl group-containing polymer include polyvinyl alcohol and polyvinyl formal. , Polyvinyl butyral, and at least one selected from the group consisting of ethylene-vinyl alcohol copolymers.
The reason for this is that by using such a hydroxyl group-containing polymer, compatibility with the polysilazane compound is improved, and further excellent gas barrier properties can be obtained.

また、これら水酸基含有ポリマがポリビニルアルコールである場合、鹸化度(極性ポリマ中に存在する酢酸エステル等の加水分解程度を表わす指標)は10〜60%の範囲内であることが好ましい。
この理由は、ポリビニルアルコールの鹸化度が10%未満の値になると、所定量配合した場合であっても、ガスバリア層における柔軟性や耐クラック性の向上が不十分となる場合があるためである。
一方、ポリビニルアルコールの鹸化度が60%を超えた値になると、ポリシラザン化合物との相溶性やガスバリア層形成用材料の安定性が低下し、均一なガスバリア層を形成することが困難となる場合があるためである。
したがって、ポリビニルアルコールの鹸化度は、10〜60%の範囲内であることが好ましく、20〜50%の範囲内であることがより好ましく、30〜40%の範囲内であることがさらに好ましい。
When these hydroxyl group-containing polymers are polyvinyl alcohol, the degree of saponification (an index indicating the degree of hydrolysis of acetates and the like present in the polar polymer) is preferably in the range of 10 to 60%.
This is because when the degree of saponification of polyvinyl alcohol is less than 10%, the improvement in the flexibility and crack resistance of the gas barrier layer may be insufficient even when a predetermined amount is blended. .
On the other hand, when the saponification degree of polyvinyl alcohol exceeds 60%, the compatibility with the polysilazane compound and the stability of the material for forming the gas barrier layer are lowered, and it may be difficult to form a uniform gas barrier layer. Because there is.
Therefore, the saponification degree of polyvinyl alcohol is preferably in the range of 10 to 60%, more preferably in the range of 20 to 50%, and still more preferably in the range of 30 to 40%.

(ii)カルボキシル基含有ポリマ
本発明に用いるカルボキシル基含有ポリマとしては、分子中にカルボキシル基を有し、シラザン化合物との相溶性が良いものであって、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であることを特徴とする。それによって、ポリシラザン化合物との相溶性が良好になって、さらに優れたガスバリア性を得ることができる。
(Ii) Carboxyl group-containing polymer The carboxyl group-containing polymer used in the present invention has a carboxyl group in the molecule and has good compatibility with the silazane compound, and is an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer. It is characterized by being. And thus, compatibility with the polysilazane compound becomes good, it is possible to obtain more excellent gas barrier properties.

また、これら極性ポリマの重量平均分子量を1,000〜500,000の範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、かかる極性ポリマの重量平均分子量が1,000未満の値になると、所定量配合した場合であっても、ガスバリア層における柔軟性や耐クラック性の向上が不十分となる場合があるためである。
一方、かかる極性ポリマの重量平均分子量が500,000を超えた値になると、ポリシラザン化合物との相溶性やガスバリア層形成用材料の安定性が低下し、均一なガスバリア層を形成することが困難となる場合があるためである。
したがって、極性ポリマの重量平均分子量を10,000〜150,000の範囲内の値とすることがより好ましく、50,000〜100,000の範囲内の値とすることがさらに好ましい。
Moreover, it is preferable to make the weight average molecular weight of these polar polymers into the value within the range of 1,000-500,000.
The reason for this is that when the weight average molecular weight of the polar polymer is less than 1,000, even if a predetermined amount is blended, the improvement in flexibility and crack resistance in the gas barrier layer may be insufficient. Because.
On the other hand, when the weight average molecular weight of the polar polymer exceeds 500,000, the compatibility with the polysilazane compound and the stability of the gas barrier layer forming material are lowered, and it is difficult to form a uniform gas barrier layer. This is because there may be cases.
Therefore, the weight average molecular weight of the polar polymer is more preferably set to a value within the range of 10,000 to 150,000, and further preferably set to a value within the range of 50,000 to 100,000.

なお、これらの極性ポリマに対して、ガスバリア層のガスバリア性、透明性、耐クラック性等を過度に損なわない範囲で、アクリルポリマ、ウレタンポリマ、シリコーンポリマ、酢酸ビニルポリマ、塩化ビニルポリマ、エポキシポリマ、アクリルオリゴマ、ウレタンオリゴマ、シリコーンオリゴマ、酢酸ビニルオリゴマ、塩化ビニルオリゴマ、エポキシオリゴマ等のポリマやオリゴマの少なくとも一つを所定量配合することも好ましい。   In addition, for these polar polymers, acrylic polymer, urethane polymer, silicone polymer, vinyl acetate polymer, vinyl chloride polymer, epoxy polymer, acrylic, as long as the gas barrier properties, transparency, crack resistance, etc. of the gas barrier layer are not excessively impaired. It is also preferable to blend a predetermined amount of at least one of polymers and oligomers such as oligomers, urethane oligomers, silicone oligomers, vinyl acetate oligomers, vinyl chloride oligomers and epoxy oligomers.

また、極性ポリマの配合量は、特に制限はないが、ポリシラザン化合物および極性ポリマからなるガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、このような極性ポリマの配合量とすることによって、ポリシラザン化合物との相溶性が良好になって、取り扱いが良好になるとともに、さらにポリシラザン化合物との反応性が高まることによる優れたガスバリア性を有し、柔軟性と被膜強度とが両立したガスバリア層を得ることができるためである。
より具体的には、かかる極性ポリマの配合量が1重量%未満の値になると、柔軟性が得られない場合があるためである。
一方、かかる極性ポリマの配合量が50重量%を超えた値になると、得られるガスバリア層のガスバリア性および被膜強度等が低下したりする場合があるためである。
したがって、ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値とすることが好ましく、10〜45重量%の範囲内の値とすることがより好ましく、15〜40重量%の範囲内の値とすることがさらに好ましい。
The blending amount of the polar polymer is not particularly limited, but the blending amount of the polar polymer is within the range of 10 to 50% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material comprising the polysilazane compound and the polar polymer. It is preferable that
The reason for this is that by using such a polar polymer, the compatibility with the polysilazane compound is improved, the handling is improved, and the reactivity with the polysilazane compound is further improved, resulting in an excellent gas barrier. This is because it is possible to obtain a gas barrier layer having the properties of both flexibility and film strength.
More specifically, if the amount of the polar polymer is less than 1% by weight, flexibility may not be obtained.
On the other hand, when the blending amount of the polar polymer exceeds 50% by weight, the gas barrier property and film strength of the obtained gas barrier layer may be lowered.
Accordingly, the blending amount of the polar polymer is preferably set to a value within the range of 10 to 50% by weight and preferably set to a value within the range of 10 to 45% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material. More preferably, the value is more preferably in the range of 15 to 40% by weight.

(3)膜厚
また、ガスバリア層の膜厚を50〜10000nmの範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、このような所定厚さのガスバリア層とすることによって、さらに優れたガスバリア性や密着性が得られるとともに、柔軟性と、被膜強度とを両立させることができるためである。
したがって、ガスバリア層の膜厚を70〜2000nmの範囲内の値とすることがより好ましく、100〜500nmの範囲内の値とすることがさらに好ましい。
い。
また、本発明のガスバリア層は、表面に、後述する表層を有していることが好ましい。
そして、ガスバリア層の表面に、表層が形成された場合、その表層の膜厚を10〜30nmの範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、このような所定厚さの表層を含むガスバリア層とすることによって、さらに優れたガスバリア性が得られるとともに、優れた透明性についても得ることができるためである。
したがって、ガスバリア層の表層の膜厚を13〜25nmの範囲内の値とすることがより好ましく、15〜20nmの範囲内の値とすることがさらに好ましい。
なお、ガスバリア層の膜厚および所定表層の厚さについては、電子顕微鏡で実測することができる。
(3) Film thickness Moreover, it is preferable to make the film thickness of a gas barrier layer into the value within the range of 50-10000 nm.
The reason for this is that by using the gas barrier layer having such a predetermined thickness, further excellent gas barrier properties and adhesion can be obtained, and at the same time, both flexibility and coating strength can be achieved.
Therefore, the thickness of the gas barrier layer is more preferably set to a value within the range of 70 to 2000 nm, and further preferably set to a value within the range of 100 to 500 nm.
Yes.
Moreover, it is preferable that the gas barrier layer of this invention has the surface layer mentioned later on the surface.
And when a surface layer is formed in the surface of a gas barrier layer, it is preferable to make the film thickness of the surface layer into the value within the range of 10-30 nm.
This is because, by using a gas barrier layer including a surface layer having such a predetermined thickness, a further excellent gas barrier property can be obtained and an excellent transparency can be obtained.
Therefore, the thickness of the surface layer of the gas barrier layer is more preferably set to a value within the range of 13 to 25 nm, and further preferably set to a value within the range of 15 to 20 nm.
The film thickness of the gas barrier layer and the thickness of the predetermined surface layer can be measured with an electron microscope.

(4)弾性率
また、ガスバリア層における弾性率を1.0〜2.5GPaの範囲内の値とすることが好ましい。
すなわち、本発明において、ガスバリア層の表層として、ガスバリア層が設けてある基材の反対側におけるガスバリア層の表面から10〜30nmの深さ位置の弾性率(便宜上、かかる弾性率をガスバリア層の弾性率と称する。)を1.0〜2.5GPaの範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、このような弾性率を有するガスバリア層とすることによって、優れた柔軟性と被膜強度が得られるためである。
また、ガスバリア層の弾性率が2.5GPaより大きいと、折り曲げたりした場合にガスバリア層にクラックが発生し、ガスバリア性が著しく低下することがあり、好ましくない。
一方、ガスバリア層の弾性率が1.0GPaよりも小さいと被膜強度が低下し、傷が付き易くなるため好ましくない。
したがって、ガスバリア層の弾性率を1.0〜2.5GPaの範囲内の値とすることが好ましく、1.0〜2.4GPaの範囲内の値とすることがより好ましく、1.5〜2.0GPaの範囲内の値とすることがさらに好ましい。
なお、ガスバリア層(表層)の弾性率については、便宜的に、基材(PETフィルム等)を含んだ形態において、実施例1に示す条件で測定することができる。
(4) Elastic modulus Moreover, it is preferable to make the elastic modulus in a gas barrier layer into the value within the range of 1.0-2.5 GPa.
That is, in the present invention, as the surface layer of the gas barrier layer, the elastic modulus at a depth position of 10 to 30 nm from the surface of the gas barrier layer on the opposite side of the substrate on which the gas barrier layer is provided (for convenience, this elastic modulus is the elasticity of the gas barrier layer). (Referred to as a rate) is preferably set to a value in the range of 1.0 to 2.5 GPa.
This is because excellent flexibility and film strength can be obtained by using a gas barrier layer having such an elastic modulus.
On the other hand, if the elastic modulus of the gas barrier layer is larger than 2.5 GPa, the gas barrier layer may be cracked when bent, and the gas barrier property may be remarkably lowered.
On the other hand, if the elastic modulus of the gas barrier layer is less than 1.0 GPa, the coating strength is lowered and the film is easily damaged, which is not preferable.
Therefore, the elastic modulus of the gas barrier layer is preferably set to a value in the range of 1.0 to 2.5 GPa, more preferably set to a value in the range of 1.0 to 2.4 GPa. More preferably, the value is within the range of 0 GPa.
In addition, about the elasticity modulus of a gas barrier layer (surface layer), it can measure on the conditions shown in Example 1 in the form containing a base material (PET film etc.) for convenience.

(5)表層
また、ガスバリア層10が、図1に示すように、少なくともケイ素、酸素、および窒素を含む表層11を含んでおり、当該表層におけるXPSで測定されるこれら元素の全体量に対して、ケイ素量を15〜30mol%の範囲内の値、酸素量を45〜70mol%の範囲内の値、炭素量を5〜30mol%の範囲内の値、および窒素量を1.5〜4.0mol%の範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、このように所定組成の表層を含むガスバリア層とすることによって、さらに優れたガスバリア性が得られるとともに、良好な透明性についても得ることができるためである。
なお、ガスバリア層10の表層11としては、表面から約10〜30nmの範囲の領域を意味するが、代表的には、表面から約10nmの深さ位置における元素量を問題とすることができる。
したがって、例えば、基材とは反対側におけるガスバリア層10の表面から10nmの深さ位置における元素量をXPSで測定した値を、ガスバリア層10の表層における元素組成比として算出することができる。
そして、ガスバリア層形成用材料にポリシラザン化合物を用いていることによって、このような表層を生成することが容易となる。
(5) Surface Layer Further, as shown in FIG. 1, the gas barrier layer 10 includes a surface layer 11 containing at least silicon, oxygen, and nitrogen, and the total amount of these elements measured by XPS in the surface layer. , A silicon amount within a range of 15-30 mol%, an oxygen amount within a range of 45-70 mol%, a carbon amount within a range of 5-30 mol%, and a nitrogen amount of 1.5-4. A value within the range of 0 mol% is preferred.
The reason for this is that, by using a gas barrier layer including a surface layer having a predetermined composition in this way, a further excellent gas barrier property can be obtained and a good transparency can be obtained.
The surface layer 11 of the gas barrier layer 10 means a region in the range of about 10 to 30 nm from the surface, but typically the amount of elements at a depth of about 10 nm from the surface can be a problem.
Therefore, for example, a value obtained by measuring the element amount at a depth position of 10 nm from the surface of the gas barrier layer 10 on the side opposite to the base material by XPS can be calculated as the elemental composition ratio in the surface layer of the gas barrier layer 10.
And it becomes easy to produce | generate such a surface layer by using a polysilazane compound for the gas barrier layer forming material.

(6)プラズマイオン注入処理
本発明のガスバリア層は、前述のポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマとを含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層にプラズマイオン注入処理して得られものである。
プラズマイオン注入処理を施すことで、ガスバリア層形成用材料中のポリシラザンがセラミック化し、優れたガスバリア性が発現する。
プラズマイオン注入処理については、詳細には後述の第2の実施形態で説明する。
(6) Plasma Ion Implantation Treatment The gas barrier layer of the present invention is a layer made of a material for forming a gas barrier layer comprising the aforementioned polysilazane compound and a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or one of the polar polymers. It is obtained by plasma ion implantation.
By performing the plasma ion implantation treatment, the polysilazane in the gas barrier layer forming material is converted into a ceramic, and excellent gas barrier properties are exhibited.
The plasma ion implantation process will be described in detail in a second embodiment described later.

3.ガスバリア構造体
(1)水蒸気透過率(WVTR)
また、ガスバリア構造体の40℃、相対湿度90%の雰囲気化での水蒸気透過率を0.3g/(m2・day)以下の値とすることが好ましい。
この理由は、このような水蒸気透過率の値とすることによって、優れたガスバリア性が定量的に得られるためである。
但し、ガスバリア構造体の水蒸気透過率の値が過度に低くなると、使用可能な材料が過度に制限されたり、製造上の歩留まりが著しく低下したりする。
したがって、ガスバリア構造体の水蒸気透過率の値を0.001〜0.3g/(m2・day)の範囲内の値とすることがより好ましく、0.01〜0.2g/(m2・day)の範囲内の値とすることがさらに好ましい。
なお、ガスバリア構造体の水蒸気透過率としては、公知の方法で測定することができ、例えば、実施例1に示す方法で測定することができる。
3. Gas barrier structure (1) Water vapor transmission rate (WVTR)
Moreover, it is preferable that the water vapor transmission rate of the gas barrier structure in an atmosphere of 40 ° C. and relative humidity 90% is set to a value of 0.3 g / (m 2 · day) or less.
The reason for this is that an excellent gas barrier property can be obtained quantitatively by setting such a value of water vapor permeability.
However, when the value of the water vapor transmission rate of the gas barrier structure is excessively low, usable materials are excessively limited, and the manufacturing yield is remarkably reduced.
Therefore, it is more preferably set to a value within the range of the gas barrier structure the value of the water vapor transmission rate of the body 0.001~0.3g / (m 2 · day) , 0.01~0.2g / (m 2 · day) is more preferable.
The water vapor transmission rate of the gas barrier structure can be measured by a known method, for example, the method shown in Example 1.

(2)その他の層
本発明のガスバリア構造体は、他の層を含んでいてもよい。他の層は、単層でもよく複数層であっても構わない。また、その他の層は、ガスバリア構造体の両面に形成されていてもよく、ガスバリア層側あるいは基材側の片面に形成されていてもよい。
(2) Other layers The gas barrier structure of the present invention may contain other layers. The other layer may be a single layer or a plurality of layers. The other layers may be formed on both sides of the gas barrier structure, or may be formed on one side of the gas barrier layer side or the substrate side.

(i)無機化合物層
無機化合物層は、無機化合物の一種又は二種以上の組み合わせからなる層であるが、かかる無機化合物層を、ガスバリア層と併設することが好ましい。
ここで、無機化合物層を構成する無機化合物としては、一般的に真空成膜可能で、ガスバリア性を有するもの、例えば無機酸化物、無機窒化物、無機炭化物、無機硫化物、これらの複合体である無機酸化窒化物、無機酸化炭化物、無機窒化炭化物、無機酸化窒化炭化物等が挙げられる。
(I) Inorganic compound layer Although an inorganic compound layer is a layer which consists of a 1 type, or 2 or more types of combination of an inorganic compound, it is preferable to attach this inorganic compound layer with a gas barrier layer.
Here, as the inorganic compound constituting the inorganic compound layer, those that can be generally formed in a vacuum and have a gas barrier property, such as inorganic oxides, inorganic nitrides, inorganic carbides, inorganic sulfides, and composites thereof, can be used. Some inorganic oxynitrides, inorganic oxycarbides, inorganic nitriding carbides, inorganic oxynitriding carbides, and the like can be given.

(ii)衝撃吸収層
また、衝撃吸収層は、成形体に衝撃が加わった時に、割れ発生を防止するためのものであるが、かかる衝撃吸収層を、ガスバリア層と併設することが好ましい。
ここで、衝撃吸収層を形成する素材としては、特に限定されないが、例えば、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂、オレフィン系樹脂、ゴム系材料等を用いることができる。
(Ii) Shock Absorbing Layer The shock absorbing layer is for preventing the occurrence of cracking when an impact is applied to the molded body, and it is preferable that such a shock absorbing layer is provided along with the gas barrier layer.
Here, the material for forming the shock absorbing layer is not particularly limited, and for example, acrylic resins, urethane resins, silicone resins, olefin resins, rubber materials, and the like can be used.

(iii)導電体層
また、導電体層は、ガスバリア層に対して、通常、面抵抗として、1〜1000Ω/□の導電性や帯電防止性等を付与するための層であるが、かかる導電体層を、ガスバリア層と併設することが好ましい。
ここで、導電体層を構成する材料としては、金属、合金、金属酸化物、電気伝導性化合物、これらの混合物等が挙げられる。より具体的には、アンチモンをドープした酸化スズ(ATO);フッ素をドープした酸化スズ(FTO);酸化スズ、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化亜鉛インジウム(IZO)等の導電性金属酸化物;金、銀、クロム、ニッケル等の金属;これら金属と導電性金属酸化物との混合物;ヨウ化銅、硫化銅等の無機導電性物質;ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリピロール等の有機導電性材料等が挙げられる。
(Iii) Conductor layer In addition, the conductor layer is a layer for imparting conductivity of 1 to 1000 Ω / □ or antistatic property to the gas barrier layer, usually as surface resistance. The body layer is preferably provided together with the gas barrier layer.
Here, examples of the material constituting the conductor layer include metals, alloys, metal oxides, electrically conductive compounds, and mixtures thereof. More specifically, antimony-doped tin oxide (ATO); fluorine-doped tin oxide (FTO); tin oxide, zinc oxide, indium oxide, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), etc. Conductive metal oxides; metals such as gold, silver, chromium and nickel; mixtures of these metals and conductive metal oxides; inorganic conductive materials such as copper iodide and copper sulfide; organics such as polyaniline, polythiophene and polypyrrole Examples thereof include conductive materials.

(iv)プライマー層
プライマー層は、基材の表面と、ガスバリア層との層間密着性を高める役割を果たす。すなわち、このようなプライマー層を設けることにより、層間密着性及び表面平滑性に極めて優れるガスバリア層を得ることができる。
ここで、プライマー層を構成する材料としては、特に限定されず、公知のものが使用できる。例えば、ケイ素含有化合物、光重合性モノマ及び/又は光重合性プレポリマからなる光重合性化合物、及び少なくとも可視光域の光でラジカルを発生する重合開始剤を含む光重合性組成物、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂(特にポリアクリルポリオール、ポリエステルポリオール、ポリエーテルポリオール等とイソシアネート化合物との2液硬化型樹脂)、アクリル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、塩化ビニル/酢酸ビニル共重合体、ポリビニルブチラール系樹脂、ニトロセルロース系樹脂等の樹脂類、アルキルチタネート、エチレンイミン等が挙げられる。これらの材料は一種単独で、あるいは二種以上を組み合わせて用いることができる。
なお、得られたプライマー層に、後述する、イオン注入層にイオンを注入する方法と同様な方法によりイオン注入を行ってもよい。この理由は、プライマー層に対してもイオン注入を行うことにより、より優れたガスバリア構造体を得ることができるためである。
(Iv) Primer layer The primer layer plays a role of improving interlayer adhesion between the surface of the substrate and the gas barrier layer. That is, by providing such a primer layer, a gas barrier layer that is extremely excellent in interlayer adhesion and surface smoothness can be obtained.
Here, it does not specifically limit as a material which comprises a primer layer, A well-known thing can be used. For example, a photopolymerizable composition comprising a silicon-containing compound, a photopolymerizable compound comprising a photopolymerizable monomer and / or a photopolymerizable prepolymer, and a polymerization initiator that generates radicals at least in the visible light region, a polyester resin , Polyurethane resins (particularly polyacrylic polyols, polyester polyols, polyether polyols and isocyanate compounds) and acrylic resins, polycarbonate resins, vinyl chloride / vinyl acetate copolymers, polyvinyl butyral resins And resins such as nitrocellulose resins, alkyl titanates, and ethyleneimines. These materials can be used alone or in combination of two or more.
In addition, you may ion-implant into the obtained primer layer by the method similar to the method of implanting ion to the ion implantation layer mentioned later. This is because a better gas barrier structure can be obtained by performing ion implantation also on the primer layer.

本発明のガスバリア構造体は、柔軟性や被膜強度性等に優れているので、液晶ディスプレイ、ELディスプレイ、電子ペーパー等のディスプレイ部材、太陽電池用バックシート、太陽電池用ブロントシート等のフレキシブル電子デバイス用の部材として好適に用いることができる。   Since the gas barrier structure of the present invention is excellent in flexibility, coating strength, etc., flexible electronic devices such as liquid crystal displays, EL displays, display members such as electronic paper, solar cell backsheets, solar cell bronze sheets, etc. It can be suitably used as a member for use.

[第2の実施形態]
第2の実施形態は、基材上に、ガスバリア層形成用材料からなるガスバリア層を備えてなるガスバリア構造体の形成方法であって、下記工程(1)〜(2)を含むことを特徴とするガスバリア構造体の形成方法である。
(1)ポリシラザン化合物と、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つである水酸基含有ポリマおよびエチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であるカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を、ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値で含むガスバリア層形成用材料からなる層を、基材上に積層する積層工程
(2)ガスバリア層形成用材料からなる層にプラズマイオン注入して、ガスバリア層とするイオン注入工程
[Second Embodiment]
2nd Embodiment is a formation method of the gas barrier structure provided with the gas barrier layer which consists of a gas barrier layer forming material on a base material, Comprising: The following process (1)-(2) is included, It is characterized by the above-mentioned. This is a method for forming a gas barrier structure.
(1) A polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer which are at least one selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene-vinyl alcohol copolymer A gas barrier layer containing a carboxyl group-containing polymer or any one polar polymer with a blending amount of the polar polymer within a range of 10 to 50% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material. Laminating step of laminating a layer made of a forming material on a base material (2) Ion implantation step of plasma ion implantation into a layer made of a material for forming a gas barrier layer to form a gas barrier layer

1.工程(1):積層工程
工程(1)は、図2(a)に示すように、ガスバリア性を所望する基材12を準備し、図2(b)に示すように、ガスバリア層形成用材料からなる層10aを、準備した基材12の上に形成する工程である。
ここで、ガスバリア層形成用材料からなる層を形成する方法は、特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、ポリシラザン化合物と、極性ポリマの少なくとも一種、所望により他の成分、及び溶剤等を含有する塗布液を、基材上に塗布し、得られた塗膜を適度に乾燥して形成する方法が挙げられる。
塗布液を塗布する方法としては、例えば、スクリーン印刷法、ナイフコート法、ロールコート法、ダイコート法、インクジェット法、スピンコート法等の公知の塗布方法が挙げられる。
また、得られた塗膜の乾燥は、80〜150℃で、数十秒から数十分行う(図2(c))。
さらに、使用するポリシラザン化合物、極性ポリマ、および基材については、上記のガスバリア構造体において記載した内容と同様とすることができる。
1. Step (1): Laminating Step In step (1), as shown in FIG. 2 (a), a base material 12 for which gas barrier properties are desired is prepared, and as shown in FIG. 2 (b), a gas barrier layer forming material. This is a step of forming a layer 10a made of
Here, the method for forming the layer made of the gas barrier layer forming material is not particularly limited, and a known method can be used. For example, there is a method in which a coating liquid containing a polysilazane compound and at least one of polar polymers, optionally other components, and a solvent is applied on a substrate, and the resulting coating film is dried appropriately. Can be mentioned.
Examples of the method for applying the coating liquid include known coating methods such as screen printing, knife coating, roll coating, die coating, ink jet, and spin coating.
The obtained coating film is dried at 80 to 150 ° C. for several tens of seconds to several tens of minutes (FIG. 2C).
Further, the polysilazane compound, the polar polymer, and the substrate to be used can be the same as those described in the gas barrier structure.

また、任意工程であるが、ガスバリア層形成用材料からなる層10aが形成された基材12を、所定条件でシーズニング処理することが好ましい。
ここで、シーズニング処理の条件として、温度15〜35℃、処理時間24〜480時間の処理条件であることが好ましく、温度20〜30℃、処理時間48〜240時間の処理条件であることがより好ましい。
このように、シーズニング処理を行うことで、ガスバリア層形成用材料からなる層中におけるポリシラザン化合物のセラミック化が進行し、優れたガスバリア性を得ることができるためである。
In addition, although it is an optional step, it is preferable that the base material 12 on which the layer 10a made of the gas barrier layer forming material is formed is subjected to seasoning treatment under predetermined conditions.
Here, the seasoning treatment condition is preferably a treatment condition of a temperature of 15 to 35 ° C. and a treatment time of 24 to 480 hours, and more preferably a treatment condition of a temperature of 20 to 30 ° C. and a treatment time of 48 to 240 hours. preferable.
Thus, by performing the seasoning treatment, ceramicization of the polysilazane compound in the layer made of the gas barrier layer forming material proceeds, and excellent gas barrier properties can be obtained.

3.工程(2):プラズマイオン注入工程
工程(2)は、図2(d)に示すように、ガスバリア層形成用材料からなる層10に対して、プラズマイオン注入法を行い、矢印Pで表わされるように、外部電界を用いて発生させたプラズマ中に存在するイオンを注入し、最終的に、図2(e)に示すように、所定のガスバリア層10を備えたガスバリア構造体50とする工程である。
より具体的には、プラズマイオン注入法は、希ガス等のプラズマ生成ガスを含む雰囲気下でプラズマを発生させ、負の高電圧パルスを印加することにより、ガスバリア層形成用材料からなる層の表面に、プラズマ中のイオン(陽イオン)を注入するのが基本方法である。
なお、図2(e)中、ガスバリア層10中に形成された表層11の形成位置が理解されやすいように、これらの境界領域を点線で表わしてある。
3. Step (2): Plasma Ion Implantation Step In step (2), as shown in FIG. 2D, a plasma ion implantation method is performed on the layer 10 made of the gas barrier layer forming material, and is represented by an arrow P. Thus, ions existing in plasma generated using an external electric field are implanted, and finally a gas barrier structure 50 having a predetermined gas barrier layer 10 is formed as shown in FIG. It is.
More specifically, the plasma ion implantation method generates a plasma in an atmosphere containing a plasma generation gas such as a rare gas and applies a negative high voltage pulse to thereby form a surface of a layer made of a gas barrier layer forming material. The basic method is to implant ions (positive ions) in the plasma.
In FIG. 2E, these boundary regions are indicated by dotted lines so that the formation position of the surface layer 11 formed in the gas barrier layer 10 can be easily understood.

また、プラズマイオン注入法としては、外部電界を用いて発生させたプラズマ中に存在するイオンを、ガスバリア層形成用材料からなる層に対して注入する方法、または外部電電界を用いることなく、ガスバリア層形成用材料からなる層に印加する負の高電圧パルスによる電界のみで発生させたプラズマ中に存在するイオンを、ガスバリア層形成用材料からなる層に注入する方法が好ましい。   Further, as a plasma ion implantation method, ions existing in plasma generated using an external electric field are implanted into a layer made of a material for forming a gas barrier layer, or a gas barrier without using an external electric field. A method of injecting ions present in plasma generated only by an electric field generated by a negative high voltage pulse applied to a layer made of a layer forming material into the layer made of a gas barrier layer forming material is preferable.

また、ガスバリア層形成用材料からなる層にプラズマ中のイオンを注入する際には、公知のプラズマイオン注入装置を用いることができる。
したがって、一例であるが、図3に示すプラズマイオン注入装置200を用いることができる。
すなわち、かかるプラズマイオン注入装置200は、基本的に、真空チャンバー211と、マイクロ波電源(図示せず)と、マグネットコイル(図示せず)と、直流印加装置(パルス電源)208と、を備えている。
そして、真空チャンバー211は、その内部の所定位置に配置された、基材12上にガスバリア層形成用材料からなる層10が形成された基材フィルム16(以下、単に基材フィルム16ということがある)に対して、ガス導入口203から導入した所定ガスに由来したイオン注入を行うための容器である。
Further, when ions in plasma are implanted into a layer made of the gas barrier layer forming material, a known plasma ion implantation apparatus can be used.
Therefore, as an example, the plasma ion implantation apparatus 200 shown in FIG. 3 can be used.
That is, the plasma ion implantation apparatus 200 basically includes a vacuum chamber 211, a microwave power source (not shown), a magnet coil (not shown), and a direct current application device (pulse power source) 208. ing.
The vacuum chamber 211 is a base film 16 (hereinafter simply referred to as the base film 16) in which the layer 10 made of the gas barrier layer forming material is formed on the base 12 and is disposed at a predetermined position inside the vacuum chamber 211. A container for performing ion implantation derived from a predetermined gas introduced from the gas inlet 203.

また、直流印加装置208は、オシロスコープ207が取り付けられた直流電源であって、基材である基材フィルム16に、高電圧パルスを印加するためのパルス電源である。
そのため、直流印加装置208は、基材である基材フィルム16がその上に配置された導体202に電気的に接続されている。
The direct current application device 208 is a direct current power source to which an oscilloscope 207 is attached, and is a pulse power source for applying a high voltage pulse to the base film 16 as a base material.
Therefore, the direct current application device 208 is electrically connected to the conductor 202 on which the base film 16 as a base material is disposed.

よって、このように構成されたプラズマイオン注入装置200によれば、マイクロ波電源(プラズマ放電用電極)およびマグネットコイルを駆動することによって、導体202および基材フィルム16の周囲で所定ガスのプラズマが発生する。
次いで、所定時間経過後、マイクロ波電源およびマグネットコイルの駆動が停止されるとともに、直流印加装置208が駆動され、所定の高電圧パルス(負電圧)が、高電圧導入端子210および導体202を介して、被処理物16に印加されることになる。
したがって、かかる高電圧パルス(負電圧)の印加によって、プラズマ中のイオン種(窒素イオン等)が誘引され、ガスバリア層形成用材料からなる層に注入することによって、少なくとも表面にガスバリア層を備えたガスバリア構造体とすることができる。
なお、図示しないものの、連続的にプラズマイオンを注入するための注入装置においては、被処理物16を、繰り返し、搬送、巻き取りを行い、順次、プラズマイオン注入することができる。
Therefore, according to the plasma ion implantation apparatus 200 configured as described above, the plasma of the predetermined gas is generated around the conductor 202 and the base film 16 by driving the microwave power source (plasma discharge electrode) and the magnet coil. Occur.
Next, after a predetermined time has elapsed, the driving of the microwave power source and the magnet coil is stopped, and the DC application device 208 is driven, and a predetermined high voltage pulse (negative voltage) is passed through the high voltage introduction terminal 210 and the conductor 202. Thus, it is applied to the workpiece 16.
Therefore, by applying such a high voltage pulse (negative voltage), ion species (nitrogen ions, etc.) in the plasma are attracted and injected into a layer made of the gas barrier layer forming material, so that at least the surface has a gas barrier layer. It can be a gas barrier structure.
Although not shown, in an implantation apparatus for continuously injecting plasma ions, the workpiece 16 can be repeatedly conveyed, wound, and sequentially plasma ion implanted.

そして、上述した真空チャンバーに導入され、ひいては、ポリシラザン化合物に注入されるイオン種については特に制限されるものではないが、アルゴン、ヘリウム、ネオン、クリプトン、キセノン等の希ガスのイオン;フルオロカーボン、水素、窒素、酸素、二酸化炭素、塩素、フッ素、硫黄等のイオン;メタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、ヘキサン等のアルカン系ガス類のイオン;エチレン、プロピレン、ブテン、ペンテン等のアルケン系ガス類のイオン;ペンタジエン、ブタジエン等のアルカジエン系ガス類のイオン;アセチレン、メチルアセチレン等のアルキン系ガス類のイオン;ベンゼン、トルエン、キシレン、インデン、ナフタレン、フェナントレン等の芳香族炭化水素系ガス類のイオン;シクロプロパン、シクロヘキサン等のシクロアルカン系ガス類のイオン;シクロペンテン、シクロヘキセン等のシクロアルケン系ガス類のイオン;金、銀、銅、白金、ニッケル、パラジウム、クロム、チタン、モリブデン、ニオブ、タンタル、タングステン、アルミニウム等の導電性の金属のイオン;シラン(SiH)又は有機ケイ素化合物のイオン等が挙げられる。The ion species introduced into the vacuum chamber and thus injected into the polysilazane compound is not particularly limited, but ions of rare gases such as argon, helium, neon, krypton, xenon; fluorocarbon, hydrogen , Ions of nitrogen, oxygen, carbon dioxide, chlorine, fluorine, sulfur, etc .; ions of alkane gases such as methane, ethane, propane, butane, pentane, hexane; alkene gases such as ethylene, propylene, butene, pentene Ions of alkadiene gases such as pentadiene and butadiene; ions of alkyne gases such as acetylene and methylacetylene; ions of aromatic hydrocarbon gases such as benzene, toluene, xylene, indene, naphthalene and phenanthrene Cyclopropane, cyclo Ions of cycloalkane gases such as xanthone; Ions of cycloalkene gases such as cyclopentene and cyclohexene; Gold, silver, copper, platinum, nickel, palladium, chromium, titanium, molybdenum, niobium, tantalum, tungsten, aluminum, etc. A conductive metal ion; silane (SiH 4 ) or an organic silicon compound ion.

これらの中でも、より簡便に注入することができ、優れたガスバリア性を有するガスバリア層が得られることから、水素、窒素、酸素、アルゴン、ヘリウム、ネオン、キセノン、及びクリプトンからなる群から選ばれる少なくとも一種のイオンが好ましい。
そして、アルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、ヘリウム(He)、窒素(N)、ネオン(Ne)、および酸素(O)であれば、それぞれ深さ方向厚み(nm)に対するモンテカルロシミュレーション(乱数を用い行う数値解析)で算出されたイオン数のばらつきが小さく、所定深さ位置にイオン注入ができることが判明しており、注入されるイオン種として好適である。
なお、ポリシラザン化合物に注入されるイオン種、すなわち、イオン注入用ガスは、プラズマ生成ガスとしての機能も有することになる。
Among these, at least selected from the group consisting of hydrogen, nitrogen, oxygen, argon, helium, neon, xenon, and krypton, because it can be more easily injected and a gas barrier layer having excellent gas barrier properties can be obtained. One kind of ion is preferred.
For Argon (Ar), Krypton (Kr), Helium (He), Nitrogen (N), Neon (Ne), and Oxygen (O), a Monte Carlo simulation (random number is calculated for depth direction thickness (nm), respectively. It has been found that the variation in the number of ions calculated by the numerical analysis used is small, and ion implantation can be performed at a predetermined depth position, which is suitable as an ion species to be implanted.
Note that the ion species implanted into the polysilazane compound, that is, the ion implantation gas also has a function as a plasma generation gas.

また、イオン注入する際の真空チャンバーの圧力、すなわち、プラズマイオン注入圧力を0.01〜1Paの範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、かかるプラズマイオン注入時の圧力がこのような範囲にあるときに、簡便にかつ効率よく均一にイオンを注入することができ、優れた耐折り曲げ性やガスバリア性を兼ね備えたガスバリア層を効率よく形成することができるためである。
したがって、プラズマイオン注入圧力を0.01〜1Paの範囲内の値とすることが好ましく、0.02〜0.8Paの範囲内の値とすることがより好ましく、0.03〜0.6Paの範囲内の値とすることがさらに好ましい。
Moreover, it is preferable that the pressure of the vacuum chamber at the time of ion implantation, that is, the plasma ion implantation pressure is set to a value within the range of 0.01 to 1 Pa.
The reason for this is that when the plasma ion implantation pressure is in such a range, ions can be implanted easily and efficiently uniformly, and a gas barrier layer having excellent bending resistance and gas barrier properties can be obtained. This is because it can be formed efficiently.
Therefore, the plasma ion implantation pressure is preferably set to a value within the range of 0.01 to 1 Pa, more preferably set to a value within the range of 0.02 to 0.8 Pa, and 0.03 to 0.6 Pa. More preferably, the value is within the range.

また、イオン注入する際の印加電圧(高電圧パルス/負電圧)を−1kV〜−50kVの範囲内の値とすることが好ましい。
この理由は、かかる印加電圧が−1kVより大きい値でイオン注入を行うと、イオン注入量(ドーズ量)が不十分となる場合があって、所望のガスバリア性が得られない場合があるためである。
一方、印加電圧が−50kVより小さい値でイオン注入を行うと、イオン注入時に被処理物が帯電し、また基材12やガスバリア層形成用材料からなる層10aへの着色等の不具合が生じる場合があって、所望のガスバリア性が得られない場合があるためである。
したがって、イオン注入する際の印加電圧を−1kV〜−50kVの範囲内の値とすることが好ましく、−1kV〜−15kVの範囲内の値とすることがより好ましく、−5kV〜−8kVの範囲内の値とすることがさらに好ましい。
Moreover, it is preferable to make the applied voltage (high voltage pulse / negative voltage) at the time of ion implantation into a value within the range of −1 kV to −50 kV.
This is because if the ion implantation is performed with the applied voltage being larger than −1 kV, the ion implantation amount (dose amount) may be insufficient, and a desired gas barrier property may not be obtained. is there.
On the other hand, when ion implantation is performed with an applied voltage smaller than −50 kV, the object to be processed is charged during ion implantation, and defects such as coloring of the base material 12 or the layer 10a made of the gas barrier layer forming material occur. This is because the desired gas barrier property may not be obtained.
Therefore, it is preferable to set the applied voltage at the time of ion implantation to a value in the range of -1 kV to -50 kV, more preferably to a value in the range of -1 kV to -15 kV, and in the range of -5 kV to -8 kV. More preferably, the value is within the range.

以下、実施例を挙げて、本発明をさらに詳細に説明する。但し、本発明は、特段の理由なく以下の実施例の記載に制限されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to the description of the following examples without any particular reason.

[実施例1]
1.ガスバリア構造体の製造
(1)工程1:ガスバリア層形成用材料からなる層形成工程
基材として、ポリエチレンテレフタレートフィルム(三菱樹脂社製、「PET38 T−100」、厚さ38μm、以下、「PETフィルム」という。)を準備した。
次いで、ポリシラザン化合物としてのペルヒドロポリシラザン(クラリアントジャパン社製、「アクアミカNL110−20」、表中、PHPSと表記する。)100重量部に対して、ポリビニルアルコール系樹脂「ゴーセノールNH−26」(日本合成化学社製)を0.5MのNaOH水溶液中で加水分解し、得られた樹脂(鹸化度20%、表中、PVA1と表記する。)を50重量部の割合で含んでなるガスバリア層形成用材料(固形分濃度:10重量%)を準備した。
次いで、PETフィルム上に、ガスバリア層形成用材料をロール塗布し、さらに、120℃、2分間加熱して、厚さ150nm(膜厚)のガスバリア層形成用材料からなる層を形成した。
[Example 1]
1. Production of gas barrier structure (1) Step 1: Layer formation step comprising a material for forming a gas barrier layer As a base material, a polyethylene terephthalate film (manufactured by Mitsubishi Plastics, “PET38 T-100”, thickness 38 μm, hereinafter referred to as “PET film” ") Was prepared.
Next, perhydropolysilazane as a polysilazane compound (manufactured by Clariant Japan Co., Ltd., “AQUAMICA NL110-20”, indicated as PHPS in the table) 100 parts by weight of polyvinyl alcohol resin “GOHSENOL NH-26” (Japan) A gas barrier layer comprising 50 parts by weight of the resin (degree of saponification 20%, expressed as PVA1 in the table) obtained by hydrolyzing in a 0.5M NaOH aqueous solution. Materials (solid content concentration: 10% by weight) were prepared.
Next, a gas barrier layer forming material was roll-coated on the PET film, and further heated at 120 ° C. for 2 minutes to form a layer made of the gas barrier layer forming material having a thickness of 150 nm (film thickness).

(2)工程2:プラズマイオン注入工程
次いで、図3に示すプラズマイオン注入装置(RF電源:日本電子(株)製、RF56000、高電圧パルス電源:栗田製作所(株)、PV−3−HSHV−0835)を用いて、得られたガスバリア層形成用材料からなる層に対し、下記条件にてプラズマイオン注入を行い、実施例1のガスバリア層(厚さ:50nm)を備えたガスバリア構造体とした。
チャンバー内圧:0.2Pa
プラズマ生成ガス:アルゴン
ガス流量:100sccm
RF出力:1000W
RF周波数:1000Hz
RFパルス幅:50μsec
RF delay:25nsec
DC電圧:−10kV
DC周波数:1000Hz
DCパルス幅:5μsec
DC delay:50μsec
Duty比:0.5%
処理時間:300sec
(2) Step 2: Plasma ion implantation step Next, a plasma ion implantation apparatus (RF power source: manufactured by JEOL Ltd., RF56000, high voltage pulse power source: Kurita Manufacturing Co., Ltd., PV-3-HSHV- shown in FIG. 0835), plasma ion implantation was performed on the obtained layer made of the material for forming a gas barrier layer under the following conditions to obtain a gas barrier structure including the gas barrier layer (thickness: 50 nm) of Example 1. .
Chamber internal pressure: 0.2 Pa
Plasma generation gas: Argon gas flow rate: 100 sccm
RF output: 1000W
RF frequency: 1000Hz
RF pulse width: 50 μsec
RF delay: 25nsec
DC voltage: -10 kV
DC frequency: 1000Hz
DC pulse width: 5 μsec
DC delay: 50 μsec
Duty ratio: 0.5%
Processing time: 300 sec

2.ガスバリア構造体の測定
得られたガスバリア構造体につき、以下の測定を行った。
2. Measurement of Gas Barrier Structure The following measurement was performed on the obtained gas barrier structure.

(1)弾性率測定
得られたガスバリア構造体につき、23℃における弾性率(GPa)を、ナノインデンター(米国MTS社製、「Nanoindentor DCM」)にて測定し、ガスバリア層の表面から10nmの深さ位置の弾性率を求めた。
圧子形:三角錐
振動周波数:45Hz
ドリフト速度:0.5nm/sec.
試料ポワソン比:0.25
表面検出しきい値:5%
(1) Elastic modulus measurement About the obtained gas barrier structure, the elastic modulus (GPa) at 23 ° C. was measured with a nanoindenter (“Nanoindentor DCM” manufactured by MTS, USA), and 10 nm from the surface of the gas barrier layer. The elastic modulus at the depth position was obtained.
Indenter type: Triangular pyramid Vibration frequency: 45Hz
Drift speed: 0.5 nm / sec.
Sample Poisson's ratio: 0.25
Surface detection threshold: 5%

(2)XPS測定
得られたガスバリア構造体につき、ガスバリア層(表層)における原子の存在割合の測定は、X線光電子分光分析装置(アルバックファイ社製、Quantum2000、XPS:X−ray Photoelectron Spectroscopy)を使用して下記に示す測定条件で行った。
X線源:AlKα
X線ビーム径:100μm
電力値:25W
電圧:15kV
取り出し角度:45°
真空度:5.0×10−8Pa
その結果、ガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、それぞれ、ケイ素22%、酸素55%、炭素21%、窒素2%であった。
(2) XPS measurement About the obtained gas barrier structure, the measurement of the abundance ratio of atoms in the gas barrier layer (surface layer) is performed using an X-ray photoelectron spectrometer (Quantum 2000, XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy) manufactured by ULVAC-PHI. The measurement conditions shown below were used.
X-ray source: AlKα
X-ray beam diameter: 100 μm
Electric power value: 25W
Voltage: 15kV
Extraction angle: 45 °
Degree of vacuum: 5.0 × 10 −8 Pa
As a result, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer were 22% silicon, 55% oxygen, 21% carbon and 2% nitrogen, respectively.

3.ガスバリア構造体の評価
得られたガスバリア層を備えたガスバリア構造体につき、以下の評価を行った。
3. Evaluation of gas barrier structure The following evaluation was performed about the gas barrier structure provided with the obtained gas barrier layer.

(1)柔軟性の評価
得られたガスバリア構造体につき、ガスバリア層が外側になるようにして、中央部分で半分に折り曲げて、その状態のガスバリア構造体を、ラミネーター(フジプラ社製、「LAMIPACKER LPC1502」)の2本のロール間を、ラミネート速度5m/min、温度23℃の条件で2回通過させた。
次いで、ガスバリア構造体におけるガスバリア層が内側になるようにして、中央部分で半分に折り曲げ、その状態のガスバリア構造体を、上記ラミネーターの2本ロールの間を、ラミネート速度5m/min、温度23℃の条件で、さらに1回通過させた。
その後、折り曲げた部分を、顕微鏡観察(100倍)して、ガスバリア層のクラック発生の有無を目視観察し、柔軟性を評価した。
(1) Flexibility evaluation The obtained gas barrier structure was folded in half at the center portion so that the gas barrier layer was on the outside, and the gas barrier structure in that state was formed into a laminator (manufactured by Fuji Plastics, “LAMIPACKER LPC1502”). )) Was passed twice under the conditions of a laminating speed of 5 m / min and a temperature of 23 ° C.
Next, the gas barrier layer in the gas barrier structure is folded inward so that the gas barrier layer is inside, and the gas barrier structure in this state is laminated between the two rolls of the laminator at a laminating speed of 5 m / min and a temperature of 23 ° C. The sample was further passed once under the conditions of
Thereafter, the bent portion was observed with a microscope (100 times), and the presence or absence of cracks in the gas barrier layer was visually observed to evaluate the flexibility.

(2)水蒸気透過率(WVTR)
得られたガスバリア構造体につき、水蒸気透過率測定装置(MOCON(株)製、AQUATRAN)を用いて、40℃、相対湿度90%の条件下における水蒸気透過率を測定した。
なお、上記耐クラック性評価における曲げ試験前後において、それぞれ水蒸気透過率を測定し、WVTR1およびWVTR2とした。
ガスバリア性の評価の指標として、WVTR1及びWVTR2が共に0.2g/m2/day以上の場合を×、WVTR1及びWVTR2のどちらか一方が0.2g/m2/day以下の場合を○、WVTR1及びWVTR2が共に0.2g/m2/day以下の場合を◎と評価した。
(2) Water vapor transmission rate (WVTR)
About the obtained gas barrier structure, the water-vapor-permeation rate in the conditions of 40 degreeC and 90% of relative humidity was measured using the water-vapor-permeation rate measuring apparatus (The product made by MOCON, AQUATRAN).
In addition, before and after the bending test in the above crack resistance evaluation, the water vapor transmission rate was measured, and was designated as WVTR1 and WVTR2.
As an index for evaluating the gas barrier property, a case where WVTR1 and WVTR2 are both 0.2 g / m 2 / day or more is indicated as x, a case where one of WVTR1 and WVTR2 is 0.2 g / m 2 / day or less, ○, WVTR1 And the case where both WVTR2 was 0.2 g / m 2 / day or less was evaluated as ◎.

[実施例2〜4]
実施例2〜4では、所定の極性ポリマとして、鹸化度が異なるポリビニルアルコール樹脂(それぞれゴーセノールL-5407、ゴーセノールL-7514、ゴーセノールLL-02(全て日本合成化学社製、鹸化度30%、40%、50%、表中、PVA2〜4と表記する。))をそれぞれ用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、実施例2で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素22%、酸素55%、炭素21%、窒素2%であった。
また、実施例3で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素22%、酸素55%、炭素21%、窒素2%であった。
また、実施例4で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素22%、酸素55%、炭素21%、窒素2%であった。
[Examples 2 to 4]
In Examples 2 to 4, polyvinyl alcohol resins having different saponification degrees (Gothenol L-5407, Gohsenol L-7514, Gohsenol LL-02 (all manufactured by Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd., 30% saponification degree, 40%) as the predetermined polar polymer. %, 50%, expressed as PVA 2 to 4 in the table.)))) Was used, and a gas barrier structure and the like were prepared and evaluated in the same manner as in Example 1.
In addition, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth position of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 2 were 22% silicon, 55% oxygen, 21% carbon and 2% nitrogen. there were.
Further, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth position of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 3 were 22% silicon, 55% oxygen, 21% carbon and 2% nitrogen. there were.
Further, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 4 were 22% silicon, 55% oxygen, 21% carbon and 2% nitrogen. there were.

[実施例5]
実施例5では、所定の極性ポリマとして、鹸化度が異なるポリビニルアルコール樹脂ゴーセノールKP-08R(日本合成化学社製、鹸化度60%、表中、PVA5と表記する)を0.5M NaOH水溶液中で加水分解し、得られた樹脂を用いるとともに、PVA5の配合量を、ポリシラザン化合物100重量部に対して、60重量部の割合としたガスバリア層形成用材料を用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、ガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素22%、酸素63%、炭素13%、窒素2%であった。
[Example 5]
In Example 5, as a predetermined polar polymer, polyvinyl alcohol resin Gohsenol KP-08R (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd., saponification degree 60%, indicated as PVA5 in the table) having a different saponification degree in a 0.5 M NaOH aqueous solution. Similar to Example 1 except that the resin obtained by hydrolysis was used and the gas barrier layer forming material was used in which the blending amount of PVA5 was 60 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polysilazane compound. In addition, a gas barrier structure and the like were prepared and evaluated.
Note that silicon, oxygen, carbon, and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer were 22% silicon, 63% oxygen, 13% carbon, and 2% nitrogen.

[実施例6]
実施例6では、所定の極性ポリマとして、ポリビニルアセタール樹脂エスレックBH-6(積水化学社製、水酸基含有率30mol%、表中、PVAC1と表記する。)を用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、ガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素22%、酸素52%、炭素24%、窒素2%であった。
[Example 6]
Example 6 was the same as Example 1 except that polyvinyl acetal resin ESREC BH-6 (manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd., hydroxyl group content 30 mol%, represented in the table as PVAC1) was used as the predetermined polar polymer. In addition, a gas barrier structure and the like were prepared and evaluated.
The silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer were 22% silicon, 52% oxygen, 24% carbon and 2% nitrogen.

[実施例7〜10]
実施例7〜10では、所定の極性ポリマとして、鹸化度が異なるポリビニルアルコール樹脂ゴーセノールL-5407(日本合成化学社製、鹸化度30%、表中、PVA2と表記する。)を用いるとともに、当該PVA2の配合割合を、ポリシラザン化合物100重量部に対して、それぞれ20、40、60、80重量部の割合としたガスバリア層形成用材料を用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、実施例7で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素27%、酸素61%、炭素9.3%、窒素2.7%であった。
また、実施例8で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素23%、酸素63%、炭素11.7%、窒素2.3%であった。
また、実施例9で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素20%、酸素64%、炭素14%、窒素2%であった。
また、実施例10で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素18%、酸素65%、炭素15.2%、窒素1.8%であった。
[Examples 7 to 10]
In Examples 7 to 10, as a predetermined polar polymer, polyvinyl alcohol resin Gohsenol L-5407 (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd., saponification degree of 30%, indicated in the table as PVA2) having a different saponification degree is used. The gas barrier structure as in Example 1 except that the gas barrier layer-forming material was used in which the blending ratio of PVA2 was 20, 40, 60, and 80 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polysilazane compound. Etc. were created and evaluated.
Note that silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 7 were silicon 27%, oxygen 61%, carbon 9.3%, nitrogen 2 0.7%.
Further, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth position of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 8 were 23% silicon, 63% oxygen, 11.7% carbon, 2 nitrogen. 3%.
Further, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 9 were 20% silicon, 64% oxygen, 14% carbon and 2% nitrogen. there were.
Further, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 10 were 18% silicon, 65% oxygen, 15.2% carbon, nitrogen 1 8%.

[比較例1]
比較例1では、ポリシラザン化合物を使用せず、所定の極性ポリマのみを使用して、当該極性ポリマとして、鹸化度が20%のポリビニルアルコール樹脂「ゴーセノールNH-26」(日本合成化学社製)を0.5M NaOH水溶液中で加水分解し、得られた樹脂(表中、PVA1と表記する。)を用いた以外は、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、ケイ素0%、酸素33%、炭素67%、窒素0%であった。
[Comparative Example 1]
In Comparative Example 1, a polysilazane compound is not used, and only a predetermined polar polymer is used. As the polar polymer, a polyvinyl alcohol resin “GOHSENOL NH-26” (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd.) having a saponification degree of 20% is used. A gas barrier structure and the like were prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the resin obtained by hydrolysis in an aqueous 0.5 M NaOH solution (represented as PVA1 in the table) was used.
Note that silicon, oxygen, carbon, and nitrogen measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the obtained gas barrier layer were silicon 0%, oxygen 33%, carbon 67%, and nitrogen 0%.

[比較例2〜4]
比較例2〜4では、ポリシラザン化合物を使用せず、所定の極性ポリマのみを使用して、当該極性ポリマとして、さらに鹸化度が異なるポリビニルアルコール樹脂ゴーセノールL-5407、ゴーセノールL-7514、ゴーセノールLL-02(全て日本合成化学、鹸化度30、40、50%、表中、PVA2〜4と表記する。)をそれぞれ用いた以外は、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定されるケイ素、酸素、炭素および窒素は、比較例2では、ケイ素0%、酸素33%、炭素67%、窒素0%、比較例3では、ケイ素0%、酸素33%、炭素67%、窒素0%、比較例4では、ケイ素0%、酸素33%、炭素67%、窒素0%であった。
[Comparative Examples 2 to 4]
In Comparative Examples 2 to 4, a polysilazane compound was not used, only a predetermined polar polymer was used, and as the polar polymer, polyvinyl alcohol resins Gohsenol L-5407, Gohsenol L-7514, Gohsenol LL- A gas barrier structure or the like was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that 02 (all Nippon Synthetic Chemistry, saponification degree 30, 40, 50%, expressed as PVA 2 to 4 in the table) was used. did.
In addition, silicon, oxygen, carbon and nitrogen measured by XPS at a depth position of 10 nm from the surface of the obtained gas barrier layer are 0% silicon, 33% oxygen, 67% carbon, 0% nitrogen in Comparative Example 2. In Comparative Example 3, silicon was 0%, oxygen was 33%, carbon was 67%, and nitrogen was 0%. In Comparative Example 4, silicon was 0%, oxygen was 33%, carbon was 67%, and nitrogen was 0%.

[比較例5]
比較例5では、ガスバリア層として、窒化シリコン材料からなるSiN膜をスパッタリング法で形成した以外は、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるケイ素、酸素、および窒素はそれぞれ、ケイ素45%、酸素0%、炭素0%、窒素55%であった。
[Comparative Example 5]
In Comparative Example 5, a gas barrier structure or the like was created and evaluated in the same manner as in Example 1 except that a SiN film made of a silicon nitride material was formed as a gas barrier layer by a sputtering method.
Note that silicon, oxygen, and nitrogen at a depth of 10 nm from the surface of the obtained gas barrier layer were 45% silicon, 0% oxygen, 0% carbon, and 55% nitrogen, respectively.

[比較例6]
比較例6では、ガスバリア層形成用材料として、極性ポリマを用いずに、ポリシラザン化合物(PHPS)のみを用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体等を作成し、評価した。
なお、得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるケイ素、酸素、および窒素はそれぞれ、ケイ素30%、酸素62%、炭素5%、窒素3%であった。
[Comparative Example 6]
In Comparative Example 6, a gas barrier structure and the like were prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that only a polysilazane compound (PHPS) was used as the gas barrier layer forming material without using a polar polymer.
Silicon, oxygen, and nitrogen at a depth of 10 nm from the surface of the obtained gas barrier layer were 30% silicon, 62% oxygen, 5% carbon, and 3% nitrogen, respectively.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

[実施例11〜12]
実施例11〜12では、所定の極性ポリマとして、アクリル酸の共重合比が異なるエチレン−アクリル酸共重合体ニュクレルAN4214C(デュポン社製、アクリル酸含有比4重量%、表中、EAA1と表記する。)および、エチレン−アクリル酸共重合体ニュクレルN1560C(デュポン社製、アクリル酸含有比12重量%、表中、EAA2と表記する。)をそれぞれ用いたほかは、実施例1と同様に、ガスバリア構造体を作成し、評価した。それぞれ得られた評価結果を、表2に示す。
なお、実施例11で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定される元素量は、ケイ素21%、酸素50%、炭素27%、および窒素2%であった。
同様に、実施例12で得られたガスバリア層の表面から10nmの深さ位置におけるXPSで測定される元素量は、ケイ素21%、酸素53%、炭素24%、および窒素2%であった。
[Examples 11 to 12]
In Examples 11 to 12, as a predetermined polar polymer, an ethylene-acrylic acid copolymer Nucrel AN4214C having a different copolymerization ratio of acrylic acid (manufactured by DuPont, 4% by weight of acrylic acid content, represented by EAA1 in the table) ) And ethylene-acrylic acid copolymer Nucrel N1560C (manufactured by DuPont, 12% by weight of acrylic acid content, indicated as EAA2 in the table), respectively. A structure was created and evaluated. The evaluation results obtained are shown in Table 2.
The element amounts measured by XPS at a depth of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 11 were 21% silicon, 50% oxygen, 27% carbon, and 2% nitrogen.
Similarly, the element amounts measured by XPS at a depth position of 10 nm from the surface of the gas barrier layer obtained in Example 12 were 21% silicon, 53% oxygen, 24% carbon, and 2% nitrogen.

Figure 0005408818
Figure 0005408818

以上、詳述したように、本発明によれば、ガスバリア層が、所定極性ポリマおよびポリシラザン化合物を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に対して、プラズマイオン注入処理してあることによって、柔軟性が高まり、折り曲げた際のガスバリア層クラックの発生を抑えることが出来た。また、水蒸気透過率もほとんど0.2g/m/day以下であり、ガスバリア性に優れていた。
しかも、本発明のガスバリア構造体の製造方法によれば、柔軟性や被膜強度がそれぞれ良好なガスバリア層を備えたガスバリア構造体を、安定的に製造することもできるようになった。
よって、本発明のガスバリア構造体は、所定のガスバリア性や柔軟性等が所望される電気製品、電子部品、画像表示装置(有機エレクトロルミネッセンス素子、液晶表示装置等)、太陽電池(太陽電池用バックシート)、透明導電材料、PETボトル、包装容器、ガラス容器等の各種用途において有効に使用されることが期待される。
As described above in detail, according to the present invention, the gas barrier layer is subjected to the plasma ion implantation treatment on the layer made of the gas barrier layer forming material containing the predetermined polar polymer and the polysilazane compound. Flexibility increased, and the occurrence of gas barrier layer cracks when bent was able to be suppressed. Further, the water vapor transmission rate was almost 0.2 g / m 2 / day or less, and the gas barrier property was excellent.
In addition, according to the method for producing a gas barrier structure of the present invention, it is possible to stably produce a gas barrier structure having a gas barrier layer having good flexibility and coating strength.
Therefore, the gas barrier structure of the present invention can be used in electrical products, electronic parts, image display devices (organic electroluminescence elements, liquid crystal display devices, etc.), solar cells (backpacks for solar cells) that have a desired gas barrier property and flexibility. Sheet), transparent conductive materials, PET bottles, packaging containers, glass containers and the like, and are expected to be used effectively.

10a:ガスバリア層形成用材料からなる層
10:ガスバリア層
11:表層
12:基材
50:ガスバリア構造体
200:プラズマイオン注入装置
16:ガスバリア層形成用材料からなる層10を形成した基材12(被処理物)
202:導体
203:ガス導入口
207:オシロスコープ
208:直流印加装置(パルス電源)
210:高電圧導入端子
211:真空チャンバー
10a: a layer made of a gas barrier layer forming material 10: a gas barrier layer 11: a surface layer 12: a base material 50: a gas barrier structure 200: a plasma ion implantation apparatus 16: a base material 12 on which a layer 10 made of a gas barrier layer forming material is formed ( Processed material)
202: Conductor 203: Gas inlet 207: Oscilloscope 208: DC application device (pulse power supply)
210: High voltage introduction terminal 211: Vacuum chamber

Claims (8)

基材上に、ガスバリア層を備えたガスバリア構造体であって、
前記ガスバリア層が、ポリシラザン化合物と、水酸基含有ポリマおよびカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を含んでなるガスバリア層形成用材料からなる層に、プラズマイオン注入処理してあり、
前記水酸基含有ポリマが、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つであって、
前記カルボキシル基含有ポリマが、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であって、
前記ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、前記極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値とすることを特徴とするガスバリア構造体。
A gas barrier structure comprising a gas barrier layer on a substrate,
The gas barrier layer is subjected to plasma ion implantation treatment on a layer made of a gas barrier layer forming material containing a polysilazane compound and a hydroxyl group-containing polymer and a carboxyl group-containing polymer, or one of the polar polymers,
The hydroxyl group-containing polymer is at least one selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene-vinyl alcohol copolymer,
The carboxyl group-containing polymer is an ethylene - I (meth) acrylic acid copolymer der,
A gas barrier structure characterized in that the blending amount of the polar polymer is set to a value within a range of 10 to 50% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material .
前記ガスバリア層が、膜厚10〜30nmの少なくともケイ素、酸素、および窒素を含む表層を含んでおり、当該表層におけるXPSで測定されるこれら元素の全体量に対して、ケイ素量を15〜30mol%の範囲内の値、酸素量を45〜70mol%の範囲内の値、炭素量を5〜30mol%の範囲内の値、および窒素量を1.5〜4mol%の範囲内の値とすることを特徴とする請求項1に記載のガスバリア構造体。   The gas barrier layer includes a surface layer containing at least silicon, oxygen, and nitrogen having a thickness of 10 to 30 nm, and the silicon amount is 15 to 30 mol% with respect to the total amount of these elements measured by XPS in the surface layer. The value within the range, the oxygen amount within the range of 45 to 70 mol%, the carbon amount within the range of 5 to 30 mol%, and the nitrogen amount within the range of 1.5 to 4 mol% The gas barrier structure according to claim 1. 前記ガスバリア層における弾性率を1〜2.5GPaの範囲内の値とすることを特徴とする請求項1または2に記載のガスバリア構造体。 The gas barrier structure according to claim 1 or 2 , wherein an elastic modulus in the gas barrier layer is set to a value within a range of 1 to 2.5 GPa. 前記ガスバリア層が、前記カルボキシル基含有ポリマとして、前記エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のガスバリア構造体。  The gas barrier structure according to any one of claims 1 to 3, wherein the gas barrier layer contains the ethylene- (meth) acrylic acid copolymer as the carboxyl group-containing polymer. 前記ポリビニルアルコールの鹸化度が10〜60%の範囲内の値であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のガスバリア構造体。  The gas barrier structure according to any one of claims 1 to 3, wherein the degree of saponification of the polyvinyl alcohol is within a range of 10 to 60%. 前記ガスバリア構造体をディスプレイ部材またはフレキシブル電子デバイスに用いることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のガスバリア構造体。  The gas barrier structure according to any one of claims 1 to 5, wherein the gas barrier structure is used for a display member or a flexible electronic device. 基材上に、ガスバリア層を備えてなるガスバリア構造体の形成方法であって、
下記工程(1)〜(2)を含むことを特徴とするガスバリア構造体の形成方法。
(1)ポリシラザン化合物と、ポリビニルアルコール、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール、及びエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも一つである水酸基含有ポリマおよびエチレン−(メタ)アクリル酸共重合体であるカルボキシル基含有ポリマ、あるいはいずれか一方の極性ポリマと、を、前記ガスバリア層形成用材料の全体量に対して、前記極性ポリマの配合量を10〜50重量%の範囲内の値で含むガスバリア層形成用材料からなる層を、基材上に積層する積層工程
(2)前記ガスバリア層形成用材料からなる層にプラズマイオン注入して、ガスバリア層とするイオン注入工程
A method for forming a gas barrier structure comprising a gas barrier layer on a substrate,
A method for forming a gas barrier structure comprising the following steps (1) to (2).
(1) A polysilazane compound, a hydroxyl group-containing polymer and an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer which are at least one selected from the group consisting of polyvinyl alcohol, polyvinyl formal, polyvinyl butyral, and ethylene-vinyl alcohol copolymer A carboxyl group-containing polymer, or any one of the polar polymers, with the amount of the polar polymer blended in a value within the range of 10 to 50% by weight with respect to the total amount of the gas barrier layer forming material. Lamination step of laminating a layer made of a gas barrier layer forming material on a substrate (2) Ion implantation step of plasma ion implantation into the layer made of the gas barrier layer forming material to form a gas barrier layer
前記ガスバリア層の膜厚を50〜10,000nmの範囲内の値とすることを特徴とする請求項7に記載のガスバリア構造体の形成方法。  8. The method for forming a gas barrier structure according to claim 7, wherein the thickness of the gas barrier layer is set to a value within a range of 50 to 10,000 nm.
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