JP5289705B2 - Conductive paste for photoelectric conversion element, photoelectric conversion element, and method for producing photoelectric conversion element - Google Patents

Conductive paste for photoelectric conversion element, photoelectric conversion element, and method for producing photoelectric conversion element Download PDF

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Description

本発明は、光電変換素子用導電性ペーストおよびこれを用いて作製する光電変換素子に関し、特に、太陽電池の裏面電極層とp+層との形成に好適な導電性ペースト、およびこれを用いて作製する太陽電池に関する。 The present invention relates to a conductive paste for a photoelectric conversion element and a photoelectric conversion element produced using the same, and in particular, a conductive paste suitable for forming a back electrode layer and a p + layer of a solar cell, and using the same The present invention relates to a solar cell to be manufactured.

近年、環境保護の観点から家庭用の太陽電池の需要が著しく増加する傾向にある。太陽電池の構成としては、p型のSi基板の表面側にn+層を設け、裏面側にp+層を設けることでn+/p/p+接合を形成し、さらに受光面側となるn+層側に受光面電極を備え、反対側のp+層側には裏面電極を備える態様が、従来より広く採用されている。また、受光面側に反射防止膜を設けることも一般的である。 In recent years, the demand for solar cells for home use tends to increase significantly from the viewpoint of environmental protection. The configuration of the solar cell, the n + layer provided on the surface side of the p-type Si substrate, the n + / p / p + junction is formed by providing a p + layer on the back side, the more the light-receiving surface side a light receiving surface electrode in the n + layer side, the p + layer side opposite manner with a rear surface electrode is widely employed conventionally. It is also common to provide an antireflection film on the light receiving surface side.

電極形成には、印刷法(塗布法)が広く用いられる。印刷法は、自動化が容易で生産性が高いという利点を有していることから、種々の電子デバイスの電極形成の手法として一般的な手法である。印刷法は、導電を担う金属粉末を有機バインダーや有機溶剤と混練した導電性ペースト(導体ペースト)をスクリーン印刷などの手法で被形成体に塗布した後、これを熱処理炉内で焼成することで有機成分を蒸発させ、金属粉末の焼結体としての電極を形成する手法である。   A printing method (coating method) is widely used for electrode formation. The printing method has a merit that it is easy to automate and has high productivity. Therefore, the printing method is a general method for forming electrodes of various electronic devices. In the printing method, a conductive paste (conductor paste) obtained by kneading a metal powder responsible for electrical conductivity with an organic binder or an organic solvent is applied to an object by screen printing or the like, and then fired in a heat treatment furnace. In this method, an organic component is evaporated to form an electrode as a sintered body of metal powder.

太陽電池の場合は、金属Al粉末を含む導電性ペースト(Alペースト)をSi基板の裏面側に塗布し、これを焼成することで、裏面電極の形成のみならずp+層の形成も併せて行える。具体的には、焼成によって裏面電極となるAlを主成分とするAl電極層が形成される際に、AlがSi基板に拡散することで、Alを不純物として含むp+層が形成される。裏面電極は、太陽電池において発生した電気を取り出す集電電極の役割を果たすものであり、p+層は、いわゆるBSF(Back Surface Field)効果を生じさせることで、裏面電極における集電効率を高める役割を果たしている。 In the case of a solar cell, a conductive paste (Al paste) containing metal Al powder is applied to the back side of the Si substrate and baked, thereby forming not only the back electrode but also the p + layer. Yes. Specifically, when an Al electrode layer mainly composed of Al serving as a back electrode is formed by firing, Al diffuses into the Si substrate, thereby forming a p + layer containing Al as an impurity. The back electrode serves as a current collecting electrode for extracting electricity generated in the solar cell, and the p + layer increases the current collecting efficiency in the back electrode by causing a so-called BSF (Back Surface Field) effect. Playing a role.

一方、太陽電池のコストダウンを図るべく、Si基板の厚みを200μm以下とする薄層化が検討されている。係る薄層化を実現する上での問題点として、Si基板を薄くするほど、Al電極層との熱膨張差に起因した反りがSi基板に生じやすくなるということがある。Siの熱膨張率は2.5×10-6/degであるのに対し、Alは23.25×10-6/degと、両者は約10倍程度異なっている。この問題の解決を意図する技術もすでに公知である(例えば、特許文献1参照)。 On the other hand, in order to reduce the cost of the solar cell, a reduction in the thickness of the Si substrate to 200 μm or less has been studied. As a problem in realizing such a thin layer, as the Si substrate is made thinner, warpage due to a difference in thermal expansion from the Al electrode layer is more likely to occur in the Si substrate. The thermal expansion coefficient of Si is 2.5 × 10 −6 / deg, whereas Al is 23.25 × 10 −6 / deg, both being about 10 times different. A technique intended to solve this problem is already known (see, for example, Patent Document 1).

特開2003−223813号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-223813

上述したSi基板の反りは、AlペーストをSi基板上に印刷し、焼成した後の降温時に、Al電極層とSi基板の熱膨張の違いに起因して生じるものである。このような反りが生じると、その後の工程において自動機へのハンドリングミスが生じやすく、太陽電池素子の割れや欠けを発生させ、製造歩留まりを低下させるという問題がある。   The warpage of the Si substrate described above is caused by a difference in thermal expansion between the Al electrode layer and the Si substrate when the temperature is lowered after the Al paste is printed on the Si substrate and baked. When such a warp occurs, there is a problem that a handling error to an automatic machine is likely to occur in the subsequent process, and the solar cell element is cracked or chipped, resulting in a decrease in manufacturing yield.

係る問題の解決策として、Alペーストの塗布量を減らしてAl電極層を薄くすることにより、反る力を物理的に軽減する手法が想定される。しかしながらこの手法ではSi基板へのAlの拡散量が少なくなり、p+層が形成されにくく、発電効率が低下するという問題がある。 As a solution to such a problem, a method of physically reducing the warping force by reducing the amount of Al paste applied and thinning the Al electrode layer is assumed. However, this method has a problem that the amount of Al diffusion into the Si substrate is reduced, the p + layer is hardly formed, and the power generation efficiency is lowered.

特許文献1には、Al粉末と、有機ビヒクルと、Alよりも熱膨張率が小さくかつAlの融点よりも溶融温度、軟化温度、分解温度のいずれかが高い無機化合物、具体的にはSiO2やAl23などを添加したペーストを用いて、裏面電極を形成する方法が開示されている。 Patent Document 1 discloses an Al powder, an organic vehicle, an inorganic compound having a smaller coefficient of thermal expansion than Al and a melting temperature, softening temperature, or decomposition temperature higher than the melting point of Al, specifically SiO 2. And a method of forming a back electrode using a paste to which Al 2 O 3 or the like is added.

しかしながら、特許文献1に開示の方法では、Si基板の反りを低減することはできるものの、ペーストに添加した無機化合物が焼成後もそのままの形で存在するため、裏面電極内のAl粒子同士の結合が弱く、密着強度が低いという問題がある。   However, in the method disclosed in Patent Document 1, although the warpage of the Si substrate can be reduced, since the inorganic compound added to the paste exists as it is after firing, bonding between Al particles in the back electrode Are weak and have low adhesion strength.

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、太陽電池その他の光電変換素子の作製に用いる導電性ペーストであって、半導体基板の裏面電極形成に伴う反りを抑制すると共に、面抵抗が小さく、密着強度が高い裏面電極を形成することができる導電性ペースト、およびこれを用いて作製する光電変換素子を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and is a conductive paste used in the manufacture of solar cells and other photoelectric conversion elements, which suppresses warpage associated with the formation of a back electrode of a semiconductor substrate and has a sheet resistance. It aims at providing the electrically conductive paste which can form a back electrode with small and high adhesive strength, and a photoelectric conversion element produced using this.

上記課題を解決するため、請求項1の発明は、光電変換素子用の半導体基板に電極を形成するための導電性ペーストであって、導電性材料が純度99.9質量%以上のAl粉末であり、かつ不活性ガス雰囲気で300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理されたものである、ことを特徴とする。 In order to solve the above problems, the invention of claim 1 is a conductive paste for forming an electrode on a semiconductor substrate for a photoelectric conversion element, wherein the conductive material is an Al powder having a purity of 99.9% by mass or more. And having been heat-treated at a heating temperature of 300 ° C. or higher and 500 ° C. or lower in an inert gas atmosphere.

請求項の発明は、光電変換素子において、請求項に記載の光電変換素子用導電性ペーストを用いて前記半導体基板の一方主面上にAlを主成分とするとともにガラス成分を含む電極層を形成してなる、ことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the photoelectric conversion element, an electrode layer containing Al as a main component and a glass component on one main surface of the semiconductor substrate using the conductive paste for the photoelectric conversion element according to the first aspect. It is characterized by forming.

請求項3の発明は、光電変換素子用の半導体基板と、前記半導体基板の一方主面上に形成されたガラス成分を含む電極層と、を備える光電変換素子であって、前記電極層が、純度99.9質量%以上のAl粉末を不活性ガス雰囲気で300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理したものを出発原料に用いて形成されてなり、Al以外の金属又は半金属の含有比率が1質量%以下であり、ヤング率が40GPa以下である、ことを特徴とする。 Invention of Claim 3 is a photoelectric conversion element provided with the semiconductor substrate for photoelectric conversion elements, and the electrode layer containing the glass component formed on one main surface of the said semiconductor substrate, Comprising: The said electrode layer is, becomes the the Al powder or purity of 99.9% by weight obtained by heat treatment at 300 ° C. or higher 500 ° C. or less of the heating temperature in the inert gas atmosphere is formed by using a starting material, containing the metal or metalloid other than Al The ratio is 1% by mass or less, and the Young's modulus is 40 GPa or less.

請求項4の発明は、光電変換素子の作製方法であって、導電性材料が純度99.9質量%以上のAl粉末を不活性ガス雰囲気で300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理したものである導電性ペーストを作製する工程と、前記導電性ペーストを用いて塗布法により光電変換素子用の半導体基板の一方主面上にガラス成分を含む電極層を形成する工程と、を備え、前記電極層を、純度99.9質量%以上のAlを主成分とし、Al以外の金属又は半金属の含有比率が1質量%以下であるように形成する、ことを特徴とする。
The invention of claim 4 is a method for producing a photoelectric conversion element, wherein an Al powder having a purity of 99.9% by mass or more as a conductive material is heat-treated at a heating temperature of 300 ° C. or more and 500 ° C. or less in an inert gas atmosphere. A step of producing a conductive paste, and a step of forming an electrode layer containing a glass component on one main surface of a semiconductor substrate for a photoelectric conversion element by a coating method using the conductive paste, The electrode layer is formed so that the main component is Al having a purity of 99.9% by mass or more, and the content ratio of a metal or a semimetal other than Al is 1% by mass or less.

請求項1ないし請求項の発明によれば、加熱処理を経た高純度Alを主成分として含む、ヤング率の小さな軟らかい電極層が形成されるので、高純度でないAlを主成分として電極層を形成する従来の場合に比して、また、加熱処理を行わない場合に比して、熱膨張率の差に起因して生じる電極層と半導体基板との収縮差は緩和され、結果として半導体基板の反りが抑制された光電変換素子を実現できる。 According to the first to fourth aspects of the present invention, a soft electrode layer having a small Young's modulus containing high-purity Al that has undergone heat treatment as a main component is formed. The shrinkage difference between the electrode layer and the semiconductor substrate caused by the difference in coefficient of thermal expansion is alleviated as compared with the conventional case of forming and in the case of not performing the heat treatment, and as a result, the semiconductor substrate It is possible to realize a photoelectric conversion element in which the warpage is suppressed.

<導電性ペースト>
本実施の形態に係る導電性ペーストは、主として、太陽電池などの光電変換素子の形成に用いる半導体基板に、印刷法(塗布法)によって電極を形成する際に用いるものである。例えば太陽電池を作製する場合であれば、Si基板などのp型の半導体基板の裏面側に、印刷法によって裏面電極を形成する際に用いるのが、その使用態様の好適な一例である。
<Conductive paste>
The conductive paste according to the present embodiment is mainly used when an electrode is formed by a printing method (coating method) on a semiconductor substrate used for forming a photoelectric conversion element such as a solar cell. For example, in the case of producing a solar cell, a preferred example of the usage mode is to use a back electrode formed on the back side of a p-type semiconductor substrate such as a Si substrate by a printing method.

係る導電性ペーストは、高純度Al粉末と、ガラスフリット粉末と、有機バインダーと、有機溶剤とを含む。ここで、高純度Al粉末とは、該導電性ペーストにおいて導電を担う粒子であり、純度99.9質量%以上のAl粉末をいう。さらには、純度は99.99質量%以上であることが好ましい。高純度Al粉末としては、平均粒径が15μm以下の粉末を用いるのが、その好適な一態様である。印刷法によって係る導電性ペーストの塗布と焼成とを行うことで、Alを主成分とする裏面電極およびp+層を、光電変換素子の裏面側に形成することができる。なお、導電性ペーストに上述の高純度Al粉末以外のAl粉末を含むことは、本来的には好ましくないが、主として意図的でない要因によって生じる混入は、本願発明の効果が妨げられない程度の微小割合であれば許容される。 Such a conductive paste contains high-purity Al powder, glass frit powder, an organic binder, and an organic solvent. Here, the high-purity Al powder is a particle responsible for conductivity in the conductive paste, and means an Al powder having a purity of 99.9% by mass or more. Furthermore, the purity is preferably 99.99% by mass or more. As a high-purity Al powder, a preferred embodiment is to use a powder having an average particle diameter of 15 μm or less. By applying and baking the conductive paste according to the printing method, the back electrode and the p + layer mainly composed of Al can be formed on the back surface side of the photoelectric conversion element. In addition, it is not inherently preferable that the conductive paste contains Al powder other than the above-described high-purity Al powder, but contamination caused by unintentional factors is so small that the effect of the present invention is not hindered. Percentages are acceptable.

本実施の形態において、裏面電極の形成に上述の高純度Al粉末を含む導電性ペーストを用いるのは、従来の高純度でないAl粉末を用いる場合に比して、硬度が小さい、つまりは軟らかい裏面電極を形成することができるからである。具体的には、ヤング率が40GPa以下の裏面電極を形成することができる。さらには、条件をより好適に定めることにより、ヤング率が30GPa以下の裏面電極を形成することもできる。このような軟らかい裏面電極が形成された太陽電池においては、焼成後の降温時に、熱膨張率の差に起因する電極層と半導体基板との収縮差は緩和され、半導体基板に反りが生じることが効果的に抑制されてなる。換言すれば、ヤング率が40GPa以下であるように裏面電極を形成された太陽電池であれば、実用上、反りが抑制されたとものとして取り扱うことが可能となる。   In the present embodiment, the conductive paste containing the above-described high-purity Al powder is used for forming the back electrode, as compared with the case where the conventional non-high-purity Al powder is used, the hardness is small, that is, the soft back surface. This is because an electrode can be formed. Specifically, a back electrode having a Young's modulus of 40 GPa or less can be formed. Furthermore, a back electrode having a Young's modulus of 30 GPa or less can be formed by more suitably determining the conditions. In a solar cell with such a soft back electrode formed, the shrinkage difference between the electrode layer and the semiconductor substrate due to the difference in thermal expansion coefficient is reduced when the temperature is lowered after firing, and the semiconductor substrate may be warped. Effectively suppressed. In other words, a solar cell in which the back electrode is formed so that the Young's modulus is 40 GPa or less can be handled as having practically suppressed warpage.

なお、本実施の形態において、裏面電極のヤング率は、焼成後の裏面電極に対してマルテンス硬さ試験(ISO14577)を施すことにより算出するものとする。   In the present embodiment, the Young's modulus of the back electrode is calculated by performing a Martens hardness test (ISO14577) on the back electrode after firing.

半導体基板の反りの抑制の観点からは、高純度Al粉末を、例えばN2などの不活性ガス雰囲気中で300〜500℃の温度で加熱処理したうえで導電性ペーストへの調合に供給するのが、より好ましい。係る加熱処理を行うことによって、形成される裏面電極がより軟らかくなる(そのヤング率がより小さくなる)からである。 From the viewpoint of suppressing the warpage of the semiconductor substrate, the high-purity Al powder is heat-treated in an inert gas atmosphere such as N 2 at a temperature of 300 to 500 ° C. and then supplied to the preparation of the conductive paste. Is more preferable. This is because by performing such heat treatment, the back electrode to be formed becomes softer (its Young's modulus becomes smaller).

ガラスフリット粉末、有機バインダー、有機溶剤については従来のAlペーストで使用されているものと同等のものを用いることができる。ガラスフリット粉末としては、例えば、B23−SiO2−PbO系のガラス材料を用いるのがその好適な一例である。有機バインダーとしては、印刷性の観点からセルロース系やポリメタクリレート系のものを用いるのが好適である。例えば、エチルセルロースがその一例である。有機溶剤としては、多価アルコール系のものを用いるのが好適である。例えば、α−テルピネオールを用いるのがその一例である。 As the glass frit powder, the organic binder, and the organic solvent, those equivalent to those used in the conventional Al paste can be used. A preferred example of the glass frit powder is to use, for example, a B 2 O 3 —SiO 2 —PbO glass material. As the organic binder, it is preferable to use a cellulose-based or polymethacrylate-based one from the viewpoint of printability. For example, ethyl cellulose is an example. As the organic solvent, it is preferable to use a polyhydric alcohol. For example, α-terpineol is an example.

これらの高純度Al粉末、ガラスフリット粉末、有機バインダー、有機溶剤を、所定の重量ずつ、例えば高純度Al粉末を70重量%程度、ガラスフリット粉末を0.1重量%程度、有機バインダーを4重量%程度、有機溶剤を26重量%程度それぞれ秤量し、ボールミルや攪拌器で混合した後、三本ロールにて混練することにより、本実施の形態に係る導電性ペーストを得ることが出来る。   These high-purity Al powder, glass frit powder, organic binder, and organic solvent are added in predetermined weights, for example, high-purity Al powder is about 70% by weight, glass frit powder is about 0.1% by weight, and organic binder is 4% by weight. The conductive paste according to the present embodiment can be obtained by weighing about 25% and about 26% by weight of the organic solvent, mixing them with a ball mill or a stirrer, and then kneading them with a three roll.

<太陽電池>
次に、上述の導電性ペーストを用いて作製されてなる、本実施の形態に係る光電変換素子の一態様としての太陽電池について説明する。図1は、本実施の形態に係る太陽電池10の構成を概略的に示す断面模式図である。
<Solar cell>
Next, a solar cell as one embodiment of the photoelectric conversion element according to this embodiment, which is manufactured using the above-described conductive paste, will be described. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view schematically showing a configuration of a solar cell 10 according to the present embodiment.

太陽電池10は、半導体基板1と、半導体基板1の表面側(受光面側)に形成されてなり、n型不純物を有するn+層2と、半導体基板1の裏面側に形成されてなり、p型不純物を有するp+層3と、n+層2の表面に(図1においてはn+層2の上に)形成されてなる、Ag等からなる受光面電極4と、半導体基板1の裏面側にp+層3を介在させて(図1においてはp+層3の下に)形成されてなる、上述のAl合金等からなる裏面電極5とから、主として構成される。係る太陽電池10は、受光面への所定の波長範囲の光の入射に応答して、電流を取り出すことができるように構成されている。すなわち、太陽電池10は、n+層2と、半導体基板1と、p+層3とによって形成されてなるn+/p/p+接合を有し、その表面に受光面電極4が、裏面に裏面電極5が、それぞれ形成されてなる構造を有するともいえる。 The solar cell 10 is formed on the semiconductor substrate 1, the front surface side (light receiving surface side) of the semiconductor substrate 1, the n + layer 2 having n-type impurities, and the back surface side of the semiconductor substrate 1, and p + layer 3 having a p-type impurity, formed by formed (on the n + layer 2 in FIG. 1) on the surface of n + layer 2, the light-receiving surface electrode 4 made of Ag or the like, the semiconductor substrate 1 It is mainly composed of a back electrode 5 made of the above-mentioned Al alloy or the like formed by interposing a p + layer 3 on the back side (under the p + layer 3 in FIG. 1). The solar cell 10 is configured such that a current can be taken out in response to the incidence of light in a predetermined wavelength range on the light receiving surface. That is, solar cell 10 has an n + / p / p + junction formed by n + layer 2, semiconductor substrate 1, and p + layer 3. It can also be said that the back electrode 5 has a structure formed respectively.

半導体基板1としては、例えばSi系のIV族半導体を用いるのが好適な一例である。例えば、外形が150mm□の、B(ボロン)などがp型のドーパントとして添加されてなる多結晶Siのインゴットを150〜200μmの範囲内の任意の厚みにスライシング加工して得られるSi基板を、半導体基板1として用いることができる。係るSi基板の比抵抗は1〜5Ω・cm程度であるのがその好適な一例である。なお、加工により生じたダメージ層や汚染層を除去すべく、NaOHやKOH、あるいはフッ酸やフッ硝酸などで表面をわずかにエッチングすることが望ましい。また、受光した光の閉じ込め効率を高めるべく、ドライエッチング法やウェットエッチング法によって、半導体基板1の表面に微小な凹凸を形成するのが望ましい。   As the semiconductor substrate 1, for example, it is preferable to use a Si-based group IV semiconductor. For example, an Si substrate obtained by slicing a polycrystalline Si ingot having an outer shape of 150 mm □ and adding B (boron) or the like as a p-type dopant to an arbitrary thickness within a range of 150 to 200 μm, It can be used as the semiconductor substrate 1. A suitable example of the specific resistance of the Si substrate is about 1 to 5 Ω · cm. Note that it is desirable to slightly etch the surface with NaOH or KOH, or hydrofluoric acid or hydrofluoric acid, in order to remove a damage layer or a contamination layer generated by processing. Further, in order to increase the confinement efficiency of the received light, it is desirable to form minute irregularities on the surface of the semiconductor substrate 1 by a dry etching method or a wet etching method.

また、半導体基板1の材質は上述のものに限定されるものではなく、単結晶Siを用いてもよい。あるいは、上述の導電性ペーストを用いてAl合金からなる裏面電極を形成しうる半導体であれば、他の半導体を用いてもよい。   Moreover, the material of the semiconductor substrate 1 is not limited to the above-mentioned material, and single crystal Si may be used. Alternatively, another semiconductor may be used as long as it can form a back electrode made of an Al alloy using the above-described conductive paste.

+層2は、いわゆる逆導電型拡散領域である。n+層2は、半導体基板1の一方の主面側に、公知のイオン打ち込み法によってP(リン)を打ち込むことによって形成される。n+層2が形成された側が、太陽電池の受光面側となる。n+層2は、例えば、1.5×10-3Ω・cm程度の比抵抗と、0.3〜0.5μm程度の厚みを有するように形成されるのが、その好適な一例である。あるいは、POCl3(オキシ塩化リン)などのガス中で熱処理する、いわゆる気相拡散法によってn+層2を形成するようにしても良い。 The n + layer 2 is a so-called reverse conductivity type diffusion region. The n + layer 2 is formed by implanting P (phosphorus) on one main surface side of the semiconductor substrate 1 by a known ion implantation method. The side on which the n + layer 2 is formed is the light receiving surface side of the solar cell. For example, the n + layer 2 is preferably formed to have a specific resistance of about 1.5 × 10 −3 Ω · cm and a thickness of about 0.3 to 0.5 μm. . Alternatively, the n + layer 2 may be formed by a so-called vapor phase diffusion method in which heat treatment is performed in a gas such as POCl 3 (phosphorus oxychloride).

+層3と裏面電極5とは、上述の高純度Al粉末を含む導電性ペーストを用いて、印刷法により形成される。例えば、n+層2を形成した後の半導体基板1の略全面にスクリーン印刷法により導電性ペーストを塗布し、150℃、数分間の乾燥処理を施した後、空気中で最高温度が700〜850℃の焼成温度で1分〜30分間程度焼成すると、Alを主成分とするとともにガラス成分を含む裏面電極5が形成されると共に、Alが半導体基板1に向けて拡散することによりp+層3が形成される。 The p + layer 3 and the back electrode 5 are formed by a printing method using the conductive paste containing the above-described high-purity Al powder. For example, a conductive paste is applied to almost the entire surface of the semiconductor substrate 1 after the n + layer 2 is formed by screen printing, dried at 150 ° C. for several minutes, and then the maximum temperature is 700 to 700 in air. When baking is performed at a baking temperature of 850 ° C. for about 1 to 30 minutes, a back electrode 5 containing Al as a main component and including a glass component is formed, and Al diffuses toward the semiconductor substrate 1 to cause a p + layer. 3 is formed.

上述したように、本実施の形態においては、裏面電極の形成に高純度Al粉末を含む導電性ペーストを用いるので、得られる裏面電極5のヤング率が40GPa以下であり、これは従来の高純度でないAl粉末を用いた導電性ペーストにて形成される裏面電極よりも軟らかいものである。太陽電池10においては、この裏面電極5がこのように軟らかく形成されることで、裏面電極5と半導体基板1との熱膨張率の差に起因する収縮差は、従来よりも緩和されてなり、半導体基板1に反りが生じることが効果的に抑制されてなる。   As described above, in this embodiment, since the conductive paste containing high-purity Al powder is used for forming the back electrode, the Young's modulus of the back electrode 5 obtained is 40 GPa or less, which is the conventional high purity. It is softer than the back electrode formed with a conductive paste using non-Al powder. In the solar cell 10, the back electrode 5 is formed so softly that the shrinkage difference due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the back electrode 5 and the semiconductor substrate 1 is relaxed compared to the conventional case. Warpage of the semiconductor substrate 1 is effectively suppressed.

また、裏面電極5の面抵抗は、従来と同程度あるいはそれよりも小さい。すなわち、太陽電池10は、従来と同程度あるいはそれ以上に良好な電極特性を有しているといえる。一方、裏面電極5においてはAl以外の金属又は半金属の存在比率が1質量%以下であること、およびAl粒子の表面に酸化層が形成されることでAlが不導態となっていることが確認されており、これらが、上述の良好な電気特性の実現に寄与していると考えられる。また、裏面電極5のピール強度は少なくとも従来と同程度である。   Further, the surface resistance of the back electrode 5 is about the same as or lower than that of the prior art. That is, it can be said that the solar cell 10 has electrode characteristics that are as good as or better than the conventional one. On the other hand, in the back electrode 5, the abundance ratio of metals or metalloids other than Al is 1% by mass or less, and an oxide layer is formed on the surface of Al particles, so that Al is in a nonconductive state. It is considered that these contribute to the realization of the above-mentioned good electrical characteristics. Further, the peel strength of the back electrode 5 is at least about the same as the conventional one.

受光面電極4は、Agペーストを用いて、印刷法により形成される。例えば、p+層3および裏面電極5を形成した後、スクリーン印刷によりn+層2の上に櫛歯状にAgペーストを塗布し、150℃、数分間の乾燥処理を施した後、空気中で最高温度が600℃程度の焼成温度で1分〜10分間程度焼成することで、Agからなる櫛歯状の受光面電極4が形成される。 The light receiving surface electrode 4 is formed by printing using Ag paste. For example, after forming the p + layer 3 and the back electrode 5, an Ag paste is applied on the n + layer 2 by screen printing in a comb-like shape, dried at 150 ° C. for several minutes, and then in the air. Thus, the comb-shaped light-receiving surface electrode 4 made of Ag is formed by baking at a baking temperature of about 600 ° C. for about 1 minute to 10 minutes.

本実施の形態においては、太陽電池10をこのように構成することで、従来の高純度でないAl粉末を用いる場合よりも裏面電極と半導体基板との熱膨張率の差に起因する収縮差を緩和することができるので、従来よりも薄層化された半導体基板を用いつつも、その反りを低減すると共に、面抵抗が小さく、かつ密着強度が大きな裏面電極を有する太陽電池を実現することができる。   In the present embodiment, the solar cell 10 is configured in this manner, so that the shrinkage difference caused by the difference in thermal expansion coefficient between the back electrode and the semiconductor substrate is reduced as compared with the case of using conventional non-pure Al powder. Therefore, it is possible to realize a solar cell having a back electrode with reduced surface resistance and high adhesion strength while using a semiconductor substrate that is thinner than the conventional one, while reducing its warpage. .

なお、本発明の実施形態は上述の例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更を加え得ることはもちろんである。例えば、半導体基板の受光面側に窒化シリコン膜や酸化シリコン膜などからなる反射防止膜(不図示)を設けたほうが好ましい。   It should be noted that the embodiment of the present invention is not limited to the above-described example, and it is needless to say that various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, it is preferable to provide an antireflection film (not shown) made of a silicon nitride film or a silicon oxide film on the light receiving surface side of the semiconductor substrate.

さらに、裏面電極としては、上述のように裏面のほぼ全面に形成したAlを主成分とする電極に加えて、出力を取り出すための、Agを主成分とする電極を、さらに形成したほうが好ましい。   Further, as the back surface electrode, it is preferable to further form an electrode mainly composed of Ag for taking out the output in addition to the electrode mainly composed of Al formed on almost the entire back surface as described above.

純度が99.998質量%と99.9質量%と、99.85質量%の3種類のAl粉末につき、加熱処理の有無が異なる2水準のものを用意し、それぞれについて導電性ペーストを作製した。すなわち、Al粉末の純度と加熱処理の組合せが異なる6水準の導電性ペーストを用意した。   Two types of Al powders with a purity of 99.998% by mass, 99.9% by mass, and 99.85% by mass were prepared in two levels with or without heat treatment, and a conductive paste was prepared for each. . That is, six levels of conductive pastes with different combinations of Al powder purity and heat treatment were prepared.

それぞれの導電性ペーストの作製においては、まず、アトマイズ法によりほぼ球状の平均粒径5μmのAl粉末を得た。加熱処理を施すものについては、N2ガス雰囲気中で、最高温度500℃で30分間の加熱を行った。 In the preparation of each conductive paste, first, an Al powder having an approximately spherical average particle diameter of 5 μm was obtained by an atomizing method. For those subjected to a heat treatment, in an N 2 gas atmosphere, and then heated for 30 minutes at a maximum temperature of 500 ° C..

次に平均粒径が5μmで軟化点380℃のガラス粉末を用意し、Al粉末とガラス粉末とを、後者の重量比率が0.1%となるように混合して無機原料を得た後、更に有機バインダーとしてエチルセルロースを無機原料100重量部に対して5重量部、有機溶剤としてαテルピネオールを20重量部加え、攪拌器により混合した。これを3本ロール処理して、導電性ペーストを得た。   Next, after preparing a glass powder having an average particle size of 5 μm and a softening point of 380 ° C., mixing the Al powder and the glass powder so that the weight ratio of the latter is 0.1%, an inorganic raw material is obtained, Furthermore, 5 parts by weight of ethyl cellulose as an organic binder with respect to 100 parts by weight of an inorganic raw material and 20 parts by weight of α-terpineol as an organic solvent were added and mixed with a stirrer. This was roll-treated to obtain a conductive paste.

得られた計6種の導電性ペーストをそれぞれを用いて、6種の太陽電池を作製した。   Six types of solar cells were produced using each of the obtained six types of conductive pastes.

それぞれの太陽電池の作製においては、半導体基板1として、外形150mm□の多結晶Siのインゴットを180μm厚みにスライシング加工したSi基板を用いた。このSi基板の表面に、イオン打ち込み法によりPを打ち込むことにより、深さ0.5μmで、比抵抗が約1.5×10-3Ω・cmのn+層2を形成した。 In the production of each solar cell, a Si substrate obtained by slicing a polycrystalline Si ingot having an outer shape of 150 mm □ to a thickness of 180 μm was used as the semiconductor substrate 1. By implanting P on the surface of the Si substrate by ion implantation, an n + layer 2 having a depth of 0.5 μm and a specific resistance of about 1.5 × 10 −3 Ω · cm was formed.

その後、Si基板の裏面にスクリーン印刷法により導電性ペーストを略全面に塗布し、150℃、10分間の乾燥処理を行った後に、空気中で最高温度750℃に加熱して、10分間焼成し、裏面電極5およびp+層3を形成した。 After that, a conductive paste is applied on the entire back surface of the Si substrate by screen printing and dried at 150 ° C. for 10 minutes, and then heated in air to a maximum temperature of 750 ° C. and baked for 10 minutes. The back electrode 5 and the p + layer 3 were formed.

さらに、n+層2の表面にAgペーストをスクリーン印刷法により櫛歯状に塗布し、150℃、10分間の乾燥処理を行った後に、空気中で最高温度600℃に加熱して、10分間焼成し、受光面電極4を形成した。これにより、6種類の太陽電池が得られた。 Further, Ag paste is applied to the surface of the n + layer 2 in a comb-like shape by a screen printing method, dried at 150 ° C. for 10 minutes, and then heated in air to a maximum temperature of 600 ° C. for 10 minutes. The light-receiving surface electrode 4 was formed by baking. Thereby, six types of solar cells were obtained.

このようにして作製したそれぞれの太陽電池について、半導体基板の反り量、裏面電極の面抵抗、裏面電極のピール強度、ヤング率を測定した。図2は、本実施例にかかる半導体基板の反り量の評価方法について説明するための図である。本実施の形態においては、半導体基板1の厚さを含んだ値で反り量を評価した。具体的には、図2に示すように、水平面に載置した場合の最低部(水平面)と最高部との高さの差で反り量を評価した。その際、2mm以上を不可と判定することとした。また、Al電極部の面抵抗は4端子法で測定し、15mΩ/□以上を不可と判定することとした。Al電極部のピール強度は、セロハンテ−プによる引き剥がし試験で評価し、はがれのあるものを、密着強度が充分ではないとして不可と判定することとした。ヤング率は、マルテンス硬さ試験により測定した。マルテンス硬さ試験とは、ナノインデンターを用いたスクラッチ試験による評価であり、スクラッチの深さの測定結果よりヤング率を換算して求めることができる。ナノインデンターとはダイアモンドチップからなる微小な三角錘の圧子を用いて、超低荷重(最大荷重20mN、荷重分解能1nN)、高精度(変位分解能0.01nm)で押し込み試験ができる装置である。   About each solar cell produced in this way, the warpage amount of the semiconductor substrate, the surface resistance of the back electrode, the peel strength of the back electrode, and the Young's modulus were measured. FIG. 2 is a diagram for explaining the evaluation method of the warpage amount of the semiconductor substrate according to this example. In the present embodiment, the amount of warpage was evaluated using a value including the thickness of the semiconductor substrate 1. Specifically, as shown in FIG. 2, the amount of warpage was evaluated by the difference in height between the lowest part (horizontal plane) and the highest part when placed on a horizontal plane. In that case, it was decided that 2 mm or more was impossible. Further, the surface resistance of the Al electrode portion was measured by a four-terminal method, and it was determined that 15 mΩ / □ or more was not possible. The peel strength of the Al electrode portion was evaluated by a peeling test using a cellophane tape, and it was determined that a peeled material was judged to be unacceptable if the adhesion strength was not sufficient. Young's modulus was measured by a Martens hardness test. The Martens hardness test is an evaluation by a scratch test using a nanoindenter, and can be obtained by converting the Young's modulus from the measurement result of the depth of the scratch. A nanoindenter is a device that can perform an indentation test with ultra-low load (maximum load 20 mN, load resolution 1 nN) and high accuracy (displacement resolution 0.01 nm) using a small triangular pyramid indenter made of a diamond chip.

このようにして得られた、6種類の太陽電池についての、評価結果を表1として示す。なお、試料No.2、4は参考試料である。

The evaluation results for the six types of solar cells thus obtained are shown in Table 1. Sample No. Reference numerals 2 and 4 are reference samples.

Figure 0005289705
Figure 0005289705

表1に示すように、Al面抵抗およびピール強度については、不可と判定されるものはなかった。一方、反り量とヤング率については、Alの純度が高い方が、また、高純度加熱処理を施したものの方が、反り量もヤング率も小さい、という結果が得られた。そして、Alの純度が99.85質量%で加熱処理を施さないNo.6の太陽電池についてのみ、反り量が2mmを上回り、不可と判定された。ヤング率に着目すると、このNo.6の太陽電池のみ40GPaを上回っており、他は40GPaを下回っていた。特に、Alの純度が99.998質量%であるNo.1およびNo.2の太陽電池については、ヤング率が30GPaを下回っていた。また、加熱処理を行うことによって、形成される裏面電極のヤング率がより小さくなる(裏面電極がより軟らかくなる)ことが確認された。
As shown in Table 1, none of the Al surface resistance and peel strength were determined to be unacceptable. On the other hand, with regard to the amount of warpage and Young's modulus, the results showed that the higher the purity of Al, and the higher the purity of the heat-treated, the smaller the amount of warpage and the Young's modulus. And the purity of Al is 99.85 mass%, and No. which does not heat-process. Only about the solar cell of 6, the curvature amount exceeded 2 mm, and it was determined that it was impossible. Focusing on the Young's modulus, this No. Only 6 solar cells were above 40 GPa and others were below 40 GPa. In particular, the purity of Al is 99.998% by mass. 1 and no. For the solar cell of 2, the Young's modulus was less than 30 GPa. Moreover, it was confirmed that the Young's modulus of the back electrode formed becomes smaller (the back electrode becomes softer) by performing the heat treatment.

以上の結果は、高純度Al粉末を導電性ペーストに用いることで、十分な密着強度と、小さな面抵抗とを維持しつつ、ヤング率の小さな軟らかい裏面電極を形成することができること、および、このように軟らかい裏面電極を形成することで、半導体基板の反りが低減できることを示すものである。   The above results show that by using high-purity Al powder for the conductive paste, a soft back electrode with a small Young's modulus can be formed while maintaining sufficient adhesion strength and small sheet resistance, and this It shows that the warp of the semiconductor substrate can be reduced by forming such a soft back electrode.

また、表1の結果からは、高純度Al粉末を用いたものほど面抵抗およびAl以外の不純物の合計量が少ないといえ、裏面電極の面抵抗との間に正の相関があることが確認される。すなわち、Al粉末の純度が高いほど、裏面電極の電極特性が向上するといえる。   Also, from the results in Table 1, it can be said that the higher the purity of the Al powder, the smaller the total amount of surface resistance and impurities other than Al, and it is confirmed that there is a positive correlation between the surface resistance of the back electrode. Is done. That is, it can be said that the higher the purity of the Al powder, the better the electrode characteristics of the back electrode.

以上の結果より、薄層化された半導体基板を用いた太陽電池の裏面電極を、高純度Al粉末を導電性材料として含む導電性ペーストにて作製することで、半導体基板の反りが低減できると共に、裏面電極の密着強度が高く、かつ面抵抗が小さい太陽電池が得られることが確認された。また、高純度Al粉末に加熱処理を施すことが、より効果的であることも確認された。   From the above results, it is possible to reduce the warpage of the semiconductor substrate by producing the back electrode of the solar cell using the thinned semiconductor substrate with a conductive paste containing high-purity Al powder as a conductive material. It was confirmed that a solar cell with high adhesion strength of the back electrode and low surface resistance was obtained. It has also been confirmed that it is more effective to heat-treat the high-purity Al powder.

本実施の形態に係る太陽電池10の構成を概略的に示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows schematically the structure of the solar cell 10 which concerns on this Embodiment. 半導体基板の反り量の評価方法について説明するための図である。It is a figure for demonstrating the evaluation method of the curvature amount of a semiconductor substrate.

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体基板
2 n+
3 p+
4 受光面電極
5 裏面電極
10 太陽電池
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor substrate 2 n + layer 3 p + layer 4 Light-receiving surface electrode 5 Back surface electrode 10 Solar cell

Claims (4)

光電変換素子用の半導体基板に電極を形成するための導電性ペーストであって、
導電性材料が純度99.9質量%以上のAl粉末であり、かつ不活性ガス雰囲気で300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理されたものである、
ことを特徴とする光電変換素子用導電性ペースト。
A conductive paste for forming an electrode on a semiconductor substrate for a photoelectric conversion element,
The conductive material is Al powder having a purity of 99.9% by mass or more, and is heat-treated at a heating temperature of 300 ° C. or more and 500 ° C. or less in an inert gas atmosphere.
A conductive paste for a photoelectric conversion element.
請求項1に記載の光電変換素子用導電性ペーストを用いて前記半導体基板の一方主面上にAlを主成分とするとともにガラス成分を含む電極層を形成してなる、
ことを特徴とする光電変換素子。
Using the conductive paste for photoelectric conversion element according to claim 1, an electrode layer containing Al as a main component and a glass component is formed on one main surface of the semiconductor substrate.
The photoelectric conversion element characterized by the above-mentioned.
光電変換素子用の半導体基板と、
前記半導体基板の一方主面上に形成されたガラス成分を含む電極層と、
を備える光電変換素子であって、
前記電極層が、純度99.9質量%以上のAl粉末を不活性ガス雰囲気で300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理したものを出発原料に用いて形成されてなり、Al以外の金属又は半金属の含有比率が1質量%以下であり、ヤング率が40GPa以下である、
ことを特徴とする光電変換素子。
A semiconductor substrate for a photoelectric conversion element;
An electrode layer containing a glass component formed on one main surface of the semiconductor substrate;
A photoelectric conversion element comprising:
The electrode layer is formed by using, as a starting material, an Al powder having a purity of 99.9% by mass or more and heat-treated at 300 ° C. or more and 500 ° C. or less in an inert gas atmosphere, and a metal other than Al Alternatively, the metalloid content ratio is 1% by mass or less, and the Young's modulus is 40 GPa or less.
The photoelectric conversion element characterized by the above-mentioned.
光電変換素子の作製方法であって、
導電性材料が、純度99.9質量%以上のAl粉末を300℃以上500℃以下の加熱温度で加熱処理したものである導電性ペーストを作製する工程と、
前記導電性ペーストを用いて塗布法により光電変換素子用の半導体基板の一方主面上にガラス成分を含む電極層を形成する工程と、
を備え、
前記電極層を、純度99.9質量%以上のAlを主成分とし、Al以外の金属又は半金属の含有比率が1質量%以下であるように形成する、
ことを特徴とする光電変換素子の作製方法。
A method for producing a photoelectric conversion element, comprising:
A step of producing a conductive paste in which the conductive material is a heat treatment of Al powder having a purity of 99.9% by mass or higher at a heating temperature of 300 ° C. or higher and 500 ° C. or lower;
Forming an electrode layer containing a glass component on one main surface of a semiconductor substrate for a photoelectric conversion element by a coating method using the conductive paste;
With
The electrode layer is formed so that the main component is Al having a purity of 99.9% by mass or more, and the content ratio of the metal or semimetal other than Al is 1% by mass or less.
A method for manufacturing a photoelectric conversion element.
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