JP5128061B2 - Laser ultrasonic material measuring device - Google Patents

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

本発明は、圧延ラインにおける圧延製品の材質を計測するレーザ超音波材質計測装置に関する。   The present invention relates to a laser ultrasonic material measuring apparatus that measures the material of a rolled product in a rolling line.

鉄鋼材料の材質には、機械的性質とよばれる強度や延性があり、これらの性質は、結晶粒径などの金属組織により決定される。このため、結晶粒径などの金属組織を把握することにより、機械的性質を算出することができる。しかし、粒径の計測は、試験片を切り出して行う場合、研磨、顕微鏡観察などの工程を必要とし、多くの手間を必要とする。このため、この結晶粒径の測定を非破壊で行う装置として、超音波パルスを用いた装置が開示されている(例えば、特許文献1を参照)。
特許第3184368号
Steel materials have strength and ductility called mechanical properties, and these properties are determined by the metal structure such as crystal grain size. For this reason, the mechanical properties can be calculated by grasping the metal structure such as the crystal grain size. However, the measurement of the particle diameter requires steps such as polishing and microscopic observation when a test piece is cut out and requires a lot of labor. For this reason, an apparatus using an ultrasonic pulse is disclosed as an apparatus for measuring the crystal grain size in a nondestructive manner (see, for example, Patent Document 1).
Japanese Patent No. 3184368

しかしながら、以上のような装置は、圧延製品を製造する状況での種々の条件下を想定したものではなく、圧延製品を製造する圧延ラインに設置することに適したものではなかった。   However, the apparatus as described above is not intended for various conditions in a situation where a rolled product is manufactured, and is not suitable for installation in a rolling line for manufacturing a rolled product.

そこで、本発明の目的は、圧延製品を製造する圧延ラインにおいて、圧延製品を製造する状況での種々の条件下に対応したレーザ超音波材質計測装置を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to provide a laser ultrasonic material measuring device that can cope with various conditions in a situation where a rolled product is manufactured in a rolling line for manufacturing the rolled product.

本発明の観点に従ったレーザ超音波材質計測装置は、圧延製品を製造する圧延ラインに設置され、前記圧延ラインを流れる前記圧延製品の結晶粒径を計測するレーザ超音波を用いた計測装置であって、前記圧延製品に送信側レーザ光を照射し、前記圧延製品に超音波の縦波を発生させる超音波発振器と、前記圧延製品に前記超音波発振器が前記送信側レーザ光を照射する面と対向する面に受信側レーザ光を照射し、前記圧延製品から反射された前記受信側レーザ光を受信部に入力することにより、前記圧延製品に発生した超音波の縦波を検出して検出信号を発信し、前記超音波発振器から照射された前記送信側レーザ光の光路の延長線上に、前記受信部が位置しないように設けられた超音波検出器と、前記超音波検出器から発信された前記検出信号に基づいて、前記圧延製品の結晶粒径を計測するための処理を行う信号処理装置とを有し、前記超音波発振器は、前記圧延製品に照射する面に対して垂直な軸を基準として、照射した送信側レーザ光の中心線が0度を含まない45度以内に傾く角度に設けられ、前記超音波検出器は、照射した受信側レーザ光の延長線上に、前記超音波発振器により前記圧延製品に発生した前記超音波の縦波の音源が位置するように設けられた構成である。 A laser ultrasonic material measuring device according to an aspect of the present invention is a measuring device using a laser ultrasonic wave that is installed in a rolling line for manufacturing a rolled product and measures a crystal grain size of the rolled product flowing through the rolling line. there are, by irradiating the transmission-side laser beam on the rolled product, the ultrasonic generator that generates a longitudinal wave of the ultrasonic wave in the rolled product, the ultrasonic generator to the rolled product to illuminate the transmission-side laser beam By irradiating the surface facing the surface with the receiving laser beam and inputting the receiving laser beam reflected from the rolled product to the receiving unit, the longitudinal wave of the ultrasonic wave generated in the rolled product is detected. transmitted the detection signal, the an extension of the optical path of the irradiated the sender laser beam from the ultrasonic oscillator and an ultrasonic detector the receiving unit is found provided not located, from the ultrasonic detector The sent inspection Based on the signal, and a said rolled product signal performs processing for measuring the crystal grain size processor, the ultrasonic oscillator as a reference axis perpendicular to the plane to be irradiated to the rolled product The center line of the irradiated transmission side laser light is provided at an angle inclined within 45 degrees not including 0 degrees, and the ultrasonic detector is formed on the extension line of the irradiated reception side laser light by the ultrasonic oscillator. It is the structure provided so that the sound source of the longitudinal wave of the said ultrasonic wave which generate | occur | produced in the rolled product may be located .

本発明によれば、圧延製品を製造する圧延ラインにおいて、圧延製品を製造する状況での種々の条件下に対応したレーザ超音波材質計測装置を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the laser ultrasonic material measuring apparatus corresponding to the various conditions in the condition which manufactures a rolling product can be provided in the rolling line which manufactures a rolling product.

以下図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

先ず、本実施形態に係る非破壊で行う結晶粒径の測定方法として、超音波の結晶粒子による散乱(レーリー散乱)による減衰を利用した方法について説明する。   First, as a method for measuring a crystal grain size performed nondestructively according to the present embodiment, a method using attenuation due to scattering of an ultrasonic crystal particle (Rayleigh scattering) will be described.

超音波は、レーリー散乱を利用する粒径測定方法では、縦波(バルク波)を用いる。バルク波の減衰は、xを鋼板中の伝播距離、p,p0を音圧、aを減衰係数とすると減衰定数aを用いて式(1)で表される。

Figure 0005128061
The ultrasonic wave uses a longitudinal wave (bulk wave) in a particle size measurement method using Rayleigh scattering. The attenuation of the bulk wave is expressed by Equation (1) using the attenuation constant a, where x is the propagation distance in the steel sheet, p and p0 are the sound pressures, and a is the attenuation coefficient.
Figure 0005128061

バルク波の周波数がレーリー領域の場合、fをバルク波周波数、a1,a4を係数減衰定数とすると、aは超音波周波数fの4次関数で近似される。
(ここで、式(2)において、第1項は内部摩擦による吸収減衰項、第2項はレーリー散乱項である。)

Figure 0005128061
When the frequency of the bulk wave is in the Rayleigh region, a is approximated by a quartic function of the ultrasonic frequency f, where f is a bulk wave frequency and a1 and a4 are coefficient attenuation constants.
(Here, in Equation (2), the first term is the absorption attenuation term due to internal friction, and the second term is the Rayleigh scattering term.)
Figure 0005128061

なお、このレーリー領域は、結晶粒径がバルク波の波長に比べて十分に小さい領域で、dを結晶粒径、λをバルク波の波長とすると、例えば式(3)の範囲とされている。

Figure 0005128061
This Rayleigh region is a region in which the crystal grain size is sufficiently smaller than the wavelength of the bulk wave, where d is the crystal grain size and λ is the wavelength of the bulk wave, for example, the range of the formula (3). .
Figure 0005128061

また、式(2)の4次の係数a4は、結晶粒径dの3乗に比例する係数であることが知られている。よって、a4は、式(4)のように表される。

Figure 0005128061
Further, it is known that the fourth-order coefficient a4 in the equation (2) is a coefficient proportional to the cube of the crystal grain size d. Therefore, a4 is expressed as in Equation (4).
Figure 0005128061

ここで、Sは散乱定数となる。   Here, S is a scattering constant.

送信器で送信されるバルク波は、その波形中にある分布の周波数成分を含んでいるので、受信波形を周波数分析することにより各周波数成分の減衰率を得ることができる。さらに、送受信の時間差から鋼板内での伝播距離が判るので、伝播距離と各周波数成分の減衰率に基づき式(2)の各係数を同定することができる。更に、標準サンプルなどで予め散乱定数Sを決めておけば、式(4)により結晶粒径dを得ることができる。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態のレーザ超音波材質計測装置の構成を説明するためのブロック図である。
Since the bulk wave transmitted by the transmitter includes frequency components having a certain distribution in the waveform, the attenuation rate of each frequency component can be obtained by frequency analysis of the received waveform. Furthermore, since the propagation distance in the steel plate can be determined from the transmission / reception time difference, each coefficient of the equation (2) can be identified based on the propagation distance and the attenuation rate of each frequency component. Furthermore, if the scattering constant S is determined in advance using a standard sample or the like, the crystal grain size d can be obtained from the equation (4).
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram for explaining the configuration of the laser ultrasonic material measuring apparatus according to the present embodiment.

本装置は、圧延素材(スラブ)から圧延製品が製造される圧延ラインに設けられている。   This apparatus is provided in the rolling line in which a rolling product is manufactured from a rolling raw material (slab).

本装置は、圧延製品(スラブから製品として完成する途中の状態も含む、以下同様。)が流れる圧延ラインの下側に設置された超音波発振器1と、この圧延ラインの下側に超音波検出器2と、超音波検出器2からの検出信号を受信するように接続された信号処理装置4とからなる。   This apparatus includes an ultrasonic oscillator 1 installed on the lower side of a rolling line through which a rolled product (including a state in the middle of being completed as a product from a slab) flows, and ultrasonic detection on the lower side of the rolling line. And a signal processing device 4 connected to receive a detection signal from the ultrasonic detector 2.

超音波発振器1は、被測定材3(圧延製品)の底面に強力なパルス状のレーザ光を照射し、被測定材3の底面に超音波パルスを発生させる。超音波発振器1は、例えばQスイッチ動作ができるYAGレーザである。超音波発振器1は、レーザ光をレンズにより絞るなどして目的とするビーム径として、被測定材3に照射する。   The ultrasonic oscillator 1 irradiates the bottom surface of the material to be measured 3 (rolled product) with a strong pulsed laser beam to generate an ultrasonic pulse on the bottom surface of the material to be measured 3. The ultrasonic oscillator 1 is, for example, a YAG laser capable of Q switch operation. The ultrasonic oscillator 1 irradiates the measured material 3 with a target beam diameter by, for example, narrowing the laser beam with a lens.

超音波検出器2は、CW(連続波)レーザを用いて、超音波パルスによる被測定材3の上面での振動変位を検出する。超音波検出器2は、ファブリペロー干渉計を用いたファブリペロー方式である。   The ultrasonic detector 2 uses a CW (continuous wave) laser to detect a vibration displacement on the upper surface of the material 3 to be measured due to an ultrasonic pulse. The ultrasonic detector 2 is a Fabry-Perot method using a Fabry-Perot interferometer.

図4を参照して、ファブリペロー方式による振動変位(超音波振動)の検出をする構成について説明する。   With reference to FIG. 4, the structure which detects the vibration displacement (ultrasonic vibration) by a Fabry-Perot system is demonstrated.

ファブリペロー方式の超音波検出器2Aは、CWレーザ21と、ミラー24とビームスプリッタ25,26と、ファブリペロー干渉計23と、光検出器22とからなる。また、ファブリペロー干渉計23は、共振器として構成された2つのミラーを一対とする反射ミラー27と、反射ミラー27の2つのミラー間の距離を調整するアクチュエータ28とからなる。   The Fabry-Perot ultrasonic detector 2 </ b> A includes a CW laser 21, a mirror 24, beam splitters 25 and 26, a Fabry-Perot interferometer 23, and a photodetector 22. The Fabry-Perot interferometer 23 includes a reflection mirror 27 that includes a pair of two mirrors configured as a resonator, and an actuator 28 that adjusts the distance between the two mirrors.

アクチュエータ28は、例えばピエゾ素子である。アクチュエータ28は、反射ミラー27の間隔を正確に保つように、制御機構により逐次操作される。   The actuator 28 is, for example, a piezo element. The actuator 28 is sequentially operated by the control mechanism so as to keep the interval between the reflection mirrors 27 accurately.

CWレーザ21から出力されたレーザ光は、ミラー24に反射されて、ビームスプリッタ25により、被測定材3を照射するレーザ光と、ファブリペロー干渉計23に入射するレーザ光とに分かれる。被測定材3に照射したレーザ光は、超音波振動している被測定材3の上面に反射して、ファブリペロー干渉計23に入射する。ファブリペロー干渉計23は、入射された2つのレーザ光を、アクチュエータ28により調整された反射ミラー27により共振させる。共振された2つのレーザ光は、干渉光となって、ビームスプリッタ26を介して、光検出器22に入射する。   The laser light output from the CW laser 21 is reflected by the mirror 24 and is split by the beam splitter 25 into laser light that irradiates the material 3 to be measured and laser light that enters the Fabry-Perot interferometer 23. The laser light applied to the material to be measured 3 is reflected on the upper surface of the material to be measured 3 that is ultrasonically vibrated and enters the Fabry-Perot interferometer 23. The Fabry-Perot interferometer 23 resonates two incident laser beams by a reflection mirror 27 adjusted by an actuator 28. The two resonated laser beams become interference light and enter the photodetector 22 via the beam splitter 26.

上述のようにして、被測定材3の上面で生じている超音波振動を、レファレンス光と反射光との間に生じた光路の変化が生じることを利用して、結果として被測定材3の上面の振動変位に応じて干渉光の強度変化が生じることにより検出する。   As described above, the ultrasonic vibration generated on the upper surface of the material to be measured 3 is utilized as a result of the change in the optical path generated between the reference light and the reflected light. Detection is performed when the intensity change of the interference light occurs according to the vibration displacement of the upper surface.

図3を参照して、超音波発振器1及び超音波検出器2の設置位置について説明する。図1と同一の部分には同一符号を付してその詳しい説明を省略し、ここでは異なる部分について主に述べる。なお、以下の実施形態も同様にして重複した説明を省略する。   With reference to FIG. 3, the installation positions of the ultrasonic oscillator 1 and the ultrasonic detector 2 will be described. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted, and different parts are mainly described here. In the following embodiments, the same description is omitted.

超音波発振器1は、被測定材3の底面に垂直な軸を基準として、発射するレーザ光の光路が0度を含まない45度以内の傾斜(図3の角度θ)になるように設置されている。超音波発振器1からのレーザは、この角度θが付くことにより、圧延製品に照射されるレーザは楕円形になる。この楕円形の縦軸と横軸の比が大きいと、超音波の検出精度が悪くなる。このため、角度θが45度は、検出できる略限界の角度であるため、検出精度を高く保つには、角度θは20度以内が望ましい。   The ultrasonic oscillator 1 is installed so that the optical path of the emitted laser light has an inclination within 45 degrees (angle θ in FIG. 3) not including 0 degrees with respect to an axis perpendicular to the bottom surface of the material 3 to be measured. ing. The laser from the ultrasonic oscillator 1 has this angle θ, so that the laser irradiated to the rolled product becomes elliptical. If the ratio of the elliptical vertical axis and horizontal axis is large, the detection accuracy of ultrasonic waves is deteriorated. For this reason, the angle θ of 45 degrees is a substantially limitable angle that can be detected. Therefore, in order to maintain high detection accuracy, the angle θ is preferably within 20 degrees.

超音波検出器2は、発射するレーザ光の光路が、被測定材3の上面に対して略垂直であり、超音波発振器1からレーザ光が照射された被測定材3の底面上の点(超音波の音源)、又はこの点に対向する被測定材3の上面の点のうちどちらか一方(又は両方)を通るように設置されている。または、超音波検出器2は、発射したレーザ光が被測定材3に反射され、この反射されたレーザ光を入射できる位置に設置されている。超音波検出器2は、超音波発振器1のレーザ光路の延長線上に、レーザ光を入射する受光部(例えば、レンズなど)が位置しないように設置されている。   In the ultrasonic detector 2, the optical path of the emitted laser light is substantially perpendicular to the upper surface of the material to be measured 3, and the point on the bottom surface of the material to be measured 3 irradiated with the laser light from the ultrasonic oscillator 1 ( It is installed so as to pass through either one (or both) of the ultrasonic sound source) or the point on the upper surface of the measurement object 3 facing this point. Alternatively, the ultrasonic detector 2 is installed at a position where the emitted laser light is reflected by the material 3 to be measured and the reflected laser light can be incident. The ultrasonic detector 2 is installed on the extended line of the laser beam path of the ultrasonic oscillator 1 so that a light receiving unit (for example, a lens) that enters the laser beam is not located.

以上のように、超音波発振器1及び超音波検出器2は設置されている。   As described above, the ultrasonic oscillator 1 and the ultrasonic detector 2 are installed.

信号処理装置4は、超音波検出器2により検出された検出信号を処理することにより、被測定材3の材質(結晶粒径)を求める。   The signal processing device 4 obtains the material (crystal grain size) of the material 3 to be measured by processing the detection signal detected by the ultrasonic detector 2.

図2を参照して、信号処理装置4により、超音波検出器2により検出した検出信号の処理方法について説明する。   With reference to FIG. 2, the processing method of the detection signal detected by the ultrasonic detector 2 by the signal processing device 4 will be described.

信号処理装置4は、超音波検出器により複数個の粗密波エコー信号を採取する(ステップS1)。   The signal processing device 4 collects a plurality of dense wave echo signals using an ultrasonic detector (step S1).

信号処理装置4は、これらの複数個粗密波エコー信号の周波数分析を行い、被測定材面からの多重エコー信号のスペクトル強度の差から、各周波数毎の減衰量を算出する(ステップS2)。必要で有れば、拡散減衰補正、透過損失補正を行い、減衰定数の周波数特性を算出する。   The signal processing device 4 analyzes the frequency of the plurality of coarse / fine wave echo signals, and calculates the attenuation amount for each frequency from the difference in the spectral intensity of the multiple echo signals from the surface of the material to be measured (step S2). If necessary, diffusion attenuation correction and transmission loss correction are performed, and the frequency characteristic of the attenuation constant is calculated.

信号処理装置4は、送受信の時間差から鋼板内での伝播距離を算出し、伝播距離と各周波数成分の減衰率に基づき式(2)の各係数を同定する(ステップS3)。   The signal processing device 4 calculates the propagation distance in the steel plate from the transmission / reception time difference, and identifies each coefficient of the equation (2) based on the propagation distance and the attenuation rate of each frequency component (step S3).

信号処理装置4は、減衰定数の周波数特性から、4次曲線なとの多次関数に最小自乗法などでフィッティングさせることにより、多次関数の係数ベクトルを求める(ステップS4)。   The signal processing device 4 obtains a coefficient vector of the multi-order function by fitting a multi-order function such as a quartic curve by the least square method or the like from the frequency characteristic of the attenuation constant (step S4).

信号処理装置4は、減衰定数に4次曲線を最小自乗法などでフィッティングさせた際に得られる多次関数の係数ベクトルと、校正のための被測定材から得られる散乱係数Sから、各サブ組織の体積率による補正を行う前の結晶粒径測定値d0を算出する(ステップS5)。 The signal processing device 4 uses a coefficient vector of a multi-order function obtained when fitting a quartic curve to an attenuation constant by the least square method or the like, and a scattering coefficient S obtained from a measured material for calibration. A crystal grain size measurement value d 0 before correction by the volume ratio of the tissue is calculated (step S5).

これらは、具体的には以下の通りである。   Specifically, these are as follows.

超音波検出器により第1超音波パルス、第2超音波パルス、…、というような超音波パルス列が測定される。この時、各超音波パルスに含まれているエネルギは、反射の際の損失や材料中の伝播に伴う減衰によって徐々に小さくなっている。第1超音波パルスあるいは第2超音波パルスの部分だけを取り出し、周波数解析してそれぞれのエネルギ(パワースペクトラム)を求めると、第2超音波パルスは第1超音波パルスに比べ、材料板厚tの2倍分だけ伝搬距離が長いため、式(1)に従ったエネルギの減衰が生ずる。第1超音波パルスのパワースペクトラムとの差として両者間の減衰量を求める。この曲線は式(2)の減衰定数aに伝搬距離の差2tを乗じたものに相当する。これより、単位伝搬距離での式(2)の各係数を最小2乗法などにより求める。そして、予め標準サンプルによって求めておいた散乱定数Sと上記求められた係数の内のa4とから、式(3)を逆算することにより各サブ組織の体積率による補正を行う前の結晶粒径測定値d0を求めることができる。 An ultrasonic pulse train such as a first ultrasonic pulse, a second ultrasonic pulse,... Is measured by the ultrasonic detector. At this time, the energy contained in each ultrasonic pulse is gradually reduced due to loss during reflection and attenuation due to propagation in the material. When only the part of the first ultrasonic pulse or the second ultrasonic pulse is taken out and frequency analysis is performed to obtain the respective energy (power spectrum), the second ultrasonic pulse has a material plate thickness t as compared with the first ultrasonic pulse. Since the propagation distance is long by two times, energy attenuation according to the equation (1) occurs. The amount of attenuation between the two is determined as the difference from the power spectrum of the first ultrasonic pulse. This curve corresponds to a value obtained by multiplying the attenuation constant a in the equation (2) by the propagation distance difference 2t. From this, each coefficient of the equation (2) at the unit propagation distance is obtained by the least square method or the like. Then, the crystal grain before correction by the volume ratio of each substructure is performed by calculating back the equation (3) from the scattering constant S obtained in advance by a standard sample and a 4 of the obtained coefficients. A diameter measurement d 0 can be determined.

本実施形態によれば、超音波発振器1のレーザ光により被測定材3に発生した超音波の音源(又は、この音源から最短の距離にある被測定材3の反対側の面)と超音波検出器2のレーザの光軸とが重なるため、超音波検出器2による超音波の検出を効率よく行うことができる。   According to the present embodiment, the ultrasonic sound source (or the surface on the opposite side of the measured material 3 at the shortest distance from the sound source) generated by the laser beam of the ultrasonic oscillator 1 and the ultrasonic wave. Since the optical axis of the laser of the detector 2 overlaps, the ultrasonic detection by the ultrasonic detector 2 can be performed efficiently.

また、被測定材3が測定する位置に無くても、超音波発振器1のレーザ光は、直接、超音波検出器2の受信部に入射することはないため、超音波検出器2の損壊を免れることができる。特に、入射側レーザ(超音波発振器1)は、アブレーションを起こす程度の高いエネルギー密度を持ったパルスレーザが通常用いられるため、受信側レーザ(超音波検出器2)の破損を防止することに有効である。アブレーションとは、高強度のレーザを照射する時に発生する、プラズマ発光と衝撃音を伴った、固体表面相の爆発的な剥離のことをいう。また、超音波発振器1を傾けることにより、超音波検出器2を被測定材3の上面に対して、略垂直にレーザ光を照射することができるため、超音波検出器2による超音波の検出を効率よく行うことができる。よって、被測定材3が動く環境においても、安全に使用することができ、超音波の検出を効率よく行うことができる。   Further, even if the measurement object 3 is not located at the position to be measured, the laser beam of the ultrasonic oscillator 1 does not directly enter the receiving portion of the ultrasonic detector 2, so that the ultrasonic detector 2 is damaged. I can be spared. In particular, the incident side laser (ultrasonic oscillator 1) is usually a pulse laser having an energy density high enough to cause ablation, so that it is effective in preventing the reception side laser (ultrasonic detector 2) from being damaged. It is. Ablation refers to explosive separation of a solid surface phase accompanied by plasma emission and impact sound that occurs when a high-intensity laser is irradiated. In addition, by tilting the ultrasonic oscillator 1, the ultrasonic detector 2 can be irradiated with laser light substantially perpendicularly to the upper surface of the material 3 to be measured. Can be performed efficiently. Therefore, it can be used safely even in an environment in which the material to be measured 3 moves, and ultrasonic detection can be performed efficiently.

さらに、超音波を検出する超音波検出器2を圧延ラインの上側に設置することで、圧延ラインに発生する水蒸気やダストによる検出の妨げを抑制することができる。また、傾ける側の超音波発振器1を圧延ラインの下側に設置することで、圧延製品が流れる圧延ラインの真下の環境、即ち振動、水蒸気、ダストなどの落下物などの悪環境を避けた場所に設置することができる。   Furthermore, by installing the ultrasonic detector 2 for detecting ultrasonic waves on the upper side of the rolling line, it is possible to suppress the hindrance to detection due to water vapor and dust generated in the rolling line. In addition, by installing the inclined ultrasonic oscillator 1 on the lower side of the rolling line, an environment just below the rolling line where the rolled product flows, that is, a place avoiding an adverse environment such as falling objects such as vibration, water vapor, and dust. Can be installed.

これらにより、圧延ラインにおける圧延製品が動く環境においても、超音波の検出を効率よく行うことができ、安全に使用することのできるレーザ超音波材質計測装置を提供することができる。   As a result, it is possible to provide a laser ultrasonic material measuring apparatus that can efficiently detect ultrasonic waves and can be used safely even in an environment in which a rolled product moves in a rolling line.

(第2の実施形態)
本実施形態に係るレーザ超音波材質計測装置は、第1の実施形態に係る装置おいて、ファブリペロー方式の超音波検出器2Aに代えて、フォトリフラクティブ素子を用いたフォトリフラクティブ方式の超音波検出器2Bにしたこと、超音波発振器1及び超音波検出器2の設置位置の制限しないこと以外は、第1の実施形態に係る装置と同じである。
(Second Embodiment)
The laser ultrasonic material measuring apparatus according to the present embodiment is a photorefractive ultrasonic detection using a photorefractive element in place of the Fabry-Perot ultrasonic detector 2A in the apparatus according to the first embodiment. The apparatus is the same as the apparatus according to the first embodiment except that the apparatus 2B is used and the installation positions of the ultrasonic oscillator 1 and the ultrasonic detector 2 are not limited.

図5を参照して、フォトリフラクティブ方式による振動変位(超音波振動)の検出をする構成について説明する。   A configuration for detecting vibration displacement (ultrasonic vibration) by a photorefractive method will be described with reference to FIG.

フォトリフラクティブ方式の超音波検出器2Bは、ファブリペロー方式の超音波検出器2Aのファブリペロー干渉計23がフォトリフラクティブ素子29に代わり、スプリッタ26が無くなって、フォトリフラクティブ素子29からの干渉光が直接光検出器22に入射されるようにしたこと以外は同じである。   In the photorefractive type ultrasonic detector 2B, the Fabry-Perot interferometer 23 of the Fabry-Perot type ultrasonic detector 2A is replaced by the photorefractive element 29, the splitter 26 is eliminated, and interference light from the photorefractive element 29 is directly received. It is the same except that it is incident on the photodetector 22.

フォトリフラクティブ素子29は、結晶内で基準光と反射光を干渉させ、光検出器22にその干渉光を入射する。   The photorefractive element 29 causes the reference light and the reflected light to interfere with each other in the crystal and makes the interference light enter the photodetector 22.

次に、以上のようなレーザ超音波材質計測装置における薄板の計測について説明する。   Next, measurement of a thin plate in the laser ultrasonic material measuring apparatus as described above will be described.

フォトリフラクティブ干渉計では、受信光の波長の1/8を超える表面変位は検出できないという制約がある。つまり、表面の変位が66.5nm(波長532nm=緑色)、または、133nm(波長1064nm=赤外)を超える場合である。   A photorefractive interferometer has a limitation that a surface displacement exceeding 1/8 of the wavelength of received light cannot be detected. That is, the displacement of the surface exceeds 66.5 nm (wavelength 532 nm = green) or 133 nm (wavelength 1064 nm = infrared).

特に厚さが薄板(約1〜2mm)測定をする場合、薄板は、超音波発振器1のレーザ光により、特有の低周波の大きな振動(板波振動)を生じ易い。板波振動とは、超音波振動が板全体を振動させてしまう現象である。   In particular, when measuring a thin plate (about 1 to 2 mm), the thin plate is likely to generate a large vibration (plate wave vibration) having a specific low frequency due to the laser light of the ultrasonic oscillator 1. Plate wave vibration is a phenomenon in which ultrasonic vibration vibrates the entire plate.

本装置は、表面変位そのものを小さくするために、超音波発振器1からのレーザ光の出力を下げずに、スポット径を小さくする。例えば、レーザ光の出力量をXとしたとき、2mm以下の薄板に板波振動を生じさせる場合、レーザ光の出力量のXを変えずに出力し、レーザ光のスポット径を小さくしていくことで、板波振動を抑制する。但し、超音波発振器1からのレーザ光は、被測定材3に到達する前に、空間中でアブレーションを起こさない程度を下限として、スポット径を小さくするものとする。なお、レーザ光の出力量は、J(ジュール)やW(ワット)などの単位で表される熱量や仕事量である。   This apparatus reduces the spot diameter without decreasing the output of the laser beam from the ultrasonic oscillator 1 in order to reduce the surface displacement itself. For example, when the output amount of the laser beam is X, when plate wave vibration is generated in a thin plate of 2 mm or less, the laser beam output amount X is output without changing and the spot diameter of the laser beam is reduced. Thus, plate wave vibration is suppressed. However, the laser beam from the ultrasonic oscillator 1 is made to have a small spot diameter before reaching the material 3 to be measured, with a lower limit that does not cause ablation in the space. Note that the output amount of the laser beam is a heat amount or work amount expressed in units such as J (joule) or W (watt).

本実施形態によれば、フォトリフラクティブ方式を採用することにより、ファブリペロー干渉計23のミラー27のような外部振動等の外乱により影響を受けやすい部位や、アクチュエータ28及び制御機構などの精密な機構部などが少ない計測装置となる。よって、振動等の外乱による影響を受けにくく、環境の悪い圧延ラインにおいても、長時間にわたって安定した超音波計測をすることに適した装置を提供することができる。   According to the present embodiment, by adopting the photorefractive method, a part that is easily affected by external disturbances such as the mirror 27 of the Fabry-Perot interferometer 23, and a precise mechanism such as the actuator 28 and the control mechanism. It becomes a measuring device with few parts. Therefore, it is possible to provide an apparatus that is not easily affected by disturbances such as vibrations and that is suitable for stable ultrasonic measurement over a long period of time even in a rolling environment with a poor environment.

特に、熱間圧延ラインでのオンライン計測の場合、圧延機や被圧延材通過などに起因する振動、被圧延材の温度を所望の温度にコントロールするための冷却ラインから発生する水蒸気など環境が悪い。また、熱間での被圧延材は約500〜約900度にも及び、被圧延材近傍の温度は非常に高い。これらの環境において適した装置を提供することができる。   In particular, in the case of online measurement in a hot rolling line, the environment is poor, such as vibration caused by rolling mills and rolling material passing, water vapor generated from a cooling line for controlling the temperature of the rolling material to a desired temperature. . Further, the material to be rolled in the hot range is about 500 to about 900 degrees, and the temperature in the vicinity of the material to be rolled is very high. An apparatus suitable for these environments can be provided.

また、超音波発振器1からのレーザ光の出力を下げずに、スポット径を小さくすることで、低周波振動の振幅が減少し、代わりに粒径測定に有効な超音波の振幅が増す。これにより、測定精度低下の一因となる板波振動を避け、材質計測に有効な超音波振動を検出することができる。   Further, by reducing the spot diameter without lowering the output of the laser light from the ultrasonic oscillator 1, the amplitude of the low frequency vibration is reduced, and instead, the amplitude of the ultrasonic wave effective for the particle size measurement is increased. Thereby, it is possible to detect the ultrasonic vibration effective for material measurement while avoiding the plate wave vibration that causes a decrease in measurement accuracy.

これらにより、効果環境の悪い圧延ラインにおいても、材質計測に有効な超音波振動を検出することができ、長時間にわたって安定した超音波計測をすることに適した装置を提供することができる。   Accordingly, it is possible to detect an ultrasonic vibration effective for material measurement even in a rolling line having a poor effect environment, and it is possible to provide an apparatus suitable for performing stable ultrasonic measurement over a long period of time.

なお、第1の実施形態において、ファブリペロー方式に限らない。例えば、マイケルソン干渉計を利用した方式であってもよい。   Note that the first embodiment is not limited to the Fabry-Perot method. For example, a system using a Michelson interferometer may be used.

第1の実施形態において、超音波発振器1からのレーザ光を底面から照射し、超音波検出器2からのレーザ光を上面から照射して振動変位を検出する構成としたが、超音波発振器1からのレーザ光を上面から照射し、超音波検出器からのレーザ光を底面から照射する構成としてもよい。これに伴い、超音波発振器1を圧延ライン1の上側に設置し、超音波検出器を圧延ラインの下側に設置してもよいし、これら以外であってもよい。本装置を設ける環境条件などにより、任意に選択することができる。   In the first embodiment, the laser beam from the ultrasonic oscillator 1 is irradiated from the bottom surface, and the laser beam from the ultrasonic detector 2 is irradiated from the top surface to detect the vibration displacement. It is good also as a structure which irradiates the laser beam from a top surface, and irradiates the laser beam from an ultrasonic detector from a bottom surface. Accordingly, the ultrasonic oscillator 1 may be installed on the upper side of the rolling line 1 and the ultrasonic detector may be installed on the lower side of the rolling line, or other than these. It can be arbitrarily selected depending on the environmental conditions in which this apparatus is provided.

第1の実施形態と第2の実施形態は、同時に満たす構成とすることができる。この場合、第1の実施形態及び第2の実施形態の両方の効果を持つレーザ超音波材質計測装置を提供することができる。   1st Embodiment and 2nd Embodiment can be set as the structure satisfy | filled simultaneously. In this case, a laser ultrasonic material measuring apparatus having the effects of both the first embodiment and the second embodiment can be provided.

なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

本発明の第1の実施形態に関するレーザ超音波材質計測装置の構成を説明するためのブロック図。The block diagram for demonstrating the structure of the laser ultrasonic material measurement apparatus regarding the 1st Embodiment of this invention. 第1の実施形態に関する信号処理装置の処理手順を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating the process sequence of the signal processing apparatus regarding 1st Embodiment. 第1の実施形態に関する超音波発振器及び超音波検出器の設置位置について説明するためのブロック図。The block diagram for demonstrating the installation position of the ultrasonic oscillator and ultrasonic detector regarding 1st Embodiment. 第1の実施形態に関するファブリペロー方式の構成を説明するためのブロック図。The block diagram for demonstrating the structure of the Fabry-Perot system regarding 1st Embodiment. 第2の実施形態に関するフォトリフラクティブ方式の構成を説明するためのブロック図。The block diagram for demonstrating the structure of the photorefractive system regarding 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1…超音波発振器、2…超音波検出器、3…被測定材、4…信号処理装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ultrasonic oscillator, 2 ... Ultrasonic detector, 3 ... Material to be measured, 4 ... Signal processing apparatus.

Claims (3)

圧延製品を製造する圧延ラインに設置され、前記圧延ラインを流れる前記圧延製品の結晶粒径を計測するレーザ超音波を用いた計測装置であって、
前記圧延製品に送信側レーザ光を照射し、前記圧延製品に超音波の縦波を発生させる超音波発振器と、
前記圧延製品に前記超音波発振器が前記送信側レーザ光を照射する面と対向する面に受信側レーザ光を照射し、前記圧延製品から反射された前記受信側レーザ光を受信部に入力することにより、前記圧延製品に発生した超音波の縦波を検出して検出信号を発信し、前記超音波発振器から照射された前記送信側レーザ光の光路の延長線上に、前記受信部が位置しないように設けられた超音波検出器と、
前記超音波検出器から発信された前記検出信号に基づいて、前記圧延製品の結晶粒径を計測するための処理を行う信号処理装置とを有し、
前記超音波発振器は、
前記圧延製品に照射する面に対して垂直な軸を基準として、照射した送信側レーザ光の中心線が0度を含まない45度以内に傾く角度に設けられ、
前記超音波検出器は、
照射した受信側レーザ光の延長線上に、前記超音波発振器により前記圧延製品に発生した前記超音波の縦波の音源が位置するように設けられたこと
特徴とするレーザ超音波材質計測装置。
A measuring device using a laser ultrasonic wave that is installed in a rolling line for producing a rolled product and measures a crystal grain size of the rolled product flowing through the rolling line,
Irradiating the transmission-side laser beam on the rolled product, the ultrasonic generator that generates a longitudinal wave of the ultrasonic wave in the rolled product,
Irradiating the rolled product with a receiving laser beam on a surface facing the surface on which the ultrasonic oscillator emits the transmitting laser beam, and inputting the receiving laser beam reflected from the rolled product to a receiving unit. By detecting the longitudinal wave of the ultrasonic wave generated in the rolled product, a detection signal is transmitted, and the receiving unit is not positioned on the extension line of the optical path of the transmission side laser beam emitted from the ultrasonic oscillator and provided it ultrasound detector,
Based on the detection signal transmitted from the ultrasonic detector, a signal processing device that performs processing for measuring the crystal grain size of the rolled product ,
The ultrasonic oscillator is
With respect to an axis perpendicular to the surface irradiated to the rolled product, the center line of the irradiated laser beam on the transmitting side is provided at an angle inclined within 45 degrees not including 0 degrees,
The ultrasonic detector is
Provided so that the ultrasonic longitudinal wave sound source generated in the rolled product by the ultrasonic oscillator is positioned on the extended line of the irradiated laser beam on the receiving side.
The laser ultrasonic material measuring apparatus according to claim.
圧延製品を製造する圧延ラインに設置され、前記圧延ラインを流れる前記圧延製品の結晶粒径を計測するレーザ超音波を用いたフォトリフラクティブ方式の計測装置であって、
前記圧延製品に照射する送信側レーザ光が前記圧延製品に板波振動を生じさせる出力をXとし、前記出力をXより小さくせずに前記圧延製品に板波振動を生じさせないように前記スポット径を小さくして前記送信側レーザ光を前記圧延製品に照射し、前記圧延製品に超音波の縦波を発生させる超音波発振器と、
前記圧延製品に前記超音波発振器が前記送信側レーザ光を照射する面と対向する面に受信側レーザ光を照射し、前記圧延製品から反射された前記受信側レーザ光を受信部に入力することにより、前記圧延製品に発生した超音波の縦波を検出して検出信号を発信し、前記超音波発振器から照射された前記送信側レーザ光の光路の延長線上に、前記受信部が位置しないように設けられた超音波検出器と、
前記超音波検出器から発信された前記検出信号に基づいて、前記圧延製品の結晶粒径を計測するための処理を行う信号処理装置とを有し、
前記超音波発振器は、
前記圧延製品に照射する面に対して垂直な軸を基準として、照射した送信側レーザ光の中心線が0度を含まない45度以内に傾く角度に設けられ、
前記超音波検出器は、
照射した受信側レーザ光の延長線上に、前記超音波発振器により前記圧延製品に発生した前記超音波の縦波の音源が位置するように設けられたこと
特徴とするレーザ超音波材質計測装置。
A photorefractive method measuring device using laser ultrasonic waves that is installed in a rolling line for producing a rolled product and measures a crystal grain size of the rolled product flowing through the rolling line,
The output of the laser beam on the transmission side that irradiates the rolled product is X, and the spot diameter is set so that the rolled product does not generate plate wave vibration without making the output smaller than X. the said sender laser light irradiating the rolled product by reducing, the ultrasonic generator that generates a longitudinal wave of the ultrasonic wave in the rolled product,
Irradiating the rolled product with a receiving laser beam on a surface facing the surface on which the ultrasonic oscillator emits the transmitting laser beam, and inputting the receiving laser beam reflected from the rolled product to a receiving unit. By detecting the longitudinal wave of the ultrasonic wave generated in the rolled product, a detection signal is transmitted, and the receiving unit is not positioned on the extension line of the optical path of the transmission side laser beam emitted from the ultrasonic oscillator and provided it ultrasound detector,
Based on the detection signal transmitted from the ultrasonic detector, a signal processing device that performs processing for measuring the crystal grain size of the rolled product ,
The ultrasonic oscillator is
With respect to an axis perpendicular to the surface irradiated to the rolled product, the center line of the irradiated laser beam on the transmitting side is provided at an angle inclined within 45 degrees not including 0 degrees,
The ultrasonic detector is
Provided so that the ultrasonic longitudinal wave sound source generated in the rolled product by the ultrasonic oscillator is positioned on the extended line of the irradiated laser beam on the receiving side.
The laser ultrasonic material measuring apparatus according to claim.
前記超音波発振器は、前記圧延製品の上面に前記送信側レーザ光を照射すること
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載のレーザ超音波材質計測装置。
The said ultrasonic oscillator irradiates the said transmission side laser beam to the upper surface of the said rolling product, The laser ultrasonic material measuring apparatus of Claim 1 or Claim 2 characterized by the above-mentioned.
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