JP5061308B2 - Adhesive sheet - Google Patents

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Description

本発明は、物品を固定するための密着シートに関する。特に半導体装置の製造工程において、ウエハの裏面研削時のウエハ表面の回路パターン保護や、ウエハのダイシング(切断)時のウエハの固定等に使用される密着シートに関する。プリンターヘッドや、ガラス/エポキシ基板、ガラス、セラミックス等の硬質で脆い材料を小さなチップに切断するには、これらを硬質材料上に固定して切断が行なわれる。この時に、被切断物を硬質材料上に固定するために使用される密着シートに関する。 The present invention relates to a contact sheet for fixing an article. In particular, in a semiconductor device manufacturing process, the present invention relates to a contact sheet used for protecting a circuit pattern on a wafer surface when grinding the back surface of the wafer, fixing a wafer when dicing (cutting) the wafer, and the like. In order to cut a hard and brittle material such as a printer head, glass / epoxy substrate, glass, ceramics or the like into small chips, these are fixed on the hard material and cut. At this time, it is related with the contact | adherence sheet | seat used in order to fix a to-be-cut object on a hard material.

IC、LSI等の半導体装置の製造工程においては、回路パターン形成後のウエハは、通常、その厚さを薄くするため、研削、エッチング等の処理が施される。更に、上記処理後のウエハはダイシングされてチップとなる。これらの工程では、通常種々の目的で粘着シートが使用される。即ち、研削等の際には、ウエハ表面の回路パターンを保護する目的で回路パターン面に粘着シートを貼着する。また、ダイシングの際には、ウエハ切断時にウエハを固定し、形成されるチップの飛散を防止する目的で、当該ウエハを粘着シートに貼着させて保持する。 In a manufacturing process of a semiconductor device such as an IC or LSI, a wafer after formation of a circuit pattern is usually subjected to processing such as grinding and etching in order to reduce its thickness. Further, the processed wafer is diced into chips. In these steps, an adhesive sheet is usually used for various purposes. That is, during grinding or the like, an adhesive sheet is attached to the circuit pattern surface for the purpose of protecting the circuit pattern on the wafer surface. Further, during dicing, the wafer is fixed to the adhesive sheet and held for the purpose of fixing the wafer when cutting the wafer and preventing the chips formed from scattering.

この粘着シートにおける粘着剤層の性能は、使用中にはウエハを充分に固定するために粘着力が強く、使用後にはウエハ(チップ)をシートから容易に剥離させるために粘着力が弱くなることが必要である。このため、近年、前記粘着シートとして、基材上に放射線の照射により重合反応を生じて硬化する粘着剤層が積層された放射線硬化性粘着シートが使用されている。   The pressure-sensitive adhesive layer in this pressure-sensitive adhesive sheet has a strong adhesive force to sufficiently fix the wafer during use and a weak adhesive force to easily peel the wafer (chip) from the sheet after use. is required. For this reason, in recent years, a radiation-curable pressure-sensitive adhesive sheet in which a pressure-sensitive adhesive layer that undergoes a polymerization reaction upon irradiation and is cured on a substrate is used as the pressure-sensitive adhesive sheet.

前記放射線硬化性粘着シートは、通常、以下の如く使用される。即ち、まずウエハ等の加工される物品に当該シートを貼着し、この状態で物品に対して研削、ダイシング等の加工を施す。次いで、前記粘着シートに対して放射線を照射することによって、基材上の粘着剤層を硬化させて粘着性を失わせ、前記粘着シート上より加工後の物品を剥離する。   The radiation curable pressure-sensitive adhesive sheet is usually used as follows. That is, first, the sheet is attached to an article to be processed such as a wafer, and in this state, the article is subjected to processing such as grinding and dicing. Next, by irradiating the pressure-sensitive adhesive sheet with radiation, the pressure-sensitive adhesive layer on the substrate is cured to lose the adhesiveness, and the processed article is peeled off from the pressure-sensitive adhesive sheet.

このように、前記放射線硬化性粘着シートにおいて、その粘着剤層は放射線照射し硬化させた後では表面の粘着性が殆ど失われるように設計されている一方、放射線照射前では被着体に対する粘着性が非常に高くなるように設計されている。従って、当該粘着シートでは、その使用前後において所望の強さの粘着力が夫々達成されている。   As described above, in the radiation curable pressure-sensitive adhesive sheet, the pressure-sensitive adhesive layer is designed so that the adhesiveness of the surface is almost lost after being irradiated and cured, whereas the pressure-sensitive adhesive layer adheres to the adherend before irradiation. Designed to be extremely high. Therefore, in the said adhesive sheet, the adhesive strength of desired strength is each achieved before and after the use.

しかしながら、前記放射線硬化性粘着テープでは、放射線の照射前の粘着剤層表面において、高い粘着性に起因してべたつきが生じている。このため、誤って前記粘着シートを目的の被着体以外の物体に付着させてしまった場合、放射線の照射を行わずに剥ぎ取ろうとすると、前記物体に粘着剤物質の糊残りが起こる。特に、前記粘着シートを被着体である半導体ウエハ、セラミックス等に貼着する場合、当該粘着シートにおける粘着剤層の表面積は上記被着体の被着部分の面積に対してかなり大きいため、シート貼着に使用される治具、例えば、シートホルダ、被着体設置台、シート貼着用のゴムローラ、これらの自動化装置等の一部に前記粘着シートが貼着し、この部分に糊残りが生ずることがある。通常、このような糊残りによって被着体が汚染されないように、前記シート貼着用治具、装置の設計は配慮されている。しかし、例えば、この糊残り部分に前記粘着テープが再度付着した場合、該粘着シートは強固に貼着してしまうため、連続した粘着シートの貼着作業は次第に困難になる。   However, the radiation-curable pressure-sensitive adhesive tape is sticky due to high adhesiveness on the surface of the pressure-sensitive adhesive layer before irradiation with radiation. For this reason, when the adhesive sheet is mistakenly attached to an object other than the target adherend, if an attempt is made to peel it off without irradiating with radiation, adhesive residue of the adhesive substance occurs on the object. In particular, when the pressure-sensitive adhesive sheet is adhered to a semiconductor wafer, ceramics, or the like, which is an adherend, the surface area of the pressure-sensitive adhesive layer in the pressure-sensitive adhesive sheet is considerably larger than the area of the adherend portion of the adherend. The pressure-sensitive adhesive sheet adheres to a part of a jig used for sticking, for example, a sheet holder, an adherend mounting table, a rubber roller for sticking the sheet, or an automated device thereof, and an adhesive residue is generated in this part. Sometimes. Usually, the design of the sheet sticking jig and apparatus is considered so that the adherend is not contaminated by such adhesive residue. However, for example, when the pressure-sensitive adhesive tape adheres again to the adhesive remaining portion, the pressure-sensitive adhesive sheet is firmly attached, and therefore, a continuous operation of attaching the pressure-sensitive adhesive sheet becomes increasingly difficult.

この他、上述したような不要な貼着が発生した部分を剥離しようとすると、目的の被着体より粘着シートの一部が剥れたり、また粘着シートに伸び等の歪みを与えたりすることがあるため、該粘着シートの目的が充分に達成されなくなる。また、前記放射線硬化性粘着シートは、光を照射して硬化させたときに強い臭気を発生し、作業者に不快な気持ちを抱かせたり、健康衛生の面でも決して好ましいものとはいえなかった。   In addition, if an attempt is made to peel off a portion where unnecessary sticking as described above has occurred, a part of the adhesive sheet may be peeled off from the target adherend, or the adhesive sheet may be distorted such as stretching. Therefore, the purpose of the pressure-sensitive adhesive sheet cannot be sufficiently achieved. In addition, the radiation-curable pressure-sensitive adhesive sheet generates a strong odor when cured by irradiating light, causing the operator to feel uncomfortable, and was never preferred in terms of health and hygiene. .

近年、ICカードの普及が進み、さらなる薄型化が望まれている。このため、従来は厚さが350μm程度であった半導体チップを、厚さ50〜100μmあるいはそれ以下まで薄くする必要が生じている。従来、半導体チップを製造する工程で、用いられる粘着シートの基材は、軟質基材が用いられていた。しかし、軟質基材を用いた粘着シートでは、貼付時にかける張力が残留応力として蓄積してしまう。ウエハが大口径の場合や極薄に研削すると、ウエハの強度よりも粘着シートの残留応力が優り、この残留応力を解消しようとする力によってウエハに反りが発生してしまっていた。また研削後にはウエハが脆いため、軟質基材では搬送時にウエハを破壊してしまうことがあった。このため、ガラス板あるいはアクリル板等の硬質材料に両面粘着シートを介してウエハを固定し、これを研削する方法が検討されている。   In recent years, IC cards have been widely used, and further reduction in thickness has been desired. For this reason, it is necessary to reduce the thickness of a semiconductor chip, which has conventionally been about 350 μm, to a thickness of 50 to 100 μm or less. Conventionally, a soft substrate has been used as the base material of the pressure-sensitive adhesive sheet used in the process of manufacturing a semiconductor chip. However, in the pressure sensitive adhesive sheet using a soft base material, the tension applied at the time of sticking accumulates as residual stress. When the wafer has a large diameter or is ground extremely thin, the residual stress of the pressure-sensitive adhesive sheet is superior to the strength of the wafer, and the wafer is warped by a force for eliminating the residual stress. In addition, since the wafer is fragile after grinding, the soft substrate may break the wafer during transportation. For this reason, a method of fixing a wafer to a hard material such as a glass plate or an acrylic plate via a double-sided pressure-sensitive adhesive sheet and grinding it has been studied.

また、プリンターヘッドや、ガラス/エポキシ基板、ガラス、セラミックス等の硬質で脆い材料を小さなチップに切断するには、これらを硬質材料上に固定して切断が行なわれる。この際、被切断物を硬質材料上に固定するためには、両面粘着シートが用いられている。しかし、従来の両面粘着シートで硬質材料同士を貼り合わせた物体を剥離することは極めて困難であり、ウエハなどの脆い材料を使用した場合には、破壊を免れることは不可能であった。   Further, in order to cut a hard and brittle material such as a printer head, glass / epoxy substrate, glass, ceramics or the like into small chips, these are fixed on the hard material and cut. At this time, a double-sided pressure-sensitive adhesive sheet is used to fix the object to be cut on the hard material. However, it is extremely difficult to peel off an object obtained by bonding hard materials with a conventional double-sided pressure-sensitive adhesive sheet. When brittle materials such as wafers are used, it is impossible to avoid destruction.

このため、半導体ウエハや、上記した各種の被切断物を、硬質材料上に固定するのに好適な両面粘着シートまたは密着シートの出現が要望されている。また半導体ウエハの加工時には、裏面研削においては表面保護シート、ダイシングにおいてはウエハを固定するための粘着シートがそれぞれ必要であり、工程管理上煩雑であった。しかもウエハは脆いため、このような工程間の搬送時に破損することがある。   For this reason, the advent of a double-sided pressure-sensitive adhesive sheet or a close-contact sheet suitable for fixing a semiconductor wafer or the above-described various cut objects on a hard material is desired. Further, when processing a semiconductor wafer, a surface protection sheet is required for back grinding and an adhesive sheet for fixing the wafer is required for dicing, which is complicated in process management. Moreover, since the wafer is fragile, it may be damaged during the transfer between such processes.

したがって、このようなウエハの裏面研削、ダイシングおよび搬送の一連の工程を同一形態で行え、工程管理が容易であり、しかも破損防止が可能なプロセスの出現が要望されている。   Accordingly, there is a demand for the emergence of a process that can perform a series of processes such as back surface grinding, dicing, and conveyance of the wafer in the same form, can easily manage the process, and can prevent breakage.

特許文献1には、これらの問題を解決するために基材の両面にシリコーン層を設けた両面密着シートが提供された。しかし、被着体の表面が平滑であれば、良く密着して固定することができたが、表面が荒れたものであると密着力が失われ固定することができないものであった。例えば、ウエハの片面には半導体等が多数設置されその面は、凹凸となり表面平均粗さRaは、ガラス面等の平滑さに比べ高い値となっている。この表面平均粗さが高いウエハになるにつれ、特許文献1の両面密着シートでは、固定できにくくなった。
Patent Document 1 provides a double-sided adhesive sheet in which silicone layers are provided on both sides of a base material in order to solve these problems. However, if the surface of the adherend was smooth, it was possible to fix and adhere well, but if the surface was rough, the adhesion was lost and it could not be fixed. For example, a large number of semiconductors and the like are provided on one surface of the wafer, and the surface becomes uneven, and the surface average roughness Ra is higher than the smoothness of the glass surface and the like. As the wafer has a high average surface roughness, the double-sided adhesive sheet of Patent Document 1 is difficult to fix.

特開2004−26950号公報JP 2004-26950 A

本発明は、上記の問題点を解決するもので、半導体の製造工程で被着体以外に対する不要な粘着が防止され、被着体の貼着および貼着後の作業性を向上させ、光照射による粘着層の硬化時に発生する臭気の問題がない密着シートを提供するものである。さらに、薄膜のウエハやセラミックス等の被切断物を硬質材料上に固定し、精度良く効率的に加工することができる密着シートを提供するものである。密着シートは、ウエハの裏面研削とダイシングを同一形態で行うことが可能なプロセスに好適に使用することを可能とするものである。本発明の密着シートは、被着体の表面が粗くなったものであって、従来の密着シートでは、固定できないものでも固定することのできる密着シートであり、ウエハはもとよりウエハ以外の物品を固定することのできる密着シートである。 The present invention solves the above-described problems, prevents unnecessary adhesion to other than the adherend in the semiconductor manufacturing process, improves adherence of the adherend and workability after sticking, and light irradiation. It is an object of the present invention to provide an adhesive sheet that does not have a problem of odor generated when the adhesive layer is cured by the above. Furthermore, the present invention provides a contact sheet that can fix an object to be cut such as a thin film wafer or ceramics on a hard material and can be processed accurately and efficiently. The contact sheet can be suitably used for a process capable of performing back surface grinding and dicing of a wafer in the same form. The adhesive sheet of the present invention has a roughened surface of the adherend, and is an adhesive sheet that can be fixed even by a conventional adhesive sheet that cannot be fixed. It fixes not only wafers but also articles other than wafers. It is a contact sheet that can be used.

発明は、基材の少なくとも片面に密着層を設けた密着シートにおいて、前記密着層がアスカーFP硬度25以上でアスカーCSC2硬度で80以下であり、厚みが10〜100μmであり、かつ下記の要件を満足する密着シートである。
A:前記密着層が、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、両末端及び側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端にのみビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端及び側鎖にビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンとから選ばれる少なくとも1種のシリコーンを架橋させてなるものである。
B:前記シリコーンの数平均分子量が、25,000〜100,000である。
The present invention provides a contact sheet provided with at least one surface adhesion layer of the base material, the adhesive layer is Ri der 80 following an Asker CSC2 hardness ASKER FP hardness 25 or more, a thickness of 10 to 100 [mu] m, and the following is a contact sheet you meet the requirements.
A: The adhesion layer is composed of a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups only at both ends, a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups at both ends and side chains, and only at the ends. It is obtained by crosslinking at least one silicone selected from a silicone comprising a branched polyorganosiloxane having a vinyl group and a silicone comprising a branched polyorganosiloxane having a vinyl group at the terminal and side chain.
B: The number average molecular weight of the silicone is 25,000 to 100,000.

本発明の密着シートを半導体の製造工程で、使用すると被着体以外に対する不要な粘着が防止され、被着体の貼着および貼着後の作業性を向上させ、光照射による粘着層の硬化時に発生する臭気の問題がない密着シートを提供するものである。さらに、薄膜のウエハやセラミックス等の被切断物を硬質材料上に固定し、精度良く効率的に加工することができる密着シートを提供するものである。しかも、本発明の密着シートは、ウエハの裏面研削とダイシングを同一形態で行うことが可能なプロセスに好適に使用することを可能とするものである。 When the adhesive sheet of the present invention is used in the production process of a semiconductor, unnecessary adhesion to other than the adherend is prevented, the adherence of the adherend and the workability after adhesion are improved, and the adhesive layer is cured by light irradiation. It is an object of the present invention to provide an adhesive sheet that does not have a problem of odor that sometimes occurs. Furthermore, the present invention provides a contact sheet that can fix an object to be cut such as a thin film wafer or ceramics on a hard material and can be processed accurately and efficiently. Moreover, the contact sheet of the present invention can be suitably used for a process capable of performing back surface grinding and dicing of a wafer in the same form.

また、被着体の表面が荒れているため従来の密着シートでは、固定できないものであったが、本発明の密着シートによれば固定できるものである。   Moreover, since the surface of the adherend is rough, the conventional adhesive sheet cannot be fixed, but according to the adhesive sheet of the present invention, it can be fixed.

本発明でいう密着シートとは、密着シートの密着層面と表面がフラットな被着体とを貼り合わせたものを、貼り合わせた面と平行に密着シートをずらす力(以下剪断力と呼ぶ)は、高い値であるにもかかわらず、密着シートを被着体から剥がす時の力は(以下剥離力と呼ぶ)10mN/12.7mm未満でほとんど0に近いものを指す。従って、一般に呼ばれる弱粘着シート、のように、被着体に対して剪断力が高いと同時に剥離力も僅かにある(具体的には、100mN/12.7mm以上の剥離力をもつ)弱粘着シートとは異なるもの物性を持つものである。 The adhesion sheet as used in the present invention is a force for shifting the adhesion sheet parallel to the bonded surface of the adhesion layer surface of the adhesion sheet and the adherend having a flat surface (hereinafter referred to as shearing force). In spite of the high value, the force when peeling the adhesive sheet from the adherend (hereinafter referred to as peeling force) is less than 10 mN / 12.7 mm and almost zero. Accordingly, a weak pressure-sensitive adhesive sheet, such as a generally called weak pressure-sensitive adhesive sheet, has a high shearing force and a slight peeling force (specifically, a peeling force of 100 mN / 12.7 mm or more). It has different physical properties.

本発明の密着シートは、基材の少なくとも片面に、密着剤から構成される密着層が積層されたものである。密着剤の主成分としては、シリコーン、ポリウレタン、ポリノルボーネンゴム、クロロプレンゴム、エチレン−プロピレン−ジエンゴム、クロロスルホン化ポリエチレンゴム、スチレン−ブタジエン−スチレン、スチレン−イソプレン−スチレン、スチレン−エチレン・ブチレン−スチレン、スチレン−エチレン・プロピレン−スチレン等が使用できる。   The adhesion sheet of the present invention is obtained by laminating an adhesion layer composed of an adhesion agent on at least one surface of a substrate. The main components of the adhesive are silicone, polyurethane, polynorbornene rubber, chloroprene rubber, ethylene-propylene-diene rubber, chlorosulfonated polyethylene rubber, styrene-butadiene-styrene, styrene-isoprene-styrene, styrene-ethylene-butylene- Styrene, styrene-ethylene / propylene-styrene and the like can be used.

さらに密着層はアスカーFP硬度25〜100または、アスカーCSC2硬度で0〜80のものである。前記範囲未満であると柔らかすぎて被着体から剥離すると密着層が一部残ってしまう。前記範囲を超えると硬く過ぎて被着体に固定できなくなてしまう。さらに好ましい密着層の硬度は、アスカーFP硬度40〜100または、アスカーCSC2硬度で0〜20のものである。   Further, the adhesion layer has an Asker FP hardness of 25 to 100 or an Asker CSC2 hardness of 0 to 80. If it is less than the above range, it will be too soft and part of the adhesion layer will remain if it is peeled off from the adherend. If it exceeds the above range, it is too hard to be fixed to the adherend. The more preferable adhesion layer has an Asker FP hardness of 40 to 100 or an Asker CSC2 hardness of 0 to 20.

密着層の硬度を調整するために、主成分の材料によっては可塑剤を添加することができる。可塑剤としては、パラフイン系、ナフテン系、アロマ系の鉱物油、アルキルベンゼン、アルキルナフタレン等の合成油、ジオクチルフタレート、ジオクチルアジペート等のエステル系可塑剤等が挙げられる。可塑剤の添加量は、密着層の主成分100重量部当り10〜300重量部、さらに好ましくは20〜150重量部である。可塑剤の量がこの範囲よりも少ない場合は硬度の低下が得られず、またこの範囲を越えると、密着層から可塑剤がにじみだすおそれがある。   In order to adjust the hardness of the adhesion layer, a plasticizer can be added depending on the main component material. Examples of the plasticizer include paraffinic, naphthenic, and aromatic mineral oils, synthetic oils such as alkylbenzene and alkylnaphthalene, and ester plasticizers such as dioctyl phthalate and dioctyl adipate. The addition amount of the plasticizer is 10 to 300 parts by weight, more preferably 20 to 150 parts by weight, per 100 parts by weight of the main component of the adhesion layer. If the amount of the plasticizer is less than this range, the hardness cannot be reduced, and if it exceeds this range, the plasticizer may ooze out from the adhesion layer.

密着層の強度を改善して永久ひずみを防ぐために、密着層に充填剤を配合させてもよい。充填剤としては、カーボンブラック、炭酸カルシウム、シリカ、水酸化マグシウム、水和アルミナ等が挙げられる。   In order to improve the strength of the adhesion layer and prevent permanent distortion, a filler may be added to the adhesion layer. Examples of the filler include carbon black, calcium carbonate, silica, magnesium hydroxide, and hydrated alumina.

一般に硬度計は10〜90ポイント間を指示している時、最も有意差が出るとされているので、例えばアスカー硬度FP(アスカーFP型硬度計使用)で90〜100ポイントを示す場合は、FP型より硬い材料を測定するアスカーCSC2型硬度計で測定するのが好ましい。また逆に、アスカーCSC2硬度(アスカーCSC2硬度計使用)で0〜10ポイントを示す場合は、アスカーFP型硬度計で測定するのが好ましい。   Generally, when the hardness meter indicates between 10 and 90 points, the most significant difference is assumed. For example, when the Asker hardness FP (using Asker FP type hardness meter) shows 90 to 100 points, FP It is preferable to measure with an Asker CSC type 2 hardness meter that measures a material harder than the mold. Conversely, when 0-10 points are indicated by Asker CSC2 hardness (using Asker CSC2 hardness meter), it is preferable to measure with an Asker FP type hardness meter.

本発明の密着シートの密着層の硬さは、一般のゴム硬度計アスカーC型(JIS K 7312に準拠)では測定できない超軟質組成である。特許文献1の実施例の両面密着シートの密着層は、アスカーC型硬度計で測定できるが、本発明で規定するアスカーFP型、CSC2型硬度計では100ポイントとなり測定できない硬いものである。   The hardness of the adhesion layer of the adhesion sheet of the present invention is a super-soft composition that cannot be measured with a general rubber hardness meter Asker C type (conforming to JIS K 7312). Although the adhesion layer of the double-sided adhesion sheet of the Example of patent document 1 can be measured with an Asker C type hardness meter, it is a hard thing which cannot be measured with the Asker FP type and CSC2 type hardness meter defined in the present invention.

よって、被着体の表面が平滑であれば、特許文献1の両面密着シートで物品を固定できるが、表面が凹凸に荒れるにしたがって、固定できなくなってくる。本発明の密着シートは、特許文献1の両面密着シートが被着体の表面が荒れて固定できないものでも、固定することができるものである。   Therefore, if the surface of the adherend is smooth, the article can be fixed with the double-sided adhesive sheet of Patent Document 1, but cannot be fixed as the surface becomes rough. The adhesive sheet of the present invention can be fixed even if the double-sided adhesive sheet of Patent Document 1 cannot be fixed because the surface of the adherend is rough.

密着層の主成分は、耐熱性、耐溶剤性、耐候性等を求める場合はシリコーンを使用するとよい。シリコーンとしては、たとえば、付加重合型のシリコーン重合体を使用することができる。付加重合型シリコーン樹脂は白金触媒により重合するものを挙げることができる。本発明の目的にかなう密着層の性状としては、ゲルのような柔軟性を持っていて被着体の表面の凸凹に対しても密着層の面が凸凹に沿うことがもとめられる。さらに剥離の際には、小さい剥離力で、容易に剥離できることが求められる。   The main component of the adhesion layer is preferably silicone when heat resistance, solvent resistance, weather resistance, and the like are required. As the silicone, for example, an addition polymerization type silicone polymer can be used. Examples of the addition polymerization type silicone resin include those polymerized by a platinum catalyst. As the properties of the adhesion layer that meets the object of the present invention, it is required that the surface of the adhesion layer is uneven along the unevenness of the surface of the adherend, having flexibility such as gel. Further, when peeling, it is required to be easily peeled with a small peeling force.

このような性状のシリコーンとして、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、両末端及び側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端にのみビニル基を有する分岐ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端及び側鎖にビニル基を有する分岐ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンとから選ばれる少なくとも1種のシリコーンを架橋させてなるものを用いると良い。
As silicone having such properties, a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups only at both ends, a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups at both ends and side chains, and a terminal. a silicone comprising a branched polyorganosiloxane having vinyl groups only, the end and side chains to crosslink the at least one silicone selected from silicone consisting of branched polyorganosiloxane having a vinyl group is used one made by the good.

これらのシリコーンの1形態としては、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンとは下記一般式(化1)で表せられる化合物である。   As one form of these silicones, a linear polyorganosiloxane having vinyl groups only at both ends is a compound represented by the following general formula (Formula 1).

Figure 0005061308
Figure 0005061308


(式中Rは下記有機基、nは整数を表す)

(Wherein R represents the following organic group, and n represents an integer)

Figure 0005061308
Figure 0005061308

(式中Rは下記有機基、m、nは整数を表す)
このビニル基以外のケイ素原子に結合した有機基(R)は異種でも同種でもよいが、具体例としてはメチル基、エチル基、プロピル基などのアルキル基、フェニル基、トリル基、などのアリール基、又はこれらの基の炭素原子に結合した水素原子の一部又は全部をハロゲン原子、シアノ基などで置換した同種又は異種の非置換又は置換の脂肪族不飽和基を除く1価炭化水素基で好ましくはその少なくとも50モル%がメチル基であるものなどが挙げられるが、このジオルガノポリシロキサンは単独でも2種以上の混合物であってもよい。
(Wherein R represents the following organic group, m and n represent an integer)
The organic group (R) bonded to the silicon atom other than the vinyl group may be different or of the same type. Specific examples include alkyl groups such as methyl, ethyl and propyl groups, and aryl groups such as phenyl and tolyl groups. Or a monovalent hydrocarbon group other than the same or different unsubstituted or substituted aliphatic unsaturated group in which part or all of the hydrogen atoms bonded to the carbon atoms of these groups are substituted with a halogen atom, a cyano group, or the like. Preferable examples include those having at least 50 mol% of a methyl group. These diorganopolysiloxanes may be used alone or as a mixture of two or more thereof.

両末端および側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンは、上記一般式(化1)中のRの一部がビニル基である化合物である。末端にのみビニル基を有する分岐ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンは上記一般式(化2)で表せられる化合物である。末端及び側鎖にビニル基を有する分岐ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン上記一般式(化2)中のRの一部がビニル基である化合物である。
A silicone comprising a linear polyorganosiloxane having vinyl groups at both ends and side chains is a compound in which a part of R in the above general formula (Formula 1) is a vinyl group. Silicone consisting branched polyorganosiloxane having vinyl groups only at the terminal is a compound which is expressed by the above general formula (Formula 2). Some of the R of the branched poly consisting polyorganosiloxane silicone the above-mentioned general formula (Formula 2) having a vinyl group at the terminal and side chain is a compound which is a vinyl group.

ここで架橋反応に用いる架橋剤は公知のものでよい。架橋剤の例として、オルガノハイドロジェンポリシロキサンが挙げられる。オルガノハイドロジェンポリシロキサンは1分子中にケイ素原子に結合した水素原子を少なくとも3個有するものであるが、実用上からは分子中に2個の≡SiH結合を有するものをその全量の50重量%までとし、残余を分子中に少なくとも3個の≡SiH結合を含むものとすることがよい。   Here, a known crosslinking agent may be used for the crosslinking reaction. Examples of the crosslinking agent include organohydrogenpolysiloxane. Organohydrogenpolysiloxane has at least three hydrogen atoms bonded to silicon atoms in one molecule, but from a practical viewpoint, one having two ≡SiH bonds in the molecule is 50% by weight of the total amount. It is preferable that the remainder contains at least three ≡SiH bonds in the molecule.

架橋反応に用いる白金系触媒は公知のものでよく、これには塩化第一白金酸、塩化第二白金酸などの塩化白金酸、塩化白金酸のアルコール化合物、アルデヒド化合物あるいは塩化白金酸と各種オレフィンとの鎖塩などがあげられる。架橋反応したシリコーンは、シリコーンゲルのような柔軟性を持ったものとなり、この柔軟性が被着体との密着を容易にさせる。   The platinum-based catalyst used for the crosslinking reaction may be a known one, including chloroplatinic acid such as chloroplatinic acid and chloroplatinic acid, alcohol compounds of chloroplatinic acid, aldehyde compounds or chloroplatinic acid and various olefins. And chain salts. The cross-linked silicone has flexibility such as a silicone gel, and this flexibility makes it easy to adhere to the adherend.

シリコーンの市販品の形状は、無溶剤型、溶剤型、エマルション型があるが、いずれの型も使用できる。中でも、無溶剤型は、溶剤を使用しないため、安全性、衛生性、大気汚染の面で非常に利点がある。又、密着層の塗布厚みは、1.1μmを超えることが必要であり、場合によっては、数ミリの厚みに設けることから、溶剤型シリコーンや、エマルション型シリコーンでは、塗工時の溶媒の乾燥に多大なエネルギーがかかり、不経済となるので、本発明に使用するシリコーンは、無溶剤型のシリコーンを用いるのがよい。   Although the shape of the commercial item of silicone includes a solventless type, a solvent type, and an emulsion type, any type can be used. Above all, the solventless type is very advantageous in terms of safety, hygiene, and air pollution because it does not use a solvent. In addition, the coating thickness of the adhesion layer needs to exceed 1.1 μm, and in some cases, it is provided with a thickness of several millimeters. Therefore, in the case of solvent type silicone or emulsion type silicone, the solvent is dried at the time of coating. Therefore, it is preferable to use a solventless silicone as the silicone used in the present invention.

密着層の硬さの調整のための可塑剤の添加は、固定したい物品によっては僅かな可塑剤が滲み付くので無添加であることが求められる。密着層をシリコーンで形成する場合、シリコーンの中でも、数平均分子量が、25,000〜100,000のものを用いると可塑剤の添加をしないで、シリコーンのみで密着層が形成できる。前記範囲未満であると柔らかくなりすぎて永久変形が発生してくる。前記範囲を超えると硬くなりすぎてしまい第1発明の硬度の範囲より外れてしまう。より好ましいシリコーンの数平均分子量は、35,000〜80,000のものを使用する。   The addition of a plasticizer for adjusting the hardness of the adhesion layer is required to be non-added because a slight amount of plasticizer permeates depending on the article to be fixed. In the case where the adhesion layer is formed of silicone, the adhesion layer can be formed of silicone alone without adding a plasticizer when a silicone having a number average molecular weight of 25,000 to 100,000 is used. If it is less than the above range, it becomes too soft and permanent deformation occurs. If it exceeds the above range, it will become too hard and will be outside the hardness range of the first invention. A more preferable number average molecular weight of silicone is 35,000 to 80,000.

密着層は、基材の両面に形成してもよいし、片面のみであってもよい。片面のみに密着層を形成した密着シートをシリコーンウエハの固定に使用する場合、密着層のない基材の面と台座との固定は、面接する面を真空引きして固定して用いることができる。
密着層の表面の汚れや異物付着を防いだり、密着シートのハンドリングを向上させるために樹脂フィルム、紙等のセパレータを密着層面に貼り合わせることができる。
The adhesion layer may be formed on both surfaces of the substrate, or may be only one surface. When an adhesive sheet having an adhesive layer formed on only one side is used for fixing a silicone wafer, the base surface without the adhesive layer and the pedestal can be fixed by vacuuming the surface to be contacted. .
A separator such as a resin film or paper can be bonded to the surface of the adhesive layer in order to prevent the surface of the adhesive layer from being contaminated or to prevent foreign matter from adhering or to improve the handling of the adhesive sheet.

一般には密着層の厚みは、1.1〜3000μmの範囲が好ましい。好ましくは、10〜50μmであるとよい。密着層の厚みが、1.1μm未満であると、被着体に密着しにくくなり、被着体に対する密着シートの密着面方向の剪断力が1.0N/cm未満となり、長期貼りつけ時には、密着シートが剥がれる可能性が出てくる。密着層の厚みが、3000μmを超えると、密着層の材料の使用量が多くなり不経済となる。 In general, the thickness of the adhesion layer is preferably in the range of 1.1 to 3000 μm. Preferably, it is good in it being 10-50 micrometers. When the thickness of the adhesion layer is less than 1.1 μm, it becomes difficult to adhere to the adherend, the shearing force in the adhesion surface direction of the adhesion sheet to the adherend becomes less than 1.0 N / cm 2 , There is a possibility that the adhesive sheet will peel off. When the thickness of the adhesion layer exceeds 3000 μm, the amount of the material used for the adhesion layer increases, which is uneconomical.

基材の表面に密着層との密着性を向上させるため、コロナ放電処理、プラズマ処理、ブラスト処理、ケミカルエッチング処理、プライマー層塗工等を施してもよい。密着層塗工液の塗工方法としては、3本オフセットグラビアコーターや5本ロールコーターに代表される多段ロールコーター、ダイレクトグラビアコーター、バーコーター、エアナイフコーター等が適宜使用される。   In order to improve the adhesion to the adhesion layer on the surface of the substrate, corona discharge treatment, plasma treatment, blast treatment, chemical etching treatment, primer layer coating, etc. may be performed. As a coating method of the adhesion layer coating liquid, a multi-stage roll coater represented by a three-offset gravure coater or a five-roll coater, a direct gravure coater, a bar coater, an air knife coater, or the like is appropriately used.

同じ材質の被着体であっても、被着体の表面粗さによっては、密着層の厚みを変える必要がある。すなわち、被着体の表面粗さがガラス、アクリル樹脂板のような鏡面状態(JIS−0601−1994に基づいて測定した表面平均粗さRaが0.01μm以下)にあるものについては、密着層の厚みは、小さくても被着体とよく密着し、密着層としての前記機能を発揮するが、被着体の表面粗さが鏡面状態にないもの例えば前記JISに基づいて測定した表面平均粗さRaが0.1〜0.2μm程度の場合については、密着層の厚みの下限値は、前記鏡面状態の被着体に要する密着層の厚みの下限値よりは、高くする必要がある。   Even for adherends of the same material, the thickness of the adhesion layer needs to be changed depending on the surface roughness of the adherend. That is, when the surface roughness of the adherend is in a mirror state such as glass or an acrylic resin plate (surface average roughness Ra measured based on JIS-0601-1994 is 0.01 μm or less), the adhesion layer Even if the thickness of the substrate is small, it adheres well to the adherend and exhibits the above function as an adhesion layer, but the surface roughness of the adherend is not in a mirror state, for example, the surface average roughness measured based on the JIS When the thickness Ra is about 0.1 to 0.2 μm, the lower limit value of the thickness of the adhesion layer needs to be higher than the lower limit value of the thickness of the adhesion layer required for the adherend in the mirror surface state.

基材の両面に密着層を設けて両面密着シートとしてもよい。密着層の材質は、同じでもよいし異なったものでもよい。密着層の各々の厚みは、前記の説明のように、2つの密着層に面するそれぞれの被着体の表面粗さによって設定すればよいもので、同じ厚みであってもよいし、異なる厚みであっても良い。   It is good also as a double-sided adhesive sheet by providing an adhesive layer on both sides of the substrate. The material of the adhesion layer may be the same or different. The thickness of each adhesion layer may be set according to the surface roughness of each adherend facing the two adhesion layers as described above, and may be the same thickness or different thicknesses. It may be.

本発明に係る基材は、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリプロピレン、ナイロン、ウレタン、ポリ塩化ビニリデン、ポリ塩化ビニルなどからなる1層または多層構造のフィルムを使用することができる。基材の厚みは、通常5〜300μmであり、好ましくは10〜200μmである。   As the substrate according to the present invention, a single-layer or multilayer film made of polyethylene terephthalate, polyethylene, polystyrene, polypropylene, nylon, urethane, polyvinylidene chloride, polyvinyl chloride, or the like can be used. The thickness of the substrate is usually 5 to 300 μm, preferably 10 to 200 μm.

基材の表面に密着層との密着性を向上させるため、コロナ放電処理、プラズマ処理、ブラスト処理、ケミカルエッチング処理、プライマー層塗工等を施してもよい。
本発明に係るシリコーンの塗工方法としては、3本オフセットグラビアコーターや5本ロールコーターに代表される多段ロールコーター、ダイレクトグラビアコーター、バーコーター、エアナイフコーター等が適宜使用される。
In order to improve the adhesion to the adhesion layer on the surface of the substrate, corona discharge treatment, plasma treatment, blast treatment, chemical etching treatment, primer layer coating, etc. may be performed.
As a silicone coating method according to the present invention, a multi-stage roll coater represented by a three-offset gravure coater or a five-roll coater, a direct gravure coater, a bar coater, an air knife coater, or the like is used as appropriate.

本発明の密着シートを半導体ウエハ製造工程のウエハの半導体設置面と密着層面を密着させて、密着シートの基材と台座を真空引きして密着させると、ウエハ面と密着層面とは、強い密着力が働く。密着シートと被着体とを密着面に平行にずらす剪断力は、1.0N/cm以上あるため、ウエハの裏面の研削加工時には、ウエハは外れることはない。またウエハのダイシング工程においても、同様に密着シートを介して加工すれば、ウエハの密着シートからの剥離等による欠けやずれのよる形状不良が発生しない。 When the adhesion sheet of the present invention is brought into close contact with the semiconductor mounting surface and the adhesion layer surface of the wafer in the semiconductor wafer manufacturing process, and the substrate and the pedestal of the adhesion sheet are evacuated and adhered, the wafer surface and the adhesion layer surface are strongly adhered. Power works. Since the shearing force for shifting the contact sheet and the adherend parallel to the contact surface is 1.0 N / cm 2 or more, the wafer does not come off during grinding of the back surface of the wafer. Similarly, in the wafer dicing process, if processing is performed through the contact sheet, a shape defect due to chipping or displacement due to peeling of the wafer from the contact sheet does not occur.

前記加工後、切断形成されたチップは、密着シートの基材側よりニードルで突き上げてピックアップし、ダイパット上に固定させるが、本発明の密着シートは、ウエハと密着シートとの剥離力(JIS K 6854に準拠)が10mN/12.7mm以下の極小値のためチップの破損がなくピックアップすることが出来る。   After the processing, the cut and formed chips are picked up by a needle from the substrate side of the adhesion sheet and picked up and fixed on the die pad. The adhesion sheet according to the present invention has a peeling force between the wafer and the adhesion sheet (JIS K). 6854) is a minimum value of 10 mN / 12.7 mm or less, so that the chip can be picked up without being damaged.

また、本発明の密着シートは、従来の放射線硬化性粘着シートのように放射線照射時に強い臭気を発生することのないもので、衛生管理上好ましいものである。   In addition, the adhesive sheet of the present invention does not generate a strong odor when irradiated with radiation unlike conventional radiation-curable pressure-sensitive adhesive sheets, and is preferable for hygiene management.

ウエハを厚さ50〜100μmあるいはそれ以下まで薄く加工する場合、従来の粘着シートでは、粘着剤層は、柔らかいためウエハを粘着剤層面とのずれはないものの、ウエハの加工時に粘着剤層が僅かに粘着面と平行に動くことによる加工精度が下がる問題が発生する可能性があったが、本発明の密着シートの密着層は、シリコーンが架橋されたもので、粘着剤層にくらべ硬い層で、上記の問題が発生することはない。   When processing a wafer thinly to a thickness of 50 to 100 μm or less, the pressure-sensitive adhesive layer in the conventional pressure-sensitive adhesive sheet is soft, so the wafer does not deviate from the surface of the pressure-sensitive adhesive layer. However, the adhesion layer of the adhesive sheet of the present invention is a cross-linked silicone and is a harder layer than the adhesive layer. The above problem will not occur.

ウエハの研削工程で使用する密着シートと、ダイシング工程で使用する密着シートは、連続の工程のなかで、同一のものを引き続いて使用してもよいし、別々に用意して使用しても良い。これは、製造工程の内容の違いによって、任意に選択される。   The contact sheet used in the wafer grinding process and the contact sheet used in the dicing process may be used continuously in a continuous process, or may be prepared and used separately. . This is arbitrarily selected depending on the content of the manufacturing process.

プリンターヘッドや、ガラス/エポキシ基板、ガラス、セラミックス等の硬質で脆い材料を小さなチップに切断するには、これらを厚さ0.1〜1.0mm程度のガラス板あるいはアクリル板等の硬質材料上に固定して切断が行なわれる。この際、被切断物を硬質材料上に固定するためには、本発明の両面密着シートを用いることにより、切断を、正確に行うことができ、切断後の切断物は、簡単な操作により、容易に剥離することが出来る。   In order to cut hard and brittle materials such as printer heads, glass / epoxy substrates, glass, ceramics, etc. into small chips, these are on a hard material such as a glass plate or acrylic plate with a thickness of about 0.1 to 1.0 mm. The cutting is performed with fixing to. At this time, in order to fix the object to be cut on the hard material, by using the double-sided adhesive sheet of the present invention, cutting can be performed accurately, and the cut object after cutting can be performed by a simple operation. It can be easily peeled off.

以上で記載した物性値の測定方法は、下記の通りである。
(1)数平均分子量
Waters社製GPC測定機(型番:Waters410)を使用してポリスチレン換算法で求めた。
The measuring method of the physical property values described above is as follows.
(1) Number average molecular weight It calculated | required by the polystyrene conversion method using the GPC measuring machine (model number: Waters410) by Waters.

(2)表面粗さ
表面平均粗さ(Ra)表面最大粗さ(Ry)は、JIS−B0601−1994に基づき、表面粗さ測定器(株式会社小坂研究所製サーフコーダーSE3500)を用いて測定した。測定器の触針の半径は、2.0μm、荷重は0.3mN、カットOFF値は2.5mm、測定長さは12.5mm、送り速度0.5m/minである。
(2) Surface roughness Surface average roughness (Ra) surface maximum roughness (Ry) is measured using a surface roughness measuring instrument (Surfcoder SE3500, manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.) based on JIS-B0601-1994. did. The radius of the stylus of the measuring instrument is 2.0 μm, the load is 0.3 mN, the cut-off value is 2.5 mm, the measurement length is 12.5 mm, and the feed rate is 0.5 m / min.

(3)剪断力の測定方法
密着シートサンプルを25mm×50mm角の大きさにカットする。ベアロンシボ板(モールドテック社製の樹脂成形品のシボ加工の見本サンプル板であり、番手毎に表面平均粗さが異なるサンプル板を複数使用する。)の表面に密着シートサンプルを置く。JIS K 0237で規定する2Kgのロールで、速度3m/minで1往復させて貼り付ける。密着シートの片端を1mm程度浮かしそこに25mm×100mmのサイズの厚紙を接して、接着テープを使って図1のように貼り付ける。厚紙の他方の端に棒テンションゲージを取り付ける。棒テンションゲージを図1に示す方向に25mm/minの速度で引っ張り最大値を読み取る。
(3) Measuring method of shearing force A contact sheet sample is cut into a size of 25 mm × 50 mm square. An adhesion sheet sample is placed on the surface of a bearon texture plate (a sample sample plate for the texture processing of a resin molded product manufactured by Moldtech Co., Ltd., which uses a plurality of sample plates having different surface average roughness for each count). A 2 Kg roll specified in JIS K 0237 is pasted once at a speed of 3 m / min. One end of the adhesive sheet is lifted by about 1 mm, and a 25 mm × 100 mm size cardboard is touched to the adhesive sheet, and is adhered as shown in FIG. 1 using an adhesive tape. Attach a bar tension gauge to the other end of the cardboard. The maximum tension value is read by pulling the bar tension gauge in the direction shown in FIG. 1 at a speed of 25 mm / min.

50μmのPETフィルムの片面に表1の密着層塗工液を厚み24μmに塗布した後、オーブンにて150℃、100秒で架橋させて実施例1、2、比較例1の密着シートを作製した。
実施例3:実施例1の密着層塗工液を厚み100μmに塗布した他は、実施例1と同様にして密着シートを作成した。
実施例4:実施例2の密着層塗工液を厚み100μmに塗布した他は、実施例2と同様にして密着シートを作成した。
比較例2:比較例1の密着層塗工液を厚み100μmに塗布した他は、比較例1と同様にして密着シートを作成した。
After applying the adhesive layer coating solution shown in Table 1 to a thickness of 24 μm on one side of a 50 μm PET film, it was crosslinked in an oven at 150 ° C. for 100 seconds to produce the adhesive sheets of Examples 1 and 2 and Comparative Example 1. .
Example 3 An adhesion sheet was prepared in the same manner as in Example 1 except that the adhesion layer coating solution of Example 1 was applied to a thickness of 100 μm.
Example 4: An adhesion sheet was prepared in the same manner as in Example 2 except that the adhesion layer coating solution of Example 2 was applied to a thickness of 100 µm.
Comparative Example 2: An adhesive sheet was prepared in the same manner as Comparative Example 1 except that the adhesive layer coating solution of Comparative Example 1 was applied to a thickness of 100 μm.

表1 密着層塗工液 (重量部)

Figure 0005061308
Table 1 Adhesion layer coating solution (parts by weight)
Figure 0005061308

評価方法
各密着シートの被着体への密着性を複数の番手のベアロンシボ板に密着させて、前記の剪断力の測定方法に基づいて測定する。
評価基準
○:剪断力が300g以上である。
×:剪断力が300g未満である。
Evaluation Method Adhesion of each adhesion sheet to the adherend is measured based on the shearing force measurement method described above by bringing the adhesive sheet into close contact with a plurality of counts.
Evaluation standard (circle): Shear force is 300 g or more.
X: The shearing force is less than 300 g.

評価結果は、表2の通りであった。Raが小さい被着体であれば、比較例1の密着シートでも剪断力が300g以上で実用範囲となる。しかし、Raが1.16μmのベアロンシボ板では、比較例1の密着シートの剪断力は300g未満の小さいものとなってしまう。実施例1、2の密着シートは、比較例の密着シートよりも被着体のRaが大きいものであっても300g以上の剪断力で高いものとなる。   The evaluation results were as shown in Table 2. If the adherend is small in Ra, the contact sheet of Comparative Example 1 is in a practical range with a shearing force of 300 g or more. However, in the case of a bearon texture plate with Ra of 1.16 μm, the shearing force of the contact sheet of Comparative Example 1 is as small as less than 300 g. The adhesive sheets of Examples 1 and 2 are high with a shearing force of 300 g or more even if the adherend Ra is larger than the adhesive sheet of the comparative example.

表2 Table 2

Figure 0005061308
Figure 0005061308

剪断力の測定方法の模式図Schematic diagram of shearing force measurement method

符号の説明Explanation of symbols

1:密着シート
2:基材
3:密着層
4:ベアロンシボ板
5:測定台
6:接着テープ
7:厚紙
8:棒テンションゲージ
1: Adhesion sheet 2: Substrate 3: Adhesion layer 4: Bearon texture plate 5: Measuring table 6: Adhesive tape 7: Cardboard 8: Bar tension gauge

Claims (1)

基材の少なくとも片面に密着層を設けた密着シートにおいて、前記密着層がアスカーFP硬度25以上でアスカーCSC2硬度で80以下であり、厚みが10〜100μmであり、かつ下記の要件を満足することを特徴とする密着シート。
A:前記密着層が、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、両末端及び側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端にのみビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンと、末端及び側鎖にビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンとから選ばれる少なくとも1種のシリコーンを架橋させてなるものである。
B:前記シリコーンの数平均分子量が、25,000〜100,000である。
In contact sheet provided with at least one surface adhesion layer of the base material, the adhesive layer is Ri der 80 following an Asker CSC2 hardness ASKER FP hardness 25 or more, a thickness of 10 to 100 [mu] m, and to satisfy the following requirements An adhesive sheet characterized by the above.
A: The adhesion layer is composed of a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups only at both ends, a silicone composed of a linear polyorganosiloxane having vinyl groups at both ends and side chains, and only at the ends. It is obtained by crosslinking at least one silicone selected from a silicone comprising a branched polyorganosiloxane having a vinyl group and a silicone comprising a branched polyorganosiloxane having a vinyl group at the terminal and side chain.
B: The number average molecular weight of the silicone is 25,000 to 100,000.
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