JP4943807B2 - Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device - Google Patents

Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device Download PDF

Info

Publication number
JP4943807B2
JP4943807B2 JP2006283653A JP2006283653A JP4943807B2 JP 4943807 B2 JP4943807 B2 JP 4943807B2 JP 2006283653 A JP2006283653 A JP 2006283653A JP 2006283653 A JP2006283653 A JP 2006283653A JP 4943807 B2 JP4943807 B2 JP 4943807B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
region
subject
impedance
shape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006283653A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008099783A (en
Inventor
俊重 島村
浩季 森村
展弘 下山
智志 重松
衛 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2006283653A priority Critical patent/JP4943807B2/en
Publication of JP2008099783A publication Critical patent/JP2008099783A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4943807B2 publication Critical patent/JP4943807B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Image Input (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
  • Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
  • Collating Specific Patterns (AREA)

Description

本発明は、インピーダンス検出技術に関し、特に被検体となる生体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて生体のインピーダンスを検出するインピーダンス検出技術、およびこのインピーダンス検出技術を用いて生体認識を行う技術、さらにはこの生体認識技術を用いて指紋認証を行う指紋認証技術に関するものである。   The present invention relates to an impedance detection technique, and in particular, an impedance detection technique for applying a predetermined signal to a living body as a subject and detecting the impedance of the living body based on the obtained response signal, and the impedance detection technique. The present invention relates to a technique for performing biometric recognition, and further relates to a fingerprint authentication technique for performing fingerprint authentication using this biometric recognition technique.

情報化社会の進展に伴い、情報処理システムの機密保持に関する技術が発達している。例えばコンピュータールームなどの入出管理には、従来よりIDカードが使用されていたが、IDカードの紛失や盗難の可能性が大きかった。このため、IDカードに代わり各個人の指紋等を予め登録しておき、入室時に照合する個人認識システムが導入され始めている。このような個人認識システムは、登録されている指紋のレプリカ等を作成すれば検査を通過できる場合がある。したがって、個人認識システムは指紋照合だけではなく、被検体が生体であることも認識する必要がある。   Along with the progress of the information society, technology for maintaining confidentiality of information processing systems has been developed. For example, an ID card has been conventionally used for entrance / exit management of a computer room or the like, but there is a high possibility that the ID card is lost or stolen. For this reason, a personal recognition system is being introduced in which fingerprints of individual persons are registered in advance instead of ID cards and collated when entering a room. In some cases, such a personal recognition system can pass a test if a replica of a registered fingerprint or the like is created. Therefore, the personal recognition system needs to recognize not only the fingerprint verification but also that the subject is a living body.

従来、被検体が生体であることを検知する技術として、被検体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて被検体のインピーダンスを検出するインピーダンス検出技術を用いたものが提案されている(例えば、特許文献1など参照)。
図19は、従来の生体認識装置の構成を示すブロック図である。この生体認識装置には、主な機能部として、検出部1、供給信号生成部2、応答信号生成部3、波形情報検出部4、および生体認識部5が設けられている。
Conventionally, as a technique for detecting that a subject is a living body, a technique using an impedance detection technique that applies a predetermined signal to the subject and detects the impedance of the subject based on the obtained response signal. It has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
FIG. 19 is a block diagram showing a configuration of a conventional biometric recognition apparatus. The biological recognition apparatus includes a detection unit 1, a supply signal generation unit 2, a response signal generation unit 3, a waveform information detection unit 4, and a biological recognition unit 5 as main functional units.

検出部1は、被検体9と電気的に接触し、被検体9の持つインピーダンスZfのリアクタンス成分および抵抗成分を応答信号生成部3へ接続する。なお、被検体9が生体の場合、被検体9のインピーダンスZfのうちリアクタンス成分(虚数成分)は主に容量成分から構成されている。以下では、被検体9のリアクタンス成分が容量成分からなるものと仮定して説明する。   The detector 1 is in electrical contact with the subject 9 and connects the reactance component and resistance component of the impedance Zf of the subject 9 to the response signal generator 3. When the subject 9 is a living body, the reactance component (imaginary component) of the impedance Zf of the subject 9 is mainly composed of a capacitive component. In the following description, it is assumed that the reactance component of the subject 9 is a capacitive component.

供給信号生成部2は、所定周波数の正弦波などからなる供給信号を生成して応答信号生成部に出力する。
応答信号生成部3は、供給信号生成部2と検出部1との間に接続された抵抗素子Rsを有し、この抵抗素子Rsを介して供給信号生成部2からの供給信号2Sを印加信号1Sとして検出部1に印加し、抵抗素子Rsの一端すなわち抵抗素子Rsと検出部1との接続点から、検出部1のインピーダンスZf、ここでは被検体9の持つインピーダンスの容量成分および抵抗成分により変化する応答信号3Sを波形情報検出部4へ出力する。
The supply signal generation unit 2 generates a supply signal including a sine wave having a predetermined frequency and outputs the supply signal to the response signal generation unit.
The response signal generation unit 3 includes a resistance element Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection unit 1, and the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 is applied as an application signal via the resistance element Rs. 1S is applied to the detection unit 1 from one end of the resistance element Rs, that is, the connection point between the resistance element Rs and the detection unit 1, depending on the impedance Zf of the detection unit 1, here the capacitance component and resistance component of the impedance of the subject 9 The changing response signal 3S is output to the waveform information detection unit 4.

波形情報検出部4は、応答信号生成部3からの応答信号3Sが示す波形から、供給信号2Sとの位相差または振幅を検出し、これら位相差または振幅を示す波形情報を含んだ検出信号4Sを生体認識部5へ出力する。
生体認識部5は波形情報検出部4からの検出信号4Sに含まれる波形情報に基づき被検体9が生体か否かを認識判定し、その認識結果5Sを出力する。
The waveform information detection unit 4 detects a phase difference or amplitude from the supply signal 2S from the waveform indicated by the response signal 3S from the response signal generation unit 3, and a detection signal 4S including waveform information indicating the phase difference or amplitude. Is output to the biometric recognition unit 5.
The living body recognition unit 5 recognizes and determines whether or not the subject 9 is a living body based on the waveform information included in the detection signal 4S from the waveform information detection unit 4, and outputs the recognition result 5S.

生体認識装置の動作は以下のようになる。
まず、被検体9が検出部1に接触した場合、供給信号生成部2からの供給信号2Sに基づいて検出部1に印加されている印加信号1Sが、被検体9に固有のインピーダンス特性すなわち容量成分および抵抗成分により変化し、これが応答信号3Sとして応答信号生成部3から出力される。この応答信号3Sとは、波形情報検出部4でその位相差または振幅が検出され、これら検出結果を示す情報を含んだ検出信号4Sが生体認識部5へ出力される。
The operation of the biological recognition apparatus is as follows.
First, when the subject 9 comes into contact with the detection unit 1, the applied signal 1 </ b> S applied to the detection unit 1 based on the supply signal 2 </ b> S from the supply signal generation unit 2 has an impedance characteristic, that is, a capacitance unique to the subject 9. This varies depending on the component and the resistance component, and this is output from the response signal generator 3 as the response signal 3S. A phase difference or amplitude of the response signal 3S is detected by the waveform information detection unit 4, and a detection signal 4S including information indicating the detection result is output to the living body recognition unit 5.

生体認識部5では、波形情報検出部4からの検出信号4Sに含まれる波形情報が、正当な生体の波形情報の基準範囲内にあるか否かに基づいて、被検体9が生体か否かを認識判定し、その認識結果5Sを出力する。
なお、これらの位相差や振幅から被検体のインピーダンスのリアクタンス成分や抵抗成分の大きさを算出し、正当な生体の持つリアクタンス成分や抵抗成分の基準範囲と比較してもよい。この場合、検出素子を介して接触している被検体のインピーダンスを検出したことになる。
In the living body recognition unit 5, whether or not the subject 9 is a living body is determined based on whether or not the waveform information included in the detection signal 4S from the waveform information detection unit 4 is within the reference range of the legitimate living body waveform information. Is recognized and the recognition result 5S is output.
Note that the magnitude of the reactance component and resistance component of the impedance of the subject may be calculated from these phase differences and amplitudes and compared with the reference range of the reactance component and resistance component of a legitimate living body. In this case, the impedance of the subject in contact with the detection element is detected.

次に、図20を参照して、生体認識装置における従来の被検体のインピーダンス情報を検出する技術として、位相差を検出する具体的な方法を説明する。図20は、位相差を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示すブロック図であり、前述の図19と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。   Next, a specific method for detecting a phase difference will be described with reference to FIG. 20 as a conventional technique for detecting impedance information of a subject in a living body recognition apparatus. FIG. 20 is a block diagram showing a specific configuration of a conventional impedance detection apparatus for detecting a phase difference, and the same or equivalent parts as those in FIG.

図20において、検出部1には、被検体9と電気的に接触するための検出電極11と検出電極12が設けられている。
供給信号生成部2には、周波数発生回路21と波形整形回路22とが設けられている。応答信号生成部3には、電流−電圧変換回路31が設けられている。波形情報検出部4Aには、オフセット補正回路41、基準信号発生回路42、および位相比較回路43が設けられている。生体認識部5(図示せず)には、信号変換回路と判定回路が設けられている。
In FIG. 20, the detection unit 1 is provided with a detection electrode 11 and a detection electrode 12 for making electrical contact with the subject 9.
The supply signal generation unit 2 is provided with a frequency generation circuit 21 and a waveform shaping circuit 22. The response signal generation unit 3 is provided with a current-voltage conversion circuit 31. The waveform information detection unit 4A is provided with an offset correction circuit 41, a reference signal generation circuit 42, and a phase comparison circuit 43. The biometric recognition unit 5 (not shown) is provided with a signal conversion circuit and a determination circuit.

検出部1において、検出電極11は接地電位などの固定電位に接続され、検出電極12は応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31の出力段に接続されている。供給信号生成部2において、周波数発生回路21は所定周波数のクロック信号21Sを生成し、波形整形回路22は周波数発生回路21からのクロック信号21Sに基づき正弦波などからなる供給信号2Sを生成して出力する。   In the detection unit 1, the detection electrode 11 is connected to a fixed potential such as a ground potential, and the detection electrode 12 is connected to the output stage of the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3. In the supply signal generation unit 2, the frequency generation circuit 21 generates a clock signal 21S having a predetermined frequency, and the waveform shaping circuit 22 generates a supply signal 2S composed of a sine wave or the like based on the clock signal 21S from the frequency generation circuit 21. Output.

応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31は、供給信号生成部2と検出部1との間に接続された抵抗素子Rsからなり、生体のインピーダンスに対して十分低い所定の出力インピーダンスで、供給信号2Sを印加信号1Sとして被検体9に印加し、その際に検出部1を介して被検体9に流れる電流を電圧に変換し応答信号3Sとして出力する。   The current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 includes a resistance element Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection unit 1, and has a predetermined output impedance that is sufficiently lower than the impedance of the living body. The supply signal 2S is applied to the subject 9 as the application signal 1S, and the current flowing through the subject 9 through the detection unit 1 at that time is converted into a voltage and output as a response signal 3S.

波形情報検出部4Aのオフセット補正回路41は、被検体9の抵抗成分に応じて応答信号に生じるオフセットすなわち応答信号3Sの中心電圧と基準電位との電位差を補正し、被比較信号41Sとして位相比較回路43へ出力する。基準信号発生回路42は、供給信号2Sに同期した基準信号42Sを位相比較回路43へ出力する。位相比較回路43は、被比較信号41Sと基準信号42Sとの位相を比較することにより、被検体9に固有のインピーダンス特性、ここではリアクタンス成分に対応する位相差を波形情報として検出し、その波形情報を含む検出信号4ASを出力する。   The offset correction circuit 41 of the waveform information detection unit 4A corrects the offset generated in the response signal according to the resistance component of the subject 9, that is, the potential difference between the center voltage of the response signal 3S and the reference potential, and performs phase comparison as the signal to be compared 41S. Output to the circuit 43. The reference signal generation circuit 42 outputs a reference signal 42S synchronized with the supply signal 2S to the phase comparison circuit 43. The phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S and the reference signal 42S, thereby detecting the impedance characteristic unique to the subject 9, in this case, the phase difference corresponding to the reactance component, as waveform information, and the waveform A detection signal 4AS including information is output.

図20のインピーダンス検出装置の動作は以下のようになる。
まず、被検体9が、検出部1の検出電極11と検出電極12とを介して電流−電圧変換回路31の出力段に接続される。ここで被検体9に固有のインピーダンスは、検出部1の検出電極11と検出電極12との間に接続されたリアクタンス成分(主に容量成分)と抵抗成分で示すことができる。したがって、電流−電圧変換回路31から所定の出力インピーダンスで印加された印加信号1Sは、電流−電圧変換回路31の出力インピーダンスと被検体9に固有のインピーダンスとで分圧される。そして、被検体9に流れる電流が、各被検体9に固有のインピーダンスに応じてその位相または振幅が変化し、これら変化が電圧に変換された応答信号3Sとして出力される。
The operation of the impedance detection apparatus of FIG. 20 is as follows.
First, the subject 9 is connected to the output stage of the current-voltage conversion circuit 31 via the detection electrode 11 and the detection electrode 12 of the detection unit 1. Here, the impedance inherent to the subject 9 can be represented by a reactance component (mainly a capacitive component) and a resistance component connected between the detection electrode 11 and the detection electrode 12 of the detection unit 1. Therefore, the applied signal 1S applied with a predetermined output impedance from the current-voltage conversion circuit 31 is divided by the output impedance of the current-voltage conversion circuit 31 and the impedance unique to the subject 9. The phase or amplitude of the current flowing through the subject 9 changes according to the impedance inherent to each subject 9, and the change is output as a response signal 3S converted into a voltage.

図21は、図20のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。供給信号生成部2の波形整形回路22では、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位を中心電圧VAとする供給信号2Sが生成され印加信号1Sとして被検体9に印加される。応答信号3Sは、被検体9の抵抗成分によるオフセットを含む信号となる。例えば、抵抗成分が所定値より大きい場合は基準電位VBより高いVB2が中心電圧となり、抵抗成分が上記所定値より小さい場合は基準電位VBより低いVB1が中心電圧となる。この際、オフセット補正回路41は、応答信号3Sの中心電圧が位相比較回路43で用いる基準電位VBと一致するようにレベルシフトし、オフセットが補正された被比較信号41Sを出力する。位相比較回路43は、被比較信号41Sと基準信号42Sの位相差に対応したパルス幅を有する波形を検出信号4ASとして出力する。このパルス幅は、位相差としての波形情報を含んでいる。   FIG. 21 is an example of a signal waveform in each part of the impedance detection apparatus of FIG. In the waveform shaping circuit 22 of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S having a center voltage VA that is a substantially intermediate potential between the operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) of the circuit is generated, and the subject 9 is used as the application signal 1S. To be applied. The response signal 3S is a signal including an offset due to the resistance component of the subject 9. For example, when the resistance component is larger than a predetermined value, VB2 higher than the reference potential VB becomes the center voltage, and when the resistance component is smaller than the predetermined value, VB1 lower than the reference potential VB becomes the center voltage. At this time, the offset correction circuit 41 is level-shifted so that the center voltage of the response signal 3S matches the reference potential VB used in the phase comparison circuit 43, and outputs the compared signal 41S with the offset corrected. The phase comparison circuit 43 outputs a waveform having a pulse width corresponding to the phase difference between the signal to be compared 41S and the reference signal 42S as the detection signal 4AS. This pulse width includes waveform information as a phase difference.

次に、図22を参照して、生体認識装置における従来の被検体のインピーダンス情報を検出する他の技術として、振幅を検出する具体的な方法を説明する。図22は、振幅を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示したブロック図であり、前述の図19と同じまたは同等部分には同一名を付してある。
なお、図22の検出部1、供給信号生成部2、および応答信号生成部3の構成は前述した図19と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。
Next, with reference to FIG. 22, a specific method for detecting amplitude will be described as another technique for detecting impedance information of a subject in the living body recognition apparatus. FIG. 22 is a block diagram showing a specific configuration of a conventional impedance detection device for detecting amplitude, and the same or equivalent parts as those in FIG. 19 are given the same names.
The configurations of the detection unit 1, the supply signal generation unit 2, and the response signal generation unit 3 in FIG. 22 are the same as those in FIG. 19 described above, and a detailed description thereof is omitted here.

波形情報検出部4Bは、応答信号3Sのピーク電圧値と中心電圧値とを比較することにより、応答信号3Sの振幅を検出する。波形情報検出部4Bは、ピーク電圧検出回路44、中心電圧検出回路45、および電圧比較回路46から構成されている。ピーク電圧検出回路44は、応答信号3Sからそのピーク電圧値44Sを検出する。中心電圧検出回路45は応答信号3Sからその中心電圧値45Sを検出する。電圧比較回路46は、ピーク電圧値44Sと中心電圧値45Sとを比較することによりその電圧差から応答信号3Sの振幅を検出し、その振幅を波形情報として含む検出信号4BSを出力する。   The waveform information detection unit 4B detects the amplitude of the response signal 3S by comparing the peak voltage value of the response signal 3S with the center voltage value. The waveform information detection unit 4B includes a peak voltage detection circuit 44, a center voltage detection circuit 45, and a voltage comparison circuit 46. The peak voltage detection circuit 44 detects the peak voltage value 44S from the response signal 3S. The center voltage detection circuit 45 detects the center voltage value 45S from the response signal 3S. The voltage comparison circuit 46 detects the amplitude of the response signal 3S from the voltage difference by comparing the peak voltage value 44S and the center voltage value 45S, and outputs a detection signal 4BS including the amplitude as waveform information.

図23は、図22のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。供給信号生成部2の波形整形回路22では、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位を中心電圧VAとする供給信号2Sが生成されて出力され被検体9に印加される。応答信号3Sは、被検体9の抵抗成分によるオフセットを含む信号となる。応答信号3Sのピーク電圧値44Sと中心電圧値45S(VB)とを検出し、これらを電圧比較回路46で比較することにより、応答信号3Sの振幅に対応した電圧値を検出信号4BSとして出力する。この電圧値は、振幅としての波形情報を含んでいる。なお、ピーク電圧値44Sは、応答信号3Sの最大電圧値であってもよく、最小電圧値であってもよい。   FIG. 23 is an example of a signal waveform in each part of the impedance detection apparatus of FIG. In the waveform shaping circuit 22 of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S having a center voltage VA that is a substantially intermediate potential between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) is generated and output to the subject 9. Applied. The response signal 3S is a signal including an offset due to the resistance component of the subject 9. A peak voltage value 44S and a center voltage value 45S (VB) of the response signal 3S are detected and compared by the voltage comparison circuit 46, thereby outputting a voltage value corresponding to the amplitude of the response signal 3S as the detection signal 4BS. . This voltage value includes waveform information as amplitude. The peak voltage value 44S may be the maximum voltage value or the minimum voltage value of the response signal 3S.

また、従来、被検体が生体であることを検知する機能を指紋センサ装置に付加して構成した表面形状認識センサ装置が提案されている(例えば、特許文献1など参照)。
図24は、表面形状認識センサ装置の外観図である。この表面形状認識センサ装置は、例えば微細な凹凸を有する被検体の照合対象表面の形状と照合データと比較照合することにより被検体の認証を行う表面形状認識装置において、被検体の表面形状を検出する回路装置として用いられる。
Conventionally, there has been proposed a surface shape recognition sensor device configured by adding a function of detecting that a subject is a living body to a fingerprint sensor device (see, for example, Patent Document 1).
FIG. 24 is an external view of the surface shape recognition sensor device. This surface shape recognition sensor device detects, for example, the surface shape of a subject in a surface shape recognition device that authenticates a subject by comparing and collating the shape of the surface to be collated with a subject having fine irregularities with the collation data. Used as a circuit device.

図24に示すように、表面形状認識センサ装置150は、LSIチップの上の検出面8に、2次元(アレイ状や格子状)に配置された多数の微細な検出素子を配置した検出部1を有している。
この表面形状認識センサ装置150の検出面8に指など被検体9を接触させることにより、その被検体9の表面ここでは指紋の凹凸形状が検出部1の各検出素子を介して個別に検出され、被検体の表面形状を示す表面形状データが出力される。
As shown in FIG. 24, the surface shape recognition sensor device 150 includes a detection unit 1 in which a large number of fine detection elements arranged in a two-dimensional manner (array shape or lattice shape) are arranged on the detection surface 8 on the LSI chip. have.
By bringing the subject 9 such as a finger into contact with the detection surface 8 of the surface shape recognition sensor device 150, the surface of the subject 9, here, the uneven shape of the fingerprint is individually detected via each detection element of the detection unit 1. The surface shape data indicating the surface shape of the subject is output.

図25は、表面形状認識センサ装置の構成を示すブロック図である。この表面形状認識センサ装置150には、検出部1、表面形状検出部6、および生体認識部7が設けられており、検出部1には、検出素子1A、1B、1Cが設けられている。
検出素子1Aは、絶縁膜を介して被検体9との間に静電容量を形成する検出電極11Aと、被検体9と電気的に接触する検出電極12Aとを有している。このうち、検出電極11Aは表面形状検出部6に接続され、検出電極12Aは接地電位などの固定電位に接続されている。この固定電位は、電源回路などの所定の供給回路部(図示せず)から一定の電位(低インピーダンス)で供給されている。
FIG. 25 is a block diagram illustrating a configuration of the surface shape recognition sensor device. The surface shape recognition sensor device 150 includes a detection unit 1, a surface shape detection unit 6, and a living body recognition unit 7. The detection unit 1 includes detection elements 1A, 1B, and 1C.
The detection element 1 </ b> A includes a detection electrode 11 </ b> A that forms a capacitance with the subject 9 through an insulating film, and a detection electrode 12 </ b> A that is in electrical contact with the subject 9. Among these, the detection electrode 11A is connected to the surface shape detection unit 6, and the detection electrode 12A is connected to a fixed potential such as a ground potential. This fixed potential is supplied at a constant potential (low impedance) from a predetermined supply circuit unit (not shown) such as a power supply circuit.

検出素子1Bは、絶縁膜を介して被検体9との間に静電容量を形成する検出電極11Bと、被検体9と電気的に接触する検出電極12Bとを有している。このうち、検出電極11Bは表面形状検出部6に接続され、検出電極12Bは生体認識部7に接続されている。
検出電極1Cは絶縁膜を介して被検体9との間に静電容量を形成する検出電極11Cと、被検体9と電気的に接触する検出電極12Cとを有している。このうち、検出電極11Cは表面形状検出部6に接続され、検出電極12Cは固定電位に接続されている。
The detection element 1B has a detection electrode 11B that forms a capacitance with the subject 9 via an insulating film, and a detection electrode 12B that is in electrical contact with the subject 9. Among these, the detection electrode 11 </ b> B is connected to the surface shape detection unit 6, and the detection electrode 12 </ b> B is connected to the living body recognition unit 7.
The detection electrode 1 </ b> C includes a detection electrode 11 </ b> C that forms a capacitance with the subject 9 via an insulating film, and a detection electrode 12 </ b> C that is in electrical contact with the subject 9. Among these, the detection electrode 11C is connected to the surface shape detection unit 6, and the detection electrode 12C is connected to a fixed potential.

表面形状検出部6は、各検出素子1A、1B、1Cの検出電極11A、11B、11Cと被検体9との間に生じた静電容量に基づき、被検体9の表面の凹凸形状を示す表面形状データ6Sを出力する回路部である。
生体認識部7は、検出素子1Bの検出電極12Bと検出素子1Aの検出電極12Aとの間に接続された被検体9のインピーダンスに基づき、被検体9が生体であるか否かを判定し認識結果7Sを出力する回路部である。
The surface shape detection unit 6 is a surface that indicates the uneven shape of the surface of the subject 9 based on the capacitance generated between the detection electrodes 11A, 11B, 11C of the detection elements 1A, 1B, and 1C and the subject 9. It is a circuit unit that outputs shape data 6S.
The living body recognition unit 7 determines whether or not the subject 9 is a living body based on the impedance of the subject 9 connected between the detection electrode 12B of the detection element 1B and the detection electrode 12A of the detection element 1A. The circuit unit that outputs the result 7S.

次に、従来の表面形状認識センサ装置の動作について説明する。この表面形状認識センサ装置150の動作としては、表面形状検出部6による被検体9の表面形状を検出する表面形状検出動作と、生体認識部7による被検体9の生体認識を行う生体認識動作があり、上位装置(図示せず)からの制御に応じて、これら動作のいずれかが選択的に実行される。   Next, the operation of the conventional surface shape recognition sensor device will be described. The operation of the surface shape recognition sensor device 150 includes a surface shape detection operation for detecting the surface shape of the subject 9 by the surface shape detection unit 6 and a biological recognition operation for performing biological recognition of the subject 9 by the biological recognition unit 7. Yes, one of these operations is selectively executed in accordance with control from a higher-level device (not shown).

まず、表面形状検出動作では、表面形状検出部6により、検出素子1Aの検出電極11Aと被検体9との間に形成された静電容量の大きさに基づき、表面形状検出部6で被検体9の検出素子1Aの位置での表面形状を示す信号が生成され、表面形状データ6Sとして出力される。また検出素子1B、1Cについても、その検出電極11B、11Cと被検体9との間に形成された静電容量の大きさに基づき、表面形状検出部6で被検体の表面の凹凸形状を示す表面形状データ6Sとして出力される。このとき、検出素子1Aの検出電極12Aを介して被検体9が固定電位に接続されていることから、これら検出電極11A、11B、11Cで形成される静電容量が安定し、ノイズの少ない表面形状データ6Sが得られる。   First, in the surface shape detection operation, the surface shape detection unit 6 uses the surface shape detection unit 6 to detect the subject based on the magnitude of the capacitance formed between the detection electrode 11A of the detection element 1A and the subject 9. A signal indicating the surface shape at the position of the nine detection elements 1A is generated and output as surface shape data 6S. Also, the detection elements 1B and 1C also show the uneven shape of the surface of the subject by the surface shape detection unit 6 based on the size of the capacitance formed between the detection electrodes 11B and 11C and the subject 9. Output as surface shape data 6S. At this time, since the subject 9 is connected to a fixed potential via the detection electrode 12A of the detection element 1A, the capacitance formed by these detection electrodes 11A, 11B, and 11C is stable, and the surface is low in noise. Shape data 6S is obtained.

一方、生体認識動作では、検出素子1Aの検出電極12Aを介して被検体9が固定電位に接続されていることから、検出素子1Bの検出電極12Bから被検体9を介して検出素子1Aの検出電極12Aすなわち固定電位への電流経路が形成されることになる。生体認識部7では、この電流経路内に存在する被検体9に固有のインピーダンスの値が、正当な生体のインピーダンスを示す基準範囲内となるか否かに基づき被検体9が生体であるか否かを判定する。このとき、生体認識部7では、被検体9のインピーダンスに応じて変化する信号を用いて生体認識を行っているが、検出素子1Aの検出電極12Aを介して被検体9が固定電位に接続されていることから、被検体9への誘導による電位変動が抑止されて安定した信号が得られ、正確な生体認証が実現される。   On the other hand, in the biological recognition operation, since the subject 9 is connected to a fixed potential via the detection electrode 12A of the detection element 1A, the detection of the detection element 1A via the subject 9 from the detection electrode 12B of the detection element 1B. A current path to the electrode 12A, that is, a fixed potential is formed. In the living body recognition unit 7, whether or not the subject 9 is a living body based on whether or not the impedance value inherent to the subject 9 existing in the current path is within the reference range indicating the legitimate living body impedance. Determine whether. At this time, the living body recognition unit 7 performs living body recognition using a signal that changes in accordance with the impedance of the subject 9, but the subject 9 is connected to a fixed potential via the detection electrode 12A of the detection element 1A. Therefore, potential fluctuation due to induction to the subject 9 is suppressed, a stable signal is obtained, and accurate biometric authentication is realized.

このように、検出電極11Aが表面形状検出部6に接続され、検出電極12Aが固定電位に接続された検出素子1Aと、検出電極11Bが表面形状検出部6に接続され、検出電極12Bが生体認識部7に接続された検出素子1Bと、検出電極11Cが表面形状検出部6に接続され、検出電極12Cが固定電位に接続された検出素子1Cを、検出面8に配置し、表面形状検出部6では、これら検出素子1A、1B、1Cから得られた個々の容量に基づき、これら検出素子1A、1B、1Cと接触する位置に対応する表面形状の凹凸を示す信号をそれぞれ出力し、生体認識部7では、検出素子1Bの検出電極12Bと検出素子1Aの検出電極12Aとの間に接続された被検体9のインピーダンスに応じた信号に基づき被検体9が生体であるか否かを判定するようにしている。   In this way, the detection electrode 11A is connected to the surface shape detection unit 6, the detection electrode 1A is connected to the fixed potential, the detection electrode 11B is connected to the surface shape detection unit 6, and the detection electrode 12B is a living body. The detection element 1B connected to the recognition unit 7 and the detection electrode 11C connected to the surface shape detection unit 6 and the detection element 1C connected to the detection electrode 12C at a fixed potential are arranged on the detection surface 8 to detect the surface shape. Based on the individual capacitances obtained from the detection elements 1A, 1B, and 1C, the unit 6 outputs signals indicating the irregularities of the surface shape corresponding to the positions in contact with the detection elements 1A, 1B, and 1C. In the recognition unit 7, whether or not the subject 9 is a living body based on a signal corresponding to the impedance of the subject 9 connected between the detection electrode 12B of the detection element 1B and the detection electrode 12A of the detection element 1A. It is to be determined.

したがって、検出素子1Aの検出電極12Aを介して被検体9が固定電位に接続され、被検体9に誘導される電位変動を抑制して正確な生体認識を行うことができるとともに、ノイズの少ない表面形状データが得られる。
また、表面形状検出動作と生体認識動作とで各検出素子を共用しているため、表面形状を検出するための検出素子とは別に生体認識用の検出素子を配置する必要がなくなり、レイアウト面積が増加せずチップあたりの製造コストの増加も回避できる。したがって、装置を大型化することなく被検体の検出に加えて生体認識も行うことができ、装置のチップ化を容易に実現できる。
Accordingly, the subject 9 is connected to a fixed potential via the detection electrode 12A of the detection element 1A, and the potential variation induced by the subject 9 can be suppressed and accurate biological recognition can be performed, and the surface with less noise Shape data is obtained.
Further, since each detection element is shared by the surface shape detection operation and the biological recognition operation, it is not necessary to arrange a detection element for biological recognition separately from the detection element for detecting the surface shape, and the layout area is reduced. The increase in manufacturing cost per chip can be avoided without increasing. Accordingly, it is possible to perform living body recognition in addition to detection of the subject without increasing the size of the device, and the device can be easily realized as a chip.

次に、図26および図27を参照して、従来の表面形状認識センサ装置で用いられる検出素子の構成について説明する。図26は、従来の表面形状認識センサ装置で用いられる検出部の構成を示す正面図である。図27は、従来の表面形状認識センサ装置で用いられる検出部の構成を示す図26のAA断面図である。   Next, with reference to FIGS. 26 and 27, the configuration of the detection element used in the conventional surface shape recognition sensor device will be described. FIG. 26 is a front view showing a configuration of a detection unit used in a conventional surface shape recognition sensor device. FIG. 27 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 26 showing the configuration of the detection unit used in the conventional surface shape recognition sensor device.

検出素子1Aは、表面形状認識センサ装置150の検出面8上に格子状に配列された検出電極11Aと、この検出電極11Aの周囲を囲むよう離間した位置に壁状に形成された検出電極12Aとから構成されている。同様に、検出素子1Bは、格子状に配列された検出電極11Bと、この検出電極11Bの周囲を囲むよう離間した位置に壁状に形成された検出電極12Bとから構成されている。また検出素子1Cは、格子状に配列された検出電極11Cと、この検出電極11Cの周囲を囲むよう離間した位置に壁状に形成された検出電極12Cとから構成されている。   The detection element 1A includes detection electrodes 11A arranged in a grid pattern on the detection surface 8 of the surface shape recognition sensor device 150, and detection electrodes 12A formed in a wall shape at positions spaced around the periphery of the detection electrodes 11A. It consists of and. Similarly, the detection element 1B is composed of detection electrodes 11B arranged in a grid pattern and detection electrodes 12B formed in a wall shape at positions spaced around the periphery of the detection electrode 11B. The detection element 1C is composed of detection electrodes 11C arranged in a lattice pattern, and detection electrodes 12C formed in a wall shape at positions spaced around the detection electrode 11C.

検出電極11A、11B、11Cは金属膜からなり、被検体9と近接する上側が絶縁膜14で覆われ、被検体9を対向検出電極として容量素子を形成する。この際、被検体の表面形状の凹凸によりこれら被検体と検出電極との間の距離が変化することから、その表面形状の凹凸に応じた静電容量が形成される。
一方、検出電極12A、12Bは、上側が露出して被検体9と電気的に接触する。これにより、検出電極12Aに接続されている固定電位が被検体9に印加されるとともに、検出電極12Bを介して被検体9のインピーダンスが生体認識部7へ接続されることになる。検出電極12Cは上側に絶縁膜14が形成されているとともに、固定電位に接続されている。この際、隣接する検出素子1A間、検出素子1B間、および検出素子1C間で、それぞれ検出電極12A、12B、12Cを互いに共有している。
The detection electrodes 11A, 11B, and 11C are made of a metal film, and an upper side that is close to the subject 9 is covered with an insulating film 14, and a capacitive element is formed using the subject 9 as a counter detection electrode. At this time, since the distance between the subject and the detection electrode changes due to the unevenness of the surface shape of the subject, a capacitance corresponding to the unevenness of the surface shape is formed.
On the other hand, the detection electrodes 12A and 12B are exposed on the upper side and are in electrical contact with the subject 9. Thereby, a fixed potential connected to the detection electrode 12A is applied to the subject 9, and the impedance of the subject 9 is connected to the living body recognition unit 7 via the detection electrode 12B. The detection electrode 12C has an insulating film 14 formed on the upper side and is connected to a fixed potential. At this time, the detection electrodes 12A, 12B, and 12C are shared by the adjacent detection elements 1A, the detection elements 1B, and the detection elements 1C, respectively.

したがって、検出素子1Cと検出素子1A、1Bとが隣接する境界には、検出電極12A、12Cの間、および12B、12Cの間に切欠き部13を設けて、両者を電気的に絶縁している。
図28は、表面形状認識センサ装置のセンサ面構成を示す説明図である。図29は、図28の要部拡大図である。検出素子1Bを複数隣接配置した正方形の検出領域8Bを、検出面8のほぼ中央に島状に配置し、検出素子1Cを複数隣接配置した分離領域8Cを、検出領域8Bの外周部を全周にわたって囲うように枠状に配置し、さらに検出素子1Aを複数隣接配置した固定電位領域8Aを、分離領域8Cの外周部を全周にわたって囲うように配置している。
Accordingly, a notch 13 is provided between the detection electrodes 12A and 12C and between the detection electrodes 12A and 12C at the boundary where the detection element 1C and the detection elements 1A and 1B are adjacent to each other to electrically insulate them from each other. Yes.
FIG. 28 is an explanatory diagram showing a sensor surface configuration of the surface shape recognition sensor device. FIG. 29 is an enlarged view of a main part of FIG. A square detection region 8B in which a plurality of detection elements 1B are arranged adjacent to each other is arranged in an island shape in the approximate center of the detection surface 8, a separation region 8C in which a plurality of detection elements 1C are arranged adjacent to each other is arranged, and the outer periphery of the detection region 8B is arranged around the entire circumference. A fixed potential region 8A in which a plurality of detection elements 1A are arranged adjacent to each other is arranged so as to surround the entire outer periphery of the separation region 8C.

国際公開05/016146号パンフレットInternational Publication No. 05/016146 Pamphlet 国際公開05/019767号パンフレットInternational Publication No. 05/019767 Pamphlet

このような従来技術では、前述した図27のように、固定電位領域8Aの検出電極12Aと検出領域8Bの検出電極12Bが被検体9と接触して被検体9と電気的に接続することにより、被検体9のインピーダンスを検出している。この際、被検体9の表面の形状や状態、あるいは検出電極との位置関係に起因して接触具合のばらつきが発生するため、被検体9のインピーダンスを精度よく安定して検出するには、検出電極12Aと検出電極12Bが被検体9を介して多くのポイントで接続される必要がある。したがって、検出領域8Bの周囲長としてある程の長さが必要となる。   In such a conventional technique, the detection electrode 12A in the fixed potential region 8A and the detection electrode 12B in the detection region 8B are in contact with the subject 9 and electrically connected to the subject 9 as shown in FIG. The impedance of the subject 9 is detected. At this time, since variations in the contact condition occur due to the shape and state of the surface of the subject 9 or the positional relationship with the detection electrode, detection is necessary to detect the impedance of the subject 9 accurately and stably. The electrode 12A and the detection electrode 12B need to be connected at many points through the subject 9. Therefore, a certain length is required as the peripheral length of the detection region 8B.

一方、被検体9には静電気が帯電している場合があり、このような場合には、被検体9が検出面8に近接した際、露出した検出電極を持つ固定電位領域8Aや分離領域8Cへ放電する可能性が高い。ここで、帯電している静電気が固定電位領域8Aの検出電極12Aへ放電した場合、検出電極12Aには低インピーダンスの固定電位が接続されているため回路の破壊はほとんど発生しない。しかしながら、静電気が検出領域8Bの検出電極12Bへ放電した場合、生体認識部7側には各種信号処理回路が接続されており、ある程度のインピーダンスを有しているため、これら回路が破壊されてしまう。
この際、静電気が検出領域8Bへ放電する確率は、検出領域8Bの面積に応じてその放電確率は高くなる。したがって、検出領域8Bの面積は小さいほうが望ましい。
On the other hand, the subject 9 may be charged with static electricity. In such a case, when the subject 9 comes close to the detection surface 8, the fixed potential region 8A or the separation region 8C having an exposed detection electrode. There is a high possibility of discharge. Here, when the charged static electricity is discharged to the detection electrode 12A in the fixed potential region 8A, the detection electrode 12A is connected to a low impedance fixed potential, so that the circuit is hardly destroyed. However, when static electricity is discharged to the detection electrode 12B in the detection region 8B, various signal processing circuits are connected to the biometric recognition unit 7 side and have a certain degree of impedance, so these circuits are destroyed. .
At this time, the probability that the static electricity is discharged to the detection region 8B is increased according to the area of the detection region 8B. Therefore, it is desirable that the area of the detection region 8B is small.

しかしながら、前述した生体認識動作のように被検体9のインピーダンスを検出する際、前述した図28のような正方形の検出領域8Bを用いた場合、検出領域8Bの周囲長として十分な長さを得るには検出領域8Bとして比較的大きな面積が必要となり、被検体9がセンサ表面に接近した際に被検体9に帯電した静電気が検出領域8Bへ放電されやすく、検出領域8Bに接続された生体認識部7の回路が静電気により破壊されてしまうという問題があった。   However, when detecting the impedance of the subject 9 as in the biometric recognition operation described above, if the square detection region 8B as shown in FIG. 28 is used, a sufficient length is obtained as the perimeter of the detection region 8B. Requires a relatively large area as the detection region 8B, and when the subject 9 approaches the sensor surface, the static electricity charged on the subject 9 is easily discharged to the detection region 8B, and the living body connected to the detection region 8B is recognized. There was a problem that the circuit of the unit 7 was destroyed by static electricity.

本発明はこのような課題を解決するためのものであり、被検体のインピーダンスを精度よく検出できるとともに、被検体に帯電した静電気の放電による故障を抑制できるインピーダンス検出装置、インピーダンス検出方法、生体認識装置、および指紋認証装置を提供することを目的としている。   The present invention is for solving such problems, and can detect the impedance of the subject with high accuracy and can suppress failure due to electrostatic discharge charged in the subject, an impedance detection method, biometric recognition An object is to provide a device and a fingerprint authentication device.

このような目的を達成するために、本発明にかかるインピーダンス検出装置は、表面に凹凸形状を有する被検体と電気的に接触する検出面に配置された複数の検出素子からなる検出部と、交流の供給信号を生成する供給信号生成部と、供給信号生成部と検出素子との間に接続されて、供給信号に応じた印加信号を被検体へ印加するとともに、印加信号に伴って被検体に流れる電流により変化する交流の応答信号を生成して出力する応答信号生成部と、少なくとも応答信号の位相または振幅のいずれか一方を波形情報として検出し、この波形情報に基づいて被検体のインピーダンスを示す検出信号を出力する波形情報検出部とを備えるインピーダンス検出装置であって、検出部は、検出面に接触した被検体を応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子が帯状に配置された検出領域と、検出面に接触した被検体を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子が検出領域を取り囲むように配置された固定電位領域と、検出領域と固定電位領域の間に設けられ、検出領域と固定電位領域を電気的に分離する分離領域とから構成され、検出領域は、面積が固定電位領域よりも小さく、かつ長手方向の長さが被検体の表面の凹部を跨いで複数の凸部に接触可能な長さを有するようにしたものであるIn order to achieve such an object, an impedance detection apparatus according to the present invention includes a detection unit including a plurality of detection elements arranged on a detection surface that is in electrical contact with a subject having an uneven shape on the surface, and an alternating current. A supply signal generating unit for generating a supply signal, and an application signal corresponding to the supply signal applied to the subject and connected to the subject along with the application signal. A response signal generator that generates and outputs an alternating response signal that changes depending on the flowing current, and detects at least one of the phase or amplitude of the response signal as waveform information, and determines the impedance of the subject based on the waveform information. The waveform detection unit includes a waveform information detection unit that outputs a detection signal to be detected, and the detection unit electrically connects the subject in contact with the detection surface to the response signal generation unit. A detection region in which a number of detection elements are arranged in a strip shape, and a fixed potential region in which a plurality of detection elements that electrically connect a subject in contact with the detection surface to a predetermined fixed potential surround the detection region, The separation region is provided between the detection region and the fixed potential region and electrically separates the detection region and the fixed potential region . The detection region has a smaller area than the fixed potential region and is longer in the longitudinal direction. Has a length capable of contacting a plurality of convex portions across the concave portions on the surface of the subject .

この際、検出領域を、検出素子が配置された複数の帯状領域が当該帯状領域の端部で接合された形状をなすように形成してもよい。
あるいは、検出領域を、検出素子が配置された帯状領域が分岐点で複数に分岐した形状をなすように形成してもよい。
あるいは、検出領域を、検出素子が配置された帯状領域が屈曲点で折れ曲がった形状をなすようにしてもよい。
At this time, the detection region may be formed such that a plurality of band-like regions in which the detection elements are arranged are joined at the end of the band-like region.
Or you may form a detection area | region so that the strip | belt-shaped area | region in which the detection element is arrange | positioned may make the shape branched in multiple at the branch point.
Or you may make it make the detection area | region form the shape where the strip | belt-shaped area | region where the detection element is arrange | positioned bent at the bending point.

また、検出領域を、全体として十字状をなすように形成してもよく、あるいは全体として環状をなすように形成してもよい。
あるいは、検出領域を、当該検出領域の角部が湾曲形状をなすように形成してもよい。
あるいは、検出領域を、互いに直交する検出面上の2つの軸に対して対称をなすように形成してもよい。
Further, the detection region may be formed in a cross shape as a whole, or may be formed in a ring shape as a whole.
Alternatively, the detection area may be formed such that the corner of the detection area has a curved shape.
Alternatively, the detection region may be formed so as to be symmetric with respect to two axes on the detection surface orthogonal to each other.

た、検出領域を、被検体と電気的に接触する各検出素子の検出電極がそれぞれ環形状をなし、これら検出電極がアレイ状に配置された構成を有するように形成してもよい。 Also, the detection region, the detection electrodes form a respective ring shape of each detecting element for electrical contact with the object, these detection electrodes may be formed to have a configuration arranged in an array.

また、本発明にかかるインピーダンス検出方法は、検出面に配置された複数の検出素子からなる検出部を介して電気的に接触した、表面に凹凸形状を有する被検体に対し、応答信号生成部により、交流の供給信号に応じた印加信号を印加するとともに、印加信号に伴って被検体に流れる電流により変化する応答信号を生成して出力する応答信号生成ステップと、少なくとも応答信号の位相または振幅のいずれか一方を波形情報として検出し、この波形情報に基づいて被検体のインピーダンスを示す検出信号を出力する波形情報検出ステップとを備え、検出部は、複数の検出素子が帯状に配置された検出領域により、検出面に接触した被検体を応答信号生成部へ電気的に接続し、複数の検出素子が検出領域を取り囲むように配置された固定電位領域により、検出面に接触した被検体を所定の固定電位へ電気的に接続し、検出領域と固定電位領域の間に設けられた分離領域により、検出領域と固定電位領域を電気的に分離し、検出領域は、面積が固定電位領域よりも小さく、かつ長手方向の長さが被検体の表面の凹部を跨いで複数の凸部に接触可能な長さを有するようにしたものであるIn addition, the impedance detection method according to the present invention is performed by a response signal generation unit for a subject having a concavo-convex shape on a surface that is in electrical contact with a detection unit including a plurality of detection elements arranged on a detection surface. A response signal generating step of applying an application signal corresponding to the AC supply signal and generating and outputting a response signal that changes according to the current flowing through the subject in accordance with the application signal; and at least the phase or amplitude of the response signal A waveform information detection step of detecting either one as waveform information and outputting a detection signal indicating the impedance of the subject based on the waveform information, and the detection unit detects a plurality of detection elements arranged in a band shape A fixed potential in which a subject that is in contact with the detection surface is electrically connected to the response signal generator by a region, and a plurality of detection elements are arranged to surround the detection region. The frequency, the subject in contact with the detection surface electrically connected to a predetermined fixed potential, the isolation region provided between the detection region and the fixed potential region electrically isolates the fixed potential region and the detection region The detection region has a smaller area than the fixed potential region and a length in the longitudinal direction that can contact the plurality of convex portions across the concave portions on the surface of the subject .

また、本発明にかかる生体認識装置は、被検体のインピーダンスに応じた検出信号を出力する上記いずれかのインピーダンス検出装置と、インピーダンス検出装置から出力された検出信号に基づき被検体が生体であるか否かを判定する生体認識部とを備えている。   In addition, the living body recognition apparatus according to the present invention includes any one of the impedance detection apparatuses that outputs a detection signal corresponding to the impedance of the subject, and whether the subject is a living body based on the detection signal output from the impedance detection apparatus. A biological recognition unit for determining whether or not.

また、本発明にかかる指紋認証装置は、被検体のインピーダンスに応じた検出信号に基づき被検体が生体であるか否かを判定する上記生体認識装置と、被検体から指紋の凹凸を示す指紋データを検出する指紋検出装置と、指紋データと予め登録されている照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う指紋認証部と、生体認識装置から出力された生体判定結果と指紋認証部から出力された指紋認証結果とに基づいて利用者の指紋認証成否を判定する認証判定部とを備えている。   The fingerprint authentication apparatus according to the present invention includes the biometric recognition apparatus that determines whether or not the subject is a living body based on a detection signal corresponding to the impedance of the subject, and fingerprint data indicating the unevenness of the fingerprint from the subject. A fingerprint detection device that detects fingerprints, a fingerprint authentication unit that compares fingerprint data and pre-registered verification data, and performs user fingerprint authentication based on the verification result, and a biometric determination output from the biometric recognition device An authentication determination unit that determines whether the user has succeeded in fingerprint authentication based on the result and the fingerprint authentication result output from the fingerprint authentication unit;

本発明によれば、検出部が、検出面に接触した、表面に凹凸形状を有する被検体を応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子が帯状に配置された検出領域と、検出面に接触した被検体を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子が検出領域を取り囲むように配置された固定電位領域と、検出領域と固定電位領域の間に設けられ、検出領域と固定電位領域を電気的に分離する分離領域とから構成され、検出領域は、面積が固定電位領域よりも小さく、かつ長手方向の長さが被検体の表面の凹部を跨いで複数の凸部に接触可能な長さを有しているため、検出領域の周囲長を維持しつつ、その面積を削減することができる。 According to the present invention, the detection unit includes a detection region in which a plurality of detection elements that are in contact with the detection surface and electrically connect an object having a concavo-convex shape on the surface to the response signal generation unit are arranged in a band shape, and detection A plurality of detection elements that electrically connect a subject in contact with the surface to a predetermined fixed potential are disposed between the detection region and the fixed potential region. And a separation region that electrically separates the fixed potential region, and the detection region has a smaller area than the fixed potential region and has a length in the longitudinal direction across the recesses on the surface of the subject. because it has a possible length in contact with, while maintaining the perimeter of the detection area, it is possible to reduce the area.

したがって、検出領域の周囲長を短縮することなく、被検体に帯電した静電気が検出領域へ放電する確率を低減でき、被検体のインピーダンスを精度よく検出できるとともに、被検体に帯電した静電気の放電による故障を抑制できる。特に、インピーダンス検出装置を生体認識装置のインピーダンス検出手段に用いれば、被検体に対する生体認識精度とその信頼性を高めることができる。また、このような生体認識装置を、指紋認証装置を用いた個人認識システムに搭載すれば、システム全体のセキュリティ性能と信頼性能を高めることができ効果大である。   Therefore, it is possible to reduce the probability that static electricity charged in the subject is discharged to the detection region without shortening the perimeter of the detection region, to accurately detect the impedance of the subject, and to discharge the static electricity charged to the subject. Failure can be suppressed. In particular, if the impedance detection device is used as the impedance detection means of the biological recognition device, the biological recognition accuracy and reliability of the subject can be improved. In addition, if such a biometric recognition device is installed in a personal recognition system using a fingerprint authentication device, the security performance and reliability performance of the entire system can be improved, which is very effective.

次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
まず、図1を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。図2は、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[First Embodiment]
First, with reference to FIG. 1, an impedance detection apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a front view showing a detection unit of the impedance detection apparatus according to the first embodiment of the present invention.

インピーダンス検出装置100は、被検体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて被検体のインピーダンスを検出する装置である。このインピーダンス検出装置100には、主な機能部として、検出部1、供給信号生成部2、応答信号生成部3、および波形情報検出部4が設けられている。   The impedance detection device 100 is a device that applies a predetermined signal to the subject and detects the impedance of the subject based on the obtained response signal. The impedance detection apparatus 100 includes a detection unit 1, a supply signal generation unit 2, a response signal generation unit 3, and a waveform information detection unit 4 as main functional units.

本実施の形態は、検出部1を、検出面8に接触した被検体9を応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子1Bが帯状に配置された検出領域8Bと、検出面8に接触した被検体9を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子1Aが検出領域8Bを取り囲むように配置された固定電位領域8Aと、検出領域8Bと固定電位領域8Aの間に設けられ、検出領域8Bと固定電位領域8Aを電気的に分離する分離領域8Cとから構成したものである。   In the present embodiment, the detection unit 1 includes a detection region 8B in which a plurality of detection elements 1B that electrically connect the subject 9 in contact with the detection surface 8 to the response signal generation unit are arranged in a band shape, and the detection surface 8 Between the detection region 8B and the fixed potential region 8A, and a plurality of detection elements 1A that electrically connect the subject 9 that is in contact with the target 9 to a predetermined fixed potential. A separation region 8C that is provided and electrically separates the detection region 8B from the fixed potential region 8A.

以下、図1を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の各機能部について詳細に説明する。
検出部1は、指などの生体からなる被検体9と電気的に接触する検出面8に配置された複数の検出素子を介して被検体9と電気的に接触し、被検体9の持つインピーダンスZfのリアクタンス成分および抵抗成分を応答信号生成部3へ接続する機能を有している。
Hereafter, with reference to FIG. 1, each function part of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention is demonstrated in detail.
The detection unit 1 is in electrical contact with the subject 9 via a plurality of detection elements disposed on the detection surface 8 that is in electrical contact with the subject 9 made of a living body such as a finger, and the impedance of the subject 9 It has a function of connecting the reactance component and the resistance component of Zf to the response signal generator 3.

供給信号生成部2は、所定周波数の正弦波などからなる供給信号2Sを生成して応答信号生成部3に出力する機能を有している。
応答信号生成部3は、供給信号生成部2からの供給信号2Sに応じた印加信号1Sを検出素子1に印加し、この印加信号1Sに伴って検出素子1Bの出力インピーダンスすなわち被検体9の持つインピーダンスの容量成分および抵抗成分により変化する応答信号3Sを生成して波形情報検出部4へ出力する機能を有している。
The supply signal generation unit 2 has a function of generating a supply signal 2 </ b> S composed of a sine wave having a predetermined frequency and outputting it to the response signal generation unit 3.
The response signal generation unit 3 applies an application signal 1S corresponding to the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 to the detection element 1, and the output impedance of the detection element 1B, that is, the subject 9 has the application signal 1S. It has a function of generating a response signal 3S that changes depending on the capacitance component and resistance component of the impedance and outputting the response signal 3S to the waveform information detection unit 4.

波形情報検出部4は、応答信号生成部3からの応答信号3Sが示す波形から、被検体9のインピーダンスに応じた波形の特徴を示す波形情報として、応答信号3Sと供給信号2Sとの位相差または振幅を検出する機能と、これら位相差または振幅からなる波形情報に基づいて被検体9のインピーダンスを示す検出信号4Sを出力する機能とを有している。
これら供給信号生成部2、応答信号生成部3、波形情報検出部4に関する具体的構成については、応答信号3Sから検出する波形情報の種別すなわち位相差や振幅に応じて、前述した図20や図22などの公知の回路構成を用いればよく、ここでの詳細な説明は省略する。
The waveform information detection unit 4 uses the waveform indicated by the response signal 3S from the response signal generation unit 3 as the waveform information indicating the characteristics of the waveform according to the impedance of the subject 9, and the phase difference between the response signal 3S and the supply signal 2S. Alternatively, it has a function of detecting the amplitude and a function of outputting a detection signal 4S indicating the impedance of the subject 9 based on the waveform information consisting of these phase differences or amplitudes.
The specific configurations of the supply signal generation unit 2, the response signal generation unit 3, and the waveform information detection unit 4 will be described with reference to FIGS. 20 and 20 described above according to the type of waveform information detected from the response signal 3S, that is, the phase difference and amplitude. A known circuit configuration such as 22 may be used, and a detailed description thereof is omitted here.

次に、図1および図2を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部について詳細に説明する。
検出部1の検出面8には、図2に示すように、固定電位領域8A、検出領域8B、および分離領域8Cが設けられている。
固定電位領域8Aには、検出面8に接触した被検体9を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子1Aが検出領域8Bを取り囲むように配置されている。この検出素子1Aは、接地電位や電源電位など低インピーダンスの固定電位へ接続された検出電極12Aを有し、この検出電極12Aを介して被検体9を固定電位へ電気的に接続する機能を有している。
Next, with reference to FIG. 1 and FIG. 2, the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention is demonstrated in detail.
As shown in FIG. 2, the detection surface 8 of the detection unit 1 is provided with a fixed potential region 8A, a detection region 8B, and a separation region 8C.
In the fixed potential region 8A, a plurality of detection elements 1A that electrically connect the subject 9 in contact with the detection surface 8 to a predetermined fixed potential are arranged so as to surround the detection region 8B. This detection element 1A has a detection electrode 12A connected to a low impedance fixed potential such as a ground potential or a power supply potential, and has a function of electrically connecting the subject 9 to the fixed potential via this detection electrode 12A. is doing.

検出領域8Bには、検出面8に接触した被検体9を応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子1Bが帯状に配置されている。この検出素子1Bは、応答信号生成部3へ接続された検出電極12Bを有し、この検出電極12Bを介して被検体9を応答信号生成部3へ電気的に接続する機能を有している。
分離領域8Cは、検出領域8Bと固定電位領域8Aの間に帯状に設けられ、検出領域8Bと固定電位領域8Aを電気的に分離する機能を有している。
In the detection region 8B, a plurality of detection elements 1B that electrically connect the subject 9 in contact with the detection surface 8 to the response signal generation unit are arranged in a band shape. The detection element 1B has a detection electrode 12B connected to the response signal generation unit 3, and has a function of electrically connecting the subject 9 to the response signal generation unit 3 via the detection electrode 12B. .
The separation region 8C is provided in a band shape between the detection region 8B and the fixed potential region 8A, and has a function of electrically separating the detection region 8B and the fixed potential region 8A.

検出面8に載置された被検体9は、分離領域8Cを跨いで固定電位領域8Aの検出素子1Aと検出領域8Bの検出素子1Bに接触し、検出電極12Aおよび検出電極12Bを介して固定電位と応答信号生成部3にそれぞれ電気的に接続される。これにより、被検体9のインピーダンスZfのリアクタンス成分および抵抗成分が応答信号生成部3と固定電位との間に接続されることになる。   The subject 9 placed on the detection surface 8 contacts the detection element 1A in the fixed potential region 8A and the detection element 1B in the detection region 8B across the separation region 8C, and is fixed via the detection electrode 12A and the detection electrode 12B. The potential and response signal generator 3 are electrically connected to each other. Thereby, the reactance component and the resistance component of the impedance Zf of the subject 9 are connected between the response signal generator 3 and the fixed potential.

この際、被検体9の表面の形状や状態、あるいは検出電極との位置関係に起因して接触具合のばらつきが発生するため、被検体9のインピーダンスを精度よく安定して検出するには、検出電極12Aと検出電極12Bが被検体9を介して多くのポイントで接続される必要がある。したがって、検出領域8Bの周囲長としてある程の長さが必要となる。
例えば、検出領域8Bの周囲長をLBとし、分離領域8Cの幅をWCとし、被検体9の単位面積当たりのインピーダンスをZf0とした場合、検出領域8Bと固定電位領域8Aとの間に発生するインピーダンスZfは、Zf≒Zf0×(LB/WC)で表すことができる。
At this time, since variations in the contact condition occur due to the shape and state of the surface of the subject 9 or the positional relationship with the detection electrode, detection is necessary to detect the impedance of the subject 9 accurately and stably. The electrode 12A and the detection electrode 12B need to be connected at many points through the subject 9. Therefore, a certain length is required as the peripheral length of the detection region 8B.
For example, when the perimeter of the detection region 8B is LB, the width of the separation region 8C is W C, and the impedance per unit area of the subject 9 is Zf 0 , the detection region 8B is fixed between the detection region 8B and the fixed potential region 8A. The generated impedance Zf can be expressed as Zf≈Zf 0 × (LB / W C ).

一方、被検体9に静電気が帯電している場合には、被検体9が検出面8に近接した際、露出した検出電極を持つ固定電位領域8Aや分離領域8Cへ放電する可能性が高い。ここで、帯電している静電気が固定電位領域8Aの検出電極12Aへ放電した場合、検出電極12Aには低インピーダンスの固定電位が接続されているため回路の破壊はほとんど発生しない。しかしながら、静電気が検出領域8Bの検出電極12Bへ放電した場合、生体認識部7側には各種信号処理回路が接続されており、ある程度のインピーダンスを有しているため、これら回路が破壊されてしまう。   On the other hand, when the subject 9 is charged with static electricity, when the subject 9 comes close to the detection surface 8, there is a high possibility of discharging to the fixed potential region 8A or the separation region 8C having the exposed detection electrode. Here, when the charged static electricity is discharged to the detection electrode 12A in the fixed potential region 8A, the detection electrode 12A is connected to a low impedance fixed potential, so that the circuit is hardly destroyed. However, when static electricity is discharged to the detection electrode 12B in the detection region 8B, various signal processing circuits are connected to the biometric recognition unit 7 side and have a certain degree of impedance, so these circuits are destroyed. .

この際、静電気が検出領域8Bへ放電する確率は、検出領域8Bの面積に応じてその放電確率は高くなる。したがって、検出領域8Bの面積は小さいほうが望ましい。
本実施の形態では、検出領域8Bの各検出素子1Bを帯状に配置したので、検出領域8Bの周囲長を一定とした場合、前述した図28,29のような従来の正方形の検出領域8Bと比較して、その面積を削減することができる。
At this time, the probability that the static electricity is discharged to the detection region 8B is increased according to the area of the detection region 8B. Therefore, it is desirable that the area of the detection region 8B is small.
In the present embodiment, since the detection elements 1B of the detection region 8B are arranged in a band shape, when the perimeter of the detection region 8B is constant, the conventional square detection region 8B as shown in FIGS. In comparison, the area can be reduced.

図3は、検出領域の形状と周囲長との比較を示す説明図である。本実施の形態の検出領域8Bのような帯形状(矩形状)の場合、その長さをLとし、幅をWとした場合、帯形状の周囲長は(L+W)×2となり、その面積はL×Wとなる。一方、同一周囲長で正方形を形成した場合、一辺の長さが(L+W)/2となり、正方形の面積は(L+W)2/4となる。したがって、L>Wの場合には、正方形に比較して帯形状の面積の方が必ず小さくなり、このことは、簡単な算術過程により確認することができる。 FIG. 3 is an explanatory diagram showing a comparison between the shape of the detection region and the perimeter. In the case of a band shape (rectangular shape) like the detection region 8B of the present embodiment, when the length is L and the width is W, the peripheral length of the band shape is (L + W) × 2, and the area is L × W. On the other hand, when forming a square in the same circumferential length, becomes a side length of (L + W) / 2, the area of the square becomes (L + W) 2/4 . Therefore, when L> W, the area of the band shape is always smaller than that of the square, and this can be confirmed by a simple arithmetic process.

図4は、アスペクト比と面積率との関係を示すグラフであり、横軸が、矩形状の長さLと幅Wのアスペクト比L/Wを示し、縦軸が、正方形(L=W)の面積に対する割合を示している。
矩形状の周囲長が一定、すなわち帯形状の長さLと幅Wの和が一定であることを条件とした場合、正方形の場合の面積が最も大きく、アスペクト比の増加に応じてその面積が小さくなることがわかる。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the aspect ratio and the area ratio, where the horizontal axis indicates the aspect ratio L / W of the rectangular length L and width W, and the vertical axis indicates a square (L = W). The ratio with respect to the area is shown.
When the circumference of the rectangular shape is constant, that is, on condition that the sum of the length L and the width W of the belt shape is constant, the area in the case of a square is the largest, and the area increases as the aspect ratio increases. It turns out that it becomes small.

このように、本実施の形態は、検出部1を、検出面8に接触した被検体9を応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子1Bが帯状に配置された検出領域8Bと、検出面8に接触した被検体9を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子1Aが検出領域8Bを取り囲むように配置された固定電位領域8Aと、検出領域8Bと固定電位領域8Aの間に設けられ、検出領域8Bと固定電位領域8Aを電気的に分離する分離領域8Cとから構成したので、検出領域8Bの周囲長を維持しつつ、その面積を削減することができる。   As described above, in the present embodiment, the detection unit 1 includes a detection region 8B in which a plurality of detection elements 1B that electrically connect the subject 9 in contact with the detection surface 8 to the response signal generation unit are arranged in a band shape. A fixed potential region 8A in which a plurality of detection elements 1A that electrically connect the subject 9 in contact with the detection surface 8 to a predetermined fixed potential are arranged so as to surround the detection region 8B, and the detection region 8B and the fixed potential region Since the detection region 8B is provided between the detection region 8B and the separation region 8C that electrically separates the fixed potential region 8A, the area of the detection region 8B can be reduced while maintaining the peripheral length.

したがって、検出領域8Bの周囲長を短縮することなく、被検体9に帯電した静電気が検出領域8Bへ放電する確率を低減でき、被検体のインピーダンスを精度よく検出できるとともに、被検体9に帯電した静電気の放電による故障を抑制できる。
また、本実施の形態では、検出領域8Bの具体例として矩形状を示したが、例えば矩形状に特有の対向片の平行性や辺の直交性など性質を持つ形状に限定されるものではなく、任意の長手方向へ帯状に伸延している形状であればいずれでもよく、検出領域8B全体が湾曲していてもよい。
Therefore, the probability that static electricity charged in the subject 9 is discharged to the detection region 8B can be reduced without shortening the perimeter of the detection region 8B, the impedance of the subject can be accurately detected, and the subject 9 is charged. Failures due to electrostatic discharge can be suppressed.
In the present embodiment, a rectangular shape is shown as a specific example of the detection region 8B. However, the shape is not limited to a shape having properties such as parallelism of opposing pieces and orthogonality of sides, which are characteristic of the rectangular shape. Any shape may be used as long as it extends in a strip shape in an arbitrary longitudinal direction, and the entire detection region 8B may be curved.

[第2の実施の形態]
次に、図5を参照して、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図5は、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Second Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが全体として、複数の帯状領域が当該帯状領域の端部で接合された形状をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the detection region 8B as a whole has a shape in which a plurality of band-like regions are joined at the ends of the band-like regions. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図5に示すように、十字状に接合された帯状領域81,82,83,84から構成されている。これら帯状領域81,82,83,84には、それぞれの複数の検出素子1Bが帯状に配置されており、帯状領域81の端部Tに対して各帯状領域82,83,84がそれぞれの端部で接合されている。したがって、これら接合された帯状領域82,83,84により、検出領域8B全体の周囲長が延長される。   As shown in FIG. 5, the detection region 8B according to the present embodiment is composed of strip-shaped regions 81, 82, 83, and 84 joined in a cross shape. In these band-like regions 81, 82, 83, and 84, a plurality of detection elements 1 </ b> B are arranged in a band shape. Are joined together. Therefore, the peripheral length of the entire detection region 8B is extended by the joined strip regions 82, 83, and 84.

このように、本実施の形態では、全体として、検出素子が配置された複数の帯状領域が当該帯状領域の端部で接合された形状をなすように、検出領域8Bを形成したので、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。特に、検出領域8Bの長手方向の長さは、被検体9や検出面8の大きさに基づき制限されるため、図2のように1つの帯状領域からなる検出領域8Bで得られる周囲長には限界がある。本実施の形態のように、複数の帯状領域を端部で接合することにより、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。   As described above, in the present embodiment, the detection region 8B is formed so that the plurality of belt-like regions where the detection elements are arranged are joined at the ends of the belt-like region as a whole. The perimeter of the entire 8B can be easily extended. In particular, since the length in the longitudinal direction of the detection region 8B is limited based on the size of the subject 9 and the detection surface 8, the peripheral length obtained in the detection region 8B composed of one band-like region as shown in FIG. There are limits. As in the present embodiment, the peripheral length of the entire detection region 8B can be easily extended by joining a plurality of band-like regions at the ends.

また、本実施の形態では、帯状領域81,82,83,84を十字状に接合して検出領域8Bを構成したので、例えば帯状領域81,83の長手方向だけでなく、これに直交する帯状領域82,84の長手方向に対しても、載置位置のズレによる被検体9と検出電極12A,12Bとの接触不良を低減することができ、載置位置のズレによるインピーダンス検出誤差を抑制できる。   In the present embodiment, since the band-shaped areas 81, 82, 83, and 84 are joined in a cross shape to form the detection area 8B, for example, not only the longitudinal direction of the band-shaped areas 81 and 83 but also the band-shaped areas that are orthogonal thereto. Also in the longitudinal direction of the regions 82 and 84, the contact failure between the subject 9 and the detection electrodes 12A and 12B due to the displacement of the placement position can be reduced, and the impedance detection error due to the displacement of the placement position can be suppressed. .

[第3の実施の形態]
次に、図6を参照して、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図6は、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Third Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 3rd Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが全体として、検出素子が配置された帯状領域が分岐点で複数に分岐した形状をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the detection region 8B as a whole has a shape in which a belt-like region in which detection elements are arranged branches at a branch point. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図6に示すように、帯状領域81が分岐点Bで複数の帯状領域82,83へここではY字状に分岐した形状をなしている。これら帯状領域82,83にもそれぞれの複数の検出素子1Bが帯状に配置されている。したがって、これら分岐した帯状領域82,83により、検出領域8B全体の周囲長が延長される。   As shown in FIG. 6, the detection region 8B according to the present embodiment has a shape in which a belt-like region 81 branches into a plurality of belt-like regions 82 and 83 at a branch point B in a Y shape. A plurality of detection elements 1B are also arranged in the belt-like regions 82 and 83 in a belt-like manner. Therefore, the peripheral length of the entire detection region 8B is extended by the branched strip regions 82 and 83.

このように、本実施の形態では、全体として、検出素子が配置された帯状領域81が分岐点Bで複数に分岐した形状をなすように、検出領域8Bを形成したので、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。特に、検出領域8Bの長手方向の長さは、被検体9や検出面8の大きさに基づき制限されるため、図2のように1つの帯状領域からなる検出領域8Bで得られる周囲長には限界がある。本実施の形態のように、帯状領域81を分岐点Bで分岐させることにより、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。   As described above, in the present embodiment, the detection region 8B is formed so that the belt-like region 81 in which the detection elements are arranged is branched into a plurality at the branch point B as a whole. The perimeter can be easily extended. In particular, since the length in the longitudinal direction of the detection region 8B is limited based on the size of the subject 9 and the detection surface 8, the peripheral length obtained in the detection region 8B composed of one band-like region as shown in FIG. There are limits. As in the present embodiment, the perimeter of the entire detection region 8B can be easily extended by branching the strip region 81 at the branch point B.

また、本実施の形態では、帯状領域81をY字状に分岐して検出領域8Bを構成したので、例えば帯状領域81の長手方向だけでなく、ここから分岐した帯状領域82,83の分岐方向に対しても、載置位置のズレによる被検体9と検出電極12A,12Bとの接触不良を低減することができ、載置位置のズレによるインピーダンス検出誤差を抑制できる。なお、帯状領域82,83の分岐Y字状に限定されることはなく、例えばT字状など任意の方向に分岐してもよい。   Further, in the present embodiment, the detection region 8B is configured by branching the belt-like region 81 in a Y shape. In contrast, the contact failure between the subject 9 and the detection electrodes 12A and 12B due to the displacement of the mounting position can be reduced, and the impedance detection error due to the displacement of the mounting position can be suppressed. In addition, it is not limited to the branch Y shape of the strip | belt-shaped area | regions 82 and 83, For example, you may branch in arbitrary directions, such as T shape.

[第4の実施の形態]
次に、図7を参照して、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図7は、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Fourth Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 7: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 4th Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが全体として、検出素子が配置された帯状領域が屈曲点で折れ曲がった形状をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the detection region 8B as a whole has a shape in which a belt-like region in which detection elements are arranged is bent at a bending point. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図7に示すように、帯状領域81が屈曲点Cでそれぞれ帯状領域82,83へここではコの字状に折れ曲がった形状をなしている。これら帯状領域82,83にもそれぞれの複数の検出素子1Bが帯状に配置されている。したがって、これら折れ曲がった帯状領域82,83により、検出領域8B全体の周囲長が延長される。   As shown in FIG. 7, the detection region 8B according to the present embodiment has a shape in which the belt-like region 81 is bent at the bending point C into the belt-like regions 82 and 83, respectively, in a U-shape. A plurality of detection elements 1B are also arranged in the belt-like regions 82 and 83 in a belt-like manner. Therefore, the peripheral length of the entire detection region 8B is extended by the bent strip regions 82 and 83.

このように、本実施の形態では、全体として、検出素子が配置された帯状領域81が屈曲点Cで帯状領域82,83へ折れ曲がった形状をなすように、検出領域8Bを形成したので、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。特に、検出領域8Bの長手方向の長さは、被検体9や検出面8の大きさに基づき制限されるため、図2のように1つの帯状領域からなる検出領域8Bで得られる周囲長には限界がある。本実施の形態のように、帯状領域81を屈曲点Cで折り曲げることにより、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。   Thus, in the present embodiment, since the detection region 8B is formed so that the belt-like region 81 in which the detection element is arranged is bent to the belt-like regions 82 and 83 at the bending point C as a whole, detection is performed. The perimeter of the entire region 8B can be easily extended. In particular, since the length in the longitudinal direction of the detection region 8B is limited based on the size of the subject 9 and the detection surface 8, the peripheral length obtained in the detection region 8B composed of one band-like region as shown in FIG. There are limits. As in the present embodiment, the perimeter of the entire detection region 8B can be easily extended by bending the belt-like region 81 at the bending point C.

また、本実施の形態では、帯状領域81の両端の屈曲点Cでコの字状に折り曲げて検出領域8Bを構成したので、例えば帯状領域81の長手方向だけでなく、ここから折り曲げた帯状領域82,83の分岐方向に対しても、載置位置のズレによる被検体9と検出電極12A,12Bとの接触不良を低減することができ、載置位置のズレによるインピーダンス検出誤差を抑制できる。また、コの字に折り曲げることにより、被検体9や検出面8の大きさという限られた面積の中に効率よく検出領域8Bを構成することができ、検出領域8B全体の周囲長を極めて効率よく延長することができる。なお、本実施の形態では、コの字形状を例として説明したが、折り曲げ方法についてはコの字に限定されるものではなく、例えばW字状など任意の方法で折り曲げてもよく、折り曲げ回数を増やして波形状や渦巻き形状にしてもよい。   Further, in the present embodiment, the detection region 8B is configured by being bent in a U-shape at the bending points C at both ends of the belt-like region 81. Therefore, for example, not only the longitudinal direction of the belt-like region 81 but also the belt-like region folded from here The contact failure between the subject 9 and the detection electrodes 12A and 12B due to the displacement of the placement position can be reduced also in the branch direction of 82 and 83, and the impedance detection error due to the displacement of the placement position can be suppressed. In addition, by bending the U-shape, the detection region 8B can be efficiently configured in a limited area such as the size of the subject 9 and the detection surface 8, and the entire perimeter of the detection region 8B is extremely efficient. Can be extended well. In this embodiment, a U-shape is described as an example. However, the folding method is not limited to a U-shape, and may be folded by an arbitrary method such as a W-shape. May be increased to a wave shape or a spiral shape.

[第5の実施の形態]
次に、図8を参照して、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図8は、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Fifth Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 8: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 5th Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが全体として環状をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the detection region 8B has a ring shape as a whole. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図8に示すように、帯状の検出領域8Bの両端部が接合された環状ここでは矩形環状をなしている。この環状の検出領域8Bには全体にわたって複数の検出素子1Bが配置されている。また、検出領域8Bの中央には検出素子1Bに代えて検出素子1Bが配置された固定電位領域8Aが設けられており、この固定電位領域8Aと検出領域8Bの間に分離領域8Cが設けられている。これにより、検出領域8B全体の周囲長が延長される。   As shown in FIG. 8, the detection region 8B according to the present embodiment has an annular shape in which both ends of the band-shaped detection region 8B are joined, and here, a rectangular shape. In the annular detection region 8B, a plurality of detection elements 1B are arranged throughout. In addition, a fixed potential region 8A in which the detection element 1B is arranged instead of the detection element 1B is provided in the center of the detection region 8B, and a separation region 8C is provided between the fixed potential region 8A and the detection region 8B. ing. Thereby, the perimeter of the whole detection area 8B is extended.

このように、本実施の形態では、全体として環状をなすように検出領域8Bを形成したので、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。特に、検出領域8Bの長手方向の長さは、被検体9や検出面8の大きさに基づき制限されるため、図2のように1つの帯状領域からなる検出領域8Bで得られる周囲長には限界がある。本実施の形態のように、環状形状とすることにより、検出領域8B全体の周囲長を容易に延長することができる。   Thus, in this embodiment, since the detection region 8B is formed so as to form a ring as a whole, the perimeter of the entire detection region 8B can be easily extended. In particular, since the length in the longitudinal direction of the detection region 8B is limited based on the size of the subject 9 and the detection surface 8, the peripheral length obtained in the detection region 8B composed of one band-like region as shown in FIG. There are limits. As in the present embodiment, the circumferential length of the entire detection region 8B can be easily extended by adopting an annular shape.

また、本実施の形態によれば、全体として環状をなすように検出領域8Bを形成したので、検出領域8Bの中央に固定電位領域8Aを設けることができる。これにより、載置時に検出面8に対して接近してくる被検体9と最も距離が近い位置に固定電位領域8Aが設けられているため、被検体9に帯電している静電気が固定電位領域8Aへ放電しやすくなる。したがって、検出領域8Bへの放電確率を低減でき、回路の破壊を抑制することができる。   In addition, according to the present embodiment, since the detection region 8B is formed so as to form an annular shape as a whole, the fixed potential region 8A can be provided in the center of the detection region 8B. Thereby, since the fixed potential region 8A is provided at a position closest to the subject 9 approaching the detection surface 8 at the time of placement, static electricity charged in the subject 9 is fixed potential region. It becomes easy to discharge to 8A. Therefore, the probability of discharge to the detection region 8B can be reduced, and circuit breakdown can be suppressed.

[第6の実施の形態]
次に、図9を参照して、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図9は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Sixth Embodiment]
Next, with reference to FIG. 9, the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 9: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bの角部が湾曲形状をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the corners of the detection region 8B are curved. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図9に示すように、検出領域8Bの角部が湾曲形状をなしている。一般に、静電気は鋭利な部分に放電しやすい特性を有している。したがって、検出領域8Bの鋭利な角部を滑らかな湾曲形状をなしているため、被検体9に帯電している静電気が検出領域8Bへ放電しにくくなる。   In the detection region 8B according to the present embodiment, as shown in FIG. 9, the corners of the detection region 8B have a curved shape. In general, static electricity has a characteristic of being easily discharged to a sharp portion. Therefore, since the sharp corners of the detection region 8B have a smooth curved shape, static electricity charged on the subject 9 is difficult to be discharged to the detection region 8B.

このように、本実施の形態は、角部が湾曲形状をなすように検出領域8Bを形成したので、被検体9に帯電している静電気が検出領域8Bへ放電しにくくなり、この放電による回路の破壊を抑制することができる。   Thus, in this embodiment, since the detection region 8B is formed so that the corners are curved, static electricity charged in the subject 9 is difficult to be discharged to the detection region 8B, and a circuit by this discharge Can be prevented from breaking.

なお、本実施の形態では、図9に示したように、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明したが、これに限定されるものではなく、他の形状の検出領域8Bにも適用できる。
図10は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。ここでは、図8の環状の検出領域8Bに対して本実施の形態を適用した例が示されており、図9と同様の作用効果が得られる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the detection region 8B has been described as an example of a single band-like region. However, the present invention is not limited to this, and other shapes may be used. It can also be applied to the detection region 8B.
FIG. 10: is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. Here, an example in which the present embodiment is applied to the annular detection region 8B of FIG. 8 is shown, and the same effect as that of FIG. 9 is obtained.

また、湾曲の度合いについても、任意に選択すればよい。図11は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。ここでは、図8の環状の検出領域8Bに対して本実施の形態を適用した例が示されており、図10に比較して湾曲の度合いを大きくしたので、検出領域8B全体が楕円形をなしている。この場合も図9と同様の作用効果が得られる。   Moreover, what is necessary is just to select arbitrarily also about the degree of curvature. FIG. 11: is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. Here, an example in which the present embodiment is applied to the annular detection region 8B of FIG. 8 is shown, and the degree of curvature is increased as compared to FIG. 10, so that the entire detection region 8B has an oval shape. There is no. In this case, the same effect as that of FIG. 9 can be obtained.

[第7の実施の形態]
次に、図12および図13を参照して、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図12は、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図であり、横方向に伸延する指紋に対して検出領域8Bが接触している例が示されている。図13は、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図であり、縦方向に伸延する指紋に対して検出領域8Bが接触している例が示されている。
[Seventh Embodiment]
Next, with reference to FIG. 12 and FIG. 13, an impedance detection apparatus according to a seventh embodiment of the present invention will be described. FIG. 12 is a front view showing a detection unit of the impedance detection device according to the seventh exemplary embodiment of the present invention, in which an example in which the detection region 8B is in contact with a laterally extending fingerprint is shown. Yes. FIG. 13: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention, and the example which the detection area 8B is contacting with the fingerprint extended in the vertical direction is shown Yes.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが互いに直交する検出面上の2つの軸に対して対称をなす場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In the present embodiment, a case will be described in which the detection region 8B is symmetric with respect to two axes on a detection surface orthogonal to each other. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、検出領域8Bが検出面8上で互いに直交する2つの軸X,Yに対して対称な形状、ここでは帯状領域81〜84からなる十字状をなしている。
このような形状の検出領域8Bを用いた場合、図12のように、軸Xに対して指紋隆線9Aおよび指紋谷線9Bがほぼ平行している場合には、これらと直交する帯状領域81,83と指紋隆線9Aが接触領域85,86で電気的に接触する。一方、図13のように、軸Yに対して指紋隆線9Aおよび指紋谷線9Bがほぼ平行している場合には、これらと直交する帯状領域82,84と指紋隆線9Aが接触領域87,88で電気的に接触する。
The detection area 8B according to the present embodiment has a shape that the detection area 8B is symmetrical with respect to two axes X and Y orthogonal to each other on the detection surface 8, in this case, a cross shape composed of band-shaped areas 81 to 84. Yes.
When the detection region 8B having such a shape is used, when the fingerprint ridge 9A and the fingerprint valley 9B are substantially parallel to the axis X as shown in FIG. 83 and the fingerprint ridge 9A are in electrical contact with each other in the contact areas 85 and 86. On the other hand, as shown in FIG. 13, when the fingerprint ridge 9A and the fingerprint valley 9B are substantially parallel to the axis Y, the band-like regions 82 and 84 and the fingerprint ridge 9A perpendicular to them are in contact regions 87. , 88 make electrical contact.

このように、本実施の形態は、全体として、互いに直交する検出面上の2つの軸に対して対称をなすように、検出領域8Bをしたので、検出面8上に載置された被検体9の凹凸方向、例えば指紋の隆線・谷線方向が変化しても、被検体9と検出領域8Bとの接触面積の変化を抑制することができる。したがって、確実に被検体9と検出領域8Bとを接触させることができ、被検体9の凹凸に起因するインピーダンス検出誤差を抑制できる。   Thus, in the present embodiment, the detection region 8B is formed so as to be symmetric with respect to two axes on the detection surface orthogonal to each other as a whole, so that the subject placed on the detection surface 8 is Even if the concavo-convex direction of 9 changes, for example, the ridge / valley direction of the fingerprint, the change in the contact area between the subject 9 and the detection region 8B can be suppressed. Accordingly, the subject 9 and the detection region 8B can be reliably brought into contact with each other, and impedance detection errors caused by the unevenness of the subject 9 can be suppressed.

なお、本実施の形態では、図12,13に示したように、検出領域8Bが十字状をなす場合を例として説明したが、これに限定されるものではなく、例えば図8,10,11のように、検出面8上で互いに直交する2つの軸X,Yに対して対称な形状であれば、他の形状であっても同様の作用効果が得られる。   In the present embodiment, as shown in FIGS. 12 and 13, the case where the detection region 8 </ b> B has a cross shape has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and for example, FIGS. As described above, if the shape is symmetrical with respect to the two axes X and Y that are orthogonal to each other on the detection surface 8, similar effects can be obtained even with other shapes.

[第8の実施の形態]
次に、図14を参照して、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図14は、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
[Eighth Embodiment]
Next, with reference to FIG. 14, an impedance detection apparatus according to an eighth embodiment of the present invention will be described. FIG. 14: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention.

第1の実施の形態では、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明した。本実施の形態では、検出領域8Bが、指紋の平均的な最小谷線幅W1、指紋の平均的な最大谷線幅W2、および指紋の平均的な最大隆線幅W3を基準として、その長手方向にW1より大きくW2×2+W3以下の長さを有する場合について説明する。なお、本実施の形態のインピーダンス検出装置100における他の構成については、第1の実施の形態と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。 In the first embodiment, the case where the detection region 8B is composed of one band-like region has been described as an example. In this embodiment, the detection region. 8B, the average minimum valley line width W 1 of the fingerprint, the average maximum valley line width W 2 of the fingerprint, and the average maximum ridge width W 3 of the fingerprint as a reference A case where the length is longer than W 1 and W 2 × 2 + W 3 or less will be described. In addition, about the other structure in the impedance detection apparatus 100 of this Embodiment, it is the same as that of 1st Embodiment, and detailed description here is abbreviate | omitted.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図14に示すように、指紋の平均的な最小谷線幅W1、指紋の平均的な最大谷線幅W2、および指紋の平均的な最大隆線幅W3を基準として、その長手方向にW1より大きくW2×2+W3以下の長さLを有している。
一般に、指紋隆線9Aおよび指紋谷線9Bの幅にはある程度ばらつきがあり、指紋隆線9Aおよび指紋谷線9Bとも平均的な最小幅(W1)は300μm程度であり、平均的な最大幅(W2,W3)は600μm程度と云われている。
As shown in FIG. 14, the detection region 8B according to the present embodiment includes an average minimum valley line width W 1 of the fingerprint, an average maximum valley line width W 2 of the fingerprint, and an average maximum peak of the fingerprint. With reference to the line width W 3 , the length L is greater than W 1 and less than or equal to W 2 × 2 + W 3 in the longitudinal direction.
In general, the widths of the fingerprint ridge 9A and the fingerprint valley 9B vary to some extent, and the average minimum width (W 1 ) of both the fingerprint ridge 9A and the fingerprint valley 9B is about 300 μm. (W 2 , W 3 ) is said to be about 600 μm.

この際、検出領域8Bの長手方向の長さLを最低W1(300μm)とすることにより、最低でも指紋谷線9Bを跨いでこの指紋谷線9Bのいずれか一方に隣接する指紋隆線9Aと検出領域8Bを接触させることができる。また、検出領域8Bの長手方向の長さLをW2×2+W3(1800μm)とすることにより、最低でも1本分の指紋隆線9Aと検出領域8Bを接触させることができる。したがって、検出領域8Bの長手方向の長さLを、W1<L≦W2×2+W3とすればよいことがわかる。 At this time, by setting the length L in the longitudinal direction of the detection region 8B to the minimum W 1 (300 μm), the fingerprint ridge 9A that straddles at least the fingerprint valley 9B and is adjacent to one of the fingerprint valleys 9B. And the detection region 8B can be brought into contact with each other. Further, by setting the length L in the longitudinal direction of the detection region 8B to W 2 × 2 + W 3 (1800 μm), at least one fingerprint ridge 9A and the detection region 8B can be brought into contact with each other. Therefore, it can be seen that the length L in the longitudinal direction of the detection region 8B may be W 1 <L ≦ W 2 × 2 + W 3 .

このように、本実施の形態では、指紋の平均的な最小谷線幅W1、指紋の平均的な最大谷線幅W2、および指紋の平均的な最大隆線幅W3を基準として、長手方向にW1より大きくW2×2+W3以下の長さLで、検出領域8Bを形成したので、極めて小さい検出領域8Bで、被検体9と検出領域8Bを電気的に接触させることができる。したがって、検出領域8Bの面積を極めて小さく縮小することができるため、被検体9に帯電している静電気が検出領域8Bへ放電しにくくなり、この放電による回路の破壊を抑制することができる。 Thus, in the present embodiment, the average minimum valley line width W 1 of the fingerprint, the average maximum valley line width W 2 of the fingerprint, and the average maximum ridge width W 3 of the fingerprint as a reference, Since the detection region 8B is formed with a length L that is greater than W 1 and less than or equal to W 2 × 2 + W 3 in the longitudinal direction, the subject 9 and the detection region 8B can be brought into electrical contact with each other with a very small detection region 8B. . Therefore, since the area of the detection region 8B can be reduced to an extremely small size, static electricity charged on the subject 9 is difficult to be discharged to the detection region 8B, and circuit breakdown due to this discharge can be suppressed.

なお、本実施の形態では、図14に示すように、検出領域8Bが1つの帯状領域から構成されている場合を例として説明したが、これに限定されるものではなく、例えば前述した各実施の形態における十字状や環状など、他の形状の検出領域8Bにも適用できる。
図15は、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。ここでは、図11の環状の検出領域8Bに対して本実施の形態を適用した例が示されており、楕円形をなす検出領域8Bの長手方向(長軸方向)の長さに上記の長さLを適用すれば、図14と同様の作用効果が得られる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 14, the case where the detection region 8B is configured by one band-like region has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. The present invention can also be applied to detection regions 8B having other shapes such as a cross shape or an annular shape.
FIG. 15: is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention. Here, an example in which the present embodiment is applied to the annular detection region 8B of FIG. 11 is shown, and the length in the longitudinal direction (major axis direction) of the elliptical detection region 8B is the length described above. If the length L is applied, the same effect as in FIG. 14 can be obtained.

また、図12のような、検出面8上で互いに直交する2つの軸X,Yに対して対称な形状をなす検出領域8Bに対しては、帯状領域81,83に沿った方向の長さと、帯状領域82,84に沿った方向の長さに対して、上記Lを適用してもよい。これにより、指紋隆線9Aおよび指紋谷線9Bの方向と検出領域8Bの方向が変化した場合でも、極めて小さい検出領域8Bで、被検体9と検出領域8Bを電気的に接触させることができ、図14と同様の作用効果が得られる。
また、本実施の形態では、検出領域8Bの長さLについて、1本分の指紋隆線9Aを基準とした例について説明したがこれに限定されるものではなく、例えば3本分など、数本分の指紋隆線9Aを基準として長さLを決定してもよい。これにより、被検体9と検出領域8Bとの安定した電気的接触を得ることができる。
For the detection region 8B having a symmetrical shape with respect to the two axes X and Y orthogonal to each other on the detection surface 8 as shown in FIG. 12, the length in the direction along the strip regions 81 and 83 is set. The above L may be applied to the length in the direction along the strip regions 82 and 84. Thereby, even when the direction of the fingerprint ridge 9A and the fingerprint valley line 9B and the direction of the detection region 8B are changed, the subject 9 and the detection region 8B can be brought into electrical contact with the extremely small detection region 8B. The same effect as FIG. 14 is obtained.
Further, in the present embodiment, the example in which the length L of the detection region 8B is based on the fingerprint ridge 9A for one line has been described, but the present invention is not limited to this. The length L may be determined on the basis of the fingerprint ridge 9A. Thereby, stable electrical contact between the subject 9 and the detection region 8B can be obtained.

[第9の実施の形態]
次に、図16を参照して、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図16は、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。
本実施の形態は、インピーダンス検出装置100の検出部1において、検出領域8Bが、被検体9と電気的に接触する各検出素子1Bの検出電極12Bがそれぞれ環形状をなし、これら検出電極12Bがアレイ状に配置された構成を有する場合について説明する。
[Ninth Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a ninth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 16: is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention.
In the present embodiment, in the detection unit 1 of the impedance detection apparatus 100, the detection region 8B has a ring shape in each of the detection electrodes 12B of the detection elements 1B that are in electrical contact with the subject 9, and the detection electrodes 12B A case of having a configuration arranged in an array will be described.

本実施の形態にかかる検出領域8Bは、図16に示すように、各検出素子1Bの検出電極12Bが、それぞれ環形状をなしており、これら検出電極12Bがアレイ状に配置されている。特に、図16の例では、検出電極12Bが矩形(正方形)環形状をなし、隣接する検出電極12B同士が電気的に接続されて検出電極12Bがアレイ状ここでは格子状に配置されている。このため、検出領域8Bは網目状となり、結果として検出領域8Bの面積を削減することができる。   In the detection region 8B according to the present embodiment, as shown in FIG. 16, the detection electrodes 12B of the detection elements 1B each have an annular shape, and the detection electrodes 12B are arranged in an array. In particular, in the example of FIG. 16, the detection electrodes 12B have a rectangular (square) ring shape, and the adjacent detection electrodes 12B are electrically connected to each other, and the detection electrodes 12B are arranged in an array form, in this case, in a lattice form. For this reason, the detection region 8B has a mesh shape, and as a result, the area of the detection region 8B can be reduced.

このように、本実施の形態では、検出領域8Bが、被検体9と電気的に接触する各検出素子1Bの検出電極12Bがそれぞれ環形状をなし、これら検出電極12Bがアレイ状に配置された構成を有するようにしたので、検出領域8Bの面積を削減することができる。したがって、検出領域8Bへの放電確率を低減でき、回路の破壊を抑制することができる。   As described above, in the present embodiment, the detection region 8B is configured such that the detection electrodes 12B of the detection elements 1B that are in electrical contact with the subject 9 have an annular shape, and the detection electrodes 12B are arranged in an array. Since it has the configuration, the area of the detection region 8B can be reduced. Therefore, the probability of discharge to the detection region 8B can be reduced, and circuit breakdown can be suppressed.

また、環形状をなす検出電極12Bの中央にできた空間に、被検体9の表面形状の凹凸に応じて変化する容量成分を検出するための検出電極を配置することができるため、インピーダンス検出装置と表面形状認識センサ装置で検出部1を共用でき、これら装置を容易に一体化することができる。この場合、固定電位領域8Aや分離領域8Cにおいても、同様に格子状の検出電極を設けて固定電位へ接続することにより、検出面8の全域にわたって容量成分検出用の検出電極を格子の中央空間へ配置することができ、検出面8の全域で表面形状を検出することができる。   In addition, since the detection electrode for detecting the capacitance component that changes according to the unevenness of the surface shape of the subject 9 can be arranged in the space formed in the center of the detection electrode 12B having the ring shape, the impedance detection device The surface shape recognition sensor device can share the detection unit 1, and these devices can be easily integrated. In this case, also in the fixed potential region 8A and the separation region 8C, similarly, the detection electrode for detecting the capacitive component is provided in the central space of the lattice over the entire detection surface 8 by providing a grid-like detection electrode and connecting it to the fixed potential. The surface shape can be detected over the entire detection surface 8.

なお、本実施の形態では、図16に示したように、検出領域8Bが全体として十字状をなす場合を例として説明したが、これに限定されるものではなく、他の形状の検出領域8Bにも適用できる。
図17は、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。ここでは、全体として環状(円形環状)をなす検出領域8Bに対して本実施の形態を適用した例が示されており、図16と同様の作用効果が得られる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 16, the detection region 8B has a cross shape as a whole. However, the present invention is not limited to this, and the detection region 8B has another shape. It can also be applied to.
FIG. 17: is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. Here, an example in which the present embodiment is applied to a detection region 8B that forms a ring shape (circular ring shape) as a whole is shown, and the same effects as in FIG. 16 can be obtained.

[第10の実施の形態]
次に、図18を参照して、本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置について説明する。図18は、本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置の構成を示すブロック図である。
[Tenth embodiment]
Next, with reference to FIG. 18, a biometric recognition apparatus and a fingerprint recognition apparatus according to the tenth embodiment of the present invention will be described. FIG. 18 is a block diagram showing configurations of the biometric recognition apparatus and the fingerprint recognition apparatus according to the tenth embodiment of the present invention.

生体認識装置110は、被検体9が生体か否かを認識する装置であり、インピーダンス検出装置100と生体認識部101とから構成されている。
インピーダンス検出装置100は、本発明の第1〜第9の実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置から構成されており、被検体9に対して所定の印加信号を印加し、被検体9に流れる電流に基づいて被検体のインピーダンス情報1Zを検出し、当該インピーダンスに応じた波形情報を有する検出信号4Sを出力する機能を有している。
The biological recognition device 110 is a device that recognizes whether or not the subject 9 is a living body, and includes an impedance detection device 100 and a biological recognition unit 101.
The impedance detection device 100 is configured by any one of the impedance detection devices described in the first to ninth embodiments of the present invention, and applies a predetermined application signal to the subject 9, and the subject 9 The impedance information 1Z of the subject is detected based on the current flowing through the sensor, and a detection signal 4S having waveform information corresponding to the impedance is output.

生体認識部101は、検出部1を介してインピーダンス検出装置100から得た検出信号4Sの波形情報が、正当な生体のインピーダンス特性を示す基準範囲にあるか否かを判定することにより、被検体9に対する生体か否かの認識判定を行い、被検体9に対する生体認識結果110Sを出力する機能を有している。この生体認証部112は、専用の回路から構成してもよく、CPUなどの演算処理部を用いて構成してもよい。
このように、インピーダンス検出装置100として本発明の各実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を用いているため、被検体9に帯電した静電気の放電による回路故障を抑制できるとともに、被検体のインピーダンスを精度よく検出でき、被検体に対する生体認識精度とその信頼性を高めることができる。
The biological recognition unit 101 determines whether or not the waveform information of the detection signal 4S obtained from the impedance detection device 100 via the detection unit 1 is within a reference range indicating the legitimate biological impedance characteristics. 9 has a function of determining whether or not it is a living body and outputting a living body recognition result 110S for the subject 9. The biometric authentication unit 112 may be configured from a dedicated circuit or may be configured using an arithmetic processing unit such as a CPU.
As described above, since any one of the impedance detection devices described in the embodiments of the present invention is used as the impedance detection device 100, it is possible to suppress a circuit failure due to electrostatic discharge charged in the subject 9, and to Can be detected with high accuracy, and the biological recognition accuracy and reliability of the subject can be improved.

指紋認識装置120は、指からなる被検体9から検出した表面形状情報1Pに基づいて、利用者の本人認証を行う装置であり、生体認識装置110、指紋検出装置111、指紋認証部112、および認証判定部113から構成されている。
生体認識装置110は、前述のとおり、本発明の第1〜第11の実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を用いて、被検体9が生体か否かを認識する機能を有している。
The fingerprint recognition device 120 is a device that performs user authentication based on the surface shape information 1P detected from the subject 9 made of a finger. The biometric recognition device 110, the fingerprint detection device 111, the fingerprint authentication unit 112, and The authentication determination unit 113 is configured.
As described above, the living body recognition apparatus 110 has a function of recognizing whether the subject 9 is a living body using any one of the impedance detection apparatuses described in the first to eleventh embodiments of the present invention. ing.

指紋検出装置111は、検出部1を介して被検体9から得た指紋の凹凸を示す表面形状情報1Pに応じた指紋データ111Sを検出する機能を有している。
指紋認証部112は、指紋検出装置111から出力された指紋データ111Sと予め登録しておいた正当な指紋を示す照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う機能を有している。
認証判定部113は、生体認識装置110から出力された生体認識結果110Sと指紋認証部112から出力された指紋認証結果112Sとに基づいて利用者の指紋認証成否を判定し、判定結果120Sを出力する機能を有している。
これら指紋検出装置111、指紋認証部112、および認証判定部113は、専用の回路から構成してもよく、CPUなどの演算処理部を用いて構成してもよい。
The fingerprint detection device 111 has a function of detecting fingerprint data 111S corresponding to the surface shape information 1P indicating the unevenness of the fingerprint obtained from the subject 9 via the detection unit 1.
The fingerprint authentication unit 112 compares the fingerprint data 111S output from the fingerprint detection device 111 with verification data indicating a valid fingerprint registered in advance, and performs user fingerprint authentication based on the verification result have.
The authentication determination unit 113 determines whether the user has succeeded in fingerprint authentication based on the biometric recognition result 110S output from the biometric recognition device 110 and the fingerprint authentication result 112S output from the fingerprint authentication unit 112, and outputs the determination result 120S. It has a function to do.
The fingerprint detection device 111, the fingerprint authentication unit 112, and the authentication determination unit 113 may be configured by a dedicated circuit or may be configured by using an arithmetic processing unit such as a CPU.

このように、インピーダンス検出装置100として本発明の各実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を利用した生体認識装置110を用いているため、被検体9に帯電した静電気の放電による回路故障を抑制できるとともに、被検体のインピーダンスを精度よく検出できる。したがって、高い信頼性と精度で利用者本人の指紋認証を行うことができ、このような指紋認証装置を個人認識システムに搭載すれば、システム全体のセキュリティ性能と信頼性能を高めることができる。   As described above, since the biometric recognition device 110 using any one of the impedance detection devices described in the embodiments of the present invention is used as the impedance detection device 100, a circuit failure due to electrostatic discharge charged in the subject 9 is caused. And the impedance of the subject can be detected with high accuracy. Accordingly, fingerprint authentication of the user can be performed with high reliability and accuracy. If such a fingerprint authentication device is installed in a personal recognition system, the security performance and reliability performance of the entire system can be improved.

本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention. 検出領域の形状と周囲長との比較を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the comparison with the shape of a detection area | region, and perimeter. アスペクト比と面積率との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between an aspect ratio and an area ratio. 本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the detection part of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. 本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の検出部を示す正面図である。It is a front view which shows the other detection part of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. 本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the biometric recognition apparatus and fingerprint recognition apparatus concerning the 10th Embodiment of this invention. 従来の生体認識装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional biometric recognition apparatus. 位相差を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the specific structure of the conventional impedance detection apparatus which detects a phase difference. 図20のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。It is an example of a signal waveform in each part of the impedance detection apparatus of FIG. 振幅を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the specific structure of the conventional impedance detection apparatus which detects an amplitude. 図22のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。It is an example of the signal waveform in each part of the impedance detection apparatus of FIG. 表面形状認識センサ装置の外観図である。It is an external view of a surface shape recognition sensor device. 表面形状認識センサ装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a surface shape recognition sensor apparatus. 従来の表面形状認識センサ装置で用いられる検出部の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the detection part used with the conventional surface shape recognition sensor apparatus. 従来の表面形状認識センサ装置で用いられる検出部の構成を示す図26のAA断面図である。It is AA sectional drawing of FIG. 26 which shows the structure of the detection part used with the conventional surface shape recognition sensor apparatus. 表面形状認識センサ装置のセンサ面構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the sensor surface structure of a surface shape recognition sensor apparatus. 図28の要部拡大図である。It is a principal part enlarged view of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

100…インピーダンス検出装置、1…検出部、1A,1B,1C…検出素子、11A,11B,11C…検出電極、12A,12B,12C…検出電極、1S…印加信号、2…供給信号生成部、2S…供給信号、21…周波数発生回路、21S…クロック信号、22…波形整形回路、3…応答信号生成部、3S…応答信号、31…電流−電圧変換回路、4…波形情報検出部、4S,4AS,4BS…検出信号、41…オフセット補正回路、41S…被比較信号、42…基準信号発生回路、42S…基準信号、43…位相比較回路、44…ピーク電圧検出回路、44S…ピーク電圧値、45…中心電圧検出回路、45S…中心電圧値、46…電圧比較回路、5…生体認識部、5S…認識結果、6…表面形状検出部、6S…表面形状データ、7…生体認識部、7S…認識結果、8…検出面、8A…固定電位領域、8B…検出領域、8C…分離領域、81〜84…帯状領域、85〜88…接触領域、9…被検体(指)、9A…指紋隆線、9B…指紋谷線、Zf…インピーダンス、101…生体認識部、110…生体認識装置、110S…生体認識結果、1P…表面形状情報、1Z…インピーダンス情報、111…指紋検出装置、111S…指紋データ、112…指紋認証部、112S…指紋認識結果、113…認識判定部、120…指紋認識装置、120S…判定結果、150…表面形状認識装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Impedance detection apparatus, 1 ... Detection part, 1A, 1B, 1C ... Detection element, 11A, 11B, 11C ... Detection electrode, 12A, 12B, 12C ... Detection electrode, 1S ... Applied signal, 2 ... Supply signal generation part, 2S ... Supply signal, 21 ... Frequency generator, 21S ... Clock signal, 22 ... Waveform shaping circuit, 3 ... Response signal generator, 3S ... Response signal, 31 ... Current-voltage converter, 4 ... Waveform information detector, 4S , 4AS, 4BS ... detection signal, 41 ... offset correction circuit, 41S ... signal to be compared, 42 ... reference signal generation circuit, 42S ... reference signal, 43 ... phase comparison circuit, 44 ... peak voltage detection circuit, 44S ... peak voltage value 45 ... center voltage detection circuit, 45S ... center voltage value, 46 ... voltage comparison circuit, 5 ... biometric recognition unit, 5S ... recognition result, 6 ... surface shape detection unit, 6S ... surface shape data, 7 Biological recognition unit, 7S: recognition result, 8: detection surface, 8A: fixed potential region, 8B ... detection region, 8C ... separation region, 81-84 ... strip region, 85-88 ... contact region, 9 ... subject (finger) ), 9A ... fingerprint ridge, 9B ... fingerprint valley, Zf ... impedance, 101 ... biometric recognition unit, 110 ... biometric recognition device, 110S ... biometric recognition result, 1P ... surface shape information, 1Z ... impedance information, 111 ... fingerprint Detection device, 111S ... fingerprint data, 112 ... fingerprint authentication unit, 112S ... fingerprint recognition result, 113 ... recognition determination unit, 120 ... fingerprint recognition device, 120S ... determination result, 150 ... surface shape recognition device.

Claims (12)

表面に凹凸形状を有する被検体と電気的に接触する検出面に配置された複数の検出素子からなる検出部と、
交流の供給信号を生成する供給信号生成部と、
前記供給信号生成部と前記検出素子との間に接続されて、前記供給信号に応じた印加信号を前記被検体へ印加するとともに、前記印加信号に伴って前記被検体に流れる電流により変化する交流の応答信号を生成して出力する応答信号生成部と、
少なくとも前記応答信号の位相または振幅のいずれか一方を波形情報として検出し、この波形情報に基づいて前記被検体のインピーダンスを示す検出信号を出力する波形情報検出部と
を備えるインピーダンス検出装置であって、
前記検出部は、
前記検出面に接触した前記被検体を前記応答信号生成部へ電気的に接続する複数の検出素子が帯状に配置された検出領域と、
前記検出面に接触した前記被検体を所定の固定電位へ電気的に接続する複数の検出素子が前記検出領域を取り囲むように配置された固定電位領域と、
前記検出領域と前記固定電位領域の間に設けられ、前記検出領域と前記固定電位領域を電気的に分離する分離領域と
から構成され
前記検出領域は、面積が前記固定電位領域よりも小さく、かつ長手方向の長さが前記被検体の表面の凹部を跨いで複数の凸部に接触可能な長さである
ことを特徴とするインピーダンス検出装置。
A detection unit comprising a plurality of detection elements disposed on a detection surface that is in electrical contact with a subject having an uneven shape on the surface ;
A supply signal generator for generating an alternating supply signal;
An AC that is connected between the supply signal generation unit and the detection element, applies an application signal corresponding to the supply signal to the subject, and changes according to a current flowing through the subject in accordance with the application signal. A response signal generator for generating and outputting a response signal of
An impedance detection device comprising: a waveform information detection unit that detects at least one of the phase and amplitude of the response signal as waveform information and outputs a detection signal indicating the impedance of the subject based on the waveform information. ,
The detector is
A detection region in which a plurality of detection elements that electrically connect the subject in contact with the detection surface to the response signal generation unit are arranged in a band shape;
A fixed potential region in which a plurality of detection elements that electrically connect the subject in contact with the detection surface to a predetermined fixed potential are arranged so as to surround the detection region;
A separation region that is provided between the detection region and the fixed potential region and electrically separates the detection region and the fixed potential region ;
The detection region has an area smaller than that of the fixed potential region, and a length in a longitudinal direction is a length capable of contacting a plurality of convex portions across the concave portions on the surface of the subject. Detection device.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、前記検出素子が配置された複数の帯状領域が当該帯状領域の端部で接合された形状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection device, wherein the detection region has a shape in which a plurality of band-like regions where the detection elements are arranged are joined at an end of the band-like region.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、前記検出素子が配置された帯状領域が分岐点で複数に分岐した形状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection device, wherein the detection region has a shape in which a belt-like region in which the detection element is arranged branches at a branch point.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、前記検出素子が配置された帯状領域が屈曲点で折れ曲がった形状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection device according to claim 1, wherein the detection region has a shape in which a band-like region in which the detection element is arranged is bent at a bending point.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、全体として十字状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection device according to claim 1, wherein the detection region has a cross shape as a whole.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、全体として環状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
An impedance detection apparatus according to claim 1, wherein the detection region has an annular shape as a whole.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、当該検出領域の角部が湾曲形状をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The detection area is characterized in that the corner of the detection area has a curved shape.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、互いに直交する前記検出面上の2つの軸に対して対称をなすことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection device, wherein the detection region is symmetric with respect to two axes on the detection surface orthogonal to each other.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出領域は、前記被検体と電気的に接触する前記各検出素子の検出電極がそれぞれ環形状をなし、これら検出電極がアレイ状に配置された構成を有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection apparatus according to claim 1, wherein the detection region has a configuration in which detection electrodes of the detection elements that are in electrical contact with the subject each have a ring shape, and the detection electrodes are arranged in an array.
検出面に配置された複数の検出素子からなる検出部を介して電気的に接触した、表面に凹凸形状を有する被検体に対し、応答信号生成部により、交流の供給信号に応じた印加信号を印加するとともに、前記印加信号に伴って前記被検体に流れる電流により変化する応答信号を生成して出力する応答信号生成ステップと、
少なくとも前記応答信号の位相または振幅のいずれか一方を波形情報として検出し、この波形情報に基づいて前記被検体のインピーダンスを示す検出信号を出力する波形情報検出ステップとを備え、
前記検出部は、
複数の検出素子が帯状に配置された検出領域により、前記検出面に接触した前記被検体を前記応答信号生成部へ電気的に接続し、
複数の検出素子が前記検出領域を取り囲むように配置された固定電位領域により、前記検出面に接触した前記被検体を所定の固定電位へ電気的に接続し、
前記検出領域と前記固定電位領域の間に設けられた分離領域により、前記検出領域と前記固定電位領域を電気的に分離し、
前記検出領域は、面積が前記固定電位領域よりも小さく、かつ長手方向の長さが前記被検体の表面の凹部を跨いで複数の凸部に接触可能な長さである
ことを特徴とするインピーダンス検出方法。
A response signal generating unit applies an applied signal corresponding to an AC supply signal to a subject having an uneven shape on the surface that is in electrical contact via a detection unit composed of a plurality of detection elements arranged on the detection surface. A response signal generating step of generating and outputting a response signal that varies depending on the current flowing through the subject in accordance with the applied signal;
A waveform information detection step of detecting at least one of the phase or amplitude of the response signal as waveform information and outputting a detection signal indicating the impedance of the subject based on the waveform information;
The detector is
By means of a detection region in which a plurality of detection elements are arranged in a band shape, the subject in contact with the detection surface is electrically connected to the response signal generation unit,
By electrically connecting the subject in contact with the detection surface to a predetermined fixed potential by a fixed potential region arranged so that a plurality of detection elements surround the detection region,
The separation region provided between the detection region and the fixed potential region electrically separates the detection region and the fixed potential region ,
The detection region has an area smaller than that of the fixed potential region, and a length in a longitudinal direction is a length capable of contacting a plurality of convex portions across the concave portions on the surface of the subject. Detection method.
被検体のインピーダンスに応じた検出信号を出力する請求項1に記載のインピーダンス検出装置と、
前記インピーダンス検出装置から出力された検出信号に基づき前記被検体が生体であるか否かを判定する生体認識部と
を備えることを特徴とする生体認識装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1, which outputs a detection signal corresponding to the impedance of the subject;
A living body recognition device comprising: a living body recognition unit that determines whether or not the subject is a living body based on a detection signal output from the impedance detection device.
被検体のインピーダンスに応じた検出信号に基づき前記被検体が生体であるか否かを判定する請求項11に記載された生体認識装置と、
前記被検体から指紋の凹凸を示す指紋データを検出する指紋検出装置と、
前記指紋データと予め登録されている照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う指紋認証部と、
前記生体認識装置から出力された生体判定結果と前記指紋認証部から出力された指紋認証結果とに基づいて前記利用者の指紋認証成否を判定する認証判定部と
を備えることを特徴とする指紋認証装置。
The living body recognition apparatus according to claim 11 , which determines whether or not the subject is a living body based on a detection signal corresponding to the impedance of the subject;
A fingerprint detection device for detecting fingerprint data indicating irregularities of the fingerprint from the subject;
A fingerprint authentication unit that compares the fingerprint data with previously registered verification data, and performs fingerprint authentication of the user based on the verification result;
An authentication determination unit that determines success or failure of fingerprint authentication of the user based on a biometric determination result output from the biometric recognition device and a fingerprint authentication result output from the fingerprint authentication unit. apparatus.
JP2006283653A 2006-10-18 2006-10-18 Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device Expired - Fee Related JP4943807B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006283653A JP4943807B2 (en) 2006-10-18 2006-10-18 Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006283653A JP4943807B2 (en) 2006-10-18 2006-10-18 Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008099783A JP2008099783A (en) 2008-05-01
JP4943807B2 true JP4943807B2 (en) 2012-05-30

Family

ID=39434588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006283653A Expired - Fee Related JP4943807B2 (en) 2006-10-18 2006-10-18 Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4943807B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4950950B2 (en) * 2008-06-20 2012-06-13 日本電信電話株式会社 Biological recognition device
WO2010070745A1 (en) 2008-12-17 2010-06-24 富士通株式会社 Biometric authentication device and biometric authentication method
JP6607755B2 (en) 2015-09-30 2019-11-20 富士通株式会社 Biological imaging apparatus and biological imaging method
KR102659193B1 (en) * 2016-08-24 2024-04-19 삼성전자주식회사 Fingerprint sensor and method of driving the Fingerprint sensor
JP7131118B2 (en) 2018-06-22 2022-09-06 富士通株式会社 Authentication device, authentication program, authentication method

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3484355B2 (en) * 1998-09-28 2004-01-06 オムロンヘルスケア株式会社 Biological detector
JPH11185020A (en) * 1997-12-25 1999-07-09 Glory Ltd Individual authentication sensor
NO307065B1 (en) * 1998-02-26 2000-01-31 Idex As fingerprint Sensor
JP2000229075A (en) * 1999-02-10 2000-08-22 Toshiba Tec Corp Finger recess/projection information input device and individual certifying device using this device
JP3455459B2 (en) * 1999-02-10 2003-10-14 日本電信電話株式会社 Surface shape recognition sensor
GB9922570D0 (en) * 1999-09-24 1999-11-24 Koninkl Philips Electronics Nv Capacitive sensing array devices
NO315017B1 (en) * 2000-06-09 2003-06-23 Idex Asa Sensor chip, especially for measuring structures in a finger surface
NO314647B1 (en) * 2000-06-09 2003-04-22 Idex Asa Fingerprint sensor measurement system
NO315016B1 (en) * 2000-06-09 2003-06-23 Idex Asa Miniature sensor
JP4387795B2 (en) * 2001-12-07 2009-12-24 アイデックス・エーエスエー Measuring sensor on wet and dry fingers
JP3866642B2 (en) * 2002-09-25 2007-01-10 日本電信電話株式会社 Surface shape recognition sensor device
FI115109B (en) * 2003-01-22 2005-02-28 Nokia Corp An authentication arrangement and a mobile station comprising an authentication arrangement
JP4157557B2 (en) * 2003-08-15 2008-10-01 日本電信電話株式会社 Biological recognition device
EP1536203A4 (en) * 2003-08-26 2011-07-20 Nippon Telegraph & Telephone Surface shape recognition sensor
JP2005143804A (en) * 2003-11-14 2005-06-09 Glory Ltd Apparatus and method for detecting living body, and fingerprint authentication apparatus
JP2005257537A (en) * 2004-03-12 2005-09-22 Seiko Epson Corp Capacitance detection device
JP2006071579A (en) * 2004-09-06 2006-03-16 Alps Electric Co Ltd Capacitance-detecting circuit and capacitance-detecting method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008099783A (en) 2008-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4105725B2 (en) Surface shape recognition sensor device
JP4943807B2 (en) Impedance detection device, impedance detection method, biometric recognition device, and fingerprint authentication device
US10929633B2 (en) Fingerprint identification device, touch display panel, and method for driving fingerprint identification device
US7577276B2 (en) Fingerprint matching device and method, recording medium, and program
EP1679036B1 (en) Organism recognition system
JP4762765B2 (en) Biometric detection device, fingerprint authentication device, and biometric detection method
WO2016045243A1 (en) Flexible screen and bending identification method therefor and flexible display apparatus
US20060138574A1 (en) Capacitive sensor
TWI486861B (en) Structure of finger sensing device of capacitive fingerprint recognition ic
US20200393929A1 (en) Touch apparatus and touch detection method thereof
US11143526B2 (en) Capacitive sensor
JP2003535629A (en) Real-time finger surface pattern measurement system
CN105989327A (en) Fingerprint sensing device and method
KR20130060875A (en) Sensor and method for detecting fingerprint
JP2007010338A (en) Surface pressure distribution sensor
KR20030028228A (en) Pointing apparatus using piezoelectric film, method for producing the apparatus, apparatus and method for detecting point information therefor
US20170262720A1 (en) Fingerprint sensor
CN111091042A (en) Deformable fingerprint identification device and fingerprint authentication method
CN107924460B (en) Half-bridge fingerprint sensing method
CN107272933B (en) Sensing device and method with pressure measurement, touch control and fingerprint identification functions
US20180004999A1 (en) Creation of virtual intersection points on a touchscreen to permit static, non swiping fingerprint user authentication
KR101855648B1 (en) Improved fingerprint recognition sensor and charge integrated sensing circuit used therein
EP3270273A1 (en) Touch sensing device
KR20170104909A (en) Fingerprint sensor
JPH1199141A (en) Individual authentication device and its manufacture

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090109

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110602

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110928

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20111125

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120228

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120301

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150309

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees