JP4850525B2 - Multilayer circuit board and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、絶縁樹脂層と配線層とを持つ多層回路基板において、配線層と絶縁樹脂層との密着性を向上させるための処理方法および密着処理を行った配線層を有する多層回路基板に関する。   The present invention relates to a processing method for improving adhesion between a wiring layer and an insulating resin layer and a multilayer circuit board having the wiring layer subjected to the adhesion processing in a multilayer circuit substrate having an insulating resin layer and a wiring layer.

近年、プリント配線板の微細化、多層化、および電子部品の高密度実装化が急速に進み、プリント配線板に対してビルドアップ多層配線構造の検討が活発に行われている。ビルドアップ多層配線構造では、複数の配線層間に、絶縁樹脂層等の絶縁層が形成されており、配線層間の導通をとるために、ビアホールと称される微細な穴を絶縁層に形成する。ビアホールは、感光性樹脂を用いてフォトリソグラフィ技術により形成する方法や、レーザを照射し穴を形成する方法で形成できる。   In recent years, miniaturization of printed wiring boards, multilayering, and high-density mounting of electronic components have rapidly progressed, and a build-up multilayer wiring structure has been actively studied for printed wiring boards. In the build-up multilayer wiring structure, an insulating layer such as an insulating resin layer is formed between a plurality of wiring layers, and minute holes called via holes are formed in the insulating layer in order to establish conduction between the wiring layers. The via hole can be formed by a method using a photosensitive resin by a photolithography technique or a method of forming a hole by irradiating a laser.

次いで、無電解めっきまたは電気めっきによって、この絶縁層上に導体を形成し、これをエッチングして新たな配線パターンを形成する。その後、必要に応じて絶縁層の形成から配線パターンまでの形成工程を繰り返せば、回路の集積度を高めることができる。   Next, a conductor is formed on the insulating layer by electroless plating or electroplating, and this is etched to form a new wiring pattern. Thereafter, if the formation process from the formation of the insulating layer to the wiring pattern is repeated as necessary, the degree of circuit integration can be increased.

従来の技術において、ビルドアップ配線基板の配線のほとんどは、銅から成り立っているが、銅は樹脂との密着性が低いことが知られている。そのため、従来からビルドアップ配線基板の銅配線とその上側の絶縁層との密着性を向上させるために、次のような処理がなされている。   In the prior art, most of the wiring of the build-up wiring board is made of copper, but copper is known to have low adhesion to a resin. Therefore, conventionally, the following processing has been performed in order to improve the adhesion between the copper wiring of the build-up wiring board and the insulating layer on the upper side.

すなわち、たとえば、銅配線表面を塩化第二銅液、塩化第二鉄液、硫酸過酸化水素水液、蟻酸系水溶液等でエッチング(化学研磨)し、10点平均表面粗さが2μm以上の微細突起を作り、その配線の上側に形成される絶縁層の樹脂が微細突起のアンカー作用により銅配線表面に強固に固定されるようにする処理がなされる。これにより、0.8kgf/cm(換算値は8N/cm)のピール強度が得られている。   That is, for example, the copper wiring surface is etched (chemical polishing) with cupric chloride solution, ferric chloride solution, sulfuric acid hydrogen peroxide solution, formic acid aqueous solution, etc., and the 10-point average surface roughness is 2 μm or more. A process is performed in which the protrusion is formed and the resin of the insulating layer formed on the upper side of the wiring is firmly fixed to the copper wiring surface by the anchor action of the fine protrusion. Thereby, a peel strength of 0.8 kgf / cm (converted value is 8 N / cm) is obtained.

しかしながら、近年ビルドアップ配線基板にも高周波の信号が伝送されるようになり、特に1GHzを超える周波数領域においては、微細突起のある配線構造では表皮効果による伝送損失、特に導体損が増大するという問題が生じてきた。   However, in recent years, high-frequency signals have also been transmitted to build-up wiring boards, and particularly in the frequency region exceeding 1 GHz, there is a problem that transmission loss due to the skin effect, particularly conductor loss, increases in a wiring structure with fine protrusions. Has arisen.

銅配線と絶縁樹脂との間の密着性は、前述の表面粗化による物理的アンカー効果に起因する密着性以外には、銅と樹脂中の構成成分との間の化学的密着がある。分子レベルでは、公知の技術として、各種のトリアジンチオールを用いた方法が開示されている。具体的には、引用文献1では、導体上にトリアジンチオール層が形成されている。この方法では樹脂がトリアジンチオールと反応するものに限定される。また、有機酸を混合することでアゾール化合物の厚膜を形成する方法(引用文献2参照。)が提案されているが、銅との密着には優れるものの、官能基を持たないため、絶縁樹脂との密着に劣る等の問題点がある。   The adhesion between the copper wiring and the insulating resin includes chemical adhesion between the copper and the constituent components in the resin, in addition to the adhesion due to the physical anchor effect due to the surface roughening described above. At the molecular level, methods using various triazine thiols are disclosed as known techniques. Specifically, in Cited Document 1, a triazine thiol layer is formed on a conductor. This method is limited to those in which the resin reacts with triazine thiol. Also, a method of forming a thick film of an azole compound by mixing an organic acid (see Cited Document 2) has been proposed, but although it is excellent in adhesion with copper, it does not have a functional group, so an insulating resin There is a problem such as poor adhesion to.

さらにトリアジンチオール皮膜を有機めっきして製膜する方法も提案されている(非特許文献1参照。)。すなわち、まず逆バイアスをかけて銅表面の酸化皮膜を除去し、しかる後にトリアジンチオールを有機めっきする方法である。しかしながら、めっきするためにはシード電極層が必須のため、孤立部位への適用が困難であるといった問題があった。
特開平10−335782号公報(特許請求の範囲) 特開2002−321310号公報(特許請求の範囲) 「表面技術」,2000年,第51巻,NO.3,p.276
Furthermore, a method for forming a film by organic plating of a triazine thiol film has also been proposed (see Non-Patent Document 1). That is, a reverse bias is first applied to remove the oxide film on the copper surface, and then triazine thiol is organically plated. However, since a seed electrode layer is essential for plating, there is a problem that it is difficult to apply to an isolated part.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-335782 (Claims) JP 2002-321310 A (Claims) “Surface Technology”, 2000, Vol. 51, NO. 3, p. 276

本発明は、上記問題を解決し、配線とその上の樹脂層との間で高い密着性を得ることのできる新規な多層回路基板、および配線とその上の樹脂層との間で高い密着性を得ることのできる多層回路基板の新規な製造法を提供することを目的としている。本発明のさらに他の目的および利点は、以下の説明から明らかになるであろう。   The present invention solves the above-described problems, and provides a novel multilayer circuit board capable of obtaining high adhesion between the wiring and the resin layer thereon, and high adhesion between the wiring and the resin layer thereon. It is an object of the present invention to provide a novel manufacturing method of a multilayer circuit board that can be obtained. Still other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description.

本発明の一態様によれば、配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板において、
当該配線層表面にニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が少なくとも存在し、
その直上に、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物が存在し、
さらにその直上に当該絶縁樹脂層が存在する、
多層回路基板が提供される。本発明態様により、配線とその上の樹脂層との間で優れた密着性を有する多層回路基板を実現することができる。
According to one aspect of the present invention, in a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
At least a nitro group, a carboxy group and a cyano group are present on the surface of the wiring layer,
Directly there are organic compounds that can adsorb or react with nitro, carboxy and cyano groups,
Furthermore, the insulating resin layer is present immediately above.
A multilayer circuit board is provided. According to the aspect of the present invention, a multilayer circuit board having excellent adhesion between the wiring and the resin layer thereon can be realized.

本発明の他の一態様によれば、配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板の製造方法において、
当該配線層表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物を含む処理液で処理して第一の処理体を形成し、
当該第一の処理体の表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物で処理して第二の処理体を形成し、
当該第二の処理体上に絶縁樹脂層を形成する
ことを含む、多層回路基板の製造方法が提供される。本発明態様により、配線とその上の樹脂層との間で優れた密着性を有する多層回路基板の製造法を実現することができる。
According to another aspect of the present invention, in a method for manufacturing a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
The wiring layer surface is treated with a treatment liquid containing a compound containing at least a nitro group, a carboxy group and a cyano group or an alkali metal salt thereof or a mixture thereof to form a first treated body,
Treating the surface of the first treated body with an organic compound capable of adsorbing or reacting with a nitro group, a carboxy group and a cyano group to form a second treated body;
A method for manufacturing a multilayer circuit board is provided, which includes forming an insulating resin layer on the second treatment body. According to the aspect of the present invention, it is possible to realize a method for producing a multilayer circuit board having excellent adhesion between the wiring and the resin layer thereon.

前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、ニトロ安息香酸、ニトロフタル酸、ニトロサリチル酸およびそれらのアルカリ金属塩からなる群から選ばれた化合物を含むこと、および/または、前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、シアノ安息香酸、シアノフェノール、ジシアノベンゼン、シアノ酢酸、それらのアルカリ金属塩、シアン化ナトリウム、およびシアン化カリウムからなる群から選ばれた化合物を含むことが好ましい。   The compound containing at least the nitro group, carboxy group, and cyano group, or an alkali metal salt thereof, or a mixture thereof includes a compound selected from the group consisting of nitrobenzoic acid, nitrophthalic acid, nitrosalicylic acid, and alkali metal salts thereof. And / or the compound containing at least the nitro group, carboxy group, and cyano group, or an alkali metal salt thereof, or a mixture thereof is cyanobenzoic acid, cyanophenol, dicyanobenzene, cyanoacetic acid, an alkali metal salt thereof, cyanide It is preferable to include a compound selected from the group consisting of sodium and potassium cyanide.

また、上記の二つの態様に共通して、前記有機化合物が、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールであること、   Further, in common with the above two embodiments, the organic compound is a silane coupling agent or a triazine thiol of formula 1, or a silane coupling agent and a triazine thiol of formula 1.

Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
前記シランカップリング剤が、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ビニル基、ジアルキルアミノ基およびピリジン基からなる群から選ばれた基を少なくとも一つ含むものであること、前記配線層が銅からなるものであること、および、前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含むものであることが好ましい。
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
The silane coupling agent includes at least one group selected from the group consisting of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a vinyl group, a dialkylamino group, and a pyridine group, and the wiring layer is made of copper. it is composed of one, and the insulating resin layer, a polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resin, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, o olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resins and It is preferable that it contains at least one resin selected from the group consisting of polyetheretherketone resins.

本発明のさらに他の一態様によれば、前記の多層回路基板の製造方法によって作製された多層回路基板が提供される。   According to still another aspect of the present invention, there is provided a multilayer circuit board manufactured by the above-described multilayer circuit board manufacturing method.

本発明により、配線とその上の樹脂層との間で優れた密着性を有する多層回路基板およびその製造法を実現することができる。配線の表面粗化を省略することもできる。   According to the present invention, it is possible to realize a multilayer circuit board having excellent adhesion between a wiring and a resin layer thereon and a method for manufacturing the same. The surface roughening of the wiring can be omitted.

以下に、本発明の実施の形態を図、実施例等を使用して説明する。なお、これらの図、実施例等および説明は本発明を例示するものであり、本発明の範囲を制限するものではない。本発明の趣旨に合致する限り他の実施の形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。図中、同一の符号は同一の要素を表す。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings, examples and the like. In addition, these figures, Examples, etc. and description illustrate the present invention, and do not limit the scope of the present invention. It goes without saying that other embodiments may belong to the category of the present invention as long as they match the gist of the present invention. In the drawings, the same reference numeral represents the same element.

本発明の一態様に係る多層回路基板では、配線層と絶縁樹脂層とを有し、
当該配線層表面にニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が少なくとも存在し、
その直上に、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物(以下、「ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物」を「特定有機化合物」と呼称する)が存在し、
さらにその直上に当該絶縁樹脂層が存在する。
The multilayer circuit board according to one embodiment of the present invention has a wiring layer and an insulating resin layer,
At least a nitro group, a carboxy group and a cyano group are present on the surface of the wiring layer,
Directly above, an organic compound that can adsorb or react with a nitro group, a carboxy group, and a cyano group (hereinafter, “an organic compound that can adsorb or react with a nitro group, a carboxy group, and a cyano group” is referred to as a “specific organic compound”. ) Exist,
Further, the insulating resin layer is present immediately above.

このような構造により、配線層と絶縁樹脂層との間に強固な結合を実現することができる。   With such a structure, a strong bond can be realized between the wiring layer and the insulating resin layer.

本発明の他の態様としては、配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板の製造方法において、
当該配線層表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物(以下、「ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物」を「特定極性化合物」と呼称する)を含む処理液で処理して第一の処理体を形成し、
当該第一の処理体の表面を、特定有機化合物で処理して第二の処理体を形成し、
当該第二の処理体上に絶縁樹脂層を形成する
ことを含む、多層回路基板の製造方法がある。
As another aspect of the present invention, in a method for manufacturing a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
The wiring layer surface is coated with a compound containing at least a nitro group, a carboxy group and a cyano group or an alkali metal salt thereof or a mixture thereof (hereinafter referred to as a “compound containing at least a nitro group, a carboxy group and a cyano group or an alkali metal salt thereof or the A first treatment body is formed by treating with a treatment liquid containing a mixture of
The surface of the first treated body is treated with a specific organic compound to form a second treated body,
There is a method for manufacturing a multilayer circuit board, which includes forming an insulating resin layer on the second processed body.

このような方法により、配線層と絶縁樹脂層との間に強固な結合を持つ多層回路基板を実現することができる。   By such a method, a multilayer circuit board having a strong bond between the wiring layer and the insulating resin layer can be realized.

上記のいずれの態様においても、多層回路基板としては、上記条件を満たす任意の多層基板を含めることができる。支持基板上に絶縁樹脂層と配線層を持つものも、支持基板を欠くものも含まれる。上記以外の他の層が含まれていてもよい。   In any of the above aspects, the multilayer circuit board may include any multilayer board that satisfies the above conditions. Those having an insulating resin layer and a wiring layer on the supporting substrate and those lacking the supporting substrate are included. Other layers other than the above may be included.

上記配線層は、特に表面を粗化する処理を行う必要はないが、表面粗化によるアンカー効果と組み合わせてもよい。上記配線層の材質については特に制限はないが、本発明態様では、表面を粗化せずに配線層とその上の樹脂層との間で高い密着性を実現できることから、銅の場合に特に好ましい効果が得られる。   The wiring layer does not need to be subjected to a surface roughening treatment, but may be combined with an anchor effect due to surface roughening. There is no particular limitation on the material of the wiring layer, but in the present embodiment, it is possible to realize high adhesion between the wiring layer and the resin layer thereon without roughening the surface. A preferable effect is obtained.

上記配線層表面に存在するニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基がどのような形態で配線層表面上に存在するかについては特に制限はないが、ニトロ基を持つ化合物、カルボキシ基を持つ化合物、シアノ基を持つ化合物、ニトロ基とカルボキシ基とシアノ基とのいずれか二つまたはその全てを持つ化合物等が、配線層表面に、化学反応、化学吸着、物理吸着等している形態が考えられる。上記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が、どのような形状で配線と特定有機化合物との間にあるかも、本発明の本質とは無関係である。具体的に層をなしていてもよく、なしていなくてもよい。ニトロ基を持つ化合物、カルボキシ基を持つ化合物およびシアノ基を持つ化合物等が層を成す場合、これらの層の順序に特に制限はない。ニトロ基とカルボキシ基とシアノ基とが少なくとも共存すると配線層と他の層との密着が強固になる。これらの基が単独に存在する場合に比べても、格段に密着が強固になる。   There is no particular limitation on the form of the nitro group, carboxy group and cyano group present on the surface of the wiring layer on the surface of the wiring layer. However, the compound having a nitro group, the compound having a carboxy group, cyano It can be considered that a compound having a group, a compound having any two or all of a nitro group, a carboxy group, and a cyano group are chemically reacted, chemically adsorbed, physically adsorbed, etc. on the surface of the wiring layer. The shape of the nitro group, carboxy group and cyano group between the wiring and the specific organic compound is irrelevant to the essence of the present invention. Specifically, the layer may or may not be formed. When a compound having a nitro group, a compound having a carboxy group, a compound having a cyano group, or the like forms a layer, the order of these layers is not particularly limited. When at least the nitro group, carboxy group, and cyano group coexist, the adhesion between the wiring layer and the other layer becomes strong. Compared to the case where these groups are present alone, the adhesion is remarkably strengthened.

配線層表面を特定極性化合物を含む処理液で処理して第一の処理体を得る方法については、特に制限はなく、特定極性化合物を含む処理液に浸漬したり、そのような液でスプレーする等の方法が考えられる。   There is no particular limitation on the method of obtaining the first treatment body by treating the wiring layer surface with the treatment liquid containing the specific polar compound, and the surface is immersed in the treatment liquid containing the specific polarity compound or sprayed with such a liquid. Such a method is conceivable.

また、強固な固着を実現するために、洗浄、加熱、乾燥等を含めたり、繰り返し処理したり、ニトロ基を少なくとも一つ含む化合物またはそのアルカリ金属塩を含む処理液での処理とカルボキシ基を少なくとも一つ含む化合物またはそのアルカリ金属塩を含む処理液での処理とシアノ基を少なくとも一つ含む化合物またはそのアルカリ金属塩を含む処理液での処理とを分けて行ったり等の種々の方法も考えられる。本発明ではこれらの任意の方法から適宜好ましい方法を採用すればよい。   In order to achieve strong fixation, washing, heating, drying, etc. are included, repeated treatment, treatment with a compound containing at least one nitro group or an alkali metal salt thereof, and carboxy groups. There are various methods such as performing the treatment with a treatment liquid containing at least one compound or an alkali metal salt thereof separately from the treatment with a treatment liquid containing a compound containing at least one cyano group or an alkali metal salt thereof. Conceivable. In the present invention, a preferable method may be appropriately selected from these arbitrary methods.

特定極性化合物は、複数種の化合物からなっていてもよく、単一の化合物からなっていてもよい。ニトロ基およびカルボキシ基を含む化合物の好ましい例としては、ニトロ安息香酸、ニトロフタル酸、ニトロサリチル酸またはそのアルカリ金属塩を挙げることができる。シアノ基を含む化合物の好ましい例としては、シアノ安息香酸、シアノフェノール、ジシアノベンゼン、シアノ酢酸、それらのアルカリ金属塩のような有機化合物や、シアン化ナトリウム、シアン化カリウム等の無機系シアン化合物を例示できる。これらの化合物は、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基以外の官能基を含んでいてもよい。混合物であってもよい。この混合物には酸と塩との混合物も含まれる。処理液を構成するために使用する溶媒についても特に制限はないが通常は水でよい。   The specific polar compound may consist of a plurality of types of compounds or a single compound. Preferable examples of the compound containing a nitro group and a carboxy group include nitrobenzoic acid, nitrophthalic acid, nitrosalicylic acid or an alkali metal salt thereof. Preferred examples of the compound containing a cyano group include organic compounds such as cyanobenzoic acid, cyanophenol, dicyanobenzene, cyanoacetic acid and alkali metal salts thereof, and inorganic cyan compounds such as sodium cyanide and potassium cyanide. . These compounds may contain a functional group other than a nitro group, a carboxy group, and a cyano group. It may be a mixture. This mixture also includes a mixture of an acid and a salt. Although there is no restriction | limiting in particular also about the solvent used for comprising a process liquid, Usually, water may be sufficient.

本発明に係る第一の処理体には、上記のように、特定極性化合物を含む処理液で処理する以外に、上記のような他の処理を含んだものも含まれる。   As described above, the first treatment body according to the present invention includes those containing other treatments as described above in addition to the treatment with the treatment liquid containing the specific polar compound.

上記特定有機化合物については、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物であれば特に制限はない。炭素および水素以外の元素(例えば、酸素、窒素、硫黄、ケイ素等)を含んでいてもよい。ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得るか否かは、実際に多層配線基板を作製したときに、密着力が向上することで確認してもよく、特定有機化合物の層を造り、その上に特定極性化合物を塗布し、乾燥、加熱等の処理を行い、その後、水等の溶媒で洗浄しても、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が消失しないことでモデル的に確認してもよい。このモデル的確認においては、必ずしも、実際に使用される材料を使用する必要はなく、モデル的に選択した特定極性化合物を使用してもよい。言い換えれば、本発明における特定有機化合物には、このようにしてモデル的に確認されたものも含まれ得る。また、上記説明から理解されるように、本発明における「ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る」とは、必ずしも、実際にニトロ基とカルボキシ基とシアノ基との全ての基種に吸着または反応し得ることを要件とするものではない。   The specific organic compound is not particularly limited as long as it is an organic compound that can adsorb or react with a nitro group, a carboxy group, and a cyano group. Elements other than carbon and hydrogen (for example, oxygen, nitrogen, sulfur, silicon, etc.) may be included. Whether or not it can be adsorbed or reacted with nitro, carboxy and cyano groups can be confirmed by improving the adhesion when a multilayer wiring board is actually fabricated. Then, apply a specific polar compound on top of it, treat it with drying, heating, etc., and then wash it with a solvent such as water to confirm that the nitro group, carboxy group, and cyano group do not disappear. May be. In this model confirmation, it is not always necessary to use a material actually used, and a specific polar compound selected in a model manner may be used. In other words, the specific organic compound in the present invention may include those confirmed in a model manner in this way. Further, as understood from the above description, in the present invention, “can be adsorbed or reacted with a nitro group, a carboxy group and a cyano group” does not necessarily mean that all groups of nitro group, carboxy group and cyano group are actually used. It does not require that the species can be adsorbed or reacted.

上記特定有機化合物としては、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールであることが、配線層と絶縁樹脂層との間により強固な結合を実現する上で好ましい。   As the specific organic compound, a silane coupling agent or a triazine thiol of formula 1 or a silane coupling agent and a triazine thiol of formula 1 realizes stronger bonding between the wiring layer and the insulating resin layer. Preferred above.

Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
上記シランカップリン剤については特に制限はなく、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ビニル基、ジアルキルアミノ基およびピリジン基からなる群から選ばれた基を少なくとも一つ含むものを好ましく例示できる。
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
The silane coupling agent is not particularly limited, and preferably includes at least one group selected from the group consisting of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a vinyl group, a dialkylamino group, and a pyridine group. it can.

第一の処理体の表面を特定有機化合物で処理して第二の処理体を得る方法については特に制限はなく、浸漬法、スプレー法等を採用できる。トリアジンチオールやシランカップリング剤は通常固体であるので、何らかの溶媒に溶解して使用することが多い。この場合の溶媒については特に制限はないが、水が簡便である。   There is no restriction | limiting in particular about the method of processing the surface of a 1st process body with a specific organic compound, and obtaining a 2nd process body, An immersion method, a spray method, etc. are employable. Since triazine thiol and silane coupling agents are usually solid, they are often used by dissolving in some solvent. Although there is no restriction | limiting in particular about the solvent in this case, Water is simple.

トリアジンチオールとシランカップリング剤とを共用する場合、その方法には特に制限はなく、トリアジンチオールによる処理の後にシランカップリング剤による処理を行う方法、シランカップリング剤による処理の後にトリアジンチオールによる処理を行う方法および、トリアジンチオールによる処理とシランカップリング剤による処理とを同時に行う方法が考えられる。   When triazine thiol and silane coupling agent are used in common, there is no particular limitation on the method, a method in which treatment with a silane coupling agent is performed after treatment with triazine thiol, a treatment with triazine thiol after treatment with silane coupling agent And a method of simultaneously performing a treatment with triazine thiol and a treatment with a silane coupling agent are conceivable.

また、強固な固着を実現するために、水洗、加熱、乾燥等を含めたり、繰り返し処理したり等の種々の方法も考えられる。本発明ではこれらの任意の方法から適宜好ましい方法を採用すればよい。   Further, in order to realize strong fixation, various methods such as washing with water, heating, drying, etc., and repeated treatment are also conceivable. In the present invention, a preferable method may be appropriately selected from these arbitrary methods.

本発明に係る第二の処理体には、上記のように、第一の処理体の表面をトリアジンチオールやシランカップリング剤で処理する以外に、上記のような他の処理を含んだものも含まれる。   As described above, the second treated body according to the present invention may include other treatments as described above in addition to treating the surface of the first treated body with triazine thiol or a silane coupling agent. included.

なお、上記多層回路基板中の「シランカップリング剤」は、上記製造方法に係る発明形態における「シランカップリング剤」とは異なり、すでに反応して構造の変化したもののことを意味する。このようなシランカップリング剤の存在は、多層配線回路基板から、樹脂層を剥離し、剥離面をAES、XPSなどの方法で分析することによるシリコン元素の存在や、剥離面をTOF-SIMSなどの方法で分析することによるアミノ基、メルカプト基などの存在により確認できる。   Note that the “silane coupling agent” in the multilayer circuit board means that the structure has already changed due to the reaction, unlike the “silane coupling agent” in the form of the invention according to the manufacturing method. The presence of such a silane coupling agent is due to the presence of silicon element by peeling the resin layer from the multilayer circuit board and analyzing the peeled surface by AES, XPS, etc. This can be confirmed by the presence of amino group, mercapto group, etc.

また、上記多層回路基板中のニトロ基、カルボキシ基、シアノ基およびトリアジンチオール等の特定有機化合物についても、互いの相互作用や配線層等との相互作用により、上記製造方法に係る発明形態における対応物とは構造が若干変化していることもあり得る。例えばカルボキシ基の水素が取れ、シアノ基のCとNとの間の三重結合が二重結合になっている等の変化が考えられる。本発明に係る多層回路基板中のニトロ基、カルボキシ基、シアノ基およびトリアジンチオール等の特定有機化合物には、この様な構造の変化したものも含まれる。このようなニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基の存在は、多層配線回路基板から、エッチング等の適当な方法で、配線層を露出させ、SIMS(二次イオン質量分析法)等で検出することができる。このとき、他の基や元素が同時に検出されてもよい。また、トリアジンチオールの存在は、多層配線回路基板から、樹脂層を剥離し、剥離面をAES、XPSなどの方法で分析することによる硫黄、窒素の存在や、剥離面をTOF-SIMSなどの方法で分析することによるメルカプト基などの存在により確認できる。   In addition, for specific organic compounds such as nitro groups, carboxy groups, cyano groups, and triazine thiols in the multilayer circuit board, the correspondence in the invention according to the above manufacturing method due to the mutual interaction and the interaction with the wiring layer, etc. It is possible that the structure of the object is slightly changed. For example, changes such as removal of hydrogen of the carboxy group and formation of a triple bond between C and N of the cyano group are considered. Specific organic compounds such as nitro groups, carboxy groups, cyano groups, and triazine thiols in the multilayer circuit board according to the present invention include those having such a structure change. The presence of such nitro group, carboxy group, and cyano group can be detected from the multilayer circuit board by exposing the wiring layer by an appropriate method such as etching, and using SIMS (secondary ion mass spectrometry) or the like. it can. At this time, other groups and elements may be detected simultaneously. The presence of triazine thiol is the presence of sulfur and nitrogen by peeling the resin layer from the multilayer circuit board and analyzing the peeled surface by methods such as AES and XPS, and the peeled surface by a method such as TOF-SIMS. It can be confirmed by the presence of a mercapto group and the like by analysis with

なお、上記多層回路基板中、特定有機化合物がどのような形態で存在するかや、どのような形状で配線層と絶縁樹脂層との間にあるかは、本発明の本質とは無関係である。具体的に層をなしていてもよく、なしていなくてもよい。トリアジンチオールとシランカップリング剤とが共用されている場合には、トリアジンチオールとシランカップリング剤との間の順序に特に制限はない。特定有機化合物が、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基の直上に存在することは、上記のシリコン、アミノ基、メルカプト基などが、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基のある部分より上の部分(配線層からより離れた部分)にあることで確認できるが、上記のシリコン、アミノ基、メルカプト基などが、ニトロ基、カルボキシ基および/またはシアノ基と同じ部分に存在しているものや、ニトロ基、カルボキシ基および/またはシアノ基より下の部分(配線層により近い部分)に存在しているものがあっても構わない。   Note that it is irrelevant to the essence of the present invention how the specific organic compound is present in the multilayer circuit board and in what shape is it between the wiring layer and the insulating resin layer. . Specifically, the layer may or may not be formed. When the triazine thiol and the silane coupling agent are used in common, the order between the triazine thiol and the silane coupling agent is not particularly limited. The presence of the specific organic compound immediately above the nitro group, carboxy group and cyano group means that the silicon, amino group, mercapto group, etc. above the part above the part where the nitro group, carboxy group and cyano group are present (wiring) It can be confirmed that the above silicon, amino group, mercapto group, etc. are present in the same part as the nitro group, carboxy group and / or cyano group, or the nitro group. , A carboxy group and / or a cyano group may be present in a portion below (a portion closer to the wiring layer).

上記多層基板中、特定有機化合物の直上にある絶縁樹脂層に使用される絶縁樹脂ならびに製造方法に係る発明態様で使用される絶縁樹脂については特に制限はないが、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含むものが一般的であり、好ましい。 There is no particular limitation on the insulating resin used in the insulating resin layer directly above the specific organic compound in the multilayer substrate and the insulating resin used in the invention aspect related to the manufacturing method, but polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resins, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, o olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, is generally intended to include at least one resin selected from the group consisting of polyetherimide resins and polyether ether ketone resin It is preferable.

本発明に係る絶縁樹脂層を形成する方法については、特に制限はなく、真空プレス、真空ラミネートを用いて樹脂シートを貼り付ける等の公知の方法から適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular about the method of forming the insulating resin layer which concerns on this invention, It can select suitably from well-known methods, such as sticking a resin sheet using a vacuum press and a vacuum lamination.

上記の諸態様において得られる多層回路基板の断面構造は、たとえば、図1または図2のようになる。   The cross-sectional structure of the multilayer circuit board obtained in the above aspects is, for example, as shown in FIG.

図1は、配線層1上に、特定極性化合物を含む処理液で処理して生成した第一の処理体の処理面層2、その上に、第一の処理体の表面を特定有機化合物で処理して生成した第二の処理体の処理面層3、その上に絶縁樹脂層4が存在する様子を示し、図2は、配線層1上に、特定極性化合物を含む処理液で処理して生成した第一の処理体の処理面層2、その上に、第一の処理体の表面を式1の構造を有するトリアジンチオールまたはシランカップリング剤で処理して生成した処理面層3’、その上に、処理面層3’の表面をシランカップリング剤または式1の構造を有するトリアジンチオールで処理して生成した処理面層3”、その上に絶縁樹脂層4が存在する様子を示している。第二の処理体3は、処理面層3’と処理面層3”とから構成される。図1,2の基板6は、あってもなくてもよい。   FIG. 1 shows a treatment surface layer 2 of a first treatment body produced by treatment with a treatment liquid containing a specific polar compound on a wiring layer 1, and a surface of the first treatment body on the wiring layer 1 with a specific organic compound. FIG. 2 shows a state in which the treatment surface layer 3 of the second treatment body produced by the treatment and the insulating resin layer 4 are present thereon, and FIG. 2 shows the treatment on the wiring layer 1 with a treatment liquid containing a specific polar compound. The treated surface layer 2 of the first treated body produced on the surface, and the treated surface layer 3 ′ produced by treating the surface of the first treated body with the triazine thiol or silane coupling agent having the structure of Formula 1 on the treated surface layer 2 ′. The surface of the treated surface layer 3 ′ is treated with a silane coupling agent or a triazine thiol having the structure of Formula 1 and the treated surface layer 3 ″ is formed thereon, and the insulating resin layer 4 is present thereon. The second treatment body 3 is composed of a treatment surface layer 3 ′ and a treatment surface layer 3 ″. That. 1 and 2 may or may not be present.

このように、図1,2は、本発明に係る多層基板製造方法の発明態様によって形成される層構造を示すものである。本発明に係る多層基板の発明態様の場合は、上記の第一の処理体の処理面層2を、「ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が少なくとも存在する部分2」に読み替え、第二の処理体の処理面層3を「特定有機化合物が存在する部分3」に読み替えた構造を有することになる。   1 and 2 show the layer structure formed by the inventive aspect of the multilayer substrate manufacturing method according to the present invention. In the case of the invention aspect of the multilayer substrate according to the present invention, the treated surface layer 2 of the first treated body is read as “part 2 in which at least a nitro group, a carboxy group, and a cyano group are present”, and the second treatment. The treated surface layer 3 of the body is read as “part 3 in which a specific organic compound is present”.

次に、本発明に係る多層回路基板製造方法を用いてビルドアップ多層回路基板を形成する方法の例を、図3,4を用いて以下に述べる。   Next, an example of a method for forming a build-up multilayer circuit board using the multilayer circuit board manufacturing method according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

まず、回路を形成したガラス繊維強化樹脂基板31上に、ビルドアップ絶縁層32を形成する。絶縁層32の表面には、密着性を得るための適切な処理を施した後、無電解めっきやスパッタ法等で、金属の通電層33を形成する(ステップ1)。次に、ステップ2で、レジスト34をパターニングし、ステップ3のように、開口部に電気銅めっき35を成長させる。   First, the buildup insulating layer 32 is formed on the glass fiber reinforced resin substrate 31 on which the circuit is formed. An appropriate treatment for obtaining adhesion is performed on the surface of the insulating layer 32, and then a metal conductive layer 33 is formed by electroless plating, sputtering, or the like (step 1). Next, in step 2, the resist 34 is patterned, and as in step 3, an electrolytic copper plating 35 is grown in the opening.

ステップ4で、レジストを剥離後、ステップ5で、通電層33をエッチングで除去して配線層36を形成する。次に、ステップ6で、特定極性化合物で表面処理を行う。処理方法は、浸漬法やスプレーによる吹き付け法等を用いることができる。本例では、特定極性化合物の層37を示したが、実際にどのような形態であるかは不明である。   In step 4, after the resist is removed, in step 5, the conductive layer 33 is removed by etching to form a wiring layer 36. Next, in step 6, a surface treatment is performed with a specific polar compound. As the treatment method, an immersion method, a spraying method using a spray, or the like can be used. In this example, the layer 37 of the specific polar compound is shown, but it is unclear what form it is actually in.

その後、ステップ7で、特定有機化合物による処理を行い、特定有機化合物層38を形成する。この処理方法としては、浸漬法やスプレーによる吹き付け法等を用いることができる。さらにその後、特定有機化合物による処理を繰り返し、あるいは、他の特定有機化合物による処理を行ってもよい(ステップは図示されていない)。その処理の方法としては、浸漬法、スプレーによる吹きつけ法等を用いることができる。   Thereafter, in step 7, the treatment with the specific organic compound is performed to form the specific organic compound layer 38. As this processing method, an immersion method, a spraying method by spraying, or the like can be used. Further, thereafter, the treatment with the specific organic compound may be repeated, or the treatment with another specific organic compound may be performed (steps are not shown). As the treatment method, a dipping method, a spraying method using a spray, or the like can be used.

その後、ステップ8で、次の層である上側の絶縁層39を形成する。その後上下の配線層の導通をとるために、ビアホールを形成する。このような、プロセスを繰り返すことにより、多層回路基板が形成できる。1層目のビルドアップ絶縁層を形成するガラス繊維強化樹脂上の銅箔に、上記ステップ6以降を適用することも有用である。   Thereafter, in step 8, an upper insulating layer 39, which is the next layer, is formed. Thereafter, via holes are formed in order to establish conduction between the upper and lower wiring layers. By repeating such a process, a multilayer circuit board can be formed. It is also useful to apply Step 6 and subsequent steps to the copper foil on the glass fiber reinforced resin that forms the first buildup insulating layer.

なお、図3,4の各ステップでは、特定極性化合物の層37および特定有機化合物層38を配線層36上にのみ示したが、これはステップ6,7で何らかの洗浄工程が含まれている場合を想定したものである。そのような洗浄のない場合は、他の部分にも同様の層が形成されることになるが、多層回路基板の品質(密着性等)に影響のない限り、問題はない。   In each step of FIGS. 3 and 4, the specific polar compound layer 37 and the specific organic compound layer 38 are shown only on the wiring layer 36. This is the case where some cleaning process is included in steps 6 and 7. Is assumed. Without such cleaning, the same layer is formed in other parts, but there is no problem as long as the quality (adhesion etc.) of the multilayer circuit board is not affected.

次に本発明の実施例および比較例を詳述する。ピール強度は、JIS C−6481に準じた90度剥離試験で行った。   Next, examples and comparative examples of the present invention will be described in detail. The peel strength was measured by a 90-degree peel test according to JIS C-6481.

[実施例1]
厚さ35μmの電気めっき銅箔を、4−ニトロ安息香酸(関東化学)1重量%、水酸化ナトリウム(関東化学)0.5重量%および4−シアノ安息香酸(関東化学)1重量%を含む水溶液で5分間浸漬処理を行い、第一の処理体を得た。次にこの銅箔について、1重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(KBM−803:信越化学工業製)水溶液で5分間浸漬処理を行い、100℃,30分のベークで乾燥させ、第二の処理体を得た。
[Example 1]
35 μm thick electroplated copper foil containing 1% by weight of 4-nitrobenzoic acid (Kanto Chemical), 0.5% by weight of sodium hydroxide (Kanto Chemical) and 1% by weight of 4-cyanobenzoic acid (Kanto Chemical) Immersion treatment was performed for 5 minutes with an aqueous solution to obtain a first treated body. Next, this copper foil was immersed in a 1% by weight aqueous solution of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane (KBM-803: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes, dried by baking at 100 ° C. for 30 minutes, The processed body was obtained.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。   The treatment surface was overlaid so that the thermosetting epoxy resin sheet in a semi-cured state (B stage) was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値は8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[実施例2]
実施例1に記載の4−シアノ安息香酸に代えてシアン化ナトリウムを用い、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン水溶液に代えて、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(KBE−903:信越化学工業製)水溶液を使用した以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 2]
Instead of 4-cyanobenzoic acid described in Example 1, sodium cyanide was used, and instead of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane aqueous solution, γ-aminopropyltriethoxysilane (KBE-903: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) aqueous solution Except for the use of, vacuum was applied so that the semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface of the second treated body obtained by treating in the same manner as in Example 1. Pressing was performed at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値は8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[比較例1]
厚さ35μmの電気めっき銅箔について、4−ニトロ安息香酸(関東化学)1重量%、水酸化ナトリウム(関東化学)0.5重量%および4−シアノ安息香酸(関東化学)1重量%を含む水溶液で5分間浸漬処理を行った。100℃,30分のベークで乾燥した。処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPaの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間エポキシ樹脂を硬化させた。
[Comparative Example 1]
About 35 μm thick electroplated copper foil, 1 wt% 4-nitrobenzoic acid (Kanto Chemical), 0.5 wt% sodium hydroxide (Kanto Chemical) and 1 wt% 4-cyanobenzoic acid (Kanto Chemical) Immersion treatment was carried out with an aqueous solution for 5 minutes. Dried at 100 ° C. for 30 minutes. The treatment surface was overlaid so that a semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MPa for 5 minutes. Thereafter, the epoxy resin was taken out from the vacuum press and cured at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.4kgf/cm(換算値は4N/cm)の値しか得られなかった。   As a result of cutting the copper foil into 1 cm width and measuring the peel strength, only a value of 0.4 kgf / cm (converted value was 4 N / cm) was obtained.

[比較例2]
厚さ35μmの電気めっき銅箔を、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(KBE−903:信越化学工業製)1重量%を含む水溶液を使用して、室温で5分間浸漬処理し、100℃,30分のベークで乾燥した。処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPaの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間エポキシ樹脂を硬化させた。
[Comparative Example 2]
An electroplated copper foil having a thickness of 35 μm was immersed in an aqueous solution containing 1% by weight of γ-aminopropyltriethoxysilane (KBE-903: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes at room temperature, 100 ° C., 30 Dry with a bake of minutes. The treatment surface was overlaid so that a semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MPa for 5 minutes. Thereafter, the epoxy resin was taken out from the vacuum press and cured at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.1kgf/cm(換算値は1N/cm)の値しか得られなかった。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, only a value of 0.1 kgf / cm (converted value was 1 N / cm) was obtained.

[実施例3]
実施例1に記載の4−ニトロ安息香酸に代えて4−ニトロフタル酸(関東化学)を用いた以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 3]
For the treated surface of the second treated product obtained in the same manner as in Example 1 except that 4-nitrophthalic acid (Kanto Chemical) was used instead of 4-nitrobenzoic acid described in Example 1. The thermosetting epoxy resin sheet in a semi-cured state (B stage) was stacked so as to be in contact with each other, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[実施例4]
実施例1に記載の4−ニトロ安息香酸に代えて5−ニトロ−サリチル酸(関東化学製)を用いた以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 4]
On the treated surface of the second treated product obtained in the same manner as in Example 1 except that 5-nitro-salicylic acid (manufactured by Kanto Chemical) was used instead of 4-nitrobenzoic acid described in Example 1. On the other hand, it was piled up so that the thermosetting epoxy resin sheet in a semi-cured state (B stage) was in contact, and it was pressed for 5 minutes under a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[実施例5]
実施例1に記載の1重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(KBM−803:信越化学工業製)水溶液に代えて0.5重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシランと0.5重量%のγ−アミノプロピルトリエトキシシランとを含有する水溶液を用いた以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 5]
Instead of the aqueous solution of 1% by weight of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane (KBM-803: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) described in Example 1, 0.5% by weight of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane and 0.5% by weight Except that an aqueous solution containing γ-aminopropyltriethoxysilane was used, the semi-cured state (B stage) was applied to the treated surface of the second treated body obtained in the same manner as in Example 1. The thermosetting epoxy resin sheets were stacked so that they were in contact with each other, and pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[実施例6]
実施例1に記載の1重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(KBM−803:信越化学工業製)水溶液に代えて1重量%の2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)水溶液を用いた以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 6]
Instead of the aqueous solution of 1% by weight of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane (KBM-803: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) described in Example 1, 1% by weight of 2,4,6-trimercapto-1,3,5- A semi-cured state (with respect to the treated surface of the second treated product obtained in the same manner as in Example 1 except that an aqueous solution of triazine monosodium salt (Santhiol N-1, Sankyo Kasei) was used. The thermosetting epoxy resin sheet of (B stage) was stacked so as to be in contact with each other, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.8kgf/cm(換算値8N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.8 kgf / cm (converted value: 8 N / cm) was obtained.

[実施例7]
実施例1に記載の1重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(KBM−803:信越化学工業製)水溶液に代えて1重量%の2−アニリノ−4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(ジスネットAF、三協化成製)水溶液を用いた以外は、実施例1と同様に処理して得た第二の処理体の処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。
[Example 7]
Instead of the 1% by weight γ-mercaptopropyltrimethoxysilane (KBM-803: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) aqueous solution described in Example 1, 1% by weight of 2-anilino-4,6-trimercapto-1,3 A semi-cured state (B) was applied to the treated surface of the second treated body obtained in the same manner as in Example 1, except that an aqueous solution of 5-triazine monosodium salt (Disnet AF, manufactured by Sankyo Kasei) was used. The thermosetting epoxy resin sheet of (stage) was placed in contact with each other, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.7kgf/cm(換算値7N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.7 kgf / cm (converted value: 7 N / cm) was obtained.

[実施例8]
厚さ35μmの電気めっき銅箔を、4−ニトロ安息香酸(関東化学)1重量%、水酸化ナトリウム(関東化学)0.5重量%および4−シアノ安息香酸(関東化学)1重量%を含む水溶液で5分間浸漬処理を行い、第一の処理体を得た。次にこの銅箔について、1重量%の2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)水溶液で5分間浸漬処理を行い、100℃,30分のベークで乾燥させ、ついで、1重量%のγ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(KBM−803:信越化学工業製)水溶液で5分間浸漬処理を行い、100℃,30分のベークで乾燥させ、第二の処理体を得た。
[Example 8]
35 μm thick electroplated copper foil containing 1% by weight of 4-nitrobenzoic acid (Kanto Chemical), 0.5% by weight of sodium hydroxide (Kanto Chemical) and 1% by weight of 4-cyanobenzoic acid (Kanto Chemical) Immersion treatment was performed for 5 minutes with an aqueous solution to obtain a first treated body. Next, this copper foil was immersed in a 1% by weight aqueous solution of 2,4,6-trimercapto-1,3,5-triazine monosodium salt (Sunthiol N-1, manufactured by Sankyo Kasei) for 5 minutes. , Dried at 100 ° C. for 30 minutes, and then immersed in an aqueous solution of 1% by weight of γ-mercaptopropyltrimethoxysilane (KBM-803: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes, at 100 ° C. for 30 minutes. It dried by baking and the 2nd processed body was obtained.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させ、絶縁樹脂層とした。   The treatment surface was overlaid so that the thermosetting epoxy resin sheet in a semi-cured state (B stage) was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press at 150 ° C. and 1 MP for 5 minutes. Then, it took out from the vacuum press and hardened the epoxy resin by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure to obtain an insulating resin layer.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した結果、0.9kgf/cm(換算値9N/cm)と高い値が得られた。   As a result of cutting the copper foil into a width of 1 cm and measuring the peel strength, a high value of 0.9 kgf / cm (converted value: 9 N / cm) was obtained.

なお、上記に開示した内容から、下記の付記に示した発明が導き出せる。   In addition, the invention shown to the following additional remarks can be derived from the content disclosed above.

(付記1)
配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板において、
当該配線層表面にニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基が少なくとも存在し、
その直上に、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物が存在し、
さらにその直上に当該絶縁樹脂層が存在する、
多層回路基板。
(Appendix 1)
In a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
At least a nitro group, a carboxy group and a cyano group are present on the surface of the wiring layer,
Directly there are organic compounds that can adsorb or react with nitro, carboxy and cyano groups,
Furthermore, the insulating resin layer is present immediately above.
Multi-layer circuit board.

(付記2)
前記有機化合物が、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールである、付記1に記載の多層回路基板。
(Appendix 2)
The multilayer circuit board according to appendix 1, wherein the organic compound is a silane coupling agent or a triazine thiol of formula 1 or a silane coupling agent and a triazine thiol of formula 1.

Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
(付記3)
前記シランカップリング剤が、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ビニル基、ジアルキルアミノ基およびピリジン基からなる群から選ばれた基を少なくとも一つ含むものである、付記2に記載の多層回路基板。
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
(Appendix 3)
The multilayer circuit according to appendix 2, wherein the silane coupling agent includes at least one group selected from the group consisting of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a vinyl group, a dialkylamino group, and a pyridine group. substrate.

(付記4)
前記配線層が銅からなるものである、付記1〜3のいずれかに記載の多層回路基板。
(Appendix 4)
The multilayer circuit board according to any one of appendices 1 to 3, wherein the wiring layer is made of copper.

(付記5)
前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含むものである、付記1〜4のいずれかに記載の多層回路基板。
(Appendix 5)
The insulating resin layer, the group consisting of polyimide resins, epoxy resins, bismaleimide resins, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, o olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resins and polyether ether ketone resin The multilayer circuit board according to any one of appendices 1 to 4, which includes at least one resin selected from the above.

(付記6)
配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板の製造方法において、
当該配線層表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物を含む処理液で処理して第一の処理体を形成し、
当該第一の処理体の表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物で処理して第二の処理体を形成し、
当該第二の処理体上に絶縁樹脂層を形成する
ことを含む、多層回路基板の製造方法。
(Appendix 6)
In a method for manufacturing a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
The wiring layer surface is treated with a treatment liquid containing a compound containing at least a nitro group, a carboxy group and a cyano group or an alkali metal salt thereof or a mixture thereof to form a first treated body,
Treating the surface of the first treated body with an organic compound capable of adsorbing or reacting with a nitro group, a carboxy group and a cyano group to form a second treated body;
A method for manufacturing a multilayer circuit board, comprising forming an insulating resin layer on the second treatment body.

(付記7)
前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、ニトロ安息香酸、ニトロフタル酸、ニトロサリチル酸およびそれらのアルカリ金属塩からなる群から選ばれた化合物を含む、付記6に記載の多層回路基板の製造方法。
(Appendix 7)
The compound containing at least the nitro group, carboxy group, and cyano group, or an alkali metal salt thereof, or a mixture thereof includes a compound selected from the group consisting of nitrobenzoic acid, nitrophthalic acid, nitrosalicylic acid, and alkali metal salts thereof. A method for manufacturing a multilayer circuit board according to appendix 6.

(付記8)
前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、シアノ安息香酸、シアノフェノール、ジシアノベンゼン、シアノ酢酸、それらのアルカリ金属塩、シアン化ナトリウム、およびシアン化カリウムからなる群から選ばれた化合物を含む、付記6または7に記載の多層回路基板の製造方法。
(Appendix 8)
The compound containing at least the nitro group, carboxy group and cyano group, or an alkali metal salt thereof or a mixture thereof is selected from cyanobenzoic acid, cyanophenol, dicyanobenzene, cyanoacetic acid, an alkali metal salt thereof, sodium cyanide, and potassium cyanide. The method for producing a multilayer circuit board according to appendix 6 or 7, comprising a compound selected from the group consisting of:

(付記9)
前記有機化合物が、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールである、付記6〜8のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法。
(Appendix 9)
The method for producing a multilayer circuit board according to any one of appendices 6 to 8, wherein the organic compound is a silane coupling agent or a triazine thiol of formula 1 or a silane coupling agent and a triazine thiol of formula 1.

Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
(付記10)
前記シランカップリング剤が、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ビニル基、ジアルキルアミノ基およびピリジン基からなる群から選ばれた基を少なくとも一つ含むものである、付記9に記載の多層回路基板の製造方法。
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
(Appendix 10)
The multilayer circuit according to appendix 9, wherein the silane coupling agent includes at least one group selected from the group consisting of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a vinyl group, a dialkylamino group, and a pyridine group. A method for manufacturing a substrate.

(付記11)
前記配線層が銅からなるものである、付記6〜10のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法。
(Appendix 11)
The method for manufacturing a multilayer circuit board according to any one of appendices 6 to 10, wherein the wiring layer is made of copper.

(付記12)
前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含むものである、付記6〜11のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法。
(Appendix 12)
The insulating resin layer, the group consisting of polyimide resins, epoxy resins, bismaleimide resins, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, o olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resins and polyether ether ketone resin The manufacturing method of the multilayer circuit board in any one of appendix 6-11 containing at least 1 resin chosen from these.

(付記13)
付記6〜12のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法によって作製された多層回路基板。
(Appendix 13)
A multilayer circuit board produced by the method for producing a multilayer circuit board according to any one of appendices 6 to 12.

本発明に係る多層回路基板の断面構造を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the cross-sectional structure of the multilayer circuit board based on this invention. 本発明に係る多層回路基板の断面構造を模式的に示す他の図である。It is another figure which shows typically the cross-section of the multilayer circuit board based on this invention. 本発明に係る多層回路基板の製造方法を用いてビルドアップ多層回路基板を形成する方法の手順を例示する図である。It is a figure which illustrates the procedure of the method of forming a buildup multilayer circuit board using the manufacturing method of the multilayer circuit board which concerns on this invention. 本発明に係る多層回路基板の製造方法を用いてビルドアップ多層回路基板を形成する方法の手順を例示する他の図である。It is another figure which illustrates the procedure of the method of forming a buildup multilayer circuit board using the manufacturing method of the multilayer circuit board which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 配線層
2 第一の処理体の処理面層
3 第二の処理体の処理面層
3’ トリアジンチオールまたはシランカップリング剤で処理して生成した処理面層
3” シランカップリング剤またはトリアジンチオールで処理して生成した処理面層
4 絶縁樹脂層
6 基板
31 基板
32 絶縁層
33 通電層
34 レジスト
35 電気銅めっき
36 配線層
37 特定極性化合物の層
38 特定有機化合物層
39 絶縁層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wiring layer 2 Processed surface layer of 1st process body 3 Processed surface layer of 2nd process body 3 'Processed surface layer produced | generated by processing with triazine thiol or a silane coupling agent 3 "Silane coupling agent or triazine thiol Surface layer 4 produced by treatment in step 4 Insulating resin layer 6 Substrate 31 Substrate 32 Insulating layer 33 Conductive layer 34 Resist 35 Electro copper plating 36 Wiring layer 37 Layer of specific polar compound 38 Specific organic compound layer 39 Insulating layer

Claims (10)

配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板において、
当該配線層表面にニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基の全てが少なくとも存在し、
その直上に、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物が存在し、
さらにその直上に当該絶縁樹脂層が存在する、
多層回路基板。
In a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
At least all of the nitro group, carboxy group and cyano group are present on the surface of the wiring layer,
Directly there are organic compounds that can adsorb or react with nitro, carboxy and cyano groups,
Furthermore, the insulating resin layer is present immediately above.
Multi-layer circuit board.
前記有機化合物が、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールである、請求項1に記載の多層回路基板。
Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
The multilayer circuit board according to claim 1, wherein the organic compound is a silane coupling agent or a triazine thiol of formula 1 or a silane coupling agent and a triazine thiol of formula 1.
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
前記シランカップリング剤が、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ビニル基、ジアルキルアミノ基およびピリジン基からなる群から選ばれた基を少なくとも一つ含むものである、請求項2に記載の多層回路基板。   The multilayer according to claim 2, wherein the silane coupling agent contains at least one group selected from the group consisting of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a vinyl group, a dialkylamino group, and a pyridine group. Circuit board. 前記配線層が銅からなるものである、請求項1〜3のいずれかに記載の多層回路基板。   The multilayer circuit board according to claim 1, wherein the wiring layer is made of copper. 前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含むものである、請求項1〜4のいずれかに記載の多層回路基板。 The insulating resin layer, the group consisting of polyimide resins, epoxy resins, bismaleimide resins, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, o olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resins and polyether ether ketone resin The multilayer circuit board according to claim 1, comprising at least one resin selected from the group consisting of: 配線層と絶縁樹脂層とを有する多層回路基板の製造方法において、
当該配線層表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基の全てを少なくとも含む1種以上の化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物を含む処理液で処理して第一の処理体を形成し、
当該第一の処理体の表面を、ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基に吸着または反応し得る有機化合物で処理して第二の処理体を形成し、
当該第二の処理体上に絶縁樹脂層を形成する
ことを含む、多層回路基板の製造方法。
In a method for manufacturing a multilayer circuit board having a wiring layer and an insulating resin layer,
The wiring layer surface is treated with a treatment liquid containing at least one compound containing at least all of nitro group, carboxy group and cyano group , or an alkali metal salt thereof, or a mixture thereof to form a first treated body,
Treating the surface of the first treated body with an organic compound capable of adsorbing or reacting with a nitro group, a carboxy group and a cyano group to form a second treated body;
A method for manufacturing a multilayer circuit board, comprising forming an insulating resin layer on the second treatment body.
前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、ニトロ安息香酸、ニトロフタル酸、ニトロサリチル酸およびそれらのアルカリ金属塩からなる群から選ばれた化合物を含む、請求項6に記載の多層回路基板の製造方法。   The compound containing at least the nitro group, carboxy group, and cyano group, or an alkali metal salt thereof, or a mixture thereof includes a compound selected from the group consisting of nitrobenzoic acid, nitrophthalic acid, nitrosalicylic acid, and alkali metal salts thereof. The manufacturing method of the multilayer circuit board of Claim 6. 前記ニトロ基、カルボキシ基およびシアノ基を少なくとも含む化合物またはそのアルカリ金属塩またはそれらの混合物が、シアノ安息香酸、シアノフェノール、ジシアノベンゼン、シアノ酢酸、それらのアルカリ金属塩、シアン化ナトリウム、およびシアン化カリウムからなる群から選ばれた化合物を含む、請求項6または7に記載の多層回路基板の製造方法。   The compound containing at least the nitro group, carboxy group and cyano group, or an alkali metal salt thereof or a mixture thereof is selected from cyanobenzoic acid, cyanophenol, dicyanobenzene, cyanoacetic acid, an alkali metal salt thereof, sodium cyanide, and potassium cyanide. The manufacturing method of the multilayer circuit board of Claim 6 or 7 containing the compound chosen from the group which consists of. 前記有機化合物が、シランカップリング剤または式1のトリアジンチオールまたは、シランカップリング剤および式1のトリアジンチオールである、請求項6〜8のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法。
Figure 0004850525
(式1中、SAのAは、水素、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムを表し、Xはメチル基、エチル基、プロピル基およびフェニル基からなる群から選ばれた少なくとも一つの基で置換されていてもよいアミノ基またはSAを表す。なお、SAの少なくともいずれかにはSHが含まれる。
The manufacturing method of the multilayer circuit board in any one of Claims 6-8 whose said organic compound is a silane coupling agent or the triazine thiol of Formula 1, or a silane coupling agent and the triazine thiol of Formula 1.
Figure 0004850525
(In formula 1, A in SA represents hydrogen, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium, and X is substituted with at least one group selected from the group consisting of methyl, ethyl, propyl and phenyl groups. Represents an optionally substituted amino group or SA, where at least one of SA includes SH.
請求項6〜9のいずれかに記載の多層回路基板の製造方法によって作製された多層回路基板。   A multilayer circuit board produced by the method for producing a multilayer circuit board according to claim 6.
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