JP4838270B2 - レーザパルスアブレーションを使った物理化学的分析のための方法とシステム - Google Patents
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Description
キャリブレーション曲線と実験的な測定の間の、プラズマの温度の変化を克服するために、プラズマの温度を見積もることが知られている。
C. Chaleard、P. Mauchien、N. Andre、J. Uebbing、J.L. Lacour、C.J. Geertsen著、「レーザアブレーション光学発光分光法を用いた質量成分分析におけるマトリックス効果の較正」、the journal "J. Anal. At. Spectrom." 第12巻、1997年、183頁」
本発明は、発明に特有な多くの観点からもたらされる。すなわち:
i) プラズマ温度決定と関係する誤差は、分光データに関わる不確定性と、以下で記載するような結果の不正確さを増やす温度計算における指数関数の存在とに起因して、材料の濃度測定に関して少なくとも20%の強い不確定性をもたらす。
ii)レーザパルスによって行なわれた材料アブレーションの後に、プラズマの温度が図1に示すように長い時間にわたって低下する。図1は、アブレーションから経過した時間(x軸、μsによる)の関数としてのプラズマの温度(y軸、ケルビン温度による)を示す。
この理由により、本発明は、レーザパルスによってアブレーションを施される時に、レーザビームによって生成されたプラズマに存在する追跡成分からの2つの発光ラインの強度の比を用いて材料の物理化学的分析をするための方法であって、
このプラズマ中で分析される成分の濃度が、一方では、分析されるこの成分の濃度と発光ラインの強度との間の対応を示し、また、他方では、追跡成分の2つのラインの強度間の種々の比であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定の手段によって決定されることを特徴とする方法に関連している。
このプラズマ中で分析される成分の濃度を、分析されるこの成分の濃度と発光ラインの強度の変化との間の対応を示し、また、追跡成分の2つのラインの強度間の種々の比R(T)であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定を用いて決定するための手段を含むことを特徴とするシステムにも関連している。
このプラズマ中で分析される成分の濃度を、発光ラインの様々な強度に対する分析されるこの成分の濃度間の対応を示し、また、追跡成分の2つのラインの強度間の種々の比R(T)であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定を用いて表示することを特徴とする画像素子にも関連している。
I=f([C]、R(T))
I(R)=a2(R)・C2+a1(R)・C+a0(R)
の形式に書くことができる。キャリブレーション曲線が直線であるならば、この式はさらに簡単に、
I(R)=a1(R)・C+a0(R)
の形式に書くことができる。パラメータa2(R),a1(R),a0(R)は、測定点をに基づいて決定されるべきものである。
・この方法は、多種多様な物理化学的特性を備えた材料の分析に対する、物理化学的意味でのキャリブレーションの低い多様性を必要とする。
・この方法は、物理化学的組成が全く未知であるような材料に適用される;
・この方法は、表面上に堆積されたレーザのエネルギーがアバクスを作成する際に使われるものとは異なる場合に適用される;
・追跡成分は、それ自体が分析される成分の1つでありうる;
・この方法は、従来のキャリブレーション技術のように相対的な操作であるので、正確である。パラメータK(λ)の計算が存在せず、あるいは、そのデータの決定が誤差の源となるような分光器データgAiおよびZi(T)の決定も存在しない;
・この方法により、測定における時間を節約することを可能にする(分析されるそれぞれのタイプの材料に対する組織的なキャリブレーションはもはや必要ない);
・この方法は、代表的なキャリブレーション(しばしば実在しない)を持つ必要性を排除することを可能にする;
この方法は、異種のサンプルまたは未知のマトリックスのサンプルの分析を可能にすることによって、適用技術範囲の拡大を可能にする。
21 コンピュータ
22 レーザビーム
24 材料
26 放射
28 光ファイバー
30 分光計
32 カメラ
Claims (10)
- レーザビーム(22)によってアブレーションを施される時に、前記レーザビームによって生成されたプラズマからの追跡成分の2つのラインの強度の比を用いて材料(24)の物理化学的分析をするための方法であって、
前記レーザビームによって生成されたプラズマ中で分析される成分の濃度が、一方では、分析されるこの成分の濃度と発光ラインの強度との間の対応を示し、また、他方では、追跡成分の少なくとも2つのラインの強度間の種々の比R(T)であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定を用いて決定されることを特徴とする方法。 - 取得遅れ(td)、すなわちレーザアブレーションパルスとプラズマのライン強度の測定との間の遅れは、プラズマ温度を表現する比R(T)を修正するように修正されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 分析される成分と異なる追跡成分が使われることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 分析される成分自体が追跡成分として使用されることを特徴とする請求項1または2のいずれか1項に記載の方法。
- 分析されるための成分の濃度の変化は、温度を表現する同じ比R(T)に対して、分析される成分の少なくとも1つのラインの強度の測定が、キャリブレーション材料に存在する分析されるこの成分の種々の濃度に依存するようなテーブルで示されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。
- テーブルに基づいて、分析される成分の少なくとも1つのラインの強度の測定を結びつけて、分析されるこの成分の種々の濃度の関数、例えば線形回帰または二次回帰を用いた関数として、曲線が構築されることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。
- アブレーションされた質量の正規化のための方法、および/または、主要な成分あるいは既知の濃度の成分についての正規化のための方法が使われることを特徴とする請求項5または6に記載の方法。
- 分析される成分の濃度は、種々のレーザビーム発射によって得られた測定値の平均を得ることによって決定されることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の方法。
- レーザビームによってアブレーションを施される時に、前記レーザビームによって生成されたプラズマからの追跡成分の2つの発光ラインの強度の比を用いて材料の物理化学的分析をするためのシステムであって、
前記レーザビームによって生成されたプラズマ中で分析される成分の濃度を、一方では、分析されるこの成分の濃度と発光ラインの強度の変化との間の対応を示し、また、他方では、追跡成分の2つのラインの強度間の種々の比R(T)であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定を用いて決定するための手段を含むことを特徴とするシステム。 - レーザビームによってアブレーションを施される時に、前記レーザビームによって生成されたプラズマからの追跡成分の2つの発光ラインの強度の比を用いて材料の物理化学的分析をすることを対象とするソフトウェア手段であって、
前記レーザビームによって生成されたプラズマ中で分析される成分の濃度を、一方では、分析されるこの成分の濃度と発光ラインの種々の強度との間の対応を示し、また、他方では、追跡成分の2つのラインの強度間の種々の比R(T)であってプラズマ温度を表現する比を示す、キャリブレーション測定を用いて決定することを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の方法に従ったソフトウェア手段。
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