JP4559273B2 - Actuator manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、アクチュエータの製造方法に関するものである。 The present invention relates to a manufacturing method of the actuator.
従来より、MEMS(Micro-Erectro-Mechanical-Systems)技術を用いてシリコン基板を加工し、光スイッチ等のマイクロ構造体を形成することが知られている。図4は、MEMS技術により製造された従来の光スイッチを示す斜視図である。櫛歯形状の櫛歯電極1aとそれを支持する梁部1bとが一体的に形成されて可動部1を構成しており、該可動部1は梁部1bの末端部に同じく一体的に形成された支持電極2を支点として、シリコン支持基板3cの平坦面上に中空状態で保持されている。(例えば、特許文献1、2参照)
Conventionally, it is known that a silicon substrate is processed using a MEMS (Micro-Erectro-Mechanical-Systems) technique to form a micro structure such as an optical switch. FIG. 4 is a perspective view showing a conventional optical switch manufactured by MEMS technology. A comb-shaped comb-shaped electrode 1a and a
櫛歯電極1aと対向する位置には、光スイッチの外縁部を構成するフレーム部4と一体的に形成された櫛歯形状の対向電極4aが設けられており、それら対向する電極間に電圧を印加すると各櫛歯間(電極間)に静電引力が発生し、可動部1の梁部1bが撓むことで可動部1全体が支持電極2を支点としてシリコン支持基板3cの平坦面に沿って揺動する。可動部1の先端部は、幅広に拡張されたミラー台座5として形成されており、その上部には角柱状のミラー部6が設けられている。静電引力により可動部1が揺動すると、ミラー部6に照射される光の光路が偏向され、光スイッチとして機能する。
A comb-
図5は、図4に示した従来の光スイッチの製造工程を説明するための図で、工程毎の要部断面図である。以下、図5を参照して従来の光スイッチの製造工程について説明する。
工程(a):シリコン活性層3a、シリコン酸化物層である中間層3b、シリコン支持基板3cよりなるシリコン積層体(SOI基板)3のシリコン活性層3a表面全体にマスキング用の耐性膜7をスパッタリング等により形成する。耐性膜7は、例えばクロム(Cr)よりなり、シリコンの深異方性の反応性イオンエッチングとフッ酸(HF)に対して耐性のある膜である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a manufacturing process of the conventional optical switch shown in FIG. Hereinafter, a manufacturing process of a conventional optical switch will be described with reference to FIG.
Step (a): Sputtering a masking resistant film 7 on the entire surface of the silicon
工程(b):耐性膜7をエッチングにより所望のパターン形状にパターニングし、第一のマスキングパターン7aを形成する。この第一のマスキングパターン7aは、SOI基板3のシリコン支持基板3c上に光スイッチを構成する主な構造体(可動部1、支持電極2等)をエッチングにより形成するためのものであり、そのパターン形状は、それら構造体を上方から見た外形と同一である。(第一のマスキング工程)
Step (b): The resistant film 7 is patterned into a desired pattern shape by etching to form a
耐性膜7をパターニングする際には、まず、ポジ型フォトレジストを前記耐性膜7表面にスピンコートにより均一に塗布する。塗布後、所望のマスキングパターン形状を有するフォトマスクを被せてフォトレジストの紫外線露光を行い、露光後、現像液を用いて露光された領域のフォトレジストを除去する。その後、以上の工程により形成されたフォトレジストパターンをエッチングマスクとして、露出領域の耐性膜7をウェットエッチングにより除去する。 When patterning the resistant film 7, first, a positive photoresist is uniformly applied to the surface of the resistant film 7 by spin coating. After coating, the photoresist is covered with a photomask having a desired masking pattern shape, and the photoresist is exposed to ultraviolet rays. After the exposure, the exposed region of the photoresist is removed using a developer. Thereafter, the resistant film 7 in the exposed region is removed by wet etching using the photoresist pattern formed by the above steps as an etching mask.
工程(c):前工程(b)で形成された第一のマスキングパターン7aをエッチングマスクとして、露出領域のシリコン活性層3aを深異方性の反応性イオンエッチングにより、エッチングのストップ層である中間層3bが露出するまでエッチングする。これにより、シリコン活性層3aが加工されて、光スイッチを構成する主な構造体(可動部1、支持電極2等)が形成される。
Step (c): Using the
工程(d):前工程(c)でエッチングマスクとして用いた第一のマスキングパターン7aをウェットエッチングにより除去する。
Step (d): The
工程(e):露出領域の中間層3b表面を含め、シリコン活性層3aの表面全体にクロム(Cr)からなる耐性膜7をスパッタリング等により形成する。尚、耐性膜7は、前記工程(a)で用いたものと同じである。
Step (e): A resistant film 7 made of chromium (Cr) is formed on the entire surface of the silicon
工程(f):前工程(e)で形成した耐性膜7を前記工程(b)に倣ってウェットエッチングにより所望のパターン形状にパターニングし、第二のマスキングパターン7bを形成する。この第二のマスキングパターン7bは、エッチングによりミラー台座5上にミラー部6を形成するためのものであり、そのパターン形状は、ミラー部6を上方から見た外形と同一である。(第二のマスキング工程)
Step (f): The resistant film 7 formed in the previous step (e) is patterned into a desired pattern shape by wet etching following the step (b) to form a
工程(g):前工程(f)で形成した第二のマスキングパターン7bをエッチングマスクとして、露出領域のシリコン活性層3aを深異方性の反応性イオンエッチングにより一定量エッチングする。エッチング量は、形成するミラー部6の高さに応じて適宜選択すればよく、例えば、深さ方向に50μmである。これにより、ミラー台座5上に角柱状のミラー部6が形成される。
Step (g): Using the
工程(h):前工程(g)でエッチングマスクとして用いた第二のマスキングパターン7bをウェットエッチングにより除去する。
Step (h): The
工程(i):中間層3bを一部(支持電極2下部、フレーム部4下部等)を除いて等方性のウェットエッチングにより除去し、シリコン活性層3aの一部(可動部1)をシリコン支持基板3cより切り離す。ウェットエッチングに用いるエッチング液としては、例えばフッ酸(HF)が挙げられるが、中間層3bのみを選択的にエッチングできるものであれば、他のエッチング液を用いても構わない。
Step (i): The
以上の工程により、シリコン支持基板3c上に光スイッチを構成する各構造体が形成され、光スイッチとして完成した状態となる。そして、完成した光スイッチ全体をアセトン等の洗浄液に浸漬することで洗浄し、その後洗浄液を乾燥させる。
Through the above steps, each structure constituting the optical switch is formed on the
以上説明した光スイッチにおいては、シリコン支持基板上に形成された可動部の底面と、シリコン支持基板表面との隙間は数μmと非常に狭いため、構造体形成後に洗浄液による構造体の洗浄を行うと、可動部底面とシリコン支持基板表面との間に入り込んだ洗浄液の表面張力により、洗浄液乾燥後に可動部底面がシリコン支持基板表面に張り付く「スティクション」が発生するという問題が生じていた。このような現象は、可動部底面の中でも比較的面積の広いミラー台座底面において発生しやすくなっている。 In the optical switch described above, the gap between the bottom surface of the movable part formed on the silicon support substrate and the surface of the silicon support substrate is very narrow, such as several μm. Therefore, the structure is cleaned with the cleaning liquid after the structure is formed. In addition, due to the surface tension of the cleaning liquid that has entered between the bottom surface of the movable part and the surface of the silicon support substrate, there has been a problem that “stiction” occurs in which the bottom surface of the movable part sticks to the silicon support substrate surface after the cleaning liquid is dried. Such a phenomenon is likely to occur on the bottom surface of the mirror base having a relatively large area among the bottom surfaces of the movable part.
具体的には、構造体が形成されたSOI基板を洗浄液の浸漬から開放した直後は、可動部底面とシリコン支持基板表面との間にある程度の洗浄液が存在しており、可動部はその洗浄液の流動に任せてシリコン支持基板表面上を揺動可能な状態となっているが、その後の洗浄液乾燥工程で可動部底面とシリコン支持基板表面との間の洗浄液が蒸発して徐々に減少すると、それに伴って洗浄液の表面張力により可動部底面がシリコン支持基板表面側に引っ張られ、洗浄液の表面張力が強い場合には、洗浄液が完全に蒸発した瞬間に可動部底面がその時点での揺動位置でシリコン支持基板表面に張り付いてしまう。このようにスティクションが発生したものは、当然光スイッチとして正常な動作を行えるものではなく、不良となってしまう。 Specifically, immediately after the SOI substrate on which the structure is formed is released from the immersion of the cleaning liquid, a certain amount of cleaning liquid exists between the bottom surface of the movable part and the surface of the silicon support substrate. It is in a state where it can swing on the surface of the silicon support substrate depending on the flow, but when the cleaning liquid between the bottom surface of the movable part and the silicon support substrate surface evaporates and gradually decreases in the subsequent cleaning liquid drying process, Along with this, the bottom surface of the movable part is pulled toward the silicon support substrate surface due to the surface tension of the cleaning liquid, and if the surface tension of the cleaning liquid is strong, the bottom surface of the movable part is in the swing position at the moment when the cleaning liquid is completely evaporated. It sticks to the surface of the silicon support substrate. When stiction occurs in this way, it is a matter of course that a normal operation cannot be performed as an optical switch, resulting in a failure.
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、可動部底面がシリコン支持基板表面に張り付くスティクションの発生を抑制したアクチュエータの製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is movable bottom face to provide a method of manufacturing an actuator which suppresses the occurrence of stiction sticking to the silicon support substrate surface.
平坦面を有する基部の当該平坦面上に固定された固定部を支点として可撓性の梁部を介し中空状態で保持された可動部を有すると共に、当該可動部には台座部が設けられ、当該台座部底面には、前記基部側へ向かい階段状に突出した凸型段部が形成され、前記基部の前記台座部底面と対向する領域には前記台座部底面側へ向かい階段状に突出した凸型段部が形成され、互いの凸型段部の先端部が対向配置されて成るアクチュエータの製造方法であって、少なくとも、中間層をシリコン支持基板とシリコン活性層とで挟持してなるシリコン積層体の前記シリコン活性層表面にマスキングパターンを形成する工程と、当該マスキングパターンをエッチングマスクとして、露出領域の前記シリコン活性層を前記中間層が露出するまでエッチングし、前記シリコン支持基板を前記基部として当該基部上に前記固定部、前記梁部、前記可動部、及び前記台座部を含むアクチュエータを構成する主な構造体を形成する工程と、前記マスキングパターンを除去する工程と、前記固定部下部及び前記台座部下部を含む一部の領域を除く前記中間層をエッチングにより除去する工程と、前記シリコン活性層と前記シリコン支持基板の表面を酸化して酸化膜を形成する酸化膜形成工程と、前記酸化膜ならびに前記中間層の一部をエッチングにより除去する酸化膜・中間層除去工程とを有し、前記酸化膜形成工程と前記酸化膜・中間層除去工程を、前記台座部と前記基部の間に残存する前記中間層が全て除去されるまで複数回繰り返すことにより、前記台座部底面と前記基台の前記台座部底面と対向する領域に前記凸型段部を形成するアクチュエータの製造方法とする。 While having a movable portion held in a hollow state via a flexible beam portion with a fixed portion fixed on the flat surface of the base portion having a flat surface as a fulcrum , a pedestal portion is provided in the movable portion, to the base portion bottom surface, a convex stepped portion protruding stepwise towards the said base portion is formed, the said base portion bottom surface facing the region of the base projecting stepwise towards the said base portion bottom surface A method of manufacturing an actuator in which convex stepped portions are formed and tip portions of the respective convex stepped portions are opposed to each other, and at least an intermediate layer is sandwiched between a silicon support substrate and a silicon active layer Engineering and as you form Ma scan King pattern on the silicon active layer surface of the laminate, the skilled 該Ma scan King pattern as an etching mask, the silicon active layer of the exposed region and the intermediate layer is exposed until Dee etching And The fixed portion on the base the serial silicon support substrate as the base, the beam portion, and forming a main structure constituting the movable portion, and an actuator including the pedestal portion, before Kemah scan King pattern removing the the steps of removed by Rijo by the intermediate layer e etching except for the portion including the fixing subordinate part and the base part lower, the surface of the silicon support substrate and the silicon active layer wherein the oxide film forming step of forming an oxide film by oxidizing, and a said oxide film and oxide film and intermediate layer removing step of removing the portion of the e etching of the intermediate layer, and the oxide film forming step oxidation the film and intermediate layer removing step, the intermediate layer remaining between the said pedestal base portion by repeating a plurality of times until all removed, to face the base portion bottom surface of said base and said base portion bottom surface Territory A method of manufacturing an actuator for forming said convex stepped portion.
本発明では、ミラー台座底面に凸型段部を形成し、基板の前記ミラー台座底面と対向する領域にも凸型段部を形成したので、ミラー台座底面及びこれと対向する領域のシリコン基板表面の先端部面積が減ぜられ、ミラー台座底面とその直下のシリコン支持基板表面との間に作用する洗浄液の表面張力が低減されて、洗浄液乾燥直後に可動部底面がシリコン支持基板表面に張り付くスティクションが防止される。 In the present invention, the convex step is formed on the bottom surface of the mirror pedestal, and the convex step portion is also formed in the region facing the mirror pedestal bottom surface of the substrate. The surface area of the cleaning liquid acting between the bottom surface of the mirror base and the surface of the silicon support substrate immediately below it is reduced, and the bottom surface of the movable part sticks to the surface of the silicon support substrate immediately after the cleaning liquid is dried. Is prevented.
可動部先端のミラー台座底面に凸型段部を形成し、基板の前記ミラー台座底面と対向する領域にも凸型段部を形成し、ミラー台座底面の表面積と、該ミラー台座底面と対向するシリコン基板表面の面積を減ずることにより、ミラー台座底面とシリコン支持基板表面との間に作用する洗浄液の表面張力を低減させる構成とする。 A convex step is formed on the bottom surface of the mirror pedestal at the tip of the movable portion, and a convex step portion is also formed in a region facing the mirror pedestal bottom surface of the substrate to face the surface area of the mirror pedestal bottom surface and the mirror pedestal bottom surface. The surface tension of the cleaning liquid acting between the bottom surface of the mirror base and the surface of the silicon support substrate is reduced by reducing the area of the silicon substrate surface.
図1は、本発明による光スイッチの一実施形態を示す図で、(a)は平面図、(b)はA−A断面図である。基本的な構成は、従来の光スイッチと同様であり、シリコン支持基板3c上に中間層3bを介して固定された支持電極2を支点として、それと一体的に形成された可撓性の梁部1bと、同じく一体的に形成された櫛歯電極1aを有する可動部1とが、シリコン支持基板3c上に一定の間隙を介した中空状態で保持されている。可動部1の先端には、幅広に拡張されたミラー台座10が設けられており、その上部には角柱状のミラー部6が一体的に形成されている。また、シリコン支持基板3cの周縁部には、以上の構造体を取り囲むようにシリコン活性層3aからなるフレーム部4が設けられており、その内周側の前記可動部1の櫛歯電極1aと対向する位置には、当該櫛歯電極1aと噛合する櫛歯電極を有する対向電極4aがフレーム部4と一体的に形成されている。
1A and 1B are views showing an embodiment of an optical switch according to the present invention, in which FIG. 1A is a plan view and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA. The basic configuration is the same as that of a conventional optical switch, and a flexible beam portion formed integrally with a supporting
ここで本発明の特徴として、本実施例では前記従来の構成に加え、前記ミラー台座10底面に前記シリコン基板3c側へ向かい階段状に突出した凸型段部10aが形成され、前記シリコン基板3cの前記台座部底面と対向する領域には、前記台座部底面側へ向かい階段状に突出した凸型段部3dが形成され、互いの凸型段部の先端部が対向配置された構成である。
Here, as a feature of the present invention, in this embodiment, in addition to the above-described conventional configuration, a
前記ミラー台座10底面に形成された凸型段部10aと、これに対向した前記シリコン基板3cに形成された凸型段部3dは、それぞれの凸型段部先端のごく僅かな面をもって対向配置された状態となるので、ミラー台座10底面とシリコン支持基板3c表面との間に介在する洗浄液の絶対量を減少することができ、スティクションが防止されるという効果を奏するものである。
The convex stepped
続いて、前記した本発明の光スイッチの製造方法ついて説明する。図2は、本発明による光スイッチの製造工程を示しており、工程毎の要部断面図である。以下、図2を参照して当該製造工程について説明する。尚、図2に示す工程(a)〜(h)までは従来の製造工程と同様であるため詳細な説明は省略する。 Next, a method for manufacturing the optical switch of the present invention will be described. FIG. 2 shows a manufacturing process of the optical switch according to the present invention, and is a cross-sectional view of an essential part for each process. Hereinafter, the manufacturing process will be described with reference to FIG. Since steps (a) to (h) shown in FIG. 2 are the same as the conventional manufacturing steps, detailed description thereof is omitted.
工程(a):シリコン活性層3a、シリコン酸化物層である中間層3b、シリコン支持基板3cよりなるシリコン積層体(SOI基板)3のシリコン活性層3a表面全体にマスキング用の耐性膜7をスパッタリング等により形成する。
Step (a): Sputtering a masking resistant film 7 on the entire surface of the silicon
工程(b):耐性膜7をエッチングにより所望のパターン形状にパターニングし、第一のマスキングパターン7aを形成する。
Step (b): The resistant film 7 is patterned into a desired pattern shape by etching to form a
工程(c):前工程(b)で形成された第一のマスキングパターン7aをエッチングマスクとして、露出領域のシリコン活性層3aを深異方性の反応性イオンエッチングにより、エッチングのストップ層である中間層3bが露出するまでエッチングする。これにより、シリコン活性層3aが加工されて、光スイッチを構成する主な構造体(可動部1、支持電極2等)が形成される。
Step (c): Using the
工程(d):前工程(c)でエッチングマスクとして用いた第一のマスキングパターン7aをウェットエッチングにより除去する。
工程(e):露出領域の中間層3b表面を含め、シリコン活性層3aの表面全体にクロム(Cr)からなる耐性膜7をスパッタリング等により形成する。尚、耐性膜7は、前記工程(a)で用いたものと同じである。
Step (d): The
Step (e): A resistant film 7 made of chromium (Cr) is formed on the entire surface of the silicon
工程(f):前工程(e)で形成した耐性膜7を前記工程(b)に倣ってウェットエッチングにより所望のパターン形状にパターニングし、第二のマスキングパターン7bを形成する。この第二のマスキングパターン7bは、エッチングによりミラー台座10上にミラー部6を形成するためのものである。(第二のマスキング工程)
Step (f): The resistant film 7 formed in the previous step (e) is patterned into a desired pattern shape by wet etching following the step (b) to form a
工程(g):前工程(f)で形成した第二のマスキングパターン7bをエッチングマスクとして、露出領域のシリコン活性層3aを深異方性の反応性イオンエッチングにより一定量エッチングする。エッチング量は、形成するミラー部6の高さに応じて適宜選択すればよく、例えば、深さ方向に50μmである。これにより、ミラー台座10上に角柱状のミラー部6が形成される。
Step (g): Using the
工程(h):前工程(g)でエッチングマスクとして用いた第二のマスキングパターン7bをウェットエッチングにより除去する。ここまでの製造工程は従来技術と同様である。
Step (h): The
工程(i):中間層3bを一部(ミラー台座10下部、支持電極2下部、フレーム部4下部)を除いて等方性のウェットエッチングにより除去し、シリコン活性層3aの一部(櫛歯電極1a)をシリコン支持基板3cより切り離す。ここで、ミラー台座10は切り離されない状態となるようエッチング時間を管理して行う。ウェットエッチングに用いるエッチング液としては、例えばフッ酸(HF)が挙げられるが、中間層3bのみを選択的にエッチングできるものであれば、他のエッチング液を用いても構わない。
Step (i): The
工程(j):前記までの工程を経た光スイッチを酸化炉に投入し、シリコン活性層3aとシリコン支持基板3cに酸化膜11を形成する。該酸化膜11は、シリコン酸化物層である中間層3bを除く光スイッチ構造体の表面に形成される。
Step (j): The optical switch having undergone the above steps is put into an oxidation furnace, and an
工程(k):前工程(j)で形成した酸化膜11とミラー台座10下部に残る中間層3bの一部を等方性のウェットエッチングにより除去する。ここで、工程(j)の酸化膜形成工程と、工程(k)の酸化膜・中間層除去工程を、ミラー台座10下部の中間層3bの全てを除去するまで複数回繰り返す。これにより、ミラー台座10底面部の凸型段部10aと、シリコン支持基板3cの凸型段部3dがそれぞれ対向した状態で階段状に形成される。当該工程で形成される凸型段部10a、3dは同一形状となる。
Step (k): The
前記したミラー台座10の凸型段部10aとこれに対向するシリコン支持基板3cの凸型段部3dの形成工程について、図3のミラー台座近傍の部分拡大図を参照してさらに説明する。
The process of forming the
図3(a)は、中間層3bの除去工程を経たもので、ミラー台座下部には中間層3cが一部残存した状態を示すものである。
FIG. 3A shows a state in which the
図3(b)は、酸化膜11が形成された状態を示すものである。一般にシリコンは酸化される時、成長する酸化膜厚の45%がシリコン基板内部に成長し、55%が外部に成長することが知られているが、本図に示すミラー6、ミラー台座10、シリコン支持基板3cにおいても、形成した酸化膜厚の約半分がその内部に成長した状態となっている。
FIG. 3B shows a state where the
図3(c)は、前記の酸化膜11を等方性のウェットエッチングにより除去した状態を示すもので、シリコン内部にまで成長した酸化膜11を除去することによりミラー台座10底面には凸型段部10aが形成され、シリコン支持基板3cには凸型段部3dが形成される。また、ミラー台座下部に残存する中間層3bもその一部が除去される。
FIG. 3C shows a state in which the
図3(d)〜(g)は、酸化膜形成と酸化膜除去をさらに繰り返した状態を示しており、複数回に分けて行うことにより凸型段部を階段状にし、その先端部面積を減少している。また、ミラー台座10下部に残存する中間層3bは酸化膜除去工程において徐々に除去され、最終的には完全に除去される。本構成においては、酸化膜形成と酸化膜除去を3回繰り返すことにより、3段の階段状凸型段部を形成するとともに、中間層3bを完全に除去し、ミラー台座10下部とシリコン支持基板3cを切り離している。
FIGS. 3D to 3G show a state in which the oxide film formation and the oxide film removal are further repeated, and the convex stepped portion is formed in a step shape by performing a plurality of times, and the tip end area is reduced. is decreasing. Further, the
以上の工程により、本発明のスティクションを防止した光スイッチが完成する。
本明細書では、本発明による技術を光スイッチに適用した場合について説明したが、当然、ミラー部が形成されていない他用途のアクチュエータにも適用可能であることは言うまでもない。
The optical switch which prevented the stiction of this invention is completed according to the above process.
In the present specification, the case where the technique according to the present invention is applied to an optical switch has been described. Needless to say, the present invention can also be applied to actuators for other purposes in which a mirror portion is not formed.
1 可動部
1a 櫛歯電極
1b 梁部
2 支持電極
3 シリコン積層体(SOI基板)
3a シリコン活性層
3b 中間層
3c シリコン支持基板
3d 凸型段部
4 フレーム部
4a 対向電極
5 ミラー台座
6 ミラー部
7 耐性膜
7a 第一のマスキングパターン
7b 第二のマスキングパターン
7c 第一のマスキングパターン
7d 第一のマスキングパターン
10 ミラー台座
10a 凸型段部
11 酸化膜
DESCRIPTION OF
3a Silicon
Claims (1)
少なくとも、
中間層をシリコン支持基板とシリコン活性層とで挟持してなるシリコン積層体の前記シリコン活性層表面にマスキングパターンを形成する工程と、
当該マスキングパターンをエッチングマスクとして、露出領域の前記シリコン活性層を前記中間層が露出するまでエッチングし、前記シリコン支持基板を前記基部として当該基部上に前記固定部、前記梁部、前記可動部、及び前記台座部を含むアクチュエータを構成する主な構造体を形成する工程と、
前記マスキングパターンを除去する工程と、
前記固定部下部及び前記台座部下部を含む一部の領域を除く前記中間層をエッチングにより除去する工程と、
前記シリコン活性層と前記シリコン支持基板の表面を酸化して酸化膜を形成する酸化膜形成工程と、
前記酸化膜ならびに前記中間層の一部をエッチングにより除去する酸化膜・中間層除去工程とを有し、
前記酸化膜形成工程と前記酸化膜・中間層除去工程を、前記台座部と前記基部の間に残存する前記中間層が全て除去されるまで複数回繰り返すことにより、前記台座部底面と前記基部の前記台座部底面と対向する領域に前記凸型段部を形成することを特徴とするアクチュエータの製造方法。 While having a movable portion held in a hollow state via a flexible beam portion with a fixed portion fixed on the flat surface of the base portion having a flat surface as a fulcrum, a pedestal portion is provided in the movable portion, A convex stepped portion is formed on the bottom surface of the pedestal portion so as to protrude in a stepped manner toward the base side, and a convex portion protruding in a stepped manner toward the bottom surface side of the pedestal portion is formed in a region facing the bottom surface of the pedestal portion. A method of manufacturing an actuator in which a mold step portion is formed and the tip portions of the respective convex step portions are arranged to face each other.
at least,
Forming a masking pattern on the surface of the silicon active layer of the silicon laminate formed by sandwiching the intermediate layer between the silicon support substrate and the silicon active layer;
Using the masking pattern as an etching mask, etching the silicon active layer in an exposed region until the intermediate layer is exposed, and using the silicon support substrate as the base, the fixed part, the beam part, the movable part, And forming a main structure constituting the actuator including the pedestal portion;
Removing the masking pattern;
Removing the intermediate layer excluding a part of the region including the lower portion of the fixed portion and the lower portion of the pedestal portion by etching;
An oxide film forming step of oxidizing the silicon active layer and the surface of the silicon support substrate to form an oxide film;
An oxide film / intermediate layer removal step of removing a part of the oxide film and the intermediate layer by etching;
The oxide film forming step and the oxide film / intermediate layer removing step are repeated a plurality of times until all of the intermediate layer remaining between the pedestal portion and the base portion is removed, whereby the bottom surface of the pedestal portion and the base portion The method for manufacturing an actuator, wherein the convex stepped portion is formed in a region facing the bottom surface of the pedestal portion.
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