JP4493808B2 - 光特性測定装置、方法、記録媒体 - Google Patents
光特性測定装置、方法、記録媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4493808B2 JP4493808B2 JP2000207913A JP2000207913A JP4493808B2 JP 4493808 B2 JP4493808 B2 JP 4493808B2 JP 2000207913 A JP2000207913 A JP 2000207913A JP 2000207913 A JP2000207913 A JP 2000207913A JP 4493808 B2 JP4493808 B2 JP 4493808B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement
- measured
- incident
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/338—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring dispersion other than PMD, e.g. chromatic dispersion
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバなどのDUT（Device Under Test）の波長分散特性の測定に関し、特にDUTの伸縮に影響されないで測定する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ファイバ等の被測定物（DUT）の波長分散特性を測定するときに、DUTの伸縮の影響を排除して測定できることが望ましい。DUTの伸縮に影響されないで測定する技術は、例えば特開平1-291141号公報に記載されている。
【０００３】
その測定系の構成を図４に示す。図４に示すように、測定系は光源システム１０と特性測定システム２０に分かれている。光源システム１０の可変波長光源１２が波長を変化させて波長がλｘの光（可変波長光）を発生する。固定波長光源１３が波長を固定させて波長がλ０の光（固定波長光）を発生する。なお、λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長である。可変波長光は光変調器１５ａにより、固定波長光は光変調器１５ｂにより、周波数ｆで変調され、光合成器１６で合成される。
【０００４】
光合成器１６で合成された光は光ファイバ３０に入射される。光ファイバ３０を透過した光は、特性測定システム２０の光分波器２１に入射される。光分波器２１は、光ファイバ３０を透過した光を、波長λｘの光と波長λ０の光とに分ける。測定用光電変換器２２ａ、基準用光電変換器２２ｂはそれぞれ波長λｘの光と波長λ０の光を光電変換し、位相比較器２４が測定用光電変換器２２ａの出力と、基準用光電変換器２２ｂの出力と、の位相差を検出する。
【０００５】
波長λｘの透過光は、波長分散および光ファイバ３０の伸縮の影響を受ける。波長λ０の透過光は、光ファイバ３０の伸縮の影響のみを受ける。λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長だからである。よって、波長λｘの透過光と波長λ０の透過光との位相差を検出すれば、光ファイバ３０の伸縮の影響を排除できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光分波器２１が、光ファイバ３０を透過した光を、波長λｘの光と波長λ０の光とに分けることを可能とするためには、波長λｘと波長λ０とがある程度離れていなければならない。波長λｘと波長λ０との波長帯を共通にすることは困難である。例えば、波長λｘは1525から1635nmであり、波長λ０は1300nmといったように、波長λｘと波長λ０とがある程度離れていなければならない。
【０００７】
そこで、本発明は、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能であるような装置等を提供することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記の課題に鑑み、本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光源と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調手段と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調手段と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出手段と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出手段と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定するように構成される。
【０００９】
上記のように構成された光特性測定装置によれば、可変波長光は被測定物の一端から他端へ、固定波長光は被測定物の他端から一端へ、透過する。そこで、被測定物を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。
【００１０】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段が取り出した測定用透過光を光電変換する測定用光電変換手段と、基準用透過光取出手段が取り出した基準用透過光を光電変換する基準用光電変換手段と、測定用光電変換手段の出力の位相と基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１１】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段は、光が入射される測定用第一端子と、測定用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される測定用第二端子と、測定用第二端子に入射された光が出射される測定用第三端子と、を備え、基準用透過光取出手段は、光が入射される基準用第一端子と、基準用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される基準用第二端子と、基準用第二端子に入射された光が出射される基準用第三端子と、を備え、測定用第一端子には固定波長光源が接続され、測定用第二端子には被測定物の他端が接続され、基準用第一端子には可変波長光源が接続され、基準用第二端子には被測定物の一端が接続されている、ように構成されるようにしてもよい。
【００１２】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段および基準用透過光取出手段は、方向性結合器であるように構成されるようにしてもよい。
【００１３】
なお、本発明は、測定用第三端子の出力を光電変換する測定用光電変換手段と、基準用第三端子の出力を光電変換する基準用光電変換手段と、測定用光電変換手段の出力の位相と基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１４】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成工程と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調工程と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調工程と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出工程と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出工程と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定するように構成される。
【００１５】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成処理と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成処理と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調処理と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調処理と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出処理と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出処理と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定する記録媒体である。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態にかかる光特性測定装置は、光ファイバ３０に光を入射する光源システム１０と、光ファイバ３０を透過した光を受けて光ファイバ３０の特性を測定する特性測定システム２０と、を有する。
【００１８】
光ファイバ３０は、一端３０ａと他端３０ｂとを有する。本実施の形態では、光ファイバ３０を測定することを想定している。しかし、測定対象は光を透過するものならばよく、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路や、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアでもかまわない。
【００１９】
光源システム１０は、可変波長光源１２、固定波長光源１３、発振器１４、第一光変調器１５ａ、第二光変調器１５ｂを備える。
【００２０】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。可変波長光源１２は、第一光変調器１５ａと後述する第一方向性結合器２６とを介して光ファイバ３０の一端３０ａに接続されている。
【００２１】
固定波長光源１３は、波長が固定された固定波長光を生成する。固定波長光の波長は、光ファイバ３０において波長分散が最小になる波長λ０に固定しておくことが望ましい。固定波長光源１３は、第二光変調器１５ｂと後述する第二方向性結合器２８とを介して光ファイバ３０の他端３０ｂに接続されている。
【００２２】
発振器１４は、ある所定の周波数ｆの電気信号を発生し、第一光変調器１５ａおよび第二光変調器１５ｂに供給する。
【００２３】
第一光変調器１５ａは、可変波長光を周波数ｆで強度変調する。光変調器１５ｂは、固定波長光を周波数ｆで強度変調する。第一光変調器１５ａおよび第二光変調器１５ｂは、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有する。しかし、光を強度変調できれば、ＬＮを含んでいなくても良い。例えば、ＥＡ（Electro Absorption）変調器であってもよい。第一光変調器１５ａによって強度変調された光を測定用入射光という。第二光変調器１５ｂによって強度変調された光を基準用入射光という。測定用入射光は光ファイバ３０の一端３０ａに入射される。基準用入射光は光ファイバ３０の他端３０ｂに入射される。
【００２４】
光ファイバ３０に入された測定用入射光および基準用入射光は、光ファイバ３０を透過する。測定用入射光が光ファイバ３０を透過した光を測定用透過光という。基準用入射光が光ファイバ３０を透過した光を基準用透過光という。
【００２５】
特性測定システム２０は、基準用光電変換器２２ａ、測定用光電変換器２２ｂ、位相比較器２４、第一方向性結合器２６、第二方向性結合器２８、特性計算部２９を備える。
【００２６】
第一方向性結合器２６は、基準用第一端子２６ａ、基準用第二端子２６ｂ、基準用第三端子２６ｃを有する。基準用第一端子２６ａは、第一光変調器１５ａに接続されている。基準用第二端子２６ｂは光ファイバ３０の一端３０ａに接続されている。基準用第三端子２６ｃは、基準用光電変換器２２ａに接続されている。
【００２７】
第二方向性結合器２８は、測定用第一端子２８ａ、測定用第二端子２８ｂ、測定用第三端子２８ｃを有する。測定用第一端子２８ａは、第二光変調器１５ｂに接続されている。測定用第二端子２８ｂは光ファイバ３０の他端３０ｂに接続されている。測定用第三端子２８ｃは、測定用光電変換器２２ｂに接続されている。
【００２８】
ここで、第一方向性結合器２６および第二方向性結合器２８の内部構造を図２（ａ）（ｂ）を参照して説明する。基準用第一端子２６ａには光が入射される。基準用第二端子２６ｂからは、基準用第一端子２６ａに入射された光が出射される。また、基準用第二端子２６ｂには光が入射される。基準用第三端子２６ｃからは、基準用第二端子２６ｂに入射された光が出射される。測定用第一端子２８ａには光が入射される。測定用第二端子２８ｂからは、測定用第一端子２８ａに入射された光が出射される。また、測定用第二端子２８ｂには光が入射される。測定用第三端子２８ｃからは、測定用第二端子２８ｂに入射された光が出射される。
【００２９】
基準用光電変換器２２ａは、基準用第三端子２６ｃから出力された光を光電変換して出力する。測定用光電変換器２２ｂは、測定用第三端子２８ｃから出力された光を光電変換して出力する。位相比較器２４は、基準用光電変換器２２ａの発生する電気信号を基準として、測定用光電変換器２２ｂの発生する電気信号の位相を計測する。
【００３０】
特性計算部２９は、位相比較器２４が計測した位相に基づき、光ファイバ３０の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００３１】
次に、本発明の実施形態の動作を図３のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長光源１２から可変波長光（λ＝λｘ）を発生し（Ｓ１０ａ）、固定波長光源１３から固定波長光（λ＝λ０）を発生する（Ｓ１０ｂ）。次に、第一光変調器１５ａが可変波長光を周波数ｆで強度変調し、可変波長光が第一方向性結合器２６の基準用第一端子２６ａから基準用第二端子２６ｂを透過して、光ファイバ３０の一端３０ａに入射される（Ｓ１２ａ）。第二光変調器１５ｂが固定波長光を周波数ｆで強度変調し、固定波長光が第二方向性結合器２８の測定用第一端子２８ａから測定用第二端子２８ｂを透過して、光ファイバ３０の他端３０ｂに入射される（Ｓ１２ｂ）。
【００３２】
光ファイバ３０の一端３０ａに入射された測定用入射光は、光ファイバ３０を透過して、他端３０ｂから測定用透過光として出射される。測定用透過光は、第二方向性結合器２８の測定用第二端子２８ｂに入射し、測定用第三端子２８ｃから出射される。このようにして、測定用透過光が他端３０ｂから取り出される（Ｓ１４ａ）。第二方向性結合器２８は、このような機能を果たすので、測定用透過光取出手段に相当する。
【００３３】
光ファイバ３０の他端３０ｂに入射された基準用入射光は、光ファイバ３０を透過して、一端３０ａから基準用透過光として出射される。基準用透過光は、第一方向性結合器２６の基準用第二端子２６ｂに入射し、基準用第三端子２６ｃから出射される。このようにして、基準用透過光が一端３０ａから取り出される（Ｓ１４ｂ）。第一方向性結合器２６は、このような機能を果たすので、基準用透過光取出手段に相当する。
【００３４】
他端３０ｂから取り出された測定用透過光は、測定用光電変換器２２ｂにより光電変換され（Ｓ１６ａ）、一端３０ａから取り出された基準用透過光は、基準用光電変換器２２ａにより光電変換される（Ｓ１６ｂ）。
【００３５】
次に、位相比較器２４は、基準用光電変換器２２ａの発生する電気信号を基準として、測定用光電変換器２２ｂの発生する電気信号の位相を計測する（Ｓ１８）。そして、計測された位相に基づき、光ファイバ３０の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる（Ｓ１９）。
【００３６】
本発明の実施形態によれば、可変波長光は光ファイバ３０の一端３０ａから他端３０ｂへ、固定波長光は光ファイバ３０の他端３０ｂから一端ａへ、透過する。そこで、光ファイバ３０を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。しかも、測定用透過光は、波長分散および光ファイバ３０の伸縮の影響を受ける。基準用透過光は、光ファイバ３０の伸縮の影響のみを受ける。λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長だからである。よって、測定用透過光と基準用透過光との位相差を検出すれば、光ファイバ３０の伸縮の影響を排除できる。
【００３７】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００３８】
【発明の効果】
本発明によれば、可変波長光は被測定物の一端から他端へ、固定波長光は被測定物の他端から一端へ、透過する。そこで、被測定物を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第一方向性結合器２６および第二方向性結合器２８の内部構造を示す図である。
【図３】本発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図４】従来技術における光ファイバ等の被測定物（DUT）の波長分散特性の測定系の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０ 光源システム
１２ 可変波長光源
１３ 固定波長光源
１４ 発振器
１５ａ 第一光変調器
１５ｂ 第二光変調器
２０ 特性測定システム
２２ａ 基準用光電変換器
２２ｂ 測定用光電変換器
２４ 位相比較器
２６ 第一方向性結合器
２８ 第二方向性結合器
２９ 特性計算部
３０ 光ファイバ
３０ａ 一端
３０ｂ 他端
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバなどのDUT（Device Under Test）の波長分散特性の測定に関し、特にDUTの伸縮に影響されないで測定する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ファイバ等の被測定物（DUT）の波長分散特性を測定するときに、DUTの伸縮の影響を排除して測定できることが望ましい。DUTの伸縮に影響されないで測定する技術は、例えば特開平1-291141号公報に記載されている。
【０００３】
その測定系の構成を図４に示す。図４に示すように、測定系は光源システム１０と特性測定システム２０に分かれている。光源システム１０の可変波長光源１２が波長を変化させて波長がλｘの光（可変波長光）を発生する。固定波長光源１３が波長を固定させて波長がλ０の光（固定波長光）を発生する。なお、λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長である。可変波長光は光変調器１５ａにより、固定波長光は光変調器１５ｂにより、周波数ｆで変調され、光合成器１６で合成される。
【０００４】
光合成器１６で合成された光は光ファイバ３０に入射される。光ファイバ３０を透過した光は、特性測定システム２０の光分波器２１に入射される。光分波器２１は、光ファイバ３０を透過した光を、波長λｘの光と波長λ０の光とに分ける。測定用光電変換器２２ａ、基準用光電変換器２２ｂはそれぞれ波長λｘの光と波長λ０の光を光電変換し、位相比較器２４が測定用光電変換器２２ａの出力と、基準用光電変換器２２ｂの出力と、の位相差を検出する。
【０００５】
波長λｘの透過光は、波長分散および光ファイバ３０の伸縮の影響を受ける。波長λ０の透過光は、光ファイバ３０の伸縮の影響のみを受ける。λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長だからである。よって、波長λｘの透過光と波長λ０の透過光との位相差を検出すれば、光ファイバ３０の伸縮の影響を排除できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光分波器２１が、光ファイバ３０を透過した光を、波長λｘの光と波長λ０の光とに分けることを可能とするためには、波長λｘと波長λ０とがある程度離れていなければならない。波長λｘと波長λ０との波長帯を共通にすることは困難である。例えば、波長λｘは1525から1635nmであり、波長λ０は1300nmといったように、波長λｘと波長λ０とがある程度離れていなければならない。
【０００７】
そこで、本発明は、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能であるような装置等を提供することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記の課題に鑑み、本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光源と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調手段と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調手段と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出手段と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出手段と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定するように構成される。
【０００９】
上記のように構成された光特性測定装置によれば、可変波長光は被測定物の一端から他端へ、固定波長光は被測定物の他端から一端へ、透過する。そこで、被測定物を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。
【００１０】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段が取り出した測定用透過光を光電変換する測定用光電変換手段と、基準用透過光取出手段が取り出した基準用透過光を光電変換する基準用光電変換手段と、測定用光電変換手段の出力の位相と基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１１】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段は、光が入射される測定用第一端子と、測定用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される測定用第二端子と、測定用第二端子に入射された光が出射される測定用第三端子と、を備え、基準用透過光取出手段は、光が入射される基準用第一端子と、基準用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される基準用第二端子と、基準用第二端子に入射された光が出射される基準用第三端子と、を備え、測定用第一端子には固定波長光源が接続され、測定用第二端子には被測定物の他端が接続され、基準用第一端子には可変波長光源が接続され、基準用第二端子には被測定物の一端が接続されている、ように構成されるようにしてもよい。
【００１２】
なお、本発明は、測定用透過光取出手段および基準用透過光取出手段は、方向性結合器であるように構成されるようにしてもよい。
【００１３】
なお、本発明は、測定用第三端子の出力を光電変換する測定用光電変換手段と、基準用第三端子の出力を光電変換する基準用光電変換手段と、測定用光電変換手段の出力の位相と基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１４】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成工程と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調工程と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調工程と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出工程と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出工程と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定するように構成される。
【００１５】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成処理と、波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成処理と、可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を被測定物の一端に入射する第一光変調処理と、固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を被測定物の他端に入射する第二光変調処理と、測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出処理と、基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出処理と、を備え、測定用透過光と基準用透過光とに基づき被測定物の特性を測定する記録媒体である。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態にかかる光特性測定装置は、光ファイバ３０に光を入射する光源システム１０と、光ファイバ３０を透過した光を受けて光ファイバ３０の特性を測定する特性測定システム２０と、を有する。
【００１８】
光ファイバ３０は、一端３０ａと他端３０ｂとを有する。本実施の形態では、光ファイバ３０を測定することを想定している。しかし、測定対象は光を透過するものならばよく、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路や、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアでもかまわない。
【００１９】
光源システム１０は、可変波長光源１２、固定波長光源１３、発振器１４、第一光変調器１５ａ、第二光変調器１５ｂを備える。
【００２０】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。可変波長光源１２は、第一光変調器１５ａと後述する第一方向性結合器２６とを介して光ファイバ３０の一端３０ａに接続されている。
【００２１】
固定波長光源１３は、波長が固定された固定波長光を生成する。固定波長光の波長は、光ファイバ３０において波長分散が最小になる波長λ０に固定しておくことが望ましい。固定波長光源１３は、第二光変調器１５ｂと後述する第二方向性結合器２８とを介して光ファイバ３０の他端３０ｂに接続されている。
【００２２】
発振器１４は、ある所定の周波数ｆの電気信号を発生し、第一光変調器１５ａおよび第二光変調器１５ｂに供給する。
【００２３】
第一光変調器１５ａは、可変波長光を周波数ｆで強度変調する。光変調器１５ｂは、固定波長光を周波数ｆで強度変調する。第一光変調器１５ａおよび第二光変調器１５ｂは、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有する。しかし、光を強度変調できれば、ＬＮを含んでいなくても良い。例えば、ＥＡ（Electro Absorption）変調器であってもよい。第一光変調器１５ａによって強度変調された光を測定用入射光という。第二光変調器１５ｂによって強度変調された光を基準用入射光という。測定用入射光は光ファイバ３０の一端３０ａに入射される。基準用入射光は光ファイバ３０の他端３０ｂに入射される。
【００２４】
光ファイバ３０に入された測定用入射光および基準用入射光は、光ファイバ３０を透過する。測定用入射光が光ファイバ３０を透過した光を測定用透過光という。基準用入射光が光ファイバ３０を透過した光を基準用透過光という。
【００２５】
特性測定システム２０は、基準用光電変換器２２ａ、測定用光電変換器２２ｂ、位相比較器２４、第一方向性結合器２６、第二方向性結合器２８、特性計算部２９を備える。
【００２６】
第一方向性結合器２６は、基準用第一端子２６ａ、基準用第二端子２６ｂ、基準用第三端子２６ｃを有する。基準用第一端子２６ａは、第一光変調器１５ａに接続されている。基準用第二端子２６ｂは光ファイバ３０の一端３０ａに接続されている。基準用第三端子２６ｃは、基準用光電変換器２２ａに接続されている。
【００２７】
第二方向性結合器２８は、測定用第一端子２８ａ、測定用第二端子２８ｂ、測定用第三端子２８ｃを有する。測定用第一端子２８ａは、第二光変調器１５ｂに接続されている。測定用第二端子２８ｂは光ファイバ３０の他端３０ｂに接続されている。測定用第三端子２８ｃは、測定用光電変換器２２ｂに接続されている。
【００２８】
ここで、第一方向性結合器２６および第二方向性結合器２８の内部構造を図２（ａ）（ｂ）を参照して説明する。基準用第一端子２６ａには光が入射される。基準用第二端子２６ｂからは、基準用第一端子２６ａに入射された光が出射される。また、基準用第二端子２６ｂには光が入射される。基準用第三端子２６ｃからは、基準用第二端子２６ｂに入射された光が出射される。測定用第一端子２８ａには光が入射される。測定用第二端子２８ｂからは、測定用第一端子２８ａに入射された光が出射される。また、測定用第二端子２８ｂには光が入射される。測定用第三端子２８ｃからは、測定用第二端子２８ｂに入射された光が出射される。
【００２９】
基準用光電変換器２２ａは、基準用第三端子２６ｃから出力された光を光電変換して出力する。測定用光電変換器２２ｂは、測定用第三端子２８ｃから出力された光を光電変換して出力する。位相比較器２４は、基準用光電変換器２２ａの発生する電気信号を基準として、測定用光電変換器２２ｂの発生する電気信号の位相を計測する。
【００３０】
特性計算部２９は、位相比較器２４が計測した位相に基づき、光ファイバ３０の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００３１】
次に、本発明の実施形態の動作を図３のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長光源１２から可変波長光（λ＝λｘ）を発生し（Ｓ１０ａ）、固定波長光源１３から固定波長光（λ＝λ０）を発生する（Ｓ１０ｂ）。次に、第一光変調器１５ａが可変波長光を周波数ｆで強度変調し、可変波長光が第一方向性結合器２６の基準用第一端子２６ａから基準用第二端子２６ｂを透過して、光ファイバ３０の一端３０ａに入射される（Ｓ１２ａ）。第二光変調器１５ｂが固定波長光を周波数ｆで強度変調し、固定波長光が第二方向性結合器２８の測定用第一端子２８ａから測定用第二端子２８ｂを透過して、光ファイバ３０の他端３０ｂに入射される（Ｓ１２ｂ）。
【００３２】
光ファイバ３０の一端３０ａに入射された測定用入射光は、光ファイバ３０を透過して、他端３０ｂから測定用透過光として出射される。測定用透過光は、第二方向性結合器２８の測定用第二端子２８ｂに入射し、測定用第三端子２８ｃから出射される。このようにして、測定用透過光が他端３０ｂから取り出される（Ｓ１４ａ）。第二方向性結合器２８は、このような機能を果たすので、測定用透過光取出手段に相当する。
【００３３】
光ファイバ３０の他端３０ｂに入射された基準用入射光は、光ファイバ３０を透過して、一端３０ａから基準用透過光として出射される。基準用透過光は、第一方向性結合器２６の基準用第二端子２６ｂに入射し、基準用第三端子２６ｃから出射される。このようにして、基準用透過光が一端３０ａから取り出される（Ｓ１４ｂ）。第一方向性結合器２６は、このような機能を果たすので、基準用透過光取出手段に相当する。
【００３４】
他端３０ｂから取り出された測定用透過光は、測定用光電変換器２２ｂにより光電変換され（Ｓ１６ａ）、一端３０ａから取り出された基準用透過光は、基準用光電変換器２２ａにより光電変換される（Ｓ１６ｂ）。
【００３５】
次に、位相比較器２４は、基準用光電変換器２２ａの発生する電気信号を基準として、測定用光電変換器２２ｂの発生する電気信号の位相を計測する（Ｓ１８）。そして、計測された位相に基づき、光ファイバ３０の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる（Ｓ１９）。
【００３６】
本発明の実施形態によれば、可変波長光は光ファイバ３０の一端３０ａから他端３０ｂへ、固定波長光は光ファイバ３０の他端３０ｂから一端ａへ、透過する。そこで、光ファイバ３０を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。しかも、測定用透過光は、波長分散および光ファイバ３０の伸縮の影響を受ける。基準用透過光は、光ファイバ３０の伸縮の影響のみを受ける。λ０は光ファイバ３０において、波長分散が最小になる波長だからである。よって、測定用透過光と基準用透過光との位相差を検出すれば、光ファイバ３０の伸縮の影響を排除できる。
【００３７】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００３８】
【発明の効果】
本発明によれば、可変波長光は被測定物の一端から他端へ、固定波長光は被測定物の他端から一端へ、透過する。そこで、被測定物を透過した可変波長光と固定波長光とを、それらの波長に関わらず分離して取り出すことができる。よって、可変波長光源の波長と、基準用の固定波長光源の波長とが同じであっても、波長分散の測定が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第一方向性結合器２６および第二方向性結合器２８の内部構造を示す図である。
【図３】本発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図４】従来技術における光ファイバ等の被測定物（DUT）の波長分散特性の測定系の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０ 光源システム
１２ 可変波長光源
１３ 固定波長光源
１４ 発振器
１５ａ 第一光変調器
１５ｂ 第二光変調器
２０ 特性測定システム
２２ａ 基準用光電変換器
２２ｂ 測定用光電変換器
２４ 位相比較器
２６ 第一方向性結合器
２８ 第二方向性結合器
２９ 特性計算部
３０ 光ファイバ
３０ａ 一端
３０ｂ 他端
Claims (9)
- 光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、
波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光源と、
波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源と、
前記可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を前記被測定物の一端に入射する第一光変調手段と、
前記固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を前記被測定物の他端に入射する第二光変調手段と、
測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出手段と、
基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出手段と、
を備え、
前記測定用透過光と前記基準用透過光とに基づき前記被測定物の群遅延特性または波長分散特性を測定し、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
光特性測定装置。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、
波長を変化させられる可変波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の一端に入射された測定用入射光が前記被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出手段と、
波長が固定された固定波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の他端に入射された基準用入射光が前記被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出手段と、
前記測定用透過光取出手段が取り出した前記測定用透過光を光電変換する測定用光電変換手段と、
前記基準用透過光取出手段が取り出した前記基準用透過光を光電変換する基準用光電変換手段と、
前記測定用光電変換手段の出力の位相と前記基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、
前記位相差を使用して、被測定物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、
を備え、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
光特性測定装置。 - 前記測定用透過光取出手段は、
光が入射される測定用第一端子と、前記測定用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される測定用第二端子と、前記測定用第二端子に入射された光が出射される測定用第三端子と、
を備え、
前記基準用透過光取出手段は、
光が入射される基準用第一端子と、前記基準用第一端子に入射された光が出射され、かつ光が入射される基準用第二端子と、前記基準用第二端子に入射された光が出射される基準用第三端子と、
を備え、
前記測定用第一端子には前記基準用入射光が入射され、前記測定用第二端子には前記被測定物の他端が接続され、前記基準用第一端子には前記測定用入射光が入射され、前記基準用第二端子には前記被測定物の一端が接続されている、
請求項２に記載の光特性測定装置。 - 前記測定用透過光取出手段および前記基準用透過光取出手段は、方向性結合器である請求項３に記載の光特性測定装置。
- 前記測定用第三端子の出力を光電変換する測定用光電変換手段と、
前記基準用第三端子の出力を光電変換する基準用光電変換手段と、
前記測定用光電変換手段の出力の位相と前記基準用光電変換手段の出力の位相との位相差を検出する位相比較手段と、
前記位相差を使用して、被測定物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算手段と、
を備えた請求項３または４に記載の光特性測定装置。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、
波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、
波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成工程と、
前記可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を前記被測定物の一端に入射する第一光変調工程と、
前記固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を前記被測定物の他端に入射する第二光変調工程と、
測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出工程と、
基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出工程と、
を備え、
前記測定用透過光と前記基準用透過光とに基づき前記被測定物の群遅延特性または波長分散特性を測定し、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
光特性測定方法。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光生成処理と、
波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成処理と、
前記可変波長光を所定の周波数で強度変調した測定用入射光を前記被測定物の一端に入射する第一光変調処理と、
前記固定波長光を所定の周波数で強度変調した基準用入射光を前記被測定物の他端に入射する第二光変調処理と、
測定用入射光が被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出処理と、
基準用入射光が被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記測定用透過光と前記基準用透過光とに基づき前記被測定物の群遅延特性または波長分散特性を測定し、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
記録媒体。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、
波長を変化させられる可変波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の一端に入射された測定用入射光が前記被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出工程と、
波長が固定された固定波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の他端に入射された基準用入射光が前記被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出工程と、
前記測定用透過光取出工程により取り出された前記測定用透過光を光電変換する測定用光電変換工程と、
前記基準用透過光取出工程により取り出された前記基準用透過光を光電変換する基準用光電変換工程と、
前記測定用光電変換工程の出力の位相と前記基準用光電変換工程の出力の位相との位相差を検出する位相比較工程と、
前記位相差を使用して、被測定物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算工程と、
を備え、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
光特性測定方法。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
波長を変化させられる可変波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の一端に入射された測定用入射光が前記被測定物を透過した測定用透過光を取り出す測定用透過光取出処理と、
波長が固定された固定波長光を所定の周波数で強度変調し、前記被測定物の他端に入射された基準用入射光が前記被測定物を透過した基準用透過光を取り出す基準用透過光取出処理と、
前記測定用透過光取出処理により取り出された前記測定用透過光を光電変換する測定用光電変換処理と、
前記基準用透過光取出処理により取り出された前記基準用透過光を光電変換する基準用光電変換処理と、
前記測定用光電変換処理の出力の位相と前記基準用光電変換処理の出力の位相との位相差を検出する位相比較処理と、
前記位相差を使用して、被測定物の群遅延特性または波長分散特性を計算する特性計算処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記被測定物は、光ファイバ、光ファイバに光アンプを組み合わせた光ファイバ線路、および、光ファイバ線路を光を流す向きを反対にして組み合わせたファイバペアのうちのいずれかである、
記録媒体。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000207913A JP4493808B2 (ja) | 2000-07-10 | 2000-07-10 | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
| GB0116373A GB2369431B (en) | 2000-07-10 | 2001-07-04 | Optical characteristic measuring apparatus, the method thereof and recording medium |
| CA002352731A CA2352731C (en) | 2000-07-10 | 2001-07-09 | Optical characteristic measuring apparatus, the method thereof and recording medium |
| FR0109141A FR2812144B1 (fr) | 2000-07-10 | 2001-07-10 | Appareil de mesure de caracteristiques optiques, procede pour celui-ci et support d'enregistrement |
| US09/901,149 US6426792B1 (en) | 2000-07-10 | 2001-07-10 | Optical characteristic measuring apparatus, the method thereof and recording medium |
| DE10133336A DE10133336A1 (de) | 2000-07-10 | 2001-07-10 | Vorrichtung und Verfahren zum Messen einer optischen Charakteristik und Speichermedium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000207913A JP4493808B2 (ja) | 2000-07-10 | 2000-07-10 | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002022611A JP2002022611A (ja) | 2002-01-23 |
| JP2002022611A5 JP2002022611A5 (ja) | 2007-07-26 |
| JP4493808B2 true JP4493808B2 (ja) | 2010-06-30 |
Family
ID=18704596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000207913A Expired - Fee Related JP4493808B2 (ja) | 2000-07-10 | 2000-07-10 | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6426792B1 (ja) |
| JP (1) | JP4493808B2 (ja) |
| CA (1) | CA2352731C (ja) |
| DE (1) | DE10133336A1 (ja) |
| FR (1) | FR2812144B1 (ja) |
| GB (1) | GB2369431B (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100450745B1 (ko) * | 2001-12-07 | 2004-10-01 | 한국전자통신연구원 | 광변조기 제어장치 및 방법 |
| WO2003060458A1 (en) * | 2002-01-17 | 2003-07-24 | Agilent Technologies, Inc. | Determination of optical properties of a device under test in both directions in transmission and in reflection |
| EP1493008B1 (en) | 2002-04-09 | 2011-01-26 | Telecom Italia S.p.A. | Apparatus and method for measuring chromatic dispersion by variable wavelength |
| US7206516B2 (en) * | 2002-04-30 | 2007-04-17 | Pivotal Decisions Llc | Apparatus and method for measuring the dispersion of a fiber span |
| US6724468B2 (en) * | 2002-07-31 | 2004-04-20 | Agilent Technologies, Inc | Single sweep phase shift method and apparatus for measuring chromatic and polarization dependent dispersion |
| JP3933597B2 (ja) | 2003-03-27 | 2007-06-20 | 三洋電機株式会社 | 送信方法およびそれを利用した無線装置 |
| US6917750B2 (en) * | 2003-05-29 | 2005-07-12 | 3M Innovative Properties Company | System and method for characterizing optical devices |
| US9110088B1 (en) * | 2014-02-10 | 2015-08-18 | Selwyn E. Wright | Propagation medium velocity measurement system |
| US9860054B1 (en) * | 2015-11-13 | 2018-01-02 | Anritsu Company | Real-time phase synchronization of a remote receiver with a measurement instrument |
| US10404397B2 (en) * | 2015-12-23 | 2019-09-03 | Adva Optical Networking Se | Wavelength division multiplexed telecommunication system with automatic compensation of chromatic dispersion |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000180265A (ja) * | 1998-12-14 | 2000-06-30 | Anritsu Corp | ブリルアンゲインスペクトル測定方法および装置 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60140136A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-25 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光フアイバの分散特性測定方法 |
| JPH079386B2 (ja) * | 1988-05-18 | 1995-02-01 | 国際電信電話株式会社 | 光ファイバ分散特性測定方式 |
| JP2589345B2 (ja) * | 1988-06-24 | 1997-03-12 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバの特性評価方法および装置 |
| US5149961A (en) * | 1990-05-15 | 1992-09-22 | Eg&G, Ltd. | Method and apparatus for optical fiber length determination |
| JP2994531B2 (ja) * | 1993-07-06 | 1999-12-27 | ケイディディ株式会社 | 光波長分散測定方法及び装置 |
| GB9317576D0 (en) * | 1993-08-24 | 1993-10-06 | British Aerospace | Fibre optic damage detection system |
| US5655039A (en) * | 1995-12-22 | 1997-08-05 | Corning, Inc. | Nonlinear optical loop mirror device including dispersion decreasing fiber |
| US6081323A (en) * | 1997-02-27 | 2000-06-27 | The United States Of America As Represented By The Director Of The National Security Agency | Measurement of Raman gain spectrum in optical fiber |
| US5969806A (en) * | 1997-06-30 | 1999-10-19 | Tyco Submarine Systems Ltd. | Chromatic dispersion measurement in a fiber optic cable |
| JP3384322B2 (ja) * | 1998-04-23 | 2003-03-10 | 日立電線株式会社 | 波長分散測定方法及び波長分散測定装置 |
| JP3376957B2 (ja) * | 1999-05-20 | 2003-02-17 | 日本電気株式会社 | 光ファイバの波長分散測定装置およびその方法 |
| JP2001356075A (ja) * | 2000-06-15 | 2001-12-26 | Advantest Corp | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
| JP4507225B2 (ja) * | 2000-07-04 | 2010-07-21 | 株式会社アドバンテスト | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
-
2000
- 2000-07-10 JP JP2000207913A patent/JP4493808B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-07-04 GB GB0116373A patent/GB2369431B/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-09 CA CA002352731A patent/CA2352731C/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-10 US US09/901,149 patent/US6426792B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-10 FR FR0109141A patent/FR2812144B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-10 DE DE10133336A patent/DE10133336A1/de not_active Ceased
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000180265A (ja) * | 1998-12-14 | 2000-06-30 | Anritsu Corp | ブリルアンゲインスペクトル測定方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6426792B1 (en) | 2002-07-30 |
| GB2369431B (en) | 2003-03-05 |
| DE10133336A1 (de) | 2002-01-31 |
| CA2352731C (en) | 2005-07-26 |
| GB0116373D0 (en) | 2001-08-29 |
| FR2812144B1 (fr) | 2008-04-04 |
| FR2812144A1 (fr) | 2002-01-25 |
| CA2352731A1 (en) | 2002-01-10 |
| GB2369431A (en) | 2002-05-29 |
| US20020085194A1 (en) | 2002-07-04 |
| JP2002022611A (ja) | 2002-01-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4493808B2 (ja) | 光特性測定装置、方法、記録媒体 | |
| CN105783762A (zh) | 混沌相关法定位的布里渊分布式光纤传感装置及方法 | |
| JP2003322588A (ja) | 反射式ブリルアンスペクトル分布測定方法および装置 | |
| US20050110981A1 (en) | Method and apparatus for measuring chromatic dispersion | |
| JP6922383B2 (ja) | 光変動位置測定装置、光変調変換器および光変動位置測定方法 | |
| JP2002122515A (ja) | 光特性測定装置、方法、記録媒体 | |
| JP4150193B2 (ja) | 波長制御装置及び波長制御方法 | |
| US6433865B1 (en) | Apparatus and method for measuring optical characteristics and recording medium | |
| JP2001356075A (ja) | 光特性測定装置、方法、記録媒体 | |
| JP4507225B2 (ja) | 光特性測定装置、方法、記録媒体 | |
| US20020024655A1 (en) | Optical characteristics measuring apparatus, the method therof, and recording medium | |
| EP1310783A1 (en) | Apparatus and method for measuring optical characteristics, recording medium | |
| WO2022149199A1 (ja) | 光ファイバセンシングシステム、ホストセンシング装置、リモートセンシング装置、センシング方法及びセンシング装置の制御方法 | |
| JPH03179332A (ja) | 光受信器 | |
| JP4465085B2 (ja) | 光特性測定装置、方法、記録媒体 | |
| JP2507790B2 (ja) | 半導体レ―ザのｆｍ変調特性測定装置 | |
| JP2005064776A (ja) | 光伝送システム | |
| KR100237872B1 (ko) | 광섬유격자를 이용한 파장분기결합장치 | |
| JP2000329652A (ja) | 光ファイバの波長分散測定装置およびその方法 | |
| JPH0675049A (ja) | 位相共役光を用いた光学距離の測定方法及び装置 | |
| JPH10221173A (ja) | 光サンプリング波形観測装置 | |
| JP2001272706A (ja) | 波長多重用光源 | |
| JP2006090814A (ja) | 光ネットワークアナライザ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070305 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070613 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090401 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090817 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091013 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100406 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100407 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |