JP4239507B2 - Light emitting module - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
発光モジュールは、たとえば複数の波長成分を用いる波長多重(WDM)伝送システムに使用される。1.55μm帯のWDMシステムにおいては、隣接するグリッドの波長間隔は約0.8nm(100GHz)とされる。この波長間隔を実現するためには、発光モジュールからの光の発光波長は、グリッド波長に対して±0.03nm以内の範囲に制御する必要がある。
【0003】
現在用いられている発光モジュールの多くは、半導体発光素子、光検出器、及び温度調整器を有する。半導体発光素子の光反射面から僅かに放射されるレーザ光の波長を光検出器によりモニタし、モニタ結果に基づいて半導体発光素子の温度が調整され、レーザ光の波長が制御される。ここで、波長変動を精度良く検出するため、半導体発光素子と光検出器との間に波長依存性を有した光学素子(たとえば、エタロン等)を設け、特定の波長を有するレーザ光成分がモニタされる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者等の調査研究の結果、上述した構成の発光モジュールは以下の問題点を有していることが判明した。
【0005】
エタロンを用いた発光モジュールにおいては、発光モジュールから放射される光の波長は以下のように制御される。図4は、半導体発光素子から出力される光の波長と光検出器の出力電流との関係を示す模式図である。図4に示す通り、光検出器の出力電流の波形Wは、波長λの増大に従って周期的に変化する。ここで、WDMシステムで使用されるグリッド波長をλ0とする。また、波長λ0の光が光検出器に入射したときに光検出器から出力される出力電流の電流値をI0とする。このとき、出力電流を電流値I0にロック(制御)することにより、グリッド波長λ0もまたロックされる。
【0006】
しかしながら、光検出器の出力電流が波長λに対して十分な微分項を持ってないと、波長制御回路にて波長をロックすることが不可能である。つまり、波形Wの極大及び極小付近の領域は不感帯となり、この不感帯領域を除いた部分の波長しか設定することができない。このため、光検出器あるいは波長依存性を有した光学素子の位置を適切な位置に調整する必要がある。また、設定波長の間隔を短くしたり、設定波長の波数を増やしたりすると、不感帯領域を避けて光検出器あるいは波長依存性を有した光学素子の位置を適切な位置に調整することが困難となる。
【0007】
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、光検出器あるいは波長依存性を有した光学素子の位置調整を容易に行うことが可能な発光モジュールを提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る発光モジュールは、光が出射される端面を有する半導体発光素子と、所定の間隔を有して配置され、半導体発光素子の光の波長をモニタするための第1及び第2の光検出器と、端面と光学的に結合され、半導体発光素子からの光をコリメートするレンズと、レンズからの光を受け、光ファイバに向けた分岐光と第1及び第2の光検出器に向けた分岐光を生成する光分岐デバイスと、第1及び第2の光検出器と光分岐デバイスとの間に配置され、波長依存性を有する光学素子と、を備えることを特徴としている。
【0009】
本発明に係る発光モジュールでは、半導体発光素子の光の波長をモニタするための第1及び第2の光検出器が所定の間隔を有して配置されているので、光検出器あるいは波長依存性を有した光学素子の位置調整を容易に行うことができる。また、光ファイバへの光の出射方向にみて半導体発光素子よりも前側に波長モニタ用の光学系が配設されることになり、光ファイバへの光の出射方向にみて半導体発光素子よりも後側に上記波長モニタ用の光学系を配設する必要がなくなることから、発光モジュールの小型化が可能となる。
【0010】
また、半導体発光素子の発光パワーをモニタするための第3の光検出器を更に備え、光分岐デバイスは、第3の光検出器に向けた分岐光を更に生成することが好ましい。このように構成した場合、光ファイバに出射される光と発光パワーをモニタする光とが同一となり、半導体発光素子からの光をコリメートするレンズの位置ズレによるトラッキングエラーを打ち消すことができる。
【0011】
また、光ファイバに向けた分岐光を受け所定の波長の光を選択的に透過する光フィルタを更に備え、光フィルタは、光分岐デバイスに接着あるいは接していることが好ましい。このように構成した場合、光軸を調整するための個々の素子の位置調整を省略することができる。また、発光モジュールの小型化も可能となる。
【0012】
また、所定の間隔は、光学素子により形成される干渉縞のピーク距離の1/8以上3/8以下に設定されることが好ましい。
【0013】
また、所定の間隔は、第1及び第2の光検出器において波長に対する出力電流の変化が極小及び極大となる不感帯領域がずれるように設定されることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明による発光モジュールの好適な実施形態について詳細に説明する。本実施の形態では、本発明の発光モジュールが半導体レーザモジュールに適用されるけれども、本発明は、このような実施の形態に限定されるものではない。
【0015】
図1は、本実施形態の半導体レーザモジュール1を示す概略構成図である。図1を参照すると、半導体レーザモジュール1は、ハウジング3内に収納される半導体レーザモジュール主要部10を備える。ハウジング3は、発光モジュール主要部を収納する本体部(図示せず)、光ファイバ12を半導体レーザモジュール主要部10に導く筒状部(図示せず)、及び複数のリードピン(図示せず)等を備える。
【0016】
半導体レーザモジュール主要部10は、温度調節手段としての熱電子冷却器21を有する。この熱電子冷却器21としては、例えば、ペルチェ効果を利用した温度制御素子を利用できる。熱電子冷却器21上には、半導体発光素子31、コリメータレンズ32、光分岐デバイス33、波長依存性を有した光学素子としてのエタロン34、光検出器35a、35b、35c及び光フィルタ36が直接的又は間接的に搭載される。
【0017】
半導体発光素子31は、一対の端面31a,31b並びにこの一対の端面31a,31bの間に設けられた活性層(発光層)を有する。一対の端面31a,31bは、光共振器を構成する。一方の端面を光出射面31aと呼び、他方の端面を光反射面31bと呼ぶ。光出射面31aの光反射率は光反射面31bの光反射率より低いので、光出射面31aからレーザ発振光を取り出すことができる。光出射面31aは、コリメータレンズ32と光学的に結合され、この光出射面31aから放射した光がコリメータレンズ32に入射する。半導体発光素子31としては、例えば分布帰還型(DFB)又はファブリペロー型の半導体レーザ素子を用いることができる。以下の説明では、半導体発光素子31はレーザ光を放射する半導体レーザ素子とする。
【0018】
コリメータレンズ32は、半導体発光素子31の光出射面31aと光学的に結合されている。光出射面31aから放射された光は、発散光であり、コリメータレンズ32を透過することによりコリメートされて、平行光となる。コリメータレンズ32を透過した平行光は、光分岐デバイス33に出力される。
【0019】
光分岐デバイス33は、コリメータレンズ32と光学的に結合されている。この光分岐デバイス33は、コリメータレンズ32を透過した平行光を受け、光検出器35a、35bに向けた分岐光と、光検出器35cに向けた分岐光と、光ファイバ12に向けた分岐光とを生成する。光分岐デバイス33としては、光ビームスプリッタが例示される。なお、コリメータレンズ32と光分岐デバイス33は、接着されていてもよい。
【0020】
光フィルタ36は、光分岐デバイス33と光学的に結合しており、コリメータレンズ32及び光分岐デバイス33を介して、半導体発光素子31の光出射面31aと光学的に結合している。この光フィルタ36は、光分岐デバイス33から光ファイバ12に向けた分岐光を受け、所定の波長の光を選択的に透過する。光フィルタ36は、光分岐デバイス33に接着あるいは接していることが望ましい。
【0021】
光フィルタ36を透過した所定の波長の光は、レンズ37により集光されて、光ファイバ12に入射することとなる。光ファイバ12には、光ファイバ12と半導体発光素子31の光出射面31aとの間に光学的に結合するように配置されたコリメータレンズ32、光分岐デバイス33、光フィルタ36及びレンズ37を介して光が入射することとなる。
【0022】
エタロン34は、光分岐デバイス33と光検出器35a、35bとの間に、これらと光学的に結合するように配置されており、コリメータレンズ32及び光分岐デバイス33を介して、半導体発光素子31の光反射面31bと光学的に結合している。エタロン34において、光入射面34a及び光出射面34bは、微小な角度を成して相対的に傾斜している。ここで角度は、エタロン34に入射した光が光入射面34aと光出射面34bとの間で多重干渉を起こし得る範囲に設定される。具体的には、角度は0.01度以上0.1度以下であると好適である。光入射面34a及び光出射面34bが互いに傾斜しているため、これらの面34a,34bの間隔は傾斜方向に沿って変化している。そのため、エタロンの透過波長が傾斜方向に沿って変化することとなる。また、エタロン34は、その光入射面34a及び光出射面34bに多層反射膜を有してよい。この多層反射膜により光入射面34a及び光出射面34bの反射率が調整される。エタロン34は、光分岐デバイス33に接着あるいは接していることが望ましい。
【0023】
光検出器35a,35bは、それぞれがエタロン34の光出射面34bから放射される光を受光できるように、エタロン34の傾斜方向において所定の間隔を有して配置される。この所定の間隔は、エタロン34により形成される干渉縞(光強度分布)のピーク距離dの/8以上3/8以下に設定されることが望ましく、本実施形態においては、図2に示されるように、d/4に設定されている。これにより、図3に示されるように、光検出器35a,35bにおいて、受光波長に対する出力電流の変化が極小及び極大となる不感帯領域がずれるようになる。図3では、曲線W1は光検出器35aの出力特性を示し、曲線W2は光検出器35bの出力特性を示している。
【0024】
光検出器35a,35bからの信号は、波長安定化回路40に送られる。波長安定化回路40は、光検出器35a及び光検出器35bのいずれか一方からの信号を選択し、選択した信号に基づいて、半導体発光素子31の温度を調節するための信号を発生する。熱電子冷却器21は、半導体発光素子31の温度を調節するための信号を波長安定化回路40から受け、当該信号に応答して半導体発光素子31の温度を変更する。
【0025】
詳細に説明すると、半導体レーザモジュール主要部10と波長安定化回路40とにおいてロック波長が設定される。半導体発光素子31の発振波長がロック波長から変動する。この変動に応答して光検出器35a,35bの光電流が変化する。電流変化に応答して、波長安定化回路40は、この変化を打ち消す方向に半導体発光素子31の温度が変化するように、熱電子冷却器21の温度を変更するための電気信号を生成する。
【0026】
特性曲線W1および特性曲線W2との違いは、位相差Δλによって特徴づけられる。光検出器35aの特性が光検出器35bの特性と実質的に同じ場合には、特性曲線W1は、位相差Δλを除いて特性曲線W2と同じである。特性曲線の周期性はエタロンによって規定され、特性曲線の位相は、エタロンに対する光検出器の位置によって規定され、特性曲線の振幅は、光検出器が提供する信号の強度によって規定される。
【0027】
半導体レーザモジュール1は、光検出器35a及び光検出器35bからの信号を選択することによって、波長ロックが可能な波長範囲を拡大できる。例えば、特性曲線W1の極大および極小の付近は、ロック波長を配置できない領域である。しかしながら、この領域には、特性曲線W2を用いて波長ロックが可能になる。半導体発光素子31の発振波長をロック波長に維持するために、熱電子冷却器21は、半導体発光素子31の温度を調整する。
【0028】
光検出器35cは、光分岐デバイス33にて生成された分岐光を受光できるように配置される。光検出器35cは、半導体発光素子31の発光パワーをモニタするためのものであって、受光した平行光の強度に応じた信号を出力する。
【0029】
光検出器35cからの信号は、パワー制御回路50に送られる。パワー制御回路50は、光検出器35cからの信号及び入力信号51に応答を示して半導体発光素子31用の駆動信号を発生する。パワー制御回路50は、信号線を介して半導体発光素子31に接続されている。半導体発光素子31は、パワー調整された駆動信号により駆動される。
【0030】
なお、光検出器35a,35b,35cは、例えば、InP基板上に形成されたInGaAs半導体層を受光窓とするInGaAs−pin型フォトダイオードであってよい。また、光検出器35a,35bは、モノリシックあるいはハイブリッドに組み込まれることにより、間隔が固定されていてもよい。
【0031】
続いて、半導体レーザモジュール主要部10の組立手順について簡単に説明する。まず、半導体発光素子31を実装し、コリメータレンズ32の位置調整を行う。そして、光分岐デバイス33を配置した後に、光検出器35a,35b,35cの位置調整を行うことによりモニタ系を調芯し、レンズ37の位置調整を行うことにより光出力系を調芯する。
【0032】
以上のように、本実施形態に係る半導体レーザモジュール1では、半導体発光素子31の光の波長をモニタするための光検出器35a,35bが所定の間隔(d/4)を有して配置されているので、光検出器35a,35bあるいはエタロン34の位置調整を容易に行うことができる。また、光ファイバ12への光の出射方向にみて半導体発光素子31よりも前側(光出射面31a側)に波長モニタ用の光学系が配設されることになり、光ファイバ12への光の出射方向にみて半導体発光素子31よりも後側(光反射面31b側)に上記波長モニタ用の光学系を配設する必要がなくなることから、半導体レーザモジュール1の小型化が可能となる。
【0033】
また、本実施形態においては、半導体発光素子31の発光パワーをモニタするための光検出器35cを更に備え、光分岐デバイス33は、光検出器35cに向けた分岐光を更に生成している。これにより、光ファイバ12に出射される光と発光パワーをモニタする光とが同一となり、コリメータレンズ32の位置ズレによるトラッキングエラーを打ち消すことができる。
【0034】
また、本実施形態においては、光ファイバ12に向けた分岐光を受け所定の波長の光を選択的に透過する光フィルタ36を更に備え、光フィルタ36は、光分岐デバイス33に接着あるいは接している。これにより、光軸を調整するための個々の素子の位置調整を省略することができる。また、半導体レーザモジュール1の小型化も可能となる。
【0035】
好適な実施の形態において本発明の原理を図示し説明してきたが、本発明は、そのような原理から逸脱することなく配置および詳細において変更できることは、当業者によって認識される。例えば、本実施の形態に示された特定の半導体レーザモジュールの構成に限定されるものではない。したがって、特許請求の範囲およびその精神の範囲から来る全ての修正および変更に権利を請求する。
【0036】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、光検出器あるいは波長依存性を有した光学素子の位置調整を容易に行うことが可能な発光モジュールを提供することができる。また、本発明によれば、発光モジュールの小型化も可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態の半導体レーザモジュールを示す概略構成図である。
【図2】エタロン34により形成される干渉縞(光強度分布)を示す線図である。
【図3】波長モニタ用の光検出器における、受光波長に対する出力電流の変化を示す線図である。
【図4】半導体発光素子から出力される光の波長と光検出器の出力電流との関係を示す線図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザモジュール、10…発光モジュール主要部、12…光ファイバ、31…半導体発光素子、31a…光出射面、31b…光反射面、32…コリメータレンズ、33…光分岐デバイス、34…エタロン、35a…光検出器、35b…光検出器、35c…光検出器、36…光フィルタ、37…レンズ、40…波長安定化回路、50…パワー制御回路。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a light emitting module.
[0002]
[Prior art]
The light emitting module is used, for example, in a wavelength division multiplexing (WDM) transmission system using a plurality of wavelength components. In the WDM system of the 1.55 μm band, the wavelength interval between adjacent grids is about 0.8 nm (100 GHz). In order to realize this wavelength interval, it is necessary to control the emission wavelength of light from the light emitting module within a range of ± 0.03 nm with respect to the grid wavelength.
[0003]
Many of currently used light emitting modules have a semiconductor light emitting element, a photodetector, and a temperature regulator. The wavelength of the laser light slightly emitted from the light reflecting surface of the semiconductor light emitting element is monitored by a photodetector, the temperature of the semiconductor light emitting element is adjusted based on the monitoring result, and the wavelength of the laser light is controlled. Here, in order to detect the wavelength fluctuation with high accuracy, an optical element having a wavelength dependency (for example, an etalon) is provided between the semiconductor light emitting element and the photodetector, and the laser light component having a specific wavelength is monitored. Is done.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
As a result of investigations by the present inventors, it has been found that the light emitting module having the above-described configuration has the following problems.
[0005]
In a light emitting module using an etalon, the wavelength of light emitted from the light emitting module is controlled as follows. FIG. 4 is a schematic diagram showing the relationship between the wavelength of light output from the semiconductor light emitting element and the output current of the photodetector. As shown in FIG. 4, the waveform W of the output current of the photodetector periodically changes as the wavelength λ increases. Here, it is assumed that the grid wavelength used in the WDM system is λ 0 . Further, the current value of the output current output from the photodetector when light having the wavelength λ 0 enters the photodetector is assumed to be I 0 . At this time, the grid wavelength λ 0 is also locked by locking (controlling) the output current to the current value I 0 .
[0006]
However, unless the output current of the photodetector has a sufficient differential term with respect to the wavelength λ, it is impossible to lock the wavelength by the wavelength control circuit. That is, the area near the maximum and minimum of the waveform W becomes a dead zone, and only the wavelength of the portion excluding the dead zone can be set. For this reason, it is necessary to adjust the position of the photodetector or the optical element having wavelength dependency to an appropriate position. Also, if the interval between the set wavelengths is shortened or the wave number of the set wavelengths is increased, it will be difficult to adjust the position of the photodetector or wavelength-dependent optical element to an appropriate position while avoiding the dead zone region. Become.
[0007]
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a light emitting module capable of easily adjusting the position of a photodetector or an optical element having wavelength dependency.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A light emitting module according to the present invention includes a semiconductor light emitting element having an end face from which light is emitted, and first and second lights that are disposed at a predetermined interval and monitor the wavelength of light of the semiconductor light emitting element. A detector, a lens optically coupled to the end face, collimating the light from the semiconductor light emitting element, receiving the light from the lens and directing the branched light toward the optical fiber and the first and second photodetectors And an optical element that is disposed between the first and second photodetectors and the optical branching device and has wavelength dependency.
[0009]
In the light emitting module according to the present invention, the first and second photodetectors for monitoring the wavelength of the light of the semiconductor light emitting element are arranged with a predetermined interval. The optical element having the position can be easily adjusted. In addition, an optical system for wavelength monitoring is disposed in front of the semiconductor light emitting element in the light emission direction to the optical fiber, and the light emission direction to the optical fiber is behind the semiconductor light emitting element in the light emission direction. Since there is no need to provide the wavelength monitoring optical system on the side, the light emitting module can be miniaturized.
[0010]
Moreover, it is preferable to further include a third photodetector for monitoring the light emission power of the semiconductor light emitting element, and the optical branching device further generates branched light directed to the third photodetector. When configured in this manner, the light emitted to the optical fiber is the same as the light for monitoring the light emission power, and the tracking error due to the positional deviation of the lens that collimates the light from the semiconductor light emitting element can be canceled.
[0011]
The optical filter preferably further includes an optical filter that receives the branched light directed toward the optical fiber and selectively transmits light of a predetermined wavelength, and the optical filter is preferably bonded to or in contact with the optical branching device. When configured in this way, position adjustment of individual elements for adjusting the optical axis can be omitted. In addition, the light emitting module can be downsized.
[0012]
The predetermined interval is preferably set to 1/8 or more and 3/8 or less of the peak distance of the interference fringes formed by the optical element.
[0013]
Further, the predetermined interval is preferably set so that the dead zone region where the change of the output current with respect to the wavelength becomes minimum and maximum in the first and second photodetectors is shifted.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of a light emitting module according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the present embodiment, the light emitting module of the present invention is applied to a semiconductor laser module, but the present invention is not limited to such an embodiment.
[0015]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a semiconductor laser module 1 of the present embodiment. Referring to FIG. 1, the semiconductor laser module 1 includes a semiconductor laser module main part 10 housed in a housing 3. The housing 3 includes a main body (not shown) that houses the main part of the light emitting module, a cylindrical part (not shown) that guides the optical fiber 12 to the main part 10 of the semiconductor laser module, and a plurality of lead pins (not shown). Is provided.
[0016]
The semiconductor laser module main part 10 has a thermoelectric cooler 21 as temperature adjusting means. As this thermoelectric cooler 21, for example, a temperature control element using the Peltier effect can be used. On the thermoelectric cooler 21, a semiconductor light emitting element 31, a collimator lens 32, an optical branching device 33, an etalon 34 as an optical element having wavelength dependency, photodetectors 35a, 35b, 35c and an optical filter 36 are directly provided. Mounted indirectly or indirectly.
[0017]
The semiconductor light emitting element 31 has a pair of end surfaces 31a and 31b and an active layer (light emitting layer) provided between the pair of end surfaces 31a and 31b. The pair of end faces 31a and 31b constitute an optical resonator. One end face is called a light emitting face 31a, and the other end face is called a light reflecting face 31b. Since the light reflectance of the light emitting surface 31a is lower than the light reflectance of the light reflecting surface 31b, laser oscillation light can be extracted from the light emitting surface 31a. The light exit surface 31 a is optically coupled to the collimator lens 32, and light emitted from the light exit surface 31 a enters the collimator lens 32. As the semiconductor light emitting element 31, for example, a distributed feedback type (DFB) or Fabry-Perot type semiconductor laser element can be used. In the following description, the semiconductor light emitting element 31 is a semiconductor laser element that emits laser light.
[0018]
The collimator lens 32 is optically coupled to the light emitting surface 31 a of the semiconductor light emitting element 31. The light emitted from the light emitting surface 31a is divergent light, and is collimated by passing through the collimator lens 32 to become parallel light. The parallel light transmitted through the collimator lens 32 is output to the light branching device 33.
[0019]
The light branching device 33 is optically coupled to the collimator lens 32. The optical branching device 33 receives the parallel light transmitted through the collimator lens 32, branches light toward the photodetectors 35a and 35b, branched light toward the photodetector 35c, and branched light toward the optical fiber 12. And generate An example of the optical branching device 33 is an optical beam splitter. The collimator lens 32 and the light branching device 33 may be bonded.
[0020]
The optical filter 36 is optically coupled to the optical branching device 33, and is optically coupled to the light emitting surface 31 a of the semiconductor light emitting element 31 via the collimator lens 32 and the optical branching device 33. The optical filter 36 receives branched light from the optical branching device 33 toward the optical fiber 12 and selectively transmits light having a predetermined wavelength. The optical filter 36 is desirably bonded or in contact with the optical branching device 33.
[0021]
The light having a predetermined wavelength that has passed through the optical filter 36 is collected by the lens 37 and enters the optical fiber 12. The optical fiber 12 passes through a collimator lens 32, an optical branching device 33, an optical filter 36, and a lens 37 disposed so as to be optically coupled between the optical fiber 12 and the light emitting surface 31 a of the semiconductor light emitting element 31. Therefore, light will enter.
[0022]
The etalon 34 is disposed between the optical branching device 33 and the photodetectors 35 a and 35 b so as to be optically coupled thereto, and the semiconductor light emitting element 31 is interposed via the collimator lens 32 and the optical branching device 33. It is optically coupled to the light reflecting surface 31b. In the etalon 34, the light incident surface 34a and the light emitting surface 34b are relatively inclined at a minute angle. Here, the angle is set to a range in which the light incident on the etalon 34 can cause multiple interference between the light incident surface 34a and the light emitting surface 34b. Specifically, the angle is preferably 0.01 degrees or more and 0.1 degrees or less. Since the light incident surface 34a and the light emitting surface 34b are inclined with respect to each other, the distance between the surfaces 34a and 34b changes along the inclination direction. Therefore, the transmission wavelength of the etalon changes along the inclination direction. The etalon 34 may have a multilayer reflective film on the light incident surface 34a and the light emitting surface 34b. The reflectance of the light incident surface 34a and the light emitting surface 34b is adjusted by the multilayer reflective film. The etalon 34 is desirably adhered or in contact with the optical branching device 33.
[0023]
The photodetectors 35a and 35b are arranged at a predetermined interval in the inclination direction of the etalon 34 so that each can receive light emitted from the light emitting surface 34b of the etalon 34. This predetermined interval is desirably set to / 8 or more and 3/8 or less of the peak distance d of the interference fringes (light intensity distribution) formed by the etalon 34. In this embodiment, this predetermined interval is shown in FIG. Thus, it is set to d / 4. Thereby, as shown in FIG. 3, in the photodetectors 35a and 35b, the dead zone region where the change of the output current with respect to the received light wavelength becomes minimum and maximum is shifted. In FIG. 3, a curve W1 indicates the output characteristic of the photodetector 35a, and a curve W2 indicates the output characteristic of the photodetector 35b.
[0024]
Signals from the photodetectors 35 a and 35 b are sent to the wavelength stabilization circuit 40. The wavelength stabilization circuit 40 selects a signal from one of the photodetector 35a and the photodetector 35b, and generates a signal for adjusting the temperature of the semiconductor light emitting element 31 based on the selected signal. The thermoelectric cooler 21 receives a signal for adjusting the temperature of the semiconductor light emitting element 31 from the wavelength stabilizing circuit 40 and changes the temperature of the semiconductor light emitting element 31 in response to the signal.
[0025]
More specifically, the lock wavelength is set in the semiconductor laser module main part 10 and the wavelength stabilization circuit 40. The oscillation wavelength of the semiconductor light emitting element 31 varies from the lock wavelength. In response to this change, the photocurrents of the photodetectors 35a and 35b change. In response to the current change, the wavelength stabilization circuit 40 generates an electrical signal for changing the temperature of the thermoelectric cooler 21 so that the temperature of the semiconductor light emitting element 31 changes in a direction to cancel the change.
[0026]
The difference between the characteristic curve W1 and the characteristic curve W2 is characterized by a phase difference Δλ. When the characteristics of the photodetector 35a are substantially the same as the characteristics of the photodetector 35b, the characteristic curve W1 is the same as the characteristic curve W2 except for the phase difference Δλ. The periodicity of the characteristic curve is defined by the etalon, the phase of the characteristic curve is defined by the position of the photodetector with respect to the etalon, and the amplitude of the characteristic curve is defined by the intensity of the signal provided by the photodetector.
[0027]
The semiconductor laser module 1 can expand the wavelength range in which wavelength locking is possible by selecting signals from the photodetectors 35a and 35b. For example, the vicinity of the maximum and minimum of the characteristic curve W1 is a region where the lock wavelength cannot be arranged. However, wavelength locking is possible in this region using the characteristic curve W2. In order to maintain the oscillation wavelength of the semiconductor light emitting device 31 at the lock wavelength, the thermoelectric cooler 21 adjusts the temperature of the semiconductor light emitting device 31.
[0028]
The photodetector 35c is arranged so as to receive the branched light generated by the optical branching device 33. The light detector 35c is for monitoring the light emission power of the semiconductor light emitting element 31, and outputs a signal corresponding to the intensity of the received parallel light.
[0029]
A signal from the photodetector 35 c is sent to the power control circuit 50. The power control circuit 50 generates a drive signal for the semiconductor light emitting element 31 in response to the signal from the photodetector 35 c and the input signal 51. The power control circuit 50 is connected to the semiconductor light emitting element 31 via a signal line. The semiconductor light emitting element 31 is driven by a power adjusted drive signal.
[0030]
The photodetectors 35a, 35b, and 35c may be, for example, InGaAs-pin type photodiodes that use an InGaAs semiconductor layer formed on an InP substrate as a light receiving window. The intervals between the photodetectors 35a and 35b may be fixed by being incorporated in a monolithic or hybrid.
[0031]
Next, the assembly procedure of the main part 10 of the semiconductor laser module will be briefly described. First, the semiconductor light emitting element 31 is mounted, and the position of the collimator lens 32 is adjusted. After the optical branching device 33 is arranged, the monitor system is aligned by adjusting the positions of the photodetectors 35a, 35b, and 35c, and the optical output system is aligned by adjusting the position of the lens 37.
[0032]
As described above, in the semiconductor laser module 1 according to this embodiment, the photodetectors 35a and 35b for monitoring the wavelength of light of the semiconductor light emitting element 31 are arranged with a predetermined interval (d / 4). Therefore, the position adjustment of the photodetectors 35a and 35b or the etalon 34 can be easily performed. In addition, an optical system for wavelength monitoring is disposed on the front side (light emission surface 31a side) of the semiconductor light emitting element 31 in the light emission direction to the optical fiber 12, so that the light to the optical fiber 12 is transmitted. Since there is no need to dispose the wavelength monitoring optical system behind the semiconductor light emitting element 31 (on the light reflecting surface 31b side) in the emission direction, the semiconductor laser module 1 can be miniaturized.
[0033]
Further, in the present embodiment, a light detector 35c for monitoring the light emission power of the semiconductor light emitting element 31 is further provided, and the light branching device 33 further generates branched light directed toward the light detector 35c. Thereby, the light emitted to the optical fiber 12 and the light for monitoring the light emission power become the same, and the tracking error due to the misalignment of the collimator lens 32 can be canceled.
[0034]
In the present embodiment, the optical filter 36 further includes an optical filter 36 that receives the branched light directed toward the optical fiber 12 and selectively transmits light having a predetermined wavelength. The optical filter 36 is bonded to or in contact with the optical branching device 33. Yes. Thereby, position adjustment of each element for adjusting the optical axis can be omitted. In addition, the semiconductor laser module 1 can be downsized.
[0035]
While the principles of the invention have been illustrated and described in preferred embodiments, those skilled in the art will recognize that the invention can be modified in arrangement and detail without departing from such principles. For example, the configuration is not limited to the specific semiconductor laser module shown in the present embodiment. We therefore claim all modifications and changes that come within the scope and spirit of the following claims.
[0036]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, it is possible to provide a light emitting module capable of easily adjusting the position of a photodetector or an optical element having wavelength dependency. Further, according to the present invention, the light emitting module can be downsized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a semiconductor laser module of an embodiment.
FIG. 2 is a diagram showing interference fringes (light intensity distribution) formed by an etalon 34;
FIG. 3 is a diagram showing a change in output current with respect to a received light wavelength in a photodetector for wavelength monitoring.
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the wavelength of light output from a semiconductor light emitting element and the output current of a photodetector.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor laser module, 10 ... Main part of light emitting module, 12 ... Optical fiber, 31 ... Semiconductor light emitting element, 31a ... Light emission surface, 31b ... Light reflection surface, 32 ... Collimator lens, 33 ... Optical branching device, 34 ... Etalon , 35a ... photodetector, 35b ... photodetector, 35c ... photodetector, 36 ... optical filter, 37 ... lens, 40 ... wavelength stabilization circuit, 50 ... power control circuit.

Claims (3)

光が出射される端面を有する半導体発光素子と、
所定の間隔を有して配置され、前記半導体発光素子の光の波長をモニタするための第1及び第2の光検出器と、
前記半導体発光素子の発光パワーをモニタするための第3の光検出器と、
前記端面と光学的に結合され、前記半導体発光素子からの光をコリメートするレンズと、
前記レンズからの光を受け、光ファイバに向けた分岐光と前記第1及び第2の光検出器に向けた分岐光とに分岐し、当該光ファイバに向けた分岐光を更に、前記光ファイバに向けた分岐光と前記第3の光検出器に向けた分岐光とに分岐する光分岐デバイスと、
前記第1及び第2の光検出器と前記光分岐デバイスとの間に配置され、波長依存性を有する光学素子と、を備えることを特徴とする発光モジュール。
A semiconductor light emitting device having an end face from which light is emitted;
First and second photodetectors arranged at a predetermined interval for monitoring the wavelength of light of the semiconductor light emitting element;
A third photodetector for monitoring the light emission power of the semiconductor light emitting element;
A lens that is optically coupled to the end face and collimates light from the semiconductor light emitting element;
The light from the lens is received and branched into a branched light directed toward the optical fiber and a branched light directed toward the first and second photodetectors, and the branched light directed toward the optical fiber is further supplied to the optical fiber. An optical branching device that branches into a branched light directed toward the third optical detector and a branched light directed toward the third photodetector ;
A light-emitting module comprising: an optical element that is disposed between the first and second photodetectors and the optical branching device and has wavelength dependency.
前記所定の間隔は、前記光学素子により形成される干渉縞のピーク距離の1/8以上3/8以下に設定されることを特徴とする請求項1に記載の発光モジュール。  2. The light emitting module according to claim 1, wherein the predetermined interval is set to 1/8 or more and 3/8 or less of a peak distance of interference fringes formed by the optical element. 前記所定の間隔は、前記第1及び第2の光検出器において波長に対する出力電流の変化が極小及び極大となる不感帯領域がずれるように設定されることを特徴とする請求項1に記載の発光モジュール。  2. The light emitting device according to claim 1, wherein the predetermined interval is set so that a dead zone region in which a change in output current with respect to a wavelength becomes minimum and maximum in the first and second photodetectors is shifted. module.
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