JP4238814B2 - Substrate holding apparatus, bonding material printing apparatus and printing method - Google Patents

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

本発明は、複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持して、当該基板における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して作業可能に、上記基板の支持姿勢の保持を行なう基板保持装置、並びに上記作業として接合材料の印刷を行なう接合材料の印刷装置及び印刷方法に関する。   The present invention supports a substrate on a component mounting side surface on which a plurality of components are mounted, and enables the work to be performed on a work side surface that is a surface facing the component mounting side surface of the substrate. The present invention relates to a substrate holding device for holding a supporting posture, and a bonding material printing apparatus and a printing method for printing a bonding material as the above-described operation.

複数の部品である電子部品が基板に実装されることにより形成された電子回路は、このような電子回路を内蔵する電子機器の高性能化や小型化に伴って、高集積化が要求されており、上記基板の表面積の有効利用のため、上記基板の両面に対して、上記夫々の電子部品の実装が行なわれる、いわゆる両面実装が近年行なわれている。   An electronic circuit formed by mounting electronic components, which are a plurality of components, on a substrate is required to be highly integrated in accordance with the high performance and miniaturization of electronic devices incorporating such electronic circuits. In order to effectively use the surface area of the substrate, so-called double-sided mounting, in which the respective electronic components are mounted on both sides of the substrate, has been performed in recent years.

また、このような電子部品の実装においては、基板(プリント配線基板)の部品実装位置に接合材料である半田ペーストを印刷し、次に電子部品を上記部品実装位置に配置し、この基板全体に熱風を吹き付ける等により、上記半田ペーストを溶融させて半田付けすることで、上記実装を行なう熱風リフロー方法が一般的に用いられている。   In mounting such electronic components, a solder paste, which is a bonding material, is printed on a component mounting position of a substrate (printed wiring board), and then the electronic component is placed at the component mounting position. A hot air reflow method is generally used in which the mounting is performed by melting and soldering the solder paste by blowing hot air or the like.

また、上記両面実装を行なうような場合にあっては、上記基板における一方の面に対して、スクリーン印刷等の手段を用いて、半田ペーストの印刷を行ない、当該半田ペーストを介して夫々の電子部品を配置し、リフローを行なうことで、上記一方の面に対して上記夫々の電子部品の実装を行なった後に、他方の面に対して、同様の手順により上記夫々の電子部品の実装が行なわれることとなる。   In addition, in the case where the double-side mounting is performed, a solder paste is printed on one surface of the substrate by means of screen printing or the like, and each electronic device is connected via the solder paste. After mounting the respective electronic components on the one surface by arranging the components and performing reflow, the respective electronic components are mounted on the other surface by the same procedure. Will be.

ここで、このような両面実装を行なうような場合における上記他方の面に対する従来の半田ペーストの供給方法、すなわち、従来のスクリーン印刷方法の手順について、その模式説明図を図7(A)〜(C)に示し、これらの図を用いて上記手順について説明する。   Here, in the case of performing such double-sided mounting, a schematic explanatory diagram of the conventional solder paste supply method for the other surface, that is, the procedure of the conventional screen printing method is shown in FIGS. The above procedure will be described with reference to FIG.

まず、図7(A)に、一方の面に電子部品501の実装が行なわれた基板502を、当該一方の面を下向きとして、ベルトコンベアの搬送レール503a及び503bにより上記一方の面の互いに対向する端部が支持されて印刷位置に搬送されている状態を示す。   First, in FIG. 7A, a board 502 on which an electronic component 501 is mounted on one surface is opposed to the other surface by the conveyor rails 503a and 503b of the belt conveyor with the one surface facing downward. The state which the edge part to support is supported and is conveyed to the printing position is shown.

その後、図7(B)に示すように、印刷位置Aにおいては、基板502の下面を支持することで、基板502の支持を行なう支持ブロック504が待機しており、さらにこの支持ブロック504の上方には、スクリーン枠505によりその周囲が支持されたスクリーン506が待機している。このような状態にある印刷位置Aにおいて、スクリーン506と支持ブロック504との間に、夫々の搬送レール503a及び503bに支持された基板502が搬送される。   Thereafter, as shown in FIG. 7B, at the printing position A, the support block 504 for supporting the substrate 502 is on standby by supporting the lower surface of the substrate 502, and further above the support block 504. The screen 506 whose periphery is supported by the screen frame 505 is waiting. In the printing position A in such a state, the substrate 502 supported by the respective transport rails 503a and 503b is transported between the screen 506 and the support block 504.

この搬送が行なわれると、図7(C)に示すように、支持ブロック504が上昇されて、この支持ブロック504により基板502の下面を支持するとともに、当該支持された基板502を上昇させる。上昇された基板2は、その上面がスクリーン506の版面部分に当接された状態とされ、その後、支持ブロック504の上昇が停止されて、当該当接状態が保持される。なお、基板502の下面には、複数の電子部品501が実装されているが、夫々の電子部品501の実装位置や形状に応じて、支持ブロック504の上面には凹部550が形成されていることにより、支持ブロック504による基板502の確実な支持を行なうことが可能となっている。   When this conveyance is performed, as shown in FIG. 7C, the support block 504 is raised, and the lower surface of the substrate 502 is supported by the support block 504, and the supported substrate 502 is raised. The raised substrate 2 is brought into a state in which the upper surface thereof is in contact with the plate surface portion of the screen 506, and thereafter, the rising of the support block 504 is stopped and the contact state is maintained. Note that a plurality of electronic components 501 are mounted on the lower surface of the substrate 502, but a recess 550 is formed on the upper surface of the support block 504 according to the mounting position and shape of each electronic component 501. Thus, the substrate 502 can be reliably supported by the support block 504.

その後、図7(C)に示すように、基板502の上面に当接された状態にあるスクリーン506の上を、スキージ装置507で擦って、半田ペースト508をスクリーン506を介して基板502に供給することで、当該半田ペーストの印刷が行なわれる。   After that, as shown in FIG. 7C, the screen 506 in contact with the upper surface of the substrate 502 is rubbed with the squeegee device 507, and the solder paste 508 is supplied to the substrate 502 through the screen 506. By doing so, the solder paste is printed.

ここで、このような基板502における上記一方の面(すなわち、下面)の模式平面図を図8に示す。図8に示すように、基板502は略四角形状を有しており、さらに、その略四角形状の輪郭の内側に沿って、長孔部509が形成されている。この長孔部509は、電子部品501の実装完了後に、その内側の製品部分510(電子回路)を輪郭部511から破断して分離し易いように、製品部分510と輪郭部511(一般的に、ミミ部と呼ばれている)とをつなぐ複数の細い連結部512を形成するために形成されている。なお、夫々の長孔部509にて囲まれた領域が部品実装領域(製品部分510)となっており、この部品実装領域510には、複数の電子部品501が実装されている。   Here, a schematic plan view of the one surface (that is, the lower surface) of the substrate 502 is shown in FIG. As shown in FIG. 8, the substrate 502 has a substantially rectangular shape, and a long hole portion 509 is formed along the inside of the substantially rectangular outline. The elongated hole portion 509 is formed so that the product portion 510 and the contour portion 511 (generally, in order to easily break the product portion 510 (electronic circuit) inside from the contour portion 511 after the mounting of the electronic component 501 is completed. , Which is referred to as a “mimi part”) to form a plurality of thin coupling parts 512. A region surrounded by each of the long hole portions 509 is a component mounting region (product portion 510), and a plurality of electronic components 501 are mounted in the component mounting region 510.

また、図8に示すように、図示上下方向の夫々の端部領域513a、513bが、図7(A)で示したベルトコンベアの搬送レール503a及び503bにて支持される領域となっている。
特開平4−97587号公報 特開2003−258419号公報
Further, as shown in FIG. 8, the end regions 513a and 513b in the vertical direction shown in the figure are regions supported by the conveyor rails 503a and 503b of the belt conveyor shown in FIG. 7A.
JP-A-4-97587 JP 2003-258419 A

近年益々、基板502への電子部品501の高密度実装が進展しており、基板502に実装される電子部品501の個数が増大するとともに、実装される夫々の電子部品501の形状や大きさも多種多様化されている。また、上述した構造を有する支持ブロック504においては、個々の電子部品501の形状や大きさに合わせて凹部550を形成する必要があり、それに伴って、基板502における夫々の非実装領域514a、514b、514cを支持する支持面551の形成箇所も増大する。しかしながら、上記スクリーン印刷のような作業を確実に施すような場合には、基板502を略水平に保持することが要求されるものの、支持ブロック504において、このように多種多様な大きさ及び形状を有する凹部550や多数の支持面551等の形成を行なうことは、その加工精度等により、基板502を略水平に支持することをより困難なものにするという問題がある(例えば、特許文献2参照)。   In recent years, high-density mounting of electronic components 501 on the substrate 502 has been progressing, and the number of electronic components 501 mounted on the substrate 502 has increased, and various shapes and sizes of the respective electronic components 501 mounted have increased. Diversified. Further, in the support block 504 having the above-described structure, it is necessary to form the recesses 550 in accordance with the shape and size of each electronic component 501, and accordingly, the non-mounting regions 514a and 514b in the substrate 502 are formed. The location where the support surface 551 that supports 514c is formed also increases. However, when the operation such as the screen printing is to be performed reliably, the substrate 502 is required to be held substantially horizontally, but the support block 504 has such various sizes and shapes. The formation of the concave portions 550 and the large number of support surfaces 551 and the like has a problem that it becomes more difficult to support the substrate 502 substantially horizontally due to the processing accuracy and the like (see, for example, Patent Document 2). ).

また、基板502の確実な保持を行なうために、支持ブロック504の夫々の(あるいはいずれかの)支持面551に吸引孔を形成して、支持された基板502をこの吸引孔により吸引することで、当該基板502を夫々の支持面551にて吸着保持しようとする支持ブロックもある。また、近年益々進展している高密度実装の要求により、基板502において、夫々の電子部品501の実装個数や実装密度が増加しており、基板502と当接されて当該基板502を支持するための領域である非実装領域514a、514b、514cの面積も著しく縮小される傾向にある。このような場合にあっては、夫々の支持面551に上記吸引孔を形成することが困難なものとなり、支持された基板502の確実な吸着保持を行なうことが困難なものとなるという問題がある。   Further, in order to securely hold the substrate 502, a suction hole is formed in each (or any) support surface 551 of the support block 504, and the supported substrate 502 is sucked through the suction hole. There is also a support block that attempts to suck and hold the substrate 502 on each support surface 551. In addition, due to the demand for high-density mounting that has been increasingly advanced in recent years, the number of mounted electronic components 501 and the mounting density of the board 502 have increased, and the board 502 is brought into contact with and supports the board 502. The areas of the non-mounting regions 514a, 514b, and 514c, which are the regions, tend to be remarkably reduced. In such a case, it is difficult to form the suction holes on the respective support surfaces 551, and it is difficult to reliably suck and hold the supported substrate 502. is there.

また、このような多種多様化された電子部品501が実装された基板502の保持に対応するため、支持ブロックの上面(支持面)に軟らかい層を形成して、当接された電子部品501を上記軟らかい層を変形させることで、上記支持ブロックによる基板502の支持を行なうようなものも考え出されている(例えば、特許文献1参照)。しかしながら、このような手法は、上記軟らかい層を十分に変形させることができる程度の比較的その厚みが小さな電子部品501ばかりが実装されているような場合に対しては有効であるが、
夫々の電子部品501の厚さにバラツキがあるような場合、例えば、いくつかの電子部品501が、その他の電子部品501よりもその厚さが突出しているような場合にあっては、上記軟らかい層の変形を十分に行なうことができず、基板502を確実に支持することができないような場合もあるという問題もある。
Further, in order to support the holding of the substrate 502 on which such diversified electronic components 501 are mounted, a soft layer is formed on the upper surface (support surface) of the support block, and the abutted electronic components 501 are attached. It has also been devised that the substrate 502 is supported by the support block by deforming the soft layer (see, for example, Patent Document 1). However, such a technique is effective for a case where only the electronic component 501 having a relatively small thickness that can sufficiently deform the soft layer is mounted.
When the thickness of each electronic component 501 varies, for example, when some of the electronic components 501 protrude more than the other electronic components 501, the softness described above. There is also a problem that the layer cannot be sufficiently deformed and the substrate 502 cannot be reliably supported.

また、このような支持ブロックを用いず、基板502における互いに対向する夫々の端部を水平方向に挟み込むようにして、基板502の保持を行なうようなものもあるが、このような手法では、一方の面に夫々の電子部品501が実装されることにより撓みを生じた基板502を、上記挟み込むような保持を行なうことで、さらに反りを生じさせることとなって、基板502を略水平な状態で保持することが困難となるという問題もある。   In addition, there is a type in which the substrate 502 is held by sandwiching the opposite ends of the substrate 502 in the horizontal direction without using such a support block. By holding the substrate 502 that has been bent by mounting the respective electronic components 501 on the surface, the substrate 502 is further warped, and the substrate 502 is kept in a substantially horizontal state. There is also a problem that it is difficult to hold.

従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持して、上記基板の支持姿勢の保持を行なう基板保持において、多種多様化された上記夫々の部品が、上記基板に高密度に実装されるような場合であっても、当該基板を確実に吸着保持することができる基板保持装置、並びに当該保持された上記基板に対して接合材料の印刷供給を行なう接合材料の印刷装置及び印刷方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problem, in supporting the substrate on the component mounting side surface on which a plurality of components are mounted, and holding the supporting posture of the substrate. A substrate holding device that can securely hold the substrate even when the diversified parts are mounted on the substrate at a high density, and the held substrate. It is an object of the present invention to provide a bonding material printing apparatus and printing method for supplying printing material for bonding material.

上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。   In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

本発明の第1態様によれば、複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持して、当該基板における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して作業可能に、上記基板の支持姿勢の保持を行なう基板保持装置において、
上記部品実装側表面における周部と当接することで、当該周部の支持を行なう支持面と、当該支持面に形成されかつ上記当接状態にある上記周部を吸着する吸着孔とを有し、上記周部の支持及び吸着により、上記基板の保持を行なう基板周部保持部を備え、上記部品実装側表面、及び当該部品実装側表面に実装された夫々の部品との当接を回避可能に、上記基板周部支持部により略囲まれた当接回避空間を形成する基板保持ブロックと、
上記部品実装側表面の部品の非実装領域と当接することで、当該非実装領域の支持を行なう基板支持部をもつ上記当接回避空間内に設置される基板保持部とからなる基板保持装置を用いる。
According to the first aspect of the present invention, the substrate is supported by the component mounting side surface on which a plurality of components are mounted, and the work is performed on the work side surface that is the surface facing the component mounting side surface of the substrate. In the substrate holding device that holds the support posture of the substrate,
A support surface for supporting the peripheral portion by contacting the peripheral portion on the component mounting side surface; and an adsorption hole formed on the support surface and for adsorbing the peripheral portion in the contact state. In addition, by supporting and adsorbing the peripheral portion, a substrate peripheral portion holding portion for holding the substrate is provided, and contact with the component mounting side surface and each component mounted on the component mounting side surface can be avoided. And a substrate holding block that forms a contact avoidance space substantially surrounded by the substrate peripheral portion support portion,
A board holding device comprising a board holding part installed in the abutting avoidance space having a board support part for supporting the non-mounting area by contacting the non-mounting area of the component on the component mounting surface. Use.

さらに、上記の基板保持部に、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を支持する部品支持部を設けた基板保持装置を用いる。   Furthermore, a substrate holding device is used in which a component supporting portion that supports the surface of the component mounted on the component mounting side surface is provided in the substrate holding portion.

さらに、上記の部品支持部に、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を吸着する機構を設けた基板保持装置を用いる。   Furthermore, a board holding device provided with a mechanism for adsorbing the surface of the component mounted on the component mounting side surface is used for the component support portion.

さらに、上記基板支持部は、上記非実装領域を支持することで、上記基板周部保持部による上記基板の支持機能を補う支持補助専用部であって、
上記部品支持部は、上記部品を吸着することで、上記基板周部保持部による上記基板の吸着機能を補う支持部である基板保持装置を用いる。
Furthermore, the substrate support portion is a support auxiliary dedicated portion that supplements the support function of the substrate by the substrate peripheral portion holding portion by supporting the non-mounting region,
The component support unit uses a substrate holding device which is a support unit that supplements the adsorption function of the substrate by the substrate peripheral unit holding unit by sucking the component.

さらに、上記部品支持部は、その高さが調整できる基板保持装置を用いる。   Furthermore, the component support part uses a substrate holding device whose height can be adjusted.

さらに、上記基板周部保持部の上記支持面には、第1の緩衝部が備えられ、
上記部品支持部の先端には、上記第1の緩衝部よりもその硬度が低い第2の緩衝部が備えられている基板保持装置を用いる。
Further, the support surface of the substrate peripheral part holding part is provided with a first buffer part,
A substrate holding device provided with a second buffer part having a lower hardness than the first buffer part is used at the tip of the component support part.

上記部品実装側表面に実装された複数の上記部品を個別に支持する複数の上記部品支持部が備えられ、
上記夫々の部品支持部において、その支持先端高さ位置が上記吸着される部品の被吸着表面の高さ位置に応じて決定されている請求項2から6のいずれか1つに記載の基板保持装置を用いる。
A plurality of the component support portions for individually supporting the plurality of components mounted on the component mounting side surface;
The substrate holding device according to any one of claims 2 to 6, wherein, in each of the component support portions, the height position of the support tip is determined according to the height position of the suction target surface of the component to be sucked. Use the device.

さらに、上記基板周部保持部が備える上記吸着孔は、上記周部に沿って形成された溝状の開口部を有する基板保持装置を用いる。   Further, the suction hole provided in the substrate peripheral part holding part uses a substrate holding apparatus having a groove-shaped opening formed along the peripheral part.

さらに、上記部品支持部は、上記第2の緩衝部として、上記部品の被吸着表面の実装位置ズレに応じて、当該部品との当接により弾性変形可能なゴム材料にて形成された上記吸着先端を有する吸着パッド部である基板保持装置を用いる。   Further, the component support portion is the second buffer portion, and the suction formed of a rubber material that is elastically deformable by contact with the component according to a mounting position shift of the surface to be sucked of the component. A substrate holding device which is a suction pad portion having a tip is used.

また、上記のいずれか1つに記載の基板保持装置と、
上記基板保持装置により保持された上記基板の上記作業側表面に対して、当該作業として、上記夫々の部品の接合材料の印刷供給を行なう接合材料供給部とを備えることを特徴とする接合材料の印刷装置を用いる。
Further, the substrate holding device according to any one of the above,
A bonding material supply unit comprising a bonding material supply unit that prints and supplies the bonding material of each of the components as the work to the work side surface of the substrate held by the board holding device. Use a printing device.

複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持するとともに、上記基板の支持姿勢の保持を行ないながら、当該基板における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して、接合材料を印刷供給を行なう接合材料の印刷方法において、
上記部品実装側表面に実装された上記夫々の部品との当接を回避しながら、当該部品実装側表面における周部の支持を行なうとともに上記周部の吸着を行ない、
それとともに、上記部品実装側表面の略中央付近における上記夫々の部品の非実装領域を支持して上記基板の支持を補うとともに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を吸着して上記基板の吸着を補いながら、上記基板の支持姿勢の保持を行ない、
当該保持状態において、上記基板の上記作業側表面に対して、上記接合材料の印刷供給を行なうことを特徴とする接合材料の印刷方法を用いる。
While supporting the substrate on the component mounting side surface on which a plurality of components are mounted and holding the support posture of the substrate, the work side surface of the substrate facing the component mounting side surface In the bonding material printing method for printing and supplying the bonding material,
While supporting the peripheral portion on the surface of the component mounting side and adsorbing the peripheral portion while avoiding contact with the respective components mounted on the surface of the component mounting side,
At the same time, the non-mounting area of each of the components near the center of the component mounting surface is supported to supplement the support of the substrate, and the surface of the component mounted on the component mounting surface is adsorbed. While maintaining the adsorption of the substrate, hold the support posture of the substrate,
In the holding state, a printing method for the bonding material is used, in which the printing material is supplied to the working surface of the substrate.

本発明の上記第1態様によれば、基板保持装置において、基板の部品実装側表面の周部を支持するとともに吸着することで、上記基板の保持を行なう基板周部保持部に加えて、上記基板の上記部品実装側表面の略中央付近に配置された非実装領域を支持することで、上記基板周部保持部による上記基板の支持を補う基板支持部と、上記基板周部保持部による上記基板の吸着を補う部品吸着部とが備えられていることにより、高密度に上記夫々の部品が実装された上記基板の部品実装側表面を確実に支持して、その支持姿勢の保持を行なうことで、確実な基板の保持を行なうことができる。   According to the first aspect of the present invention, in the substrate holding device, in addition to the substrate peripheral portion holding portion that holds the substrate by supporting and adsorbing the peripheral portion of the component mounting side surface of the substrate, By supporting a non-mounting region disposed near the center of the component mounting side surface of the substrate, the substrate support portion supplementing the support of the substrate by the substrate periphery holding portion, and the above by the substrate periphery holding portion By providing a component suction part that supplements the suction of the substrate, the component mounting side surface of the substrate on which each of the components is mounted with high density is reliably supported and the supporting posture is maintained. Thus, the substrate can be securely held.

特に、このように上記夫々の部品が高密度に実装されているような場合には、上記基板の上記部品実装側表面において上記夫々の部品が実装されていな領域である上記周部自体の面積も小さくなり、上記基板周部保持部による当該周部の支持及び吸着だけでは、確実かつ十分に上記基板の保持を行なうことができない。そこで、上記基板支持部及び上記部品吸着部により、上記周部で囲まれた内側の領域において、上記支持及び吸着を行なうことで、上記基板周部保持部による支持及び吸着を補い、確実な基板保持を実現することができる。   In particular, when the respective components are mounted with high density in this way, the area of the peripheral portion itself, which is a region where the respective components are not mounted on the component mounting side surface of the substrate. Thus, the substrate cannot be reliably and sufficiently held only by the support and suction of the peripheral portion by the substrate peripheral portion holding portion. Therefore, the substrate support portion and the component suction portion perform the support and suction in the inner region surrounded by the peripheral portion, thereby supplementing the support and suction by the substrate peripheral portion holding portion and ensuring the substrate. Retention can be realized.

具体的には、特に、このように上記夫々の部品が高密度に実装されているような場合には、上記基板の上記部品実装側表面において上記周部で囲まれた領域には、当接により支持を行なうことができる領域(すなわち、上記非実装領域)が著しく少なくなっている。しかしながら、このような場合であっても、上記基板支持部に吸着機能を備えさせずに当接による支持機能のみを備えさせることで、当該基板支持部の支持面の表面積を減少させて、当該支持を実現可能としている。   Specifically, particularly when each of the components is mounted with high density as described above, the region surrounded by the peripheral portion on the component mounting side surface of the substrate is in contact with Therefore, the area where the support can be performed (that is, the non-mounting area) is remarkably reduced. However, even in such a case, the surface area of the support surface of the substrate support portion is reduced by providing only the support function by contact without providing the substrate support portion with an adsorption function, and Support is feasible.

また、基板の周囲を支える基板保持ブロックと、基板内部を支える基板保持部とに、分けているので、基板の種類がかわったときに、交換別々に交換できる。   In addition, since the substrate holding block that supports the periphery of the substrate and the substrate holding portion that supports the inside of the substrate are divided, when the type of the substrate is changed, it can be replaced separately.

本発明の上記第2態様によれば、上記の基板支持部の位置を変更できるので、
基板の種類が変わっても、基板保持ブロックを作製しなおす必要がない。現場で対応できる。余分なブロックを持つ必要がない。
上記第1態様による効果を明確に実現することができる。
According to the second aspect of the present invention, since the position of the substrate support portion can be changed,
Even if the type of the substrate changes, it is not necessary to re-create the substrate holding block. It can be handled on site. There is no need to have extra blocks.
The effect of the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第3態様によれば、上記の基板保持部に、さらに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を支持する部品支持部を設けた基板保持装置を用いるので、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the third aspect of the present invention, since the substrate holding device provided with the component supporting portion for supporting the surface of the component mounted on the component mounting side surface is used for the substrate holding portion. The effect according to the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第4態様によれば、上記の部品支持部の位置を変更できるので、
基板の種類が変わっても、基板保持ブロックを作製しなおす必要がない。現場で対応できる。余分なブロックを持つ必要がない。
According to the fourth aspect of the present invention, the position of the component support portion can be changed.
Even if the type of the substrate changes, it is not necessary to re-create the substrate holding block. It can be handled on site. There is no need to have extra blocks.

本発明の上記第5態様によれば、さらに、上記の部品支持部に、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を吸着する機構を設けた基板保持装置を用いるので、当該部品を介して上記基板の略中央付近での撓みを抑制して、当該基板を略水平な状態を保ちながら保持することができ、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the fifth aspect of the present invention, since the substrate holding device provided with a mechanism for adsorbing the surface of the component mounted on the component mounting side surface is used for the component support portion, Therefore, it is possible to suppress the bending of the substrate in the vicinity of the substantially center and to hold the substrate while maintaining a substantially horizontal state, and it is possible to clearly realize the effect of the first aspect.

第2と3の態様によれば、当該基板支持部に代わって、上記部品支持部が基板を吸着、支持することで補われている。すなわち、上記部品支持部により上記部品の表面を吸着することで、当該部品を介しての上記基板の吸着保持を行なうことができる。   According to the 2nd and 3rd aspect, it replaces with the said board | substrate support part, and the said component support part is supplemented by adsorb | sucking and supporting a board | substrate. That is, by sucking the surface of the component by the component support portion, the substrate can be sucked and held via the component.

よって、上記基板において、上記夫々の部品が実装されていない上記周部を、上記基板周部保持部により支持及び吸着を行なうことで吸着保持を行なうとともに、当該基板周部保持部による支持及び吸着では不足している分を、上記基板支持部及び上記部品支持部により、支持機能と吸着機能とに分けて夫々を補うことで、上記基板の確実な保持を実現することが可能となっている。   Therefore, in the substrate, the peripheral portion on which the respective components are not mounted is sucked and held by supporting and sucking the substrate peripheral portion holding portion, and supported and sucked by the substrate peripheral portion holding portion. Then, it is possible to realize the reliable holding of the substrate by supplementing each of the deficiencies into a support function and a suction function by the substrate support part and the component support part. .

従って、高密度に部品が両面実装されるような上記基板に対して、その上記部品実装側表面を支持側表面として確実に吸着保持することができ、当該吸着保持状態にて、上記基板の作業側表面に対して、所定の作業を確実に施すことが可能となる。   Accordingly, it is possible to reliably suck and hold the component mounting side surface as the support side surface with respect to the board on which the components are mounted on both sides with high density. It is possible to reliably perform a predetermined operation on the side surface.

本発明の上記第4態様によれば、さらに、上記の基板支持部は、上記非実装領域を支持することで、上記基板周部保持部による上記基板の支持機能を補う支持補助専用部であって、
上記部品支持部は、上記部品を吸着することで、上記基板周部保持部による上記基板の吸着機能を補う支持部である基板保持装置を用いるので、上記基板又は上記部品の表面と当接されたことで、その吸着機能をより高めることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the substrate support portion is a support auxiliary dedicated portion that supplements the support function of the substrate by the substrate peripheral portion holding portion by supporting the non-mounting region. And
Since the component support unit uses a substrate holding device that is a support unit that supplements the adsorption function of the substrate by the substrate peripheral unit holding unit by sucking the component, the component support unit is brought into contact with the surface of the substrate or the component. As a result, the adsorption function can be further enhanced.

本発明の上記第5態様によればさらに、上記部品支持部は、その高さが調整される基板保持装置なので、上記夫々の部品の吸着保持を確実かつ良好に行なうことができ、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   Further, according to the fifth aspect of the present invention, since the component support portion is a substrate holding device whose height is adjusted, the suction and retention of the respective components can be reliably and satisfactorily performed. The effect by the aspect can be clearly realized.

本発明の上記第6態様によれば、 上記部品支持部の先端には、上記第1の緩衝部よりもその硬度が低い第2の緩衝部が備えられているので、さらに、基板を平坦に保持することができ、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。また、このような上記第2の緩衝部を備えさせることで、吸着保持される上記部品への損傷発生を未然に防止することができるとともに、当該部品の実装位置ズレによる吸着保持位置の位置ズレを柔軟に吸収することもでき、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the sixth aspect of the present invention, since the second buffer portion having a lower hardness than the first buffer portion is provided at the tip of the component support portion, the substrate is further flattened. The effect by the said 1st aspect can be implement | achieved clearly. Further, by providing the second buffer portion as described above, it is possible to prevent the occurrence of damage to the component that is sucked and held, and the displacement of the suction holding position due to the mounting position shift of the component. Can be absorbed flexibly, and the effect of the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第7態様によれば、さらに、上記部品支持部による上記部品の保持高さ位置の規制を行なう基板保持装置を用いるので、上記部品吸着部の上記吸着機能をより確実に発揮することができ、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the seventh aspect of the present invention, since the substrate holding device that restricts the holding height position of the component by the component support portion is used, the suction function of the component suction portion is more reliably exhibited. And the effects of the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第8態様によれば、さらに、上記基板周部保持部が備える上記吸着孔は、上記周部に沿って形成された溝状の開口部を有する基板保持装置を用いるので、上記基板を略水平な状態に保ちながら確実な保持を行なうことが可能で、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the eighth aspect of the present invention, since the suction hole provided in the substrate peripheral part holding part uses a substrate holding apparatus having a groove-shaped opening formed along the peripheral part, It is possible to reliably hold the substrate while keeping the substrate in a substantially horizontal state, and the effect of the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第9態様によれば、上記部品支持部は、上記第2の緩衝部として、上記部品の被吸着表面の実装位置ズレに応じて、当該部品との当接により弾性変形可能なゴム材料にて形成された上記吸着先端を有する吸着パッド部であるので、確実に部品を保持でき、上記第1態様による効果を明確に実現することができる。   According to the ninth aspect of the present invention, the component support portion can be elastically deformed by contact with the component as the second buffer portion, depending on the mounting position deviation of the surface to be sucked of the component. Since the suction pad portion is formed of a rubber material and has the suction tip, the component can be reliably held and the effect of the first aspect can be clearly realized.

本発明の上記第10態様によれば、上記基板の上記作業側表面に対して施される作業が、接合材料の印刷供給であることにより、上記基板保持装置による上記基板の確実な保持がより有効なものとなる。特に、このような高密度実装が行なわれる基板においては、上記接合材料の印刷供給もより高い精度でもって行なわれることが求められるところ、このような基板を上記基板保持装置により略水平な状態を保ちながら確実に保持することで、高い精度でもっての上記印刷供給を行なうことができる。   According to the tenth aspect of the present invention, the work performed on the work-side surface of the substrate is printing supply of a bonding material, so that the substrate can be reliably held by the substrate holding device. It becomes effective. In particular, in a substrate on which such high-density mounting is performed, printing of the bonding material is required to be performed with higher accuracy. However, such a substrate is placed in a substantially horizontal state by the substrate holding device. The above-mentioned printing supply with high accuracy can be performed by securely holding it while maintaining it.

本発明の上記第11態様によれば、基板の支持姿勢の保持を行ないながら、接合材料の印刷供給を行なう印刷方法において、上記部品実装側表面に実装された夫々の部品との当接を回避しながら、当該部品実装側表面における周部の支持を行なうとともに上記周部の吸着を行ない、それとともに、上記部品実装側表面の略中央付近における上記夫々の部品の非実装領域を支持して、上記基板の支持を補うとともに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を吸着して、上記基板の吸着を補いながら、上記基板の支持姿勢の保持を行なうことで、高密度に上記夫々の部品が実装された上記基板の部品実装側表面を確実に支持して、その支持姿勢の保持を行なうことで、確実な基板の保持を行なうことができる。   According to the eleventh aspect of the present invention, in the printing method in which the bonding material is printed and supplied while maintaining the support posture of the substrate, the contact with each component mounted on the component mounting side surface is avoided. While supporting the peripheral portion on the surface of the component mounting side and adsorbing the peripheral portion, and supporting the non-mounting area of each component in the vicinity of the approximate center of the surface of the component mounting side, While supplementing the support of the substrate and adsorbing the surface of the component mounted on the surface of the component mounting side to compensate for the adsorption of the substrate, the support posture of the substrate is maintained, thereby high density By reliably supporting the component mounting side surface of the substrate on which the respective components are mounted and holding the supporting posture, the substrate can be reliably held.

特に、このように上記夫々の部品が高密度に実装されているような場合には、上記基板の上記部品実装側表面において上記夫々の部品が実装されていな領域である上記周部自体の面積も小さくなり、当該周部の支持及び吸着だけでは、確実かつ十分に上記基板の保持を行なうことができない。そこで、上記周部で囲まれた内側の領域において、上記支持及び吸着を行なうことで、上記周部の支持及び吸着による上記基板の保持を補い、確実な基板保持を実現することができる。   In particular, when the respective components are mounted with high density in this way, the area of the peripheral portion itself, which is a region where the respective components are not mounted on the component mounting side surface of the substrate. Thus, the substrate cannot be reliably and sufficiently held only by the support and suction of the peripheral portion. Therefore, by performing the support and suction in the inner region surrounded by the peripheral portion, it is possible to supplement the holding of the substrate by the support and suction of the peripheral portion, and to realize reliable substrate holding.

従って、高密度に部品が両面実装されるような上記基板に対して、その上記部品実装側表面を支持側表面として確実に吸着保持することができ、当該吸着保持状態にて、上記基板の作業側表面に対して、接合材料の印刷供給を確実に施すことが可能となる。   Accordingly, it is possible to reliably suck and hold the component mounting side surface as the support side surface with respect to the board on which the components are mounted on both sides with high density. It becomes possible to reliably supply the printing supply of the bonding material to the side surface.

以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。   Embodiments according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

本発明の第1の実施形態にかかる基板保持装置を備える接合材料の印刷装置の一例であるスクリーン印刷装置101の外観を示す模式斜視図を図1に示す。   FIG. 1 is a schematic perspective view showing an external appearance of a screen printing apparatus 101 which is an example of a bonding material printing apparatus including a substrate holding apparatus according to the first embodiment of the present invention.

図1に示すように、スクリーン印刷装置101は、複数の部品である電子部品が実装された部品実装側表面にて基板2を支持して、この基板2における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して、上記基板の支持位置の保持を行なう基板保持装置50と、この基板保持装置50により保持された基板2の上記作業側表面(すなわち、上面)に対して、上記作業として接合材料の一例であるクリーム半田(半田材料)の供給を、スクリーン印刷にて行なうための構成(接合材料供給部の一例である)とを備えている。上記スクリーン印刷を行なう構成としては、スクリーン印刷を行なうための版面を有し、基板2の上記作業側表面上に配置されるスクリーン52と、このスクリーン52を介してクリーム半田を供給するスキージ(図示しない)及び当該スキージの昇降動作を行なう昇降装置を有する印刷ヘッド51と、この印刷ヘッド51を略水平方向に移動させることで、上記スキージをスクリーン52に沿って移動させるヘッド移動装置53とが備えられている。   As shown in FIG. 1, the screen printing apparatus 101 supports a substrate 2 on a component mounting side surface on which electronic components that are a plurality of components are mounted, and a surface of the substrate 2 that faces the component mounting side surface. The substrate holding device 50 that holds the support position of the substrate with respect to the work side surface, and the work side surface (that is, the upper surface) of the substrate 2 held by the substrate holding device 50 As a work, a configuration for providing cream solder (solder material), which is an example of a bonding material, by screen printing (an example of a bonding material supply unit) is provided. As a configuration for performing the screen printing, a screen 52 for performing screen printing, a screen 52 disposed on the work side surface of the substrate 2, and a squeegee for supplying cream solder via the screen 52 (illustrated). And a head moving device 53 that moves the squeegee along the screen 52 by moving the print head 51 in a substantially horizontal direction. It has been.

スクリーン印刷装置101がこのような構成を有することで、基板保持装置50に保持された基板2の上面に対して、スクリーン52の版面に合致するような形状及び配置にて、印刷ヘッド51等によりクリーム半田の供給を行なうことが可能となっている。   Since the screen printing apparatus 101 has such a configuration, the print head 51 or the like has a shape and arrangement that matches the plate surface of the screen 52 with respect to the upper surface of the substrate 2 held by the substrate holding apparatus 50. It is possible to supply cream solder.

次に、このようなスクリーン印刷装置101にて取り扱われる基板2における部品実装側表面の平面図を図2に示す。   Next, FIG. 2 shows a plan view of the component mounting side surface of the substrate 2 handled by the screen printing apparatus 101. FIG.

ここで、基板2は、その両面に複数の電子部品が実装されることにより電子回路が形成されるような基板、すなわち、いわゆる両面実装用の基板である。図2に示す基板2は、このような両面実装用の基板における上記両面のうちの一方の面を部品実装側表面Sとして、この部品実装側表面Sに対して、複数の電子部品1が実装された状態にあり、他方の面には、まだ電子部品1が実装されていない状態にある。また、図2は、夫々の電子部品1が実装された部品実装側表面Sを上面として、その模式的な平面を示している。なお、図2においては、図示しないが、基板2における部品実装側表面Sと対向する側の表面(すなわち、部品実装側表面Sの裏面)は、最終的には夫々の電子部品1が実装されることとなるが、この実装のために、スクリーン印刷装置101によりクリーム半田の供給が行なわれる作業側表面となっている。   Here, the substrate 2 is a substrate on which an electronic circuit is formed by mounting a plurality of electronic components on both surfaces thereof, that is, a so-called double-side mounting substrate. A substrate 2 shown in FIG. 2 has a component mounting side surface S as one of the two surfaces of the double-side mounting substrate, and a plurality of electronic components 1 are mounted on the component mounting side surface S. The electronic component 1 is not yet mounted on the other surface. FIG. 2 shows a schematic plane with the component mounting side surface S on which each electronic component 1 is mounted as an upper surface. Although not shown in FIG. 2, each electronic component 1 is finally mounted on the surface of the substrate 2 facing the component mounting side surface S (that is, the back surface of the component mounting side surface S). However, for this mounting, the surface of the working side to which cream solder is supplied by the screen printing apparatus 101 is provided.

図2に示すように、基板2は、略四角形状を有しており、その外周輪郭に沿うようにして基板2を貫通するように複数の長孔部9が形成されている。これらの長孔部9は、基板2において夫々の電子部品1の実装が完了して電子回路が形成された後に、夫々の長孔部9にて囲まれた内側の領域を製品部分として、上記外周輪郭部分から破断して分離させるために設けられている。部品実装側表面Sにおいて、夫々の長孔部9にて囲まれた内側の領域が部品実装領域R1となっており、夫々の長孔部9の外側の領域が外周領域R2となっている。また、上記破断を容易なものとするために、夫々の長孔部9の間には、部品実装領域R1に該当する基板2の部分と、外周領域R2に該当する部分とをつなぐ複数の細い連結部分12が形成されている。従って、これらの連結部分12を破断することで、上記製品部分の分離を行なうことができる。   As shown in FIG. 2, the substrate 2 has a substantially square shape, and a plurality of long hole portions 9 are formed so as to penetrate the substrate 2 along the outer peripheral contour thereof. These elongated holes 9 are formed as described above, with the inner region surrounded by each elongated hole 9 as a product part after the electronic circuit 1 is formed and the electronic circuit is formed on the substrate 2. It is provided for breaking and separating from the outer peripheral contour portion. On the component mounting side surface S, the inner region surrounded by each long hole portion 9 is a component mounting region R1, and the outer region of each long hole portion 9 is an outer peripheral region R2. Further, in order to facilitate the above-mentioned breakage, a plurality of thin holes connecting the portion of the substrate 2 corresponding to the component mounting region R1 and the portion corresponding to the outer peripheral region R2 are provided between the respective long hole portions 9. A connecting portion 12 is formed. Therefore, the product parts can be separated by breaking these connecting parts 12.

また、図2に示すように、基板2における部品実装側表面Sには、大小様々な形状の電子部品1が密集されて実装されている。このような電子部品1は、大きく分けて2つの種類に区分することができ、例えば、抵抗体やコンデンサ等の小型の電子部品1であるチップ部品1Aと、このようなチップ部品1Aよりも大型の電子部品1であって、部品実装領域R1において、比較的大きな実装面積を必要とするIC部品1Bとに分けることができる。   In addition, as shown in FIG. 2, electronic components 1 of various shapes are densely mounted on the component mounting side surface S of the substrate 2. Such an electronic component 1 can be roughly divided into two types. For example, a chip component 1A which is a small electronic component 1 such as a resistor or a capacitor, and a larger size than such a chip component 1A. The electronic component 1 can be divided into an IC component 1B that requires a relatively large mounting area in the component mounting region R1.

また、図2に示すように、基板2における外周領域R2には、スクリーン印刷装置101において、供給された基板2の位置決めを行なうための位置決め孔3が基板2を貫通するように形成されており、例えば、図示下側の外周領域R2における左右夫々の端部近傍に夫々の位置決め孔3が形成されている。   Further, as shown in FIG. 2, a positioning hole 3 for positioning the supplied substrate 2 in the screen printing apparatus 101 is formed in the outer peripheral region R <b> 2 of the substrate 2 so as to penetrate the substrate 2. For example, the positioning holes 3 are formed in the vicinity of the left and right ends of the outer peripheral region R2 on the lower side in the figure.

なお、基板2の部品実装領域R1において、電子部品1が実装されていない大きな領域R3が存在するが、この領域R3には、IC部品1B(あるいは、このIC部品1Bに加えて、チップ部品1A)が選択的に実装される領域であり、基板2の種類や仕様に応じて、IC部品1Bが実装され得る。図2に示す基板2は、この領域R3にIC部品1Bが選択的に実装されていないものを示している。   In the component mounting region R1 of the board 2, there is a large region R3 where the electronic component 1 is not mounted. In this region R3, the IC component 1B (or the chip component 1A in addition to the IC component 1B) is provided. ) Is an area to be selectively mounted, and the IC component 1B can be mounted according to the type and specification of the substrate 2. The substrate 2 shown in FIG. 2 shows that the IC component 1B is not selectively mounted in this region R3.

なお、本実施形態において用いられる基板2としては、例えば、ビデオカメラやデジタルカメラに搭載されるような基板であり、高機能を保持しながら小型化された電子機器に内蔵されるために、多数の電子部品がその両面に高集積化されて実装されるような基板である。   In addition, as the board | substrate 2 used in this embodiment, for example, it is a board | substrate mounted in a video camera or a digital camera, and since it is incorporated in the electronic device reduced in size, maintaining a high function, many The electronic component is mounted on the both surfaces with high integration.

次に、スクリーン印刷装置101が備える基板保持装置50の構成について詳細に説明する。まず、この基板保持装置50が基板2を保持している状態を模式的に示す模式断面図を図3(a)と図3(b)に示す。図3(a)は、断面図を、図3(b)は、上面図を示す。図3(a)に示すように、基板保持装置50は、基板2を支持するとともに、支持された基板2を吸引することで、上記支持位置の吸着保持を行なう基板保持ブロック21と、この基板保持ブロック21による上記吸引を行なう真空吸引装置22(吸引装置の一例である)とを備えている。基板保持ブロック21は、部品実装側表面Sを図示下向き、作業側表面Tを図示上向きとして配置された基板2の部品実装側表面Sと、その上面とが部分的に当接されることで、この基板2の保持を行なっている。   Next, the configuration of the substrate holding device 50 provided in the screen printing apparatus 101 will be described in detail. First, a schematic cross-sectional view schematically showing a state in which the substrate holding device 50 holds the substrate 2 is shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b). 3A shows a cross-sectional view, and FIG. 3B shows a top view. As shown in FIG. 3A, the substrate holding device 50 supports the substrate 2 and sucks the supported substrate 2 to suck and hold the support position, and the substrate holding block 21. A vacuum suction device 22 (which is an example of a suction device) that performs the above suction by the holding block 21 is provided. The substrate holding block 21 is configured such that the component mounting side surface S of the substrate 2 arranged with the component mounting side surface S facing downward in the drawing and the work side surface T facing upward in the drawing, and the upper surface thereof partially abut, The substrate 2 is held.

図3(a)に示すように、基板保持ブロック21は、略直方体形状を有しており、その上面には周部で囲まれた内側に凹部24が形成されている。また、図3(b)に示すように、基板保持ブロック21は、その上面における周部に、上記凹部の外周端部を形成する部分であって、基板2と当接することで基板2の保持を行なう基板周部保持部の一例である複数の基板周部保持部23を備えている。夫々の基板周部保持部23においては、その上面が支持面23aとして、基板2の部品実装側表面Sにおける外周領域R2の配置と合致するように形成されており、基板保持ブロック21の上面に部品実装側表面Sを下向きとして基板2を配置させることで、夫々の支持面23aが外周領域R2と確実に当接させることが可能となっている。   As shown in FIG. 3A, the substrate holding block 21 has a substantially rectangular parallelepiped shape, and a concave portion 24 is formed on the upper surface of the substrate holding block 21 on the inner side surrounded by a peripheral portion. Further, as shown in FIG. 3B, the substrate holding block 21 is a portion that forms the outer peripheral end portion of the concave portion on the peripheral portion on the upper surface thereof, and holds the substrate 2 by contacting the substrate 2. A plurality of substrate peripheral portion holding portions 23 which are examples of the substrate peripheral portion holding portion for performing the above are provided. Each board peripheral part holding part 23 is formed so that the upper surface thereof as a support surface 23 a matches the arrangement of the outer peripheral region R <b> 2 on the component mounting side surface S of the board 2. By disposing the substrate 2 with the component mounting side surface S facing downward, the respective support surfaces 23a can be surely brought into contact with the outer peripheral region R2.

例えば、本実施形態のように、基板2において、外周領域R2が略同じ高さ位置となるように形成されている場合には、夫々の支持面23aも互いに同じ高さ位置に形成される。このように夫々の基板周部保持部23が配置されることで、基板保持ブロック21に基板2を支持させた状態においても、夫々の基板周部保持部23と基板2に実装された夫々
の電子部品1とが互いに当接されないようになっている。なお、基板保持ブロック21は、例えば、100mm×70mm×30mm高さ程度の大きさを有している。
For example, as in the present embodiment, in the substrate 2, when the outer peripheral region R2 is formed so as to have substantially the same height position, the respective support surfaces 23a are also formed at the same height position. By arranging the respective substrate peripheral portion holding portions 23 in this way, even when the substrate holding block 21 supports the substrate 2, the respective substrate peripheral portion holding portions 23 and the respective substrates mounted on the substrate 2 are supported. The electronic component 1 is not brought into contact with each other. The substrate holding block 21 has a size of about 100 mm × 70 mm × 30 mm, for example.

また、基板2が有する夫々の位置決め孔3が配置されている部分には、基板周部保持部23は形成されていない。これは、夫々の位置決め孔3に図示しない位置決めピン等を挿入させることで、基板2と基板保持装置50との位置合わせが行なわれるため、上記位置決めピンと、夫々の基板周部保持部23との干渉を防止するためである。図3(b)と図4(b)に示す基板保持ブロック21においては、この干渉が防止された部分が、図示左下及び右下部分となっている。   In addition, the substrate peripheral portion holding portion 23 is not formed in a portion where each positioning hole 3 of the substrate 2 is disposed. This is because the positioning of the substrate 2 and the substrate holding device 50 is performed by inserting a positioning pin or the like (not shown) into each positioning hole 3, so that the positioning pin and each substrate peripheral portion holding portion 23 are aligned. This is to prevent interference. In the substrate holding block 21 shown in FIGS. 3B and 4B, the portions where this interference is prevented are the lower left and lower right portions in the figure.

なお、本実施形態においては、基板保持ブロック21において、複数の基板周部保持部23が形成されているような場合について説明するが、このような場合にのみ限定されるものではない。このような場合に代えて、例えば、基板保持ブロック21の上面周部に沿って一体的に連続するように形成された1つの基板支持部が備えられているような場合であってよい。基板2の外周領域R2に相当する部分を確実に支持できれば、基板支持部としての機能を有することができるからである。   In the present embodiment, a case where a plurality of substrate peripheral portion holding portions 23 are formed in the substrate holding block 21 will be described. However, the present invention is not limited to such a case. Instead of such a case, for example, it may be a case where one substrate support portion formed so as to be integrally continuous along the upper surface peripheral portion of the substrate holding block 21 may be provided. This is because if the portion corresponding to the outer peripheral region R2 of the substrate 2 can be reliably supported, it can have a function as a substrate support portion.

また、図3(b)に示すように、夫々の支持面23aには、上記当接状態にある基板2の外周領域R2を吸着する吸着孔23bが形成されている。夫々の吸着孔23bにおける支持面23a上の開口部分は、その吸着面積を確保するため、各々の支持面23aの長手方向に沿って延在するように略溝状の開口部を有するように形成されている。なお、図3に示す左端に配置された基板周部保持部23は、図2に示す基板2の右端部分を支持することとなるものの、上記右端部分には外周領域R2がほとんど配置されていないため、上記左端の基板周部保持部23における支持面23aは、他の支持面23aと比べてその幅が細く形成されている。このような場合にあっては、当該支持面23aに吸着孔23bを形成することが困難となる場合もあるが、図3(b)に示すように、当該支持面23aの図示下端近傍における吸着孔23bが形成可能な領域にのみ、吸着孔23bを形成することで対応することができる。   Further, as shown in FIG. 3B, suction holes 23b for sucking the outer peripheral region R2 of the substrate 2 in the abutting state are formed on each support surface 23a. An opening portion on the support surface 23a in each suction hole 23b is formed so as to have a substantially groove-shaped opening so as to extend along the longitudinal direction of each support surface 23a in order to secure the suction area. Has been. Although the substrate peripheral portion holding portion 23 arranged at the left end shown in FIG. 3 supports the right end portion of the substrate 2 shown in FIG. 2, the outer peripheral region R2 is hardly arranged at the right end portion. Therefore, the support surface 23a of the substrate peripheral portion holding portion 23 at the left end is formed narrower than the other support surface 23a. In such a case, it may be difficult to form the suction hole 23b in the support surface 23a. However, as shown in FIG. 3B, the suction in the vicinity of the lower end of the support surface 23a in the figure. This can be dealt with by forming the suction hole 23b only in the region where the hole 23b can be formed.

(ササエ25の説明)
また、基板保持ブロック21においては、その内側に基板保持部251が配置してある。この基板保持部251は、凹部24の内側に固定され、この保持部251には、夫々の基板周部保持部23による支持状態にある基板2を、さらに補助的に支持する基板支持部の一例(あるいは支持補助専用部の一例)である補助支持部25が備えられている。具体的には、基板2の部品実装側表面Sの略中央付近における夫々の電子部品1の非実装領域R4(すなわち、電子部品1が実装されていない領域)と当接することで、この非実装領域R4の支持を行なう補助支持部25が備えられている。図2に示す基板2においては、例えば、部品実装領域R1の略中央付近に実装されたIC部品1Bの周囲近傍に4箇所の非実装領域R4(図2においてハッチングが施された領域)が配置されており、図4に示すように、夫々の非実装領域R4に合致するように、4つの補助支持部25が備えられている。なお、これらの補助支持部25の設置数量は、基板2の部品実装側表面Sにおける夫々の電子部品1の配置等に応じて決定されるものであり、複数の補助支持部25が備えられているような場合に代えて、1個のみの補助支持部25が備えられているような場合であってもよい。なお、複数の補助支持部25を備えさせるような場合にあっては、夫々の補助支持部25を略均等な間隔で配置させることが好ましい。このように配置させることで、部品実装領域R1における補助的な支持状態を略均一な状態とすることができるからである。また、夫々の補助支持部25は、実装されている夫々の電子部品1と当接することがないように形成されている。夫々の補助支持部25の近傍に配置された電子部品1の端部から所定の距離、例えば0.5mm程度離間された位置に、その端部が位置されるように、夫々の補助支持部25の配置が決定されている。このように上記所定の距離だけ離間させているのは、基板保持装置50への基板2の保持の際における位置ズレや夫々の電子部品1の実装位置ズレ等を考慮して、このような位置ズレが生じるような場合であっても、夫々の補助支持部25が電子部品1に当接することがないようにしたものである。
(Explanation of Sasae 25)
In the substrate holding block 21, a substrate holding portion 251 is disposed on the inner side. The substrate holding portion 251 is fixed inside the recess 24, and the holding portion 251 is an example of a substrate supporting portion that supports the substrate 2 in a state of being supported by the respective substrate peripheral portion holding portions 23 in an auxiliary manner. An auxiliary support portion 25 (or an example of a support auxiliary dedicated portion) is provided. Specifically, this non-mounting is performed by contacting the non-mounting region R4 of each electronic component 1 (ie, the region where the electronic component 1 is not mounted) in the vicinity of the approximate center of the component mounting side surface S of the substrate 2. An auxiliary support portion 25 that supports the region R4 is provided. In the board 2 shown in FIG. 2, for example, four non-mounting regions R4 (hatched regions in FIG. 2) are arranged in the vicinity of the periphery of the IC component 1B mounted in the vicinity of the center of the component mounting region R1. As shown in FIG. 4, four auxiliary support portions 25 are provided so as to match each non-mounting region R4. The number of the auxiliary support portions 25 to be installed is determined according to the arrangement of the respective electronic components 1 on the component mounting side surface S of the substrate 2, and a plurality of auxiliary support portions 25 are provided. Instead of such a case, only one auxiliary support portion 25 may be provided. In addition, when providing the some auxiliary | assistant support part 25, it is preferable to arrange | position each auxiliary | assistant support part 25 at a substantially equal space | interval. This is because the auxiliary support state in the component mounting region R1 can be made substantially uniform by arranging in this way. In addition, each auxiliary support portion 25 is formed so as not to come into contact with each mounted electronic component 1. Each auxiliary support portion 25 is positioned so that the end portion is positioned at a predetermined distance, for example, about 0.5 mm, from the end portion of the electronic component 1 disposed in the vicinity of each auxiliary support portion 25. The arrangement of has been determined. In this way, the predetermined distances are separated from each other in consideration of misalignment when the substrate 2 is held on the substrate holding device 50, misalignment of the mounting positions of the respective electronic components 1, and the like. Each auxiliary support portion 25 is prevented from coming into contact with the electronic component 1 even when a deviation occurs.

基板の外形は変更ないが、部品配置などが変わることがよくある。この場合には、基板保持ブロック21は変更なく、基板保持部251のみを変更して対応できる。また、基板保持部251の自由な位置に、補助支持部25を設置できるものにすれば、基板の種類が変更になっても対応できる。   Although the external shape of the board is not changed, the arrangement of components is often changed. In this case, the substrate holding block 21 can be changed without changing the substrate holding unit 251 alone. Further, if the auxiliary support portion 25 can be installed at a free position of the substrate holding portion 251, it is possible to cope with a change in the type of the substrate.

また、基板保持ブロック251を網目状のものにして、基板保持部25の内部に設け、補助支持部25や後で示す支えパッド部26を差し込むことで、基板の部品配置に即座に対応できるようにすれば、さらによい。各ブロックの加工の手間がいらず、設計、加工ミスで生産がおくれることがなくなる。現場で、補助支持部25、26の位置が調整できる。   Further, the substrate holding block 251 is formed in a mesh shape and is provided inside the substrate holding portion 25, and the auxiliary support portion 25 and the support pad portion 26 described later can be inserted, so that it is possible to immediately respond to the component arrangement of the substrate. If it is, it is even better. There is no need to process each block, and production is not delayed due to design and processing errors. At the site, the positions of the auxiliary support portions 25 and 26 can be adjusted.

(パッド26)
さらに、基板保持ブロック251においては、上記支持状態にある基板2を、さらに補助的に支持する部品支持部の一例(あるいは吸着補助専用部の一例)である支えパッド部26が備えられている。この支えパッド部26は、先端がゴムなどからなり、吸着状態で基板の部品の支える。具体的には、図2の基板2において、夫々の非実装領域R4に囲まれるように配置されているIC部品1B、及び、その周囲に配置された複数のIC部品1Bの表面を個別に支えることで、これらのIC部品1Bを介して基板2支えを行ない、夫々の基板周部保持部23の吸着孔23bによる吸着保持を補う3個の支えパッド部26が備えられている。なお、これらの支えパッド部26の設置数量は、基板2の部品実装側表面Sにおける夫々の電子部品1の配置や実装個数等に応じて決定されるものであり、複数の支えパッド部26が備えられているような場合に代えて、1個のみの支えパッド部26が備えられているような場合であってもよい。なお、複数の支えパッド部26が備えられるような場合にあっては、夫々の支えパッド部26を略均等な間隔でもって配置させることが好ましい。すなわち、略均等な間隔でもって配置させることができるように、吸着対象の電子部品1を選択することが好ましい。このようにすることで、部品実装領域R1において、補助的な吸着により生じる力を略均一に分散させることができ、吸着保持状態を良好なものとすることが可能となる。
(Pad 26)
Further, the substrate holding block 251 is provided with a support pad portion 26 that is an example of a component support portion that supports the substrate 2 in the above-described supporting state in an auxiliary manner (or an example of a suction assisting dedicated portion). The support pad portion 26 is made of rubber or the like, and supports the components of the board in an adsorbed state. Specifically, in the substrate 2 of FIG. 2, the surfaces of the IC components 1B arranged so as to be surrounded by the respective non-mounting regions R4 and the plurality of IC components 1B arranged around the IC components 1B are individually supported. Thus, the three support pad portions 26 that support the substrate 2 through these IC components 1B and supplement the suction holding by the suction holes 23b of the respective substrate peripheral portion holding portions 23 are provided. The number of the support pad portions 26 to be installed is determined in accordance with the arrangement, the number of mounted electronic components 1 on the component mounting side surface S of the substrate 2, and the like. Instead of such a case, it may be a case where only one support pad portion 26 is provided. In the case where a plurality of support pad portions 26 are provided, it is preferable that the support pad portions 26 are arranged at substantially equal intervals. That is, it is preferable to select the electronic component 1 to be picked up so that the electronic components 1 can be arranged at substantially equal intervals. By doing in this way, in component mounting area | region R1, the force which arises by auxiliary adsorption | suction can be disperse | distributed substantially uniformly, and it becomes possible to make an adsorption holding state favorable.

ここで、基板保持ブロック21における夫々の補助支持部25と支えパッド部26の配置について説明する。図3(a)に示すように、夫々の支えパッド部26は、その吸着力をより均一化した状態で基板2に伝えるために、略均等に分散されて配置されることが望ましい。例えば、3個以上の支えパッド部26を配置させるような場合にあっては、夫々の支えパッド部26を略直線上に配置させるのではなく、上記3個の支えパッド部26の夫々の中心を結ぶことで仮想的な三角形状の平面が形成されるように配置させることが好ましい。このような配置とすることで、上記吸着力をより均一なものとすることができる。また、夫々の補助支持部25の支持面の形状は、非実装領域R4の形状によって決定されるが、より安定した支持のためには、上記支持面が一方の方向にのみ延在するような形状ではなく、互いに略直交する方向夫々に延在するような形状を有していることが好ましい。具体的には、図3に示すような略L字状の形状が該当する。さらに、このような形状の支持面を有する少なくとも2個以上の補助支持部25を、支えパッド部26を介して互いに略対向する位置に配置させることがより望ましい。このような配置を採用することでより安定した支持を実現することができるからである。   Here, the arrangement of the auxiliary support portions 25 and the support pad portions 26 in the substrate holding block 21 will be described. As shown in FIG. 3 (a), it is desirable that the respective support pad portions 26 are arranged in a substantially uniform manner in order to transmit the support pads 26 to the substrate 2 in a state where the suction force is made more uniform. For example, in the case where three or more support pad portions 26 are arranged, the respective support pad portions 26 are not arranged on a substantially straight line, but the centers of the three support pad portions 26 are arranged. It is preferable to arrange them so that a virtual triangular plane is formed by tying. With such an arrangement, the adsorption force can be made more uniform. In addition, the shape of the support surface of each auxiliary support portion 25 is determined by the shape of the non-mounting region R4, but for more stable support, the support surface extends only in one direction. It is preferable not to have a shape but to have a shape that extends in directions substantially orthogonal to each other. Specifically, a substantially L-shaped shape as shown in FIG. Furthermore, it is more desirable that at least two or more auxiliary support portions 25 having a support surface having such a shape are arranged at positions substantially opposite to each other via the support pad portion 26. This is because more stable support can be realized by adopting such an arrangement.

(支えパッド26の説明)
また、図4に示すように、夫々の吸着パッド部26は、IC部品1と当接されるその上部先端に、緩衝部の一例であるゴム材料、例えば、シリコンゴムにより形成された先端26cを備えている。このように、夫々の支えパッド部26において、IC部品1の表面と当接される部分に柔軟かつ弾性変形可能に形成された先端26cが備えられていることにより、IC部品1の表面と確実に当接させて、確実に支えを行なうことができる。例えば、基板2への実装の際の位置ズレ等により、IC部品1の被表面が基板2の表面よりも僅かに傾斜された状態で実装されることもあり得る。また、上記被吸着表面の実装高さ位置に位置ズレが生じるような場合もあり得る。このような場合であって、先端26cが備えられていることで、先端26cの弾性変形により上記位置ズレを吸収することができ、確実な吸着保持を行なうことができる。また、精密な構造を有するIC部品1を上記吸着保持により傷付けてしまうことを防止するという役目も果たしている。なお、夫々の吸着パッド部の吸着先端26cの大きさは、例えば、その直径が6mm以上とすることが好ましい。このような大きさとすることで、十分な吸着力を確保することが可能となるからである。
(Description of support pad 26)
As shown in FIG. 4, each suction pad portion 26 is provided with a tip 26 c formed of a rubber material, for example, silicon rubber, which is an example of a buffer portion, at an upper tip of the suction pad portion 26 that is in contact with the IC component 1. I have. As described above, each of the support pad portions 26 is provided with the tip 26c formed so as to be flexible and elastically deformable at a portion in contact with the surface of the IC component 1, so that the surface of the IC component 1 can be securely connected. It can be made to abut against and reliably support. For example, the surface of the IC component 1 may be mounted in a state where the surface of the IC component 1 is slightly inclined with respect to the surface of the substrate 2 due to misalignment during mounting on the substrate 2 or the like. Further, there may be a case where a positional deviation occurs in the mounting height position of the attracted surface. In such a case, since the tip 26c is provided, the positional deviation can be absorbed by elastic deformation of the tip 26c, and reliable suction holding can be performed. Also, it plays a role of preventing the IC component 1 having a precise structure from being damaged by the above-mentioned suction holding. In addition, as for the magnitude | size of the suction tip 26c of each suction pad part, it is preferable that the diameter shall be 6 mm or more, for example. It is because it becomes possible to ensure sufficient adsorption power by setting it as such a magnitude | size.

(図5の説明)
また、基板2に実装された夫々のIC部品1Bの上記被吸着表面の実装高さ位置は、個々のIC部品1毎に異なる。そのため、図5に示すように、夫々の支えパッド部26において、吸着先端26cの設置高さ位置(吸着先端高さ位置)が、夫々のIC部品1Bの上記実装高さ位置に合致するように、個別に厚み調整されて設置されている。このように吸着保持対象となるIC部品1Bに応じて、夫々の吸着先端26cの設置高さ位置が調整されていることにより、確実な当接させて、確実な吸着保持を実現することができる。ただし、夫々のIC部品1Bにおける上記被吸着表面の高さ位置の相違が僅かであるような場合、すなわち、上記高さ位置の相違が、吸着先端26cの弾性変形の範囲内であるような場合にあっては、上述のように夫々の設置高さ位置を異ならせることなく、同じ高さ位置に設置することで、確実な吸着保持を実現することができる。
(Description of FIG. 5)
Further, the mounting height position of the surface to be attracted of each IC component 1 </ b> B mounted on the substrate 2 is different for each IC component 1. Therefore, as shown in FIG. 5, in each support pad portion 26, the installation height position (suction tip height position) of the suction tip 26c matches the mounting height position of each IC component 1B. The thickness is adjusted individually. As described above, the installation height position of each suction tip 26c is adjusted according to the IC component 1B to be suction-held, so that reliable suction-holding can be realized by making contact with each other. . However, when the difference in height position of the surface to be attracted in each IC component 1B is slight, that is, when the difference in height position is within the range of elastic deformation of the suction tip 26c. In this case, as described above, it is possible to realize the reliable suction holding by installing at the same height position without changing the respective installation height positions.

(25支持グ)
また、夫々の支えパッド部26により、夫々のIC部品1が支持保持されることにより、基板2における部品実装領域R1に相当する部分が夫々の支えパッド部26に引き寄せられることとなるが、パッド部23の近傍において、夫々の補助支持部25により基板2が支持されていることで、夫々の支えパッド部26の近傍部分における基板2の保持高さ位置を規制することができる。
(25 support groups)
In addition, by supporting and holding each IC component 1 by each support pad portion 26, a portion corresponding to the component mounting region R1 in the substrate 2 is drawn to each support pad portion 26. Since the substrate 2 is supported by the respective auxiliary support portions 25 in the vicinity of the portion 23, the holding height position of the substrate 2 in the vicinity of each support pad portion 26 can be regulated.

(周辺ノゴム27)
また、図5に示すように、夫々の基板周部保持部23の支持面23aには、第1の緩衝部の一例であるゴム材料で形成された緩衝層27が設けられている。例えば、これらの緩衝層27は、シリコンゴムを用いて、厚さ0.5mm程度にて形成することができる。このように夫々の支持面23aに緩衝層27が設けられていることにより、夫々の支持面23aと基板2の外周領域R2とが当接された際に、緩衝層27を弾性変形させることで、両者の密着性を高めることができ、より確実な当接及び吸着保持を実現することができる。
(Neighborhood rubber 27)
Further, as shown in FIG. 5, a buffer layer 27 formed of a rubber material, which is an example of a first buffer portion, is provided on the support surface 23 a of each substrate peripheral portion holding portion 23. For example, these buffer layers 27 can be formed with a thickness of about 0.5 mm using silicon rubber. Thus, by providing the buffer layer 27 on each support surface 23a, when each support surface 23a and the outer peripheral area | region R2 of the board | substrate 2 contact | abut, the buffer layer 27 is elastically deformed. The adhesion between the two can be improved, and more reliable contact and suction holding can be realized.

(緩衝層27)
また、このような緩衝層27を形成する上記第1の緩衝部は、夫々の支えパッド部26の支え先端26cを形成する上記緩衝部(第2の緩衝部である)よりも、その硬度が高くなっている。これは、両者の主とする機能目的の相違によるものであり、支えパッド先端26cはより柔軟に変形してIC部品1Bの表面に確実に密着することが求められるのに対して、緩衝層27は変形により基板2に確実に密着することだけでなく、当該密着された基板2を支持することもが求められるからである。また、夫々の補助支持部25の支持面25aにも、緩衝層27が設けられている。
(Buffer layer 27)
In addition, the first buffer portion that forms the buffer layer 27 has a hardness higher than that of the buffer portion (the second buffer portion) that forms the support tip 26c of each support pad portion 26. It is high. This is due to the difference in the main functional purpose between the two, and the support pad tip 26c is required to be deformed more flexibly and securely contact the surface of the IC component 1B, whereas the buffer layer 27 is required. This is because it is required not only to securely adhere to the substrate 2 by deformation but also to support the adhered substrate 2. A buffer layer 27 is also provided on the support surface 25 a of each auxiliary support portion 25.

(9と23の説明)
また、図2に示すように、基板2においては、部品実装領域R1と外周領域R2との間に、破断による両者の分離性を容易なものとすることを目的として、夫々の長孔部9が形成されている。この構造的な特徴により、基板2は、夫々の長孔部9を境として撓み易いという特性を有することとなる。そこで、このような特性に対処して、基板2の撓みをできる限り少なくした状態での支持を実現するため、部品支持部23には、基板2の外周領域R2沿いの方向と略直交する方向沿い、すなわち、外周領域R2から部品実装領域R1に向けての方向沿いに部分的に突出された突出支持面23cが形成されている。
(Explanation of 9 and 23)
In addition, as shown in FIG. 2, in the board 2, each elongated hole portion 9 is provided between the component mounting region R <b> 1 and the outer peripheral region R <b> 2 for the purpose of facilitating separation between the two due to fracture. Is formed. Due to this structural feature, the substrate 2 has a characteristic of being easily bent at the respective long hole portions 9. Therefore, in order to cope with such characteristics and realize support in a state where the bending of the substrate 2 is reduced as much as possible, the component support portion 23 has a direction substantially orthogonal to the direction along the outer peripheral region R2 of the substrate 2. A projecting support surface 23c is formed so as to partially project along the outer periphery region R2 toward the component mounting region R1.

具体的には、図3において説明すると、例えば、図示上方中央部に配置された部品支持部23の支持面23aには、図示下方に向けて突出された突出支持面23cが形成されている。この突出支持面23cは、基板2における外周領域R2から長孔部9を渡って、この長孔部9の近傍における部品実装領域R1の一部領域と当接されることで、部品実装領域R1の支持を行なっている。なお、部品実装領域R1における上記一部領域には、電子部品1が実装されておらず、非実装領域となっている。図4の基板保持ブロック21においては、同様に、図示右方に配置された部品支持部23の支持面23aには、図示左方に向けて突出された突出支持面23cが形成されており、また、図示下方に配置された部品支持部23の支持面23aには、図示上方に向けて突出された突出支持面23cが形成されている。このように、夫々の部品支持部23の支持面23aにおいて、突出支持面23cが形成されていることで、基板2に夫々の長孔部9が形成されているような場合であっても、部品実装領域R1に相当する部分の撓みを抑制しながら、基板2の確実な支持を実現することができる。   Specifically, referring to FIG. 3, for example, the support surface 23 a of the component support portion 23 disposed in the upper center portion in the drawing is formed with a protruding support surface 23 c that protrudes downward in the drawing. The protruding support surface 23c crosses the long hole portion 9 from the outer peripheral region R2 of the substrate 2 and comes into contact with a partial region of the component mounting region R1 in the vicinity of the long hole portion 9, so that the component mounting region R1. We are supporting. Note that the electronic component 1 is not mounted in the partial region in the component mounting region R1, and is a non-mounting region. In the substrate holding block 21 of FIG. 4, similarly, the support surface 23 a of the component support portion 23 arranged on the right side of the figure is formed with a projecting support surface 23 c that projects toward the left side of the figure. A protruding support surface 23c is formed on the support surface 23a of the component support portion 23 arranged in the lower part of the figure so as to protrude upward in the figure. Thus, even if each elongated hole 9 is formed in the substrate 2 by forming the protruding support surface 23c on the support surface 23a of each component support portion 23, Reliable support of the substrate 2 can be realized while suppressing the bending of the portion corresponding to the component mounting region R1.

また、基板周部保持部23の支持面23aに形成されている略溝状の開口を有する夫々の吸着孔23bは、例えば、その開口幅が1mm程度となるように形成され、さらに上記開口の周部には少なくとも1mm程度の幅の緩衝層27が形成されることが好ましい。このように上記開口部を形成することで、支持面23aの幅を必要最小限程度の幅とすることができるとともに、上記開口部の周囲に確実に緩衝層27が配置されることで、夫々の吸着孔23bによる吸着力を確実に基板2に伝達することが可能となる。なお、夫々の吸着孔23bの開口の幅は、吸引圧力に基づいて必要な吸着力を得られるような開口面積が確保可能なように決定することができる。また、上記吸引圧力は、例えば、−30kPa以上の真空圧力、より好ましくは−40kPa以上の真空圧力が採用される。   Further, each suction hole 23b having a substantially groove-like opening formed in the support surface 23a of the substrate peripheral part holding part 23 is formed so that the opening width is about 1 mm, for example. A buffer layer 27 having a width of at least about 1 mm is preferably formed on the periphery. By forming the opening in this manner, the width of the support surface 23a can be reduced to a necessary minimum width, and the buffer layer 27 is reliably disposed around the opening, respectively. It is possible to reliably transmit the suction force by the suction holes 23b to the substrate 2. The opening width of each suction hole 23b can be determined so as to ensure an opening area that can obtain a required suction force based on the suction pressure. The suction pressure is, for example, a vacuum pressure of −30 kPa or more, more preferably a vacuum pressure of −40 kPa or more.

次に、別の変形形態を説明する。図4に示すように、基板保持装置50は、基板2を支持するとともに、支持された基板2を吸引することで、上記支持位置の吸着保持を行なう基板保持ブロック21と、この基板保持ブロック21による上記吸引を行なう真空吸引装置22(吸引装置の一例である)とを備えている。基板保持ブロック21は、部品実装側表面Sを図示下向き、作業側表面Tを図示上向きとして配置された基板2の部品実装側表面Sと、その上面とが部分的に当接されることで、この基板2の保持を行なっている。   Next, another modification will be described. As shown in FIG. 4, the substrate holding device 50 supports the substrate 2 and sucks the supported substrate 2 to suck and hold the support position, and the substrate holding block 21. And a vacuum suction device 22 (which is an example of a suction device) that performs the above suction. The substrate holding block 21 is configured such that the component mounting side surface S of the substrate 2 arranged with the component mounting side surface S facing downward in the drawing and the work side surface T facing upward in the drawing, and the upper surface thereof partially abut, The substrate 2 is held.

ここで、この基板保持ブロック21の平面図を図4(a)に示し、図4(b)におけるA−A線断面図を図5に示す。なお、図4(b)においては、基板2を透過させた状態の図となっており、図5においては、基板保持ブロック21による基板2の支持状態を示すため、基板2を透過させることなく図示している。図3との例との違いは、支持パッド部26に穴26aと真空経路26bが備えられていることである。   Here, the top view of this board | substrate holding block 21 is shown to Fig.4 (a), and the sectional view on the AA line in FIG.4 (b) is shown in FIG. 4B shows a state in which the substrate 2 is transmitted, and FIG. 5 shows a state in which the substrate 2 is supported by the substrate holding block 21, so that the substrate 2 is not transmitted. It is shown. The difference from the example of FIG. 3 is that the support pad portion 26 is provided with a hole 26a and a vacuum path 26b.

図5に示すように、基板保持ブロック21には、別部として形成された底部ブロック30を備えており、この底部ブロック30が上部ブロックと連結されることで、基板保持ブロック21が構成されている。このような場合に代えて、底部ブロック30を一体的な1つの部として形成するような場合であってもよいが、このような2つの部として構成することで、以下に説明する吸着通路の形成を容易なものとすることが可能となる。   As shown in FIG. 5, the substrate holding block 21 includes a bottom block 30 formed as a separate part, and the substrate holding block 21 is configured by connecting the bottom block 30 to the upper block. Yes. Instead of such a case, the bottom block 30 may be formed as one integral part, but by configuring as such two parts, the adsorption passage described below The formation can be facilitated.

基板保持ブロック21には、底部ブロック30が存在し、基板2、部品1を支える吸引道が形成されている。この底部ブロック30の吸引経路を図6に示す。   A bottom block 30 exists in the substrate holding block 21, and a suction path that supports the substrate 2 and the component 1 is formed. The suction path of the bottom block 30 is shown in FIG.

図6に示すように、底部ブロック30においては、支持部用接続孔部31から夫々の吸着孔23bに連通されるように、支持部用吸着連通孔33が形成されており、パッド用接続孔部32から夫々の吸着孔23bに連通されるように、パッド用吸着連通孔34が形成されている。なお、図6においては、支持部用吸着連通孔33及びパッド用吸着連通孔34における横孔部分のみを示しており、夫々の横孔部分より、夫々の吸着孔23b及び26bの配置に応じて縦孔35、36が連通して形成されることで、夫々の接続孔部31又は32から、夫々の吸着孔23b又は26bまでが連通されて、真空圧力を伝達することで、真空吸着を行なうことが可能となっている。   As shown in FIG. 6, in the bottom block 30, support portion suction communication holes 33 are formed so as to communicate from the support portion connection hole portions 31 to the respective suction holes 23 b, and pad connection holes are formed. Pad adsorbing communication holes 34 are formed so as to communicate from the portion 32 to the respective adsorbing holes 23b. In FIG. 6, only the horizontal hole portions in the support-portion suction communication holes 33 and the pad suction communication holes 34 are shown. Depending on the arrangement of the suction holes 23 b and 26 b from the respective horizontal hole portions. By forming the vertical holes 35 and 36 in communication with each other, the respective connection holes 31 or 32 are connected to the respective suction holes 23b or 26b to transmit vacuum pressure, thereby performing vacuum suction. It is possible.

次に、上述のような構成を有するスクリーン印刷装置101において、基板2に対するクリーム半田の印刷供給を行なう手順について説明する。なお、以下に示す印刷供給動作の制御は、スクリーン印刷装置101が備える制御装置(図示しない)により互いの動作が関連付けられながら統括的に行なわれる。   Next, a procedure for printing and supplying cream solder to the substrate 2 in the screen printing apparatus 101 having the above-described configuration will be described. Note that the control of the printing supply operation described below is performed in an integrated manner while the operations are associated with each other by a control device (not shown) included in the screen printing apparatus 101.

まず、図1のスクリーン印刷装置101において、部品実装側表面Sに夫々の電子部品1が実装された基板2が、その裏面である作業側表面Tを上面として供給され、基板保持装置50の上面に配置される。なお、この配置状態においては、基板保持装置50による基板2の吸着は行なわれていない状態にある。   First, in the screen printing apparatus 101 of FIG. 1, the substrate 2 on which each electronic component 1 is mounted on the component mounting side surface S is supplied with the work side surface T, which is the back side, as the upper surface, and the upper surface of the substrate holding device 50. Placed in. In this arrangement state, the substrate 2 is not attracted by the substrate holding device 50.

その後、基板保持装置50が有する位置決めピン(図示しない)が上昇されて、基板保持ブロック21の上面に配置された基板2の夫々の位置決め孔3に挿入される。この上記位置決めピンの挿入により、上記配置状態にある基板2と、基板保持ブロック21との位置合わせが行なわれる。   Thereafter, positioning pins (not shown) of the substrate holding device 50 are raised and inserted into the respective positioning holes 3 of the substrate 2 arranged on the upper surface of the substrate holding block 21. By the insertion of the positioning pins, the substrate 2 in the arrangement state and the substrate holding block 21 are aligned.

スクリーン52の下方に基板保持ブロック21が配置されるとともに、この基板保持ブロック21に配置された状態の基板2の配置位置の認識が行なわれ、この認識結果に基づいて、スクリーン52と基板2との位置合わせが行なわれる。さらにその後、その上方に位置されて、上記位置合わせが行なわれた状態のスクリーン52に対して、近接するように基板保持ブロック21の上昇(あるいは、基板保持ブロック21を支持するステージ全体の上昇)が行なわれる。これにより、スクリーン52が、基板2の作業側表面T全体を押圧するように、当該作業側表面T上に配置される。このスクリーン52の配置により、例えば、凸状に緩やかに基板2が撓んでいるような場合にあっては、この撓みを補正することができる。あるいは、このようにスクリーン52を用いて、基板2の反りや撓みを矯正するような場合に代えて、棒状や板状の矯正部を基板2の上面に配置することで、上記反りや撓みの矯正を行なうような場合であってもよい。このように矯正を行なった後、以下の基板2の吸着保持を行なうことで、基板2の平面度を保つことができる。   The substrate holding block 21 is arranged below the screen 52, and the arrangement position of the substrate 2 arranged in the substrate holding block 21 is recognized. Based on the recognition result, the screen 52, the substrate 2, Are aligned. Thereafter, the substrate holding block 21 is raised so as to be close to the screen 52 positioned above and aligned (or the whole stage supporting the substrate holding block 21 is raised). Is done. Thereby, the screen 52 is arrange | positioned on the said work side surface T so that the whole work side surface T of the board | substrate 2 may be pressed. With the arrangement of the screen 52, for example, when the substrate 2 is gently bent in a convex shape, this bending can be corrected. Alternatively, instead of the case where the screen 52 is used to correct the warpage or deflection of the substrate 2, by arranging a rod-like or plate-like correction portion on the upper surface of the substrate 2, It may be a case where correction is performed. After the correction is performed as described above, the flatness of the substrate 2 can be maintained by holding the substrate 2 by suction.

さらに、このスクリーン52の配置とともに、基板保持装置50においては、配置された基板2の吸着保持が行なわれる。具体的には、図2に示す基板2の部品実装側表面Sにおける外周領域R2が、図4に示す基板保持ブロック21の夫々の部品支持部23の支持面23aと当接されるように配置された状態とされる。このとき、夫々の支持面23aが備える突出支持面23cが、基板2の長孔部9を渡して、その近傍における部品実装領域R1とも当接された状態とされる。   Further, along with the arrangement of the screen 52, the substrate holding device 50 performs suction holding of the arranged substrate 2. Specifically, the outer peripheral region R2 on the component mounting side surface S of the substrate 2 shown in FIG. 2 is arranged so as to come into contact with the support surfaces 23a of the respective component support portions 23 of the substrate holding block 21 shown in FIG. It is assumed that it was done. At this time, the projecting support surfaces 23c included in the respective support surfaces 23a are brought into contact with the component mounting region R1 in the vicinity thereof across the long hole portion 9 of the substrate 2.

また、基板2における部品実装領域R1の略中央付近に配置されている夫々の非実装領域R4は、基板保持ブロック21の凹部24の略中央付近に固定されている夫々の補助支持部25の支持面と当接されて、夫々の補助支持部25により支持された状態とされる。また、部品実装領域R1に実装されている3個のIC部品1Bの被吸着表面が、部品保持ブロック21の凹部24の内側に備えられている3個の支えパッド部26の吸着先端26cと当接された状態とされる。なお、このような夫々の当接状態においては、夫々の緩衝層27や吸着先端26cが、当接により生じる力によって弾性変形され、確実な当接状態が担保されている。   Further, each non-mounting region R4 disposed near the center of the component mounting region R1 on the substrate 2 is supported by each auxiliary support portion 25 fixed near the center of the recess 24 of the substrate holding block 21. It is brought into contact with the surface and is supported by the respective auxiliary support portions 25. Further, the suction target surfaces of the three IC components 1B mounted in the component mounting region R1 are in contact with the suction tips 26c of the three support pad portions 26 provided inside the recess 24 of the component holding block 21. It will be in contact. In each of these contact states, each buffer layer 27 and suction tip 26c are elastically deformed by the force generated by the contact, and a reliable contact state is ensured.

このような当接状態において、基板保持装置50の真空吸引装置22により、夫々の接続孔部31、32、吸着連通孔33、34を介して、夫々の吸着孔23b、26a空圧力が伝達されて、夫々の吸着孔23b及び26aによる基板2の吸着が行なわれる。これにより、基板2の外周領域R2が、夫々の基板周部保持部23の支持面23aに吸着保持されて、上記3個のIC部品1Bの表面が、夫々の支えパッド部26により吸着保持される。また、夫々の支えパッド部26による夫々のIC部品1Bの吸着保持により、当該
IC部品1Bの近傍における基板2が、下方に向けた外力を受けることとなるが、部品実装領域R1の略中央付近が、夫々の補助支持部25により支持されているため、上記外力を受けても基板2の支持高さ位置が規制されているため、基板2が下方に向けて撓んだりすることが防止されている。
In such a contact state, the air suction pressures 23b and 26a are transmitted by the vacuum suction device 22 of the substrate holding device 50 through the connection hole portions 31 and 32 and the suction communication holes 33 and 34, respectively. Thus, the substrate 2 is sucked by the respective suction holes 23b and 26a. As a result, the outer peripheral region R2 of the substrate 2 is sucked and held on the support surface 23a of each substrate peripheral portion holding portion 23, and the surfaces of the three IC components 1B are sucked and held by the respective support pad portions 26. The Further, the suction and holding of each IC component 1B by each support pad portion 26 causes the board 2 in the vicinity of the IC component 1B to receive an external force directed downward, but in the vicinity of the approximate center of the component mounting region R1. However, since the support height position of the substrate 2 is regulated even when the external force is applied, the substrate 2 is prevented from being bent downwards because it is supported by the respective auxiliary support portions 25. ing.

このように基板2が確実に吸着保持された状態において、印刷ヘッド51が備えるスキージ(図示しない)をスクリーン52上に配置させるとともに、ヘッド移動装置53により上記スキージをスクリーン52の表面に沿って水平移動させることで、スクリーン52を通してのクリーム半田の印刷供給を行なう。なお、図4に示す基板保持ブロック21においては、図示上下方向が、クリーム半田の印刷供給のための上記スキージの移動方向となっている。   In this state where the substrate 2 is securely sucked and held, the squeegee (not shown) provided in the print head 51 is placed on the screen 52 and the squeegee is horizontally moved along the surface of the screen 52 by the head moving device 53. By moving, the cream solder printing through the screen 52 is performed. In the substrate holding block 21 shown in FIG. 4, the vertical direction in the drawing is the moving direction of the squeegee for supplying cream solder.

上記スキージの移動が行なわれると、スクリーン52が上昇されて基板2の作業側表面から離脱される。この離脱により、基板2の作業側表面Tにおいて、クリーム半田の印刷パターンが形成されることとなる。さらにその後、基板保持装置50による基板2の吸着保持が解除される。その後、基板保持装置50からの基板2の排出が行なわれる。   When the squeegee is moved, the screen 52 is raised and detached from the work side surface of the substrate 2. By this separation, a cream solder printing pattern is formed on the work side surface T of the substrate 2. Thereafter, the suction holding of the substrate 2 by the substrate holding device 50 is released. Thereafter, the substrate 2 is discharged from the substrate holding device 50.

本実施形態においては、基板保持ブロック21において、夫々の基板周部保持部23に加えて、夫々の補助支持部25及び支えパッド部26が共に備えられているような場合について説明したが、本実施形態はこのような場合にのみ限られるものではない。このような場合に代えて、例えば、夫々の基板周部保持部23に加えて、補助支持部25又は支えパッド部26のいずれか一方のみが備えられているような場合であってもよい。   In the present embodiment, the case where the substrate holding block 21 is provided with both the auxiliary support portion 25 and the support pad portion 26 in addition to the respective substrate peripheral portion holding portions 23 has been described. The embodiment is not limited to such a case. Instead of such a case, for example, only one of the auxiliary support portion 25 and the support pad portion 26 may be provided in addition to the respective substrate peripheral portion holding portions 23.

例えば、基板2の部品実装側表面Sにおいて、IC部品1Bが実装されていないような場合にあっては、当該IC部品1Bの吸着保持を行なう支えパッド部26を備えず、補助支持部25のみを装備させることが好ましいからである。ただし、このような場合にあっては、補助支持部25に吸着孔を形成して、吸着機能を備えさせることが望ましい。夫々の基板周部保持部23に加えて、補助支持部25のみを備えさせるような場合であっても、基板2の支持を補うだけでなく、吸着をも補うことができるからである。   For example, in the case where the IC component 1B is not mounted on the component mounting side surface S of the substrate 2, the support pad portion 26 for sucking and holding the IC component 1B is not provided, and only the auxiliary support portion 25 is provided. It is because it is preferable to equip. However, in such a case, it is desirable to form a suction hole in the auxiliary support portion 25 to provide a suction function. This is because even if only the auxiliary support portion 25 is provided in addition to the respective substrate peripheral portion holding portions 23, not only the support of the substrate 2 but also the adsorption can be supplemented.

また、上述においては、基板2において、夫々の基板周部保持部23により支持される外周領域R2が十分に形成されているような場合について説明したが、基板2の構造は、多種多様なものが考えられ、外周領域R2の面積が十分に確保されていないような場合もある。このような場合にあっては、夫々の基板周部保持部23により、基板2を確実に支持できないような場合も考えられる。   In the above description, the substrate 2 has been described in which the outer peripheral region R2 supported by each substrate peripheral portion holding portion 23 is sufficiently formed. However, the substrate 2 has various structures. In some cases, the area of the outer peripheral region R2 is not sufficiently secured. In such a case, there may be a case where the substrate 2 cannot be reliably supported by the respective substrate peripheral portion holding portions 23.

そこで、このように外周領域R2の面積が十分に確保されていないような場合には、例えば、図4に示すように、図示上方に配置された基板周部保持部23に隣接してその支持面が一段下げられて形成された段部支持部41を形成し、この段部支持部41の支持面にて基板2の部品実装領域R1の一部を支持することで、基板2の支持を補うことができる。具体的には、この段部支持部41と当接される部品実装領域R1に実装されている電子部品1の厚さ等を考慮した分だけ、基板周部保持部23の支持面23aよりも一段下げてその支持面を形成し、さらに、この支持面にゴム材料等の緩衝部を備えさせることで、電子部品1を傷付けることなく、部品実装領域R1の支持を行なうことができる。   Therefore, when the area of the outer peripheral region R2 is not sufficiently ensured as described above, for example, as shown in FIG. 4, the support is provided adjacent to the substrate peripheral portion holding portion 23 arranged in the upper part of the drawing. A stepped portion support portion 41 formed by lowering the surface is formed, and a part of the component mounting region R1 of the substrate 2 is supported by the support surface of the stepped portion support portion 41, thereby supporting the substrate 2. Can be supplemented. Specifically, the thickness of the electronic component 1 mounted in the component mounting region R1 that is in contact with the stepped portion support portion 41 is more than the support surface 23a of the board peripheral portion holding portion 23 by the amount taken into consideration. The support surface is formed by lowering one step, and further, the component mounting region R1 can be supported without damaging the electronic component 1 by providing a buffer portion such as a rubber material on the support surface.

また、同様に、基板2の部品実装側表面Sにおいて、夫々の非実装領域R4の面積を十分に確保することができないような場合にあっては、夫々の補助支持部25により部品実装領域R1に実装されている電子部品1を支持(電子部品1を介して基板2を支持)するような場合であってもよい。ただし、複数の補助支持部25が備えられているような場合にあっては、その全てで補助支持部25が電子部品1を支持するのではなく、その一部の
補助支持部25が電子部品1を支持し、その他は非実装領域R4をできるだけ支持するようにすることが好ましい。上記支持により電子部品1を損傷させてしまう可能性を低減させるためである。また、このような電子部品1の支持を行なうような場合には、より外力付加に対して耐性を有する電子部品1を選択して、支持することが望ましい。
Similarly, in the case where the area of each non-mounting region R4 cannot be sufficiently secured on the component mounting side surface S of the substrate 2, the component mounting region R1 is formed by the respective auxiliary support portions 25. The electronic component 1 mounted on the substrate may be supported (the substrate 2 is supported via the electronic component 1). However, in the case where a plurality of auxiliary support portions 25 are provided, the auxiliary support portions 25 do not support the electronic component 1 in all of them, but some of the auxiliary support portions 25 are electronic components. It is preferable to support 1 and to support the non-mounting region R4 as much as possible. This is to reduce the possibility of damaging the electronic component 1 due to the support. Moreover, when supporting such an electronic component 1, it is desirable to select and support the electronic component 1 that is more resistant to external force application.

また、本実施形態においては、このような基板保持装置50を、基板2の作業側表面Tにクリーム半田の印刷供給を行なうスクリーン印刷装置101に備えさせるような場合について説明したが、基板保持装置50の用途はこのような場合にのみ限られるものではない。このような場合に代えて、例えば、基板2の作業側表面Tにクリーム半田の印刷供給が行なわれた後、当該クリーム半田を介して、電子部品1を実装(あるいは装着)するような電子部品実装装置に備えられるような場合であってもよい。このような電子部品実装装置においても、基板2の確実な保持が求められるからである。   Further, in the present embodiment, a case has been described in which such a substrate holding device 50 is provided in the screen printing device 101 that performs printing supply of cream solder on the working side surface T of the substrate 2. The use of 50 is not limited to such a case. Instead of such a case, for example, an electronic component that mounts (or mounts) the electronic component 1 through the cream solder after the cream solder is supplied to the working surface T of the substrate 2 by printing. The case where it is provided in a mounting apparatus may be sufficient. This is because such an electronic component mounting apparatus is also required to hold the substrate 2 securely.

上記実施形態によれば、以下のような種々の効果を得ることができる。   According to the above embodiment, the following various effects can be obtained.

まず、スクリーン印刷装置101が備える基板保持装置50において、基板2の外周領域R4を支持するとともに吸着することで、基板2の保持を行なう夫々の基板周部保持部23に加えて、基板2の部品実装側表面Sにおける部品実装領域R1の略中央付近に配置された夫々の非実装領域R4を支持することで、夫々の基板周部保持部23による基板2の支持を補う夫々の補助支持部25と、夫々の補助支持部25の近傍に実装された電子部品1の表面を吸着保持することで、当該電子部品1を介して基板2の吸着保持を行ない、夫々の基板周部保持部23による基板の吸着を補う支えパッド部26とが備えられていることにより、高密度に電子部品1が実装された基板2の部品実装側表面Sを確実に支持して、その支持位置の保持を行なうことができる。   First, in the substrate holding device 50 provided in the screen printing apparatus 101, the outer peripheral region R4 of the substrate 2 is supported and adsorbed so that the substrate 2 is held in addition to the respective substrate peripheral portion holding portions 23 that hold the substrate 2. Each auxiliary support part which supplements the support of the board | substrate 2 by each board | substrate periphery holding | maintenance part 23 by supporting each non-mounting area | region R4 arrange | positioned in the component mounting area | region surface S near the approximate center of component mounting area | region R1. 25, and the surface of the electronic component 1 mounted in the vicinity of each auxiliary support portion 25 is sucked and held, whereby the substrate 2 is sucked and held via the electronic component 1, and each substrate peripheral portion holding portion 23 is held. Is provided with a support pad portion 26 that compensates for the adsorption of the substrate by the substrate, so that the component mounting side surface S of the substrate 2 on which the electronic component 1 is mounted with high density can be reliably supported and the support position can be maintained. Line It is possible.

特に、このように夫々の電子部品1の高密度実装が施されている場合には、基板2の外周領域R2で囲まれた部品実装領域R1においては、基板2の表面に当接することで支持を行なうことができる領域(すなわち、非実装領域R4)が著しく少なくなっているが、このような場合であっても、夫々の補助支持部25に吸着機能を備えさせることなく、当接による支持機能のみを備えさせることで、夫々の支持面の面積を減少させて、当該支持を実現可能としている。   In particular, when the high-density mounting of each electronic component 1 is performed as described above, the component mounting region R1 surrounded by the outer peripheral region R2 of the substrate 2 is supported by contacting the surface of the substrate 2. However, even in such a case, the support by contact is provided without providing each auxiliary support portion 25 with a suction function. By providing only the function, the area of each support surface is reduced and the support can be realized.

一方、このような補助支持部25に備えさせなかった吸着機能を、夫々の支えパッド部26に備えさせ、さらに、夫々の支えパッド部26は、部品実装領域R1において実装されているIC部品1Bの表面を吸着することで、夫々のIC部品1Bを介して基板2の吸着を行なうことを実現可能としている。   On the other hand, each support pad portion 26 is provided with a suction function that is not provided in the auxiliary support portion 25, and each support pad portion 26 is mounted on the IC component 1B mounted in the component mounting region R1. By adsorbing the surface, it is possible to realize adsorption of the substrate 2 via each IC component 1B.

すなわち、基板2において、電子部品1が実装されていない外周領域R2を、夫々の基板周部保持部23により確実に支持して吸着保持を行なうとともに、これら夫々の基板周部保持部23による支持及び吸着では不足している分を、夫々の補助支持部25及び支えパッド部26により、支持機能と吸着機能とに分けて補うことで、基板2の確実な保持を実現することが可能となっている。   That is, in the substrate 2, the outer peripheral region R <b> 2 where the electronic component 1 is not mounted is securely supported by the substrate peripheral portion holding portions 23 to be sucked and held, and supported by the respective substrate peripheral portion holding portions 23. In addition, it is possible to realize the reliable holding of the substrate 2 by supplementing the lack of suction by the auxiliary support portion 25 and the support pad portion 26 separately for the support function and the suction function. ing.

支えパッド26では、吸引すればよいが、しなくとも支える効果はある。   The support pad 26 may be sucked, but there is an effect of supporting it without it.

従って、高密度に電子部品1が両面実装されるような基板2に対して、その部品実装側表面Sを支持側表面として確実に支えること、吸着保持することができ、スクリーン印刷装置101において、基板2の作業側表面Tに対して、確実かつ精密なスクリーン印刷を行なうことができる。   Therefore, it is possible to reliably support and hold the component mounting side surface S as a support side surface on the substrate 2 on which the electronic components 1 are mounted on both sides with high density. Reliable and precise screen printing can be performed on the working side surface T of the substrate 2.

また、夫々の補助支持部25の支持面の支持高さ位置が、夫々の基板周部保持部23の支持高さ位置と略同じ高さ位置とされていることで、基板2を撓ませることなく、略水平な姿勢を保ちながら支持を行なうことができる。   Further, the support height position of the support surface of each auxiliary support portion 25 is set to be substantially the same height position as the support height position of each substrate peripheral portion holding portion 23, so that the substrate 2 is bent. And can be supported while maintaining a substantially horizontal posture.

また、夫々の支えパッド部26による電子部品1の吸着保持高さは、その近傍において配置されている夫々の補助支持部25より基板2が支持されることでもって、基板2が略水平な姿勢を保つことができるような高さ位置に規制することが可能となっている。   Moreover, the suction holding height of the electronic component 1 by each support pad portion 26 is such that the substrate 2 is supported by each auxiliary support portion 25 disposed in the vicinity thereof, so that the substrate 2 is in a substantially horizontal posture. It is possible to restrict the height to such a level that can be maintained.

また、夫々の基板周部保持部23の支持面23aに緩衝層27が設けられていることにより、夫々の緩衝層27を介して、夫々の支持面23aと外周領域R2を密着させることができ、夫々の吸着孔23bによる吸着効果をより高めることができる。   Further, since the buffer layer 27 is provided on the support surface 23a of each substrate peripheral portion holding portion 23, each support surface 23a and the outer peripheral region R2 can be brought into close contact with each other through each buffer layer 27. The adsorption effect by the respective adsorption holes 23b can be further enhanced.

また、支えパッド部26において、IC部品1Bの表面と直接的に接触される支えパッド先端26cが、弾性変形可能な軟らかい緩衝部、例えばゴム材料にて形成されていることで、当該当接されたIC部品1Bの表面をより確実に吸着保持することができる。特に、支えパッド部26に対しては、支持機能ではなく、確実な吸着機能が求められることにより、上述の緩衝層27を形成する緩衝部よりもその硬度が低い緩衝部を用いることで、その機能を効果的に実現することができる。   Further, in the support pad portion 26, the support pad tip 26c that is in direct contact with the surface of the IC component 1B is formed of a soft buffer portion that can be elastically deformed, for example, a rubber material, so that the contact is made. Further, the surface of the IC component 1B can be more securely attracted and held. In particular, for the support pad portion 26, by using a buffer portion having a lower hardness than the buffer portion forming the above-described buffer layer 27 by requiring a reliable suction function rather than a support function, The function can be realized effectively.

なお、上記様々な実施形態のうちの任意の実施形態を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。   It is to be noted that, by appropriately combining arbitrary embodiments of the various embodiments described above, the effects possessed by them can be produced.

本発明の一の実施形態にかかるスクリーン印刷装置の模式外観斜視図1 is a schematic external perspective view of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention. 上記スクリーン印刷装置において取り扱われる基板の部品実装側表面の平面図Plan view of a component mounting side surface of a board handled in the screen printing apparatus 図1のスクリーン印刷装置が備える基板保持装置の模式断面図1 is a schematic cross-sectional view of a substrate holding device provided in the screen printing apparatus of FIG. 図3の基板保持装置が備える基板保持ブロックの上面の平面図The top view of the upper surface of the board | substrate holding block with which the board | substrate holding apparatus of FIG. 3 is provided. 図4の基板保持ブロックにおけるA−A線断面図AA line sectional view in the substrate holding block of FIG. 図4の基板保持ブロックにおける底部ブロックの平面図4 is a plan view of the bottom block in the substrate holding block of FIG. 従来の基板への半田ペーストの供給方法を示す模式説明図(A)基板を印刷位置に搬送している状態を示す図(B)上記印刷位置にてスクリーンと支持ブロックとの間に基板が位置された状態を示す図(C)スキージ装置により印刷が行なわれている状態を示す図Schematic explanatory diagram showing a conventional method for supplying solder paste to a substrate (A) A diagram showing a state in which the substrate is conveyed to a printing position (B) The substrate is positioned between the screen and the support block at the printing position. The figure which shows the state performed (C) The figure which shows the state currently printed by the squeegee device 従来の基板の模式平面図Schematic plan view of a conventional substrate

符号の説明Explanation of symbols

1 電子部品
1A チップ部品
1B IC部品
2 基板
3 位置決め孔
9 長孔部
12 連結部
21 基板保持ブロック
22 真空吸引装置
23 基板周部保持部
23a 支持面
23b 吸着孔
24 凹部
25 補助支持部
26 支えパッド部
26a 孔
26b 真空経路
26c 先端
27 緩衝層
31 支持部用接続孔部
32 パッド用接続孔部
33 支持部用吸着連通孔
34 パッド用吸着連通孔
35、36 縦孔
50 基板保持装置
101 スクリーン印刷装置
S 部品実装側表面
T 作業側表面
R1 部品実装領域
R2 外周領域
R3 領域
R4 非実装領域


DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic component 1A Chip component 1B IC component 2 Board | substrate 3 Positioning hole 9 Long hole part 12 Connection part 21 Board | substrate holding block 22 Vacuum suction device 23 Board | substrate periphery holding | maintenance part 23a Support surface 23b Adsorption hole 24 Recessed part 25 Auxiliary support part 26 Support pad Part 26a hole 26b vacuum path 26c tip 27 buffer layer 31 support part connection hole 32 pad connection hole part 33 support part suction communication hole 34 pad suction communication hole 35, 36 vertical hole 50 substrate holding apparatus 101 screen printing apparatus S Component mounting side surface T Work side surface R1 Component mounting region R2 Outer peripheral region R3 region R4 Non-mounting region


Claims (11)

複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持して、当該基板における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して作業可能に、上記基板の支持姿勢の保持を行なう基板保持装置において、
上記部品実装側表面における周部と当接することで、当該周部の支持を行なう支持面と、当該支持面に形成されかつ上記当接状態にある上記周部を吸着する吸着孔とを有し、上記周部の支持及び吸着により、上記基板の保持を行なう基板周部保持部を備え、上記部品実装側表面、及び当該部品実装側表面に実装された夫々の部品との当接を回避可能に、上記基板周部支持部により略囲まれた当接回避空間を形成する基板保持ブロックと、
上記部品実装側表面の部品の非実装領域と当接することで、当該非実装領域の支持を行なう基板支持部をもち、上記当接回避空間内に設置される基板保持部と
からなり、
上記基板周部保持部の上記支持面には、第1の緩衝部が備えられ、
上記の基板保持部に、さらに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を支持する部品支持部を設け、上記部品支持部の先端には、上記第1の緩衝部よりもその硬度が低い第2の緩衝部が備えられていることを特徴とする基板保持装置。
Supporting the substrate on the component mounting side surface on which a plurality of components are mounted, and maintaining the support posture of the substrate so that the substrate can work on the work side surface that is the surface facing the component mounting side surface of the substrate In the substrate holding apparatus for performing
A support surface for supporting the peripheral portion by contacting the peripheral portion on the component mounting side surface; and an adsorption hole formed on the support surface and for adsorbing the peripheral portion in the contact state. In addition, by supporting and adsorbing the peripheral portion, a substrate peripheral portion holding portion for holding the substrate is provided, and contact with the component mounting side surface and each component mounted on the component mounting side surface can be avoided. And a substrate holding block that forms a contact avoidance space substantially surrounded by the substrate peripheral portion support portion,
By contacting the non-mounting region of the component on the component mounting side surface, it has a substrate support portion that supports the non-mounting region, and includes a substrate holding portion installed in the contact avoidance space,
The support surface of the substrate peripheral part holding part is provided with a first buffer part,
The board holding portion is further provided with a component support portion that supports the surface of the component mounted on the component mounting side surface, and the hardness of the tip of the component support portion is higher than that of the first buffer portion. A substrate holding apparatus comprising a second buffer portion having a low height.
上記の基板支持部が、基板保持部上でその位置を変更できることを特徴とする請求項1記載の基板保持装置。 2. The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein the position of the substrate support portion can be changed on the substrate holding portion. 上記の部品支持部が、基板保持部上でその位置を変更できることを特徴とする請求項1または2記載の基板保持装置。 3. The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein the position of the component support portion can be changed on the substrate holding portion. 上記の部品支持部に、さらに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を吸着する機構を設けたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板保持装置。 These component supporting part, further, a substrate holding apparatus according to any one of 3 claims 1, characterized in that a mechanism for adsorbing the component mounting-side surface implemented above the surface of the component. 上記基板支持部は、上記非実装領域を支持することで、上記基板周部保持部による上記基板の支持機能を補う支持補助専用部であって、
上記部品支持部は、上記部品を吸着することで、上記基板周部保持部による上記基板の吸着機能を補う支持部である請求項1ないし4のいずれかに記載の基板保持装置。
The substrate support portion is a support auxiliary dedicated portion that supports the non-mounting region to supplement the support function of the substrate by the substrate peripheral portion holding portion,
The component support portion, by adsorbing the component, the substrate holding apparatus according to any one of 4 to claims 1, which is a support portion to compensate for the adsorption function of the substrate by the substrate peripheral portion holding portion.
上記部品支持部は、その高さ調整でき、上記部品の保持高さ位置の規制を行なう請求項1ないし5のいずれかに記載の基板保持装置。 6. The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein the height of the component support portion can be adjusted, and the holding height position of the component is regulated. 上記部品実装側表面に実装された複数の上記部品を個別に支持する複数の上記部品支持部が上記の基板保持部に備えられ、
上記夫々の部品支持部において、その支持先端高さ位置が上記吸着される部品の被吸着表面の高さ位置に応じて決定されている請求項1ないし6のいずれかに記載の基板保持装置。
A plurality of the component support portions for individually supporting the plurality of components mounted on the component mounting side surface are provided in the substrate holding portion,
In the component support part of said respective, the substrate holding apparatus according to any one of the support tip height position claims 1 and is determined in accordance with the height position of the suction surface of the part to be the suction 6.
上記基板周部保持部が備える上記吸着孔は、上記周部に沿って形成された溝状の開口部を有する請求項1ないし7のいずれかに記載の基板保持装置。 The suction hole which the substrate peripheral portion holding part is provided, the substrate holding apparatus according to any one of claims 1 to 7 having a groove-shaped opening formed along the periphery. 上記部品支持部は、上記第2の緩衝部として、上記部品の被吸着表面の実装位置ズレに応じて、当該部品との当接により弾性変形可能なゴム材料にて形成された上記吸着先端を有する吸着パッド部である請求項1ないし8のいずれかに記載の基板保持装置。 The component support portion has, as the second buffer portion, the suction tip formed of a rubber material that can be elastically deformed by contact with the component according to a mounting position shift of the surface to be sucked of the component. substrate holding apparatus according to any one of claims 1 to 8 is the suction pad portion having. 請求項1から9のいずれか1つに記載の基板保持装置と、
上記基板保持装置により保持された上記基板の上記作業側表面に対して、当該作業とし
て、上記夫々の部品の接合材料の印刷供給を行なう接合材料供給部とを備えることを特徴とする接合材料の印刷装置。
A substrate holding device according to any one of claims 1 to 9,
A bonding material supply unit comprising a bonding material supply unit that prints and supplies the bonding material of each of the components as the work to the work side surface of the substrate held by the board holding device. Printing device.
複数の部品が実装された部品実装側表面にて基板を支持するとともに、上記基板の支持姿勢の保持を行ないながら、当該基板における上記部品実装側表面と対向する表面である作業側表面に対して、接合材料印刷方法において、
上記部品実装側表面に実装された上記夫々の部品との当接を回避しながら、当該部品実装側表面における周部の支持を行なうとともに上記周部の支持面に備えられた第1の緩衝部材を介して吸着を行ない、
それとともに、上記部品実装側表面の略中央付近における上記夫々の部品の非実装領域を支持して上記基板の支持を補うとともに、上記部品実装側表面に実装された上記部品の表面を上記第1の緩衝部材よりもその硬度が低い第2の緩衝部材を介して吸着して上記基板の吸着を補いながら、上記基板の支持姿勢の保持を行ない、
当該保持状態において、上記基板の上記作業側表面に対して、上記接合材料の印刷供給を行なうことを特徴とする接合材料の印刷方法。
While supporting the substrate on the component mounting side surface on which a plurality of components are mounted and holding the support posture of the substrate, the work side surface of the substrate facing the component mounting side surface In the bonding material printing method,
The first buffer member provided on the support surface of the peripheral portion while supporting the peripheral portion on the component mounting side surface while avoiding contact with the respective components mounted on the component mounting side surface Adsorption through
At the same time, the non-mounting area of each component near the center of the component mounting surface is supported to supplement the support of the substrate, and the surface of the component mounted on the component mounting surface is the first surface. While holding the second buffer member whose hardness is lower than that of the buffer member and supplementing the suction of the substrate, holding the support posture of the substrate,
In the holding state, the bonding material is printed and supplied to the work-side surface of the substrate.
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