JP3835977B2 - ディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、ディスク型記録媒体及びそれを用いた情報記録再生装置 - Google Patents
ディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、ディスク型記録媒体及びそれを用いた情報記録再生装置 Download PDFInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、該ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、この方法でフォーマット処理された記憶媒体、及びこの記憶媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスク、光磁気ディスク等のディスク型記録媒体の高密度化、大記憶容量化に伴い、フォーマット（初期化）処理の処理時間が長くなってきている。例えば、最近実用化された１．３ギガバイトの記憶容量を有する光磁気ディスク（ＭＯ）の場合、約２０分の処理時間を要する。現在開発中の２．６ギガバイトの記憶容量を有する光磁気ディスクでは１時間近くの処理時間がフォーマット処理に必要となる。なお、ここでいうフォーマットは、いわゆる物理フォーマットを意味する。
【０００３】
このようなフォーマット処理において、所定のビットパターンを全データ記録領域に書き込んだ後、再生し照合するサーティフィケーションが行われる。その結果、欠陥個所（欠陥セクタ）が検出された場合は代替セクタが割り当てられ、その代替情報のリストがＤＭＡ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）と呼ばれる管理情報記録領域に記録される。ＤＭＡ領域は通常、ディスク型記憶媒体の最内周及び最外周に２箇所ずつ計４箇所設けられ、同じ代替情報が記憶される。
【０００４】
また、最近のディスク型記録媒体は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに回転数を変えるＺＣＡＶ方式、あるいはゾーンごとに読み出し線速度を変えるＺＣＬＶ方式が一般的である。この場合、ゾーンごとに上記代替セクタのためのスペア領域が確保されている。例えば６４０メガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは１１個のゾーン領域、１．３ギガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは１８個のゾーンに分けられている。なお、ディスク型記録媒体の種類によっては、「ゾーン」の代わりに「バンド」なる用語が用いられる。
【０００５】
上記のようなフォーマット処理を例えばディスク型記録媒体の検査工程で行うに際し、従来は、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は逆方向に順番にゾーン単位又は複数セクタ単位でフォーマット処理を行っていた。例えば、１２８メガバイト、２３０メガバイト、５４０メガバイト、６４０メガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは論理的な開始アドレス（ＬＢＡ０）が最内周にあり、内周から外周へ順番にフォーマット処理が行われる。１．３ギガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは論理的な開始アドレス（ＬＢＡ０）が最外周にあり、外周から内周へ順番にフォーマット処理が行われる。
【０００６】
従来のフォーマット処理の一例を図１から図３に基づいて説明する。図１は従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図２はそのフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図３はそのフォーマット処理のフローチャートである。
【０００７】
ホスト１１から光磁気ディスク装置１２に光磁気ディスク１３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃１０１）、光磁気ディスク装置１２のフォーマット手段１４は、図２に示すように、光磁気ディスク１３のフォーマット処理を行うゾーンの順番を論理アドレスの昇順にしたがって求める（ステップ＃１０２）。そして、ゾーン単位でイレーズ（消去）、ライト（書き込み）、ベリファイ（照合）の処理を行う。エラーが生じた場合は、規定回数の繰り返し（リトライ）を行う（ステップ＃１０３）。ライトデータは、設定可能な初期化データであり、デフォルトでは例えば１６進数のＣＦ２３が使用される。
【０００８】
規定回数のリトライでもエラーが解除されない場合（ステップ＃１０４のＹＥＳ）は、そのセクタを欠陥セクタとみなして、代替セクタを割り当て、欠陥情報（ＰＤＬ：一次欠陥情報）としてＤＭＡに登録する（ステップ＃１０６）。但し、その前に（ステップ＃１０５にて）、今までの累積欠陥個数が許容される総欠陥個数を超えたか否かがチェックされる。許容される総欠陥個数は記録媒体の種類に応じて規格値として決められており、例えば１．３ギガバイト容量の光磁気ディスクの場合は４，４３７個の欠陥が許容される。欠陥個数が規格値を超えた場合は、光磁気ディスク装置１２はフォーマット処理を中断し、ホスト１１に欠陥個数オーバーエラーが生じたことを通知する（ステップ＃１１０）。この光磁気ディスク１３はフォーマット処理が完了していないので、使用できないことになる。
【０００９】
欠陥個数が規格値を超えた場合以外はフォーマット処理が続行され、指定ゾーン内のフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃１０７のＹＥＳ）、次のゾーンのフォーマット処理を同様に繰り返す。全ゾーンのフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃１０８のＹＥＳ）、光磁気ディスク装置１２はホスト１１にフォーマット処理が正常終了したことを通知して（ステップ＃１０９）、処理を終了する。
【００１０】
上記のような物理フォーマットは、記録媒体のデータを全て消去する場合、長期間の使用の結果エラーが生じやすくなった場合、又は記録媒体のアクセス時間が長くなった場合に、記録媒体を再検査して欠陥セクタを再登録し、使用に適した記録媒体とするために行われる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、従来は、論理アドレスの昇順にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行っていたので、最終のゾーン又はその近くのゾーンで欠陥個数オーバーエラーが生じる場合があった。この場合、その記録媒体は結局使用できないので、それまでに費やしたフォーマット処理時間が無駄に終わることになる。前述のように、１．３ギガバイト容量の光磁気ディスクでは２０分近くの時間が無駄になる。
【００１２】
上記の時間ロスは、ディスク型記録媒体の検査工程における生産性の向上にとって障壁となる。また、ユーザがディスク型記録媒体の物理フォーマットを行う場合、長時間待たされた末にその記録媒体がフォーマットエラーになって使用できないというのは我慢し難いことである。
【００１３】
また、記録領域の一部しか使用していない記録媒体の物理フォーマットを行う場合でも、従来は全領域の物理フォーマットを行っていたので、使用者は物理フォーマットの終了まで長時間待つ必要があった。
【００１４】
本発明は、上記のような従来の課題に鑑みてなされたものであり、ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行う際に、その記録媒体が欠陥個数オーバーエラーによって使用不可になる場合は、フォーマット処理全体にかかる時間のうち、できるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出されるようにすることを目的とする。他の目的は、物理フォーマットに要する時間を短縮することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法は、径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、前記複数のゾーンを非連続な順番でフォーマット処理することを特徴とする。
また、本発明によるディスク型記録媒体は、径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体であって、前記複数のゾーンが非連続な順番でフォーマット処理されたことを特徴とする。
【００１６】
本発明による情報記録再生装置の第１の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の欠陥情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した前記欠陥情報に基づいて欠陥個数の多いゾーンから順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。
【００１７】
本発明による情報記録再生装置の第２の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の製造者等の媒体情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した媒体情報に基づいて、あらかじめ登録されたゾーンの順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。製造者等の媒体情報に応じて異なるゾーンごとの欠陥発生確率（特性テーブル）は予め制御手段内のメモリに記憶しておくことが好ましい。
【００１８】
本発明による情報記録再生装置の第３の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを前記フォーマット手段に指示すると共に、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。
【００１９】
上記の第１から第３の情報記録再生装置の構成において好ましくは、ディスク型記録媒体がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体であり、各ゾーンの欠陥情報がランドとグルーブとに分けて管理され、前記フォーマット処理の順番が各ゾーンのランド及びグルーブの単位で決定される。
【００２０】
本発明による情報記録再生装置の第４の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、ユーザデータ領域のフォーマット処理を行う前に、前記欠陥情報を記録するＤＭＡ領域のフォーマット処理を行い、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理で欠陥が発生した場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラーとしてフォーマット処理を終了することを特徴とする。
【００２１】
好ましくは、同一の欠陥情報を記録する複数のＤＭＡ領域が前記ディスク型記録媒体の複数箇所に備えられ、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理において一部のＤＭＡ領域に欠陥が存在し、他のＤＭＡ領域には欠陥が存在しない場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行するに際して、前記欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するゾーンのユーザデータ領域からフォーマット処理を実行する。
【００２２】
上記のようなフォーマット処理方法及び情報記録再生装置によれば、従来のように論理アドレスの順番にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行うのではなく、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンの順番、あるいはディスク型記録媒体の特性によって欠陥個数が多いと予想されるゾーンの順番等にしたがって、非連続な順番でフォーマット処理が行われる。したがって、欠陥個数オーバーエラーが発生する場合は、従来の論理アドレスの順番にしたがって行われるフォーマット処理に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出される。
【００２３】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法の別の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法において、欠陥情報獲得手段により前記ディスク型記録媒体のＳＤＬ情報（二次欠陥情報）を取得するステップと、ＳＤＬ情報の存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とする。
【００２４】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法の更に別の構成は、初期化データ読み取り手段により各ゾーンのデータを読み取るステップと、初期化データ以外のデータが存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とする。サーティファイの対象とすべきゾーンか否かを判断するために、初期化データ読み取り手段は、各ゾーンのすべてのデータを読み取ってもよいが、一部のデータ、例えば各ゾーンの先頭部、中央部、最終部を所定数のセクタずつ読み取るようにしてもよい。
【００２５】
好ましくは、上記のフォーマット処理方法において、処理時間通知手段により、フォーマット処理の終了までの時間をホストに通知するステップを更に備えていることが好ましい。
【００２６】
更に好ましくは、前記サーティファイの対象として検出されなかったゾーンについて、簡易サーティファイを実行するステップを備えている。簡易サーティファイとして、データのリードチェックのみを行う方法、又はＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う方法がよく知られている。
【００２７】
上記のようなフォーマット処理方法によれば、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階からなるサーティファイをすべてのゾーンについて行うのではなく、不必要なゾーンについては行わず、若しくは簡易サーティファイで済ませることにより、物理フォーマットに必要な全体の時間を短縮することができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
まず、本発明の第１の実施形態を図４から図６に基づいて説明する。図４は本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図５はそのフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図６はそのフォーマット処理のフローチャートである。
【００２９】
この実施形態は、フォーマット済みの光磁気ディスク２３の再フォーマットを行う場合の例である。この場合、前回のフォーマット処理における光磁気ディスク２３の欠陥情報（欠陥個数、欠陥の物理アドレス等）がＤＭＡ領域に記録されている。光磁気ディスク２３が長期間使い込まれたものである場合、通常は前回のフォーマット時よりも記録層が劣化しているために欠陥個数が増加している。しかし、欠陥個数のゾーンごとの分布は変わらないことが多い。つまり、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンは再フォーマットに際しても欠陥個数が多い可能性が高い。
【００３０】
光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３が挿入されると、光磁気ディスク装置２２の検出手段２４は、ＤＭＡ領域に記録されている前回のフォーマット処理における欠陥情報を取得する（ステップ＃２０１）。ホスト２１から光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃２０２）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、検出手段２４が取得した前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて、欠陥個数の多いゾーンから順番にフォーマット処理の対象ゾーンをフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃２０３）。
【００３１】
図５の例では、欠陥個数が最も多いＮｏ．１５のゾーンからフォーマット処理を開始し、次に欠陥個数が多いＮｏ．１１のゾーン、Ｎｏ．２のゾーン、Ｎｏ．８のゾーン、Ｎｏ．５のゾーンと順次フォーマット処理を行った後、欠陥個数がゼロのゾーンをゾーン番号順にフォーマット処理していく。
【００３２】
ステップ＃２０４において、指定ゾーンのフォーマット処理を行い、エラーが生じた場合は、規定回数の繰り返し（リトライ）を行う。規定回数のリトライでもエラーが解除されない場合（ステップ＃２０５のＹＥＳ）は、そのセクタを欠陥セクタとみなして、代替セクタを割り当て、欠陥情報としてＤＭＡに登録する（ステップ＃２０７）。但し、その前に、今までの累積欠陥個数が許容される総欠陥個数を超えたか否かがチェックされ、欠陥個数が規格値を超えた場合はフォーマット処理を中断し、ホスト２１に欠陥個数オーバーエラーが生じたことを通知する（ステップ＃２１１）。
【００３３】
欠陥個数が規格値を超えた場合以外はフォーマット処理が続行され、指定ゾーン内のフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃２０８のＹＥＳ）、次のゾーンのフォーマット処理を同様に繰り返す。全ゾーンのフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃２０９のＹＥＳ）、ホスト２１にフォーマット処理が正常終了したことが通知され（ステップ＃２１０）、処理を終了する。
【００３４】
本実施形態によれば、前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて今回のフォーマット処理でも欠陥個数が多いと予測されるゾーンから順番にフォーマット処理を行うので、欠陥個数オーバーエラーが生じる場合は、従来の論理アドレス順にフォーマット処理を行う場合に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが生じる。つまり、欠陥個数オーバーエラーが分かるまでの待ち時間が短くなる。
【００３５】
次に、本発明の第２の実施形態を図４、図７及び図８に基づいて説明する。図７は本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図８はそのフォーマット処理のフローチャートである。フォーマット処理の制御ブロック図は第１実施形態で用いた図４と同じである。
【００３６】
この実施形態では、光磁気ディスク２３のコントロールトラック情報として記録されている製造者等の媒体情報に基づいて予測される欠陥発生確率の高いゾーンから順にフォーマット処理を行う。光磁気ディスクは、製造者によって、内周側のゾーンほど欠陥個数が多い、あるいは外周側のゾーンほど欠陥個数が多いといった特性を有する。そこで、製造者等の媒体情報に基づいて、欠陥が多いと予測される（欠陥発生確率の高い）ゾーンから順にフォーマット処理を行うことにより、第１の実施形態と同様に、フォーマット処理において欠陥個数オーバーエラーが分かるまでの待ち時間が短くなる効果が得られる。
【００３７】
光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３が挿入されると、光磁気ディスク装置２２の検出手段２４は、コントロールトラック情報領域に記録されている媒体情報を取得する（ステップ＃３０１）。ホスト２１から光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃３０２）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、検出手段２４が取得した媒体情報ごとにあらかじめ登録しておいた欠陥発生確率の高いゾーンから順番にフォーマット処理の対象ゾーンをフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃３０３）。
【００３８】
図７の例では、欠陥発生確率が最も高いＮｏ．１５のゾーンからフォーマット処理を開始し、次に欠陥発生確率が高いＮｏ．１１のゾーン、Ｎｏ．２のゾーン、Ｎｏ．８のゾーン、Ｎｏ．５のゾーンと順次フォーマット処理を行った後、欠陥発生確率が低いゾーンをゾーン番号順にフォーマット処理していく。
【００３９】
制御手段２５には、製造者等の媒体情報と欠陥発生確率が高いゾーンの順番との関係がテーブルとして予め記憶され、制御手段２５は、検出手段２４が取得した媒体情報でこのテーブルを参照することによってフォーマット処理を行うゾーンの順番を決定する。製造者の他に、製造ロット番号、製造に用いたスタンパ（金型）の番号等の媒体情報を用いて欠陥発生確率の高いゾーンの順番を推定することも可能である。
【００４０】
図８のステップ＃３０４からステップ＃３１１の処理は、第１の実施形態で説明した図６のステップ＃２０４からステップ＃２１１の処理と同じであるので、説明は省略する。
【００４１】
次に、本発明の第３の実施形態を図４、図９及び図１０に基づいて説明する。図９は本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図１０はそのフォーマット処理のフローチャートである。フォーマット処理の制御ブロック図は第１の実施形態で用いた図４と同じである。
【００４２】
本実施形態において、光磁気ディスク２３は１．３ギガバイトの記憶容量を有し、データ記録領域が１８ゾーンに分けられ、許容される最大欠陥個数が４，４３７個である。また、極端な例ではあるが、図９に示すように、Ｎｏ．０からＮｏ．１２のゾーンは欠陥個数がゼロであり、Ｎｏ．１３からＮｏ．１７のゾーンはそれぞれ１００個、５００個、１，０００個、２，０００個、８３８個の欠陥を有すると仮定する。この場合、全欠陥個数は４，４３８個であるから、許容される最大欠陥個数が４，４３７個を超え、欠陥個数オーバーエラーが発生することになる。従来のように、Ｎｏ．０からＮｏ．１７のゾーンへ順番にフォーマット処理を行う場合は、フォーマット処理時間（約２０分）が経過する直前で欠陥個数オーバーエラーが発生することになる。
【００４３】
本実施形態では、制御手段２５がフォーマット手段２６に対して、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを指示する。図９の例では、Ｎｏ．０のゾーン、Ｎｏ．３のゾーン、Ｎｏ．６のゾーンというように、２つのゾーンおきにフォーマット処理の対象とする。そして、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとしてフォーマット手段２６に指示する。
【００４４】
図９の例では、しきい値が２００個に設定されている。そして、２つのゾーンおきにフォーマット処理を進めて、６番目のゾーンであるＮｏ．１５のゾーンのフォーマット処理をしたときに、その欠陥個数がしきい値の２００個を超える。Ｎｏ．１５のゾーンの欠陥個数がしきい値の２００個を超えない場合は、Ｎｏ．１のゾーンから２つのゾーンおきにフォーマット処理を継続するが、図９の例ではＮｏ．１５の欠陥個数が２００個を超えた（１，０００個）ので、Ｎｏ．１５のゾーンに隣接する未フォーマットのゾーンを先にフォーマット処理の対象とする。図９の例ではＮｏ．１５の前後２ゾーンずつ計４つのゾーン（Ｎｏ．１３，１４，１６，１７）が未処理であるので、これらのゾーンを先にフォーマット処理してから、Ｎｏ．１のゾーンに戻って２つのゾーンおきにフォーマット処理を継続することになる。
【００４５】
ところが、図９の例では、１０番目のフォーマット処理の対象となったＮｏ．１７のゾーンをフォーマット処理した段階でそれまでの欠陥個数が４，４３８個となり、許容される最大欠陥個数が４，４３７個を超えるので、欠陥個数オーバーエラーが発生する。つまり、従来の１８番目（最後）のゾーンで欠陥個数オーバーエラーが発生する場合に比べて，早い段階で欠陥個数オーバーエラーが発生するので、無駄になる時間が少なくて済む。
【００４６】
図１０のフローチャートにおいて、検出手段２４が光磁気ディスク２３の媒体情報を取得した（ステップ＃４０１）後、ホスト２１が光磁気ディスク装置２２にフォーマットコマンドを発行する（ステップ＃４０２）。すると、制御手段２５は上記のようにフォーマット手段２６に対して、１又は複数のゾーンおきに（非連続に）フォーマット処理の対象ゾーンを指示する（ステップ＃４０４）、但し、繰り返し処理の２回目以降においては、先にフォーマットしたゾーンの欠陥個数がしきい値を超えたか否かがチェックされ（ステップ＃４０３）、超えなかった場合は上記の如く次のフォーマット処理の対象ゾーンが非連続に指示されるが、しきい値を超えた場合は、前述の如く、当該ゾーンの隣接ゾーンを先にフォーマット処理の対象としてフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃４０５）。ステップ＃４０６からステップ＃４１３の処理は第１の実施形態で説明した図６のステップ＃２０４からステップ＃２１１の処理と同じであるので、説明は省略する。
【００４７】
本実施形態は、欠陥個数が多いゾーンはある程度纏って発生することが多い性質を利用して、１又は複数のゾーンおきに（非連続に）フォーマット処理を行うことにより、欠陥個数が多い領域をできるだけ早く見つけるものである。そして、欠陥個数がしきい値より多いゾーンが見つかれば、その前後のゾーンも欠陥個数が多い可能性が高いので、これらのゾーンのフォーマット処理を先に行うことにより、欠陥個数オーバーエラーが発生する光磁気ディスク２３の場合は、フォーマット処理のできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーを発生させることができる。
【００４８】
次に、本発明の第４の実施形態を説明する。
図１１は、本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクの構成を示す図である。本実施形態の光磁気ディスクは、データ記録領域が２２個のバンド（Ｂａｎｄ＃１からＢａｎｄ＃２２）に分けられている。このバンドは、既述の実施形態でデータ記録領域を径方向に分けたゾーンに相当する。ディスク記録媒体の種類によって「ゾーン」と呼んだり「バンド」と呼んだりするが、特に相違点は無い。図１１の光磁気ディスクでは、第１バンド（Ｂａｎｄ＃１）に２つのＤＭＡ領域（ＤＭＡ＃１及びＤＭＡ＃２）が含まれ、第２２バンド（Ｂａｎｄ＃２２）に２つのＤＭＡ領域（ＤＭＡ＃３及びＤＭＡ＃４）が含まれている。
【００４９】
図１２は、データ記録領域におけるデータ記録単位であるセクタの情報を示す物理アドレスの構成例を示している。この例では物理アドレスは４バイトからなり、５ビットのバンド番号、１２ビットのトラック番号及び７ビットのフレーム番号を含んでいる。更に、ランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の光磁気ディスクの場合は、ランドかグルーブかを識別する１ビットのフラグが含まれている。
【００５０】
図１３は、本実施形態の光磁気ディスク装置の制御手段が実行する処理を示すフローチャートである。なお、本実施形態の光磁気ディスク装置のフォーマット制御に関するブロック構成は図４に示した既述の実施形態と同様である。
【００５１】
ホスト２１からフォーマットコマンドを受信すると（ステップ＃５０１）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、まずＤＭＡ＃１領域のフォーマット（サーティファイともいう）処理を実行する（ステップ＃５０２及び５０３）。この処理では、ＤＭＡ＃１の先頭セクタから最終セクタまでの各セクタに、任意のデータ（例えば、０から始まるインクリメントパターン）を書き込んだ後、そのデータを読み出し、照合する。その結果、欠陥セクタが検出された場合（ステップ＃５０４のＹＥＳ）は、図１４に示すＤＭＡ検査結果記憶部にＤＭＡ欠陥であることを記憶しておく。つまり、ＤＭＡ＃１フラグをリセットする（ステップ＃５０５）。欠陥セクタが検出されなかった場合（ステップ＃５０４のＮＯ）は、ＤＭＡ＃１フラグをセットする（ステップ＃５０６）。
【００５２】
次に、ＤＭＡ番号をインクリメントして（ステップ＃５０７）、ＤＭＡ＃２領域についてステップ＃５０３からステップ＃５０６のフォーマット処理を実行する。同様にして、ＤＭＡ＃４領域のフォーマット処理を終了するまで（ステップ＃５０８のＹＥＳ）上記の処理を繰り返す。なお、本実施形態では４個のＤＭＡ領域をＤＭＡ＃１から順番にフォーマットしているが、ＤＭＡ領域の個数及びフォーマット順序は変更可能である。
【００５３】
全てのＤＭＡ領域のフォーマット処理が完了した後、ＤＭＡ検査結果記憶部の記憶データが読み出され、全てのＤＭＡ領域に欠陥があると判定されたとき（ステップ＃５０９のＹＥＳ）は、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずに、ホストへエラー終了を報告し（ステップ＃５１０）、フォーマット処理を終了する。複数のＤＭＡ領域の一つでも正常である場合は、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行する（ステップ＃５１１）。
【００５４】
複数のＤＭＡ領域の全てに欠陥がある場合は、正常な光磁気ディスクとして使用することができないが、上記の処理によれば、フォーマット処理において最短の時間でそのことが判定される。
【００５５】
図１５は、図１３のフローチャートにおけるステップ＃５１１の処理、すなわち、ユーザデータ領域のフォーマット処理の詳細を示すフローチャートである。複数のＤＭＡ領域のうち、一部のＤＭＡ領域に欠陥がある場合は、欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するバンド（ゾーン）のユーザデータ領域からフォーマット処理を実行する。
【００５６】
図１５において、先ず図１４の検査結果記憶部の記憶データに基づいて、欠陥が存在するＤＭＡ領域のバンド番号が算出され（ステップ＃６０１）、このバンドのユーザデータ領域のフォーマット処理が実行される（ステップ＃６０２）。この時点で欠陥セクタ個数のオーバフローが生じた場合（ステップ＃６０３のＹＥＳ）は、ホストに異常終了（欠陥オーバーフローエラー終了）を報告し（ステップ＃６０４）、フォーマット処理を終了する。そうでない場合（ステップ＃６０３のＮＯ）は、全データ領域のフォーマットが終了するまで（ステップ＃６０５のＹＥＳ）、処理が継続する。
【００５７】
すなわち、検査結果記憶部の記憶データに基づいて、次にフォーマット処理すべきバンド番号が算出され（ステップ＃６０６）、ステップ＃６０２からステップ＃６０５の処理が繰り返される。全データ領域のフォーマットが終了すれば（ステップ＃６０５のＹＥＳ）、ユーザデータ領域のフォーマット結果がＤＭＡに登録され（ステップ＃６０７）、ホストに正常終了が報告されて（ステップ＃６０８）フォーマット処理が終了する。
【００５８】
図１６は、図１５中のステップ＃６０１及び＃６０６において、検査結果記憶部の記憶データに基づいて次にフォーマットすべきバンド番号を算出する例を示すテーブルである。但し、ケースＡは４個のＤＭＡ領域の全てに欠陥がある場合であり、この場合は前述のように、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラー終了となる。
【００５９】
図１６において、ケースＢは、ＤＭＡ＃１のみが正常であり、ＤＭＡ＃２，３，４に欠陥がある場合である。この場合、２つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃２２（図１１参照）のユーザデータ領域が最初にフォーマット処理の対象となり、次に１つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となる。ケースＣは、ＤＭＡ＃２のみが正常な場合であり、この場合はケースＢと同じフォーマット処理の順番となる。
【００６０】
ケースＤ及びケースＥの場合は逆に、Ｂａｎｄ＃１に２つの欠陥ＤＭＡ領域が属するので、先にＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その次に１つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となる。
【００６１】
ケースＦは２つの欠陥ＤＭＡ領域が共にＢａｎｄ＃２２に属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＧ，Ｈ，Ｉ及びＪは２つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃１とＢａｎｄ＃２２とに１つずつ属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、Ｂａｎｄ＃１及び＃２２のいずれか一方（任意）をフォーマット処理の対象とした後、他方をフォーマット処理の対象とする。ケースＫは２つの欠陥ＤＭＡ領域が共にＢａｎｄ＃１に属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。
【００６２】
ケースＬ及びＮは１つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃２２に属し、残り３つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＭ及びＯは１つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃１に属し、残り３つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＰは、４個のＤＭＡ領域の全てに欠陥が無い場合であり、この場合は任意の順番でフォーマット処理を行うことができる。
【００６３】
上記のように、複数のＤＭＡ領域のフォーマット結果に基づいて、各ＤＭＡ領域が属するバンドのユーザデータ領域に関して欠陥が多いか少ないかを予測してそのフォーマット順序を決めることにより、欠陥個数オーバーエラーが発生する光磁気ディスクの場合は、フォーマット処理のできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーを発生させることができる。
【００６４】
また、ＤＭＡ領域が属するバンド以外のユーザデータ領域のフォーマット順については、既述の実施形態のようにしてできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーが分かるようにすることができる。例えば、２回目以後のフォーマットの場合は、第１の実施形態で述べたように、前回のフォーマット処理における光磁気ディスクの欠陥情報に基づいて、欠陥個数が多いと予測されるバンドの順番にフォーマットを行う。以下、本実施形態のユーザデータ領域のフォーマット順序の決定に第１の実施形態の方法を適用した場合の例を図１７のフローチャートに沿って説明する。
【００６５】
一般に、光磁気ディスク装置２２は、光磁気ディスク２３が挿入されたときに、光磁気ディスク２３のＤＭＡ領域の情報を読み出して、光磁気ディスク装置２２内のメモリに記憶しておく処理を行う。そこで、ＤＭＡに前回のフォーマット処理における欠陥情報が存在する場合は、図１４に示したＤＭＡ検査結果記憶部の欠陥セクタ情報有無の欄にフラグをセットしておく（ビット０）。
【００６６】
図１７のフローチャートにおいて、ホスト２１からフォーマットコマンドを受信すると（ステップ＃７０１）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、後述するフォーマット順序記憶部からフォーマット対象のバンド番号を読み出すための変数ｎを０に初期化（ステップ＃７０２）した後、検査結果記憶部の欠陥セクタ情報有無を示すフラグを調べる（ステップ＃７０３）。このフラグがセットされている場合、すなわち欠陥セクタ情報が有る場合は、メモリに記憶されている前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて、欠陥個数の多いバンドから順にフォーマット処理を行うように、フォーマット順序記憶部にバンド番号を格納する（ステップ＃７０４）。また、フラグがセットされていない場合、つまり欠陥セクタ情報が無い場合は、通常のバンド番号順にフォーマット処理を行うように、フォーマット順序記憶部にバンド番号を格納する（ステップ＃７０５）。
【００６７】
図１８は、フォーマット順序記憶部の記憶情報の例を示すテーブルである。欠陥セクタ情報には欠陥セクタが物理アドレス形式で登録され、物理アドレスは図１２に示したように、バンド番号、トラック番号及びフレーム番号で構成されている。したがって、欠陥セクタの属するバンドの判定は、物理アドレス内のバンド番号によって行われる。
【００６８】
上記のようにしてフォーマット順序記憶部の記憶情報、すなわちフォーマットを行うバンド番号の順序が確定すると、制御手段２５はフォーマット順序記憶部から最初（ｎ＝０）にフォーマットすべきバンド番号を取り出して（ステップ＃７０６）、そのバンドのフォーマットを実行する（ステップ＃７０７）。このとき欠陥個数オーバーフローエラーが発生すれば（ステップ＃７０８のＹＥＳ）、ホスト２１へエラー終了を報告して処理を終了する。欠陥個数オーバーフローエラーが発生しない場合は、全データ領域のフォーマットが終了するまで（ステップ＃７１０のＹＥＳ）、変数ｎをインクリメントして（ステップ＃７１１）、ステップ＃７０６からステップ＃７１０の処理を繰り返す。全データ領域のフォーマットが終了すれば（ステップ＃７１０のＹＥＳ）、ホストに正常終了が報告されて（ステップ＃７１２）フォーマット処理が終了する。
【００６９】
図１９は、光磁気ディスク２３がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体である場合のフォーマット順序記憶部記憶情報の例を示すテーブルである。この例では、バンドごとの欠陥セクタ数を算出する際に、ランドとグルーブとに分けて算出し、フォーマット処理の順番をバンド番号だけでなく、ランド及びグルーブの単位で分けて決定する。したがって、左端欄の検査順を示す番号は、図１８のテーブルの２倍、すなわち１ｓｔから４４ｔｈまで４４個ある。そしてＢｉｔ７は、ランド又はグルーブの区別を示すビットである。
【００７０】
図２０は、本発明の第５の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図２０において、３１は光磁気ディスク媒体、３２は光磁気ディスク媒体３１のリード／ライトを行う光磁気ディスク装置、３３は光磁気ディスク装置３２に対して物理フォーマットコマンドを発行するホストである。
【００７１】
光磁気ディスク装置３２は、光磁気ディスク媒体３１に初期化データを書き込んでサーティファイを行う物理フォーマット手段３４の他に、メモリ３５、欠陥情報獲得手段３６、処理時間通知手段３７、簡易サーティファイ手段３８を備えている。
【００７２】
メモリ３５は、ホスト３３からの情報や光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報を記憶する。欠陥情報獲得手段３６は、光磁気ディスク媒体３１を光磁気ディスク装置３２にロードしたときに、ＤＭＡに含まれるＰＤＬ（一次欠陥情報）及びＳＤＬ（二次欠陥情報）のセクタアドレスを獲得する。処理時間通知手段３７は、物理フォーマットに要する時間を求めてホストに通知する。簡易サーティファイ手段３８の働きについては後述する。
【００７３】
図２１及び図２２は、第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートである。ステップ＃８０１において、光磁気ディスク媒体３１が光磁気ディスク装置３２にロードされると、欠陥情報獲得手段３６がＰＤＬ及びＳＤＬのアドレスを獲得し、メモリ３５に格納する（ステップ＃８０２）。ステップ＃８０３でホスト３３から光磁気ディスク装置３２に対してフォーマットコマンドが指示されると、物理フォーマット手段３４はメモリ３５から読み出したＳＤＬアドレスから各ゾーンのＳＤＬの個数（有無を含む）を求める（ステップ＃８０４）。
【００７４】
ステップ＃８０５において、処理時間通知手段３７は、サーティファイを行う各ゾーンの平均サーティファイ時間から全体の物理フォーマット処理時間を求める。つまり、サーティファイ対象ゾーンのあらかじめ求めた平均サーティファイ時間を加算して物理フォーマットに要する時間を求め、ホストに通知する。使用者は、物理フォーマットが終了するまでの間、別の作業を行うことができる。但し、このステップ＃８０５の処理（処理時間通知手段３７）は必須ではなく、省略可能である。
【００７５】
ステップ＃８０６以降の処理において、物理フォーマット手段３４は、ゾーンごとにサーティファイ処理を実行する。ステップ＃８０７では現在のゾーンにＳＤＬが存在するか否かをチェックし、存在する場合はステップ＃８０８で初期化データを書き込んでサーティファイ処理を実行した後、次のゾーンを処理対象とする（ステップ＃８０９）。現在のゾーンにＳＤＬが存在しない場合は、サーティファイ処理を実行せずにステップ＃８０９へ移行する。サーティファイ処理中に検出された欠陥セクタはメモリ３５に記憶される。
【００７６】
ステップ＃８１０で全ゾーンの初期化（フォーマット、サーティファイ）が終了したか否かがチェックされ、全ゾーンの初期化が終了するまでステップ＃８０７からステップ＃８１０までの処理が繰り返される。全ゾーンの初期化が終了すれば、物理フォーマット手段３４はステップ＃８１１において、物理フォーマット前にサーティファイしなかったゾーンに存在していたＰＤＬと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録する。最後にステップ＃８１２で物理フォーマットの終了をホスト３３に報告して処理を終了する。
【００７７】
一般に、ＳＤＬ（二次欠陥情報）が無いゾーンは、物理フォーマット後、一度も使用していないか、書き込みエラーが一度も発生していないとみなせるので、サーティファイを再度行う必要性に乏しい。本実施形態は、この点に着目し、ＳＤＬが存在しないゾーンのサーティファイを省略する物理フォーマットを行うことにより、物理フォーマットに必要な時間を短縮することができる。
【００７８】
上記の実施形態の変形例として、ステップ＃８０７で現在のゾーンにＳＤＬが存在しない場合に、サーティファイ処理を省略する代わりに、簡易サーティファイを実行するようにしてもよい。図２０における簡易サーティファイ手段３８がこの働きを担う。したがって、図２２において、ステップ＃８０７でＮｏの場合は、簡易サーティファイ手段３８による簡易サーティファイを実行した後、ステップ＃８０９へ移行する。
【００７９】
簡易サーティファイとして良く知られている方法には２種類有る。その一つは、データのリードチェック（１６進数のＣＦ２３のような初期化データとのベリファイ）のみを行う簡易サーティファイである。他の１つは、ＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う簡易サーティファイである。後者のほうが処理時間は短くて済むが、ＥＣＣによるエラー検出能力を超えるエラーは検出できない。いずれにせよ、サーティファイ処理を全く行わない場合に比べて全体のフォーマット処理時間は長くなるが、フォーマットの信頼性は増加する。また、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイを行う場合に比べて簡易サーティファイに要する時間は短くて済む。
【００８０】
なお、簡易サーティファイを行う場合は、当然のことながら、図２２のステップ＃８１１において、簡易サーティファイ中に検出された欠陥セクタと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録することになる。
【００８１】
図２３は、本発明の第６の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。第５の実施形態で参照した図２０の構成と異なる点は、欠陥情報獲得手段３６が初期化データ読み取り手段３９に置き換えられた点であり、他は同じである。
【００８２】
図２４及び図２５は、第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートである。ステップ＃９０１において、光磁気ディスク媒体３１が光磁気ディスク装置３２にロードされると、欠陥情報獲得手段３６がＰＤＬ及びＳＤＬのアドレスを獲得し、メモリ３５に格納する（ステップ＃９０２）。ステップ＃９０３でホスト３３から光磁気ディスク装置３２に対してフォーマットコマンドが指示されると、初期化データ読み取り手段３９が指定ゾーンの全データを読み取る（ステップ＃９０４）。
【００８３】
読み取りエラーが発生した場合（ステップ＃９０５のＹｅｓ）は、該ゾーンの読み取りを中断し、本ゾーンがサーティファイ処理の対象であることをメモリ３５に記憶して（ステップ＃９０７）次のゾーンの読み取りに移行する（ステップ＃９０８）。指定ゾーンのデータの中に初期化データ（例えば１６進数のＣＦ２３）と異なるデータが検出された場合（ステップ＃９０６のＮｏ）も、該ゾーンの読み取りを中断し、本ゾーンがサーティファイ処理の対象であることをメモリ３５に記憶して（ステップ＃９０７）次のゾーンの読み取りに移行する（ステップ＃９０８）。
【００８４】
ステップ＃９０９で全ゾーンの読み取りが終了したか否かをチェックし、全ゾーンの読み取りが終了するまで、ステップ＃９０４からステップ＃９０９までの処理が繰り返される。全ゾーンの読み取りが終了すれば、ステップ＃９１０において、処理時間通知手段３７は、サーティファイ対象ゾーンのあらかじめ求めた平均サーティファイ時間を加算して物理フォーマットに要する時間を求め、ホストに通知する。但し、このステップ＃９１０の処理（処理時間通知手段３７）は必須ではなく、省略可能である。
【００８５】
ステップ＃９１１以降の処理において、物理フォーマット手段３４は、ゾーンごとにサーティファイ処理を実行する。まず、ステップ＃９１２において、現在のゾーンがサーティファイ処理の対象であるか否かをチェックする。前述のように、サーティファイ処理の対象であるゾーンはステップ＃９０７でメモリ３５に記憶されている。サーティファイ処理の対象である場合はステップ＃９１３で初期化データを書き込んでサーティファイ処理を実行した後、次のゾーンを処理対象とする（ステップ＃９１４）。サーティファイ処理の対象でない場合は、サーティファイ処理を実行せずにステップ＃９１４へ移行する。サーティファイ処理中に検出された欠陥セクタはメモリ３５に記憶される。
【００８６】
ステップ＃９１５で全ゾーンの初期化が終了したか否かがチェックされ、全ゾーンの初期化が終了するまでステップ＃９１２からステップ＃９１５までの処理が繰り返される。全ゾーンの初期化が終了すれば、物理フォーマット手段３４はステップ＃９１６において、物理フォーマット前にサーティファイしなかったゾーンに存在していたＰＤＬと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録する。最後にステップ＃９１７で物理フォーマットの終了をホスト３３に報告して処理を終了する。
【００８７】
一般に、初期化データのままであるゾーンは、全く使用されていない可能性が高く、サーティファイを再度実施する必要性はあまりない。本実施形態はこの点に着目し、初期化データのままであるゾーンのサーティファイを省略する物理フォーマットを行うことにより、物理フォーマットに必要な時間を短縮することができる。サーティファイが必要なゾーンか否かを判断するためのデータ読み取り（ステップ＃９０４）が必要となるが、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階が必要なサーティファイに比べて、読み取り（リード）だけの処理は短くて済む。
【００８８】
上記の実施形態では、ステップ＃９０４において、指定ゾーンの全データを読み取ったが、変形例として、一部のデータを読み取るようにしてもよい。例えば、各ゾーンの先頭部、中央部、最終部を所定数のセクタずつ読み取る。そして、それらのデータの内に初期化データと異なるデータが検出された場合（ステップ＃９０６のＮｏ）は、ステップ＃９０７においてサーティファイの対象ゾーンとして記憶する。
【００８９】
こうすることにより、サーティファイが必要なゾーンか否かを判断するためのデータ読み取り時間を短縮することができる。その結果、物理フォーマットに必要な全体の時間を更に短縮することができる。
【００９０】
また、本実施形態の別の変形例として、ステップ＃９１２で現在のゾーンがサーティファイの対象でない場合、すなわち、初期化データと異なるデータが検出されなかった場合に、サーティファイ処理を省略する代わりに、簡易サーティファイを実行するようにしてもよい。図２３における簡易サーティファイ手段３８がこの働きを担う。したがって、図２５において、ステップ＃９１２でＮｏの場合は、簡易サーティファイ手段３８による簡易サーティファイを実行した後、ステップ＃９１４へ移行する。
【００９１】
簡易サーティファイは、前述のように、データのリードチェックのみを行うか、又はＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う。サーティファイ処理を全く行わない場合に比べて全体のフォーマット処理時間は長くなるが、フォーマットの信頼性は増加する。また、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイを行う場合に比べて簡易サーティファイに要する時間は短くて済む。
【００９２】
なお、簡易サーティファイを行う場合は、当然のことながら、図２５のステップ＃９１６において、簡易サーティファイ中に検出された欠陥セクタと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録することになる。
【００９３】
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、本発明は、上記の実施形態を任意に組み合わせて実施してもよい。更に、それらの実施形態に限らず、他の形態で実施してもよい。
（付記１） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、前記複数のゾーンを非連続な順番でフォーマット処理することを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記２） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体であって、前記複数のゾーンが非連続な順番でフォーマット処理されたことを特徴とするディスク型記録媒体。
（付記３） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の欠陥情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した前記欠陥情報に基づいて欠陥個数の多いゾーンから順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記４） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の製造者等の媒体情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した媒体情報に基づいて、あらかじめ登録されたゾーンの順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記５） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを前記フォーマット手段に指示すると共に、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記６） 前記ディスク型記録媒体がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体であり、各ゾーンの欠陥情報がランドとグルーブとに分けて管理され、前記フォーマット処理の順番が各ゾーンのランド及びグルーブの単位で決定されることを特徴とする付記３、４又は５記載の情報記録再生装置。
（付記７） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、ユーザデータ領域のフォーマット処理を行う前に、前記欠陥情報を記録するＤＭＡ領域のフォーマット処理を行い、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理で欠陥が発生した場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラーとしてフォーマット処理を終了することを特徴とする情報記録再生装置。
（付記８） 同一の欠陥情報を記録する複数のＤＭＡ領域が前記ディスク型記録媒体の複数箇所に備えられ、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理において一部のＤＭＡ領域に欠陥が存在し、他のＤＭＡ領域には欠陥が存在しない場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行するに際して、前記欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するゾーンのユーザデータ領域からフォーマット処理を実行することを特徴とする付記７記載の情報記録再生装置。
（付記９） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、欠陥情報獲得手段により前記ディスク型記録媒体のＳＤＬ情報を取得するステップと、ＳＤＬ情報の存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１０） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、初期化データ読み取り手段により各ゾーンのデータを読み取るステップと、初期化データ以外のデータが存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１１） 処理時間通知手段により、フォーマット処理の終了までの時間をホストに通知するステップを更に備えたことを特徴とする付記９又は１０記載のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１２） 前記サーティファイの対象として検出されなかったゾーンについて、簡易サーティファイを実行するステップを更に備えたことを特徴とする付記９、１０又は１１記載のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
【００９４】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、ディスク型記録媒体及びそれを用いた情報記録再生装置によれば、従来のように論理アドレスの順番にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行うのではなく、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンの順番、あるいはディスク型記録媒体の特性によって欠陥個数が多いと予想されるゾーンの順番等にしたがって、非連続な順番でフォーマット処理が行われる。したがって、欠陥個数オーバーエラーが発生する場合は、従来の論理アドレスの順番にしたがって行われるフォーマット処理に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出される。
【００９５】
また、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階からなるサーティファイをすべてのゾーンについて行うのではなく、不必要と考えられるゾーンについては行わず、あるいは簡易サーティファイで済ませることにより、物理フォーマットに必要な全体の時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図３】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図８】本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図９】本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図１０】本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図１１】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクの構成を示す図である。
【図１２】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクのデータ記録領域におけるデータ記録単位であるセクタの情報を示す物理アドレスの構成例を示している。
【図１３】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置の制御手段が実行する処理を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のＤＭＡ検査結果記憶部の記憶情報の一例を示すテーブルである。
【図１５】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のユーザデータ領域のフォーマット処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１６】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置の検査結果記憶部の記憶データに基づいて次にフォーマットすべきバンド番号を算出する例を示すテーブルである。
【図１７】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置によるユーザデータ領域のフォーマット順序の決定に第１の実施形態の方法を適用した場合の例を示すフローチャートである。
【図１８】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のフォーマット順序記憶部の記憶情報の例を示すテーブルである。
【図１９】光磁気ディスクがランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体である場合のフォーマット順序記憶部記憶情報の例を示すテーブルである。
【図２０】本発明の第５の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２１】第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの前半部である。
【図２２】第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの後半部である。
【図２３】本発明の第６の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２４】第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの前半部である。
【図２５】第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの後半部である。
【符号の説明】
２１，３３ ホスト
２２，３２ 情報記録再生装置
２３，３１ ディスク型記録媒体
２４ 検出手段
２５ 制御手段
２６ フォーマット手段
３４ 物理フォーマット手段
３５ メモリ
３６ 欠陥情報獲得手段
３７ 処理時間通知手段
３８ 簡易サーティファイ手段
３９ 初期化データ読み取り手段
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、該ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、この方法でフォーマット処理された記憶媒体、及びこの記憶媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスク、光磁気ディスク等のディスク型記録媒体の高密度化、大記憶容量化に伴い、フォーマット（初期化）処理の処理時間が長くなってきている。例えば、最近実用化された１．３ギガバイトの記憶容量を有する光磁気ディスク（ＭＯ）の場合、約２０分の処理時間を要する。現在開発中の２．６ギガバイトの記憶容量を有する光磁気ディスクでは１時間近くの処理時間がフォーマット処理に必要となる。なお、ここでいうフォーマットは、いわゆる物理フォーマットを意味する。
【０００３】
このようなフォーマット処理において、所定のビットパターンを全データ記録領域に書き込んだ後、再生し照合するサーティフィケーションが行われる。その結果、欠陥個所（欠陥セクタ）が検出された場合は代替セクタが割り当てられ、その代替情報のリストがＤＭＡ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）と呼ばれる管理情報記録領域に記録される。ＤＭＡ領域は通常、ディスク型記憶媒体の最内周及び最外周に２箇所ずつ計４箇所設けられ、同じ代替情報が記憶される。
【０００４】
また、最近のディスク型記録媒体は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに回転数を変えるＺＣＡＶ方式、あるいはゾーンごとに読み出し線速度を変えるＺＣＬＶ方式が一般的である。この場合、ゾーンごとに上記代替セクタのためのスペア領域が確保されている。例えば６４０メガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは１１個のゾーン領域、１．３ギガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは１８個のゾーンに分けられている。なお、ディスク型記録媒体の種類によっては、「ゾーン」の代わりに「バンド」なる用語が用いられる。
【０００５】
上記のようなフォーマット処理を例えばディスク型記録媒体の検査工程で行うに際し、従来は、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は逆方向に順番にゾーン単位又は複数セクタ単位でフォーマット処理を行っていた。例えば、１２８メガバイト、２３０メガバイト、５４０メガバイト、６４０メガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは論理的な開始アドレス（ＬＢＡ０）が最内周にあり、内周から外周へ順番にフォーマット処理が行われる。１．３ギガバイトの記憶容量の光磁気ディスクでは論理的な開始アドレス（ＬＢＡ０）が最外周にあり、外周から内周へ順番にフォーマット処理が行われる。
【０００６】
従来のフォーマット処理の一例を図１から図３に基づいて説明する。図１は従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図２はそのフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図３はそのフォーマット処理のフローチャートである。
【０００７】
ホスト１１から光磁気ディスク装置１２に光磁気ディスク１３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃１０１）、光磁気ディスク装置１２のフォーマット手段１４は、図２に示すように、光磁気ディスク１３のフォーマット処理を行うゾーンの順番を論理アドレスの昇順にしたがって求める（ステップ＃１０２）。そして、ゾーン単位でイレーズ（消去）、ライト（書き込み）、ベリファイ（照合）の処理を行う。エラーが生じた場合は、規定回数の繰り返し（リトライ）を行う（ステップ＃１０３）。ライトデータは、設定可能な初期化データであり、デフォルトでは例えば１６進数のＣＦ２３が使用される。
【０００８】
規定回数のリトライでもエラーが解除されない場合（ステップ＃１０４のＹＥＳ）は、そのセクタを欠陥セクタとみなして、代替セクタを割り当て、欠陥情報（ＰＤＬ：一次欠陥情報）としてＤＭＡに登録する（ステップ＃１０６）。但し、その前に（ステップ＃１０５にて）、今までの累積欠陥個数が許容される総欠陥個数を超えたか否かがチェックされる。許容される総欠陥個数は記録媒体の種類に応じて規格値として決められており、例えば１．３ギガバイト容量の光磁気ディスクの場合は４，４３７個の欠陥が許容される。欠陥個数が規格値を超えた場合は、光磁気ディスク装置１２はフォーマット処理を中断し、ホスト１１に欠陥個数オーバーエラーが生じたことを通知する（ステップ＃１１０）。この光磁気ディスク１３はフォーマット処理が完了していないので、使用できないことになる。
【０００９】
欠陥個数が規格値を超えた場合以外はフォーマット処理が続行され、指定ゾーン内のフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃１０７のＹＥＳ）、次のゾーンのフォーマット処理を同様に繰り返す。全ゾーンのフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃１０８のＹＥＳ）、光磁気ディスク装置１２はホスト１１にフォーマット処理が正常終了したことを通知して（ステップ＃１０９）、処理を終了する。
【００１０】
上記のような物理フォーマットは、記録媒体のデータを全て消去する場合、長期間の使用の結果エラーが生じやすくなった場合、又は記録媒体のアクセス時間が長くなった場合に、記録媒体を再検査して欠陥セクタを再登録し、使用に適した記録媒体とするために行われる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、従来は、論理アドレスの昇順にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行っていたので、最終のゾーン又はその近くのゾーンで欠陥個数オーバーエラーが生じる場合があった。この場合、その記録媒体は結局使用できないので、それまでに費やしたフォーマット処理時間が無駄に終わることになる。前述のように、１．３ギガバイト容量の光磁気ディスクでは２０分近くの時間が無駄になる。
【００１２】
上記の時間ロスは、ディスク型記録媒体の検査工程における生産性の向上にとって障壁となる。また、ユーザがディスク型記録媒体の物理フォーマットを行う場合、長時間待たされた末にその記録媒体がフォーマットエラーになって使用できないというのは我慢し難いことである。
【００１３】
また、記録領域の一部しか使用していない記録媒体の物理フォーマットを行う場合でも、従来は全領域の物理フォーマットを行っていたので、使用者は物理フォーマットの終了まで長時間待つ必要があった。
【００１４】
本発明は、上記のような従来の課題に鑑みてなされたものであり、ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行う際に、その記録媒体が欠陥個数オーバーエラーによって使用不可になる場合は、フォーマット処理全体にかかる時間のうち、できるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出されるようにすることを目的とする。他の目的は、物理フォーマットに要する時間を短縮することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法は、径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、前記複数のゾーンを非連続な順番でフォーマット処理することを特徴とする。
また、本発明によるディスク型記録媒体は、径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体であって、前記複数のゾーンが非連続な順番でフォーマット処理されたことを特徴とする。
【００１６】
本発明による情報記録再生装置の第１の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の欠陥情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した前記欠陥情報に基づいて欠陥個数の多いゾーンから順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。
【００１７】
本発明による情報記録再生装置の第２の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の製造者等の媒体情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した媒体情報に基づいて、あらかじめ登録されたゾーンの順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。製造者等の媒体情報に応じて異なるゾーンごとの欠陥発生確率（特性テーブル）は予め制御手段内のメモリに記憶しておくことが好ましい。
【００１８】
本発明による情報記録再生装置の第３の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを前記フォーマット手段に指示すると共に、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えていることを特徴とする。
【００１９】
上記の第１から第３の情報記録再生装置の構成において好ましくは、ディスク型記録媒体がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体であり、各ゾーンの欠陥情報がランドとグルーブとに分けて管理され、前記フォーマット処理の順番が各ゾーンのランド及びグルーブの単位で決定される。
【００２０】
本発明による情報記録再生装置の第４の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、ユーザデータ領域のフォーマット処理を行う前に、前記欠陥情報を記録するＤＭＡ領域のフォーマット処理を行い、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理で欠陥が発生した場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラーとしてフォーマット処理を終了することを特徴とする。
【００２１】
好ましくは、同一の欠陥情報を記録する複数のＤＭＡ領域が前記ディスク型記録媒体の複数箇所に備えられ、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理において一部のＤＭＡ領域に欠陥が存在し、他のＤＭＡ領域には欠陥が存在しない場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行するに際して、前記欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するゾーンのユーザデータ領域からフォーマット処理を実行する。
【００２２】
上記のようなフォーマット処理方法及び情報記録再生装置によれば、従来のように論理アドレスの順番にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行うのではなく、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンの順番、あるいはディスク型記録媒体の特性によって欠陥個数が多いと予想されるゾーンの順番等にしたがって、非連続な順番でフォーマット処理が行われる。したがって、欠陥個数オーバーエラーが発生する場合は、従来の論理アドレスの順番にしたがって行われるフォーマット処理に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出される。
【００２３】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法の別の構成は、データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法において、欠陥情報獲得手段により前記ディスク型記録媒体のＳＤＬ情報（二次欠陥情報）を取得するステップと、ＳＤＬ情報の存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とする。
【００２４】
本発明によるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法の更に別の構成は、初期化データ読み取り手段により各ゾーンのデータを読み取るステップと、初期化データ以外のデータが存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とする。サーティファイの対象とすべきゾーンか否かを判断するために、初期化データ読み取り手段は、各ゾーンのすべてのデータを読み取ってもよいが、一部のデータ、例えば各ゾーンの先頭部、中央部、最終部を所定数のセクタずつ読み取るようにしてもよい。
【００２５】
好ましくは、上記のフォーマット処理方法において、処理時間通知手段により、フォーマット処理の終了までの時間をホストに通知するステップを更に備えていることが好ましい。
【００２６】
更に好ましくは、前記サーティファイの対象として検出されなかったゾーンについて、簡易サーティファイを実行するステップを備えている。簡易サーティファイとして、データのリードチェックのみを行う方法、又はＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う方法がよく知られている。
【００２７】
上記のようなフォーマット処理方法によれば、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階からなるサーティファイをすべてのゾーンについて行うのではなく、不必要なゾーンについては行わず、若しくは簡易サーティファイで済ませることにより、物理フォーマットに必要な全体の時間を短縮することができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
まず、本発明の第１の実施形態を図４から図６に基づいて説明する。図４は本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図５はそのフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図６はそのフォーマット処理のフローチャートである。
【００２９】
この実施形態は、フォーマット済みの光磁気ディスク２３の再フォーマットを行う場合の例である。この場合、前回のフォーマット処理における光磁気ディスク２３の欠陥情報（欠陥個数、欠陥の物理アドレス等）がＤＭＡ領域に記録されている。光磁気ディスク２３が長期間使い込まれたものである場合、通常は前回のフォーマット時よりも記録層が劣化しているために欠陥個数が増加している。しかし、欠陥個数のゾーンごとの分布は変わらないことが多い。つまり、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンは再フォーマットに際しても欠陥個数が多い可能性が高い。
【００３０】
光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３が挿入されると、光磁気ディスク装置２２の検出手段２４は、ＤＭＡ領域に記録されている前回のフォーマット処理における欠陥情報を取得する（ステップ＃２０１）。ホスト２１から光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃２０２）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、検出手段２４が取得した前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて、欠陥個数の多いゾーンから順番にフォーマット処理の対象ゾーンをフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃２０３）。
【００３１】
図５の例では、欠陥個数が最も多いＮｏ．１５のゾーンからフォーマット処理を開始し、次に欠陥個数が多いＮｏ．１１のゾーン、Ｎｏ．２のゾーン、Ｎｏ．８のゾーン、Ｎｏ．５のゾーンと順次フォーマット処理を行った後、欠陥個数がゼロのゾーンをゾーン番号順にフォーマット処理していく。
【００３２】
ステップ＃２０４において、指定ゾーンのフォーマット処理を行い、エラーが生じた場合は、規定回数の繰り返し（リトライ）を行う。規定回数のリトライでもエラーが解除されない場合（ステップ＃２０５のＹＥＳ）は、そのセクタを欠陥セクタとみなして、代替セクタを割り当て、欠陥情報としてＤＭＡに登録する（ステップ＃２０７）。但し、その前に、今までの累積欠陥個数が許容される総欠陥個数を超えたか否かがチェックされ、欠陥個数が規格値を超えた場合はフォーマット処理を中断し、ホスト２１に欠陥個数オーバーエラーが生じたことを通知する（ステップ＃２１１）。
【００３３】
欠陥個数が規格値を超えた場合以外はフォーマット処理が続行され、指定ゾーン内のフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃２０８のＹＥＳ）、次のゾーンのフォーマット処理を同様に繰り返す。全ゾーンのフォーマット処理が完了すれば（ステップ＃２０９のＹＥＳ）、ホスト２１にフォーマット処理が正常終了したことが通知され（ステップ＃２１０）、処理を終了する。
【００３４】
本実施形態によれば、前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて今回のフォーマット処理でも欠陥個数が多いと予測されるゾーンから順番にフォーマット処理を行うので、欠陥個数オーバーエラーが生じる場合は、従来の論理アドレス順にフォーマット処理を行う場合に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが生じる。つまり、欠陥個数オーバーエラーが分かるまでの待ち時間が短くなる。
【００３５】
次に、本発明の第２の実施形態を図４、図７及び図８に基づいて説明する。図７は本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図８はそのフォーマット処理のフローチャートである。フォーマット処理の制御ブロック図は第１実施形態で用いた図４と同じである。
【００３６】
この実施形態では、光磁気ディスク２３のコントロールトラック情報として記録されている製造者等の媒体情報に基づいて予測される欠陥発生確率の高いゾーンから順にフォーマット処理を行う。光磁気ディスクは、製造者によって、内周側のゾーンほど欠陥個数が多い、あるいは外周側のゾーンほど欠陥個数が多いといった特性を有する。そこで、製造者等の媒体情報に基づいて、欠陥が多いと予測される（欠陥発生確率の高い）ゾーンから順にフォーマット処理を行うことにより、第１の実施形態と同様に、フォーマット処理において欠陥個数オーバーエラーが分かるまでの待ち時間が短くなる効果が得られる。
【００３７】
光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３が挿入されると、光磁気ディスク装置２２の検出手段２４は、コントロールトラック情報領域に記録されている媒体情報を取得する（ステップ＃３０１）。ホスト２１から光磁気ディスク装置２２に光磁気ディスク２３のフォーマット処理を指示するコマンドが渡されると（ステップ＃３０２）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、検出手段２４が取得した媒体情報ごとにあらかじめ登録しておいた欠陥発生確率の高いゾーンから順番にフォーマット処理の対象ゾーンをフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃３０３）。
【００３８】
図７の例では、欠陥発生確率が最も高いＮｏ．１５のゾーンからフォーマット処理を開始し、次に欠陥発生確率が高いＮｏ．１１のゾーン、Ｎｏ．２のゾーン、Ｎｏ．８のゾーン、Ｎｏ．５のゾーンと順次フォーマット処理を行った後、欠陥発生確率が低いゾーンをゾーン番号順にフォーマット処理していく。
【００３９】
制御手段２５には、製造者等の媒体情報と欠陥発生確率が高いゾーンの順番との関係がテーブルとして予め記憶され、制御手段２５は、検出手段２４が取得した媒体情報でこのテーブルを参照することによってフォーマット処理を行うゾーンの順番を決定する。製造者の他に、製造ロット番号、製造に用いたスタンパ（金型）の番号等の媒体情報を用いて欠陥発生確率の高いゾーンの順番を推定することも可能である。
【００４０】
図８のステップ＃３０４からステップ＃３１１の処理は、第１の実施形態で説明した図６のステップ＃２０４からステップ＃２１１の処理と同じであるので、説明は省略する。
【００４１】
次に、本発明の第３の実施形態を図４、図９及び図１０に基づいて説明する。図９は本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。図１０はそのフォーマット処理のフローチャートである。フォーマット処理の制御ブロック図は第１の実施形態で用いた図４と同じである。
【００４２】
本実施形態において、光磁気ディスク２３は１．３ギガバイトの記憶容量を有し、データ記録領域が１８ゾーンに分けられ、許容される最大欠陥個数が４，４３７個である。また、極端な例ではあるが、図９に示すように、Ｎｏ．０からＮｏ．１２のゾーンは欠陥個数がゼロであり、Ｎｏ．１３からＮｏ．１７のゾーンはそれぞれ１００個、５００個、１，０００個、２，０００個、８３８個の欠陥を有すると仮定する。この場合、全欠陥個数は４，４３８個であるから、許容される最大欠陥個数が４，４３７個を超え、欠陥個数オーバーエラーが発生することになる。従来のように、Ｎｏ．０からＮｏ．１７のゾーンへ順番にフォーマット処理を行う場合は、フォーマット処理時間（約２０分）が経過する直前で欠陥個数オーバーエラーが発生することになる。
【００４３】
本実施形態では、制御手段２５がフォーマット手段２６に対して、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを指示する。図９の例では、Ｎｏ．０のゾーン、Ｎｏ．３のゾーン、Ｎｏ．６のゾーンというように、２つのゾーンおきにフォーマット処理の対象とする。そして、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとしてフォーマット手段２６に指示する。
【００４４】
図９の例では、しきい値が２００個に設定されている。そして、２つのゾーンおきにフォーマット処理を進めて、６番目のゾーンであるＮｏ．１５のゾーンのフォーマット処理をしたときに、その欠陥個数がしきい値の２００個を超える。Ｎｏ．１５のゾーンの欠陥個数がしきい値の２００個を超えない場合は、Ｎｏ．１のゾーンから２つのゾーンおきにフォーマット処理を継続するが、図９の例ではＮｏ．１５の欠陥個数が２００個を超えた（１，０００個）ので、Ｎｏ．１５のゾーンに隣接する未フォーマットのゾーンを先にフォーマット処理の対象とする。図９の例ではＮｏ．１５の前後２ゾーンずつ計４つのゾーン（Ｎｏ．１３，１４，１６，１７）が未処理であるので、これらのゾーンを先にフォーマット処理してから、Ｎｏ．１のゾーンに戻って２つのゾーンおきにフォーマット処理を継続することになる。
【００４５】
ところが、図９の例では、１０番目のフォーマット処理の対象となったＮｏ．１７のゾーンをフォーマット処理した段階でそれまでの欠陥個数が４，４３８個となり、許容される最大欠陥個数が４，４３７個を超えるので、欠陥個数オーバーエラーが発生する。つまり、従来の１８番目（最後）のゾーンで欠陥個数オーバーエラーが発生する場合に比べて，早い段階で欠陥個数オーバーエラーが発生するので、無駄になる時間が少なくて済む。
【００４６】
図１０のフローチャートにおいて、検出手段２４が光磁気ディスク２３の媒体情報を取得した（ステップ＃４０１）後、ホスト２１が光磁気ディスク装置２２にフォーマットコマンドを発行する（ステップ＃４０２）。すると、制御手段２５は上記のようにフォーマット手段２６に対して、１又は複数のゾーンおきに（非連続に）フォーマット処理の対象ゾーンを指示する（ステップ＃４０４）、但し、繰り返し処理の２回目以降においては、先にフォーマットしたゾーンの欠陥個数がしきい値を超えたか否かがチェックされ（ステップ＃４０３）、超えなかった場合は上記の如く次のフォーマット処理の対象ゾーンが非連続に指示されるが、しきい値を超えた場合は、前述の如く、当該ゾーンの隣接ゾーンを先にフォーマット処理の対象としてフォーマット手段２６に指示する（ステップ＃４０５）。ステップ＃４０６からステップ＃４１３の処理は第１の実施形態で説明した図６のステップ＃２０４からステップ＃２１１の処理と同じであるので、説明は省略する。
【００４７】
本実施形態は、欠陥個数が多いゾーンはある程度纏って発生することが多い性質を利用して、１又は複数のゾーンおきに（非連続に）フォーマット処理を行うことにより、欠陥個数が多い領域をできるだけ早く見つけるものである。そして、欠陥個数がしきい値より多いゾーンが見つかれば、その前後のゾーンも欠陥個数が多い可能性が高いので、これらのゾーンのフォーマット処理を先に行うことにより、欠陥個数オーバーエラーが発生する光磁気ディスク２３の場合は、フォーマット処理のできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーを発生させることができる。
【００４８】
次に、本発明の第４の実施形態を説明する。
図１１は、本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクの構成を示す図である。本実施形態の光磁気ディスクは、データ記録領域が２２個のバンド（Ｂａｎｄ＃１からＢａｎｄ＃２２）に分けられている。このバンドは、既述の実施形態でデータ記録領域を径方向に分けたゾーンに相当する。ディスク記録媒体の種類によって「ゾーン」と呼んだり「バンド」と呼んだりするが、特に相違点は無い。図１１の光磁気ディスクでは、第１バンド（Ｂａｎｄ＃１）に２つのＤＭＡ領域（ＤＭＡ＃１及びＤＭＡ＃２）が含まれ、第２２バンド（Ｂａｎｄ＃２２）に２つのＤＭＡ領域（ＤＭＡ＃３及びＤＭＡ＃４）が含まれている。
【００４９】
図１２は、データ記録領域におけるデータ記録単位であるセクタの情報を示す物理アドレスの構成例を示している。この例では物理アドレスは４バイトからなり、５ビットのバンド番号、１２ビットのトラック番号及び７ビットのフレーム番号を含んでいる。更に、ランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の光磁気ディスクの場合は、ランドかグルーブかを識別する１ビットのフラグが含まれている。
【００５０】
図１３は、本実施形態の光磁気ディスク装置の制御手段が実行する処理を示すフローチャートである。なお、本実施形態の光磁気ディスク装置のフォーマット制御に関するブロック構成は図４に示した既述の実施形態と同様である。
【００５１】
ホスト２１からフォーマットコマンドを受信すると（ステップ＃５０１）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、まずＤＭＡ＃１領域のフォーマット（サーティファイともいう）処理を実行する（ステップ＃５０２及び５０３）。この処理では、ＤＭＡ＃１の先頭セクタから最終セクタまでの各セクタに、任意のデータ（例えば、０から始まるインクリメントパターン）を書き込んだ後、そのデータを読み出し、照合する。その結果、欠陥セクタが検出された場合（ステップ＃５０４のＹＥＳ）は、図１４に示すＤＭＡ検査結果記憶部にＤＭＡ欠陥であることを記憶しておく。つまり、ＤＭＡ＃１フラグをリセットする（ステップ＃５０５）。欠陥セクタが検出されなかった場合（ステップ＃５０４のＮＯ）は、ＤＭＡ＃１フラグをセットする（ステップ＃５０６）。
【００５２】
次に、ＤＭＡ番号をインクリメントして（ステップ＃５０７）、ＤＭＡ＃２領域についてステップ＃５０３からステップ＃５０６のフォーマット処理を実行する。同様にして、ＤＭＡ＃４領域のフォーマット処理を終了するまで（ステップ＃５０８のＹＥＳ）上記の処理を繰り返す。なお、本実施形態では４個のＤＭＡ領域をＤＭＡ＃１から順番にフォーマットしているが、ＤＭＡ領域の個数及びフォーマット順序は変更可能である。
【００５３】
全てのＤＭＡ領域のフォーマット処理が完了した後、ＤＭＡ検査結果記憶部の記憶データが読み出され、全てのＤＭＡ領域に欠陥があると判定されたとき（ステップ＃５０９のＹＥＳ）は、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずに、ホストへエラー終了を報告し（ステップ＃５１０）、フォーマット処理を終了する。複数のＤＭＡ領域の一つでも正常である場合は、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行する（ステップ＃５１１）。
【００５４】
複数のＤＭＡ領域の全てに欠陥がある場合は、正常な光磁気ディスクとして使用することができないが、上記の処理によれば、フォーマット処理において最短の時間でそのことが判定される。
【００５５】
図１５は、図１３のフローチャートにおけるステップ＃５１１の処理、すなわち、ユーザデータ領域のフォーマット処理の詳細を示すフローチャートである。複数のＤＭＡ領域のうち、一部のＤＭＡ領域に欠陥がある場合は、欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するバンド（ゾーン）のユーザデータ領域からフォーマット処理を実行する。
【００５６】
図１５において、先ず図１４の検査結果記憶部の記憶データに基づいて、欠陥が存在するＤＭＡ領域のバンド番号が算出され（ステップ＃６０１）、このバンドのユーザデータ領域のフォーマット処理が実行される（ステップ＃６０２）。この時点で欠陥セクタ個数のオーバフローが生じた場合（ステップ＃６０３のＹＥＳ）は、ホストに異常終了（欠陥オーバーフローエラー終了）を報告し（ステップ＃６０４）、フォーマット処理を終了する。そうでない場合（ステップ＃６０３のＮＯ）は、全データ領域のフォーマットが終了するまで（ステップ＃６０５のＹＥＳ）、処理が継続する。
【００５７】
すなわち、検査結果記憶部の記憶データに基づいて、次にフォーマット処理すべきバンド番号が算出され（ステップ＃６０６）、ステップ＃６０２からステップ＃６０５の処理が繰り返される。全データ領域のフォーマットが終了すれば（ステップ＃６０５のＹＥＳ）、ユーザデータ領域のフォーマット結果がＤＭＡに登録され（ステップ＃６０７）、ホストに正常終了が報告されて（ステップ＃６０８）フォーマット処理が終了する。
【００５８】
図１６は、図１５中のステップ＃６０１及び＃６０６において、検査結果記憶部の記憶データに基づいて次にフォーマットすべきバンド番号を算出する例を示すテーブルである。但し、ケースＡは４個のＤＭＡ領域の全てに欠陥がある場合であり、この場合は前述のように、ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラー終了となる。
【００５９】
図１６において、ケースＢは、ＤＭＡ＃１のみが正常であり、ＤＭＡ＃２，３，４に欠陥がある場合である。この場合、２つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃２２（図１１参照）のユーザデータ領域が最初にフォーマット処理の対象となり、次に１つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となる。ケースＣは、ＤＭＡ＃２のみが正常な場合であり、この場合はケースＢと同じフォーマット処理の順番となる。
【００６０】
ケースＤ及びケースＥの場合は逆に、Ｂａｎｄ＃１に２つの欠陥ＤＭＡ領域が属するので、先にＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その次に１つの欠陥ＤＭＡ領域が属するＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となる。
【００６１】
ケースＦは２つの欠陥ＤＭＡ領域が共にＢａｎｄ＃２２に属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＧ，Ｈ，Ｉ及びＪは２つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃１とＢａｎｄ＃２２とに１つずつ属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、Ｂａｎｄ＃１及び＃２２のいずれか一方（任意）をフォーマット処理の対象とした後、他方をフォーマット処理の対象とする。ケースＫは２つの欠陥ＤＭＡ領域が共にＢａｎｄ＃１に属し、残り２つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。
【００６２】
ケースＬ及びＮは１つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃２２に属し、残り３つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃２２のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＭ及びＯは１つの欠陥ＤＭＡ領域がＢａｎｄ＃１に属し、残り３つのＤＭＡ領域は正常な場合であり、まずＢａｎｄ＃１のユーザデータ領域がフォーマット処理の対象となり、その後は任意である。ケースＰは、４個のＤＭＡ領域の全てに欠陥が無い場合であり、この場合は任意の順番でフォーマット処理を行うことができる。
【００６３】
上記のように、複数のＤＭＡ領域のフォーマット結果に基づいて、各ＤＭＡ領域が属するバンドのユーザデータ領域に関して欠陥が多いか少ないかを予測してそのフォーマット順序を決めることにより、欠陥個数オーバーエラーが発生する光磁気ディスクの場合は、フォーマット処理のできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーを発生させることができる。
【００６４】
また、ＤＭＡ領域が属するバンド以外のユーザデータ領域のフォーマット順については、既述の実施形態のようにしてできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーが分かるようにすることができる。例えば、２回目以後のフォーマットの場合は、第１の実施形態で述べたように、前回のフォーマット処理における光磁気ディスクの欠陥情報に基づいて、欠陥個数が多いと予測されるバンドの順番にフォーマットを行う。以下、本実施形態のユーザデータ領域のフォーマット順序の決定に第１の実施形態の方法を適用した場合の例を図１７のフローチャートに沿って説明する。
【００６５】
一般に、光磁気ディスク装置２２は、光磁気ディスク２３が挿入されたときに、光磁気ディスク２３のＤＭＡ領域の情報を読み出して、光磁気ディスク装置２２内のメモリに記憶しておく処理を行う。そこで、ＤＭＡに前回のフォーマット処理における欠陥情報が存在する場合は、図１４に示したＤＭＡ検査結果記憶部の欠陥セクタ情報有無の欄にフラグをセットしておく（ビット０）。
【００６６】
図１７のフローチャートにおいて、ホスト２１からフォーマットコマンドを受信すると（ステップ＃７０１）、光磁気ディスク装置２２の制御手段２５は、後述するフォーマット順序記憶部からフォーマット対象のバンド番号を読み出すための変数ｎを０に初期化（ステップ＃７０２）した後、検査結果記憶部の欠陥セクタ情報有無を示すフラグを調べる（ステップ＃７０３）。このフラグがセットされている場合、すなわち欠陥セクタ情報が有る場合は、メモリに記憶されている前回のフォーマット処理における欠陥情報に基づいて、欠陥個数の多いバンドから順にフォーマット処理を行うように、フォーマット順序記憶部にバンド番号を格納する（ステップ＃７０４）。また、フラグがセットされていない場合、つまり欠陥セクタ情報が無い場合は、通常のバンド番号順にフォーマット処理を行うように、フォーマット順序記憶部にバンド番号を格納する（ステップ＃７０５）。
【００６７】
図１８は、フォーマット順序記憶部の記憶情報の例を示すテーブルである。欠陥セクタ情報には欠陥セクタが物理アドレス形式で登録され、物理アドレスは図１２に示したように、バンド番号、トラック番号及びフレーム番号で構成されている。したがって、欠陥セクタの属するバンドの判定は、物理アドレス内のバンド番号によって行われる。
【００６８】
上記のようにしてフォーマット順序記憶部の記憶情報、すなわちフォーマットを行うバンド番号の順序が確定すると、制御手段２５はフォーマット順序記憶部から最初（ｎ＝０）にフォーマットすべきバンド番号を取り出して（ステップ＃７０６）、そのバンドのフォーマットを実行する（ステップ＃７０７）。このとき欠陥個数オーバーフローエラーが発生すれば（ステップ＃７０８のＹＥＳ）、ホスト２１へエラー終了を報告して処理を終了する。欠陥個数オーバーフローエラーが発生しない場合は、全データ領域のフォーマットが終了するまで（ステップ＃７１０のＹＥＳ）、変数ｎをインクリメントして（ステップ＃７１１）、ステップ＃７０６からステップ＃７１０の処理を繰り返す。全データ領域のフォーマットが終了すれば（ステップ＃７１０のＹＥＳ）、ホストに正常終了が報告されて（ステップ＃７１２）フォーマット処理が終了する。
【００６９】
図１９は、光磁気ディスク２３がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体である場合のフォーマット順序記憶部記憶情報の例を示すテーブルである。この例では、バンドごとの欠陥セクタ数を算出する際に、ランドとグルーブとに分けて算出し、フォーマット処理の順番をバンド番号だけでなく、ランド及びグルーブの単位で分けて決定する。したがって、左端欄の検査順を示す番号は、図１８のテーブルの２倍、すなわち１ｓｔから４４ｔｈまで４４個ある。そしてＢｉｔ７は、ランド又はグルーブの区別を示すビットである。
【００７０】
図２０は、本発明の第５の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。図２０において、３１は光磁気ディスク媒体、３２は光磁気ディスク媒体３１のリード／ライトを行う光磁気ディスク装置、３３は光磁気ディスク装置３２に対して物理フォーマットコマンドを発行するホストである。
【００７１】
光磁気ディスク装置３２は、光磁気ディスク媒体３１に初期化データを書き込んでサーティファイを行う物理フォーマット手段３４の他に、メモリ３５、欠陥情報獲得手段３６、処理時間通知手段３７、簡易サーティファイ手段３８を備えている。
【００７２】
メモリ３５は、ホスト３３からの情報や光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報を記憶する。欠陥情報獲得手段３６は、光磁気ディスク媒体３１を光磁気ディスク装置３２にロードしたときに、ＤＭＡに含まれるＰＤＬ（一次欠陥情報）及びＳＤＬ（二次欠陥情報）のセクタアドレスを獲得する。処理時間通知手段３７は、物理フォーマットに要する時間を求めてホストに通知する。簡易サーティファイ手段３８の働きについては後述する。
【００７３】
図２１及び図２２は、第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートである。ステップ＃８０１において、光磁気ディスク媒体３１が光磁気ディスク装置３２にロードされると、欠陥情報獲得手段３６がＰＤＬ及びＳＤＬのアドレスを獲得し、メモリ３５に格納する（ステップ＃８０２）。ステップ＃８０３でホスト３３から光磁気ディスク装置３２に対してフォーマットコマンドが指示されると、物理フォーマット手段３４はメモリ３５から読み出したＳＤＬアドレスから各ゾーンのＳＤＬの個数（有無を含む）を求める（ステップ＃８０４）。
【００７４】
ステップ＃８０５において、処理時間通知手段３７は、サーティファイを行う各ゾーンの平均サーティファイ時間から全体の物理フォーマット処理時間を求める。つまり、サーティファイ対象ゾーンのあらかじめ求めた平均サーティファイ時間を加算して物理フォーマットに要する時間を求め、ホストに通知する。使用者は、物理フォーマットが終了するまでの間、別の作業を行うことができる。但し、このステップ＃８０５の処理（処理時間通知手段３７）は必須ではなく、省略可能である。
【００７５】
ステップ＃８０６以降の処理において、物理フォーマット手段３４は、ゾーンごとにサーティファイ処理を実行する。ステップ＃８０７では現在のゾーンにＳＤＬが存在するか否かをチェックし、存在する場合はステップ＃８０８で初期化データを書き込んでサーティファイ処理を実行した後、次のゾーンを処理対象とする（ステップ＃８０９）。現在のゾーンにＳＤＬが存在しない場合は、サーティファイ処理を実行せずにステップ＃８０９へ移行する。サーティファイ処理中に検出された欠陥セクタはメモリ３５に記憶される。
【００７６】
ステップ＃８１０で全ゾーンの初期化（フォーマット、サーティファイ）が終了したか否かがチェックされ、全ゾーンの初期化が終了するまでステップ＃８０７からステップ＃８１０までの処理が繰り返される。全ゾーンの初期化が終了すれば、物理フォーマット手段３４はステップ＃８１１において、物理フォーマット前にサーティファイしなかったゾーンに存在していたＰＤＬと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録する。最後にステップ＃８１２で物理フォーマットの終了をホスト３３に報告して処理を終了する。
【００７７】
一般に、ＳＤＬ（二次欠陥情報）が無いゾーンは、物理フォーマット後、一度も使用していないか、書き込みエラーが一度も発生していないとみなせるので、サーティファイを再度行う必要性に乏しい。本実施形態は、この点に着目し、ＳＤＬが存在しないゾーンのサーティファイを省略する物理フォーマットを行うことにより、物理フォーマットに必要な時間を短縮することができる。
【００７８】
上記の実施形態の変形例として、ステップ＃８０７で現在のゾーンにＳＤＬが存在しない場合に、サーティファイ処理を省略する代わりに、簡易サーティファイを実行するようにしてもよい。図２０における簡易サーティファイ手段３８がこの働きを担う。したがって、図２２において、ステップ＃８０７でＮｏの場合は、簡易サーティファイ手段３８による簡易サーティファイを実行した後、ステップ＃８０９へ移行する。
【００７９】
簡易サーティファイとして良く知られている方法には２種類有る。その一つは、データのリードチェック（１６進数のＣＦ２３のような初期化データとのベリファイ）のみを行う簡易サーティファイである。他の１つは、ＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う簡易サーティファイである。後者のほうが処理時間は短くて済むが、ＥＣＣによるエラー検出能力を超えるエラーは検出できない。いずれにせよ、サーティファイ処理を全く行わない場合に比べて全体のフォーマット処理時間は長くなるが、フォーマットの信頼性は増加する。また、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイを行う場合に比べて簡易サーティファイに要する時間は短くて済む。
【００８０】
なお、簡易サーティファイを行う場合は、当然のことながら、図２２のステップ＃８１１において、簡易サーティファイ中に検出された欠陥セクタと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録することになる。
【００８１】
図２３は、本発明の第６の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。第５の実施形態で参照した図２０の構成と異なる点は、欠陥情報獲得手段３６が初期化データ読み取り手段３９に置き換えられた点であり、他は同じである。
【００８２】
図２４及び図２５は、第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートである。ステップ＃９０１において、光磁気ディスク媒体３１が光磁気ディスク装置３２にロードされると、欠陥情報獲得手段３６がＰＤＬ及びＳＤＬのアドレスを獲得し、メモリ３５に格納する（ステップ＃９０２）。ステップ＃９０３でホスト３３から光磁気ディスク装置３２に対してフォーマットコマンドが指示されると、初期化データ読み取り手段３９が指定ゾーンの全データを読み取る（ステップ＃９０４）。
【００８３】
読み取りエラーが発生した場合（ステップ＃９０５のＹｅｓ）は、該ゾーンの読み取りを中断し、本ゾーンがサーティファイ処理の対象であることをメモリ３５に記憶して（ステップ＃９０７）次のゾーンの読み取りに移行する（ステップ＃９０８）。指定ゾーンのデータの中に初期化データ（例えば１６進数のＣＦ２３）と異なるデータが検出された場合（ステップ＃９０６のＮｏ）も、該ゾーンの読み取りを中断し、本ゾーンがサーティファイ処理の対象であることをメモリ３５に記憶して（ステップ＃９０７）次のゾーンの読み取りに移行する（ステップ＃９０８）。
【００８４】
ステップ＃９０９で全ゾーンの読み取りが終了したか否かをチェックし、全ゾーンの読み取りが終了するまで、ステップ＃９０４からステップ＃９０９までの処理が繰り返される。全ゾーンの読み取りが終了すれば、ステップ＃９１０において、処理時間通知手段３７は、サーティファイ対象ゾーンのあらかじめ求めた平均サーティファイ時間を加算して物理フォーマットに要する時間を求め、ホストに通知する。但し、このステップ＃９１０の処理（処理時間通知手段３７）は必須ではなく、省略可能である。
【００８５】
ステップ＃９１１以降の処理において、物理フォーマット手段３４は、ゾーンごとにサーティファイ処理を実行する。まず、ステップ＃９１２において、現在のゾーンがサーティファイ処理の対象であるか否かをチェックする。前述のように、サーティファイ処理の対象であるゾーンはステップ＃９０７でメモリ３５に記憶されている。サーティファイ処理の対象である場合はステップ＃９１３で初期化データを書き込んでサーティファイ処理を実行した後、次のゾーンを処理対象とする（ステップ＃９１４）。サーティファイ処理の対象でない場合は、サーティファイ処理を実行せずにステップ＃９１４へ移行する。サーティファイ処理中に検出された欠陥セクタはメモリ３５に記憶される。
【００８６】
ステップ＃９１５で全ゾーンの初期化が終了したか否かがチェックされ、全ゾーンの初期化が終了するまでステップ＃９１２からステップ＃９１５までの処理が繰り返される。全ゾーンの初期化が終了すれば、物理フォーマット手段３４はステップ＃９１６において、物理フォーマット前にサーティファイしなかったゾーンに存在していたＰＤＬと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録する。最後にステップ＃９１７で物理フォーマットの終了をホスト３３に報告して処理を終了する。
【００８７】
一般に、初期化データのままであるゾーンは、全く使用されていない可能性が高く、サーティファイを再度実施する必要性はあまりない。本実施形態はこの点に着目し、初期化データのままであるゾーンのサーティファイを省略する物理フォーマットを行うことにより、物理フォーマットに必要な時間を短縮することができる。サーティファイが必要なゾーンか否かを判断するためのデータ読み取り（ステップ＃９０４）が必要となるが、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階が必要なサーティファイに比べて、読み取り（リード）だけの処理は短くて済む。
【００８８】
上記の実施形態では、ステップ＃９０４において、指定ゾーンの全データを読み取ったが、変形例として、一部のデータを読み取るようにしてもよい。例えば、各ゾーンの先頭部、中央部、最終部を所定数のセクタずつ読み取る。そして、それらのデータの内に初期化データと異なるデータが検出された場合（ステップ＃９０６のＮｏ）は、ステップ＃９０７においてサーティファイの対象ゾーンとして記憶する。
【００８９】
こうすることにより、サーティファイが必要なゾーンか否かを判断するためのデータ読み取り時間を短縮することができる。その結果、物理フォーマットに必要な全体の時間を更に短縮することができる。
【００９０】
また、本実施形態の別の変形例として、ステップ＃９１２で現在のゾーンがサーティファイの対象でない場合、すなわち、初期化データと異なるデータが検出されなかった場合に、サーティファイ処理を省略する代わりに、簡易サーティファイを実行するようにしてもよい。図２３における簡易サーティファイ手段３８がこの働きを担う。したがって、図２５において、ステップ＃９１２でＮｏの場合は、簡易サーティファイ手段３８による簡易サーティファイを実行した後、ステップ＃９１４へ移行する。
【００９１】
簡易サーティファイは、前述のように、データのリードチェックのみを行うか、又はＥＣＣ（チェック用データ）のみのリードチェックを行う。サーティファイ処理を全く行わない場合に比べて全体のフォーマット処理時間は長くなるが、フォーマットの信頼性は増加する。また、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイを行う場合に比べて簡易サーティファイに要する時間は短くて済む。
【００９２】
なお、簡易サーティファイを行う場合は、当然のことながら、図２５のステップ＃９１６において、簡易サーティファイ中に検出された欠陥セクタと、イレーズ、ライト、ベリファイのサーティファイ中に検出された欠陥セクタとをマージし、新たなＰＤＬとして、光磁気ディスク媒体３１の欠陥情報記録領域（ＤＭＡ）に記録することになる。
【００９３】
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、本発明は、上記の実施形態を任意に組み合わせて実施してもよい。更に、それらの実施形態に限らず、他の形態で実施してもよい。
（付記１） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、前記複数のゾーンを非連続な順番でフォーマット処理することを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記２） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体であって、前記複数のゾーンが非連続な順番でフォーマット処理されたことを特徴とするディスク型記録媒体。
（付記３） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の欠陥情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した前記欠陥情報に基づいて欠陥個数の多いゾーンから順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記４） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の製造者等の媒体情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した媒体情報に基づいて、あらかじめ登録されたゾーンの順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記５） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを前記フォーマット手段に指示すると共に、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
（付記６） 前記ディスク型記録媒体がランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体であり、各ゾーンの欠陥情報がランドとグルーブとに分けて管理され、前記フォーマット処理の順番が各ゾーンのランド及びグルーブの単位で決定されることを特徴とする付記３、４又は５記載の情報記録再生装置。
（付記７） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、ユーザデータ領域のフォーマット処理を行う前に、前記欠陥情報を記録するＤＭＡ領域のフォーマット処理を行い、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理で欠陥が発生した場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行せずにエラーとしてフォーマット処理を終了することを特徴とする情報記録再生装置。
（付記８） 同一の欠陥情報を記録する複数のＤＭＡ領域が前記ディスク型記録媒体の複数箇所に備えられ、前記ＤＭＡ領域のフォーマット処理において一部のＤＭＡ領域に欠陥が存在し、他のＤＭＡ領域には欠陥が存在しない場合は、前記ユーザデータ領域のフォーマット処理を実行するに際して、前記欠陥が存在するＤＭＡ領域が属するゾーンのユーザデータ領域からフォーマット処理を実行することを特徴とする付記７記載の情報記録再生装置。
（付記９） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、欠陥情報獲得手段により前記ディスク型記録媒体のＳＤＬ情報を取得するステップと、ＳＤＬ情報の存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１０） データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、初期化データ読み取り手段により各ゾーンのデータを読み取るステップと、初期化データ以外のデータが存在するゾーンをサーティファイの対象として検出するステップと、前記サーティファイの対象として検出されたゾーンのみについて、イレーズ、ライト、ベリファイによるサーティファイを実行するステップとを備えたことを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１１） 処理時間通知手段により、フォーマット処理の終了までの時間をホストに通知するステップを更に備えたことを特徴とする付記９又は１０記載のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
（付記１２） 前記サーティファイの対象として検出されなかったゾーンについて、簡易サーティファイを実行するステップを更に備えたことを特徴とする付記９、１０又は１１記載のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
【００９４】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明のディスク型記録媒体のフォーマット処理方法、ディスク型記録媒体及びそれを用いた情報記録再生装置によれば、従来のように論理アドレスの順番にしたがって、ディスク型記録媒体の内周から外周へ、又は外周から内周へ順番にフォーマット処理を行うのではなく、前回のフォーマット時に欠陥個数が多かったゾーンの順番、あるいはディスク型記録媒体の特性によって欠陥個数が多いと予想されるゾーンの順番等にしたがって、非連続な順番でフォーマット処理が行われる。したがって、欠陥個数オーバーエラーが発生する場合は、従来の論理アドレスの順番にしたがって行われるフォーマット処理に比べて、早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出される。
【００９５】
また、イレーズ、ライト、ベリファイの３段階からなるサーティファイをすべてのゾーンについて行うのではなく、不必要と考えられるゾーンについては行わず、あるいは簡易サーティファイで済ませることにより、物理フォーマットに必要な全体の時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図３】従来の光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図８】本発明の第２の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図９】本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の順序を示すテーブルである。
【図１０】本発明の第３の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理のフローチャートである。
【図１１】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクの構成を示す図である。
【図１２】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスクのデータ記録領域におけるデータ記録単位であるセクタの情報を示す物理アドレスの構成例を示している。
【図１３】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置の制御手段が実行する処理を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のＤＭＡ検査結果記憶部の記憶情報の一例を示すテーブルである。
【図１５】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のユーザデータ領域のフォーマット処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１６】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置の検査結果記憶部の記憶データに基づいて次にフォーマットすべきバンド番号を算出する例を示すテーブルである。
【図１７】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置によるユーザデータ領域のフォーマット順序の決定に第１の実施形態の方法を適用した場合の例を示すフローチャートである。
【図１８】本発明の第４の実施形態に係る光磁気ディスク装置のフォーマット順序記憶部の記憶情報の例を示すテーブルである。
【図１９】光磁気ディスクがランド及びグルーブの両方にデータを記録するランド・グルーブ方式の記録媒体である場合のフォーマット順序記憶部記憶情報の例を示すテーブルである。
【図２０】本発明の第５の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２１】第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの前半部である。
【図２２】第５の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの後半部である。
【図２３】本発明の第６の実施形態に係る光磁気ディスク装置におけるフォーマット処理の制御ブロック図である。
【図２４】第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの前半部である。
【図２５】第６の実施形態における物理フォーマット処理のフローチャートの後半部である。
【符号の説明】
２１，３３ ホスト
２２，３２ 情報記録再生装置
２３，３１ ディスク型記録媒体
２４ 検出手段
２５ 制御手段
２６ フォーマット手段
３４ 物理フォーマット手段
３５ メモリ
３６ 欠陥情報獲得手段
３７ 処理時間通知手段
３８ 簡易サーティファイ手段
３９ 初期化データ読み取り手段
Claims (5)
- 径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体のフォーマット処理方法であって、前記複数のゾーンを非連続な順番でフォーマット処理することを特徴とするディスク型記録媒体のフォーマット処理方法。
- 径方向に複数のゾーンに分けられたデータ記録領域と、ゾーンごとに欠陥情報を管理するためのＤＭＡ領域とを有するディスク型記録媒体であって、前記複数のゾーンが非連続な順番でフォーマット処理されたことを特徴とするディスク型記録媒体。
- データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の欠陥情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した前記欠陥情報に基づいて欠陥個数の多いゾーンから順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
- データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、前記ディスク型記録媒体の製造者等の媒体情報を取得する検出手段と、前記検出手段が取得した媒体情報に基づいて、あらかじめ登録されたゾーンの順にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
- データ記録領域が径方向に複数のゾーンに分けられ、ゾーンごとに欠陥情報が管理されるディスク型記録媒体を用いてディジタル情報の記録再生を行う情報記録再生装置であって、前記ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行うフォーマット手段と、１又は複数のゾーンおきにフォーマット処理の対象ゾーンを前記フォーマット手段に指示すると共に、欠陥個数が予め設定したしきい値より高い場合は、そのゾーンに隣接するゾーンを先にフォーマット処理の対象ゾーンとして前記フォーマット手段に指示する制御手段とを備えている情報記録再生装置。
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