JP3787131B2 - Mold used for manufacturing BGA package - Google Patents
Mold used for manufacturing BGA package Download PDFInfo
- Publication number
- JP3787131B2 JP3787131B2 JP2003202144A JP2003202144A JP3787131B2 JP 3787131 B2 JP3787131 B2 JP 3787131B2 JP 2003202144 A JP2003202144 A JP 2003202144A JP 2003202144 A JP2003202144 A JP 2003202144A JP 3787131 B2 JP3787131 B2 JP 3787131B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- mold
- cavity
- heat
- bga package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
Landscapes
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はBGAパッケージの製造に用いるモールド金型に関する。
【0002】
【従来の技術】
図13はBGAパッケージの従来例の構成を示す。図のようにBGAパッケージは基板5の上面に半導体チップ6を搭載し、片面樹脂モールドして成る。このようなBGAパッケージを製造する場合、通常は、基板5に半導体チップ6を搭載し、基板5の片面を樹脂モールドした後、基板5の下面にはんだボール7を接合して製品とする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来のBGAパッケージはQFP等に比べて熱放散性に劣ることが問題になっている。これは、QFP等の金属のリードフレームを用いたパッケージではリードフレーム部分から熱放散できるのに対して、BGAパッケージの場合は基板が絶縁体であることから基板からの熱放散性が低いことによる。また、BGAパッケージの場合はパッケージサイズに対し搭載される半導体チップの占める面積が大きく、半導体チップの発熱量に見合う熱放散が得られないこと、また、BGAパッケージは基板の片面のみ樹脂モールドするからQFPに比べると樹脂モールド部分の表面積が25%程度以下に減少して放熱が制限されることによる。
【0004】
また、別の問題として、BGAパッケージは図13に示すように基板5の片面のみ樹脂モールドすることと基板5の全面積に対する樹脂モールド範囲が占める面積が大きいことから、モールド樹脂がシュリンクした際に基板が反ることが問題になる。
本発明は、これら問題点を解消すべくなされたものであり、従来のBGAパッケージでの熱放散性の問題を解消するとともに、BGAパッケージの反りを好適に防止した製品を好適に製造することができるモールド金型を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、基板を所定位置にセットするセット部を設けた下型と半導体チップを樹脂封止するキャビティ凹部を設けた上型とで基板をクランプし、キャビティ内に樹脂充填して樹脂成形するBGAパッケージの製造に用いるモールド金型において、前記下型と上型の双方、または下型と上型の一方の前記キャビティの周囲位置に、キャビティ内に充填された樹脂を中心部から先に硬化させるよう溝幅あるいは溝の深さを変えて熱伝導を制御する断熱溝を設けたことを特徴とする。
また、金型ランナーおよびゲートの近傍に、溝幅あるいは溝の深さを変えることにより金型ランナーおよびゲート内の樹脂に対する熱伝導をキャビティ内に充填された樹脂に対するよりも抑制して金型ランナーおよびゲートからキャビティへの樹脂充填性を向上させる断熱溝を設けたことを特徴とする。
また、放熱板を配置するキャビティ凹部の内面を凹面形状に設け、樹脂充填時には前記キャビティ凹部に配置される放熱板を反らせて樹脂を過供給させるとともに、樹脂充填後の樹脂シュリンクによって前記放熱板を平坦面に復帰すべく設けたことを特徴とする。
【0006】
【作用】
本発明に係るBGAパッケージの製造に用いるモールド金型によれば、金型に断熱溝を設けたことにより、パッケージの周囲部分、金型ランナー部分、ゲート部分での熱伝導を抑制することができ、パッケージの中心部分から樹脂硬化を促進させ、反り等の変形のないBGAパッケージを得ることができる。また、放熱板とともに樹脂モールドすることにより、放熱板からの熱伝導によってキャビティの中央部から先に樹脂硬化し、変形を防止して信頼性の高い製品を製造することができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。BGAパッケージは基板の片面を樹脂封止する際に同時に放熱板を一体に樹脂成形して成る。図1はBGAパッケージの製造に用いるモールド金型の構成を示す説明図である。図は半導体チップ10を搭載した基板12を放熱板14とともにモールド金型のキャビティ16内にセットした状態を示す。同図で18はポット、20はプランジャー、22はポット18とキャビティ16とを連絡する金型ランナーおよびゲートである。
【0008】
下型24には基板12を所定位置にセットするためのセット部を設け、半導体チップ10を樹脂封止するキャビティ凹部を設けた上型26と下型24とで基板12をクランプし、キャビティ16内に樹脂充填することによって樹脂成形する。下型24には基板12を吸着支持する吸着溝25を設ける。吸着溝25は真空吸引機構に連絡する。また、上型26のキャビティ凹部にはその凹面のほぼ中央部に吸着孔28を設け、吸着孔28を真空吸引機構に連絡して放熱板14をキャビティ凹部の内面に吸着可能とする。
【0009】
本実施の形態では図1に示すように上型26に設けるキャビティ凹部の内面を中央部が膨らんだ凹面形状に形成する。このようにキャビティ16を厚み方向に見て、中央部を厚くし周辺を薄くするのは樹脂成形時の樹脂シュリンクによって生じる基板12の反りをできるだけ小さくするためである。
【0010】
また、下型24および上型26にはカル周辺の熱伝導を抑制する断熱溝30、およびパッケージ周辺部分の熱伝導を抑制する断熱溝32、ゲート部分の熱伝導を抑制する断熱溝34を設ける。図2にこれら断熱溝30、32の平面配置を示す。これらの断熱溝30、32、34は金型内に空隙を設けることによって樹脂充填の際に溶融樹脂に作用する熱伝導を抑制し、熱硬化性樹脂の硬化を抑えて好適な樹脂成形ができるようにすることを目的とする。
【0011】
図3〜図6は上記モールド金型を用いてBGAパッケージを樹脂モールドする様子を示す。
図3はモールド金型を型開きした状態で下型24に基板12をセットし、上型26に放熱板14をセットした状態である。基板12は吸着溝25によってキャビティ凹部に吸着支持し、放熱板14は吸着孔28によって上型26のキャビティ凹部内面に吸着支持する。ポット18には樹脂タブレット40を投入する。
【0012】
次いで、基板12を下型24と上型26とでクランプし、溶融樹脂をプランジャー20でキャビティ内へ圧送する。図4はプランジャー20で溶融樹脂42をキャビティに樹脂充填している様子を示す。実施の形態のモールド金型はキャビティの中央部から先に樹脂硬化させるため放熱板14の内面に突起部を設けて半導体チップ10の表面と放熱板14との間隔を狭くし、この間の樹脂容量を小さくするとともに放熱板14から熱伝導しやすくして樹脂硬化を促進させるようにする。これによって、パッケージ内の中央部から樹脂硬化が進み、樹脂シュリンクによる影響を抑えることができる。
【0013】
断熱溝30、32、34は金型ランナー部分、パッケージの周囲部分、ゲート部分での熱伝導を抑制するように作用し、金型ランナーやパッケージの周囲部分での樹脂硬化が遅れるようにする。なお、断熱溝による熱伝導は溝幅や溝の深さを変えることによって適宜制御することができる。たとえば、断熱溝の深さが浅い方が深い場合よりも熱伝導が良好になるから樹脂硬化を促進させることができる。パッケージの周囲部分に設けた断熱溝32はパッケージの中心部分から樹脂硬化を促進させ、樹脂シュリンクの作用を抑制することを目的としている。
【0014】
ゲート近傍部分ではゲートの上下左右に断熱溝34を巡らせ、熱伝導を抑えてゲート部分での硬化が遅れるようにする。これは、キャビティ内への樹脂充填がほぼ終了し、キャビティ内で樹脂硬化がはじまった後も、プランジャー20で樹脂圧をかけて樹脂を圧送することを可能にし、良好な樹脂成形ができるようにするためである。図5はキャビティ内への樹脂充填がほぼ終了し、プランジャー20で樹脂圧をかけながら樹脂成形している状態を示す。
【0015】
なお、金型内には金型を加熱するためのヒータを設置するが、ポットあるいは金型ランナー近傍に設けるヒータを、樹脂タブレット40を投入した際には100%通電させて樹脂タブレット40を早く溶融させ、樹脂タブレット40が溶融した後は金型ランナーあるいはゲート部分での樹脂硬化を抑制するため通電を抑制し、また、キャビティへの樹脂充填が完了してゲートが閉塞した後は、再度通電を増大させて樹脂硬化を速めるように制御する方法も有効である。
【0016】
前述したように実施の形態では上型26のキャビティ凹部の内面を凹面形状にしているから、樹脂充填時には放熱板14は樹脂圧によって上に反った形状となるが(図4)、樹脂硬化の際の樹脂シュリンクによって図5に示すように平坦面に復帰する。このように放熱板14を反り形状にして樹脂充填する方法は、過供給された樹脂量を樹脂の硬化反応による樹脂シュリンク量に等しくさせることによって、樹脂モールド後に放熱板14を平坦面にすることができてパッケージの反りを防止することが可能になる。
【0017】
樹脂成形後は金型内から成形品を取り出し、成形品ランナー44等の不要樹脂部分を除去して製品とする(図6)。樹脂モールド製品は基板12の片面がモールド樹脂46によって樹脂モールドされ、モールド樹脂46の外面に放熱板14の外面が露出して樹脂成形された製品となる。この成形品はモールド樹脂46と一体に放熱板14を樹脂成形したことによって、放熱板14による放熱効果によりパッケージの熱放散性を有効に向上させることが可能になる。また、放熱板14を一体成形したことによってパッケージの反り等の変形を放熱板14によって防止することができ基板12の平坦性を得ることが可能になる。
【0018】
本実施の形態のモールド金型では放熱板14を基板12と一体成形するため、モールド金型のキャビティ内に放熱板14をセットして樹脂モールドする。このため、上記実施の形態ではキャビティ内面に放熱板14を真空吸着して樹脂モールドしたが、放熱板14をキャビティ内にセットして樹脂モールドする場合は、放熱板14の外面に樹脂の薄ばりが生じることが問題になることがある。図7〜9は樹脂ばりが生じないようにして樹脂モールドする金型の構成例を示す。
【0019】
図7(b) はキャビティ凹部の内面に放熱板14を真空吸着支持した様子、図7(a) はその部分拡大図である。この金型はキャビティ凹部の内面で放熱板14の周縁部近傍に当接する部位に段差50を設けて放熱板14の周縁部の外面とキャビティ凹部内面との間に空隙を設けて樹脂トラップ部52を構成した例である。この樹脂トラップ部52は樹脂充填した際に溶融樹脂を放熱板14の外面に若干入り込ませ、樹脂トラップ部52部分で樹脂を硬化させることによってそれ以上放熱板14上に樹脂を入り込ませないようにすることによって薄ばりの発生を防止する。樹脂トラップ部52の空隙部分は0〜0.2mm、好適には0.05〜0.2mm程度である。28aは放熱板14を真空吸着支持するための吸着溝である。
【0020】
図8はキャビティ凹部の内面に放熱板14をセットするセット凹部50aを設け、セット凹部50aの壁面と放熱板14の側面との間に樹脂トラップ部54として空隙を設けて樹脂モールドするように構成した例である。この例では樹脂モールドの際に樹脂トラップ部54に充填された樹脂が硬化して放熱板14の外面に樹脂が回り込むことを防止する。なお、樹脂トラップ部54は断面V字状に形成して抜きテーパ角を設けている。
【0021】
図9に示す実施の形態はパッケージの外面のほぼ全域に放熱板14を露出させて樹脂モールドする実施の形態である。この場合は、キャビティ凹部の内面で放熱板14を配置する面の寸法、形状を放熱板14とほぼ一致させ、放熱板14の側面とキャビティ凹部の側面との間に若干空隙が生じるようにして樹脂モールドする。本実施の形態の場合はこの空隙部が樹脂トラップとして作用し、放熱板14の外面へ樹脂が回り込むことを防止して樹脂モールドすることができる。また、図9(a) はプレス抜き加工によって作成した放熱板14の破断面側を露出面側にして樹脂モールドする例を示す。このように破断面側を外側にして樹脂モールドした場合は、破断面部分が逆テーパ状に形成されることから放熱板14がモールド樹脂から剥離しにくくなるという利点がある。
【0022】
上記各実施の形態のモールド金型では上型26に設けたキャビティ凹部内に放熱板14を配置して樹脂モールドすることを特徴とするが、その場合にキャビティの中央部から先に樹脂硬化させるようにするため半導体チップ10と放熱板14との間隔を狭めて樹脂容量を小さくし、中央部分で熱伝導がより促進させるようにした。図10、11、12はこの放熱板付きのBGAパッケージに好適に使用できる放熱板14の例を示す。
【0023】
図10に示す放熱板14は半導体チップ10に対向する内面の中央部に段差状の突部14aを設けた例である。図1に示すように半導体チップ10はその外縁部で基板12とボンディングするからボンディングワイヤに干渉しないよう内側に平坦状に突部14aを設ける。
図11に示す放熱板14は突部14aが山状に突出するように設けた例、図12に示す放熱板14は図10に示す実施の形態で突部14aの対角線方向に溝を設けた例である。図11、12に示す放熱板14によれば樹脂モールドの際に半導体チップ10と放熱板14との隙間部分に樹脂を注入しやすくし、エアを抜きやすくすることができるという利点がある。
【0024】
放熱板14に設ける突部14aは半導体チップ10との間で挟む樹脂容量を小さくし、これによって樹脂硬化を促進させるためのものであるから、突部14aのデザインはもちろん上記例に限定されるものではない。たとえば、小突起を多数設ける方法や線状に複数個の突起を設けるといった方法も可能である。なお、これら放熱板14はプレス抜き加工によって容易に製造でき、製造コストがかからない点でも有用である。
【0025】
【発明の効果】
本発明に係るBGAパッケージの製造に用いるモールド金型によれば、上述したように、BGAパッケージの反り等の変形を防止して好適な樹脂モールドが可能となる。また、放熱板と一体成形することによってパッケージの反りを防止し、信頼性の高いBGAパッケージを容易に製造することができる等の著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】モールド金型の一実施形態の構成を示す説明図である。
【図2】モールド金型の断熱溝の配置例を示す説明図である。
【図3】モールド金型によってBGAパッケージを樹脂モールドする方法を示す説明図である。
【図4】モールド金型によってBGAパッケージを樹脂モールドする方法を示す説明図である。
【図5】モールド金型によってBGAパッケージを樹脂モールドする方法を示す説明図である。
【図6】モールド金型によてBGAパッケージを樹脂モールドする方法を示す説明図である。
【図7】モールド金型に放熱板をセットする例を示す説明図である。
【図8】モールド金型に放熱板をセットする例を示す説明図である。
【図9】モールド金型に放熱板をセットする例を示す説明図である。
【図10】放熱板の例を示す平面図及び側面図である。
【図11】放熱板の例を示す平面図及び側面図である。
【図12】放熱板の例を示す平面図及び側面図である。
【図13】BGAパッケージの従来例について一部破断して示す斜視図である。
【符号の説明】
10 半導体チップ
12 基板
14 放熱板
16 キャビティ
18 ポット
24 下型
25 吸着溝
26 上型
28 吸着孔
30、32、34 断熱溝
40 樹脂タブレット
42 溶融樹脂
44 成形品ランナー
46 モールド樹脂
50 段差
50a セット凹部
52、54 樹脂トラップ部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a mold used for manufacturing a BGA package.
[0002]
[Prior art]
FIG. 13 shows a configuration of a conventional example of a BGA package. As shown in the figure, the BGA package is formed by mounting the semiconductor chip 6 on the upper surface of the
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the conventional BGA package has a problem that it is inferior in heat dissipation compared with QFP or the like. This is because a package using a metal lead frame such as QFP can dissipate heat from the lead frame portion, whereas in the case of a BGA package, since the substrate is an insulator, heat dissipation from the substrate is low. . Further, in the case of a BGA package, the area occupied by the mounted semiconductor chip is large with respect to the package size, and heat dissipation corresponding to the heat generation amount of the semiconductor chip cannot be obtained, and the BGA package is resin-molded only on one side of the substrate. Compared to QFP, the surface area of the resin mold portion is reduced to about 25% or less, and heat dissipation is limited.
[0004]
As another problem, the BGA package is formed by resin molding only on one side of the
The present invention has been made to solve these problems, and it is possible to solve the problem of heat dissipation in the conventional BGA package and to suitably manufacture a product that suitably prevents the warpage of the BGA package. An object of the present invention is to provide a mold that can be used.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, a BGA package in which a substrate is clamped with a lower mold provided with a set portion for setting the substrate at a predetermined position and an upper mold provided with a cavity recess for resin-sealing a semiconductor chip, and the resin is filled into the cavity and resin molded In the mold used for manufacturing the mold, the resin filled in the cavity is hardened first from the center at the peripheral position of both the lower mold and the upper mold, or one of the lower mold and the upper mold. A heat insulating groove for controlling heat conduction by changing the groove width or depth is provided.
In the vicinity of the mold runner and Gate, suppressed than to the resin heat conduction against the mold runner and the resin in the gate is filled in the cavity by changing the depth of the groove width or groove And a heat insulating groove for improving the resin filling property from the mold runner and the gate to the cavity.
Also, the inner surface of the cavity recess where the heat sink is disposed is provided in a concave shape, and when the resin is filled, the heat sink placed in the cavity recess is warped and the resin is oversupplied, and the heat sink is made by resin shrink after resin filling. It is provided to return to a flat surface.
[0006]
[Action]
According to the mold die used for manufacturing the BGA package according to the present invention, the heat conduction in the peripheral portion of the package, the die runner portion, and the gate portion can be suppressed by providing the heat insulating groove in the die. Resin hardening is promoted from the central portion of the package, and a BGA package free from deformation such as warpage can be obtained. In addition, by resin molding together with the heat sink, the resin is hardened first from the center of the cavity by heat conduction from the heat sink, thereby preventing deformation and manufacturing a highly reliable product.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The BGA package is formed by integrally resin-molding a heat sink at the same time that one side of the substrate is sealed with resin. FIG. 1 is an explanatory view showing the structure of a mold used for manufacturing a BGA package. The figure shows a state in which a
[0008]
The
[0009]
In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the inner surface of the cavity recess provided in the
[0010]
The
[0011]
3 to 6 show how the BGA package is resin-molded using the above mold.
FIG. 3 shows a state in which the
[0012]
Next, the
[0013]
The
[0014]
In the vicinity of the gate,
[0015]
In addition, although the heater for heating a metal mold | die is installed in a metal mold | die, when the
[0016]
As described above, in the embodiment, the inner surface of the cavity concave portion of the
[0017]
After the resin molding, the molded product is taken out from the mold, and unnecessary resin parts such as the molded
[0018]
In the mold according to the present embodiment, the
[0019]
FIG. 7 (b) shows a state in which the
[0020]
FIG. 8 shows a configuration in which a
[0021]
The embodiment shown in FIG. 9 is an embodiment in which the
[0022]
The mold of each of the above embodiments is characterized in that the
[0023]
A
The
[0024]
Since the
[0025]
【The invention's effect】
According to the mold die used for manufacturing the BGA package according to the present invention, as described above, it is possible to prevent deformation such as warpage of the BGA package and to perform a suitable resin mold. Further, by integrally molding with the heat sink, it is possible to prevent the package from warping and to produce a highly reliable BGA package easily.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory view showing a configuration of an embodiment of a mold die.
FIG. 2 is an explanatory view showing an arrangement example of heat insulating grooves of a mold.
FIG. 3 is an explanatory view showing a method of resin-molding a BGA package with a mold.
FIG. 4 is an explanatory view showing a method of resin-molding a BGA package with a mold.
FIG. 5 is an explanatory view showing a method of resin-molding a BGA package with a mold.
FIG. 6 is an explanatory view showing a method of resin-molding a BGA package using a mold.
FIG. 7 is an explanatory view showing an example in which a heat sink is set in a mold.
FIG. 8 is an explanatory view showing an example in which a heat sink is set in a mold.
FIG. 9 is an explanatory view showing an example in which a heat sink is set in a mold.
10A and 10B are a plan view and a side view showing an example of a heat sink.
FIG. 11 is a plan view and a side view showing an example of a heat sink.
FIG. 12 is a plan view and a side view showing an example of a heat sink.
FIG. 13 is a partially broken perspective view showing a conventional example of a BGA package.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記下型と上型の双方、または下型と上型の一方の前記キャビティの周囲位置に、キャビティ内に充填された樹脂を中心部から先に硬化させるよう溝幅あるいは溝の深さを変えて熱伝導を制御する断熱溝を設けたことを特徴とするBGAパッケージの製造に用いるモールド金型。Manufacture of a BGA package that clamps a substrate with a lower mold provided with a set part for setting the substrate at a predetermined position and an upper mold provided with a cavity recess for resin-sealing a semiconductor chip, and fills the cavity with resin and molds the resin. In the mold used for
The groove width or depth of the groove is changed so that the resin filled in the cavity is hardened first from the center at the peripheral position of both the lower mold and the upper mold, or one of the lower mold and the upper mold. A mold die used for manufacturing a BGA package, characterized in that a heat insulating groove for controlling heat conduction is provided.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003202144A JP3787131B2 (en) | 2003-07-28 | 2003-07-28 | Mold used for manufacturing BGA package |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003202144A JP3787131B2 (en) | 2003-07-28 | 2003-07-28 | Mold used for manufacturing BGA package |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18438794A Division JP3479121B2 (en) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | Resin molding method for BGA package |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004096094A JP2004096094A (en) | 2004-03-25 |
JP3787131B2 true JP3787131B2 (en) | 2006-06-21 |
Family
ID=32064468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003202144A Expired - Lifetime JP3787131B2 (en) | 2003-07-28 | 2003-07-28 | Mold used for manufacturing BGA package |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3787131B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4695863B2 (en) * | 2004-10-06 | 2011-06-08 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding equipment |
JP5280102B2 (en) | 2008-05-26 | 2013-09-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Manufacturing method of semiconductor device |
JP2012094592A (en) | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Elpida Memory Inc | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
JP5976557B2 (en) * | 2013-01-22 | 2016-08-23 | 新電元工業株式会社 | Mold, method for manufacturing resin-encapsulated semiconductor device using the mold, and resin-encapsulated semiconductor device |
-
2003
- 2003-07-28 JP JP2003202144A patent/JP3787131B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004096094A (en) | 2004-03-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101418397B1 (en) | Semiconductor package, and method for fabricating the same | |
US7271036B2 (en) | Leadframe alteration to direct compound flow into package | |
KR200309906Y1 (en) | lead frame for fabricating semiconductor package | |
KR20090050752A (en) | Semiconductor package, and method for fabricating the same | |
JP3479121B2 (en) | Resin molding method for BGA package | |
JP2002329815A (en) | Semiconductor device, its manufacturing method and its production device | |
JP3787131B2 (en) | Mold used for manufacturing BGA package | |
JP2001110830A (en) | Resin sealed semiconductor device and its manufacturing method | |
US8377753B2 (en) | Method of fabricating a semiconductor device having a resin with warpage compensated structures | |
EP3428962B1 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device | |
JP4010860B2 (en) | Hybrid integrated circuit device and manufacturing method thereof | |
KR101239117B1 (en) | Power semiconductor package and method for fabricating the same | |
JP2525555Y2 (en) | Lead frame assembly for resin-sealed semiconductor device | |
US20170040186A1 (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
US20220278018A1 (en) | Semiconductor device and method for manufacturing the same | |
KR100244721B1 (en) | Semiconductor package | |
JPH11330116A (en) | Manufacture of semiconductor device and lead frame and molding die to be used for the method | |
JP2005057004A (en) | Method of manufacturing hybrid integrated circuit device | |
JP5108725B2 (en) | Circuit device and circuit device module | |
JPH06244312A (en) | Semiconductor device and production method | |
JPH04277660A (en) | Integrated circuit package | |
JPH0730016A (en) | Semiconductor device with heat radiating plate and manufacture thereof | |
JPH04361537A (en) | Method of resin-sealing semiconductor device | |
JPH0745663A (en) | Semiconductor device with heat sink and its manufacture | |
CN111584441A (en) | Electronic module with improved heat dissipation and its manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051220 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060213 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060314 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060323 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120331 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150331 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |