JP3473626B2 - Image display device - Google Patents

Image display device

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JP3473626B2
JP3473626B2 JP03553193A JP3553193A JP3473626B2 JP 3473626 B2 JP3473626 B2 JP 3473626B2 JP 03553193 A JP03553193 A JP 03553193A JP 3553193 A JP3553193 A JP 3553193A JP 3473626 B2 JP3473626 B2 JP 3473626B2
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JP
Japan
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address
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emitting unit
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満孝 斉藤
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Sony Corp
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、画像表示装置の表示状
態を自己診断したり、高圧電流、高圧電圧や消費電流等
の特性を自己診断する場合に用いて好適である。 【0002】 【従来の技術】図9は大型映像装置の構成図である。図
9に示すように、大型映像装置はm×n(1≦m≦9
6,1≦n≦96)のマトリックス状に並べられた発光
ユニット100から構成されている。発光ユニット10
0は、図10に示すようにこの例では縦に3個、横に4
個並べられたセル101から構成されている。セル10
1は、図11に示すように通常縦に2個、横に4個のド
ット102から構成され、ドット102はB(Blue),
R(Red),G(Green)の各蛍光体が塗布されたエレメ
ント103から構成されている。大型映像装置は、各エ
レメント103に電子ビームを照射して発光させカラー
画像表示を行う。 【0003】このような大型映像装置は、製造工程にお
いて各発光ユニット100の表示状態が正常であるか否
かの試験(表示テスト)および電気特性試験を行った後
に出荷される。各発光ユニット100の表示状態が正常
であるか否かの試験は輝度を徐々に上げてその輝度を確
認するステアステップテストの他に、カラーバーテス
ト、キャラクタ表示テスト等がある。これらの試験は、
各発光ユニット100にテストパターン発生器を接続
し、テストパターン発生器により上述したステアステッ
プパターン、カラーパターン、キャラクタパターン等を
発生させ、このパターンを発光ユニット100に与えて
行っていた。 【0004】また、電気特性試験はセットを分解し測定
器を接続して測定していた。 【0005】 【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
各発光ユニット100の表示状態が正常であるか否かの
試験はテストパターン発生器を発光ユニット100に接
続しなければならずテストパターン発生器の運搬等が煩
わしく、特に製造時ラインでエージングテストを行う際
には、全発光ユニット100にそれぞれテストパターン
発生器を接続しなければならず、配線にも時間がかかり
問題であった。 【0006】また大型画面として組み込まれた発光ユニ
ット100において不良が生じた場合は、画面の状態を
目で確認する以外になく、オペレータは前面からスクリ
ーンの状態を常に監視しなければならず、オペレータに
とって大きな負担となっていた。製造ラインにおいて検
査等で各種データを測定するときにはセットを分解し測
定器を接続しなければならず、配線にも時間がかかり問
題であった。 【0007】そこで本発明は、表示状態が正常であるか
否かの判断や電気特性の測定などを自己診断できる画像
表示装置を提供することを目的とする。 【0008】 【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によれ
ば、複数の表示ユニットを組み合わせて画像を表示する
画像表示装置において、それぞれの表示ユニットは、発
光部と、前記表示ユニットについての前記画像表示装置
上での位置を特定するためのアドレス情報を記憶可能に
構成されたアドレス記憶手段と、該アドレス記憶手段に
記憶されたデータと画像データに付記されたアドレス情
報とが一致するかを判別し、該アドレス記憶手段に記憶
されたデータと画像データに付記されたアドレス情報と
が一致する場合には画像データを取り込んで前記発光部
に出力するとともに、前記アドレス記憶手段に記憶され
たデータが前記画像表示装置上での位置を特定するため
に定められた所定の数値範囲以外にある数値として与え
られる所定の数値に一致する場合には当該所定の数値に
対応する画像パターンを生成して前記発光部に出力する
信号処理手段とを有して構成されることを特徴とする画
像表示装置によって解決される。 【0009】 【0010】 【作用】本発明によれば、表示ユニットについての画像
表示装置上での位置を特定するためのアドレス情報を記
憶可能に構成されたアドレス記憶手段が備えられ、この
アドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに付
記されたアドレス情報とが一致するかが信号処理手段
(以下信号処理部3という)によって判別される。この
判別結果で、該アドレス記憶手段に記憶されたデータと
画像データに付記されたアドレス情報とが一致する場合
には、この信号処理部3によって、画像データを取り込
んで発光部に出力するとともに、アドレス記憶手段に記
憶されたデータが画像表示装置上での位置を特定するた
めに定められた所定の数値範囲以外にある数値として与
えられる所定の数値に一致する場合には当該所定の数値
対応する画像パターンを生成して発光部へ出力するよ
うになされる。例えば、図1に示すようにアドレスSW
2により表示ユニットを識別あるいは表示状態の自己診
断項目をアドレスに設定し、この設定されたアドレスの
値を信号処理部3により判別し、アドレスの値に応じた
発光ユニット100の表示状態を試験するためのテスト
信号を発生させる。信号処理部3は送受信手段としての
通信部1を介して外部と双方向に信号を送受信する。ま
た発光ユニット100は、電気特性を測定するための高
圧電流測定回路8、高圧電圧測定回路9および消費電流
測定回路10を備え、高圧電流、高圧電圧および消費電
流を測定し、信号処理部3がその測定結果を判断する。 【0011】 【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。 【0012】図1は本発明の一実施例による大型映像装
置の発光ユニットおよび周辺装置の構成図である。図1
に示すように、発光ユニット100にはアドレスの付加
された映像信号を受信するための通信部1、発光ユニッ
トに対して1〜96(NTSC方式の大型映像装置でM
ax80(縦方向のドット102の数がMax480
個)、PAL方式の場合でMax96(縦方向のドット
102の数がMax576個))までのアドレスを付番
するための手動操作により設定可能なアドレスSW2、
発光ユニット100の表示状態を自己診断したり、電気
特性測定結果を演算処理するための信号処理部3、英数
字等のキャラクターを格納するためのROM(Read Onl
y Memory)4、全白100%発光ルーチン、キャラクタ
表示ルーチン、フリーランルーチン等の各種表示プログ
ラムを格納するためのメモリ、例えばROM4、電気特
性測定データを格納するためのメモリであるRAM6、
A/Dコンバータ7、高圧電流測定回路8、高圧電圧測
定回路9、消費電流測定回路10、セル101を発光さ
せるためのセルドライブ回路11および外部と双方向通
信をするための通信部1が内蔵されている。発光ユニッ
ト100の外部には、通信部1と双方向通信を行い、測
定データを整理するための画像処理装置13、画像処理
装置13と双方向通信が可能で各測定データをオペレー
タに見やすくするためのデータ処理用のコンピュータ1
4、コンピュータ14の周辺装置としてプリンタ15お
よび外部記憶装置16が設けられている。 【0013】図2はセル101の構成図であり、特に図
2(a)は内部構成図であり、図2(b)はセルの電極
構成図である。図2(a)に示すように、セル101を
構成する上下に配設された複数のドット102を上下に
交互に発光させるためのフィールド切り換え回路22が
配設されている。図2(b)に示すようにフィールド切
り換え回路22は各エレメント103に対応して上下に
配設されたカソード203に接続され、フィールド切り
換え回路22に配設されたインバータ23により上下の
カソード203群には互いに反転した信号が印加され
る。従って上下に交互にHighとLow信号がカソー
ド203に印加されるので上下のエレメント103を交
互に発光させることができる。各ドット102に対して
上下共通に、セル全体で12個のパルス幅変調器(PW
M21)が配設されている。PWM21には8ビットの
映像信号が与えられ、図2(b)に示すようにそれぞれ
のエレメント103に対応して配されたG1電極202
にPWM変調されたR,G,Bの各映像信号が印加さ
れ、カラー映像が表示される。 【0014】またG2電極201はアノード200によ
り発生する電界の影響がG1電極202に及ばないよう
にするためのものである。 【0015】信号処理部3は、通信部1で受信した映像
信号に付加されたアドレスとアドレスSW2により与え
られたアドレスを比較し、一致していれば映像信号を取
り込む。ユニットのアドレスは縦方向のライン番号であ
りmが最大96であるので、この映像信号を取り込むた
めに使用するアドレスの値は1〜96までである。一
方、アドレスSW2では8ビットの0〜255までの値
が設定可能であり、0および97〜255のアドレス値
が未使用であるのでこの未使用な値を発光ユニット10
0の表示状態を自己診断のために用いた。本実施例では
この未使用のアドレス値のうち自己診断するためにアド
レスの値と自己診断との内容の関係を以下のように設定
した。 【0016】 次に自己診断テスト内容を説明する。 (1)全白100%で発光 セル101を構成するR,G,Bの各エレメント103
を同じ輝度で発光させる。 (2)キャラクタ表示 英数字等のキャラクタが表示されるようにセル101を
発光させる。 (3)フリーラン (a)ステアステップ 図3は輝度情報として8ビット(256階調)で表現さ
れる発光ユニット100が、8ビットの各ビットに対し
て正常に動作しているか否かを確認するための輝度パタ
ーンである。図3に示すようにパターン1はエレメント
103は発光せず、パターン2〜パターン9までは各ス
テップ毎に2倍の値の輝度データであるので各パターン
をPWM21に与えたとき各ステップ毎に2倍明るくエ
レメント103が発光するかを確認する。パターン10
は最大輝度の輝度データである。 【0017】(b)カラーバー 発光ユニット100全体を例えばBlue→Red→マゼンタ
→Green→シアン→イエロー→Whiteの順に発光させる。
例えば、Blueで発光させている時にあるドットがマゼン
タで発光していた場合は、そのドットが内部不良(例え
ば、ハンダブリッジなどの原因)であることが分かる。 (4)ビームブランク 図2に示したフィールド切り換え回路22が正常に動作
しているかをセル101を構成する上下のドット102
を交互に発光させて確認する。 【0018】次に、図4を用いて発光ユニット100の
表示状態を自己診断する処理を説明する。 【0019】まず、発光ユニット100の表示状態を自
己診断するにはアドレスSW2のアドレスの値を自己診
断の内容に応じて97〜99のいずれかの値に設定す
る。すると信号処理部3ではアドレスSW2により設定
されたアドレス値を読み込み、アドレス値が97である
か判別する(ステップ40)。アドレス値が97である
ときは、信号処理部3はROM4に格納されている全白
100%発光ルーチンを読み出し実行する。全白100
%ルーチンでは、8ビットのテストパターン(例えば
‘FF’)を生成し、同じテストパターンを全てのセル
ドライブ回路11に送信する。セルドライブ回路11で
はテストパターンをレジスタ(図示せず)に記憶した
後、セルドライブ回路11に接続されている制御ライン
(図示せず)により駆動されPWM輝度データに変換さ
れて、PWM21に印加される。PWM21ではPWM
輝度データとグリッド電極に印加し全白100%でドッ
ト102を発光させる。 【0020】アドレス値が97でなければ、信号処理部
3はアドレス値が98であるか判別する(ステップ4
1)。アドレス値が98であるときは、信号処理部3は
ROM4に格納されているキャラクタ表示ルーチンを読
み出し実行する。キャラクタ表示ルーチンではROM4
に格納されている英数字等のキャラクタ文字を発生させ
るためのテストパターンを読み出し、テストパターンを
セルドライブ回路11に送る。セルドライブ回路11は
制御ラインにより駆動され、PWM輝度データをPWM
21に送りエレメント103を発光させキャラクタ文字
を表示する。 【0021】アドレス値が98でなければ、信号処理部
3はアドレス値が99であるかを判別する(ステップ4
2)。アドレス値が99であれば、信号処理部3はRO
M4に格納されているフリーランルーチンを読み込み実
行する。フリーランルーチンは、まず図3に示したステ
アステップのパターン信号を作成した後、各セルドライ
ブ回路11へパターン信号を送る。セルドライブ回路1
1はパターン信号をレジスタに格納した後、PWM21
に送りエレメント103を発光させる。この時、パター
ン信号の表す輝度が順次明るくなっているので、発光し
たエレメント103によりその明るさを目視により確認
する。 【0022】次に信号処理部3はROM4に格納されて
いるカラーバーテストルーチンを読み込み実行する。カ
ラーバーテストルーチンは、Blueで発光させるためにテ
スト信号を発生しセルドライブ回路11にテスト信号を
送る。セルドライブ回路11はBlueのテスト信号をセル
101内に配設されたPWM21に送り、Blueのエレメ
ント103を発光させる。次に、同様にカラーバーテス
トルーチンはRed、マゼンタ、Green、シアンおよびWhit
eの順にそれぞれ対応するテスト信号を発生し、エレメ
ント103を順次発光させる。 【0023】次にフリーランルーチンはフィールド切り
換え回路22が正常に動作しているかを確認するため、
例えば全白100%で発光するテスト信号と、全く発光
しないテスト信号をカソードに印加されるフィールド切
り換え信号のHighとLowまたはLowとHighに同期するよう
に作成し、セルドライブ回路11に送る。セルドライブ
回路11は上下共通のPWM21にテスト信号を送り、
エレメント103を発光させる。フィールド切り換え回
路22が正常に動作していれば、セル101内に配設さ
れたエレメント103のうち上または下のいずれか一方
が発光するのでそれを確認する。 【0024】アドレスSW2によって設定された値が9
7〜99のいずれの値と異なる場合は、通信部1から8
ビットの映像信号に付加されたアドレスとアドレスSW
2によって設定された値が一致すれば、映像信号を信号
処置部3からセルドライブ回路11を経てPWM21に
送り、エレメント103を発光させ映像信号を表示す
る。 【0025】上述した発光ユニット100の表示状態を
自己診断するテスト信号はアドレスSW2によりアドレ
ス値の変更がない限り繰り返し生成されるので長時間テ
スト(例えばエージング)を好適に行うことができる。 【0026】次に、高圧電流、高圧電圧および消費電流
等の電気特性の自己診断について説明する。 【0027】図5は高圧電流を測定するための高圧電流
測定回路8の回路図である。図5に示すように高電圧電
源回路50がその電圧を一定に保つために後述する定電
圧回路51に接続されている。定電圧回路51はセル1
01のアノードに接続されている。高電圧電源回路50
の一端子は電圧を検出するための電圧検出抵抗R1およ
びボルテージホロワ(OP1)の+端子に接続されてい
る。高圧電流は、電圧検出抵抗R1によって電圧に変換
され、ボルテージホロワOP1で受けてインピーダンス
変換される。電圧検出抵抗R1から得られる検出電圧は
負電圧であるので反転増幅器(OP2)により、増幅度
G=R3/R2で反転増幅する。最後に2次ローパスフ
ィルタ(OP3)によりリップル分をカットしA/Dコ
ンバータ7への入力信号とする。 【0028】図6は高圧電圧測定するための回路図であ
る。図6に示すように、高電源電圧回路50はその電圧
を一定に保つために定電圧回路51に接続されている。
61は電圧制御用の大容量トランジスタである電圧制御
トランジスタ、62は電圧制御ドライブトランジスタ、
63は負荷電流が増大した場合に導通し、電圧制御ドラ
イブトランジスタ62のベース電極を下げ、電圧制御ト
ランジスタ61をカットオフし、電圧制御トランジスタ
61の破壊を防止するための保護トランジスタである。
64は誤差検出トランジスタで、出力電圧が抵抗R11
およびR12で分圧されてそのベースに加えられてい
る。一方誤差検出トランジスタ64のエミッタには定電
圧のダイオード65が接続され、抵抗R13を通して出
力電圧が加えれるので常に一定の電圧が保たれている。
このため誤差検出トランジスタ64はベース電圧の変化
をコレクタ電圧の変化に変換し、抵抗R14およびR1
5を流れるコレクタ電流を変化させ、電圧制御ドライブ
トランジスタ62のベース電圧を変化させて出力電圧を
一定にしている。 【0029】従って、出力電圧が上昇すると抵抗R11
およびR12を流れる電流が増大するので抵抗R11と
R12の接続部では出力電圧の上昇した分、電圧が上が
るので、抵抗R11とR12を定電源回路51と兼用
し、この抵抗R11とR12を高圧電圧測定回路9とし
てR11とR12の接続点とA/Dコンバータ7とを接
続することにより高圧電圧を測定することができる。 【0030】図7は消費電流測定回路10の回路図であ
る。図7に示すように交流電源は、両波整流するための
ブリッジ整流回路52の端子A,Cに接続される。ブリ
ッジ整流回路52の端子Bはコンデンサに接続され、出
力が平滑化される。平滑された出力はスイッチングレギ
ュータ回路(図示せず)に入力される。ブリッジ整流回
路52のGND側端子Dは電圧検出抵抗Rに接続されて
いる。スイッチングレギュレータ回路の消費電流は電圧
検出抵抗Rによって検出される。これをボルテージホロ
ワ(OP11)で受けてインピーダンス変換した後、反
転増幅器(OP12)で反転増幅する。最後に2次ロー
パスフィルタ(OP13)でリップル分をカットしA/
Dコンバータ7の入力信号とする。 【0031】次に、図8を用いて高圧電流、高圧電圧お
よび消費電池等の電気特性を自己診断する処理を説明す
る。 【0032】図8に示すように、信号処理部3を起動す
るシステム電源をオンにする(ステップ30)。次に信
号処理部3はセル101を点灯するために、8ビットの
輝度データを作成し、セルドライブ回路11に輝度デー
タを送る。セルドライブ回路11からPWM21に輝度
データが送られ、所定のセル101が点灯する。そして
高圧電流測定回路8により所定のセル101が点灯した
状態で、高圧電流を測定する(ステップ31)。測定さ
れた高圧電流はA/Dコンバータ7により所定ビット
(例えば8ビット)のディジタル信号に変換され、信号
処理部3に入力される。信号処理部3はディジタル信号
に変換された高圧電流値が正常であるか否かを判断し、
この判断とともに高圧電流値をRAM6に格納する。 【0033】次に信号処理部3は点灯したセル101を
消灯するための信号をセルドライブ回路11に送り消灯
し、未測定の次のセル101を点灯し高圧電流の測定
(ステップ31)および測定データの格納(ステップ3
2)を行う。これらステップ31およびステップ32を
発光ユニット100内の全セル101に対して順次行
う。 【0034】次に信号処理部3は発光ユニット100内
のセル101を同時に全て点灯するための信号をセルド
ライブ回路11に送り、全てのセル101を同時に点灯
させる。次に全てのセル101が点灯した状態で高圧電
流測定回路8により高圧電流を測定する(ステップ3
3)。 【0035】次にステップ33で測定した高圧電流がA
/Dコンバータ7でディジタル信号に変換され、信号処
理部3により演算処理され、RAM6に格納される(ス
テップ34)。 【0036】次に高圧電圧測定回路9により高電圧電源
回路50から入力される高電圧の電圧値を測定する(ス
テップ35)。測定された高圧電圧はA/Dコンバータ
7によりディジタル信号に変換された後、信号処理部3
に入力される。信号処理部3では入力されたディジタル
信号を演算処理し、高電圧電源回路50から入力される
電圧が正常であるか否かを判断し、高電圧電源回路50
から入力される電圧が正常であるか否かを判断し、この
判断結果とともに高電圧の電圧値をRAM6に格納する
(ステップ36)。 【0037】次に消費電流測定回路10により、各セル
101が点灯した状態および全セルが点灯した状態でス
イッチングレギュレータの消費電流を測定する(ステッ
プ37)。次にA/Dコンバータ7は、測定した消費電
流をディジタル信号に変換し、信号処理部3へ入力す
る。信号処理部3はディジタル信号を演算処理し、測定
した消費電流が正常であるか否かを判断し、その判断結
果と消費電流をRAM6に格納する(ステップ38)。 【0038】次に通常の画像データの表示を行う(ステ
ップ39)。信号処理部3は、画像処理装置3からRA
M6に格納されている測定データの送出のリクエストが
あるかどうかを判別する(ステップ40)。測定データ
の送出のリクエストがなければステップ39へ行く。測
定データの送出のリクエストがあれば、信号処理部3は
RAM6に格納されている測定データを読み込み、通信
部1を介して画像処理装置13に伝送する。画像処理装
置13はこれらの測定データを各発光ユニット100毎
に整理し、双方向接続されたコンピュータ14に伝送す
る。コンピュータ14は各種データをオペレータに見や
すく表示し、またプリンタ15にプリントアウトする。
データは外部記憶測定16に保存される(ステップ4
1)。次にステップ39へ行く。 【0039】上述した測定データにより以下の不良を判
別することができる。 (1)ステップ31で高圧電流が出ない。リーク、高圧
ヒューズ切れ等による不良のためセル101が点灯しな
い。 (2)ステップ31またはステップ33で高圧電流が流
れすぎる。セル101の劣化により高圧電流の増加が原
因である。 (3)ステップ35で高圧電圧が出ない。高電圧電源回
路50の不良が原因である。 【0040】本実施例では、電気特性の自己診断として
高圧電流、高圧電圧および消費電流の測定を行ったが、
これら以外にセル101に印加するバイアス電源および
ヒータ電源の電圧を分圧抵抗やシャント抵抗を挿入する
ことにより測定することも可能である。また、本実施例
によれば、発光ユニット単体でテストパターンを表示す
ることができるのでテストパターン発生器を接続するこ
となく容易に検査することができる。特に製造ライン時
多数のユニットを同時にエージングすることができ検査
のスループットを向上させることができる。また発光ユ
ニット単体で高圧電流、高圧電圧および消費電流を測定
することができるので、セットを分解せずに容易に各種
の測定ができ検査のスループットを向上させることがで
きる。コンピュータにより測定データを一括管理してい
るので全ユニットの表示動作状態を把握することができ
る。また様々な不良に対する原因分析が容易となり、不
良に対して迅速に対応することができる。 【0041】 【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、表
示ユニットについての画像表示装置上での位置を特定す
るためのアドレス情報と、画像データに付記されたアド
レス情報とが一致するかを判別し、この両者のアドレス
情報が一致する場合には画像データを取り込んで発光部
に出力するとともに、アドレス記憶手段に記憶されたデ
ータが画像表示装置上での位置を特定するために定めら
れた所定の数値範囲以外にある数値として与えられる所
定の数値に一致する場合には当該所定の数値に対応する
画像パターンを生成して発光部に出力する信号処理手段
を備えるものである。この構成によって、それぞれの表
示ユニットの画像表示装置上での位置を特定するための
アドレス情報とテスト用の画像データを発生させる指令
情報とを共通に単一の記憶手段(アドレス記憶手段)に
記憶することができる。従って、表示ユニットの構成を
簡略化して低コスト化等を図ることができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a self-diagnosis of a display state of an image display device and a self-diagnosis of characteristics such as a high voltage, a high voltage and a current consumption. It is suitable for use. 2. Description of the Related Art FIG. 9 is a block diagram of a large-sized video device. As shown in FIG. 9, a large-sized video device has m × n (1 ≦ m ≦ 9).
6, 1 ≦ n ≦ 96) in a matrix. Light emitting unit 10
0 is three in the vertical direction and four in the horizontal direction in this example as shown in FIG.
It is composed of cells 101 arranged in a row. Cell 10
As shown in FIG. 11, 1 is usually composed of two dots 102 vertically and four dots horizontally, and the dots 102 are B (Blue),
It comprises an element 103 coated with each of R (Red) and G (Green) phosphors. The large-sized video device irradiates each element 103 with an electron beam to emit light, and displays a color image. [0003] Such a large-sized image device is shipped after a test (display test) and an electrical characteristic test of whether or not the display state of each light emitting unit 100 is normal in the manufacturing process. The test of whether or not the display state of each light emitting unit 100 is normal includes a color bar test, a character display test, and the like, in addition to a steer step test in which the luminance is gradually increased to confirm the luminance. These tests are
A test pattern generator is connected to each light emitting unit 100, and the test pattern generator generates the above-described steer step pattern, color pattern, character pattern, and the like, and gives this pattern to the light emitting unit 100. [0004] In the electrical characteristic test, the set is disassembled and connected to a measuring instrument for measurement. As described above, in the conventional test for checking whether the display state of each light emitting unit 100 is normal, a test pattern generator must be connected to the light emitting unit 100. The transportation of the test pattern generator is troublesome, and especially when performing an aging test on a production line, the test pattern generator must be connected to each of all the light emitting units 100. Was. If a defect occurs in the light-emitting unit 100 incorporated as a large screen, the operator must monitor the screen condition from the front and always monitor the screen condition from the front. Was a heavy burden on When measuring various data by inspection or the like in a production line, the set must be disassembled and a measuring instrument must be connected, and wiring is time-consuming, which is a problem. Accordingly, the present invention provides an image which allows self-diagnosis of determination of whether a display state is normal, measurement of electrical characteristics, and the like.
It is an object to provide a display device . According to the present invention, there is provided an image display apparatus for displaying an image by combining a plurality of display units, wherein each of the display units includes a light emitting unit and the display unit. Address storage means configured to be capable of storing address information for specifying a position on the image display device, and the data stored in the address storage means and the address information added to the image data match. If the data stored in the address storage means matches the address information added to the image data, the image data is fetched and output to the light emitting unit, and stored in the address storage means. Data is used to identify the position on the image display device
Given as a value outside the specified numerical range specified in
And a signal processing means for generating an image pattern corresponding to the predetermined numerical value when the numerical value matches the predetermined numerical value and outputting the generated image pattern to the light-emitting unit. Solved by the display device. According to the present invention, there is provided address storage means configured to be capable of storing address information for specifying the position of the display unit on the image display device. The signal processing means (hereinafter referred to as signal processing unit 3) determines whether the data stored in the means matches the address information added to the image data. If the data stored in the address storage unit matches the address information added to the image data as a result of the determination, the signal processing unit 3 captures the image data and outputs it to the light emitting unit. The data stored in the address storage means is used to specify the position on the image display device.
As a value outside the specified numerical range specified for
If it matches the given value obtained, the given value
It is adapted to output to the light emitting unit to generate an image pattern corresponding to the. For example, as shown in FIG.
2, the display unit is identified or the self-diagnosis item of the display state is set to the address, the value of the set address is determined by the signal processing unit 3, and the display state of the light emitting unit 100 according to the address value is tested. To generate test signals. The signal processing unit 3 bidirectionally transmits and receives signals to and from the outside via the communication unit 1 as a transmission / reception unit. Further, the light emitting unit 100 includes a high voltage current measuring circuit 8, a high voltage measuring circuit 9 and a current consumption measuring circuit 10 for measuring electric characteristics, and measures a high voltage, a high voltage and a current consumption. Judge the measurement result. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a light emitting unit and a peripheral device of a large-sized video device according to an embodiment of the present invention. FIG.
As shown in the figure, the light emitting unit 100 has a communication unit 1 for receiving a video signal to which an address has been added, and the light emitting unit 100 has a light emitting unit of 1 to 96 (M in a large NTSC type video device).
ax80 (the number of vertical dots 102 is Max480
Address SW2 which can be set by a manual operation for numbering addresses up to Max 96 (the number of vertical dots 102 is Max 576) in the case of the PAL system.
A signal processing unit 3 for performing self-diagnosis of the display state of the light emitting unit 100 and for performing arithmetic processing on the measurement results of the electrical characteristics, and a ROM (Read Onl) for storing characters such as alphanumeric characters.
4, a memory for storing various display programs such as an all-white 100% light emission routine, a character display routine, and a free-run routine, for example, a ROM 4, a RAM 6 for storing electrical characteristic measurement data,
Built-in A / D converter 7, high voltage current measuring circuit 8, high voltage measuring circuit 9, current consumption measuring circuit 10, cell drive circuit 11 for causing cell 101 to emit light, and communication unit 1 for bidirectional communication with the outside. Have been. Outside the light-emitting unit 100, two-way communication with the communication unit 1 is performed, and an image processing device 13 for organizing the measurement data, and two-way communication with the image processing device 13 are possible so that each measurement data can be easily seen by an operator. Computer 1 for data processing
4. A printer 15 and an external storage device 16 are provided as peripheral devices of the computer 14. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the cell 101. FIG. 2A is an internal configuration diagram, and FIG. 2B is a diagram showing the electrode configuration of the cell. As shown in FIG. 2A, a field switching circuit 22 for alternately emitting a plurality of vertically arranged dots 102 constituting a cell 101 vertically is provided. As shown in FIG. 2B, the field switching circuit 22 is connected to cathodes 203 arranged vertically corresponding to each element 103, and an upper and lower cathode 203 group is controlled by an inverter 23 arranged in the field switching circuit 22. Are applied to each other. Therefore, since the High and Low signals are alternately applied to the cathode 203 vertically, the upper and lower elements 103 can emit light alternately. Twelve pulse width modulators (PWs) common to the top and bottom of each dot 102 for the entire cell
M21). The PWM 21 is supplied with an 8-bit video signal, and a G1 electrode 202 arranged corresponding to each element 103 as shown in FIG.
Are applied with PWM-modulated R, G, and B image signals, and a color image is displayed. The G2 electrode 201 prevents the electric field generated by the anode 200 from affecting the G1 electrode 202. The signal processing unit 3 compares the address added to the video signal received by the communication unit 1 with the address given by the address SW2, and takes in the video signal if they match. Since the unit address is a vertical line number and m is a maximum of 96, the address value used to capture this video signal is 1 to 96. On the other hand, in the address SW2, an 8-bit value from 0 to 255 can be set. Since the address values of 0 and 97 to 255 are not used, this unused value is
The display state of 0 was used for self-diagnosis. In this embodiment, the relationship between the address value and the contents of the self-diagnosis is set as follows in order to perform the self-diagnosis among the unused address values. [0016] Next, the contents of the self-diagnosis test will be described. (1) R, G, and B elements 103 that constitute the light emitting cell 101 with 100% all white
Are emitted at the same luminance. (2) Character display The cell 101 is caused to emit light so that characters such as alphanumeric characters are displayed. (3) Free run (a) Steering step FIG. 3 confirms whether the light emitting unit 100 represented by 8 bits (256 gradations) as luminance information is operating normally for each of the 8 bits. This is a luminance pattern to be performed. As shown in FIG. 3, in pattern 1, the element 103 does not emit light, and in pattern 2 to pattern 9, the luminance data has twice the value of each step. It is confirmed whether the element 103 emits light twice as bright. Pattern 10
Is luminance data of the maximum luminance. (B) The entire color bar light emitting unit 100 emits light, for example, in the order of Blue → Red → Magenta → Green → Cyan → Yellow → White.
For example, if a certain dot emits magenta when emitting blue light, it can be understood that the dot is an internal defect (for example, a cause such as a solder bridge). (4) Beam blank It is determined whether the field switching circuit 22 shown in FIG.
Are alternately emitted to confirm. Next, a process of self-diagnosing the display state of the light emitting unit 100 will be described with reference to FIG. First, in order to make a self-diagnosis of the display state of the light emitting unit 100, the address value of the address SW2 is set to any one of 97 to 99 according to the content of the self-diagnosis. Then, the signal processing unit 3 reads the address value set by the address SW2 and determines whether the address value is 97 (step 40). When the address value is 97, the signal processing unit 3 reads and executes the all-white 100% light emission routine stored in the ROM 4. All white 100
In the% routine, an 8-bit test pattern (for example, 'FF') is generated, and the same test pattern is transmitted to all the cell drive circuits 11. In the cell drive circuit 11, after storing the test pattern in a register (not shown), the test pattern is driven by a control line (not shown) connected to the cell drive circuit 11, converted into PWM luminance data, and applied to the PWM 21. You. PWM for PWM21
The brightness is applied to the grid electrode and the grid electrode to cause the dots 102 to emit light with 100% all white. If the address value is not 97, the signal processing section 3 determines whether the address value is 98 (step 4).
1). When the address value is 98, the signal processing section 3 reads and executes the character display routine stored in the ROM 4. ROM4 in the character display routine
A test pattern for generating a character character such as an alphanumeric character stored in the cell drive circuit 11 is read, and the test pattern is sent to the cell drive circuit 11. The cell drive circuit 11 is driven by the control line, and outputs the PWM luminance data to the PWM.
The light emitting element 103 is caused to emit light to display the character characters. If the address value is not 98, the signal processing unit 3 determines whether the address value is 99 (step 4).
2). If the address value is 99, the signal processing unit 3
The free-run routine stored in M4 is read and executed. In the free-run routine, first, the pattern signal of the steering step shown in FIG. 3 is created, and then the pattern signal is sent to each cell drive circuit 11. Cell drive circuit 1
After storing the pattern signal in the register, the PWM 21
To make the sending element 103 emit light. At this time, since the luminance represented by the pattern signal is sequentially increased, the luminance is visually confirmed by the light emitting element 103. Next, the signal processing section 3 reads and executes a color bar test routine stored in the ROM 4. The color bar test routine generates a test signal to emit blue light and sends the test signal to the cell drive circuit 11. The cell drive circuit 11 sends a Blue test signal to the PWM 21 provided in the cell 101 to cause the Blue element 103 to emit light. Next, similarly, the color bar test routines are Red, Magenta, Green, Cyan and Whit
The corresponding test signals are generated in the order of e to cause the elements 103 to emit light sequentially. Next, the free-run routine checks whether the field switching circuit 22 is operating normally.
For example, a test signal that emits light at 100% full white and a test signal that does not emit light at all are created so as to be synchronized with the high and low or the low and high of the field switching signal applied to the cathode, and sent to the cell drive circuit 11. The cell drive circuit 11 sends a test signal to the upper and lower PWM 21 and
The element 103 emits light. If the field switching circuit 22 operates normally, one of the upper and lower elements 103 arranged in the cell 101 emits light. If the value set by the address SW2 is 9
If the value is different from any of 7 to 99, the communication units 1 to 8
Address and address SW added to bit video signal
If the values set by 2 match, the video signal is sent from the signal processing unit 3 to the PWM 21 via the cell drive circuit 11 to cause the element 103 to emit light and display the video signal. The test signal for self-diagnosing the display state of the light emitting unit 100 is repeatedly generated unless the address value is changed by the address SW2, so that a long time test (eg, aging) can be suitably performed. Next, self-diagnosis of electrical characteristics such as high voltage current, high voltage and current consumption will be described. FIG. 5 is a circuit diagram of a high voltage current measuring circuit 8 for measuring a high voltage current. As shown in FIG. 5, a high voltage power supply circuit 50 is connected to a constant voltage circuit 51 to be described later to keep the voltage constant. The constant voltage circuit 51 is the cell 1
01 is connected to the anode. High voltage power supply circuit 50
Is connected to a voltage detection resistor R1 for detecting a voltage and a + terminal of a voltage follower (OP1). The high-voltage current is converted into a voltage by the voltage detection resistor R1, received by the voltage follower OP1, and impedance-converted. Since the detection voltage obtained from the voltage detection resistor R1 is a negative voltage, the voltage is inverted and amplified by the inverting amplifier (OP2) at an amplification factor G = R3 / R2. Finally, the ripple is cut by a secondary low-pass filter (OP3) to obtain an input signal to the A / D converter 7. FIG. 6 is a circuit diagram for measuring a high voltage. As shown in FIG. 6, the high power supply voltage circuit 50 is connected to a constant voltage circuit 51 to keep its voltage constant.
61 is a voltage control transistor which is a large capacity transistor for voltage control, 62 is a voltage control drive transistor,
A protection transistor 63 conducts when the load current increases, lowers the base electrode of the voltage control drive transistor 62, cuts off the voltage control transistor 61, and prevents the voltage control transistor 61 from being destroyed.
Reference numeral 64 denotes an error detection transistor whose output voltage is a resistance R11.
And a partial pressure at R12 is applied to the base. On the other hand, a constant voltage diode 65 is connected to the emitter of the error detection transistor 64, and the output voltage is applied through the resistor R13, so that a constant voltage is always maintained.
For this reason, the error detection transistor 64 converts a change in the base voltage into a change in the collector voltage, and outputs the resistances R14 and R1.
5, the output voltage is kept constant by changing the base current of the voltage-controlled drive transistor 62. Therefore, when the output voltage rises, the resistance R11
Since the current flowing through R12 and R12 increases, the voltage rises at the connection between resistors R11 and R12 by the rise in the output voltage. Therefore, resistors R11 and R12 are also used as constant power supply circuit 51, and resistors R11 and R12 By connecting the connection point between R11 and R12 and the A / D converter 7 as the measuring circuit 9, a high voltage can be measured. FIG. 7 is a circuit diagram of the current consumption measuring circuit 10. As shown in FIG. 7, the AC power supply is connected to terminals A and C of a bridge rectifier circuit 52 for performing double-wave rectification. The terminal B of the bridge rectifier circuit 52 is connected to a capacitor, and the output is smoothed. The smoothed output is input to a switching regulator circuit (not shown). The GND terminal D of the bridge rectifier circuit 52 is connected to the voltage detection resistor R. The current consumption of the switching regulator circuit is detected by a voltage detection resistor R. This is received by a voltage follower (OP11), impedance-converted, and then inverted and amplified by an inverting amplifier (OP12). Finally, the ripple is cut by a secondary low-pass filter (OP13), and A /
The input signal of the D converter 7 is used. Next, a process of self-diagnosis of high-voltage current, high-voltage and electric characteristics of a consumption battery will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 8, the system power supply for starting the signal processing section 3 is turned on (step 30). Next, the signal processing unit 3 creates 8-bit luminance data to turn on the cell 101 and sends the luminance data to the cell drive circuit 11. The luminance data is transmitted from the cell drive circuit 11 to the PWM 21 and a predetermined cell 101 is turned on. Then, the high-voltage current is measured by the high-voltage current measurement circuit 8 with the predetermined cell 101 turned on (step 31). The measured high-voltage current is converted into a digital signal of a predetermined bit (for example, 8 bits) by the A / D converter 7 and input to the signal processing unit 3. The signal processing unit 3 determines whether the high voltage current value converted into the digital signal is normal,
Along with this determination, the high voltage current value is stored in the RAM 6. Next, the signal processing section 3 sends a signal for turning off the lit cell 101 to the cell drive circuit 11, turns off the cell 101, turns on the next unmeasured cell 101, measures the high voltage current (step 31) and measures Data storage (Step 3
Perform 2). These steps 31 and 32 are sequentially performed on all the cells 101 in the light emitting unit 100. Next, the signal processing section 3 sends a signal for simultaneously lighting all the cells 101 in the light emitting unit 100 to the cell drive circuit 11, and simultaneously lights all the cells 101. Next, a high voltage current is measured by the high voltage current measuring circuit 8 in a state where all the cells 101 are turned on (step 3).
3). Next, the high voltage current measured in step 33 is A
The signal is converted into a digital signal by the / D converter 7, processed by the signal processing unit 3, and stored in the RAM 6 (step 34). Next, the voltage value of the high voltage input from the high voltage power supply circuit 50 is measured by the high voltage measurement circuit 9 (step 35). After the measured high voltage is converted into a digital signal by the A / D converter 7, the signal processing unit 3
Is input to The signal processing unit 3 performs arithmetic processing on the input digital signal, determines whether the voltage input from the high-voltage power supply circuit 50 is normal, and
It is determined whether or not the voltage input from is normal, and the high voltage value is stored in the RAM 6 together with the result of this determination (step 36). Next, the current consumption of the switching regulator is measured by the current consumption measuring circuit 10 in a state where each cell 101 is lit and all the cells are lit (step 37). Next, the A / D converter 7 converts the measured current consumption into a digital signal and inputs the digital signal to the signal processing unit 3. The signal processing unit 3 performs arithmetic processing on the digital signal, determines whether or not the measured current consumption is normal, and stores the determination result and the current consumption in the RAM 6 (step 38). Next, normal image data is displayed (step 39). The signal processing unit 3 sends the RA
It is determined whether there is a request to send out the measurement data stored in M6 (step 40). If there is no request for sending the measurement data, the procedure goes to step 39. If there is a request to send measurement data, the signal processing unit 3 reads the measurement data stored in the RAM 6 and transmits the measurement data to the image processing device 13 via the communication unit 1. The image processing device 13 arranges these measurement data for each light emitting unit 100 and transmits the data to the computer 14 which is bidirectionally connected. The computer 14 displays various data in a manner that is easy for the operator to see, and prints out the data to the printer 15.
The data is stored in the external storage measurement 16 (step 4
1). Next, go to step 39. The following defects can be determined from the above measured data. (1) No high voltage current is output in step 31. The cell 101 does not light due to a defect such as a leak or a high-voltage fuse blown. (2) In step 31 or step 33, a high voltage current flows too much. This is due to an increase in the high voltage current due to the deterioration of the cell 101. (3) No high voltage is output in step 35. This is due to a defect in the high-voltage power supply circuit 50. In the present embodiment, high-voltage current, high-voltage and current consumption were measured as self-diagnosis of electrical characteristics.
In addition, the voltages of the bias power supply and the heater power supply applied to the cell 101 can be measured by inserting a voltage dividing resistor or a shunt resistor. In addition, this embodiment
According to, the test pattern is displayed by the light emitting unit alone.
Connected to a test pattern generator.
It can be easily inspected. Especially at the production line
Many units can be aged simultaneously for inspection
Can be improved. Also light emitting unit
Measures high-voltage current, high-voltage and current consumption with a single knit
Can be easily set without disassembling the set.
Measurement and improve inspection throughput.
Wear. Collectively manages measurement data by computer
Therefore, the display operation status of all units can be grasped.
You. In addition, it is easy to analyze the causes of various defects,
Can respond quickly to good. As described above, according to the present invention, the address information for specifying the position of the display unit on the image display device matches the address information added to the image data. If the two address information match, the image data is captured and output to the light emitting unit, and the data stored in the address storage means is used to specify the position on the image display device. Determined
Given as a numerical value outside the specified numerical range
In the case of a signal processing unit that generates an image pattern corresponding to the predetermined numerical value and outputs the generated image pattern to the light emitting unit when the numerical value matches the predetermined numerical value . With this configuration, address information for specifying the position of each display unit on the image display device and command information for generating test image data are commonly stored in a single storage unit (address storage unit). can do. Therefore, it is possible to simplify the configuration of the display unit and reduce costs.

【図面の簡単な説明】 【図1】実施例による発光ユニットおよび周辺装置構成
図である。 【図2】セル101内部構成図である。 【図3】ステアステップテストパターンである。 【図4】発光ユニットの表示状態の自己診断処理フロー
である。 【図5】高圧電流測定回路8の接続を示す図である。 【図6】高圧電圧測定回路9の接続を示す図である。 【図7】消費電流測定回路10の接続を示す図である。 【図8】電気特性測定処理フローを示す図である。 【図9】大型映像装置の構成図である。 【図10】発光ユニット100の構成図である。 【図11】セル101の構成図である。 【符号の説明】 1 通信部 2 アドレスSW 3 信号処理部 4 ROM 6 RAM 7 A/Dコンバータ 8 高圧電流測定回路 9 高圧電圧測定回路 10 消費電流測定回路 11 セルドライブ回路 13 画像処理装置 14 コンピュータ 15 プリンタ 21 PWM 22 フィールド切り換え回路 23 インバータ 50 高電圧電源回路 51 定電圧回路 52 ブリッジ整流回路 61 電圧制御トランジスタ 62 電圧制御ドライブトランジスタ 63 保護トランジスタ 64 誤差検出トランジスタ 65 ダイオード 100 発光ユニット 101 セル 102 ドット 103 エレメント
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram of a light emitting unit and peripheral devices according to an embodiment. FIG. 2 is an internal configuration diagram of a cell 101. FIG. 3 is a steer step test pattern. FIG. 4 is a self-diagnosis processing flow of a display state of a light emitting unit. FIG. 5 is a diagram showing connection of a high-voltage current measuring circuit 8; FIG. 6 is a diagram showing connection of a high-voltage measuring circuit 9; FIG. 7 is a diagram showing connection of the current consumption measuring circuit 10; FIG. 8 is a diagram showing a flow of an electric characteristic measurement process. FIG. 9 is a configuration diagram of a large-sized video device. FIG. 10 is a configuration diagram of a light emitting unit 100. FIG. 11 is a configuration diagram of a cell 101. [Description of Signs] 1 Communication unit 2 Address SW 3 Signal processing unit 4 ROM 6 RAM 7 A / D converter 8 High voltage current measurement circuit 9 High voltage voltage measurement circuit 10 Current consumption measurement circuit 11 Cell drive circuit 13 Image processing device 14 Computer 15 Printer 21 PWM 22 Field switching circuit 23 Inverter 50 High voltage power supply circuit 51 Constant voltage circuit 52 Bridge rectifier circuit 61 Voltage control transistor 62 Voltage control drive transistor 63 Protection transistor 64 Error detection transistor 65 Diode 100 Light emitting unit 101 Cell 102 Dot 103 Element

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 17/00 - 17/06 G09F 9/00 - 9/00 366 G09G 3/00 - 3/38 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H04N 17/00-17/06 G09F 9/00-9/00 366 G09G 3/00-3/38

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 複数の表示ユニットを組み合わせて画像
を表示する画像表示装置において、 それぞれの表示ユニットは、発光部と、 前記表示ユニットについての前記画像表示装置上での位
置を特定するためのアドレス情報を記憶可能に構成され
たアドレス記憶手段と、 該アドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに
付記されたアドレス情報とが一致するかを判別し、該ア
ドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに付記
されたアドレス情報とが一致する場合には画像データを
取り込んで前記発光部に出力するとともに、前記アドレ
ス記憶手段に記憶されたデータが前記画像表示装置上で
の位置を特定するために定められた所定の数値範囲以外
にある数値として与えられる所定の数値に一致する場合
には当該所定の数値に対応する画像パターンを生成して
前記発光部に出力する信号処理手段とを有して構成され
ることを特徴とする画像表示装置。
(57) [Claim 1] In an image display device for displaying an image by combining a plurality of display units, each of the display units includes a light-emitting unit and a display unit for the display unit. Address storage means configured to be able to store address information for specifying the position in the data storage unit; and determining whether data stored in the address storage means matches the address information added to the image data. When the data stored in the address storage means matches the address information attached to the image data, the image data is taken in and output to the light emitting unit, and the data stored in the address storage means is displayed on the image display. On the device
Out of the specified numerical range specified to identify the position of
Matches a given number given as a number in
And a signal processing unit for generating an image pattern corresponding to the predetermined numerical value and outputting the generated image pattern to the light emitting unit.
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