JP3296184B2 - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JP3296184B2
JP3296184B2 JP10719096A JP10719096A JP3296184B2 JP 3296184 B2 JP3296184 B2 JP 3296184B2 JP 10719096 A JP10719096 A JP 10719096A JP 10719096 A JP10719096 A JP 10719096A JP 3296184 B2 JP3296184 B2 JP 3296184B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、モード切替え機
能付き、より具体的にはパスワード機能付きの半導体集
積回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit with a mode switching function, and more specifically, with a password function.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在、メモリや演算回路あるいはこれら
の複合回路等、多種多様の半導体集積回路が作られ、使
われているが、内部データの自由な読出しや書替えを禁
止するプロテクト機能を備えたものはない。
2. Description of the Related Art At present, various kinds of semiconductor integrated circuits such as a memory, an arithmetic circuit, and a composite circuit thereof are manufactured and used. However, the semiconductor integrated circuit has a protection function for prohibiting free reading and rewriting of internal data. There is nothing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】半導体集積回路の高機
能化に伴い、内部データの自由な読出しや書き替えを禁
止したいというケースも生じて来ている。例えば、回路
検査用のプログラムを書き込んだROMを内蔵する集積
回路であって、その回路検査機能を特定の人以外には使
用させたくない場合、電気的書き替えが可能なEEPR
OMであって、供給者がデータ書込みを行い、通常の使
用者にはそのデータの自由な書き替えを禁止したい場
合、等である。
As the functions of semiconductor integrated circuits have become more sophisticated, there have been cases where it is desired to prohibit free reading and rewriting of internal data. For example, if an integrated circuit having a ROM in which a program for circuit inspection is written and the circuit inspection function is not to be used by anyone except a specific person, an electrically rewritable EEPROM is available.
This is the case where the OM is an OM and the supplier writes data, and the normal user wants to prohibit free rewriting of the data.

【0004】この発明は、上記事情を考慮してなされた
もので、内部回路の少なくとも一部の読出し又は書込み
を禁止するプロテクト回路を内蔵し、格別の外部端子を
付加することなく一定のパスワード入力によりプロテク
ト解除を可能とした半導体集積回路を提供することを目
的としている。この発明はまた、格別の外部端子を付加
することなく、切替えコードデータの入力により動作モ
ードの切替えを可能とした半導体集積回路を提供するこ
とを目的としている。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has a built-in protection circuit for prohibiting reading or writing of at least a part of an internal circuit, and is capable of inputting a predetermined password without adding a special external terminal. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit capable of releasing the protection. Another object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit capable of switching operation modes by inputting switching code data without adding a special external terminal.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この発明は、複数個ずつ
の入力端子と出力端子、および内部回路の活性化を制御
する制御端子を有し、前記内部回路の少なくとも一部の
読出し又は書込みを禁止するプロテクト回路を内蔵する
半導体集積回路であって、前記プロテクト回路は、前記
複数の入力端子のうち予め定められた組み合わせの入力
端子から複数ビットずつ複数回にわたる入力に対して各
複数ビットの一致/不一致を検出する検出手段と、前記
複数回にわたる入力に対する前記検出手段の検出出力デ
ータを一時保持するデータ保持手段と、このデータ保持
手段に保持された前記検出出力データが予め定められた
配列になったことを検出してプロテクト解除を行う判定
手段とを備えたことを特徴としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a plurality of input terminals and output terminals, and a control terminal for controlling activation of an internal circuit, and reads or writes at least a part of the internal circuit. A semiconductor integrated circuit having a built-in protection circuit, wherein the protection circuit is configured to receive a plurality of bits from an input terminal of a predetermined combination among the plurality of input terminals in response to an input over a plurality of bits.
Detecting means for detecting a match / mismatch of a plurality of bits, wherein
Data holding means for temporarily holding detection output data of the detection means for a plurality of inputs, and detecting that the detection output data held by the data holding means has a predetermined arrangement to release protection. Determination means for performing the determination.

【0006】この発明において具体的に、前記判定手段
は、前記検出出力データが予め定められた配列になった
ことを検出するパス設定手段と、前記制御端子の制御入
力が第1のレベルにあるときに前記パス設定手段の検出
出力が予め定められた配列になった場合にプロテクト解
除信号を出力するゲート手段と、前記制御端子の制御入
力と前記プロテクト解除信号により前記ゲート手段を制
御して前記制御入力が前記第1のレベルと異なる第2の
レベルに切り替わるまでプロテクト解除信号の出力状態
を保持するロック手段とを備えて構成される
More specifically, in the present invention , the determining means is a path setting means for detecting that the detected output data is in a predetermined arrangement, and the control input of the control terminal is at a first level. The gate means for outputting a protection release signal when the detection output of the path setting means is in a predetermined arrangement, and controlling the gate means by a control input of the control terminal and the protection release signal, control input is constituted by a locking means for holding the output state of the protect release signal to switch to a second level different from the first level.

【0007】この発明は更に、第1の動作モードと第2
の動作モードとを有する半導体集積回路において、第1
の動作モードと第2の動作モードで共通に使用される外
部入力端子から前記第1の動作モードでは使用されない
組み合わせの切替えコードデータが入力されたことを検
出する検出手段と、この検出手段により順次得られた検
出出力データを保持するデータ保持手段と、このデータ
保持手段に保持された前記検出出力データが予め定めら
れた配列になったことを判定して第2の動作モードに設
定するモード判定手段とを備えたことを特徴としてい
る。
The present invention further comprises a first operation mode and a second operation mode.
Semiconductor integrated circuit having an operation mode of
Detecting means for detecting that switching code data of a combination not used in the first operation mode has been input from an external input terminal commonly used in the operation mode and the second operation mode; Data holding means for holding the obtained detection output data, and mode determination for determining that the detection output data held in the data holding means has a predetermined arrangement and setting the second operation mode Means.

【0008】この発明によると、内部回路の少なくとも
一部の読出し又は書込みを禁止するプロテクトモードを
有し、格別な外部端子を付加することなく、一定のパス
ワード入力によりプロテクト解除を可能として、特定デ
ータの機密保持やユーザーによる自由なデータ書き替え
等を防止できるようにした半導体集積回路を得ることが
できる。またこの発明によると、上述のプロテクトモー
ドとプロテクト解除モードをより一般的に第1の動作モ
ードと第2の動作モードとし、第1の動作モードでは通
常あり得ない切替えコードデータの入力により第2の動
作モードへの切替えを可能として、切替えコードデータ
の配列を秘密にすることにより、パスワード機能を与え
た半導体集積回路が得られる。
According to the present invention, there is provided a protect mode in which reading or writing of at least a part of the internal circuit is prohibited, and the protection can be released by inputting a predetermined password without adding an extraneous external terminal, and the specific data can be released. A semiconductor integrated circuit capable of preventing confidentiality and preventing data from being freely rewritten by a user can be obtained. Further, according to the present invention, the above-described protect mode and unprotect mode are more generally referred to as a first operation mode and a second operation mode, and the second operation mode is input by inputting switching code data which cannot be normally obtained in the first operation mode. The semiconductor integrated circuit provided with the password function can be obtained by making the arrangement of the switching code data secret by enabling the switching to the operation mode.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施例を説明する。図1は、この発明の一実施例の論
理演算用半導体集積回路(LSI)1の概略構成を示
す。このLSI1の主要な内部回路は、論理演算回路2
であり、回路動作を実現するための外部端子として、少
なくとも、電源端子(VDD)、接地端子(VSS)、論理
演算回路2の活性化を制御する制御端子(CTRL)、
クロック端子(CLK)、データ入力端子(IN1〜I
Nn)、データ出力端子(OUT1〜OUTm)を有す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a schematic configuration of a logic operation semiconductor integrated circuit (LSI) 1 according to an embodiment of the present invention. The main internal circuit of this LSI 1 is a logical operation circuit 2
And at least a power supply terminal (VDD), a ground terminal (VSS), a control terminal (CTRL) for controlling activation of the logical operation circuit 2,
Clock terminal (CLK), data input terminal (IN1 to I
Nn) and data output terminals (OUT1 to OUTm).

【0010】内部回路として論理演算回路2の他に、論
理演算回路2の回路検査用のプログラムを書き込んだR
OM3を有する。このROM3のデータは通常動作にお
いては読出し禁止とされるもので、そのためにプロテク
ト回路4を内蔵している。プロテクト回路4は、回路検
査を行う場合にのみ、特定のパスワード入力によりプロ
テクト解除を行い得るようになっている。
[0010] In addition to the logical operation circuit 2 as an internal circuit, an R circuit in which a circuit inspection program for the logical operation circuit 2 is written.
OM3. The data in the ROM 3 is prohibited from being read in the normal operation, and therefore, a protection circuit 4 is built in. The protection circuit 4 can cancel the protection by inputting a specific password only when performing a circuit inspection.

【0011】プロテクト回路4の具体例を図2に示す。
このプロテクト回路4は、LSI1として本来必要な端
子の他、格別の端子を付加することなく構成されてお
り、複数の入力端子IN1〜INnのなかから選択され
た所定の組み合わせの端子から入力されるパスワードデ
ータを検出する検出回路21、この検出回路21により
順次得られた検出出力データを一時保持するデータ保持
回路22、およびデータ保持回路22に保持された検出
出力データが予め定められた配列になったことを判定し
てプロテクト解除を行う判定回路23(23a〜23
c)を有する。
FIG. 2 shows a specific example of the protection circuit 4.
The protection circuit 4 is configured without adding any special terminal other than the terminal originally required as the LSI 1 and is input from a predetermined combination of terminals selected from the plurality of input terminals IN1 to INn. A detection circuit 21 for detecting password data, a data holding circuit 22 for temporarily holding the detection output data sequentially obtained by the detection circuit 21, and a predetermined arrangement of the detection output data held in the data holding circuit 22; The determination circuit 23 (23a to 23a) that determines that the
c).

【0012】パスワードデータの検出回路21は、図の
場合、IN1,IN2,IN3端子の3入力の“H”レ
ベルの一致/不一致を検出するNANDゲートG1によ
り構成されている。データ保持回路22は、後述するよ
うに複数回入力されるパスワードデータの検出出力を順
次転送して保持するシフトレジスタSRにより構成され
ている。シフトレジスタSRのシフトクロックは、NA
NDゲートG2により、CTRL入力をインバータI1
で反転した信号と、CLK入力との一致をとって発生さ
れるようになっている。
In the case of the figure, the password data detection circuit 21 detects the three-input “H” level of the IN1, IN2, and IN3 terminals.
It comprises a NAND gate G1 for detecting the match / mismatch of the bell . The data holding circuit 22 includes a shift register SR that sequentially transfers and holds detection outputs of password data input a plurality of times as described later. The shift clock of the shift register SR is NA
The CTRL input is connected to the inverter I1 by the ND gate G2.
Is generated by matching the inverted signal with the CLK input.

【0013】プロテクト解除を行う判定回路23は、シ
フトレジスタSRに保持された検出出力データが予め定
められた配列になったことを検出するパス設定回路23
aと、CTRL入力が第1のレベル(“L”レベル)に
あるときにパス設定回路23aの検出出力を取り出して
プロテクト解除信号を出力するゲート回路23bと、C
TRL入力とプロテクト解除信号によりゲート回路23
bを制御してCTRL入力が第2のレベル(“H”レベ
ル)に切り替わるまでプロテクト解除状態を保持するロ
ック回路23cとから構成されている。
A determination circuit 23 for canceling protection is a path setting circuit 23 for detecting that the detection output data held in the shift register SR has become a predetermined array.
a, a gate circuit 23b that extracts a detection output of the path setting circuit 23a when the CTRL input is at the first level (“L” level) and outputs a protection release signal;
Gate circuit 23 by TRL input and protection release signal
b, and a lock circuit 23c that holds the protection release state until the CTRL input switches to the second level (“H” level).

【0014】パス設定回路23aは、シフトレジスタS
Rの各段データを反転して、又は非反転のまま次のゲー
ト回路23bに転送するべく、予め定められたインバー
タ配列により構成される。具体的に図の場合、二つのイ
ンバータI3,I4が配置されてパス設定回路23aが
構成され、検出回路21で順次検出される出力データが
“H”,“L”,“H”,“L”となったときにのみ、
パスが成立したことを示すオール“H”なる出力をゲー
ト回路23bに送るようになっている。
The path setting circuit 23a includes a shift register S
Each stage of R is configured by a predetermined inverter arrangement so as to invert or transfer the data to the next gate circuit 23b without inversion. Specifically, in the case of the figure, two inverters I3 and I4 are arranged to form a path setting circuit 23a, and output data sequentially detected by the detection circuit 21 is "H", "L", "H", "L". Only when "
An output of all "H" indicating that the path has been established is sent to the gate circuit 23b.

【0015】ゲート回路23bは、パス設定回路23a
の各出力をそれぞれ一つの入力とするNORゲート列G
4〜G7と、これらの出力を反転するインバータI5〜
I8と、これらのインバータI5〜I8の出力の一致/
不一致を検出するNANDゲートG8、およびその出力
を反転するインバータI9により構成されている。後述
するようにプロテクト解除の条件が成立しない限り、通
常の状態ではゲート回路23bは、プロテクト信号PT
=“L”を出力して、ROM3をデータ読出し禁止の状
態に設定している。
The gate circuit 23b includes a path setting circuit 23a
NOR gate array G having each output as one input
4 to G7 and inverters I5 to invert these outputs.
I8 matches the output of inverters I5 to I8 /
It comprises a NAND gate G8 for detecting a mismatch and an inverter I9 for inverting its output. Unless the condition for canceling the protection is satisfied as described later, in a normal state, the gate circuit 23b outputs the protection signal PT
= "L" is output, and the ROM 3 is set in a data reading prohibited state.

【0016】プロテクト解除の条件が成立したときに、
その状態を所定期間保持するロック回路23cは、プロ
テクト信号PTと、CTRL入力の反転信号の一致検出
を行うNANDゲートG3とその出力を反転するインバ
ータI2により構成され、このインバータI2の出力が
ゲート回路23bのNORゲート列G4〜G7の各制御
端子に入るようになっている。
When the condition for canceling the protection is satisfied,
The lock circuit 23c that holds the state for a predetermined period includes a NAND gate G3 that detects coincidence between the protect signal PT and the inverted signal of the CTRL input, and an inverter I2 that inverts the output thereof. The control terminals of the NOR gate arrays G4 to G7 of 23b are provided.

【0017】この様に構成されたプロテクト回路4の動
作を図3を参照して説明する。図3に示すように、CT
RL=“L”でLSI1は活性状態になる。LSI1の
通常動作においては、プロテクト信号がPT=“L”で
あって、ROM3は非活性に保たれる。回路検査が必要
になった場合、CTRL=“L”の状態で、入力端子I
N1〜IN3を利用して、図3に示すようにパスワード
データC1〜C4を順次入力し、同時にCLK端子から
クロックを導入する。
The operation of the protection circuit 4 configured as described above will be described with reference to FIG. As shown in FIG.
When RL = “L”, the LSI 1 is activated. In the normal operation of the LSI 1, the protection signal is PT = "L" and the ROM 3 is kept inactive. When the circuit inspection is required, the input terminal I is set in the state of CTRL = "L".
Using N1 to IN3, password data C1 to C4 are sequentially input as shown in FIG. 3, and a clock is simultaneously introduced from the CLK terminal.

【0018】この実施例の場合、パスワードデータC1
〜C4は例えば、図4に示すように、C1,C3がIN
1〜IN3にオール“L”、C2,C4がIN1〜IN
3にオール“H”とする。このとき、検出回路21のN
ANDゲートG1の出力は、順次“H”,“L”,
“H”,“L”となり、これが順次シフトレジスタSR
に転送されると、パス設定回路23aの出力がオール
“H”の状態、即ちプロテクト解除の条件が成立する。
この状態はNANDゲートG8により検出されて、PT
=“H”なるプロテクト解除信号が出力される。但し、
検出回路21にNANDゲートG1を用いたこの実施例
の場合は、C1,C3がオール“L”でなくても、オー
ル“H”以外の組み合わせであれば、プロテクト解除の
条件が成立する。即ちこの実施例の場合のプロテクト解
除の条件は厳密に言えば、C1,C3がオール“H”以
外のデータであり且つ、C2,C4がオール“H”であ
る場合に成立する。
In the case of this embodiment, the password data C1
~C4, for example, sea urchin'll be shown in Figure 4, C1, C3 is IN
1 to IN3 are all "L", C2 and C4 are IN1 to IN
3 is all "H". At this time, N
The outputs of the AND gate G1 are sequentially "H", "L",
"H" and "L", which are sequentially shifted by the shift register SR.
, The state of the output of the path setting circuit 23a is all "H", that is, the condition of the protection release is satisfied.
This state is detected by NAND gate G8, and PT
= "H" is output. However,
This embodiment using the NAND gate G1 for the detection circuit 21
In the case of, even if C1 and C3 are not all "L",
If the combination is other than “H”,
The condition holds. That is, the protection solution in the case of this embodiment
Strictly speaking, C1 and C3 are all “H” or less.
Outside data and C2 and C4 are all "H"
Holds if

【0019】プロテクト解除の条件が成立すると、PT
=“H”がロック回路23cに帰還されて、ロック回路
23cは“H”を出力し、これがNORゲート列G4〜
G7に入力されて、CTRL=“L”の間、プロテクト
解除の状態が保持される。プロテクト解除の状態ではR
OM3が活性になり、この状態で、例えばIN1〜IN
nからのテストパターンデータ入力により、ROM3の
プログラムデータの読出しとそのプログラムに従った回
路のテスト動作を行う。CTRL=“H”になると、ロ
ック回路23cの出力が“L”となり、PT=“L”の
プロテクト状態に戻る。
When the condition for canceling the protection is satisfied, the PT
= “H” is fed back to the lock circuit 23c, and the lock circuit 23c outputs “H”.
The signal is input to G7, and while CTRL = “L”, the state of protection release is maintained. R in the unprotected state
OM3 becomes active, and in this state, for example, IN1 to IN
When the test pattern data is input from n, the program data is read from the ROM 3 and the test operation of the circuit according to the program is performed. When CTRL = “H”, the output of the lock circuit 23c becomes “L”, and the protection state returns to PT = “L”.

【0020】以上のようにこの実施例によると、ROM
3は通常非活性とされ、パスワード入力により活性化さ
れて読出し可能となる。従って、LSI1の回路検査の
内容を一般ユーザーには知られたくない場合に有効であ
る。
As described above, according to this embodiment, the ROM
Reference numeral 3 is normally inactive, activated by a password input, and becomes readable. Therefore, it is effective when the general user does not want to know the contents of the circuit inspection of the LSI 1.

【0021】なお、プロテクトの態様は上の実施例とは
異なるものでもよい。例えば、ROM3は通常論理演算
回路2と共に活性化されて論理演算回路2の動作を制御
するものであって、かつ特定の入力によりROM3のデ
ータ内容を直接出力端子OUT1〜OUTmに読出して
チェックできるように構成されており、但しROM3の
データ内容は一般ユーザーには機密にしたいという場合
もある。この様な場合には、プロテクト回路4によるプ
ロテクト信号PTは、ROM3のデータの論理演算回路
2への読出しは妨げず、外部出力端子への読出しを禁止
又は禁止解除する制御信号とする。これにより、実施例
と同様のパスワード入力によって初めてROM3のデー
タを直接読出してチェックすることができるというLS
Iが得られる。
The mode of protection may be different from the above embodiment. For example, the ROM 3 is normally activated together with the logical operation circuit 2 to control the operation of the logical operation circuit 2, and the data content of the ROM 3 can be directly read out to the output terminals OUT1 to OUTm and checked by a specific input. However, there are cases where the data content of the ROM 3 is desired to be kept confidential to general users. In such a case, the protection signal PT by the protection circuit 4 is a control signal for preventing or canceling the reading of the data of the ROM 3 to the logical operation circuit 2 without inhibiting the reading to the external output terminal. As a result, it is possible to directly read and check the data in the ROM 3 for the first time by inputting the same password as in the embodiment.
I is obtained.

【0022】図5は、この発明の別の実施例のLSI1
1の概略構成を示す。このLSI11は内部回路の主要
部がEEPROM回路12である。外部端子としては、
少なくとも、チップイネーブル端子(CEN)、ライト
イネーブル端子(WEN)、アドレス入力端子(A1〜
An)、電源端子(VDD)、書き替え用の昇圧電位端子
(VPP)、データ出力端子(OUT1〜OUTm)、お
よび接地端子(VSS)を有する。
FIG. 5 shows an LSI 1 according to another embodiment of the present invention.
1 shows a schematic configuration. The main part of the LSI 11 is an EEPROM circuit 12. As an external terminal,
At least a chip enable terminal (CEN), a write enable terminal (WEN), and an address input terminal (A1
An), a power supply terminal (VDD), a step-up potential terminal (VPP) for rewriting, a data output terminal (OUT1 to OUTm), and a ground terminal (VSS).

【0023】LSI11には、EEPROM回路12の
他に、EEPROM回路12のデータ書き替えを通常禁
止状態におき、データ読出しのみを可能とするプロテク
ト回路13を内蔵している。このプロテクト回路13
は、例えば先の実施例の図2と同様の回路構成とし、格
別の外部端子を付加することなく、一定のパスワード入
力によりプロテクト解除を行うように構成される。この
場合、パスワード入力端子としては、A1〜An端子か
ら選ばれた適当な組み合わせを用い、CTRL端子に代
わってWEN端子を用い、CLK端子の代わりに適当な
アドレス端子を用いることができる。
In addition to the EEPROM circuit 12, the LSI 11 has a built-in protection circuit 13 which normally disables data rewriting of the EEPROM circuit 12 and enables only data reading. This protection circuit 13
Has a circuit configuration similar to that of FIG. 2 of the previous embodiment, for example, and is configured to release protection by inputting a fixed password without adding a special external terminal. In this case, an appropriate combination selected from the A1 to An terminals can be used as the password input terminal, a WEN terminal can be used instead of the CTRL terminal, and an appropriate address terminal can be used instead of the CLK terminal.

【0024】この様な構成として、WEN=“L”、即
ち書込みイネーブルの状態として、先の実施例と同様の
パスワード入力およびクロック入力によりプロテクトを
解除し、データ書き替えを行うことができる。パスワー
ド入力によるプロテクト回路13の制御を行う間、VPP
端子に書き替え用の昇圧電位を与えない限り、誤書込み
が生じることはない。データ書き替えを行った後、WE
N=“H”とすることにより、先の実施例と同様にプロ
テクト状態に復帰する。以上のようにしてこの実施例に
よれば、パスワードを知る特定の人だけがデータ書き替
えを行うことを可能としたEEPROMが得られる。
With such a configuration, when WEN = "L", that is, in the write enable state, the protection can be released by the same password input and clock input as in the previous embodiment, and the data can be rewritten. While the protection circuit 13 is controlled by inputting a password, VPP
Unless a rewriting step-up potential is applied to the terminal, erroneous writing does not occur. After rewriting data, WE
By setting N = “H”, it returns to the protected state as in the previous embodiment. As described above, according to this embodiment, an EEPROM is obtained in which only a specific person who knows the password can rewrite data.

【0025】以上では、プロテクトモードを持つ集積回
路の実施例を説明したが、この発明はこれに限られな
い。例えば、第1の動作モードを通常モードとし、第2
の動作モードを主回路のチェック、あるいは特定データ
の読出し等を行うモードとして、上記実施例のプロテク
ト回路と同様の構成のモード切替え回路を備えることに
より、格別の外部端子を付加することなくパスワード機
能を持たせた半導体集積回路を得ることができる。
Although the embodiment of the integrated circuit having the protect mode has been described above, the present invention is not limited to this. For example, the first operation mode is set to the normal mode, and the second operation mode is set to the second mode.
The operation mode is a mode for checking the main circuit or reading specific data. By providing a mode switching circuit having the same configuration as the protection circuit of the above-described embodiment, the password function can be performed without adding an extra external terminal. Can be obtained.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、内
部回路の少なくとも一部の読出し又は書込みを禁止する
プロテクト回路を内蔵し、一定のパスワード入力により
プロテクト解除を可能とした半導体集積回路を提供する
ことができる。
As described above, according to the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit having a built-in protection circuit for inhibiting reading or writing of at least a part of an internal circuit and capable of releasing the protection by inputting a certain password. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の一実施例のLSIの構成を示す。FIG. 1 shows a configuration of an LSI according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同実施例のプロテクト回路の構成を示す。FIG. 2 shows a configuration of a protection circuit of the embodiment.

【図3】 同プロテクト回路の動作を説明するためのタ
イミング図である。
FIG. 3 is a timing chart for explaining the operation of the protection circuit.

【図4】 同プロテクト回路のパスワードデータの例を
示す。
FIG. 4 shows an example of password data of the protection circuit.

【図5】 この発明の他の実施例のLSIの構成を示
す。
FIG. 5 shows a configuration of an LSI according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…LSI、2…論理演算回路、3…ROM、4…プロ
テクト回路、11…LSI、12…EEPROM回路、
13…プロテクト回路。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... LSI, 2 ... Logical operation circuit, 3 ... ROM, 4 ... Protect circuit, 11 ... LSI, 12 ... EEPROM circuit,
13 Protect circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 12/14 G11C 16/06 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G06F 12/14 G11C 16/06

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数個ずつの入力端子と出力端子、およ
び内部回路の活性化を制御する制御端子を有し、前記内
部回路の少なくとも一部の読出し又は書込みを禁止する
プロテクト回路を内蔵する半導体集積回路であって、 前記プロテクト回路は、 前記複数の入力端子のうち予め定められた組み合わせの
入力端子から複数ビットずつ複数回にわたる入力に対し
て各複数ビットの一致/不一致を検出する検出手段と、前記複数回にわたる入力に対する前記 検出手段の検出出
力データを一時保持するデータ保持手段と、 このデータ保持手段に保持された前記検出出力データが
予め定められた配列になったことを検出してプロテクト
解除を行う判定手段と を備えたことを特徴とする半導体集積回路。
1. A semiconductor having a plurality of input terminals and output terminals, and a control terminal for controlling activation of an internal circuit, and having a built-in protection circuit for inhibiting reading or writing of at least a part of the internal circuit. An integrated circuit, wherein the protection circuit is configured to input a plurality of bits from a plurality of input terminals of a predetermined combination among the plurality of input terminals a plurality of times.
Detecting means for detecting a match / mismatch of each of a plurality of bits, data holding means for temporarily holding detection output data of the detection means in response to the plurality of inputs , and detecting detection data held by the data holding means. A semiconductor integrated circuit comprising: a determination unit configured to detect that a predetermined arrangement has been achieved and release protection.
【請求項2】 前記判定手段は、 前記検出出力データが予め定められた配列になったこと
を検出するパス設定手段と、 前記制御端子の制御入力が第1のレベルにあるときに前
記パス設定手段の検出出力が予め定められた配列になっ
た場合にプロテクト解除信号を出力するゲート手段と、 前記制御端子の制御入力と前記プロテクト解除信号によ
り前記ゲート手段を制御して前記制御入力が前記第1の
レベルと異なる第2のレベルに切り替わるまでプロテク
ト解除信号の出力状態を保持するロック手段と を備えたことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回
路。
2. The method according to claim 1, wherein the determining unit detects that the detected output data has a predetermined arrangement, and the path setting unit determines that the control input of the control terminal is at a first level. The detection output of the means is in a predetermined array
A gate means for outputting a protection release signal in a case where the control input is switched to a second level different from the first level by controlling the gate means with the control input of the control terminal and the protection release signal. 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, further comprising: lock means for holding an output state of the protection release signal.
【請求項3】 前記判定手段は、複数ビットのオール
“H”を検出する第1のNANDゲートであり、 前記データ保持手段は、前記第1のNANDゲートの検
出出力を順次入力してシリアル転送するシフトレジスタ
であり、 前記パス設定手段は、前記複数回にわたる入力に対する
前記第1のNANDゲートの検出出力が予め定められた
“H”,“L”配列である場合にその“L”レ ベルを反
転してオール“H”状態にするようにインバータを配列
して構成されるインバータ配列であり、 前記ゲート手段は、前記インバータ配列部を通った各デ
ータがそれぞれ入力されるNORゲート列、このNOR
ゲート列の各出力の反転データのオール“H”状態を検
出して前記プロテクト解除信号を出力する第2のNAN
Dゲートを備えて構成され、 前記ロック手段は、前記プロテクト解除信号と前記制御
信号の一致を検出して前記プロテクト解除信号の出力状
態を保つように前記NORゲート列に“H”入力を与え
るための第3のNANDゲートを有することを特徴とす
る請求項2記載の 半導体集積回路。
3. The method according to claim 2, wherein the determining means includes a plurality of bits.
A first NAND gate for detecting “H”, wherein the data holding unit detects the first NAND gate;
A shift register that sequentially inputs and outputs data and serially transfers it
, And the said path setting means, for the input over said plurality of times
The detection output of the first NAND gate is predetermined.
"H", "L" when it is arranged that "L" anti the level
Arrange inverters so that they are all turned to “H” state
The gate means is provided for each data passing through the inverter array section.
NOR gates to which data are input,
Detect all “H” states of inverted data of each output of the gate row.
A second NAN for outputting the protection release signal
A D gate, wherein the lock means is configured to output the protection release signal and the control signal.
A signal match is detected and the output of the protection release signal is output.
"H" input to the NOR gate train to maintain the state.
Having a third NAND gate for
The semiconductor integrated circuit according to claim 2 .
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