JP3182621B2 - Test program monitor - Google Patents

Test program monitor

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JP3182621B2 JP32246391A JP32246391A JP3182621B2 JP 3182621 B2 JP3182621 B2 JP 3182621B2 JP 32246391 A JP32246391 A JP 32246391A JP 32246391 A JP32246391 A JP 32246391A JP 3182621 B2 JP3182621 B2 JP 3182621B2
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実 山▲崎▼
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は計算機におけるハ−ドウ
ェア入出力装置を試験するために用いられるテスト用プ
ログラム(以下、「TP」という)の実行状態を監視す
るテスト用プログラムモニタ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test program monitor for monitoring the execution state of a test program (hereinafter referred to as "TP") used for testing hardware input / output devices in a computer.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6は従来のモニタ装置におけるテスト
用プログラムの処理手順を示したフロ−チャ−トであ
る。
2. Description of the Related Art FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of a test program in a conventional monitor device.

【0003】従来のプログラム処理では、まず各種ハ−
ドウェア入出力装置に付随するパラメ−タ設定処理が行
われる(ステップ61)。ついでハ−ドウェアの初期化
処理(ステップ62)、実際にハ−ドウェアを試験する
試験処理(ステップ63)、ハ−ドウェアの状態を元に
戻す終了処理(ステップ64)が行われる。そして、こ
のようなステップ61からステップ64までの処理手順
が個々のハ−ドウェア入出力装置について各々実行され
る。
In the conventional program processing, first, various hardware
A parameter setting process associated with the hardware input / output device is performed (step 61). Next, a hardware initialization process (step 62), a test process for actually testing the hardware (step 63), and a termination process for restoring the hardware state (step 64) are performed. The processing procedure from step 61 to step 64 is executed for each hardware input / output device.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6に
示す一連のプログラム処理手順では、ハ−ドウェアの試
験自身に仕様変更があった場合に、複数のハ−ドウェア
入出力装置に対して複数のTPが存在するため同様の各
処理手順を複数回実行する必要があった。このためプロ
グラムソ−スコ−ドも膨大となり、しかも各処理手順に
追加変更が生じた場合には他の処理手順に対しても変更
が生じるなどの保守性が悪いという欠点があった。
However, according to a series of program processing procedures shown in FIG. 6, when a specification of a hardware test itself is changed, a plurality of hardware input / output devices are provided. Due to the presence of the TP, it was necessary to execute the same processing procedure a plurality of times. For this reason, the program source code becomes enormous, and there is a disadvantage that maintainability is poor, for example, when an additional change occurs in each processing procedure, a change occurs in other processing procedures.

【0005】本発明は複数のハ−ドウェア入出力装置に
対する共通の処理手順は1つにまとめて行う等の処理変
更を施すことにより、他の処理に影響を与えないように
保守性を良くしたテスト用プログラムモニタ装置を提供
することを目的とする。
The present invention improves the maintainability so as not to affect other processes by making a process change such as performing a common process procedure for a plurality of hardware input / output devices together. It is an object to provide a test program monitor device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、入出力装置の
試験を行うテスト用プログラムの実行状態を監視するテ
スト用プログラムモニタ装置において、個別の入出力装
置に用いられる個別パラメータを格納した複数のテスト
定義テーブルと、該テスト定義テーブル及び複数の入出
力装置に共通して用いられる共通パラメータを格納した
複数のフェーズ定義テーブルと、各テーブルを格納した
ヘッダテーブルとを有し、フェーズ定義テーブルやテス
ト定義テーブルを指定しながら、該フェーズ定義テーブ
ル中の共通パラメータや該テスト定義中の個別パラメー
タを順次参照してプログラム処理を行うように指示する
テスト用プログラム管理手段を設けたことを特徴とす
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides an input / output device.
A monitor that monitors the execution status of the test program that performs the test.
In the program monitor for
Tests that store the individual parameters used for placement
Definition table, the test definition table and a plurality of input / output
Stores common parameters commonly used for force devices
Stored multiple phase definition tables and each table
It has a header table and a phase definition table and test
Specifying the phase definition table
Parameters in the test and individual parameters in the test definition.
Test program management means for instructing to sequentially perform program processing by referring to the
You .

【0007】[0007]

【作用】本発明は複数の各フェーズ定義テーブルに、個
別の入出力装置に用いられる個別パラメータを格納した
複数のテスト定義テーブル及び複数の入出力装置に共通
に用いられる共通パラメータを格納するので、複数の入
出力装置に対するプログラム処理の柔軟性を保ちなが
ら、各入出力装置に固有のプログラム処理を適切に行う
ことができる。
According to the present invention, a plurality of phase definition tables
Stores individual parameters used for different input / output devices
Common to multiple test definition tables and multiple input / output devices
Stores common parameters used for
While maintaining the flexibility of program processing for output devices
Perform appropriate program processing specific to each input / output device
be able to.

【0008】[0008]

【実施例】図4は本発明にかかるテスト用プログラムモ
ニタ装置が機能するハ−ドウェア装置の全体構成を示し
たブロック図である。中央処理(プログラムの実行)機
能を持つプロセッサ41にディスク42、ディスプレイ
43、キ−ボ−ド44、メモリ45、タ−ゲット入出力
装置46がバス47を介して接続された構成となってい
る。
FIG. 4 is a block diagram showing an overall configuration of a hardware device in which a test program monitor according to the present invention functions. A disk 42, a display 43, a keyboard 44, a memory 45, and a target input / output device 46 are connected to a processor 41 having a central processing (program execution) function via a bus 47. .

【0009】ディスク42はプログラムやデ−タ等を格
納する外部記憶機能を持っている。またディスプレイ4
3はプログラムの実行処理を表示する機能を有してい
る。キ−ボ−ド44はデ−タの入力機能を、またメモリ
45はプログラムや各種の演算処理結果を格納する主記
憶機能を持っている。タ−ゲット入出力(I/O)装置
46は、テスト用プログラムによってテストされる入出
力装置である。
The disk 42 has an external storage function for storing programs, data, and the like. Display 4
Reference numeral 3 has a function of displaying a program execution process. The keyboard 44 has a data input function, and the memory 45 has a main storage function for storing programs and various arithmetic processing results. The target input / output (I / O) device 46 is an input / output device to be tested by a test program.

【0010】図5はタ−ゲット入出力装置に対する試験
形態を説明する図で、各々の試験処理単位を示してい
る。試験の処理単位としては、装置を試験する最小単位
の各テスト51と各テスト51の任意の集合体としてフ
ェ−ズ52との2種類で構成される。
FIG. 5 is a diagram for explaining a test mode for the target input / output device, and shows each test processing unit. The test processing unit is composed of two types: a test 51 as a minimum unit for testing the apparatus, and a phase 52 as an arbitrary set of the tests 51.

【0011】図1はTPの動作する本発明の一実施例に
かかるTP専用モニタの概略構成を示したブロック図で
ある。TP専用モニタ10は外部に設けられるディスク
70、ディスプレイ80およびキ−ボ−ド90とそれぞ
れデ−タの授受を行うように構成される。TP専用モニ
タ10は、ス−パバイザ11、ファイル管理部12、フ
ァイルドライバ13、コマンドインタプリタ14、コン
ソ−ル管理部15、コンソ−ルドライバ16、プログラ
ム管理部17、TP管理部18から構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a TP-dedicated monitor according to an embodiment of the present invention in which the TP operates. The TP-dedicated monitor 10 is configured to exchange data with an externally provided disk 70, display 80, and keyboard 90. The TP dedicated monitor 10 includes a supervisor 11, a file management unit 12, a file driver 13, a command interpreter 14, a console management unit 15, a console driver 16, a program management unit 17, and a TP management unit 18. I have.

【0012】ス−パバイザ11はタスクの生成/管理/
削除およびハ−ドウェア資源管理機能を有している。フ
ァイル管理部12は任意のファイルフォ−マツトの情報
管理機能を有する。ファイルドライバ13は、ディスク
70との間でプログラムやデ−タ等の書き込みおよび読
みだしを実行する。コマンドインタプリタ14は各種コ
マンドの解析及び実行を行う。コンソ−ル管理部15は
入力あるいは出力デ−タのチェックを行う。コンソ−ル
ドライバ16はディスプレイ80およびキ−ボ−ド90
との間でデ−タの入出力動作を行う。プログラム管理部
17は各プログラム処理の状態情報を管理する。TP管
理部18は本発明により設けられたもので、後述するT
Pの実行管理を行う。
The supervisor 11 generates / manages / manages tasks.
It has a delete and hardware resource management function. The file management unit 12 has an information management function of an arbitrary file format. The file driver 13 executes writing and reading of programs and data with the disk 70. The command interpreter 14 analyzes and executes various commands. The console management unit 15 checks input or output data. The console driver 16 includes a display 80 and a keyboard 90.
The data input / output operation is performed between and. The program management unit 17 manages status information of each program process. The TP management unit 18 is provided according to the present invention, and
Performs execution management of P.

【0013】図2は図1に示すTP管理部18とTPと
のインタフェ−スおよびTP独自の標準構成を示した図
である。TP管理部18はTPの標準構成20を参照し
ながら各種処理ステップを実行する。TPの標準構成2
0は標準ヘッダテ−ブル21、パラメ−タ入力処理2
2、フェ−ズ内共通/フェ−ズ内個別/テスト個別の各
入力処理を行うパラメ−タ入力処理22、ハ−ドウェア
入出力装置の初期化処理を行うイニシエ−タ処理23、
ハ−ドウェア入出力装置の終了処理を行うタ−ミネ−タ
処理24および実際の試験処理25から構成される。
FIG. 2 is a diagram showing an interface between the TP management unit 18 and the TP shown in FIG. 1 and a standard configuration unique to the TP. The TP management unit 18 executes various processing steps with reference to the standard configuration 20 of the TP. Standard configuration of TP 2
0 is standard header table 21, parameter input processing 2
2. Parameter input processing 22 for performing input processing common to each phase / individual within a phase / individual test, initiator processing 23 for initializing hardware input / output devices,
It comprises a terminator process 24 for terminating the hardware input / output device and an actual test process 25.

【0014】図3は標準ヘッダテ−ブルの構成を示した
図で、図5に示す試験形態、図2に示すTP独自の標準
構成および図1に示すTP管理部18が処理するための
情報等に伴うテ−ブルの構成を示している。標準ヘッダ
テ−ブルはTP管理部18が制御の受渡しを行うための
ポインタ(アドレス)情報を持っており、TP実行時に
TP管理部18がその情報を全て写し取り、TPの管理
情報とする。最上部のヘッダテ−ブル31はフェ−ズ定
義ポインタテ−ブルのポインタおよびTPのメモリマッ
プ用のマップテ−ブルポインタおよびTPの現状のバ−
ジョン番号を格納している。
FIG. 3 is a diagram showing the structure of a standard header table. The test form shown in FIG. 5, the standard structure unique to the TP shown in FIG. 2, and information for processing by the TP management unit 18 shown in FIG. Shows the structure of the table associated with. The standard header table has pointer (address) information for the TP management unit 18 to transfer control, and when executing the TP, the TP management unit 18 copies all the information and uses it as TP management information. The uppermost header table 31 is a pointer of the phase definition pointer table and a map table pointer for the memory map of the TP and the current number of the TP.
Stores the John number.

【0015】フェ−ズ定義ポインタテ−ブル32はフェ
−ズの数および各フェ−ズ定数テ−ブルポインタをそれ
ぞれ格納している。さらにフェ−ズ定義テ−ブル33は
フェ−ズ数だけ存在し、テスト数、共通パラメ−タ入力
処理ポインタおよび各テスト定義テ−ブルのポインタデ
−タを持つ。テスト定義テ−ブル34は、テストのポイ
ンタおよびパラメ−タ有無の定義、個別パラメ−タの入
力処理ポインタ、会話有無定義、前会話デ−タテ−ブル
ポインタ、後会話デ−タテ−ブルポインタを有してい
る。マップテ−ブル35はTP処理タスクポインタ、T
P処理タスクIDのデ−タを有している。
The phase definition pointer table 32 stores the number of phases and each phase constant table pointer. Further, the phase definition table 33 exists as many as the number of phases, and has the number of tests, a common parameter input processing pointer, and pointer data of each test definition table. The test definition table 34 includes a test pointer and a definition of parameter presence / absence, an individual parameter input processing pointer, a conversation presence / absence definition, a pre-conversation data table pointer, and a post-conversation data table pointer. Have. The map table 35 is a TP processing task pointer, T
P processing task ID data is stored.

【0016】なおヘッダテ−ブル31内のバ−ジョン番
号がTP実行開始時にディスプレイに表示されるバ−ジ
ョンデ−タとして使われる。さらにテスト定義テ−ブル
24中の前/後会話デ−タテ−ブルはTP実行開始/終
了時のTP操作員に対する確認のための会話デ−タであ
る。マップテ−ブル35中のTP処理タスクポインタは
TP実行時のTPのメモリ上の割付けアドレスが格納さ
れる領域である。またTP処理タスクIDはTP実行時
のTP管理番号である。
The version number in the header table 31 is used as version data displayed on the display at the start of TP execution. The pre / post conversation data table in the test definition table 24 is conversation data for confirming to the TP operator at the start / end of the TP execution. The TP processing task pointer in the map table 35 is an area for storing an assigned address on the memory of the TP at the time of executing the TP. The TP processing task ID is a TP management number at the time of executing the TP.

【0017】次にTPの動作を説明する。まず図4に示
すディスク42から図1に示すTP専用モニタ10が読
みだされ、メモリ45上に展開される。図4のキ−ボ−
ド44からTPの実行命令が入力されると、図1に示す
コンソ−ルドライバ16、コンソ−ル管理部15、コマ
ンドインタプリタ14、ス−パバイザ11およびプログ
ラム管理部17により実行命令が解析され、TP管理部
18にTPの実行指示を促す。
Next, the operation of the TP will be described. First, the TP-dedicated monitor 10 shown in FIG. 1 is read from the disk 42 shown in FIG. The keyboard shown in FIG.
When the TP execution instruction is input from the command 44, the execution instruction is analyzed by the console driver 16, the console management unit 15, the command interpreter 14, the supervisor 11, and the program management unit 17 shown in FIG. It prompts the TP management unit 18 to execute a TP.

【0018】TP管理部18は図2に示すTPの標準構
成20の全ての情報を読みだす。さらに、実行指示に従
い図3のヘッダテ−ブル31、フェ−ズ定義ポインタテ
−ブル32、フェ−ズ定義テ−ブル33、テスト定義テ
−ブル34およびマップテ−ブル35の情報を参照して
TPの標準構成20中のパラメ−タ入力処理22、イニ
シエ−タ処理23、タ−ミネ−タ処理24および試験処
理25を必要に応じて実行する。
The TP management unit 18 reads out all information of the standard configuration 20 of the TP shown in FIG. Further, according to the execution instruction, referring to the information of the header table 31, the phase definition pointer table 32, the phase definition table 33, the test definition table 34, and the map table 35 of FIG. The parameter input processing 22, the initiator processing 23, the terminator processing 24 and the test processing 25 in the standard configuration 20 are executed as required.

【0019】図5に示すタ−ゲット入出力装置へのフェ
−ズ52の実行を行う場合には、図3のヘッダテ−ブル
31中のフェ−ズテ−ブルポインタからフェ−ズ定義ポ
インタテ−ブル32を参照し、このフェ−ズ定義ポイン
タテ−ブル32により指定されたフェ−ズ定義ポインタ
を参照して、フェ−ズ定義テ−ブル33中の共通パラメ
−タ入力処理ポインタやテスト定義ポインタ等を参照
し、さらにテスト定義テ−ブル34中のテストポインタ
等を参照しながら実際のプログラムを処理する。
When the execution of the phase 52 to the target input / output device shown in FIG. 5 is performed, the phase definition pointer table is read from the phase table pointer in the header table 31 of FIG. Referring to the phase definition pointer designated by the phase definition pointer table 32, the common parameter input processing pointer and the test definition pointer in the phase definition table 33 are referred to. And the like, and furthermore, the actual program is processed while referring to the test pointer and the like in the test definition table 34.

【0020】これら一連の処理は全て図1に示すTP管
理部18が図2に示すTPの標準構成20とのソフトウ
エア割込みにより実行及び終了の指示および応答を行っ
ている。このように全てのTPの処理が図3に示すテ−
ブル31〜34を参照することにより行われている。
All of these series of processes are executed and terminated by the TP management unit 18 shown in FIG. 1 by a software interrupt with the standard configuration 20 of the TP shown in FIG. As described above, the processing of all TPs is performed by the text shown in FIG.
This is done by referring to the tables 31-34.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上実施例に基いて説明したように、本
発明では個別の入出力装置に対するプログラムに密接な
関連を有する複数の入出力装置に共通のプログラムを一
体的に格納できるので、複数の入出力装置に対するプロ
グラム処理の柔軟性を保ちながら、各入出力装置に固有
のプログラム処理を適切に行うことができるという優れ
た効果が得られる。
As described above with reference to the embodiments, in the present invention, a program closely related to an individual input / output device is used.
A common program can be loaded to a plurality of related input / output devices.
Since it can be stored physically, professional
Unique to each I / O device while maintaining the flexibility of gram processing
Of being able to perform appropriate program processing
The effect is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例にかかるTP専用モニタの概
略構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a TP-dedicated monitor according to one embodiment of the present invention.

【図2】本発明のTP管理部とTPとのインタフェ−ス
およびTP独自の標準構成を示す図。
FIG. 2 is a diagram showing an interface between a TP management unit and a TP according to the present invention and a standard configuration unique to the TP.

【図3】本発明にかかる標準ヘッダテ−ブルの構成を示
す図。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a standard header table according to the present invention.

【図4】本発明が機能するハ−ドウェアの全体構成を示
すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing the overall configuration of hardware on which the present invention functions.

【図5】タ−ゲット入出力装置に対する試験形態を示す
図。
FIG. 5 is a diagram showing a test mode for a target input / output device.

【図6】従来の装置におけるテスト用プログラムの処理
手順を示すフロ−チャ−ト。
FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of a test program in a conventional apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 TP専用モニタ 17 プログラム管理部 18 TP管理部 10 TP dedicated monitor 17 Program management unit 18 TP management unit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 入出力装置の試験を行うテスト用プログ
ラムの実行状態を監視するテスト用プログラムモニタ装
置において、個別の前記入出力装置に用いられる個別パラメータを格
納した複数のテスト定義テーブルと、 該テスト定義テーブル及び複数の入出力装置に共通して
用いられる共通パラメータを格納した複数のフェーズ定
義テーブルと、 前記各テーブルを格納したヘッダテーブルとを有し、 前記フェーズ定義テーブルや前記テスト定義テーブルを
指定しながら、該フェーズ定義テーブル中の共通パラメ
ータや該テスト定義中の個別パラメータを順次参照して
プログラム処理を行うように 指示するテスト用プログラ
ム管理手段を設けたことを特徴とするテスト用プログラ
ムモニタ装置。
In a test program monitor for monitoring the execution state of a test program for testing an input / output device, individual parameters used for the individual input / output devices are stored.
A plurality of test definition tables, and a common test definition table and a plurality of input / output devices.
Multiple phase definitions containing common parameters used
And defined table, and a header table that stores the each table, the phase definition table and said test definition table
While specifying, common parameters in the phase definition table
Data and individual parameters in the test definition
A test program monitor device comprising a test program management means for instructing to execute a program process .
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