JP3175571B2 - ATM switch cell continuity test method - Google Patents

ATM switch cell continuity test method

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JP3175571B2
JP3175571B2 JP34051095A JP34051095A JP3175571B2 JP 3175571 B2 JP3175571 B2 JP 3175571B2 JP 34051095 A JP34051095 A JP 34051095A JP 34051095 A JP34051095 A JP 34051095A JP 3175571 B2 JP3175571 B2 JP 3175571B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ATM交換機のセ
ル導通試験方式に関する。ATM(Asynchronous Trans
fer Mode、非同期転送モード)通信は画像通信、高速デ
ータ通信、音声信号の通信等のマルチメディアの通信を
提供可能とする高速通信技術である。
The present invention relates to a cell continuity test system for an ATM exchange. ATM (Asynchronous Trans
fer Mode, asynchronous transfer mode) communication is a high-speed communication technology capable of providing multimedia communication such as image communication, high-speed data communication, and communication of audio signals.

【0002】このATM通信においては、通信される情
報を48バイトの固定長のデータに分割し、その先頭に
5バイトの宛先情報(ヘッダと称する)を付加したセル
と呼ばれる固定長のデータとして転送する。そして、A
TM交換機内では、それぞれのセルのヘッダの情報か
ら、そのセルの送出先を判定して、指定の回線、あるい
は端末に送出することにより通信を行なっている。
In this ATM communication, information to be communicated is divided into fixed-length data of 48 bytes, and is transferred as fixed-length data called a cell having destination information (referred to as a header) of 5 bytes added to the beginning of the data. I do. And A
In the TM exchange, the destination of the cell is determined from the information in the header of each cell, and communication is performed by transmitting the cell to a specified line or terminal.

【0003】このようなマルチメディア通信に利用され
るATM交換機は高い信頼度が要求されている。そこ
で、ATM交換機の高い信頼度を維持するために、セル
導通試験を、高い精度で、効率良く行なうことが望まれ
ている。
[0003] ATM switches used for such multimedia communications are required to have high reliability. Therefore, in order to maintain the high reliability of the ATM switch, it is desired to perform the cell continuity test with high accuracy and efficiency.

【0004】[0004]

【従来の技術】図14は従来例を説明する図を示す。図
中の100はATM交換機、110、111は加入者カ
ード、121、122は共通制御部、130はスイッチ
部であり、160はATM交換機100の保守を行なう
ためのコンソールであり、300はATM交換機100
に外付けする測定器である。
2. Description of the Related Art FIG. 14 is a diagram for explaining a conventional example. In the figure, 100 is an ATM switch, 110 and 111 are subscriber cards, 121 and 122 are common control units, 130 is a switch unit, 160 is a console for performing maintenance of the ATM switch 100, and 300 is an ATM switch. 100
This is a measuring instrument to be externally attached.

【0005】加入者カードにはセルリレー方式用、フレ
ームリレー用等のものがあり、例えば、ATMセル導通
試験を行なう場合は、測定器300から、加入者カード
111、共通制御部121、スイッチ部130を介して
試験セルを送出し、試験セルは共通制御部122をとお
して、試験対象の加入者カード110で折り返えされ、
逆のルートをとおって測定器300で受信され、測定器
300で折り返えされた試験セルをチェックする。
There are subscriber cards for a cell relay system, a frame relay, and the like. For example, when an ATM cell continuity test is performed, a subscriber card 111, a common control unit 121, and a switch unit 130 are supplied from a measuring instrument 300. , And the test cell is turned back by the subscriber card 110 to be tested through the common control unit 122,
The test cell received by the measuring device 300 through the reverse route and returned by the measuring device 300 is checked.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述の従来例では、下
記のような問題点が生じる。 ・試験の都度、測定器300のつなぎこみが必要である
ので、試験の前準備に長時間を要する。
The above-mentioned prior art has the following problems. -Since the connection of the measuring device 300 is required each time the test is performed, it takes a long time to prepare for the test.

【0007】・測定器300から送出した試験セルを、
折り返し受信して正常性をチェックする。しかし、異常
が検出されたとき、その障害発生箇所の特定に長時間を
要する。
The test cell transmitted from the measuring device 300 is
Return and check for normality. However, when an abnormality is detected, it takes a long time to specify the location where the failure has occurred.

【0008】・スイッチ部130の試験においては、ユ
ーザセルと同じルートしか試験できないので、スイッチ
の二重化構成による系切り替え後のルートの保証ができ
ない。
In the test of the switch unit 130, only the same route as that of the user cell can be tested, so that the route after the system switching by the redundant switch configuration cannot be guaranteed.

【0009】・ポイント〜マルチポイントサービスの試
験が困難である。 ・回線切り替えを行なうAPS(Automatic Protection
Switching)サービスの試験が困難である。
[0009] Point-to-multipoint service testing is difficult. APS (Automatic Protection) for switching lines
Switching) service is difficult to test.

【0010】・ATM交換機100内の残留セルにより
試験の精度が低下する。本発明は、ATM交換機のセル
導通試験を高い精度で、効率良く行なうことのできるA
TM交換機のセル導通試験方式を実現しようとする。
[0010] The residual cells in the ATM switch 100 reduce the accuracy of the test. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides an A switch that can efficiently and efficiently perform a cell continuity test of an ATM switch.
Attempts to implement a cell continuity test system for TM exchanges.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の第1の原
理を説明する図である。図中の100はATM交換機で
あり、110は加入者カードであり、140はATM交
換機に組み込まれ、試験セルの生成、送受信を行なう試
験装置であり、121、122は試験装置140からの
試験セルのヘッダを付け替え、宛先の指定を行なう共通
制御部であり、130はセルのヘッダから指定される出
力先へ該セルを出力する多段スイッチ構成で二重化され
たスイッチ部(詳細は図6で説明する)であり、160
はATM交換機の試験を行うための試験情報を入力する
コンソールであり、150はコンソールから入力される
試験情報を、試験装置140、および、共通制御部12
1、122に送出するインタフェース部である。また、
スイッチ部130、および、共通制御部121、122
の入力側、出力側には図示省略の通過したセルをカウン
トするセルカウンタを備えており、さらに、多段スイッ
チ構成で二重化されたスイッチ部130に、試験セルを
選択する図示省略の試験セル選択部を設けている。
FIG. 1 is a diagram for explaining a first principle of the present invention. In the figure, 100 is an ATM switch, 110 is a subscriber card, 140 is a test device that is incorporated in the ATM switch and generates and transmits and receives test cells, and 121 and 122 are test cells from the test device 140. Is a common control unit that replaces the header of the cell and specifies the destination.
It is duplicated with a multi-stage switch configuration that outputs the cell to the destination.
Switch section (details will be described with reference to FIG. 6).
Inputs test information for testing ATM switch
A console 150 receives test information input from the console and transmits the test information to the test apparatus 140 and the common control unit 12.
1 and 122. Also,
Switch section 130 and common control sections 121 and 122
Count the passed cells (not shown) on the input and output sides of
It has a cell counter that switches
The test cell is connected to the switch unit 130 which is duplicated in a switch configuration.
A test cell selection unit (not shown) for selection is provided.

【0012】ATM交換機のセル導通試験においては、
コンソール160から試験ルート、送出試験セル数のセ
ル導通試験条件を設定し、ATM交換機100に組み込
まれた試験装置140に送出し、試験装置140は設定
されたセル導通試験条件にしたがって、試験セルを送出
し、折り返えされた試験セルを受信してセル導通試験を
行なう。
In a cell continuity test of an ATM switch,
From the console 160, a test route and cell continuity test conditions for the number of test cells to be transmitted are set and transmitted to the test device 140 incorporated in the ATM switch 100, and the test device 140 converts the test cells according to the set cell continuity test conditions. The transmitted and returned test cells are received and a cell continuity test is performed.

【0013】本発明では、多段スイッチ構成の二重化さ
れたスイッチ部130に試験セル選択部(図示省略)を
設けることにより、試験セルの試験セル表示ビットを検
出した場合は、予備系のスイッチからの試験セルを選択
して出力することにより、現用系、予備系のすべてのス
イッチを導通させることが可能となり、さらに、すべて
の二重化交絡部を含む導通試験が可能となる。そして、
このような構成をとることにより、ATM交換機100
のコンソール160から試験条件を設定することがで
き、従来例で必要であった、測定器のつなぎこみがなく
なり、試験条件の設定も容易に行なうことができ、効率
的にセル導通試験を行なうことができる。
According to the present invention, the multistage switch configuration is duplicated.
A test cell selection unit (not shown) in the switch unit 130
The test cell display bit of the test cell is
If selected, select a test cell from the standby switch
Output to all the active and standby systems.
Switch can be conducted, and all
The continuity test including the double entangled portion can be performed. And
With such a configuration, the ATM switch 100
The test conditions can be set from the console 160 of the present invention, which eliminates the need for connection of measuring instruments required in the conventional example, the test conditions can be easily set, and an efficient cell continuity test can be performed. Can be.

【0014】図2は本発明の第2の原理を説明する図で
ある。図中の100はATM交換機、110は加入者カ
ード、121、122は共通制御部、130はスイッチ
部、140は試験装置、150はインタフェース、16
0はコンソールであり、原理図1で説明したと同一構成
物である。200はATM交換機100に収容される遠
隔集線装置であり、211、212は加入者カード、2
21、222は共通制御部、230は集線部である。
FIG. 2 is a diagram for explaining the second principle of the present invention. In the figure, 100 is an ATM switch, 110 is a subscriber card, 121 and 122 are common control units, 130 is a switch unit, 140 is a test device, 150 is an interface, 16
Reference numeral 0 denotes a console, which is the same component as that described with reference to FIG. Reference numeral 200 denotes a remote concentrator accommodated in the ATM switch 100, and reference numerals 211 and 212 denote subscriber cards, 2
Reference numerals 21 and 222 denote a common control unit, and reference numeral 230 denotes a concentrator.

【0015】本発明では、遠隔集線装置200に収容さ
れる加入者カード211を試験するとき、ATM交換機
100に収容される試験装置140から試験セルを送出
し、試験セルを受信した遠隔集線装置200側で試験セ
ルに試験セルであることを示す試験セル表示ビット(以
下Tビットと称する)を付与し、共通制御部222を通
して、被試験加入者カード211で折り返し、逆のルー
トをとおってATM交換機100へ送出する。
In the present invention, when testing the subscriber card 211 accommodated in the remote concentrator 200, a test cell is transmitted from the test device 140 accommodated in the ATM switch 100, and the remote concentrator 200 receiving the test cell is transmitted. A test cell indicating bit (hereinafter, referred to as a T bit) indicating that the cell is a test cell is added to the test cell on the side thereof, and is returned to the subscriber card under test 211 through the common control unit 222. Send to 100.

【0016】このとき、回線Lを通過するので、試験セ
ルはTビットを含まないフォーマットであることが必要
であり、共通制御部222でTビットをクリアして回線
Lに送出する。
At this time, since the test cell passes through the line L, the test cell needs to be in a format that does not include the T bit, and the common control unit 222 clears the T bit and sends it out to the line L.

【0017】ATM交換機100の試験装置140は回
線Lをとおして受信した試験セルをカウントしてセルの
導通試験を行なう。
The test apparatus 140 of the ATM switch 100 counts test cells received via the line L and performs a cell continuity test.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】図3は本発明のセルフォーマット
を説明する図である。本発明のセル導通試験はATM交
換機100の信頼度を維持するために、ATM交換機1
00の運用中にユーザ間の通信に使用するユーザセルの
間に、試験セルを挿入して送出し導通試験を行なうもの
である。そこで、ユーザセルと試験セルとを識別するた
めに試験セルには試験セルであることを示す試験セル識
別ビット(以下Tビットと称する)を付与している。
FIG. 3 is a diagram for explaining a cell format according to the present invention. The cell continuity test of the present invention uses the ATM switch 1 to maintain the reliability of the ATM switch 100.
During the operation of 00, a test cell is inserted between user cells used for communication between users and transmitted to perform a continuity test. Therefore, in order to distinguish a user cell from a test cell, a test cell identification bit (hereinafter, referred to as a T bit) indicating that the cell is a test cell is given to the test cell.

【0019】試験セルには試験装置140で試験IDを
付与して送出している。本発明では6オクテットに試験
IDを付与しており、試験セル全体としては54オクテ
ットとしている。
The test device 140 sends a test cell with a test ID. In the present invention, the test ID is assigned to 6 octets, and the entire test cell is set to 54 octets.

【0020】また、8〜54オクテットには疑似ランダ
ムパターンを挿入しておき、疑似ランダムパターンのエ
ラーチェックを行なうことによりビットエラーの発生数
もカウントすることができる。
Further, a pseudo random pattern is inserted into 8 to 54 octets, and the number of bit errors can be counted by checking the pseudo random pattern for errors.

【0021】このような試験セルを使用することによ
り、本発明のセル導通試験が可能となる。図4は本発明
の実施の形態(1)を説明する図を示す。本発明のAT
M交換機100は、スイッチ部130を3段構成として
おり、スイッチ131〜133から構成している。セル
カウンタはATM交換機100のそれぞれの構成部に設
けており、加入者カード110、共通制御部121、1
22には、入側、出側に設けており、セル導通試験の結
果がNGの場合、それぞれの前後のセルカウンタのカウ
ント値を比較することにより、容易にセルの脱落が発生
した箇所を特定することができる。
The use of such a test cell enables the cell continuity test of the present invention. FIG. 4 is a diagram illustrating an embodiment (1) of the present invention. AT of the present invention
The M exchange 100 has a switch unit 130 having a three-stage configuration, and includes switches 131 to 133. The cell counter is provided in each component of the ATM switch 100, and includes a subscriber card 110, a common control unit 121,
22 is provided on the entrance side and the exit side, and when the result of the cell continuity test is NG, by comparing the count values of the cell counters before and after each of them, it is possible to easily identify the place where the cell has dropped out can do.

【0022】また、試験セルはユーザセルと混在して通
過するので、図4で説明したセルカウンタを試験セルの
みを選択してカウントする機能を備えた試験セルカウン
タ(図示省略)で構成することにより、ユーザセルの影
響を排除することが可能となる。
Further, since the test cell passes along with the user cell, the cell counter described in FIG. 4 may be constituted by a test cell counter (not shown) having a function of selecting and counting only the test cells. Accordingly, it is possible to eliminate the influence of the user cell.

【0023】図5は本発明の実施の形態(1)のセル受
信のフローチャートである。以下、フローチャートのス
テップ(図中Sと示す)にしたがって、試験装置140
の動作を説明する。
FIG. 5 is a flowchart of cell reception according to the embodiment (1) of the present invention. Hereinafter, according to the steps of the flowchart (indicated by S in the figure), the test apparatus 140
Will be described.

【0024】S1;受信したセルのヘッダに書き込まれ
たVPI、VCIが指定の値に一致したか否かを判定す
る。 S2;PTI(Payload Type)の値が指定の値に一致した
か否かを判定する。
S1: It is determined whether the VPI and VCI written in the header of the received cell match the designated values. S2: It is determined whether or not the value of PTI (Payload Type) matches the specified value.

【0025】S3;CLP(Congestion Level)の値が指
定の値に一致したか否かを判定する。 S4;TEST−IDが一致したか否かを判定する。S
1〜S4で否の場合はS11へ進む。
S3: It is determined whether or not the value of CLP (Congestion Level) matches a specified value. S4: Determine whether or not the TEST-IDs match. S
If the result is 1 to S4, the process proceeds to S11.

【0026】S5;受信セルのカウント値を「+1」カ
ウントする。 S6;試験セルのシーケンシャルナンバ(図中SNと示
す)のCRCのチェックを行なう。
S5: The count value of the received cell is counted up by "+1". S6: The CRC of the sequential number (shown as SN in the figure) of the test cell is checked.

【0027】S7;シーケンシャルナンバが前に受信し
たセルのシーケンシャルナンバ+1(図中シーケンシャ
ルナンバの期待値をSNRと示す)であるかをチェック
する。
S7: It is checked whether the sequential number is the sequential number of the previously received cell + 1 (the expected value of the sequential number is shown as SNR in the figure).

【0028】S8;シーケンシャルナンバが期待値に一
致しない場合は、エラーセルカウンタを「+1」する。 S9;シーケンシャルナンバが期待値に一致した場合
は、次の期待値としてシーケンシャルナンバ+1を設定
する。
S8: If the sequential number does not match the expected value, the error cell counter is incremented by "+1". S9: If the sequential number matches the expected value, the sequential number + 1 is set as the next expected value.

【0029】S10;S6のシーケンシャルナンバのC
RCチェックでエラー発生の場合は、シーケンシャルナ
ンバエラーカウンタを「+1」カウントし、シーケンシ
ャルナンバの期待値はそのまま保持する。
S10: C of the sequential number of S6
If an error occurs in the RC check, the sequential number error counter is counted up by "+1", and the expected value of the sequential number is held as it is.

【0030】S11;S1〜S4で否となった場合は、
そのセルを廃棄する。このような処理により、試験セル
の正常受信数、シーケンシャルナンバのCRCエラー発
生数、シーケンシャルナンバエラー発生数をカウントし
セル導通試験を行なう。
S11: If S1 to S4 are negative,
Discard the cell. By such processing, the number of normal receptions of the test cell, the number of occurrences of the CRC error of the sequential number, and the number of occurrences of the sequential number error are counted, and the cell continuity test is performed.

【0031】このような試験セルはユーザセルの間に挿
入され送受信されるものであり、ATM交換機100の
運用中に自動的に実行することができる。そこで、セル
導通試験スケジューラを設け、任意のタイミングでセル
導通試験を行なうように構成することも可能である。
Such a test cell is inserted between user cells and transmitted and received, and can be automatically executed during operation of the ATM switch 100. Therefore, it is also possible to provide a cell continuity test scheduler and perform the cell continuity test at an arbitrary timing.

【0032】図6は本発明の試験セル選択部を説明する
図を示す。本発明で、スイッチ部130は、図4で説明
したようにスイッチ部130は3段構成をとっている。
さらにATM交換機100の信頼度を高めるために、二
重化構成を採用しており、スイッチ部130は複数のス
イッチ131A〜133A、131B〜133Bから構
成されている。
FIG. 6 is a diagram for explaining a test cell selector according to the present invention. In the present invention, the switch unit 130 has a three-stage configuration as described with reference to FIG.
In order to further enhance the reliability of the ATM switch 100, a duplex configuration is adopted, and the switch unit 130 is composed of a plurality of switches 131A to 133A and 131B to 133B.

【0033】例えば、スイッチ132Aの入力側にはA
CT系のスイッチ131AとSBY系のスイッチ131
Bが接続されている。ここで、スイッチ132A内のセ
ル監視部130Aは入力してくるセルのTビットを監視
し、Tビットが設定されたセルを検出したときには、そ
のタイミングだけ、SBY系のスイッチ131Bからの
セルを選択するようにセル選択部130Bに指示を出
す。
For example, on the input side of the switch 132A, A
CT-based switch 131A and SBY-based switch 131
B is connected. Here, the cell monitoring unit 130A in the switch 132A monitors the T bit of the incoming cell, and when detecting a cell in which the T bit is set, selects the cell from the SBY system switch 131B at that timing. To the cell selection unit 130B.

【0034】このような、構成により、SBY系のスイ
ッチ131Bからの試験セルを選択して流すことが可能
となる。上図はスイッチ132Aで説明したが、すべて
のスイッチ131A〜133A、131B〜133Bも
同様な構成をとっており、このような構成により、試験
セルをACT系、SBY系のいずれにも導通させること
ができ、二重化交絡部分の試験も可能となり、系切替え
後の正常性を保証することができる。
With such a configuration, it becomes possible to select and flow a test cell from the SBY-system switch 131B. Although the upper diagram illustrates the switch 132A, all the switches 131A to 133A and 131B to 133B have the same configuration. With such a configuration, the test cell can be made conductive to both the ACT system and the SBY system. It is also possible to test the duplex confounding part, and the normality after system switching can be guaranteed.

【0035】図7は本発明の実施の形態(2)を説明す
る図を示す。図は、試験装置140から加入者カード1
11、112に試験セルを送出するポイントツウマルチ
ポイントのセル導通試験を行なう図を示す。実施の形態
(2)では、加入者カード111、112に試験セルの
廃棄を行なう試験セル廃棄部と図4で説明したセルカウ
ンタとを設けている。
FIG. 7 is a view for explaining an embodiment (2) of the present invention. The figure shows the subscriber card 1 from the test equipment 140.
11 and 12 show diagrams for performing a point-to-multipoint cell continuity test for sending test cells to the test cells 11 and 112. FIG. In the embodiment (2), the subscriber cards 111 and 112 are provided with a test cell discarding unit for discarding test cells and the cell counter described in FIG.

【0036】本発明では、試験装置140から試験セル
を送出し、共通制御部121、122、スイッチ部13
0をとおして、複数の加入者カード111、112(3
個以上であっても同様である。)に送出する。加入者カ
ード111、112では、セルカウンタで受信した試験
セルの個数をカウントすることにより、それぞれのパス
の正常性をチェックする。また、異常がある場合には、
それぞれの装置に設けられたセルカウンタのカウント値
から容易に障害箇所を特定することができる。
In the present invention, a test cell is transmitted from the test apparatus 140, and the common control units 121 and 122, the switch unit 13
0, a plurality of subscriber cards 111, 112 (3
The same is true for more than one. ). The subscriber cards 111 and 112 check the normality of each path by counting the number of test cells received by the cell counter. Also, if there is an abnormality,
A failure location can be easily specified from the count value of the cell counter provided in each device.

【0037】図中の破線は試験セルの通過ルートを示
し、ここでは、スイッチ部130でセルコピーを行なっ
て、マルチポイント通信を行なう状態を示す。また、加
入者カード111、112の試験セル廃棄部で試験セル
を廃棄することにより、他のパスへの使用済みの試験セ
ルの混入を防止することができる。
A broken line in the drawing indicates a route through which a test cell passes. Here, a state in which a cell copy is performed by the switch unit 130 and multipoint communication is performed is shown. Further, by discarding the test cells in the test cell discarding units of the subscriber cards 111 and 112, it is possible to prevent the used test cells from being mixed into other paths.

【0038】図8、9は本発明の実施の形態(3)を説
明する図(その1)、(その2)を示す。ATM通信に
おいては、システムとして高い信頼度が要求されている
ので、回線も二重化構成としている。二重化された一方
の回線をワーキングライン(Working Line)と称し、他方
の回線をプロテクションライン(Protection Line) と称
し、通常は、ワーキングラインにより通信を行なってお
り、障害が発生した場合にはプロテクションラインに切
り替え使用する。高い信頼度が維持するには、ワーキン
グラインの稼働中でも、プロテクションラインの正常性
のチェックを行なうことが必要である。
FIGS. 8 and 9 show diagrams (1) and (2) for explaining the embodiment (3) of the present invention. In ATM communication, since high reliability is required as a system, the line has a duplex configuration. One of the duplexed lines is called a working line, and the other line is called a protection line.The communication line is normally used for the working line, and when a failure occurs, the protection line is used. Switch to use. In order to maintain high reliability, it is necessary to check the normality of the protection line even while the working line is operating.

【0039】本発明では、共通制御部121でTビット
を識別することにより、非サービス状態の加入者カード
112からの試験セルを通過させる試験セル制御部12
0Bを設けた構成としている。
In the present invention, the T bit is identified by the common control unit 121 so that the test cell control unit 12 that allows the test cell from the non-service state subscriber card 112 to pass therethrough.
0B is provided.

【0040】図8(A)に示す折り返し設定により、ワ
ーキングラインに対応する共通制御部121の回線対応
部での折り返し試験、図8(B)に示す折り返し設定に
より、ワーキングラインに対応する加入者カード111
での折り返し試験、図9(C)に示す折り返し設定によ
りプロテクションラインに対応する共通制御部121の
回線対応部での折り返し試験、図9(D)に示す折り返
し設定によりプロテクションラインに対応する加入者カ
ード112での折り返し試験を行なうことができる。
The loopback test shown in FIG. 8A is performed by the line control unit of the common control unit 121 corresponding to the working line. The loopback test shown in FIG. Card 111
9C, a loopback test in the line corresponding section of the common control unit 121 corresponding to the protection line by the loopback setting shown in FIG. 9C, and a subscriber corresponding to the protection line by the loopback setting shown in FIG. 9D. A folding test with the card 112 can be performed.

【0041】図9(C)、(D)においては、共通制御
部121にプロテクションライン側からの試験セルが折
り返されるが、Tビットが「オン」であることから試験
セルであることを確認し、試験セル制御部120Bを通
過させ試験装置140へ送出する。
9 (C) and 9 (D), the test cell from the protection line side is turned back to the common control unit 121, but since the T bit is "ON", it is confirmed that the test cell is a test cell. , And passes the test cell control unit 120B to the test apparatus 140.

【0042】それぞれの折り返し設定において、折り返
し設定されない側に送出された試験セルはそれぞれの試
験セル廃棄部でヘッダが参照され、試験セルはTビット
がオンとなっているので、そこで廃棄される。
In each loop-back setting, the test cell transmitted to the side where loop-back is not set is referred to by the header in each test cell discarding unit, and the test cell is discarded there because the T bit is on.

【0043】このような設定により、ワーキングライ
ン、プロテクションラインを個別に試験することが可能
となる。図10は本発明の実施の形態(4)を説明する
図である。図において、共通制御部121にはTビット
削除部120A、加入者カード110にはTビットを付
加するTビット付加部110Aを設けた構成としてい
る。
With such a setting, the working line and the protection line can be individually tested. FIG. 10 is a diagram for explaining the embodiment (4) of the present invention. In the figure, the common control unit 121 is provided with a T bit deletion unit 120A, and the subscriber card 110 is provided with a T bit addition unit 110A for adding a T bit.

【0044】加入者カード110で、Tビット=1の試
験セルは、回線側には送出されず廃棄される。図10で
は、試験セルを回線側に送出ために、試験装置140か
ら送出された試験セルのTビットを共通制御部121の
Tビット削除部120Aで「0」に設定する。Tビット
=「0」に設定された試験セルはヘッダの指定により、
試験対象の加入者カード110を経由して、回線側に出
力される。
In the subscriber card 110, the test cell with T bit = 1 is discarded without being sent to the line side. In FIG. 10, the T bit of the test cell transmitted from the test apparatus 140 is set to “0” by the T bit deletion unit 120A of the common control unit 121 in order to transmit the test cell to the line side. The test cell in which the T bit is set to “0” is specified by the header.
The data is output to the line via the subscriber card 110 to be tested.

【0045】回線側に出力された試験セルは回線側で折
り返えされ、加入者カード110に入力される。加入者
カード110では試験セルであることを表示するため
に、Tビット付加部110AでTビット=「1」に設定
して、送出することにより、試験装置140で回収さ
れ、セル導通試験を行なうことができる。
The test cell output to the line is looped back at the line and input to the subscriber card 110. In the subscriber card 110, in order to indicate that the cell is a test cell, the T bit is set to "1" by the T bit adding unit 110A and transmitted, so that the cell is recovered by the test apparatus 140 and a cell continuity test is performed. be able to.

【0046】図11は本発明の実施の形態(5)を説明
する図を示す。ATM交換機100は先に述べたように
高い信頼度を要求されており、ATM交換機100を構
成するそれぞれの装置を二重化している。二重化されて
いる一方の系を0系、他方の系を1系を称しており、障
害の発生等により、切り替え使用を行なう。
FIG. 11 is a diagram for explaining the embodiment (5) of the present invention. As described above, the ATM switch 100 is required to have a high degree of reliability, and each device constituting the ATM switch 100 is duplicated. One of the duplicated systems is referred to as a system 0, and the other system is referred to as a system 1. The system is switched and used when a failure occurs.

【0047】本発明では、このような0系、1系のAT
M交換機100、101にそれぞれの試験装置140を
搭載し、0系、1系の試験装置140から独立に試験セ
ルを送出、折り返すことにより、ACT系、SBY系の
ルートの導通試験も同時に行なうことができる。
In the present invention, such a 0-system, 1-system AT
The test equipment 140 is mounted on each of the M exchanges 100 and 101, and the test cells are sent and returned independently from the test equipment 140 of the system 0 and the system 1 so that the continuity test of the routes of the ACT system and the SBY system is simultaneously performed. Can be.

【0048】図においては、0系は0系内のルート(太
線で示す)、1系は1系内のルートで導通試験を行なっ
ているが、交絡したルート(破線で示す)で導通試験を
行なうことができることは勿論である。
In the figure, system 0 conducts the continuity test on the route in system 0 (shown by a thick line), and system 1 performs the continuity test on the route in system 1; Of course it can be done.

【0049】また、図11の構成において、試験装置1
40は独立した構成であり、コンソール160から、そ
れぞれ独立に試験条件を設定することができ、例えば、
試験セルの送出個数、送出速度を任意に設定できる。
Further, in the configuration of FIG.
Reference numeral 40 denotes an independent configuration, and test conditions can be set independently from the console 160. For example,
The number and transmission speed of test cells can be set arbitrarily.

【0050】本発明において、試験セルを送出する試験
装置140には、図示省略の試験識別番号付与部を設け
てある。セル導通試験は複数の導通ルートを指定し、連
続して行なうことが一般的である。ATM交換機100
のスイッチ部130には、バッファを備えており、セル
を一旦蓄積してから、指定の速度で送出する。
In the present invention, the test device 140 for transmitting a test cell is provided with a test identification number assigning unit (not shown). In general, the cell continuity test specifies a plurality of continuity routes and continuously performs them. ATM switch 100
The switch unit 130 has a buffer for temporarily storing cells and then transmitting the cells at a specified speed.

【0051】かかる、セル導通試験において、試験ルー
トを切り替えたとき、スイッチ部130のバッファに、
前の導通試験用の試験セルが残留していた場合には、次
の試験において、試験セルの混入が発生し、通過した試
験セル数を正しくカウントすることができなくなる。
In the cell continuity test, when the test route is switched, the buffer of the switch unit 130
If the previous test cell for the continuity test remains, in the next test, the test cells are mixed, and the number of passed test cells cannot be correctly counted.

【0052】そこで、本発明では試験識別番号付与部を
設け、導通試験ごとにTEST−IDを付与することに
より、前回の導通試験の残留セルが存在しても、TES
T−IDにより前の試験の残留セルを分離することが可
能となり、正確な試験セル数をカウントすることが可能
となる。
Therefore, in the present invention, a test identification number assigning section is provided, and a TEST-ID is assigned for each continuity test.
The T-ID makes it possible to separate the residual cells of the previous test, and to count the number of test cells accurately.

【0053】図12は本発明の実施の形態の試験ルート
設定部のフローチャートを示す。例えば、図4で説明し
たように、スイッチ部130が複数のスイッチ131〜
133から構成されている場合、1つの端末から、他の
端末へのルートは複数存在する。このような、複数のル
ートについて、全ての導通試験を行なうと、重複したル
ートの試験を行なうことになり、導通試験の効率を低下
させることになる。
FIG. 12 shows a flowchart of the test route setting section according to the embodiment of the present invention. For example, as described with reference to FIG.
133, there are a plurality of routes from one terminal to another terminal. When all of the continuity tests are performed on a plurality of routes, a test of an overlapped route is performed, and the efficiency of the continuity test is reduced.

【0054】そこで、セル導通試験においては、すべて
のスイッチを通過し、且つ、重複したルートは試験しな
いよう、試験ルート設定部で試験ルートを設定する。 S1;スイッチ部130が3段構成か否かを判定する。
Therefore, in the cell continuity test, a test route is set by the test route setting unit so as not to test the duplicate route that passes through all the switches. S1: It is determined whether the switch unit 130 has a three-stage configuration.

【0055】S2;3段構成の場合には、2段目のスイ
ッチ(図中ICSWと示す)内の同一の入出ルートの試
験を行なう。(同一スイッチ系) S3;2段目のスイッチ内のクロスルートの試験を行な
う。(同一スイッチ系) S4;2段目のスイッチ内の同一の入出ルートの試験を
行なう。(交絡スイッチ系) S5;2段目のスイッチ内のクロスルートの試験を行な
う。(交絡スイッチ系) S6;3段スイッチ構成でない場合はn×nの交点試験
を行なう。
S2: In the case of a three-stage configuration, the same input / output route in the second-stage switch (indicated by ICSW in the figure) is tested. (Same switch system) S3: A cross route test in the second-stage switch is performed. (Same switch system) S4: The same ingress / egress route in the second stage switch is tested. (Confound switch system) S5: A cross route test in the second stage switch is performed. (Confounding Switch System) S6: If not a three-stage switch configuration, an n × n intersection test is performed.

【0056】例えば、8入力、8出力のスイッチを4個
使用した、3段構成のスイッチの導通試験においては、
導通試験ルート数を約1/4に削減することができる。
図13は本発明の実施の形態(6)を説明する図であ
る。図はATM交換機100に収容される遠隔集線装置
200のセル導通試験を行なう図である。
For example, in a conduction test of a three-stage switch using four 8-input, 8-output switches,
The number of continuity test routes can be reduced to about 1/4.
FIG. 13 is a view for explaining the embodiment (6) of the present invention. The figure shows a cell continuity test of the remote concentrator 200 accommodated in the ATM switch 100.

【0057】図において、ATM交換機100と遠隔集
線装置200は回線Lで接続される。回線L上のセルフ
ォーマットはTビットは「0」であり、遠隔集線装置2
00に送出される試験セルのTビットを共通制御部12
1のTビット削除部で「0」に設定する。
In the figure, the ATM switch 100 and the remote concentrator 200 are connected by a line L. In the cell format on the line L, the T bit is “0” and the remote concentrator 2
00 in the common control unit 12
It is set to "0" by the T bit deletion unit of 1.

【0058】Tビットが「0」に設定された試験セルを
受信した遠隔集線装置201、202の加入者カード2
12はTビット付与部により、Tビット「1」に設定す
る。そして、Tビット「1」に設定した試験セルを被試
験加入者カード211に送出し、被試験加入者カード2
11で折り返す。そして、共通制御部222でTビット
「0」に設定して回線Lに送出し、ATM交換機100
の試験装置140で回収することにより、遠隔集線装置
200に対するセル導通試験を行なう。
The subscriber card 2 of each of the remote concentrators 201 and 202 that has received the test cell with the T bit set to "0"
Reference numeral 12 is set to T bit “1” by a T bit assigning unit. Then, the test cell set to the T bit “1” is transmitted to the subscriber card under test 211, and the subscriber card under test 2 is transmitted.
Turn around at 11. The common control unit 222 sets the T bit to “0” and sends it out to the line L.
Of the remote concentrator 200 by performing the cell continuity test.

【0059】この構成においても、セレクタ200Aに
より、試験セルを選択通過させることにより、ACT系
と、SBY系の導通試験を同時に行なうことが可能であ
る。
Also in this configuration, the continuity test of the ACT system and the SBY system can be performed simultaneously by selectively passing the test cell by the selector 200A.

【0060】[0060]

【発明の効果】本発明によれば、試験セルの送出、受信
を行なう試験装置をATM交換機内に実装することによ
り、ATM交換機のコンソールから試験条件の設定が容
易となり、セル導通試験を効率良く行なうことができ
る。
According to the present invention, the test equipment for transmitting and receiving test cells is mounted in the ATM exchange, so that test conditions can be easily set from the console of the ATM exchange and the cell continuity test can be performed efficiently. Can do it.

【0061】また、0系、1系の二重化されたATM交
換機にそれぞれ試験装置を実装し、独立に折り返し設定
し、ACT系、SBY系のセル導通試験を同時に行なう
ことができ、系切り換え後の正常性も保証できる。
Further, the test equipment is mounted on each of the duplicated ATM exchanges of the system 0 and the system 1 and independently set back, so that the cell continuity test of the ACT system and the SBY system can be performed simultaneously. Normality can also be guaranteed.

【0062】さらに、試験セルには試験セルであること
を表示するTビットを付与し、Tビットを監視して、通
過、廃棄処理を行なうことにより、ポイントツウマルチ
ポイントの導通試験、回線折り返し試験、APS回線試
験等ATM交換機の運用に必要な試験を行なうことがで
きる。
Further, a T bit indicating that the cell is a test cell is added to the test cell, and the T bit is monitored, and a passing and discarding process is performed. , APS line test, etc., necessary for the operation of the ATM exchange can be performed.

【0063】さらに、ATM交換機に収容される遠隔集
線装置も同様にACT系、SBY系のセル導通試験を同
時に行なうことができる。
Further, the remote concentrator accommodated in the ATM exchange can simultaneously perform the ACT and SBY cell continuity tests.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の原理を説明する図FIG. 1 is a diagram illustrating a first principle of the present invention.

【図2】 本発明の第2の原理を説明する図FIG. 2 is a diagram illustrating a second principle of the present invention.

【図3】 本発明のセルフォーマットを説明する図FIG. 3 is a diagram illustrating a cell format according to the present invention.

【図4】 本発明の実施の形態(1)を説明する図FIG. 4 illustrates an embodiment (1) of the present invention.

【図5】 本発明の実施の形態(1)のセル受信のフロ
ーチャート
FIG. 5 is a flowchart of cell reception according to the embodiment (1) of the present invention.

【図6】 本発明の試験セル選択部を説明する図FIG. 6 is a diagram illustrating a test cell selection unit according to the present invention.

【図7】 本発明の実施の形態(2)を説明する図FIG. 7 illustrates an embodiment (2) of the present invention.

【図8】 本発明の実施の形態(3)を説明する図(そ
の1)
FIG. 8 illustrates Embodiment (3) of the present invention (part 1).

【図9】 本発明の実施の形態(3)を説明する図(そ
の2)
FIG. 9 is a view for explaining an embodiment (3) of the present invention (part 2);

【図10】 本発明の実施の形態(4)を説明する図FIG. 10 is a diagram illustrating Embodiment (4) of the present invention.

【図11】 本発明の実施の形態(5)を説明する図FIG. 11 illustrates an embodiment (5) of the present invention.

【図12】 本発明の試験ルート設定のフローチャートFIG. 12 is a flowchart of a test route setting according to the present invention.

【図13】 本発明の実施の形態(6)を説明する図FIG. 13 is a diagram illustrating Embodiment (6) of the present invention.

【図14】 従来例を説明する図FIG. 14 illustrates a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100、101 ATM交換機 110、111、112、211、212 加入者カー
ド 110A Tビット付与部 121、122、221、222 共通制御部 120A Tビット削除部 120B 試験セル制御部 130 スイッチ部 131〜133、131A〜133A、131A〜13
3B スイッチ 130A セル監視部 130B セル選択部 140 試験装置 150 インタフェース部 160 コンソール 200、201、202 遠隔集線装置 200A セレクタ 230 集線部 300 測定器 L 回線
100, 101 ATM switch 110, 111, 112, 211, 212 Subscriber card 110A T-bit assigning unit 121, 122, 221, 222 Common control unit 120A T-bit deleting unit 120B Test cell control unit 130 Switch unit 131-133, 131A ~ 133A, 131A ~ 13
3B switch 130A cell monitoring unit 130B cell selection unit 140 test equipment 150 interface unit 160 console 200, 201, 202 remote concentrator 200A selector 230 concentrator 300 measuring instrument L line

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−268668(JP,A) 特開 平7−38573(JP,A) 特開 平7−15462(JP,A) 特開 平4−157841(JP,A) 特開 平7−38565(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 12/24 - 12/28 H04L 12/56 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) References JP-A-6-268668 (JP, A) JP-A-7-38573 (JP, A) JP-A-7-15462 (JP, A) JP-A-4- 157841 (JP, A) JP-A-7-38565 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H04L 12/24-12/28 H04L 12/56

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ATM交換機に組み込まれ、試験セルの
生成、送受信を行なう試験装置と、 前記試験装置からの試験セルのヘッダを付け替え、宛先
の指定を行なう共通制御部と、 セルのヘッダから指定される出力先へ該セルを出力する
多段スイッチ構成で現用系、予備系の二重化されたス
イッチ部と、 ATM交換機に接続され、該ATM交換機の試験を行う
ための試験情報を入力するコンソールと、 前記コンソールから入力された試験情報を前記試験装
置、および、前記共通制御部に送出するインタフェース
部と、 前記スイッチ部および共通制御部の入力側、出力側に設
けられ、通過したセルをカウントするセルカウンタとを
備えたATM交換機において、 多段スイッチ構成で二重化された前記スイッチ部に、試
験セルを選択する試験セル選択部を設け、 前記スイッチ部の前記試験セル選択部が入力したセルの
試験セル表示ビットを検出した場合は、前記試験セル選
択部で予備系のスイッチから入力したセルを選択してセ
ル導通試験を行うことを特徴とするATM交換機のセル
導通試験方式。
1. A test cell integrated in an ATM switch.
A test device that performs generation, transmission and reception, and a test cell header from the test device are replaced, and the
And a common control unit for designating the cell and outputting the cell to an output destination designated from the header of the cell
The multi-stage switch configuration has redundant switches for the active and standby systems.
The switch unit is connected to the ATM switch and tests the ATM switch.
And console for inputting test data for a test information input from the console the test instrumentation
And an interface for sending to the common control unit
And the input and output sides of the switch unit and common control unit.
And a cell counter that counts cells that have passed
In the ATM exchange having, in the switch unit, which is duplicated in a multi-stage switch configuration, trial
A test cell selection unit for selecting a test cell, and the test cell selection unit of the switch unit
If a test cell indication bit is detected, the test cell selection
Select the cell input from the standby switch in the selector
A cell of an ATM exchange characterized by conducting a continuity test
Continuity test method.
【請求項2】(2) 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, 非サービス状態の加入者カードからの試験セルの通過、The passage of test cells from a non-serviced subscriber card,
廃棄を制御する試験セル制御部を設け、A test cell control unit for controlling disposal is provided, セルに試験セルであることを表示し、回線側の現用系でThe cell indicates that it is a test cell, and the active system on the line side
あるワーキングライン側、回線側の予備系であるプロテA protection system on a working line or line side
クションライン側に送出し、ワーキングライン側、プロTo the working line,
テクションライン側の一方で折り返し設定を行ない、試Make a loopback setting on one side of the
験セルは折り返し設定された側で折り返され、他方の折The test cell is wrapped on the side where the wrap is set, and the other
り返し設定されない側では前記試験セル制御部により試On the side that is not set repeatedly, the test cell control unit
験セルを廃棄することを特徴とするATM交換機のセルCell for ATM exchange characterized by discarding test cells
導通試験方式。Continuity test method.
【請求項3】(3) 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, 回線側から折り返されたセルに、試験セルであることをCheck that the cell turned back from the line side is a test cell.
表示するビットを付与Add bit to display する試験セル表示ビット付与部をTest cell display bit assigning section
設け、Provided, 回線側で折り返したセルに試験セルであることを表示すDisplay the test cell in the cell turned back on the line side.
るビットを付加して、試験セル導通試験を行なうことをTo perform a test cell continuity test
特徴とするATM交換機のセル導通試験方式。Characteristic ATM cell exchange cell continuity test method.
【請求項4】(4) 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, 二重化構成をとる0系、1系のATM交換機に組み込まIncorporated into redundant system 0 and system 1 ATM switch
れた0系、1系の試験装置を設け、0-system and 1-system test equipment 0系、1系の独立の折り返し設定を行ない、現用系、予Make independent loopback settings for system 0 and system 1
備系の試験セル導通試験を同時に行なうことを特徴とすThe continuity test of the test cell of the auxiliary system is performed simultaneously.
るATM交換機のセル導通試験方式。A cell continuity test method for ATM exchanges.
【請求項5】(5) 請求項4記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 4.
試験方式において、In the test method, 前記0系、1系の試験装置は、それぞれ独立に、試験セThe 0-system and 1-system test equipment are independently provided for the test cells.
ル送出速度、試験セル送出個数を設定することを特徴とThe transmission rate and the number of test cells to be transmitted are set.
するATM交換機のセル導通試験方式。Cell continuity test method for ATM exchanges.
【請求項6】6. 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, 多段スイッチ構成で二重化された前記スイッチ部のすべAll of the switch sections that are duplicated in a multi-stage switch configuration
てのスイッチを通過し、重複したルートは通過しないルRoute that passes through all switches and does not
ートを試験ルートに設定する試験ルート設定部を設けたThe test route setting section that sets the test route to the test route is provided.
ことを特徴とするATM交換機のセル導通試験方式。A cell continuity test method for an ATM exchange, characterized in that:
【請求項7】7. 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, 試験セルフォーマット内に試験識別番号を付与する試験Test that assigns a test identification number within the test cell format
識別番号付与部を設け、An identification number assigning unit is provided, セル導通試験を行なうとき、送出試験セル数、受信試験When conducting a cell continuity test, the number of transmission test cells and the reception test
セル数を試験識別番号単位に管理することを特徴とするThe number of cells is managed in test identification number units.
請求項2記載のATM交換機のセル導通試験方式。3. The cell continuity test system for an ATM exchange according to claim 2.
【請求項8】Claim 8. 請求項1記載のATM交換機のセル導通A cell continuity of the ATM switch according to claim 1.
試験方式において、In the test method, ATM交換機に遠隔集線装置を収容し、A remote concentrator is housed in an ATM switch, 前記ATM交換機に収容される前記試験装置から試験セA test cell is received from the test equipment accommodated in the ATM switch.
ルを送出し、試験セルを受信した前記遠隔集線装置は試The remote concentrator that transmitted the test cell and received the test cell
験ビットを付与し、被試験加入者カードに送出し、該加Test bit and send it to the subscriber card under test.
入者カードは試験セルを折り返し、前記ATM交換機内The entrance card turns the test cell back, and the inside of the ATM switch
の前記試験装置に送出し、試験セルの導通試験を行なうOf the test cell and conducts a continuity test of the test cell.
ことを特徴とするATM交換機のセル導通試験方式。A cell continuity test method for an ATM exchange, characterized in that:
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