JP3143408B2 - Manufacturing method of printed wiring board - Google Patents

Manufacturing method of printed wiring board

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JP3143408B2
JP3143408B2 JP8268297A JP8268297A JP3143408B2 JP 3143408 B2 JP3143408 B2 JP 3143408B2 JP 8268297 A JP8268297 A JP 8268297A JP 8268297 A JP8268297 A JP 8268297A JP 3143408 B2 JP3143408 B2 JP 3143408B2
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
製造方法に関し、特に、露光用マスク材としてマスクパ
ターンが形成されたガラス基板を使用することにより、
露光用マスク材の寸法変化を抑制することが可能であ
り、もってバイアホール、めっきレジストパターン、ソ
ルダーレジストパターンの位置ずれを防止することが可
であり、また、ガラス基板に描画されるマスクパター
ンを設計値よりも拡大することにより、感光性樹脂層等
が硬化収縮した場合においても、設計値に沿った適正寸
法の最終製品を製造することが可能なプリント配線板の
製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a printed wiring board by using a glass substrate on which a mask pattern is formed as an exposure mask material.
It is possible to suppress the dimensional change of the mask material for exposure, thereby preventing the positional deviation of the via hole, the plating resist pattern, and the solder resist pattern , and furthermore, the mask pattern drawn on the glass substrate.
By expanding the application beyond the design value, the photosensitive resin layer
Even if the resin shrinks due to cure,
The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board capable of manufacturing a final product of the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特公
平4−55555号公報に開示されているような方法に
より製造される。即ち、コア基板上に、感光性樹脂から
なる無電解めっき用接着剤を塗布し、これを乾燥したの
ち露光、現像することにより、バイアホール用開口を有
する層間絶縁材層を形成する。次いで、この層間絶縁材
層の表面を酸化剤等による処理にて粗化した後、その粗
化面に感光性樹脂層を露光、現像処理してめっきレジス
トを設け、その後、レジスト非形成部分に無電解めっき
を施してバイアホールを含む導体回路パターンを形成す
る。そして、このような工程を複数回繰り返すことによ
り、多層化したビルドアップ配線基板が得られるもので
ある。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, an adhesive for electroless plating made of a photosensitive resin is applied onto the core substrate, dried, exposed, and developed to form an interlayer insulating material layer having a via hole opening. Next, after roughening the surface of the interlayer insulating material layer by treatment with an oxidizing agent or the like, the photosensitive resin layer is exposed and developed on the roughened surface to provide a plating resist, and then, on the resist non-formed portion. A conductor circuit pattern including via holes is formed by electroless plating. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の多層プリント配線板では、感光性樹脂を露光する際
に使用するマスクフィルムとして樹脂フィルムを使用し
ており、かかるマクフィルムにおいては線熱膨張係数
が1.8×10-5/℃、湿度膨張係数が1.0×10-5
/℃と大きく、従って、周囲の温度、湿度により寸法変
化が生じ易く、その結果バイアホール位置やめっきレジ
ストパターンの位置にずれが発生してしまうという問題
がある。
[SUMMARY OF THE INVENTION However, in the conventional multilayer printed wiring board, which uses a resin film as a mask film to be used for exposing the photosensitive resin, the linear thermal in accordance Ma scan click film The expansion coefficient is 1.8 × 10 -5 / ° C, and the humidity expansion coefficient is 1.0 × 10 -5
/ ° C., and therefore, dimensional changes are likely to occur due to ambient temperature and humidity. As a result, there is a problem that the positions of the via holes and the positions of the plating resist patterns are shifted.

【0004】また、多層プリント配線板に限らずプリン
ト配線板の表層には、半田バンプなどの半田体を形成す
る際に他の回路部分等を保護すべくソルダーレジスト層
を設けるのが一般的である。このとき、ソルダーレジス
ト層において、感光性樹脂層を露光現像して半田体形成
のための開口部が設けられるのであるが、感光性樹脂層
の露光は、前記と同様、パターンが描画された樹脂製の
マスクフィルムを介して行われており、従って、この場
合においても前述した温度、湿度による寸法変化を生じ
て、半田体形成のための開口部の位置にズレが発生して
しまうという問題が残存している。
In addition to a multilayer printed wiring board, a solder resist layer is generally provided on the surface layer of the printed wiring board to protect other circuit parts when forming a solder body such as a solder bump. is there. At this time, in the solder resist layer, an opening for forming a solder body by exposing and developing the photosensitive resin layer is provided. Exposure of the photosensitive resin layer is performed in the same manner as described above. Therefore, in this case as well, the above-described dimensional change due to temperature and humidity occurs, and the position of the opening for forming the solder body is shifted. It remains.

【0005】本発明は前記従来の問題点を解消するため
になれたものであり、露光用マスク材としてマクパタ
ーンが形成されたガラス基板を使用することにより、露
光用マスク材の寸法変化を抑制することが可能であり、
もってバイアホール、めっきレジストパターン、ソルダ
ーレジストパターンの位置ずれを防止することが可能
あり、また、ガラス基板に描画されるマスクパターンを
設計値よりも拡大することにより、感光性樹脂層等が硬
化収縮した場合においても、設計値に沿った適正寸法の
最終製品を製造することが可能なプリント配線板の製造
方法を提供することを目的とする。
[0005] The present invention has come to solve the conventional problems, by using a glass substrate Ma scan click pattern is formed as an exposure mask material, dimensional change of the exposure mask material Can be suppressed,
Can be prevented via holes, plating resist pattern, the positional deviation of the solder resist pattern with
Yes, and the mask pattern drawn on the glass substrate
By expanding beyond the design value, the photosensitive resin layer
Even if the shrinkage occurs,
An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of manufacturing a final product .

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
請求項1に係るプリント配線板の製造方法は、導体回路
が形成された樹脂基板上に感光性樹脂層を形成し、該感
光性樹脂層をマスクパターンが描画されたガラス基板を
介して露光し、これを現像してバイアホール形成用の開
口を設け、さらに感光性樹脂層を加熱硬化し、ついで前
記感光性樹脂層上に導体回路およびバイアホールを形成
するプリント配線板の製造方法おいて、前記ガラス基板
に描画されたマスクパターンは、設計値よりも拡大され
てなる。
Means for Solving the Problems A method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1 for achieving the above object, a conductor circuit
Forming a photosensitive resin layer on the resin substrate on which
The glass substrate on which the mask pattern is drawn
And develop it to open via holes.
An opening is provided, and the photosensitive resin layer is cured by heating.
Conductor circuits and via holes are formed on the photosensitive resin layer
In the method of manufacturing a printed wiring board, the glass substrate
The mask pattern drawn on the
It becomes.

【0007】ここに、記製造方法では、フォトマスク
がガラスであるため吸湿せず、また、線膨張係数もソー
ダライムガラスで8.5×10-6/℃、石英ガラスで
5.0×10-7/℃と小さいため湿度、温度による寸法
変化が殆どない。これにより、マスクパターンやレジス
トパターンに位置ずれが発生することはなく、その結
果、バイアホール位置、めっきレジストパターン位置、
ソルダーレジストパターン位置にもずれが発生すること
はない。また、湿度、温度による寸法変化が殆どないた
め、マスクを交換する必要がなく、量産に適している。
[0007] Here, in the previous SL Manufacturing method, not hygroscopic for photomask is glass, and the linear expansion coefficient of 8.5 × 10 -6 / ℃ soda lime glass, quartz glass 5.0 Since it is as small as 10-7 / C, there is almost no dimensional change due to humidity and temperature. As a result, no displacement occurs in the mask pattern or the resist pattern, and as a result, the via hole position, the plating resist pattern position,
There is no shift in the solder resist pattern position. Also, since there is almost no dimensional change due to humidity and temperature, there is no need to replace the mask, which is suitable for mass production.

【0008】フォトマスクとしては、例えば、遮光イン
クによりマスクパターンがガラス基板に描画されたもの
が望ましい。遮光インクによりマスクパターンが描画さ
れたガラス基板は、ガラス基板表面に1〜10μm程度
の遮光インクで描画されたマスクパターン層がある(図
24(a)参照)。具体的には、図24(a)に示すガ
ラス基板13において、その表面にマスクパターン層1
4が遮光インクにより形成されており、また、露光する
場合にはマスクパターン層14の反対側から光を照射す
ることが望ましいため、マスクパターン層14の反対側
のガラス基板13の表面には反射防止膜15が形成され
ていてもよい。また、マスクパターン層14は透光性の
保護層16で被覆されていてもよい。マスクパターン層
14は、感光性の遮光インク組成物をガラス基板13に
塗布し、これにレーザ光をスキャニングしてパターンを
描画し、酸やアルカリで現像してマスクパターン層14
とする。
[0008] As a photomask, for example,
Mask pattern drawn on a glass substrate
Is desirable. The glass substrate on which the mask pattern is drawn by the light-shielding ink has a mask pattern layer drawn by the light-shielding ink of about 1 to 10 μm on the surface of the glass substrate (see FIG. 24A). Specifically, the mask pattern layer 1 is formed on the surface of the glass substrate 13 shown in FIG.
4 is formed of light-shielding ink, and it is desirable to irradiate light from the opposite side of the mask pattern layer 14 when performing exposure, so that the surface of the glass substrate 13 opposite to the mask pattern layer 14 is reflected. The prevention film 15 may be formed. Further, the mask pattern layer 14 may be covered with a light-transmitting protective layer 16. The mask pattern layer 14 is formed by applying a photosensitive light-shielding ink composition to the glass substrate 13, scanning a laser beam on the composition, drawing a pattern, and developing the pattern with an acid or alkali.
And

【0009】また、金属層によりマスクパターンが描画
されたガラス基板は、ガラス基板上に100〜1000
オングストローム程度の金属層からなるマスクパターン
層がある(図24(b)参照)。具体的には、図24
(b)に示すガラス基板13において、金属層17は、
クロム層からなることが望ましい。酸などによるエッチ
ングにより鮮明なパターンを形成できること、酸化しに
くいことによる。また、クロム層の表面に酸化膜を形成
してもよい。
The glass substrate on which the mask pattern is drawn by the metal layer is 100 to 1000
There is a mask pattern layer made of a metal layer of about Å (see FIG. 24B). Specifically, FIG.
In the glass substrate 13 shown in FIG.
Desirably, it is made of a chromium layer. This is because a sharp pattern can be formed by etching with an acid or the like, and oxidation is difficult. Further, an oxide film may be formed on the surface of the chromium layer.

【0010】ガラス基板として使用されるガラスは、厚
さ1〜10mmのソーダライムガラス、石英ガラスであ
ることが望ましい。ソーダライムガラスの線熱膨張係数
は、8.5×10-6/℃と小さく安価である。また、石
英ガラスの線熱膨張係数は、5.0×10-7/℃と極め
て小さい。
The glass used as the glass substrate is preferably soda lime glass or quartz glass having a thickness of 1 to 10 mm. The linear thermal expansion coefficient of soda lime glass is 8.5 × 10 −6 / ° C., which is small and inexpensive. Further, the linear thermal expansion coefficient of quartz glass is extremely small at 5.0 × 10 −7 / ° C.

【0011】さらに、本願発明の更に望ましい形態とし
ては、請求項2〜6に記載のものがある。
[0011] Further, a more desirable embodiment of the present invention is described in claims 2-6 .

【0012】請求項に記載されているように、導体回
路が形成された樹脂基板上に感光性樹脂層を形成し、該
感光性樹脂層をマスクパターンが描画されたガラス基板
を介して露光し、これを現像してバイアホール形成用の
開口を開け、さらに感光性樹脂層を加熱硬化し、ついで
前記感光性樹脂層上に導体回路およびバイアホールを形
成する工程を少なくとも2回以上繰り返して、感光性樹
脂層および導体回路を 積層するにあたり、各感光性樹脂
層は、設計値よりも拡大されたマスクパターンを描画し
たガラス基板を介して露光され、かつガラス基板に描画
されたマスクパターンの設計値に対する拡大率を表層に
近いほど小さくする。
According to a second aspect of the present invention, a conductor circuit is provided.
Forming a photosensitive resin layer on the resin substrate on which the path is formed;
Glass substrate on which photosensitive resin layer is masked
And develop it to form via holes.
Open the opening, heat cure the photosensitive resin layer, and then
Conductor circuits and via holes are formed on the photosensitive resin layer.
Repeating the steps of forming the photosensitive tree at least twice.
When laminating the resin layer and the conductor circuit , each photosensitive resin
Layer draws a mask pattern that is larger than the design value
Exposure through a broken glass substrate and drawing on the glass substrate
The magnification of the mask pattern to the design value on the surface
The smaller the closer, the smaller

【0013】更に、請求項に記載されているように、
熱硬化処理が施された樹脂基板上に感光性樹脂層を形成
し、この感光性樹脂層をマスクパターンが描画されたガ
ラス基板を介して露光し、レジストパターンを形成する
プリント配線板の製造方法において、前記ガラス基板に
描画されたマスクパターンは、設計値よりも拡大されて
なる。
[0013] Further, as described in claim 4 ,
Forming a photosensitive resin layer on a thermoset resin substrate
Then, the photosensitive resin layer is applied to the mask on which the mask pattern is drawn.
Exposure through a glass substrate to form a resist pattern
In the method for manufacturing a printed wiring board, the glass substrate
The drawn mask pattern is enlarged beyond the design value.
Become.

【0014】また、請求項に記載されているように、
熱硬化処理が施された無電解めっき用接着剤層上に、め
っきレジスト形成のための感光性樹脂層を設け、この感
光性樹脂層をマスクパターンが描画されたガラス基板を
介して露光し、めっきレジストパターンを形成し、めっ
きを施す工程を少なくとも2回以上繰り返すプリント配
線板の製造方法において、各めっきレジスト形成のため
の感光性樹脂層は、設計値よりも拡大されたマスクパタ
ーンを描画したガラス基板を介して露光され、かつガラ
ス基板に描画されたマスクパターンの設計値に対する拡
大率を表層に近いほど小さくする。
Further, as described in claim 5 ,
Place the adhesive on the thermosetting adhesive layer for electroless plating.
A photosensitive resin layer for forming a resist is provided.
The glass substrate on which the mask pattern is drawn
Through the substrate to form a plating resist pattern.
Printing process that repeats the process of applying
In the manufacturing method of wire plate, for forming each plating resist
The photosensitive resin layer has a mask pattern that is larger than the design value.
Exposed through the glass substrate on which
Expansion of the mask pattern drawn on the
The larger the ratio is, the smaller it is near the surface.

【0015】請求項1、2の発明では、層間樹脂絶縁層
を形成するための感光性樹脂を加熱硬化(ポストベー
ク)させて耐塩基性を向上させている。無電解めっき液
は強塩基性であるため、このような加熱が必要になる。
ところが、加熱より、樹脂基板や感光性樹脂が硬化収縮
してしまい、最終製品の寸法が設計値よりも小さくなっ
てしまう。設計値通りでなければ、ICチップなどの半
導体部品を搭載できなくなり、プリント配線板として機
能しない。
According to the first and second aspects of the present invention, the photosensitive resin for forming the interlayer resin insulating layer is cured by heating (post-baking) to improve the basic resistance. Since the electroless plating solution is strongly basic, such heating is required.
However, the heating causes the resin substrate and the photosensitive resin to cure and shrink, and the dimensions of the final product become smaller than the design values. If the design values are not met, semiconductor components such as IC chips cannot be mounted, and they do not function as printed wiring boards.

【0016】更に、このような感光性樹脂を多層化する
場合、樹脂基板や下層の感光性樹脂も同時に加熱してし
まうため、樹脂基板や下層の感光性樹脂がさらに硬化収
縮してしまうため、最終製品の寸法が設計値よりもさら
に小さくなってしまうまた、感光性樹脂を多層化する
場合、表面を平滑にするため、研磨を行う場合がある
が、研磨により樹脂基板の寸法は設計値よりも大きくな
る。
Further, when such a photosensitive resin is formed into a multilayer, the resin substrate and the lower photosensitive resin are also heated at the same time, and the resin substrate and the lower photosensitive resin are further cured and shrunk. The dimensions of the final product will be smaller than the design values . When the photosensitive resin is multilayered, polishing may be performed in order to smooth the surface, but the dimensions of the resin substrate become larger than designed values due to the polishing.

【0017】例えば、図25は、プリント配線板を多層
化する場合に、樹脂基板がどのように寸法変化するかを
表した図である。Xは基板のX軸方向、YはY軸方向の
寸法変化を調べたものである。は樹脂基板をバフ研磨
した段階、は最も内層(1−2層)の感光性樹脂層を
塗布する直前の段階、は2層目のめっきレジスト層形
成直前の段階、は次層(2−3層)の感光性樹脂層を
塗布する直前の段階、は3層目のめっきレジストを形
成する直前の段階である。この図25から研磨により寸
法変化が大きくなり、加熱硬化により寸法が小さくな
り、最終的に最初の基板の大きさに対して−0.025
%のずれを発生することがわかる。
For example, FIG. 25 is a diagram showing how the size of a resin substrate changes when a printed wiring board is multilayered. X indicates the dimensional change of the substrate in the X-axis direction, and Y indicates the dimensional change in the Y-axis direction. Denotes a stage in which the resin substrate is buffed, denotes a stage immediately before the innermost (1-2) photosensitive resin layer is applied, denotes a stage immediately before forming the second plating resist layer, and denotes a next layer (2-3). The step immediately before applying the photosensitive resin layer of (layer) is a step immediately before forming the third layer plating resist. From FIG. 25, the dimensional change is increased by polishing, the size is reduced by heat curing, and finally -0.025 with respect to the initial substrate size.
It can be seen that a% shift occurs.

【0018】このように、最終製品の寸法を設計値に合
わせなければならず、このためには、硬化収縮を見込ん
でガラス基板に設計値よりも拡大したマスクパターンを
描画する。設計値よりも拡大したマスクパターンであれ
ば、露光、現像処理した後の加熱硬化(ポストベーク)
で樹脂基板や感光性樹脂が収縮しても設計値に収束させ
ることができる。このような設計値に対して拡大したマ
スクパターンは、ガラス基板に描画しなければならな
い。樹脂フィルムにマスクパターンを描画しても吸湿や
温度変化でフィルムの大きさが変化し、マスクパターン
の大きさまで変化してしまい、樹脂基板や感光性樹脂の
硬化収縮のみならず、樹脂フィルムの寸法変化まで考慮
しなければならないからである。
As described above, the dimensions of the final product must be adjusted to the design values. To this end, a mask pattern larger than the design values is drawn on the glass substrate in anticipation of curing shrinkage. If the mask pattern is larger than the designed value, heat curing after exposure and development (post bake)
Thus, even if the resin substrate or the photosensitive resin shrinks, it can be made to converge to the design value. The mask pattern enlarged for such a design value must be drawn on a glass substrate. Even if a mask pattern is drawn on a resin film, the size of the film changes due to moisture absorption or temperature change, and changes to the size of the mask pattern. This is because changes must be considered.

【0019】本願発明では、ガラス基板を使用してお
り、吸湿や温度変化によりガラス基板の大きさが変わら
ないため、マスクパターンの大きさの変動が極めて小さ
く、それゆえ硬化収縮の大きさ分を考慮してマスクパタ
ーンを拡大させておけば、確実に設計値に収束すること
ができるのである。
In the present invention, a glass substrate is used, and since the size of the glass substrate does not change due to moisture absorption or a change in temperature, a change in the size of the mask pattern is extremely small. If the mask pattern is enlarged in consideration of the above, it is possible to reliably converge to the design value.

【0020】さらに、感光性樹脂を多層化する場合は、
各感光性樹脂層の加熱により、樹脂基板および感光性樹
脂層がどれだけ硬化収縮するかを予め調べておき、収縮
に見合った拡大率でパターンを描画しておくことによ
り、最終的に設計値に収束させることができる。設計値
に対する拡大率は、プリント配線板の内層の感光性樹脂
層を露光するパターンほど大きくなり、表層に近い感光
性樹脂層を露光するパターンほど小さくなる。表層に近
い感光性樹脂層を露光する場合は、硬化収縮が進行して
樹脂基板の大きさが設計値に近くなるため、拡大率が低
くなるからである。前記マスクパターンは、設計値に対
して0.001〜0.100%大きく拡大されてなるこ
とが望ましい。片面3層(両面6層)のプリント配線板
の場合は、0.03%程度の硬化収を、片面4層(両
面8層)のプリント配線板の場合は、0.06%程度、
片面5層(両面10層)のプリント配線板の場合は、
0.100%程度の硬化収縮を見込む必要がある。
Further, when the photosensitive resin is multilayered,
By examining in advance how much the resin substrate and the photosensitive resin layer will cure and shrink due to the heating of each photosensitive resin layer, and drawing the pattern at an enlargement ratio commensurate with the shrinkage, the final design value Can be converged. The enlargement ratio with respect to the design value increases as the pattern exposes the photosensitive resin layer in the inner layer of the printed wiring board, and decreases as the pattern exposes the photosensitive resin layer closer to the surface layer. This is because, when a photosensitive resin layer close to the surface layer is exposed, curing shrinkage proceeds and the size of the resin substrate approaches the design value, so that the enlargement ratio decreases. It is desirable that the mask pattern is enlarged by 0.001 to 0.100% larger than a design value. If the printed wiring board of a single-sided three-layer (double-sided six layers), the curing shrinkage of about 0.03%, in the case of the printed wiring board of a single-sided four-layer (double-sided 8 layers), about 0.06%,
In the case of a printed wiring board with 5 layers on one side (10 layers on both sides),
It is necessary to expect a cure shrinkage of about 0.100%.

【0021】請求項4〜6の発明では、めっきレジスト
やソルダーレジストを熱硬化処理された基板上に形成し
ている。例えば、めっきレジストは、請求項のような
フルアディティブプロセスでは、無電解めっき用接着剤
層上に直接形成され、また、請求項のようなセミアデ
ィティブプロセスでは、無電解めっき用接着剤層上に薄
く形成された無電解めっき膜上に形成され、いずれにし
ても無電解めっき用接着剤を加熱硬化(ポストベーク)
して耐塩基性を向上させている。
[0021] In the present invention of claim 4 to 6, and a plating resist and a solder resist is formed in the thermosetting treated substrate. For example, the plating resist is formed directly on the adhesive layer for electroless plating in the full additive process according to claim 5 , and the adhesive layer for electroless plating in the semi-additive process according to claim 6. Formed on a thinly formed electroless plating film, and in any case, heat-cured adhesive for electroless plating (post bake)
To improve base resistance.

【0022】ところが、加熱により、樹脂基板が硬化収
縮してしまい、最終製品の寸法が設計値よりも小さくな
ってしまう。設計値通りでなければ、ICチップなどの
半導体部品を搭載できなくなったり、バイアホールの接
続不良を招いたりしてプリント配線板として機能しな
い。
However, the heating causes the resin substrate to cure and shrink, and the dimensions of the final product become smaller than designed values. If the design values are not met, semiconductor components such as IC chips cannot be mounted, or connection failure of via holes may be caused, so that the printed circuit board does not function.

【0023】さらに、このような無電解めっき用接着剤
層を多層化する場合、樹脂基板をも同時に加熱してしま
うため、樹脂基板がさらに硬化収縮し、最終製品の寸法
が設計値よりも更に小さくなってしまう。また、樹脂基
板の平滑化のために研磨を行う場合があるが、研磨によ
り樹脂基板の寸法は設計値よりも大きくなる。
Further, when such an adhesive layer for electroless plating is multilayered, the resin substrate is also heated at the same time, so that the resin substrate is further cured and shrunk, and the dimensions of the final product are more than the design values. It will be smaller. In some cases, polishing is performed to smooth the resin substrate, but the dimensions of the resin substrate become larger than designed values due to the polishing.

【0024】このように、最終製品寸法を設計値に合わ
せなければならず、このためには、前述したように硬化
収縮を見込んでガラス基板に設計値よりも拡大したマス
クパターンを描画する。設計値より拡大したマスクパタ
ーンであれば、無電解めっき用接着剤層の加熱硬化(ポ
ストベーク)で樹脂基板が収縮しても設計値に収束させ
ることができる。また、前述のようにマスクパターン
は、ガラス基板に描画しなければならない。
As described above, the final product dimensions must be adjusted to the design values. To this end, a mask pattern larger than the design values is drawn on the glass substrate in consideration of the curing shrinkage as described above. If the mask pattern is larger than the design value, it can be made to converge to the design value even if the resin substrate shrinks due to heat curing (post-baking) of the adhesive layer for electroless plating. Further, as described above, the mask pattern must be drawn on the glass substrate.

【0025】さらに、無電解めっき用接着剤を多層化す
る場合は、加熱により、樹脂基板がどれだけ硬化収縮す
るかを予め調べておき、収縮に見合った拡大率でパター
ンを描画しておくことにより、最終的に設計値に収束さ
せることができる。設計値に対する拡大率は、プリント
配線板の内層のめっきレジスト形成のためのパターンほ
ど大きくなり、表層に近いめっきレジスト形成のための
パターンほど小さくなる。表層に近いめっきレジストを
形成する場合は、硬化収縮が進行して樹脂基板の大きさ
が設計値に近くなるため、拡大率が低くなるからであ
る。前記マスクパターンは、設計値に対して0.01〜
0.100%大きく拡大されてなることが望ましい。片
面3層(両面6層)のプリント配線板の場合は、0.0
3%程度の硬化収縮を、片面4層(両面8層)のプリン
ト配線板の場合は、0.06%程度の硬化収縮を、片面
5層(両面10層)のプリント配線板の場合は、0.1
00%程度の硬化収縮を見込む必要がある。
Further, when the adhesive for electroless plating is multilayered, it is necessary to examine in advance how much the resin substrate will cure and shrink by heating, and draw a pattern at an enlargement ratio commensurate with the shrinkage. Thereby, it is possible to finally converge to the design value. The enlargement ratio with respect to the design value increases with the pattern for forming the plating resist in the inner layer of the printed wiring board, and decreases with the pattern for forming the plating resist closer to the surface layer. This is because, when a plating resist close to the surface layer is formed, the shrinkage on curing progresses and the size of the resin substrate approaches the design value, so that the enlargement ratio decreases. The mask pattern is 0.01 to the design value.
Desirably, it is enlarged by 0.100%. In the case of a printed wiring board having three layers on one side (six layers on both sides), 0.0
In the case of a printed wiring board having about 4% of curing shrinkage on one side and 4 layers (8 layers on both sides), about 0.06%, and in the case of a printed wiring board having 5 layers on one side (10 layers on both sides), 0.1
It is necessary to allow for cure shrinkage of about 00%.

【0026】本願発明の請求項1〜7のプリント配線板
の製造方法においては、マスクパターンの拡大率は、
X、Y方向で異なっていてもよい。また、請求項2、
5、6のプリント配線板の製造方法においては、原則と
してガラス基板に描画されたマスクパターンの設計値に
対する拡大率を表層に近いほど小さくするのであるが、
研磨などを行う場合は、基板が伸びてしまうため、より
表層に近い方のマスクパターンの設計値に対する拡大率
を、そのマスクパターンよりも内層側の感光性樹脂層を
露光するために使用するマスクパターンの拡大率より大
きなものを使用することができる。
In the method for manufacturing a printed wiring board according to claims 1 to 7 of the present invention, the enlargement ratio of the mask pattern is
It may be different in the X and Y directions. Claim 2
In the manufacturing methods of the printed wiring boards of Nos. 5 and 6 , in principle, the enlargement ratio with respect to the design value of the mask pattern drawn on the glass substrate is reduced as it approaches the surface layer.
When performing polishing or the like, since the substrate is stretched, the enlargement ratio with respect to the design value of the mask pattern closer to the surface layer, the mask used to expose the photosensitive resin layer on the inner layer side of the mask pattern A pattern larger than the magnification of the pattern can be used.

【0027】また、前記製造方法に適用されるプリント
配線板は特に限定されず、例えば、めっきレジストを形
成する場合には、無電解めっき用接着剤層が形成された
基板、無電解めっき用接着剤層に無電解めっき膜が形成
された基板などが適用できる。また、ソルダーレジスト
を形成する場合には、半田パッドとなる導体層を設けた
基板が適用される。
The printed wiring board applied to the manufacturing method is not particularly limited. For example, when a plating resist is formed, a substrate having an electroless plating adhesive layer formed thereon, an electroless plating adhesive A substrate or the like in which an electroless plating film is formed on an agent layer can be applied. When a solder resist is formed, a substrate provided with a conductor layer serving as a solder pad is applied.

【0028】更に、感光性樹脂層に関して、バイアホー
ル形成用の開口を設ける感光性樹脂層は、感光性の無電
解めっき用接着剤層を用いることが望ましい。この感光
性無電解めっき用接着剤は、硬化処理された酸あるいは
酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤
に難溶性の未硬化の感光性樹脂中に分散されてなるもの
が最適である。酸、酸化剤で処理することにより、耐熱
性樹脂粒子が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカ
ーからなる粗化面を形成できる。
Further, with respect to the photosensitive resin layer, it is desirable to use a photosensitive adhesive layer for electroless plating as the photosensitive resin layer provided with openings for forming via holes. This photosensitive electroless plating adhesive is obtained by dispersing heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent in an uncured photosensitive resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. Optimal. By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus-shaped anchor can be formed on the surface.

【0029】上記感光性無電解めっき用接着剤におい
て、特に硬化処理された前記耐熱性樹脂粒子としては、
平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒
径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒
子、平均粒径が2μm〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉
末と平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合
物、平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面
に平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉
末のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒
子、から選ばれるいずれか少なくとも1種を用いること
が望ましい。これらは、より複雑なアンカーを形成でき
るからである。
In the above-mentioned adhesive for photosensitive electroless plating, the cured heat-resistant resin particles are preferably:
Heat-resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less, agglomerated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, heat-resistant powder resin powder having an average particle size of 2 μm to 10 μm and an average particle size of 2 μm or less Mixture with a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 to 10 μm, and a pseudo-particle obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 μm or less and an inorganic powder to the surface of the heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 to 10 μm. It is desirable to use at least one selected from particles. This is because they can form more complex anchors.

【0030】また、めっきレジストやソルダーレジスト
を形成する場合の感光性樹脂組成物としては、特にクレ
ゾールノボラックやフェノールノボラック型エポキシ樹
脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤からなる組成物
を用いることが望ましいが、他に市販品を使用すること
もできる。また、ソルダーレジストを形成する場合は、
フタロシアニングリーンなどの色素やアルミナ、シリカ
粒子などを添加してもよい。
As a photosensitive resin composition for forming a plating resist or a solder resist, it is particularly desirable to use a composition comprising an acrylate of cresol novolak or a phenol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent. Commercially available products can also be used. When forming a solder resist,
Dyes such as phthalocyanine green, alumina, silica particles and the like may be added.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】次に、本発明に係るプリント配線
板の製造方法について、本発明のプリント配線板の製造
方法をセミアディティブ法につき具体化した実施形態に
基づき図面を参照しつつ説明する。尚、製造方法として
フルアディティブ法を採用してもよいことはいうまでも
ない。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described with reference to the drawings based on an embodiment in which the method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention is embodied with respect to a semi-additive method. . It goes without saying that a full additive method may be employed as the manufacturing method.

【0032】(1)まず、コア基板1の表面に内層銅パ
ターン(導体回路)2を形成した配線基板PCを作製す
る(図1、図2)。このコア基板1への銅パターン2の
形成方法としては、銅張積層板をエッチングして行う
か、あるいは、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、
セラミック基板、金属基板などの基板に無電解めっき用
接着剤層を形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面
とし、ここに無電解めっきするか、もしくは全面無電解
めっき、めっきレジスト形成、電解めっき後、めっきレ
ジスト除去、エッチング処理し、電解めっき膜と無電解
めっき膜からなる導体回路を形成する方法がある。尚、
配線基板PCの所定位置にはスルーホールHが形成さ
れ、このスルーホールHの内面及び開口部周縁部には銅
パターン2が形成される。
(1) First, a wiring board PC having an inner layer copper pattern (conductor circuit) 2 formed on the surface of a core substrate 1 is manufactured (FIGS. 1 and 2). The copper pattern 2 is formed on the core substrate 1 by etching a copper-clad laminate, or a glass epoxy substrate, a polyimide substrate,
An adhesive layer for electroless plating is formed on a substrate such as a ceramic substrate or a metal substrate, and the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface. There is a method in which after formation and electrolytic plating, a plating resist is removed and etching treatment is performed to form a conductor circuit composed of an electrolytic plating film and an electroless plating film. still,
A through hole H is formed at a predetermined position of the wiring board PC, and a copper pattern 2 is formed on the inner surface of the through hole H and the periphery of the opening.

【0033】尚、スルーホールの内壁、スルーホールの
ランドの側面、導体回路2の側面には粗化層が設けられ
ていることが望ましい。粗化層を側面に設けることによ
り、後述する充填樹脂18との密着を改善でき、ヒート
サイクルに起因して、樹脂18と導体回路2との境界を
起点としてその境界上の層間絶縁層に発生するクラック
を抑制することができるからである。
It is preferable that a roughening layer is provided on the inner wall of the through hole, the side surface of the land of the through hole, and the side surface of the conductor circuit 2. By providing the roughened layer on the side surface, the adhesion with the filling resin 18 described later can be improved, and the heat cycle causes the boundary between the resin 18 and the conductor circuit 2 as a starting point to be generated in the interlayer insulating layer on the boundary. This is because cracking can be suppressed.

【0034】次に、スルーホールHの内部および配線板
PCの導体回路2間には樹脂18が充填されて、平滑性
が確保される(図3)。更に、上記配線基板PCにおけ
る下層導体回路2の表面には、銅−ニッケル−リンから
なる粗化層5が形成される(図4)。粗化層5は、無電
解めっきにより形成される。めっき液組成としては、銅
イオン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜リン酸イオン濃
度は、それぞれ2.2×10-2〜4.1×10-2mol
/l、2.2×10-3〜4.1×10-3mol/l、
0.20〜0.25mol/lであることが望ましい。
Next, the resin 18 is filled between the inside of the through hole H and the conductor circuit 2 of the wiring board PC to ensure smoothness (FIG. 3). Further, a roughened layer 5 made of copper-nickel-phosphorus is formed on the surface of the lower conductor circuit 2 in the wiring board PC (FIG. 4). The roughened layer 5 is formed by electroless plating. As the plating solution composition, the copper ion concentration, the nickel ion concentration, and the hypophosphite ion concentration were 2.2 × 10 −2 to 4.1 × 10 −2 mol, respectively.
/ L, 2.2 × 10 −3 to 4.1 × 10 −3 mol / l,
Desirably, it is 0.20 to 0.25 mol / l.

【0035】この範囲で析出する被膜の結晶構造は針状
構造になるため、アンカー効果に優れるからである。無
電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤や添加剤を
加えてもよい。
This is because the crystal structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating bath in addition to the above compounds.

【0036】粗化層5の形成方法としては、この他に前
述した酸化−還元処理、銅表面を粒界に沿ってエッチン
グして粗化面を形成する方法などがある。具体的には、
酸化浴(黒化浴)としては、NaOH(10g/l)、
NaClO2 (40g/l)及びNa3PO4(6g/
l)からなる浴を用い、還元浴としては、NaOH(1
0g/l)及びNaBH4 (6g/l)からなる浴を用
いることが望ましい。
Other methods of forming the roughened layer 5 include the above-described oxidation-reduction treatment and a method of forming a roughened surface by etching the copper surface along grain boundaries. In particular,
As an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / l),
NaClO2 (40 g / l) and Na3PO4 (6 g / l)
l), and NaOH (1
(0 g / l) and NaBH4 (6 g / l).

【0037】尚、配線板PCに形成されたスルーホール
Hを介して表面と裏面の銅パターン2が電気的に接続さ
れる。
The copper pattern 2 on the front surface and the back surface is electrically connected through a through hole H formed in the wiring board PC.

【0038】(2)次に、前記(1)で作製した配線基
板PCの表面上に、感光性樹脂層6を形成する(図
5)。このとき、特に本実施形態の製造方法では、感光
性樹脂層6として前述した感光性無電解めっき用接着剤
を用いることが望ましい。
(2) Next, a photosensitive resin layer 6 is formed on the surface of the wiring board PC manufactured in (1) (FIG. 5). At this time, it is particularly preferable to use the above-mentioned adhesive for photosensitive electroless plating as the photosensitive resin layer 6 in the manufacturing method of the present embodiment.

【0039】(3)前記のように形成した感光性無電解
めっき用接着剤層6を乾燥した後、前述したバイアホー
ル形成のための円パターン(マスクパターン)14が描
画されたガラス基板13を、円パターン14が感光性無
電解めっき用接着剤層6に密着するように載置し、露光
(図6)、現像処理する(図7)。これにより、バイア
ホール用開口Bが形成される。尚、図6では、ガラス基
板13は配線板PCの上面に載置した状態が示されてい
るが、配線板PCの下面についても同様の処理が行われ
る。
(3) After drying the adhesive layer 6 for photosensitive electroless plating formed as described above, the glass substrate 13 on which the above-described circular pattern (mask pattern) 14 for forming via holes is drawn. Then, the circular pattern 14 is placed so as to be in close contact with the adhesive layer 6 for photosensitive electroless plating, exposed (FIG. 6), and developed (FIG. 7). As a result, a via hole opening B is formed. Although FIG. 6 shows a state where the glass substrate 13 is placed on the upper surface of the wiring board PC, the same processing is performed on the lower surface of the wiring board PC.

【0040】(4)次に、硬化した前記感光性無電解め
っき用接着剤層6の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を
酸あるいは酸化剤によって溶解除去し、接着剤層表面を
粗化処理する(図8)。
(4) Next, the epoxy resin particles present on the surface of the cured adhesive layer 6 for photosensitive electroless plating are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent to roughen the surface of the adhesive layer ( (FIG. 8).

【0041】ここで、上記酸としては、リン酸、塩酸、
硫酸などの無機酸、あるいは蟻酸や酢酸などの有機酸が
あるが、特に有機酸を用いることが望ましい。粗化処理
した場合に、バイアホールから露出する金属導体層を腐
食させにくいからである。
Here, the acid includes phosphoric acid, hydrochloric acid,
Although there are inorganic acids such as sulfuric acid and organic acids such as formic acid and acetic acid, it is particularly preferable to use organic acids. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.

【0042】一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過
マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いるこ
とが望ましい。
On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0043】(5)次に、接着剤層6の表面を粗化した
配線基板PCに触媒核を付与する。触媒核の付与には、
貴金属イオンや貴金属コロイドなどを用いることが望ま
しく、一般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイ
ドを使用する。なお、触媒核を固定するために加熱処理
を行うことが望ましい。このような触媒核としてはパラ
ジウムがよい。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board PC whose surface of the adhesive layer 6 has been roughened. To provide the catalyst core,
It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0044】(6)次に、無電解めっき用接着剤層6の
表面に無電解めっきを施し、粗化面全面に無電解めっき
膜3を形成する(図9)。無電解めっき膜3の厚みは1
〜5μm、より望ましくは2〜3μmである。
(6) Next, electroless plating is performed on the surface of the adhesive layer 6 for electroless plating, and the electroless plating film 3 is formed on the entire roughened surface (FIG. 9). The thickness of the electroless plating film 3 is 1
55 μm, more preferably 2-3 μm.

【0045】(7)続いて、前記のように形成した無電
解めっき膜3上に感光性樹脂フィルム(ドライフィル
ム)19をラミネートし、また、めっきレジストパター
ン14が描画されたガラス基板13を、マスクパターン
14が感光性樹脂フィルム19を介して感光性無電解め
っき用接着剤層6に密着するように載置し、更に、露
光、現像処理する(図10)。これにより、めっきレジ
スト層7が無電解めっき膜3上に形成される(図1
1)。尚、図10では、配線板PCの上面における処理
状態が図示されているが、配線板PCの下面についても
同様の処理が行われる。
(7) Subsequently, a photosensitive resin film (dry film) 19 is laminated on the electroless plating film 3 formed as described above, and the glass substrate 13 on which the plating resist pattern 14 is drawn is removed. The mask pattern 14 is placed so as to be in close contact with the photosensitive electroless plating adhesive layer 6 via the photosensitive resin film 19, and is further exposed and developed (FIG. 10). Thereby, a plating resist layer 7 is formed on the electroless plating film 3 (FIG. 1).
1). Although FIG. 10 illustrates the processing state on the upper surface of the wiring board PC, the same processing is performed on the lower surface of the wiring board PC.

【0046】(8)次に、めっきレジスト非形成部(
っきレジスト層7が形成されていない部分)に電解めっ
き膜4を形成し、導体回路、ならびにバイアホール10
0を設ける(図12)。ここで、上記無電解めっきとし
ては、銅めっきを用いることが望ましい。
(8) Next, the electrolytic plating film 4 is formed on the portion where the plating resist is not formed (the portion where the plating resist layer 7 is not formed), and the conductor circuit and the via hole 10 are formed.
0 is provided (FIG. 12). Here, it is desirable to use copper plating as the electroless plating.

【0047】(9)更に、めっきレジスト層7を除去し
た後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、
過硫酸アンモニウムなどのエッチング液で無電解めっき
膜3を溶解除去して、独立した導体回路とする(図1
3)。更に、露出した粗化面上の残留Pd触媒核をクロ
ム酸で除去する。
(9) Further, after removing the plating resist layer 7, a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, sodium persulfate,
The electroless plating film 3 is dissolved and removed with an etching solution such as ammonium persulfate to form an independent conductor circuit (FIG. 1).
3). Further, residual Pd catalyst nuclei on the exposed roughened surface are removed with chromic acid.

【0048】(10)続いて、バイアホール100、導
体パターン4の表面に粗化層5を形成する(図14)。
ここに、粗化層5の形成方法としては、エッチング処
理、研磨処理、酸化還元処理、めっき処理がある。酸化
還元処理は、NaOH(10g/l)、NaClO2
(40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を酸化浴
(黒化浴)、NaOH(10g/l)、NaBH4 (5
g/l)を還元浴とする。
(10) Subsequently, the roughened layer 5 is formed on the surface of the via hole 100 and the conductor pattern 4 (FIG. 14).
Here, as a method of forming the roughened layer 5, there are an etching process, a polishing process, an oxidation-reduction process, and a plating process. The oxidation-reduction treatment includes NaOH (10 g / l), NaClO2
(40 g / l), Na3 PO4 (6 g / l) in an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / l), NaBH4 (5
g / l) is used as a reducing bath.

【0049】また、銅−ニッケル−リン合金層による粗
化層5を形成する場合は無電解めっきにより析出させ
る。この合金の無電解めっき液としては、硫酸銅1〜4
0g/l、硫酸ニッケル0.1〜6.0g/l、クエン
酸10〜20g/l、次亜リン酸塩10〜100g/
l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤0.01〜1
0g/lからなる液組成のめっき浴を用いることが望ま
しい。
When forming the roughened layer 5 of a copper-nickel-phosphorus alloy layer, it is deposited by electroless plating. As an electroless plating solution for this alloy, copper sulfate 1-4
0 g / l, nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-20 g / l, hypophosphite 10-100 g / l
1, boric acid 10 to 40 g / l, surfactant 0.01 to 1
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 0 g / l.

【0050】(11)次に、前記処理により得られた配
線基板PC上に、感光性樹脂層として感光性無電解めっ
き用接着剤層6を形成する(図15)。
(11) Next, an adhesive layer 6 for photosensitive electroless plating is formed as a photosensitive resin layer on the wiring board PC obtained by the above processing (FIG. 15).

【0051】(12)更に、前記(3)〜(9)の工程
を繰り返して行って更に上層の導体回路を設け、半田パ
ッドとして機能する導体層10とバイアホール100を
形成する(図16乃至図19)。
(12) Further, the above steps (3) to (9) are repeated to provide a further upper layer conductor circuit, and the conductor layer 10 functioning as a solder pad and the via hole 100 are formed (FIGS. 16 to 16). (FIG. 19).

【0052】(13)次いで、必要に応じてバイアホー
ル、導体層、ランド等の表面に粗化層5を設ける(図2
0)。粗化層5の形成方法としては、(10)で説明し
た方法と同様である。
(13) Then, if necessary, a roughened layer 5 is provided on the surface of via holes, conductor layers, lands and the like (FIG. 2).
0). The method of forming the roughened layer 5 is the same as the method described in (10).

【0053】(14)次に、前記(12)の処理を終え
たプリント配線板PCの両面に、ソルダーレジスト組成
物を塗布する(図21)。プリント配線板PCの両面に
ソルダーレジスト層8を塗布形成する際に、前記プリン
ト配線板PCを垂直に立てた状態でロールコータの一対
の塗布用ロールのロール間に挟み、下側から上側へ搬送
させて配線基板PCの両面にソルダーレジスト組成物を
同時に塗布することが望ましい。この理由は、現在のプ
リント配線板PCの基本仕様は両面であり、カーテンコ
ート法(樹脂を滝のように上から下へ流し、この樹脂
の”カーテン”に基板をくぐらせて塗布する方法)で
は、片面しか塗布できないからである。ソルダーレジス
ト組成物は、粘度を25℃で1〜10Pa・sとするこ
とにより基板を垂直に立てて塗布しても流れず、また転
写も良好である。
(14) Next, a solder resist composition is applied to both sides of the printed wiring board PC after the process (12) (FIG. 21). When applying the solder resist layer 8 on both sides of the printed wiring board PC, the printed wiring board PC is sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater in a state of being vertically erected, and is transported upward from below. It is desirable that the solder resist composition is simultaneously applied to both surfaces of the wiring board PC. The reason for this is that the current basic specifications of the printed wiring board PC are on both sides, and the curtain coating method (a method in which the resin is flowed from top to bottom like a waterfall and the substrate is passed through the "curtain" of this resin and applied) This is because only one side can be applied. When the viscosity of the solder resist composition is set to 1 to 10 Pa · s at 25 ° C., the composition does not flow even when the substrate is applied vertically and the transfer is good.

【0054】(15)次に、ソルダーレジスト組成物の
塗膜を乾燥し、この塗膜に、開口部が円パターン14と
して描画したガラス基板13を円パターン14が描画さ
れた側をソルダーレジスト層8に密着させて、露光、現
像処理することにより、パッド部分を露出させた開口部
を形成する(図21)。また、プリント配線板PCの反
対側面にはランドを露出させる。このようにして開口部
を形成したソルダーレジスト層8を、更に80℃〜15
0℃で1〜10時間の熱処理により硬化させる。これに
より、開口部を有するソルダーレジストパターン層8は
導体回路の表面に設けた粗化層と密着する。
(15) Next, the coating film of the solder resist composition is dried, and the glass substrate 13 having the opening drawn as a circular pattern 14 is formed on the coating film with the side on which the circular pattern 14 is drawn as the solder resist layer. 8 and exposed and developed to form an opening exposing the pad portion (FIG. 21). The lands are exposed on the opposite side of the printed wiring board PC. The solder resist layer 8 having the opening thus formed is further heated to 80 ° C. to 15 ° C.
Cured by heat treatment at 0 ° C. for 1 to 10 hours. As a result, the solder resist pattern layer 8 having the opening is in close contact with the roughened layer provided on the surface of the conductor circuit.

【0055】(16)次に、前記開口部から露出した前
記半田パッド、ランド部上に、ニッケル層11−金層1
2からなる金属層を形成する。
(16) Next, the nickel layer 11 and the gold layer 1 are formed on the solder pads and lands exposed from the openings.
2 is formed.

【0056】(17)次に、前記開口部から露出した前
記半田パッド部上に半田体9、90を供給する。(図2
2)。半田体9、90の供給方法としては、半田転写法
や印刷法を用いることができる。ここで、半田転写法
は、プリプレグにはんだ箔を貼合し、このはんだ箔を開
口部分に相当する箇所のみを残してエッチングすること
により半田パターンを形成して半田キャリアフィルムと
し、この半田キャリアフィルムを、基板のソルダーレジ
スト開口部分にフラックスを塗布した後、半田パターン
がパッドに接触するように積層し、これを加熱して転写
する方法である。
(17) Next, the solder bodies 9 and 90 are supplied onto the solder pad portions exposed from the openings. (Figure 2
2). As a method of supplying the solder bodies 9 and 90, a solder transfer method or a printing method can be used. Here, in the solder transfer method, a solder foil is bonded to a prepreg, and the solder foil is etched leaving only a portion corresponding to an opening to form a solder pattern, thereby obtaining a solder carrier film. After applying a flux to the solder resist opening of the substrate, the solder pattern is laminated so as to be in contact with the pad, and this is heated and transferred.

【0057】一方、印刷法は、パッドに相当する箇所に
貫通孔を設けたメタルマスクを基板に載置し、半田ペー
ストを印刷して加熱処理する方法である。
On the other hand, the printing method is a method in which a metal mask having a through hole at a position corresponding to a pad is placed on a substrate, and a solder paste is printed and heated.

【0058】以上説明した方法により、プリント配線板
PCが製造される。
The printed wiring board PC is manufactured by the method described above.

【0059】[0059]

【実施例】以下、実施例に基づいて説明する。Embodiments will be described below with reference to embodiments.

【0060】(実施例) (1)厚さ0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなるコア基板1
の両面に18μmの銅箔がラミネートされてなる銅張積
層板を出発材料とした。この銅張積層板の銅箔を常法に
従いパターン状にエッチング、穴明け、無電解めっきを
施すことにより、基板の両面に内層導体回路2とスルー
ホールHを形成した。基板上の内層導体回路及びスルー
ホール及びその内壁に前述した酸化(黒化)−還元処理
を行って、表面全体を粗化した。
(Examples) (1) Glass epoxy resin or BT having a thickness of 0.6 mm
Core substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin
A copper-clad laminate obtained by laminating a 18 μm copper foil on both sides of the substrate was used as a starting material. The copper foil of the copper-clad laminate was etched in a pattern according to a conventional method, drilled, and subjected to electroless plating to form an inner conductor circuit 2 and through holes H on both surfaces of the substrate. The above-described oxidation (blackening) -reduction treatment was performed on the inner conductor circuit, the through hole, and the inner wall thereof on the substrate to roughen the entire surface.

【0061】更に、下層導体回路2間、スルーホールH
内にビスフェノールF型エポキシ樹脂を充填した。ビス
フェノールF型エポキシ樹脂を硬化させた後、ベルトサ
ンダーおよびバフ研磨により研磨してビスフェノールF
型エポキシ樹脂及び酸化(黒化)−還元処理による粗化
層を除去して内層導体回路上面及びスルーホールのラン
ド上面を露出させた。あらかじめBT樹脂基板に設けた
穴の位置間隔を測定して、研磨前と研磨後の樹脂基板の
伸びを測定した(図25の、)。2回の研磨により
基板の伸びは、X方向で約0.01%、Y方向で約0.
007%であった。
Further, a through hole H is provided between the lower conductor circuits 2.
The inside was filled with a bisphenol F type epoxy resin. After the bisphenol F type epoxy resin is cured, it is polished by belt sander and buffing to obtain bisphenol F
The mold epoxy resin and the roughened layer formed by the oxidation (blackening) -reduction treatment were removed to expose the upper surface of the inner conductor circuit and the land upper surface of the through hole. The distance between the holes provided in the BT resin substrate was measured in advance, and the elongation of the resin substrate before and after polishing was measured (in FIG. 25). The elongation of the substrate is about 0.01% in the X direction and about 0.1% in the Y direction by the two polishing operations.
007%.

【0062】(2)前記(1)で内層銅パターンを形成
した基板を水洗いし、乾燥した後、その基板を酸性脱脂
してソフトエッチングし、次いで、塩化パラジウムと有
機酸からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、
この触媒を活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケ
ル0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナト
リウム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤0.
1g/l、pH=9からなる無電解めっき浴にてめっき
を施し、銅導体回路の全表面にCu−Ni−P合金の厚
さ2.5μmの粗化層5(凹凸層)を形成した。尚、導
体回路の側面、スルーホールのランド側面、スルーホー
ル内壁に存在する酸化−還元の粗化層は簡略化のため省
略した。
(2) The substrate on which the inner layer copper pattern has been formed in the above (1) is washed with water, dried, and then subjected to acidic degreasing and soft etching, followed by treatment with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid. To provide a Pd catalyst,
After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l.
Plating was performed in an electroless plating bath consisting of 1 g / l and pH = 9 to form a 2.5 μm thick roughened layer 5 (uneven layer) of Cu—Ni—P alloy on the entire surface of the copper conductor circuit. . The roughened layer of oxidation-reduction present on the side surface of the conductor circuit, the side surface of the land of the through hole, and the inner wall of the through hole is omitted for simplification.

【0063】更に、0.1mol/lホウふっ化スズ−
1.0mol/lチオ尿素液からなる無電解スズ置換め
っき浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗化層5の表面に
厚さ0.3μmのスズ置換めっき層を設けた。
Further, 0.1 mol / l tin borofluoride-
It was immersed in an electroless tin displacement plating bath made of a 1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour to provide a 0.3 μm thick tin displacement plating layer on the surface of the roughened layer 5.

【0064】(3)DMDG(ジエチレングリコールジ
メチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エ
ポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%ア
クリル化物を35重量部、ポリエーテルスルフォン(P
ES)12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、
商品名:2E4MZ-CN)2重量部、感光性モノマーであるカ
プロラクトン変成トリス(アクロキシエチル)イソシア
ヌレート(東亜合成製、商品名:アロニックスM325 )
4重量部、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)2重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東
化学製)0.2重量部、さらにこの混合物に対してエポ
キシ樹脂粒子の平均粒径 3.0μmのものを10.3
重量部、平均粒径0.5μmのものを3.09重量部を
混合した後、NMP(ノルマルメチルピロリドン)を3
0重量部添加しながら混合し、ホモディスパー攪拌機で
粘度7Pa・sに調整し、続いて3本ロールで混練して
感光性接着剤溶液(層間樹脂絶縁材)を得る。
(3) 35% by weight of a 25% acrylate of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), polyether sulfone (P
ES) 12 parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals,
Trade name: 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, photosensitive monomer, caprolactone modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (Toagosei Co., trade name: Aronix M325)
4 parts by weight, 2 parts by weight of benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Kagaku), 0.2 parts by weight of Michler's ketone as a photosensitizer (manufactured by Kanto Kagaku), and the average particle size of epoxy resin particles based on this mixture 10.3 μm 10.3
Parts by weight and 3.09 parts by weight of an average particle diameter of 0.5 μm were mixed, and then NMP (normal methylpyrrolidone) was added to 3 parts by weight.
The mixture is mixed while adding 0 parts by weight, the viscosity is adjusted to 7 Pa · s by a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to obtain a photosensitive adhesive solution (interlayer resin insulating material).

【0065】(4)前記(3)で得た感光性接着剤溶液
を、前記(2)の処理を終えた基板の両面に、ロールコ
ータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してか
ら、60℃で30分間の乾燥を行い、厚さ60μmの接
着剤層6を形成した。
(4) The photosensitive adhesive solution obtained in the above (3) is applied to both surfaces of the substrate after the treatment in the above (2) using a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. Then, drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer 6 having a thickness of 60 μm.

【0066】(5)前記(4)で接着剤層6を形成した
基板の両面に、厚さ5μmの遮光インクによってバイア
ホールと同形の円パターン(マスクパターン)14が描
画された厚さ5mmのソーダライムガラス基板13を円
パターンが描画された側を接着剤層6に密着させて載置
し、紫外線を照射して露光した。マスクパターンは、設
計値よりも0.03%大きめに形成されている。
(5) A circular pattern (mask pattern) 14 having the same shape as the via hole is drawn on both surfaces of the substrate on which the adhesive layer 6 has been formed in the above (4) with light-shielding ink having a thickness of 5 μm. The soda lime glass substrate 13 was placed with the side on which the circular pattern was drawn in close contact with the adhesive layer 6, and was exposed to ultraviolet light. The mask pattern is formed to be 0.03% larger than the design value.

【0067】(6)露光した基板をDMTG(トリエチ
レングリジメチルエーテル)溶液でスプレー現像するこ
とにより、接着剤層に100μmφのバイアホールとな
る開口を形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀灯に
て3000mJ/cm2で露光し、 100℃で1時間、
その後150℃で5時間にて加熱処理することにより、
フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れ、開口
(バイアホール形成用開口)を有する厚さ50μmの接
着剤層を形成した。なお、バイアホールとなる開口に
は、粗化層を部分的に露出させる。
(6) The exposed substrate was spray-developed with a DMTG (triethylene glydimethyl ether) solution to form an opening serving as a 100 μmφ via hole in the adhesive layer. Further, the substrate was exposed at 3000 mJ / cm2 with an ultra-high pressure mercury lamp, and was exposed at 100 ° C. for 1 hour.
After that, by heating at 150 ° C for 5 hours,
An adhesive layer having excellent dimensions corresponding to a photomask film and having an opening (opening for forming a via hole) and having a thickness of 50 μm was formed. Note that the roughened layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0068】(7)前記(5)、(6)でバイアホール
形成用開口を形成した基板を、クロム酸に2分間浸漬
し、接着剤層表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除
去して、当該接着剤層の表面を粗化し、その後、中和溶
液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗した。
(7) The substrate in which the openings for forming via holes were formed in (5) and (6) was immersed in chromic acid for 2 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer. The surface of the adhesive layer was roughened, then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley), and then washed with water.

【0069】(8)前記(7)で粗面化処理(粗化深さ
5μm)を行った基板に対し、パラジウム触媒(アトテ
ック製)を付与することにより、接着剤層およびバイア
ホール用開口の表面に触媒核を付与した。この段階で
(図25の)では、樹脂基板の最初の大きさに対して
X方向で約−0.009%、Y方向で約−0.002%
程度の寸法変化を示している。従って、約0.02%の
寸法変化である。よって、設計値よりも0.03%より
大きめのマスクパターンで形成されたバイアホール用開
口は、設計値よりも0.01%大きなものとなる。
(8) A palladium catalyst (manufactured by Atotech) is applied to the substrate that has been subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 5 μm) in the above (7), so that the adhesive layer and the opening for the via hole are formed. Catalyst nuclei were provided on the surface. At this stage (FIG. 25), about -0.009% in the X direction and about -0.002% in the Y direction with respect to the initial size of the resin substrate.
A dimensional change of a degree is shown. Therefore, the dimensional change is about 0.02%. Therefore, a via hole opening formed by a mask pattern larger than the design value by 0.03% is larger by 0.01% than the design value.

【0070】(9)以下の組成の無電解銅めっき浴中に
基板を浸漬して、粗面全体に厚さ3μmの無電解銅めっ
き膜3を形成した。
(9) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 3 having a thickness of 3 μm on the entire rough surface.

【0071】無電解めっき液 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80mg/l PEG 0.1g/l 無電解めっき条件 70℃の液温度で30分 (10)市販の感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)
を無電解銅めっき膜に張り付けるともに、厚さ600オ
ングストロームのクロム層によって、めっきレジスト非
形成部分がマスクパターン14として描画された厚さ5
mmのソーダライムガラス基板13を、クロム層が形成
された側を感光性樹脂フィルムに密着させて、110m
J/cm2で露光、0.8%炭酸ナトリウムで現像処理
し、厚さ15μmのめっきレジストパターン7を設け
た。マスクパターンは、設計値よりも0.008%大き
めに形成されている。
Electroless plating solution EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l Electroless plating conditions 70 ° C. 30 minutes at temperature (10) Commercially available photosensitive resin film (dry film)
Is adhered to the electroless copper plating film, and a portion where the plating resist is not formed is drawn as a mask pattern 14 by a chromium layer having a thickness of 600 Å.
The soda lime glass substrate 13 having a thickness of 110 mm is adhered to the photosensitive resin film on the side on which the chromium layer is formed.
Exposure was performed at J / cm 2 and development processing was performed with 0.8% sodium carbonate to provide a plating resist pattern 7 having a thickness of 15 μm. The mask pattern is formed to be 0.008% larger than the designed value.

【0072】(11)ついで、以下の条件で電解銅めっ
きを施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜4を形成し
た。
(11) Next, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 4 having a thickness of 15 μm.

【0073】電解めっき液 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製 商品名カパラシドGL) 1ml/l 電解めっき条件 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温 (12)めっきレジスト7を5%KOHで剥離除去した
後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチングを行い、無電
解めっき膜3を溶解除去して無電解銅めっき膜3と電解
銅めっき膜4からなる厚さ18μmの内層導体回路を形
成した。更に、800g/lのクロム酸に1〜2分浸漬
して残留Pd触媒核を除去した。
Electrolytic plating solution Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (captoside GL, trade name, manufactured by Atotech Japan) 1 ml / l Electroplating conditions Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature (12) Plating resist After stripping and removing 7 with 5% KOH, etching is performed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to dissolve and remove the electroless plating film 3 to form a 18 μm thick film composed of the electroless copper plating film 3 and the electrolytic copper plating film 4. Was formed. Furthermore, it was immersed in 800 g / l of chromic acid for 1 to 2 minutes to remove residual Pd catalyst nuclei.

【0074】(13)導体回路を形成した基板を、硫酸
銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、クエン酸15
g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31
g/l、界面活性剤0.1g/lからなるpH=9の無
電解めっき液に浸漬し、該導体回路の表面に厚さ3μm
の銅−ニッケル−リンからなる粗化層5を形成した。
(13) The substrate on which the conductor circuit was formed was coated with 8 g / l of copper sulfate, 0.6 g / l of nickel sulfate, and 15 g of citric acid.
g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31
g / l, 0.1 g / l of a surfactant, and immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 and a thickness of 3 μm on the surface of the conductor circuit.
A roughened layer 5 made of copper-nickel-phosphorus was formed.

【0075】粗化層5をEPMA(蛍光X線分析装置)
で分析したところ、Cu(98mol%)、Ni(1.
5mol%)、P(0.5mol%)の組成比を示し
た。
The roughened layer 5 is formed by EPMA (X-ray fluorescence analyzer)
As a result, Cu (98 mol%) and Ni (1.
5 mol%) and P (0.5 mol%).

【0076】そしてさらに、その基板を水洗いし、0.
1mol/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿
素液からなる無電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間
浸漬し、前記粗化層の表面に厚さ0.3μmのスズ置換
めっき層を形成した。この段階(図25の)では、樹
脂基板は最初の大きさに対してX方向、Y方向とも約−
0.010%の寸法変化を示している。
Then, the substrate is washed with water.
Immersion for 1 hour at 50 ° C. in an electroless tin displacement plating bath composed of 1 mol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution, and a 0.3 μm-thick tin displacement plating layer on the surface of the roughened layer Was formed. At this stage (FIG. 25), the resin substrate is about -in both the X and Y directions with respect to the initial size.
It shows a dimensional change of 0.010%.

【0077】(14)(4)〜(13)の工程を繰り返
すことにより、さらに半田パッドを形成し、その表面に
粗化層5を設けた。但し、粗化層表面はスズ置換めっき
層を形成しなかった。バイアホール形成のためのマスク
パターンは、設計値よりも0.003%大きめに形成さ
れている。また、めっきレジスト形成のためのマスクパ
ターンは、設計値通りの大きさである。
(14) By repeating the steps (4) to (13), a solder pad was further formed, and a roughened layer 5 was provided on the surface of the solder pad. However, the tin-substituted plating layer was not formed on the roughened layer surface. The mask pattern for forming the via hole is formed to be 0.003% larger than the designed value. The mask pattern for forming the plating resist has a size as designed.

【0078】尚、めっきレジスト形成直前の段階(図2
5の)では、樹脂基板は最初の基板の大きさに対して
X方向で−0.025%、Y方向で−0.020%の寸
法変化を示している。
The stage immediately before the formation of the plating resist (FIG. 2)
In (5), the resin substrate shows a dimensional change of -0.025% in the X direction and -0.020% in the Y direction with respect to the size of the first substrate.

【0079】(15)一方、DMDGに溶解させた60
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与
のオリゴマー(分子量4000)を46.67重量部、
メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エピコート10
01)15.0重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、商品名:2E4MZ-CN)1.6重量部、感光性モノマー
である多価アクリルモノマー(日本化薬製、商品名:R
604 )3重量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄社
化学製、商品名:DPE6A )1.5重量部、分散系消泡剤
(サンノプコ社製、商品名:S−65)0.71重量部を
混合し、さらにこの混合物に対して光開始剤としてのベ
ンゾフェノン(関東化学製)を2重量部、光増感剤とし
てのミヒラーケトン(関東化学製)を0.2重量部加え
て、粘度を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。
(15) On the other hand, 60
46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylated 50% of an epoxy group of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co.)
80% by weight bisphenol A type epoxy resin dissolved in methyl ethyl ketone (Yuika Shell, Epicoat 10
01) 15.0 parts by weight, 1.6 parts by weight of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), polyvalent acrylic monomer which is a photosensitive monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R)
604) 3 parts by weight, 1.5 parts by weight of a polyacrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A), and 0.71 parts by weight of a dispersion defoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65). 2 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added to the mixture, and the viscosity was adjusted to 25 ° C. To obtain a solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s.

【0080】なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計
器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.
4、6rpmの場合はローターNo.3によった。
The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm with a rotor No.
In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0081】(16)基板にソルダーレジスト組成物を
20μmの厚さで塗布した。
(16) A solder resist composition was applied to a thickness of 20 μm on a substrate.

【0082】(17)次いで、70℃で20分間、70
℃で30分間の乾燥処理を行った後、厚さ600オング
ストロームのクロム層によって、ソルダーレジスト開口
部の円パターン(マスクパターン)14が描画された厚
さ5mmのソーダライムガラス基板13を、クロム層が
形成された側をソルダーレジスト層に密着させて100
0mJ/cm2の紫外線で露光し、DMTG現像処理し
た。
(17) Then, at 70 ° C. for 20 minutes,
After performing a drying process at 30 ° C. for 30 minutes, a 5 mm thick soda lime glass substrate 13 on which a circular pattern (mask pattern) 14 of the solder resist opening is drawn by a chromium layer having a thickness of 600 Å is formed. The side on which is formed is brought into close contact with the solder resist
It was exposed to ultraviolet light of 0 mJ / cm 2 and subjected to DMTG development processing.

【0083】さらに、80℃で1時間、100℃で1時
間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件で加熱
処理し、半田パッドの上面、バイアホールおよびランド
部分を開口した(開口径200μm)ソルダーレジスト
パターン層8(厚み20μm)を形成した。
Further, heat treatment was performed at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours to open the upper surface of the solder pad, the via hole, and the land. A 200 μm diameter solder resist pattern layer 8 (20 μm thickness) was formed.

【0084】(18)次に、ソルダーレジストパターン
層を形成した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g
/lからなるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20
分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層
を形成した。さらに、その基板を、シアン化金カリウム
2g/l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナト
リウム50g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lか
らなる無電解金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬
して、ニッケルめっき層11上に厚さ0.03μmの金
めっき層12を形成した。
(18) Next, the substrate having the solder resist pattern layer formed thereon was treated with nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, and sodium citrate 10 g.
/ L of electroless nickel plating solution of pH = 5
For 5 minutes, a nickel plating layer having a thickness of 5 μm was formed in the opening. Further, the substrate was placed on an electroless gold plating solution consisting of potassium gold cyanide 2 g / l, ammonium chloride 75 g / l, sodium citrate 50 g / l, and sodium hypophosphite 10 g / l at 93 ° C. for 23 seconds. By dipping, a gold plating layer 12 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 11.

【0085】(19)そして、ソルダーレジストパター
ン層の開口部に、はんだペーストを印刷して200℃で
リフローすることによりはんだバンプ(半田体)9を形
成し、はんだバンプを有するプリント配線板を製造し
た。
(19) Then, a solder paste is printed on the opening of the solder resist pattern layer and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 9 to manufacture a printed wiring board having the solder bump. did.

【0086】前記したプリント配線板の製造方法によれ
ば、従来の樹脂製フォトマスクフィルムで見られたバイ
アホールの位置ずれ、レジストパターンの位置ずれを完
全に防止することができる。量産時においては、従来1
〜5%の位置ずれ不良が見られたが、前記製造方法によ
ればこのような不良の発生を防止できる。
According to the above-described method for manufacturing a printed wiring board, it is possible to completely prevent the positional deviation of the via holes and the positional deviation of the resist pattern, which are observed in the conventional resin photomask film. At the time of mass production,
Although a misregistration defect of about 5% was found, such a defect can be prevented by the manufacturing method.

【0087】また、ガラス基板からなるフォトマスク
は、温度、湿度による寸法変化がなく、数十回の露光が
可能である。露光回数とマスクの寸法変化との関係を図
23に示す。図23において、横軸は露光回数、縦軸は
マスク寸法変化量(μm)を表す。また、角丸印はガラ
ス基板からなるフォトマスクを使用して行った実験結果
を示し、黒丸印は従来の樹脂製フォトマスクを使用して
行った実験結果を示す。
A photomask made of a glass substrate can be exposed several tens of times without dimensional change due to temperature and humidity. FIG. 23 shows the relationship between the number of exposures and the dimensional change of the mask. In FIG. 23, the horizontal axis represents the number of exposures, and the vertical axis represents the mask dimension change (μm). In addition, the round circles indicate the results of experiments performed using a photomask made of a glass substrate, and the black circles indicate the results of experiments performed using a conventional resin photomask.

【0088】図23から明らかなように、ガラス基板の
フォトマスクを使用した場合には、露光回数が50回程
度まではマスク寸法に殆ど変化が発生しないことが分か
る。これに対して、樹脂製フォトマスクを使用した場合
には、露光回数が50回程度の範囲においても、マスク
寸法が大きく変化することが分かり、また、露光回数が
増加するに従ってマスク寸法の変化が大きくなってい
く。
As is clear from FIG. 23, when a photomask of a glass substrate is used, the mask dimensions hardly change until the number of exposures is about 50 times. On the other hand, when a resin photomask is used, it can be seen that even when the number of exposures is about 50, the mask dimensions change significantly, and that the mask dimensions change as the number of exposures increases. It is getting bigger.

【0089】これらの実験結果から、樹脂製のフォトマ
スクを使用する場合に比して、ガラス基板製のフォトマ
スクを使用する場合の方が、マスク寸法の変化は少な
く、従って、極めて精度良くバイアホール、めっきレジ
ストパターン、ソルダーレジストパターンの位置ずれを
防止することができるものである。
From these experimental results, the change in the mask dimensions is smaller when the photomask made of a glass substrate is used than when a photomask made of a resin is used. It is possible to prevent misalignment of holes, plating resist patterns, and solder resist patterns.

【0090】[0090]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明に係るプリン
ト配線板の製造方法によれば、フォトマスクの寸法変化
を抑制でき、その結果、バイアホールの位置ずれ、ま
た、めっきレジストパターン、ソルダーレジストパター
ンの位置ずれを完全に防止することができる。また、ガ
ラス基板に描画されるマスクパターンを設計値よりも拡
大することにより、感光性樹脂層等が硬化収縮した場合
においても、プリント配線板の寸法を設計値に収束させ
ることができる。
As described above, according to the method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention , the dimensional change of the photomask can be suppressed, and as a result, the positional deviation of the via hole, the plating resist pattern, the solder resist Pattern displacement can be completely prevented. Also,
The mask pattern to be drawn on the glass substrate is
When the photosensitive resin layer shrinks due to curing
Also, converge the dimensions of the printed wiring board to the design values.
Can be

【0091】このように、本発明は、露光用マスク材と
してマクパターンが形成されたガラス基板を使用する
ことにより、露光用マスク材の寸法変化を抑制すること
が可能であり、もってバイアホール、めっきレジストパ
ターン、ソルダーレジストパターンの位置ずれを防止す
ることが可能であり、また、ガラス基板に描画されるマ
スクパターンを設計値よりも拡大することにより、感光
性樹脂層等が硬化収縮した場合においても、設計値に沿
った適正寸法の最終製品を製造することが可能なプリン
ト配線板の製造方法を提供することができる。
[0091] Thus, the present invention is by using a glass substrate Ma scan click pattern is formed as an exposure mask material, it is possible to suppress the dimensional change of the exposure mask material, it has been via It is possible to prevent misalignment of holes, plating resist patterns, and solder resist patterns .
By expanding the mask pattern from the design value,
Even if the conductive resin layer cures and shrinks,
It is possible to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of manufacturing a final product having an appropriate size .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】コア基板の断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of a core substrate.

【図2】内層銅パターンを形成した配線板の断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view of a wiring board on which an inner layer copper pattern is formed.

【図3】内層銅パターン間及びスルーホール内部に樹脂
を充填した状態の配線板の断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of the wiring board in a state where a resin is filled between the inner layer copper patterns and inside the through holes.

【図4】内層銅パターンに粗化層を形成した配線板の断
面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a wiring board having a roughened layer formed on an inner copper pattern.

【図5】内層銅パターン上に感光性樹脂層を形成した配
線板の断面図である。
FIG. 5 is a sectional view of a wiring board in which a photosensitive resin layer is formed on an inner layer copper pattern.

【図6】感光性樹脂層上にガラス基板を載置して露光を
行っている状態を示す配線板の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of the wiring board showing a state in which a glass substrate is placed on a photosensitive resin layer and exposure is being performed.

【図7】感光性樹脂層を現像した後の配線板の断面図で
ある。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the wiring board after a photosensitive resin layer has been developed.

【図8】感光性樹脂層を粗化処理した後の配線板の断面
図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of the wiring board after the photosensitive resin layer has been subjected to a roughening treatment.

【図9】感光性樹脂層上に無電解めっき膜を形成した配
線板の断面図である。
FIG. 9 is a sectional view of a wiring board in which an electroless plating film is formed on a photosensitive resin layer.

【図10】無電解めっき膜上のドライフィルム上にガラ
ス基板を載置して露光を行っている状態を示す配線板の
断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view of a wiring board showing a state in which a glass substrate is placed on a dry film on an electroless plating film and exposure is being performed.

【図11】無電解めっき膜上にめっきレジスト層を形成
した配線板の断面図である。
FIG. 11 is a sectional view of a wiring board having a plating resist layer formed on an electroless plating film.

【図12】電解メッキ膜を形成した配線板の断面図であ
る。
FIG. 12 is a sectional view of a wiring board on which an electrolytic plating film is formed.

【図13】導体回路を形成した配線板の断面図である。FIG. 13 is a sectional view of a wiring board on which a conductor circuit is formed.

【図14】導体回路に粗化層を形成した配線板の断面図
である。
FIG. 14 is a sectional view of a wiring board in which a roughened layer is formed on a conductive circuit.

【図15】感光性樹脂層を形成した配線板の断面図であ
る。
FIG. 15 is a sectional view of a wiring board on which a photosensitive resin layer is formed.

【図16】感光性樹脂層に粗化層を形成した配線板の断
面図である。
FIG. 16 is a sectional view of a wiring board in which a roughened layer is formed on a photosensitive resin layer.

【図17】感光性樹脂層の粗化層上に無電解めっき膜を
形成した配線板の断面図である。
FIG. 17 is a sectional view of a wiring board in which an electroless plating film is formed on a roughened layer of a photosensitive resin layer.

【図18】無電解めっき膜上に電解メッキ膜を形成した
配線板の断面図である。
FIG. 18 is a sectional view of a wiring board in which an electrolytic plating film is formed on an electroless plating film.

【図19】導体層とバイアホールを形成した配線板の断
面図である。
FIG. 19 is a sectional view of a wiring board in which a conductor layer and a via hole are formed.

【図20】導体層とバイアホールに粗化層を形成した配
線板の断面図である。
FIG. 20 is a sectional view of a wiring board in which a roughened layer is formed in a conductor layer and a via hole.

【図21】ソルダーレジスト層上にガラス基板を載置し
て露光を行っている状態を示す配線板の断面図である。
FIG. 21 is a cross-sectional view of a wiring board showing a state where a glass substrate is placed on a solder resist layer and exposure is being performed.

【図22】ソルダーレジスト層の開口部に半田体を供給
した配線板の断面図である。
FIG. 22 is a cross-sectional view of a wiring board in which a solder body is supplied to an opening of a solder resist layer.

【図23】露光回数とマスクの寸法変化との関係を示す
グラフである。
FIG. 23 is a graph showing a relationship between the number of times of exposure and a dimensional change of a mask.

【図24】ガラス基板を模式的に示す断面図である。FIG. 24 is a cross-sectional view schematically showing a glass substrate.

【図25】プリント配線板を多層化する場合に、樹脂基
板がどのように寸法変化するかを表した図である。
FIG. 25 is a diagram showing how a dimensional change of a resin substrate occurs when a printed wiring board is multilayered.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コア基板 2 内層導体回路 3 無電解銅めっき膜 4 電解銅めっき膜 5 粗化層 6 感光性樹脂層(感光性無電解めっき用接着剤
層) 7 めっきレジスト 8 ソルダーレジスト 9、90 半田体(半田バンプ) 10 半田パッド 11 ニッケル層 12 金層 13 ガラス基板 14 マスクパターン PC 配線板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Core board 2 Inner layer conductor circuit 3 Electroless copper plating film 4 Electrolytic copper plating film 5 Roughening layer 6 Photosensitive resin layer (adhesive layer for photosensitive electroless plating) 7 Plating resist 8 Solder resist 9, 90 Solder body ( Solder bump) 10 Solder pad 11 Nickel layer 12 Gold layer 13 Glass substrate 14 Mask pattern PC wiring board

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−63366(JP,A) 特開 平4−162642(JP,A) 特開 平5−323574(JP,A) 特開 平8−335780(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-5-63366 (JP, A) JP-A-4-1622642 (JP, A) JP-A-5-323574 (JP, A) JP-A 8- 335780 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H05K 3/46

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 導体回路が形成された樹脂基板上に感光
性樹脂層を形成し、該感光性樹脂層をマスクパターンが
描画されたガラス基板を介して露光し、これを現像して
バイアホール形成用の開口を開け、さらに感光性樹脂層
を加熱硬化し、ついで前記感光性樹脂層上に導体回路お
よびバイアホールを形成するプリント配線板の製造方法
において、前記ガラス基板に描画されたマスクパターン
は、設計値よりも拡大されてなることを特徴とするプリ
ント配線板の製造方法。
1. A photoconductor is formed on a resin substrate on which a conductive circuit is formed.
A photosensitive resin layer is formed, and a mask pattern is formed on the photosensitive resin layer.
Exposure through the drawn glass substrate, develop it and
Open an opening for via hole formation, and add a photosensitive resin layer
Is cured by heating, and then a conductive circuit and
Of printed wiring board forming via and via hole
In the above, the mask pattern drawn on the glass substrate
Is characterized by being enlarged from the design value.
Manufacturing method of printed wiring board.
【請求項2】 導体回路が形成された樹脂基板上に感光
性樹脂層を形成し、該感光性樹脂層をマスクパターンが
描画されたガラス基板を介して露光し、これを現像して
バイアホール形成用の開口を開け、さらに感光性樹脂層
を加熱硬化し、ついで前記感光性樹脂層上に導体回路お
よびバイアホールを形成する工程を少なくとも2回以上
繰り返して、感光性樹脂層および導体回路を積層するに
あたり、 各感光性樹脂層は、設計値よりも拡大されたマスクパタ
ーンを描画したガラス基板を介して露光され、かつガラ
ス基板に描画されたマスクパターンの設計値に対する拡
大率を表層に近いほど小さくすることを特徴とするプリ
ント配線板の製造方法。
2. A photoconductor is formed on a resin substrate on which a conductive circuit is formed.
A photosensitive resin layer is formed, and a mask pattern is formed on the photosensitive resin layer.
Exposure through the drawn glass substrate, develop it and
Open an opening for via hole formation, and add a photosensitive resin layer
Is cured by heating, and then a conductive circuit and
And forming via holes at least twice
Repeat to laminate the photosensitive resin layer and conductor circuit
In each case , each photosensitive resin layer has a mask pattern that is larger than the design value.
Exposed through the glass substrate on which
Expansion of the mask pattern drawn on the
A pre-characteristic characterized in that the larger the ratio is, the smaller it is near the surface layer.
Manufacturing method of printed wiring board.
【請求項3】 前記マスクパターンは、設計値に対して
0.001〜0.100%大きく拡大されている請求項
1又は2に記載のプリント配線板の製造方法。
3. The mask pattern according to claim 1, wherein
Claims greatly expanded by 0.001 to 0.100%
3. The method for manufacturing a printed wiring board according to 1 or 2.
【請求項4】 熱硬化処理が施された樹脂基板上に感光
性樹脂層を形成し、この感光性樹脂層をマスクパターン
が描画されたガラス基板を介して露光し、レジストパタ
ーンを形成するプリント配線板の製造方法において、 前記ガラス基板に描画されたマスクパターンは、設計値
よりも拡大されてなることを特徴とするプリント配線板
の製造方法。
4. A photo-resist on a resin substrate subjected to a thermosetting treatment.
A photosensitive resin layer is formed, and the photosensitive resin layer is masked.
Is exposed through the glass substrate on which
In the method for manufacturing a printed wiring board for forming a pattern, the mask pattern drawn on the glass substrate may have a design value.
Printed wiring board characterized by being enlarged more than
Manufacturing method.
【請求項5】 熱硬化処理が施された無電解めっき用接
着剤層上に、めっきレジスト形成のための感光性樹脂層
を設け、この感光性樹脂層をマスクパターンが描画され
たガラス基板を介して露光し、めっきレジストパターン
を形成し、めっきを施す工程を少なくとも2回以上繰り
返すプリント配線板の製造方法において 各めっきレジスト形成のための感光性樹脂層は、設計値
よりも拡大されたマスクパターンを描画したガラス基板
を介して露光され、かつガラス基板に描画されたマスク
パターンの設計値に対する拡大率を表層に近いほど小さ
くすることを特徴とするプリント配線板の製造方法。
5. A contact for electroless plating subjected to a thermosetting treatment.
Photosensitive resin layer for forming plating resist on adhesive layer
And a mask pattern is drawn on this photosensitive resin layer.
Exposure through a glass substrate
And repeating the step of plating at least twice
Returns The method for manufacturing a printed wiring board, the photosensitive resin layer for the plating resist formation, the design value
Glass substrate with mask pattern enlarged
Exposed through a mask and drawn on a glass substrate
Magnification ratio to pattern design value is smaller as it is closer to the surface
A method for manufacturing a printed wiring board, comprising:
【請求項6】 熱硬化処理が施された無電解めっき用接
着剤層上に、無電解めっき膜を形成し、ついでめっきレ
ジスト形成のための感光性樹脂層を設け、この感光性樹
脂層をマスクパターンが描画されたガラス基板を介して
露光し、めっきレジストパターンを形成し、無電解めっ
きを施し、めっきレジストパターンを除去して、めっき
レジスト下の無電解めっき膜を溶解除去する工程を少な
くとも2回以上繰り返すプリント配線板の製造方法にお
いて、 各めっきレジスト形成のための感光性樹脂層は、設計値
よりも拡大されたマスクパターンを描画したガラス基板
を介して露光され、かつガラス基板に描画されたマスク
パターンの設計値に対する拡大率を表層に近いほど小さ
くすることを特徴とするプリント配線板の製造方法。
6. A contact for electroless plating subjected to a thermosetting treatment.
An electroless plating film is formed on the adhesive layer,
A photosensitive resin layer for forming dist
The grease layer is passed through the glass substrate on which the mask pattern is drawn.
Exposure to form plating resist pattern, electroless plating
To remove the plating resist pattern
Fewer steps to dissolve and remove the electroless plating film under the resist
At least twice or more times
There are, photosensitive resin layer for the plating resist formation, the design value
Glass substrate with mask pattern enlarged
Exposed through a mask and drawn on a glass substrate
Magnification ratio to pattern design value is smaller as it is closer to the surface
A method for manufacturing a printed wiring board, comprising:
【請求項7】 前記マスクパターンは、設計値に対して
0.001〜0.100%大きく拡大されてなる請求項
4〜13のいずれか一つに記載のプリント配線板の製造
方法。
7. A mask pattern according to claim 1, wherein
Claims that are greatly enlarged by 0.001 to 0.100%
Manufacturing of the printed wiring board according to any one of 4 to 13
Method.
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