JP3122222B2 - Memory card device - Google Patents

Memory card device

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JP3122222B2
JP3122222B2 JP11601892A JP11601892A JP3122222B2 JP 3122222 B2 JP3122222 B2 JP 3122222B2 JP 11601892 A JP11601892 A JP 11601892A JP 11601892 A JP11601892 A JP 11601892A JP 3122222 B2 JP3122222 B2 JP 3122222B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体メモリとして
EEPROM(エレクトリカリィ・イレーサブル・アン
ド・プログラマブル・リード・オンリー・メモリ)を使
用したメモリカード装置に係り、特に撮影した被写体の
光学像をデジタル画像データに変換して半導体メモリに
記録する電子スチルカメラ装置等に使用して好適するも
のに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory card device using an EEPROM (Electrically Eraseable and Programmable Read Only Memory) as a semiconductor memory, and more particularly, to a method for converting an optical image of a photographed object into a digital image. The present invention relates to a device suitable for use in an electronic still camera device that converts data into data and records the data in a semiconductor memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、撮影した被写体の光学像
を固体撮像素子を用いて電気的な画像信号に変換し、こ
の画像信号をデジタル画像データに変換して半導体メモ
リに記録する電子スチルカメラ装置が開発されている。
そして、この種の電子スチルカメラ装置にあっては、半
導体メモリをカード状のケースに内蔵してなるメモリカ
ードを、カメラ本体に着脱自在となるように構成するこ
とによって、通常のカメラにおけるフィルムと等価な取
り扱いができるようになされている。
2. Description of the Related Art As is well known, an electronic still which converts an optical image of a photographed subject into an electric image signal using a solid-state image sensor, converts the image signal into digital image data, and records the digital image data in a semiconductor memory. Camera devices have been developed.
In this type of electronic still camera device, a memory card in which a semiconductor memory is built in a card-like case is configured to be detachable from a camera body, so that a film in an ordinary camera can be obtained. Equivalent handling is provided.

【0003】ここで、電子スチルカメラ装置のメモリカ
ードは、現在、標準化が進められていて、内蔵される半
導体メモリとしては、複数枚のデジタル画像データを記
録するために大記憶容量のものが要求され、例えばSR
AM(スタティック・ランダム・アクセス・メモリ),
マスクROM及び電気的にデータの書き込みや消去が可
能なEEPROM等が考えられており、SRAMを用い
たメモリカードは既に商品化されている。
[0003] Here, the memory card of the electronic still camera device is currently being standardized, and the built-in semiconductor memory is required to have a large storage capacity for recording a plurality of digital image data. For example, SR
AM (static random access memory),
Mask ROMs and electrically erasable EEPROMs and the like have been considered, and memory cards using SRAMs have already been commercialized.

【0004】ところで、SRAMを用いたメモリカード
は、どのようなフォーマットのデータ構成にも対応する
ことができるとともに、データの書き込みスピード及び
読み出しスピードも速いという利点がある反面、書き込
んだデータを保持するためのバックアップ電池をメモリ
カード内に収容する必要があるため、電池収容スペース
を設置する分だけ記憶容量が削減されるとともに、SR
AM自体のコストが高く経済的な不利を招くという問題
を持っている。
[0004] A memory card using an SRAM can cope with a data structure of any format and has an advantage that data writing speed and reading speed are fast, but it holds written data. Backup battery must be stored in the memory card, so that the storage capacity is reduced by the amount of the battery storage space and the SR
There is a problem that the cost of the AM itself is high and causes economic disadvantage.

【0005】そこで、現在では、SRAMの持つ問題点
を解消するために、メモリカードに用いられる半導体メ
モリとしてEEPROMが注目されている。このEEP
ROMは、磁気ディスクに代わる記録媒体として注目を
浴びているもので、データ保持のためのバックアップ電
池が不要であるとともに、チップ自体のコストを安くす
ることができる等、SRAMの持たない特有な利点を有
することから、メモリカード用として使用するための開
発が盛んに行なわれている。
Therefore, at present, in order to solve the problems of the SRAM, an EEPROM has been attracting attention as a semiconductor memory used for a memory card. This EEP
ROMs are attracting attention as a recording medium that replaces magnetic disks, and they do not require a backup battery for data storage and can reduce the cost of the chip itself. Therefore, development for use as a memory card has been actively conducted.

【0006】ここで、図6は、SRAMを用いたメモリ
カード(SRAMカード)とEEPROMを用いたメモ
リカード(EEPROMカード)との長短を比較して示
している。まず、比較項目1,2のバックアップ電池及
びコストについては、既に前述したように、SRAMカ
ードはバックアップ電池が必要でありコストも高いとい
う問題があるのに対し、EEPROMカードはバックア
ップ電池が不要でコストも低くすることができるという
利点を有している。
FIG. 6 shows a comparison between a memory card using an SRAM (SRAM card) and a memory card using an EEPROM (EEPROM card). First, as for the backup batteries and costs of the comparison items 1 and 2, as described above, the SRAM card has a problem that the backup battery is necessary and the cost is high, whereas the EEPROM card does not require the backup battery and the cost is high. Also has the advantage that it can be reduced.

【0007】次に、比較項目3,4の書き込みスピード
及び読み出しスピードについては、アドレスで任意に指
定したバイトまたはビットに対して、データの書き込み
及び読み出しを行なう、SRAMとEEPROMとに共
通のランダムアクセスモードと、複数の連続するバイト
(数百バイト)でなるページを指定することにより、ペ
ージ単位で一括してデータの書き込み及び読み出しを行
なう、EEPROMに特有のページモードとに分けて考
えられる。
Next, with regard to the write speed and read speed of the comparison items 3 and 4, data is written and read to and from a byte or a bit arbitrarily designated by an address. By designating a mode and a page composed of a plurality of consecutive bytes (several hundred bytes), it is possible to divide the mode into a page mode unique to an EEPROM in which data is written and read in a page unit at a time.

【0008】そして、ランダムアクセスモードにおい
て、SRAMは書き込みスピード及び読み出しスピード
が共に速く、EEPROMは書き込みスピード及び読み
出しスピードが共に遅くなっている。また、EEPRO
Mは、ページモードにおいて、1ページ分の大量のデー
タを一斉に書き込み及び読み出しすることから、ランダ
ムアクセスモードに比してデータの書き込みスピード及
び読み出しスピードは速くなっている。
In the random access mode, the SRAM has a high write speed and a high read speed, and the EEPROM has a low write speed and a low read speed. Also, EEPRO
M writes and reads a large amount of data for one page at a time in the page mode, so that the data write speed and the data read speed are faster than in the random access mode.

【0009】さらに、比較項目5のイレース(消去)モ
ードは、EEPROMに特有のモードであり、SRAM
には存在しないモードである。すなわち、EEPROM
は、既にデータの書き込まれている領域に新たにデータ
を書き込む場合、先に書き込まれているデータを一旦イ
レースしないと新たなデータを書き込むことができない
ため、データの書き込みを行なうに際して、このイレー
スモードが実行されるようになっている。
Further, the erase (erase) mode of the comparison item 5 is a mode peculiar to the EEPROM.
This mode does not exist in. That is, the EEPROM
When writing new data to an area in which data has already been written, new data cannot be written unless the previously written data is erased once. Is to be executed.

【0010】また、比較項目6の書き込みベリファイ
も、EEPROMに特有のモードであり、SRAMには
存在しないモードである。すなわち、EEPROMは、
データ書き込みを行なう場合、通常1回の書き込み動作
では完全な書き込みが行なわれない。このため、EEP
ROMに対して1回の書き込み動作を行なう毎にEEP
ROMの書き込み内容を読み出し、正確に書き込まれて
いるか否かをチェックする必要があり、これが書き込み
ベリファイである。
The write verify of the comparison item 6 is also a mode peculiar to the EEPROM, and is a mode not existing in the SRAM. That is, the EEPROM is
In the case of performing data write, usually, complete write is not performed by one write operation. For this reason, EEP
Each time a write operation is performed on the ROM, EEP
It is necessary to read out the written contents of the ROM and check whether or not the data has been correctly written. This is the write verify.

【0011】具体的には、EEPROMに書き込むべき
データをバッファメモリに記録しておき、バッファメモ
リからEEPROMにデータを転送して書き込んだ後、
EEPROMの書き込み内容を読み出し、バッファメモ
リの内容と比較して一致しているか否かを判別してい
る。そして、書き込みベリファイの結果、不一致(エラ
ー)と判定された場合には、再度バッファメモリの内容
をEEPROMに書き込む動作を繰り返すようにしてい
る。
Specifically, data to be written to the EEPROM is recorded in a buffer memory, and after the data is transferred from the buffer memory to the EEPROM and written,
The written contents of the EEPROM are read and compared with the contents of the buffer memory to determine whether they match. If it is determined that there is a mismatch (error) as a result of the write verification, the operation of writing the contents of the buffer memory to the EEPROM again is repeated.

【0012】以上の比較結果から明らかなように、EE
PROMには、バックアップ電池が不要でありコストが
安く、しかもページ単位のデータ書き込み及び読み出し
が可能である等の、SRAMに見られない特有な利点が
備えられている反面、ランダムアクセスモードにおける
データの書き込みスピード及び読み出しスピードが遅い
とともに、イレースモードや書き込みベリファイ等のよ
うなSRAMにはないモードを必要とするという不都合
もある。
As is apparent from the above comparison results, EE
PROMs have unique advantages not found in SRAMs, such as the need for a backup battery, low cost, and the ability to write and read data in page units. There are disadvantages that the writing speed and the reading speed are slow, and that a mode not provided in the SRAM such as an erase mode or a write verify is required.

【0013】そこで、メモリカードに使用する半導体メ
モリとして、現在使用されているSRAMに代えてEE
PROMを使用することを考えた場合、データの書き込
みスピード及び読み出しスピードの問題や、イレースモ
ード及び書き込みベリファイ等を必要とするという問題
を解消し、SRAMを内蔵したメモリカードと等価な取
り扱い方ができるように、つまりSRAMカードライク
に使用できるように細部に渡って種々の改良を施すこと
が、肝要なこととなっている。
Therefore, as a semiconductor memory used for a memory card, EE is used instead of the SRAM currently used.
Considering the use of a PROM, the problem of data write speed and data read speed, and the problem of requiring an erase mode and write verify, etc. can be solved, and a handling equivalent to a memory card having a built-in SRAM can be performed. Thus, it is important to make various improvements in detail so that it can be used for SRAM card-like.

【0014】この場合、特に問題となることは、EEP
ROMは、データの書き替え回数が一定数を越えるとメ
モリセルが急激に劣化しデータの書き込み不良が発生し
易くなることである。すなわち、EEPROMは、プロ
グラムデータの記録用として開発され、プログラムのバ
ージョンアップのときにデータの書き替えを行なえるよ
うにすることを意図したものであるから、多数回のデー
タ書き替えに対応できるように設計されていないからで
ある。
In this case, a particular problem is the EEP.
In the ROM, when the number of times of data rewriting exceeds a certain number, the memory cells are rapidly deteriorated, and data writing failure is likely to occur. That is, since the EEPROM is developed for recording program data and is intended to be able to rewrite data when a program is upgraded, it is possible to cope with data rewriting many times. Because it is not designed.

【0015】ところが、上述したように、例えば電子ス
チルカメラ装置等に使用されるメモリカード用の半導体
メモリとして、従来より使用されていたSRAMに代え
てEEPROMを用いるようにした場合、当然のことな
がら、EEPROMに対して頻繁にデータの書き替えが
行なわれるような使われ方をされることになるため、書
き込み不良の発生率が飛躍的に増大するであろうこと
は、どうしても避けられないこととなっている。
However, as described above, for example, when an EEPROM is used as a semiconductor memory for a memory card used in an electronic still camera device or the like instead of an SRAM which has been conventionally used, it is natural. Since the EEPROM is used in such a manner that data is frequently rewritten, it is inevitable that the rate of occurrence of write failures will increase dramatically. Has become.

【0016】そして、この書き込み不良について、従来
では、前述した書き込みベリファイ処理を所定回数繰り
返しても正しく書き込まれなかったとき書き込み不良で
あると判断している。しかるに、従来では、EEPRO
Mの一部に書き込み不良が生じた場合でも、そのEEP
ROMを内蔵するメモリカード全体を不良品として取り
扱うようにしているため、非常に効率が悪く経済的に不
利であるという問題が生じている。
Conventionally, regarding this write failure, it is determined that a write failure occurs when the above-described write verify process is repeated a predetermined number of times and the data is not correctly written. However, conventionally, EEPRO
Even if a write failure occurs in a part of M, the EEP
Since the entire memory card having a built-in ROM is handled as a defective product, there is a problem in that the efficiency is extremely low and the operation is economically disadvantageous.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】以上のように、EEP
ROMを内蔵した従来のメモリカードでは、一部に書き
込み不良が発生したEEPROMを内蔵するメモリカー
ド全体を不良品として処理するため、非常に効率が悪く
経済的に不利になるという問題を有している。
As described above, the EEP
A conventional memory card having a built-in ROM has a problem that it is extremely inefficient and economically disadvantageous because the entire memory card having a built-in EEPROM in which a writing failure has occurred partially is treated as a defective product. I have.

【0018】そこで、この発明は上記事情を考慮してな
されたもので、一部に書き込み不良が発生したEEPR
OMでも継続して使用することができるとともに、その
EEPROMの記憶領域の有効利用を図ることができ、
経済的に有利で実用に供し得る極めて良好なメモリカー
ド装置を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an EEPR in which a writing failure has occurred partially.
The OM can be used continuously, and the storage area of the EEPROM can be effectively used.
It is an object of the present invention to provide a very good memory card device which is economically advantageous and can be put to practical use.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】この発明に係るメモリカ
ード装置は、一定容量の複数のブロックで構成されるデ
ータ領域を有するEEPROMと、このEEPROMの
データ領域のブロックに書き込み不良が検出された状態
で、該データ領域中から規定数の空きブロックを検索し
て第1の不良救済領域に割り当て、該不良ブロックに書
き込むデータを第1の不良救済領域の空きブロックに書
き込む第1の救済手段と、この第1の救済手段により第
1の不良救済領域が満杯になり、かつ、データ領域のブ
ロックに書き込み不良が検出された状態で、該データ領
域中から規定数の空きブロックを検索して第2の不良救
済領域に割り当て、該不良ブロックに書き込むデータを
第2の不良救済領域の空きブロックに書き込む第2の救
済手段とを備えるようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A memory card device according to the present invention includes an EEPROM having a data area composed of a plurality of blocks each having a predetermined capacity, and a state in which writing failure is detected in a block in the data area of the EEPROM. A first rescue means for retrieving a specified number of empty blocks from the data area, allocating them to a first defective relief area, and writing data to be written in the defective block to empty blocks in the first defective relief area; In a state where the first defective remedy area is full by the first rescue means and a write error is detected in a block of the data area, a specified number of empty blocks are searched from the data area to obtain a second defective area. Second rescue means for allocating data to the defective rescue area and writing data to be written to the defective block to an empty block in the second defective rescue area. Those were Unishi.

【0020】[0020]

【作用】上記のような構成によれば、第1の救済手段に
より、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、データ領域中から規定数の空きブロックを
検索して第1の不良救済領域に割り当て、該不良ブロッ
クに書き込むデータを第1の不良救済領域の空きブロッ
クに書き込むようにしたので、一部に書き込み不良が発
生したEEPROMでも継続して使用することができ、
経済的に有利で実用に適するものである。また、第1の
不良救済領域が満杯になった場合には、第2の救済手段
により、データ領域中から新たに規定数の空きブロック
を検索して第2の不良救済領域に割り当て、該不良ブロ
ックに書き込むデータを第2の不良救済領域の空きブロ
ックに書き込むようにしたので、EEPROMの記憶領
域の有効利用を図ることができる。
According to the above arrangement, when a write failure occurs in a part of the data area by the first rescue means, a specified number of empty blocks are searched from the data area and the first rescue means is used. Since the data is allocated to the defective relief area and the data to be written to the defective block is written to the empty block of the first defective relief area, it is possible to continue to use even an EEPROM in which a writing failure has occurred partially.
It is economically advantageous and suitable for practical use. When the first defective remedy area is full, the second rescue means searches a new specified number of free blocks from the data area and allocates them to the second defective remedy area. Since the data to be written to the block is written to an empty block in the second defect relief area, the storage area of the EEPROM can be effectively used.

【0021】[0021]

【実施例】以下、この発明を電子スチルカメラ装置に適
用した場合の一実施例について図面を参照して詳細に説
明する。図1において、11はメモリカード本体で、そ
の一端部に設置されたコネクタ12を介して、図示しな
い電子スチルカメラ本体に接続されるようになされてい
る。このコネクタ12には、電子スチルカメラ本体側か
ら、メモリカード本体11に書き込むべきデータや、そ
の書き込み場所を示すアドレスデータ等が供給される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to an electronic still camera device will be described below in detail with reference to the drawings. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a memory card main body, which is connected to an electronic still camera main body (not shown) via a connector 12 provided at one end thereof. The connector 12 is supplied with data to be written to the memory card main body 11, address data indicating a writing location, and the like from the electronic still camera main body side.

【0022】そして、このコネクタ12に供給されたデ
ータは、バスライン13を介してデータ入出力制御回路
14に取り込まれる。このデータ入出力制御回路14
は、データの高速書き込み及び高速読み出しが可能な図
示しないバッファメモリを内蔵しており、取り込んだデ
ータを一旦バッファメモリに記録する。その後、データ
入出力制御回路14は、バッファメモリに記録したデー
タを、バスライン15を介して複数(図示の場合は4
つ)のEEPROM16の書き込みサイクルに対応した
タイミングで読み出し、EEPROM16に記録する。
The data supplied to the connector 12 is taken into the data input / output control circuit 14 via the bus line 13. This data input / output control circuit 14
Has a built-in buffer memory (not shown) capable of high-speed writing and reading of data, and temporarily records the fetched data in the buffer memory. Thereafter, the data input / output control circuit 14 transmits the data recorded in the buffer memory to a plurality (4 in the illustrated case) through the bus line 15.
) At a timing corresponding to the write cycle of the EEPROM 16 and is recorded in the EEPROM 16.

【0023】この場合、データ入出力制御回路14は、
EEPROM16に例えばページ単位でデータが書き込
まれる毎に、EEPROM16から書き込んだページ単
位のデータを読み出し、バッファメモリに記録されてい
るデータと一致しているか否かを判別する書き込みベリ
ファイを実行する。そして、データ入出力制御回路14
は、EEPROM16から読み出したデータと、バッフ
ァメモリに記録されたデータとが一致していない場合、
再度、バッファメモリからEEPROM16にデータを
転送して書き込みを行なわせ、この動作が所定回数繰り
返される間に、EEPROM16から読み出したデータ
とバッファメモリに記録されたデータとが完全に一致し
たとき、データの書き込みが完了される。
In this case, the data input / output control circuit 14
Each time data is written to the EEPROM 16 in page units, for example, the data written in page units is read from the EEPROM 16 and write verification is performed to determine whether or not the data matches the data recorded in the buffer memory. Then, the data input / output control circuit 14
If the data read from the EEPROM 16 does not match the data recorded in the buffer memory,
The data is again transferred from the buffer memory to the EEPROM 16 for writing. When the data read from the EEPROM 16 completely matches the data recorded in the buffer memory while this operation is repeated a predetermined number of times, the data is written. Writing is completed.

【0024】次に、EEPROM16から、データをメ
モリカード本体11の外部に読み出す場合には、電子ス
チルカメラ本体側からコネクタ12を介して読み出すべ
きデータを指定するアドレスがデータ入出力制御回路1
4に供給される。すると、データ入出力制御回路14
は、入力されたアドレスに基づいてEEPROM16か
らデータを読み出し、一旦バッファメモリに記録する。
その後、データ入出力制御回路14は、バッファメモリ
に記録したデータを読み出しコネクタ12を介して外部
に導出し、ここにデータの読み出しが行なわれる。
Next, when data is read from the EEPROM 16 to the outside of the memory card main body 11, an address designating data to be read from the electronic still camera main body via the connector 12 is stored in the data input / output control circuit 1.
4 is supplied. Then, the data input / output control circuit 14
Reads data from the EEPROM 16 based on the input address and temporarily records the data in the buffer memory.
Thereafter, the data input / output control circuit 14 derives the data recorded in the buffer memory to the outside via the read connector 12, and the data is read there.

【0025】したがって、上記のような構成によれば、
電子スチルカメラ本体とメモリカード本体11との間に
おけるデータ転送は、必ずバッファメモリを介して行な
われるので、電子スチルカメラ本体側から見たメモリカ
ード本体11へのデータの書き込みスピード及び読み出
しスピードを向上させることができる。また、EEPR
OM16に特有の書き込みベリファイも、バッファメモ
リを用いてメモリカード本体11の内部で自動的に処理
されるので、メモリカード本体11の取り扱いとして
は、全くSRAMカードライクに使用することができ
る。
Therefore, according to the above configuration,
Since data transfer between the electronic still camera main body and the memory card main body 11 is always performed via the buffer memory, the speed of writing and reading data to and from the memory card main body 11 as viewed from the main body of the electronic still camera is improved. Can be done. Also, EEPR
Since the write verification unique to the OM 16 is also automatically processed inside the memory card main body 11 using the buffer memory, the memory card main body 11 can be used completely like an SRAM card.

【0026】ここで、上記EEPROM16は、図2に
示すように、0000〜XXXX番地よりなる記憶領域
を有しており、この記憶領域は、データを扱う際の最小
単位である一定容量の複数のブロック1〜N(1ブロッ
クは通常数kバイト)に分割されている。このブロック
1〜Nの全てが、通常のデータを記録するデータ領域と
なっている。このデータ領域は、メモリカード本体11
の外部から直接アクセスすることが可能であり、コネク
タ12を介して直接アドレスを指定することによって、
数百バイトでなるページ単位のデータ書き込み及び読み
出しを繰り返すことにより、自由にブロック単位でのデ
ータ書き込み及び読み出しを行なうことができる。
Here, as shown in FIG. 2, the EEPROM 16 has a storage area consisting of addresses 0000 to XXXX, and this storage area has a plurality of storage units each having a predetermined capacity, which is the minimum unit for handling data. It is divided into blocks 1 to N (one block is usually several kbytes). All of the blocks 1 to N are data areas for recording normal data. This data area is stored in the memory card body 11
Can be directly accessed from outside, and by directly specifying the address via the connector 12,
By repeatedly writing and reading data in page units of several hundred bytes, data writing and reading can be freely performed in block units.

【0027】また、EEPROM16内には、図3
(a)に示すような、上記各ブロックの管理テーブル
と、2つのポインタS,Tとが設けられている。すなわ
ち、この管理テーブルは、図中左列がブロック番号1〜
Nを示し、図中右列がそのブロックの状態を示してい
る。すなわち、“O”はそのブロックが未使用であるこ
とを示し、“Z(1〜N以外の数値)”はそのブロック
が使用中であることを示している。また、そのブロック
が書き込み不良であると判断された場合には、そのブロ
ックに書き込むべきデータを他のブロックに書き込んで
救済する処置がとられるが、そのときの救済先のブロッ
ク番号が書き込まれる。例えば管理テーブルのブロック
番号Aに対応する位置に数値Bが書き込まれていれば、
そのブロックAが書き込み不良で、そのブロックAに書
き込むべきデータがブロックBに書き込まれて救済され
ていることを意味している。
In the EEPROM 16, FIG.
As shown in (a), a management table of each block and two pointers S and T are provided. That is, in this management table, the left column in the figure has block numbers 1 to
N, and the right column in the figure shows the state of the block. That is, "O" indicates that the block is unused, and "Z (a numerical value other than 1 to N)" indicates that the block is in use. If it is determined that the block is defective, the data to be written to the block is written to another block to take relief, and the block number of the relief destination at that time is written. For example, if the numerical value B is written at the position corresponding to the block number A in the management table,
This means that the block A is defective in writing and the data to be written to the block A is written to the block B and is rescued.

【0028】さらに、上記ポインタSは、不良救済レベ
ルを示し、初期状態つまり書き込み不良の救済を1つも
行なっていない状態では“0”となっている。この不良
救済レベルの最大値は、あらかじめ設定されており、こ
の実施例では“M”とする。また、上記ポインタTは、
電子スチルカメラ本体側からメモリカード本体11の残
り記録容量を検知するためのもので、初期状態つまり書
き込み不良の救済を1つも行なっていない状態では、全
ブロック1〜Nがデータ領域であるため“N”となって
いる。各ブロック1〜Nに対するデータの書き込みは、
ブロック番号の若いブロックから極力前づめで行なわれ
るが、不要データを消去したりその後のデータ書き込み
等が行なわれることにより、一時的に連続する使用中ブ
ロックの間に未使用ブロックが発生する場合もある。
Further, the pointer S indicates a defect remedy level, and is "0" in an initial state, that is, a state in which no write defect is relieved. The maximum value of the defect relief level is set in advance, and is set to “M” in this embodiment. The pointer T is
This is for detecting the remaining recording capacity of the memory card main body 11 from the electronic still camera main body side. In an initial state, that is, in a state where no remedy for writing failure is performed, all blocks 1 to N are data areas. N ". Writing data to each of the blocks 1 to N
It is performed as early as possible from the block with the smallest block number. However, when unnecessary data is erased or data is written thereafter, an unused block may be generated between temporarily continuous blocks in use. .

【0029】ここで、EEPROM16へのデータ書き
込み時に、あるブロックXに書き込み不良が発生した場
合、データ入出力制御回路14は、まず、ポインタSの
内容を見て不良救済レベルが最大値Mになっているか否
かを判別する。この判別は、発生した書き込み不良が、
書き込みの繰り返しによるメモリセルの劣化によって生
じたものか、例えば半田付け不良やチップ全体の不良等
によるものかを区別するために行なっている。また、メ
モリセル不良の累積であっても磨耗不良領域に入った場
合は、信頼性の点から使用を停止することが望ましい。
Here, when a write failure occurs in a certain block X at the time of writing data to the EEPROM 16, the data input / output control circuit 14 first looks at the contents of the pointer S and sets the failure relief level to the maximum value M. It is determined whether or not there is. This discrimination is based on the
This is performed in order to distinguish whether the problem is caused by deterioration of the memory cell due to repetition of writing, for example, due to defective soldering, defective overall chip, or the like. Further, even if the memory cell failures are accumulated, it is desirable to stop the use from the viewpoint of reliability when entering the wear failure region.

【0030】そして、不良救済レベルが最大値Mになっ
ていなければ、データ入出力制御回路14は、不良救済
レベルを1段階アップさせるために未使用のつまり空き
ブロックの検索を行なう。不良救済レベルの1レベル分
とは、P個の空きブロックを不良救済領域として確保す
ることを意味する。そして、1レベル分の空きブロック
がない場合には、データ入出力制御回路14は、これ以
上の処理を中止し、そのメモリカード本体11の使用を
禁止する。このため、このメモリカード本体11を継続
して使用したい場合には、使用者は、不要データを消去
することにより1レベル分の空きブロックが確保できる
ようにする必要がある。
If the defect repair level has not reached the maximum value M, the data input / output control circuit 14 searches for an unused or empty block in order to raise the defect repair level by one step. One defect repair level means that P empty blocks are secured as a defect repair area. If there is no empty block for one level, the data input / output control circuit 14 stops further processing and prohibits the use of the memory card body 11. Therefore, if the user wishes to continue using the memory card main body 11, the user needs to erase unnecessary data so that an empty block for one level can be secured.

【0031】ここで、1ブロック分の空きブロックが検
出されると、データ入出力制御回路14は、この検出さ
れた空きブロックをデータ領域から不良救済領域に割り
当てる。この割り当てに際しては、電子スチルカメラ本
体側から見たアドレスの連続性を確保するために、図3
(b)に示すように、最終ブロックNから順次若いブロ
ック番号に向かって連続するP個のブロックN,N−
1,……,N−P+1が、データ領域から不良救済領域
に割り当てを変更され、ここに、レベル1の不良救済領
域が確保される。このとき、データ入出力制御回路14
は、この割り当ての変更を電子スチルカメラ本体側に知
らせるために、ポインタTの内容を従来の“N”から
“N−P”に変更する。また、データ入出力制御回路1
4は、不良救済レベルが1段階アップしたことを示すた
めに、ポインタSの内容を+1する。
When one empty block is detected, the data input / output control circuit 14 allocates the detected empty block from the data area to the defect relief area. At the time of this assignment, in order to ensure the continuity of the addresses viewed from the electronic still camera main body side, FIG.
As shown in (b), P blocks N, N-
,..., N−P + 1 are changed from the data area to the defect relief area, and the level 1 defect relief area is secured here. At this time, the data input / output control circuit 14
Changes the content of the pointer T from the conventional "N" to "NP" in order to notify the electronic still camera body of this change in the assignment. The data input / output control circuit 1
4 increments the content of the pointer S by +1 to indicate that the defect relief level has been raised by one step.

【0032】このようにしてP個の不良救済ブロックが
確保されると、データ入出力制御回路14は、実際の不
良救済処理を実行する。実際に図3(b)では、書き込
み不良の発生したブロックXに書き込むべきデータを、
先に確保したP個の不良救済ブロックのうちのブロック
Nに書き込んで救済した例を示している。そして、不良
救済処理後、データ入出力制御回路14は、図3(b)
に示す管理テーブルのブロックXに対応する図中右側
に、救済先のブロック番号“N”を書き込み、ブロック
Nに対応する図中右側に、使用中であることを示す数値
“Z”を書き込んで、ここに、書き込み不良ブロックX
の救済処理が完了される。
When P defective repair blocks are secured in this way, the data input / output control circuit 14 executes actual defective relief processing. Actually, in FIG. 3B, the data to be written in the block X where the write failure has occurred is
An example is shown in which the data is rewritten by writing to the block N of the P defective rescue blocks previously secured. Then, after the defect remedy processing, the data input / output control circuit 14 returns to FIG.
The block number “N” of the rescue destination is written on the right side of the drawing corresponding to the block X in the management table shown in FIG. 3, and the numerical value “Z” indicating that it is in use is written on the right side of the drawing corresponding to the block N. , Where the bad write block X
Is completed.

【0033】次に、上記のようにしてEEPROM16
に書き込まれたデータを電子スチルカメラ本体側に読み
出す場合、まず、電子スチルカメラ本体は、ポインタT
の内容を見てメモリカード本体11の残り記録容量、つ
まりデータ領域として利用できるブロックの数が“N−
P”であることを検知する。このため、救済領域として
利用されるP個のブロックN−P+1〜Nは、電子スチ
ルカメラ本体側からは隠れた存在となる。そして、電子
スチルカメラ本体からブロックXのデータ読み出しが要
求されると、データ入出力制御回路14は、図3(b)
に示す管理テーブルからブロックXに書き込むべきデー
タがブロックNに救済されていることを検知し、ブロッ
クNに書き込まれたデータを読み出して電子スチルカメ
ラ本体に出力する。このため、電子スチルカメラ本体側
には、EEPROM16に書き込み不良が発生したこと
を何ら認識させることなく、メモリカード本体11に対
するデータの書き込み及び読み出しを行なうことができ
る。
Next, as described above, the EEPROM 16
When reading the data written in the electronic still camera body, first, the electronic still camera body
The remaining recording capacity of the memory card main body 11, that is, the number of blocks that can be used as a data area, is determined to be "N-
P "is detected. Therefore, the P blocks NP + 1 to N used as the relief area are hidden from the electronic still camera main body side. When the data read of X is requested, the data input / output control circuit 14 returns to FIG.
, It is detected that the data to be written in the block X is saved in the block N, and the data written in the block N is read and output to the electronic still camera body. For this reason, data can be written to and read from the memory card main body 11 without making the electronic still camera main body recognize any occurrence of writing failure in the EEPROM 16.

【0034】ここで、図4(a)に示すように、レベル
1の不良救済領域の各ブロックN−P+1〜Nが満杯つ
まり全て不良救済に使用された状態で、データ領域のブ
ロックWに書き込み不良が発生した場合には、データ入
出力制御回路14は、上記と同様にデータ領域の中の最
終ブロックN−Pから順次若いブロック番号に向かって
連続するP個のブロックN−P,N−P−1,……,
(N−P)−P+1を、データ領域から不良救済領域に
割り当てを変更して、図4(b)に示すようにレベル2
の不良救済領域を確保する。
Here, as shown in FIG. 4A, when the blocks NP + 1 to N in the level 1 defect relief area are full, that is, all the blocks NP + 1 to N are used for the defect relief, writing to the block W in the data area is performed. When a failure occurs, the data input / output control circuit 14 sets the P blocks NP and N- P-1, ...,
The allocation of (NP) -P + 1 is changed from the data area to the defect relief area, and the level is changed to level 2 as shown in FIG.
Secure a defective relief area.

【0035】このとき、新たに不良救済領域に割り当て
られたP個のブロックN−P,N−P−1,……,(N
−P)−P+1の中の、ブロックYが使用中であった場
合、データ入出力制御回路14は、ブロックYに書き込
まれているデータを、データ領域の中で最も若い空きブ
ロックL+1に移動し、管理テーブルのブロックL+1
に対応する図中右側に、使用中であることを示す数値
“Z”を書き込むとともに、ブロックYに対応する図中
右側に、未使用であることを示す数値“O”を書き込
む。そして、データ入出力制御回路14は、この新たな
不良救済領域が作成されたことによる割り当ての変更を
電子スチルカメラ本体側に知らせるために、ポインタT
の内容を従来の“N−P”から“(N−P)−P”に変
更する。また、データ入出力制御回路14は、不良救済
レベルがさらに1段階アップしたことを示すために、ポ
インタSの内容を+1する。
At this time, the P blocks NP, NP-1,..., (N
If the block Y in −P) −P + 1 is in use, the data input / output control circuit 14 moves the data written in the block Y to the youngest free block L + 1 in the data area. , Management table block L + 1
Is written on the right side of the figure corresponding to the block number Y, and a numerical value "O" indicating the unused state is written on the right side of the figure corresponding to the block Y. Then, the data input / output control circuit 14 controls the pointer T to notify the electronic still camera main body of the change of the assignment due to the creation of the new defect remedy area.
Is changed from the conventional "NP" to "(NP) -P". Further, the data input / output control circuit 14 increments the content of the pointer S by +1 to indicate that the defect repair level has been raised by one step.

【0036】このようにしてレベル2の不良救済領域が
確保されると、データ入出力制御回路14は、実際の不
良救済処理を実行する。実際に図4(b)では、書き込
み不良の発生したブロックWに書き込むべきデータを、
先に確保したP個の不良救済ブロックのうちのブロック
N−Pに書き込んで救済した例を示している。そして、
不良救済処理後、データ入出力制御回路14は、図4
(b)に示す管理テーブルのブロックWに対応する図中
右側に、救済先のブロック番号“N−P”を書き込み、
ブロックN−Pに対応する図中右側に、使用中であるこ
とを示す数値“Z”を書き込んで、ここに、書き込み不
良ブロックWの救済処置が完了される。
When the level 2 defect relief area is secured in this way, the data input / output control circuit 14 executes the actual defect relief processing. Actually, in FIG. 4B, the data to be written in the block W in which the write failure has occurred is
An example is shown in which writing is performed to the block NP of the P defective repair blocks previously secured and the block is relieved. And
After the defect repair processing, the data input / output control circuit 14
The block number “NP” of the rescue destination is written on the right side in the figure corresponding to the block W in the management table shown in FIG.
On the right side in the figure corresponding to the block NP, a numerical value “Z” indicating that the block is in use is written, and the remedy of the write defective block W is completed here.

【0037】なお、電子スチルカメラ本体側からブロッ
クWのデータ読み出しが要求された場合の動作について
は、図3に示したレベル1の不良救済処理の説明に準じ
て、容易に窺い知れるところであるので、その説明を省
略する。
The operation when the electronic still camera main body requests data reading of the block W can be easily found in accordance with the description of the level 1 defect remedy process shown in FIG. , The description of which is omitted.

【0038】ここで、図5は、以上の動作をまとめたフ
ローチャートを示している。まず、データ入出力制御回
路14は、いずれかのブロックに書き込み不良が発生し
たことを検出すると(ステップS1)、ステップS2
で、不良救済領域が形成されているか否か、つまり、ポ
インタSが“0”か否かを判別し、ある場合(YES)
には、ステップS3で、その救済領域に空きブロックが
あるか否かを判別する。そして、空きブロックがあれば
(YES)、データ入出力制御回路14は、ステップS
4で、その空きブロックを利用して不良救済処理を行な
い、終了(ステップS5)される。
FIG. 5 shows a flowchart summarizing the above operations. First, when the data input / output control circuit 14 detects that a write failure has occurred in any of the blocks (step S1), the data input / output control circuit 14 proceeds to step S2.
Then, it is determined whether or not a defective remedy area is formed, that is, whether or not the pointer S is “0”.
In step S3, it is determined whether there is an empty block in the rescue area. If there is an empty block (YES), the data input / output control circuit 14 proceeds to step S
At 4, the defective block is remedied using the empty block, and the process is terminated (step S5).

【0039】また、ステップS2で不良救済領域が形成
されていない(NO)、またはステップS3で空きブロ
ックがない(NO)と判断された場合、データ入出力制
御回路14は、ステップS6で、不良救済レベルが最大
値になっているか否か、つまり、ポインタSの内容が
“M”か否かを判別し、最大値であれば(YES)、ス
テップS7で、このメモリカード本体11はこれ以上使
用不可と判断して、終了(ステップS8)される。一
方、不良救済レベルが最大値になっていない(NO)と
判断された場合、データ入出力制御回路14は、ステッ
プS9で、現在のデータ領域内に1レベル分の不良救済
領域を形成するためのP個の空きブロックがあるか否か
を判別し、ない(NO)場合、ステップS7で、このメ
モリカード本体11はこれ以上使用不可と判断して、終
了(ステップS8)される。
If it is determined in step S2 that no defective repair area has been formed (NO) or that there is no empty block (NO) in step S3, the data input / output control circuit 14 determines in step S6 that the defective It is determined whether or not the rescue level is at the maximum value, that is, whether or not the content of the pointer S is "M". If the rescue level is at the maximum value (YES), the memory card main body 11 is no longer in step S7. It is determined that it cannot be used, and the process is terminated (step S8). On the other hand, if it is determined that the defect repair level is not at the maximum value (NO), the data input / output control circuit 14 forms one level of defect repair area in the current data area in step S9. It is determined whether or not there are P empty blocks. If not (NO), it is determined in step S7 that the memory card body 11 cannot be used any more, and the process is terminated (step S8).

【0040】そして、1レベル分の空きブロックがある
(YES)と判断された場合、データ入出力制御回路1
4は、ステップS10で、現在のデータ領域中の最終ブ
ロックから順次若いブロック番号に向かって連続してP
個の空きブロックを確保できるか否かを判別し、確保で
きない(NO)場合、ステップS11で、確保すべき領
域内に書き込まれているデータを、その確保すべき領域
外のデータ領域に移動させた後、ステップS12で、そ
の移動させたデータに関連する情報の書き替え等の処理
を実行する。
If it is determined that there is an empty block for one level (YES), the data input / output control circuit 1
4 is a step S10 in which P is continuously set from the last block in the current data area to a block number sequentially smaller.
It is determined whether or not the empty blocks can be secured. If the empty blocks cannot be secured (NO), in step S11, the data written in the area to be secured is moved to a data area outside the area to be secured. After that, in step S12, processing such as rewriting of information related to the moved data is executed.

【0041】ここで、ステップS10でP個の空きブロ
ックを連続して確保できる(YES)と判断された場
合、またはステップS12で関連情報の書き替えが行な
われた後、データ入出力制御回路14は、ステップS1
3で、確保した領域をデータ領域から不良救済領域に割
り当て変更し、ステップS14で、ポインタS,Tの内
容を更新させた後、ステップS4で、不良救済処理を行
ない、終了(ステップS5)される。
Here, if it is determined in step S10 that P empty blocks can be continuously secured (YES), or after the related information is rewritten in step S12, the data input / output control circuit 14 Is the step S1
In step 3, the allocated area is changed from the data area to the defect rescue area, and the contents of the pointers S and T are updated in step S14. Then, in step S4, defect remedy processing is performed and the process is terminated (step S5). You.

【0042】したがって、上記実施例のような構成によ
れば、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、データ領域中からP個の空きブロックを検
索して不良救済領域に割り当て、この不良救済領域の空
きブロックに該不良ブロックに書き込むべきデータを書
き込むようにしたので、一部に書き込み不良が発生した
EEPROM16でも継続して使用することができ、経
済的に有利で実用に適するものである。また、不良救済
領域が満杯になった場合には、データ領域中から新たに
P個の空きブロックを検索して第2の不良救済領域に割
り当て、この第2の不良救済領域の空きブロックに該不
良ブロックに書き込むべきデータを書き込むようにして
いる、つまり、書き込み不良ブロックの発生量に応じて
不良救済領域をP個のブロック単位で増加させるように
しているので、EEPROM16の記憶領域の有効利用
を図ることができる。
Therefore, according to the configuration of the above embodiment, when a write failure occurs in a part of the data area, P empty blocks are searched from the data area and assigned to the defect relief area. Since the data to be written in the defective block is written in the empty block in the defective remedy area, the EEPROM 16 in which a writing error has occurred partially can be continuously used, and is economically advantageous and suitable for practical use. It is. When the defective repair area becomes full, P empty blocks are newly searched from the data area and assigned to the second defective relief area, and the empty blocks in the second defective relief area are assigned to the empty blocks. Since the data to be written into the defective block is written, that is, the defective repair area is increased in units of P blocks in accordance with the amount of write defective blocks, so that the storage area of the EEPROM 16 can be effectively used. Can be planned.

【0043】さらに、上記実施例によれば、EEPRO
M16のデータ領域は、書き込み不良ブロックの発生量
に応じて自動的に削減されるため、見掛上残り記録容量
があるにもかかわらずデータを記録することができない
という問題は生じない。また、データ領域の削減は、例
えば初期状態で4MバイトのEEPROM16であれ
ば、3Mバイト,2Mバイト,1Mバイト,512kバ
イト,256kバイトのように切りの良い値で順次行な
うようにしてもよい。これは、通常のメモリカードのラ
インナップ系列に合わせることができ、外部からの認識
を容易にすることができるとともに、残り記録容量を量
子化して出力(例えば256kバイトのN倍等)する際
にも好適である。
Further, according to the above embodiment, the EEPRO
Since the data area of M16 is automatically reduced in accordance with the generation amount of the write failure block, there is no problem that data cannot be recorded despite the apparent remaining recording capacity. Further, the data area may be reduced sequentially with a well-cut value such as 3 Mbytes, 2 Mbytes, 1 Mbytes, 512 Kbytes, and 256 Kbytes in the case of the EEPROM 16 of 4 Mbytes in the initial state. This can be adjusted to the lineup sequence of a normal memory card, and can be easily recognized from the outside. In addition, when the remaining recording capacity is quantized and output (for example, N times 256 kbytes), It is suitable.

【0044】ここで、上記実施例では、書き込み不良が
発生したとき、P個の空きブロックによる不良救済領域
を生成し、この不良救済領域が満杯になった場合、再度
P個の空きブロックによる不良救済領域を生成するよう
にしたが、不良救済領域を構成する空きブロックの数
は、常に同じP個に限らず、不良救済領域を構成する毎
に異ならせてもよいことはもちろんである。なお、この
発明は上記各実施例に限定されるものではなく、この外
その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施すること
ができる。
Here, in the above embodiment, when a write failure occurs, a defective rescue area is generated by P empty blocks, and when the defective relieved area is full, the defective area is regenerated by the P empty blocks. Although the rescue area is generated, the number of empty blocks constituting the defective rescue area is not limited to the same P, and may be different every time the defective remedy area is formed. It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments, and can be variously modified and implemented without departing from the scope of the invention.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
一部に書き込み不良が発生したEEPROMでも継続し
て使用することができるとともに、そのEEPROMの
記憶領域の有効利用を図ることができ、経済的に有利で
実用に供し得る極めて良好なメモリカード装置を提供す
ることができる。
As described in detail above, according to the present invention,
An extremely good memory card device which can continue to be used even in an EEPROM in which a writing failure has occurred partially, can effectively use the storage area of the EEPROM, and is economically advantageous and can be put to practical use. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係るメモリカード装置の一実施例を
示すブロック構成図。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a memory card device according to the present invention.

【図2】同実施例におけるEEPROMの記憶領域を示
す図。
FIG. 2 is a diagram showing a storage area of an EEPROM in the embodiment.

【図3】同実施例における管理テーブルの詳細を示す
図。
FIG. 3 is an exemplary view showing details of a management table in the embodiment.

【図4】同実施例で救済領域が満杯になった場合の対策
を示す図。
FIG. 4 is an exemplary view showing a countermeasure in a case where a relief area is full in the embodiment.

【図5】同実施例の動作をまとめたフローチャート。FIG. 5 is a flowchart summarizing the operation of the embodiment.

【図6】SRAMカードとEEPROMカードとの長短
を比較して示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a comparison between the length of an SRAM card and the length of an EEPROM card.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…メモリカード本体、12…コネクタ、13…バス
ライン、14…データ入出力制御回路、15…バスライ
ン、16…EEPROM。
11: memory card body, 12: connector, 13: bus line, 14: data input / output control circuit, 15: bus line, 16: EEPROM.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 晃司 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株式会社東芝映像メディア技術研究所内 (72)発明者 前川 智之 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株式会社東芝映像メディア技術研究所内 (72)発明者 佐藤 聡明 東京都港区新橋3丁目3番9号 東芝エ ー・ブイ・イー株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−305444(JP,A) 特開 平2−118999(JP,A) 特開 平5−151098(JP,A) 特開 昭63−24340(JP,A) 特開 平1−286199(JP,A) 特開 昭61−58063(JP,A) 特開 平5−46489(JP,A) 特開 昭61−227300(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 12/16 G06F 3/08 G06K 19/07 G11C 16/02 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Koji Maruyama, Inventor Koji Maruyama 8th, Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama, Kanagawa Prefecture Inside (72) Inventor Tomoyuki Maekawa 8th, Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Stock (72) Inventor: Tomoaki Sato 3-3-9, Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Inside Toshiba AV EE Co., Ltd. (56) References JP-A-63-305444 (JP, A) JP-A-2-118999 (JP, A) JP-A-5-151098 (JP, A) JP-A-63-24340 (JP, A) JP-A-1-286199 (JP, A) JP-A-61-1986 58063 (JP, A) JP-A-5-46489 (JP, A) JP-A-61-227300 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G06F 12/16 G06F 3 / 08 G06K 19/07 G11C 16/02

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一定容量の複数のブロックで構成される
データ領域を有するEEPROMと、このEEPROM
のデータ領域のブロックに書き込み不良が検出された状
態で、該データ領域中から規定数の空きブロックを検索
して第1の不良救済領域に割り当て、該不良ブロックに
書き込むデータを前記第1の不良救済領域の空きブロッ
クに書き込む第1の救済手段と、この第1の救済手段に
より前記第1の不良救済領域が満杯になり、かつ、前記
データ領域のブロックに書き込み不良が検出された状態
で、該データ領域中から規定数の空きブロックを検索し
て第2の不良救済領域に割り当て、該不良ブロックに書
き込むデータを前記第2の不良救済領域の空きブロック
に書き込む第2の救済手段とを具備してなることを特徴
とするメモリカード装置。
1. An EEPROM having a data area composed of a plurality of blocks each having a predetermined capacity, and an EEPROM having the data area.
In a state where a write failure is detected in a block of the data area, a specified number of empty blocks are searched from the data area and assigned to a first defect relief area, and data to be written to the defective block is written in the first defect area. A first rescue means for writing to an empty block in the rescue area, and a state in which the first rescue area is filled by the first rescue means and a write failure is detected in the block in the data area. A second rescue means for retrieving a specified number of empty blocks from the data area, allocating the empty blocks to a second defective relief area, and writing data to be written in the defective block to empty blocks in the second defective relief area; A memory card device comprising:
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