JP3121365U - 境界走査試験機能付き周辺装置連接装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】スロット20と変換ユニット30を備える。スロット20では、入力端セット21に接続された周辺装置または試験モジュールの種類を切換端セット22が検知して対応する電位信号を出力し、伝送端セット23は周辺信号端セット11に接続されるデジタルデータ信号の伝送インターフェースである。変換ユニット30は、伝送端セット23と試験信号端セット12とを相互導通させ試験モジュールによりマイクロコンピューター装置に対し境界走査試験を実行することが可能な伝送回路32と、切換端セット22及び伝送回路32に接続されかつ電位信号をデジタル制御信号に変換することにより伝送回路32の導通・稼働を制御することが可能な論理回路31とを備える。
【選択図】図1
Description
図1は本考案の一実施例の回路を示すブロック図である。
図2は本考案のもう一つの実施例の回路を示す構成図である。
図1に示すように本考案の一実施例による境界走査試験機能付き周辺装置連接装置は周辺信号端セット11、試験信号端セット12、スロット20、及び変換ユニット30を備える。
スロット20は入力端セット21、切換端セット22、及び伝送端セット23を有し、かつ周辺装置インターフェースの電気規格と一致する周辺装置または境界走査試験インターフェースの電気規格と一致する試験モジュールの配置に用いられる。周辺装置または試験モジュールのいずれでも入力端セット21に電気的に接続し、そののち伝送端セット23を介してデジタルデータ信号を伝送する必要がある。切換端セット22は入力端セット21に接続されるユニットの種類を検知し、それに対応する電位信号を出力することが可能である。伝送端セット23は周辺信号端セット11に電気的に接続されるデジタルデータ信号の伝送インターフェースである。
上述したものは本発明の好ましい実施例に過ぎないため、本考案の明細書と請求範囲に基づき同等の変化または修正をするのは本考案の請求範囲に属すべきである。
Claims (8)
- マイクロコンピューター装置の周辺装置インターフェースに電気的に接続される周辺信号端セットと、マイクロコンピューター装置の境界走査試験インターフェースに電気的に接続される試験信号端セットとを有する境界走査(Boundary-Scan)試験機能付き周辺装置(peripheral device)連接装置であって、
入力端セット、切換端セット、及び伝送端セットを有し、入力端セットは前記周辺装置インターフェースの電気規格と一致する周辺装置、または前記境界走査試験インターフェースの電気規格と一致する境界走査試験モジュールのいずれか一つに電気的に接続され、切換端セットは入力端セットに接続されるユニットの種類を検知しそれに対応する電位信号を出力することが可能であり、伝送端セットは周辺信号端セットに電気的に接続されるデジタルデータ信号の伝送インターフェースであるスロットと、
論理回路と伝送回路とを有し、伝送回路は伝送端セットと試験信号端セットとを電気的に相互導通させるため、前記境界走査試験モジュールはマイクロコンピューター装置に対し境界走査試験を実行することが可能であり、論理回路は切換端セットと伝送回路に電気的に接続され、かつ前記電位信号をデジタル制御信号に変換することにより伝送回路の導通・稼働を制御することが可能である変換ユニットと、
を備えることを特徴する境界走査試験(Boundary Scan Test)機能付き周辺装置連接装置。 - 周辺信号端セットはマイクロコンピューター装置のSD(Secure Digital Input/Output Card)インターフェースに電気的に接続され、試験信号端セットはマイクロコンピューター装置のJTAG(Joint Test Action Group)試験インターフェースに電気的に接続されることを特徴する請求項1に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- スロットの入力端セットは複数の金属接続端子を有し、前記金属接続端子は信号ピンに別々に対応し、信号ピンのうちの六つはスロットの伝送端セットとなり、それ以外のピンのうちの二つはスロットの切換端セットとなることを特徴する請求項2に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- 論理回路は切換端セットのうちの一つのピンに電気的に接続されるANDゲート(AND GATE)を有することを特徴する請求項3に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- SDカードがスロットに差し込まれている場合、ANDゲートに電気的に接続されるピンはレベルの低い電位信号を出力することにより、論理回路にレベルの高いデジタル制御信号を伝送回路へ出力させ、伝送回路をイネーブル(Enable)不可能な状態にすることを特徴する請求項4に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- JTAG試験モジュールがスロットに差し込まれている場合、切換端セットの二つのピンはレベルの高い電位信号とレベルの低い電位信号とを別々に出力することにより、論理回路にレベルの低いデジタル制御信号を伝送回路へ出力させ、伝送回路を稼働させ、JTAG試験信号を伝送することを特徴する請求項4に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- 論理回路はANDゲートに電気的に接続されるNOTゲート(NOT GATE)を二つ有し、そのうちの一つのNOTゲートは伝送回路に電気的に接続されることを特徴する請求項4に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
- 伝送回路はCMOS論理回路技術に基づき製造された緩衝器であり、緩衝器は信号伝送方向と緩衝器の駆動・稼働を別々に制御可能な二つの信号ピンを有し、信号ピンは電気的に相互短絡することを特徴する請求項1に記載の境界走査試験機能付き周辺装置連接装置。
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