JP3116888B2 - Solder ball carrier tape and manufacturing method thereof - Google Patents

Solder ball carrier tape and manufacturing method thereof

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JP3116888B2 JP10034390A JP3439098A JP3116888B2 JP 3116888 B2 JP3116888 B2 JP 3116888B2 JP 10034390 A JP10034390 A JP 10034390A JP 3439098 A JP3439098 A JP 3439098A JP 3116888 B2 JP3116888 B2 JP 3116888B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICチップの電極
ハンダランド等にハンダバンプを形成する際に使用する
ハンダボール・キャリアテープ、その製作方法、その製
造装置、及び、ハンダボール・キャリアテープを使って
ICチップの電極ハンダランド等にハンダバンプを形成
する方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder ball carrier tape used for forming a solder bump on an electrode solder land of an IC chip, a method of manufacturing the same, a manufacturing apparatus therefor, and a method using the solder ball carrier tape. And forming a solder bump on an electrode solder land of an IC chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の高集積化及び微細化に伴
い、ICパッケージのピン数が著しく多くなっているた
めに、ICパッケージを実装基板に実装するに当たり、
ピン方式を採用することが技術的に難しくなっている。
そこで、ピン方式に代わって、ハンダボールを実装基板
との接続に用いるBGA(Ball Grid Array)方式のIC
チップが多用されるようになっている。BGA方式の場
合、電極端子の数は2000〜3000程度であって、
電極端子のピッチは0.24〜0.25mm、ICチップ
の電極端子に設けられているハンダボールの大きさは約
0.15mmである。
2. Description of the Related Art As the number of pins of an IC package has increased significantly with the increase in the degree of integration and miniaturization of semiconductor devices, when mounting an IC package on a mounting board,
It is technically difficult to adopt the pin method.
Therefore, instead of the pin type, a BGA (Ball Grid Array) type IC using solder balls for connection to the mounting substrate
Chips are being heavily used. In the case of the BGA method, the number of electrode terminals is about 2000 to 3000,
The pitch of the electrode terminals is 0.24 to 0.25 mm, and the size of the solder balls provided on the electrode terminals of the IC chip is about 0.15 mm.

【0003】BGAパッケージの電極等にハンダバンプ
を形成する方法は、種々あるものの、一般には、ICチ
ップの電極配置に整合する配置で所定形状の凹部を設け
た平板状の整列治具と、凹部の配列に整合するように配
列された多数個の吸着ノズルを備えたハンダボール吸着
治具とを使用している。そして、先ず、それぞれ吸着ノ
ズルにハンダボールを吸着し、吸着したハンダボールを
整列治具の各凹部上でそれぞれ脱着させ、各凹部に一個
のハンダボールを収容する。次いで、ICチップの電極
とハンダボールとを位置合わせして接触させ、続いてハ
ンダボールを溶融させ、電極に転写してハンダバンプを
形成している。また、別法として、整列治具の各凹部に
ハンダペーストを充填し、ハンダペーストを加熱して、
ペースト成分を蒸発させると共にハンダ成分を溶融さ
せ、各凹部に球状のハンダバンプを形成し、次いで、ハ
ンダバンプが形成された整列治具をICチップに対向さ
せ、電極とハンダバンプとを位置合わせして、圧着し、
加熱することにより、ハンダバンプを電極に転写してい
る。
Although there are various methods for forming solder bumps on electrodes and the like of a BGA package, generally, a plate-shaped alignment jig provided with a concave portion having a predetermined shape in an arrangement matching the electrode arrangement of an IC chip, A solder ball suction jig having a large number of suction nozzles arranged so as to match the arrangement is used. Then, first, the solder balls are sucked by the suction nozzles, and the sucked solder balls are detached from the respective concave portions of the alignment jig, and one solder ball is accommodated in each concave portion. Next, the electrodes of the IC chip and the solder balls are aligned and brought into contact, and subsequently, the solder balls are melted and transferred to the electrodes to form solder bumps. Alternatively, as an alternative, fill each recess of the alignment jig with solder paste, heat the solder paste,
The paste component is evaporated and the solder component is melted, and spherical solder bumps are formed in each concave portion. Then, the alignment jig on which the solder bumps are formed is opposed to the IC chip, and the electrodes and the solder bumps are aligned and pressed. And
Heating transfers the solder bumps to the electrodes.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、13mm角の
ICチップに3000本のピンを有する最近のICチッ
プに、上述した従来のハンダバンプ形成法によりハンダ
バンプを形成しようとする、径が0.12mm程度の30
00個のハンダボールを同時に各吸着ノズルに吸着し、
ピッチが0.24mm程度で配置された整列治具の各凹部
にそれぞれ1個のハンダボールを収容することが必要に
なる。しかし、このような多ピンのICチップに、従来
のハンダバンプ形成法より微細なハンダバンプを形成す
るには、次のような問題があった。即ち、多数の微細な
ハンダボールを微小ピッチで形成されている凹部にそれ
ぞれ同時に一個づつ収容する作業は、豊富な経験、熟練
した技能、及び多大の手間とを要し、生産性が極めて低
かった。例えば、ハンダボールを吸着ノズルに吸着する
際に吸着漏れがあったり、また、吸着ノズルの吸着作用
を停止して、吸着したハンダボールを吸着ノズルから整
列治具の凹部に落下させる際に、ハンダボールが凹部に
正確に収まらず、転がって別の凹部に入ったり、整列治
具から転がり落ちたりすることが多かった。それを修正
するには、顕微鏡を覗きながら手仕事でハンダボールを
所定の凹部に再配置することが必要であって、修正作業
に多大の労力と時間とを必要とした。また、ハンダペー
ストを充填する方法でも、微小ピッチで配列された微細
な凹部にハンダペーストをそれぞれ漏れなく正確に充填
することが難しく、また、充填するハンダペーストの多
寡が生じて、ハンダ量に過不足が生じることが多かっ
た。
By the way, a solder bump is to be formed on a recent IC chip having 3000 pins in a 13 mm square IC chip by the above-mentioned conventional solder bump forming method, and the diameter is about 0.12 mm. Of 30
00 solder balls are simultaneously sucked into each suction nozzle,
It is necessary to accommodate one solder ball in each recess of the alignment jig arranged at a pitch of about 0.24 mm. However, there are the following problems in forming a finer solder bump than such a conventional solder bump forming method on such a multi-pin IC chip. That is, the work of simultaneously accommodating a large number of fine solder balls one by one in the concave portions formed at a fine pitch requires abundant experience, skilled skills, and a great deal of labor, and the productivity was extremely low. . For example, when the solder ball is sucked by the suction nozzle, there is a suction leak, or when the suction action of the suction nozzle is stopped and the sucked solder ball is dropped from the suction nozzle to the concave portion of the alignment jig, the solder In many cases, the ball did not fit into the concave portion accurately and rolled into another concave portion or rolled off from the alignment jig. To correct this, it was necessary to manually reposition the solder balls in the predetermined recesses while looking into the microscope, and the correction work required a great deal of labor and time. Also, even with the method of filling the solder paste, it is difficult to accurately fill the solder paste into the fine recesses arranged at a fine pitch without leaking each other. Shortages often occurred.

【0005】そこで、本発明の目的は、従来のバンプ形
成方法に代えて、容易にかつ正確にハンダバンプを形成
できる新規な構成のハンダボール・キャリアテープ、そ
の製作方法、及びバンプ形成方法等を提供することであ
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a solder ball carrier tape having a novel structure capable of easily and accurately forming solder bumps, a method of manufacturing the same, a method of forming bumps, and the like, instead of the conventional method of forming bumps. It is to be.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るハンダボール・キャリアテープは、電
子部品及びICチップの電極ハンダランド、実装基板の
端子ハンダランド等(以下、纏めてICチップの電極ハ
ンダランドと表記する)にハンダバンプを形成する際に
使用する、ハンダボール・キャリアテープであって、ハ
ンダ濡れ性が低く、かつハンダの融点以上の温度で耐熱
性を有する材料で形成されたテープと、ICチップの電
極配列と同じ配列でテープ面に設けられ、それぞれ、開
口径が開口端に向けて拡大し、開口端での開口径が収容
するハンダボールより大きな縦断面形状を備える多数個
の凹部の集団であって、かつ各ICチップ毎にテープの
長手方向に離隔して設けられた凹部群と、各凹部にそれ
ぞれ1個づつ収容されたハンダボールとを備え、 ICチ
ップの電極配列領域より広く、かつ周囲のテープ面より
低い複数個の低テープ面領域が、各ICチップ毎にテー
プの長手方向に離隔してテープに設けられ、 各凹部群
が、それぞれ、低テープ面領域に設けられていることを
特徴としている。
In order to achieve the above object, a solder ball carrier tape according to the present invention comprises an electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, etc. A solder ball carrier tape used when forming solder bumps on an electrode solder land of an IC chip), which is formed of a material having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder. The tape is provided on the tape surface in the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chip, and the opening diameter increases toward the opening end, and the opening diameter at the opening end is accommodated.
A group of a large number of recesses having a longitudinal sectional shape larger than that of the solder balls to be formed, and a group of recesses provided for each IC chip and spaced apart in the longitudinal direction of the tape, and one for each of the recesses. and a solder ball was, IC switch
Wider than the electrode array area of the tape and from the surrounding tape surface
A plurality of low tape surface areas are provided for each IC chip.
Each recess group is provided on the tape at a distance in the longitudinal direction of the tape.
Are provided in the low tape surface area, respectively.
Features .

【0007】本発明でハンダとは、錫と鉛の合金からな
るハンダのみならず、広く金属接合用に用いる低融点金
属、及び低融点合金を言う。ハンダペーストとは、ハン
ダ成分と蒸発性ペースト成分との混合物を言う。本発明
でテープに使用する材料は、例えば300℃程度の温度
に耐えるポリイミド樹脂等である。凹部及びハンダボー
ルの大きさは形成するハンダバンプの大きさによって決
定される。凹部の形成方法には制約はなく、開口径が開
口端に向けて拡大するよな凹部を形成できる限り既知の
任意の方法を適用できる。
In the present invention, the solder refers not only to a solder made of an alloy of tin and lead, but also to a low melting point metal and a low melting point alloy widely used for metal bonding. Solder paste refers to a mixture of a solder component and an evaporable paste component. The material used for the tape in the present invention is, for example, a polyimide resin that can withstand a temperature of about 300 ° C. The size of the recess and the solder ball is determined by the size of the solder bump to be formed. There is no limitation on the method of forming the recess, and any known method can be applied as long as the recess can be formed so that the opening diameter increases toward the opening end.

【0008】本発明の好適な実施態様では、テープが、
ハンダ濡れ性が低く、かつハンダの融点以上の温度で耐
熱性を有するプラスチックフィルムの積層膜として形成
されている。本発明の更に好適な実施態様では、テープ
が、積層膜内に長手方向に金属箔を介在させたプラスチ
ックフィルムの積層膜であって、凹部の底から金属箔を
露出させ、かつ露出した金属箔とハンダボールとが接合
している。これにより、ハンダボール・キャリアテープ
を移送する際にも、ハンダボールが凹部から外に転がっ
て移動したり、テープから転がり出たりすることがな
い。テープの両側縁部に沿ってスプロケット孔が設けて
ある。これにより、ハンダボール・キャリアテープを容
易に走行させることができる。
In a preferred embodiment of the invention, the tape is
It is formed as a laminated film of a plastic film having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder. In a further preferred embodiment of the present invention, the tape is a laminated film of a plastic film with a metal foil interposed in a longitudinal direction in the laminated film, wherein the metal foil is exposed from the bottom of the concave portion, and the exposed metal foil And the solder ball are joined. Thus, even when the solder ball / carrier tape is transferred, the solder balls do not roll out of the recess and move, nor do they roll out of the tape. Sprocket holes are provided along both side edges of the tape. Thereby, the solder ball / carrier tape can be easily run.

【0009】本発明の更に好適な実施態様では、テープ
が、周囲のテープ面より低くなっている複数個の低テー
プ面領域を各ICチップ毎にテープの長手方向に離隔し
て備え、各凹部群が、それぞれ、低テープ面領域に設け
られている。これにより、テープ面に邪魔されることな
く、ICチップ等の電極を凹部のハンダボールに接近さ
せることができるので、ICチップ等の電極と凹部のハ
ンダボールとの位置合わせ及び相互接触が容易になる。
In a further preferred embodiment of the present invention, the tape has a plurality of low tape surface areas lower than the surrounding tape surface, each of which is separated in the longitudinal direction of the tape for each IC chip. Groups are each provided in the low tape surface area. This allows the electrodes of the IC chip or the like to approach the solder balls of the concave portion without being disturbed by the tape surface, so that the positioning and mutual contact between the electrodes of the IC chip and the solder balls of the concave portion are facilitated. Become.

【0010】本発明方法は、電子部品及びICチップの
電極ハンダランド、実装基板の端子ハンダランド等(以
下、纏めてICチップの電極ハンダランドと表記する)
にハンダバンプを形成する際に使用するハンダボール・
キャリアテープの製作方法であって、ハンダ濡れ性が低
く、ハンダの融点以上の温度で耐熱性を有する材料で形
成されたテープに、ICチップの電極配列と同じ配列で
配置され、かつ、それぞれ、開口径が開口端に向けて拡
大する縦断面形状を備える多数個の凹部の集団を、各I
Cチップ毎にテープの長手方向に離隔して形成する工程
と、ディスペンサから各凹部にそれぞれ1個づつハンダ
ペーストを滴下する工程と、非酸化性雰囲気内でハンダ
ペーストを加熱、溶融し、次いで冷却してハンダボール
に転化する工程とを有することを特徴としている。
According to the method of the present invention, an electrode solder land of an electronic component and an IC chip, a terminal solder land of a mounting board, and the like (hereinafter collectively referred to as an electrode solder land of an IC chip).
Solder balls used to form solder bumps on
A method for manufacturing a carrier tape, comprising: a tape formed of a material having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder, arranged in the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chip, and A group of a large number of concave portions having a longitudinal sectional shape whose opening diameter increases toward the opening end is formed by
A step of forming a tape in the longitudinal direction of the tape for each C chip, a step of dropping solder paste one by one from a dispenser into each recess, a step of heating, melting, and then cooling the solder paste in a non-oxidizing atmosphere. And converting the solder balls into solder balls.

【0011】本発明では、ディスペンサからハンダペー
ストを滴下しているので、ハンダペーストの滴下量を正
確に制御でき、従ってハンダボールの大小が生じない。
尚、ディスペンサからのハンダペーストの滴下に代え
て、従来と同様に、ハンダペーストを塗布した後、スキ
ージでスキージングするようにしても良い。
In the present invention, since the solder paste is dripped from the dispenser, the amount of the solder paste dripped can be accurately controlled, so that the size of the solder ball does not occur.
Instead of dropping the solder paste from the dispenser, the solder paste may be applied and then squeegeeed with a squeegee as in the related art.

【0012】本発明装置は、電子部品及びICチップの
電極ハンダランド、実装基板の端子ハンダランド等(以
下、纏めてICチップの電極ハンダランドと表記する)
にハンダバンプを形成する際に使用するハンダボール・
キャリアテープの製造装置であって、ICチップの電極
配列と同じ配列で配置され、かつ、それぞれ、開口径が
開口端に向けて拡大する縦断面形状を備える多数個の凹
部の集団を、各ICチップ毎にテープの長手方向に離隔
してテープに形成する凹部形成装置と、凹部の集団をテ
ープ面に有するテープを連続的に所定間隔でステップ走
行させるテープ走行機構と、ステップ走行するテープの
走行一時停止期間に、テープの各凹部にそれぞれハンダ
ペーストを滴下するマルチノズル型ディスペンサと、テ
ープの凹部に滴下されたハンダペーストを非酸化性雰囲
気内で加熱、溶融してハンダボールに転化するリフロー
炉とを備えていることを特徴としている。
The device according to the present invention includes an electrode solder land of an electronic component and an IC chip, a terminal solder land of a mounting board, and the like (hereinafter collectively referred to as an electrode solder land of an IC chip).
Solder balls used to form solder bumps on
An apparatus for manufacturing a carrier tape, wherein a group of a plurality of concave portions arranged in the same arrangement as the electrode arrangement of an IC chip and each having a longitudinal sectional shape whose opening diameter increases toward an opening end is formed by each IC. A recess forming device that forms a tape at a distance in the longitudinal direction of the tape for each chip, a tape running mechanism that continuously runs a tape having a group of recesses on a tape surface at predetermined intervals, and a running of the tape that runs stepwise A multi-nozzle dispenser for dropping solder paste into each concave portion of the tape during the suspension period, and a reflow furnace for heating and melting the solder paste dropped into the concave portion of the tape in a non-oxidizing atmosphere and converting the solder paste into solder balls. And is characterized by having.

【0013】上述した本発明に係るハンダバンプ形成方
法は、上述したハンダボール・キャリアテープを使用し
て、電子部品及びICチップの電極ハンダランド、実装
基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてICチップの
電極ハンダランドと表記する)にハンダバンプを形成す
る方法(以下、第1のハンダバンプ形成方法と言う)で
あって、ハンダボール・キャリアテープを連続的に所定
間隔でステップ走行させ、その走行一時停止期間に、電
極を下向きにしてICチップを保持し、電極と凹部とを
位置合わせして、電極をハンダボール上に接触させる工
程と、電極に接触したハンダボールを非酸化性雰囲気内
で加熱、溶融して電極のハンダランド上に転写し、ハン
ダバンプを形成する工程とを備えることを特徴としてい
る。
The above-described method for forming solder bumps according to the present invention uses the above-mentioned solder ball carrier tape to form electrode solder lands for electronic components and IC chips, terminal solder lands for mounting boards, etc. (hereinafter collectively referred to as IC chips). (Hereinafter referred to as an electrode solder land) (hereinafter referred to as a first solder bump forming method), in which a solder ball / carrier tape is continuously stepped at a predetermined interval, and the running is temporarily stopped. During the period, holding the IC chip with the electrodes facing down, aligning the electrodes with the recesses, and bringing the electrodes into contact with the solder balls, heating the solder balls in contact with the electrodes in a non-oxidizing atmosphere, Fusing and transferring onto the solder lands of the electrodes to form solder bumps.

【0014】本発明に係る別のハンダバンプ形成方法
は、電子部品及びICチップの電極ハンダランド、実装
基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてICチップの
電極ハンダランドと表記する)にハンダバンプを形成す
る方法(以下、第2のハンダバンプ形成方法と言う)で
あって、ハンダ濡れ性が低く、ハンダの融点以上の温度
で耐熱性を有する材料で形成されたテープに、ICチッ
プの電極配列と同じ配列で配置され、かつ、それぞれ、
開口径が開口端に向けて拡大する縦断面形状を備える多
数個の凹部の集団を、各ICチップ毎にテープの長手方
向に離隔して形成する工程と、凹部の集団をテープ面に
有するテープを連続的に所定間隔でステップ走行させ、
ステップ走行するテープの走行一時停止期間に、ディス
ペンサから各凹部にそれぞれハンダペーストを滴下する
工程と、電極を下向きにしてICチップを保持し、電極
と凹部とを位置合わせして、電極をハンダペースト上に
接触させる工程と、電極に接触したハンダペーストを非
酸化性雰囲気内で加熱、溶融して電極のハンダランド上
にハンダを転写し、ハンダバンプを形成する工程とを備
えることを特徴としている。
Another method of forming solder bumps according to the present invention is to form solder bumps on electrode solder lands of electronic components and IC chips, terminal solder lands of mounting boards, and the like (hereinafter collectively referred to as electrode solder lands of IC chips). (Hereinafter, referred to as a second solder bump forming method), wherein a tape formed of a material having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder has the same electrode arrangement as that of an IC chip. Arranged in an array, and
Forming a group of a large number of concave portions having a longitudinal cross-sectional shape in which the opening diameter increases toward the opening end, and forming a group of the concave portions in the longitudinal direction of the tape for each IC chip; Continuously stepped at predetermined intervals,
A step of dropping solder paste from the dispenser into each recess during the step suspension of tape running, holding the IC chip with the electrodes facing down, aligning the electrodes with the recesses, and placing the solder paste And a step of heating and melting the solder paste in contact with the electrodes in a non-oxidizing atmosphere to transfer the solder onto the solder lands of the electrodes to form solder bumps.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下に、添付図面を参照し、実施
形態例を挙げて本発明の実施の形態を具体的かつ詳細に
説明する。実施形態例1 本実施形態例は、本発明に係るハンダバンプ・キャリア
テープの実施形態の一例である。図1は本実施形態例の
ハンダバンプ・キャリアテープの平面図、図2は図1の
矢視I−Iの本実施形態例のハンダバンプ・キャリアテ
ープの凹部の断面図である。本実施形態例のハンダバン
プ・キャリアテープ(以下、キャリアテープと言う)1
0は、電子部品及びICチップの電極ハンダランド、実
装基板の端子ハンダランド等(以下、簡単にICチップ
の電極ハンダランドを対象にする)にハンダバンプを形
成する際に使用するハンダボール・キャリアテープであ
る。本キャリアテープ10は、テープ12と、多数個の
凹部14からなる凹部群16と、各凹部14にそれぞれ
1個づつ収容されたハンダボール18からなるハンダボ
ール群20と、フィルム12を送るために凹部群16を
挟むフィルム12の両側縁部に設けられたスプロケット
孔22とを備えている。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Embodiment 1 This embodiment is an example of an embodiment of a solder bump carrier tape according to the present invention. FIG. 1 is a plan view of the solder bump carrier tape of the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape of the present embodiment taken along line II of FIG. Solder bump carrier tape (hereinafter referred to as carrier tape) 1 of the present embodiment example
Reference numeral 0 denotes a solder ball carrier tape used for forming solder bumps on an electrode solder land of an electronic component and an IC chip, a terminal solder land of a mounting board, and the like (hereinafter, simply referred to as an electrode solder land of an IC chip). It is. The carrier tape 10 includes a tape 12, a concave group 16 composed of a large number of concave parts 14, a solder ball group 20 composed of solder balls 18 contained one by one in each concave part 14, and a film 12. And sprocket holes 22 provided on both side edges of the film 12 sandwiching the concave group 16.

【0016】テープ12は、ハンダ濡れ性が低く、かつ
ハンダの融点以上の温度で耐熱性を有するプラスチック
で出来た、例えばポリイミド樹脂製のテープである。
尚、テープ12は、これに限らず、複数枚のプラスチッ
クフィルムを積層した積層膜でも良い。凹部14は、I
Cチップの電極配列と同じ配列、同じ間隔ピッチでテー
プ面に設けられていて、テープ12の長手方向に沿って
ICチップの電極配列の行数(図1では11行を表示)
だけ、テープ12の幅方向に沿ってICチップの電極配
列の列数(図1では9列を表示)だけ配列されている。
凹部群16は、ハンダバンプを転写する各ICチップ毎
にテープ12に沿って所定の間隔で設けられている。凹
部14は、後述するウエットエッチング法によりテープ
12をエッチングすることにより、テープ12の所定位
置に設けられていて、図2に示すように、開口径が開口
端に向けて拡大する縦断面形状を備えている。図に示
すように、一つの凹部14内には、一つのハンダボール
18が収容されている。
The tape 12 is, for example, a polyimide resin tape made of plastic having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder.
The tape 12 is not limited to this, and may be a laminated film in which a plurality of plastic films are laminated. The recess 14
It is provided on the tape surface at the same arrangement and the same pitch as the electrode arrangement of the C chip, and the number of lines of the electrode arrangement of the IC chip along the longitudinal direction of the tape 12 (11 lines are shown in FIG. 1).
Only the number of rows of the electrode array of the IC chip (9 rows are shown in FIG. 1) is arranged along the width direction of the tape 12.
The concave groups 16 are provided at predetermined intervals along the tape 12 for each IC chip to which solder bumps are transferred. The concave portion 14 is provided at a predetermined position of the tape 12 by etching the tape 12 by a wet etching method described later, and has a vertical cross-sectional shape in which the opening diameter increases toward the opening end as shown in FIG. Have. As shown in FIG. 2 , one solder ball 18 is accommodated in one recess 14.

【0017】次に、図3及び図4を参照して、本実施形
態例のキャリアテープ10を作製する方法を説明する。
図3(a)〜(d)は、テープに凹部を形成する際の各
工程毎のテープの断面図、図4(a)は本実施形態例の
キャリアテープ10を製造するためのキャリアテープ製
造装置の要部構成を示す模式的斜視図、図4(b)は図
4(a)の線II−IIでのハンダボールの形成を示す模式
的テープ断面図である。先ず、図3(a)に示すよう
に、テープ12上にフォトレジスト膜24を成膜する。
次いで、図3(b)に示すように、フォトリソグラフィ
及びエッチングにより所定位置に所定ピッチで所定寸法
の開口パターン26を備えたマスク28を形成する。続
いて、エッチャントとして強力アルカリを使用したウエ
ットエッチングにより、図3(c)に示すように、マス
ク28下のテープ12をエッチングして凹部14を設け
る。次いで、マスク28を除去して、図3(d)に示す
ように、凹部14を設けたテープ12を得る。続いて、
スプロケット孔16をテープ12の両側縁部に機械的な
方法により開口する。尚、凹部14を設ける前にテープ
12にスプロケット孔16を開口しても良い。
Next, a method of manufacturing the carrier tape 10 of the embodiment will be described with reference to FIGS.
3A to 3D are cross-sectional views of the tape in each step when forming a concave portion in the tape, and FIG. 4A is a carrier tape manufacturing for manufacturing the carrier tape 10 of the present embodiment. FIG. 4B is a schematic tape sectional view showing the formation of solder balls along line II-II in FIG. 4A. First, a photoresist film 24 is formed on the tape 12 as shown in FIG.
Next, as shown in FIG. 3B, a mask 28 having an opening pattern 26 having a predetermined dimension at a predetermined pitch is formed at a predetermined position by photolithography and etching. Subsequently, as shown in FIG. 3C, the concave portion 14 is formed by etching the tape 12 under the mask 28 by wet etching using a strong alkali as an etchant. Next, the mask 28 is removed to obtain the tape 12 provided with the concave portions 14 as shown in FIG. continue,
Sprocket holes 16 are opened at both side edges of the tape 12 by a mechanical method. Note that the sprocket hole 16 may be opened in the tape 12 before providing the concave portion 14.

【0018】次いで、図4に示すキャリアテープ製造装
置を使ってテープ12上にハンダバンプを形成する。キ
ャリアテープ製造装置30は、図4に示すように、テー
プ走行装置32と、ディスペンサ装置34と、加熱装置
36とを備えている。
Next, solder bumps are formed on the tape 12 using the carrier tape manufacturing apparatus shown in FIG. As shown in FIG. 4, the carrier tape manufacturing device 30 includes a tape traveling device 32, a dispenser device 34, and a heating device 36.

【0019】テープ走行装置32は、テープ12のスプ
ロケット孔16を利用してテープ12を走行させる駆動
スプロケット38と、駆動スプロケット38の前段にあ
ってテープ12を案内する遊動スプロケット40とから
構成され、テープ12を連続的に所定間隔で矢印の方向
にステップ走行させる。ディスペンサ装置34は、マル
チノズル型ディスペンサ装置であって、テープ12の走
行方向に直交する方向に配列された凹部14と同じピッ
チで同じ数配列されたシリンジ(Syringe)35を下向き
に備え、各シリンジ35に設けられた流量調節装置(図
示せず)の制御下で、シリンジ35から所定量のハンダ
ペーストを凹部14に滴下する。加熱装置36は、平板
状の抵抗加熱式電気ヒータであって、凹部14に滴下さ
れたハンダペーストを溶融し、ハンダ成分以外のペース
ト成分等を蒸発させつつハンダ成分を一体化させ、ハン
ダボールに転化する。テープ12の下部に加熱装置36
を設ける代わりに、別法として、図5に示すように、テ
ープ12の走行方向から見て、ディスペンサ装置34の
後段にリフロー炉41を設けても良い。
The tape running device 32 is composed of a driving sprocket 38 for running the tape 12 using the sprocket holes 16 of the tape 12 and a floating sprocket 40 which guides the tape 12 in front of the driving sprocket 38. The tape 12 is continuously run stepwise at predetermined intervals in the direction of the arrow. The dispenser device 34 is a multi-nozzle type dispenser device, and includes downwardly provided syringes (Syringes) 35 arranged at the same pitch and the same number as the recesses 14 arranged in a direction perpendicular to the running direction of the tape 12. A predetermined amount of solder paste is dripped from the syringe 35 into the concave portion 14 under the control of a flow rate adjusting device (not shown) provided in 35. The heating device 36 is a flat resistance heating type electric heater, which melts the solder paste dropped into the concave portion 14 and integrates the solder components while evaporating the paste components and the like other than the solder components to form a solder ball. Invert. A heating device 36 is provided below the tape 12.
Alternatively, as shown in FIG. 5, a reflow furnace 41 may be provided downstream of the dispenser device 34 as seen from the running direction of the tape 12, as shown in FIG.

【0020】上述のキャリアテープ製造装置30を使っ
てテープ12の凹部14にハンダペーストを滴下するに
は、先ず、テープ12をテープ走行装置34により所定
速度でステップ走行させる。先ず、凹部14の最初の列
がディスペンサ装置34のシリンジ35の直下に到達し
たとき、所定の短い時間その位置にテープ12を一時停
止させ、シリンジ35からハンダペーストを凹部14に
所定量滴下させる。次いで、再び、テープの走行を開始
し、凹部14の次の列がシリンジン42の直下に到達し
たとき、テープ12を停止させて、シリンジ35からハ
ンダペーストを凹部14に所定量滴下させ、以下、これ
を繰り返す。即ち、テープ12は、凹部14がシリンジ
35のの直下に到達する度に、その位置で短い所定時間
停止するようにステップ走行する。続いて、凹部14内
のハンダペーストは、テープ12の下方に配置されてい
る加熱装置36により加熱されて溶融し、ハンダ成分以
外のペースト成分等が蒸発すると共にハンダ成分は一体
化してハンダボールに転化する。以上の工程を経て、本
実施形態例のキャリアテープ10を作製することができ
る。
In order to drop the solder paste into the concave portion 14 of the tape 12 using the above-described carrier tape manufacturing apparatus 30, first, the tape 12 is step-traveled at a predetermined speed by the tape traveling device 34. First, when the first row of the recesses 14 reaches just below the syringe 35 of the dispenser device 34, the tape 12 is temporarily stopped at that position for a predetermined short time, and a predetermined amount of solder paste is dropped from the syringe 35 into the recesses 14. Next, the running of the tape is started again, and when the next row of the concave portion 14 reaches immediately below the syringe 42, the tape 12 is stopped, and a predetermined amount of solder paste is dropped from the syringe 35 into the concave portion 14, and thereafter, Repeat this. That is, every time the concave portion 14 reaches the position immediately below the syringe 35, the tape 12 runs stepwise so as to stop at that position for a short predetermined time. Subsequently, the solder paste in the concave portion 14 is heated and melted by the heating device 36 disposed below the tape 12, and the paste components and the like other than the solder components evaporate and the solder components are integrated into a solder ball. Invert. Through the above steps, the carrier tape 10 of the present embodiment can be manufactured.

【0021】次に、第1のハンダバンプ形成方法を適用
し、本実施形態例のキャリアテープ10を使って、IC
チップの電極ハンダランドにハンダバンプを形成する手
順を説明する。尚、図6はリフロー炉のICチップとキ
ャリアテープとの状態を説明する模式的断面図、図7は
ICチップの電極ハンダランドに形成されたハンダバン
プの模式図である。先ず、電極ハンダランド44のハン
ダ濡れ性を良くするために、フラックスを電極ハンダラ
ンド44上に塗布した後、図6に示すように、リフロー
炉46内で電極ハンダランド44を下向きにしてICチ
ップ42を保持する。一方、ICチップ42の下方にキ
ャリアテープ10をステップ走行させ、キャリアテープ
10の一時停止期間に、各電極ハンダランド44が、キ
ャリアテープ10に形成したハンダボール18の真上に
来るようにICチップ42を位置決めする。次いで、I
Cチップ42を下方に動かして電極ハンダランド44と
ハンダボール18とを接触させる。ハンダボール18は
リフロー炉46により加熱されて溶融し、キャリアテー
プ10から離れて電極ハンダランド44に付着し、次い
で冷却されると、図7に示すように、ハンダバンプ48
となる。
Next, the first solder bump forming method is applied, and using the carrier tape 10 of this embodiment, an IC is formed.
The procedure for forming solder bumps on the electrode solder lands of the chip will be described. FIG. 6 is a schematic sectional view illustrating the state of the IC chip and the carrier tape in the reflow furnace, and FIG. 7 is a schematic view of the solder bumps formed on the electrode solder lands of the IC chip. First, in order to improve the solder wettability of the electrode solder land 44, a flux is applied on the electrode solder land 44, and then the IC chip is turned in the reflow furnace 46 with the electrode solder land 44 facing down as shown in FIG. 42 is held. On the other hand, the carrier tape 10 is stepped under the IC chip 42 so that the electrode solder lands 44 are directly above the solder balls 18 formed on the carrier tape 10 during the suspension of the carrier tape 10. Position 42. Then I
The C tip 42 is moved downward to bring the electrode solder land 44 into contact with the solder ball 18. The solder balls 18 are heated and melted by the reflow furnace 46, separated from the carrier tape 10 and adhered to the electrode solder lands 44, and then cooled, as shown in FIG.
Becomes

【0022】実施形態例2 本実施形態例は、本発明に係るハンダバンプ・キャリア
テープの実施形態の別の例である。図8は本実施形態例
のハンダバンプ・キャリアテープの凹部の断面図であ
る。本実施形態例のキャリアテープ50は、テープ52
が第1層ポリイミド樹脂フィルム54、銅箔層56、及
び第2層ポリイミド樹脂フィルム58とからなる積層膜
として形成されていて、図8に示すように、テープ52
に形成された凹部14の底部から銅箔56を露出させ、
ハンダボール18と銅箔56とを接合させている構成を
有する。これにより、キャリアテープ50を動かして
も、ハンダボール18は凹部から外に移動するようなお
それが無い。キャリアテープ50は、テープ52を積層
膜として形成し、凹部14の底部から銅箔56を露出さ
せ、ハンダボール18と銅箔56とを接合させているこ
とを除いて、実施形態例1のキャリアテープ10と同様
に作製される。
Embodiment 2 This embodiment is another example of the embodiment of the solder bump carrier tape according to the present invention. FIG. 8 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape of this embodiment. The carrier tape 50 of the embodiment is a tape 52
Is formed as a laminated film including a first layer polyimide resin film 54, a copper foil layer 56, and a second layer polyimide resin film 58, and as shown in FIG.
The copper foil 56 is exposed from the bottom of the concave portion 14 formed in
It has a configuration in which the solder ball 18 and the copper foil 56 are joined. Thus, even if the carrier tape 50 is moved, there is no possibility that the solder balls 18 move out of the recess. The carrier tape 50 is the carrier tape of the first embodiment except that the tape 52 is formed as a laminated film, the copper foil 56 is exposed from the bottom of the concave portion 14, and the solder ball 18 and the copper foil 56 are joined. It is produced in the same manner as the tape 10.

【0023】実施形態例3 本実施形態例は、本発明に係るハンダバンプ・キャリア
テープの実施形態の更に別の例である。図9は本実施形
態例のハンダバンプ・キャリアテープの凹部の断面図で
ある。本実施形態例のハンダバンプ・キャリアテープ6
0は、テープ62がポリイミド樹脂フィルムを積層した
積層膜テープとして構成されていること、及び凹部64
の形状が凹部14と異なることを除いて、実施形態例1
のキャリアテープ10と同じ構成を備えている。テープ
62は、図9に示すように、4層のポリイミド樹脂フィ
ルム66A〜Dの積層膜として構成されて、凹部64
は、第1層のフィルム66A上に、それぞれ異なる開口
径の開口を有する3層のフィルム66B〜Dを、開口が
ほぼ同心状でかつその開口径が順次拡大するように、積
層することにより形成される。一つの凹部64内に、一
つのハンダボール18が収容されている。
Embodiment 3 This embodiment is still another example of the embodiment of the solder bump carrier tape according to the present invention. FIG. 9 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape of this embodiment. Solder bump / carrier tape 6 of this embodiment
0 indicates that the tape 62 is configured as a laminated film tape obtained by laminating a polyimide resin film,
Example 1 except that the shape of
The same configuration as that of the carrier tape 10 is provided. As shown in FIG. 9, the tape 62 is formed as a laminated film of four polyimide resin films 66A to 66D,
Is formed by laminating three layers of films 66B to 66D each having an opening with a different opening diameter on the first layer film 66A such that the openings are substantially concentric and the opening diameters are sequentially enlarged. Is done. One solder ball 18 is accommodated in one recess 64.

【0024】実施形態例4 本実施形態例は、実施形態例3の改変例であって、図1
0は本実施形態例のハンダバンプ・キャリアテープの凹
部の断面図である。本実施形態例のキャリアテープ70
は、図10に示すように、第1層のフィルム66と第2
層のフィルム66Bとの間に銅箔層72を介在させ、テ
ープ62に形成された凹部64の底部から銅箔72を露
出させ、ハンダボール18(図示せず)と銅箔72とを
接合させている構成を備えていることを除いて、実施形
態例3のキャリアテープ60と同じ構成を備えている。
Embodiment 4 This embodiment is a modification of Embodiment 3 and is similar to that of FIG.
Reference numeral 0 is a cross-sectional view of the concave portion of the solder bump carrier tape of the embodiment. Carrier tape 70 of this embodiment
As shown in FIG. 10, the first layer film 66 and the second layer
A copper foil layer 72 is interposed between the copper foil 72 and the layer film 66B, the copper foil 72 is exposed from the bottom of the concave portion 64 formed in the tape 62, and the solder ball 18 (not shown) and the copper foil 72 are joined. It has the same configuration as the carrier tape 60 of the third embodiment except that it has the configuration described above.

【0025】実施形態例5 本実施形態例は、本発明に係るハンダバンプ・キャリア
テープの実施形態の更に別の例である。図11(a)は
本実施形態例のハンダバンプ・キャリアテープの斜視
図、図11(b)は図11(a)の線III −III での凹
部の断面図である。本実施形態例のキャリアテープ80
は、図11(a)に示すように、テープ12が、周囲の
テープ面82より低くなっている低テープ面領域84を
各ICチップ毎にテープの長手方向に備え、ハンダボー
ル18を収容した凹部14の集団である凹部群がそれぞ
れ低テープ面領域84に設けられていることを除いて、
実施形態例1のキャリアテープ10と同じ構成を備えて
いる。これにより、図11(b)に示すように、凹部1
4に収容されているハンダボール18とICチップ42
の電極ハンダランド44との接触を容易にすることがで
きる。
Embodiment 5 This embodiment is another example of the embodiment of the solder bump carrier tape according to the present invention. FIG. 11A is a perspective view of the solder bump carrier tape of the present embodiment, and FIG. 11B is a cross-sectional view of the concave portion taken along line III-III in FIG. Carrier tape 80 of this embodiment
As shown in FIG. 11 (a), the tape 12 has a low tape surface area 84 lower than the surrounding tape surface 82 in the longitudinal direction of the tape for each IC chip, and accommodates the solder balls 18. Except that a recess group, which is a group of the recesses 14, is provided in the low tape surface area 84, respectively.
It has the same configuration as the carrier tape 10 of the first embodiment. As a result, as shown in FIG.
4 and the IC chip 42 contained in the solder ball 18
Contact with the electrode solder land 44 can be facilitated.

【0026】実施形態例6 本実施形態例は、第2のハンダバンプ形成方法の実施形
態の一例であって、ハンダペーストを配置したキャリア
テープを使用して、ICチップの電極ハンダランドにハ
ンダバンプを形成する例である。本実施形態例では、図
4に示すキャリアテープ製造装置30のテープ走行装置
32及びディスペンサ装置34と、図6に示すリフロー
炉46とを使用する。先ず、実施形態例1のキャリアテ
ープ10の製作と同様にして、図2に示すように、テー
プ12に凹部14を形成する。次いで、キャリアテープ
製造装置30のテープ走行装置32及びディスペンサ装
置34を使って、実施形態例1と同様にして、ステップ
走行するテープ12の凹部14にハンダペーストを充填
し、更に、テープ12を走行させ、リフロー炉46内で
電極ハンダランド44を下向きにして保持されているI
Cチップ42の下方に、凹部14が到達した時点で、テ
ープ12の走行を一時停止させる。テープ12の一時停
止期間に、各電極ハンダランド44が凹部14に充填し
たハンダペーストの真上に来るようにICチップ42を
位置決めし、続いてICチップ42を下方に動かして電
極ハンダランド44とハンダペーストとを接触させ、リ
フロー炉46によりハンダペーストを加熱、溶融する。
これにより、ペースト成分は蒸発し、ハンダ成分は溶
融、一体化してテープ12の凹部14から離れて電極ハ
ンダランド44に付着し、次いで冷却されると、図7に
示すように、ハンダバンプ48となる。この際、電極ハ
ンダランド44のハンダ濡れ性を良くするために、フラ
ックスを電極ハンダランド44上に塗布しても良い。
Embodiment 6 This embodiment is an example of an embodiment of the second solder bump forming method, in which a solder bump is formed on an electrode solder land of an IC chip by using a carrier tape on which a solder paste is arranged. Here is an example. In the present embodiment, the tape traveling device 32 and the dispenser device 34 of the carrier tape manufacturing device 30 shown in FIG. 4 and the reflow furnace 46 shown in FIG. 6 are used. First, as shown in FIG. 2, a concave portion 14 is formed in the tape 12 in the same manner as in the manufacture of the carrier tape 10 according to the first embodiment. Next, using the tape running device 32 and the dispenser device 34 of the carrier tape manufacturing device 30, the concave portion 14 of the tape 12 to be step-run is filled with the solder paste in the same manner as in the first embodiment. The electrode solder land 44 is held in the reflow furnace 46 with the electrode solder land 44 facing downward.
When the concave portion 14 reaches below the C chip 42, the running of the tape 12 is temporarily stopped. During the suspension period of the tape 12, the IC chip 42 is positioned so that each of the electrode solder lands 44 is directly above the solder paste filled in the concave portion 14, and then the IC chip 42 is moved downward to make contact with the electrode solder lands 44. The solder paste is brought into contact with the solder paste, and the solder paste is heated and melted by the reflow furnace 46.
As a result, the paste component evaporates, the solder component melts and integrates, separates from the concave portion 14 of the tape 12 and adheres to the electrode solder land 44, and then, when cooled, becomes a solder bump 48 as shown in FIG. . At this time, a flux may be applied on the electrode solder land 44 in order to improve the solder wettability of the electrode solder land 44.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明によれば、ICチップの電極配列
と同じ配列で、かつ開口径が開口端に向けて拡大するよ
うにテープ面に設けられた多数個の凹部の集団中の各凹
部に、それぞれ、ハンダボールを収容するようにハンダ
ボール・キャリアテープを構成することにより、製作が
容易で、かつ確実に電極ハンダランドにハンダボールを
転写してハンダバンプを形成できるハンダボール・キャ
リアテープを実現している。ハンダボール・キャリアテ
ープの本製作方法によれば、本発明に係るハンダボール
・キャリアテープを容易に製作することができる。本発
明に係るハンダバンプ形成方法によれば、本発明に係る
ハンダボール・キャリアテープを使用して、ハンダバン
プの形成もれ等の作業ミスが生じることなく、確実に電
極ハンダランドにハンダボールを転写してハンダバンプ
を形成できるので、ハンダバンプ形成に際し、手直し作
業を殆ど要しない。従って、本発明に係るハンダバンプ
形成方法によれば、高い生産性でICチップ等の電極に
ハンダバンプを形成することができる。
According to the present invention, each recess in a group of a large number of recesses provided on the tape surface so as to have the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chip and to have the opening diameter enlarged toward the opening end. By forming the solder ball carrier tape so as to accommodate the solder balls, respectively, a solder ball carrier tape which is easy to manufacture and can reliably transfer the solder ball to the electrode solder land to form a solder bump is provided. Has been realized. According to the method of manufacturing a solder ball carrier tape, the solder ball carrier tape according to the present invention can be easily manufactured. According to the solder bump forming method according to the present invention, the solder ball is securely transferred to the electrode solder land using the solder ball carrier tape according to the present invention without causing a work error such as a solder bump formation omission. Since solder bumps can be formed by soldering, almost no rework is required when forming solder bumps. Therefore, according to the solder bump forming method of the present invention, a solder bump can be formed on an electrode of an IC chip or the like with high productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態例1のハンダバンプ・キャリアテープ
の平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a solder bump carrier tape of a first embodiment.

【図2】図1の矢視I−Iのハンダバンプ・キャリアテ
ープの凹部の断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape taken along a line II in FIG. 1;

【図3】図3(a)〜(d)は、テープに凹部を形成す
る際の各工程毎のテープの断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views of the tape in respective steps when forming a concave portion in the tape.

【図4】図4(a)は実施形態例1のキャリアテープを
製造するためのキャリアテープ製造装置の要部構成を示
す模式的斜視図、図4(b)は図4(a)の線II−IIで
のハンダボールの形成を示す模式的テープ断面図であ
る。
FIG. 4A is a schematic perspective view showing a configuration of a main part of a carrier tape manufacturing apparatus for manufacturing the carrier tape according to the first embodiment, and FIG. 4B is a line of FIG. 4A; It is a typical tape sectional view showing formation of a solder ball in II-II.

【図5】ディスペンサ装置の後方にリフロー炉を設ける
場合の構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration in a case where a reflow furnace is provided behind a dispenser device.

【図6】リフロー炉のICチップとキャリアテープとの
状態を説明する模式的断面図である。
FIG. 6 is a schematic sectional view illustrating a state of an IC chip and a carrier tape in a reflow furnace.

【図7】ICチップの電極ハンダランドに形成されたハ
ンダバンプの模式図である。
FIG. 7 is a schematic view of a solder bump formed on an electrode solder land of an IC chip.

【図8】実施形態例2のハンダバンプ・キャリアテープ
の凹部の断面図である。
FIG. 8 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape according to the second embodiment.

【図9】実施形態例3のハンダバンプ・キャリアテープ
の凹部の断面図である。
FIG. 9 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape according to the third embodiment.

【図10】実施形態例4のハンダバンプ・キャリアテー
プの凹部の断面図である。
FIG. 10 is a sectional view of a concave portion of the solder bump carrier tape of the fourth embodiment.

【図11】図11(a)は実施形態例5のハンダバンプ
・キャリアテープの斜視図、図11(b)は図11
(a)の線III −III での凹部の断面図である。
11 (a) is a perspective view of a solder bump carrier tape according to Embodiment 5, and FIG. 11 (b) is FIG.
FIG. 3A is a cross-sectional view of the concave portion along line III-III in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 実施形態例1のハンダバンプ・キャリアテープ 12 テープ 14 凹部 16 凹部群 18 ハンダボール 20 ハンダボール群 22 スプロケット孔 24 フォトレジスト膜 26 開口パターン 28 マスク 30 キャリアテープ製造装置 32 テープ走行装置 34 ディスペンサ装置 35 シリンジ 36 加熱装置 38 駆動スプロケット 40 遊動スプロケット 41 リフロー炉 42 ICチップ 44 電極ハンダランド 46 リフロー炉 48 ハンダバンプ 50 実施形態例2のハンダボール・キャリアテープ 52 テープ 54 第1層フィルム 56 銅箔層 58 第2層フィルム 60 実施形態例3のハンダバンプ・キャリアテープ 62 テープ 64 凹部 66 フィルム 70 実施形態例4のハンダボール・キャリアテープ 72 銅箔層 80 実施形態例5のハンダボール・キャリアテープ 82 周囲のテープ面 84 低テープ面領域 Reference Signs List 10 solder bump carrier tape of embodiment 1 12 tape 14 recess 16 recess group 18 solder ball 20 solder ball group 22 sprocket hole 24 photoresist film 26 opening pattern 28 mask 30 carrier tape manufacturing device 32 tape traveling device 34 dispenser device 35 syringe 36 Heating device 38 Drive sprocket 40 Floating sprocket 41 Reflow furnace 42 IC chip 44 Electrode solder land 46 Reflow furnace 48 Solder bump 50 Solder ball carrier tape 52 of Embodiment 2 52 Tape 54 First layer film 56 Copper foil layer 58 Second layer Film 60 Solder bump / carrier tape of Embodiment 3 62 Tape 64 Recess 66 Film 70 Solder ball / carrier tape of Embodiment 4 72 Copper foil layer 80 Embodiment Solder ball / carrier tape of Embodiment 5 82 Peripheral tape surface 84 Low tape surface area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−30140(JP,A) 特開 昭60−182797(JP,A) 特開 平7−307561(JP,A) 特開 平10−93230(JP,A) 特開 平5−251512(JP,A) 特開 平4−78145(JP,A) 特開 平2−295186(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H05K 3/34 505 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-2-30140 (JP, A) JP-A-60-182797 (JP, A) JP-A-7-307561 (JP, A) JP-A-10- 93230 (JP, A) JP-A-5-251512 (JP, A) JP-A-4-78145 (JP, A) JP-A-2-295186 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. 7 , DB name) H01L 21/60 H05K 3/34 505

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電子部品及びICチップの電極ハンダラ
ンド、実装基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてI
Cチップの電極ハンダランドと表記する)にハンダバン
プを形成する際に使用する、ハンダボール・キャリアテ
ープであって、 ハンダ濡れ性が低く、かつハンダの融点以上の温度で耐
熱性を有する材料で形成されたテープと、 ICチップの電極配列と同じ配列でテープ面に設けら
れ、それぞれ、開口径が開口端に向けて拡大し、開口端
での開口径が収容するハンダボールより大きな縦断面形
状を備える多数個の凹部の集団であって、かつ各ICチ
ップ毎にテープの長手方向に離隔して設けられた凹部群
と、 各凹部にそれぞれ1個づつ収容されたハンダボールとを
備え、 ICチップの電極配列領域より広く、かつ周囲のテープ
面より低い複数個の低テープ面領域が、各ICチップ毎
にテープの長手方向に離隔してテープに設けられ、 各凹部群が、それぞれ、低テープ面領域に設けられてい
ることを特徴 とするハンダボール・キャリアテープ。
1. An electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, etc.
This is a solder ball carrier tape used when forming solder bumps on C-chip electrode solder lands). It is formed of a material having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder. The tape is provided on the tape surface in the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chip, and the opening diameter increases toward the opening end.
A group of a plurality of recesses having a longitudinal cross-sectional shape larger than the solder ball accommodating the opening diameter at each of the recesses, and a recess group provided for each IC chip and separated in the longitudinal direction of the tape; Solder balls contained one by one
Provided, wider than the electrode array area of the IC chip and surrounding tape
A plurality of low tape surface areas lower than the surface
The tape is provided on the tape at a distance in the longitudinal direction of the tape, and each recess group is provided in the low tape surface area.
A solder ball carrier tape , characterized in that:
【請求項2】 テープが、ハンダ濡れ性が低く、かつハ
ンダの融点以上の温度で耐熱性を有するプラスチックフ
ィルムの積層膜として形成されていることを特徴とする
請求項1に記載のハンダボール・キャリアテープ。
2. The solder ball according to claim 1, wherein the tape is formed as a laminated film of a plastic film having low solder wettability and having heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of the solder. Carrier tape.
【請求項3】 テープが、積層膜内に長手方向に金属箔
を介在させたプラスチックフィルムの積層膜であって、
凹部の底から金属箔を露出させ、かつ露出した金属箔と
ハンダボールとが接合していることを特徴とする請求項
2に記載のハンダボール・キャリアテープ。
3. The tape is a laminated film of a plastic film in which a metal foil is interposed in a longitudinal direction in the laminated film,
3. The solder ball carrier tape according to claim 2, wherein the metal foil is exposed from the bottom of the recess, and the exposed metal foil and the solder ball are joined.
【請求項4】 テープの両側縁部に沿ってスプロケット
孔が設けてあることを特徴とする請求項1から3のうち
のいずれか1項に記載のハンダボール・キャリアテー
プ。
4. The solder ball carrier tape according to claim 1, wherein sprocket holes are provided along both side edges of the tape.
【請求項5】 電子部品及びICチップの電極ハンダラ
ンド、実装基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてI
Cチップの電極ハンダランドと表記する)にハンダバン
プを形成する際に使用する、ハンダボール・キャリアテ
ープの製作方法であって、 ハンダ濡れ性が低く、ハンダの融点以上の温度で耐熱性
を有する材料で形成されたテープに、ICチップの電極
配列と同じ配列で配置され、かつ、それぞれ、開口径が
開口端に向けて拡大する縦断面形状を備える多数個の凹
部の集団を、各ICチップ毎にテープの長手方向に離隔
して形成する工程と、 ディスペンサから各凹部にそれぞれハンダペーストを滴
下する工程と、 非酸化性雰囲気内でハンダペーストを加熱、溶融し、次
いで冷却してハンダボールに転化する工程とを有するこ
とを特徴とするハンダボール・キャリアテープの製作方
法。
5. An electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, etc.
A method for producing a solder ball / carrier tape, which is used when forming solder bumps on an electrode solder land of a C chip, which has low solder wettability and has heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder. A group of a large number of concave portions each having a vertical cross-sectional shape that is arranged in the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chips and has an opening diameter that increases toward the opening end on the tape formed by Forming the solder paste in the longitudinal direction of the tape, dropping the solder paste from the dispenser into each recess, heating and melting the solder paste in a non-oxidizing atmosphere, then cooling and converting to solder balls A method of manufacturing a solder ball carrier tape.
【請求項6】 電子部品及びICチップの電極ハンダラ
ンド、実装基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてI
Cチップの電極ハンダランドと表記する)にハンダバン
プを形成する際に使用する、ハンダボール・キャリアテ
ープの製造装置であって、 ICチップの電極配列と同じ配列で配置され、かつ、そ
れぞれ、開口径が開口端に向けて拡大する縦断面形状を
備える多数個の凹部の集団を、各ICチップ毎にテープ
の長手方向に離隔してテープに形成する凹部形成装置
と、 凹部の集団をテープ面に有するテープを連続的に所定間
隔でステップ走行させるテープ走行機構と、 ステップ走行するテープの走行一時停止期間に、テープ
の各凹部にそれぞれハンダペーストを滴下するマルチノ
ズル型ディスペンサと、 テープの凹部に滴下されたハンダペーストを非酸化性雰
囲気内で加熱、溶融してハンダボールに転化するリフロ
ー炉とを備えていることを特徴とするハンダボール・キ
ャリアテープの製造装置。
6. An electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, etc.
A solder ball / carrier tape manufacturing apparatus used when forming solder bumps on an electrode solder land of a C chip), which is arranged in the same arrangement as the electrode arrangement of the IC chip, and has an opening diameter respectively. A recess forming apparatus for forming a group of a large number of recesses having a longitudinal cross-sectional shape that expands toward an opening end on a tape at a distance in the longitudinal direction of the tape for each IC chip; A tape running mechanism for continuously running the tape having a predetermined interval at a predetermined interval; a multi-nozzle dispenser for dropping solder paste into each recess of the tape during a suspension of the running of the tape during the step running; and a drop for the tape recess. And a reflow furnace for heating and melting the solder paste in a non-oxidizing atmosphere to convert the solder paste into solder balls. Equipment for manufacturing solder ball and carrier tape.
【請求項7】 請求項1からのうちのいずれか1項に
記載のハンダボール・キャリアテープを使用して、電子
部品及びICチップの電極ハンダランド、実装基板の端
子ハンダランド等(以下、纏めてICチップの電極ハン
ダランドと表記する)にハンダバンプを形成する方法で
あって、 ハンダボール・キャリアテープを連続的に所定間隔でス
テップ走行させ、その走行一時停止期間に、電極を下向
きにしてICチップを保持し、電極と凹部とを位置合わ
せして、電極をハンダボール上に接触させる工程と、 電極に接触したハンダボールを非酸化性雰囲気内で加
熱、溶融して電極ハンダランド上に転写し、ハンダバン
プを形成する工程とを備えることを特徴とするハンダバ
ンプの形成方法。
7. An electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, and the like (hereinafter, referred to as a terminal solder land) using the solder ball carrier tape according to any one of claims 1 to 4 . This is a method of forming solder bumps on an electrode solder land of an IC chip collectively, in which a solder ball / carrier tape is continuously stepped at a predetermined interval, and the electrodes are turned downward during a running suspension period. Holding the IC chip, aligning the electrodes with the recesses, and bringing the electrodes into contact with the solder balls; heating and melting the solder balls in contact with the electrodes in a non-oxidizing atmosphere to form the solder balls on the electrode solder lands Transferring and forming a solder bump.
【請求項8】 電子部品及びICチップの電極ハンダラ
ンド、実装基板の端子ハンダランド等(以下、纏めてI
Cチップの電極ハンダランドと表記する)にハンダバン
プを形成する方法であって、 ハンダ濡れ性が低く、ハンダの融点以上の温度で耐熱性
を有する材料で形成されたテープに、ICチップの電極
配列と同じ配列で配置され、かつ、それぞれ、開口径が
開口端に向けて拡大する縦断面形状を備える多数個の凹
部の集団を、各ICチップ毎にテープの長手方向に離隔
して形成する工程と、 凹部の集団をテープ面に有するテープを連続的に所定間
隔でステップ走行させ、ステップ走行するテープの走行
一時停止期間に、ディスペンサから各凹部にそれぞれハ
ンダペーストを滴下する工程と、 電極を下向きにしてICチップを保持し、電極と凹部と
を位置合わせして、電極をハンダペースト上に接触させ
る工程と、 電極に接触したハンダペーストを非酸化性雰囲気内で加
熱、溶融して電極のハンダランド上にハンダを転写し、
ハンダバンプを形成する工程とを備えることを特徴とす
るハンダバンプの形成方法。
8. An electrode solder land for an electronic component and an IC chip, a terminal solder land for a mounting board, and the like.
A method of forming solder bumps on an electrode solder land of a C chip), comprising: a tape formed of a material having low solder wettability and heat resistance at a temperature equal to or higher than the melting point of solder; Forming a group of a large number of concave portions having a vertical cross-sectional shape in which the opening diameter is increased toward the opening end and arranged in the same direction as that of the tape in the tape in the longitudinal direction of each IC chip. A step in which a tape having a group of concave portions on the tape surface is continuously stepped at a predetermined interval, and a step of dropping solder paste from the dispenser into each concave portion during the step suspension of the tape traveling stepwise; Holding the IC chip, aligning the electrode with the concave portion, and bringing the electrode into contact with the solder paste; and solder paste contacting the electrode. Is heated and melted in a non-oxidizing atmosphere, and the solder is transferred onto the solder land of the electrode.
Forming a solder bump.
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