JP3048480B2 - Lead forming method - Google Patents

Lead forming method

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JP3048480B2
JP3048480B2 JP4345263A JP34526392A JP3048480B2 JP 3048480 B2 JP3048480 B2 JP 3048480B2 JP 4345263 A JP4345263 A JP 4345263A JP 34526392 A JP34526392 A JP 34526392A JP 3048480 B2 JP3048480 B2 JP 3048480B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造工程の中で
も特にリード加工工程におけるリードフォーミング方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead forming method in a lead processing step among semiconductor manufacturing steps.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、モールディング工程、バリ取り
工程、半田処理工程を終えた後は、リード加工工程にて
長尺状のリードフレームから半導体パッケージが個片に
切り離されるとともに、各半導体パッケージの周縁に延
設されたリードが所定形状にフォーミングされる。
2. Description of the Related Art Generally, after a molding process, a deburring process, and a soldering process are completed, a semiconductor package is cut into individual pieces from a long lead frame in a lead processing process, and a peripheral edge of each semiconductor package is cut. Is formed into a predetermined shape.

【0003】図4はリード加工工程におけるリードフォ
ーミング方法の一例を説明するための図である。まず、
図4において、20は上型、21は下型であり、このう
ち上型20にはパンチ22とノックアウト23が設けら
れ、下型21にはダイス24が設けられている。リード
フォーミングを行う場合は、個片に切り離された半導体
パッケージ25を図4(a)に示すように下型21のダ
イス24上にセットする。この状態から上型20が下降
していくと、はじめにノックアウト23が半導体パッケ
ージ25周縁のリード26に当接し、そのままバネ27
の弾性力によりダイス24との間でリード26を挟持す
る。さらに上型10が下降すると、各々のリード26は
図4(b)に示すようにパンチ22とダイス24との間
に挟み込まれて所定形状にフォーミングされる。
FIG. 4 is a view for explaining an example of a lead forming method in a lead processing step. First,
In FIG. 4, reference numeral 20 denotes an upper die, and 21 denotes a lower die. Among them, the upper die 20 is provided with a punch 22 and a knockout 23, and the lower die 21 is provided with a die 24. When performing lead forming, the semiconductor package 25 cut into individual pieces is set on the die 24 of the lower die 21 as shown in FIG. When the upper die 20 descends from this state, the knockout 23 first comes into contact with the lead 26 on the periphery of the semiconductor package 25 and the spring 27
The lead 26 is sandwiched between the die 24 and the die 24 by the elastic force of the above. When the upper die 10 is further lowered, each lead 26 is sandwiched between the punch 22 and the die 24 and formed into a predetermined shape as shown in FIG.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したリ
ード加工前のバリ取り工程でリードフレーム面に付着し
た樹脂バリを除去する場合、水溶液の高圧噴射などによ
ってリードフレームに圧力が加えられるため、この影響
でパッケージ周縁のリード先端の高さにバラツキが生じ
ることがある。しかしながら上記従来のリードフォーミ
ング方法では、リード先端の高さにバラツキが生じたま
まの状態でパッケージ周縁のリードを所定形状にフォー
ミングするため、フォーミング前のリード先端の高さの
バラツキがフォーミング後のリード最下面の高さのバラ
ツキに反映されてしまい、このリード最下面の高さのバ
ラツキが、製品化された半導体装置を基板等の実装面に
表面実装する際にハンダ付け不良を引き起こす要因とな
っていた。このため従来では、リードを所定形状にフォ
ーミングした後に、リード検査工程やリード修正工程を
設けるなどして対処していたが、この場合は大幅な作業
工数の増加を招いてしまうため得策とはいえなかった。
When removing resin burrs attached to the lead frame surface in the above-described deburring step before lead processing, pressure is applied to the lead frame by high-pressure injection of an aqueous solution or the like. This may cause variations in the height of the tip of the lead at the periphery of the package. However, in the above-described conventional lead forming method, the lead on the package periphery is formed into a predetermined shape in a state where the height of the lead tip remains uneven. The variation in the height of the bottom surface of the leads is reflected in the variation in the height of the bottom surface, and this variation in the height of the bottom surface of the lead causes soldering failure when the manufactured semiconductor device is surface-mounted on a mounting surface such as a substrate. I was For this reason, conventionally, a lead inspection process or a lead correction process is provided after forming a lead into a predetermined shape, and this has been dealt with. However, in this case, a great increase in the number of work steps is caused. Did not.

【0005】また、従来のリードフォーミング方法の中
には、リードを所定形状にフォーミングした後に、例え
ば各リードを一様に上方から押え込むなどしてリード最
下面の平坦化を狙ったものもあるが、これでもリード先
端の高さのバラツキの影響を解消することは出来なかっ
た。
Some of the conventional lead forming methods aim at flattening the lowermost surface of the lead by forming the lead into a predetermined shape and then, for example, uniformly pressing each lead from above. However, even with this, it was not possible to eliminate the influence of the variation in the height of the lead tip.

【0006】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたもので、フォーミング後のリード最下面の高さのバ
ラツキを抑えることができるリードフォーミング方法を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problem, and has as its object to provide a lead forming method capable of suppressing variations in the height of the lowermost surface of a lead after forming.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、半導体パッケージから延
出した複数のリードを所定の形状に曲げ加工するリード
フォーミング方法において、第1の金型を用いて、前記
リードにおける前記半導体パッケージ近傍部分を支点と
して、前記リードにおける前記半導体パッケージから離
れた端部に押力を加えることにより、前記リードに対し
て上方あるいは下方に、前記所定の形状における曲げ角
度より小さい角度の曲げ加工を行う第1の工程と、第2
の金型を用いて、前記リードを前記所定の形状に曲げ加
工する第2の工程と、を含むものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to achieve the above object, and a first aspect of the present invention relates to a lead forming method for bending a plurality of leads extending from a semiconductor package into a predetermined shape . Using a mold,
A fulcrum is a portion of the lead near the semiconductor package.
Then, the lead is separated from the semiconductor package.
By applying a pressing force to the bent end,
Above or below, the bending angle in the given shape
A first step of performing a bending process at an angle smaller than
The lead is bent into the predetermined shape by using a die.
And a second step of working.

【0008】[0008]

【作用】本発明のリードフォーミング方法においては、
半導体パッケージから延出した複数のリードを所定の形
状に曲げ加工するにあたって、先ず、複数のリードに対
して上方あるいは下方に、曲げ角度が、水平面に対して
2〜5度の範囲の曲げ加工を行うことにより、スプリン
グバックによる矯正不足を招いたり半導体パッケージに
強いストレスを与えることなく、リード先端の高さのバ
ラツキが矯正され、その後、該リードに対して上記曲げ
角度より大きい曲げ角度の曲げ加工を施して、該リード
を所定の形状にすることにより、リード最下面の高さの
バラツキが抑えられる。 また、本発明の他のリードフォ
ーミング方法においては、半導体パッケージから延出し
た複数のリードを所定の形状に曲げ加工するにあたっ
て、先ず、リードにおける半導体パッケージ近傍部分を
支点として、上記リードにおける半導体パッケージから
離れた端部に押力を加えることにより、リードの表面を
完全に挟み込むことなく、しかも非常に小さな力をもっ
てリード先端の高さのバラツキが矯正され、その後、該
リードを所定の形状に曲げ加工することにより、リード
最下面の高さのバラツキが抑えられる。
In the lead forming method of the present invention,
The multiple leads extending from the semiconductor package
When bending into a shape, first
Upward or downward, the bending angle is
By performing bending in the range of 2 to 5 degrees, spring
Insufficiency of correction due to backing
Without applying strong stress, the height of the lead
Rack is corrected, and then the bending is performed on the lead.
Bend at a bending angle larger than the angle
Of the height of the lowermost surface of the lead
Variation is suppressed. In addition, the other read-form of the present invention.
In the semiconductor package
When bending multiple leads into a predetermined shape
First, the portion of the lead near the semiconductor package
As a fulcrum, from the semiconductor package in the above lead
Applying a pressing force to the remote end
Without any pinching, and with very little force
The variation in the height of the lead tip is corrected by
By bending the lead into a predetermined shape, the lead
Variations in the height of the lowermost surface can be suppressed.

【0009】[0009]

【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
しながら詳細に説明する。図1は本発明に係わるリード
フォーミング方法の一実施例を説明するための図であ
る。図1において、1は半導体パッケージであり、この
半導体パッケージ1の周縁には複数のリード2が所定の
ピッチで延設されている。ここで、図1(a)は、フォ
ーミング前のパッケージ状態を示す平面図(上側)と側
面図(下側)であり、この状態では図例のようにパッケ
ージ周縁のリード先端の高さにバラツキWが生じている
ものとする。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the lead forming method according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a semiconductor package, and a plurality of leads 2 extend at a predetermined pitch around the periphery of the semiconductor package 1. Here, FIG. 1A is a plan view (upper side) and a side view (lower side) showing a package state before forming. In this state, the height of the lead end of the package periphery varies as shown in the figure. It is assumed that W has occurred.

【0010】本実施例のリードフォーミング方法では、
まず図1(b)に示すように、半導体パッケージ1から
延出した複数のリード2を水平面に対して所定角度θで
折り曲げる。これによって得られる各々のリード2の曲
げ角度としては、2〜3°程度で十分であるが、この曲
げ角度を得るには、一旦折り曲げてから開放した時のリ
ード2のスプリングバックを考慮すると、上記所定角度
θとして5°程度必要である。ここで、角度θをあまり
小さく設定すると、上記スプリングバックによってリー
ド先端の高さが元の位置に戻ってしまい、反対に角度θ
をあまり大きく設定すると、リード2を折り曲げた際に
半導体パッケージ1に強いストレスがかかってパッケー
ジクラック等を招く虞れがあるため、角度θは必要最小
限にとどめることが望ましい。
In the lead forming method of this embodiment,
First, as shown in FIG. 1 (b), the semiconductor package 1
The plurality of extended leads 2 are bent at a predetermined angle θ with respect to a horizontal plane . The bending angle of each lead 2 obtained by this is approximately 2 to 3 degrees is sufficient. However, in order to obtain this bending angle, considering the springback of the lead 2 when it is once bent and then opened, The predetermined angle θ needs to be about 5 °. If the angle θ is set too small, the height of the tip of the lead returns to the original position due to the springback, and conversely, the angle θ
Is set too large, when the lead 2 is bent, a strong stress may be applied to the semiconductor package 1 to cause a package crack or the like. Therefore, it is desirable that the angle θ be kept to the minimum necessary.

【0011】こうして全てのリード2を所定角度θで折
り曲げた後は、例えば先の図4で示したようなプレス金
型によるリード曲げ方式を採用して、パッケージ周縁の
リード2を図1(c)に示すように所定の形状にフォー
ミングする。このとき、リード2の最終的な曲げ形状は
クランク状となっているため、最終の曲げ加工(フォー
ミング)におけるリードの曲げ角度は略90°となる。
なお、ここで採用されるリードの曲げ方式としては、図
4のプレス金型を用いたもの以外にも、例えば図示はし
ないがカムを用いたリード曲げ方式やローラを用いたリ
ード曲げ方式などを採用してもよい。
After all the leads 2 have been bent at a predetermined angle θ, the lead 2 on the package periphery is connected to the lead 2 shown in FIG. Forming into a predetermined shape as shown in FIG. At this time, the final bending shape of the lead 2 is
Because of the crank shape, the final bending (for
The bending angle of the lead in (Ming) is about 90 °.
The lead bending method employed here may be, for example, a lead bending method using a cam or a lead bending method using a roller (not shown) other than the method using the press die shown in FIG. May be adopted.

【0012】このように本実施例のリードフォーミング
方法においては、まず、パッケージ周縁に延設された複
数のリード2を所定角度θで下方に折り曲げることによ
り、リード先端の高さのバラツキWが矯正される。これ
により各リード2の先端高さが一様に揃えられるため、
この状態からリード2を所定形状にフォーミングするこ
とにより、リード最下面Fの高さのバラツキが抑えら
れ、より高精度なリードフォーミングが実現される。
As described above, in the lead forming method according to the present embodiment, first, the plurality of leads 2 extending from the periphery of the package are bent downward at a predetermined angle θ to correct the variation W in the height of the lead tips. Is done. As a result, the heights of the tips of the leads 2 are evenly aligned,
By forming the lead 2 into a predetermined shape from this state, variations in the height of the lowermost surface F of the lead are suppressed, and more accurate lead forming is realized.

【0013】ちなみに、本出願人が行った実験では、従
来方法のように折り曲げ無しでリードを所定形状にフォ
ーミングした場合、基準面(実装面)からのリードの浮
きが平均81.2μm、標準偏差15.2μmであった
ものが、本実施例のように折り曲げを行ってからリード
を所定形状にフォーミングした場合は、上記の値が平均
38.0μm、標準偏差9.8μmとなり、顕著な効果
が確認された。
Incidentally, in an experiment conducted by the present applicant, when a lead was formed into a predetermined shape without bending as in the conventional method, the lead floated from the reference surface (mounting surface) was 81.2 μm on average, and the standard deviation was In the case where the lead was formed into a predetermined shape after being bent as in the present example instead of 15.2 μm, the above-mentioned values were 38.0 μm on average and 9.8 μm in standard deviation, and a remarkable effect was obtained. confirmed.

【0014】ここで、リード2を所定角度θで折り曲げ
るための具体的な手段について説明する。本実施例で
は、図2に示すように、上型3と下型4を用いて半導体
パッケージ1の周縁に延設されたリード2を所定角度で
折り曲げるようにした。まず、上型3にはパンチ5が取
り付けられており、このパンチ5には半導体パッケージ
1との衝突を避けるための凹部6と所定角度に傾斜させ
た加圧面7とが形成されている。一方、下型4にはダイ
ス8が取り付けられており、このダイス8には半導体パ
ッケージ1との接触を避けるための凹部9と上記加圧面
7に対して略平行なリード支持面10とが形成されてい
る。
Here, specific means for bending the lead 2 at a predetermined angle θ will be described. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the lead 2 extending on the peripheral edge of the semiconductor package 1 is bent at a predetermined angle using the upper die 3 and the lower die 4. First, a punch 5 is attached to the upper die 3, and the punch 5 has a concave portion 6 for avoiding collision with the semiconductor package 1 and a pressing surface 7 inclined at a predetermined angle. On the other hand, a die 8 is attached to the lower die 4, and a concave portion 9 for avoiding contact with the semiconductor package 1 and a lead support surface 10 substantially parallel to the pressing surface 7 are formed on the die 8. Have been.

【0015】上記構成からなる上型3と下型4を用いて
リード2を折り曲げる場合は、まず、ダイス8上に形成
されたリード支持面10にリード2を載せた状態で下型
4に半導体パッケージ1をセットする。次いで、その状
態から上型3を下降していくと、図2に示すようにパッ
ケージ周縁のリード2は下型4のリード支持面10と上
型3の加圧面7との間に挟み込まれ、これにより全ての
リード2が所定角度で折り曲げられる。このとき、各々
のリード2を一様に折り曲げるには、下型4のリード支
持面10がリード2の固定端(半導体パッケージ1との
付け根)にきちんと当接していることが好ましい。
When the lead 2 is bent by using the upper die 3 and the lower die 4 having the above-described structure, first, the semiconductor is placed on the lower die 4 while the lead 2 is placed on the lead support surface 10 formed on the die 8. Set package 1. Then, when the upper mold 3 is lowered from that state, the leads 2 on the package periphery are sandwiched between the lead support surface 10 of the lower mold 4 and the pressing surface 7 of the upper mold 3 as shown in FIG. Thereby, all the leads 2 are bent at a predetermined angle. At this time, in order to bend each of the leads 2 uniformly, it is preferable that the lead support surface 10 of the lower die 4 is in proper contact with the fixed end of the lead 2 (the root of the semiconductor package 1).

【0016】ところで、上述したリードの折り曲げ手段
では、上下方向からリード2を完全に挟み込む方式であ
るため、リード2の表面に大きな圧力が加わって、リー
ド2表面のハンダが剥がれてしまう心配がある。この対
策としては、図3に示すように、上側3の加圧面7と下
型4のリード支持面10のうち、一方(例えば上型3の
加圧面7)をリード2の自由端側、即ち半導体パッケー
ジ1から離れた端部に当接するように形成し、他方(例
えば下型4のリード支持面10)をリード2の固定端
側、即ち半導体パッケージ1の近傍部分に当接するよう
に形成することにより、リード2を所定の角度に折り曲
げるときに、リード2における半導体パッケージ1の近
傍部分(リード支持面10の当接部分)を支点として、
リード2における半導体パッケージ1から離れた端部
(リード先端部)に押力を加えるようにする。このよう
にすれば、図3に示すように上型3を下降させて加圧面
7とリード支持面10とをそれぞれリード2に圧接させ
た場合、各々のリード2の両端には平行で大きさが等し
く且つ向きが反対な二つの力、つまり偶力P1、P2が
かかるため、上述のようにリード2を完全に挟み込むこ
となく、しかも非常に小さな力でリード2を所定角度ま
で折り曲げることができ、これによってハンダ剥がれの
心配が解消される。
By the way, in the above-described lead bending means, since the lead 2 is completely sandwiched from above and below, a large pressure is applied to the surface of the lead 2 and there is a concern that the solder on the surface of the lead 2 may be peeled off. . As a countermeasure for this, as shown in FIG.
One of the lead support surfaces 10 of the mold 4 (for example,
The pressing surface 7) is connected to the free end side of the lead 2, that is, the semiconductor package.
Formed so as to contact the end remote from the die 1 and the other end (eg,
For example, the lead support surface 10) of the lower mold 4 is fixed to the fixed end of the lead 2.
Side, that is, in contact with the vicinity of the semiconductor package 1.
To bend the lead 2 to a predetermined angle.
When the semiconductor package 1 is near the lead 2
With the side part (the contact part of the lead support surface 10) as a fulcrum,
End of lead 2 remote from semiconductor package 1
(Lead tip). In this way, when the upper die 3 is lowered to press the pressing surface 7 and the lead support surface 10 against the leads 2 as shown in FIG. 3, both ends of each of the leads 2 are parallel in size. Since two forces having the same and opposite directions, that is, couples P1 and P2 are applied, it is necessary to completely pinch the lead 2 as described above.
In addition , the lead 2 can be bent to a predetermined angle with a very small force, thereby eliminating the fear of solder peeling.

【0017】なお、上記実施例のリードフォーミング方
法では、リード2を所定角度で折り曲げる際に、リード
2を下方に折り曲げるようにしたが、本発明におけるリ
ード2の曲げ方向としては下方だけに限定されず、上方
に所定角度で折り曲げてもリード先端の高さのバラツキ
が矯正され、上記同様の効果を得ることができる。
In the lead forming method of the above embodiment, when the lead 2 is bent at a predetermined angle, the lead 2 is bent downward. However, the bending direction of the lead 2 in the present invention is limited to only the downward direction. Instead, even if the lead is bent upward at a predetermined angle, the variation in the height of the lead tip is corrected, and the same effect as described above can be obtained.

【0018】また、本実施例においては、取り扱う半導
体装置の種類としてQFP(Quad Flat Pa
ckage)タイプを例に挙げて説明したが、本発明の
リードフォーミング方法は、SOP(Small Ou
tline Package)タイプは勿論のこと、Q
FJ(Quad Flat J−leaded Pac
kage)タイプやSOJ(Small Outlin
e J−leadedPackage)タイプなど、他
の面実装タイプの半導体装置を取り扱う場合に適用して
も同様の効果を得ることができる。
In this embodiment, the type of semiconductor device to be handled is QFP (Quad Flat Pa).
Cage) type is described as an example, but the lead forming method of the present invention is based on SOP (Small Ou).
line Package) type, Q
FJ (Quad Flat J-leaded Pac)
Kage) type and SOJ (Small Outlin)
The same effect can be obtained even when the present invention is applied to the case of handling other surface mount type semiconductor devices such as an e-J-leaded Package) type.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のリードフ
ォーミング方法によれば、半導体パッケージから延出し
た複数のリードを所定の形状に曲げ加工するにあたっ
て、先ず、複数のリードに対して上方あるいは下方に、
曲げ角度が、水平面に対して2〜5度の範囲の曲げ加工
を行うことにより、スプリングバックによる矯正不足を
招いたり半導体パッケージに強いストレスを与えること
なく、リード先端の高さのバラツキを矯正することがで
きる。そして、その後、該リードに対して上記曲げ角度
より大きい曲げ角度の曲げ加工を施して、該リードを所
定の形状にすることにより、リード最下面の高さのバラ
ツキを抑えることができる。これにより、曲げ角度が小
さすぎる故にスプリングバックの影響でリード先端の高
さのバラツキを十分に矯正し切れないといった状況や、
逆に曲げ角度が大きすぎる故に半導体パッケージに強い
ストレスを与えてパッケージクラックが発生するなどの
状況を招くことなく、リード最下面の高さを揃えること
が可能となる。 また、本発明の他のリードフォーミング
方法によれば、半導体パッケージから延出した複数のリ
ードを所定の形状に曲げ加工するにあたって、先ず、リ
ードにおける半導体パッケージ近傍部分を支点として、
上記リードにおける半導体パッケージから離れた端部に
押力を加えることにより、リードの表面を完全に挟み込
むことなく、しかも非常に小さな力をもってリード先端
の高さのバラツキを矯正することができる。そして、そ
の後、該リードを所定の形状に曲げ加工することによ
り、リード最下面の高さのバラツキを抑えることができ
る。これにより、リードの表面でハンダが剥がれること
を防止したうえで、リード最下面の高さを揃えることが
可能となる。
As described above, according to the present invention,
Extending from semiconductor package according to the forming method
When bending multiple leads into a predetermined shape
First, upward or downward with respect to a plurality of leads,
Bending angle is 2 to 5 degrees with respect to the horizontal plane
To correct the lack of correction due to springback.
Inviting or stressing semiconductor packages
Without any variation in the height of the lead tip.
Wear. And then, the bending angle with respect to the lead
Bend at a larger bending angle and place the lead in place.
By adjusting the shape, the height of the lead
I can suppress the luck. This reduces the bending angle
The tip of the lead is too high due to the springback
Situations such as not being able to fully correct for variations in
Conversely, it is strong in semiconductor packages because the bending angle is too large
For example, package cracks may occur due to stress.
Make the height of the bottom surface of the lead uniform without inviting situations
Becomes possible. Also, other lead forming of the present invention
According to the method, a plurality of resources extending from a semiconductor package are provided.
When bending a lead into a predetermined shape, first
With the vicinity of the semiconductor package in the fulcrum as a fulcrum,
At the end of the above lead away from the semiconductor package
Applying a pressing force completely sandwiches the lead surface
End of the lead
The height variation can be corrected. And that
After that, the lead is bent into a predetermined shape.
The variation in the height of the lowermost surface of the lead can be suppressed.
You. This causes the solder to peel off on the surface of the lead
The height of the bottom surface of the lead
It becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わるリードフォーミング方法の一実
施例を説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of a lead forming method according to the present invention.

【図2】リードの折り曲げ手段を説明するための図であ
る。
FIG. 2 is a view for explaining a lead bending means.

【図3】リードの他の折り曲げ手段を説明するための図
である。
FIG. 3 is a diagram for explaining another bending means of the lead.

【図4】リードフォーミング方法の一例を説明するため
の図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining an example of a lead forming method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体パッケージ 2 リード 1 semiconductor package 2 lead

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 半導体パッケージから延出した複数のリ
ードを所定の形状に曲げ加工するリードフォーミング方
法において、第1の金型を用いて、前記リードにおける前記半導体パ
ッケージ近傍部分を支点として、前記リードにおける前
記半導体パッケージから離れた端部に押力を加えること
により、前記リードに対して上方あるいは下方に、前記
所定の形状における曲げ角度より小さい角度の曲げ加工
を行う第1の工程と、 第2の金型を用いて、前記リードを前記所定の形状に曲
げ加工する第2の工程と、 を含むことを特徴とするリードフォーミング方法。
In a lead forming method for bending a plurality of leads extending from a semiconductor package into a predetermined shape, a first die is used to form the semiconductor package on the leads.
With the vicinity of the package as a fulcrum,
Applying a pressing force to the end remote from the semiconductor package
By the above or below with respect to the lead,
Bending at an angle smaller than the bending angle for a given shape
Using a first step of performing a second mold, song said lead to said predetermined shape
And a second step of shaping.
【請求項2】 前記第1の工程における曲げ角度は、水
平面に対して2〜5度の範囲であることを特徴とする請
求項1記載のリードフォーミング方法。
2. The method according to claim 1, wherein the bending angle in the first step is water.
The angle is in the range of 2 to 5 degrees with respect to the plane.
The lead forming method according to claim 1.
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