JP2955618B2 - Inspection method for weld surface defects of UO steel pipe - Google Patents

Inspection method for weld surface defects of UO steel pipe

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JP2955618B2
JP2955618B2 JP10349393A JP10349393A JP2955618B2 JP 2955618 B2 JP2955618 B2 JP 2955618B2 JP 10349393 A JP10349393 A JP 10349393A JP 10349393 A JP10349393 A JP 10349393A JP 2955618 B2 JP2955618 B2 JP 2955618B2
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はUO鋼管の溶接部表面疵
検査方法に係わり、例えば、UO鋼管溶接部分の表面疵
を光切断法で撮像して疵の有無を判定する方法に用いて
好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the surface of a welded portion of a UO steel pipe, for example, a method of determining the presence or absence of a flaw by imaging a surface flaw of a welded portion of a UO steel pipe by a light cutting method. It is something.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、UO鋼管の溶接部表面の疵を
検査するために種々の方法が用いられている。現状のU
O鋼管の溶接部の表面疵検査は、人間による目視検査で
行われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, various methods have been used to inspect flaws on the surface of a welded portion of a UO steel pipe. Current U
The surface flaw inspection of the welded portion of the O-steel pipe is performed by a visual inspection by a human.

【0003】ところで、一般的な表面疵検査手法として
は、例えば光学式方法、渦流法、漏洩磁束法等が挙げら
れる。これらの表面疵検査手法のうち、光学式方法と
は、レーザスポット等を被検査物にスキャン照射すると
ともに、正反射光または散乱光を受光して得られる時系
列的な受光信号を処理して疵判定を行うものであり、鋼
板の表面疵検査手段として用いられる。
[0003] By the way, general surface flaw inspection techniques include, for example, an optical method, an eddy current method, a leakage magnetic flux method and the like. Among these surface flaw inspection methods, the optical method scans and irradiates a laser spot or the like onto an inspection object and processes a time-series light reception signal obtained by receiving specular reflection light or scattered light. This is to determine the flaw, and is used as a means for inspecting the surface flaw of a steel sheet.

【0004】また、渦流法とは、高周波磁界によって被
検査物表面部分に渦電流を励起させるとともに、被検査
物に検出コイルを近接させ、上記検出コイルと鎖交する
磁束値を検出して疵を検査するようにしたものであり、
種々の被検査物に対する表面疵検査手段として用いられ
る。
In the eddy current method, an eddy current is excited on the surface of the inspection object by a high-frequency magnetic field, a detection coil is brought close to the inspection object, and a magnetic flux value interlinking with the detection coil is detected. Is to be inspected,
It is used as a surface defect inspection means for various inspection objects.

【0005】漏洩磁束法とは、磁化器を被検査物に近接
させて磁束を浸透させるとともに被検査物に近接させた
磁気センサを移動して漏洩磁束の変化を検出し疵を検査
する手法であり、一般的に鋼板の表面欠陥検出手法とし
て用いられる。
[0005] The leakage magnetic flux method is a technique of detecting a change in leakage magnetic flux by moving a magnetic sensor close to the object to be inspected while moving a magnetizer close to the object to be inspected, and detecting a flaw. Yes, it is generally used as a method for detecting surface defects on steel sheets.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の疵検出
手法では、一般的に、形状が均一な被検査物を対象とし
ている。しかし、図10〜図12に溶接部の端部に発生
する疵の一例であるアンダーカット疵の概略形状を示す
が、UO鋼管1の溶接部は鋼管母材部分に対して肉盛り
を施しているので、溶接端部に発生する微細なアンダー
カット疵21を検査するためには、起伏をもつ溶接部お
よびその近傍を精密に検査できる検査手法が必要であ
る。
In the above-described conventional flaw detection method, generally, an object to be inspected having a uniform shape is targeted. However, FIG. 10 to FIG. 12 show schematic shapes of undercut flaws which are examples of flaws generated at the end of the welded portion. Therefore, in order to inspect the fine undercut flaw 21 generated at the welded end, an inspection method capable of precisely inspecting the welded portion having undulations and its vicinity is required.

【0007】被検査物の表面に起伏がある場合には、例
えば、光学式方法では投受光系の光軸を含む平面と被検
査物表面の交差角度が変化することで受光強度に変動を
生じるので、細密な疵を検査することは困難となる。
When the surface of the inspection object has undulations, for example, in the optical method, the light receiving intensity fluctuates due to a change in the intersection angle between the plane including the optical axis of the light emitting and receiving system and the inspection object surface. Therefore, it is difficult to inspect minute flaws.

【0008】また、渦流法や漏洩磁束法等の手法で検出
精度を得るためには、センサーと被検査物表面とのギャ
ップを短くして一定に保つことが必要であり、したがっ
て、起伏をもつ表面上の疵の検出は困難である。
Further, in order to obtain detection accuracy by a technique such as an eddy current method or a leakage magnetic flux method, it is necessary to keep the gap between the sensor and the surface of the inspection object short and to keep the gap constant. Detection of flaws on the surface is difficult.

【0009】また、形状を測定する方法として光切断法
がある。図10では、アンダーカット疵21の形状を、
わかり易く示すために大きく示したが、実際は非常に微
細なものまで有害であるので検出する必要があり、溶接
部の形状も一定でないことから、信頼性よく疵を検出す
ることができる光切断像の処理方法は提案されていなか
った。
As a method of measuring the shape, there is a light section method. In FIG. 10, the shape of the undercut flaw 21 is
Although it is shown large for easy understanding, it is actually necessary to detect very fine ones because it is harmful, and the shape of the welded part is not constant. No treatment method has been proposed.

【0010】本発明は上述の問題点にかんがみ、UO鋼
管の溶接部の表面疵を高い信頼性で検出できるようにす
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, an object of the present invention is to make it possible to detect a surface flaw of a welded portion of a UO steel pipe with high reliability.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明のUO鋼管の溶接
部表面疵検査方法は、スリット光をUO鋼管溶接部及び
その近傍に照射するとともに、上記スリット光を撮像装
置により撮像して得た光切断像を用いて溶接部の疵を検
出するUO鋼管の溶接部表面疵検査方法において、上記
UO鋼管における長手方向に沿って位置を変えながら、
上記光切断像を細線化処理して、X−Y座標におけるX
方向について細線化データ列Sn(x)を順次生成する
第1の処理と、上記第1の処理によって順次生成される
細線化データ列Sn(x)をデータ列記憶部に記憶する
第2の処理と、上記データ列記憶部に記憶された細線化
データ列の中から、細線化データ列S(x)上にある点
B(X、y)について、上記点Bから任意の画素数
だけ両側方向にそれぞれ離れた第1の側点A(X
−d、y)と第2の側点C(X+d、y)を
設定し、これらのY座標について差分データ列の差分要
素dyを求める演算をX座標の全域に渡って順次行う第
3の処理と、上記第3の処理によって順次求められる差
分要素dyをX座標に対応させて配列させた差分データ
列D(x)を作成する第4の処理と、上記第4の処理で
作成した差分データ列D(x)における連続する所定数
の移動和演算を行い、疵部分が強調された疵検出データ
E(x)を作成する第5の処理と、上記第5の処理で作
成した疵検出データE(x)と所定の比較値とを比較し
て疵有無の判定を行う第6の処理と、上記第6の処理に
おいて疵有りと判定された場合に、上記細線化データ列
Sn(x)を用いて疵の深さを測定する第7の処理とを
行うことを特徴としている。
According to the method of the present invention for inspecting the surface of a welded portion of a UO steel pipe, the slit light is applied to the welded portion of the UO steel pipe and the vicinity thereof, and the slit light is obtained by imaging with an imaging device. In the method of inspecting the surface of a welded portion of a UO steel pipe for detecting a flaw of a welded part using an optical cut image, while changing a position along a longitudinal direction of the UO steel pipe,
The light-section image is thinned to obtain an X-
A first process for sequentially generating a thinned data sequence Sn (x) in the direction, and a second process for storing the thinned data sequence Sn (x) sequentially generated by the first process in a data sequence storage unit And a point B (X n , y B ) on the thinned data string S (x) from the thinned data string stored in the data string storage unit and an arbitrary number of pixels d from the point B. x, a first side point A ( Xn
−d x , y A ) and the second side point C (X n + d x , y C ) are set, and the calculation for obtaining the difference element dy of the difference data sequence for these Y coordinates is performed over the entire range of the X coordinates. A third processing to be sequentially performed; a fourth processing to create a difference data string D (x) in which the difference elements dy sequentially obtained by the third processing are arranged in correspondence with the X coordinate; Fifth processing in which a predetermined predetermined number of continuous moving sum calculations are performed on the difference data string D (x) created in the processing to create flaw detection data E (x) in which a flaw is emphasized; A sixth process of determining the presence or absence of a flaw by comparing the flaw detection data E (x) created in the above with a predetermined comparison value, and, when it is determined that there is a flaw in the sixth process, the thinning is performed. Performing the seventh process of measuring the depth of a flaw using the data sequence Sn (x). Features.

【0012】[0012]

【作用】上述の疵検出方法によれば、疵部分だけを強調
して検出する処理を行うので、肉盛り等のように起伏の
あるUO鋼管溶接部にある微細な疵についても高い信頼
性で検出することが可能になるとともに、疵有りと判定
した場合には疵の深さの測定を行うことにより、疵深さ
の情報についても得られるようになる。
According to the above-described flaw detection method, since processing for emphasizing and detecting only flaw parts is performed, even fine flaws in the undulated UO steel pipe welds such as overlays can be reliably obtained. In addition to being able to detect, when the presence of a flaw is determined, by measuring the depth of the flaw, information on the flaw depth can also be obtained.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明のUO鋼管の溶接部表面疵検査
方法の一実施例を図面を参照して説明する。図1は、本
発明の一実施例を説明するための疵検査装置の一例を示
すブロック図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the method for inspecting the surface of a weld of a UO steel pipe according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of a flaw inspection device for explaining one embodiment of the present invention.

【0014】図1において、1はUO鋼管、2はその溶
接部である。このようなUO鋼管1の表面疵の検査を行
うのに際し、スリット光投光器3で光を放射して溶接部
およびその近傍にスリット光4を形成する。また、上記
スリット光4をとらえる位置に撮像装置5を配設する。
なお、ここでは、UO鋼管内表面の溶接部を検査する場
合を示しているが、外表面の場合も同様な方法により外
表面の溶接部およびその近傍にスリット光を形成して撮
像すればよい。
In FIG. 1, 1 is a UO steel pipe, and 2 is a welded portion thereof. When such a surface flaw of the UO steel tube 1 is inspected, the slit light projector 3 emits light to form a slit light 4 at the welded portion and in the vicinity thereof. Further, an imaging device 5 is disposed at a position where the slit light 4 is captured.
Here, the case where the welded portion on the inner surface of the UO steel pipe is inspected is shown, but in the case of the outer surface, a slit light may be formed in the welded portion on the outer surface and in the vicinity thereof by a similar method and imaged. .

【0015】スリット光投光器3としては、例えば図2
に示すように、レーザダイオード13を発光させ、その
レーザ光をコリメータレンズ14によって集光する。そ
して、上記レーザ光をシリンドリカルレンズ15によっ
て扇形状に広げてスリット光4を形成する装置を用いて
いる。これによって、例えば0.1mm程度の半値幅の
スリット光4を形成するようにしている。
As the slit light projector 3, for example, FIG.
As shown in (1), the laser diode 13 emits light, and the laser light is collected by the collimator lens 14. Then, an apparatus for forming the slit light 4 by spreading the laser light into a fan shape by the cylindrical lens 15 is used. Thereby, for example, the slit light 4 having a half width of about 0.1 mm is formed.

【0016】また、撮像装置5としては、例えばCCD
カメラが用いられる。通常の場合には1台の撮像装置で
もよいが、微細な疵を検出する場合には撮像装置5は十
分な分解能を有することが望まれるので、例えば、視野
を限って複数台の撮像装置を配設することで対応するこ
とが考えられる。図1では2台の撮像装置を用いる例を
示している。
The imaging device 5 is, for example, a CCD.
A camera is used. In a normal case, one imaging device may be used. However, in the case of detecting a minute flaw, it is desired that the imaging device 5 has a sufficient resolution. It is conceivable that this can be dealt with by arranging them. FIG. 1 shows an example in which two imaging devices are used.

【0017】ところで、アンダーカットと呼ばれる溶接
疵は、その発生原因から図3において21の符号を付し
て示したように、溶接部2の裾野に多く発生する。ま
た、その形状は、図3のA−A’線に沿う断面図である
図4に示すように、V字型をしたものが一般的である。
By the way, welding flaws called "undercuts" often occur at the foot of the welded portion 2 as indicated by reference numeral 21 in FIG. The shape is generally V-shaped as shown in FIG. 4, which is a cross-sectional view taken along the line AA ′ in FIG.

【0018】したがって、上記撮像装置5において、図
3のB−B’間のスリット光4を撮影すると、図5に示
したような光切断像22が得られる。このようにして得
られた光切断像22は、疵検出処理部6に入力される。
Accordingly, when the slit light 4 between BB 'in FIG. 3 is photographed by the image pickup device 5, a light cut image 22 as shown in FIG. 5 is obtained. The thus-obtained light-section image 22 is input to the flaw detection processing unit 6.

【0019】疵検出処理部6においては、まず、上記光
切断像22を画像記憶部7においてA/D変換し、2次
元のデジタル値(x,y)として記憶する、次に、細線
化処理部8によって細線化を行うが、ここで行われる細
線化処理について、詳細に示したものが図6である。
In the flaw detection processing unit 6, first, the light-section image 22 is A / D-converted in the image storage unit 7 and stored as a two-dimensional digital value (x, y). The thinning is performed by the unit 8, and FIG. 6 shows the thinning processing performed here in detail.

【0020】図6に示したように、ここでは2次元画像
データp(x,y)について、図6に示す画面y方向の
1ライン上で最大輝度を有する点を選択する処理を画面
x方向に進めて行き、x座標に対応する最大輝度点のy
座標値を配列させた細線化データ列S(x)を得る。
As shown in FIG. 6, a process of selecting a point having the maximum luminance on one line in the screen y direction shown in FIG. 6 is performed on the two-dimensional image data p (x, y) in the screen x direction. To the maximum luminance point y corresponding to the x coordinate.
A thinned data sequence S (x) in which coordinate values are arranged is obtained.

【0021】そのとき、スリット像の輝度が小さい部分
についてスリット像外のノイズを誤選択しないよう、輝
度最大として選択した点の輝度が輝度しきい値に達して
いない場合、xn-1 における最大輝度点のy座標S(x
n-1 )と同じ値として、細線化データがスリット像から
外れるのを防ぐ。
At this time, if the luminance of the point selected as the maximum luminance does not reach the luminance threshold so that the noise outside the slit image is not erroneously selected for the portion where the luminance of the slit image is low, the maximum at x n-1 Y coordinate S (x
As the same value as n-1 ), the thinning data is prevented from deviating from the slit image.

【0022】次に、差分処理部9では、細線化処理部8
が出力する細線化データ列S(x)について差分データ
列D(x)の演算を行う。図7に演算方法の詳細を示
す。適当な画素数dxを設定し、細線化データ列S
(x)上のある点B(xn,B )について、点A(xn
−dx,yA )と点C(xn +dx,yc )をとり、こ
れらのy座標について、 dy=(yc −yB )−(yB −yA ) …(1式) とする要素dyを演算する。
Next, in the difference processing section 9, the thinning processing section 8
Performs a calculation of the difference data sequence D (x) for the thinned data sequence S (x) output by the. FIG. 7 shows details of the calculation method. An appropriate number of pixels dx is set, and the thinned data sequence S
(X) a point on B (x n, y B) for the point A (x n
−dx, y A ) and a point C (x n + dx, y c ), and for these y coordinates, dy = (y c −y B ) − (y B −y A ) (1) Operate the element dy.

【0023】この演算をx座標全域に渡って行い、差分
要素dyをx座標に対応させて配列させた差分データ列
D(x)を作成する。このようにして得られた差分デー
タ列D(x)では、図7でも示すように、疵でない部分
は0に近い値となり、細線化データ列S(x)において
V字型をしている疵部分のみが大きな値となる。
This operation is performed over the entire area of the x-coordinate, and a difference data string D (x) in which the difference elements dy are arranged corresponding to the x-coordinate is created. In the difference data sequence D (x) obtained in this way, as shown in FIG. 7, the non-flaw portion has a value close to 0, and the V-shaped flaw in the thinned data sequence S (x). Only the part has a large value.

【0024】この差分データ列D(x)を用いて疵の判
定をしてもよいが、より判定精度を向上させるために疵
強調処理部10において、第6図に示すように差分デー
タ列D(x)の連続するk個のデータの移動和演算を下
記に示す2式で行う。
The determination of a flaw may be performed by using the difference data string D (x). However, in order to further improve the determination accuracy, the flaw emphasizing processing unit 10 performs the difference data string D (x) as shown in FIG. The moving sum calculation of k pieces of continuous data of (x) is performed by the following two equations.

【0025】[0025]

【数1】 (Equation 1)

【0026】そして、疵部分がさらに強調された疵検出
データ列E(x)を作成する。疵有無判定部11では、
この疵検出データ列E(x)の大きさとあらかじめ設定
した疵検出しきい値とを比較する。そして、疵検出デー
タ列E(x)の全ての要素が疵検出しきい値を超過しな
い場合に疵無しと検出し、その画像での疵検出処理を終
了する。
Then, a flaw detection data string E (x) in which the flaw portion is further emphasized is created. In the flaw presence determination unit 11,
The size of the flaw detection data sequence E (x) is compared with a preset flaw detection threshold. Then, when all the elements of the flaw detection data sequence E (x) do not exceed the flaw detection threshold value, it is detected that there is no flaw, and the flaw detection processing on the image is ended.

【0027】また、図8に示すように、疵検出データ列
E(x)に、疵検出しきい値を超過する要素が存在する
場合には疵有りと検出し、さらに疵深さ判定部12にお
いて疵深さ判定を行う。
As shown in FIG. 8, when an element exceeding the flaw detection threshold value exists in the flaw detection data string E (x), it is detected that a flaw exists, and the flaw depth determination unit 12 The determination of the flaw depth is performed in.

【0028】疵深さ判定部12では、細線化データ列S
(x)を用いて疵深さを測定して疵判定を行う。また、
図9に示すように、細線化データ列S(x)のうちUO
鋼管の母材部分に相当する部分の近似直線を作成し、疵
部分の深さを細線化データ列S(x)の要素が母材部近
似直線上の値を下回る最大の画素数として算出して、さ
らにあらかじめ測定しておいた1画素当たりに対応する
疵深さ方向の長さとの積をとることで、疵の最大深さ値
を算出する。
In the flaw depth determining section 12, the thinned data sequence S
The flaw determination is performed by measuring the flaw depth using (x). Also,
As shown in FIG. 9, UO in the thinned data sequence S (x)
An approximate straight line of a portion corresponding to the base material portion of the steel pipe is created, and the depth of the flaw portion is calculated as the maximum number of pixels in which the element of the thinned data sequence S (x) is less than the value on the base material approximate straight line. Then, the maximum depth value of the flaw is calculated by taking the product of the length and the length in the flaw depth direction corresponding to one pixel, which is measured in advance.

【0029】同様に、鋼管全長に渡って上述した処理を
行い、それによって得た疵有無情報・疵深さ情報は、例
えば製品管理用コンピュータ等の外部機器に伝送する。
Similarly, the above processing is performed over the entire length of the steel pipe, and the flaw presence / absence information and flaw depth information obtained thereby are transmitted to an external device such as a product management computer.

【0030】次に、以上説明した実施例において、具体
的数値を設定して疵を検査した例について説明する。ス
リット光投光器3では、20mWレーザダイオードを2
msecでパルス点灯した。また、撮像装置にはCCD
カメラを用いて、幅方向32mm,深さ方向45mmの
視野で撮像し、その後512×512画素の画像処理装
置を用いて処理した。
Next, an example in which flaws are inspected by setting specific numerical values in the above-described embodiment will be described. In the slit light projector 3, two 20 mW laser diodes are used.
The pulse was turned on for msec. In addition, CCD is used for the imaging device.
An image was taken with a camera in a visual field of 32 mm in the width direction and 45 mm in the depth direction, and then processed using an image processing device of 512 × 512 pixels.

【0031】差分処理部におけるdx=10,疵強調処
理部におけるk=6,疵有無判定部における疵検出しき
い値を30と設定し、UO鋼管の長手方向を2mmピッ
チで検査したところ、0.2mm以上の深さを長手方向
に3mm以上有するアンダーカット疵を確実に検出する
とともに、疵深さを約±0.05mmの精度で判定し
た。
The difference processing section was set to dx = 10, the flaw enhancement processing section was set to k = 6, and the flaw detection threshold value in the flaw presence / absence determination section was set to 30. The longitudinal direction of the UO steel pipe was inspected at a pitch of 2 mm. Undercut flaws having a depth of 0.2 mm or more in the longitudinal direction and 3 mm or more were reliably detected, and the flaw depth was determined with an accuracy of about ± 0.05 mm.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明は上述したように、本発明によれ
ば、UO鋼管における長手方向に沿って位置を変えなが
ら光切断像を生成するとともに、上記光切断像を細線化
処理してX−Y座標におけるX方向について細線化デー
タ列Sn(x)を順次生成し、上記細線化データ列の中
から、所定の点B(X、y)について、上記点Bか
ら任意の画素数dだけ両側方向にそれぞれ離れた第1
の側点A(X−d、y)と第2の側点C(X
、y)を設定し、これらのY座標について差分デ
ータ列の差分要素dyを求める演算をX座標の全域に渡
って順次行うとともに、上記差分要素dyをX座標に対
応させて配列させて差分データ列D(x)を作成し、さ
らに、上記差分データ列D(x)における連続する所定
数の移動和演算を行い、疵部分が強調された疵検出デー
タE(x)を作成し、上記疵検出データE(x)と所定
の比較値とを比較して疵有無の判定を行い、疵有りの場
合には上記細線化データ列Sn(x)を用いて疵の深さ
を測定するようにしたので、肉盛り等起伏のあるUO鋼
管の溶接部の表面にある微細な疵についても高い信頼性
で疵検出を行うことができる。さらに、本発明によれ
ば、疵の有無を判定するのみならず、疵が有る場合には
疵の深さの測定を行うようにしたので、疵深さの情報に
ついても得ることができる。これらにより、本発明は、
UO鋼管の溶接部の自動検査等に良好に適用することが
できる。
According to the present invention, as described above, according to the present invention, an X-ray image is generated while changing the position along the longitudinal direction of the UO steel pipe, and the X-ray image is processed by thinning the X-ray image. thinning data sequence Sn (x) are sequentially generated in the X direction in the -Y coordinate, from among the thinned data string, a predetermined point B (X n, y B) for any number of pixels from the point B d x
Side point A (X n -d x, y A) and the second side point C (X n +
d x , y C ) are set, the calculation for obtaining the difference element dy of the difference data string is sequentially performed over the entire area of the X coordinate for these Y coordinates, and the difference elements dy are arranged in correspondence with the X coordinate. To generate a differential data sequence D (x), and further perform a predetermined number of consecutive moving sum calculations in the differential data sequence D (x) to generate flaw detection data E (x) in which flaw portions are emphasized. The presence or absence of a flaw is determined by comparing the flaw detection data E (x) with a predetermined comparison value. If there is a flaw, the depth of the flaw is measured using the thinned data sequence Sn (x). As a result, the flaw detection can be performed with high reliability even for fine flaws on the surface of the welded portion of the UO steel pipe having undulations such as buildup. Furthermore, according to the present invention, not only is the presence or absence of a flaw determined, but if there is a flaw, the depth of the flaw is measured, so that information on the flaw depth can also be obtained. By these, the present invention,
The present invention can be suitably applied to automatic inspection of a welded portion of a UO steel pipe.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を説明するための疵検査装置
のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a flaw inspection device for explaining one embodiment of the present invention.

【図2】スリット光投光器の一例の概略を示す構成図で
ある。
FIG. 2 is a configuration diagram schematically showing an example of a slit light projector.

【図3】検出すべき疵である溶接部のアンダーカット疵
の概略形状を示すUO鋼管の部分斜視図である。
FIG. 3 is a partial perspective view of a UO steel pipe showing a schematic shape of an undercut flaw in a weld portion, which is a flaw to be detected.

【図4】図3中のA−A’線に沿う断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line A-A 'in FIG.

【図5】図3中のB−B’線に沿う光切断像を示す図で
ある。
FIG. 5 is a diagram showing a light-section image taken along line BB ′ in FIG. 3;

【図6】細線化処理部で行う処理の内容を示す説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the contents of processing performed by a thinning processing unit.

【図7】差分処理部で行う差分処理の内容を示す説明図
である。
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating the content of a difference process performed by a difference processing unit.

【図8】疵強調処理部で行う複数画素の移動和による処
理を示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating a process based on a moving sum of a plurality of pixels performed by a flaw enhancement processing unit.

【図9】疵深さ判定部で行う疵深さ測定の方法を示す説
明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating a method of measuring the flaw depth performed by the flaw depth determination unit.

【図10】溶接部の端部に発生するアンダーカット疵の
概略形状を示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a schematic shape of an undercut flaw generated at an end of a welded portion.

【図11】図10中のA−A’線に沿う断面図である。FIG. 11 is a sectional view taken along line A-A 'in FIG.

【図12】図10中のC−C’線に沿う断面図である。FIG. 12 is a sectional view taken along the line C-C 'in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 UO鋼管 2 UO鋼管溶接部 3 スリット光投光器 4 スリット光 5 撮像装置 6 疵検出処理部 7 画像記憶部 8 細線化処理部 9 差分処理部 10 疵強調処理部 11 疵有無判定部 12 疵深さ判定部 REFERENCE SIGNS LIST 1 UO steel pipe 2 UO steel pipe welded part 3 slit light projector 4 slit light 5 imaging device 6 flaw detection processing part 7 image storage part 8 thinning processing part 9 difference processing part 10 flaw enhancement processing part 11 flaw presence / absence judgment part 12 flaw depth Judgment unit

フロントページの続き (72)発明者 高嶋 和夫 尼崎市塚口本町8−1−1 三菱電機株 式会社 産業システム研究所内 (72)発明者 植木 勝也 神戸市兵庫区和田崎町1−1−2 三菱 電機株式会社 制御製作所内 (56)参考文献 特開 平1−227910(JP,A) 特開 平1−224649(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/84 - 21/91 Continued on the front page (72) Inventor Kazuo Takashima 8-1-1 Tsukaguchi Honcho, Amagasaki City Mitsubishi Electric Corporation In-house Research Institute of Industrial Systems (72) Inventor Katsuya Ueki 1-1-2 Wadazakicho, Hyogo-ku, Kobe Mitsubishi Electric (56) References JP-A-1-227910 (JP, A) JP-A-1-224649 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G01N 21 / 84-21/91

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 スリット光をUO鋼管溶接部及びその近
傍に照射するとともに、上記スリット光を撮像装置によ
り撮像して得た光切断像を用いて溶接部の疵を検出する
UO鋼管の溶接部表面疵検査方法において、 上記UO鋼管における長手方向に沿って位置を変えなが
ら、上記光切断像を細線化処理して、X−Y座標におけ
るX方向について細線化データ列Sn(x)を順次生成
する第1の処理と、 上記第1の処理によって順次生成される細線化データ列
Sn(x)をデータ列記憶部に記憶する第2の処理と、 上記データ列記憶部に記憶された細線化データ列の中か
ら、細線化データ列S(x)上にある点B(X
)について、上記点Bから任意の画素数dだけ両
側方向にそれぞれ離れた第1の側点A(X−d、y
)と第2の側点C(X+d、y)を設定し、こ
れらのY座標について差分データ列の差分要素dyを求
める演算をX座標の全域に渡って順次行う第3の処理
と、 上記第3の処理によって順次求められる差分要素dyを
X座標に対応させて配列させた差分データ列D(x)を
作成する第4の処理と、 上記第4の処理で作成した差分データ列D(x)におけ
る連続する所定数の移動和演算を行い、疵部分が強調さ
れた疵検出データE(x)を作成する第5の処理と、 上記第5の処理で作成した疵検出データE(x)と所定
の比較値とを比較して疵有無の判定を行う第6の処理
と、 上記第6の処理において疵有りと判定された場合に、上
記細線化データ列Sn(x)を用いて疵の深さを測定す
る第7の処理とを行うことを特徴とするUO鋼管の溶接
部表面疵検査方法。
1. A welded part of a UO steel pipe, which irradiates a slit light to a welded part of a UO steel pipe and its vicinity, and detects a flaw in the welded part by using a light section image obtained by imaging the slit light by an imaging device. In the surface defect inspection method, the light-section image is subjected to thinning processing while changing the position along the longitudinal direction of the UO steel pipe to sequentially generate a thinned data string Sn (x) in the X direction on the XY coordinate. A first process to store the thinned data sequence Sn (x) sequentially generated by the first process in a data sequence storage unit; and a thinning process stored in the data sequence storage unit. From the data sequence, a point B (X n ,
y B ), a first side point A (X n −d x , y) separated from the point B by an arbitrary number of pixels d x in both side directions.
A ) and a second side point C (X n + d x , y C ) are set, and for these Y coordinates, a calculation for obtaining a difference element dy of a difference data sequence is sequentially performed over the entire X coordinate. Processing, a fourth processing of creating a difference data sequence D (x) in which the difference elements dy sequentially obtained by the third processing are arranged in correspondence with the X coordinates, and a difference created by the fourth processing. Fifth processing in which a predetermined predetermined number of consecutive moving sum calculations in the data string D (x) are performed to generate flaw detection data E (x) in which flaws are emphasized; and flaw detection generated in the fifth processing. A sixth process of comparing the data E (x) with a predetermined comparison value to determine the presence or absence of a flaw; and, when it is determined in the sixth process that there is a flaw, the thinned data sequence Sn (x )) And a seventh process of measuring the depth of the flaw using Weld surface defect inspection method of UO pipe.
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