JP2923294B1 - Strain measurement method - Google Patents

Strain measurement method

Info

Publication number
JP2923294B1
JP2923294B1 JP22437398A JP22437398A JP2923294B1 JP 2923294 B1 JP2923294 B1 JP 2923294B1 JP 22437398 A JP22437398 A JP 22437398A JP 22437398 A JP22437398 A JP 22437398A JP 2923294 B1 JP2923294 B1 JP 2923294B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
strain
strain gauge
gauge
measurement
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP22437398A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000055609A (en
Inventor
晴樹 岡野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKYO SOTSUKI KENKYUSHO KK
Original Assignee
TOKYO SOTSUKI KENKYUSHO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOKYO SOTSUKI KENKYUSHO KK filed Critical TOKYO SOTSUKI KENKYUSHO KK
Priority to JP22437398A priority Critical patent/JP2923294B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2923294B1 publication Critical patent/JP2923294B1/en
Publication of JP2000055609A publication Critical patent/JP2000055609A/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

【要約】 【課題】物体のひずみ測定を、該物体に貼着するひずみ
ゲージの交換後であっても精度よく行うことができるひ
ずみ測定方法を提供する。 【解決手段】交換前のひずみゲージ1aを含むブリッジ
回路16の出力電圧eに基づき最後に把握された物体の
ひずみε1 と、交換後のひずみゲージ1bを含むブリッ
ジ回路16の出力電圧eに基づき把握される交換時点か
らの物体のひずみΔε2 とから次式の演算により求まる
値ε2 をひずみ測定の開始時からの物体のひずみε2
して測定する。 【数1】
An object of the present invention is to provide a strain measurement method capable of accurately performing strain measurement of an object even after replacing a strain gauge attached to the object. And strain epsilon 1 of the last grasp the object based on the output voltage e of the bridge circuit 16 including the A before replacement strain gauge 1a, based on the output voltage e of the bridge circuit 16 including a strain gauge 1b after replacement A value ε 2 obtained by the following equation from the grasped strain Δε 2 of the object from the exchange time is measured as the strain ε 2 of the object from the start of the strain measurement. (Equation 1)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ひずみゲージを用
いたひずみ測定方法に関する。
The present invention relates to a strain measuring method using a strain gauge.

【0002】[0002]

【従来の技術】物体に生じるひずみの測定方法として
は、ひずみに応じた抵抗値変化を生じるひずみゲージを
物体に貼着すると共に、このひずみゲージを含む適宜の
回路(以下、ここでは測定回路と称する)により該ひず
みゲージの抵抗値に応じた測定信号を生成し、該測定信
号に基づき物体のひずみ(=ひずみゲージのひずみ)を
把握する手法が従来より知られている。
2. Description of the Related Art As a method of measuring a strain generated in an object, a strain gauge which generates a resistance value change according to the strain is attached to the object, and an appropriate circuit including the strain gauge (hereinafter referred to as a measuring circuit and a measuring circuit). Conventionally, a method of generating a measurement signal corresponding to the resistance value of the strain gage and grasping the strain of the object (= strain of the strain gage) based on the measurement signal has been known.

【0003】この場合、上記測定回路としては、通常、
前記ひずみゲージを一辺に有し、且つ他の三辺に所定抵
抗値の抵抗体を有するブリッジ回路(詳しくはホイート
ストンブリッジ回路)が一般的に用いられている。
In this case, the measuring circuit is usually
A bridge circuit (specifically, a Wheatstone bridge circuit) having the strain gauge on one side and a resistor having a predetermined resistance value on the other three sides is generally used.

【0004】尚、本明細書では、「ひずみ」はより正確
には、物体の圧縮又は引っ張り方向でのひずみ(圧縮ひ
ずみ又は引っ張りひずみ)を意味するものとする。
[0004] In the present specification, "strain" more precisely means a strain (compression strain or tensile strain) in the compression or tension direction of an object.

【0005】ところで、物体に生じるひずみを測定しよ
うとする場合、一般に、そのひずみが、測定開始時点か
ら経時的にどのような変化を呈するかを観測することが
重要となる。そして、この場合、測定開始時点から物体
に生じるひずみがさほど大きくならないような場合に
は、測定開始時点で物体に貼着したひずみゲージをその
まま用いて、ひずみ測定を連続的もしくは断続的に継続
することができる。
When it is desired to measure a strain generated in an object, it is generally important to observe how the strain changes over time from the start of the measurement. Then, in this case, when the strain generated in the object does not become so large from the measurement start time, the strain measurement is continuously or intermittently continued using the strain gauge attached to the object at the measurement start time. be able to.

【0006】しかるに、物体に生じるひずみが大きなも
のとなるような場合のひずみ測定(大ひずみ測定)で
は、物体のひずみに伴うひずみゲージ自体のひずみが、
該ひずみゲージの耐久限界を超えて、該ひずみゲージが
破損してしまう虞れがある。
[0006] However, in the strain measurement (large strain measurement) in which the strain generated in the object becomes large, the strain of the strain gauge itself accompanying the strain of the object is expressed as follows.
There is a possibility that the strain gauge may be broken beyond the durability limit of the strain gauge.

【0007】このため、このようなひずみ測定では、把
握されるひずみがある程度大きくなったら、物体に貼着
するひずみゲージを新たなものに交換してひずみ測定を
継続するようにしている。
For this reason, in such strain measurement, when the strain to be grasped increases to some extent, the strain gauge to be attached to the object is replaced with a new one to continue the strain measurement.

【0008】また、上記のような大ひずみ測定とならな
い場合であっても、物体に貼着したひずみゲージが、こ
れになんらかの異物がぶつかる等して破損した場合に
は、該ひずみゲージを新たなものと交換してひずみ測定
を継続することが行われる。
[0008] Even in the case where the large strain measurement is not performed as described above, if the strain gauge attached to the object is broken by any foreign matter hitting it, a new strain gauge is attached. The strain measurement is continued in exchange for the one.

【0009】この場合、新たなひずみゲージを物体に貼
着したときには、該ひずみゲージは無ひずみ状態である
から、交換後のひずみゲージを用いて測定されるひずみ
は、その交換時点からのひずみである。
In this case, when a new strain gauge is attached to an object, the strain gauge is in a strain-free state. Therefore, the strain measured using the replaced strain gauge is the strain from the time of replacement. is there.

【0010】そして、従来は、交換前のひずみゲージを
用いて最後に把握されたひずみに、交換後のひずみゲー
ジを用いて把握されるひずみを加算したものが物体のひ
ずみ測定の開始時点からのひずみであると考え、ひずみ
ゲージの交換後には、上記の加算演算を演算を行うこと
で、ひずみ測定の開始時点からの物体のひずみを把握す
るようにしていた。
Conventionally, the value obtained by adding the strain grasped by using the strain gauge after replacement to the strain finally grasped by using the strain gauge before replacement is calculated from the start of the strain measurement of the object. Considering the strain, after replacing the strain gauge, the above-described addition operation is performed to obtain the strain of the object from the start of the strain measurement.

【0011】すなわち、従来は、交換前のひずみゲージ
を用いて最後に把握されたひずみをε1 、交換後のひず
みゲージを用いて所望のタイミングで把握されるひずみ
をΔε2 としたとき、ひずみゲージの交換後には、次式
(2)の加算演算により求まる値εを、物体のひずみ測
定の開始時点からのひずみεとして把握する。
That is, conventionally, when the strain finally grasped by using the strain gauge before replacement is ε 1 and the strain grasped at a desired timing by using the strain gauge after replacement is Δε 2 , After the replacement of the gauge, the value ε obtained by the addition operation of the following equation (2) is grasped as the strain ε from the start of the strain measurement of the object.

【0012】[0012]

【数2】 (Equation 2)

【0013】しかしながら、本願発明者等の検討によっ
て、このような演算では、実際には、物体のひずみ測定
の開始時点からのひずみεを精度よく把握することはで
きないことが判明した。
[0013] However, the present inventors have studied that it has been found that such calculation cannot actually accurately grasp the strain ε from the start of the strain measurement of the object.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる背景に
鑑み、物体のひずみ測定を、該物体に貼着するひずみゲ
ージの交換後であっても精度よく行うことができるひず
み測定方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the foregoing, the present invention provides a strain measuring method capable of accurately measuring the strain of an object even after replacing a strain gauge attached to the object. The purpose is to:

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本願発明者等は、物体に
貼着するひずにゲージを測定途中で交換する場合につい
て、詳細に検討した結果、次のことを知見した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present application have studied in detail the case of replacing a gauge in the course of measurement with a strain attached to an object, and have found the following.

【0016】例えば長さL0 の物体に生じるひずみを測
定すべく該物体に無ひずみ状態のひずみゲージを貼着し
た場合を想定する。このとき、該物体が、その長さ方向
に圧縮又は引っ張り荷重を受けて、その長さがΔL1
け変化したとすると、該物体のひずみε1 は、次式
(3)に示すように物体の長さの当初の長さL0 (ひず
み測定の開始時点の物体の長さL0 )に対する変化分Δ
1 の比として定義される。
For example, assume that a strain gauge in an unstrained state is attached to an object having a length L 0 in order to measure a strain generated in the object. At this time, assuming that the object receives a compressive or tensile load in its length direction and its length changes by ΔL 1 , the strain ε 1 of the object is expressed by the following equation (3). variation for the initial length of the length L 0 (length of the object at the start of the strain measurement L 0) delta
It is defined as the ratio of L 1.

【0017】[0017]

【数3】 (Equation 3)

【0018】尚、このひずみε1 と、長さL0 の状態で
物体に貼着したひずみゲージの抵抗値との間には、次式
(4)の関係式が成立する。
Note that the following equation (4) holds between the strain ε 1 and the resistance value of the strain gauge attached to the object in the state of the length L 0 .

【0019】[0019]

【数4】 (Equation 4)

【0020】ここで、式(4)において、Kはひずみゲ
ージのゲージ率、R0 はひずみゲージの無ひずみ状態で
の抵抗値(ひずみゲージの公称抵抗値)、ΔRは物体の
長さの変化分ΔL1 に応じたひずみゲージの抵抗値の変
化分である。
Here, in equation (4), K is the gauge factor of the strain gauge, R 0 is the resistance value of the strain gauge in an unstrained state (nominal resistance value of the strain gauge), and ΔR is the change in the length of the object. The change in the resistance value of the strain gauge according to the minute ΔL 1 .

【0021】ひずみゲージを用いたひずみ測定では、上
記の抵抗値変化分ΔRに相当する測定信号を該ひずみゲ
ージを含む回路によって生成する。そして、その測定信
号から上記(4)の関係式を基礎として、ひずみε1
測定する。
In a strain measurement using a strain gauge, a measurement signal corresponding to the above-mentioned resistance change ΔR is generated by a circuit including the strain gauge. Then, the strain ε 1 is measured from the measurement signal based on the relational expression (4).

【0022】次に、上記のように物体の長さがL0 から
ΔL1 だけ変化した状態で、物体に貼着するひずみゲー
ジを新たなものに交換したとする。つまり、物体の長さ
が(L0 +ΔL1 )の状態で、先に物体に貼着していた
ひずみゲージを剥がし、それと同じ箇所に無ひずみ状態
の新たなひずみゲージを貼着したとする。そして、この
ひずみゲージの交換後に物体の長さがさらにΔL2 だけ
変化したとすると、物体の長さの当初の長さL0 からの
変化分は(ΔL1 +ΔL2 )であるから、この状態にお
ける物体のひずみ測定の開始時点からのひずみは、これ
をε2 とおくと、次式(5)により表される。
Next, it is assumed that the strain gauge to be attached to the object is replaced with a new one while the length of the object has changed from L 0 by ΔL 1 as described above. In other words, it is assumed that the strain gauge previously attached to the object is peeled off in a state where the length of the object is (L 0 + ΔL 1 ), and a new strain gauge in a non-strain state is attached to the same place. If the length of the object further changes by ΔL 2 after the replacement of the strain gauge, the change in the length of the object from the initial length L 0 is (ΔL 1 + ΔL 2 ). The strain from the start of the strain measurement of the object at is represented by the following equation (5), where ε 2 is set.

【0023】[0023]

【数5】 (Equation 5)

【0024】また、交換後の新たなひずみゲージは、物
体の長さが(L0 +ΔL1 )の状態において無ひずみ状
態で貼着されたものであるから、その新たなひずみゲー
ジを用いて、交換前のひずみゲージの場合と同様に測定
されるひずみは、これをΔε 2 とおくと、次式(6)に
より表される。
The new strain gauge after replacement is
If the body length is (L0+ ΔL1) State without strain
The new strain gauge
With the same gauge as before the replacement
The strain that is TwoThen, the following equation (6)
Is represented by

【0025】[0025]

【数6】 (Equation 6)

【0026】すなわち、ひずみゲージの交換後に新たな
ひずみゲージを用いて測定されるひずみΔε2 は、その
交換時点(新たなひずみゲージの貼着時点)における物
体の長さ(L0 +ΔL1 )に対する、該交換時点からの
物体の長さの変化分ΔL2 の比である。
That is, the strain Δε 2 measured using the new strain gauge after the replacement of the strain gauge is equal to the length (L 0 + ΔL 1 ) of the object at the time of the replacement (at the time of attaching the new strain gauge). , The ratio of the change ΔL 2 in the length of the object from the time of the replacement.

【0027】このことからひずみ測定途中でひずみゲー
ジを交換した場合には、従来のように、交換前のひずみ
ゲージを用いて最後に把握された物体のひずみ(これ
は、式(3)により表されるひずみε1 に相当する)
に、交換後のひずみゲージを用いて把握される物体のひ
ずみ(これは式(6)により表されるひずみΔε2 に相
当する)を前記式(2)のように加算しても、測定開始
時点からの物体のひずみε 2 を正しく把握することはで
きないことが判る。実際、式(3)により表されるひず
みε1 に、式(6)により表されるひずみΔε2 を加算
しても、式(5)により表される本来の測定すべきひず
みε2 を得ることはできない。
From this, it is apparent that strain gauge
When replacing the strain, the strain before replacement
The strain of the object that was last grasped using the gauge (this
Is the strain ε expressed by equation (3)1Is equivalent to
Of the object grasped using the replaced strain gauge
Strain (this is the strain Δε expressed by equation (6)TwoPhase
(2), the measurement is started.
Body strain ε from time TwoIt is not possible to grasp
It turns out that you can't. In fact, the strain represented by equation (3)
Only ε1And the strain Δε expressed by equation (6)TwoAdd
However, the original strain to be measured represented by equation (5)
Only εTwoCan not get.

【0028】一方、前記式(6)によって、ΔL2 =Δ
ε2 ・(L0 +ΔL1 )であるから、これを式(5)に
代入して整理すると、次式(7)が得られる。
On the other hand, according to the above equation (6), ΔL 2 = Δ
Since ε 2 · (L 0 + ΔL 1 ), the following equation (7) is obtained by substituting this into equation (5) and rearranging it.

【0029】[0029]

【数7】 (Equation 7)

【0030】そして、この式(7)において、(ΔL1
/L0 )は、式(3)に示したように、物体の長さが
(L0 +ΔL1 )の状態でのひずみε1 であり、このひ
ずみε 1 は、交換前のひずみゲージを用いて最後(交換
の直前)に把握されるひずみである。
Then, in this equation (7), (ΔL1
/ L0) Is, as shown in equation (3),
(L0+ ΔL1Strain ε in the state of)1And this
Ε 1Using the strain gauge before replacement
Immediately before).

【0031】従って、ひずみゲージの交換後には、物体
のひずみ測定の開始時点からのひずみε2 は、次式
(8)によって正しく求めることができる。
Therefore, after the replacement of the strain gauge, the strain ε 2 from the start of the strain measurement of the object can be correctly obtained by the following equation (8).

【0032】[0032]

【数8】 (Equation 8)

【0033】これが本発明によるひずみ測定の原理であ
る。
This is the principle of strain measurement according to the present invention.

【0034】そこで、本発明のひずみ測定方法は、前記
の目的を達成するために、物体のひずみに応じた抵抗値
変化を生じるように該物体に貼着したひずみゲージを含
む回路により該ひずみゲージの抵抗値に応じた測定信号
を生成し、その測定信号に基づき前記物体のひずみを測
定するひずみ測定方法において、その測定途中で前記ひ
ずみゲージを新たなひずみゲージに交換したときに、該
ひずみゲージの交換後にひずみ測定の開始時からの物体
のひずみを測定するための方法であって、前記交換前の
ひずみゲージを含む回路の測定信号に基づき最後に把握
された前記物体のひずみε1 と、前記交換後のひずみゲ
ージを含む回路の測定信号に基づき把握される該交換時
点からの前記物体のひずみΔε2 とから前記の式(8)
の演算により求まる値ε2 をひずみ測定の開始時点から
の前記物体のひずみε2 として測定することを特徴とす
る。
Therefore, in order to achieve the above object, the strain measuring method of the present invention uses a circuit including a strain gauge attached to an object so as to generate a resistance value change according to the strain of the object. In the strain measurement method of generating a measurement signal according to the resistance value of, and measuring the strain of the object based on the measurement signal, when replacing the strain gauge with a new strain gauge during the measurement, the strain gauge A method for measuring the strain of the object from the start of the strain measurement after the replacement of, the strain ε 1 of the object finally grasped based on the measurement signal of the circuit including the strain gauge before the replacement, From the strain Δε 2 of the object from the time of the replacement, which is grasped based on the measurement signal of the circuit including the strain gauge after the replacement, the above equation (8)
Characterized by measuring the strain epsilon 2 of the object from the beginning of the calculated value epsilon 2 strain measurement by calculation.

【0035】かかる発明によれば、式(8)の演算によ
り求まる値ε2 をひずみ測定の開始時点からの前記物体
のひずみε2 として測定することで、測定途中でひずみ
ゲージを交換した場合に、その交換後も、ひずみ測定の
開始時点からの物体のひずみε2 を精度よく測定するこ
とができる。
According to this invention, the value ε 2 obtained by the calculation of the equation (8) is measured as the strain ε 2 of the object from the start of the strain measurement, so that the strain gauge can be replaced during the measurement. after the replacement may also be measured accurately strain epsilon 2 of the object from the beginning of the strain measurement.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図1乃至図
3を参照して説明する。図1は本発明の実施形態を適用
するひずみ測定装置の回路構成図、図2は図1の装置の
要部の回路構成図、図3は図1の装置の作動を説明する
ためのフローチャートである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 is a circuit configuration diagram of a strain measuring apparatus to which an embodiment of the present invention is applied, FIG. 2 is a circuit configuration diagram of a main part of the apparatus of FIG. 1, and FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the apparatus of FIG. is there.

【0037】図1を参照して、本実施形態のひずみ測定
装置10は、所謂1ゲージ3線法によるひずみ測定(よ
り詳しくは圧縮・引張ひずみの測定)を行うものであ
り、物体に貼着するひずみゲージ1aの両端にあらかじ
め結線された一対のリード線2a,3aをそれぞれ接続
する接続端子11,12と、ひずみゲージ1aのリード
線3a側の一端に該リード線3aと共に結線されたサブ
リード線4aを接続する接続端子13とが備えられてい
る。
Referring to FIG. 1, a strain measuring apparatus 10 according to the present embodiment performs a strain measurement by a so-called one-gauge three-wire method (more specifically, a measurement of compression / tensile strain), and is attached to an object. Connection terminals 11 and 12 for connecting a pair of lead wires 2a and 3a respectively connected to both ends of the strain gauge 1a to be connected in advance, and a sub-lead wire connected to one end of the strain gauge 1a on the lead wire 3a side together with the lead wire 3a. 4a are provided.

【0038】尚、図中、参照符号1bを付したものは、
後述する測定途中でひずみゲージ1aに代えてひずみ測
定装置10に接続するひずみゲージであり、このひずみ
ゲージ1bにも、ひずみゲージ1aと同様に接続端子1
1〜13に接続するための三本のリード線2b,3b,
4bが結線されている。以下の説明においては、ひずみ
ゲージ1a,1bを特に区別する必要がないときは、そ
れらをひずみゲージ1と総称し、また、これと同様に、
リード線2a,2bをリード線2、リード線3a,3b
をリード線2、サブリード線4a,4bをサブリード線
4と総称する。
[0038] In the figure, those given the reference numeral 1b are:
This is a strain gauge connected to the strain measuring device 10 in place of the strain gauge 1a during the later-described measurement. This strain gauge 1b has the same connection terminal 1 as the strain gauge 1a.
Three lead wires 2b, 3b,
4b is connected. In the following description, when it is not necessary to particularly distinguish the strain gauges 1a and 1b, they are collectively referred to as a strain gauge 1, and similarly,
Lead wires 2a and 2b are replaced with lead wire 2, lead wires 3a and 3b
Are referred to as a lead wire 2 and the sub lead wires 4a and 4b are referred to as a sub lead wire 4.

【0039】上記ひずみ測定装置10は、その構成を大
別すると測定ユニット14と、コントロールユニット1
5とから構成されている。
The structure of the strain measuring device 10 is roughly divided into a measuring unit 14 and a control unit 1.
And 5.

【0040】測定ユニット14は、ひずみゲージ1と併
せて図2に示すブリッジ回路(ホイートストンブリッジ
回路)16を構成するための抵抗体17,18,19を
内蔵している。
The measuring unit 14 incorporates resistors 17, 18, and 19 for constituting a bridge circuit (Wheatstone bridge circuit) 16 shown in FIG.

【0041】これらの抵抗体17,18,19は例えば
固定抵抗値の抵抗素子により構成されたもので、ひずみ
ゲージ1のリード線2,3をそれぞれ接続端子11,1
2に接続したとき、ひずみゲージ1を一辺に有し、且つ
残りの三辺に抵抗体17,18,19を有するブリッジ
回路16が構成されるように、図示しない回路基盤に形
成された回路パターンを介して相互に接続されていると
共に、前記接続端子11,12に接続されている。
These resistors 17, 18 and 19 are, for example, constituted by resistance elements having a fixed resistance value, and lead wires 2 and 3 of the strain gauge 1 are connected to connection terminals 11 and 1 respectively.
2, a circuit pattern formed on a circuit board (not shown) such that a bridge circuit 16 having the strain gauge 1 on one side and resistors 17, 18, and 19 on the remaining three sides is configured. And are connected to the connection terminals 11 and 12.

【0042】上記ブリッジ回路16は、ひずみゲージ1
の抵抗値に応じた測定信号を生成するものであり、該ブ
リッジ回路16の一対の電源入力部I1 ,I2 間に電源
電圧V(一定電圧)を付与したとき、該ブリッジ回路1
6の一対の出力部O1 ,O2間に、ひずみゲージ1の抵
抗値に応じた出力電圧e(測定信号)を生成する。
The bridge circuit 16 includes the strain gauge 1
When a power supply voltage V (constant voltage) is applied between the pair of power supply input portions I 1 and I 2 of the bridge circuit 16, the bridge circuit 1 generates a measurement signal corresponding to the resistance value of the bridge circuit 1.
6, an output voltage e (measurement signal) corresponding to the resistance value of the strain gauge 1 is generated between the pair of output portions O 1 and O 2 .

【0043】ここで、ブリッジ回路16の一対の電源入
力部I1 ,I2 は図2に示す如く、ひずみゲージ1のリ
ード線2と抵抗体18との接続部位もしくはこれと同電
位の部分、並びに、抵抗体17と抵抗体19との接続部
位もしくはこれと同電位の部分である。また、ブリッジ
回路16の一対の出力部O1 ,O2 は、前記リード線3
及びサブリード線4を結線したひずみゲージ1の一端、
並びに、前記抵抗体17と抵抗体18との接続部位もし
くはこれと同電位の部分である。
Here, as shown in FIG. 2, a pair of power input portions I 1 and I 2 of the bridge circuit 16 are connected to the lead wire 2 of the strain gauge 1 and the resistor 18 or to a portion having the same potential as this. In addition, it is a connection portion between the resistor 17 and the resistor 19 or a portion having the same potential as this. The pair of output portions O 1 and O 2 of the bridge circuit 16 are connected to the lead wire 3.
And one end of the strain gauge 1 to which the sub-lead wire 4 is connected,
And a connection portion between the resistor 17 and the resistor 18 or a portion having the same potential as the connection portion.

【0044】尚、抵抗体17,18,19のそれぞれの
抵抗値R2 〜R4 は、通常は、ブリッジ回路16に組み
込まれるひずみゲージ1の無ひずみ状態においてブリッ
ジ回路16が平衡する(出力電圧eが「0」もしくは微
小なものとなる)ように、測定器に接続すべきひずみゲ
ージの無ひずみ状態における基準抵抗値(公称抵抗値)
に等しいものとされる。但し、本実施形態では、ひずみ
測定に際して検出可能な出力電圧eをブリッジ回路16
が生成し得るものであれば、抵抗体17,18,19の
それぞれの抵抗値R2 〜R4 は、必ずしも上記のように
設定しておく必要はない。
The resistance values R 2 to R 4 of the resistors 17, 18, 19 are usually balanced by the bridge circuit 16 when the strain gauge 1 incorporated in the bridge circuit 16 has no strain (output voltage). The reference resistance value (nominal resistance value) of the strain gauge to be connected to the measuring instrument in the unstrained state so that e becomes "0" or a minute value.
Is assumed to be equal to However, in the present embodiment, the output voltage e detectable at the time of strain measurement is set to the bridge circuit 16.
Is not necessarily required to be set as described above if the resistance values R 2 to R 4 of the resistors 17, 18 and 19 can be generated.

【0045】また、測定ユニット14には、ブリッジ回
路16の電源電圧Vを外部から入力するための一対の電
源入力端子20,21と、ブリッジ回路16の一対の出
力部O1 ,O2 に生成される出力電圧e、及びブリッジ
回路16の抵抗体19を有する辺に生じる電圧V4 のい
ずれかを外部に出力するための一対の出力端子22,2
3とが備えられている。
The measuring unit 14 has a pair of power input terminals 20 and 21 for externally inputting a power supply voltage V of the bridge circuit 16 and a pair of output portions O 1 and O 2 of the bridge circuit 16. A pair of output terminals 22 and 2 for outputting any one of the output voltage e and the voltage V 4 generated on the side having the resistor 19 of the bridge circuit 16 to the outside.
3 are provided.

【0046】そして、電源入力端子20,21は、それ
ぞれブリッジ回路16の電源入力部I1 ,I2 に接続さ
れ、出力端子22,23はそれぞれブリッジ回路16の
出力端子O1 ,O2 に接続されている。
The power input terminals 20 and 21 are connected to the power input portions I 1 and I 2 of the bridge circuit 16, respectively, and the output terminals 22 and 23 are connected to the output terminals O 1 and O 2 of the bridge circuit 16, respectively. Have been.

【0047】コントロールユニット15は、前記測定ユ
ニット14の一対の電源入力端子20,21に接続され
て、該電源入力端子20,21を介してブリッジ回路1
6の電源入力部I1 ,I2 間に付与する電源電圧V(定
電圧)を生成するブリッジ電源回路24と、測定ユニッ
ト14の一対の出力端子22,23に接続されて、該出
力端子22,23間に発生するブリッジ回路16の出力
電圧eを増幅する増幅回路25と、この増幅回路25の
出力をA/D変換するA/D変換回路26と、後述の各
種データ処理や制御処理を行う制御回路27と、後述の
各種データや制御回路27が行う処理に必要なプログラ
ム等を記憶保持する記憶回路28と、制御回路27によ
り表示回路29を介して駆動され、ひずみ測定値等を表
示する表示器30と、制御回路27がコントロールユニ
ット15の外部の図示しない操作器やパーソナルコンピ
ュータ等との間で各種データの授受を行うためのインタ
ーフェース回路31と、コントロールユニット15全体
の電源電圧を商用電源等から生成する主電源回路32と
を備えている。尚、制御回路27はマイクロプロセッサ
等により構成され、また、記憶回路28は、ROM,R
AM,EEPROM等により構成されたものである。ま
た、コントロールユニット15の電源として電池を使用
するようにしてもよい。
The control unit 15 is connected to a pair of power input terminals 20 and 21 of the measuring unit 14 and is connected to the bridge circuit 1 via the power input terminals 20 and 21.
6, a bridge power supply circuit 24 for generating a power supply voltage V (constant voltage) applied between the power supply input units I 1 and I 2 , and a pair of output terminals 22 and 23 of the measurement unit 14. , 23, an amplifier circuit 25 for amplifying the output voltage e of the bridge circuit 16, an A / D converter circuit 26 for A / D converting the output of the amplifier circuit 25, and various data processing and control processing described later. A control circuit 27 for performing the operation, a storage circuit 28 for storing various data to be described later, programs necessary for the processing performed by the control circuit 27, and the like, are driven by the control circuit 27 via a display circuit 29, and display strain measurement values and the like. And an interface circuit 3 for the control circuit 27 to transmit and receive various data between an operating device (not shown) and a personal computer outside the control unit 15. When, and a main power supply circuit 32 for generating the power supply voltage of the entire control unit 15 from a commercial power supply or the like. The control circuit 27 is composed of a microprocessor or the like, and the storage circuit 28 is a ROM, an R,
It is composed of an AM, an EEPROM and the like. Further, a battery may be used as the power supply of the control unit 15.

【0048】この場合、本実施形態のひずみ測定装置1
0では、コントロールユニット24の制御回路27は、
後述の如く検出されるブリッジ回路16の出力電圧eの
データ等から例えば次式(9)の演算を行うことで、ひ
ずみゲージ1を貼着する物体のひずみε(より正確には
ひずみゲージ1を物体に貼着した時点からのひずみ)を
求めるようにしている。
In this case, the strain measuring device 1 of the present embodiment
At 0, the control circuit 27 of the control unit 24
By calculating, for example, the following equation (9) from the data of the output voltage e of the bridge circuit 16 detected as described later, the strain ε (more precisely, the strain gauge 1 (Distortion from the time of sticking to the object).

【0049】[0049]

【数9】 (Equation 9)

【0050】ここで、この式(9)において、Vは前述
の通りブリッジ回路16の電源電圧であり、Kはひずみ
ゲージ1のゲージ率、R0 はひずみゲージ1の無ひずみ
状態における基準抵抗値(ひずみゲージ1の公称抵抗
値)である。また、R3 ,R4はそれぞれ抵抗体18,
19の抵抗値である。また、rはブリッジ回路16にお
けるひずみゲージ1と同じ辺に組み込まれるリード線の
抵抗値であり、これは、本実施形態の1ゲージ3線法に
よる測定ではリード線2の抵抗値r1 である。
Here, in the equation (9), V is the power supply voltage of the bridge circuit 16 as described above, K is the gauge factor of the strain gauge 1, and R 0 is the reference resistance value of the strain gauge 1 in the non-strain state. (Nominal resistance value of the strain gauge 1). R 3 and R 4 are resistors 18,
19 is the resistance value. Further, r is the resistance of the lead to be incorporated into the same side as the strain gauge 1 in the bridge circuit 16, which is the resistance value r 1 of the lead wire 2 as measured by 1 gage three-wire method of the present embodiment .

【0051】また、e0 はブリッジ回路16に組み込ま
れるひずみゲージ1の無ひずみ状態において該ブリッジ
回路16に電源電圧Vを付与したときに該ブリッジ回路
16が出力部O1 ,O2 間に生成する出力電圧(以下、
これを初期不平衡出力電圧e 0 という)である。さら
に、eはひずみゲージ1を測定対象の物体に貼着した状
態でブリッジ回路16に電源電圧Vを付与したとき(ひ
ずみ測定時)にブリッジ回路16が出力部O1 ,O2
に生成する出力電圧である。
Also, e0Is built into the bridge circuit 16
When the strain gauge 1 is in a strain-free state, the bridge
When the power supply voltage V is applied to the circuit 16, the bridge circuit
16 is the output unit O1, OTwoThe output voltage generated during (below,
This is the initial unbalanced output voltage e 0It is). Further
And e is the state where the strain gauge 1 is attached to the object to be measured.
When the power supply voltage V is applied to the bridge circuit 16 in the
The bridge circuit 16 outputs the output O1, OTwowhile
Is the output voltage generated.

【0052】尚、上記式(9)に基づくひずみの測定手
法は、本願出願人が先に特願平9−341715号にて
提案した技術であり、その詳細についてはここでは説明
を省略するが、式(9)の右辺の大括弧内の演算項は、
ブリッジ回路16の初期不平衡出力電圧e0 が比較的大
きい場合に、その影響を排除して、ひずみ測定時のブリ
ッジ回路16の出力電圧eからひずみを把握するための
演算項である。そして、この大括弧内の演算結果に乗算
する(R0 +r)/R0 の項は、ひずみゲージ1のリー
ド線2,3の抵抗値が比較的大きい場合に、その影響を
排除すべく大括弧内の演算結果を補正するための項であ
る。
The method for measuring strain based on the above equation (9) is a technique proposed by the present applicant in Japanese Patent Application No. 9-341715, and the details thereof will not be described here. , The operation term in square brackets on the right side of equation (9) is
When the initial unbalanced output voltage e 0 of the bridge circuit 16 is relatively large, this is an operation term for eliminating the influence and grasping the distortion from the output voltage e of the bridge circuit 16 at the time of strain measurement. The term (R 0 + r) / R 0 by which the calculation result in the brackets is multiplied is large in order to eliminate the influence of the relatively high resistance value of the lead wires 2 and 3 of the strain gauge 1. This is a term for correcting the calculation result in parentheses.

【0053】さらに、本実施形態のひずみ測定装置10
では、コントロールユニット24の制御回路27は、後
述の如く測定途中でひずみゲージ1を新たなものに交換
した場合にあっては、その交換後には、交換前のひずみ
ゲージ1を用いたブリッジ回路16の出力電圧eから前
記式(9)に基づき最後(交換の直前)に把握されるひ
ずみε(これに参照符号ε1 を付する)と、交換後のひ
ずみゲージ1を用いたブリッジ回路16の出力電圧eか
ら前記式(9)に基づき把握されるひずみε(これに参
照符号Δε2 を付する)とから前記式(8)の演算を行
うことで、物体のひずみ測定の開始時(交換前のひずみ
ゲージ1を物体に貼着してひずみ測定を開始した時)か
らの物体のひずみε2 を求めるようにしている。
Further, the strain measuring apparatus 10 of the present embodiment
In the case where the strain gage 1 is replaced with a new one during the measurement as described later, the control circuit 27 of the control unit 24 sets the bridge circuit 16 using the strain gage 1 before replacement after the replacement. from the output voltage e and the end on the basis of the equation (9) (denoted by the reference numeral epsilon 1 to) the strain epsilon is grasped (immediately before the exchange), the bridge circuit 16 using a strain gauge 1 after replacement of by performing the calculation of the output voltage (denoted by the reference thereto numeral [Delta] [epsilon] 2) strain ε is grasped on the basis of the equation (9) from e because the equation (8), at the beginning of the object strain measurement (exchange It has a previous strain gauge 1 to obtain the strain epsilon 2 of the object from the time) that initiated the stuck to strain measurement on the object.

【0054】そして、コントロールユニット15の記憶
回路28には、上記のような演算処理を制御回路27に
実行させるために図3のフローチャートに示すような処
理手順があらかじめプログラムされている。さらに、該
記憶回路28には、ブリッジ回路16の電源電圧V、抵
抗体18,19の抵抗値R3 ,R4 等のデータがあらか
じめ記憶保持されている。
The processing procedure shown in the flowchart of FIG. 3 is programmed in advance in the storage circuit 28 of the control unit 15 to cause the control circuit 27 to execute the above-described arithmetic processing. Further, the storage circuit 28 previously stores data such as the power supply voltage V of the bridge circuit 16 and the resistance values R 3 and R 4 of the resistors 18 and 19.

【0055】次に、本実施形態のひずみ測定装置10に
よるひずみ測定の作動を具体的に説明する。
Next, the operation of strain measurement by the strain measuring apparatus 10 of the present embodiment will be described in detail.

【0056】本実施形態のひずみ測定装置10では、物
体のひずみ測定に先立って、次の処理が行われる。
In the strain measuring apparatus 10 of the present embodiment, the following processing is performed prior to the strain measurement of the object.

【0057】本実施形態のひずみ測定装置10では、例
えばひずみゲージ1aを用いてひずみ測定を開始すると
した場合、そのひずみ測定に先立って、あらかじめ、ひ
ずみゲージ1aのゲージ率K(以下、これに参照符号K
aを付する)の値及び基準抵抗値R0 (以下、これに参
照符号R0aを付する)と、ひずみゲージ1aのリード線
2aの抵抗値r1 (以下、これに参照符号r1aを付す
る)とが、ひずみ測定装置10の外部の適宜の操作器等
から前記インターフェース回路31及び制御回路27を
介して記憶回路28に入力され、該記憶回路28に記憶
保持される。
In the strain measuring apparatus 10 according to the present embodiment, for example, when the strain measurement is started using the strain gauge 1a, the gauge factor K of the strain gauge 1a (hereinafter referred to as “the strain gauge 1a”) is set prior to the strain measurement. Sign K
a) and a reference resistance value R 0 (hereinafter referred to as a reference symbol R 0a ), and a resistance value r 1 of a lead wire 2a of the strain gauge 1a (hereinafter referred to as a reference symbol r 1a) . Is input to the storage circuit 28 from an appropriate operating device or the like outside the strain measuring apparatus 10 via the interface circuit 31 and the control circuit 27, and is stored and held in the storage circuit 28.

【0058】この場合、記憶回路28に記憶保持させる
ひずみゲージ1aのゲージ率Kaの値は、例えばその公
称値を使用する。また、ひずみゲージ1aの基準抵抗値
0aは、その公称値や、該ひずみゲージ1aについてあ
らかじめ実測してなる基準抵抗値を使用する。さらに、
リード線2aの抵抗値r2 は、あらかじめ実測した抵抗
値、あるいは、リード線2aの材質や長さ、太さ等から
求めた値を用いる。
In this case, as the value of the gauge factor Ka of the strain gauge 1a stored and held in the storage circuit 28, its nominal value is used, for example. As the reference resistance value R 0a of the strain gauge 1a, its nominal value or a reference resistance value actually measured in advance for the strain gauge 1a is used. further,
Resistance r 2 of the leads 2a are actually measured resistance value, or the material and length of the lead 2a, using the values obtained from the thickness and the like.

【0059】尚、ひずみ測定装置10に使用すべきひず
みゲージ1のゲージ率Kや基準抵抗値R0 があらかじめ
定められている場合には、それらのゲージ率Kや基準抵
抗値R0 の値は、前記電源電圧Vや抵抗体18,19の
抵抗値R3 ,R4 等と共に、ひずみ測定装置10の製造
段階で記憶回路28のROMに記憶保持させておくよう
にしてもよい。
When the gauge factor K and the reference resistance value R 0 of the strain gauge 1 to be used in the strain measuring device 10 are predetermined, the values of the gauge factor K and the reference resistance value R 0 are Alternatively, the power supply voltage V and the resistance values R 3 and R 4 of the resistors 18 and 19 may be stored and stored in the ROM of the storage circuit 28 at the stage of manufacturing the strain measuring device 10.

【0060】次いで、ひずみゲージ1aを物体に貼着せ
ずに(ひずみゲージ1aの無ひずみ状態で)、ひずみ測
定装置10の接続端子11〜13にリード線2a〜4a
を介して接続してブリッジ回路16を構成した後、ひず
み測定装置10の所定の操作等により、コントロールユ
ニット15を動作させる。
Next, the lead wires 2a to 4a are connected to the connection terminals 11 to 13 of the strain measuring device 10 without attaching the strain gauge 1a to the object (in a state where the strain gauge 1a is not strained).
Then, the control unit 15 is operated by a predetermined operation or the like of the strain measuring device 10 after the bridge circuit 16 is configured by being connected via the.

【0061】このとき、コントロールユニット15の制
御回路27は、まず、ブリッジ電源回路24を起動し
て、該ブリッジ電源回路24からブリッジ回路16の電
源入力部I1 ,I2 に電源入力端子20,21を介して
電源電圧Vを付与させる。
At this time, the control circuit 27 of the control unit 15 first activates the bridge power supply circuit 24, and from the bridge power supply circuit 24 to the power supply input terminals I 1 and I 2 of the bridge circuit 16, the power supply input terminal 20, The power supply voltage V is applied via the power supply 21.

【0062】この状態において、制御回路27は、ブリ
ッジ回路16の出力部O1 ,O2 間に発生する出力電圧
eを前記出力端子22,23を介して増幅回路25に入
力させる。そして、制御回路27は、この時、ブリッジ
回路16が生成した出力電圧eを、増幅回路25及びA
/D変換回路26を介して与えられるデータによって認
識し、その認識した出力電圧eの値をブリッジ回路16
の前記初期不平衡出力電圧e0 (以下、これに参照符号
0aを付する)として記憶回路28に記憶保持させる。
In this state, the control circuit 27 inputs the output voltage e generated between the output portions O 1 and O 2 of the bridge circuit 16 to the amplifier circuit 25 via the output terminals 22 and 23. The control circuit 27 then outputs the output voltage e generated by the bridge circuit 16 to the amplifier circuit 25 and A
/ D conversion circuit 26, and recognizes the value of the output voltage e as the bridge circuit 16
Is stored in the storage circuit 28 as the initial unbalanced output voltage e 0 (hereinafter referred to as a reference symbol e 0a ).

【0063】次に、測定対象の物体(図示しない)のひ
ずみ測定を開始すべくひずみゲージ1aを該物体に貼着
した後、制御回路27は、測定者の所定の操作等により
指示されたタイミングや、あらかじめ設定されたタイム
スケジュールに従って、次のようにひずみ測定を行う。
Next, after attaching the strain gauge 1a to the object to be measured (not shown) to start the strain measurement, the control circuit 27 sets the timing designated by a predetermined operation of the measurer or the like. Also, according to a preset time schedule, a strain measurement is performed as follows.

【0064】制御回路27は、ひずみ測定を行うタイミ
ング(ひずみ測定時)において、前記初期不平衡出力電
圧e0aを検出した場合と同様にして、ブリッジ電源回路
24からブリッジ回路16の電源入力部I1 ,I2 に電
源電圧Vを付与せしめ、このときブリッジ回路16が出
力部O1 ,O2 間に生成する出力電圧e(以下、これに
参照符号ea を付する)を増幅回路25に入力させる。
そして、制御回路27は、この増幅回路25に入力され
る出力電圧ea の値を、該増幅回路25及びA/D変換
回路26を介して与えられるデータによって認識し、そ
の認識した出力電圧ea の値を記憶回路28に記憶保持
させる。
At the timing of strain measurement (at the time of strain measurement), the control circuit 27 changes the power supply input section I of the bridge circuit 16 from the bridge power supply circuit 24 in the same manner as when the initial unbalanced output voltage e 0a is detected. 1, I 2 to allowed impart supply voltage V, this time the bridge circuit 16 is output section O 1, O 2 between the output voltage e to be generated (hereinafter, this assigned the reference numerals e a) to the amplifier circuit 25 Input.
Then, the control circuit 27, the value of the output voltage e a inputted to the amplifier circuit 25, it recognizes the data supplied through the amplifying circuit 25 and the A / D conversion circuit 26, the output voltage e which is the recognition The value of a is stored and held in the storage circuit 28.

【0065】そして、制御回路27は、記憶回路28に
あらかじめプログラムされた図3のフローチャートの処
理を行うことで、物体のひずみε(測定開始時からのひ
ずみ)を求める。
Then, the control circuit 27 obtains the strain ε (strain from the start of the measurement) of the object by performing the processing of the flowchart of FIG.

【0066】すなわち、制御回路27は、まず、ひずみ
ゲージ1の交換が行われたことを示す後述のゲージ交換
データが記憶回路28に記憶保持されているか否かを判
断する(STEP1)。
That is, the control circuit 27 first determines whether or not the later-described gauge replacement data indicating that the strain gauge 1 has been replaced is stored in the storage circuit 28 (STEP 1).

【0067】このとき、ひずみゲージ1の交換は未だ行
われていないので、ゲージ交換データが記憶回路28に
記憶保持されていることはなく、この場合には、STE
P2に進む。
At this time, since the replacement of the strain gauge 1 has not been performed yet, the gauge replacement data is not stored and held in the storage circuit 28. In this case, the STE
Proceed to P2.

【0068】STEP2では、制御回路27は、前述の
如く記憶回路28に記憶保持された、ブリッジ回路16
の電源電圧V、抵抗体18,19の抵抗値R3 ,R4
ひずみゲージ1aのゲージ率Ka及び基準抵抗値R0a
リード線2aの抵抗値r1a、ブリッジ回路16の初期不
平衡出力電圧e0a及びひずみ測定時のブリッジ回路7の
出力電圧ea のデータを記憶回路28から読み込む。
In STEP 2, the control circuit 27 controls the bridge circuit 16 stored in the storage circuit 28 as described above.
Power supply voltage V, the resistances R 3 , R 4 of the resistors 18 and 19,
Gauge factor Ka of strain gauge 1a and reference resistance value R 0a ,
Resistance r 1a of the lead 2a, reads the data of the output voltage e a of the bridge circuit 7 in the initial unbalanced output voltage e at 0a and strain measurement of the bridge circuit 16 from the memory circuit 28.

【0069】そして、読み込んだ上記の各データの値を
用いて、前記式(9)の演算を行うことで、ひずみεを
求める(STEP3)。この場合において、式(9)中
のK、e0 、e、R0 、r は、それぞれ、図に示す如
くKa、e0a、ea 、R0a、r1aに置き換える。
Then, the equation (9) is used to calculate the strain ε using the read values of the respective data (STEP 3). In this case, K, e 0 , e, R 0 , and r in Equation (9) are replaced with Ka, e 0a , e a , R 0a , and r 1a , respectively, as shown in the figure.

【0070】このようにしてひずみεを求めた制御回路
27は、そのひずみεの値を表示回路29を介して表示
器30に表示させると共に、記憶回路28に記憶保持さ
せる(STEP4)。
The control circuit 27 that has obtained the strain ε in this way displays the value of the strain ε on the display 30 via the display circuit 29 and stores and holds the value in the storage circuit 28 (STEP 4).

【0071】このような処理がひずみ測定を行う適宜の
タイミングで繰り返され、その時々のひずみεの値のデ
ータが記憶回路28に時系列的に記憶保持されていく。
尚、ひずみεの値のデータの記録は、ハードディスクや
フロッピディスク等に行うようにしてもよい。
Such processing is repeated at an appropriate timing for performing the strain measurement, and the data of the value of the strain ε at each time is stored and held in the storage circuit 28 in a time-series manner.
The data of the value of the strain ε may be recorded on a hard disk or a floppy disk.

【0072】このようなひずみゲージ1aを用いたひず
み測定中において、例えば上記のように得られたひずみ
εが、ひずみゲージ1aの耐久限界に近い大きなものと
なった場合や、なんらかの原因でひずみゲージ1aが破
損した場合には、ひずみゲージ1aを新たなひずみゲー
ジ1bに交換して測定を継続する。
During the strain measurement using the strain gauge 1a, for example, when the strain ε obtained as described above becomes a large value close to the durability limit of the strain gauge 1a, or when the strain gauge When 1a is damaged, the measurement is continued by replacing the strain gauge 1a with a new strain gauge 1b.

【0073】この場合、ひずみゲージ1aの交換に先立
って、まず、次の処理が行われる。
In this case, prior to the replacement of the strain gauge 1a, first, the following processing is performed.

【0074】すなわち、まず、新たなひずみゲージ1b
のゲージ率K(以下、これに参照符号Kbを付する)の
値及び基準抵抗値R0 (以下、これに参照符号R0bを付
する)と、ひずみゲージ1bのリード線2bの抵抗値r
2 (以下、これに参照符号r 2bを付する)とが、ひずみ
測定装置10の外部の適宜の操作器等から前記インター
フェース回路31及び制御回路27を介して記憶回路2
8に入力され、該記憶回路28に記憶保持される。
That is, first, a new strain gauge 1b
Of the gauge factor K (hereinafter referred to by the reference symbol Kb)
Value and reference resistance R0(Hereinafter, this is referred to as R0bWith
And the resistance value r of the lead wire 2b of the strain gauge 1b.
Two(Hereinafter referred to by the reference 2b) And strain
The interface is provided from an appropriate operating device or the like external to the measuring device 10.
The storage circuit 2 via the face circuit 31 and the control circuit 27
8 and stored in the storage circuit 28.

【0075】尚、新たなひずみゲージ1bがひずみゲー
ジ1aと同一特性のものである場合には、ひずみゲージ
1bのゲージ率Kbや基準抵抗値R0bは、既に記憶回路
28に記憶されているひずみゲージ1aのゲージ率Ka
や基準抵抗値R0aと等しいので、該ゲージ率Kbや基準
抵抗値R0bの入力処理を省略してもよい。さらに、新た
なひずみゲージ1bのリード線2bの長さや線種がひず
みゲージ1aのリード線2aの長さや線種と等しい場合
には、ひずみゲージ1bのリード線2bの抵抗値r
1bは、既に記憶回路28に記憶されているひずみゲージ
1aのリード線2aの抵抗値r1aと等しいので、該抵抗
値r1bの入力処理も省略してもよい。
When the new strain gauge 1b has the same characteristics as the strain gauge 1a, the gauge factor Kb and the reference resistance value R 0b of the strain gauge 1b are stored in the storage circuit 28. Gauge factor Ka of gauge 1a
And the reference resistance value R 0a , the input process of the gauge factor Kb and the reference resistance value R 0b may be omitted. Further, when the length or the wire type of the lead wire 2b of the new strain gauge 1b is equal to the length or the wire type of the lead wire 2a of the strain gauge 1a, the resistance value r of the lead wire 2b of the strain gauge 1b is changed.
1b, since already equal to the resistance value r 1a leads 2a of the strain gauge 1a stored in the storage circuit 28, may be omitted even if the input process of the resistance value r 1b.

【0076】次いで、ひずみゲージ1aのリード線2a
〜4aをひずみ測定装置10から取り外すと共に、新た
なひずみゲージ1bを物体に貼着せずに(ひずみゲージ
1bの無ひずみ状態で)、ひずみ測定装置10の接続端
子11〜13にリード線2b〜4bを介して接続してブ
リッジ回路16を構成した後、ひずみ測定装置10の所
定の操作等により、コントロールユニット15を動作さ
せる。
Next, the lead wire 2a of the strain gauge 1a
4a are removed from the strain measuring device 10, and the lead wires 2b to 4b are connected to the connection terminals 11 to 13 of the strain measuring device 10 without attaching a new strain gauge 1b to the object (with the strain gauge 1b in a non-strain state). Then, the control unit 15 is operated by a predetermined operation or the like of the strain measuring device 10 after the bridge circuit 16 is configured by being connected via the.

【0077】このとき、コントロールユニット15の制
御回路27は、ひずみゲージ1aに係わる初期不平衡出
力電圧e0aの検出の場合と同様にして、ブリッジ電源回
路24からブリッジ回路16の電源入力部I1 ,I2
電源電圧Vを付与させる。さらにこの状態において、制
御回路27は、ブリッジ回路16の出力電圧eを前記増
幅回路25及びA/D変換回路26を介して認識し、そ
の認識した出力電圧eの値をブリッジ回路16の前記初
期不平衡出力電圧e0 (以下、これに参照符号e0bを付
する)として記憶回路28に記憶保持させる。
At this time, the control circuit 27 of the control unit 15 changes the power supply input I 1 of the bridge circuit 16 from the bridge power supply circuit 24 in the same manner as the detection of the initial unbalanced output voltage e 0a relating to the strain gauge 1a. , imparting a power supply voltage V to I 2. Further, in this state, the control circuit 27 recognizes the output voltage e of the bridge circuit 16 via the amplifier circuit 25 and the A / D conversion circuit 26, and recognizes the recognized value of the output voltage e as the initial value of the bridge circuit 16. The storage circuit 28 stores and holds the output voltage as an unbalanced output voltage e 0 (hereinafter, a reference numeral e 0b will be given).

【0078】尚、ひずみゲージ1a,1bの基準抵抗値
0a,R0bが共に等しく、且つリード線2a,3aのそ
れぞれの抵抗値とリード線2b,3bのそれぞれの抵抗
値とが各々等しい場合には、新たなひずみゲージ1bに
係わるブリッジ回路16の初期不平衡出力電圧e0bは、
基本的には、既に記憶回路28に記憶保持されているひ
ずみゲージ1aに係わる初期不平衡出力電圧e0aに等し
いと考えられる。従って、この場合には、新たなひずみ
ゲージ1bに係わるブリッジ回路16の初期不平衡出力
電圧e0bの検出及びその記憶保持を省略してもよい。
When the reference resistance values R 0a and R 0b of the strain gauges 1a and 1b are equal to each other, and the resistance values of the lead wires 2a and 3a are equal to the respective resistance values of the lead wires 2b and 3b. , The initial unbalanced output voltage e 0b of the bridge circuit 16 relating to the new strain gauge 1b is
Basically, it is considered to be equal to the initial unbalanced output voltage e 0a relating to the strain gauge 1a already stored and held in the storage circuit 28. Therefore, in this case, the detection and storage of the initial unbalanced output voltage e 0b of the bridge circuit 16 relating to the new strain gauge 1b may be omitted.

【0079】次に、新たなひずみゲージ1bを用いたひ
ずみ測定を開始すべく、物体に貼着されているひずみゲ
ージ1aを剥がし、それと同じ箇所でひずみゲージ1b
を物体に貼着することで、ひずみゲージ1を交換する。
さらに、ひずみ測定装置10の外部の適宜の操作器等か
ら、ひずみゲージ1を交換した旨を表すゲージ交換デー
タが前記インターフェース回路31及び制御回路27を
介して記憶回路28に入力され、該記憶回路28に記憶
保持される。また、このとき、制御回路27は、ひずみ
ゲージ1aを用いて測定されて記憶回路28に記憶保持
されているひずみεの時系列データのうち、最新のもの
を交換前のひずみゲージ1aを用いて把握された最後の
ひずみε1 のデータ、すなわち、ひずみゲージ1の交換
直前に測定されたひずみε1 のデータとして認識してお
く。
Next, in order to start the strain measurement using the new strain gauge 1b, the strain gauge 1a attached to the object is peeled off, and the strain gauge 1b is
Is attached to the object to replace the strain gauge 1.
Further, gauge replacement data indicating that the strain gauge 1 has been replaced is input to the storage circuit 28 via the interface circuit 31 and the control circuit 27 from an appropriate operating device or the like external to the strain measurement device 10. 28. Further, at this time, the control circuit 27 uses the strain gauge 1a before the exchange for the latest one of the time series data of the strain ε measured using the strain gauge 1a and stored in the storage circuit 28. the last strain epsilon 1 of the data grasped, namely, aware as strain measured strain epsilon 1 of data exchange immediately before the gauge 1.

【0080】この後、コントロールユニット15の制御
回路27は、測定者の所定の操作等により指示されたタ
イミングや、あらかじめ設定されたタイムスケジュール
に従って、次のようにひずみ測定を行う。
Thereafter, the control circuit 27 of the control unit 15 performs the following strain measurement in accordance with the timing specified by a predetermined operation of the measurer or the time schedule set in advance.

【0081】制御回路27は、前述したひずみゲージ1
aを用いた測定の場合と同様にして、ひずみ測定を行う
タイミング(ひずみ測定時)において、ブリッジ電源回
路24からブリッジ回路16に電源電圧Vを付与せし
め、このときブリッジ回路16が出力部O1 ,O2 間に
生成する出力電圧e(以下、これに参照符号eb を付す
る)を増幅回路25及びA/D変換回路26を介して認
識する。そして、その認識した出力電圧eb の値を記憶
回路28に記憶保持させる。
The control circuit 27 includes the above-described strain gauge 1
as in the case of measurement using a, at the timing (time of strain measurement) performing strain measurement, the power supply voltage V allowed imparted to the bridge circuit 16 from the bridge power supply circuit 24, a bridge circuit 16 at this time is output section O 1 , the output voltage e to be generated between O 2 (hereinafter, this assigned the reference numerals e b) a through the amplifier circuit 25 and a / D conversion circuit 26 recognizes. And then stores the value of the output voltage e b that the recognition in the memory circuit 28.

【0082】そして、制御回路27は、前記図3のフロ
ーチャートの処理を行うことで、物体のひずみ(ひずみ
ゲージ1aを用いた測定開始時からのひずみ)を求め
る。
Then, the control circuit 27 obtains the strain of the object (the strain from the start of the measurement using the strain gauge 1a) by performing the processing of the flowchart of FIG.

【0083】すなわち、制御回路27は、まず、前記ゲ
ージ交換データが記憶回路28に記憶保持されているか
否かを判断する(STEP1)。この場合、上記のよう
に記憶回路28には、ゲージ交換データが記憶保持され
ているので、STEP5に進む。
That is, the control circuit 27 first determines whether or not the gauge exchange data is stored in the storage circuit 28 (STEP 1). In this case, since the gauge exchange data is stored and held in the storage circuit 28 as described above, the process proceeds to STEP5.

【0084】このSTEP5では、制御回路27は、前
記STEP2の場合と同様、ブリッジ回路16の電源電
圧V、抵抗体18,19の抵抗値R3 ,R4 、ひずみゲ
ージ1bのゲージ率Kb及び基準抵抗値R0b、リード線
2bの抵抗値r1b、ブリッジ回路16の初期不平衡出力
電圧e0b及びひずみ測定時のブリッジ回路7の出力電圧
b のデータを記憶回路28から読み込む。
In STEP 5, the control circuit 27 determines the power supply voltage V of the bridge circuit 16, the resistance values R 3 and R 4 of the resistors 18 and 19, the gauge factor Kb of the strain gauge 1b, and the reference value, as in STEP 2. resistance R 0b, reads the resistance value r 1b leads 2b, and the data of the output voltage e b of the bridge circuit 7 in the initial unbalanced when the output voltage e 0b and strain measurement of the bridge circuit 16 from the memory circuit 28.

【0085】そして、読み込んだ上記の各データの値を
用いて、前記式(9)の演算を行うことで、ひずみΔε
2 を求める(STEP6)。この場合において、式
(9)中のK、e0 、e、R0 、r は、それぞれ、図
に示す如くKb、e0b、eb 、R 0b、r1bに置き換え
る。
Then, the read values of the above data are
By using the above equation (9), the strain Δε
Two(STEP 6). In this case, the expression
K, e in (9)0, E, R0, R are figures
Kb, e as shown in0b, Eb, R 0b, R1bReplace with
You.

【0086】このようにしてSTEP6で求められるひ
ずみΔε2 は、ひずみゲージ1をひずみゲージ1aから
ひずみゲージ1bに交換した時点(より正確にはひずみ
ゲージ1bを物体に貼着した時点)を基準として、ひず
みゲージ1bを組み込んだブリッジ回路16の出力電圧
eから把握される物体のひずみである。
The strain Δε 2 obtained in STEP 6 in this manner is based on the time when the strain gauge 1 is replaced with the strain gauge 1b from the strain gauge 1a (more precisely, when the strain gauge 1b is attached to an object). , The strain of the object ascertained from the output voltage e of the bridge circuit 16 incorporating the strain gauge 1b.

【0087】次いで、制御回路27は、交換前のひずみ
ゲージ1aを用いて把握された最後のひずみε1 のデー
タ(交換直前の物体のひずみデータ)を記憶回路28か
ら読み込んだ後(STEP7)、そのひずみε1 のデー
タと、STEP6で求めたひずみΔε2 のデータとを用
いて前記式(8)の演算を行う(STEP8)。
Next, the control circuit 27 reads from the storage circuit 28 the data of the last strain ε 1 (strain data of the object immediately before replacement) grasped using the strain gauge 1a before replacement from the storage circuit 28 (STEP 7). its strain epsilon 1 of data, performing the calculation of the equation (8) using the strain [Delta] [epsilon] 2 data obtained in STEP6 (STEP 8).

【0088】そして、制御回路27は、このとき式
(8)により求められた値ε2 を、物体のひずみ測定の
開始時(交換前のひずみゲージ1を物体に貼着してひず
み測定を開始した時)からの物体のひずみとして、表示
器30に表示させると共に、記憶回路28に記憶保持さ
せる(STEP9)。
At this time, the control circuit 27 uses the value ε 2 obtained by the equation (8) at the start of the strain measurement of the object (the strain gauge 1 before replacement is attached to the object to start the strain measurement). Is displayed on the display 30 and stored in the storage circuit 28 (STEP 9).

【0089】このような処理がひずみゲージ1の交換後
もひずみ測定を行う適宜のタイミングで繰り返され、そ
の時々のひずみε2 の値のデータが記憶回路28に時系
列的に記憶保持されていく。尚、ひずみε2 の値のデー
タの記録は、ひずみゲージ1の交換前のデータと同様、
ハードディスクやフロッピディスク等に行うようにして
もよい。
[0089] After replacement of the gauge 1 such processing strain be repeated at an appropriate timing for strain measurement, data of the occasional strain epsilon 2 values will be stored circuit 28 in time series manner memory retention . The data of the strain ε 2 is recorded in the same manner as the data before the strain gauge 1 is replaced.
The processing may be performed on a hard disk or a floppy disk.

【0090】以上、説明したようにして、ひずみゲージ
1の交換後には、交換前のひずみゲージ1aを用いたブ
リッジ回路16の出力電圧eに基づき最後に把握された
ひずみε1 と、交換後のひずみゲージ1bを用いたブリ
ッジ回路16の出力電圧eに基づき最後に把握されたΔ
ひずみε1 (交換時点からの物体のひずみ)とから前記
式(8)の演算を行うことで、ひずみゲージ1の交換後
であっても、交換前の測定開始時からの物体のひずみを
精度よく継続的に測定することができる。
As described above, after the replacement of the strain gauge 1, after the replacement of the strain ε 1 obtained based on the output voltage e of the bridge circuit 16 using the strain gauge 1a before the replacement, Δ which was finally grasped based on the output voltage e of the bridge circuit 16 using the strain gauge 1b
By calculating the equation (8) from the strain ε 1 (strain of the object from the time of replacement), even after the strain gauge 1 is replaced, the strain of the object from the start of the measurement before the replacement can be accurately determined. Well can be measured continuously.

【0091】特に本実施形態では、ひずみゲージ1aを
用いたブリッジ回路16の出力電圧eに基づくひずみε
1 の把握と、ひずみゲージ1bを用いたブリッジ回路1
6の出力電圧eに基づくひずみΔε2 の把握とは、前記
式(9)の演算を用いて行うようにしているため、各ひ
ずみゲージ1の基準抵抗値や抵抗体16〜18の抵抗値
のばらつき、リード線2,3の抵抗値等に起因してひず
みゲージ1の無ひずみ状態でブリッジ回路16が生成す
る初期不平衡出力電圧e0 やリード線2,3の抵抗値の
影響を排除して精度よく行うことができる。この結果、
ひずみゲージ1の交換前はもちろん交換後においても、
物体のひずみの高精度な測定を行うことができる。
Particularly, in this embodiment, the strain ε based on the output voltage e of the bridge circuit 16 using the strain gauge 1a
1 and bridge circuit 1 using strain gauge 1b
Since the grasp of the strain Δε 2 based on the output voltage e of 6 is performed by using the calculation of the equation (9), the reference resistance value of each strain gauge 1 and the resistance values of the resistors 16 to 18 are calculated. The influence of the initial unbalanced output voltage e 0 generated by the bridge circuit 16 and the resistance values of the lead wires 2 and 3 in the strain-free state of the strain gauge 1 due to variations, the resistance values of the lead wires 2 and 3, etc. is eliminated. And can be performed with high accuracy. As a result,
Before and after replacing the strain gauge 1,
A highly accurate measurement of the strain of the object can be performed.

【0092】尚、以上説明した実施形態では、ひずみゲ
ージ1の交換を一回だけ行った場合を例にとって説明し
たが、ひずみゲージを新たなものに交換する毎に、前述
の処理を繰り返せば、ひずみゲージの交換を複数回にわ
たって行う場合であっても、精度のよいひずみ測定を継
続的に行うことができる。
In the above-described embodiment, the case where the replacement of the strain gauge 1 is performed only once has been described as an example. However, every time the strain gauge is replaced with a new one, the above processing is repeated. Even when the strain gauge is replaced a plurality of times, accurate strain measurement can be continuously performed.

【0093】また、前記実施形態では、式(9)の演算
に基づき、ひずみゲージ1の交換前のひずみε1 と交換
後のひずみΔε2 とを把握するようにしたが、いずれの
ひずみε1 ,Δε2 を把握する場合であっても、初期不
平衡出力電圧e0 が十分に微小である場合には、式
(9)の大括弧内の演算をe0 =0(固定値)として行
うようにしてもよい。この場合において、ブリッジ回路
16の電源電圧VをV=2[v]、ひずみゲージ1のゲ
ージ率KをK=2とし、また、抵抗体18,19の抵抗
値R3 ,R4 をR3 =R4 に設定したとき、式(9)の
大括弧内の演算結果は、次式(10)により求まる値
ε’となる。この式(10)はひずみゲージを用いたひ
ずみ測定において、該ひずみゲージを含むブリッジ回路
の出力電圧からひずみを把握するための基本式として一
般的に用いられている式である。
[0093] In the above embodiment, based on the calculation of Expression (9), but so as to grasp the strain [Delta] [epsilon] 2 of strain epsilon 1 and after replacement of the previous exchange of strain gauges 1, any strain epsilon 1 , Δε 2 , if the initial unbalanced output voltage e 0 is sufficiently small, the calculation in the square brackets of the equation (9) is performed as e 0 = 0 (fixed value). You may do so. In this case, the power supply voltage V of the bridge circuit 16 is V = 2 [v], the gauge factor K of the strain gauge 1 is K = 2, and the resistance values R 3 and R 4 of the resistors 18 and 19 are R 3. = when set to R 4, the operation result in the brackets of equation (9) is a value epsilon 'which is obtained by the following equation (10). This equation (10) is an equation generally used as a basic equation for grasping the strain from the output voltage of the bridge circuit including the strain gauge in the strain measurement using the strain gauge.

【0094】[0094]

【数10】 (Equation 10)

【0095】さらに、ひずみゲージ1のリード線2,3
の抵抗値が、ひずみゲージ1の基準抵抗値R0 に対して
十分に小さい場合には、式(9)の右辺の(R0 +r)
/R 0 の項を省略した演算式によりひずみε1 ,Δε2
を把握するようにしてもよい。
Further, the leads 2 and 3 of the strain gauge 1
Is the reference resistance value R of the strain gauge 1.0Against
If it is sufficiently small, (R0+ R)
/ R 0The distortion ε1, ΔεTwo
May be grasped.

【0096】また、本実施形態では、式(9)の演算を
行うために、抵抗体18,19の抵抗値R3 ,R4 をそ
のまま用いたが、式(9)の右辺の分母に現れるR3
(R 3 +R4 )の項、R4 /(R3 +R4 )の項に代え
て、それらの項の値をあらかじめ求めてなる値(例えば
3 =R4 の場合は、R3 /(R3 +R4 )=R4
(R3 +R4 )=1/2である)を用いてもよい。
In the present embodiment, the operation of equation (9) is
In order to perform this operation, the resistance values R of the resistors 18 and 19 are determined.Three, RFourTo
R, which appears in the denominator on the right side of equation (9)Three/
(R Three+ RFour), RFour/ (RThree+ RFour)
Then, the value of those terms obtained in advance (for example,
RThree= RFourIn the case ofThree/ (RThree+ RFour) = RFour/
(RThree+ RFour) = 1 /) may be used.

【0097】さらには、式(9)の右辺の分母に現れる
V・R3 /(R3 +R4 )の項、V・R4 /(R3 +R
4 )の項は、それぞれブリッジ回路16における抵抗体
18の辺の電圧V3 (図2参照)、抵抗体19の辺の電
圧V4 (図2参照)であるから、それらの項の代わり
に、上記電圧V3 ,V4 の値を用いてもよい。この場合
において、電圧V3 ,V4 の値は、抵抗体18,19の
抵抗値R3 ,R4 とブリッジ回路15の電源電圧Vの値
とからあらかじめ演算により求めた値を用いればよい
が、あるいは、ひずみ測定に際して実測した値を用いて
もよい。また、電圧V3 ,V4 の値のいずれかを一方を
実測し、他方は、実測した一方の値を電源電圧Vの値か
ら減算することで求めるようにしてもよい。
[0097] Furthermore, V · R 3 / appears in the denominator of the right side of equation (9) (R 3 + R 4) sections, V · R 4 / (R 3 + R
4 ) are the voltage V 3 on the side of the resistor 18 (see FIG. 2) and the voltage V 4 on the side of the resistor 19 (see FIG. 2) in the bridge circuit 16, respectively. it may be used a value of the voltage V 3, V 4. In this case, as the values of the voltages V 3 and V 4 , values obtained in advance by calculation from the resistance values R 3 and R 4 of the resistors 18 and 19 and the value of the power supply voltage V of the bridge circuit 15 may be used. Alternatively, a value actually measured at the time of strain measurement may be used. Alternatively, one of the values of the voltages V 3 and V 4 may be actually measured, and the other may be obtained by subtracting one of the actually measured values from the value of the power supply voltage V.

【0098】また、前述の実施形態では、1ゲージ3線
法によるひずみ測定を例にとって説明したが、例えば1
ゲージ2線法によるひずみ測定についても本発明を適用
できる。この場合には、図2のブリッジ回路16におい
て、ひずみゲージ1のリード線3と抵抗体17との接続
部位と、抵抗体18と19との接続部位との間に発生す
る電圧をブリッジ回路16の出力電圧として検出すれ
ば、1ゲージ3線法の場合と同様にひずみ測定を行うこ
とができる。但し、この場合において、式(9)の(R
0 +r)/R0 の項を含む演算によりひずみεを把握す
る場合には、rの値として、ひずみゲージ1のリード線
2,3の両者の抵抗値の総和を用いることとなる。ま
た、前述の実施形態では、物体のひずみそのものを測定
する場合を例にとって説明したが、周知の如く、物体の
ひずみεと応力σとの間にはσ=E・ε(E:物体のヤ
ング率)なる比例関係があるので、前述の如く測定した
ひずみε(ひずみゲージの交換後はε2 )に物体のヤン
グ率Eを乗算することで物体の応力を測定することもで
きる。
In the above-described embodiment, the strain measurement by the one-gauge three-wire method has been described as an example.
The present invention can be applied to strain measurement by the two-wire gauge method. In this case, in the bridge circuit 16 of FIG. 2, the voltage generated between the connection between the lead 3 of the strain gauge 1 and the resistor 17 and the connection between the resistors 18 and 19 is applied to the bridge circuit 16. , The strain can be measured as in the case of the 1-gauge three-wire method. However, in this case, (R
When the strain ε is grasped by an operation including the term of 0 + r) / R 0 , the sum of the resistance values of both the lead wires 2 and 3 of the strain gauge 1 is used as the value of r. Further, in the above embodiment, the case where the strain itself of the object is measured has been described as an example. However, as is well known, σ = E · ε (E: Young Since there is a proportional relationship, the stress of the object can be measured by multiplying the strain ε (ε 2 after the strain gauge is replaced) measured as described above by the Young's modulus E of the object.

【0099】また、前記実施形態では、物体の一部位に
おける単点のひずみ測定を行う場合について説明した
が、物体の複数部位あるいは複数の物体の多点ひずみ測
定を行う場合であっても本発明を適用できる。この場合
には、各測定点毎に前述の処理を行うようにすればよ
い。
In the above-described embodiment, the case where a single point strain measurement is performed on one part of the object has been described. However, the present invention can be applied to a case where multi-point strain measurement is performed on a plurality of parts of the object or a plurality of objects. Can be applied. In this case, the above-described processing may be performed for each measurement point.

【0100】また、前記実施形態では、ひずみ測定器1
0においてひずみεを求める処理まで行うようにした
が、ひずみ測定器10からブリッジ回路16の出力電圧
eのデータや、前記ゲージ交換データ等を外部のパーソ
ナルコンピュータに受け渡すようにすれば、それらのデ
ータからひずみεを求める処理や、それを解析する処理
をパーソナルコンピュータに行わせるようにすることも
できる。
In the above embodiment, the strain measuring device 1
0, the process of obtaining the strain ε is performed. However, if the data of the output voltage e of the bridge circuit 16 and the gauge exchange data and the like are transferred from the strain measuring device 10 to an external personal computer, those processes are performed. The processing for obtaining the strain ε from the data and the processing for analyzing it can be performed by a personal computer.

【0101】また、前記実施形態では、ひずみゲージ1
の抵抗値に応じた測定信号を生成する回路として、ブリ
ッジ回路16を用いたが、該ひずみゲージ1の抵抗値に
応じた信号を生成し得る回路であれば、他の形式の回路
を使用してもよい。つまり、回路の生成信号からひずみ
ゲージの抵抗値を把握することで、前記式(4)の関係
式によりひずみを把握することができる。
In the above embodiment, the strain gauge 1
Although the bridge circuit 16 is used as a circuit for generating a measurement signal corresponding to the resistance value of the strain gauge 1, any other type of circuit may be used as long as the circuit can generate a signal corresponding to the resistance value of the strain gauge 1. You may. That is, by grasping the resistance value of the strain gauge from the signal generated by the circuit, the strain can be grasped by the relational expression of the above equation (4).

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態を適用するひずみ測定装置
の回路構成図。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of a strain measuring apparatus to which an embodiment of the present invention is applied.

【図2】図1の装置の要部の回路構成図。FIG. 2 is a circuit configuration diagram of a main part of the apparatus of FIG. 1;

【図3】図1の装置の作動を説明するためのフローチャ
ート。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the apparatus of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a,1b…ひずみゲージ、16…ブリッジ回路。 1a, 1b: strain gauge; 16: bridge circuit.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】物体のひずみに応じた抵抗値変化を生じる
ように該物体に貼着したひずみゲージを含む回路により
該ひずみゲージの抵抗値に応じた測定信号を生成し、そ
の測定信号に基づき前記物体のひずみを測定するひずみ
測定方法において、その測定途中で前記ひずみゲージを
新たなひずみゲージに交換したときに、該ひずみゲージ
の交換後にひずみ測定の開始時からの物体のひずみを測
定するための方法であって、 前記交換前のひずみゲージを含む回路の測定信号に基づ
き最後に把握された前記物体のひずみε1 と、前記交換
後のひずみゲージを含む回路の測定信号に基づき把握さ
れる該交換時点からの前記物体のひずみΔε2 とから次
式(1)の演算により求まる値ε2 をひずみ測定の開始
時からの前記物体のひずみε2 として測定することを特
徴とするひずみ測定方法。 【数1】
1. A measurement signal corresponding to the resistance value of a strain gauge is generated by a circuit including a strain gauge attached to the object so as to generate a resistance value change according to the strain of the object, and based on the measurement signal. In the strain measurement method of measuring the strain of the object, when replacing the strain gauge with a new strain gauge during the measurement, to measure the strain of the object from the start of the strain measurement after the replacement of the strain gauge a method, and strain epsilon 1 of the object was last grasped based on the measurement signal of the circuit including the strain gauges before the exchange, it is grasped based on the measurement signal of the circuit including a strain gauge after the replacement A value ε 2 obtained by the calculation of the following equation (1) from the strain Δε 2 of the object from the time of the exchange is measured as the strain ε 2 of the object from the start of strain measurement. A strain measurement method characterized by the above-mentioned. (Equation 1)
JP22437398A 1998-08-07 1998-08-07 Strain measurement method Expired - Fee Related JP2923294B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22437398A JP2923294B1 (en) 1998-08-07 1998-08-07 Strain measurement method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22437398A JP2923294B1 (en) 1998-08-07 1998-08-07 Strain measurement method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2923294B1 true JP2923294B1 (en) 1999-07-26
JP2000055609A JP2000055609A (en) 2000-02-25

Family

ID=16812748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22437398A Expired - Fee Related JP2923294B1 (en) 1998-08-07 1998-08-07 Strain measurement method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2923294B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3836311B2 (en) * 2000-09-27 2006-10-25 独立行政法人科学技術振興機構 Anchor axial force meter that can replace only the sensor during operation, and how to replace the sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000055609A (en) 2000-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6868740B2 (en) Mass flow rate measuring device and process for measuring the pressure with a mass flow rate measuring device
JP2597688B2 (en) Calibration method for force measuring device and force measuring device
CN88103246A (en) The method that measure to exchange calibration error and instrument and employing have the instrument of the device of the calibration error of exchanging
JPH1183420A (en) Strain measuring module and multipoint-strain measuring system
JP2923294B1 (en) Strain measurement method
JP2003097906A (en) Strain gauge and method for measuring strain
JP4160683B2 (en) Strain measurement system
JP3178175B2 (en) Electronic sphygmomanometer
JP6477969B2 (en) Measuring device and material testing machine
JP2923293B1 (en) Strain measurement method
JP4209429B2 (en) Strain / temperature measurement method
EP0922928B1 (en) Measuring strain or stress with an initially unbalanced bridge
JP3623592B2 (en) Temperature compensation method for force sensor
JP2972754B2 (en) Strain measurement method, strain measurement device, and recording medium for strain measurement
JP2588391B2 (en) Initial calibration method of gain in digital indicator
JP2006300637A (en) Measuring instrument for strain and temperature
JP6069792B2 (en) Dental probe and gingival pressure measuring device
JP3015333B2 (en) Strain measurement system
JP5203798B2 (en) Air micrometer
RU25350U1 (en) SAMPLE DYNAMOMETER
CN115307814A (en) High-precision torque detection device and detection method thereof
JP3482975B2 (en) Amplifier for strain measurement
CN115683035A (en) Strain modal parameter measuring method of beam type structure
CN114705356A (en) Self-calibration method of resistance strain gauge type force transducer
JPH085533A (en) Fatigue test piece breakage detector

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090430

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100430

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 12

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110430

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 13

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120430

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120430

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 14

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees