JP2760547B2 - Chip bonding equipment - Google Patents

Chip bonding equipment

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JP2760547B2
JP2760547B2 JP4524689A JP4524689A JP2760547B2 JP 2760547 B2 JP2760547 B2 JP 2760547B2 JP 4524689 A JP4524689 A JP 4524689A JP 4524689 A JP4524689 A JP 4524689A JP 2760547 B2 JP2760547 B2 JP 2760547B2
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chip
bonding tool
circuit board
bonding
mounting stage
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峰昭 飯田
勉 鈴木
康隆 古賀
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) この発明は、半導体チップを回路基板に自動的に実装
するためのチップボンディング装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention relates to a chip bonding apparatus for automatically mounting a semiconductor chip on a circuit board.

(従来の技術) 液晶表示板や薄形電子製品等においては、回路基板の
高密度化を図るために半導体チップを回路基板に直接実
装する方法が採用されている。さらに、半導体チップの
実装面積を少なくするために半導体チップの素子面上に
設けられた突起電極を用いて回路基板にフェイスダウン
状態で直接実装する方法を実施している。
(Prior Art) In a liquid crystal display panel, a thin electronic product, or the like, a method of directly mounting a semiconductor chip on a circuit board is adopted in order to increase the density of the circuit board. Further, in order to reduce the mounting area of the semiconductor chip, a method of directly mounting the semiconductor chip in a face-down state on a circuit board using a projecting electrode provided on an element surface of the semiconductor chip is implemented.

このフェイスダウン実装法は、半導体チップの突起電
極と回路基板上の配線パターン(ピッチ150μm程度)
を精度±10μm程度の高精度で位置合せする必要があ
る。このため、従来においては回路基板の配線パターン
および半導体チップの突起電極を顕微鏡や拡大モニタを
用いて作業者が位置合せを行なったり、またフリップチ
ップボンディング法として、回路基板と半導体チップを
自動位置合せしたのち、リフロー炉を通して加熱接続す
る方法が取られている。
This face-down mounting method uses a protruding electrode of a semiconductor chip and a wiring pattern on a circuit board (pitch: about 150 μm)
Must be aligned with high accuracy of about ± 10 μm. For this reason, conventionally, an operator has used a microscope or a magnifying monitor to align the wiring pattern of the circuit board and the protruding electrodes of the semiconductor chip, or the flip-chip bonding method has been used to automatically align the circuit board and the semiconductor chip. After that, a method of heating and connecting through a reflow furnace has been adopted.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、回路基板と半導体チップを顕微鏡を用
いて作業者が位置合せする作業は、能率が悪く、大量生
産には不向きである。また、フリップチップボンディン
グ法として回路基板と半導体チップとを位置合せしたの
ち、リフロー炉を通して加熱・接続する方法は配線パタ
ーンが狭くなった場合に対応できないとともに、接続材
料が限られる欠点がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, the operation of aligning the circuit board and the semiconductor chip using a microscope by an operator is inefficient and is not suitable for mass production. In addition, the method of heating and connecting through a reflow furnace after aligning a circuit board and a semiconductor chip as a flip chip bonding method cannot cope with a case where a wiring pattern becomes narrow, and has a disadvantage that a connection material is limited.

さらに、半導体チップを回路基板に接続する際に加圧
していないため、微小な突起電極をすべて接続すること
は難しいという欠点がある。
Further, since no pressure is applied when the semiconductor chip is connected to the circuit board, it is difficult to connect all the minute projection electrodes.

この発明は、前記事情に着目してなされたもので、そ
の目的とするところは、回路基板にチップを直接実装す
る際に、高精度の位置合せができるとともに、接続が確
実なチップボンディング装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances. It is an object of the present invention to provide a chip bonding apparatus that can perform high-precision alignment and securely connect a chip when directly mounting the chip on a circuit board. To provide.

〔発明の構成〕[Configuration of the invention]

(課題を解決するための手段及び作用) この発明は前記目的を達成するために、チップが実装
される回路基板を保持し、水平面内でXY方向に移動自在
な基板搭載ステージと、前記チップをフェイスダウンの
状態で吸着保持するとともにチップを加熱する加熱手段
を備えたボンディングツールと、このボンディングツー
ルを前記基板搭載ステージに対して垂直な軸心を中心と
して回転および鉛直方向に移動させるとともにボンディ
ング時にチップに加わる荷重を検知する手段を備えたボ
ンディングヘッドと、前記チップをチップ供給部から吸
着保持し反転してフェイスダウンの状態でボンディング
ツールの吸着部に供給するチップ供給機構と、前記基板
搭載ステージとボンディングツールとの間に進退自在に
設けられボンディングツールに吸着されたチップの位置
および前記回路基板の位置を検出する2視野位置検出光
学系と、この2視野位置検出光学系からの検出信号によ
って前記基板搭載ステージをXY方向に移動補正するとと
もにボンディングツールをその垂直軸心を中心として回
転補正する制御部とを具備したチップボンディングにあ
る。
(Means and Actions for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention provides a board mounting stage that holds a circuit board on which a chip is mounted and is movable in the XY direction in a horizontal plane. A bonding tool having a heating means for holding the chip in a face-down state and heating the chip while rotating the bonding tool about an axis perpendicular to the substrate mounting stage and in a vertical direction, A bonding head having means for detecting a load applied to the chip, a chip supply mechanism for sucking and holding the chip from a chip supply unit, inverting the chip, and supplying the chip face down to a suction unit of a bonding tool, and the substrate mounting stage Is provided between the tool and the bonding tool so that it can move back and forth. A two-view position detecting optical system for detecting the position of the chip and the position of the circuit board, and correcting the movement of the substrate mounting stage in the XY direction by a detection signal from the two-view position detecting optical system, and a bonding tool. And a controller for correcting the rotation about the vertical axis.

そして、チップ供給部からチップ供給機構によってチ
ップを吸着し、そのチップをフェイスダウン状態でボン
ディングツールに供給して吸着し、ついで2視野位置検
出光学系によって回路基板およびチップの位置を検出し
たのち、ボンディングツールを下降してチップを回路基
板にボンディングする。
Then, the chip is sucked from the chip supply unit by the chip supply mechanism, the chip is supplied to the bonding tool in a face-down state, and the chip is suctioned. Then, the positions of the circuit board and the chip are detected by the two-view position detection optical system. The bonding tool is lowered to bond the chip to the circuit board.

(実施例) 以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図において、1は架台であり、この架台1の上部
には基板搭載ステージ2が設けられている。基板搭載ス
テージ2は水平面内でX方向およびY方向に移動自在で
あり、上面には第2図に示すような回路基板3を保持す
る保持部4、下面には前記回路基板3を加熱する加熱ヒ
ータ5が設けられている。また、前記架台1には門形の
フレーム6が設けられ、このフレーム6にはボンディン
グヘッド7が前記基板搭載ステージ2に対向して取付け
られている。このボンディングヘッド7にはボンディン
グツール8が前記基板搭載ステージ2に対して垂直に支
持されている。そして、このボンディングツール8はそ
の軸心を中心として回転自在で、しかも鉛直方向に移動
自在である。ボンディングヘッド7にはボンディングツ
ール8を回転させるモータ9と、ボンディングツール8
を鉛直方向に粗送りするエアシリンダ10および微小送り
するサーボモータ11が設けられている。さらに、ボンデ
ィングツール8の先端部にはICチップ等のチップ12を真
空吸着するための吸着部13が設けられているとともに、
この吸着部13に吸着されているチップ12を加熱する加熱
ヒータ14が設けられている。さらに、前記ボンディング
ツール8の上部には平行度調整機構15およびチップ12に
加わる荷重を直接読取るための荷重検知器16が設けられ
ている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a gantry, on which a substrate mounting stage 2 is provided. The substrate mounting stage 2 is movable in the X direction and the Y direction in a horizontal plane, and has a holding portion 4 for holding a circuit board 3 as shown in FIG. A heater 5 is provided. Further, a gate-shaped frame 6 is provided on the gantry 1, and a bonding head 7 is attached to the frame 6 so as to face the substrate mounting stage 2. A bonding tool 8 is supported on the bonding head 7 vertically to the substrate mounting stage 2. The bonding tool 8 is rotatable about its axis and is movable in the vertical direction. A motor 9 for rotating the bonding tool 8 and a bonding tool 8
There is provided an air cylinder 10 for roughly feeding in the vertical direction and a servomotor 11 for finely feeding the cylinder. Further, a suction portion 13 for vacuum-suctioning a chip 12 such as an IC chip is provided at a tip portion of the bonding tool 8, and
A heater 14 is provided for heating the chip 12 adsorbed by the adsorbing section 13. Further, a parallelism adjusting mechanism 15 and a load detector 16 for directly reading a load applied to the chip 12 are provided above the bonding tool 8.

一方、前記基板搭載ステージ2の隣側に位置する架台
1上にはチップ供給部としてのトレイ17が設けられてい
る。このトレイ17には多数個のチップ12…が整列状態で
収納されており、このトレイ17の隣側には中間位置決め
装置18が設けられている。この中間位置決め装置18は、
第3図に示すように負圧によってチップ12を軽く保持す
るチップ載置テーブル19と、このチップ載置テーブル19
の上部に配置されチップ12を4方向からプッシュしてセ
ンタリングを行なうプッシャレバー20とから構成されて
いる。そして、トレイ17に収納されたチップ12を後述す
るチップ供給機構21によって取上げて中間位置決め装置
18に載置し、チップ12のXY方向の位置決めを行なうよう
になっている。
On the other hand, a tray 17 as a chip supply unit is provided on the gantry 1 located adjacent to the substrate mounting stage 2. A large number of chips 12 are stored in the tray 17 in an aligned state, and an intermediate positioning device 18 is provided adjacent to the tray 17. This intermediate positioning device 18
As shown in FIG. 3, a chip mounting table 19 for holding the chip 12 lightly by negative pressure, and a chip mounting table 19
And a pusher lever 20 which pushes the chip 12 from four directions to perform centering. Then, the chips 12 stored in the tray 17 are picked up by a chip supply mechanism 21 described later, and
The chip 12 is mounted on the chip 18 to position the chip 12 in the XY direction.

前記チップ供給機構21について説明すると、22はガイ
ド機構であり、このガイド機構22には前後方向および上
下方向に移動自在な移動ブロック23が設けられている。
そして、この移動ブロック23には供給アーム24が水平面
内で90゜旋回自在で、かつ180゜の上下反転自在に支持
されている。そして、この供給アーム24は第4図に示す
ように先端部はL字状に折曲され、その先端面にはチッ
プ12を真空吸着する吸着部25が設けられている。そし
て、供給アーム24の旋回および上下動によって前記トレ
イ17内のチップ12を吸着部25に吸着して取上げ、中間位
置決め装置18に移載し、また中間位置決め装置18で位置
決めされたチップ12を再び吸着して反転させ、つまりチ
ップ12をフェイスダウンさせて前記ボンディングツール
8へ供給するようになっている。
The chip supply mechanism 21 will be described. Reference numeral 22 denotes a guide mechanism, and the guide mechanism 22 is provided with a movable block 23 that is movable in the front-rear direction and the vertical direction.
A supply arm 24 is supported by the movable block 23 so as to be rotatable by 90 ° in a horizontal plane and to be vertically inverted by 180 °. As shown in FIG. 4, the supply arm 24 has a distal end portion bent in an L-shape, and a suction portion 25 for vacuum-suctioning the chip 12 is provided on the distal end surface. Then, by turning and vertically moving the supply arm 24, the chips 12 in the tray 17 are suctioned by the suction section 25 and picked up, transferred to the intermediate positioning device 18, and the chips 12 positioned by the intermediate positioning device 18 are again moved. The chip 12 is sucked and turned over, that is, the chip 12 is supplied face down to the bonding tool 8.

また、前記基板搭載ステージ2の後方に位置する架台
1上にはXYテーブルからなる視覚用テーブル26が設けら
れている。この視覚用テーブル26上には2視野位置検出
光学系27が搭載されている。この2視野位置検出光学系
27は、第5図に示すように鏡筒28の先端部にプリズム29
を備えたプリズムヘッド30が設けられ、前記視覚用テー
ブル26の前後方向の移動によってプリズムヘッド30が前
記基板搭載ステージ2とボンディングツール8との間に
進退可能となっている。さらに、前記プリズムヘッド30
の上面にはチップ側シャッタ31が、下面には基板側シャ
ッタ32が設けられ、回路基板3の位置とチップ12の位置
を画像信号として取込むことができるようになってい
る。そして、回路基板3およびチップ12のそれぞれの画
像を取込み、制御部33はその画像信号に基づいて両者の
相対的な位置ずれ量を算出し、前記基板搭載ステージ2
およびボンディングヘッド7に移動補正信号を入力する
ようになっている。
A visual table 26 composed of an XY table is provided on the gantry 1 located behind the substrate mounting stage 2. On this visual table 26, a two-view position detecting optical system 27 is mounted. This two visual field position detection optical system
Reference numeral 27 denotes a prism 29 at the tip of a lens barrel 28 as shown in FIG.
Is provided, and the prism head 30 can move forward and backward between the substrate mounting stage 2 and the bonding tool 8 by moving the visual table 26 in the front-rear direction. Further, the prism head 30
A chip-side shutter 31 is provided on the upper surface and a substrate-side shutter 32 is provided on the lower surface, so that the position of the circuit board 3 and the position of the chip 12 can be captured as image signals. Then, each image of the circuit board 3 and the chip 12 is fetched, and the control unit 33 calculates the relative displacement between the two based on the image signals,
A movement correction signal is input to the bonding head 7.

なお、34は樹脂ディスペンサであり、旋回アーム35の
先端にシリンジ36を有している。そして、回路基板3に
対してチップ12を実装前後工程で、実装位置に樹脂を一
定量塗布することによってチップ12を確実に保持するこ
とができる。
Reference numeral 34 denotes a resin dispenser, which has a syringe 36 at the tip of the turning arm 35. Then, in a process before and after mounting the chip 12 on the circuit board 3, a predetermined amount of resin is applied to the mounting position, so that the chip 12 can be reliably held.

つぎに、前述のように構成されたチップボンディング
装置の作用について説明する。
Next, the operation of the chip bonding apparatus configured as described above will be described.

基板搭載ステージ2の保持部4に回路基板3を保持す
ると、加熱ヒータ5によって回路基板3は所定の温度に
加熱される。一方、トレイ17に収納されたチップ12はチ
ップ供給機構21の供給アーム24によって1個だけ取上げ
られる。すなわち、供給アーム24が旋回して吸着部25が
トレイ17のチップ12に対向すると、供給アーム24が下降
して吸着部25でチップ12を吸着保持する。供給アーム24
がチップ12を吸着すると、供給アーム24は後方に直線移
動し、吸着したチップ12を中間位置決め装置18のチップ
載置テーブル19に載置する。このとき、チップ載置テー
ブル19は真空吸引されているためチップ12は負圧によっ
て軽く保持され、この状態で4方向からプッシャレバー
20…が前進すると、チップ12はセンタリングされる。
When the circuit board 3 is held by the holding section 4 of the substrate mounting stage 2, the circuit board 3 is heated to a predetermined temperature by the heater 5. On the other hand, only one chip 12 stored in the tray 17 is picked up by the supply arm 24 of the chip supply mechanism 21. That is, when the supply arm 24 turns and the suction unit 25 faces the chip 12 of the tray 17, the supply arm 24 descends and the suction unit 25 suction-holds the chip 12. Supply arm 24
When the chip 12 sucks the chip 12, the supply arm 24 linearly moves backward, and places the sucked chip 12 on the chip mounting table 19 of the intermediate positioning device 18. At this time, since the chip mounting table 19 is suctioned by vacuum, the chip 12 is lightly held by the negative pressure. In this state, the pusher lever is pushed from four directions.
As 20 moves forward, the tip 12 is centered.

チップ12のセンタリングが終了すると、供給アーム24
の吸着部25によってチップ12は再び吸着され、供給アー
ム24は90゜旋回するとともに、180゜上下反転する。し
たがって、吸着部25に吸着されたチップ12はフェイスダ
ウン状態、つまり突起電極が下向きとなってボンディン
グツール8の下側に供給される。ボンディングツール8
の下端には吸着部13が設けられ、真空吸引されているた
め、前記供給アーム24の吸着部25に吸着されたチップ12
はボンディングツール8の吸着部13に吸着される。
When the centering of the chip 12 is completed, the supply arm 24
The chip 12 is sucked again by the suction unit 25, and the supply arm 24 turns 90 ° and turns upside down by 180 °. Therefore, the chip 12 sucked by the suction portion 25 is supplied to the lower side of the bonding tool 8 in a face-down state, that is, with the protruding electrodes facing downward. Bonding tool 8
A suction portion 13 is provided at the lower end of the supply arm 24, and the chip 12 sucked by the suction portion 25 of the supply arm 24 is suctioned.
Is attracted to the attracting portion 13 of the bonding tool 8.

このように回路基板3とチップ12とが離間対向する
と、2視野位置検出光学系27が作動して回路基板3とチ
ップ12との相対位置を検出する。すなわち、まず視覚用
テーブル26が作動して鏡筒28が前進し、プリズムヘッド
30が回路基板3とチップ12との間に介入する。つぎに、
回路基板3およびチップ12が所定の視野内に入るように
視覚用テーブル26がXY方向に移動する。この状態でチッ
プ側シャッタ31と基板側シャッタ32が交互に開閉して回
路基板3とチップ12の画像を制御部33が取込み、この画
像信号に基づいて両者の相対的な位置ずれ量を算出す
る。そして、位置ずれ量の算出結果に基づいて制御部33
から基板搭載ステージ2およびボンディングヘッド7に
移動補正信号が入力されると、基板搭載ステージ2はXY
方向に修正し、ボンディングヘッド7はボンディングツ
ール8をθ方向に修正して回路基板3とチップ12との相
対的な位置合せを行なう。位置合せが終了すると、視覚
用テーブル26によって2視野位置検出光学系27は後退し
てボンディングツール8から退避する。
As described above, when the circuit board 3 and the chip 12 are separated and opposed to each other, the two-view position detecting optical system 27 operates to detect the relative position between the circuit board 3 and the chip 12. That is, first, the visual table 26 is operated, the lens barrel 28 advances, and the prism head
30 intervenes between the circuit board 3 and the chip 12. Next,
The visual table 26 moves in the X and Y directions so that the circuit board 3 and the chip 12 enter a predetermined field of view. In this state, the chip-side shutter 31 and the substrate-side shutter 32 alternately open and close, and the control unit 33 captures images of the circuit board 3 and the chip 12, and calculates a relative displacement amount between the two based on the image signal. . Then, based on the calculation result of the displacement amount, the control unit 33
When the movement correction signal is input to the substrate mounting stage 2 and the bonding head 7 from the
The bonding head 7 corrects the bonding tool 8 in the θ direction to perform relative alignment between the circuit board 3 and the chip 12. When the alignment is completed, the two-field-of-view position detecting optical system 27 is retracted by the visual table 26 and retracted from the bonding tool 8.

つぎに、ボンディングヘッド7に設けられたエアシリ
ンダ10によってボンディングツール8を下方へ粗送り
し、ついでサーボモータ11によって微小送りするが、こ
のとき荷重検知器16によってチップ12に加わる荷重を測
定しながらサーボモータ10を制御する。そして、チップ
12の加わる荷重が設定荷重に達した位置、つまりチップ
12が回路基板3の実装位置に接合して所定の荷重が加わ
ったところでサーボモータ10を停止する。つぎに、ボン
ディングツール8の加熱ヒータ14に通電してチップ12を
加熱し、回路基板3に対するチップ12のボンディングを
行なう。
Next, the bonding tool 8 is coarsely fed downward by the air cylinder 10 provided on the bonding head 7 and then finely fed by the servomotor 11. At this time, the load applied to the chip 12 by the load detector 16 is measured. The servo motor 10 is controlled. And chips
The position where the load applied to 12 reaches the set load, that is, the tip
The servomotor 10 is stopped when a predetermined load is applied by joining 12 to the mounting position of the circuit board 3. Next, the heater 12 of the bonding tool 8 is energized to heat the chip 12 and bond the chip 12 to the circuit board 3.

チップ12のボンディングが終了すると、ボンディング
ツール8および接続部の冷却を行ない、吸着部13の真空
吸引を解除し、ボンディングツール8は上昇する。
When the bonding of the chip 12 is completed, the bonding tool 8 and the connection part are cooled, the vacuum suction of the suction part 13 is released, and the bonding tool 8 rises.

なお、ボンディング中に、チップ供給機構21の供給ア
ーム24は復帰してつぎにボンディングしようとするチッ
プ12をトレイ17から取上げ、中間位置決め装置18におい
てセンタリングを行なうため、ボンディングツール8へ
のチップ12の供給を迅速に行なうことがきる。
During bonding, the supply arm 24 of the chip supply mechanism 21 returns, picks up the chip 12 to be bonded next from the tray 17, and performs centering in the intermediate positioning device 18. Supply can be done quickly.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、この発明によれば、基板搭載ス
テージに搭載した回路基板に対してチップを実装する際
に、チップ供給部からチップをフェイスダウン状態でボ
ンディングツールに供給し、回路基板とチップとの相対
位置を2視野位置検出光学系によって検出して位置補正
するようにしたから、微小ピッチの配線であってもチッ
プの電極と高精度の位置決めして実装することができ
る。さらに、チップを加圧し、そのチップに加わる荷重
を直接検知しながら荷重制御することにより、確実な接
続ができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, when mounting a chip on a circuit board mounted on a substrate mounting stage, the chip is supplied from the chip supply unit to the bonding tool in a face-down state, and the circuit board and the chip are mounted. Is detected by the two-field-of-view position detecting optical system and the position is corrected, so that even a fine-pitch wiring can be positioned and mounted with high precision with the electrodes of the chip. Further, by pressing the chip and controlling the load while directly detecting the load applied to the chip, there is an effect that a reliable connection can be made.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第1図はチッ
プボンディング装置の全体の斜視図、第2図は回路基板
とチップの斜視図、第3図は中間位置決め装置の概略的
構成図、第4図はチップ供給機構の正面図、第5図は2
視野位置検出光学系の正面図である。 2……基板搭載ステージ、3……回路基板、7……ボン
ディングヘッド、8……ボンディングツール、12……チ
ップ、17……トレイ(チップ供給部)、27……2視野位
置検出光学系、33……制御部。
1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an overall perspective view of a chip bonding apparatus, FIG. 2 is a perspective view of a circuit board and a chip, and FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an intermediate positioning apparatus. , FIG. 4 is a front view of the chip supply mechanism, and FIG.
It is a front view of a visual field position detection optical system. 2 ... board mounting stage, 3 ... circuit board, 7 ... bonding head, 8 ... bonding tool, 12 ... chips, 17 ... tray (chip supply unit), 27 ... 2 visual field position detection optical system, 33 ... Control unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−24635(JP,A) 特開 昭57−147245(JP,A) 特開 昭59−111339(JP,A) 特開 昭57−206037(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/60 311──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-62-24635 (JP, A) JP-A-57-147245 (JP, A) JP-A-59-111339 (JP, A) JP-A-57-147339 206037 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) H01L 21/60 311

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】チップが実装される回路基板を保持し、水
平面内でXY方向に移動自在な基板搭載ステージと、前記
チップをフェイスダウンの状態で吸着保持するとともに
前記チップを加熱する加熱手段を備えたボンディングツ
ールと、このボンディングツールを前記基板搭載ステー
ジに対して垂直な軸心を中心として回転および鉛直方向
に移動させるとともにボンディング時に前記チップに加
わる荷重を検知する手段を備えたボンディングヘッド
と、前記チップをチップ供給部から吸着保持し反転して
フェイスダウンの状態で前記ボンディングツールの吸着
部に供給するチップ供給機構と、前記基板搭載ステージ
と前記ボンディングツールとの間に進退自在に設けられ
前記ボンディングツールに吸着された前記チップの位置
および前記回路基板の位置を検出する2視野位置検出光
学系と、この2視野位置検出光学系からの検出信号によ
って前記基板搭載ステージをXY方向に移動補正するとと
もに前記ボンディングツールをその垂直軸心を中心とし
て回転補正する制御部とを具備したことを特徴とするチ
ップボンディング装置。
1. A substrate mounting stage which holds a circuit board on which a chip is mounted and is movable in the XY direction in a horizontal plane, and a heating means for holding the chip by sucking it face down and heating the chip. A bonding tool comprising: a bonding tool having means for detecting a load applied to the chip at the time of bonding while rotating and moving the bonding tool about an axis perpendicular to the substrate mounting stage in a vertical direction. A chip supply mechanism that suction-holds the chip from the chip supply unit, inverts the chip, and supplies the chip to the suction unit of the bonding tool in a face-down state, and is provided movably between the substrate mounting stage and the bonding tool. Position of the chip adsorbed on a bonding tool and the circuit board A two-field position detection optical system for detecting a position, and the movement of the substrate mounting stage in the XY direction is corrected by the detection signal from the two-field position detection optical system, and the bonding tool is rotationally corrected about its vertical axis. A chip bonding apparatus comprising: a control unit.
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