JP2019164264A - Pattern drawing apparatus and pattern drawing method - Google Patents

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Abstract

To provide a technology that reduces the cost-up of apparatus and the complication of control when photographing multiple marks formed on a substrate with multiple cameras.SOLUTION: A pattern drawing apparatus 1 is an apparatus for forming a pattern by emitting light onto a substrate 9 having a plurality of marks 91 formed on the surface thereof. The pattern drawing apparatus 1 includes: cameras 5a and 5d for photographing a plurality of marks 91 formed on the substrate 9; a coupling tool 52a for connecting the cameras 5a and 5d in an arrayed state in an X-axis direction (array direction); an array-direction moving mechanism 54a for integrally moving the cameras 5a and 5d in the X axis direction; and a main scanning mechanism 35 (scan direction moving mechanism) for moving a stage 2 in a Y-axis direction (scan direction).SELECTED DRAWING: Figure 8

Description

本発明は、基板にパターンを描画する技術に関し、特に、基板の位置を特定する技術に関する。処理対象となる基板には、半導体基板、液晶表示装置および有機EL(Electroluminescence)表示装置などのFPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板、太陽電池用基板、並びに、プリント基板などが含まれる。   The present invention relates to a technique for drawing a pattern on a substrate, and more particularly to a technique for specifying the position of a substrate. Substrates to be processed include semiconductor substrates, FPD (Flat Panel Display) substrates such as liquid crystal display devices and organic EL (Electroluminescence) display devices, optical disk substrates, magnetic disk substrates, magneto-optical disk substrates, and photomasks. Substrate, ceramic substrate, solar cell substrate, and printed circuit board.

基板に塗布された感光材料上に光を照射して、所定のパターンを描画するパターン描画装置が使用される場合がある。従来のパターン描画装置は、基板を水平姿勢で保持しつつ移動させるステージと、基板を移動させつつ基板の上面に光を照射する複数の光学ヘッドとを備えている。パターン描画装置では、基板を移動させつつ複数の光学ヘッドから断続的に光を照射することにより、基板の上面の所定の位置にパターンを描画する。   In some cases, a pattern drawing apparatus is used that draws a predetermined pattern by irradiating light onto a photosensitive material applied to a substrate. A conventional pattern drawing apparatus includes a stage that moves while holding the substrate in a horizontal posture, and a plurality of optical heads that irradiate light onto the upper surface of the substrate while moving the substrate. In the pattern drawing apparatus, a pattern is drawn at a predetermined position on the upper surface of the substrate by irradiating light intermittently from a plurality of optical heads while moving the substrate.

このようなパターン描画装置においては、基板の上面の正確な位置にパターンを描画するために、ステージ上に保持された基板の位置を補正するアライメント処理が行われる。アライメント処理は、例えば、基板の上面に予め形成されたアライメントマークを装置内のアライメントカメラにより撮影し、撮影されたアライメントマークの画像に基づいて基板の位置ずれが補正される。   In such a pattern drawing apparatus, an alignment process for correcting the position of the substrate held on the stage is performed in order to draw a pattern at an accurate position on the upper surface of the substrate. In the alignment process, for example, an alignment mark formed in advance on the upper surface of the substrate is photographed by an alignment camera in the apparatus, and the positional deviation of the substrate is corrected based on the photographed alignment mark image.

本発明に関連する先行技術としては、例えば特許文献1に記載のものがある。特許文献1には、アライメントマークにアライメントカメラで複数のアライメントマークを撮影することが記載されている。   As a prior art related to the present invention, there is one described in Patent Document 1, for example. Patent Document 1 describes that a plurality of alignment marks are photographed with an alignment camera.

特開2009−192693号公報JP 2009-192893 A

ところで、複数のアライメントマーク(以下、「マーク」と称する。)を複数のアライメントカメラ(以下、「カメラ」と称する。)で撮影する場合、マークの位置に合わせて、各カメラをその配列方向に移動させる。そして、基板を各カメラに対してカメラの配列方向に交差するスキャン方向へ相対的に移動させることにより、各マークを効率的に撮影することができる。   By the way, when photographing a plurality of alignment marks (hereinafter referred to as “marks”) with a plurality of alignment cameras (hereinafter referred to as “cameras”), the respective cameras are arranged in the arrangement direction according to the positions of the marks. Move. And each mark can be efficiently image | photographed by moving a board | substrate relatively to the scanning direction which cross | intersects the arrangement direction of a camera with respect to each camera.

ところが、複数のカメラを用いる場合、各カメラを配列方向に移動させる動作軸がカメラの数分必要となるなど移動機構が複雑化する。このため、装置のコストアップ、および、制御の複雑化など、様々な問題が発生する。   However, in the case of using a plurality of cameras, the movement mechanism becomes complicated, for example, the operation axes for moving each camera in the arrangement direction are required by the number of cameras. For this reason, various problems, such as the cost increase of an apparatus and complication of control, generate | occur | produce.

そこで、本発明は、基板に形成された複数のマークを複数のカメラで撮影するにあたって、装置のコストアップおよび制御の複雑化を軽減する技術を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a technique for reducing the cost of the apparatus and the complexity of control when photographing a plurality of marks formed on a substrate with a plurality of cameras.

上記課題を解決するため、第1態様は、複数のマークが表面に形成された基板にパターンを描画するパターン描画装置であって、前記基板を保持する基板保持部と、前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第1カメラ群と、前記第1カメラ群の前記複数のカメラを配列方向に配列された状態で連結する第1連結具と、前記第1連結具により連結された前記第1カメラ群を、前記配列方向へ一体的に移動させる配列方向移動機構と、前記第1カメラ群を、前記基板保持部に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させるスキャン方向移動機構とを備える。   In order to solve the above-described problem, a first aspect is a pattern drawing apparatus that draws a pattern on a substrate having a plurality of marks formed on a surface, the substrate holding unit that holds the substrate, and the marks on the substrate. A first camera group including a plurality of cameras to be photographed; a first connector for connecting the plurality of cameras of the first camera group in an array direction; and the first connector that is connected by the first connector. An arrangement direction moving mechanism for integrally moving the first camera group in the arrangement direction, and a scan direction for moving the first camera group relative to the substrate holder in a scan direction intersecting the arrangement direction. A moving mechanism.

第2態様は、第1態様のパターン描画装置であって、前記基板保持部が複数の前記基板を前記配列方向に並べた状態で保持可能であり、前記第1カメラ群は、前記第1連結具によって、前記基板保持部に保持された複数の基板の各々の同一位置に形成された前記マーク各々を撮影可能な間隔で連結されている。   A 2nd aspect is a pattern drawing apparatus of a 1st aspect, Comprising: The said board | substrate holding | maintenance part can hold | maintain in the state which arranged the said some board | substrate in the said arrangement direction, The said 1st camera group is the said 1st connection By means of a tool, the marks formed at the same position on each of the plurality of substrates held by the substrate holding part are connected at intervals capable of being photographed.

第3態様は、第1態様または第2態様のパターン描画装置であって、前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第2カメラ群と、前記第2カメラ群の前記複数のカメラを前記配列方向に配列された状態で連結する第2連結具と、をさらに備え、前記配列方向移動機構は、前記第2カメラ群に対して前記第1カメラ群を前記配列方向に相対的に移動させるとともに、前記スキャン方向移動機構は、前記第1カメラ群および前記第2カメラ群を前記スキャン方向へ一体的に移動させる。   A 3rd aspect is a pattern drawing apparatus of the 1st aspect or the 2nd aspect, Comprising: The 2nd camera group containing the several camera which image | photographs the said mark in the said board | substrate, The said several camera of the said 2nd camera group A second connector that is connected in an arrangement state in the arrangement direction, and the arrangement direction moving mechanism moves the first camera group relative to the second camera group in the arrangement direction. In addition, the scan direction moving mechanism moves the first camera group and the second camera group integrally in the scan direction.

第4態様は、第1態様から第3態様のいずれか1つのパターン描画装置であって、前記第1連結具は、前記第1カメラ群の前記複数のカメラの間隔を変更可能にする間隔可変機構を備える。   A fourth aspect is the pattern drawing apparatus according to any one of the first aspect to the third aspect, wherein the first connector is capable of changing an interval between the plurality of cameras of the first camera group. Provide mechanism.

第5態様は、複数のマークが表面に形成された基板を処理するパターン描画方法であって、(a) 前記基板を保持する工程と、(b) 前記工程(a)の後、第1連結具によって配列方向に配列された状態で連結された複数のカメラを含む第1カメラ群を、前記基板における前記複数のマークの位置に合わせて前記配列方向に一体的に移動させる工程と、(c) 前記工程(b)の後、前記第1カメラ群を、前記基板に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させる工程とを含む。   A fifth aspect is a pattern drawing method for processing a substrate having a plurality of marks formed on the surface, wherein (a) a step of holding the substrate, (b) a first connection after the step (a) A step of integrally moving a first camera group including a plurality of cameras connected in a state of being arranged in an arrangement direction by a tool in the arrangement direction in accordance with the positions of the plurality of marks on the substrate; ) After the step (b), including a step of moving the first camera group relative to the substrate in a scanning direction intersecting the arrangement direction.

第1態様のパターン描画装置によると、第一カメラ群が第1連結具で連結されていることにより、各カメラを個別に配列方向へ移動させる場合よりも、移動機構を簡易化することができる。このため、装置のコストアップ、および、制御の複雑化を軽減することができる。   According to the pattern drawing apparatus of the first aspect, since the first camera group is connected by the first connector, the moving mechanism can be simplified as compared with the case where each camera is individually moved in the arrangement direction. . For this reason, the cost increase of the apparatus and the complexity of the control can be reduced.

第2態様のパターン描画装置によると、スキャン方向への移動によって、各基板の同一位置に形成されたマーク各々を、第1カメラ群で撮影することができる。   According to the pattern drawing apparatus of the second aspect, each mark formed at the same position on each substrate by moving in the scanning direction can be photographed by the first camera group.

第3態様のパターン描画装置によると、第1連結具および第2連結具によって連結された第1および第2カメラ群を、配列方向に相対的に移動させることによって、基板の配列方向に並ぶ複数のマークの位置に各カメラを移動させることができる。この状態で、第1および第2カメラ群をスキャン方向に移動させることにより、複数列のマークを撮影することができる。   According to the pattern drawing apparatus of the third aspect, a plurality of first and second camera groups coupled by the first coupling tool and the second coupling tool are relatively moved in the arrangement direction, so that a plurality of lines are arranged in the arrangement direction of the substrates. Each camera can be moved to the position of the mark. In this state, by moving the first and second camera groups in the scanning direction, it is possible to photograph multiple rows of marks.

第4態様のパターン描画装置によると、間隔可変機構により第1連結具が複数のカメラの間隔を変えてこれらを連結することができる。これにより、複数のマークの配列方向の間隔に合わせて、各カメラの間隔を調整することができる。   According to the pattern drawing apparatus of the fourth aspect, the first connecting tool can change the intervals of the plurality of cameras and connect them by the interval variable mechanism. Thereby, the interval between the cameras can be adjusted in accordance with the interval in the arrangement direction of the plurality of marks.

第5態様のパターン描画方法によると、第一カメラ群が第1連結具で連結されていることにより、各カメラを個別に配列方向へ移動させる場合よりも、移動機構を簡易化することができる。このため、装置のコストアップ、および、制御の複雑化を軽減することができる。   According to the pattern drawing method of the fifth aspect, since the first camera group is connected by the first connector, the moving mechanism can be simplified as compared with the case where each camera is individually moved in the arrangement direction. . For this reason, the cost increase of the apparatus and the complexity of the control can be reduced.

図1は、第1実施形態のパターン描画装置1を示す概略側面図である。FIG. 1 is a schematic side view showing a pattern drawing apparatus 1 according to the first embodiment. 図2は、第1実施形態のカメラ5a〜5fを示す概略平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view showing the cameras 5a to 5f of the first embodiment. 図3は、第1実施形態のカメラ5a,5dおよび配列方向移動機構54aを示す概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view showing the cameras 5a and 5d and the arrangement direction moving mechanism 54a of the first embodiment. 図4は、第1実施形態のカメラ5a,5dおよび配列方向移動機構54aを示す概略平面図である。FIG. 4 is a schematic plan view showing the cameras 5a and 5d and the arrangement direction moving mechanism 54a of the first embodiment. 図5は、第1実施形態の描画ヘッド60を示す概略斜視図である。FIG. 5 is a schematic perspective view showing the drawing head 60 of the first embodiment. 図6は、第1実施形態の制御部7の構成を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of the control unit 7 according to the first embodiment. 図7は、第1実施形態のマーク位置取得処理の流れを示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a flow of mark position acquisition processing according to the first embodiment. 図8は、各カメラ5a〜5fを配列方向に移動させる様子を示す概略平面図である。FIG. 8 is a schematic plan view showing how the cameras 5a to 5f are moved in the arrangement direction. 図9は、第2実施形態の連結具52a1を示す概略平面図である。FIG. 9 is a schematic plan view showing the connector 52a1 of the second embodiment.

以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、この実施形態に記載されている構成要素はあくまでも例示であり、本発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。図面においては、理解容易のため、必要に応じて各部の寸法や数が誇張又は簡略化して図示されている場合がある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, the component described in this embodiment is an illustration to the last, and is not a thing of the meaning which limits the scope of the present invention only to them. In the drawings, the size and number of each part may be exaggerated or simplified as necessary for easy understanding.

<1. 第1実施形態>
図1は、第1実施形態のパターン描画装置1を示す概略側面図である。パターン描画装置1は、レジストなどの層が形成された基板9の上面に、CADデータなどに応じて空間変調した光(描画光)を照射して、パターン(例えば、回路パターン)を露光(描画)する装置である。パターン描画装置1で処理対象とされる基板9は、例えば、プリント基板、半導体基板、液晶表示装置または有機EL(Electroluminescence)表示装置などのFPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板、太陽電池用基板などである。以下の説明では、基板9は矩形板状に形成されているものとする。
<1. First Embodiment>
FIG. 1 is a schematic side view showing a pattern drawing apparatus 1 according to the first embodiment. The pattern drawing apparatus 1 irradiates light (drawing light) spatially modulated in accordance with CAD data or the like on the upper surface of the substrate 9 on which a layer such as a resist is formed, thereby exposing (drawing) a pattern (for example, a circuit pattern). ). The substrate 9 to be processed by the pattern drawing apparatus 1 is, for example, a printed circuit board, a semiconductor substrate, a liquid crystal display device or an FPD (Flat Panel Display) substrate such as an organic EL (Electroluminescence) display device, an optical disk substrate, or a magnetic disk. Substrate, magneto-optical disk substrate, photomask substrate, ceramic substrate, solar cell substrate and the like. In the following description, it is assumed that the substrate 9 is formed in a rectangular plate shape.

パターン描画装置1は、基台15、門型の支持フレーム16、ステージ2、ステージ駆動機構3、ステージ位置計測部4、カメラ5、描画ユニット6、および、制御部7を備える。   The pattern drawing apparatus 1 includes a base 15, a gate-shaped support frame 16, a stage 2, a stage driving mechanism 3, a stage position measuring unit 4, a camera 5, a drawing unit 6, and a control unit 7.

ステージ2は、基板9を保持する保持部である。ステージ2は、基台15上に配置される。ステージ2は、具体的には、例えば、平板状の外形を有し、その上面に基板9を水平姿勢に載置して保持する。ステージ2は、複数の基板9を同時に保持することが可能である。例えば、ステージ2の上面には、複数の吸引孔(図示省略)が形成されており、この吸引孔に負圧(吸引圧)を形成することによって、ステージ2上に載置された基板9をステージ2の上面に固定保持する。なお、基板9を保持する構成は、これに限定されない。例えば、粘着シートなどを用いて基板9をステージ2上に接着させてもよい。   The stage 2 is a holding unit that holds the substrate 9. The stage 2 is disposed on the base 15. Specifically, the stage 2 has, for example, a flat outer shape, and the substrate 9 is placed and held on the upper surface of the stage 2 in a horizontal posture. The stage 2 can hold a plurality of substrates 9 simultaneously. For example, a plurality of suction holes (not shown) are formed on the upper surface of the stage 2, and a negative pressure (suction pressure) is formed in the suction holes, so that the substrate 9 placed on the stage 2 is removed. It is fixedly held on the upper surface of the stage 2. The configuration for holding the substrate 9 is not limited to this. For example, the substrate 9 may be bonded onto the stage 2 using an adhesive sheet or the like.

<ステージ駆動機構3>
ステージ駆動機構3は、ステージ2を基台15に対して相対的に移動させる。ステージ駆動機構3は、基台15上に配置されている。
<Stage drive mechanism 3>
The stage drive mechanism 3 moves the stage 2 relative to the base 15. The stage drive mechanism 3 is disposed on the base 15.

ステージ駆動機構3は、具体的には、ステージ2を回転方向(Z軸周りの回転方向(θ軸方向))に回転させる回転機構31と、回転機構31を介してステージ2を支持する支持プレート32と、支持プレート32を副走査方向(X軸方向)に移動させる副走査機構33とを備える。ステージ駆動機構3は、さらに、副走査機構33を介して支持プレート32を支持するベースプレート34と、ベースプレート34を主走査方向(Y軸方向)に移動させる主走査機構35とを備える。   Specifically, the stage drive mechanism 3 includes a rotation mechanism 31 that rotates the stage 2 in the rotation direction (rotation direction around the Z axis (θ axis direction)), and a support plate that supports the stage 2 via the rotation mechanism 31. 32 and a sub-scanning mechanism 33 that moves the support plate 32 in the sub-scanning direction (X-axis direction). The stage drive mechanism 3 further includes a base plate 34 that supports the support plate 32 via the sub-scanning mechanism 33, and a main scanning mechanism 35 that moves the base plate 34 in the main scanning direction (Y-axis direction).

回転機構31は、ステージ2の上面(基板9の載置面)の中心を通り、当該載置面に垂直な回転軸Aを中心としてステージ2を回転させる。回転機構31は、例えば、上端が載置面の裏面側に固着され、鉛直軸に沿って延在する回転軸部311と、回転軸部311の下端に設けられ、回転軸部311を回転させる回転駆動部(例えば、回転モータ)312とを含む構成とすることができる。この構成においては、回転駆動部312が回転軸部311を回転させることにより、ステージ2が水平面内で回転軸Aを中心として回転することになる。   The rotation mechanism 31 rotates the stage 2 around a rotation axis A that passes through the center of the upper surface of the stage 2 (mounting surface of the substrate 9) and is perpendicular to the mounting surface. For example, the rotation mechanism 31 is provided at the lower end of the rotation shaft portion 311 and the rotation shaft portion 311 which are fixed to the back surface side of the mounting surface and extend along the vertical axis, and rotate the rotation shaft portion 311. A rotation drive unit (for example, a rotation motor) 312 may be included. In this configuration, the rotation drive unit 312 rotates the rotation shaft portion 311, whereby the stage 2 rotates about the rotation axis A in the horizontal plane.

副走査機構33は、支持プレート32の下面に取り付けられた移動子とベースプレート34の上面に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ331とを有している。また、ベースプレート34には、副走査方向に延びる一対のガイド部材332が敷設されており、各ガイド部材332と支持プレート32との間には、ガイド部材332に摺動しながら当該ガイド部材332に沿って移動可能なボールベアリングが設置されている。つまり、支持プレート32は、当該ボールベアリングを介して一対のガイド部材332上に支持される。この構成においてリニアモータ331を動作させると、支持プレート32はガイド部材332に案内された状態で副走査方向に沿って滑らかに移動する。   The sub-scanning mechanism 33 includes a linear motor 331 configured by a mover attached to the lower surface of the support plate 32 and a stator laid on the upper surface of the base plate 34. In addition, a pair of guide members 332 extending in the sub-scanning direction is laid on the base plate 34, and the guide members 332 slide between the guide members 332 and the support plate 32 while sliding on the guide members 332. Ball bearings that can move along are installed. That is, the support plate 32 is supported on the pair of guide members 332 via the ball bearing. When the linear motor 331 is operated in this configuration, the support plate 32 moves smoothly along the sub-scanning direction while being guided by the guide member 332.

主走査機構35は、ベースプレート34の下面に取り付けられた移動子と基台15上に敷設された固定子とにより構成されたリニアモータ351を有している。また、基台15には、主走査方向に延びる一対のガイド部材352が敷設されており、各ガイド部材352とベースプレート34との間には例えばエアベアリングが設置されている。エアベアリングにはユーティリティ設備から常時エアが供給されており、ベースプレート34は、エアベアリングによってガイド部材352上に非接触で浮上支持される。この構成においてリニアモータ351を動作させると、ベースプレート34はガイド部材352に案内された状態で主走査方向に沿って摩擦なしで滑らかに移動する。   The main scanning mechanism 35 includes a linear motor 351 configured by a mover attached to the lower surface of the base plate 34 and a stator laid on the base 15. In addition, a pair of guide members 352 extending in the main scanning direction is laid on the base 15, and an air bearing is installed between each guide member 352 and the base plate 34, for example. Air is always supplied from utility equipment to the air bearing, and the base plate 34 is supported in a floating manner on the guide member 352 in a non-contact manner by the air bearing. When the linear motor 351 is operated in this configuration, the base plate 34 smoothly moves without friction along the main scanning direction while being guided by the guide member 352.

<ステージ位置計測部4>
ステージ位置計測部4は、ステージ2の位置を計測する。ステージ位置計測部4は、具体的には、例えば、ステージ2外からステージ2に向けてレーザ光を出射するとともにその反射光を受光する。ステージ位置計測部4は、当該反射光と出射光との干渉からステージ2の位置(具体的には、主走査方向に沿うY位置、および、回転方向に沿うθ位置)を計測する、干渉式のレーザ測長器を構成する。
<Stage position measurement unit 4>
The stage position measurement unit 4 measures the position of the stage 2. Specifically, the stage position measurement unit 4 emits laser light from the outside of the stage 2 toward the stage 2 and receives the reflected light, for example. The stage position measurement unit 4 measures the position of the stage 2 (specifically, the Y position along the main scanning direction and the θ position along the rotation direction) from the interference between the reflected light and the emitted light. The laser length measuring instrument is configured.

<カメラ5>
カメラ5は、ステージ2に保持された基板9の上面を撮影する光学機器である。カメラ5は、支持フレーム16に支持される。カメラ5は、例えば、鏡筒と、フォーカシングレンズと、CCDイメージセンサと、駆動部とを備える。鏡筒は、撮影用の照明光(ただし、照明光としては、基板9上のレジストなどを感光させない波長の光が選択されている)を供給する照明ユニット500と、ファイバケーブルなどを介して接続されている。CCDイメージセンサは、エリアイメージセンサ(二次元イメージセンサ)などにより構成される。また、駆動部は、モータなどにより構成され、フォーカシングレンズを駆動してその高さ位置を変更する。駆動部が、フォーカシングレンズの高さ位置を調整することによって、オートフォーカスが行われる。
<Camera 5>
The camera 5 is an optical device that takes an image of the upper surface of the substrate 9 held on the stage 2. The camera 5 is supported by the support frame 16. The camera 5 includes, for example, a lens barrel, a focusing lens, a CCD image sensor, and a drive unit. The lens barrel is connected to an illumination unit 500 that supplies illumination light for photographing (however, light having a wavelength that does not sensitize resist on the substrate 9 is selected as illumination light) via a fiber cable or the like. Has been. The CCD image sensor is composed of an area image sensor (two-dimensional image sensor) or the like. The drive unit is configured by a motor or the like, and drives the focusing lens to change its height position. The drive unit adjusts the height position of the focusing lens to perform autofocus.

このような構成を備えるカメラ5においては、照明ユニット500から出射される光が鏡筒に導入され、フォーカシングレンズを介して、ステージ2上の基板9の上面に導かれる。そして、その反射光が、CCDイメージセンサで受光される。これによって、基板9の上面に形成されたマーク91(図8参照)の撮影データが取得される。この撮影データは、制御部7に送られて、基板9のアライメント(位置合わせ)に供される。   In the camera 5 having such a configuration, light emitted from the illumination unit 500 is introduced into the lens barrel and guided to the upper surface of the substrate 9 on the stage 2 via the focusing lens. The reflected light is received by the CCD image sensor. Thereby, photographing data of the mark 91 (see FIG. 8) formed on the upper surface of the substrate 9 is acquired. This photographing data is sent to the control unit 7 and used for alignment (positioning) of the substrate 9.

パターン描画装置1は、6つのカメラ5を備えている。6つのカメラ5は、X軸方向に並べられた状態で支持フレーム16に取り付けられている。以下の説明では、6つのカメラ5について、+X側から−X側に向けて、順に、カメラ5a,5b,5c,5d,5e,5fと称する。   The pattern drawing apparatus 1 includes six cameras 5. The six cameras 5 are attached to the support frame 16 in a state of being arranged in the X-axis direction. In the following description, the six cameras 5 are sequentially referred to as cameras 5a, 5b, 5c, 5d, 5e, and 5f from the + X side to the −X side.

図2は、第1実施形態のカメラ5a〜5fを示す概略平面図である。図3は、第1実施形態のカメラ5a,5dおよび配列方向移動機構54aを示す概略斜視図である。なお、図3は、配列方向移動機構54aを、−Y側正面から−X側に向かって斜めに見た様子を示す図である。図4は、第1実施形態のカメラ5a,5dおよび配列方向移動機構54aを示す概略平面図である。   FIG. 2 is a schematic plan view showing the cameras 5a to 5f of the first embodiment. FIG. 3 is a schematic perspective view showing the cameras 5a and 5d and the arrangement direction moving mechanism 54a of the first embodiment. FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which the arrangement direction moving mechanism 54a is viewed obliquely from the −Y side front surface toward the −X side. FIG. 4 is a schematic plan view showing the cameras 5a and 5d and the arrangement direction moving mechanism 54a of the first embodiment.

まず、図2にて概略的に示すように、2つのカメラ5a,5d(第1カメラ群)は連結具52a(第1連結具)で連結され、2つのカメラ5b,5e(第2カメラ群)は連結具52b(第2連結具)で連結され、2つのカメラ5c,5f(第3カメラ群)は連結具52c(第3連結具)で連結されている。   First, as schematically shown in FIG. 2, two cameras 5a and 5d (first camera group) are connected by a connecting tool 52a (first connecting tool), and two cameras 5b and 5e (second camera group) are connected. ) Are connected by a connector 52b (second connector), and the two cameras 5c and 5f (third camera group) are connected by a connector 52c (third connector).

連結具52a〜52c各々は、X軸方向に延びる部材である。連結具52aは、カメラ5a,5dをX軸方向に所定の間隔をあけて連結する。同様に、連結具52b,52cは、それぞれ、カメラ5b,5e、および、カメラ5c,5fをX軸方向に所定の間隔をあけて並列させた状態で、各々を連結する。本実施形態では、X軸方向が配列方向に対応する。なお、本実施形態では、各連結具52a〜52cは、それぞれ2つのカメラ5を連結させているが、3つ以上のカメラ5を連結していてもよい。   Each of the couplers 52a to 52c is a member extending in the X-axis direction. The connector 52a connects the cameras 5a and 5d with a predetermined interval in the X-axis direction. Similarly, the connecting tools 52b and 52c connect the cameras 5b and 5e and the cameras 5c and 5f, respectively, in a state where they are arranged in parallel at a predetermined interval in the X-axis direction. In the present embodiment, the X-axis direction corresponds to the arrangement direction. In addition, in this embodiment, although each connector 52a-52c has connected the two cameras 5, respectively, you may connect the three or more cameras 5. FIG.

パターン描画装置1は、配列方向移動機構54(54a,54b,54c)を備える。配列方向移動機構54aはカメラ5a,5dを、配列方向移動機構54bはカメラ5b,5eを、配列方向移動機構54cはカメラ5c,5fを、それぞれ一体的にX軸方向に移動させる。配列方向移動機構54a〜54cは、上下(Z軸方向)に多段に重ねて設けられている。   The pattern drawing apparatus 1 includes an arrangement direction moving mechanism 54 (54a, 54b, 54c). The arrangement direction moving mechanism 54a integrally moves the cameras 5a and 5d, the arrangement direction moving mechanism 54b integrally moves the cameras 5b and 5e, and the arrangement direction moving mechanism 54c integrally moves the cameras 5c and 5f in the X axis direction. The arrangement direction moving mechanisms 54a to 54c are provided in multiple stages in the vertical direction (Z-axis direction).

図3および図4にて詳細に示すように、配列方向移動機構54aは、ボールネジ541と、回転駆動部542、スライド部543a,543b、および、ガイド部544とを備えている。   As shown in detail in FIGS. 3 and 4, the arrangement direction moving mechanism 54 a includes a ball screw 541, a rotation drive unit 542, slide units 543 a and 543 b, and a guide unit 544.

ボールネジ541、ガイド部544は、X軸方向に延びている。ボールネジ541は、ガイド部544の内部に収容されている。回転駆動部542は、ボールネジ541をX軸まわりに回転させる。   The ball screw 541 and the guide part 544 extend in the X-axis direction. The ball screw 541 is accommodated in the guide portion 544. The rotation drive unit 542 rotates the ball screw 541 around the X axis.

ガイド部544は、その内部にスライド部543a,543bをX軸方向に移動可能に保持している。詳細には、ガイド部544は、スライド部543a,543bを上下から摺接移動可能に保持している。ガイド部544は、スライド部543a,543bがX軸方向のみに移動するように移動方向を規制する。   The guide portion 544 holds the slide portions 543a and 543b so as to be movable in the X-axis direction. Specifically, the guide part 544 holds the slide parts 543a and 543b so as to be slidable from above and below. The guide part 544 regulates the movement direction so that the slide parts 543a and 543b move only in the X-axis direction.

ボールネジ541は、スライド部543a,543bをX軸方向に貫通している。スライド部543aは、ボールネジ541に螺合するネジ穴を有する。また、スライド部543bは、ボールネジ541の外径(ネジ山の径)よりも大きい内径の挿通孔543Hを有している。スライド部543bはボールネジ541には非接触の状態で、ガイド部544に保持されている。   The ball screw 541 passes through the slide portions 543a and 543b in the X-axis direction. The slide portion 543 a has a screw hole that is screwed into the ball screw 541. The slide portion 543b has an insertion hole 543H having an inner diameter larger than the outer diameter (thread diameter) of the ball screw 541. The slide portion 543b is held by the guide portion 544 without being in contact with the ball screw 541.

ガイド部544の−Y側には、連結具52aが配されている。そして、連結具52aは、ガイド部544の内部に保持されたスライド部543a,543bに連結されている。図3に示すように、連結具52aの−Y側の表面に、カメラ5a,5dが取り付けられている。スライド部543aはカメラ5aとY軸方向に重なる位置に設けられており、スライド部543bはカメラ5dとY軸方向に重なる位置に設けられている。   A connector 52a is arranged on the −Y side of the guide portion 544. And the connection tool 52a is connected with the slide parts 543a and 543b hold | maintained inside the guide part 544. FIG. As shown in FIG. 3, cameras 5a and 5d are attached to the surface on the −Y side of the connector 52a. The slide part 543a is provided at a position overlapping the camera 5a in the Y axis direction, and the slide part 543b is provided at a position overlapping the camera 5d in the Y axis direction.

回転駆動部542がボールネジ541を正回転または逆回転させることにより、スライド部543aが+X方向または−X方向に移動する。このスライド部543aの移動に伴い、連結具52aが+X方向または−X方向に移動する。このとき、連結具52aに連結されたスライド部543bがガイド部544に案内されて、+X方向または−X方向へ移動する。また、連結具52aの+X方向または−X方向への移動に伴い、カメラ5a,5dが一体的に+X方向または−X方向に一体的に移動する。   When the rotation drive unit 542 rotates the ball screw 541 in the forward or reverse direction, the slide unit 543a moves in the + X direction or the −X direction. As the slide portion 543a moves, the connector 52a moves in the + X direction or the -X direction. At this time, the slide portion 543b connected to the connector 52a is guided by the guide portion 544 and moves in the + X direction or the −X direction. Further, as the connector 52a moves in the + X direction or the −X direction, the cameras 5a and 5d move integrally in the + X direction or the −X direction.

配列方向移動機構54b,54cについても、配列方向移動機構54aと同様の構成を有する。配列方向移動機構54a〜54cは、それぞれ、連結具52a〜52cを互いに接触させないようにX軸方向に移動させる。   The arrangement direction moving mechanisms 54b and 54c have the same configuration as the arrangement direction movement mechanism 54a. The arrangement direction moving mechanisms 54a to 54c move the couplers 52a to 52c in the X-axis direction so as not to contact each other.

図1に戻って、描画ユニット6は、描画光を形成する光学装置である。パターン描画装置1は、描画ユニット6を複数(例えば、5つ)備える。もっとも、描画ユニット6の搭載数は、複数であることは必須ではなく、1つであってもよい。   Returning to FIG. 1, the drawing unit 6 is an optical device that forms drawing light. The pattern drawing apparatus 1 includes a plurality of (for example, five) drawing units 6. However, it is not essential that the number of the drawing units 6 to be mounted is plural, and may be one.

図5は、第1実施形態の描画ヘッド60を示す概略斜視図である。描画ユニット6は、描画ヘッド60と、光源装置61と、空間光変調デバイス62と、投影光学系63とを備える。光源装置61、空間光変調デバイス62および投影光学系63は、支持フレーム16(図1参照)に支持される。具体的には、例えば、光源装置61は、支持フレーム16の天板上に載置される収容ボックスに収容される。また、空間光変調デバイス62および投影光学系63は、支持フレーム16の+Y側に固定された収容ボックスに収容される。   FIG. 5 is a schematic perspective view showing the drawing head 60 of the first embodiment. The drawing unit 6 includes a drawing head 60, a light source device 61, a spatial light modulation device 62, and a projection optical system 63. The light source device 61, the spatial light modulation device 62, and the projection optical system 63 are supported by the support frame 16 (see FIG. 1). Specifically, for example, the light source device 61 is accommodated in an accommodation box placed on the top plate of the support frame 16. The spatial light modulation device 62 and the projection optical system 63 are accommodated in an accommodation box fixed to the + Y side of the support frame 16.

光源装置61は、描画ヘッド60に向けて光を出射する。光源装置61は、具体的には、例えば、レーザ光を出射するレーザ発振器などを備える。光源装置61は、レーザ発振器から出射された光(スポットビーム)を、強度分布が均一な線状の光(すなわち、光束断面が帯状の光であるラインビーム)とする照明光学系613を備える。照明光学系613は、光源装置61から出力された光を空間光変調デバイス62へと導く。照明光学系613は、例えば、レンズ614とミラー615とを備える。   The light source device 61 emits light toward the drawing head 60. Specifically, the light source device 61 includes, for example, a laser oscillator that emits laser light. The light source device 61 includes an illumination optical system 613 that converts light (spot beam) emitted from a laser oscillator into linear light having a uniform intensity distribution (that is, a line beam having a light beam cross-section in a band shape). The illumination optical system 613 guides the light output from the light source device 61 to the spatial light modulation device 62. The illumination optical system 613 includes, for example, a lens 614 and a mirror 615.

空間光変調デバイス62は、例えば、DMD(デジタル・マイクロミラー・デバイス)を含む。DMDは、それぞれの向きが個別に変更可能な微小鏡面群を備えている。多数の微小鏡面は、シリコン基板上に形成されており、かつ、多数の微小鏡面が2次元に配列されている(すなわち、互いに垂直な2方向に整列されたアレイ状に配列されている)。   The spatial light modulation device 62 includes, for example, a DMD (digital micromirror device). The DMD includes a group of micro mirror surfaces whose directions can be individually changed. A large number of micromirror surfaces are formed on a silicon substrate, and the large number of micromirror surfaces are arranged in two dimensions (that is, arranged in an array aligned in two directions perpendicular to each other).

空間光変調デバイス62では、各微小鏡面に対応するメモリセルに書き込まれたデータに従って、各微小鏡面が静電作用によりシリコン基板の表面に対して所定の角度だけ傾く。そして、所定のON状態に対応する姿勢にある微小鏡面からの反射光のみにより形成される光(すなわち、空間変調された光)が、投影光学系63へと導かれる。なお、空間光変調デバイス62として、反射型及び回折格子型の空間光変調器であるGLV(Grating Light Valve)も採用され得る。   In the spatial light modulation device 62, each micromirror surface is inclined by a predetermined angle with respect to the surface of the silicon substrate by electrostatic action in accordance with the data written in the memory cell corresponding to each micromirror surface. Then, light (that is, spatially modulated light) formed only by the reflected light from the micro-mirror surface in a posture corresponding to the predetermined ON state is guided to the projection optical system 63. As the spatial light modulation device 62, a GLV (Grating Light Valve) which is a reflection type and diffraction grating type spatial light modulator may be employed.

空間光変調デバイス62にて空間変調された光は、投影光学系63により、ステージ2上の基板9(図1参照)へと導かれる。投影光学系63からの光は、空間光変調デバイス62の微小鏡面群に対して光学的に共役な基板9上の照射領域へと照射される。   The light spatially modulated by the spatial light modulation device 62 is guided to the substrate 9 (see FIG. 1) on the stage 2 by the projection optical system 63. The light from the projection optical system 63 is irradiated to the irradiation region on the substrate 9 that is optically conjugate with respect to the micromirror surface group of the spatial light modulation device 62.

図6は、第1実施形態の制御部7の構成を示すブロック図である。制御部7は、パターン描画装置1が備える各部と電気的に接続されており、各種の演算処理を実行しつつパターン描画装置1の各部の動作を制御する。   FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of the control unit 7 according to the first embodiment. The control unit 7 is electrically connected to each unit included in the pattern drawing device 1 and controls the operation of each unit of the pattern drawing device 1 while executing various arithmetic processes.

制御部7は、CPU71、ROM72、RAM73、記憶装置74等がバスライン75を介して相互接続された一般的なコンピュータとして構成される。ROM72は、基本プログラムなどを格納している。RAM73は、CPU71が所定の処理を行う際の作業領域として供される。記憶装置74は、フラッシュメモリ、あるいは、ハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成されている。記憶装置74には、プログラムPGがインストールされている。当該プログラムPGに既述された手順に従って、主制御部としてのCPU71が演算処理を行うことにより、制御部7は、基板データ処理部711、配列方向移動制御部713、スキャン方向移動制御部715、画像処理部717として機能する。なお、各機能は、専用の論理回路で構成されたハードウェアによって実現されてもよい。   The control unit 7 is configured as a general computer in which a CPU 71, a ROM 72, a RAM 73, a storage device 74, and the like are interconnected via a bus line 75. The ROM 72 stores basic programs and the like. The RAM 73 is used as a work area when the CPU 71 performs a predetermined process. The storage device 74 is configured by a non-volatile storage device such as a flash memory or a hard disk device. A program PG is installed in the storage device 74. In accordance with the procedure described in the program PG, the CPU 71 as the main control unit performs arithmetic processing, so that the control unit 7 includes the substrate data processing unit 711, the array direction movement control unit 713, the scan direction movement control unit 715, It functions as an image processing unit 717. Each function may be realized by hardware configured by a dedicated logic circuit.

基板データ処理部711は、ステージ2に載置される基板9に関する基板データを取り込む。基板データは、基板9の大きさ、基板9におけるマーク91が形成されている位置情報などを含む。基板データは、例えば、記憶装置74などに保存されている。基板データ処理部711が取り込んだ基板データから、基板9のステージ2上における載置位置などが特定される。また、基板データから、ステージ2に載置された基板9におけるマーク91のパターン描画装置1における位置(X軸座標およびY軸座標)が特定可能となる。   The substrate data processing unit 711 captures substrate data related to the substrate 9 placed on the stage 2. The board data includes the size of the board 9 and position information on the board 9 where the mark 91 is formed. The board data is stored in the storage device 74, for example. From the substrate data taken in by the substrate data processing unit 711, the placement position of the substrate 9 on the stage 2 is specified. Further, the position (X axis coordinate and Y axis coordinate) of the mark 91 on the substrate 9 placed on the stage 2 in the pattern drawing apparatus 1 can be specified from the substrate data.

配列方向移動制御部713は、配列方向移動機構54a〜54cを制御することにより、複数のカメラ5a〜5fの配列方向(X軸方向)の移動を制御する。ここでは、配列方向移動制御部713は、基板データ処理部711が取り込んだ基板データから特定される複数のマーク91のX軸方向位置に合わせて、カメラ5a〜5f各々を配列方向であるX軸方向に移動させる。   The arrangement direction movement control unit 713 controls movement of the plurality of cameras 5a to 5f in the arrangement direction (X-axis direction) by controlling the arrangement direction movement mechanisms 54a to 54c. Here, the arrangement direction movement control unit 713 aligns each of the cameras 5a to 5f with the X axis as the arrangement direction in accordance with the X axis direction positions of the plurality of marks 91 specified from the board data captured by the board data processing unit 711. Move in the direction.

スキャン方向移動制御部715は、主走査機構35(スキャン方向移動機構)を制御することにより、ステージ2をY軸方向に移動させる。ステージ2がY軸方向に移動することにより、基板9をY軸方向に移動させることができる。これにより、複数のカメラ5または複数の描画ヘッド60に対して、基板9をY軸方向(スキャン方向)に相対的に移動させることができる。   The scanning direction movement control unit 715 moves the stage 2 in the Y-axis direction by controlling the main scanning mechanism 35 (scanning direction movement mechanism). By moving the stage 2 in the Y-axis direction, the substrate 9 can be moved in the Y-axis direction. Accordingly, the substrate 9 can be moved relative to the plurality of cameras 5 or the plurality of drawing heads 60 in the Y-axis direction (scanning direction).

画像処理部717は、各カメラ5a〜5fが撮影することによって得られた画像データを、画像処理することによって、マーク91の位置を特定する。   The image processing unit 717 specifies the position of the mark 91 by performing image processing on image data obtained by photographing each of the cameras 5a to 5f.

また、制御部7は、バスライン75に接続された、入力部76、表示部77および通信部78を備える。入力部76は、例えば、キーボードおよびマウスによって構成される入力デバイスであり、オペレータからの各種の操作(コマンドや各種データの入力といった操作)を受け付ける。なお、入力部76は、各種スイッチ、タッチパネルなどにより構成されてもよい。表示部77は、液晶表示装置、ランプなどにより構成される表示装置であり、CPU71による制御の下、各種の情報を表示する。通信部78は、ネットワークを介して外部装置との間でコマンドやデータなどの送受信を行うデータ通信機能を有する。   The control unit 7 includes an input unit 76, a display unit 77, and a communication unit 78 connected to the bus line 75. The input unit 76 is an input device configured by a keyboard and a mouse, for example, and accepts various operations (operations such as inputting commands and various data) from the operator. The input unit 76 may be configured with various switches, a touch panel, and the like. The display unit 77 is a display device that includes a liquid crystal display device, a lamp, and the like, and displays various types of information under the control of the CPU 71. The communication unit 78 has a data communication function for transmitting / receiving commands and data to / from an external device via a network.

図7は、第1実施形態のマーク位置取得処理の流れを示す図である。まず、外部からパターン描画装置1に搬入された基板9が、ステージ2上に搬入されるとともに、当該基板9がステージ2上の一定位置に保持される(ステップS10)。なお、ステージ2に保持される基板9の数は、1つであってもよいし、複数であってもよい。   FIG. 7 is a diagram illustrating a flow of mark position acquisition processing according to the first embodiment. First, the substrate 9 carried into the pattern drawing apparatus 1 from the outside is carried onto the stage 2, and the substrate 9 is held at a fixed position on the stage 2 (step S10). The number of substrates 9 held on the stage 2 may be one or plural.

基板9の搬入が完了すると、マーク位置取得処理が開始される。具体的には、制御部7が、基板データを取り込む(ステップS11)。詳細には、基板データ処理部711は、ステージ2に保持された基板9におけるマーク91の位置情報、および、基板9の大きさなどが記録された基板データを、記憶装置74から読み取りする。複数種類の基板に関する基板データが記憶装置74に保存されてる場合、基板データ処理部711は、処理対象の基板の種類や処理内容等が記録された処理レシピを参照する、あるいは、オペレータからの指定を受け付けることによって、ステージ2に保持された基板9を特定するとよい。   When the loading of the substrate 9 is completed, the mark position acquisition process is started. Specifically, the control unit 7 takes in the substrate data (step S11). More specifically, the substrate data processing unit 711 reads, from the storage device 74, the substrate data in which the position information of the mark 91 on the substrate 9 held on the stage 2 and the size of the substrate 9 are recorded. When substrate data relating to a plurality of types of substrates is stored in the storage device 74, the substrate data processing unit 711 refers to a processing recipe in which the types of substrates to be processed, processing contents, and the like are recorded, or is designated by an operator. The substrate 9 held on the stage 2 may be specified by receiving

続いて、基板データ処理部711が、基板データに基づき、基板9上の座標系を、パターン描画装置1におけるX軸・Y軸座標系に変換する(ステップS12)。詳細には、基板データ処理部711が、基板データから得られる基板9の大きさなどから、ステージ2上にて保持される位置(被保持位置)を特定する。そして、基板データ処理部711は、この被保持位置から、基板9上の座標系を、パターン描画装置1におけるX軸・Y軸座標系に変換する座標変換式が求められる。   Subsequently, the substrate data processing unit 711 converts the coordinate system on the substrate 9 into the X-axis / Y-axis coordinate system in the pattern drawing apparatus 1 based on the substrate data (step S12). Specifically, the substrate data processing unit 711 specifies a position (held position) held on the stage 2 based on the size of the substrate 9 obtained from the substrate data. Then, the substrate data processing unit 711 obtains a coordinate conversion formula for converting the coordinate system on the substrate 9 into the X-axis / Y-axis coordinate system in the pattern drawing apparatus 1 from the held position.

続いて、基板データ処理部711が、各カメラ5a〜5fの移動開始位置を算出する(ステップS13)。詳細には、マーク91の位置情報が記録された基板データと、ステップS12にて求められた座標変換式に基づき、基板9に形成された複数のマーク91の各X軸座標が特定される。この各X軸座標が、各カメラ5a〜5fの移動開始位置とされる。   Subsequently, the substrate data processing unit 711 calculates the movement start positions of the cameras 5a to 5f (step S13). Specifically, the X-axis coordinates of the plurality of marks 91 formed on the substrate 9 are specified based on the substrate data in which the position information of the mark 91 is recorded and the coordinate conversion formula obtained in step S12. These X-axis coordinates are taken as the movement start positions of the cameras 5a to 5f.

ステップS13の後、配列方向移動制御部713が、マーク91のX軸方向(配列方向)の位置に合わせて、各カメラ5a〜5fをX軸方向に移動させる(ステップS14)。本実施形態では、カメラ5a,5d、カメラ5b,5e、および、カメラ5c,5fは、連結具52a〜52cで連結されているため、一体的にX軸方向に移動する。ステップS14において、配列方向移動制御部713は、各カメラ5a〜5fを、複数のマーク91のX軸方向の位置に対応するように移動させる。   After step S13, the arrangement direction movement control unit 713 moves the cameras 5a to 5f in the X axis direction in accordance with the position of the mark 91 in the X axis direction (arrangement direction) (step S14). In the present embodiment, the cameras 5a and 5d, the cameras 5b and 5e, and the cameras 5c and 5f are coupled by the coupling tools 52a to 52c, and thus move integrally in the X-axis direction. In step S <b> 14, the arrangement direction movement control unit 713 moves the cameras 5 a to 5 f so as to correspond to the positions of the plurality of marks 91 in the X-axis direction.

図8は、各カメラ5a〜5fを配列方向に移動させる様子を示す概略平面図である。図8に示す例では、ステージ2上に、同一サイズの2つの基板9がX軸方向に所定の間隔をあけて並列するように保持されている。各基板9は、矩形状である。そして、各基板9には、計8つのマーク91がそれぞれ形成されている。具体的に、マーク91は、各基板9の四隅各々と、各基板9の四側辺の各中央に形成されている。すなわち、ステージ2に保持された各基板9には、Y軸方向に並ぶマーク91の列が、X軸方向に3列ずつ、計6列並んでいる。   FIG. 8 is a schematic plan view showing how the cameras 5a to 5f are moved in the arrangement direction. In the example shown in FIG. 8, two substrates 9 of the same size are held on the stage 2 so as to be arranged in parallel at a predetermined interval in the X-axis direction. Each substrate 9 has a rectangular shape. A total of eight marks 91 are formed on each substrate 9. Specifically, the mark 91 is formed at each of the four corners of each substrate 9 and at each center of the four sides of each substrate 9. That is, on each substrate 9 held on the stage 2, six rows of marks 91 arranged in the Y-axis direction are arranged in three rows in the X-axis direction.

ここで、+X側基板9の3つのマーク91の列について、+X側から−X側に向けて、順に、マーク列92a,92b,92cと称する。また、−X側基板9の3つのマーク91の列について、+X側から−X側に向けて、順に、マーク列92d,92e,92fと称する。マーク列92a,92c,92d,92f各々にはY軸方向に等間隔で並ぶ3つのマーク91が含まれ、マーク列92b,92eにはY軸方向に等間隔で並ぶ2つのマーク91が含まれる。   Here, the rows of the three marks 91 on the + X side substrate 9 are sequentially referred to as mark rows 92a, 92b, and 92c from the + X side to the −X side. Further, the rows of the three marks 91 on the −X side substrate 9 are sequentially referred to as mark rows 92d, 92e, and 92f from the + X side to the −X side. Each of the mark rows 92a, 92c, 92d, and 92f includes three marks 91 arranged at equal intervals in the Y-axis direction, and each of the mark rows 92b and 92e includes two marks 91 arranged at equal intervals in the Y-axis direction. .

連結具52aで連結されたカメラ5a,5dの間隔は、マーク列92a,92dの間隔に一致する。このため、図8に示すように、配列方向移動制御部713が、カメラ5aのX軸方向位置をマーク列92aに合わせると、カメラ5dのX軸方向位置がマーク列92dに合わせられる。   The interval between the cameras 5a and 5d connected by the connector 52a is equal to the interval between the mark rows 92a and 92d. Therefore, as shown in FIG. 8, when the arrangement direction movement control unit 713 aligns the X-axis direction position of the camera 5a with the mark row 92a, the X-axis direction position of the camera 5d is matched with the mark row 92d.

同様に、連結具52bで連結されたカメラ5b,5eの間隔は、マーク列92b,92eの間隔に一致する。このため、図8に示すように配列方向移動制御部713がカメラ5bのX軸方向位置をマーク列92bに合わせると、カメラ5eのX軸方向位置が−X側基板9のマーク列92eに合わせられる。   Similarly, the interval between the cameras 5b and 5e connected by the connector 52b is equal to the interval between the mark rows 92b and 92e. Therefore, when the arrangement direction movement control unit 713 matches the X-axis direction position of the camera 5b with the mark row 92b as shown in FIG. 8, the X-axis direction position of the camera 5e matches the mark row 92e of the −X side substrate 9. It is done.

さらに、連結具52cで連結されたカメラ5c,5fの間隔は、マーク列92c,92fの間隔に一致する。このため、図8に示すように配列方向移動制御部713がカメラ5cのX軸方向位置をマーク列92cに合わせると、カメラ5fのX軸方向位置がマーク列92fに合わせられる。   Further, the interval between the cameras 5c and 5f connected by the connector 52c is equal to the interval between the mark rows 92c and 92f. Therefore, when the arrangement direction movement control unit 713 matches the X-axis direction position of the camera 5c with the mark row 92c as shown in FIG. 8, the X-axis direction position of the camera 5f is matched with the mark row 92f.

図7に戻って、配列方向移動制御部713がカメラ5a〜5f各々を撮影開始位置移動させると、スキャン方向移動制御部715がステージ2をスキャン方向であるY軸方向に移動させる(ステップS15)。これにより、カメラ5a〜5f各々は、下方を通過する各マーク91を撮影する。   Returning to FIG. 7, when the arrangement direction movement control unit 713 moves each of the cameras 5a to 5f to the photographing start position, the scanning direction movement control unit 715 moves the stage 2 in the Y-axis direction that is the scanning direction (step S15). . Thereby, each of the cameras 5a to 5f photographs each mark 91 passing below.

ステップS15により、カメラ5a〜5fの基板9に対するY軸方向への1回の相対的移動が完了すると、制御部7は、基板データに基づき、全てのマーク91が撮影されたか否かを判定する(ステップS16)。未撮影のマーク91がある場合(ステップS16においてNo)、制御部7は、ステップS13〜ステップS15を再度実行する。このように、全ての撮影すべきマーク91の撮影が完了するまで、ステップS13〜ステップS16が繰り返し実行される。全てのマーク91の撮影が完了した場合(ステップS16においてYes)、制御部7は、マーク取得処理を終了する。   When one relative movement in the Y-axis direction with respect to the substrate 9 of the cameras 5a to 5f is completed in step S15, the control unit 7 determines whether or not all the marks 91 have been photographed based on the substrate data. (Step S16). When there is an unphotographed mark 91 (No in step S16), the control unit 7 executes steps S13 to S15 again. In this way, steps S13 to S16 are repeatedly executed until shooting of all the marks 91 to be shot is completed. When photographing of all the marks 91 is completed (Yes in step S16), the control unit 7 ends the mark acquisition process.

図8に示す例では、上述したように、ステップS14にて、カメラ5a〜5fがマーク列92a〜92fのそれぞれに対応するX軸方向の位置に配置される。この状態から、ステップS15にてカメラ5a〜5fに対して基板9を+Y方向(スキャン方向)に相対的に移動させることにより、各マーク列92a〜92fを構成するマーク91を撮影することができる。また、この例では、+Y方向への1回のスキャンで、2つの基板9に形成された全てのマーク91について撮影することが可能となっている。   In the example shown in FIG. 8, as described above, the cameras 5a to 5f are arranged at positions in the X-axis direction corresponding to the mark rows 92a to 92f in step S14. From this state, by moving the substrate 9 relative to the cameras 5a to 5f in the + Y direction (scan direction) in step S15, the marks 91 constituting the mark rows 92a to 92f can be photographed. . In this example, it is possible to photograph all the marks 91 formed on the two substrates 9 by one scan in the + Y direction.

以上のように、パターン描画装置1では、複数のカメラ5a〜5fがX軸方向に配列されている。このため、カメラ5a〜5fの1回のスキャン方向(Y軸方向)への相対的な移動によって、X軸方向に複数列(図8に示す例では、マーク列92a〜92f)で配された複数のマーク91を撮影することができる。したがって、マーク91の撮影時間を短縮できる。   As described above, in the pattern drawing apparatus 1, the plurality of cameras 5a to 5f are arranged in the X-axis direction. Therefore, a plurality of rows (mark rows 92a to 92f in the example shown in FIG. 8) are arranged in the X-axis direction by the relative movement of the cameras 5a to 5f in one scanning direction (Y-axis direction). A plurality of marks 91 can be photographed. Therefore, the photographing time of the mark 91 can be shortened.

また、X軸方向に並列された複数のカメラ5(例えばカメラ5a,5d)が連結されて一体的にX軸方向に移動することができる。このため、各々のカメラ5について独立にX軸方向へ移動させる機構を設ける場合よりも移動機構を簡素化することができる。したがって、複数のカメラ5を設けることによる、パターン描画装置1のコストアップを軽減することができる。また、制御機構を簡素化することができるため、制御の複雑化を軽減することもできる。   Further, a plurality of cameras 5 (for example, cameras 5a and 5d) arranged in parallel in the X-axis direction can be connected to move integrally in the X-axis direction. For this reason, a moving mechanism can be simplified rather than the case where the mechanism to which each camera 5 is moved to an X-axis direction independently is provided. Therefore, an increase in cost of the pattern drawing apparatus 1 due to the provision of the plurality of cameras 5 can be reduced. In addition, since the control mechanism can be simplified, the complexity of the control can be reduced.

<2. 第2実施形態>
次に、第2実施形態について説明する。なお、以降の説明において、既に説明した要素と同様の機能を有する要素については、同じ符号又はアルファベット文字を追加した符号を付して、詳細な説明を省略する場合がある。
<2. Second Embodiment>
Next, a second embodiment will be described. In the following description, elements having the same functions as the elements already described may be denoted by the same reference numerals or symbols added with alphabetic characters, and detailed description may be omitted.

図9は、第2実施形態の連結具52a1を示す概略平面図である。連結具52a〜52cは、当該連結具52a〜52cをX軸方向において長尺化または短尺化可能にする構成を備えていてもよい。   FIG. 9 is a schematic plan view showing the connector 52a1 of the second embodiment. The couplers 52a to 52c may include a configuration that makes the couplers 52a to 52c longer or shorter in the X-axis direction.

図9に示すように、第2実施形態の連結具52a1は、連結具52aと同様に、カメラ5a,5dを連結する。連結具52a1は、一対の固定部材521a,521bと、連結部材522と、固定具523a,523bを備えている。   As shown in FIG. 9, the connection tool 52a1 of 2nd Embodiment connects the cameras 5a and 5d similarly to the connection tool 52a. The connecting tool 52a1 includes a pair of fixing members 521a and 521b, a connecting member 522, and fixing tools 523a and 523b.

固定部材521aは、一方側(−Y側)がカメラ5aに固定され、他方側(+Y側)がスライド部543aに固定されている。また、固定部材521bは、一方側がカメラ5dに固定され、他方側がスライド部543bに固定されている。   The fixing member 521a has one side (−Y side) fixed to the camera 5a and the other side (+ Y side) fixed to the slide portion 543a. The fixing member 521b has one side fixed to the camera 5d and the other side fixed to the slide portion 543b.

連結部材522は、X軸方向に延びる長尺板状に形成された部材である。連結部材522の両側の端部は、それぞれ固定具523a,523bによって固定部材521a,521bに連結されている。固定具523a,523bは、連結部材522を、固定部材521a,521bに対して連結解除可能に連結する部材である。固定具523a,523bは、例えば、ボルトなどの締結手段である。   The connecting member 522 is a member formed in a long plate shape extending in the X-axis direction. End portions on both sides of the connecting member 522 are connected to the fixing members 521a and 521b by the fixing tools 523a and 523b, respectively. The fixing tools 523a and 523b are members that connect the connecting member 522 to the fixing members 521a and 521b so that the connection can be released. The fixing tools 523a and 523b are fastening means such as bolts, for example.

連結具52a1では、連結部材522を着脱交換することが可能である。このため、固定部材521a,521b間を、異なる長さの連結部材522で連結することにより、カメラ5a,5d間のX軸方向の間隔を変更することができる。これにより、複数のマーク91のX軸方向の間隔に対応して、カメラ5a,5d間の間隔を変更することができる。   In the connector 52a1, the connecting member 522 can be attached and detached. For this reason, the space | interval of the X-axis direction between the cameras 5a and 5d can be changed by connecting between the fixing members 521a and 521b by the connection member 522 of different length. Thereby, the space | interval between the cameras 5a and 5d can be changed corresponding to the space | interval of the X-axis direction of the some mark 91. FIG.

この連結具52a1において、固定部材521a,521b、連結部材522、および、固定具523a,523bは、2つのカメラ5a,5dの間隔を変更可能にする間隔可変機構の一例である。なお、間隔可変機構は、このような構成に限定されるものではない。   In the connecting tool 52a1, the fixing members 521a and 521b, the connecting member 522, and the fixing tools 523a and 523b are an example of an interval variable mechanism that can change the interval between the two cameras 5a and 5d. The interval variable mechanism is not limited to such a configuration.

例えば、連結具52a1において、例えば、固定具523aがボルトである場合、連結部材522の+X側端部(または、固定部材521a)に、X軸方向に並ぶ複数のボルト挿通孔を設けるとよい。この場合、固定具523aを通すボルト挿通孔を変更することにより、固定部材521aに連結される連結部材522の連結位置を変更することができる。したがって、連結具52a1が、長尺化または短尺化することが可能となり、カメラ5a,5dの間隔を可変としつつ、これらを連結することができる。なお、連結部材522(または固定部材521a)において、複数のボルト挿通孔を設ける代わりに、X軸方向に延びる長尺状のボルト挿通孔を設けてもよい。   For example, in the connection tool 52a1, for example, when the fixing tool 523a is a bolt, a plurality of bolt insertion holes arranged in the X-axis direction may be provided in the + X side end portion (or the fixing member 521a) of the connection member 522. In this case, the connection position of the connection member 522 connected to the fixing member 521a can be changed by changing the bolt insertion hole through which the fixing tool 523a passes. Therefore, the connecting tool 52a1 can be lengthened or shortened, and these can be connected while the interval between the cameras 5a and 5d is variable. In addition, in connection member 522 (or fixing member 521a), instead of providing a plurality of bolt insertion holes, a long bolt insertion hole extending in the X-axis direction may be provided.

この発明は詳細に説明されたが、上記の説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。上記各実施形態及び各変形例で説明した各構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わせたり、省略したりすることができる。   Although the present invention has been described in detail, the above description is illustrative in all aspects, and the present invention is not limited thereto. It is understood that countless variations that are not illustrated can be envisaged without departing from the scope of the present invention. The configurations described in the above embodiments and modifications can be appropriately combined or omitted as long as they do not contradict each other.

1 パターン描画装置
2 ステージ
3 ステージ駆動機構
35 主走査機構(スキャン方向移動機構)
5a,5d カメラ(第1カメラ群)
5b,5e カメラ(第2カメラ群)
5c,5f カメラ(第3カメラ群)
52a,52a1 連結具(第1連結具)
52b 連結具(第2連結具)
52c 連結具
54a〜54c 配列方向移動機構
541 ボールネジ
542 回転駆動部
543H 挿通孔
543a,543b スライド部
544 ガイド部
6 描画ユニット
60 描画ヘッド
7 制御部
711 基板データ処理部
713 配列方向移動制御部
715 スキャン方向移動制御部
9 基板
91 マーク
92a〜92f マーク列
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pattern drawing apparatus 2 Stage 3 Stage drive mechanism 35 Main scanning mechanism (scan direction moving mechanism)
5a, 5d camera (first camera group)
5b, 5e camera (second camera group)
5c, 5f camera (third camera group)
52a, 52a1 connector (first connector)
52b connector (second connector)
52c Connector 54a-54c Array direction moving mechanism 541 Ball screw 542 Rotation drive part 543H Insertion hole 543a, 543b Slide part 544 Guide part 6 Drawing unit 60 Drawing head 7 Control part 711 Substrate data processing part 713 Array direction movement control part 715 Scan direction Movement control unit 9 Substrate 91 Mark 92a to 92f Mark row

Claims (5)

複数のマークが表面に形成された基板にパターンを描画するパターン描画装置であって、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第1カメラ群と、
前記第1カメラ群の前記複数のカメラを配列方向に配列された状態で連結する第1連結具と、
前記第1連結具により連結された前記第1カメラ群を、前記配列方向へ一体的に移動させる配列方向移動機構と、
前記第1カメラ群を、前記基板保持部に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させるスキャン方向移動機構と、
を備える、パターン描画装置。
A pattern drawing apparatus for drawing a pattern on a substrate having a plurality of marks formed on a surface thereof,
A substrate holder for holding the substrate;
A first camera group including a plurality of cameras for photographing the mark on the substrate;
A first connector for connecting the plurality of cameras of the first camera group in a state of being arranged in an arrangement direction;
An arrangement direction moving mechanism for integrally moving the first camera group connected by the first connector in the arrangement direction;
A scanning direction moving mechanism that relatively moves the first camera group in a scanning direction intersecting the arrangement direction with respect to the substrate holding unit;
A pattern drawing apparatus.
請求項1のパターン描画装置であって、
前記基板保持部が複数の前記基板を前記配列方向に並べた状態で保持可能であり、
前記第1カメラ群は、前記第1連結具によって、前記基板保持部に保持された複数の基板の各々の同一位置に形成された前記マーク各々を撮影可能な間隔で連結されている、パターン描画装置。
The pattern drawing apparatus according to claim 1,
The substrate holding unit can hold a plurality of the substrates arranged in the arrangement direction,
The first camera group is connected to the first drawing by a pattern drawing in which the marks formed at the same position of each of the plurality of substrates held by the substrate holding part are connected at intervals capable of photographing. apparatus.
請求項1または請求項2のパターン描画装置であって、
前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第2カメラ群と、
前記第2カメラ群の前記複数のカメラを前記配列方向に配列された状態で連結する第2連結具と、
をさらに備え、
前記配列方向移動機構は、前記第2カメラ群に対して前記第1カメラ群を前記配列方向に相対的に移動させるとともに、
前記スキャン方向移動機構は、前記第1カメラ群および前記第2カメラ群を前記スキャン方向へ一体的に移動させる、パターン描画装置。
The pattern drawing apparatus according to claim 1 or 2,
A second camera group including a plurality of cameras that photograph the mark on the substrate;
A second connector for connecting the plurality of cameras of the second camera group in a state of being arranged in the arrangement direction;
Further comprising
The arrangement direction moving mechanism moves the first camera group relative to the second camera group in the arrangement direction, and
The pattern drawing apparatus, wherein the scan direction moving mechanism moves the first camera group and the second camera group integrally in the scan direction.
請求項1から請求項3のいずれか1項のパターン描画装置であって、
前記第1連結具は、前記第1カメラ群の前記複数のカメラの間隔を変更可能にする間隔可変機構を備える、パターン描画装置。
The pattern drawing apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The first connector includes a variable pattern mechanism that can change a distance between the plurality of cameras of the first camera group.
複数のマークが表面に形成された基板を処理するパターン描画方法であって、
(a) 前記基板を保持する工程と、
(b) 前記工程(a)の後、第1連結具によって配列方向に配列された状態で連結された複数のカメラを含む第1カメラ群を、前記基板における前記複数のマークの位置に合わせて前記配列方向に一体的に移動させる工程と、
(c) 前記工程(b)の後、前記第1カメラ群を、前記基板に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させる工程と、
を含む、パターン描画方法。
A pattern drawing method for processing a substrate having a plurality of marks formed on a surface thereof,
(a) holding the substrate;
(b) After the step (a), a first camera group including a plurality of cameras connected in a state of being arranged in the arrangement direction by the first connector is adjusted to the positions of the plurality of marks on the substrate. A step of integrally moving in the arrangement direction;
(c) after the step (b), moving the first camera group relative to the substrate in a scan direction intersecting the arrangement direction;
A pattern drawing method including:
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