JP2018163027A - Detector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、検知装置に関する。 Embodiments described herein relate generally to a detection device.
光源からの光が照射された被照射体としての物品を撮像することで物品に含まれる異物などの対象物の有無を検知する検知装置が知られている。 There is known a detection device that detects the presence or absence of an object such as a foreign object contained in an article by imaging the article as an irradiated object irradiated with light from a light source.
ところで、検知装置においては、被照射体に含まれる対象物の検知精度を高めることが求められる。 By the way, in a detection apparatus, it is calculated | required to raise the detection precision of the target object contained in a to-be-irradiated body.
本発明が解決しようとする課題は、被照射体に含まれる対象物の検知精度を高めることができる検知装置を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a detection device capable of increasing the detection accuracy of an object included in an irradiated object.
実施形態に係る対象物の検知装置は、光源と、検知部と、フィルタと、を具備する。光源は、対象物を含む被照射体へ照射光を照射する。検知部は、光源から照射される照射光により対象物が発する発光を検知する。フィルタは、対象物と検知部との間に配置され、対象物で反射されて検知部へ進入する照射光の反射光を遮断する。 An object detection apparatus according to an embodiment includes a light source, a detection unit, and a filter. A light source irradiates irradiated body including a target object with irradiation light. A detection part detects the light emission which a target object emits with the irradiation light irradiated from a light source. A filter is arrange | positioned between a target object and a detection part, and interrupts | blocks the reflected light of the irradiated light which is reflected by a target object and approachs into a detection part.
本発明によれば、被照射体に含まれる対象物の検知精度を高めることができる検知装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the detection apparatus which can raise the detection precision of the target object contained in a to-be-irradiated body can be provided.
以下に説明する実施形態に係る対象物60の検知装置1は、光源10と、検知部40と、フィルタ30と、を具備する。光源10は、対象物60を含む被照射体50へ照射光を照射する。検知部40は、光源10から照射される照射光により対象物60が発する発光12を検知する。フィルタ30は、対象物60と検知部40との間に配置され、対象物60で反射されて検知部40へ進入する照射光の反射光11を遮断する。
A
また、以下に説明する実施形態に係る照射光および反射光11は、第1波長をピーク波長とする第1波長域31を有する。発光12は、第1波長よりも長い第2波長をピーク波長とする第2波長域32を有する。フィルタ30は、第1波長域31に含まれる波長の光を遮断する。
Moreover, the irradiation light and reflected
また、以下に説明する実施形態に係る検知部40は、発光12の色を検知し、検知した色に基づき、対象物60を検知する。
Moreover, the
また、以下に説明する実施形態に係る検知部40は、発光12の領域を検知し、検知した領域の形状に基づき、線状の対象物60と塊状の対象物60とを識別する。
In addition, the
また、以下に説明する実施形態に係る対象物60Aの検知装置1Aは、光源10と、検知部40Aとを具備する。光源10は、対象物60Aを含む被照射体50Aへ照射光を照射する。検知部40Aは、光源10から照射される照射光により対象物60Aから放射される発光12Aの色を検知し、検知した色に基づき、対象物60Aを検知する。
Moreover, 1 A of detection apparatuses of the
また、以下に説明する実施形態に係る検知装置1Aは、色の領域を検知し、検知した領域の形状に基づき、線状の対象物60A(61)と塊状の対象物60A(62)とを識別する。
Moreover, 1 A of detection apparatuses which concern on embodiment described below detect the area | region of a color, and based on the shape of the detected area | region,
[第1の実施形態]
第1の実施形態に係る検知装置を図面に基づいて説明する。図1は、第1の実施形態に係る検知装置の概略構成を示す図である。図1に示すように、検知装置1は、光源10と、撮像部20と、フィルタ30と、検知部40とを有する。検知装置1は、光源10からの光が照射された被照射体50を撮像することで対象物60の有無を検知する検知装置である。
[First Embodiment]
A detection apparatus according to a first embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of a detection device according to the first embodiment. As illustrated in FIG. 1, the
光源10は、光源10の下方に配置された被照射体50および対象物60に光を照射する。
The
被照射体50は、例えば、内容物を含む容器である。また、対象物60は、例えば被照射体50の製造工程において被照射体50に混入する可能性のある異物である。対象物60には、光源10から照射される光を吸収して励起されることで蛍光などの発光12を放射する発光物質が予め含まれている。すなわち、第1の実施形態に係る検知装置1は、発光12を検知することで異物である対象物60が存在するか否かを検知する。
The
対象物60を含む被照射体50は、水平方向に移動可能に構成された例えばコンベアなどの搬送機構70に載置される。搬送機構70は、例えば、複数の被照射体50を並置させることにより、複数の被照射体50を連続的に光源10の下方に移動させることが可能となるように構成してもよい。
The
撮像部20は、光源10により照射された被照射体50および対象物60を撮像し、撮像した被照射体50および対象物60の画像を検知部40内に設けられた取得部41に出力する。なお、撮像部20は、光源10により照射された被照射体50および対象物60を撮像することができる位置であればどのように配置されてもよい。例えば、図1に示す例において、撮像部20は、光源10の上方や側方に配置されてもよい。
The
検知部40は、取得部41が取得した画像に基づき、対象物60の有無を検知する。具体的には、検知部40は取得部41が取得した画像から色抽出を行い、発光12に対応する色を有した画像の領域を抽出することにより対象物60の有無を検知する。
The
フィルタ30は、光源10からの照射光により対象物60で反射される照射光の反射光11を遮断する。図1に示す例において、フィルタ30は、光源10と対象物60との間に配置される。
The
例えば、光源10と対象物60との間にフィルタ30を有さない場合、検知部40には反射光11と発光12とが光源10の出力強度に応じた特定の比率で混光されて入射される。しかしながら、例えば経年劣化により光源10から照射される光の出力が低下すると、光出力の低下に伴って反射光11および発光12の出力強度が低下するだけでなく、その相対比も変化するおそれがある。反射光11および発光12の相対比が変化すると、検知部40に入射される光の色が変化することで対象物60の誤検知につながるおそれがあるが、反射光11の検知部40への入射を遮断することにより、対象物60の検知精度を高めることができる。
For example, when the
次に、第1の実施形態に係る検知装置1の構成について図2を用いて説明する。図2は、第1の実施形態に係る検知装置1の構成の一例を示す図である。図2に示すように、検知装置1は、光源10と、撮像部20と、フィルタ30と、検知部40と、記憶部44とを有する。
Next, the configuration of the
光源10は、例えば紫外線LED(Light Emitting Diode)であり、点灯装置(図示省略)から供給される電力により点灯し、被照射体50および対象物60に光を照射する。ここで、図3を用いて、光源10から照射された光の波長について説明する。図3は、第1の実施形態に係る検知装置1が備える光源10から照射された光の分光分布を示す図である。
The
図3に示すように、光源10は、例えば波長365nm付近にピーク波長を有し、約350nm〜430nmの波長域の光を照射する。
As shown in FIG. 3, the
図3に示すような波長350nm〜430nm付近の光源10の光が対象物60に照射されると、例えば第1波長として波長365nm付近にピーク波長を有し、約350nm〜430nmの波長域の反射光11として反射される。また、発光物質を含む対象物60では、例えば第2波長として波長530nm付近にピーク波長を有し、約431nm〜600nmの波長域の発光12に変換されて放射される。すなわち、対象物60の表面からは、反射光11と発光12とが混光されて放射されることとなる。
When the
図2に戻り、撮像部20は、例えばCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)など、電子的に画像を取得する撮像素子を備える。撮像部20は、光源10により照射された被照射体50および対象物60を撮像する。撮像部20の画素数は、例えば500万画素である。ただし、被照射体50および対象物60の大きさや要求される検知精度に応じて、撮像部20の画素数は任意に設定してよい。
Returning to FIG. 2, the
フィルタ30は、対象物60で反射される照射光の反射光11を遮断する。フィルタ30は、例えば、波長430nm以下の光を吸収することで遮断する。なお、フィルタ30は、反射光11を反射する材料を含有してもよい。図1に示す例において、フィルタ30は、例えば、撮像部20に直接取り付けられる。
The
また、検知部40は、取得部41と、抽出部42と、判定部43とを有する。取得部41は、撮像部20から画像を取得する。抽出部42は、取得部41が取得した画像から対象物60として認識される領域を特徴付ける色を有する画素を抽出する処理部である。具体的には、抽出部42は、撮像した画像から記憶部44に予め設定された指定範囲(色抽出範囲)内の色を有した画像の領域を抽出する。
The
判定部43は、被照射体50の表面に対象物60が存在するか否かを判定する。具体的には、例えば抽出部42が抽出した画像領域が被照射体50の画像と重複して存在しているか否かを判定する。なお、判定部43は、指定範囲(色抽出範囲)内の色相と明度と彩度とを有した画像の領域を抽出部42が抽出したか否かに基づいて対象物60の有無を判定してもよい。
The determination unit 43 determines whether or not the
記憶部44は、いわゆる不揮発性メモリを含み、例えばRAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、または、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置で構成される。
The
記憶部44は、たとえば抽出部42における色抽出の基準となる入射光の色に関する閾値など、検知部40の各部における制御に必要となる情報や制御プログラムを記憶する。また、記憶部44は、検知部40の各部が行う設定に必要な情報を記憶する。記憶部44はさらに、取得部41で取得した撮像画像データを一時的に記憶してもよい。
The
また、検知部40は、表示部45および操作部46と接続するように構成されてもよい。
The
表示部45は、各種情報を表示するための表示デバイスである。表示部45は、例えば、表示デバイスとして液晶ディスプレイ等によって実現される。表示部45は、検知部40から入力された出力画面等の各種画面を表示する。表示部45は、例えば検知部40が検知した発光12の検知に関する情報(例えば、色抽出された領域の位置)を出力するように構成されてもよい。
The display unit 45 is a display device for displaying various information. The display unit 45 is realized by, for example, a liquid crystal display as a display device. The display unit 45 displays various screens such as an output screen input from the
操作部46は、検知装置1のユーザから各種操作を受け付ける入力デバイスである。操作部46は、例えば、入力デバイスとして、タッチパネル等によって実現される。操作部46は、ユーザによって入力された操作を操作情報として検知部40に出力する。例えば、検知部40は、操作部46の入力操作に応じて光源10に供給される電力を制御する。なお、操作部46は、入力デバイスとして、キーボードやマウス等によって実現されるようにしてもよい。また、操作部46の入力デバイスは、表示部45の表示デバイスと一体化されるように構成してもよい。
The
ここで、図4を用いて、検知装置1に入射される光の波長における、フィルタ30の有無および光源10の発光強度との相関について説明する。図4は、検知部40に入射する光の分光分布の比較を示す説明図である。
Here, the correlation between the presence / absence of the
図4に示すように、光源10として例えば図3に示した分光分布を有する紫外線LEDを用いた場合、光源10から対象物60に放射された光に基づき、撮像部20および検知部40には、約350nm〜430nmの第1波長域31を有する反射光11と、約431nm〜600nmの第2波長域32を有する発光12とが混光されて入射される(フィルタ無し(a)参照)。また、光源10の発光強度が小さくなると、その発光強度に応じた反射光11および発光12が混光されて入射される(フィルタ無し(b)参照)。
As shown in FIG. 4, when the ultraviolet light LED having the spectral distribution shown in FIG. 3 is used as the
また、フィルタ30は、第1波長域31に対応する波長430nm以下の光を遮断する。すなわち、フィルタ30を備える検知装置1では、第1波長域31に対応する波長430nm以下の光は遮断されるため、第1波長域31における強度は略0となる(フィルタ有り(A)、(B)参照)。なお、フィルタ有り(A)は、フィルタ無し(a)の光をフィルタ30に入射させた後の分光分布を示したものである。同様に、フィルタ有り(B)は、フィルタ無し(b)の光をフィルタ30に入射させた後の分光分布を示したものである。
The
上述したように、フィルタ無し(a)、(b)の場合、光源10の出力強度が変化すると、その出力強度に応じた相対値で第1波長域31の光と第2波長域32の光とが混光される。フィルタ無し(a)の場合には検知部40に入射する光の色は水色となる。一方、フィルタ無し(b)の場合には検知部40に入射する光の色は緑色となる。すなわち、フィルタ30を有しない検知装置にあっては、同じ分光分布を有する光源10を使用した場合であっても、対象物60は異なる色で撮像されることとなり、対象物60の誤検知につながりやすい。
As described above, in the case of no filter (a) and (b), when the output intensity of the
これに対し、第1の実施形態に係る検知装置1では、フィルタ30が第1波長域31に含まれる波長の光を遮断するため、対象物60は常に所定範囲の色で撮像されることとなる。このため、第1の実施形態に係る検知装置1によれば、対象物60の検知精度を高めることができる。
On the other hand, in the
第1の実施形態に係る対象物60の検知装置1は、以上のような構成からなり、以下、その作用について説明する。検知装置1は、光源10と、検知部40と、フィルタ30と、を具備する。光源10は、対象物60を含む被照射体50へ照射光を照射する。検知部40は、光源10から照射される照射光により対象物60が発する発光12を検知する。フィルタ30は、対象物60と検知部40との間に配置され、対象物60で反射されて検知部40へ進入する照射光の反射光11を遮断する。このため、対象物60の検知精度を高めることができる。X線検査機や金属探知機等では照射光が透過してしまい、対象物60の検出は不可能であるが、第1の実施形態に係る検知装置1は、対象物60への照射により発光する光源10を用いて対象物60を検知するので、異物を対象物60として検出するのに適している。
The
第1の実施形態に係る反射光11は、第1波長をピーク波長とする第1波長域31を有する。発光12は、第1波長よりも長い第2波長をピーク波長とする第2波長域32を有する。フィルタ30は、第1波長域31に含まれる波長の光を遮断する。このため、対象物60の検知精度を高めることができる。
The reflected light 11 according to the first embodiment has a
なお、上記した実施形態では、第1波長域31と第2波長域32は重複する波長を有しないように構成されたが、これに限定されない。例えば、第1波長域31と第2波長域32の一部が重なり合うように構成されてもよい。かかる場合であっても、フィルタ30は、第1波長域31に含まれる波長の光を遮断するため、対象物60の検知精度を高めることができる。
In the above-described embodiment, the
また、第1の実施形態に係る検知部40は、発光12の色を検知し、検知した色に基づき、対象物60を検知する。このため、対象物60の検知精度を高めることができる。
Moreover, the
なお、上記した実施形態では、検知部40による対象物60の検知は可視光の色抽出に基づくものとされたが、これに限定されない。例えば、紫外光や赤外光の検知に基づいて対象物60を検知するように構成してもよい。
In the above-described embodiment, detection of the
また、光源10から照射された光の分光分布特性は、上記したものに限らず、対象物60を照射して発光12を放射するものであればよい。また、対象物60に含まれる発光物質は、上記したものに限らず、光源10からの照射光により発光12を放射するものであればよい。また、フィルタ30は波長430nm以下の光を遮断するように構成されたが、これに限らず、例えば、フィルタ30が波長500nm以下の光を遮断するように構成されてもよいし、フィルタ30が波長430nm以上の光を遮断するように構成されてもよい。つまり、フィルタ30は、反射光11および発光12の分光光度分布に応じて任意に設定することができる。
Further, the spectral distribution characteristics of the light emitted from the
[第2の実施形態]
図5は、第2の実施形態に係る検知装置の概略構成を示す図である。図5に示すように、検知装置1Aは、光源10と、撮像部20と、検知部40Aとを有する。検知装置1Aは、光源10からの光が照射された被照射体50Aを撮像することで対象物60Aの有無を検知、識別する検知装置である。なお、図5において、第1の実施形態に係る検知装置1と同一部分には、同一符号を付する。
[Second Embodiment]
FIG. 5 is a diagram illustrating a schematic configuration of a detection device according to the second embodiment. As illustrated in FIG. 5, the
光源10は、光源10の下方に配置された被照射体50Aおよび対象物60Aに光を照射する。
The
被照射体50Aは、例えば、食品や樹脂などである。また、対象物60Aは、例えば繊維状物質と塊状物質である。対象物60Aである繊維状物質と塊状物質は、光源10から照射される光を吸収して励起し、次いで蛍光などの発光12Aを放射する発光成分を含有している。すなわち、第2の実施形態に係る検知装置1Aは、発光12Aを検知することで対象物60Aが存在するか否かを検知する。
The
検知部40Aは、取得部41が取得した画像に基づき、対象物60Aの有無を検知する。具体的には、検知部40Aは取得部41が取得した画像から色抽出を行い、発光12Aに対応する色を有した画像の領域を抽出することにより対象物60Aの有無を検知する。
The
上述したように、対象物60Aには、繊維状物質と塊状物質が含まれる。例えば、加工作業者による除去対象が塊状物質であり、繊維状物質は除去対象外である場合、塊状物質と繊維状物質とを識別することが要求される。
As described above, the
そこで、検知部40Aは、色抽出により抽出した領域の形状に基づき、対象物60Aから塊状物質と繊維状物質とを識別する。これにより、第2の実施形態に係る検知装置1Aは、対象物60Aの検知精度および識別精度を高めることができる。すなわち、第2の実施形態に係る検知装置1Aによれば、色認識と形状認識とを組み合わせることで塊状物質のみの識別が可能となる。
Therefore, the
次に、第2の実施形態に係る検知装置1Aの構成について図6を用いて説明する。図6は、第2の実施形態に係る検知装置1Aの構成の一例を示す図である。図6に示すように、検知装置1Aは、光源10と、撮像部20と、検知部40Aと、記憶部44とを有する。
Next, the configuration of the
抽出部42Aは、色抽出部421と形状抽出部422とを有する。色抽出部421は、撮像した画像から記憶部44に予め設定された指定範囲(色抽出範囲)内の色を有した画像の領域を抽出する。形状抽出部422は、抽出した領域の輪郭の形状を抽出する。
The extraction unit 42A includes a color extraction unit 421 and a shape extraction unit 422. The color extraction unit 421 extracts a region of an image having a color within a designated range (color extraction range) preset in the
判定部43Aは、抽出部42Aが抽出した領域の輪郭の形状に基づき、対象物60Aのうち、塊状物質と識別される部位が存在するか否かを判定する。
The determination unit 43A determines whether or not a part of the
ここで、図7を用いて、対象物60Aである繊維状物質および塊状物質における形状の相違について説明する。図7は、被照射体50Aに含まれる繊維状物質および塊状物質の一例を示す図である。
Here, the difference in shape between the fibrous substance and the massive substance as the
すなわち、対象物60Aが繊維状物質61と塊状物質62とに識別されるためには、対象物60Aが線状か塊状かを識別されるように構成すればよい。そこで、判定部43Aは、色抽出部421で抽出した領域の輪郭の形状を矩形近似したとき、そのアスペクト比(長辺/短辺)が所定の閾値を超えたか否かで線状か塊状かを識別する。すなわち、アスペクト比(長辺/短辺)が所定の閾値を超えた場合には、判定部43Aは、線状の対象物60A、すなわち繊維状物質61であると判定する。一方、アスペクト比が所定の閾値以下の場合には、判定部43Aは、塊状の対象物60A、すなわち塊状物質62と判定する。
That is, in order for the
なお、判定部43Aにおける判定の手法はこれに限定されない。判定部43Aは、例えば、色抽出部421で抽出した領域の輪郭の形状を矩形近似したときの長辺の長さが所定値以上であるときに繊維状物質61と判定してもよく、また、短辺の長さが所定値以上であるときに塊状物質62と判定してもよい。また、被照射体50Aの大きさや種類に応じて閾値や判定手法を変更するように構成してもよい。
Note that the determination method in the determination unit 43A is not limited to this. For example, the determination unit 43A may determine the
記憶部44は、たとえば色抽出部421における色抽出の基準となる入射光の色に関する閾値や、形状抽出部422における識別の基準となるアスペクト比の閾値など、検知部40Aの各部における制御に必要となる情報や制御プログラムを記憶する。また、記憶部44は、検知部40Aの各部が行う設定に必要な情報を記憶する。記憶部44はさらに、取得部41で取得した撮像画像データを一時的に記憶してもよい。
The
また、検知部40Aは、第1の実施形態に係る検知装置1と同様の構成を有する表示部45および操作部46と接続するように構成されてもよい。
In addition, the
なお、表示部45は、例えば検知部40Aが検知した発光12Aに関する情報(例えば、位置、領域の形状、大きさ)を出力するように構成されてもよい。図8は、第2の実施形態に係る検知装置1Aで識別された塊状物質62を示す出力画面の一例を示す模式図である。図8に示すように、塊状物質62の画像であると認識された部位には、ここでは「+」で示されたマーカー63が付されている。これにより、出力画面を目視する作業者に対し、被照射体50Aにおける塊状物質62の存在およびその位置を容易に認識させることができる。なお、表示部45には、塊状物質62を示すマーカー(図示しない)のみが付されていてもよいし、繊維状物質61と塊状物質62とを区別してマーカーがそれぞれ付されてもよい。
The display unit 45 may be configured to output information (for example, the position, the shape of the region, and the size) regarding the
第2の実施形態に係る対象物60Aの検知装置1Aは、光源10と、検知部40Aとを具備する。光源10は、対象物60Aを含む被照射体50Aへ照射光を照射する。検知部40Aは、光源10から照射される照射光により対象物60Aから放射される発光12Aの色を検知し、検知した色に基づき、対象物60Aを検知する。このため、X線検査機や金属探知機等では照射光が透過してしまい、検出不可能であった対象物60Aの検知精度を高めることができる。かかる検知装置1Aは、X線検査機や金属探知機等では照射光が透過してしまい、繊維状物質61や塊状物質62といった対象物60Aの検出は不可能であるが、第2の実施形態に係る検知装置1Aは、対象物60Aへの照射により発光する光源10を用いて対象物60Aを検知するので、例えば被照射体50Aから繊維状物質61や塊状物質62を対象物60Aとして検出するのに適している。
A
また、第2の実施形態に係る検知装置1Aは、色の領域を検知し、検知した領域の形状に基づき、線状の対象物60A(61)と塊状の対象物60A(62)とを識別する。このため、対象物60Aの検知精度を高めることができる。また、色認識と形状認識との組み合わせにより、対象物60Aから塊状物質62のみを識別することが可能となる。
In addition, the
なお、第1の実施形態に係る検知装置1が有するフィルタ30を、第2の実施形態に係る検知装置1Aが有するように構成してもよい。これにより、検知部40Aは、線状の対象物60Aである繊維状物質61と塊状の対象物60Aである塊状物質62とを検知、識別する精度をさらに高めることができる。
Note that the
また、第2の実施形態に係る検知装置1Aが有する検知部40Aを、第1の実施形態に係る検知装置1の検知部40に代えて構成してもよい。これにより、第1の実施形態に係る検知部40は、発光12の領域を検知し、検知した領域の形状に基づき、線状の対象物60と塊状の対象物60とを識別することができ、対象物60の検知精度を高めることができる。
Moreover, you may comprise the
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the invention described in the claims and equivalents thereof as well as included in the scope and gist of the invention.
1、1A 検知装置
11 反射光
12、12A 発光
20 撮像部
30 フィルタ
31 第1波長域
32 第2波長域
40、40A 検知部
41 取得部
42、42A 抽出部
43、43A 判定部
50、50A 被照射体
60、60A 対象物
70 搬送機構
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記光源から照射される照射光により前記対象物が発する発光を検知する検知部と;
前記対象物と前記検知部との間に配置され、前記対象物で反射されて前記検知部へ進入する前記照射光の反射光を遮断するフィルタと;
を具備する、対象物の検知装置。 A light source for irradiating the irradiated object including the object with irradiation light;
A detection unit that detects light emitted from the object by irradiation light emitted from the light source;
A filter that is disposed between the object and the detection unit and blocks the reflected light of the irradiation light that is reflected by the object and enters the detection unit;
An object detection apparatus comprising:
前記発光は、前記第1波長よりも長い第2波長をピーク波長とする第2波長域を有し、
前記フィルタは、前記第1波長域に含まれる波長の光を遮断する、請求項1に記載の検知装置。 The irradiation light and the reflected light have a first wavelength range having a first wavelength as a peak wavelength,
The light emission has a second wavelength region having a second wavelength longer than the first wavelength as a peak wavelength,
The detection device according to claim 1, wherein the filter blocks light having a wavelength included in the first wavelength range.
前記光源から照射される照射光により前記対象物が発する発光の色を検知し、検知した前記色に基づき、前記対象物を検知する検知部と;
を具備する、対象物の検知装置。 A light source for irradiating the irradiated object including the object with irradiation light;
A detection unit that detects a color of light emitted from the object by irradiation light emitted from the light source and detects the object based on the detected color;
An object detection apparatus comprising:
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080745A (en) * | 1983-10-11 | 1985-05-08 | Hitachi Ltd | Automated detector for foreign matter |
JPH02227642A (en) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Sony Corp | Surface inspecton device |
JPH0618441A (en) * | 1992-07-03 | 1994-01-25 | Olympus Optical Co Ltd | Foreign material inspection device |
JP2004101533A (en) * | 2003-09-19 | 2004-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | Recess inspection device for laminate material and laser beam machining device |
JP2004279273A (en) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Food Safety Innovation Gijutsu Kenkyu Kumiai | Admixed foreign substance inspection method and admixed foreign substance inspection apparatus used for the same |
JP2004294365A (en) * | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Dainippon Printing Co Ltd | Method of inspecting defects in transparent layer, method of inspecting defects in thermal transfer sheet, and thermal transfer sheet |
US20080099962A1 (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-01 | Bahman Sarabi | Method and device for controlling the quality of thermoplastic molding compositions |
WO2015158907A1 (en) * | 2014-04-17 | 2015-10-22 | Heuft Systemtechnik Gmbh | Inspection of containers |
WO2016121628A1 (en) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 東レエンジニアリング株式会社 | Defect inspection method and defect inspection device for wide-gap semiconductor substrates |
US20160290925A1 (en) * | 2015-03-30 | 2016-10-06 | Gemological Institute Of America, Inc. | Apparatus and method for fluorescence grading of gemstones |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI442043B (en) * | 2012-01-17 | 2014-06-21 | Univ Nat Taiwan Science Tech | Photoluminescence measuring system and measuring method thereof |
-
2017
- 2017-03-24 JP JP2017060095A patent/JP2018163027A/en active Pending
-
2018
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080745A (en) * | 1983-10-11 | 1985-05-08 | Hitachi Ltd | Automated detector for foreign matter |
JPH02227642A (en) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Sony Corp | Surface inspecton device |
JPH0618441A (en) * | 1992-07-03 | 1994-01-25 | Olympus Optical Co Ltd | Foreign material inspection device |
JP2004279273A (en) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Food Safety Innovation Gijutsu Kenkyu Kumiai | Admixed foreign substance inspection method and admixed foreign substance inspection apparatus used for the same |
JP2004294365A (en) * | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Dainippon Printing Co Ltd | Method of inspecting defects in transparent layer, method of inspecting defects in thermal transfer sheet, and thermal transfer sheet |
JP2004101533A (en) * | 2003-09-19 | 2004-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | Recess inspection device for laminate material and laser beam machining device |
US20080099962A1 (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-01 | Bahman Sarabi | Method and device for controlling the quality of thermoplastic molding compositions |
WO2015158907A1 (en) * | 2014-04-17 | 2015-10-22 | Heuft Systemtechnik Gmbh | Inspection of containers |
WO2016121628A1 (en) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 東レエンジニアリング株式会社 | Defect inspection method and defect inspection device for wide-gap semiconductor substrates |
US20160290925A1 (en) * | 2015-03-30 | 2016-10-06 | Gemological Institute Of America, Inc. | Apparatus and method for fluorescence grading of gemstones |
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