JP2018008656A - Lighting fixture - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、自動車などに用いられる灯具に関する。 The present invention relates to a lamp used in an automobile or the like.
従来、車両用灯具、特に前照灯の光源としては、ハロゲンランプやHID(High Intensity Discharge)ランプが主流であったが、近年それらに代えて、LED(発光ダイオード)などの半導体光源を用いた車両用灯具の開発が進められている。 Conventionally, halogen lamps and HID (High Intensity Discharge) lamps have been mainstream as light sources for vehicle lamps, particularly headlamps, but in recent years, semiconductor light sources such as LEDs (light emitting diodes) have been used instead. Vehicle lamps are being developed.
さらなる視認性の向上のため、LEDに代えて、レーザダイオード(半導体レーザとも称する)と蛍光体とを備えた車両用灯具が開示されている(たとえば特許文献1参照)。特許文献1に記載の技術では、レーザダイオードから出射された励起光である紫外光が蛍光体に照射される。蛍光体は、紫外光を受けて白色光を生成する。蛍光体により生成された白色光は灯具前方に照射され、これにより所定の配光パターンが形成される。特許文献1に記載の技術では励起光は車両前方に照射されない。
In order to further improve the visibility, a vehicular lamp provided with a laser diode (also referred to as a semiconductor laser) and a phosphor instead of an LED is disclosed (for example, see Patent Document 1). In the technique described in
図1は、本発明者が検討した車両用灯具の光源の断面図である。この光源10は、主としてレーザダイオード12、蛍光体14、光学系16、ハウジング18を備える。光源10は、レーザダイオード12および蛍光体14を備える点で特許文献1の技術と共通する。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a light source of a vehicular lamp studied by the present inventor. The
図1のレーザダイオード12は、紫外光に代えて、青色の励起光20を発生する。励起光20は、光学系16により蛍光体14に集光される。光学系16は、レンズ、反射鏡、光ファイバ、あるいはそれらの組み合わせで構成される。青色の励起光20を受けた蛍光体14は、励起光20より長い波長領域(緑〜赤)にスペクトル分布を有する蛍光22を発生する。蛍光体14に照射された励起光20は、蛍光体14により散乱され、コヒーレンスが失われた状態で、蛍光体14を通過する。蛍光体14は、たとえばハウジング18に設けられた開口部に嵌合して支持される。
The
図2は、光源10の出力光24のスペクトルを示す図である。光源10の出力光24は、蛍光体14を通過した青色の励起光20aと、蛍光体14が発する緑〜赤の蛍光22を含んでおり、白色光のスペクトル分布を有する。
FIG. 2 is a diagram illustrating a spectrum of the
つまり、特許文献1の光源では、紫外光である励起光は車両の前方を照射する出射光の一部としては使用されないのに対して、図1の光源10では、青色の励起光が、前照灯の出射光の一部として利用される。
That is, in the light source of
本発明者は、図1の光源10について検討した結果、以下の課題を認識するに至った。図1の光源10では、蛍光体14が割れたり、蛍光体14がハウジング18から外れるなどの異常が発生すると、レーザダイオード12が発生する励起光20が、蛍光体14によって散乱されることなく強いコヒーレンスを有した状態で直接的に出射され、望ましくない。
As a result of studying the
本発明者はこの問題を解決するために、以下の比較技術について検討した。この比較技術では、励起光20の漏光を、光センサなどによって検出する。そして漏光を検出すると、光源10へのランプ電流の供給を停止し、発光を停止する。なおこの比較技術を公知技術と認定してはならない。
In order to solve this problem, the present inventor examined the following comparative techniques. In this comparison technique, the leakage of the
このままではノイズなどの影響によって漏光が誤検出された場合に、光源10の発光が停止して好ましくない。この問題は、漏光状態が所定時間(判定時間)持続して検出された場合に、ランプ電流の供給を停止し、発光停止する修正を加えることで解決できる。しかしながらこの修正により、本当に漏光が生じている状況においても、判定時間の間、励起光20が出射されることとなる。
This is not preferable because light emission from the
光源10からの白色光を、リフレクタによって反射し、車両前方に照射する場合がある。このような灯具では、漏光が生じたときに、非散乱の励起光20がリフレクタの一部に集中する。そこでリフレクタのその一部に開口を設けると、漏光が車両前方に反射されないようにすることができる。しかしながらこの開口は、正常時においてロスとなり、輝度が低下する。
The white light from the
本発明はかかる状況においてなされたものであり、そのある態様の例示的な目的のひとつは、漏光異常に対し適切に対処可能な灯具の提供にある。 The present invention has been made in such a situation, and one of exemplary purposes of an embodiment thereof is to provide a lamp that can appropriately cope with a light leakage abnormality.
本発明のある態様は、灯具に関する。灯具は、発光素子を含む光源と、発光素子に安定化されたランプ電流を供給する点灯回路と、光源の出力光の異常を検出すると、異常検出信号をアサートする異常検出器と、異常検出信号のアサートに応答して、光源の出力光に作用し、灯具から出射する光の密度を低下せしめる保護装置と、を備える。 One embodiment of the present invention relates to a lamp. The lamp includes a light source including a light emitting element, a lighting circuit that supplies a stabilized lamp current to the light emitting element, an abnormality detector that asserts an abnormality detection signal when an abnormality in output light of the light source is detected, and an abnormality detection signal And a protective device that acts on the output light of the light source and reduces the density of the light emitted from the lamp in response to the assertion of.
この態様によると、異常が生じたときに、光源の出射光がそのまま車両前方に照射されるのを防止できる。 According to this aspect, when an abnormality occurs, it is possible to prevent the light emitted from the light source from being directly irradiated to the front of the vehicle.
光源は、励起光を出射するレーザダイオードである発光素子に加えて、励起光により励起されて蛍光を発する蛍光体を含み、励起光と蛍光のスペクトルを含む白色の出力光を生成するよう構成され、異常検出器は、光源の漏光異常を検出してもよい。 In addition to the light emitting element, which is a laser diode that emits excitation light, the light source includes a phosphor that emits fluorescence when excited by the excitation light, and is configured to generate white output light including the excitation light and the fluorescence spectrum. The abnormality detector may detect light leakage abnormality of the light source.
保護装置は、異常検出信号のアサートに応答して、保護部材を出力光の光路上に挿入してもよい。 The protection device may insert the protection member on the optical path of the output light in response to the assertion of the abnormality detection signal.
保護部材は、光源の出力光を拡散させてもよい。保護部材は、拡散レンズであってもよいし、拡散板であってもよい。保護部材は、車両がカーブを走行する際に、灯具の出力光を拡散させる機能を兼ねていてもよい。 The protective member may diffuse the output light of the light source. The protective member may be a diffusing lens or a diffusing plate. The protective member may also have a function of diffusing the output light of the lamp when the vehicle travels on a curve.
保護部材は、光源の出力光を減衰させてもよい。保護部材は、光源の出力光の一部を吸収または反射してもよい。 The protective member may attenuate the output light of the light source. The protective member may absorb or reflect a part of the output light of the light source.
保護部材は、偏光や屈折率を電気的に制御可能な電気光学効果を有してもよい。保護部材は、透光性圧電セラミックス(PLZT)や液晶デバイスを含んでもよい。 The protective member may have an electro-optic effect that can electrically control polarization and refractive index. The protective member may include a translucent piezoelectric ceramic (PLZT) or a liquid crystal device.
保護装置は、保護部材を変位させるソレノイドアクチュエータを含んでもよい。ソレノイドアクチュエータは、ソレノイドと、ソレノイドをチョッパ駆動する駆動回路と、を含んでもよい。駆動回路は、パルス状のソレノイド駆動信号を生成する信号発生器と、ソレノイド駆動信号に応じてスイッチングするトランジスタと、を含んでもよい。 The protection device may include a solenoid actuator that displaces the protection member. The solenoid actuator may include a solenoid and a drive circuit that drives the solenoid by chopper. The drive circuit may include a signal generator that generates a pulsed solenoid drive signal and a transistor that switches according to the solenoid drive signal.
駆動回路は、トランジスタのスイッチング中に、パルス信号が発生すべきスイッチングノードを監視し、当該スイッチングノードの信号とソレノイド駆動信号とにもとづいて、異常を検出する異常判定回路をさらに含んでもよい。
駆動回路とソレノイドの間の配線、端子、ハーネス等に異常が生じ、ソレノイドに直流電圧が印加されると、ソレノイドに流れる電流が増大し、過電流による発熱等の要因となるが、異常判定回路によってこのような異常を検出することで、信頼性を高めることができる。
The drive circuit may further include an abnormality determination circuit that monitors a switching node where a pulse signal should be generated during transistor switching, and detects an abnormality based on the signal of the switching node and the solenoid drive signal.
If an abnormality occurs in the wiring, terminals, harness, etc. between the drive circuit and the solenoid, and a DC voltage is applied to the solenoid, the current flowing through the solenoid increases, causing overheating, etc. By detecting such an abnormality, the reliability can be improved.
異常判定回路は、スイッチングノードの信号とソレノイド駆動信号の論理値の一致、不一致を判定する一致回路を含み、一致回路の出力にもとづいて異常の有無を判定してもよい。 The abnormality determination circuit may include a coincidence circuit that determines whether or not the logic values of the switching node signal and the solenoid drive signal match, and may determine whether there is an abnormality based on the output of the coincidence circuit.
駆動回路は、トランジスタのスイッチング中に、パルス信号が発生すべきスイッチングノードを監視し、当該スイッチングノードにパルス信号が発生していないときに異常と判定する異常判定回路をさらに含んでもよい。異常判定回路によって、異常を検出できるため、信頼性を高めることができる。 The drive circuit may further include an abnormality determination circuit that monitors a switching node where a pulse signal should be generated during transistor switching, and determines that an abnormality occurs when no pulse signal is generated at the switching node. Since abnormality can be detected by the abnormality determination circuit, reliability can be improved.
それに加えて、または代えて、異常判定回路は、スイッチングノードに、所定の周期より長い周期のパルス信号が発生しているときに、異常と判定してもよい。
信号発生器に異常が生じ、ソレノイド駆動信号の周期が長くなると、ソレノイドが正常状態よりも高いデューティ比で駆動されて発熱等の要因となるが、異常判定回路によってこのような異常を検出することで、信頼性を高めることができる。
In addition, or alternatively, the abnormality determination circuit may determine that an abnormality occurs when a pulse signal having a period longer than a predetermined period is generated in the switching node.
If an abnormality occurs in the signal generator and the period of the solenoid drive signal becomes longer, the solenoid will be driven at a higher duty ratio than in the normal state, causing heat generation, etc. Therefore, reliability can be improved.
駆動回路は、トランジスタのスイッチング中に、パルス信号が発生すべきスイッチングノードを監視し、当該スイッチングノードに発生するパルス信号のデューティサイクル(デューティ比)がしきい値より高いときに異常と判定する異常判定回路をさらに含んでもよい。 The drive circuit monitors a switching node where a pulse signal should be generated during switching of the transistor, and determines an abnormality when the duty cycle (duty ratio) of the pulse signal generated at the switching node is higher than a threshold value A determination circuit may be further included.
しきい値は、電源電圧およびソレノイドの温度の少なくとも一方に応じて変化してもよい。 The threshold value may change according to at least one of the power supply voltage and the solenoid temperature.
異常判定回路は、スイッチングノードの電圧を平滑化し、デューティサイクルに比例したデューティサイクル検出電圧を生成する平滑回路と、しきい値電圧を生成する電圧源と、デューティサイクル検出電圧をしきい値電圧と比較するコンパレータと、を含んでもよい。 The abnormality determination circuit smoothes the voltage of the switching node and generates a duty cycle detection voltage proportional to the duty cycle, a voltage source that generates a threshold voltage, and the duty cycle detection voltage as a threshold voltage. A comparator for comparison.
電圧源は、電源電圧に応じてしきい値電圧を低下させてもよい。電圧源は、温度に応じてしきい値電圧を低下させてもよい。 The voltage source may decrease the threshold voltage according to the power supply voltage. The voltage source may decrease the threshold voltage depending on the temperature.
電圧源は、抵抗分圧回路と、抵抗分圧回路の下側の抵抗と並列に接続される可変電流源と、を含んでもよい。 The voltage source may include a resistance voltage dividing circuit and a variable current source connected in parallel with the lower resistance of the resistance voltage dividing circuit.
駆動回路は、異常判定回路が異常を検出すると、ソレノイドに流れる電流を遮断するスイッチをさらに含んでもよい。これによりソレノイドやトランジスタを保護できる。 The drive circuit may further include a switch that cuts off a current flowing through the solenoid when the abnormality determination circuit detects an abnormality. Thereby, the solenoid and the transistor can be protected.
本発明のある態様によれば、光源の異常に対し適切に対処できる。 According to an aspect of the present invention, it is possible to appropriately cope with a light source abnormality.
以下、本発明を好適な実施の形態をもとに図面を参照しながら説明する。各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理には、同一の符号を付するものとし、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は、発明を限定するものではなく例示であって、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは、必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。 The present invention will be described below based on preferred embodiments with reference to the drawings. The same or equivalent components, members, and processes shown in the drawings are denoted by the same reference numerals, and repeated descriptions are omitted as appropriate. The embodiments do not limit the invention but are exemplifications, and all features and combinations thereof described in the embodiments are not necessarily essential to the invention.
本明細書において、「部材Aが、部材Bと接続された状態」とは、部材Aと部材Bが物理的に直接的に接続される場合のほか、部材Aと部材Bが、それらの電気的な接続状態に実質的な影響を及ぼさない、あるいはそれらの結合により奏される機能や効果を損なわせない、その他の部材を介して間接的に接続される場合も含む。 In this specification, “the state in which the member A is connected to the member B” means that the member A and the member B are electrically connected to each other in addition to the case where the member A and the member B are physically directly connected. It includes cases where the connection is indirectly made through other members that do not substantially affect the general connection state, or that do not impair the functions and effects achieved by their combination.
同様に、「部材Cが、部材Aと部材Bの間に設けられた状態」とは、部材Aと部材C、あるいは部材Bと部材Cが直接的に接続される場合のほか、それらの電気的な接続状態に実質的な影響を及ぼさない、あるいはそれらの結合により奏される機能や効果を損なわせない、その他の部材を介して間接的に接続される場合も含む。 Similarly, “the state in which the member C is provided between the member A and the member B” refers to the case where the member A and the member C or the member B and the member C are directly connected, as well as their electric It includes cases where the connection is indirectly made through other members that do not substantially affect the general connection state, or that do not impair the functions and effects achieved by their combination.
また本明細書において、電圧信号、電流信号などの電気信号、あるいは抵抗、キャパシタなどの回路素子に付された符号は、必要に応じてそれぞれの電圧値、電流値、あるいは抵抗値、容量値を表すものとする。 Further, in this specification, electrical signals such as voltage signals and current signals, or symbols attached to circuit elements such as resistors and capacitors indicate the respective voltage values, current values, resistance values, and capacitance values as necessary. It shall represent.
図3は、実施の形態に係る車両用灯具1のブロック図である。車両用灯具1は、光源10、点灯回路30、異常検出器40、保護装置50を備える。
FIG. 3 is a block diagram of the
光源10は、図1に示したように、励起光20を出射する発光素子であるレーザダイオード12と、励起光20により励起されて蛍光を発する蛍光体14と、を含み、励起光20と蛍光のスペクトルを含む白色の出力光24を生成する。
As shown in FIG. 1, the
点灯回路30は、光源10のレーザダイオード12に、安定化された駆動電流(ランプ電流ILAMP)を供給する。点灯回路30は、スイッチングコンバータ32およびコンバータコントローラ34を含む。スイッチングコンバータ32はたとえば降圧コンバータであり、図示しないバッテリなどの電源からの電圧VBATを降圧し、光源10に供給する。コンバータコントローラ34は、ランプ電流ILAMPが所定の目標値に近づくように、スイッチングコンバータ32を制御する。コンバータコントローラ34は、エラーアンプを含むPWMあるいはPFMコントローラであってもよいし、Bang-Bang制御のコントローラであってもよい。
The
異常検出器40は、光源10の出力光24の一部を検出し、出力光24の異常を検出すると、異常検出信号S1をアサート(たとえばハイレベル)する。本実施の形態において、異常検出器40は、蛍光体14の異常に起因する漏光異常を判定する。蛍光体14の異常は、たとえば蛍光体14の割れ、外れ、経年劣化などが例示されるが、その限りでない。異常検出器40は、出力光24に含まれる励起光20の光量と蛍光22の光量の割合にもとづいて、漏光異常を検出してもよい。具体的には蛍光に対する励起光の比率が、所定値より高くなった場合に、漏光異常と判定することができる。
The
異常検出器40については、特開2016−058370号公報に記載の技術を用いてもよい。たとえば異常検出器40は、第1フォトセンサ42_1、第2フォトセンサ42_2、判定部44を含む。第1フォトセンサ42_1は、励起光20の波長に感度を有し、蛍光22の波長に対して実質的に不感である。第1フォトセンサ42_1は、出力光24の一部を受け、蛍光体14を通過した励起光20の強度に応じた第1電流ISC1を生成する。一方、第2フォトセンサ42_2は、蛍光22の波長に感度を有し、励起光20の波長に対して実質的に不感である。第2フォトセンサ42_2は、出力光24の一部を受け、蛍光体14が発する蛍光22の強度に応じた第2電流ISC2を生成する。
For the
判定部44は、第1電流ISC1と第2電流ISC2の相対的な関係(たとえば比)にもとづいて、漏光異常の有無を判定する。光源10が正常であるとき、第1電流ISC1と第2電流ISC2の比は、ある正常範囲に含まれるが、漏光異常が発生すると、第1電流ISC1が相対的に大きくなるため、比が正常範囲から逸脱する。
The
判定部44の構成や、処理は特に限定されないが、たとえば以下の処理を行ってもよい。第1電流ISC1を、第1利得α1で第1検出電圧V1に変換し、第2電流ISC2を、第2利得α2で第2検出電圧V2に変換する。そして第1検出電圧V1と第2検出電圧V2を比較し、V1<V2のとき正常、V1>V2のとき異常と判定してもよい。
Although the configuration and processing of the
車両用灯具1は、光源10の出力光24を反射するリフレクタ26を備えてもよい。リフレクタ26には、開口(あるいはスリット)28が設けられ、異常検出器40の光検出素子42はリフレクタ26の背面に設けられる。光検出素子42は、開口28を通過した光にもとづいて、光源10の異常の有無を判定する。
The
開口28は、漏光が生じたときに、非散乱の励起光20がリフレクタ26において集中する箇所に設けることが望ましい。これにより光源10の異常時に、非散乱の励起光20が車両前方に反射されないようにすることができる。つまり開口28は、異常検出のために出力光24の一部を抽出する機能と、異常時において非散乱の励起光20を除去する機能を兼ねている。
The
なお車両用灯具1は、リフレクタ26に代えて、あるいはそれに加えて、その他の光学系を備えてもよい。
The
保護装置50は、異常検出信号S1のアサートに応答して、光源10の出力光24に作用し、車両用灯具1から出射する光(出射光)25の密度を低下させる。出射光25の密度は、単位立体角当たりのエネルギーと把握でき、あるいは照射領域における単位面積当たりのエネルギー(照射強度)と把握できる。
In response to the assertion of the abnormality detection signal S1, the
たとえば保護装置50は、保護部材52およびアクチュエータ54を備える。保護部材52はアクチュエータ54に取り付けられており、その位置あるいは姿勢が制御可能となっている。保護装置50のアクチュエータ54は、異常検出信号S1のアサートに応答して、保護部材52を変位させ、光源10の出力光24の光路上に機械的に挿入する。たとえば保護部材52は、光源10の出力光24を拡散してもよい。保護部材52は、拡散板あるいは拡散レンズであってもよい。
For example, the
図3に実線で示される出射光25は、正常時の光路を、一点鎖線で示される出射光25’は、異常時の光路を示す。
The
また点灯回路30は、異常検出信号S1のアサートが所定の判定時間τ持続すると、ランプ電流ILAMPを低下させる。低下後のランプ電流ILAMPはゼロであってもよいし、車両前方の人間を幻惑しない程度の電流量であってもよい。これにより、異常状態のまま、光源10が強く発光し続けるのを防止できる。
Further, the
以上が車両用灯具1の基本構成である。続いてその動作を説明する。図4は、図3の車両用灯具1の動作波形図である。時刻t0より前において点灯回路30は正常であり、ランプ電流ILAMPは、通常の目標値ILAMP(REF)に安定化されている。
The above is the basic configuration of the
時刻t0に、光源10にレーザの漏光異常が発生する。そうすると、光源10の出力光24に含まれるレーザ光と蛍光のバランスが崩れる。異常検出器40は、レーザ光と蛍光の比率にもとづいて、光源10の異常を検出し、異常検出信号S1をアサートする。
At time t0, a laser leakage abnormality occurs in the
異常検出信号S1がアサートされると、保護装置50は直ちに保護部材52を出力光24の光路上に挿入する。これにより、車両用灯具1からの出射光25が拡散され、出射光25の密度が低下する。
When the abnormality detection signal S <b> 1 is asserted, the
また異常検出信号S1のアサートが判定時間τ、持続すると、時刻t1にランプ電流ILAMPが低下し、出射光25の密度はさらに低下する。 When assertion of the abnormality detection signal S1 continues for the determination time τ, the lamp current I LAMP decreases at time t1, and the density of the emitted light 25 further decreases.
以上が車両用灯具1の動作である。この車両用灯具1によれば、光源10の異常時に、保護装置50によって照射方向の規定立体角あたりのエネルギー密度を低下できるため、安全性を高めることができる。
The operation of the
また異常発生直後の安全性は保護装置50によって担保されるため、コンバータコントローラ34がランプ電流ILAMPを低下させるまでの判定時間τを必要以上に短くする必要がなくなる。これにより、ノイズによって異常検出信号S1が誤ってアサートされた場合に、ランプ電流ILAMPが減少し、輝度が低下するのを防止できる。
Further, since the safety immediately after the occurrence of an abnormality is secured by the
また異常発生直後の安全性が保護装置50によって担保されるため、リフレクタ26に設ける開口28を小さくすることができる。これにより、正常動作時におけるロスを低減できる。
In addition, since the safety immediately after the occurrence of the abnormality is secured by the
続いて、保護装置50の具体的な構成例を説明する。保護装置50は、異常検出信号S1のアサートに応答して、なるべく短時間で出射光25の密度を低下させることが好ましく、したがってアクチュエータ54には高速動作が要求される。また保護部材52をレンズや拡散版とすると、保護部材52の重量は大きくなるため、アクチュエータ54には大きな出力が要求される。このような要求を満たすために、アクチュエータ54として、ソレノイドアクチュエータを用いることができる。
Next, a specific configuration example of the
図5は、第1構成例に係るソレノイドアクチュエータ60の回路図である。ソレノイドアクチュエータ60は、ソレノイド62、駆動回路64を備える。駆動回路64は、信号発生器66、ゲートドライバ68、トランジスタM11を備える。信号発生器66は異常検出信号S1のアサートに応答して、パルス状のソレノイド駆動信号S2を生成する。ゲートドライバ68は、ソレノイド駆動信号S2に応じてトランジスタM11を駆動する。またソレノイド62と並列に、整流ダイオードD11が設けられる。
FIG. 5 is a circuit diagram of the
駆動回路64自体や、ソレノイド62と駆動回路64を接続する配線やハーネス、端子等に異常が生ずると、ソレノイド62に流れる駆動電流をチョッピング制御できなくなる。こうした異常によって、ソレノイド62に直流電圧が定常的に印加されると、ソレノイド62に流れる電流が増大し、過電流による発熱等の要因となる。このような異常を検出するために、駆動回路64は、異常判定回路70をさらに備える。異常は、ソレノイド62とトランジスタM11を結ぶラインの天絡(電源ショート)、トランジスタM11の短絡故障、ゲートドライバ68の故障などが例示される。
If an abnormality occurs in the
駆動回路64が正常であれば、トランジスタM11は、ソレノイド駆動信号S2に応じてスイッチングし、スイッチングノードN1には、ソレノイド駆動信号S2と同期したパルス信号が発生する。一方、駆動回路64や配線等に異常が生ずると、スイッチングノードN1の電位が一定、あるいは不定となり、ソレノイド駆動信号S2との相関が失われる。そこで異常判定回路70は、トランジスタM11のスイッチング中に、パルス信号が発生すべきスイッチングノードN1を監視し、スイッチングノードN1の信号VN1とソレノイド駆動信号S2とにもとづいて異常を検出する。
If the
たとえば異常判定回路70は、スイッチングノードN1の信号VN1とソレノイド駆動信号S2の論理値の一致、不一致を判定する一致回路72を含み、一致回路72の出力(一致信号)S3にもとづいて異常の有無を判定してもよい。異常判定回路70は、ソレノイド駆動信号S2に代えて、トランジスタM11のゲート信号VGを監視してもよい。
For example, the
一致回路72は、XOR(排他的論理和)ゲートであってもよいし、XNOR(否定排他的論理和)ゲートであってもよい。ソレノイドアクチュエータ60が正常であるとき、一致信号S3は、一致を示す論理値(たとえば1)をとり、ソレノイドアクチュエータ60に異常が生ずると、一致信号S3は不一致を示す論理レベル(たとえば0)となり、あるいは1と0を繰り返すパルス信号となる。ラッチ74は、一致信号S3が不一致を示す論理値に遷移すると、ラッチする。
The
このように異常判定回路70によれば、ソレノイドアクチュエータ60の異常を検出できる。たとえば車両用灯具1は、異常判定回路70によって異常が検出されると、それを車両側のECU(Electronic Control Unit)に通知してもよい。
Thus, according to the
また駆動回路64は、異常判定回路70によって異常が検出されると、ソレノイド62への通電を停止することが好ましく、具体的にはトランジスタM11をオフに固定する。また駆動回路64は、ソレノイド62に流れる電流が通過する経路に設けられるスイッチM12をさらに備えてもよい。異常判定回路70は、異常を検出すると、スイッチM12をオフし、ソレノイド62に流れる電流を遮断する。これにより、トランジスタM11がショート故障した場合や、ノードN1が天絡した場合にも、電流経路を遮断でき、信頼性を高めることができる。
Further, when an abnormality is detected by the
スイッチM12を、ダイオードD11との並列経路上に、ソレノイド62と直列に挿入してもよい。
The switch M12 may be inserted in series with the
図6(a)、(b)は、図5のソレノイドアクチュエータ60の動作波形図である。図6(a)はソレノイドアクチュエータ60が正常のときの動作を示す。トランジスタM11は、ソレノイド駆動信号S2に応じてスイッチングするため、ノードN1の電圧VN1は、ソレノイド駆動信号S2と同期したパルス信号となり、一致信号S3は、一致を示す一定値となる。
6A and 6B are operation waveform diagrams of the
図6(b)はソレノイドアクチュエータ60が異常のときの動作を示す。たとえばノードN1が天絡した場合、その電圧VN1は、電源電圧VDD(ハイレベル)となる。このとき一致信号S3は、一致と不一致を交互に繰り返すパルス信号となる。
FIG. 6B shows the operation when the
このように図3の異常判定回路70によれば、ソレノイド駆動信号S2とスイッチングノードN1の電圧VN1にもとづいて、異常を検出できる。
As described above, according to the
なお変形例として、異常判定回路70が、トランジスタM11のゲート信号VGと、スイッチングノードN1の電圧VN1を比較してもよい。この場合、ソレノイドアクチュエータ60が正常である場合に、ゲート信号VGと電圧VN1は反転論理となる。したがって、ソレノイドアクチュエータ60が正常であるとき、一致信号S3は、不一致を示す一定値となり、ソレノイドアクチュエータ60が異常であるとき、一致信号S3は、不一致と一致を交互に示すパルス信号となる。
As a modification, the
なお、ソレノイド駆動信号S2(あるいはゲート信号VG)とスイッチングノードN1の電圧VN1は、遅延によって遷移のタイミングがずれる場合もあり、そうすると、一致信号S3にヒゲ(狭パルス、スパイク信号ともいう)が重畳される。したがってラッチ74は、短パルスには応答しないように構成することが好ましい。
Note that the transition timing of the solenoid drive signal S2 (or gate signal V G ) and the voltage V N1 of the switching node N1 may be shifted due to a delay. Are superimposed. Accordingly, the
図7は、第2構成例に係るソレノイドアクチュエータ60aの回路図である。異常判定回路70aは、図3の異常判定回路70の一致回路72に代えて、パルス検出器76を備える。パルス検出器76は、スイッチングノードN1を監視し、スイッチングノードN1にパルス信号が発生しているか否かを判定する。たとえばパルス検出器76は、信号VN1のポジエッジ(あるいはネガエッジ)が繰り返し連続的に発生しているかを監視する。
FIG. 7 is a circuit diagram of the
パルス検出器76は、それに限定されないが、再トリガ可能なワンショットマルチバイブレータ回路(単安定回路)で構成できる。パルス検出器76はスイッチングノードの信号VN1のポジエッジから所定時間Tbの間、第1レベルとなり、その後、第2レベルに戻る信号S4を生成する。所定時間Tbは、ソレノイド駆動信号S2の周期Taより長く規定され、またソレノイド62の発熱が問題となる時間Tcより短く規定することが望ましい。
Ta<Tb<Tc
Although not limited thereto, the
Ta <Tb <Tc
図8(a)は、図7の異常判定回路70aの動作波形図である。時刻t0より前は正常状態を示す。正常状態では、スイッチングノードN1の電圧VN1は、周期Taでスイッチングする。パルス検出器76であるワンショットマルチバイブレータ回路の出力S4は、正常状態において電圧VN1によって繰り返しトリガされて、不安定状態を示すレベル(ハイレベル)を維持する。
FIG. 8A is an operation waveform diagram of the
時刻t0に異常が発生すると、電圧VN1は一定電圧となる。そうすると、パルス検出器76がトリガされなくなり、電圧VN1の最後のポジエッジから時間Tbの経過後に安定状態を示すレベル(ローレベル)に遷移し、その後、ローレベルを維持する。
When an abnormality occurs at time t0, the voltage V N1 becomes a constant voltage. Then, the
このように、図7の異常判定回路70aによれば、スイッチングノードN1の電圧VN1にもとづいて、異常を検出できる。
Thus, according to the
図7の異常判定回路70aは、スイッチングノードN1に、所定の周期Tbより長い周期Tdのパルス信号VN1が発生したときに、異常と判定することができる。これにより信号発生器66が生成するソレノイド駆動信号S2の周期あるいはデューティ比に異常がある場合を検出できる。図8(b)は、ソレノイド駆動信号S2の検出を説明する図である。時刻t0より前においてソレノイド駆動信号S2は正常であり、時刻t0において周期が長くなる。そうすると、ワンショットマルチバイブレータ回路の出力S4は、ソレノイド駆動信号S2と同じ周期で周期的にローレベルとなるため異常状態を検出できる。
The
図9は、第3構成例に係るソレノイドアクチュエータ60bの回路図である。ソレノイドアクチュエータの故障モードによっては、パルス信号VN1のデューティサイクルが通常の設定値より大きくなる状況が生じうる。そこで異常判定回路70bは、図7のパルス検出器76に代えて、デューティサイクル比較器78を備える。デューティサイクル比較器78はスイッチングノードN1に発生するパルス信号VN1のデューティサイクルがしきい値より高いときに、ソレノイドアクチュエータ60bが異常であると判定する。
FIG. 9 is a circuit diagram of a
図10は、図9のデューティサイクル比較器78の構成例を示す回路図である。デューティサイクル比較器78cは、コンパレータ80、平滑回路82、電圧源84を含む。平滑回路82は、スイッチングノードN1の電圧VN1を平滑化する。電圧VN1のデューティサイクルをdSW、振幅をVDDとするとき、平滑回路82の出力電圧は、
Vx=VDD×dSW
となり、デューティサイクルdSWに比例する。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration example of the
Vx = V DD × d SW
And is proportional to the duty cycle d SW .
電圧源84は、しきい値電圧VTHを生成する。たとえば電圧源84は、抵抗R21,R22を含み、電源電圧VDDを抵抗分圧して、しきい値電圧VTHを生成してもよい。分圧比をdTHとするとき、しきい値電圧VTHは、
VTH=VDD×dTH
となる。
The
V TH = V DD × d TH
It becomes.
コンパレータ80は、電圧Vxをしきい値電圧VTHと比較し、比較結果を示す比較信号S5を出力する。たとえば比較信号S5は、Vx>VTHのとき、言い換えればdSW>dTHのときにハイレベルとなる。すなわち、デューティサイクル比較器78aによれば、電圧VN1のデューティサイクルがしきい値を超えたことを検出できる。
The
図11は、図9のデューティサイクル比較器78の変形例を示す回路図である。平滑回路82dは、電圧VN1のデューティサイクルdSWに比例し、電源電圧VDDに依存しないデューティサイクル検出電圧Vyを生成する。
Vy=VREG×dSW
FIG. 11 is a circuit diagram showing a modification of the
Vy = V REG × d SW
たとえば平滑回路82dは、定電圧VREGを電源とするバッファ(あるいはインバータ)90と、ローパスフィルタ92の組み合わせで構成してもよい。
For example, the smoothing
電圧源84dは、可変のしきい値電圧VTHを生成する。たとえばしきい値電圧VTHは、電源電圧VDDに応じて低下することが望ましい。ソレノイド62が直流抵抗(寄生抵抗)RDCを有するとき、その消費電力Pは式(6)で表され、デューティサイクルdSWが高いほど増大する。
P=VDD 2/RDC×dSW
P = V DD 2 / R DC × d SW
したがって、デューティサイクルdSWのしきい値dTHを、電源電圧VDDの2乗に反比例するように低下させると、ソレノイド62の消費電力Pが、しきい値PTHを超えないように、ソレノイドアクチュエータ60dを動作させることができる。つまり、電源電圧VDDが低い状況では、しきい値dTHを高くすることで、ソレノイドアクチュエータ60の動作を可能な限り継続することができる。
Therefore, when the threshold value d TH of the duty cycle d SW is lowered so as to be inversely proportional to the square of the power supply voltage V DD , the
なおしきい値dSWは、完全に電源電圧VDDの2乗に反比例する必要は無く、それに近似して変化させてもよいし、電源電圧VDDに反比例させてもよい。あるいはしきい値dTHは、電源電圧VDDもしくはその2乗VDD 2に対して、線形に減少してもよい。 Note threshold d SW is completely without need is inversely proportional to the square of the power supply voltage V DD, it may be changed to approximate to it, may be inversely proportional to the supply voltage V DD. Alternatively, the threshold value d TH may decrease linearly with respect to the power supply voltage V DD or its square V DD 2 .
たとえば電圧源84dは、分圧回路94と可変電流源96を含む。分圧回路94は、定電圧VREGを分圧する。可変電流源96は、電源電圧VDDに応じて増大する補正電流IADJを生成する。
VTH=VREG−R21×IR21 …(1)
IR21=IR22+IADJ=(VTH/R22+IADJ) …(2)
式(2)を式(1)に代入すると式(3)を得る。
VTH=VREG−R21×(VTH/R22+IADJ) …(3)
これをVTHについて解くと、式(4)を得る。
VTH=R22/(R21+R22)×(VREG−R21×IADJ) …(4)
R22/(R21+R22)×VREGを、IADJ=0のときのしきい値VTH0と書くと、式(5)が得られる。
VTH=VTH0−R21×R22/(R21+R22)×IADJ …(5)
つまりIADJが増加するほど、しきい値VTHを低下させることができる。上述のように、補正電流IADJを、電源電圧VDDの関数とすることにより、電源電圧VDDが高いほど、しきい値電圧VTH、ひいてはしきい値dTHを低下させることができる。
For example, the
V TH = V REG −R21 × I R21 (1)
I R21 = I R22 + I ADJ = (V TH / R22 + I ADJ ) (2)
Substituting equation (2) into equation (1) yields equation (3).
V TH = V REG −R21 × (V TH / R22 + I ADJ ) (3)
Solving this for V TH yields equation (4).
V TH = R22 / (R21 + R22) × (V REG −R 21 × I ADJ ) (4)
When R22 / (R21 + R22) × V REG is written as a threshold value V TH0 when I ADJ = 0, Expression (5) is obtained.
V TH = V TH0 -R21 × R22 / (R21 + R22) × I ADJ ... (5)
That is, the threshold value V TH can be lowered as I ADJ increases. As described above, the correction current I ADJ, by a function of the supply voltage V DD, as the power supply voltage V DD is high, the threshold voltage V TH, it is possible to reduce the turn threshold d TH.
なお図11では、可変電流源96が分圧回路94の下側の抵抗R22と並列に接続されるが、上側の抵抗R21と並列に接続し、抵抗R22に補正電流IADJをソースするように構成してもよい。また可変電流源96を、電源電圧に応じて抵抗値が変化する可変抵抗としてもよい。
In FIG. 11, the variable
図12は、図11のデューティサイクル比較器78dの具体的な構成例を示す回路図である。平滑回路82dは、バッファ90とローパスフィルタ92を含む。ローパスフィルタ92は、バッファ90の出力段と一体に形成されている。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a specific configuration example of the
可変電流源96は、電源電圧VDDの2乗近似電流源である。なお電圧源84dの構成は特に限定されず、たとえばトランスリニア回路で構成してもよい。
The variable
図13は、図11のデューティサイクル比較器78の別の変形例を示す回路図である。この変形例において、可変電流源96eは温度上昇に応じて増加する補正電流IADJを生成する。可変電流源96eは、温度と正の相関を有する温度検出信号S6を、補正電流IADJに変換するV/I変換回路と把握することもできる。図13の構成では、しきい値dTHを、温度検出信号S6の増加に対して、実質的に線形に低下させることができる。
FIG. 13 is a circuit diagram showing another modification of the
図13のデューティサイクル比較器78eによれば、温度が低い状況では、しきい値dTHを高くすることにより、ソレノイドアクチュエータ60の動作を可能な限り継続することができる。
According to the
最後に、車両用灯具1の用途を説明する。図14は、実施の形態に係る車両用灯具1を備えるランプユニット(ランプアッシー)500の斜視図である。ランプユニット500は、透明のカバー502、ハイビームユニット504、ロービームユニット506、筐体508を備える。上述の車両用灯具1は、たとえばハイビームユニット504に用いることができる。車両用灯具1は、ひとつ、あるいは複数の光源10を備える。ハイビームユニット504に代えて、あるいはそれに加えて、ロービームユニット506に車両用灯具1を用いてもよい。
Finally, the use of the
以上、本発明について、実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組み合わせにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。以下、こうした変形例について説明する。 The present invention has been described based on the embodiments. This embodiment is an exemplification, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications can be made to combinations of the respective constituent elements and processing processes, and such modifications are within the scope of the present invention. is there. Hereinafter, such modifications will be described.
保護部材52は、光源10の出力光を減衰させてもよい。保護部材52は、光源10の出力光24の一部を吸収または反射してもよい。
The protection member 52 may attenuate the output light of the
図3では、保護装置50が、アクチュエータ54を含み、保護部材52を移動させる構成を説明したが、それに限定されない。たとえば保護部材52は、出力光24の光路上に固定されてもよい。この場合、保護部材52を、偏光や屈折率を電気的に制御可能な電気光学効果を有する材料と、その他の光学素子(他のレンズやミラー、偏光板など)の組み合わせで構成してもよい。こうした材料としては、透光性圧電セラミックス(PLZT)や液晶デバイスが例示されるがその限りではない。異常時において、保護部材52の偏光や屈折率を変化させることで、車両用灯具1の出射光25を拡散することができる。
In FIG. 3, the configuration in which the
保護部材52は透過型デバイスには限定されず、反射型デバイスであってもよい。たとえば保護部材52は、MEMSミラーであってもよい。 The protective member 52 is not limited to a transmissive device, and may be a reflective device. For example, the protection member 52 may be a MEMS mirror.
判定部44による異常判定方法は限定されない。たとえば判定部44は、光検出素子42_1の出力にもとづいて、開口28に入射する励起光の強度にもとづいて、光源10の異常を検出してもよい。
The abnormality determination method by the
本発明は、車両用灯具、特に前照灯に好適であるが、その用途は限定されない。たとえば車載用の灯具であって、路面描画用の光源にも本発明は利用可能である。さらに言えば、本発明は車両以外の移動手段にも利用可能であり、さらに言えば、移動手段以外の灯具にも利用可能である。 The present invention is suitable for a vehicular lamp, particularly a headlamp, but its application is not limited. For example, the present invention can be used for a vehicle-mounted lamp and a light source for road surface drawing. Furthermore, the present invention can be used for a moving means other than a vehicle, and further can be used for a lamp other than the moving means.
実施の形態では、図1の光源10の異常を例としたが、それに限定されない。たとえば2色あるいは3色のレーザ光あるいはLED光の混色によって白色光を発生する光源において、少なくともひとつの色のレーザ光(あるいはLED光)が許容値を超えて大きくなるような異常にも本発明は有効である。また光源10の出射光は白色には限定されず、単色光であってもよい。
In the embodiment, the abnormality of the
実施の形態にもとづき、具体的な語句を用いて本発明を説明したが、実施の形態は、本発明の原理、応用を示しているにすぎず、実施の形態には、請求の範囲に規定された本発明の思想を逸脱しない範囲において、多くの変形例や配置の変更が認められる。 Although the present invention has been described using specific terms based on the embodiments, the embodiments only illustrate the principles and applications of the present invention, and the embodiments are defined in the claims. Many variations and modifications of the arrangement are permitted without departing from the spirit of the present invention.
1…車両用灯具、10…光源、12…レーザダイオード、20…励起光、22…蛍光、24…出力光、25…出射光、26…リフレクタ、28…開口、30…点灯回路、32…スイッチングコンバータ、34…コンバータコントローラ、40…異常検出器、42…光検出素子、44…判定部、50…保護装置、52…保護部材、54…アクチュエータ、60…ソレノイドアクチュエータ、62…ソレノイド、M11…トランジスタ、64…駆動回路、66…信号発生器、70…異常判定回路、72…一致回路、74…ラッチ、76…パルス検出器、78…デューティサイクル比較器、80…コンパレータ、82…平滑回路、84…電圧源、90…バッファ、92…ローパスフィルタ、94…分圧回路、96…可変電流源、S1…異常検出信号、S2…ソレノイド駆動信号、500…ランプユニット、502…カバー、504…ハイビームユニット、506…ロービームユニット、508…筐体。
DESCRIPTION OF
Claims (10)
発光素子を含む光源と、
正常状態において、前記発光素子に安定化されたランプ電流を供給する点灯回路と、
前記光源の出力光の異常を検出すると、異常検出信号をアサートする異常検出器と、
前記異常検出信号のアサートに応答して、前記光源の出力光に作用し、前記灯具から出射する光の密度を低下せしめる保護装置と、
を備えることを特徴とする灯具。 A lamp,
A light source including a light emitting element;
A lighting circuit for supplying a stabilized lamp current to the light emitting element in a normal state;
When detecting an abnormality of the output light of the light source, an abnormality detector that asserts an abnormality detection signal;
A protective device that acts on the output light of the light source in response to the assertion of the abnormality detection signal, and reduces the density of light emitted from the lamp;
A lamp characterized by comprising.
前記異常検出器は、前記光源の漏光異常を検出することを特徴とする請求項1に記載の灯具。 The light source includes a phosphor that emits fluorescence when excited by the excitation light, in addition to the light emitting element that is a laser diode that emits excitation light, and emits white output light including the excitation light and the fluorescence spectrum. Configured to generate,
The lamp according to claim 1, wherein the abnormality detector detects a light leakage abnormality of the light source.
前記ソレノイドアクチュエータは、
ソレノイドと、
前記ソレノイドをチョッパ駆動する駆動回路と、
を含み、
前記駆動回路は、
前記ソレノイドアクチュエータのソレノイドをチョッピング駆動するためのソレノイド駆動信号を生成する信号発生器と、
前記ソレノイド駆動信号に応じてスイッチングするトランジスタと、
を含むことを特徴とする請求項3または4に記載の灯具。 The protection device includes a solenoid actuator that displaces the protection member;
The solenoid actuator is
A solenoid,
A drive circuit for chopper-driving the solenoid;
Including
The drive circuit is
A signal generator for generating a solenoid driving signal for chopping driving the solenoid of the solenoid actuator;
A transistor that switches according to the solenoid drive signal;
The lamp according to claim 3 or 4, characterized by comprising:
(i)当該スイッチングノードにパルス信号が発生していないこと、
(ii)所定の周期より長い周期のパルス信号が発生したこと、
(iii)当該スイッチングノードに発生するパルス信号のデューティサイクルがしきい値より大きいこと、
の少なくともひとつを異常判定の条件とする異常判定回路をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の灯具。 The driving circuit monitors a switching node where a pulse signal should be generated during switching of the transistor,
(I) No pulse signal is generated at the switching node,
(Ii) the generation of a pulse signal with a period longer than a predetermined period;
(Iii) the duty cycle of the pulse signal generated at the switching node is greater than a threshold value;
The lamp according to claim 5, further comprising an abnormality determination circuit that uses at least one of the conditions as an abnormality determination condition.
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