JP2017104319A - Ophthalmologic apparatus - Google Patents

Ophthalmologic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2017104319A
JP2017104319A JP2015241180A JP2015241180A JP2017104319A JP 2017104319 A JP2017104319 A JP 2017104319A JP 2015241180 A JP2015241180 A JP 2015241180A JP 2015241180 A JP2015241180 A JP 2015241180A JP 2017104319 A JP2017104319 A JP 2017104319A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fixation target
scanning
eye
examined
measurement light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2015241180A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
武藤 健二
Kenji Muto
健二 武藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2015241180A priority Critical patent/JP2017104319A/en
Publication of JP2017104319A publication Critical patent/JP2017104319A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ophthalmologic apparatus configured simply without using a dichroic mirror.SOLUTION: The ophthalmologic apparatus includes: scanning means for scanning a measuring beam on a subject's eye; detection means for detecting return light from the subject's eye to which the measuring beam is applied via an objective lens; fixation target display means for displaying a fixation target prompting a subject to visually fix the subject's eye; and fixation target reflection means for reflecting the fixation target in a direction in parallel to an optical axis of the objective lens. When a reflection plane of the scanning means is located at a scanning center in scanning the measuring beam, the fixation target reflection means is disposed flush with the reflection plane of the fixation target reflection means.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、被検眼を撮像する眼科装置に関する。   The present invention relates to an ophthalmologic apparatus for imaging an eye to be examined.

近年、低コヒーレンス光による干渉を利用して断層画像を撮像する光干渉断層法(OCT:Optical Coherence Tomography)を用いる装置(以下、OCT装置とも呼ぶ。)が実用化されている。OCT装置は、被検査物に入射する光の波長程度の分解能で断層画像を撮像できるため、被検査物の断層画像を高分解能で得ることができる。このため、該OCT装置は、特に、眼底に位置する網膜の断層画像を得るための眼底検査装置として有用とされる。該OCT装置では、眼底の複数箇所から断層画像を得るために測定光である低コヒーレンス光を眼底上で走査する態様が多く用いられている。   In recent years, an apparatus using an optical coherence tomography (OCT: Optical Coherence Tomography) that captures a tomographic image using interference by low-coherence light (hereinafter also referred to as an OCT apparatus) has been put into practical use. Since the OCT apparatus can capture a tomographic image with a resolution about the wavelength of light incident on the inspection object, a tomographic image of the inspection object can be obtained with high resolution. Therefore, the OCT apparatus is particularly useful as a fundus examination apparatus for obtaining a tomographic image of the retina located on the fundus. In the OCT apparatus, in order to obtain a tomographic image from a plurality of locations on the fundus, a mode in which low coherence light that is measurement light is scanned on the fundus is often used.

一方、眼底の画像を取得する装置として、走査型レーザー検眼鏡(SLO:Scanning Laser Ophthalmoscope、以下SLO装置とも呼ぶ。)も知られている。該SLO装置は、眼底上でレーザー光を走査して、ピンホールなどを通じてその反射光を検出する。その際に共焦点光学系を用いることによって、眼底を高コントラストで観察することを可能としている。該SLO装置も、OCT装置と同じく眼底の状態を観察するのに有用な装置として用いられる。   On the other hand, a scanning laser ophthalmoscope (SLO: Scanning Laser Ophthalmoscope, hereinafter also referred to as an SLO apparatus) is also known as an apparatus for acquiring a fundus image. The SLO device scans a laser beam on the fundus and detects the reflected light through a pinhole or the like. In this case, the fundus can be observed with high contrast by using a confocal optical system. The SLO device is also used as a useful device for observing the state of the fundus as with the OCT device.

一方、一般的にOCT装置およびSLO装置は測定光の眼底での走査を基本としており、撮像時間が比較的長い。そこで、撮像時間中、具体的には数秒程度被検者が特定の位置を注視した固視状態を出来るだけ長く安定させたいために、撮像の開始に対応する測定光の走査開始と同時に固視灯を眼底に投影することが重要となる。OCT装置、或いはSLO装置では、固視灯として二次元マトリックスのLCD(Liquid Crystal Display)パネルが用いられる。固視灯を注視させて所望の位置に測定光を照射するという固視灯の眼底への投影の重要性に鑑み、このLCDパネルからの固視灯光の光路を測定光光路と同一にさせることが好ましい。このため、走査手段であるガルバノミラーより被検眼に近い側にダイクロイックミラーを設けて固視灯像を眼底に投影する。ここで、OCT装置或いはSLO装置で用いる測定光は赤外領域(不可視あるいはほぼ不可視)の光であることが多く、固視灯は可視のため緑などの波長のものを用いることが多い。各々の光の波長分離の容易さと測定光の反射光を効率よく受光することが可能との理由から、前述したように各々の光路の分離或いは同一化にはダイクロイックミラーが用いられる。特許文献1には、走査手段により走査される測定光と固視灯とを同一光路として被検眼に導くために、ダイクロイックミラーを用いて光路を合せるOCT装置が記載されている。   On the other hand, generally, the OCT apparatus and the SLO apparatus are based on scanning of the fundus of measurement light, and the imaging time is relatively long. Therefore, in order to stabilize the fixation state where the subject gazes at a specific position for as long as possible during the imaging time, the fixation is performed simultaneously with the start of the measurement light scanning corresponding to the start of imaging. It is important to project the light onto the fundus. In the OCT apparatus or the SLO apparatus, a two-dimensional matrix LCD (Liquid Crystal Display) panel is used as a fixation lamp. In view of the importance of projecting the fixation lamp onto the fundus of the eye, gazing at the fixation lamp and irradiating the measurement light to the desired position, the optical path of the fixation lamp light from this LCD panel should be the same as the measurement optical path Is preferred. For this reason, a dichroic mirror is provided on the side closer to the eye to be examined than the galvanometer mirror as the scanning means, and a fixation lamp image is projected onto the fundus. Here, measurement light used in the OCT apparatus or SLO apparatus is often light in the infrared region (invisible or almost invisible), and the fixation lamp is often used with a wavelength such as green because it is visible. As described above, a dichroic mirror is used for separation or identification of each optical path as described above because of the ease of wavelength separation of each light and the ability to efficiently receive reflected light of measurement light. Patent Document 1 describes an OCT apparatus that uses a dichroic mirror to align the optical path in order to guide the measurement light scanned by the scanning unit and the fixation lamp to the eye to be examined as the same optical path.

特開2009−279031号公報JP 2009-279031 A

ここで、ダイクロイックミラーは透明な基材の鏡面に誘電体薄膜の多層膜を形成することで得られる複雑な構成を有するため、高価であり且つ形状等の制約も存在する。このため、眼科装置のコストを下げるために、その使用をできるだけ控えることが望ましい。   Here, since the dichroic mirror has a complicated structure obtained by forming a multilayer film of dielectric thin films on the mirror surface of a transparent substrate, it is expensive and has restrictions on shape and the like. For this reason, it is desirable to refrain from using the ophthalmic apparatus as much as possible in order to reduce the cost.

本発明の目的の一つは、このような課題に鑑みて為されたものであって、走査手段により走査される測定光の光路と固視灯の光路とを同一光路として被検眼に導くためのダイクロイックミラーを用いることなく、これらの光路を同一光路として被検眼に導くための簡便な光学系で構成される眼科装置を提供する。   One of the objects of the present invention has been made in view of such problems, and is for guiding the optical path of measurement light scanned by the scanning means and the optical path of the fixation lamp to the eye to be examined as the same optical path. Thus, an ophthalmologic apparatus including a simple optical system for guiding these optical paths to the eye to be examined as the same optical path without using the dichroic mirror is provided.

上述した課題に鑑みて本発明の眼科装置は、
被検眼で測定光を走査する走査手段と、
対物レンズを介して前記測定光を照射した前記被検眼からの戻り光を検出する検出手段と、
前記被検眼の固視を促す固視標を表示する固視標表示手段と、
前記固視標を前記対物レンズの光軸と平行な方向に反射する固視標反射手段と、を有し、
前記固視標反射手段は、前記走査手段の反射面が前記測定光を走査する際の走査中心にある時に、前記固視標反射手段の反射面と同一平面内となるように配置されることを特徴とする。
In view of the above-described problems, the ophthalmologic apparatus of the present invention is
Scanning means for scanning the measuring light with the eye to be examined;
Detection means for detecting return light from the eye to be examined that has been irradiated with the measurement light via an objective lens;
Fixation target display means for displaying a fixation target for promoting fixation of the eye to be examined;
A fixation target reflecting means for reflecting the fixation target in a direction parallel to the optical axis of the objective lens,
The fixation target reflecting means is arranged to be in the same plane as the reflection surface of the fixation target reflecting means when the reflection surface of the scanning means is at the scanning center when scanning the measurement light. It is characterized by.

本発明によれば、走査手段により走査される測定光の光路と固視灯の光路とを同一光路として被検眼に導くためのダイクロイックミラーを用いることなく、これらの光路を同一光路として被検眼に導くための簡便な光学系で構成される眼科装置を提供することができる。   According to the present invention, the optical path of the measurement light scanned by the scanning unit and the optical path of the fixation lamp are set as the same optical path, and these optical paths are used as the same optical path for the eye to be examined without using a dichroic mirror. An ophthalmologic apparatus configured with a simple optical system for guiding can be provided.

本発明の実施例における眼底検査装置の光学構成を説明する図である。It is a figure explaining the optical structure of the fundus examination device in the example of the present invention. 本発明の実施例における眼底検査装置を説明する図である。It is a figure explaining the fundus examination device in the example of the present invention. 穴開きミラーと走査手段との位置関係を説明する図である。It is a figure explaining the positional relationship of a perforated mirror and a scanning means. 走査手段と穴開きミラーとを一体とした例を説明する図である。It is a figure explaining the example which integrated the scanning means and the perforated mirror. 固視灯と測定光出射部を略同軸とする例を説明する図である。It is a figure explaining the example which makes a fixation lamp and a measurement light emission part substantially coaxial. 本発明における穴開きミラーと走査手段との位置関係の他の例を説明する図である。It is a figure explaining the other example of the positional relationship of the perforated mirror and scanning means in this invention.

以下、本発明の実施例について、図面を参照して説明する。なお、以下の実施例は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、以下の実施例で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The following examples do not limit the present invention related to the scope of claims, and all combinations of features described in the following examples are essential to the solution means of the present invention. Not exclusively.

本実施例における眼底検査装置においては、簡便な構成で固視灯の眼底投影を可能とする。以下に、該眼底検査装置の構成について、項目別としてその各々について説明する。   In the fundus examination apparatus according to the present embodiment, the fundus projection of the fixation lamp can be performed with a simple configuration. Hereinafter, the configuration of the fundus examination apparatus will be described for each item.

(装置の概略構成)
本実施例における眼底検査装置の概略構成について図2を用いて説明する。
(Schematic configuration of the device)
A schematic configuration of the fundus examination apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG.

図2は、眼底検査装置200の側面図である。眼底検査装置は、光学ヘッド900、ステージ部950、ベース部951、顎受け部323、制御部925、記憶部926、モニタ928、および入力部929を有する。光学ヘッド900は、被検眼の前眼部および眼底各々の二次元像並びに断層画像を撮像するための測定光学系である。ステージ部950は、光学ヘッド900を支持し、不図示のモータを用いて該光学ヘッド900を図中xyz方向に移動可能とする。ベース部951はステージ部950を支持すると共に、後述の分光器を内蔵する。   FIG. 2 is a side view of the fundus examination apparatus 200. The fundus examination apparatus includes an optical head 900, a stage unit 950, a base unit 951, a chin rest 323, a control unit 925, a storage unit 926, a monitor 928, and an input unit 929. The optical head 900 is a measurement optical system for capturing a two-dimensional image and a tomographic image of each of the anterior segment and fundus of the eye to be examined. The stage unit 950 supports the optical head 900 and enables the optical head 900 to be moved in the xyz direction in the drawing using a motor (not shown). The base unit 951 supports the stage unit 950 and incorporates a spectrometer described later.

制御部925は、ステージ部の制御部として例えばパソコンより構成され、ステージ部950の制御と共に後述する断層画像の構成等を行う。記憶部926は、被検者情報の記憶部として機能し、同時に断層撮像用のプログラムなどを記憶し、ハードディスクより構成される。モニタ928は表示部として断層画像等を表示し、入力部929はパソコンへの指示等を入力する際に用いられ、具体的にはキーボードとマウスとから構成される。顎受け部323はあご台であり、被検者のあごと額とを固定することで、被検者の眼(被検眼)の位置の固定を促す。   The control unit 925 is configured by, for example, a personal computer as the control unit of the stage unit, and performs tomographic image configuration and the like described later along with the control of the stage unit 950. The storage unit 926 functions as a storage unit for subject information, and simultaneously stores a program for tomographic imaging and the like, and includes a hard disk. A monitor 928 displays a tomographic image or the like as a display unit, and an input unit 929 is used when inputting an instruction or the like to a personal computer, and specifically includes a keyboard and a mouse. The chin rest 323 is a chin stand, and fixes the position of the subject's eye (examined eye) by fixing the subject's chin and forehead.

(測定光学系および分光器の構成)
次に、光学ヘッド900に内蔵される本実施例の測定光学系および分光器の構成について図1(a)を用いて説明する。
(Configuration of measurement optical system and spectrometer)
Next, the configuration of the measurement optical system and the spectroscope of this embodiment built in the optical head 900 will be described with reference to FIG.

光学ヘッド900において、被検眼107に対向して対物レンズ135−1が配置されている。該対物レンズ135−1は、後述する測定光および固視灯光を被検眼107の眼底に合焦可能とされており、被検眼の屈折力に合せた固視灯光の投影を可能とする。対物レンズ135−1から見て被検眼107の反対側であって、該対物レンズ135−1と被検眼107とを通る光路353上には、測定光を眼底上で走査するための光偏向器としてのXYスキャナ1002が配置される。なお、同図においてXYスキャナ1002は一枚のミラーとして図示してあるが、測定光をx軸とy軸との2軸方向の走査を行うものである。XYスキャナ1002に対して光路353の反射方向である光路351は、OCT光学系の光路を成しており、被検眼107の眼底の断層画像を撮像する測定光の光路を構成する。より具体的には、当該光路351は、被検眼眼底等の断層画像を形成するための干渉信号を得るために用いられる。   In the optical head 900, an objective lens 135-1 is disposed so as to face the eye 107 to be examined. The objective lens 135-1 is capable of focusing measurement light and fixation lamp light, which will be described later, on the fundus of the eye 107 to be examined, and enables projection of the fixation lamp light in accordance with the refractive power of the eye to be examined. An optical deflector for scanning the measurement light on the fundus on an optical path 353 opposite to the eye 107 to be examined as viewed from the objective lens 135-1 and passing through the objective lens 135-1 and the eye 107 to be examined. An XY scanner 1002 is arranged. In the figure, the XY scanner 1002 is shown as a single mirror, but scans the measurement light in the biaxial directions of the x axis and the y axis. An optical path 351 that is a reflection direction of the optical path 353 with respect to the XY scanner 1002 forms an optical path of the OCT optical system, and constitutes an optical path of measurement light for capturing a tomographic image of the fundus of the eye 107 to be examined. More specifically, the optical path 351 is used to obtain an interference signal for forming a tomographic image of the fundus of the eye to be examined.

XYスキャナ1002に向けて光路351に測定光を射出するファイバー端131−5と該XYスキャナ1002との間にはレンズ135−6が配置される。該レンズ135−6は、ファイバー端131−5から出射された測定光を対物レンズ135−1と共に被検眼107の不図示の瞳位置に導き、且つ該測定光を被検眼107の眼底に結像するように構成される。即ち、レンズ135−6は測定光を平行光としてXYスキャナ1002に導く。   A lens 135-6 is disposed between the fiber end 131-5 that emits measurement light to the optical path 351 toward the XY scanner 1002 and the XY scanner 1002. The lens 135-6 guides the measurement light emitted from the fiber end 131-5 to a pupil position (not shown) of the eye 107 to be examined together with the objective lens 135-1, and forms an image on the fundus of the eye 107 to be examined. Configured to do. That is, the lens 135-6 guides the measurement light to the XY scanner 1002 as parallel light.

次に、光源101からの光路と参照光学系、分光器の構成について説明する。本実施例において、測定光と参照光とを得る光は光源101より射出される。光源101より射出された光は光ファイバー131−1により光カプラー131に導かれ、該光カプラー131により参照光と測定光とに分割される。なお、光ファイバー131−1は他の光ファイバー131−2〜4と共に光カプラー131に接続されて一体化されているシングルモードの光ファイバーである。   Next, the configuration of the optical path from the light source 101, the reference optical system, and the spectroscope will be described. In this embodiment, light for obtaining measurement light and reference light is emitted from the light source 101. The light emitted from the light source 101 is guided to the optical coupler 131 by the optical fiber 131-1, and is divided into the reference light and the measurement light by the optical coupler 131. The optical fiber 131-1 is a single mode optical fiber that is connected to and integrated with the optical coupler 131 together with the other optical fibers 131-2 to 131-4.

参照光学系は、ミラー132、濃度フィルター116、およびレンズ135−7を有し、光カプラー131より得られた参照光が光ファイバー131−3より導かれる。光カプラー131および付随するこれら構成は、分光器180を含めてマイケルソン干渉計を構成している。   The reference optical system includes a mirror 132, a density filter 116, and a lens 135-7, and the reference light obtained from the optical coupler 131 is guided from the optical fiber 131-3. The optical coupler 131 and the accompanying components constitute a Michelson interferometer including the spectroscope 180.

測定光は光ファイバー131−2により前述のOCT光学系の光路351に導かれ、該光路351を通じ、観察対象である被検眼107の眼底に照射される。照射された測定光は、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて戻り光として戻り、ファイバー端131−5より光ファイバー131−2に入射して光カプラー131に到達する。   The measurement light is guided to the optical path 351 of the OCT optical system by the optical fiber 131-2, and irradiated to the fundus of the eye 107 to be examined through the optical path 351. The irradiated measurement light returns as return light through the same optical path due to reflection and scattering by the retina, enters the optical fiber 131-2 from the fiber end 131-5, and reaches the optical coupler 131.

一方、参照光は光ファイバー131−3、濃度フィルター116、レンズ135−7を介してミラー132に到達し反射される。そして同じ光路を戻り、光ファイバー131−3を介して光カプラー131に到達する。   On the other hand, the reference light reaches the mirror 132 and is reflected through the optical fiber 131-3, the density filter 116, and the lens 135-7. Then, it returns on the same optical path and reaches the optical coupler 131 via the optical fiber 131-3.

光カプラー131によって、測定光(戻り光)と参照光とは合波され干渉光となる。濃度フィルター116で参照光は減光されるが、参照光と平均的な測定光との比および後述するラインセンサの感度などでその減光比が決定されている。また、測定光の光路長と参照光の光路長がほぼ同一となったときにお互いの光において干渉を生じる。このため、ミラー132は不図示のモータおよび駆動機構によって光軸方向に位置調整可能に保持され、被検眼107によって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は光ファイバー131−4を介して分光器180に導かれる。   The measurement light (return light) and the reference light are combined by the optical coupler 131 and become interference light. The reference light is attenuated by the density filter 116, and the attenuation ratio is determined by the ratio of the reference light to the average measurement light, the sensitivity of the line sensor described later, and the like. Further, when the optical path length of the measurement light and the optical path length of the reference light are substantially the same, interference occurs between the lights. Therefore, the mirror 132 is held by a motor and a drive mechanism (not shown) so that the position of the mirror 132 can be adjusted in the optical axis direction, and the optical path length of the reference light can be adjusted to the optical path length of the measurement light that changes depending on the eye 107 to be examined. The interference light is guided to the spectroscope 180 via the optical fiber 131-4.

なお、光ファイバー131−2中には、測定光側の偏光調整部139−1が設けられる。また、光ファイバー131−3中には、参照光側の偏光調整部139−2が設けられる。これらの偏光調整部は光ファイバーをループ状に引き回した部分を幾つか持ち、このループ状の部分をファイバーの長手方向を中心として回動させることでファイバーに捩じりを加える。これにより測定光と参照光の偏光状態を各々調整して合わせることが可能となる。本装置ではあらかじめ測定光と参照光の偏光状態が調整されて固定されている。   In the optical fiber 131-2, a polarization adjusting unit 139-1 on the measurement light side is provided. Further, a polarization adjusting unit 139-2 on the reference light side is provided in the optical fiber 131-3. These polarization adjusting sections have several portions in which the optical fiber is routed in a loop shape, and twist the fiber by rotating the loop-shaped portion around the longitudinal direction of the fiber. As a result, the polarization states of the measurement light and the reference light can be adjusted and matched. In this apparatus, the polarization states of the measurement light and the reference light are adjusted and fixed in advance.

分光器180は、レンズ135−8、135−9、回折格子181、およびラインセンサ182から構成される。   The spectroscope 180 includes lenses 135-8 and 135-9, a diffraction grating 181, and a line sensor 182.

光ファイバー131−4から出射された干渉光はレンズ135−8を介して平行光となった後、回折格子181で分光され、レンズ135−9によってラインセンサ182上に結像される。   The interference light emitted from the optical fiber 131-4 becomes parallel light via the lens 135-8, is then dispersed by the diffraction grating 181, and is imaged on the line sensor 182 by the lens 135-9.

次に、光源101の周辺について説明する。本実施例では、光源101には代表的な低コヒーレンス光源であるSLD(Super Luminescent Diode)を用いている。射出される光の中心波長は855nm、波長バンド幅は約30nmである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレンス光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。中心波長は眼底を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。また、中心波長は得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。双方の理由から中心波長を855nmとした。   Next, the periphery of the light source 101 will be described. In this embodiment, an SLD (Super Luminescent Diode) that is a typical low-coherence light source is used as the light source 101. The center wavelength of the emitted light is 855 nm, and the wavelength bandwidth is about 30 nm. Here, the bandwidth is an important parameter because it affects the resolution of the obtained tomographic image in the optical axis direction. In addition, although the SLD is selected here as the type of light source, it is only necessary to emit low-coherence light, and ASE (Amplified Spontaneous Emission) or the like can also be used. In view of measuring the fundus, the center wavelength is preferably near infrared light. Moreover, since the center wavelength affects the lateral resolution of the obtained tomographic image, it is desirable that the center wavelength be as short as possible. For both reasons, the center wavelength was set to 855 nm.

なお、本実施例では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いたが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。測定光と参照光との光量差に応じて、光量差が比較的大きい場合にはマッハツェンダー干渉計を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉計を用いることが望ましい。   In this embodiment, a Michelson interferometer is used as the interferometer, but a Mach-Zehnder interferometer may be used. It is desirable to use a Mach-Zehnder interferometer when the light amount difference is relatively large and a Michelson interferometer when the light amount difference is relatively small according to the light amount difference between the measurement light and the reference light.

(固視光学系)
固視灯171は発光部を二次元的マトリックス状に備えたLCDパネル、即ち液晶表示パネルより構成されており、固視灯の光路352に対して略垂直に配置されている。該光路352は、測定光の光路351に対して、XYスキャナ1002の回転中心の近傍を中心として角度をつけられて、互いに異なる入射角となるように配置されている。この光路352上にはレンズ135−10が配置されている。一方で、XYスキャナ1002の反射面の外側には、測定光と固視灯光を瞳分割する穴開きミラー1001が備えられている。固視灯光はこのレンズ135−10により平行光として穴開きミラー1001に導かれる。このレンズ135−10の存在により、対物レンズ135−1による固視灯光の被検眼眼底に対する合焦状態を測定光の合焦状態と同じとすることが可能となる。即ち、固視に際して被検者に明瞭な固視標を提示することが可能となる。上述した、固視灯171は、本実施例において、被検眼の固視を促す固視標を表示する固視標表示手段を構成する。
(Fixed optical system)
The fixation lamp 171 is composed of an LCD panel having light emitting portions in a two-dimensional matrix, that is, a liquid crystal display panel, and is arranged substantially perpendicular to the optical path 352 of the fixation lamp. The optical path 352 is angled with respect to the optical path 351 of the measurement light with the vicinity of the rotation center of the XY scanner 1002 as a center, and is arranged so as to have different incident angles. A lens 135-10 is disposed on the optical path 352. On the other hand, a perforated mirror 1001 that divides the measurement light and the fixation lamp light into pupils is provided outside the reflection surface of the XY scanner 1002. The fixation lamp light is guided to the perforated mirror 1001 as parallel light by the lens 135-10. Due to the presence of the lens 135-10, the in-focus state of the fixation lamp light by the objective lens 135-1 with respect to the fundus of the eye to be examined can be made the same as the in-focus state of the measurement light. That is, it is possible to present a clear fixation target to the subject during fixation. In the present embodiment, the above-described fixation lamp 171 constitutes a fixation target display unit that displays a fixation target that promotes fixation of the eye to be examined.

この穴開きミラー1001の構成について図3(a)によって説明する。穴開きミラー1001は、開口部1001aと固視灯反射面1001bを備えている。XYスキャナ1002はこの開口部1001a内に配置されており、開口部1001aはXYスキャナ1002の反射面よりも大きくなっている。また、図1(a)に示す通り、穴開きミラー1001の固視灯反射面1001bは、対物レンズ135−1の光軸である光路353に対して固視灯171からの固視灯光を導くような角度を維持するように配置されている。この構成により、構成が複雑なダイクロイックミラーを用いずとも固視灯171から出射される固視灯光はレンズ135−10、固視灯反射面1001bおよび対物レンズ135−1を介して眼底に投影される。これにより固視灯171を被検者が固視(注視)することができる。   The configuration of the perforated mirror 1001 will be described with reference to FIG. The perforated mirror 1001 includes an opening 1001a and a fixation lamp reflecting surface 1001b. The XY scanner 1002 is disposed in the opening 1001a, and the opening 1001a is larger than the reflection surface of the XY scanner 1002. Further, as shown in FIG. 1A, the fixation lamp reflecting surface 1001b of the perforated mirror 1001 guides fixation lamp light from the fixation lamp 171 to the optical path 353 which is the optical axis of the objective lens 135-1. It arrange | positions so that such an angle may be maintained. With this configuration, the fixation lamp light emitted from the fixation lamp 171 is projected onto the fundus through the lens 135-10, the fixation lamp reflecting surface 1001b, and the objective lens 135-1, without using a dichroic mirror having a complicated configuration. The Accordingly, the subject can fixate (gause) the fixation lamp 171.

ここで、XYスキャナ1002について図4を用いて説明する。本実施例においては、XYスキャナ1002としてMEMS(Micro Electro Mechanical System)ミラーを用いている。該MEMSミラーでは、x方向回転軸1002aおよびym方向回転軸1002bを備え、ミラー面が一つでありながらxy平面での二次元走査ができる。MEMSミラーは半導体プロセスで一体に形成できるものであり、穴開きミラー1001もMEMSミラーと一体として構成できる。具体的にはMEMSミラーの外周部に設けられる各回転軸1002aおよび1002bの更に外側に、固視灯反射面1001bを同じく半導体プロセスにて形成している。これにより、MEMSミラーの外側に実質的に穴開きミラーとしての機能を持たせた反射面を得ている。本実施例において、該MEMSミラーは、固視標反射手段と一体的に構成された微小電気機械システムミラーとして機能する。   Here, the XY scanner 1002 will be described with reference to FIG. In this embodiment, a MEMS (Micro Electro Mechanical System) mirror is used as the XY scanner 1002. The MEMS mirror includes an x-direction rotation axis 1002a and a ym-direction rotation axis 1002b, and can perform two-dimensional scanning on the xy plane with a single mirror surface. The MEMS mirror can be integrally formed by a semiconductor process, and the perforated mirror 1001 can also be formed integrally with the MEMS mirror. Specifically, the fixation lamp reflecting surface 1001b is formed by the same semiconductor process on the outer side of each of the rotary shafts 1002a and 1002b provided on the outer peripheral portion of the MEMS mirror. As a result, a reflecting surface having a function as a perforated mirror substantially outside the MEMS mirror is obtained. In the present embodiment, the MEMS mirror functions as a micro electro mechanical system mirror configured integrally with the fixation target reflecting means.

なお、図1(a)に示す実施例では、x方向のXYスキャナ1002の偏向角中心(中心位置で対物レンズ光軸中心に測定光を導く)位置での面法線と固視灯反射面1001bの面法線とに角度を設けている。即ち、XYスキャナ1002のx方向の回転軸1002a周りにXYスキャナ1002を回動させた場合の回動範囲の中心となる際の該XYスキャナ1002の反射面と、固視灯反射面1001bとが所定の角度を成す角度位置を偏向角中心とする。換言すれば、XYスキャナ1002の静止位置にある状態で、固視灯反射面1001bがこのXYスキャナ1002に対して略平行からオフセットをかけた角度位置となるように固視灯反射面1001bの配置を決定している。   In the embodiment shown in FIG. 1A, the surface normal and the fixation lamp reflecting surface at the position of the deflection angle center of the XY scanner 1002 in the x direction (the measurement light is guided to the optical axis center of the objective lens at the center position). An angle is provided with respect to the surface normal of 1001b. That is, the reflecting surface of the XY scanner 1002 and the fixation lamp reflecting surface 1001b at the center of the rotation range when the XY scanner 1002 is rotated around the rotation axis 1002a in the x direction of the XY scanner 1002 are provided. An angular position forming a predetermined angle is set as a deflection angle center. In other words, in a state where the XY scanner 1002 is at a stationary position, the fixation lamp reflection surface 1001b is arranged so that the fixation lamp reflection surface 1001b is at an angular position offset from substantially parallel to the XY scanner 1002. Is determined.

なお、本実施例では固視灯反射面1001bを半導体プロセスでMEMSミラーと一体で製作するとした。しかし、実際に穴の開いたミラーを穴開きミラー1001として用いることとし、この穴の部分にXYスキャナ1002を配置してもよい。この実施例の場合、固視灯反射面1001bはXYスキャナ1002の反射面の周りに配置される。スキャナ1002の反射面に対して、この固視灯反射面1001bは第二の反射面として把握される。そして該反射面を回動させる際の回転軸、即ち前述した回転軸はこの第二の反射面と同一平面内に配置される。   In this embodiment, the fixation lamp reflecting surface 1001b is manufactured integrally with the MEMS mirror by a semiconductor process. However, a mirror having a hole actually may be used as the hole mirror 1001, and the XY scanner 1002 may be disposed in the hole portion. In this embodiment, the fixation lamp reflection surface 1001b is disposed around the reflection surface of the XY scanner 1002. The fixation lamp reflecting surface 1001b is grasped as the second reflecting surface with respect to the reflecting surface of the scanner 1002. The rotation axis for rotating the reflection surface, that is, the rotation axis described above is arranged in the same plane as the second reflection surface.

しかし、この反射面と第二の反射面との配置は同一平面内に限定されない。例えば、図1(b)或いは部分的に拡大して示す図6のように配置することも可能である。図1(b)は図1(a)と同じ様式に本構成を示す光学系の概略図である。また、図6は穴開きミラー1001とXYスキャナ1002とを側面から見た状態を示し、同図においてはこれら構成の紙面左側に被検眼107と固視灯の光路352と測定光の光路351、即ち固視灯171が配置される。当該態様においては、固視灯反射面1001b(穴開きミラー1001)は、対物レンズ135−1の光軸をXYスキャナ1002に係わらず延長した場合の光軸上であって、被検眼107に対してXYスキャナ1002より後ろ側、換言すれば遠い側の位置に配置される。なお、該穴あきミラー1001は、全反射ミラーであることが好ましい。この場合、被検眼107に導かれる固視灯光は、XYスキャナ1002によって一部が遮られ、該XYスキャナ1002の外側の光路を介して被検眼に導かれる。従って、固視灯反射面1001bとXYスキャナ1002とのzm方向の距離、およびXYスキャナ1002の外形或いは大きさは、固視灯反射面1001bにより反射された固視灯光がXYスキャナ1002によりけられない条件を満たすように決められる。   However, the arrangement of the reflecting surface and the second reflecting surface is not limited to the same plane. For example, it can be arranged as shown in FIG. 1B or FIG. 6 partially enlarged. FIG. 1 (b) is a schematic diagram of an optical system showing this configuration in the same manner as FIG. 1 (a). 6 shows a state in which the perforated mirror 1001 and the XY scanner 1002 are viewed from the side. In FIG. 6, the eye 107 to be examined, the optical path 352 of the fixation lamp, the optical path 351 of the measurement light, That is, the fixation lamp 171 is disposed. In this aspect, the fixation lamp reflecting surface 1001b (the perforated mirror 1001) is on the optical axis when the optical axis of the objective lens 135-1 is extended irrespective of the XY scanner 1002, and is relative to the eye 107 to be examined. Thus, it is arranged at a position behind the XY scanner 1002, in other words, at a far side. The perforated mirror 1001 is preferably a total reflection mirror. In this case, a part of the fixation lamp light guided to the eye 107 to be examined is blocked by the XY scanner 1002 and guided to the eye to be examined via an optical path outside the XY scanner 1002. Accordingly, the distance in the zm direction between the fixation lamp reflection surface 1001b and the XY scanner 1002, and the outer shape or size of the XY scanner 1002, the fixation lamp light reflected by the fixation lamp reflection surface 1001b is scattered by the XY scanner 1002. It is decided to meet no conditions.

また、反射面と第二の反射面との配置はこの場合の逆とすることも可能である。この場合の形態を図1(c)に示す。即ち、固視灯反射面1001b(穴開きミラー1001)は、対物レンズ135−1の光軸上であって、被検眼107に対してXYスキャナ1002より前側に配置される。この場合、固視灯反射面1001bとXYスキャナ1002とのzm方向の距離、および開口部1001aの外形或いは大きさは、XYスキャナ1002により走査される測定光が穴開きミラー1001によりけられない条件を満たすように決められる。XYスキャナ1002はこの開口部1001aを介して対物レンズ135−1に測定光を導く。   Further, the arrangement of the reflecting surface and the second reflecting surface can be reversed to this case. The form in this case is shown in FIG. That is, the fixation lamp reflecting surface 1001b (the perforated mirror 1001) is disposed on the optical axis of the objective lens 135-1 and in front of the XY scanner 1002 with respect to the eye 107 to be examined. In this case, the distance in the zm direction between the fixation lamp reflecting surface 1001b and the XY scanner 1002 and the outer shape or size of the opening 1001a are such that the measurement light scanned by the XY scanner 1002 is not blocked by the perforated mirror 1001. It is decided to satisfy. The XY scanner 1002 guides the measurement light to the objective lens 135-1 through the opening 1001a.

なお、この測定光が通過する開口部1001aは、ガラス板等の測定光を透過する領域により構成することも可能である。この場合、穴開きミラー1001として、少なくとも測定光を透過するガラス板に対してクロム蒸着等の手法によって固視灯反射面1001bを形成したものを実質的な穴開きミラーとして用いる。   The opening 1001a through which the measurement light passes can also be configured by a region that transmits the measurement light, such as a glass plate. In this case, as the perforated mirror 1001, a glass plate that transmits at least measurement light and having the fixation lamp reflecting surface 1001b formed by a technique such as chromium vapor deposition is used as a substantial perforated mirror.

以上述べたように、本発明においては、固視灯反射面1001bは、固視灯光を対物レンズ135−1の光軸と平行な方向に反射して被検眼に導く。また、XYスキャナ1002により偏向された測定光と反射された固視灯光とが互いにけられることがないように、XYスキャナ1002と穴開きミラー1001との位置関係が決定される。またその配置の決定に際しては、固視灯反射面1001bによって反射された固視灯光が、XYスキャナ1002によって偏向された測定光の光路の外側にその光路が形成されることも必須となる。より詳細には、XYスキャナ1002の走査中心と一致する軸即ち測定光の光軸と、穴開きミラー1001により反射される固視灯光の光軸とは略一致する。また、被検眼107から見た場合、測定光が通る領域は測定光の光軸周りとなり、被検眼の固視を促すために被検眼に導かれる固視灯光が通る領域はこの測定光の通る領域に対して光軸からより遠い位置となる。この場合、固視灯光の光路は測定光の光路の周り或いは外側に配置されることとなる。   As described above, in the present invention, the fixation lamp reflecting surface 1001b reflects the fixation lamp light in a direction parallel to the optical axis of the objective lens 135-1, and guides it to the eye to be examined. Further, the positional relationship between the XY scanner 1002 and the perforated mirror 1001 is determined so that the measurement light deflected by the XY scanner 1002 and the reflected fixation lamp light are not shifted from each other. In determining the arrangement, it is essential that the fixation lamp light reflected by the fixation lamp reflecting surface 1001b is formed outside the optical path of the measurement light deflected by the XY scanner 1002. More specifically, the axis that coincides with the scanning center of the XY scanner 1002, that is, the optical axis of the measurement light, and the optical axis of the fixation lamp light reflected by the perforated mirror 1001 substantially coincide. Further, when viewed from the eye 107, the region through which the measurement light passes is around the optical axis of the measurement light, and the region through which the fixation lamp light guided to the eye to be inspected in order to promote fixation of the eye is passed. The position is farther from the optical axis with respect to the region. In this case, the optical path of the fixation lamp light is arranged around or outside the optical path of the measurement light.

なお、本実施例ではXYスキャナ1002の全周に固視灯反射面1001bが形成されているが、例えば固視灯反射面1001bがコの字型となる等、部分的に反射面が存在しない形態とすることも可能である。この場合には、固視灯光の光路は測定光の光路の周囲ではなく外側、或いは周りにおいて部分的に配置されることとなる。
なお、本発明では、XYスキャナ1002は測定光を偏向させる共に、該XYスキャナ1002に入射する固視灯光も偏向させる。例えば測定光と固視灯光との光路を同一とするためにダイクロイックミラーを用いた場合、測定光の走査手段は固視灯光とはダイクロイックミラーにより分離された光路上に互いに配されることとなる。従って、該ダイクロイックミラーを用いた構成では、走査手段による固視灯光の偏向は起こり得ない。
In this embodiment, the fixation lamp reflection surface 1001b is formed on the entire circumference of the XY scanner 1002. However, there is no partial reflection surface, for example, the fixation lamp reflection surface 1001b has a U-shape. It is also possible to adopt a form. In this case, the optical path of the fixation lamp light is partially arranged outside or around the optical path of the measurement light.
In the present invention, the XY scanner 1002 deflects measurement light and also deflects fixation lamp light incident on the XY scanner 1002. For example, when a dichroic mirror is used in order to make the optical path of the measurement light and the fixation lamp light the same, the scanning means for the measurement light is arranged on the optical path separated from the fixation lamp light by the dichroic mirror. . Therefore, in the configuration using the dichroic mirror, the fixation lamp light cannot be deflected by the scanning unit.

なお、以上に述べたXYスキャナ1002に例示され、反射面を回動して反射された測定光を偏向させ、対物レンズ135−1を介して被検眼107で測定光を走査する構成は、本発明における走査手段に対応する。上述したラインセンサ182等の干渉信号を得る構成および該干渉信号から断層画像を生成する制御部925は、被検眼の画像を取得する画像取得手段に対応する。固視灯171は、被検眼の固視を促す固視標を表示する固視灯表示手段に対応し、固視灯光は固視灯表示手段より投影される固視標に対応する。また、穴開きミラー1001は、本発明における固視標反射手段の一態様を構成する。該固視標反射手段は、固視灯光を対物レンズ135−1の光軸と平行な方向に反射して該固視灯光を被検眼に導く。また、XYスキャナ1002により偏向された測定光と該固視標反射手段により反射された固視灯光とが互いにけられることがないように、XYスキャナ1002に対して固視灯表示手段が配置される。同時に、偏向された測定光の光路の外側に反射された固視灯光が光路を形成される。   An example of the above-described XY scanner 1002 is a configuration in which the measurement light reflected by rotating the reflection surface is deflected and the measurement light 107 is scanned by the eye 107 via the objective lens 135-1. This corresponds to the scanning means in the invention. The configuration for obtaining the interference signal such as the above-described line sensor 182 and the control unit 925 that generates a tomographic image from the interference signal correspond to an image acquisition unit that acquires an image of the eye to be examined. The fixation lamp 171 corresponds to a fixation lamp display unit that displays a fixation target that promotes fixation of the eye to be examined, and the fixation lamp light corresponds to a fixation target projected from the fixation lamp display unit. The perforated mirror 1001 constitutes one aspect of the fixation target reflecting means in the present invention. The fixation target reflecting means reflects the fixation lamp light in a direction parallel to the optical axis of the objective lens 135-1, and guides the fixation lamp light to the eye to be examined. Further, a fixation lamp display means is arranged for the XY scanner 1002 so that the measurement light deflected by the XY scanner 1002 and the fixation lamp light reflected by the fixation target reflection means are not shifted from each other. The At the same time, the fixation lamp light reflected outside the optical path of the deflected measurement light forms an optical path.

(断層画像の撮像方法)
次に、眼底検査装置200を用いた断層画像の撮像方法について説明する。眼底検査装置200はXYスキャナ1002を制御することで、被検眼107の眼底における所望部位の断層画像を撮像することができる。
(Tomographic imaging method)
Next, a tomographic image capturing method using the fundus examination apparatus 200 will be described. The fundus examination apparatus 200 can take a tomographic image of a desired site on the fundus of the eye 107 to be examined by controlling the XY scanner 1002.

まず、図1(a)中のOCT測定系の光路351を介して、光源101より得られる測定光を被検眼107に導く。その際、XYスキャナ1002を図中x方向の回転軸周りに回転させて測定光の走査を行い、眼底におけるy方向の撮像範囲から所定の撮像本数の情報をラインセンサ182で取得する。y方向のある位置で得られるラインセンサ182上の輝度分布をFFT(高速フーリエ変換)により処理する。   First, the measurement light obtained from the light source 101 is guided to the eye 107 to be examined through the optical path 351 of the OCT measurement system in FIG. At that time, the XY scanner 1002 is rotated about the rotation axis in the x direction in the drawing to scan the measurement light, and information on the predetermined number of images is acquired by the line sensor 182 from the imaging range in the y direction on the fundus. The luminance distribution on the line sensor 182 obtained at a certain position in the y direction is processed by FFT (Fast Fourier Transform).

この、FFTで得られた線状の輝度分布をモニタ928に示すために濃度あるいはカラー情報に変換したものをAスキャン画像と呼ぶ。この複数のAスキャン画像をy方向に並べた2次元の画像をBスキャン画像と呼ぶ。1つのBスキャン画像を構築するための複数のAスキャン画像を撮像した後、y方向に直交するx方向にスキャン位置を移動させ、その後再びy方向のスキャンを行うことにより、複数のBスキャン画像を得る。複数のBスキャン画像、あるいは複数のBスキャン画像から構築した3次元断層画像をモニタ928に表示することで検者が被検眼の診断に用いることができる。   This linear luminance distribution obtained by FFT is converted to density or color information so as to be displayed on the monitor 928, and is called an A-scan image. A two-dimensional image in which the plurality of A-scan images are arranged in the y direction is referred to as a B-scan image. After capturing a plurality of A scan images for constructing one B scan image, moving the scan position in the x direction orthogonal to the y direction, and then performing the scan in the y direction again, a plurality of B scan images Get. By displaying a plurality of B-scan images or a three-dimensional tomographic image constructed from a plurality of B-scan images on the monitor 928, the examiner can use it for diagnosis of the eye to be examined.

なお、上述した実施例では、x軸周りにおけるXYスキャナ1002の偏向角中心(中心位置で対物レンズ光軸中心に測定光を導く)と固視灯反射面1001bに角度を設けている例を示した。しかし本発明はこの実施例に示した構成に限定されず、その角度をほぼ無い状態、つまり光路351と光路352とを同軸とするようにも構成可能である。   In the above-described embodiment, an example is shown in which an angle is provided between the deflection angle center of the XY scanner 1002 around the x axis (measurement light is guided to the center of the objective lens optical axis at the center position) and the fixation lamp reflecting surface 1001b. It was. However, the present invention is not limited to the configuration shown in this embodiment, and can be configured to have almost no angle, that is, the optical path 351 and the optical path 352 are coaxial.

その場合の固視灯171とファイバー端131−5との位置関係を図5に示す。図5は固視灯171をXYスキャナ1002方向から見た正面図を示している。図5に示すように、固視灯171は、基板171c上に二次元マトリックス状に配置されるLEDチップで構成される発光部171aを備えている。また、基板171c上のそのマトリックス中心近傍に孔部171bを設け、その孔部171bに測定光のファイバー端131−5を配置させることで、光路351と光路352とをほぼ同軸としている。この場合、本実施例では固視標表示手段は液晶表示パネルからなり、測定光は該液晶表示パネルにおける任意の位置から反射面に導かれることとなる。   FIG. 5 shows the positional relationship between the fixation lamp 171 and the fiber end 131-5 in that case. FIG. 5 shows a front view of the fixation lamp 171 viewed from the XY scanner 1002 direction. As shown in FIG. 5, the fixation lamp 171 includes a light emitting unit 171a configured by LED chips arranged in a two-dimensional matrix on a substrate 171c. Further, a hole 171b is provided in the vicinity of the center of the matrix on the substrate 171c, and the fiber end 131-5 of the measurement light is disposed in the hole 171b, so that the optical path 351 and the optical path 352 are substantially coaxial. In this case, in this embodiment, the fixation target display means is a liquid crystal display panel, and the measurement light is guided to the reflecting surface from an arbitrary position in the liquid crystal display panel.

また、上述した実施例では、測定光による眼底走査のための光偏向器としてXYスキャナを用いている。しかし、本発明は二次元走査に限定されず、これを一次元走査を行う態様としてBスキャンができるようにすることで、より構成が単純化した装置とすることも可能である。この場合、走査手段を固視灯反射面の後ろに配置することで、上述したMEMSスキャナだけでなく、ポリゴンミラーあるいはガルバノミラーの使用が可能である。この場合、これらミラーは、本実施例において、走査手段として測定光を一軸方向に走査する。   In the above-described embodiment, an XY scanner is used as an optical deflector for fundus scanning with measurement light. However, the present invention is not limited to two-dimensional scanning, and by making B scanning possible as an embodiment for performing one-dimensional scanning, an apparatus with a simpler configuration can be obtained. In this case, it is possible to use not only the above-described MEMS scanner but also a polygon mirror or a galvanometer mirror by disposing the scanning means behind the fixation lamp reflecting surface. In this case, in the present embodiment, these mirrors scan the measurement light in the uniaxial direction as scanning means.

本実施例においては、光偏向器の反射面と穴開きミラーの角度関係だけが前述した実施例1との相違点であり、以下ではこの点のみについて説明する。なお、その他構成は実施例1のものと同様のため、必要に応じて実施例1で用いた符号も使用して説明を行うこととし、重複する説明は省略する。   In the present embodiment, only the angular relationship between the reflecting surface of the optical deflector and the perforated mirror is the difference from the first embodiment, and only this point will be described below. Since the other configuration is the same as that of the first embodiment, the description will be made using the reference numerals used in the first embodiment as necessary, and a duplicate description will be omitted.

以下、本実施例の光偏向器の反射面と穴開きミラーの角度関係について、図3(b)を用いて説明する。実施例1においてはx軸周り(ym−zm平面内)において、XYスキャナ1002の中心位置での法線と、固視灯反射面1001bの法線とが所定の角度を有するように配置され、各々の法線は他の平面内では一致していた。これに対して、本実施例では、ym軸周り(x−zm平面内)において、XYスキャナ1002の中心位置での法線に対して、固視灯反射面1001bの法線がその他の所定角度を有するように配置されている。   Hereinafter, the angular relationship between the reflecting surface of the optical deflector of this embodiment and the perforated mirror will be described with reference to FIG. In the first embodiment, around the x axis (in the ym-zm plane), the normal line at the center position of the XY scanner 1002 and the normal line of the fixation lamp reflecting surface 1001b are arranged to have a predetermined angle. Each normal was consistent in the other plane. On the other hand, in this embodiment, the normal of the fixation lamp reflecting surface 1001b is another predetermined angle around the ym axis (in the x-zm plane) with respect to the normal at the center position of the XY scanner 1002. It is arranged to have.

これによって、固視灯171から出射された光のうち、固視灯反射面1001bによって反射される光Lif−1および光Lif−3は光路353の光軸と略平行となって対物レンズ135−1によって眼底上固定された像として結像される。また、XYスキャナ1002入射する固視灯光Lif−2は光路353の光軸に対して角度を設けられた状態で反射する。この角度はXYスキャナ1002がym軸で測定光を走査する偏向角範囲で反射面が回転しても不図示の被検眼の瞳に固視灯光Lif−2が入射しないように構成されている。即ち、XYスキャナ1002の回動を行う面に直交する面内において、固視灯171から射出された光を反射する領域に該光を投影する際の入射角が、反射面により反射される固視灯光が対物レンズを介して被検眼に導かれない角度となるように該反射面が配置される。   As a result, among the light emitted from the fixation lamp 171, the light Lif-1 and the light Lif-3 reflected by the fixation lamp reflecting surface 1001b are substantially parallel to the optical axis of the optical path 353, and thus the objective lens 135- 1 is formed as an image fixed on the fundus. Further, the fixation lamp light Lif-2 incident on the XY scanner 1002 is reflected at an angle with respect to the optical axis of the optical path 353. This angle is configured so that the fixation lamp Light-2 does not enter the pupil of the eye (not shown) even if the reflecting surface rotates within the deflection angle range in which the XY scanner 1002 scans the measurement light on the ym axis. In other words, in the plane orthogonal to the plane on which the XY scanner 1002 rotates, the incident angle at the time of projecting the light onto the area where the light emitted from the fixation lamp 171 is reflected is the fixed angle reflected by the reflecting surface. The reflecting surface is arranged such that the viewing lamp light is at an angle that does not lead the eye to be examined through the objective lens.

よって、XYスキャナで偏向される固視灯光を被検者は見ることが無く、被検者はより固視灯171からの光を安定して見ることが可能である。   Therefore, the subject does not see the fixation lamp light deflected by the XY scanner, and the subject can more stably see the light from the fixation lamp 171.

上述した実施例では、本発明を眼底検査に用いるOCT装置に適用した場合を例として説明したが、干渉計、分光器の無い構成でSLO装置としても本発明の効果は同様である。即ち、被検眼の固視を促した状態で測定光を走査する形態の種々の眼科装置に対して、本発明を適用することが可能である。また、取得する画像は眼底に限らず、前眼部等、眼の種々の部位の画像を取得することとしても良い。   In the above-described embodiments, the case where the present invention is applied to an OCT apparatus used for fundus examination has been described as an example. However, the effects of the present invention are the same even in an SLO apparatus without an interferometer and a spectroscope. That is, the present invention can be applied to various ophthalmologic apparatuses that scan measurement light in a state in which fixation of the eye to be examined is promoted. Further, the acquired image is not limited to the fundus oculi, and images of various parts of the eye such as the anterior eye part may be acquired.

101 光源
131 光カプラー
132 ミラー
171 固視灯
180 分光器
200 眼底検査装置
900 光学ヘッド
925 パソコン
926 ハードディスク
928 モニタ
950 ステージ部
951 ベース部
351 測定光路
352 光路
353 対物レンズ光軸
1001 穴開きミラー
1001b 固視灯反射面
1002 XYスキャナ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Light source 131 Optical coupler 132 Mirror 171 Fixation lamp 180 Spectroscope 200 Fundus inspection apparatus 900 Optical head 925 Personal computer 926 Hard disk 928 Monitor 950 Stage part 951 Base part 351 Measurement optical path 352 Optical path 353 Objective lens optical axis 1001 Hole mirror 1001b Fixation Light reflecting surface 1002 XY scanner

Claims (9)

被検眼で測定光を走査する走査手段と、
対物レンズを介して前記測定光を照射した前記被検眼からの戻り光を検出する検出手段と、
前記被検眼の固視を促す固視標を表示する固視標表示手段と、
前記固視標を前記対物レンズの光軸と平行な方向に反射する固視標反射手段と、を有し、
前記固視標反射手段は、前記走査手段の反射面が前記測定光を走査する際の走査中心にある時に、前記固視標反射手段の反射面と同一平面内となるように配置されることを特徴とする眼科装置。
Scanning means for scanning the measuring light with the eye to be examined;
Detection means for detecting return light from the eye to be examined that has been irradiated with the measurement light via an objective lens;
Fixation target display means for displaying a fixation target for promoting fixation of the eye to be examined;
A fixation target reflecting means for reflecting the fixation target in a direction parallel to the optical axis of the objective lens,
The fixation target reflecting means is arranged to be in the same plane as the reflection surface of the fixation target reflecting means when the reflection surface of the scanning means is at the scanning center when scanning the measurement light. Ophthalmic device characterized by
前記固視標反射手段は前記走査手段の反射面の周りに配置される第二の反射面を有し、前記走査手段が前記固視標を反射して前記走査を行う反射面の回転軸は前記第二の反射面と同一平面内に配置されることを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。   The fixation target reflection means has a second reflection surface arranged around the reflection surface of the scanning means, and the rotation axis of the reflection surface on which the scanning means reflects the fixation target and performs the scanning is The ophthalmic apparatus according to claim 1, wherein the ophthalmic apparatus is disposed in the same plane as the second reflecting surface. 前記固視標表示手段から前記固視標反射手段に前記固視標を投影する光軸と、前記測定光を前記反射面に導く光軸とは平行であって、
前記固視標表示手段は液晶表示パネルからなり、前記測定光は前記液晶表示パネルにおける任意の位置から前記反射面に導かれることを特徴とする請求項1又は2に記載の眼科装置。
The optical axis for projecting the fixation target from the fixation target display means to the fixation target reflection means and the optical axis for guiding the measurement light to the reflection surface are parallel,
The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the fixation target display unit includes a liquid crystal display panel, and the measurement light is guided to the reflection surface from an arbitrary position on the liquid crystal display panel.
被検眼で測定光を走査する走査手段と、
対物レンズを介して前記測定光を照射した前記被検眼からの戻り光を検出する検出手段と、
前記被検眼の固視を促す固視標を表示する固視標表示手段と、
前記固視標を前記対物レンズの光軸と平行な方向に反射する固視標反射手段と、を有し、
前記固視標反射手段は前記対物レンズの光軸上の前記被検眼に対して前記走査手段より遠い位置に配置された全反射ミラーであり、
前記走査手段は前記光軸上に配置されて、前記固視標反射手段に反射された前記固視標の一部を遮ることを特徴とする眼科装置。
Scanning means for scanning the measuring light with the eye to be examined;
Detection means for detecting return light from the eye to be examined that has been irradiated with the measurement light via an objective lens;
Fixation target display means for displaying a fixation target for promoting fixation of the eye to be examined;
A fixation target reflecting means for reflecting the fixation target in a direction parallel to the optical axis of the objective lens,
The fixation target reflecting means is a total reflection mirror disposed at a position farther than the scanning means with respect to the eye to be examined on the optical axis of the objective lens,
The ophthalmologic apparatus characterized in that the scanning means is disposed on the optical axis and blocks a part of the fixation target reflected by the fixation target reflection means.
被検眼で測定光を走査する走査手段と、
対物レンズを介して前記測定光を照射した前記被検眼からの戻り光を検出する検出手段と、
前記被検眼の固視を促す固視標を表示する固視標表示手段と、
前記固視標を前記対物レンズの光軸と平行な方向に反射する固視標反射手段と、を有し、
前記固視標反射手段は、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼に対して前記走査手段より近い位置に配置された穴あきミラーであり、
前記穴開きミラーの穴は、前記走査手段が前記測定光を走査した際に前記測定光をけらない大きさの前記測定光が通過又は透過することを特徴とする眼科装置。
Scanning means for scanning the measuring light with the eye to be examined;
Detection means for detecting return light from the eye to be examined that has been irradiated with the measurement light via an objective lens;
Fixation target display means for displaying a fixation target for promoting fixation of the eye to be examined;
A fixation target reflecting means for reflecting the fixation target in a direction parallel to the optical axis of the objective lens,
The fixation target reflecting means is a perforated mirror disposed at a position closer to the eye to be examined on the optical axis of the objective lens than the scanning means,
The ophthalmic apparatus is characterized in that the measurement light having a size that does not scatter the measurement light when the scanning unit scans the measurement light passes or passes through the hole of the perforated mirror.
前記走査手段は、前記測定光を一軸方向に走査するポリゴンミラー又はガルバノミラーからなることを特徴とする請求項5に記載の眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to claim 5, wherein the scanning unit includes a polygon mirror or a galvanometer mirror that scans the measurement light in a uniaxial direction. 前記走査手段は、前記固視標反射手段と一体的に構成された微小電気機械システムミラーからなることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の眼科装置。   4. The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the scanning unit includes a microelectromechanical system mirror configured integrally with the fixation target reflecting unit. 5. 前記走査手段が前記測定光を反射して前記走査を行う反射面に直交する面内において、前記固視標表示手段から前記固視標を反射する領域に前記固視標を投影する際の入射角が、前記反射面に反射される前記固視標が前記対物レンズを介して前記被検眼に導かれない角度となるように前記反射面が配置されることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の眼科装置。   Incident when projecting the fixation target onto a region reflecting the fixation target from the fixation target display means within a plane orthogonal to a reflection surface on which the scanning means reflects the measurement light and performs the scanning 8. The reflecting surface is arranged such that an angle is an angle at which the fixation target reflected by the reflecting surface is not guided to the eye to be examined through the objective lens. The ophthalmologic apparatus according to any one of the above. 前記固視標表示手段から前記固視標反射手段に前記固視標を投影する光軸と、前記測定光を前記反射面に導く光軸とは平行であることを特徴とする請求項1又は2に記載の眼科装置。   The optical axis for projecting the fixation target from the fixation target display means to the fixation target reflection means and the optical axis for guiding the measurement light to the reflection surface are parallel to each other. The ophthalmic apparatus according to 2.
JP2015241180A 2015-12-10 2015-12-10 Ophthalmologic apparatus Pending JP2017104319A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015241180A JP2017104319A (en) 2015-12-10 2015-12-10 Ophthalmologic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015241180A JP2017104319A (en) 2015-12-10 2015-12-10 Ophthalmologic apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017104319A true JP2017104319A (en) 2017-06-15

Family

ID=59058623

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015241180A Pending JP2017104319A (en) 2015-12-10 2015-12-10 Ophthalmologic apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2017104319A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020054656A (en) * 2018-10-02 2020-04-09 株式会社ニデック Ophthalmologic apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020054656A (en) * 2018-10-02 2020-04-09 株式会社ニデック Ophthalmologic apparatus
JP7247509B2 (en) 2018-10-02 2023-03-29 株式会社ニデック ophthalmic equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8651662B2 (en) Optical tomographic imaging apparatus and imaging method for optical tomographic image
JP5374598B2 (en) Optical tomography system
US9560961B2 (en) Optical coherence tomography apparatus, control method for optical coherence tomography apparatus, and non-transitory tangible medium
US9591967B2 (en) Optical tomographic imaging device
JP6207221B2 (en) Optical tomography system
WO2012025983A1 (en) Visual field examination system
CN112420166B (en) Information processing apparatus
JP2012161427A (en) Ophthalmic photographing device
US9125561B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, and program
JP6300443B2 (en) Optical tomographic imaging apparatus and control method thereof
JP6624641B2 (en) Ophthalmic equipment
JP2013212176A (en) Ophthalmologic apparatus
WO2013085042A1 (en) Fundus observation device
JP6207220B2 (en) Optical tomography system
JP6218425B2 (en) Optical tomography system
JP5919175B2 (en) Optical image measuring device
JP6498162B2 (en) Optical tomography system
JP6788397B2 (en) Image processing device, control method of image processing device, and program
JP2016022261A (en) Fundus photographing apparatus
JP2017104319A (en) Ophthalmologic apparatus
JP6456444B2 (en) Fundus photographing device
JP5995810B2 (en) Optical tomography system
JP2018007924A (en) Optical tomographic imaging device, operation method of optical tomographic imaging device, and program
JP6775995B2 (en) Optical tomography imaging device, operation method of optical tomography imaging device, and program
JP6557388B2 (en) Ophthalmic imaging equipment

Legal Events

Date Code Title Description
RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20171214

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20180126