JP2015185120A - Information processing equipment, information processing method, and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラムに関する。 The present invention relates to an information processing apparatus, an information processing method, and a program.
従来、機器に設置された機器の状態を検出するセンサーから、当該センサーが検出した事象に基づいた警報や計測データなどの情報を収集して分析することにより、監視対象の機器の故障や異常を検出することが行われている。
また、このような故障や異常に対応する対応措置を提示するシステムが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
Conventionally, by collecting and analyzing information such as alarms and measurement data based on the events detected by the sensors from the sensors that detect the status of the equipment installed in the equipment, failure or abnormality of the monitored equipment can be detected. It is done to detect.
In addition, a system for presenting countermeasures corresponding to such failures and abnormalities has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、特許文献1によれば、単に対応措置を提示することしかできず、製品群における故障などの要因を特定するものではない。一方、人手により製品群の故障の要因を分析することもある。人手により分析する場合には、分析を行う者の技術や経験の不足、収集した故障に関する情報を利用できる環境がないなどの理由により、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の存在を見逃してしまったり、その発見までに時間を要したりする場合があった。
However, according to
本発明は、斯かる実情に鑑みてなされたものであり、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援するための情報処理装置、情報処理方法、およびプログラムを提供するものである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and provides an information processing apparatus, an information processing method, and a program for supporting discovery of a potential factor that causes a defect in a product group. .
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、製品の不具合に関する不具合情報と前記製品が属する製品群を識別する製品群識別情報とに基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する算出部と、前記算出部が算出する発生頻度を出力する出力制御部と、を備えることを特徴とする情報処理装置である。 The present invention has been made to solve the above problems, and one aspect of the present invention is based on defect information related to product defects and product group identification information for identifying a product group to which the product belongs. An information processing apparatus comprising: a calculation unit that calculates an occurrence frequency of a defect in a target product group; and an output control unit that outputs an occurrence frequency calculated by the calculation unit.
また、本発明の一態様は、上記の情報処理装置が、前記算出部が算出する発生頻度が、統計的に算出された不具合の発生頻度の期待値に応じて定められる閾値に対して大きい場合、前記処理対象の製品群において不具合を発生させる潜在的な要因があると判定する判定部、を備え、前記出力制御部は、前記判定部による判定結果を出力する、ことを特徴とする。 Further, according to one embodiment of the present invention, the information processing apparatus has a case where the occurrence frequency calculated by the calculation unit is larger than a threshold value determined according to an expected value of the occurrence frequency of defects calculated statistically. A determination unit that determines that there is a potential factor that causes a defect in the product group to be processed, and the output control unit outputs a determination result by the determination unit.
また、本発明の一態様は、上記の情報処理装置において、前記製品群識別情報は、前記製品の属性を示す属性情報であり、前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記属性情報が示す属性と対応付けて出力する、ことを特徴とする。 Further, according to one aspect of the present invention, in the information processing apparatus, the product group identification information is attribute information indicating an attribute of the product, and the output control unit determines the occurrence frequency calculated by the calculation unit. It is characterized by being output in association with the attribute indicated by the attribute information.
また、本発明の一態様は、上記の情報処理装置において、前記製品群識別情報は、時間を示す時間情報であり、前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記時間情報に基づく時間と対応付けて出力する、ことを特徴とする。 According to another aspect of the present invention, in the information processing apparatus, the product group identification information is time information indicating time, and the output control unit uses the occurrence frequency calculated by the calculation unit as the time information. It is characterized by being output in association with the based time.
また、本発明の一態様は、上記の情報処理装置において、前記製品群識別情報は、前記製品の不具合の状態を示す状態情報であり、前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記状態情報が示す不具合の状態と対応付けて出力する、ことを特徴とする。 Further, according to one aspect of the present invention, in the information processing apparatus, the product group identification information is state information indicating a defect state of the product, and the output control unit is an occurrence frequency calculated by the calculation unit. Is output in association with the state of the failure indicated by the state information.
また、本発明の一態様は、情報処理装置における情報処理方法であって、算出部が、製品の不具合に関する不具合情報と前記製品が属する製品群を識別する製品群識別情報とに基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する算出過程と、出力制御部が、前記算出部が算出する発生頻度を出力する出力制御過程と、を含むことを特徴とする情報処理方法である。 One embodiment of the present invention is an information processing method in an information processing device, wherein the calculation unit performs processing based on defect information related to product defects and product group identification information that identifies a product group to which the product belongs. An information processing method comprising: a calculation process for calculating an occurrence frequency of a defect in a target product group; and an output control process for outputting an occurrence frequency calculated by the calculation unit by the output control unit.
また、本発明の一態様は、コンピュータに、製品の不具合に関する不具合情報と前記製品が属する製品群を識別する製品群識別情報とに基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する算出手順、前記算出手順において算出される発生頻度を出力する出力制御手順、を実行させるためのプログラムである。 In one embodiment of the present invention, the occurrence frequency of a defect in a product group to be processed is calculated based on defect information related to a defect in the product and product group identification information for identifying the product group to which the product belongs. It is a program for executing a calculation procedure and an output control procedure for outputting an occurrence frequency calculated in the calculation procedure.
本発明によれば、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, discovery of the potential factor which produces a malfunction in a product group can be supported.
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
[情報処理装置の構成]
本発明の一実施形態に係る情報処理装置は、工業製品の故障や動作異常などの不具合に関する情報に基づいて、工業製品が属する製品群を対象として、不具合を発生させる潜在的な要因(潜在的な不具合要因)の存在の判定または判定の支援を行う装置である。以下では、情報処理装置が潜在的な不具合要因の存在を判定する処理または判定の支援をする処理の対象を処理対象と称する。また、本実施形態において、潜在的な不具合要因とは、想定される不具合の発生頻度に対して高い頻度で不具合を発生させる要因をいう。従って、潜在的な不具合要因を有する製品群とは、想定される不具合の発生頻度に対して高い頻度で不具合が発生する製品群のことをいう。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[Configuration of information processing device]
An information processing apparatus according to an embodiment of the present invention is based on information related to a failure such as a failure or an operation abnormality of an industrial product, and a potential factor (potential for causing a failure for a product group to which the industrial product belongs. This is a device for determining the presence of a faulty factor) or supporting the determination. In the following, the target of the process in which the information processing apparatus determines the presence of a potential failure factor or the process of supporting the determination is referred to as a process target. Further, in the present embodiment, the potential failure factor refers to a factor that causes a failure at a higher frequency than the expected failure occurrence frequency. Therefore, a product group having a potential failure factor refers to a product group in which a failure occurs at a higher frequency than the expected failure occurrence frequency.
情報処理装置1は、例えば、サーバ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、タブレット、スマートフォン、PHS(Personal Handy−phone System)装置、またはPDA(Personal Digital Assistant)装置などのコンピュータ装置であり、CPU(Central Processing Unit)や記憶装置などのハードウェアを備える。情報処理装置が不具合の判定および判定の支援を行う製品群に属する製品は、例えば、複数の部品、部材、およびユニットなどの構成品により構成される装置である。以下では、一例として、当該装置は建物内に設置される電源・空調設備を構成する装置であるとして説明する。
The
図1は、本発明の一実施形態に係る情報処理装置1の概略機能構成の一例を示すブロック図である。
情報処理装置1は、記憶部11と、入力部12と、表示部13と、制御部14と、を備える。
記憶部11は、例えば、HDD(Hard Disc Drive)、フラッシュメモリ、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)、ROM(Read Only Memory)、またはRAM(Random Access Memory)などを備え、ファームウェアやアプリケーションプログラムなど、記憶部11が備えるCPUが実行するための各種プログラムやCPUが実行した処理の結果などを記憶する。制御部14の一部または全部は、例えば、情報処理装置1の備えるCPUが記憶部11に記憶されているプログラムを実行することによって機能する。
FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of a schematic functional configuration of an
The
The
また、記憶部11は、閾値記憶部111と、製品情報を記憶する製品情報記憶部112と、故障履歴情報を記憶する故障履歴情報記憶部113と、を備える。製品情報と後述する故障履歴情報とは、製品の不具合に関する不具合情報の一部である。製品情報と故障履歴情報とは、後述するように製品を識別する識別情報である製品IDを含む。当該製品IDは、製品情報と故障履歴情報とにおいて共通である。従って、製品情報が含む情報と故障履歴情報が含む情報とは、製品IDに基づいて対応付けて参照することが可能である。
The
閾値記憶部111は、後述する製品群における潜在的な不具合要因の存在を判定する判定処理に用いる第1の閾値と第2の閾値とを示す閾値情報を記憶する。第1の閾値は、製品群に属する製品の仕様や設計などの理論値に基づいて設定される閾値であり、例えば、平均故障間隔(MTBF、Mean Time Between Failure(s))に基づいて設定される閾値である。第2の閾値は、第1の閾値とは異なる基準で設定される閾値であり、例えば、情報処理装置1の利用者が経験則などに基づいて設定する閾値である。第1の閾値および第2の閾値は、不具合の発生頻度の基底値に対して大きい値であり、不具合の発生頻度の想定外の上昇を検出しうる範囲に定められる。
The threshold
図2は、製品情報の一例を示す表である。
製品情報は、情報処理装置1による処理対象の製品群を構成する製品の情報である。製品情報は、例えば、製品が設置、移設、または撤去された場合などに、その場合に応じた情報が追加されて記憶される。この図に示される表は、複数の製品の製品情報を示し、表の各行は、複数の製品各々の製品情報を示す。製品情報は、製品ID、製品名称、製品分類、製品分類種別、メーカ名称、製造年月日、設置年月日、撤去年月日、ビル名、およびフロアの情報の各値を有する。製品IDは、製品を一意に識別するための識別情報を示す。製品名称は、製品の名称を示す。製品分類は、製品が属する製品分類の名称を示す。製品分類種別は、製品が属する製品分類の種別を示す。メーカ名称は、製品を製造したメーカの名称を示す。なお、メーカ名称は、製品を製造したメーカを特定するための情報の一例である。
FIG. 2 is a table showing an example of product information.
The product information is information on products that constitute a product group to be processed by the
製造年月日は、製品が製造された日付を示す。設置年月日は、製品が設置された日付を示す。また、設置年月日は、製品が稼働を開始したときを特定するための情報の一例である。撤去年月日は、製品が設置された場所から移設または撤去された日付を示す。ビル名は、製品が設置されたビルの名称を示す。フロアは、製品が設置されたビルのフロアを示す。ビル名およびフロアは、製品の設置場所を特定するための情報の一例である。このうち、製品名称、製品分類、製品分類種別、メーカ名称、ビル名、およびフロアの情報は、製品の属性を示す属性情報の一例である。また、製造年月日、設置年月日、および撤去年月日は、時間を示す時間情報の一例である。 The date of manufacture indicates the date on which the product was manufactured. The installation date indicates the date on which the product was installed. The installation date is an example of information for specifying when the product starts operation. The removal date indicates the date when the product was moved or removed from the place where the product was installed. The building name indicates the name of the building where the product is installed. The floor indicates the floor of the building where the product is installed. The building name and floor are an example of information for specifying the installation location of the product. Among these, the product name, product classification, product classification type, manufacturer name, building name, and floor information are examples of attribute information indicating product attributes. The date of manufacture, date of installation, and date of removal are examples of time information indicating time.
図2に示される表において、最上段に登録されている製品情報は、製品IDの値が「A001」である。また、製品名称の値が「A−X−整流装置」である。また、製品分類の値が「分散給電装置」である。また、製品分類種別の値が「A 整流装置」である。また、メーカ名称の値が「メーカA」である。また、製造年月日の値が「2008/04/04」である。また、設置年月日の値が「2008/06/12」である。また、撤去年月日の値が「2009/10/11」である。また、ビル名の値が「Aビル」である。また、フロアの値が「B2F」である。 In the table shown in FIG. 2, the product information registered in the top row has a product ID value “A001”. The value of the product name is “AX-rectifier”. The product classification value is “distributed power supply device”. Further, the value of the product classification type is “A rectifier”. The value of the manufacturer name is “Manufacturer A”. The value of the date of manufacture is “2008/04/04”. Also, the installation date is “2008/06/12”. The value of the removal date is “2009/10/11”. The value of the building name is “A building”. The floor value is “B2F”.
すなわち、図2に示される表において、最上段に登録されている製品情報は、製品IDの値が「A001」である製品の名称が「A−X−整流装置」であり、製品分類種別が「A 整流装置」である「分散給電装置」という製品分類に含まれることを示す。また、当該製品情報は、製品IDの値が「A001」である製品が「メーカA」により「2008/04/04」に製造されたことを示す。また、当該製品情報は、製品IDの値が「A001」である製品が「2008/06/12」に「Aビル」という名称の建物の「B2F」フロアに設置され、「2009/10/11」にその設置場所から移設または撤去されたことを示す。 That is, in the table shown in FIG. 2, the product information registered at the top is that the product name with the product ID value “A001” is “AX-rectifier”, and the product classification type is It is included in the product classification “distributed power supply device” which is “A rectifier device”. Further, the product information indicates that a product having a product ID value “A001” is manufactured to “2008/04/04” by “maker A”. In addition, the product information has a product ID value “A001” installed on the “B2F” floor of a building named “A building” on “2008/06/12” and “2009/10/11” Indicates that it has been relocated or removed from its installation location.
図3は、故障履歴情報の一例を示す表である。
故障履歴情報は、不具合が検知された製品について、その不具合に関する情報を示す。本実施形態において、故障履歴情報は、不具合が発生したときに追加されて記憶されるため、故障履歴情報の数は、不具合の発生件数を示す。この図に示される表は、複数の不具合に関する故障履歴情報を示し、表の各行は、複数の不具合各々の故障履歴情報を示す。故障履歴情報は、故障ID、装置ID、警報、故障状況、原因、回復方法、対応方法、および故障発生日時の情報の各値を有する。故障IDは、不具合を一意に識別するための識別情報を示す。製品IDは、製品を一意に識別するための識別情報を示す。
FIG. 3 is a table showing an example of failure history information.
The failure history information indicates information related to the failure of the product in which the failure is detected. In the present embodiment, since the failure history information is added and stored when a failure occurs, the number of failure history information indicates the number of failures. The table shown in this figure shows failure history information related to a plurality of failures, and each row of the table shows failure history information of each of the plurality of failures. The failure history information includes each value of information of failure ID, device ID, alarm, failure status, cause, recovery method, response method, and failure occurrence date and time. The failure ID indicates identification information for uniquely identifying a defect. The product ID indicates identification information for uniquely identifying the product.
警報は、製品または当該製品を監視する監視装置が不具合を検知して発した警報の内容を示す。故障履歴情報における製品IDは、不具合が検知された製品の識別情報を示す。故障状況は、不具合が検知された製品について、対応者が判断した不具合の状況を示す。原因は、不具合が発生した原因を示す。回復方法は、不具合を是正するために行われた回復措置を示す。警報、故障状況、原因、および回復方法は、不具合の内容を特定するための情報の一例である。対応方法は、不具合に対応した者の対応内容を示す。対応者は、不具合に対応した対応者を識別する識別情報を示し、例えば、対応者の氏名を示す。故障発生日時は、製品または製品の監視装置により不具合が検知された日時を示す。故障発生日時は、不具合が発生した時期を特定するための情報である。このうち、警報、故障状況、原因、回復方法、および対応方法の情報は、不具合の状態を示す状態情報の一例である。また、故障発生日時は、時間を示す時間情報の一例である。なお、属性情報、時間情報、および状態情報は、製品群を識別する製品群識別情報の一例である。 The alarm indicates the content of an alarm issued when a product or a monitoring device that monitors the product detects a malfunction. The product ID in the failure history information indicates identification information of a product in which a failure is detected. The failure status indicates the status of the failure determined by the responder for the product in which the failure is detected. The cause indicates the cause of the failure. The recovery method indicates the recovery action taken to correct the failure. An alarm, a failure status, a cause, and a recovery method are examples of information for specifying the content of a failure. The response method indicates the response content of the person corresponding to the defect. The corresponding person indicates identification information for identifying the corresponding person corresponding to the defect, for example, the name of the corresponding person. The failure occurrence date and time indicates the date and time when the malfunction was detected by the product or the product monitoring device. The failure occurrence date and time is information for specifying the time when the failure occurred. Of these, the alarm, failure status, cause, recovery method, and response method information are examples of status information indicating the status of the malfunction. The failure occurrence date and time is an example of time information indicating time. The attribute information, time information, and status information are examples of product group identification information that identifies a product group.
図3に示される表において、最上段に登録されている故障履歴情報は、故障IDの値が「1」である。また、製品IDの値が「A011」である。また、警報の値が「整流ユニット故障」である。また、故障状況の値が「ユニット異常」である。また、原因の値が「製品不良」である。また、回復方法の値が「取替」である。また、対応方法の値が「即時対応」である。また、対応者の値が「a」である。また、故障発生日時の値が「2003/1/1 5:03」である。 In the table shown in FIG. 3, the failure history information registered in the top row has a failure ID value of “1”. The value of the product ID is “A011”. The alarm value is “rectifier unit failure”. Also, the value of the failure status is “unit abnormality”. The cause value is “product defect”. The value of the recovery method is “replacement”. Also, the value of the response method is “immediate response”. In addition, the value of the responder is “a”. Further, the value of the failure occurrence date and time is “2003/1/1 5:03”.
すなわち、図3に示される表において、最上段に登録されている故障履歴情報は、故障IDの値が「1」として識別される不具合に関する情報であり、製品IDの値が「A011」である製品の不具合に関する故障履歴情報であることを示す。また、当該故障履歴情報は、製品IDの値が「A011」である製品について、「2003/1/1 5:03」に「整流ユニット故障」を報知する警報が発せられ、対応者が「製品不良」による「ユニット異常」が生じていると判断したことを示す。また、当該故障履歴情報は、製品IDの値が「A011」である製品の不具合に対して、対応者の「a」が、例えば、ユニットの「取替」の「即時対応」を行ったことを示す。 That is, in the table shown in FIG. 3, the failure history information registered at the top is information relating to a failure identified with a failure ID value of “1”, and a product ID value of “A011”. Indicates failure history information related to product defects. In addition, the failure history information indicates that a product whose product ID value is “A011” is issued an alarm to notify “2003/1/1 5:03” of “rectifier unit failure”, This indicates that it is determined that “unit abnormality” due to “bad” has occurred. In addition, in the failure history information, the responder “a” has performed “immediate response” of “replacement” of a unit, for example, for a malfunction of a product whose product ID value is “A011”. Indicates.
図1に戻り、説明を続ける。
入力部12は、例えば、マウス、キーボード、またはタッチパネルなどの入力装置を備え、利用者からの入力を受け付ける。入力部12が受け付ける操作の内容は、例えば、表示部13が備える表示装置にGUI(Graphical User Interface)として表示される。入力部12は、第2の閾値を示す情報、製品情報、または故障履歴情報の登録要求を受け付け、制御部14に出力する。また、入力部12は、処理対象の製品群を示す製品群情報の入力を受け付け、制御部14に出力する。
表示部13は、例えば、液晶ディスプレイや有機EL(Electro−Luminescence)ディスプレイなどの表示装置を備える。
Returning to FIG. 1, the description will be continued.
The
The
制御部14は、登録部141と、算出部142と、判定部143と、出力制御部144と、を備える。
登録部141は、入力部12が受け付けた登録要求に基づいて各種情報を記憶部11に記憶させることにより登録する。登録部141は、例えば、第2の閾値を示す情報を閾値記憶部111に記憶させる。また、登録部141は、例えば、製品情報を製品情報記憶部112に記憶させる。また、登録部141は、例えば、故障履歴情報を故障履歴情報記憶部113に記憶させる。
The
The
算出部142は、記憶部11が記憶する不具合情報に基づいて、製品群における不具合の発生頻度を算出する。算出部142は、入力部12が製品群情報の入力を受け付けると、製品情報記憶部112が記憶する製品情報と故障履歴情報記憶部113が記憶する故障履歴情報を参照し、製品群情報が示す製品群に属する製品を識別する製品IDを含む製品情報と故障履歴情報を取得する。算出部142は、取得した故障履歴情報を計数することにより不具合の発生件数を取得する。算出部142は、例えば、製品情報および故障履歴情報の各項目の値に基づいて、故障履歴情報を分類し、計数を行うことにより、製品群における不具合の発生件数を取得する。また、算出部142は、例えば、取得した不具合の発生件数に基づいて製品群における故障率を算出する。算出部142が算出する不具合の発生件数と故障率とは、それぞれ、不具合の発生頻度の一例である。算出部142は、算出した不具合の発生頻度を示す頻度情報を判定部143または出力制御部144に出力する。
The
判定部143は、算出部142から取得した頻度情報と閾値記憶部111が記憶する閾値情報に基づいて、製品群における潜在的な不具合要因の存在を判定する。判定部143は、閾値記憶部111から閾値情報を取得する。判定部143は、例えば、頻度情報が示す不具合の発生頻度と、閾値情報が示す第1の閾値および第2の閾値とを比較する。判定部143は、例えば、不具合の発生頻度が第1の閾値および第2の閾値に対して大きい場合、製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性が高いと判定する。また、判定部143は、例えば、不具合の発生頻度が第1の閾値または第2の閾値の一方に対して大きく、他方に対して大きくない場合、製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性があると判定する。また、判定部143は、例えば、不具合の発生頻度が第1の閾値および第2の閾値に対して小さい場合、製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性は低いと判定する。判定部143は、製品群における潜在的な不具合要因の存在についての判定結果を出力制御部144に出力する。
The
出力制御部144は、算出部142による処理結果、判定部143による処理結果、および記憶部11が記憶する情報に基づいて画像データを生成し、生成した画像を表示部13に出力して表示させる。出力制御部144は、例えば、算出部142から取得した頻度情報が示す不具合の発生頻度を製品群を示す情報と対応付けて表示部13に表示させる。また、出力制御部144は、例えば、判定部143から取得した製品群における不具合の存在についての判定結果を製品群を示す情報と対応付けて表示部13に表示させる。なお、出力制御部144は、判定部143による判定結果が製品が不具合を有する可能性を示す場合は、警告表示など表示部に表示させ、利用者の注意を喚起する。
The
図4は、情報処理装置1による処理の流れの一例を示すフローチャートである。
この図に示すフローチャートは、第1の閾値が第2の閾値よりも小さい場合における処理の流れの一例を示す。なお、第1の閾値が第2の閾値よりも小さい場合は、後述するステップS103とS106とにおける判定条件を入れ替えてよい。以下の処理は、例えば、所定の時間間隔で実行される。まず、算出部142は、処理対象の製品群を特定し、処理対象の製品群に属する製品の故障履歴情報と製品情報とを取得する(ステップS101)。次に、算出部142は、取得した故障履歴情報と製品情報とに基づいて、製品群に属する製品の不具合の発生頻度を算出する(ステップS102)。次に、判定部143は、算出部142が算出した不具合の発生頻度が第1の閾値以上か否かを判定する(ステップS103)。不具合の発生頻度が第1の閾値に対して小さい場合(ステップS103;NO)、判定部143は、処理対象の製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性が低いため、不具合なしと判定する(ステップS104)。次に、出力制御部144は、例えば、判定部143による判定結果を表示部13に出力する(ステップS105)。そして、制御部14は、処理を終了する。
FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of the flow of processing by the
The flowchart shown in this figure shows an example of the flow of processing when the first threshold is smaller than the second threshold. When the first threshold is smaller than the second threshold, the determination conditions in steps S103 and S106 described later may be switched. The following processing is executed at predetermined time intervals, for example. First, the
また、不具合の発生頻度が第1の閾値より大きい場合(ステップS103;YES)、判定部143は、不具合の発生頻度が第2の閾値以上か否かを判定する(ステップS106)。不具合の発生頻度が第2の閾値に対して小さい場合(ステップS106;NO)、判定部143は、処理対象の製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性があり、要注意であると判定する(ステップS107)。そして、出力制御部144は、ステップS105の処理を行う。また、不具合の検出頻度が第2の閾値より大きい場合(ステップS106;YES)、判定部143は、処理対象の製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性が高いため、潜在的な不具合要因が有ると判定する(ステップS108)。そして、出力制御部144は、ステップS105の処理を行う。
Further, when the occurrence frequency of the defect is larger than the first threshold (step S103; YES), the
図5は、情報処理装置1による閾値の設定処理の流れの一例を示すフローチャートである。
まず、判定部143は、算出部142が算出した不具合の発生頻度を取得する(ステップS201)。次に、判定部143は、取得した不具合の発生頻度に対して傾向分析を行う(ステップS202)。判定部143は、傾向分析において、例えば、算出部142が算出した不具合の発生頻度に対して、過去の類似製品群の実績データや設計データに基づくモデルを適用し、不具合の発生頻度の平均値などの期待値や分散値などの統計的な情報を取得する。次に、判定部143は、取得した統計情報に基づいて閾値を設定する(ステップS203)。判定部143は、例えば、上述した不具合の発生頻度の標本値の95[%]が収束すると予測される値域を算出し、その上限値を第2の閾値として設定する。
FIG. 5 is a flowchart illustrating an example of a threshold setting process performed by the
First, the
図6は、情報処理装置1による時間情報に基づく時間毎の不具合の発生頻度の表示態様の一例を示す図である。
この図に示されるグラフにおいて、縦軸は、不具合の発生頻度を示し、例えば、不具合の発生件数または故障率などを示す。横軸は、時間を示し、例えば、故障発生年月、稼働年月、または製造年月などを示す。折れ線L11は、処理対象の製品群の不具合の発生頻度の経時変化を示す。直線L12は、第1の閾値を示す。直線L13は、第2の閾値を示す。領域A11と領域A12とは、処理対象の製品群の不具合の発生頻度が第1の閾値以上、かつ、第2の閾値未満となった部分を示す。領域A13は、処理対象の製品群の不具合の発生頻度が第2の閾値以上となった部分を示す。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a display mode of the occurrence frequency of defects for each hour based on the time information by the
In the graph shown in this figure, the vertical axis indicates the occurrence frequency of defects, for example, the number of occurrences of defects or the failure rate. The horizontal axis indicates time, for example, failure occurrence date, operation date, or manufacture date. A polygonal line L11 indicates a change with time in the occurrence frequency of defects in the product group to be processed. A straight line L12 indicates the first threshold value. A straight line L13 indicates the second threshold value. Region A11 and region A12 indicate portions where the occurrence frequency of defects in the product group to be processed is equal to or higher than the first threshold and lower than the second threshold. A region A13 indicates a portion where the frequency of occurrence of defects in the product group to be processed is equal to or greater than the second threshold.
図6に示す例において、例えば、故障発生年月を横軸にした場合について説明する。故障発生年月は、例えば、故障履歴情報に含まれる故障発生日時の年および月の値である。算出部142は、処理対象の製品群に属する製品の製品IDの値を有する故障履歴情報を取得する。そして、算出部142は、取得した故障履歴情報をその故障発生日時の年および月の値に基づいて分類する。算出部142は、分類した故障履歴情報に基づいて、不具合の発生頻度を月毎に算出する。出力制御部144は、算出部142が算出した不具合の発生頻度を月毎にプロットしたグラフを生成する。これにより、情報処理装置1は、例えば、季節と潜在的な不具合要因との関連性や、例えば、落雷など、特定の日に発生した事象と不具合の発生との関連性などを示すことができる。
In the example illustrated in FIG. 6, for example, a case where the horizontal axis indicates the failure occurrence date will be described. The failure date is, for example, the year and month values of the failure occurrence date and time included in the failure history information. The
また、図6に示す例において、例えば、稼働年月を横軸にした場合について説明する。稼働年月は、例えば、製品情報が含む設置年月日が示す日付から故障履歴情報に含まれる故障発生日時までに経過した年および月の値である。算出部142は、処理対象の製品群に属する製品の製品IDの値を有する製品情報と故障履歴情報とを取得する。ここで、算出部142は、同一の製品IDの値を有する製品情報と故障履歴情報とを対応付けて扱うものとする。算出部142は、対応付けられている製品情報と故障履歴情報とにおいて、設置年月日の値と故障発生日時の年月日の値との差に基づいて、製品が稼働してから経過した年月を取得する。算出部142は、取得した稼働年月に基づいて、故障履歴情報を分類する。算出部142は、分類した故障履歴情報に基づいて不具合の発生頻度を月毎に算出する。出力制御部144は、算出した不具合の発生頻度を月毎にプロットしたグラフを生成する。これにより、情報処理装置1は、例えば、潜在的な不具合要因と製品の稼働期間との関連性などを示すことができる。
In the example illustrated in FIG. 6, for example, a case where the operation date is plotted on the horizontal axis will be described. The operation date is, for example, the value of the year and month that have passed from the date indicated by the installation date included in the product information to the date and time of occurrence of the failure included in the failure history information. The
また、図6に示す例において、例えば、製造年月を横軸にした場合について説明する。製造年月は、例えば、製品情報に含まれる製造年月日の年および月の値である。算出部142は、処理対象の製品群に属する製品の製品IDの値を有する製品情報と故障履歴情報とを取得する。ここで、算出部142は、同一の製品IDの値を有する製品情報と故障履歴情報とを対応付けて扱うものとする。算出部142は、製品情報の製造年月日の年月の値に基づいて、製品情報に対応付けられている故障履歴情報を分類する。算出部142は、分類した故障履歴情報に基づいて不具合の発生頻度を月毎に算出する。出力制御部144は、算出した発生頻度を月毎にプロットしたグラフを生成する。これにより、情報処理装置1は、例えば、潜在的な不具合要因と製品の製造環境との関連性などを示すことができる。
In the example shown in FIG. 6, for example, the case where the production date is plotted on the horizontal axis will be described. The production date is, for example, a year and month value included in the product information. The
図7は、情報処理装置1による属性情報が示す製品の属性毎の不具合の発生頻度の表示態様の一例を示す図である。
図7(a)は、A社、B社、およびC社の3つのメーカにより製造された製品を製造年別に、不具合の発生頻度を示したグラフである。
この図に示される例において、縦軸は、故障率を示す。横軸は、稼働年数を示す。折れ線L211は、2002年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。折れ線L212は、2003年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。折れ線L213は、2004年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a display mode of the occurrence frequency of defects for each product attribute indicated by the attribute information by the
FIG. 7A is a graph showing the frequency of occurrence of defects for products manufactured by three manufacturers, Company A, Company B, and Company C, by year of manufacture.
In the example shown in this figure, the vertical axis indicates the failure rate. The horizontal axis indicates the years of operation. A broken line L211 indicates a change with time of the failure rate of the product group manufactured in 2002. A polygonal line L212 indicates a change with time of the failure rate of the product group manufactured in 2003. A polygonal line L213 indicates a change over time in the failure rate of a product group manufactured in 2004.
この図に示される例において、製品群は、同一の年度に製造された製品により構成されている。より具体的には、製品情報において、製造年月日の年の値が同一である製品が処理対象の製品群を構成する。この図に示される例について、故障率の推移を分析した場合、領域A21に示される稼働年数6年から9年の製品の故障率が高く、特に2002年に製造された製品群が潜在的な不具合要因を有する可能性がある。また、領域A22に示される稼働年数2、3年の製品群の故障率がやや高い。そして、特に2003年に製造された製品群の故障率が高いため、2003年に製造された製品群が不具合を有する可能性がある。
In the example shown in this figure, the product group is composed of products manufactured in the same year. More specifically, in the product information, products having the same year value on the date of manufacture constitute a product group to be processed. When the transition of failure rate is analyzed for the example shown in this figure, the failure rate of the products with a service period of 6 to 9 years shown in the area A21 is high, and in particular, a product group manufactured in 2002 is a potential. May have a failure factor. Moreover, the failure rate of the product group of the
図7(b)〜図7(d)は、図7(a)に示されるグラフを製品の製造メーカ別に示したグラフである。従って、図7(b)〜図7(d)に示されるグラフにおいて、縦軸は、図7(a)に示されるグラフと同様に、故障率を示す。同様に、図7(b)〜図7(d)に示されるグラフにおいて、横軸は、稼働年数を示す。また、図7(b)〜図7(d)に示される例において、製品群は同一の年度に同一のメーカにより製造された製品により構成される。より具体的には、製品情報において、製造年月日の年の値が同一であり、かつ、メーカ名称の値が同一である製品が処理対象の製品群を構成する。 FIG. 7B to FIG. 7D are graphs showing the graph shown in FIG. 7A for each product manufacturer. Accordingly, in the graphs shown in FIGS. 7B to 7D, the vertical axis indicates the failure rate, as in the graph shown in FIG. Similarly, in the graphs shown in FIGS. 7B to 7D, the horizontal axis represents the number of years of operation. In the example shown in FIG. 7B to FIG. 7D, the product group is composed of products manufactured by the same manufacturer in the same year. More specifically, in the product information, products having the same manufacturing year / month / year value and the same manufacturer name value form a product group to be processed.
図7(b)は、A社により製造された製品を製造年別に、不具合の発生頻度を示したグラフである。図7(c)は、B社により製造された製品を製造年別に、不具合の発生頻度を示したグラフである。図7(d)は、C社により製造された製品を製造年別に、不具合の発生頻度を示したグラフである。 FIG. 7B is a graph showing the frequency of occurrence of defects for products manufactured by Company A by year of manufacture. FIG. 7 (c) is a graph showing the frequency of occurrence of defects for products manufactured by Company B by year of manufacture. FIG. 7 (d) is a graph showing the frequency of occurrence of defects for products manufactured by Company C by year of manufacture.
これらの図に示される例において、折れ線L221、L231、L241は、それぞれ、2002年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。折れ線L222、L232、L242は、それぞれ、2003年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。折れ線L223、L233、L243は、それぞれ、2004年に製造された製品群の故障率の経時変化を示す。 In the examples shown in these drawings, the polygonal lines L221, L231, and L241 indicate changes over time in the failure rate of the product group manufactured in 2002, respectively. The broken lines L222, L232, and L242 indicate changes over time in the failure rate of the product group manufactured in 2003, respectively. Plot lines L223, L233, and L243 indicate changes over time in the failure rate of the product group manufactured in 2004, respectively.
これらの図に示される例について、故障率の推移を分析した場合、領域A21に示される稼働年数6年から9年の製品の故障率は、図7(b)に示されるA社が製造した製品についてのグラフにおいて顕著に高い。これに対して、図7(c)に示されるB社が製造した製品についてのグラフおよび図7(d)に示されるC社が製造した製品についてのグラフにおいて、稼働年数6年から9年の製品の故障率には、顕著な異常は観察されない。そして、稼働年数6年から9年において、A社の製品の故障率は、2002年、2003年、および2004年に製造された製品のいずれも高い。従って、情報処理装置1の利用者は、A社が製造した製品群が稼働年数6年から9年程度で表れる潜在的な不具合要因を有していることを容易に推測できる。
When analyzing the transition of failure rate for the examples shown in these figures, the failure rate of the product with the operating years of 6 to 9 years shown in the area A21 was manufactured by Company A shown in FIG. 7 (b). Remarkably high in the product graph. On the other hand, in the graph about the product manufactured by Company B shown in FIG. 7C and the graph about the product manufactured by Company C shown in FIG. No noticeable anomalies are observed in the product failure rate. And in the operation years from 6 to 9, the failure rate of the product of company A is high for all products manufactured in 2002, 2003, and 2004. Therefore, the user of the
また、同様にこれらの図に示される例について、故障率の推移を分析した場合、領域A22に示される稼働年数2、3年の製品の故障率は、図7(d)に示されるC社が製造した製品についてのグラフにおいて顕著に高い。これに対して、図7(b)に示されるA社が製造した製品についてのグラフおよび図7(c)に示されるB社が製造した製品についてのグラフにおいて、稼働年数2、3年の製品の故障率には、顕著な異常は観察されない。そして、稼働年数2、3年において、2002年および2003年にC社が製造した製品の故障率が特に高い。従って、情報処理装置1の利用者は、C社が製造した製品群が稼働年数2、3年程度で表れる潜在的な不具合要因を有していることを容易に推測できる。このように、情報処理装置1は、製造年により特定される製品群を、製品を製造するメーカという別の属性により、さらに詳細に分類および特定して不具合の発生頻度を算出する。これにより、情報処理装置1は、製品群における潜在的な不具合要因の詳細についての情報を利用者に提供し、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援することができる。
Similarly, when the transition of the failure rate is analyzed for the examples shown in these figures, the failure rate of the products with the operating
図8は、情報処理装置1による原因情報が示す原因毎の不具合の発生頻度の表示態様の一例を示す図である。
図8(a)〜(c)は、不具合の原因別に、A社、B社、およびC社の3社により製造された製品の不具合の発生頻度を示したグラフである。
これらの図に示される例において、縦軸は、不具合の発生件数を示す。横軸は、不具合の原因を示す。また、これらの図に示される例において、製品群は、同一のメーカにより製造された製品のうち同一の原因により不具合が発生した製品により構成されている。より具体的には、故障履歴情報において、原因の値が同一であり、製品情報において、メーカ名称の値が同一である製品が処理対象の製品群を構成する。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a display mode of the occurrence frequency of defects for each cause indicated by the cause information by the
8A to 8C are graphs showing the frequency of occurrence of defects in products manufactured by the three companies, Company A, Company B, and Company C, for each cause of failure.
In the examples shown in these drawings, the vertical axis indicates the number of occurrences of defects. The horizontal axis shows the cause of the malfunction. Further, in the examples shown in these drawings, the product group is composed of products that have failed due to the same cause among products manufactured by the same manufacturer. More specifically, products having the same cause value in the failure history information and having the same manufacturer name value in the product information form a product group to be processed.
これらの図に示される例について、それぞれのグラフにおける原因毎の不具合の発生件数を分析した場合、例えば、図8(c)に示されるC社が製造した製品についてのグラフにおいて、原因2の製品群における不具合の発生頻度が顕著に高い。従って、情報処理装置1の利用者は、C社の製造する製品群が原因2に関する潜在的な不具合要因を有していることを容易に推測できる。
For the examples shown in these figures, when the number of failures for each cause in each graph is analyzed, for example, in the graph for the product manufactured by Company C shown in FIG. The frequency of defects in the group is significantly high. Therefore, the user of the
また、これらの図に示される例について、原因毎の不具合の発生件数の傾向をグラフ間で比較して分析した場合、例えば、図8(a)〜図8(c)に示されるA社、B社、およびC社が製造した製品について、原因3の製品群における不具合の発生頻度がいずれも高い。従って、情報処理装置1の利用者は、分析対象の製品群において、各社が共通して利用している部品などが原因3に関する潜在的な不具合要因を有していることなどを推測できる。
Moreover, about the example shown by these figures, when analyzing the tendency of the number of occurrence of the trouble for every cause between graphs, for example, Company A shown in Drawing 8 (a)-Drawing 8 (c), Regarding the products manufactured by Company B and Company C, the occurrence frequency of defects in the product group of
以上のように、本実施形態に係る情報処理装置1は、不具合情報に基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する。
これにより、情報処理装置1は、処理対象の製品群毎の不具合の発生頻度を利用者に提示することができるため、情報処理装置1の利用者は、処理対象の製品群における潜在的な不具合要因の存在を容易に判断することができる。その結果、情報処理装置1の利用者は、潜在的な不具合要因が発見された製品群に属する製品に対して、修理、部品交換、または導入停止などの措置を行うことができる。このように、情報処理装置1は、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援することができる。
As described above, the
As a result, the
また、情報処理装置1は、製品群における不具合の発生頻度を所定の閾値と比較して、製品群における潜在的な不具合要因の存在を判定する。
これにより、情報処理装置1の利用者は、製品群における潜在的な不具合要因の存在を個人の技術や経験に基づいて判断する必要がないため、情報処理装置1を採用した場合、潜在的な不具合要因の存在を分析するための人員を削減し、労力を軽減することができる。また、情報処理装置1は、利用者に対して技術や経験などを比較的要求しないため、技術や経験などが十分でない利用者であっても製品群における潜在的な不具合要因の存在を判断することができる。また、情報処理装置1は、利用者の経験不足や注意不足などによる潜在的な不具合要因の見逃しを抑制することができる。このように、情報処理装置1は、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援することができる。
Further, the
Thereby, since the user of the
また、情報処理装置1は、製品の属性に基づいて製品群を特定する。
これにより、情報処理装置1は、製品を製造したメーカや設置場所など、製品の属性に基づいて製品を分類し、製品群における不具合の発生頻度を出力する。情報処理装置1は、例えば、情報処理装置1は、複数のメーカが同一の製品を製造している場合であっても、メーカ毎に不具合の発生頻度を算出することができるため、潜在的な不具合要因を有しない製品のデータによって潜在的な不具合要因を有する製品のデータが平準化され、埋もれてしまうことを防ぐことができる。また、情報処理装置1の利用者は、製品の属性に基づいて潜在的な不具合要因を推定することができる。このように、情報処理装置1は、製品群において不具合を発生させる潜在的な要因の発見を支援することができる。
Further, the
As a result, the
また、情報処理装置1は、製品の不具合の状態に基づいて製品群を特定する。
これにより、情報処理装置1の利用者は、製品群における潜在的な不具合要因をより詳細に検討することができる。
Further, the
Thereby, the user of the
なお、情報処理装置1は、故障履歴情報が登録される度に製品IDが識別する製品が属する製品群について、判定処理を行ってもよい。
なお、情報処理装置1は、故障履歴情報および製品情報が含む任意の情報を対応付けて管理してよい。情報処理装置1は、例えば、製品の不具合を示す情報と製品群識別情報とを対応付けて管理してよい。
Note that the
Note that the
なお、情報処理装置1は、上述した属性情報、時間情報、および状態情報のいずれか、または任意の組み合わせにより製品群を特定してよい。また、情報処理装置1は、上述した属性情報、時間情報、および状態情報以外の情報に基づいて製品群を特定してよい。情報処理装置1は、例えば、製品を構成する部品、部材、またはユニットなどの構成品の属性情報、時間情報、および状態情報のいずれか、または任意の組み合わせに基づいて、製品群を特定してよい。
Note that the
なお、情報処理装置1は、第1の閾値と第2の閾値とを処理対象の製品群に応じて変更してよい。情報処理装置1は、例えば、第1の閾値と第2の閾値とを、特定のパラメータに応じて変更してよい。より具体的には、情報処理装置1は、例えば、第1の閾値と第2の閾値とを、稼働年数の値に応じて変更してよい。また、情報処理装置1は、1つの閾値に基づいて、製品群における潜在的な不具合要因の存在を判定してよい。また、情報処理装置1は、例えば、3以上の異なる方法で取得される閾値に基づいて製品群における潜在的な不具合要因の存在を判定してよい。この場合、情報処理装置1は、判定に利用する任意の閾値を選択する機能を有してよい。
Note that the
また、情報処理装置1は、閾値による判定結果に基づいて、処理対象の製品群を変更してもよい。例えば、情報処理装置1は、処理対象の製品群について算出した不具合の発生頻度の値が第1の閾値と第2の閾値との間の値である場合に、製品群を特定するための情報を追加して、処理対象の製品群を変更する。そして、情報処理装置1は、変更後の処理対象の製品群の不具合の発生頻度を算出し、算出した不具合の発生頻度と第1の閾値および第2の閾値との比較に基づいて、潜在的な不具合要因の存在を判定する。図7を用いてより具体的に説明すると、例えば、図7(a)の領域A22に示される故障率が第1の閾値と第2の閾値との間の値であり、要注意であると判定された場合、情報処理装置1は、製品群を特定するための情報として、メーカの情報を追加して、処理対象の製品群をA社、B社、およびC社に変更する。そして、情報処理装置1は、図7(b)〜図7(d)に示されるメーカ別の不具合の発生頻度を算出し、再度閾値に基づく判定を行う。これにより、情報処理装置1は、潜在的な不具合要因を有する製品群をさらに効率よく特定することができる。
Further, the
なお、情報処理装置1は、クロス集計表など、グラフ以外の任意の表示態様により不具合の発生頻度を表示してよい。また、情報処理装置1による出力は、印刷機や別の装置への情報の送信により行われてもよい。
なお、情報処理装置1の各機能部は、複数の装置に備えられていてもよい。そして、当該複数の装置各々による処理と装置間の通信とにより情報処理装置1の機能が実現されてもよい。
In addition, the
Note that each functional unit of the
なお、上述した各実施形態における情報処理装置1の一部、例えば、制御部14の一部または全部をコンピュータで実現するようにしてもよい。その場合、この機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、情報処理装置1に内蔵されたコンピュータシステムであって、OS(Operating System)や周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
In addition, you may make it implement | achieve a part of
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでもよい。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよい。 The “computer-readable recording medium” refers to a storage device such as a flexible medium, a magneto-optical disk, a portable medium such as a ROM and a CD-ROM, and a hard disk incorporated in a computer system. Furthermore, the “computer-readable recording medium” is a medium that dynamically holds a program for a short time, such as a communication line when transmitting a program via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line, In this case, a volatile memory inside a computer system that serves as a server or a client may be included that holds a program for a certain period of time. The program may be a program for realizing a part of the functions described above, and may be a program capable of realizing the functions described above in combination with a program already recorded in a computer system.
また、上述した実施形態における情報処理装置1の一部または全部を、LSI(Large Scale Integration)等の集積回路として実現してもよい。情報処理装置1の各機能部は個別にプロセッサ化してもよいし、一部、または全部を集積してプロセッサ化してもよい。また、集積回路化の手法はLSIに限らず専用回路、または汎用プロセッサで実現してもよい。また、半導体技術の進歩によりLSIに代替する集積回路化の技術が出現した場合、当該技術による集積回路を用いてもよい。
Moreover, you may implement | achieve part or all of the
以上、図面を参照してこの発明の一実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様々な設計変更等をすることが可能である。 As described above, the embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to the above, and various design changes and the like can be made without departing from the scope of the present invention. It is possible to
1…情報処理装置、11…記憶部、111…閾値記憶部、112…製品情報記憶部、113…故障履歴情報記憶部、12…入力部、13…表示部、14…制御部、141…登録部、142…算出部、143…判定部、144…出力制御部
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記算出部が算出する発生頻度を出力する出力制御部と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。 A calculation unit that calculates the occurrence frequency of defects in the product group to be processed, based on defect information related to a defect in the product and product group identification information that identifies the product group to which the product belongs;
An output control unit that outputs the occurrence frequency calculated by the calculation unit;
An information processing apparatus comprising:
を備え、
前記出力制御部は、前記判定部による判定結果を出力する、
ことを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 If the occurrence frequency calculated by the calculation unit is larger than a threshold value determined according to the statistically calculated failure occurrence frequency, a potential factor causing the failure in the product group to be processed A determination unit that determines that there is
With
The output control unit outputs a determination result by the determination unit.
The information processing apparatus according to claim 1.
前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記属性情報が示す属性と対応付けて出力する、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の情報処理装置。 The product group identification information is attribute information indicating an attribute of the product,
The output control unit outputs the occurrence frequency calculated by the calculation unit in association with the attribute indicated by the attribute information.
The information processing apparatus according to claim 1, wherein the information processing apparatus is an information processing apparatus.
前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記時間情報に基づく時間と対応付けて出力する、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の情報処理装置。 The product group identification information is time information indicating time,
The output control unit outputs the occurrence frequency calculated by the calculation unit in association with the time based on the time information;
The information processing apparatus according to claim 1, wherein the information processing apparatus is an information processing apparatus.
前記出力制御部は、前記算出部が算出する発生頻度を前記状態情報が示す不具合の状態と対応付けて出力する、
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の情報処理装置。 The product group identification information is state information indicating a state of a defect of the product,
The output control unit outputs the occurrence frequency calculated by the calculation unit in association with a failure state indicated by the state information.
The information processing apparatus according to claim 1, wherein the information processing apparatus is an information processing apparatus.
算出部が、製品の不具合に関する不具合情報と前記製品が属する製品群を識別する製品群識別情報とに基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する算出過程と、
出力制御部が、前記算出部が算出する発生頻度を出力する出力制御過程と、
を含むことを特徴とする情報処理方法。 An information processing method in an information processing apparatus,
A calculation process in which the calculation unit calculates the occurrence frequency of defects in the product group to be processed based on the defect information on the defect of the product and the product group identification information for identifying the product group to which the product belongs;
An output control unit that outputs an occurrence frequency calculated by the calculation unit; and
An information processing method comprising:
製品の不具合に関する不具合情報と前記製品が属する製品群を識別する製品群識別情報とに基づいて、処理対象の製品群における不具合の発生頻度を算出する算出手順、
前記算出手順において算出される発生頻度を出力する出力制御手順、
を実行させるためのプログラム。 On the computer,
A calculation procedure for calculating the occurrence frequency of defects in the product group to be processed based on the defect information on the defect of the product and the product group identification information for identifying the product group to which the product belongs;
An output control procedure for outputting the occurrence frequency calculated in the calculation procedure;
A program for running
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JP (1) | JP2015185120A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017167708A (en) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 三菱電機株式会社 | Maintenance system and maintenance method |
JP2018132980A (en) * | 2017-02-16 | 2018-08-23 | 株式会社Nttファシリティーズ | Facility abnormality analysis system, facility abnormality analysis method, and program |
JP6486567B2 (en) * | 2017-03-30 | 2019-03-20 | 株式会社テイエルブイ | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
JP6486566B2 (en) * | 2017-03-30 | 2019-03-20 | 株式会社テイエルブイ | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
KR20190126186A (en) * | 2017-09-06 | 2019-11-08 | 가부시키가이샤 티엘브이 | Risk Assessment System, Risk Assessment System, Risk Assessment Method and Risk Assessment Program |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000155700A (en) * | 1999-01-01 | 2000-06-06 | Hitachi Ltd | Quality information collecting and diagnosing system and its method |
JP2004118698A (en) * | 2002-09-27 | 2004-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | Failure maintenance management system and failure maintenance management method |
JP2005182465A (en) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Toshiba Corp | Maintenance support method and program |
JP2005221413A (en) * | 2004-02-06 | 2005-08-18 | Fujitsu Ltd | Electronic system, failure prediction method, failure prediction program and its recording medium |
JP2007053264A (en) * | 2005-08-18 | 2007-03-01 | Sony Corp | Failure detecting device for packaging quality and failure detecting method of packaging quality |
JP2008033902A (en) * | 2006-06-30 | 2008-02-14 | Toshiba Corp | Alarm device |
JP2009110487A (en) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Jkb:Kk | Defect prevention system for processing device |
-
2014
- 2014-03-26 JP JP2014063689A patent/JP2015185120A/en active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000155700A (en) * | 1999-01-01 | 2000-06-06 | Hitachi Ltd | Quality information collecting and diagnosing system and its method |
JP2004118698A (en) * | 2002-09-27 | 2004-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | Failure maintenance management system and failure maintenance management method |
JP2005182465A (en) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Toshiba Corp | Maintenance support method and program |
JP2005221413A (en) * | 2004-02-06 | 2005-08-18 | Fujitsu Ltd | Electronic system, failure prediction method, failure prediction program and its recording medium |
JP2007053264A (en) * | 2005-08-18 | 2007-03-01 | Sony Corp | Failure detecting device for packaging quality and failure detecting method of packaging quality |
JP2008033902A (en) * | 2006-06-30 | 2008-02-14 | Toshiba Corp | Alarm device |
JP2009110487A (en) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Jkb:Kk | Defect prevention system for processing device |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017167708A (en) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 三菱電機株式会社 | Maintenance system and maintenance method |
JP2018132980A (en) * | 2017-02-16 | 2018-08-23 | 株式会社Nttファシリティーズ | Facility abnormality analysis system, facility abnormality analysis method, and program |
JP6486567B2 (en) * | 2017-03-30 | 2019-03-20 | 株式会社テイエルブイ | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
JP6486566B2 (en) * | 2017-03-30 | 2019-03-20 | 株式会社テイエルブイ | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
JPWO2018179939A1 (en) * | 2017-03-30 | 2019-04-04 | 株式会社テイエルブイ | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
KR20200096310A (en) * | 2017-03-30 | 2020-08-11 | 가부시키가이샤 티엘브이 | Risk assessment device, risk assessment method and risk assessment program |
US10816954B2 (en) | 2017-03-30 | 2020-10-27 | Tlv Co., Ltd. | Risk assessment device, risk assessment method, and risk assessment program |
KR102176102B1 (en) | 2017-03-30 | 2020-11-09 | 가부시키가이샤 티엘브이 | Risk assessment device, risk assessment method and risk assessment program |
KR20190126186A (en) * | 2017-09-06 | 2019-11-08 | 가부시키가이샤 티엘브이 | Risk Assessment System, Risk Assessment System, Risk Assessment Method and Risk Assessment Program |
KR102073537B1 (en) | 2017-09-06 | 2020-02-04 | 가부시키가이샤 티엘브이 | Risk Assessment Apparatus, Risk Assessment System, Risk Assessment Method and Risk Assessment Program |
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