JP2014171238A - Receiving apparatus and method for setting gain - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a receiving apparatus capable of improving reception characteristics.SOLUTION: A receiving apparatus comprises: a clock data recovery circuit 2 for generating an extracted clock CLK on the basis of reception data D1; and a gain setting section 3 for setting a gain parameter G1 of a filter circuit 11 in the clock data recovery circuit 2 in accordance with a jitter amount of the reception data D1.

Description

本発明は、受信装置及びゲイン設定方法に関するものである。   The present invention relates to a receiving apparatus and a gain setting method.

近年、大容量データを高速に処理し転送することが不可欠となっており、インタフェースの高速化の要求が高まっている。このような高速のシリアルインタフェースでは、データにクロックを重複させて送信するクロックデータリカバリ方式が広く用いられている。このクロックデータリカバリ方式を採用した受信装置では、受信データからその受信データに同期したクロックを抽出するクロックデータリカバリ(CDR)回路が必要となる。   In recent years, it has become indispensable to process and transfer large-capacity data at high speed, and there is an increasing demand for high-speed interfaces. In such a high-speed serial interface, a clock data recovery system that transmits data with a clock overlapped is widely used. A receiving apparatus that employs this clock data recovery method requires a clock data recovery (CDR) circuit that extracts a clock synchronized with the received data from the received data.

従来のCDR回路としては、受信データとクロックとの位相差に応じて当該CDR回路のループの応答感度を調整する機能を備えるものが知られている(例えば、特許文献1参照)。このCDR回路では、受信データとクロックとの位相差が大きくなるほどCDR回路のループの応答感度を高くするため、収束速度が速くなり、高速に受信データとクロックとの位相差を小さくすることができる。その一方で、受信データとクロックとの位相差が小さくなるに従って応答感度を低くするため、受信データとクロックとがほぼ一致した状態での安定性が向上する。   As a conventional CDR circuit, one having a function of adjusting response sensitivity of a loop of the CDR circuit in accordance with a phase difference between received data and a clock is known (see, for example, Patent Document 1). In this CDR circuit, as the phase difference between the received data and the clock increases, the response sensitivity of the loop of the CDR circuit increases, so that the convergence speed increases and the phase difference between the received data and the clock can be reduced at high speed. . On the other hand, since the response sensitivity is lowered as the phase difference between the received data and the clock becomes smaller, the stability in a state where the received data and the clock substantially match is improved.

なお、応答感度を調整するCDR回路としては、例えば特許文献2に開示されたものも知られている。   As a CDR circuit for adjusting response sensitivity, for example, the one disclosed in Patent Document 2 is known.

特開2005−150890号公報JP 2005-150890 A 特開2008−236735号公報JP 2008-236735 A

ところで、受信データには通常ジッタが含まれるため、各シリアルインタフェース毎に許容可能なジッタ量が規定されている。このようなシリアルインタフェースにおける受信装置では、上記許容量までのジッタを含む受信データを、正常に受信できなければならない。   Incidentally, since the received data usually includes jitter, an allowable jitter amount is defined for each serial interface. A receiving apparatus using such a serial interface must be able to normally receive received data including jitter up to the allowable amount.

ところが、上述したCDR回路では、位相差量のみに応じて応答感度が調整されている、すなわち、ある位相差量の場合には常に特定の応答感度に設定されている。このため、CDR回路では、例えば位相差量が小さい場合には、常に低い応答感度が設定されることになる。しかし、このように応答感度が低く設定されると、受信データのジッタ量が大きい場合には、そのジッタ量が上記許容量内であっても、受信データを正常に受信できなくなる虞がある。また、上記CDR回路では、位相差量が大きい場合には、常に高い応答感度が設定されることになる。しかし、このように応答感度が高く設定されると、受信データのジッタ量が小さい場合には過剰に位相が変動することになるため、クロックの安定性が悪化するという問題がある。   However, in the CDR circuit described above, the response sensitivity is adjusted only in accordance with the phase difference amount, that is, a specific response sensitivity is always set for a certain phase difference amount. For this reason, in the CDR circuit, for example, when the phase difference amount is small, a low response sensitivity is always set. However, when the response sensitivity is set to be low in this way, when the jitter amount of the received data is large, there is a possibility that the received data cannot be normally received even if the jitter amount is within the above allowable amount. In the CDR circuit, high response sensitivity is always set when the phase difference amount is large. However, when the response sensitivity is set high in this way, the phase will fluctuate excessively when the amount of jitter in the received data is small, resulting in a problem that the stability of the clock deteriorates.

受信装置で、受信特性を向上させることを目的とする。   An object of the receiving apparatus is to improve reception characteristics.

開示の受信装置は、受信データに基づいてクロックを生成するクロックデータリカバリ回路と、前記受信データのジッタ量に応じて、前記クロックデータリカバリ回路において前記受信データと前記クロックとの位相差をフィルタするフィルタ処理のゲインを設定する設定部とを有する。   A disclosed receiving device filters a clock data recovery circuit that generates a clock based on received data, and filters a phase difference between the received data and the clock in the clock data recovery circuit according to a jitter amount of the received data A setting unit for setting the gain of the filter processing.

開示の受信装置によれば、受信特性を向上させることができるという効果を奏する。   According to the disclosed receiving apparatus, it is possible to improve reception characteristics.

第1実施形態の受信装置を示すブロック図。The block diagram which shows the receiver of 1st Embodiment. フィルタ回路の回路構成例を示すブロック回路図。The block circuit diagram which shows the circuit structural example of a filter circuit. 第1実施形態のゲインパラメータの設定方法を示すフローチャート。5 is a flowchart illustrating a method for setting a gain parameter according to the first embodiment. (a)〜(f)CDR回路の特性を示す特性図。(A)-(f) The characteristic view which shows the characteristic of a CDR circuit. 第2実施形態の受信装置を示すブロック図。The block diagram which shows the receiver of 2nd Embodiment. 第2実施形態のゲインパラメータの設定方法を説明するための説明図。Explanatory drawing for demonstrating the setting method of the gain parameter of 2nd Embodiment. 第2実施形態のゲインパラメータの設定方法を示すフローチャート。The flowchart which shows the setting method of the gain parameter of 2nd Embodiment. 第2実施形態のゲインパラメータの設定方法を示すフローチャート。The flowchart which shows the setting method of the gain parameter of 2nd Embodiment. 第3実施形態の受信装置を示すブロック図。The block diagram which shows the receiver of 3rd Embodiment. 第4実施形態の受信装置を示すブロック図。The block diagram which shows the receiver of 4th Embodiment. ジッタ測定回路の構成例を示すブロック回路図。The block circuit diagram which shows the structural example of a jitter measurement circuit. ジッタ測定回路の動作を示す波形図。The wave form diagram which shows operation | movement of a jitter measurement circuit. ジッタ測定回路の動作を示す波形図。The wave form diagram which shows operation | movement of a jitter measurement circuit. 第4実施形態のゲインパラメータの設定方法を示すフローチャート。The flowchart which shows the setting method of the gain parameter of 4th Embodiment. ジッタ測定タイミングを説明するための説明図。Explanatory drawing for demonstrating a jitter measurement timing.

(第1実施形態)
以下、第1実施形態を図1〜図4に従って説明する。
受信装置は、レシーバ回路1と、クロックデータリカバリ回路(CDR回路)2と、ゲイン設定部3と、D−フリップフロップ回路(D−FF回路)4と、ロジック部5とを含む。
(First embodiment)
Hereinafter, the first embodiment will be described with reference to FIGS.
The receiving device includes a receiver circuit 1, a clock data recovery circuit (CDR circuit) 2, a gain setting unit 3, a D-flip flop circuit (D-FF circuit) 4, and a logic unit 5.

レシーバ回路1は、送信装置(図示略)から差動シリアルデータを受信する。このレシーバ回路1は、受信した差動シリアルデータの入力レベルからH/L判定して2値化したシリアルデータD1を生成するとともに、そのシリアルデータD1をCDR回路2とD−FF回路4に出力する。   The receiver circuit 1 receives differential serial data from a transmission device (not shown). The receiver circuit 1 generates H / L-judged serial data D1 from the input level of the received differential serial data and outputs the serial data D1 to the CDR circuit 2 and the D-FF circuit 4. To do.

CDR回路2は、シリアルデータ(受信データ)D1から抽出した抽出クロックCLKを生成する。なお、この抽出クロックCLKは、受信データD1に同期したクロックである。また、CDR回路2は、生成した抽出クロックCLKをD−FF回路4及びロジック部5に出力する。   The CDR circuit 2 generates an extracted clock CLK extracted from the serial data (received data) D1. The extracted clock CLK is a clock synchronized with the reception data D1. The CDR circuit 2 outputs the generated extracted clock CLK to the D-FF circuit 4 and the logic unit 5.

ゲイン設定部3は、受信データD1のジッタ量に応じて、CDR回路2内のフィルタ回路11のゲインパラメータ(ゲイン)G1を設定する。なお、このゲインパラメータG1が変更されると、CDR回路2の追従特性(受信データD1に対する追従特性)も変更される。すなわち、ゲイン設定部3は、受信データD1のジッタ量に応じて、CDR回路2の追従特性を設定する。   The gain setting unit 3 sets the gain parameter (gain) G1 of the filter circuit 11 in the CDR circuit 2 according to the jitter amount of the reception data D1. When the gain parameter G1 is changed, the tracking characteristic of the CDR circuit 2 (tracking characteristic with respect to the reception data D1) is also changed. That is, the gain setting unit 3 sets the tracking characteristic of the CDR circuit 2 according to the jitter amount of the reception data D1.

D−FF回路4は、そのデータ端子にはレシーバ回路1から受信データD1が入力されるとともに、クロック端子にはCDR回路2から抽出クロックCLKが入力される。このD−FF回路4は、抽出クロックCLKの立ち上がりエッジに同期して受信データD1をサンプリングし、そのサンプリングしたデータをリタイミングデータとしてロジック部5に出力する。   The D-FF circuit 4 receives the received data D1 from the receiver circuit 1 at its data terminal, and receives the extracted clock CLK from the CDR circuit 2 at its clock terminal. The D-FF circuit 4 samples the received data D1 in synchronization with the rising edge of the extracted clock CLK, and outputs the sampled data to the logic unit 5 as retiming data.

ロジック部5は、D−FF回路4からのリタイミングデータやCDR回路2からの抽出クロックCLKに基づいて各種処理を実行する。
次に、CDR回路2の内部構成について説明する。
The logic unit 5 executes various processes based on the retiming data from the D-FF circuit 4 and the extracted clock CLK from the CDR circuit 2.
Next, the internal configuration of the CDR circuit 2 will be described.

CDR回路2は、位相比較回路10と、フィルタ回路11と、位相補正制御回路12とを含む。
位相比較回路10は、受信データD1の位相と、位相補正制御回路12からフィードバックされる抽出クロックCLKの位相とを比較することにより、受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差を示す位相差情報D2を生成する。この位相比較回路10は、生成した位相差情報D2をフィルタ回路11とゲイン設定部3に出力する。具体的には、位相比較回路10は、受信データD1とその受信データD1から抽出した抽出クロックCLKとの間の位相進み/遅れを判定する。また、位相比較回路10は、その判定結果に基づいて、位相が進んでいる場合には+1、遅れている場合には−1というようにデータ化する。そして、位相比較回路10は、そのデータ化したデータを、内蔵する加算器で抽出クロックCLKの所定周期分(例えば10周期分)だけ加算したものをデジタルの位相差情報(位相コード)D2としてフィルタ回路11とゲイン設定部3に出力する。なお、この所定周期は、通信レート等に応じて設定される。
The CDR circuit 2 includes a phase comparison circuit 10, a filter circuit 11, and a phase correction control circuit 12.
The phase comparison circuit 10 compares the phase of the reception data D1 with the phase of the extraction clock CLK fed back from the phase correction control circuit 12, thereby indicating phase difference information indicating the phase difference between the reception data D1 and the extraction clock CLK. D2 is generated. The phase comparison circuit 10 outputs the generated phase difference information D2 to the filter circuit 11 and the gain setting unit 3. Specifically, the phase comparison circuit 10 determines the phase advance / delay between the reception data D1 and the extracted clock CLK extracted from the reception data D1. Further, based on the determination result, the phase comparison circuit 10 converts the data into +1 when the phase is advanced and -1 when the phase is delayed. Then, the phase comparison circuit 10 filters the data converted into digital phase difference information (phase code) D2 obtained by adding a predetermined period (for example, 10 periods) of the extracted clock CLK with a built-in adder. Output to the circuit 11 and the gain setting unit 3. This predetermined period is set according to the communication rate and the like.

フィルタ回路11は、位相差情報D2を累積平均化(フィルタリング)して位相制御コードD3を生成するとともに、その位相制御コードD3を位相補正制御回路12に出力する。なお、フィルタ回路11は、上記ゲイン設定部3にて設定されるゲインパラメータG1によって、その応答感度が設定される。また、このフィルタ回路11の応答感度がCDR回路2の追従特性に反映される。すなわち、フィルタ回路11のゲインパラメータG1によってCDR回路2の追従特性が決定される。   The filter circuit 11 cumulatively averages (filters) the phase difference information D2 to generate the phase control code D3 and outputs the phase control code D3 to the phase correction control circuit 12. The response sensitivity of the filter circuit 11 is set by the gain parameter G1 set by the gain setting unit 3. Further, the response sensitivity of the filter circuit 11 is reflected in the tracking characteristic of the CDR circuit 2. That is, the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is determined by the gain parameter G1 of the filter circuit 11.

位相補正制御回路12は、位相制御コードD3から0〜2πの任意の位相を持つ抽出クロックCLKを生成する。すなわち、位相補正制御回路12は、位相制御コードD3に基づいて抽出クロックCLKの位相を決定する。例えば位相制御コードD3が64通りのコードを取り得る場合、位相補正制御回路12は、このコードに応じて、0〜2πを64分割した位相条件のうち1つの位相条件のクロックを抽出クロックCLKとして生成する。そして、CDR回路2では、この抽出クロックCLKを位相比較回路10にフィードバックし、その抽出クロックCLKと受信データD1とを随時位相比較することで、抽出クロックCLKの位相が最適になるように制御している。   The phase correction control circuit 12 generates an extraction clock CLK having an arbitrary phase from 0 to 2π from the phase control code D3. That is, the phase correction control circuit 12 determines the phase of the extracted clock CLK based on the phase control code D3. For example, when the phase control code D3 can take 64 codes, the phase correction control circuit 12 uses the clock of one phase condition among the phase conditions obtained by dividing 0 to 2π into 64 as the extracted clock CLK according to this code. Generate. Then, the CDR circuit 2 feeds back the extracted clock CLK to the phase comparison circuit 10, and controls the phase of the extracted clock CLK so that the phase of the extracted clock CLK is optimal by comparing the phase of the extracted clock CLK with the received data D1 as needed. ing.

なお、CDR回路としてはPLL(Phase Locked Loop)が用いられることが多いが、上述した位相比較回路10、フィルタ回路11及び位相補正制御回路12は、PLLとは異なり、受信データD1から抽出クロックCLKを生成するための特有の回路である。特に、PLLの場合には抽出クロックCLKを生成するために発振回路(例えばVCO)が用いられるが、上記位相補正制御回路12は、フィルタ回路11の出力に応じて抽出クロックCLKの位相を決定する回路であり、発振回路とは異なる。   Note that a PLL (Phase Locked Loop) is often used as the CDR circuit, but the phase comparison circuit 10, the filter circuit 11, and the phase correction control circuit 12 described above are different from the PLL in that the extracted clock CLK is extracted from the received data D1. Is a unique circuit for generating In particular, in the case of a PLL, an oscillation circuit (for example, a VCO) is used to generate the extracted clock CLK. The phase correction control circuit 12 determines the phase of the extracted clock CLK according to the output of the filter circuit 11. It is a circuit and is different from an oscillation circuit.

次に、上記フィルタ回路11の内部構成例を図2に従って説明する。
図2に示すように、フィルタ回路11は、デジタルフィルタである。このフィルタ回路11は、乗算器31,32と、加算器33,34と、D−FF回路35,36とを含む。
Next, an example of the internal configuration of the filter circuit 11 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 2, the filter circuit 11 is a digital filter. The filter circuit 11 includes multipliers 31 and 32, adders 33 and 34, and D-FF circuits 35 and 36.

乗算器31には、位相比較回路10からの位相差情報D2と、固定のゲインパラメータGとが入力される。この乗算器31は、位相差情報D2にゲインパラメータGを乗算した乗算値を加算器33に出力する。加算器33は、乗算器31からの乗算値にD−FF回路35の出力信号を加算するとともに、その加算値をD−FF回路35のデータ端子に出力する。このD−FF回路35のクロック端子には、抽出クロックCLKを所定周期分(例えば10周期分)分周したクロック信号CLKDFが入力される。このため、D−FF回路35は、加算器33から入力する加算値をクロック信号CLKDFに同期して加算器33,34に出力する。   The multiplier 31 receives the phase difference information D2 from the phase comparison circuit 10 and the fixed gain parameter G. The multiplier 31 outputs a multiplication value obtained by multiplying the phase difference information D2 by the gain parameter G to the adder 33. The adder 33 adds the output signal of the D-FF circuit 35 to the multiplication value from the multiplier 31 and outputs the addition value to the data terminal of the D-FF circuit 35. A clock signal CLKDF obtained by dividing the extracted clock CLK by a predetermined period (for example, 10 periods) is input to the clock terminal of the D-FF circuit 35. Therefore, the D-FF circuit 35 outputs the addition value input from the adder 33 to the adders 33 and 34 in synchronization with the clock signal CLKDF.

一方、乗算器32には、位相比較回路10からの位相差情報D2と上記ゲイン設定部3によって設定されるゲインパラメータG1とが入力される。この乗算器32は、位相差情報D2にゲインパラメータG1を乗算した乗算値を加算器34に出力する。   On the other hand, the multiplier 32 receives the phase difference information D2 from the phase comparison circuit 10 and the gain parameter G1 set by the gain setting unit 3. The multiplier 32 outputs a multiplication value obtained by multiplying the phase difference information D2 by the gain parameter G1 to the adder 34.

加算器34には、D−FF回路35の出力信号及び乗算器32からの乗算値と併せて、D−FF回路36の出力信号が入力される。この加算器34は、これらD−FF回路35,36の出力信号と乗算器32からの乗算値とを加算するとともに、その加算値をD−FF回路36のデータ端子に出力する。このD−FF回路36のクロック端子には上記クロック信号CLKDFが入力される。このため、D−FF回路36は、加算器34からの加算値を、クロック信号CLKDFに同期して上記位相制御コードD3として位相補正制御回路12に出力する。   The output signal of the D-FF circuit 36 is input to the adder 34 together with the output signal of the D-FF circuit 35 and the multiplication value from the multiplier 32. The adder 34 adds the output signals of the D-FF circuits 35 and 36 and the multiplication value from the multiplier 32 and outputs the addition value to the data terminal of the D-FF circuit 36. The clock signal CLKDF is input to the clock terminal of the D-FF circuit 36. Therefore, the D-FF circuit 36 outputs the added value from the adder 34 to the phase correction control circuit 12 as the phase control code D3 in synchronization with the clock signal CLKDF.

このように構成されたフィルタ回路11は、ゲインパラメータG,G1によって設定される応答感度に従って、位相差情報D2を抽出クロックCLKの所定周期分(本例では10周期分)で累積平均化して位相制御コードD3を生成する。ここで、ゲイン設定部3によってゲインパラメータG1が高く設定されると、フィルタ回路11の応答感度が高くなる。これに伴って、CDR回路2の追従特性も大きくなる。この点について詳述すると、フィルタ回路11では、ゲインパラメータG1に応じて、乗算器32の乗算値が変化し、位相制御コードD3も変化する。すなわち、フィルタ回路11に入力される位相差情報D2が同じ値であっても、ゲインパラメータG1が高いほど、位相制御コードD3が大きくなる。これに伴って位相補正制御回路12において、1回の位相制御における抽出クロックCLKの位相変動量が大きくなる。このため、フィルタ回路11のゲインパラメータG1が高くなるほど、CDR回路2の追従特性が大きくなる。同様に、フィルタ回路11のゲインパラメータG1が低くなるほど、CDR回路2の追従特性が小さくなる。   The filter circuit 11 configured in this way accumulates and averages the phase difference information D2 for a predetermined period (10 periods in this example) of the extracted clock CLK according to the response sensitivity set by the gain parameters G and G1. A control code D3 is generated. Here, when the gain parameter G1 is set high by the gain setting unit 3, the response sensitivity of the filter circuit 11 becomes high. Along with this, the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 also increases. More specifically, in the filter circuit 11, the multiplication value of the multiplier 32 changes and the phase control code D3 also changes according to the gain parameter G1. That is, even if the phase difference information D2 input to the filter circuit 11 has the same value, the phase control code D3 increases as the gain parameter G1 increases. As a result, the phase correction control circuit 12 increases the amount of phase fluctuation of the extracted clock CLK in one phase control. For this reason, as the gain parameter G1 of the filter circuit 11 increases, the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 increases. Similarly, the tracking characteristic of the CDR circuit 2 becomes smaller as the gain parameter G1 of the filter circuit 11 becomes lower.

次に、ゲイン設定部3の内部構成例について図1に従って説明する。
ゲイン設定部3は、受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量を監視(モニタ)することで、上記ゲインパラメータG1に対する受信データD1のジッタ量の大小を判断し、そのジッタ量に応じたゲインパラメータG1を設定する。具体的には、ゲイン設定部3は、位相差量が所定の基準値以上の場合に、ゲインパラメータG1の初期値に基づいて上記位相差が小さくなるようにゲインパラメータG1を変更する。このゲイン設定部3は、演算回路21と、比較回数レジスタ22と、基準値レジスタ23と、判定回路24とを含む。
Next, an example of the internal configuration of the gain setting unit 3 will be described with reference to FIG.
The gain setting unit 3 monitors the amount of phase difference between the reception data D1 and the extracted clock CLK, thereby determining the magnitude of the jitter amount of the reception data D1 with respect to the gain parameter G1, and according to the jitter amount. Set the gain parameter G1. Specifically, the gain setting unit 3 changes the gain parameter G1 so that the phase difference is reduced based on the initial value of the gain parameter G1 when the phase difference amount is equal to or greater than a predetermined reference value. The gain setting unit 3 includes an arithmetic circuit 21, a comparison number register 22, a reference value register 23, and a determination circuit 24.

演算回路21には、上記位相比較回路10から位相差情報D2が入力されるとともに、比較回数レジスタ22から設定回数Mが入力される。この演算回路21は、設定回数M回(例えば10回)分の位相差情報D2の平均値AVEを算出するとともに、その平均値AVEを判定回路24に出力する。なお、演算回路21は、内蔵のカウンタ21aのカウント動作に基づいて、位相比較回数が上記設定回数Mに達したか否かを判定する。   The arithmetic circuit 21 receives the phase difference information D 2 from the phase comparison circuit 10 and the set number M from the comparison number register 22. The arithmetic circuit 21 calculates an average value AVE of the phase difference information D2 for the set number of times M (for example, 10 times), and outputs the average value AVE to the determination circuit 24. The arithmetic circuit 21 determines whether or not the number of phase comparisons has reached the set number M based on the counting operation of the built-in counter 21a.

基準値レジスタ23には、予め設定された位相差量の基準値T1が格納されている。この基準値T1は、上記位相差情報D2の平均値AVEがゲインパラメータG1を変更するレベルか否かを判定するための閾値である。   The reference value register 23 stores a reference value T1 of a preset phase difference amount. The reference value T1 is a threshold value for determining whether or not the average value AVE of the phase difference information D2 is at a level for changing the gain parameter G1.

判定回路24は、位相差情報D2の平均値AVEと、基準値レジスタ23からの基準値T1とを比較した比較結果に基づいて、上記フィルタ回路11のゲインパラメータG1を設定する。具体的には、判定回路24は、平均値AVEが基準値T1未満の場合にはゲインパラメータG1を変更しない。その一方で、判定回路24は、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、その平均値AVEが小さくなるようにゲインパラメータG1を変更する。そして、判定回路24は、設定したゲインパラメータG1をフィルタ回路11に出力する。なお、本実施形態におけるゲインパラメータG1の初期値は、CDR回路2の追従特性が小さくなるように低い値に設定されている(図4(a)参照)。   The determination circuit 24 sets the gain parameter G1 of the filter circuit 11 based on the comparison result obtained by comparing the average value AVE of the phase difference information D2 with the reference value T1 from the reference value register 23. Specifically, the determination circuit 24 does not change the gain parameter G1 when the average value AVE is less than the reference value T1. On the other hand, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the determination circuit 24 changes the gain parameter G1 so that the average value AVE becomes small. Then, the determination circuit 24 outputs the set gain parameter G1 to the filter circuit 11. Note that the initial value of the gain parameter G1 in the present embodiment is set to a low value so that the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 becomes small (see FIG. 4A).

ところで、位相比較回路10における受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量(位相差情報D2)は、受信データD1のジッタ量と、ゲインパラメータG1で決定されるCDR回路2の追従特性との関係が適切でない場合に、その値が大きくなる。具体的には、受信データD1のジッタ量が大きいにも関わらず、ゲインパラメータG1が低い場合(CDR回路2の追従特性が小さい場合)に、位相差情報D2が大きくなる。反対に、受信データD1のジッタ量が小さいにも関わらず、ゲインパラメータG1が高い場合(CDR回路2の追従特性が大きい場合)にも、位相差情報D2が大きくなる。   By the way, the phase difference amount (phase difference information D2) between the reception data D1 and the extracted clock CLK in the phase comparison circuit 10 is the jitter amount of the reception data D1 and the tracking characteristic of the CDR circuit 2 determined by the gain parameter G1. The value increases when the relationship is not appropriate. Specifically, the phase difference information D2 becomes large when the gain parameter G1 is low (when the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is small) even though the jitter amount of the reception data D1 is large. On the contrary, the phase difference information D2 becomes large even when the gain parameter G1 is high (when the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 is large) although the amount of jitter of the reception data D1 is small.

このため、上記判定回路24は、位相差情報D2の平均値AVEが基準値T1以上か否かを判定することによって、受信データD1のジッタ量とゲインパラメータG1で決定されるCDR回路2の追従特性との関係が適切であるか否かを判定している。このとき、上述のようにゲインパラメータG1の初期値が低く設定されているため、位相差情報D2の平均値AVEが基準値T1以上になった場合には、それが受信データD1のジッタ量が大きいことに起因していると判定することができる。すなわち、低く設定されたゲインパラメータG1(の初期値)に対する受信データD1のジッタ量が大きいために、平均値AVEが基準値T1以上になっていると判断することができる。そこで、本実施形態の判定回路24は、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、その平均値AVE(位相差量)が小さくなるようにゲインパラメータG1を上げる。この変更に伴ってCDR回路2の追従特性が大きくなるように変更されるため、その追従特性が受信データD1のジッタ量に対して適切な値に近づくことになる。   For this reason, the determination circuit 24 determines whether the average value AVE of the phase difference information D2 is equal to or greater than the reference value T1, thereby tracking the CDR circuit 2 determined by the jitter amount of the reception data D1 and the gain parameter G1. It is determined whether the relationship with the characteristic is appropriate. At this time, since the initial value of the gain parameter G1 is set low as described above, when the average value AVE of the phase difference information D2 is equal to or greater than the reference value T1, this is the amount of jitter of the reception data D1. It can be determined that this is due to the large size. That is, since the jitter amount of the received data D1 with respect to the gain parameter G1 (its initial value) set low is large, it can be determined that the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1. Therefore, when the average value AVE is greater than or equal to the reference value T1, the determination circuit 24 according to the present embodiment increases the gain parameter G1 so that the average value AVE (phase difference amount) becomes small. With this change, the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is changed so as to increase, so that the tracking characteristic approaches an appropriate value with respect to the jitter amount of the reception data D1.

次に、このように構成された受信装置におけるゲインパラメータG1(CDR回路2の追従特性)の設定方法を図3及び図4に従って説明する。
まず、通信を開始する前に、演算回路21と、カウンタ21aと、ゲインパラメータG1の初期化が行われる(ステップS1)。このときのゲインパラメータG1の初期値は、CDR回路2の追従特性が小さくなるように低い値に設定される。その後、通信が開始されるまで待ち(ステップS2)、通信が開始されると(ステップS2でYES)、位相比較回路10において受信データD1の位相と抽出クロックCLKの位相とが比較される(ステップS3)。
Next, a method for setting the gain parameter G1 (tracking characteristic of the CDR circuit 2) in the receiving apparatus configured as described above will be described with reference to FIGS.
First, before starting communication, the arithmetic circuit 21, the counter 21a, and the gain parameter G1 are initialized (step S1). The initial value of the gain parameter G1 at this time is set to a low value so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 becomes small. Thereafter, it waits until communication is started (step S2). When communication is started (YES in step S2), the phase of the received data D1 is compared with the phase of the extraction clock CLK in the phase comparison circuit 10 (step S2). S3).

次に、その位相比較の回数が設定回数M回未満である場合には(ステップS4でNO)、カウンタ21aをカウントアップし(ステップS5)、ステップS3に戻る。一方、位相比較の回数が設定回数M回に達した場合には(ステップS4でYES)、演算回路21において、そのM回分の位相差情報D2(位相差量)の平均値AVEが算出される(ステップS6)。   Next, when the number of phase comparisons is less than the set number M (NO in step S4), the counter 21a is incremented (step S5), and the process returns to step S3. On the other hand, when the number of phase comparisons reaches the set number M (YES in step S4), the arithmetic circuit 21 calculates an average value AVE of the M phase difference information D2 (phase difference amount). (Step S6).

続いて、判定回路24において、上記平均値AVEが基準値T1以上か否かが判定される(ステップS7)。換言すると、ステップS7において、受信データD1のジッタ量に対する現在のゲインパラメータG1(ここでは初期値)が適切な値であるか否かが判定される。このとき、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、判定回路24は、ゲインパラメータG1の初期値に対する受信データD1のジッタ量が大きいと判定する、つまり受信データD1のジッタ量に対するゲインパラメータG1が低いと判定する。この点について以下に詳述する。   Subsequently, in the determination circuit 24, it is determined whether or not the average value AVE is greater than or equal to the reference value T1 (step S7). In other words, in step S7, it is determined whether or not the current gain parameter G1 (here, the initial value) with respect to the jitter amount of the reception data D1 is an appropriate value. At this time, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the determination circuit 24 determines that the jitter amount of the reception data D1 with respect to the initial value of the gain parameter G1 is large, that is, the gain parameter for the jitter amount of the reception data D1. It is determined that G1 is low. This point will be described in detail below.

本実施形態では、ゲインパラメータG1の初期値を低く設定し、位相差情報D2の平均値AVEをジッタ量としてモニタすることで、その設定したゲインパラメータG1と受信データD1のジッタ量との関係が適切であるか否かを判定している。言い換えれば、ゲインパラメータG1の初期値を低く設定することで、受信データD1のジッタ量に対して位相差情報D2が比例的に変化するようにし、位相差情報D2を受信データD1のジッタ量としてモニタすることができるようにしている。具体的には、ゲインパラメータG1の初期値を低く設定しているため、受信データD1のジッタ量が大きくなると位相差情報D2が大きくなる一方で、受信データD1のジッタ量が小さくなると位相差情報D2が小さくなる。このため、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、上述のように、ゲインパラメータG1の初期値に対する受信データD1のジッタ量が大きいと判定する、つまり受信データD1のジッタ量に対するゲインパラメータG1が低いと判定することができる。   In this embodiment, the initial value of the gain parameter G1 is set low, and the average value AVE of the phase difference information D2 is monitored as the jitter amount, so that the relationship between the set gain parameter G1 and the jitter amount of the received data D1 is obtained. Judging whether it is appropriate or not. In other words, by setting the initial value of the gain parameter G1 low, the phase difference information D2 changes in proportion to the jitter amount of the reception data D1, and the phase difference information D2 is used as the jitter amount of the reception data D1. It can be monitored. Specifically, since the initial value of the gain parameter G1 is set low, the phase difference information D2 increases as the jitter amount of the reception data D1 increases, while the phase difference information decreases as the jitter amount of the reception data D1 decreases. D2 becomes smaller. Therefore, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, as described above, it is determined that the jitter amount of the reception data D1 with respect to the initial value of the gain parameter G1 is large, that is, the gain parameter for the jitter amount of the reception data D1. It can be determined that G1 is low.

そこで、上記平均値AVEが基準値T1以上の場合には(ステップS7でYES)、判定回路24は、図4(a)の破線矢印のようにゲインパラメータG1を上げる(ステップS8)ことで、CDR回路2の追従特性を大きくする。これにより、受信データD1のジッタ量に対してCDR回路2の追従特性が適切な値に近づくため、受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量(平均値AVE)が小さくなる。このように、判定回路24は、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、その平均値AVEが小さくなるようにゲインパラメータG1を変更する。その後、演算回路21及びカウンタ21aがリセットされ(ステップS9)、ステップS3に戻る。   Therefore, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1 (YES in step S7), the determination circuit 24 increases the gain parameter G1 as indicated by the broken line arrow in FIG. 4A (step S8). The follow-up characteristic of the CDR circuit 2 is increased. As a result, the tracking characteristic of the CDR circuit 2 approaches an appropriate value with respect to the jitter amount of the reception data D1, so that the phase difference amount (average value AVE) between the reception data D1 and the extracted clock CLK becomes small. As described above, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the determination circuit 24 changes the gain parameter G1 so that the average value AVE becomes small. Thereafter, the arithmetic circuit 21 and the counter 21a are reset (step S9), and the process returns to step S3.

すると、ステップS3〜S6が再度実行され、受信データD1と上記ステップS8で変更されたゲインパラメータG1で決定されるCDR回路2の追従特性に従って生成された抽出クロックCLKとの位相差量(位相差情報D2)の平均値AVEが算出される。続いて、この算出された平均値AVEが基準値T1以上か否かが判定される(ステップS7)。すなわち、上記ステップS8で変更されたゲインパラメータG1と受信データD1のジッタ量との関係が適切であるか否かが判定される。このとき、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、判定回路24は、現在のゲインパラメータG1に対する受信データD1のジッタ量が大きいために両者の関係が適切でないと判定する。そこで、判定回路24は、位相差情報D2の平均値AVEが小さくなるように、図4(a)の破線矢印のようにゲインパラメータG1を更に上げる(ステップS8)。   Then, steps S3 to S6 are executed again, and the phase difference amount (phase difference) between the received data D1 and the extracted clock CLK generated according to the tracking characteristic of the CDR circuit 2 determined by the gain parameter G1 changed in step S8. An average value AVE of information D2) is calculated. Subsequently, it is determined whether or not the calculated average value AVE is greater than or equal to the reference value T1 (step S7). That is, it is determined whether or not the relationship between the gain parameter G1 changed in step S8 and the jitter amount of the received data D1 is appropriate. At this time, if the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the determination circuit 24 determines that the relationship between the two is not appropriate because the amount of jitter of the received data D1 with respect to the current gain parameter G1 is large. Therefore, the determination circuit 24 further increases the gain parameter G1 as indicated by the broken line arrow in FIG. 4A so that the average value AVE of the phase difference information D2 becomes small (step S8).

これ以降も、ステップS7において位相差量の平均値AVEが基準値T1未満となるまで、ステップS3〜S9の処理が繰り返し実行される。すなわち、位相差量の平均値AVEの算出(ステップS3〜S6)、平均値AVEと基準値T1との比較(ステップS7)、及びゲインパラメータG1を上げる(ステップS8,S9)という処理が繰り返し実行される。このような一連の処理によって、ゲインパラメータG1が徐々に高くなるように変更され、CDR回路2の追従特性が受信データD1のジッタ量に対する適切な値に徐々に近づくとともに、位相差量の平均値AVEが徐々に小さくなる。   Thereafter, the processes in steps S3 to S9 are repeatedly executed until the average value AVE of the phase difference amount becomes less than the reference value T1 in step S7. That is, the process of calculating the average value AVE of the phase difference amount (steps S3 to S6), comparing the average value AVE with the reference value T1 (step S7), and increasing the gain parameter G1 (steps S8 and S9) is repeatedly executed. Is done. Through such a series of processing, the gain parameter G1 is changed so as to gradually increase, and the tracking characteristic of the CDR circuit 2 gradually approaches an appropriate value for the jitter amount of the received data D1, and the average value of the phase difference amount AVE gradually decreases.

そして、平均値AVEが基準値T1よりも小さくなると(ステップS7でNO)、判定回路24は、現在のゲインパラメータG1と受信データD1のジッタ量との関係が適切であると判定し、ゲインパラメータG1を変更せずに処理を終了する。すなわち、このときに受信データD1のジッタ量に応じた適切なゲインパラメータG1が設定され、受信データD1のジッタ量に対して適切なCDR回路2の追従特性が設定されたことになる。例えば図4(b)に示すように、受信データD1のジッタ量が大きくなるほどゲインパラメータG1が高く設定されることになる。このように受信データD1のジッタ量に応じてゲインパラメータG1が設定されると、図4(c)に示すように、受信データD1のジッタ量に関わらず、位相差量の平均値AVEが常に基準値T1よりも小さくなる(ハッチング参照)。   When the average value AVE is smaller than the reference value T1 (NO in step S7), the determination circuit 24 determines that the relationship between the current gain parameter G1 and the jitter amount of the received data D1 is appropriate, and the gain parameter The process ends without changing G1. That is, at this time, an appropriate gain parameter G1 corresponding to the jitter amount of the reception data D1 is set, and an appropriate tracking characteristic of the CDR circuit 2 is set for the jitter amount of the reception data D1. For example, as shown in FIG. 4B, the gain parameter G1 is set higher as the jitter amount of the received data D1 increases. When the gain parameter G1 is set according to the jitter amount of the reception data D1 in this way, as shown in FIG. 4C, the average value AVE of the phase difference amount is always set regardless of the jitter amount of the reception data D1. It becomes smaller than the reference value T1 (see hatching).

以上説明した本実施形態によれば、以下の効果を奏することができる。
(1)従来のCDR回路の場合には、図4(d)に示すように、応答感度(ゲイン)が受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量に対して一対一で対応づけられている。すなわち、従来のCDR回路のゲインは、図4(e)、(f)に示すように、受信データのジッタ量に関わらず、位相差量のみに応じて設定されている。このため、図4(e)に示すように、受信データのジッタ量が同じであっても(破線参照)、位相差量が変動すればゲインも変動することになる。このような従来のCDR回路では、受信データのジッタ量が小さいとき(図4(f)の破線矢印参照)にゲインが高く設定されていることに起因して位相差量が大きくなっている場合(一点鎖線矢印参照)であっても、その位相差量に応じてゲインが更に高く設定されることになる(太矢印参照)。すると、受信データのジッタ量とゲインとの関係が益々悪化し、位相差量が更に大きくなるという問題がある。なお、この問題は、仮にゲインと位相差量とが図4(d)の破線で示すような非線形の関係であっても同様に生じる。
According to this embodiment described above, the following effects can be obtained.
(1) In the case of the conventional CDR circuit, as shown in FIG. 4D, the response sensitivity (gain) is associated with the phase difference amount between the reception data D1 and the extracted clock CLK on a one-to-one basis. Yes. That is, as shown in FIGS. 4E and 4F, the gain of the conventional CDR circuit is set according to only the phase difference amount regardless of the jitter amount of the received data. For this reason, as shown in FIG. 4 (e), even if the jitter amount of the received data is the same (see the broken line), the gain also varies if the phase difference amount varies. In such a conventional CDR circuit, when the amount of jitter of received data is small (see the broken line arrow in FIG. 4 (f)), the phase difference amount is large due to the fact that the gain is set high. Even in the case of (see the one-dot chain line arrow), the gain is set higher according to the phase difference amount (see the thick arrow). Then, there is a problem that the relationship between the jitter amount and gain of the received data gets worse and the phase difference amount further increases. This problem similarly occurs even if the gain and the phase difference amount have a non-linear relationship as indicated by a broken line in FIG.

これに対し、本実施形態のゲイン設定部3では、受信データD1のジッタ量に応じてCDR回路2内のフィルタ回路11のゲインパラメータG1を設定するようにした。これにより、受信データD1のジッタ量に適したゲインパラメータG1を設定することができる。ひいては、受信データD1のジッタ量に適したCDR回路2の追従特性を設定することができる。これにより、ジッタ量に関わらず、受信データD1を正常に受信することができ、受信特性(ジッタ耐性)を向上させることができる。   On the other hand, in the gain setting unit 3 of the present embodiment, the gain parameter G1 of the filter circuit 11 in the CDR circuit 2 is set according to the jitter amount of the reception data D1. Thereby, the gain parameter G1 suitable for the jitter amount of the reception data D1 can be set. As a result, it is possible to set the tracking characteristic of the CDR circuit 2 suitable for the jitter amount of the received data D1. Accordingly, the reception data D1 can be normally received regardless of the jitter amount, and the reception characteristics (jitter tolerance) can be improved.

さらに言えば、上記構成によれば、従来のCDR回路のようにジッタ量が大きいにも関わらずゲインパラメータG1が低く設定されたり、ジッタ量が小さいにも関わらずゲインパラメータG1が高く設定されたりすることが抑制される。このため、上述した従来のCDR回路で発生するいずれの問題についても、その発生を抑制することができる。   Further, according to the above configuration, the gain parameter G1 is set low despite the large amount of jitter as in the conventional CDR circuit, or the gain parameter G1 is set high despite the small amount of jitter. Is suppressed. Therefore, the occurrence of any problem that occurs in the above-described conventional CDR circuit can be suppressed.

(2)受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量をジッタ量としてモニタし、その位相差量に応じてフィルタ回路11のゲインパラメータG1を設定するようにした。これによれば、従来のCDR回路にも含まれる位相比較回路で生成される位相差情報D2に基づいて、ゲインパラメータG1を設定することができる。したがって、ジッタ量をモニタするための回路規模の増大を抑制することができる。   (2) The phase difference amount between the received data D1 and the extracted clock CLK is monitored as a jitter amount, and the gain parameter G1 of the filter circuit 11 is set according to the phase difference amount. According to this, the gain parameter G1 can be set based on the phase difference information D2 generated by the phase comparison circuit included in the conventional CDR circuit. Therefore, an increase in the circuit scale for monitoring the jitter amount can be suppressed.

(3)受信データD1と抽出クロックCLKの位相差量をジッタ量としてモニタし、ゲインパラメータG1の初期値に基づいてその位相差量が小さくなるようにゲインパラメータG1を変更するようにした。ここで、上記位相差量は、受信データD1のジッタ量とゲインパラメータG1(CDR回路2の追従特性)との関係が適切であればその値が小さくなる。このため、位相差量が小さくなるようにゲインパラメータG1を変更すれば、自ずとゲインパラメータG1がジッタ量に対して適切な値に設定されることになる。したがって、この構成によれば、簡便な制御構成によってゲインパラメータG1を適切に設定することができる。   (3) The phase difference amount between the received data D1 and the extracted clock CLK is monitored as a jitter amount, and the gain parameter G1 is changed so that the phase difference amount becomes small based on the initial value of the gain parameter G1. Here, if the relationship between the jitter amount of the received data D1 and the gain parameter G1 (following characteristic of the CDR circuit 2) is appropriate, the phase difference amount becomes small. For this reason, if the gain parameter G1 is changed so as to reduce the phase difference amount, the gain parameter G1 is naturally set to an appropriate value with respect to the jitter amount. Therefore, according to this configuration, the gain parameter G1 can be appropriately set with a simple control configuration.

(4)CDR回路2の追従特性が小さくなるようにゲインパラメータG1の初期値を低く設定することで、受信データD1のジッタ量に対して位相差情報D2が比例的に変化するようにした。これにより、位相差情報D2を受信データD1のジッタ量としてモニタすることができる。   (4) By setting the initial value of the gain parameter G1 to be low so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 becomes small, the phase difference information D2 changes in proportion to the jitter amount of the reception data D1. Thereby, the phase difference information D2 can be monitored as the jitter amount of the reception data D1.

(5)位相差情報D2の平均値AVEを算出し、その平均値AVEと基準値T1とを比較するようにした。これにより、位相差情報D2と基準値T1とを比較する場合に比べて、ゲインパラメータG1の変更制御の精度を向上させることができる。すなわち、位相差情報D2と基準値T1とを直接比較する場合には、位相差情報D2が単発的に基準値T1よりも大きくなった場合であってもゲインパラメータG1を変更することになるが、平均値AVEを算出する場合にはこのような問題を回避することができる。   (5) The average value AVE of the phase difference information D2 is calculated, and the average value AVE is compared with the reference value T1. Thereby, compared with the case where phase difference information D2 and reference value T1 are compared, the accuracy of change control of gain parameter G1 can be improved. That is, when the phase difference information D2 and the reference value T1 are directly compared, the gain parameter G1 is changed even when the phase difference information D2 is larger than the reference value T1. Such a problem can be avoided when the average value AVE is calculated.

(第2実施形態)
以下、第2実施形態について、図5〜図8に従って説明する。この実施形態の受信装置は、ゲイン設定部3aの内部構成が上記第1実施形態と異なっている。以下、第1実施形態との相違点を中心に説明する。なお、先の図1〜図4に示した部材と同様の部材にはそれぞれ同一の符号を付して示し、それら各要素についての詳細な説明は省略する。
(Second Embodiment)
Hereinafter, the second embodiment will be described with reference to FIGS. In the receiving apparatus of this embodiment, the internal configuration of the gain setting unit 3a is different from that of the first embodiment. Hereinafter, the difference from the first embodiment will be mainly described. In addition, the same code | symbol is attached | subjected and shown to the member similar to the member shown to previous FIGS. 1-4, and detailed description about each of these elements is abbreviate | omitted.

ゲイン設定部3aは、受信データD1と抽出クロックCLKとの位相差量をモニタすることで、上記ゲインパラメータG1に対する受信データD1のジッタ量の大小を判断し、そのジッタ量に応じたゲインパラメータG1を設定する。さらに、ゲイン設定部3aは、装置の動作状態等によって受信データD1のジッタ量が変動した場合に、その変動したジッタ量に応じたゲインパラメータG1を設定する。具体的には、ゲイン設定部3aは、位相差量が基準値T1以上の場合に、ゲインパラメータG1の変更前後における上記位相差量の変化に基づいてその位相差量が小さくなるようにゲインパラメータG1を変更する。   The gain setting unit 3a determines the magnitude of the jitter amount of the reception data D1 with respect to the gain parameter G1 by monitoring the phase difference amount between the reception data D1 and the extracted clock CLK, and the gain parameter G1 corresponding to the jitter amount. Set. Further, when the jitter amount of the received data D1 varies depending on the operating state of the apparatus, the gain setting unit 3a sets a gain parameter G1 corresponding to the varied jitter amount. Specifically, when the phase difference amount is equal to or greater than the reference value T1, the gain setting unit 3a sets the gain parameter so that the phase difference amount becomes small based on the change in the phase difference amount before and after the change of the gain parameter G1. Change G1.

このゲイン設定部3aは、図5に示すように、演算回路21と、比較回数レジスタ22と、基準値レジスタ23と、第1判定回路25と、カレントレジスタ26と、プレレジスタ27と、第2判定回路28と、セレクタ29とを含む。   As shown in FIG. 5, the gain setting unit 3a includes an arithmetic circuit 21, a comparison number register 22, a reference value register 23, a first determination circuit 25, a current register 26, a pre-register 27, a second register A determination circuit 28 and a selector 29 are included.

演算回路21は、位相差情報D2の平均値AVEを算出するとともに、その平均値AVEを第1判定回路25とカレントレジスタ26に出力する。
第1判定回路25は、位相差情報D2の平均値AVEと、基準値レジスタ23からの基準値T1とを比較した比較結果に基づいて、ゲインパラメータG1aを設定するとともに、そのゲインパラメータG1aをセレクタ29に出力する。具体的には、第1判定回路25は、平均値AVEが基準値T1以上の場合にはゲインパラメータG1aを変更する一方で、平均値AVEが基準値T1未満の場合にはゲインパラメータG1aを変更しない。また、第1判定回路25は、平均値AVEが基準値T1以上か否かを示す判定信号JSを第2判定回路28に出力する。なお、ゲインパラメータG1aの初期値は、任意の値(例えば設定範囲の中心値)に設定されている。
The arithmetic circuit 21 calculates the average value AVE of the phase difference information D2 and outputs the average value AVE to the first determination circuit 25 and the current register 26.
The first determination circuit 25 sets the gain parameter G1a based on the comparison result obtained by comparing the average value AVE of the phase difference information D2 and the reference value T1 from the reference value register 23, and selects the gain parameter G1a from the selector. 29. Specifically, the first determination circuit 25 changes the gain parameter G1a when the average value AVE is greater than or equal to the reference value T1, while changing the gain parameter G1a when the average value AVE is less than the reference value T1. do not do. The first determination circuit 25 outputs a determination signal JS indicating whether or not the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1 to the second determination circuit 28. The initial value of the gain parameter G1a is set to an arbitrary value (for example, the center value of the setting range).

カレントレジスタ26は、直近の位相差情報D2の平均値AVEを保持するレジスタである。このカレントレジスタ26には、演算回路21において平均値AVEが算出されるたびに、その算出された平均値AVEが書き込まれる。カレントレジスタ26は、保持した直近の平均値AVEをカレント平均値AVE1としてプレレジスタ27と第2判定回路28に出力する。   The current register 26 is a register that holds the average value AVE of the latest phase difference information D2. Each time the average value AVE is calculated in the arithmetic circuit 21, the calculated average value AVE is written into the current register 26. The current register 26 outputs the last average value AVE held as the current average value AVE1 to the pre-register 27 and the second determination circuit 28.

プレレジスタ27は、1つ前の位相差情報D2の平均値AVEを保持するレジスタである。このプレレジスタ27には、演算回路21において平均値AVEが算出されるたびに、カレントレジスタ26から出力されるカレント平均値AVE1が書き込まれる。プレレジスタ27は、保持した平均値AVE1(1つ前の平均値AVE)をプレ平均値AVE2として第2判定回路28に出力する。   The pre-register 27 is a register that holds the average value AVE of the previous phase difference information D2. Each time the average value AVE is calculated in the arithmetic circuit 21, the current average value AVE1 output from the current register 26 is written in the pre-register 27. The pre-register 27 outputs the held average value AVE1 (the previous average value AVE) to the second determination circuit 28 as the pre-average value AVE2.

第2判定回路28は、第1判定回路25からの判定信号JSと、カレント平均値AVE1と、プレ平均値AVE2と、ゲインパラメータG1の前回制御情報とに基づいて、ゲインパラメータG1bを設定する。そして、第2判定回路28は、設定したゲインパラメータG1bをセレクタ29に出力する。なお、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1(ゲインパラメータG1a,G1b)が前回どのように変更制御されたかを示す前回制御情報を保持するレジスタ28aを含む。   The second determination circuit 28 sets the gain parameter G1b based on the determination signal JS from the first determination circuit 25, the current average value AVE1, the pre-average value AVE2, and the previous control information of the gain parameter G1. Then, the second determination circuit 28 outputs the set gain parameter G1b to the selector 29. The second determination circuit 28 includes a register 28a that holds previous control information indicating how the gain parameter G1 (gain parameters G1a, G1b) was changed and controlled last time.

この第2判定回路28は、その時々で変動する受信データD1のジッタ量に応じて、そのジッタ量に適するようにゲインパラメータG1bを設定する。詳述すると、第2判定回路28は、受信データD1のジッタ量に対してゲインパラメータG1が適切に設定されている場合には、ゲインパラメータG1bを変更しない。具体的には、第2判定回路28は、平均値AVE(カレント平均値AVE1)が基準値T1未満であることを示す判定信号JSが入力される場合には、ゲインパラメータG1bを変更しない。   The second determination circuit 28 sets the gain parameter G1b according to the jitter amount of the reception data D1 that varies from time to time so as to be suitable for the jitter amount. Specifically, the second determination circuit 28 does not change the gain parameter G1b when the gain parameter G1 is appropriately set with respect to the jitter amount of the reception data D1. Specifically, the second determination circuit 28 does not change the gain parameter G1b when the determination signal JS indicating that the average value AVE (current average value AVE1) is less than the reference value T1 is input.

その一方で、第2判定回路28は、受信データD1のジッタ量に対してゲインパラメータG1が適切に設定されていない場合には、位相差情報D2(ジッタ量)に応じて、その位相差情報D2が小さくなるようにゲインパラメータG1bを変更する。具体的には、第2判定回路28は、平均値AVEが基準値T1以上であることを示す判定信号JSが入力される場合には、図6に示すように、カレント平均値AVE1とプレ平均値AVE2との比較結果と、ゲインパラメータG1の前回制御情報とに基づいて、ゲインパラメータG1bを増減する。なお、以下の説明において、ゲインパラメータG1(ゲインパラメータG1a又はG1b)を上げる制御をUP変更とし、ゲインパラメータG1を下げる制御をDOWN変更とする。   On the other hand, when the gain parameter G1 is not appropriately set with respect to the jitter amount of the reception data D1, the second determination circuit 28 determines the phase difference information according to the phase difference information D2 (jitter amount). The gain parameter G1b is changed so that D2 becomes small. Specifically, when the determination signal JS indicating that the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1 is input, the second determination circuit 28, as shown in FIG. 6, and the current average value AVE1 and the pre-average The gain parameter G1b is increased or decreased based on the comparison result with the value AVE2 and the previous control information of the gain parameter G1. In the following description, control for increasing the gain parameter G1 (gain parameter G1a or G1b) is UP change, and control for decreasing the gain parameter G1 is DOWN change.

図5に示すセレクタ29は、第1判定回路25からのゲインパラメータG1aと第2判定回路28からのゲインパラメータG1bとのいずれかを選択し、その選択したパラメータをゲインパラメータG1としてフィルタ回路11に出力する。具体的には、セレクタ29は、通信開始後1回目の変更制御ではゲインパラメータG1aを選択する一方、通信開始後2回目以降の変更制御ではゲインパラメータG1bを選択する。このため、ゲインパラメータG1aは、通信開始後1回目のゲインパラメータG1の変更制御のみに使用される。そして、通信開始後2回目以降のゲインパラメータG1の変更制御には、ゲインパラメータG1bが使用される。   The selector 29 shown in FIG. 5 selects either the gain parameter G1a from the first determination circuit 25 or the gain parameter G1b from the second determination circuit 28, and uses the selected parameter as the gain parameter G1 to the filter circuit 11. Output. Specifically, the selector 29 selects the gain parameter G1a in the first change control after the start of communication, and selects the gain parameter G1b in the second and subsequent change control after the communication starts. For this reason, the gain parameter G1a is used only for the first change control of the gain parameter G1 after the start of communication. Then, the gain parameter G1b is used for the change control of the gain parameter G1 for the second and subsequent times after the start of communication.

次に、このように構成された受信装置におけるゲインパラメータG1(CDR回路2の追従特性)の設定方法を図6〜図8に従って説明する。
まず、図7に示すステップS11〜S16まで上記第1実施形態のステップS1〜S6と同様の処理が実行される。これにより、通信開始後1回目における位相差情報D2の平均値AVEが演算回路21で算出される(ステップS16)。
Next, a method for setting the gain parameter G1 (tracking characteristics of the CDR circuit 2) in the receiving apparatus configured as described above will be described with reference to FIGS.
First, processes similar to steps S1 to S6 of the first embodiment are executed from step S11 to S16 shown in FIG. As a result, the average value AVE of the phase difference information D2 at the first time after the start of communication is calculated by the arithmetic circuit 21 (step S16).

次に、上記ステップS16で算出された平均値AVEがカレントレジスタ26に書き込まれる(ステップS17)。続いて、第1判定回路25において、上記ステップS16で算出された平均値AVEが基準値T1以上であるか否かが判定される(ステップS18)。このとき、上記平均値AVEが基準値T1以上である場合には、ゲインパラメータG1aの初期値がジッタ量に対して適切でないため、第1判定回路25はゲインパラメータG1aに対して固定の変更制御、ここではUP変更を実行する(ステップS19)。なお、通信開始後1回目のゲインパラメータG1の変更制御においては、このゲインパラメータG1aが使用されるため、ゲインパラメータG1aが変更されることによってゲインパラメータG1が変更されることになる。その後、図8に示すステップS20に移る。   Next, the average value AVE calculated in step S16 is written in the current register 26 (step S17). Subsequently, in the first determination circuit 25, it is determined whether or not the average value AVE calculated in step S16 is greater than or equal to the reference value T1 (step S18). At this time, if the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the initial value of the gain parameter G1a is not appropriate for the jitter amount, and therefore the first determination circuit 25 performs fixed change control with respect to the gain parameter G1a. Here, the UP change is executed (step S19). In the first change control of the gain parameter G1 after the start of communication, the gain parameter G1a is used, so that the gain parameter G1 is changed by changing the gain parameter G1a. Thereafter, the process proceeds to step S20 shown in FIG.

一方、ステップS16で算出された平均値AVEが基準値T1未満である場合には(ステップS18でNO)、ゲインパラメータG1aの初期値がジッタ量に対して適切な値であるため、ゲインパラメータG1aを変更せずにステップS20に移る。なお、このゲインパラメータG1aがどのように変更制御(ここでは、UP変更又は変更なし)されたかを示す情報が前回制御情報として第2判定回路28内のレジスタ28aに格納される。   On the other hand, when the average value AVE calculated in step S16 is less than the reference value T1 (NO in step S18), since the initial value of the gain parameter G1a is an appropriate value for the jitter amount, the gain parameter G1a The process proceeds to step S20 without changing. Information indicating how the gain parameter G1a is changed (here, UP changed or not changed) is stored in the register 28a in the second determination circuit 28 as previous control information.

次に、図8に示すステップS20において、演算回路21及びカウンタ21aが一旦リセットされる。続いて、ステップS21〜S24まで上記ステップS13〜S16と同様の処理が実行される。これにより、通信開始後2回目以降における位相差情報D2の平均値AVEが演算回路21で算出される(ステップS24)。   Next, in step S20 shown in FIG. 8, the arithmetic circuit 21 and the counter 21a are once reset. Subsequently, processes similar to steps S13 to S16 are executed from step S21 to S24. Accordingly, the arithmetic circuit 21 calculates the average value AVE of the phase difference information D2 for the second and subsequent times after the start of communication (step S24).

すると、カレントレジスタ26に保持されたカレント平均値AVE1がプレレジスタ27に書き込まれる(ステップS25)。すなわち、1つ前の平均値AVE、ここでは通信開始後1回目における位相差情報D2の平均値AVEがプレレジスタ27に書き込まれる。続いて、上記ステップS24で算出された直近の平均値AVE、ここでは通信開始後2回目における位相差情報D2の平均値AVEがカレントレジスタ26に書き込まれる。   Then, the current average value AVE1 held in the current register 26 is written into the pre-register 27 (step S25). That is, the previous average value AVE, here, the average value AVE of the phase difference information D2 at the first time after the start of communication is written in the pre-register 27. Subsequently, the latest average value AVE calculated in step S24, here, the average value AVE of the phase difference information D2 at the second time after the start of communication is written in the current register 26.

次に、ゲインパラメータG1、ここではゲインパラメータG1bを変更させるか否かが判定される(ステップS27)。具体的には、第1判定回路25において、上記平均値AVEが基準値T1未満であると判定された場合には、現在のゲインパラメータG1がジッタ量に対して適切な値であるため、ゲインパラメータG1,G1bを変更せずにステップS20に戻る。   Next, it is determined whether or not to change the gain parameter G1, here the gain parameter G1b (step S27). Specifically, when the first determination circuit 25 determines that the average value AVE is less than the reference value T1, the current gain parameter G1 is an appropriate value with respect to the jitter amount. The process returns to step S20 without changing the parameters G1 and G1b.

一方、第1判定回路25において、上記ステップS24で算出された平均値AVEが基準値T1以上であると判定された場合には、第2判定回路28は、図6に従ってゲインパラメータG1bを変更する(ステップS28)。すなわち、この場合の第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の前回制御情報と、カレント平均値AVE1とプレ平均値AVE2との比較結果とに基づいて、平均値AVEが小さくなるようにゲインパラメータG1bを変更する。なお、通信開始後2回目以降のゲインパラメータG1の変更制御においては、このゲインパラメータG1bが使用されるため、ゲインパラメータG1bが変更されることによってゲインパラメータG1が変更されることになる。このため、以下の説明では、説明の便宜上、第2判定回路28がゲインパラメータG1を変更すると説明する。   On the other hand, when the first determination circuit 25 determines that the average value AVE calculated in step S24 is equal to or greater than the reference value T1, the second determination circuit 28 changes the gain parameter G1b according to FIG. (Step S28). That is, in this case, the second determination circuit 28 sets the gain parameter G1b so that the average value AVE is reduced based on the previous control information of the gain parameter G1 and the comparison result between the current average value AVE1 and the pre-average value AVE2. To change. It should be noted that since the gain parameter G1b is used in the gain parameter G1 change control for the second and subsequent times after the start of communication, the gain parameter G1 is changed by changing the gain parameter G1b. For this reason, in the following description, for convenience of explanation, it will be described that the second determination circuit 28 changes the gain parameter G1.

ここで、上記第2判定回路28におけるゲインパラメータG1の変更制御について図6を参照して詳述する。
まず、ゲインパラメータG1の前回制御(例えば図7に示すステップS19における変更制御)がUP変更の場合について説明する。このときの第2判定回路28は、そのUP変更前の位相差量であるプレ平均値AVE2よりもUP変更後の位相差量であるカレント平均値AVE1が大きくなった場合には、上記UP変更によってCDR回路2の追従特性が劣化する方向に変化したものと判定する。ここで、「追従特性が劣化する方向に変化する」とは、変更制御されたゲインパラメータG1の値が、受信データD1のジッタ量に対する適切な値から遠ざかることである。そこで、この場合の第2判定回路28は、位相差量が小さくなるようにゲインパラメータG1を変更する。具体的には、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1に対して前回のUP変更とは反対方向のDOWN変更を実行する。より具体的には、UP変更前のゲインパラメータG1を第1のゲインとし、第1のゲインに対してUP方向(第1方向)の差を有する第2のゲインをUP変更後のゲインパラメータG1とすれば、第2判定回路28は、その第2のゲインから上記第1のゲインに対してDOWN方向(第2方向)の差を有するゲインに変更する。すなわち、この場合の第2判定回路28は、前回のUP変更前のゲインパラメータG1よりも低くなるように該ゲインパラメータG1に対してDOWN変更を実行する。このような変更制御により、CDR回路2の追従特性が良化する方向に変化することになり、位相差情報D2の平均値AVEが小さくなる。なお、「追従特性が良化する方向に変化する」とは、変更制御されたゲインパラメータG1の値が、受信データD1のジッタ量に対する適切な値に近づくことである。
Here, the change control of the gain parameter G1 in the second determination circuit 28 will be described in detail with reference to FIG.
First, a case where the previous control of the gain parameter G1 (for example, the change control in step S19 shown in FIG. 7) is UP change will be described. When the current average value AVE1 that is the phase difference amount after the UP change is larger than the pre-average value AVE2 that is the phase difference amount before the UP change, the second determination circuit 28 at this time changes the UP change. Thus, it is determined that the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 has changed in the direction of deterioration. Here, “changes in the direction in which the follow-up characteristic deteriorates” means that the value of the gain parameter G1 subjected to the change control moves away from an appropriate value for the jitter amount of the reception data D1. Therefore, the second determination circuit 28 in this case changes the gain parameter G1 so that the phase difference amount becomes small. Specifically, the second determination circuit 28 executes a DOWN change in the direction opposite to the previous UP change with respect to the gain parameter G1. More specifically, the gain parameter G1 before the UP change is the first gain, and the second gain having a difference in the UP direction (first direction) with respect to the first gain is the gain parameter G1 after the UP change. Then, the second determination circuit 28 changes the second gain to a gain having a difference in the DOWN direction (second direction) with respect to the first gain. In other words, the second determination circuit 28 in this case executes the DOWN change for the gain parameter G1 so as to be lower than the gain parameter G1 before the previous UP change. By such change control, the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 changes in a direction to improve, and the average value AVE of the phase difference information D2 becomes small. Note that “changes in the direction in which the follow-up characteristic is improved” means that the value of the gain parameter G1 subjected to the change control approaches an appropriate value for the jitter amount of the reception data D1.

一方、第2判定回路28は、UP変更前の位相差量であるプレ平均値AVE2よりもUP変更後の位相差量であるカレント平均値AVE1が小さくなった場合には、上記UP変更によってCDR回路2の追従特性が良化する方向に変化したものと判定する。そこで、この場合の第2判定回路28は、位相差量が更に小さくなるようにゲインパラメータG1に対して前回と同様のUP変更を実行する。具体的には、第2判定回路28は、UP変更前及び変更後のゲインパラメータG1をそれぞれ上記第1のゲイン及び上記第2のゲインとすれば、第2判定回路28は、その第2のゲインから該第2のゲインに対してUP方向(第1方向)の差を有するゲインに変更する。すなわち、この場合の第2判定回路28は、前回のUP変更後のゲインパラメータG1よりも更に高くなるように該ゲインパラメータG1に対してUP変更を実行する。このような変更制御により、CDR回路2の追従特性がさらに良化する方向に変化し、位相差情報D2の平均値AVEが更に小さくなる。   On the other hand, when the current average value AVE1 that is the phase difference amount after the UP change is smaller than the pre-average value AVE2 that is the phase difference amount before the UP change, the second determination circuit 28 performs the CDR change by the UP change. It is determined that the tracking characteristic of the circuit 2 has changed in the direction of improvement. Therefore, in this case, the second determination circuit 28 performs the same UP change as the previous time on the gain parameter G1 so that the phase difference amount is further reduced. Specifically, if the second determination circuit 28 sets the gain parameter G1 before and after the UP change as the first gain and the second gain, respectively, the second determination circuit 28 The gain is changed to a gain having a difference in the UP direction (first direction) with respect to the second gain. In other words, the second determination circuit 28 in this case executes the UP change for the gain parameter G1 so as to be higher than the gain parameter G1 after the previous UP change. By such change control, the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 changes in a further improving direction, and the average value AVE of the phase difference information D2 is further reduced.

同様に、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の前回制御がDOWN変更であって、プレ平均値AVE2よりもカレント平均値AVE1が大きくなった場合には、ゲインパラメータG1に対して上記DOWN変更とは反対方向のUP変更を実行する。また、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の前回制御がDOWN変更であって、プレ平均値AVE2よりもカレント平均値AVE1が小さくなった場合には、ゲインパラメータG1をさらにDOWN変更する。   Similarly, when the previous control of the gain parameter G1 is a DOWN change and the current average value AVE1 becomes larger than the pre-average value AVE2, the second determination circuit 28 changes the DOWN with respect to the gain parameter G1. Execute UP change in the opposite direction. The second determination circuit 28 further changes the gain parameter G1 DOWN when the previous control of the gain parameter G1 is a DOWN change and the current average value AVE1 becomes smaller than the pre-average value AVE2.

このように、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の変更の前後で位相差情報D2の平均値が大きくなった場合(AVE2<AVE1)には、ゲインパラメータG1に対して前回とは反対方向の変更制御(UP→DOWN又はDOWN→UP)を実行する。具体的には、この場合の第2判定回路28は、前回制御がUP変更である場合には、そのUP変更前のゲインパラメータG1よりも低くなるようにDOWN変更を実行し、前回制御がDOWN変更である場合には、そのDOWN変更前のゲインパラメータG1よりも高くなるようにUP変更を実行する。一方、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の変更の前後で位相差情報D2の平均値が小さくなった場合(AVE2>AVE1)には、ゲインパラメータG1に対して前回と同方向の変更制御(UP→UP又はDOWN→DOWN)を実行する。これらの変更制御により、ゲインパラメータG1(CDR回路2の追従特性)が受信データD1のジッタ量に対する適切な値に近づき、位相差情報D2の平均値AVEが小さくなる。なお、このようなゲインパラメータG1の変更制御が、位相差情報D2の平均値AVEが基準値T1未満になるまで繰り返し実行される(上記ステップS20〜S28)。   As described above, when the average value of the phase difference information D2 becomes large before and after the change of the gain parameter G1 (AVE2 <AVE1), the second determination circuit 28 has a direction opposite to the previous time with respect to the gain parameter G1. Change control (UP → DOWN or DOWN → UP) is executed. Specifically, when the previous control is an UP change, the second determination circuit 28 in this case executes the DOWN change so that the gain parameter G1 becomes lower than the previous gain change, and the previous control is DOWN. If it is a change, the UP change is executed so as to be higher than the gain parameter G1 before the DOWN change. On the other hand, when the average value of the phase difference information D2 becomes small before and after the change of the gain parameter G1 (AVE2> AVE1), the second determination circuit 28 performs change control in the same direction as the previous time with respect to the gain parameter G1. (UP → UP or DOWN → DOWN) is executed. With these change controls, the gain parameter G1 (tracking characteristic of the CDR circuit 2) approaches an appropriate value for the jitter amount of the reception data D1, and the average value AVE of the phase difference information D2 becomes small. Such change control of the gain parameter G1 is repeatedly executed until the average value AVE of the phase difference information D2 becomes less than the reference value T1 (steps S20 to S28).

次に、ゲインパラメータG1を前回変更していない場合、すなわち前回の位相差量であるプレ平均値AVE2が基準値T1未満である場合について説明する。このときの第2判定回路28は、基準値T1未満のプレ平均値AVE2よりもカレント平均値AVE1が大きくなった場合には、受信データD1のジッタ量が変動したと判断する。すなわち、受信データD1のジッタ量の変動によってCDR回路2の追従特性が劣化する方向に変化したものと判断する。但し、この場合には、受信データD1のジッタ量がどのように変動したか(大きくなったのか小さくなったのか)を知ることができない。そこで、この場合の第2判定回路28は、ゲインパラメータG1に対して予め設定された固定の変更制御(UP変更又はDOWN変更)を実行する。なお、この変更制御によりCDR回路2の追従特性が劣化する方向に変化した場合には、次の変更制御においてゲインパラメータG1に対して反対方向の変更制御を実行することにより、CDR回路2の追従特性が良化する方向に変化するように制御できる。これによって、位相差情報D2の平均値AVEを小さくすることができる。   Next, a case where the gain parameter G1 has not been changed last time, that is, a case where the pre-average value AVE2 that is the previous phase difference amount is less than the reference value T1 will be described. At this time, the second determination circuit 28 determines that the jitter amount of the reception data D1 has changed when the current average value AVE1 becomes larger than the pre-average value AVE2 less than the reference value T1. That is, it is determined that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 has changed in a direction that deteriorates due to a variation in the jitter amount of the received data D1. However, in this case, it is impossible to know how the jitter amount of the received data D1 has changed (whether it has increased or decreased). Therefore, the second determination circuit 28 in this case executes fixed change control (UP change or DOWN change) set in advance for the gain parameter G1. If the tracking characteristic of the CDR circuit 2 changes due to this change control, the change control in the opposite direction to the gain parameter G1 is executed in the next change control, whereby the tracking of the CDR circuit 2 is performed. Control can be performed so that the characteristics change in a direction of improvement. As a result, the average value AVE of the phase difference information D2 can be reduced.

続いて、プレ平均値AVE2とカレント平均値AVE1とが等しい場合について説明する。このときの第2判定回路28は、ゲインパラメータG1の前回の変更制御に関わらず、ゲインパラメータG1に対して予め設定された固定の変更制御(UP変更、DOWN変更又は前回と同じ変更制御)を実行する。すなわち、プレ平均値AVE2とカレント平均値AVE1とが等しい場合には、前回の変更制御が適切であったかが不明であるため、第2判定回路28は、ゲインパラメータG1に対して固定の変更制御を実行する。なお、この変更制御によりCDR回路2の追従特性が劣化する方向に変化した場合にも、次の変更制御においてゲインパラメータG1に対して反対方向の変更制御を実行することにより、CDR回路2の追従特性が良化する方向に変化するように制御できる。これによって、位相差情報D2の平均値AVEを小さくすることができる。   Subsequently, a case where the pre-average value AVE2 and the current average value AVE1 are equal will be described. The second determination circuit 28 at this time performs fixed change control (UP change, DOWN change, or the same change control as the previous time) set in advance for the gain parameter G1, regardless of the previous change control of the gain parameter G1. Run. That is, when the pre-average value AVE2 and the current average value AVE1 are equal, it is unclear whether the previous change control was appropriate, so the second determination circuit 28 performs fixed change control on the gain parameter G1. Run. Even when the follow-up characteristic of the CDR circuit 2 is deteriorated by this change control, the follow-up of the CDR circuit 2 is performed by executing the change control in the opposite direction to the gain parameter G1 in the next change control. Control can be performed so that the characteristics change in a direction of improvement. As a result, the average value AVE of the phase difference information D2 can be reduced.

以上のように、ステップS28において、位相差情報D2の平均値AVEが小さくなるようにゲインパラメータG1が増減される。その後、ステップS20に戻り、通信が終了するまでステップS20〜S28が繰り返し実行される。そして、このような一連の処理によって、位相差情報D2の平均値AVEが基準値T1よりも小さくなった場合には、その時の受信データD1のジッタ量に対して適切なCDR回路2のジッタ量が設定されたことになる。   As described above, in step S28, the gain parameter G1 is increased or decreased so that the average value AVE of the phase difference information D2 becomes smaller. Then, it returns to step S20 and steps S20-S28 are repeatedly performed until communication is complete | finished. When the average value AVE of the phase difference information D2 becomes smaller than the reference value T1 by such a series of processing, the jitter amount of the CDR circuit 2 appropriate to the jitter amount of the reception data D1 at that time Is set.

以上説明した実施形態によれば、第1実施形態の(1)、(2)、(5)の作用効果に加えて以下の効果を奏する。
(6)受信データD1と抽出クロックCLKの位相差量をジッタ量としてモニタし、ゲインパラメータG1の変更前後における位相差量の変化に基づいて上記位相差量が小さくなるようにゲインパラメータG1を増減するようにした。これにより、装置の動作状態等によってジッタ量が変動(増減)しても、そのジッタ量の変動に合わせてゲインパラメータG1を増減させることができる。したがって、その時々で変動するジッタ量に適したゲインパラメータG1を設定することができ、そのジッタ量に適したCDR回路2の追従特性を設定することができる。
According to the embodiment described above, in addition to the effects (1), (2), and (5) of the first embodiment, the following effects can be obtained.
(6) The phase difference amount between the received data D1 and the extracted clock CLK is monitored as a jitter amount, and the gain parameter G1 is increased or decreased so that the phase difference amount becomes smaller based on the change in the phase difference amount before and after the gain parameter G1 is changed. I tried to do it. Thereby, even if the jitter amount varies (increases / decreases) depending on the operation state of the apparatus, the gain parameter G1 can be increased / decreased in accordance with the variation of the jitter amount. Therefore, the gain parameter G1 suitable for the jitter amount that varies from time to time can be set, and the tracking characteristic of the CDR circuit 2 suitable for the jitter amount can be set.

(第3実施形態)
以下、第3実施形態を図9に従って説明する。先の図1〜図8に示した部材と同一の部材にはそれぞれ同一の符号を付し、それら各要素についての詳細な説明は省略する。
(Third embodiment)
Hereinafter, a third embodiment will be described with reference to FIG. The same members as those shown in FIGS. 1 to 8 are given the same reference numerals, and detailed descriptions of these elements are omitted.

図9に示すように、受信装置は、レシーバ回路1と、複数(本例ではn個)のCDR回路C2i(i=1,2,…,n)と、ゲイン設定部3bとを含む。
複数のCDR回路C2iの各々は、上記第1実施形態のCDR回路2と同様に、位相比較回路10iと、フィルタ回路11iと、位相補正制御回路12iとを含む。これら各CDR回路C2i内のフィルタ回路11iには、互いに異なる固定のゲインパラメータG1iが設定されている。このため、これらCDR回路C2iの各々は、レシーバ回路1からの受信データD1に基づいて、互いに異なる位相を有するクロック信号CLKiを生成する。具体的には、第1CDR回路C21はゲインパラメータG11で決定される追従特性に従ってクロック信号CLK1を生成するとともに、第2CDR回路C22はゲインパラメータG12で決定される追従特性に従ってクロック信号CLK2をする。なお、これらクロック信号CLKiは、ゲイン設定部3b内のセレクタ52に供給される。
As shown in FIG. 9, the receiving device includes a receiver circuit 1, a plurality (n in this example) of CDR circuits C2i (i = 1, 2,..., N), and a gain setting unit 3b.
Each of the plurality of CDR circuits C2i includes a phase comparison circuit 10i, a filter circuit 11i, and a phase correction control circuit 12i, similarly to the CDR circuit 2 of the first embodiment. Different fixed gain parameters G1i are set in the filter circuits 11i in the CDR circuits C2i. Therefore, each of these CDR circuits C2i generates clock signals CLKi having different phases based on the received data D1 from the receiver circuit 1. Specifically, the first CDR circuit C21 generates the clock signal CLK1 according to the tracking characteristic determined by the gain parameter G11, and the second CDR circuit C22 generates the clock signal CLK2 according to the tracking characteristic determined by the gain parameter G12. These clock signals CLKi are supplied to the selector 52 in the gain setting unit 3b.

また、各位相補正制御回路12iで生成される上記クロック信号CLKiの位相が互いに異なるため、位相比較回路10iの各々は、互いに異なる位相差を示す位相差情報D2iを生成する。具体的には、第1CDR回路C21内の位相比較回路101は、受信データD1とクロック信号CLK1との位相差を示す位相差情報D21を生成する。また、第2CDR回路C22内の位相比較回路102は、受信データD1とクロック信号CLK2との位相差を示す位相差情報D22を生成する。なお、これら位相差情報D2iは、ゲイン設定部3b内の演算回路21iにそれぞれ供給される。   Further, since the phases of the clock signals CLKi generated by the phase correction control circuits 12i are different from each other, each of the phase comparison circuits 10i generates phase difference information D2i indicating different phase differences. Specifically, the phase comparison circuit 101 in the first CDR circuit C21 generates phase difference information D21 indicating the phase difference between the reception data D1 and the clock signal CLK1. In addition, the phase comparison circuit 102 in the second CDR circuit C22 generates phase difference information D22 indicating the phase difference between the reception data D1 and the clock signal CLK2. The phase difference information D2i is supplied to the arithmetic circuit 21i in the gain setting unit 3b.

ゲイン設定部3bは、複数のCDR回路C2iからの位相差情報D2iに基づいて、最も位相差量が小さくなるCDR回路C2iを選択し、その選択したCDR回路C2iが生成するクロック信号CLKiを抽出クロックCLKとして出力する。なお、この抽出クロックCLKが図1に示すD−FF回路4やロジック部5に供給される。   Based on the phase difference information D2i from the plurality of CDR circuits C2i, the gain setting unit 3b selects the CDR circuit C2i having the smallest phase difference amount, and extracts the clock signal CLKi generated by the selected CDR circuit C2i. Output as CLK. The extracted clock CLK is supplied to the D-FF circuit 4 and the logic unit 5 shown in FIG.

上記ゲイン設定部3bは、各CDR回路C2iに対応するn個の演算回路21iと、比較回数レジスタ22と、判定回路51と、セレクタ52とを含む。
各演算回路21iには、対応するCDR回路C2i内の位相比較回路10iから位相差情報D2iが入力されるとともに、比較回数レジスタ22から設定回数Mが入力される。これら演算回路21iは、上記演算回路21と同様に、設定回数M回(例えば10回)分の位相差情報D2iの平均値AEiをそれぞれ算出するとともに、その平均値AEiを判定回路51に出力する。具体的には、演算回路211は、第1CDR回路C21内の位相比較回路101からの位相差情報D21の設定回数M回分の平均値AE1を算出する。また、演算回路212は、第2CDR回路C22内の位相比較回路102からの位相差情報D22の設定回数M回分の平均値AE2を算出する。そして、それら平均値AE1,AE2が判定回路51に供給される。
The gain setting unit 3b includes n arithmetic circuits 21i corresponding to the CDR circuits C2i, a comparison number register 22, a determination circuit 51, and a selector 52.
Each arithmetic circuit 21 i receives the phase difference information D 2 i from the phase comparison circuit 10 i in the corresponding CDR circuit C 2 i and the set number M from the comparison number register 22. Similar to the arithmetic circuit 21, these arithmetic circuits 21 i calculate average values AEi of the phase difference information D 2 i for M times (for example, ten times), respectively, and output the average value AEi to the determination circuit 51. . Specifically, the arithmetic circuit 211 calculates an average value AE1 for the set number M times of the phase difference information D21 from the phase comparison circuit 101 in the first CDR circuit C21. Further, the arithmetic circuit 212 calculates an average value AE2 for the set number of times of the phase difference information D22 from the phase comparison circuit 102 in the second CDR circuit C22. The average values AE1 and AE2 are supplied to the determination circuit 51.

判定回路51は、各演算回路21iから入力する複数の平均値AEiを比較することにより、最も位相差量が小さい平均値AEiを判定する。そして、判定回路51は、その判定結果に基づいて、最も位相差量が小さい平均値AEiを生成した演算回路21iに対応するCDR回路C2iを選択するための選択信号S1を生成するとともに、その選択信号S1をセレクタ52に出力する。セレクタ52は、選択信号S1に応じて、CDR回路C2iからのクロック信号CLKiのうちのいずれか1つを選択して抽出クロックCLKとして出力する。   The determination circuit 51 determines the average value AEi having the smallest phase difference amount by comparing a plurality of average values AEi input from the respective arithmetic circuits 21i. Based on the determination result, the determination circuit 51 generates a selection signal S1 for selecting the CDR circuit C2i corresponding to the arithmetic circuit 21i that generated the average value AEi having the smallest phase difference amount, and selects the selection signal S1. The signal S1 is output to the selector 52. The selector 52 selects any one of the clock signals CLKi from the CDR circuit C2i according to the selection signal S1, and outputs the selected clock CLK.

具体的には、上記判定回路51において、平均値AE1〜AEnのうち平均値AE1が最も位相差量が小さいと判定された場合には、セレクタ52には、第1CDR回路C21を選択するための選択信号S1が供給される。セレクタ52は、この選択信号S1に応答して、クロック信号CLK1〜CLKnの中から第1CDR回路C21によって生成されたクロック信号CLK1を選択し、そのクロック信号CLK1を抽出クロックCLKとして出力する。これにより、位相差量が最も小さくなるゲインパラメータG11を持つ第1CDR回路C21で生成されたクロック信号CLK1を抽出クロックCLKとして出力することができる。すなわち、その時の受信データD1のジッタ量に対して最も適したゲインパラメータG11で決定される追従特性に従って生成されるクロック信号CLK1を抽出クロックCLKとして出力することができる。   Specifically, when the determination circuit 51 determines that the average value AE1 has the smallest amount of phase difference among the average values AE1 to AEn, the selector 52 selects the first CDR circuit C21. A selection signal S1 is supplied. In response to the selection signal S1, the selector 52 selects the clock signal CLK1 generated by the first CDR circuit C21 from the clock signals CLK1 to CLKn, and outputs the clock signal CLK1 as the extracted clock CLK. As a result, the clock signal CLK1 generated by the first CDR circuit C21 having the gain parameter G11 having the smallest phase difference amount can be output as the extracted clock CLK. That is, the clock signal CLK1 generated according to the tracking characteristic determined by the gain parameter G11 most suitable for the jitter amount of the received data D1 at that time can be output as the extracted clock CLK.

以上説明した実施形態によれば、第1実施形態の(1)及び(5)の作用効果に加えて以下の効果を奏する。
(7)平均値AEi(位相差量)が最も小さくなるCDR回路C2iにて生成されたクロック信号CLKiを抽出クロックCLKとして出力するようにした。ここで、位相差量が最も小さいということは、その時の受信データD1のジッタ量とゲインパラメータG1i(CDR回路C2iの追従特性)との関係が最も適切であると言える。このため、上記構成によれば、装置の動作状態等によってジッタ量が変動(増減)しても、抽出クロックCLKを、その時のジッタ量に対して最も適したゲインパラメータG1iを持つCDR回路にて生成されるクロック信号CLKiに変更することができる。そして、この変更(更新)は設定回数M回ごとに実行されるため、常に最適な抽出クロックCLKを生成することができる。
According to the embodiment described above, the following effects are obtained in addition to the effects (1) and (5) of the first embodiment.
(7) The clock signal CLKi generated by the CDR circuit C2i having the smallest average value AEi (phase difference amount) is output as the extracted clock CLK. Here, the smallest phase difference amount means that the relationship between the jitter amount of the received data D1 at that time and the gain parameter G1i (following characteristic of the CDR circuit C2i) is most appropriate. For this reason, according to the above configuration, even if the jitter amount fluctuates (increases / decreases) depending on the operating state of the apparatus, the extracted clock CLK is output by the CDR circuit having the gain parameter G1i most suitable for the jitter amount at that time It can be changed to the generated clock signal CLKi. Since this change (update) is executed every set number of times M, it is possible to always generate the optimum extraction clock CLK.

さらに、平均値AEiが最も小さくなるCDR回路C2iを選択するだけで、ゲインパラメータG1iやCDR回路C2iの追従特性を変更することができる。このため、受信データD1のジッタ量が変動した場合に、その変動後のジッタ量に対して最適なゲインパラメータG1iやCDR回路C2iの追従特性を迅速に設定することができる。   Furthermore, the gain parameter G1i and the follow-up characteristics of the CDR circuit C2i can be changed only by selecting the CDR circuit C2i having the smallest average value AEi. For this reason, when the jitter amount of the reception data D1 varies, the optimum gain parameter G1i and the tracking characteristic of the CDR circuit C2i can be quickly set for the jitter amount after the variation.

(第4実施形態)
以下、第4実施形態を図10〜図15に従って説明する。先の図1〜図8に示した部材と同一の部材にはそれぞれ同一の符号を付して示し、それら各要素についての詳細な説明は省略する。
(Fourth embodiment)
Hereinafter, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. The same members as those shown in FIGS. 1 to 8 are denoted by the same reference numerals, and detailed description of these elements is omitted.

図10に示すように、受信装置は、レシーバ回路1と、CDR回路2と、D−FF回路4と、ロジック部5と、ジッタ測定回路6と、タイマ7とを含む。
レシーバ回路1から出力される受信データD1は、CDR回路2と、D−FF回路4と、ジッタ測定回路6とに供給される。ジッタ測定回路6には、タイマ7から所定の測定期間Taも入力される。
As illustrated in FIG. 10, the reception device includes a receiver circuit 1, a CDR circuit 2, a D-FF circuit 4, a logic unit 5, a jitter measurement circuit 6, and a timer 7.
The reception data D1 output from the receiver circuit 1 is supplied to the CDR circuit 2, the D-FF circuit 4, and the jitter measurement circuit 6. A predetermined measurement period Ta is also input from the timer 7 to the jitter measurement circuit 6.

このジッタ測定回路6は、受信データD1のジッタ量を測定し、そのジッタ量に応じてCDR回路2内のフィルタ回路11のゲインパラメータG1を設定する。具体的には、ジッタ測定回路6は、測定期間Taにおける最大のジッタ量を測定し、その最大のジッタ量に対して適切な追従特性となるようにゲインパラメータG1を設定する。   The jitter measuring circuit 6 measures the jitter amount of the received data D1, and sets the gain parameter G1 of the filter circuit 11 in the CDR circuit 2 according to the jitter amount. Specifically, the jitter measurement circuit 6 measures the maximum amount of jitter in the measurement period Ta, and sets the gain parameter G1 so as to have an appropriate tracking characteristic for the maximum amount of jitter.

次に、ジッタ測定回路6の内部構成例を図11に従って説明する。
ジッタ測定回路6は、CDR回路61と、複数(ここではm個)のD−FF回路Aj(j=1,2,…,m)と、直列に複数段(ここではm−1段)接続されたバッファ回路Bk(k=2,3,…,m)とを含む。また、ジッタ測定回路6は、m−1個の排他的論理和(EOR)回路Cxy(x=1,2,…,m−1、y=2,3,…,m)と、m−1個のD−FF回路Exyと、最大ジッタ量判定回路62と、最大ジッタ量記憶回路63と、変換テーブル64とを含む。
Next, an example of the internal configuration of the jitter measurement circuit 6 will be described with reference to FIG.
The jitter measuring circuit 6 is connected to a CDR circuit 61, a plurality of (here, m) D-FF circuits Aj (j = 1, 2,..., M), and a plurality of stages (here, m−1 stages) in series. Buffer circuit Bk (k = 2, 3,..., M). The jitter measuring circuit 6 includes m-1 exclusive OR (EOR) circuits Cxy (x = 1, 2,..., M−1, y = 2, 3,..., M), and m−1. Each D-FF circuit Exy, a maximum jitter amount determination circuit 62, a maximum jitter amount storage circuit 63, and a conversion table 64 are included.

CDR回路61は、図示は省略するが、位相比較回路と、固定のゲインパラメータが設定されたフィルタ回路と、位相補正制御回路とを備える。このCDR回路61は、レシーバ回路1からの受信データD1に基づいて、位相の異なる2つのクロック信号CK1,CK21を生成する。具体的には、CDR回路61は、図12に示すように、受信データD1に対しセットアップ時間及びホールド時間を確保できるように、受信データD1の中央位置にエッジ(本例では、立ち上がりエッジ)が来るようなクロック信号CK1を生成する。また、CDR回路61は、図12に示すように、受信データD1のデータ遷移点に立ち上がりエッジが来るようなクロック信号CK21を生成する。このようにCDR回路61は、互いに位相が略180度ずれたクロック信号CK1,CK21を生成する。そして、CDR回路61は、図11に示すように、クロック信号CK1をD−FF回路Exyのクロック端子に出力するとともに、クロック信号CK2jとしてクロック信号CK21をD−FF回路A1のクロック端子及びバッファ回路Bkの初段のバッファ回路B2に出力する。   Although not shown, the CDR circuit 61 includes a phase comparison circuit, a filter circuit in which a fixed gain parameter is set, and a phase correction control circuit. The CDR circuit 61 generates two clock signals CK1 and CK21 having different phases based on the reception data D1 from the receiver circuit 1. Specifically, as shown in FIG. 12, the CDR circuit 61 has an edge (rising edge in this example) at the center position of the reception data D1 so that the setup time and the hold time can be secured for the reception data D1. An incoming clock signal CK1 is generated. Further, as shown in FIG. 12, the CDR circuit 61 generates a clock signal CK21 having a rising edge at the data transition point of the reception data D1. Thus, the CDR circuit 61 generates the clock signals CK1 and CK21 whose phases are shifted from each other by approximately 180 degrees. Then, as shown in FIG. 11, the CDR circuit 61 outputs the clock signal CK1 to the clock terminal of the D-FF circuit Exy and at the same time outputs the clock signal CK21 as the clock signal CK2j to the clock terminal and buffer circuit of the D-FF circuit A1. Output to the first buffer circuit B2 of Bk.

上記バッファ回路B2は、クロック信号CK21を所定時間だけ遅延させたクロック信号CK22を生成するとともに、そのクロック信号CK22をD−FF回路A2のクロック端子と次段のバッファ回路B3に出力する。以降のバッファ回路Bkは、前段のバッファ回路B(k−1)から入力するクロック信号CK2(j−1)を所定時間だけ遅延させたクロック信号CK2jを生成し、そのクロック信号CK2jをD−FF回路Ajのクロック端子と次段のバッファ回路B(k+1)に出力する。そして、最終段のバッファ回路
Bmは、前段のバッファ回路B(m−1)から入力するクロック信号CK2(m−1)を所定時間だけ遅延させたクロック信号CK2mを生成し、そのクロック信号CK2mをD−FF回路Amのクロック端子に出力する。このように、CDR回路61及び複数のバッファ回路Bkによって所定時間ずつ位相の遅延されたm段階のクロック信号CK2jが生成される。なお、これらクロック信号CK2jは、最終段のバッファ回路Bmにて生成されるクロック信号CK2mが上記クロック信号CK1の立ち上がりエッジよりも早く立ち上がるように生成される(図12参照)。
The buffer circuit B2 generates a clock signal CK22 obtained by delaying the clock signal CK21 by a predetermined time, and outputs the clock signal CK22 to the clock terminal of the D-FF circuit A2 and the buffer circuit B3 at the next stage. The subsequent buffer circuit Bk generates a clock signal CK2j obtained by delaying the clock signal CK2 (j-1) input from the preceding buffer circuit B (k-1) by a predetermined time, and the clock signal CK2j is D-FF. The data is output to the clock terminal of the circuit Aj and the buffer circuit B (k + 1) at the next stage. Then, the last stage buffer circuit Bm generates a clock signal CK2m obtained by delaying the clock signal CK2 (m-1) input from the preceding stage buffer circuit B (m-1) by a predetermined time, and the clock signal CK2m is generated. Output to the clock terminal of the D-FF circuit Am. As described above, the CDR circuit 61 and the plurality of buffer circuits Bk generate the m-stage clock signal CK2j whose phase is delayed by a predetermined time. These clock signals CK2j are generated so that the clock signal CK2m generated by the final stage buffer circuit Bm rises earlier than the rising edge of the clock signal CK1 (see FIG. 12).

D−FF回路Ajは各々、そのデータ端子に受信データD1が入力される一方、クロック端子にクロック信号CK2jが入力される。このD−FF回路Ajは、クロック信号CK2jの立ち上がりエッジに同期してデータ端子に入力する受信データD1のレベルを持つ信号をデータD1jとして出力する。すなわち、これらD−FF回路Ajは、所定の遅延時間ずつ位相のずれたクロック信号CK2jで受信データD1をサンプリングし、そのサンプリングしたデータをデータD1jとして出力する。そして、D−FF回路Ajのうちの隣り合うD−FF回路Ax,Ay(y=x+1)の出力端子が1つのEOR回路Cxyの第1及び第2入力端子にそれぞれ接続されている。このため、隣り合うD−FF回路Ax,Ayから出力されるデータD1x,D1yが1つのEOR回路Cxyに供給される。換言すると、クロック信号CK2xでサンプリングされたデータD1xと、クロック信号CK2yでサンプリングされたデータD1yとが1つのEOR回路Cxyに供給される。より具体的には、D−FF回路A1から出力される(クロック信号CK21でサンプリングされる)データD11と、D−FF回路A2から出力される(クロック信号CK22でサンプリングされる)データD12とがEOR回路C12に供給される。また、D−FF回路A2から出力されるデータD12と、D−FF回路A3から出力されるデータD13とがEOR回路C23に供給される。   Each D-FF circuit Aj receives reception data D1 at its data terminal, and receives a clock signal CK2j at its clock terminal. The D-FF circuit Aj outputs a signal having the level of the reception data D1 input to the data terminal in synchronization with the rising edge of the clock signal CK2j as data D1j. That is, these D-FF circuits Aj sample the received data D1 with the clock signal CK2j whose phase is shifted by a predetermined delay time, and output the sampled data as data D1j. The output terminals of adjacent D-FF circuits Ax, Ay (y = x + 1) in the D-FF circuit Aj are connected to the first and second input terminals of one EOR circuit Cxy, respectively. Therefore, the data D1x and D1y output from the adjacent D-FF circuits Ax and Ay are supplied to one EOR circuit Cxy. In other words, the data D1x sampled with the clock signal CK2x and the data D1y sampled with the clock signal CK2y are supplied to one EOR circuit Cxy. More specifically, data D11 output from the D-FF circuit A1 (sampled by the clock signal CK21) and data D12 output from the D-FF circuit A2 (sampled by the clock signal CK22). It is supplied to the EOR circuit C12. Further, the data D12 output from the D-FF circuit A2 and the data D13 output from the D-FF circuit A3 are supplied to the EOR circuit C23.

EOR回路Cxyは、隣り合うD−FF回路Ax,Ayから入力するデータD1x,D1yを比較する。そして、EOR回路Cxyは、両データD1x,D1yの値が一致している場合にはLレベルの信号CMxyをD−FF回路Exyのデータ端子に出力する一方、両データD1x,D1yの値が異なる場合にはHレベルの信号CMxyをD−FF回路Exyのデータ端子に出力する。   The EOR circuit Cxy compares data D1x and D1y input from adjacent D-FF circuits Ax and Ay. The EOR circuit Cxy outputs the L-level signal CMxy to the data terminal of the D-FF circuit Exy when the values of the data D1x and D1y match, while the values of the data D1x and D1y are different. In this case, the H level signal CMxy is output to the data terminal of the D-FF circuit Exy.

D−FF回路Exyは各々、そのデータ端子にEOR回路Cxyからの信号CMxyが入力される一方、クロック端子に上記CDR回路61からのクロック信号CK1が入力される。このD−FF回路Exyは、クロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期してデータ端子に入力する信号CMxyのレベルを持つ信号CMRxyを最大ジッタ量判定回路62に出力する。   Each of the D-FF circuits Exy receives the signal CMxy from the EOR circuit Cxy at its data terminal, and receives the clock signal CK1 from the CDR circuit 61 at its clock terminal. The D-FF circuit Exy outputs a signal CMRxy having the level of the signal CMxy input to the data terminal in synchronization with the rising edge of the clock signal CK1 to the maximum jitter amount determination circuit 62.

ここで、受信データD1にデータ遷移がある場合、受信データD1のジッタ量に応じてD−FF回路Ajの出力値が変化する、つまりジッタ量に応じたタイミング前後で立ち上がるクロック信号CK2x,CK2yでサンプリングされるD−FF回路Ax,Ay間で出力値が変化する。このため、隣り合うD−FF回路Ax,Ayの出力データD1x,D1yの値が一致するか否かを判定することにより、クロック信号CK2x及びクロック信号CK2yのエッジ間でデータ遷移が生じたか否かを判定することができる。さらに、クロック信号CK21の立ち上がりからデータ遷移が生じたクロック信号CK2yの立ち上がりまでの時間がジッタ量に相当すると判定することができる。   Here, when there is a data transition in the reception data D1, the output value of the D-FF circuit Aj changes according to the jitter amount of the reception data D1, that is, the clock signals CK2x and CK2y rise before and after the timing according to the jitter amount. The output value changes between the sampled D-FF circuits Ax and Ay. Therefore, whether or not data transition has occurred between the edges of the clock signal CK2x and the clock signal CK2y is determined by determining whether or not the values of the output data D1x and D1y of the adjacent D-FF circuits Ax and Ay match. Can be determined. Furthermore, it can be determined that the time from the rising edge of the clock signal CK21 to the rising edge of the clock signal CK2y where the data transition occurs corresponds to the jitter amount.

この点について、図12及び図13を参照して説明する。なお、図12は、受信データD1にジッタが含まれない場合のジッタ測定回路6の動作を示し、図13は、受信データD1にジッタが含まれる場合のジッタ測定回路6の動作を示している。なお、同図において、縦軸及び横軸は、説明を簡潔にするため、適宜拡大、縮小して示している。   This point will be described with reference to FIGS. 12 shows the operation of the jitter measurement circuit 6 when the reception data D1 contains no jitter, and FIG. 13 shows the operation of the jitter measurement circuit 6 when the reception data D1 contains jitter. . In the figure, the vertical axis and the horizontal axis are enlarged or reduced as appropriate for the sake of brevity.

図13を参照して、受信データD1にジッタが含まれることによって、クロック信号CK22とクロック信号CK23とのエッジ間に、受信データD1が(N−1)から(N)にデータ遷移する場合について説明する。   Referring to FIG. 13, when reception data D1 includes jitter, reception data D1 transitions from (N−1) to (N) between edges of clock signal CK22 and clock signal CK23. explain.

この場合には、図13に示すように、受信データD1の実際のデータ遷移点である時刻t2よりも前にクロック信号CK21,CK22が立ち上がり、時刻t2よりも後にクロック信号CK23〜CK2mが立ち上がる。このため、D−FF回路A1は、クロック信号CK21の立ち上がりエッジに同期してその時の受信データD1のレベル(N−1)を持つデータD11をEOR回路C12に出力する。また、D−FF回路A2は、クロック信号CK22の立ち上がりエッジに同期してその時の受信データD1のレベル(N−1)を持つデータD12をEOR回路C12,C23に出力する。一方、D−FF回路A3は、クロック信号CK23の立ち上がりエッジに同期してその時の受信データD1のレベル(N)を持つデータD13をEOR回路C23,C34に出力する。   In this case, as shown in FIG. 13, the clock signals CK21 and CK22 rise before time t2, which is the actual data transition point of the received data D1, and the clock signals CK23 to CK2m rise after time t2. Therefore, the D-FF circuit A1 outputs data D11 having the level (N-1) of the reception data D1 at that time to the EOR circuit C12 in synchronization with the rising edge of the clock signal CK21. The D-FF circuit A2 outputs data D12 having the level (N-1) of the received data D1 at that time to the EOR circuits C12 and C23 in synchronization with the rising edge of the clock signal CK22. On the other hand, the D-FF circuit A3 outputs data D13 having the level (N) of the reception data D1 at that time to the EOR circuits C23 and C34 in synchronization with the rising edge of the clock signal CK23.

このため、EOR回路C12は、レベル(N−1)であるデータD12が入力された後は、入力する両データD11,D12の値が一致するため、Lレベルの信号CM12をD−FF回路E12に出力する。   Therefore, the EOR circuit C12 receives the L-level signal CM12 from the D-FF circuit E12 because the values of the input data D11 and D12 match after the data D12 of level (N-1) is input. Output to.

一方、EOR回路C23には、レベル(N)であるデータD13が入力された後は、レベル(N−1)であるデータD12とレベル(N)であるデータD13とが入力される。このため、EOR回路C23は、入力する両データD12,D13の値が一致しないため、Hレベルの信号CM23をD−FF回路E23に出力する。このHレベルの信号CM23は、両データD12,D13のレベルが変化する次のデータ遷移点付近まで出力される。なお、上記EOR回路C23の次段以降のEOR回路Cxyは、レベル(N)であるデータD1yが入力された後は、入力する両データD1x,D1yの値が一致するため、Lレベルの信号CMxyをD−FF回路Exyに出力する。   On the other hand, after the data D13 having the level (N) is input to the EOR circuit C23, the data D12 having the level (N-1) and the data D13 having the level (N) are input. For this reason, the EOR circuit C23 outputs an H-level signal CM23 to the D-FF circuit E23 because the values of the input data D12 and D13 do not match. The H level signal CM23 is output to the vicinity of the next data transition point where the levels of the data D12 and D13 change. The EOR circuit Cxy subsequent to the EOR circuit C23 has the L level signal CMxy because the data D1x and D1y input after the data (D1y) having the level (N) coincide with each other. Is output to the D-FF circuit Exy.

続いて、D−FF回路Exyでは、Hレベルの信号CM23がデータ端子に入力されるD−FF回路E23のみが、クロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期してHレベルの信号CMR23を出力する。なお、そのD−FF回路E23以外のD−FF回路Exyは、クロック信号CK1の立ち上がり時にLレベルの信号CMxyが入力されているため、その立ち上がりエッジに同期してLレベルの信号CMRxyを出力する。   Subsequently, in the D-FF circuit Exy, only the D-FF circuit E23 to which the H-level signal CM23 is input to the data terminal outputs the H-level signal CMR23 in synchronization with the rising edge of the clock signal CK1. The D-FF circuit Exy other than the D-FF circuit E23 outputs the L level signal CMRxy in synchronization with the rising edge because the L level signal CMxy is input at the rising edge of the clock signal CK1. .

本例のように、クロック信号CK22とクロック信号CK23とのエッジ間に受信データD1のデータ遷移がある場合には、そのクロック信号CK22,CK23でサンプリングされるD−FF回路A2,A3の出力データD12,D13の値が異なるようになる。換言すると、隣り合うD−FF回路A2,A3の出力データD12,D13の値が異なる場合には、対応するクロック信号CK22,CK23のエッジ間で受信データD1のデータ遷移があったと判定することができる。反対に、隣り合うD−FF回路Ax,Ayから出力されるデータD1x,D1yの値が一致する場合には、対応するクロック信号CK2x,CK2yのエッジ間で受信データD1のデータ遷移がなかったと判定することができる。   When there is a data transition of the received data D1 between the edges of the clock signal CK22 and the clock signal CK23 as in this example, the output data of the D-FF circuits A2 and A3 sampled by the clock signals CK22 and CK23. The values of D12 and D13 are different. In other words, when the values of the output data D12 and D13 of the adjacent D-FF circuits A2 and A3 are different, it is determined that the data transition of the reception data D1 has occurred between the edges of the corresponding clock signals CK22 and CK23. it can. On the other hand, when the values of the data D1x and D1y output from the adjacent D-FF circuits Ax and Ay match, it is determined that there is no data transition of the received data D1 between the edges of the corresponding clock signals CK2x and CK2y. can do.

ここで、D−FF回路Exyでは、隣り合うD−FF回路Ax,Ayから出力されるデータD1x,D1yの値が異なるためにHレベルの信号CMxyを出力するEOR回路Cxyと接続されるD−FF回路Exyのみから、Hレベルの信号CMRxyが出力される。このため、Hレベルの信号CMRxyを検出することによって、クロック信号CK2xとクロック信号CK2yとのエッジ間で受信データD1の遷移があったと判定することができる。したがって、本例では、Hレベルの信号CMR23が検出されるため、クロック信号CK22とクロック信号CK23とのエッジ間で受信データD1の遷移があったと判定することができる。さらに、このように受信データD1にデータ遷移がある場合には、受信データD1のジッタ量に応じたタイミング前後で立ち上がるクロック信号CK22,CK23でサンプリングされるD−FF回路A2,A3間で出力値が変化する。このため、本例では、クロック信号CK21の立ち上がりからクロック信号CK23の立ち上がりまでの時間がジッタ量に略相当すると判定することができる。   Here, in the D-FF circuit Exy, since the values of the data D1x and D1y output from the adjacent D-FF circuits Ax and Ay are different, the D-FF connected to the EOR circuit Cxy that outputs the H level signal CMxy. An H level signal CMRxy is output only from the FF circuit Exy. Therefore, by detecting the H-level signal CMRxy, it can be determined that the reception data D1 has transitioned between the edges of the clock signal CK2x and the clock signal CK2y. Therefore, in this example, since the H level signal CMR23 is detected, it can be determined that the reception data D1 has transitioned between the edges of the clock signal CK22 and the clock signal CK23. Further, when there is a data transition in the reception data D1 as described above, an output value is obtained between the D-FF circuits A2 and A3 sampled by the clock signals CK22 and CK23 that rise before and after the timing according to the jitter amount of the reception data D1. Changes. Therefore, in this example, it can be determined that the time from the rising edge of the clock signal CK21 to the rising edge of the clock signal CK23 is substantially equivalent to the jitter amount.

なお、受信データD1にジッタが含まれない場合には(図12参照)、受信データD1の実際のデータ遷移点と、クロック信号CK21の立ち上がりエッジとのタイミングが略一致するため、全てのEOR回路Cxyに入力される両データD1x,D1yの値が一致する。もしくは、初段のEOR回路C12に入力されるデータD11,D12の値のみが異なる。このため、この場合には、全D−FF回路ExyからLレベルの信号CMRxyが出力されるか、初段のD−FF回路E12からのみHレベルの信号CMR12が出力される。   Note that when the received data D1 does not include jitter (see FIG. 12), the timing of the actual data transition point of the received data D1 and the rising edge of the clock signal CK21 substantially coincide with each other, so that all the EOR circuits The values of both data D1x and D1y input to Cxy match. Alternatively, only the values of the data D11 and D12 input to the first-stage EOR circuit C12 are different. Therefore, in this case, the L-level signal CMRxy is output from all the D-FF circuits Exy, or the H-level signal CMR12 is output only from the first-stage D-FF circuit E12.

図11に示す上記最大ジッタ量判定回路(判定回路)62には、各D−FF回路Exyから出力される信号CMRxyと併せて、最大ジッタ量記憶回路(記憶回路)63に記憶された最大ジッタ量が供給される。この判定回路62は、複数の信号CMRxyのうちHレベルとなる信号を検出し、その信号に基づいてジッタ量を判定する。具体的には、判定回路62は、上述のようにEOR回路C23から入力する信号CMR23がHレベルの場合には、クロック信号CK21の立ち上がりからクロック信号CK23の立ち上がりまでの時間をジッタ量と判定する。そして、判定回路62は、Hレベルの信号CMRxyから判定したジッタ量と、記憶回路63からの最大ジッタ量とを比較し、前者が後者よりも大きい場合には前者のジッタ量を新たな最大ジッタ量として記憶回路63に出力する。   The maximum jitter amount determination circuit (determination circuit) 62 shown in FIG. 11 includes the maximum jitter amount stored in the maximum jitter amount storage circuit (storage circuit) 63 together with the signal CMRxy output from each D-FF circuit Exy. Quantity is supplied. The determination circuit 62 detects a signal at H level among the plurality of signals CMRxy, and determines the jitter amount based on the signal. Specifically, when the signal CMR23 input from the EOR circuit C23 is at the H level as described above, the determination circuit 62 determines the time from the rising edge of the clock signal CK21 to the rising edge of the clock signal CK23 as the jitter amount. . Then, the determination circuit 62 compares the jitter amount determined from the H-level signal CMRxy with the maximum jitter amount from the storage circuit 63, and if the former is larger than the latter, the former jitter amount is set as a new maximum jitter. The quantity is output to the storage circuit 63.

記憶回路63は、図10に示すタイマ7から供給される測定期間Taが経過する毎に、その時に記憶している最大ジッタ量を変換テーブル64に出力するとともに、その記憶している情報(最大ジッタ量)をリセットする。   Each time the measurement period Ta supplied from the timer 7 shown in FIG. 10 elapses, the storage circuit 63 outputs the maximum jitter amount stored at that time to the conversion table 64 and stores the stored information (maximum Reset the jitter amount.

なお、図13の時刻t1〜t4までを測定期間Taとすると、時刻t2〜t3において、Hレベルの信号CMR23によって判定されたジッタ量が最大ジッタ量として記憶回路63に最初に記憶される。その後、時刻t3〜t4において、クロック信号CK23とクロック信号CK24とのエッジ間で受信データD1のデータ遷移が生じる(時刻t3)ため、隣り合うD−FF回路A3,A4の出力データD13,D14の値が異なるようになる。すると、EOR回路C34からHレベルの信号CM34が出力され、第1クロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期してD−FF回路E34からHレベルの信号CMR34が出力される。この場合の判定回路62は、Hレベルの信号CMR34に基づいて、クロック信号CK21の立ち上がりからクロック信号CK24の立ち上がりまでの時間をジッタ量と判定する。さらに、判定回路62は、記憶回路63から入力する最大ジッタ量(Hレベルの信号CMR23に基づくジッタ量)よりもHレベルの信号CMR34に基づくジッタ量の方が大きいと判定し、そのジッタ量を新たな最大ジッタ量として記憶回路63に出力する。このため、本例の記憶回路63は、Hレベルの信号CMR34に基づくジッタ量を最大ジッタ量として変換テーブル64に出力することになる。   If the measurement period Ta is from time t1 to t4 in FIG. 13, the jitter amount determined by the H level signal CMR23 is first stored in the storage circuit 63 as the maximum jitter amount at time t2 to t3. Thereafter, at time t3 to t4, the data transition of the reception data D1 occurs between the edges of the clock signal CK23 and the clock signal CK24 (time t3), so that the output data D13 and D14 of the adjacent D-FF circuits A3 and A4 The value will be different. Then, the H level signal CM34 is output from the EOR circuit C34, and the H level signal CMR34 is output from the D-FF circuit E34 in synchronization with the rising edge of the first clock signal CK1. In this case, the determination circuit 62 determines the time from the rising edge of the clock signal CK21 to the rising edge of the clock signal CK24 as the jitter amount based on the H-level signal CMR34. Further, the determination circuit 62 determines that the jitter amount based on the H level signal CMR 34 is larger than the maximum jitter amount (jitter amount based on the H level signal CMR 23) input from the storage circuit 63, and determines the jitter amount. The new maximum jitter amount is output to the storage circuit 63. For this reason, the storage circuit 63 of this example outputs the jitter amount based on the H level signal CMR 34 to the conversion table 64 as the maximum jitter amount.

図11に示す変換テーブル64は、記憶回路63から出力される最大ジッタ量をゲインパラメータG1に変換し、そのゲインパラメータG1を図10に示すCDR回路2内のフィルタ回路11に出力する。詳述すると、変換テーブル64には、受信データD1のジッタ量とゲインパラメータG1とを対応付けたテーブルが格納されている。例えば変換テーブル64には、図4(b)に示すように受信データD1のジッタ量が大きくなるほど、ゲインパラメータG1が大きくなるように両者を対応付けたテーブルが格納されている。これにより、その時々で変動する受信データD1のジッタ量に応じてゲインパラメータG1を変更(更新)することができる。   The conversion table 64 shown in FIG. 11 converts the maximum jitter amount output from the storage circuit 63 into the gain parameter G1, and outputs the gain parameter G1 to the filter circuit 11 in the CDR circuit 2 shown in FIG. Specifically, the conversion table 64 stores a table in which the jitter amount of the reception data D1 is associated with the gain parameter G1. For example, as shown in FIG. 4B, the conversion table 64 stores a table in which the gain parameter G1 increases as the jitter amount of the reception data D1 increases. Thereby, the gain parameter G1 can be changed (updated) in accordance with the jitter amount of the reception data D1 that varies from time to time.

次に、このように構成された受信装置におけるゲインパラメータG1(CDR回路2の追従特性)の設定方法を図14に従って説明する。
まず、通信を開始する前に、ゲインパラメータG1と、ジッタ測定回路6と、タイマ7の初期化が行われる(ステップS31)。その後、通信が開始されるまで待ち(ステップS32)、通信が開始されると(ステップS32でYES)、測定期間Taをカウントするタイマのカウント動作を開始する(ステップS33)。
Next, a method for setting the gain parameter G1 (tracking characteristics of the CDR circuit 2) in the receiving apparatus configured as described above will be described with reference to FIG.
First, before starting communication, the gain parameter G1, the jitter measurement circuit 6, and the timer 7 are initialized (step S31). Then, it waits until communication is started (step S32). When communication is started (YES in step S32), a count operation of a timer for counting the measurement period Ta is started (step S33).

続いて、ジッタ測定回路6において受信データD1のジッタ量の測定が開始される(ステップS34)。次に、測定期間Taが経過したか否かが判定され(ステップS35)、測定期間Taが経過するまで受信データD1の最大ジッタ量の測定が継続される(ステップS34,S35)。一方、測定期間Taが経過すると(ステップS35でYES)、その測定期間Taにおける最大ジッタ量に応じたゲインパラメータG1が設定される(ステップS36)。すなわち、変換テーブル64において、記憶回路63から出力される最大ジッタ量がゲインパラメータG1に変換される。そして、そのゲインパラメータG1がフィルタ回路11に設定される。これにより、受信データD1のジッタ量に適したゲインパラメータG1を設定することができる。ひいては、受信データD1のジッタ量に適したCDR回路2の追従特性を設定することができる。   Subsequently, the jitter measurement circuit 6 starts measuring the jitter amount of the received data D1 (step S34). Next, it is determined whether or not the measurement period Ta has elapsed (step S35), and the measurement of the maximum jitter amount of the reception data D1 is continued until the measurement period Ta has elapsed (steps S34 and S35). On the other hand, when the measurement period Ta elapses (YES in step S35), the gain parameter G1 corresponding to the maximum jitter amount in the measurement period Ta is set (step S36). That is, in the conversion table 64, the maximum jitter amount output from the storage circuit 63 is converted into the gain parameter G1. The gain parameter G1 is set in the filter circuit 11. Thereby, the gain parameter G1 suitable for the jitter amount of the reception data D1 can be set. As a result, it is possible to set the tracking characteristic of the CDR circuit 2 suitable for the jitter amount of the received data D1.

次に、ジッタ測定回路6とタイマ7とがリセットされ(ステップS37)、ステップS33に戻る。すると、タイマ7のカウント動作が再び開始され(ステップS33)、測定期間Taにおける最大ジッタ量に応じたゲインパラメータG1が再度設定される(ステップS34〜S37)。このような一連の処理によって、測定期間Taごとに、その時のジッタ量に応じてゲインパラメータG1が変更される。これにより、装置の動作状態により変動するジッタ量に対して常に最適なCDR回路2の追従特性を設定することができる。   Next, the jitter measurement circuit 6 and the timer 7 are reset (step S37), and the process returns to step S33. Then, the count operation of the timer 7 is started again (step S33), and the gain parameter G1 corresponding to the maximum jitter amount in the measurement period Ta is set again (steps S34 to S37). Through such a series of processes, the gain parameter G1 is changed for each measurement period Ta according to the jitter amount at that time. As a result, it is possible to always set the optimum tracking characteristic of the CDR circuit 2 with respect to the jitter amount that varies depending on the operation state of the apparatus.

なお、例えばIEEE1394−2008のようなシリアルインタフェースでは、図15に示すように、実際のデータ通信は125Mbpsから4Gbpsといった高速で行われる。その一方で、データ通信を開始する前に、トーン信号の送受信による装置間の接続確認や通信速度確認などが低速で行われる。このような低速で行われる通信期間に、上記ジッタ測定回路6によるジッタ測定(ステップS3〜S5)を行うことにより、その受信データD1のジッタ量の測定及びゲインパラメータG1(ステップS6)の設定を確実に実行することができる。なお、上記低速の通信は、48MHzから64MHzのクロック信号が使用されるため、この場合のジッタ測定回路6内のCDR回路61は、48MHzから64MHzのクロック信号CK1,CK21を生成する回路となる。   For example, in a serial interface such as IEEE1394-2008, as shown in FIG. 15, actual data communication is performed at a high speed of 125 Mbps to 4 Gbps. On the other hand, before starting data communication, connection confirmation between devices and communication speed confirmation by transmission / reception of tone signals are performed at a low speed. By performing jitter measurement (steps S3 to S5) by the jitter measurement circuit 6 during such a low-speed communication period, the jitter amount of the received data D1 is measured and the gain parameter G1 (step S6) is set. It can be executed reliably. Since the low-speed communication uses a clock signal of 48 MHz to 64 MHz, the CDR circuit 61 in the jitter measurement circuit 6 in this case is a circuit that generates clock signals CK1 and CK21 of 48 MHz to 64 MHz.

以上説明した実施形態によれば、第1実施形態の(1)の作用効果に加えて以下の効果を奏する。
(8)受信データD1に基づいて該受信データD1のジッタ量を測定し、その測定したジッタ量に応じたゲインパラメータG1を設定するようにした。これによれば、受信データD1のジッタ量そのものに応じてゲインパラメータG1が変更されるため、そのゲインパラメータG1の変更制御の精度を向上させることができる。
According to the embodiment described above, in addition to the function and effect (1) of the first embodiment, the following effects are obtained.
(8) The jitter amount of the received data D1 is measured based on the received data D1, and the gain parameter G1 corresponding to the measured jitter amount is set. According to this, since the gain parameter G1 is changed according to the jitter amount itself of the reception data D1, the accuracy of the change control of the gain parameter G1 can be improved.

(他の実施形態)
なお、上記実施形態は、これを適宜変更した以下の態様にて実施することもできる。
・上記第1実施形態では、CDR回路2の追従特性が小さくなるようにゲインパラメータG1の初期値を低く設定した。これに限らず、例えばCDR回路2の追従特性が大きくなるようにゲインパラメータG1の初期値を高く設定してもよい。なお、この場合の判定回路24は、平均値AVEが基準値T1以上の場合には、その平均値AVEが小さくなるようにゲインパラメータG1を下げるようにする。
(Other embodiments)
In addition, the said embodiment can also be implemented in the following aspects which changed this suitably.
In the first embodiment, the initial value of the gain parameter G1 is set low so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is small. For example, the initial value of the gain parameter G1 may be set high so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is increased. In this case, when the average value AVE is greater than or equal to the reference value T1, the determination circuit 24 decreases the gain parameter G1 so that the average value AVE becomes small.

・上記第2実施形態におけるゲインパラメータG1aの初期値を、CDR回路2の追従特性が小さくなるように低く設定してもよく、CDR回路2の追従特性が大きくなるように高く設定してもよい。   The initial value of the gain parameter G1a in the second embodiment may be set low so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is small, or may be set high so that the tracking characteristic of the CDR circuit 2 is large. .

・上記第1〜第3実施形態では、位相比較回路10,10iで生成した位相差情報D2,D2iの平均値AVE,AEiを受信データD1のジッタ量としてモニタするようにした。すなわち、上記第1及び第2実施形態では、位相比較回路10で生成した位相差情報D2の平均値AVEを基準値T1と比較するようにした。これに限らず、例えば位相比較回路10で生成した位相差情報D2を基準値T1と比較するようにしてもよい。   In the first to third embodiments, the average values AVE and AEi of the phase difference information D2 and D2i generated by the phase comparison circuits 10 and 10i are monitored as the jitter amount of the reception data D1. That is, in the first and second embodiments, the average value AVE of the phase difference information D2 generated by the phase comparison circuit 10 is compared with the reference value T1. For example, the phase difference information D2 generated by the phase comparison circuit 10 may be compared with the reference value T1.

また、第3実施形態では、位相比較回路10iで生成した位相差情報D2iの平均値AEiを比較することにより、最も位相差量が小さくなるCDR回路C2iを判定するようにした。これに限らず、位相比較回路10iで生成した位相差情報D2iを比較することにより、最も位相差量が小さくなるCDR回路C2iを判定するようにしてもよい。   In the third embodiment, the CDR circuit C2i having the smallest phase difference amount is determined by comparing the average value AEi of the phase difference information D2i generated by the phase comparison circuit 10i. Not limited to this, the CDR circuit C2i with the smallest phase difference amount may be determined by comparing the phase difference information D2i generated by the phase comparison circuit 10i.

・上記第1及び第2実施形態におけるゲインパラメータG1の変更制御において、そのゲインパラメータG1を変更する際の変更幅(増加又は減少させる割合)を変更するようにしてもよい。例えば位相差情報D2の平均値AVE(もしくは位相差情報D2)の大きさ、具体的には基準値T1との差分量に応じてゲインパラメータG1の変更幅を変更するようにしてもよい。第1実施形態で言えば、判定回路24において、平均値AVEが基準値T1以上の場合に、その平均値AVEと基準値T1との差分量が大きいほど、ゲインパラメータG1を上げる際の変更幅を大きくするようにしてもよい。これにより、ゲインパラメータG1を迅速に適切な値に近づけることができる。   In the change control of the gain parameter G1 in the first and second embodiments, the change width (the rate of increase or decrease) when changing the gain parameter G1 may be changed. For example, the change range of the gain parameter G1 may be changed in accordance with the magnitude of the average value AVE (or phase difference information D2) of the phase difference information D2, specifically the amount of difference from the reference value T1. In the first embodiment, in the determination circuit 24, when the average value AVE is equal to or greater than the reference value T1, the change range when the gain parameter G1 is increased as the difference amount between the average value AVE and the reference value T1 increases. You may make it enlarge. As a result, the gain parameter G1 can be quickly brought close to an appropriate value.

あるいは、上述のゲインパラメータG1の変更幅を、通信相手に応じて変更するようにしてもよい。
・上記各実施形態における基準値T1、設定回数Mや測定期間Taを装置外部から設定するようにしてもよい。
Or you may make it change the change range of the above-mentioned gain parameter G1 according to a communicating party.
In the above embodiments, the reference value T1, the set number M, and the measurement period Ta may be set from the outside of the apparatus.

・上記第4実施形態におけるジッタ測定回路6の内部構成は図11に示した回路に特に限定されない。ジッタ測定回路6は、受信データD1のジッタ量を測定することのできる回路であれば、上記第4実施形態の(8)と同様の効果を奏することができる。   The internal configuration of the jitter measurement circuit 6 in the fourth embodiment is not particularly limited to the circuit shown in FIG. As long as the jitter measurement circuit 6 is a circuit that can measure the jitter amount of the received data D1, the same effect as (8) of the fourth embodiment can be obtained.

・上記各実施形態におけるCDR回路2,2iの内部構成は特に制限されない。例えばフィルタ回路11,11iをアナログフィルタに変更してもよい。
・上記各実施形態のレシーバ回路1に入力されるデータは差動シリアルデータに限定されない。例えばレシーバ回路1にシングルエンドシリアルデータが入力されるようにしてもよい。
The internal configuration of the CDR circuits 2 and 2i in the above embodiments is not particularly limited. For example, the filter circuits 11 and 11i may be changed to analog filters.
The data input to the receiver circuit 1 of each of the above embodiments is not limited to differential serial data. For example, single-ended serial data may be input to the receiver circuit 1.

上記各実施形態に関し、以下の付記を開示する。
(付記1)
受信データに基づいてクロックを生成するクロックデータリカバリ回路と、
前記受信データのジッタ量に応じて、前記クロックデータリカバリ回路において前記受信データと前記クロックとの位相差をフィルタするフィルタ処理のゲインを設定する設定部と
を有することを特徴とする受信装置。
(付記2)
前記設定部は、前記位相差を前記ジッタ量としてモニタし、前記フィルタ処理のゲインを設定することを特徴とする付記1に記載の受信装置。
(付記3)
前記設定部は、所定回数分の前記位相差の平均値を前記ジッタ量としてモニタし、前記フィルタ処理のゲインを設定することを特徴とする付記1に記載の受信装置。
(付記4)
前記設定部は、前記位相差が基準以上の場合に、前記フィルタ処理のゲインの初期設定に基づいて前記位相差が小さくなるように前記フィルタ処理のゲインを変更することを特徴とする付記2又は3に記載の受信装置。
(付記5)
前記設定部は、前記位相差が基準以上の場合に、前記フィルタ処理のゲインの変更前後における前記受信データと前記クロックとの位相差の変化に基づいて前記位相差が小さくなるように前記フィルタ処理のゲインを変更することを特徴とする付記2又は3に記載の受信装置。
(付記6)
前記設定部は、前記フィルタ処理のゲインを第1のゲインに設定した場合の前記受信データと前記クロックとの第1の位相差よりも、前記フィルタ処理のゲインを前記第1のゲインに対して第1方向の差を有する第2のゲインに変更した後の前記受信データと前記クロックとの第2の位相差が小さければ、前記第2のゲインに対して前記第1方向の差を有する第3のゲインを前記フィルタ処理のゲインに設定することを特徴とする付記5に記載の受信装置。
(付記7)
前記設定部は、前記フィルタ処理のゲインを第1のゲインに設定した場合の前記受信データと前記クロックとの第1の位相差よりも、前記フィルタ処理のゲインを前記第1のゲインに対して第1方向の差を有する第2のゲインに変更した後の前記受信データと前記クロックとの第2の位相差が大きければ、前記第2のゲインを前記第1方向とは反対方向の第2方向に変化させた第4のゲインを前記フィルタ処理のゲインに設定することを特徴とする付記5又は6に記載の受信装置。
(付記8)
前記第4のゲインは、前記第1のゲインに対して前記第2方向の差を有するゲインであることを特徴とする付記7に記載の受信装置。
(付記9)
前記クロックデータリカバリ回路は、前記フィルタ処理のゲインが互いに異なる複数のクロックデータリカバリ回路を有し、
前記設定部は、前記複数のクロックデータリカバリ回路のうち、前記位相差が最も小さくなるクロックデータリカバリ回路が生成するクロックを選択する選択回路を有することを特徴とする付記2又は3に記載の受信装置。
(付記10)
前記設定部は、前記受信データに基づいて該受信データのジッタ量を測定し、その測定したジッタ量に応じた前記フィルタ処理のゲインを設定するジッタ測定回路を有することを特徴とする付記1に記載の受信装置。
(付記11)
前記ジッタ測定回路は、
前記受信データに基づいて第1クロック及び第2クロックを出力するクロックデータリカバリ回路と、
前記第2クロックを所定時間ずつ遅延させた複数のクロックでそれぞれ前記受信データをサンプリングする複数のフリップフロップ回路と、
隣り合う前記フリップフロップ回路の出力値を排他的論理和演算する論理回路と、
前記論理回路の出力値を前記第1クロックでサンプリングすることで、前記隣り合うフリップフロップ回路の出力値が変化するタイミングを検出し、その検出したタイミングに基づいてジッタ量を測定する回路と、
前記測定したジッタ量を前記フィルタ処理のゲインに変換する変換テーブルとを有することを特徴とする付記10に記載の受信装置。
(付記12)
受信データに基づいてクロックを生成するクロックデータリカバリ回路において前記受信データと前記クロックとの位相差をフィルタするフィルタ処理のゲインを、前記受信データのジッタ量に応じて設定することを特徴とするゲイン設定方法。
The following notes are disclosed regarding the above embodiments.
(Appendix 1)
A clock data recovery circuit that generates a clock based on received data;
A receiving apparatus comprising: a setting unit configured to set a gain of a filtering process for filtering a phase difference between the received data and the clock in the clock data recovery circuit according to a jitter amount of the received data.
(Appendix 2)
The receiving apparatus according to claim 1, wherein the setting unit monitors the phase difference as the jitter amount and sets a gain of the filtering process.
(Appendix 3)
The receiving apparatus according to claim 1, wherein the setting unit monitors an average value of the phase differences for a predetermined number of times as the jitter amount and sets a gain of the filtering process.
(Appendix 4)
The setting unit changes the gain of the filtering process so that the phase difference is reduced based on an initial setting of the gain of the filtering process when the phase difference is greater than or equal to a reference. 4. The receiving device according to 3.
(Appendix 5)
When the phase difference is greater than or equal to a reference, the setting unit performs the filtering process so that the phase difference is reduced based on a change in the phase difference between the received data and the clock before and after the gain of the filtering process is changed. 4. The receiving apparatus according to appendix 2 or 3, wherein the gain is changed.
(Appendix 6)
The setting unit sets the gain of the filtering process relative to the first gain, rather than the first phase difference between the received data and the clock when the gain of the filtering process is set to the first gain. If the second phase difference between the received data after changing to the second gain having a difference in the first direction and the clock is small, the second gain has a difference in the first direction with respect to the second gain. The receiving apparatus according to appendix 5, wherein a gain of 3 is set as a gain of the filtering process.
(Appendix 7)
The setting unit sets the gain of the filtering process relative to the first gain, rather than the first phase difference between the received data and the clock when the gain of the filtering process is set to the first gain. If the second phase difference between the received data and the clock after changing to the second gain having the difference in the first direction is large, the second gain is set in the second direction opposite to the first direction. The receiving apparatus according to appendix 5 or 6, wherein a fourth gain changed in a direction is set as a gain of the filtering process.
(Appendix 8)
The receiving apparatus according to appendix 7, wherein the fourth gain is a gain having a difference in the second direction with respect to the first gain.
(Appendix 9)
The clock data recovery circuit includes a plurality of clock data recovery circuits having different gains for the filtering process.
The reception according to claim 2 or 3, wherein the setting unit includes a selection circuit that selects a clock generated by the clock data recovery circuit having the smallest phase difference among the plurality of clock data recovery circuits. apparatus.
(Appendix 10)
The appendix 1 includes a jitter measurement circuit that measures a jitter amount of the received data based on the received data and sets a gain of the filter processing according to the measured jitter amount. The receiving device described.
(Appendix 11)
The jitter measurement circuit includes:
A clock data recovery circuit that outputs a first clock and a second clock based on the received data;
A plurality of flip-flop circuits that respectively sample the received data with a plurality of clocks obtained by delaying the second clock by a predetermined time;
A logic circuit that performs an exclusive OR operation on the output values of adjacent flip-flop circuits;
By sampling the output value of the logic circuit with the first clock, the circuit detects the timing at which the output value of the adjacent flip-flop circuit changes, and measures the jitter amount based on the detected timing;
The receiving apparatus according to claim 10, further comprising: a conversion table that converts the measured jitter amount into a gain of the filtering process.
(Appendix 12)
A gain of a filtering process for filtering a phase difference between the received data and the clock in a clock data recovery circuit that generates a clock based on the received data, according to a jitter amount of the received data Setting method.

1 受信装置
2 クロックデータリカバリ回路
C21〜C2n クロックデータリカバリ回路
3,3a,3b ゲイン設定部(設定部)
6 ジッタ測定回路(設定部)
11,111〜11n フィルタ回路
52 セレクタ(選択回路)
61 クロックデータリカバリ回路
62 最大ジッタ量判定回路
63 最大ジッタ量記憶回路
64 変換テーブル
A1〜Am D−フリップフロップ回路(フリップフロップ回路)
C12〜C(m−1)m 排他的論理和回路(論理回路)
E12〜E(m−1)m D−フリップフロップ回路
CLK 抽出クロック(クロック)
D1 受信データ
D2 位相差情報(位相差)
G1 ゲインパラメータ(ゲイン)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Receiver 2 Clock data recovery circuit C21-C2n Clock data recovery circuit 3, 3a, 3b Gain setting part (setting part)
6 Jitter measurement circuit (setting unit)
11, 111 to 11n Filter circuit 52 Selector (selection circuit)
61 Clock data recovery circuit 62 Maximum jitter amount determination circuit 63 Maximum jitter amount storage circuit 64 Conversion table A1 to Am D-flip flop circuit (flip flop circuit)
C12 to C (m-1) m exclusive OR circuit (logic circuit)
E12 to E (m-1) m D-flip flop circuit CLK extraction clock (clock)
D1 Received data D2 Phase difference information (phase difference)
G1 Gain parameter (gain)

Claims (10)

受信データに基づいてクロックを生成するクロックデータリカバリ回路と、
前記受信データのジッタ量に応じて、前記クロックデータリカバリ回路において前記受信データと前記クロックとの位相差をフィルタするフィルタ処理のゲインを設定する設定部と
を有することを特徴とする受信装置。
A clock data recovery circuit that generates a clock based on received data;
A receiving apparatus comprising: a setting unit configured to set a gain of a filtering process for filtering a phase difference between the received data and the clock in the clock data recovery circuit according to a jitter amount of the received data.
前記設定部は、前記位相差を前記ジッタ量としてモニタし、前記フィルタ処理のゲインを設定することを特徴とする請求項1に記載の受信装置。   The receiving apparatus according to claim 1, wherein the setting unit monitors the phase difference as the jitter amount and sets a gain of the filtering process. 前記設定部は、前記位相差が基準以上の場合に、前記フィルタ処理のゲインの初期設定に基づいて前記位相差が小さくなるように前記フィルタ処理のゲインを変更することを特徴とする請求項2に記載の受信装置。   The said setting part changes the gain of the said filter process so that the said phase difference may become small based on the initial setting of the gain of the said filter process, when the said phase difference is more than a reference | standard. The receiving device described in 1. 前記設定部は、前記位相差が基準以上の場合に、前記フィルタ処理のゲインの変更前後における前記受信データと前記クロックとの位相差の変化に基づいて前記位相差が小さくなるように前記フィルタ処理のゲインを変更することを特徴とする請求項2に記載の受信装置。   When the phase difference is greater than or equal to a reference, the setting unit performs the filtering process so that the phase difference is reduced based on a change in the phase difference between the received data and the clock before and after the gain of the filtering process is changed. The receiving apparatus according to claim 2, wherein the gain is changed. 前記設定部は、前記フィルタ処理のゲインを第1のゲインに設定した場合の前記受信データと前記クロックとの第1の位相差よりも、前記フィルタ処理のゲインを前記第1のゲインに対して第1方向の差を有する第2のゲインに変更した後の前記受信データと前記クロックとの第2の位相差が小さければ、前記第2のゲインに対して前記第1方向の差を有する第3のゲインを前記フィルタ処理のゲインに設定することを特徴とする請求項4に記載の受信装置。   The setting unit sets the gain of the filtering process relative to the first gain, rather than the first phase difference between the received data and the clock when the gain of the filtering process is set to the first gain. If the second phase difference between the received data after changing to the second gain having a difference in the first direction and the clock is small, the second gain has a difference in the first direction with respect to the second gain. The receiving apparatus according to claim 4, wherein a gain of 3 is set as a gain of the filtering process. 前記設定部は、前記フィルタ処理のゲインを第1のゲインに設定した場合の前記受信データと前記クロックとの第1の位相差よりも、前記フィルタ処理のゲインを前記第1のゲインに対して第1方向の差を有する第2のゲインに変更した後の前記受信データと前記クロックとの第2の位相差が大きければ、前記第2のゲインを前記第1方向とは反対方向の第2方向に変化させた第4のゲインを前記フィルタ処理のゲインに設定することを特徴とする請求項4又は5に記載の受信装置。   The setting unit sets the gain of the filtering process relative to the first gain, rather than the first phase difference between the received data and the clock when the gain of the filtering process is set to the first gain. If the second phase difference between the received data and the clock after changing to the second gain having the difference in the first direction is large, the second gain is set in the second direction opposite to the first direction. The receiving apparatus according to claim 4 or 5, wherein a fourth gain changed in a direction is set as a gain of the filtering process. 前記クロックデータリカバリ回路は、前記フィルタ処理のゲインが互いに異なる複数のクロックデータリカバリ回路を有し、
前記設定部は、前記複数のクロックデータリカバリ回路のうち、前記位相差が最も小さくなるクロックデータリカバリ回路が生成するクロックを選択する選択回路を有することを特徴とする請求項2に記載の受信装置。
The clock data recovery circuit includes a plurality of clock data recovery circuits having different gains for the filtering process.
The receiving apparatus according to claim 2, wherein the setting unit includes a selection circuit that selects a clock generated by the clock data recovery circuit having the smallest phase difference among the plurality of clock data recovery circuits. .
前記設定部は、前記受信データに基づいて該受信データのジッタ量を測定し、その測定したジッタ量に応じた前記フィルタ処理のゲインを設定するジッタ測定回路を有することを特徴とする請求項1に記載の受信装置。   The said setting part has a jitter measurement circuit which measures the jitter amount of this received data based on the said received data, and sets the gain of the said filter process according to the measured jitter amount. The receiving device described in 1. 前記ジッタ測定回路は、
前記受信データに基づいて第1クロック及び第2クロックを出力するクロックデータリカバリ回路と、
前記第2クロックを所定時間ずつ遅延させた複数のクロックでそれぞれ前記受信データをサンプリングする複数のフリップフロップ回路と、
隣り合う前記フリップフロップ回路の出力値を排他的論理和演算する論理回路と、
前記論理回路の出力値を前記第1クロックでサンプリングすることで、前記隣り合うフリップフロップ回路の出力値が変化するタイミングを検出し、その検出したタイミングに基づいてジッタ量を測定する回路と、
前記測定したジッタ量を前記フィルタ処理のゲインに変換する変換テーブルとを有することを特徴とする請求項8に記載の受信装置。
The jitter measurement circuit includes:
A clock data recovery circuit that outputs a first clock and a second clock based on the received data;
A plurality of flip-flop circuits that respectively sample the received data with a plurality of clocks obtained by delaying the second clock by a predetermined time;
A logic circuit that performs an exclusive OR operation on the output values of adjacent flip-flop circuits;
By sampling the output value of the logic circuit with the first clock, the circuit detects the timing at which the output value of the adjacent flip-flop circuit changes, and measures the jitter amount based on the detected timing;
The receiving apparatus according to claim 8, further comprising: a conversion table that converts the measured jitter amount into a gain of the filtering process.
受信データに基づいてクロックを生成するクロックデータリカバリ回路において前記受信データと前記クロックとの位相差をフィルタするフィルタ処理のゲインを、前記受信データのジッタ量に応じて設定することを特徴とするゲイン設定方法。   A gain of a filtering process for filtering a phase difference between the received data and the clock in a clock data recovery circuit that generates a clock based on the received data, according to a jitter amount of the received data Setting method.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9705510B2 (en) 2015-06-26 2017-07-11 Socionext Inc. CDR control circuit, CDR circuit, and CDR control method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08125645A (en) * 1994-10-26 1996-05-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Digital phase synchronization circuit
JP2000261316A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Victor Co Of Japan Ltd Phase synchronous circuit
JP2001060864A (en) * 1999-08-19 2001-03-06 Mitsubishi Electric Corp Digital phase locked loop circuit
JP2001250341A (en) * 1999-12-28 2001-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Asymmetry detecting device, jitter detecting device and recording and reproducing device
US6545507B1 (en) * 2001-10-26 2003-04-08 Texas Instruments Incorporated Fast locking CDR (clock and data recovery circuit) with high jitter tolerance and elimination of effects caused by metastability
US20030128786A1 (en) * 2002-01-08 2003-07-10 International Business Machines Corporation Clock data recovery system
JP2009200570A (en) * 2008-02-19 2009-09-03 Hitachi Ltd Clock recovery circuit

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08125645A (en) * 1994-10-26 1996-05-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Digital phase synchronization circuit
JP2000261316A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Victor Co Of Japan Ltd Phase synchronous circuit
JP2001060864A (en) * 1999-08-19 2001-03-06 Mitsubishi Electric Corp Digital phase locked loop circuit
JP2001250341A (en) * 1999-12-28 2001-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Asymmetry detecting device, jitter detecting device and recording and reproducing device
US6545507B1 (en) * 2001-10-26 2003-04-08 Texas Instruments Incorporated Fast locking CDR (clock and data recovery circuit) with high jitter tolerance and elimination of effects caused by metastability
US20030128786A1 (en) * 2002-01-08 2003-07-10 International Business Machines Corporation Clock data recovery system
JP2009200570A (en) * 2008-02-19 2009-09-03 Hitachi Ltd Clock recovery circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9705510B2 (en) 2015-06-26 2017-07-11 Socionext Inc. CDR control circuit, CDR circuit, and CDR control method

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