JP2013015964A - Pass rate estimation device, pass rate estimation method, and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、検査対象物をロット毎に第一の検査方法で検査して、検査に合格しなかったロットを第一の検査方法とは異なる第二の検査方法で検査した場合に合格する可能性を推定する合格率推定装置に関する。 The present invention is capable of passing inspection when an inspection object is inspected for each lot by the first inspection method, and a lot that does not pass the inspection is inspected by a second inspection method different from the first inspection method. The present invention relates to a pass rate estimation apparatus that estimates sex.
製品の製造工程では材料や部品の品質管理が行われる。品質管理では、検査装置などが、材料や部品が満たすべき性能を計測し何らかの規格値と比較することで、品質を満たすか否かを判定している。品質を満たさない材料や部品は廃棄されることが一般的であるので、不良品を少なくすることが重要だが、不良率自体はそれほど大きくないので品質管理を効率化することも要請される。 In the product manufacturing process, quality control of materials and parts is performed. In quality control, an inspection device or the like determines whether or not quality is satisfied by measuring performance to be satisfied by materials and parts and comparing it with some standard value. Since materials and parts that do not satisfy quality are generally discarded, it is important to reduce the number of defective products. However, since the defective rate itself is not so large, it is also required to improve the quality control.
例えば、不良品の発生傾向を把握する手法が考えられている(例えば、特許文献1参照。)。特許文献1では、品質管理の分析対象期間において、不良発生した該当部品が、どの装置で、いつ組みつけられたのか、どのような部品形状か、を表で表示する品質情報収集分析システムが開示されている。このような手法によれば、例えばA装置とB装置の間で通常より時間がかかった時に不良が発生した場合は、その設備間での不良が多いことを予測可能となる。
For example, a method for grasping the tendency of occurrence of defective products has been considered (for example, see Patent Document 1).
ところで、不良率を下げかつ品質管理を効率化するため、合格しなかったロットに対し検査を複数回行う手法(二次評価方法)がある。 By the way, there is a method (secondary evaluation method) for inspecting a lot that has not passed a plurality of times in order to reduce the defect rate and improve the quality control efficiency.
図13は、従来の品質管理を模式的に説明する図の一例である。
1回目の検査:厳しい規格値を用いた簡易的な検査を行い、検査に合格しないロットは2回目の検査に回す。
2回目の検査:1回目の検査よりも計測精度の高い検査を全ての材料や部品に行い、規格値を満たすか否かを検査する。
FIG. 13 is an example of a diagram schematically illustrating conventional quality control.
First inspection: A simple inspection using strict standard values is performed, and lots that do not pass the inspection are sent to the second inspection.
Second inspection: Inspection with higher measurement accuracy than the first inspection is performed on all materials and parts to inspect whether the standard value is satisfied.
このように検査を複数回行うことで、1回目の検査に合格した材料や部品については検査時間を短縮でき、2回目の検査に合格した材料や部品は不良率の低減に貢献できる。図では、検査担当者が今回ロットの一部を抜き取って「108」という誘電率の実績値を得たが、規格値を見たさなかった。このため、検査担当者は今回ロットを保管しておき、後で(例えば1週間〜6ヶ月後)再検査する。再検査の結果によって、今回ロットの例えば100%が合格した、80%が合格した、又は、合格率が低いので全て廃棄する、等の最終的な検査結果が得られる。 By performing the inspection multiple times in this way, the inspection time can be shortened for materials and parts that have passed the first inspection, and the materials and parts that have passed the second inspection can contribute to a reduction in the defect rate. In the figure, the inspector took out a part of the lot this time and obtained the actual value of dielectric constant “108”, but did not see the standard value. For this reason, the person in charge of inspection stores the lot this time and re-inspects it later (for example, one week to six months later). Depending on the result of the re-inspection, for example, a final inspection result is obtained such that 100% of the current lot has passed, 80% has passed, or all of the lots are discarded because the acceptance rate is low.
しかしながら、二次評価方法では、1回目の検査に合格しなかったロットについて2回目の検査までの期間、製品に使用できるのか否かが確定しないという問題がある。製品の製造では、生産計画によりラインなどが生産する製品の数が決まるので、製品の製造に必要な材料や部品を準備しておく必要がある。製品に使用できるのか否かが確定しないと、1回目の検査に合格しなかったロット分を全て余分に作成又は注文する必要を生じさせる。このため、余分に作成等される材料や部品がコスト増を招いたり、余分に作成等される材料や部品の在庫管理が必要になるという問題がある。 However, the secondary evaluation method has a problem that it cannot be determined whether or not a lot that has not passed the first inspection can be used for a product during the period until the second inspection. In the production of products, the number of products produced by a line or the like is determined by the production plan, so it is necessary to prepare materials and parts necessary for the production of the products. If it is not determined whether or not the product can be used, it becomes necessary to create or order all the lots that have not passed the first inspection. For this reason, there is a problem that extra materials and parts that are created cause an increase in cost, and inventory management of extra materials and parts that are created is necessary.
本発明は、上記課題に鑑み、検査を複数回行う品質管理において、余分に作成等される材料や部品の量を低減できる合格率推定装置を提供することを目的とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a pass rate estimation device that can reduce the amount of extra materials and parts that are created in quality control in which inspection is performed a plurality of times.
本発明は、検査対象物をロット毎に第一の検査方法で検査して、検査に合格しなかったロットを前記第一の検査方法とは異なる第二の検査方法で検査した場合に合格する可能性を推定する合格率推定装置であって、1つ以上の検査項目における今回のロットの計測値を取得する計測値取得手段と、前記第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロットの前記検査項目の過去計測値、及び、過去のロットが前記第二の検査方法で合格した再検査合格率を記憶した過去計測値記憶手段と、前記検査項目毎に前記過去計測値により標準化された、規格値に対する今回のロットの前記計測値の偏差量を計算する偏差量計算手段と、前記過去計測値の過去偏差量を記憶した過去偏差量記憶手段と、前記検査項目毎に前記偏差量に対する前記過去偏差量の差の大きさを算出する差算出手段と、前記過去計測値記憶手段から、前記検査項目毎の前記差が所定値内に入る過去のロットの前記再検査合格率を読み出し、今回のロットの再検査合格率を推定する再検査合格率推定手段と、を有する。 The present invention inspects an inspection object for each lot by the first inspection method, and passes a lot that did not pass the inspection by a second inspection method different from the first inspection method. A pass rate estimation device for estimating the possibility, a measurement value acquisition means for acquiring a measurement value of the current lot in one or more inspection items, and a past that did not pass the inspection by the first inspection method The past measurement value of the inspection item of the lot and the past measurement value storage means for storing the re-inspection pass rate that the past lot has passed by the second inspection method, and standardized by the past measurement value for each inspection item The deviation amount calculating means for calculating the deviation amount of the measured value of the current lot with respect to the standard value, the past deviation amount storing means for storing the past deviation amount of the past measured value, and the deviation for each inspection item Said past deviation to quantity From the difference calculation means for calculating the difference magnitude, and the past measurement value storage means, the retest pass rate of the past lot in which the difference for each inspection item falls within a predetermined value is read, and Re-inspection pass rate estimation means for estimating a re-inspection pass rate.
検査を複数回行う品質管理において、余分に作成等される材料や部品の量を低減できる合格率推定装置を提供することができる。 In the quality control in which the inspection is performed a plurality of times, it is possible to provide a pass rate estimation device capable of reducing the amount of extra materials and parts created.
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。
図1は、本実施形態において特徴的な再検査による合格率の推定の概略を説明する図の一例である。検査担当者は、材料や部品などの検査対象物を、決まった装置を用いて決められた手順で操作して検査する。検査項目は例えば、誘電率、磁気性、凝集度、流動性等である。ここで、検査対象物はロット生産(一定数量単位で生産する生産形態)されることが多いので、ロット生産された検査対象物の一部をISOやJISの規格に基づき抽出して検査する抜き取り検査が行われる。
Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is an example of a diagram illustrating an outline of estimation of a pass rate by characteristic re-examination in the present embodiment. The person in charge of inspection inspects inspection objects such as materials and parts by operating a predetermined procedure using a predetermined apparatus. The inspection items are, for example, dielectric constant, magnetic property, cohesion degree, fluidity and the like. Here, since inspection objects are often produced in lots (a production form that is produced in a fixed quantity unit), a part of the inspection objects produced in lots is extracted and inspected based on ISO or JIS standards. Inspection is performed.
計測装置が検査項目毎に検査対象物を検査した物性などの計測値(以下、実績値という)は、検査項目毎の規格値と比較され、ロット単位で合否が判定される。合格と判定されたロットは次工程の製造(製品製造の工程を含む)に用いられるが、不合格と判定されたロットは再検査に回される。このため、今回、一回目の検査が行われたロット(以下、今回ロットという)よりも、過去に一回目の検査が行われ不合格となったロット(以下、過去ロット)は、二次評価方法に従って再検査されており、すでに再検査の合格率が算出されている。 A measurement value (hereinafter referred to as an actual value) such as a physical property obtained by inspecting an inspection object for each inspection item by the measuring device is compared with a standard value for each inspection item, and pass / fail is determined on a lot basis. Lots determined to be acceptable are used for manufacturing the next process (including product manufacturing processes), but lots determined to be unacceptable are sent for re-inspection. For this reason, lots that were rejected after the first inspection in the past (hereinafter referred to as the previous lot) are now subject to the secondary evaluation, rather than the lot that was inspected for the first time (hereinafter referred to as the current lot). It has been re-inspected according to the method, and the re-inspection pass rate has already been calculated.
本実施形態の合格率推定装置は、この不合格のロットが再検査に合格する確率を予測することで、計画的に生産される製品の検査対象物の製造量を精度よく予測して、在庫管理コストを低減する。
(1)合格率推定装置は、過去の不合格ロットの実績値を使って、今回ロットの検査項目毎に規格値に対する実績値の偏差値を計算する。この偏差値は、規格値に対し実績値が大きいほど大きい値に、規格値に対し実績値が小さいほど小さい値になる。
(2)合格率推定装置は、今回ロットの検査項目毎の偏差値と、過去ロットの実績値の偏差値を比較して、今回ロットと各過去ロットとの類似度を計算する。つまり、過去ロットにおいて、各検査項目の偏差値が今回ロットと似ているロットは、今回ロットとの類似度が高くなる。
(3)合格率推定装置は、判定基準を読み出して、今回ロットと過去ロットの類似度を比較し、類似している過去ロットを特定する。すなわち、今回ロットと偏差値が同様な傾向を持つ過去ロットを絞り込む。
(4)合格率推定装置は、類似している過去ロットの再検査合格率を読み出し、この再検査合格率を用いて今回ロットの再検査合格率を推定する。
The acceptance rate estimation device of the present embodiment predicts the probability that the rejected lot will pass the re-inspection, thereby accurately predicting the production amount of the inspection object of the product produced systematically, and Reduce administrative costs.
(1) The pass rate estimation device calculates a deviation value of the actual value with respect to the standard value for each inspection item of the current lot using the past actual value of the rejected lot. The deviation value becomes larger as the actual value is larger than the standard value, and becomes smaller as the actual value is smaller than the standard value.
(2) The pass rate estimation apparatus compares the deviation value for each inspection item of the current lot with the deviation value of the actual value of the past lot, and calculates the similarity between the current lot and each past lot. That is, in the past lot, a lot whose deviation value of each inspection item is similar to the current lot has a high similarity to the current lot.
(3) The acceptance rate estimation apparatus reads the determination criterion, compares the similarity between the current lot and the past lot, and identifies similar past lots. That is, the past lots having the same tendency as the current lot and the deviation values are narrowed down.
(4) The pass rate estimation device reads a retest pass rate of similar past lots, and estimates the retest pass rate of the current lot using the retest pass rate.
このように偏差値の類似度から今回ロットの再検査合格率を推定することで、今回ロットの再検査合格率を高精度に推定可能になる。製造管理者は、理論的には「1−再検査合格率」だけ材料や部品を再検査不合格率分、追加生産すればよいと判断できるので、余分に作成される材料や部品によるコストを低減でき、余分に作成される材料や部品の在庫管理にかかる費用を抑制できる。 Thus, by estimating the re-inspection pass rate of the current lot from the similarity of the deviation values, the re-inspection pass rate of the current lot can be estimated with high accuracy. Since the production manager can theoretically determine that it is sufficient to additionally produce materials and parts corresponding to the retest failure rate by “1-retest pass rate”, the cost of extra materials and parts created is reduced. It is possible to reduce the cost of inventory management for extra materials and parts.
〔二次評価方法〕
まず、品質管理を効率化しながら不良率も低減するため、1回目の検査で合格しなかったロットを2回検査する二次元評価方法について説明する。
[Secondary evaluation method]
First, a two-dimensional evaluation method for inspecting a lot that has not passed the first inspection twice in order to reduce the defect rate while improving the quality control will be described.
二次元評価方法には、例えば、1回目と2回目で試験方法を変更する「試験方法変更法」と、「上下限サンプル評価法」とがある。試験方法変更法は、1回目の検査は製品規格に比べ実績値の計測方法を簡易化しているため、製品規格に則って2回目の検査を行う検査方法である。上下限サンプル評価法は、上限と下限の標準サンプルによる製造規格と、それよりも緩和された製品規格の2つの規格を用いて、検査する検査方法である。 The two-dimensional evaluation method includes, for example, a “test method change method” in which the test method is changed between the first time and the second time, and an “upper / lower limit sample evaluation method”. The test method changing method is an inspection method for performing the second inspection in accordance with the product standard because the first inspection simplifies the method of measuring the actual value compared to the product standard. The upper and lower limit sample evaluation method is an inspection method in which inspection is performed using two standards, that is, a manufacturing standard based on upper and lower standard samples and a product standard that is more relaxed than that.
図2(a)は試験方法変更方法を説明する図の一例である。例えば、トナーの検査では、ゆるみ見かけ密度、色分析(L、a*、b*)、粗大粒子量、定着下限(スミア)、定着上限(ホット)、緩凝集体量などの検査項目が試験方法変更法にて検査される。この中のスミア性を例に説明する。スミア性は、用紙に定着したトナーの定着性が十分でないため画質低下を起こすことをいう。例えば、片面にトナーが定着している状態で、他方の面に画像を形成する際に片面の画像がすれたりにじむことを言う。検査装置は、スミア性の検査のため、定着下限(温度)における物性(粘度など)を計測する。実績値が規格値に対し所定範囲に入っていればこの検査項目に合格することができる。 FIG. 2A is an example for explaining a test method changing method. For example, in the toner inspection, inspection items such as loose apparent density, color analysis (L, a *, b *), coarse particle amount, fixing lower limit (smear), fixing upper limit (hot), and amount of loose aggregates are test methods. Inspected by the modified method. The smear property in this will be described as an example. The smear property means that image quality is deteriorated because the toner fixed on the paper is not sufficiently fixed. For example, it means that an image on one side is blurred or smeared when an image is formed on the other side with toner fixed on one side. The inspection device measures physical properties (such as viscosity) at the lower limit of fixation (temperature) for smear inspection. If the actual value is within a predetermined range with respect to the standard value, the inspection item can be passed.
1回目の検査は、製品規格の温度範囲よりも狭い温度(例えば、140度一点)で規格値を満たせば、検査に合格できる。こうすることで検査時間を短縮できる。これに対し、1回目の検査に合格できないロットは、製品規格の温度範囲で、実績値が規格値を満たすか否かが検査される。このように、製品規格の温度範囲で、温度を振って検査することで検査精度を向上させ、ロット全体から製品規格を満たす材料や部品を抽出することができる。 The first inspection can pass the inspection if the standard value is satisfied at a temperature narrower than the temperature range of the product standard (for example, 140 degree one point). By doing so, the inspection time can be shortened. On the other hand, lots that cannot pass the first inspection are inspected in the temperature range of the product standard to see whether the actual value satisfies the standard value. In this way, by inspecting at different temperatures within the temperature range of the product standard, the inspection accuracy can be improved, and materials and parts that satisfy the product standard can be extracted from the entire lot.
図2(b)は、上下限サンプル評価法を説明する図の一例である。この検査は、正確な計測が難しい検査項目を検査する際に有効である。例えば、以下のような場合である。
・測定器のコンディションによって実績値にバラツキが生じる可能性がある検査項目
・規格の上下限ボーダ品に判断を委ねても品質管理に影響がない検査項目
図2(b)ではトナーにおいて上下限サンプル評価法が適用される検査項目として、円形度、体積固有抵抗、誘電率、表面WAX量、Si・Ti(含有量)、圧片が挙げられている。この上下限サンプル評価法では、製品規格の規格値の上限よりも実績値が小さいことが保証された標準サンプルによる検査結果(実績値)が、製造規格の上限の規格値に設定される。同様に、製品規格の規格値の下限よりも実績値が大きいことが保証された標準サンプルによる検査結果(実績値)が製造規格の下限に設定される。
FIG. 2B is an example of a diagram illustrating the upper and lower limit sample evaluation method. This inspection is effective when inspecting inspection items for which accurate measurement is difficult. For example, the following cases.
・ Inspection items that may cause variations in actual values depending on the condition of the measuring instrument ・ Inspection items that do not affect the quality control even if the decision is made to the upper and lower limit border products of the standard In FIG. Inspection items to which the evaluation method is applied include circularity, volume resistivity, dielectric constant, surface WAX amount, Si · Ti (content), and pressure pieces. In this upper and lower limit sample evaluation method, the inspection result (actual value) by a standard sample in which the actual value is guaranteed to be smaller than the upper limit of the standard value of the product standard is set as the upper limit standard value of the manufacturing standard. Similarly, an inspection result (actual value) by a standard sample in which the actual value is guaranteed to be larger than the lower limit of the standard value of the product standard is set as the lower limit of the manufacturing standard.
1回目の検査では、今回ロットの実績値がこの上下限の範囲に入るか否かにより検査に合格するか否かが判定される。こうすることで測定器のコンディションによるバラツキがあっても標準サンプルとの比較(相対的に)により検査できる。 In the first inspection, whether or not the inspection is passed is determined depending on whether or not the actual value of the current lot falls within the upper and lower limits. In this way, even if there are variations due to the condition of the measuring instrument, it can be inspected by comparison (relatively) with the standard sample.
図示するように、1回目の検査に適用される製造規格では、上下限の標準サンプルの規格値が不良品流出防止のため製品規格よりも厳しくなっている(余裕を見て決定されている)。2回目の検査では、製造規格よりも緩和された製品規格が規格値となり、今回ロットの全数が検査されるので、2回目の検査に合格する材料や部品が抽出される。 As shown in the figure, in the manufacturing standard applied to the first inspection, the standard value of the upper and lower standard samples is stricter than the product standard to prevent the outflow of defective products (determined with a margin). . In the second inspection, the product standard relaxed from the manufacturing standard becomes the standard value, and all the lots are inspected at this time. Therefore, materials and parts that pass the second inspection are extracted.
本実施形態の合格率推定方法は、このような二次元評価方法において、1回目の検査に合格しなかったロットが、2回目の検査で合格する合格率を推定する。 In the two-dimensional evaluation method, the pass rate estimation method of the present embodiment estimates a pass rate at which a lot that has not passed the first inspection passes the second inspection.
〔構成例〕
図3は、本実施形態の検査システム300の概略構成図の一例を示す。検査システム300は、ネットワーク301を介して接続された検査装置200と合格率推定装置100を有する。必ずしもネットワーク301を介して接続されている必要はないが、こうすることで検査装置200から合格率推定装置100への実績値の転送が容易になる。また、合格率推定装置100の機能を検査装置200に搭載しておいてもよい。
[Configuration example]
FIG. 3 shows an example of a schematic configuration diagram of the
ネットワーク301は、主に、社内LANや広域LAN(WAN)などの社内で完結するネットワークであるが、IP−VNP(Virtual Private Network)、インターネットVPN、又は、インターネットなどでもよい。後者の構成は、例えば、検査対象物の検査の部署や企業と、検査対象物の受け入れ先の部署や企業が離れている場合に有効である。なお、ネットワーク301の一部に電話回線を含んでいてもよく、また、有線接続か無線接続は問わない。
The
検査装置200は、検査対象物が予め定められた数量(すなわちロット)だけ生産されると、予め定められた数又は量をサンプリングして、検査項目について検査を行い、実績値を合格率推定装置100に送信する。検査項目は一般に複数個あるので、検査装置200も複数個ある場合が多い。検査項目は、例えば図2で説明したような項目があるが、検査対象物の検査に有用な検査が適宜行われる。
When the inspection object is produced by a predetermined quantity (that is, lot), the
図4は、合格率推定装置100のハードウェア構成図の一例を示す。合格率推定装置100はコンピュータの一形態である。合格率推定装置100はそれぞれバスで相互に接続されているCPU101、RAM102、ROM103、記憶媒体装着部104、通信装置105、入力装置106、描画制御部107、及び、HDD108を有する。CPU101は、OS(Operating System)やプログラムをHDD108から読み出して実行することで種々の機能を提供すると共に、合格率推定装置100が行う処理を統括的に制御する。
FIG. 4 shows an example of a hardware configuration diagram of the pass
RAM102はCPU101がプログラムを実行する際に必要なデータを一時保管する作業メモリ(主記憶メモリ)になり、ROM103はBIOS(Basic Input Output System)やOSを起動するためのプログラム、静的なデータが記憶されている。
The
記憶媒体装着部104には記憶媒体110が着脱可能であり、記憶媒体110に記録されたプログラムを読み込み、HDD108に記憶させる。また、記憶媒体装着部104は、HDD108に記憶されたデータを記憶媒体110に書き込むこともできる。記憶媒体110は例えば、USBメモリ、SDカード等である。
A
入力装置106は、キーボードやマウス、トラックボールなどであり、合格率推定装置100の製造管理者の様々な操作指示を受け付ける。
The
HDD108は、SSD等の不揮発メモリでもよく、OS、プログラム、規格値などの各種のデータが記憶されている。合格率推定装置100は、今回ロットの合格率を推定するためプログラム111を有している。
The
通信装置105は、インターネットなどのネットワーク301に接続するためのNIC(Network Interface Card)であり、例えば、イーサネット(登録商標)カードである。
The
描画制御部107は、CPU101がプログラム111を実行してグラフィックメモリに書き込んだ描画コマンドを解釈して、画面を生成しディスプレイ109に描画する。
The
図5は、合格率推定装置100の機能ブロック部の一例である。合格率推定装置100は、偏差値計算部11、類似度計算部12、類似判定部13、及び、合格率推定部14を有する。また、合格率推定装置100は、偏差値、類似度、及び、合格率を計算するために、DB1〜5に、検査項目毎の規格値、過去ロットの実績値の偏差値、判定基準、過去ロットの再検査合格率、過去の不合格ロットの実績値の各データを有している。DB1〜5はHDD108に搭載されている。なお、合格率推定装置100がネットワーク301を介して各DB1〜5を読み出せるようになっていればよく、合格率推定装置100がDB1〜5を有していなくてもよい。DB1〜5は模式的な図であって、DB1〜5が5つ以下のDBに集約されていてもよい。
FIG. 5 is an example of a functional block unit of the pass
図5の各機能について詳細は後述するが、まず全体フローにより各機能と手順を簡単に説明する。図6は、合格率推定装置100が2回目の検査の合格率を推定する手順の全体的な流れを示すフローチャート図の一例である。
S10:偏差値計算部11は今回ロットの実績値の偏差値を計算する。すなわち、DB1から検査項目毎の規格値を、DB5から過去の不合格ロットの実績値をそれぞれ読み出し、今回ロットの実績値の規格値に対する偏差値を計算する。なお、過去ロットの実績値の偏差値はすでに計算されている。(過去の検査実績の偏差値は検査が不合格になったロットが増える毎に再計算される。)
S20:次に、類似度計算部12は、DB2から過去ロットの実績値の偏差値を読み出す。
S30:類似度計算部12は、過去ロットの実績値の偏差値と今回ロットの偏差値と比較して類似度を計算する。
S40:類似判定部13は、DB3から判定基準を読み出して、今回ロットとの類似度が所定値以上の過去ロットを特定する。
S50:合格率推定部14は今回ロットとの類似度が所定値以上の過去ロットの再検査合格率をDB4から読み出す。
S60:合格率推定部14は、過去ロットの再検査合格率を重み付けして加重平均し、今回ロットの再検査合格率を推定する。
The details of each function in FIG. 5 will be described later. First, each function and procedure will be briefly described with reference to the overall flow. FIG. 6 is an example of a flowchart illustrating an overall flow of a procedure for the acceptance
S10: The deviation value calculation unit 11 calculates the deviation value of the actual value of the current lot. That is, the standard value for each inspection item is read from DB1, and the past actual value of rejected lots is read from DB5, and the deviation value of the actual value of the current lot from the standard value is calculated. The deviation value of the actual value of the past lot has already been calculated. (The deviation value of the past inspection results is recalculated each time the number of lots that failed the inspection increases.)
S20: Next, the
S30: The
S40: The
S50: The acceptance
S60: The pass
〔偏差値の計算〕
図7は偏差値の計算手順を説明するフローチャート図の一例を、図8、9は具体的な計算例を説明する図の一例をそれぞれ示す。図7の手順は検査項目毎に繰り返して実行される。
[Calculation of deviation value]
FIG. 7 shows an example of a flowchart for explaining the procedure for calculating the deviation value, and FIGS. 8 and 9 show examples of diagrams for explaining specific examples of calculation. The procedure of FIG. 7 is repeatedly executed for each inspection item.
図8(a)に示すように、検査項目は「誘電率」、「磁気性」、「凝集度」、「流動性」の4つとする。誘電率の規格値は105、磁気性の規格値は2.5、凝集度の規格値は26、流動性の規格値は0.055、である。ロット1〜3について過去の実績値が得られており、今回ロットとしてロット4の実績値が得られている。
As shown in FIG. 8A, there are four inspection items: “dielectric constant”, “magnetic property”, “aggregation degree”, and “fluidity”. The standard value of dielectric constant is 105, the standard value of magnetic property is 2.5, the standard value of cohesion is 26, and the standard value of fluidity is 0.055. Past actual values are obtained for
ロット1〜4は、いずれも二次評価方法の1回目の検査において不合格となっている。また、ロット1〜3はすでに再検査されており「再検査合格率」が記載されている。なお、「検査日」とは1回目の検査日である。
図8(b)は誘電率について、各ロットの実績値と規格値の比較を説明する図の一例である。各ロットの実績値がそれぞれ規格値から乖離しているが、検査項目によって乖離しやすいもの、乖離しにくいものがある。このため、一見、乖離量が大きくても、再検査に合格するものあるし、乖離量が小さくても、再検査に合格しないものある。この傾向を数値化するため、偏差値計算部11は標準偏差を計算する。 FIG. 8B is an example of a diagram illustrating a comparison between the actual value and the standard value of each lot regarding the dielectric constant. The actual value of each lot deviates from the standard value, but there are some that are likely to deviate depending on the inspection item, and some that are difficult to deviate. For this reason, at first glance, even if the amount of deviation is large, there are those that pass the re-inspection, and even if the amount of deviation is small, there are those that do not pass the re-inspection. In order to digitize this tendency, the deviation value calculation unit 11 calculates a standard deviation.
図7に示すように、偏差値計算部11は、検査項目毎(最初は誘電率)に、DB5から過去に不合格となった過去ロットの実績値及び今回ロットの実績値を読み出す(S101)。また、偏差値計算部はDB1から検査項目の規格値を1つずつ(最初は誘電率)読み出す。過去ロットでは不合格となったロットのみの実績値を読み出すのは、合格したロットは再検査されないので、再検査合格率を推定する資料としては適さないためである。 As shown in FIG. 7, the deviation value calculation unit 11 reads the past lot actual value and past actual value that were rejected in the past from the DB 5 for each inspection item (initially dielectric constant) (S101). . Further, the deviation value calculation unit reads the standard values of the inspection items one by one (initially dielectric constant) from DB1. The reason why only the lots that have been rejected in the past lot are read out is because the lots that have passed are not re-inspected, and thus are not suitable as data for estimating the re-inspection pass rate.
まず、今回ロットの誘電率の実績値は108、ロット1の誘電率の実績値は102、ロット2の誘電率の実績値は160、ロット3の誘電率の実績値は110である。
First, the actual value of the dielectric constant of the current lot is 108, the actual value of the dielectric constant of
次に、偏差値計算部11は、標準偏差を計算する(S102)。標準偏差の計算式は以下のようになる。
標準偏差=√{Σ(各実績値−規格値)2/1回目の検査方法で検査に合格しなかった過去ロット数}
実績値が正規分布に従うと仮定すると、規格値±標準偏差の間に約2/3の実績値が含まれることになる。
Next, the deviation value calculation unit 11 calculates a standard deviation (S102). The formula for calculating the standard deviation is as follows.
Standard deviation = √ {Σ (each actual value−standard value) 2 / the number of past lots that did not pass the inspection by the first inspection method}
Assuming that the actual values follow a normal distribution, about 2/3 of the actual values are included between the standard value ± standard deviation.
次に、偏差値計算部11は、今回ロットの実績値の偏差値を算出する(S103)。偏差値の計算式は以下のようになる。
偏差値={(実績値−規格値)/標準偏差}+50
すなわち、実績値がばらつきやすい検査項目でも、乖離量が標準偏差で除されるので、偏差値は乖離量そのものよりも抑制される。実績値がばらつきにくい検査項目では、標準偏差も小さくなるので、偏差値は乖離量そのものよりも抑制される傾向になる。
Next, the deviation value calculation unit 11 calculates the deviation value of the actual value of the current lot (S103). The formula for calculating the deviation value is as follows.
Deviation value = {(actual value−standard value) / standard deviation} +50
That is, even for inspection items whose actual values are likely to vary, the deviation amount is divided by the standard deviation, so that the deviation value is suppressed more than the deviation amount itself. For inspection items whose actual values are less likely to vary, the standard deviation also becomes smaller, so the deviation value tends to be suppressed more than the deviation amount itself.
偏差値計算部11は今回ロットの検査項目毎の偏差値をHDD108等に書き出す(S104)。偏差値計算部11は、誘電率の偏差値を求めると、磁気性、凝集度、流動性、それぞれの偏差値を求める。
The deviation value calculation unit 11 writes the deviation value for each inspection item of the current lot in the
図9(a)は今回ロットの各検査項目の偏差値の算出結果の一例を、図9(b)は各ロットの誘電率の偏差値をグラフにより示す図の一例をそれぞれ示す。偏差値の規格値(中央値)は50なので、50からの乖離量が、各ロットの誘電率の偏差値が規格値からどのくらいずれているかを示す。 FIG. 9A shows an example of the calculation result of the deviation value of each inspection item of the current lot, and FIG. 9B shows an example of a graph showing the deviation value of the dielectric constant of each lot. Since the standard value (median value) of the deviation value is 50, the deviation from 50 indicates how much the deviation value of the dielectric constant of each lot is from the standard value.
〔類似度計算〕
図10は類似度の計算手順を説明するフローチャート図の一例を示す。この類似度は、今回ロットの各検査項目の偏差値と、過去ロット1〜3の各検査項目の偏差値それぞれとの類似度である。すなわち、類似度計算部12は各検査項目において以下の3つの類似度を計算する。
今回ロット(ロット4)とロット1の類似度
今回ロット(ロット4)とロット2の類似度
今回ロット(ロット4)とロット3の類似度
したがって、図10の手順は、過去ロット数だけ繰り返される。
(Similarity calculation)
FIG. 10 shows an example of a flowchart for explaining the similarity calculation procedure. This similarity is a similarity between the deviation value of each inspection item of the current lot and the deviation value of each inspection item of the
Similarity between current lot (lot 4) and
まず、類似度計算部12は、今回ロットの誘電率の偏差値をHDD108から、過去ロット1〜3の各検査項目の偏差値をDB2からそれぞれ読み出す(S301)。
First, the
今回ロットの誘電率の偏差値は50.48、ロット1の誘電率の偏差値は49.52、今回ロットの磁気性の偏差値は49.94、ロット1の磁気性の偏差値は50.30、今回ロットの凝集度の偏差値は52.64、ロット1の凝集度の偏差値は51.06、今回ロットの流動性の偏差値は48.47、ロット1の流動性の偏差値は50.96である。
The deviation value of the dielectric constant of the lot this time is 50.48, the deviation value of the dielectric constant of the
次に、類似度計算部12は、標準類似度を算出する(S302)。標準類似度の計算式は以下のようになる。
標準類似度=√{Σ(各実績の偏差値−今回ロットの偏差値)2/1回目の検査方法で検査に合格しなかった過去ロット数}
分子の「各実績の偏差値−今回ロットの偏差値」から明らかなように、標準類似度は、今回ロットの偏差値に対する過去ロットの偏差値の平均的なばらつきの大きさを表す。
Next, the
Standard similarity = √ {Σ (deviation value of each result−deviation value of current lot) 2 / the number of past lots that did not pass the inspection by the first inspection method}
As is clear from the numerator “deviation value of each track record—deviation value of the current lot”, the standard similarity represents the average variation of the deviation value of the past lot with respect to the deviation value of the current lot.
次に、類似度計算部12は、検査項目毎に今回ロットとの類似度を算出する(S303)。類似度の計算式は以下のようになる。この計算を、各検査項目(誘電率、磁気性、凝集度、流動性)について行う。
類似度={(過去ロットの偏差値−今回ロットの偏差値)/標準類似度}+50
すなわち、今回ロットの偏差値と過去のあるロットの偏差値との乖離を、偏差値の平均的なばらつきの大きさで除して類似度とする。今回ロットの偏差値と偏差値の差分を求めるので、類似度は今回ロットの偏差値に対する過去ロットの偏差値の隔たりである。この式のとおり、類似度は50を中心に増減するので、50に近いほど今回ロットとの類似度が高いことになる。
Next, the
Similarity = {(deviation value of past lot−deviation value of current lot) / standard similarity} +50
In other words, the difference between the deviation value of the current lot and the deviation value of a certain lot in the past is divided by the average variation of the deviation value to obtain the similarity. Since the difference between the deviation value of the current lot and the deviation value is obtained, the similarity is the difference between the deviation value of the previous lot and the deviation value of the current lot. As shown in this equation, the degree of similarity increases or decreases around 50, so the closer to 50, the higher the degree of similarity with the current lot.
例えば、ロット1と今回ロットの類似度は、誘電率で48.93、磁気性で50.71、凝集度で48.82、流動性で50.93である。いずれの類似度も標準類似度で除しているので、各検査項目のばらつきやすさは類似度から除去されている。すなわち、仮に誘電率と凝集度の類似度が同じなら、誘電率と凝集度は同じ程度で類似していると評価できる。
For example, the similarity between
ロット1の各検査項目とロット4の各検査項目で類似度を求めると、類似度計算部12はロット2の各検査項目とロット4の各検査項目の類似度を算出する。これを過去の再検査対象となったロットの数だけ繰り返す。
When the similarity is obtained for each inspection item of
なお、他の算出方法で類似度を算出してもよい。各ロットは検査項目毎に偏差値を有しているので、この偏差値の組をベクトルとみなせば、各ロットの偏差値の組同士によりn次元空間のユークリッド距離を求めることができる。例えば、ロット1とロット4のユークリッド距離は以下のように表すことができる。なお、ユークリッド距離は小さいほど類似している度合いが強いことを意味する。
ユークリッド距離=√{(50.48-49.52)2+(49.94-50.30)2+(52.64-51.06)2+(48.47-50.96)2}
Note that the similarity may be calculated by other calculation methods. Since each lot has a deviation value for each inspection item, if the set of deviation values is regarded as a vector, the Euclidean distance in the n-dimensional space can be obtained from the set of deviation values of each lot. For example, the Euclidean distance between
Euclidean distance = √ {(50.48-49.52) 2 + (49.94-50.30) 2 + (52.64-51.06) 2 + (48.47-50.96) 2 }
〔類似判定〕
図11は類似判定を説明する図の一例である。類似判定は、今回ロットと類似した過去ロットを抽出するための処理である。類似判定の考え方は、類似度が全ての検査項目において50を中心にある上下限に入っていることとする。上下限は、例えば48〜52(48.00以上、52.00未満)とする。
[Similarity judgment]
FIG. 11 is an example of a diagram illustrating similarity determination. The similarity determination is a process for extracting a past lot similar to the current lot. The concept of similarity determination is that the similarity is within the upper and lower limits centered on 50 in all inspection items. The upper and lower limits are, for example, 48 to 52 (48.00 or more and less than 52.00).
ロット1とロット4の各検査項目の類似度はそれぞれ(48.93、50.71、48.82、50.93)なので、全ての類似度が上下限に入っている。ロット2とロット4の各検査項目の類似度は(59.30、41.20、48.96、51.57)なので、誘電率と磁気性が上下限に入っていない。ロット3とロット4の各検査項目の類似度は(50.36、50.48、49.00、51.00)なので、全ての類似度が上下限に入っている。
Since the similarities of the inspection items of
類似判定部13は、全ての検査項目が上下限に入るロット1、3を、合格率を推定するための過去ロットとして特定する。なお、全ての検査項目が上下限に入る過去ロットがない場合、類似判定部13は、1つを除き全ての検査項目が上下限に入る過去ロットを特定してもよい。1つの検査項目だけ上下限に入らなくても、再検査合格率が近い場合があるからである。こうすることで、今回ロットの再検査合格率を得やすくすることができる。
The
また、検査項目の個数でなく、例えば、全検査項目の90%が上下限に入る過去ロットを類似すると判定してもよい。 Further, instead of the number of inspection items, for example, it may be determined that past lots in which 90% of all inspection items fall within the upper and lower limits are similar.
〔検査月ごとの加重平均〕
類似判定によって、各検査項目の実績値から求められた偏差値が類似したロット1,3を抽出することができた。よってこれらロット1,3の再検査合格率は今回ロットにおいても参考になる可能性が高い。例えば、ロット1、3の再検査合格率が高ければ今回ロットの再検査合格率も高いと予測する合理性がある。
[Weighted average per inspection month]
By the similarity determination, the
しかしながら、実績値そのものの信頼性が低下していると過去ロットの再検査合格率を今回ロットの再検査合格率の推定に利用するための前提を欠くおそれがある。例えば、検査装置200を校正したとしても、季節的変化、オペレータの交替、検査装置200の入れ替え等の影響を受ける。また、検査対象物の原材料、生産工場、管理方法などが変わる可能性は時間の経過と共に大きくなる。そこで、本実施形態の合格率推定部14は、類似しているロット1,3の検査日から今回ロットの検査日までの経過日数に応じて、再検査合格率を重み付けする。すなわち、経過日数が短いほど重み付けを大きくする。重み付けは例えば次のようになる。なお、6ヶ月前よりも過去は、一律に0.1よりも小さい重み付け(例えば、ゼロ、0.05)を与えてもよいし、0.1よりも小さくかつ経過日数が多いほど小さくなる重み付けを与えてもよい。
However, if the reliability of the actual value itself is lowered, there is a possibility that the premise for using the re-inspection pass rate of the past lot for estimation of the re-inspection pass rate of the current lot may be lacking. For example, even if the
検査0〜1ヶ月前:1
検査1〜3ヶ月前:0.6
検査3〜6ヶ月前:0.1
0 to 1 month before inspection: 1
1-3 months before the test: 0.6
3-6 months before the test: 0.1
図12(a)は、今回ロットの再検査合格率の推定について説明する図の一例である。図12(a)に示すように、ロット1の検査日がロット4の検査日の3〜6ヶ月前、ロット3の検査日がロット4の検査日の0〜1ヶ月前、であるとする。なお、ロット1の再検査合格率は100%、ロット3の再検査合格率は80%とする。
FIG. 12A is an example for explaining the estimation of the re-examination pass rate of the current lot. As shown in FIG. 12A, it is assumed that the inspection date of
図12(b)は、ロット4の再検査合格率の計算を説明する図の一例である。ロット1の重み付けは1、再検査合格率は100%であり、ロット3の重み付けは0.1、再検査合格率は80%である。このためロット4の再検査合格率は以下のようになる。
ロット4の再検査合格率=(1×1.00+0.1×0.8)/(1+0.1)
=0.9164(=91.64%)
したがって、合格率推定部14は、ロット4が再検査により合格する再検査合格率を91.64%であると推定する。これから、製造管理者は、製品の製造のためにロット4では足りなくなる100-91.64=8.36%を今後のロットにおいて余分に作成すればよいという生産計画を立てることができる。このように必要最小限の量を再生産すればよいので、余分に作成される材料や部品によるコストを低減でき、余分に作成される材料や部品の在庫管理にかかる費用を抑制できる。
FIG. 12B is an example of a diagram for explaining the calculation of the reinspection pass rate of
= 0.9164 (= 91.64%)
Therefore, the acceptance
11 偏差値計算部
12 類似度計算部
13 類似判定部
14 合格率推定部
100 合格率推定装置
200 検査装置
300 検査システム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Deviation
Claims (6)
1つ以上の検査項目における今回のロットの計測値を取得する計測値取得手段と、
前記第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロットの前記検査項目の過去計測値、及び、過去のロットが前記第二の検査方法で合格した再検査合格率を記憶した過去計測値記憶手段と、
前記検査項目毎に前記過去計測値により標準化された、規格値に対する今回のロットの前記計測値の偏差量を計算する偏差量計算手段と、
前記過去計測値の過去偏差量を記憶した過去偏差量記憶手段と、
前記検査項目毎に前記偏差量に対する前記過去偏差量の差の大きさを算出する差算出手段と、
前記過去計測値記憶手段から、前記検査項目毎の前記差が所定値内に入る過去のロットの前記再検査合格率を読み出し、今回のロットの再検査合格率を推定する再検査合格率推定手段と、
を有する合格率推定装置。 The inspection object is inspected for each lot by the first inspection method, and the possibility of passing if the lot that did not pass the inspection is inspected by the second inspection method different from the first inspection method is estimated. An acceptance rate estimation device that performs
A measurement value acquisition means for acquiring a measurement value of the current lot in one or more inspection items;
The past measurement value of the past inspection item of the past lot that did not pass the inspection by the first inspection method, and the past measurement value that stored the re-inspection pass rate that the past lot passed by the second inspection method Storage means;
Deviation amount calculation means for calculating a deviation amount of the measurement value of the current lot with respect to a standard value, standardized by the past measurement value for each inspection item;
Past deviation amount storage means for storing a past deviation amount of the past measurement value;
Difference calculating means for calculating the magnitude of the difference of the past deviation amount with respect to the deviation amount for each inspection item;
Re-inspection pass rate estimation means for reading the re-inspection pass rate of the past lot in which the difference for each inspection item falls within a predetermined value from the past measurement value storage unit and estimating the re-inspection pass rate of the current lot When,
A pass rate estimation apparatus having
前記再検査合格率推定手段は、過去のロットの検査日から今回のロットの検査日までの経過日数に応じて前記再検査合格率に重み付けして今回のロットの再検査合格率を推定する、
ことを特徴とする請求項1記載の合格率推定装置。 The past measurement value storage means stores an inspection date according to the first inspection method for each lot,
The re-inspection pass rate estimation means estimates the re-inspection pass rate of the current lot by weighting the re-inspection pass rate according to the number of days elapsed from the inspection date of the previous lot to the inspection date of the current lot.
The acceptance rate estimation apparatus according to claim 1, wherein:
A=√{Σ(過去計測値−規格値)2/第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロット数}
偏差量={(計測値−規格値)/A}+50
から前記偏差量を求め、
前記差算出手段は、次式、
B=√{Σ(過去のロットの偏差量−今回ロットの偏差量)2/第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロット数}
差の大きさ={(過去のロットの偏差量−今回ロットの偏差値)/B}+50
から前記差の大きさを算出する、
ことを特徴とする請求項1又は2記載の合格率推定装置。 The deviation amount calculating means has the following formula:
A = √ {Σ (past measurement value−standard value) 2 / the number of past lots that did not pass the inspection by the first inspection method}
Deviation amount = {(measured value−standard value) / A} +50
To obtain the deviation amount from
The difference calculating means has the following formula:
B = √ {Σ (deviation amount of past lot−deviation amount of current lot) 2 / number of past lots that did not pass inspection by the first inspection method}
Difference size = {(deviation amount of the previous lot−deviation value of the current lot) / B} +50
Calculating the magnitude of the difference from
The pass rate estimation apparatus according to claim 1 or 2, wherein
前記再検査合格率推定手段は、今回ロットからのユークリッド距離が所定値内に入る過去のロットの前記再検査合格率を読み出し、今回のロットの再検査合格率を推定する、
ことを特徴とする請求項1又は2記載の合格率推定装置。 The difference calculation means obtains a Euclidean distance between the set of deviation amounts of each inspection item of the current lot and the set of deviation amounts of each inspection item of the previous lot,
The re-inspection pass rate estimation means reads the re-inspection pass rate of the past lot that the Euclidean distance from the current lot falls within a predetermined value, and estimates the re-inspection pass rate of the current lot.
The pass rate estimation apparatus according to claim 1 or 2, wherein
計測値取得手段が、1つ以上の検査項目における今回のロットの計測値を取得するステップと、
偏差量計算手段が、前記検査項目毎に今回のロットの前記計測値の規格値に対する偏差量を計算するステップと、
前記第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロットの前記検査項目の過去計測値、及び、過去のロットが前記第二の検査方法で合格した再検査合格率を記憶した過去計測値記憶手段から、偏差量計算手段が、前記過去計測値を読み出して、前記検査項目毎に前記過去計測値により標準化された、規格値に対する今回のロットの前記計測値の偏差量を計算するステップと、
前記過去計測値の過去偏差量を記憶した過去偏差量記憶手段から、再検査合格率推定手段が、前記検査項目毎の前記差が所定値内に入る過去のロットの前記再検査合格率を読み出し、今回のロットの再検査合格率を推定するステップと、
を有する合格率推定方法。 The inspection object is inspected for each lot by the first inspection method, and the possibility of passing if the lot that did not pass the inspection is inspected by the second inspection method different from the first inspection method is estimated. A pass rate estimation method to
A step of acquiring a measurement value of the current lot in one or more inspection items,
A step of calculating a deviation amount with respect to a standard value of the measurement value of the current lot for each inspection item;
The past measurement value of the past inspection item of the past lot that did not pass the inspection by the first inspection method, and the past measurement value that stored the re-inspection pass rate that the past lot passed by the second inspection method A deviation amount calculation means reads out the past measurement value from the storage means and calculates a deviation amount of the measurement value of the current lot with respect to a standard value, which is standardized by the past measurement value for each inspection item; ,
From the past deviation amount storage means storing the past deviation amount of the past measurement value, the reinspection pass rate estimation means reads the retest pass rate of the past lot in which the difference for each inspection item falls within a predetermined value. , Estimating the retest pass rate for this lot,
A pass rate estimation method having
1つ以上の検査項目における今回のロットの計測値を取得する計測値取得ステップと、
前記検査項目毎に今回のロットの前記計測値の規格値に対する偏差量を計算する偏差量計算ステップと、
前記第一の検査方法で検査に合格しなかった過去のロットの前記検査項目の過去計測値、及び、過去のロットが前記第二の検査方法で合格した再検査合格率を記憶した過去計測値記憶手段から、前記過去計測値を読み出して、前記検査項目毎に前記過去計測値により標準化された、規格値に対する今回のロットの前記計測値の偏差量を計算する偏差量計算ステップと、
前記過去計測値の過去偏差量を記憶した過去偏差量記憶手段から、前記検査項目毎の前記差が所定値内に入る過去のロットの前記再検査合格率を読み出し、今回のロットの再検査合格率を推定する再検査合格率推定ステップと、
を実行させるプログラム。 The inspection object is inspected for each lot by the first inspection method, and the possibility of passing if the lot that did not pass the inspection is inspected by the second inspection method different from the first inspection method is estimated. A measurement value acquisition step for acquiring a measurement value of the current lot in one or more inspection items;
A deviation amount calculating step for calculating a deviation amount with respect to a standard value of the measurement value of the current lot for each inspection item;
The past measurement value of the past inspection item of the past lot that did not pass the inspection by the first inspection method, and the past measurement value that stored the re-inspection pass rate that the past lot passed by the second inspection method A deviation amount calculation step of calculating the deviation amount of the measurement value of the current lot with respect to the standard value, which is standardized by the past measurement value for each inspection item, from the storage unit, and
From the past deviation amount storage means that stores the past deviation amount of the past measurement value, the retest pass rate of the past lot in which the difference for each inspection item falls within a predetermined value is read, and the retest pass of the current lot is passed. A retest pass rate estimation step to estimate the rate;
A program that executes
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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