JP2011252770A - Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same - Google Patents

Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same Download PDF

Info

Publication number
JP2011252770A
JP2011252770A JP2010126233A JP2010126233A JP2011252770A JP 2011252770 A JP2011252770 A JP 2011252770A JP 2010126233 A JP2010126233 A JP 2010126233A JP 2010126233 A JP2010126233 A JP 2010126233A JP 2011252770 A JP2011252770 A JP 2011252770A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
color
inspection
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010126233A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinya Suzuki
真也 鈴木
Atsushi Sakamoto
敦 坂本
Masaru Nakatani
勝 中谷
Sachiko Kuroda
祥子 黒田
Atsuo Mori
敦夫 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIRAI ELECTRONICS IND CO Ltd
SHIRAI ELECTRONICS INDUSTRIAL CO Ltd
Original Assignee
SHIRAI ELECTRONICS IND CO Ltd
SHIRAI ELECTRONICS INDUSTRIAL CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHIRAI ELECTRONICS IND CO Ltd, SHIRAI ELECTRONICS INDUSTRIAL CO Ltd filed Critical SHIRAI ELECTRONICS IND CO Ltd
Priority to JP2010126233A priority Critical patent/JP2011252770A/en
Publication of JP2011252770A publication Critical patent/JP2011252770A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device for a printed circuit board which does not need imaging of a non-defective printed circuit board and registration of reference data prior to starting an inspection of the printed circuit board, and can inspect the board from the first one.SOLUTION: The inspection device for a printed circuit board comprises: image obtaining means for obtaining a color image of the printed circuit board, which is obtained by imaging the printed circuit board to be inspected; region dividing means for dividing the obtained color image of the printed circuit board into multiple regions according to the difference of the color; color inspecting means for specifying the parts specific in color in each of the divided regions; contour extracting means for extracting contours of each of the divided regions; and shape inspecting means for inspecting presence or absence of anomalies of the shape of each of the regions based on the respective extracted contours.

Description

本発明は、プリント基板の表面の良否を検査するプリント基板の検査装置およびその検査方法に関するものである。   The present invention relates to a printed circuit board inspection apparatus for inspecting the quality of a surface of a printed circuit board and an inspection method therefor.

従来、この種のプリント基板の検査装置としては、検査対象であるプリント基板の表面の画像をCCDカメラなどの撮像手段で撮像し、この撮像により検査画像データを得る。次に、例えば、その検査画像データの各画素値と、予め用意してある基準画像データの各画素値との差を求め、その差が許容範囲内にあるか否かの判定を行う。さらに、その判定結果に基づき、検査対象であるプリント基板の良否を判別するようにしている。   Conventionally, as this type of printed circuit board inspection apparatus, an image of the surface of a printed circuit board to be inspected is captured by an imaging means such as a CCD camera, and inspection image data is obtained by this imaging. Next, for example, a difference between each pixel value of the inspection image data and each pixel value of reference image data prepared in advance is obtained, and it is determined whether or not the difference is within an allowable range. Furthermore, the quality of the printed circuit board to be inspected is determined based on the determination result.

このため、プリント基板の検査装置では、プリント基板の検査に際しては、その検査に先立って、基準画像データを予め用意するとともに、その許容範囲を予め決めておく必要がある。そこで、従来は、上記の基準画像データを得るために、良品のプリント基板を撮像して得た画像データを多数用意する必要があるので、基準画像データを得るために長時間かかるという不都合があった。   For this reason, in the printed circuit board inspection apparatus, it is necessary to prepare the reference image data in advance and determine the allowable range in advance prior to the inspection of the printed circuit board. Therefore, conventionally, in order to obtain the above-described reference image data, it is necessary to prepare a large number of image data obtained by imaging a non-defective printed circuit board, and thus there is a disadvantage that it takes a long time to obtain the reference image data. It was.

このような不具合を解消するために、プリント基板の検査の開始に先立って用意する基準画像データなどの作成時間を短縮できるようにした、プリント基板の検査装置が知られている(例えば引用文献1参照)。
しかし、この引用文献1の検査装置でも、プリント基板の検査の開始に先立って、良品のプリント基板を撮像して画像データを取得する必要がある上に、基準画像データを予め登録して置く必要がある。
In order to solve such a problem, there is known a printed circuit board inspection apparatus capable of shortening the creation time of reference image data and the like prepared prior to the start of printed circuit board inspection (for example, cited reference 1). reference).
However, even in the inspection apparatus of this cited reference 1, it is necessary to capture a good printed circuit board and acquire image data before starting the inspection of the printed circuit board, and it is also necessary to register reference image data in advance. There is.

一方、近年において、試作用のプリント基板の検査の要望があるが、この場合には検査対象となるプリント基板が数枚から10枚程度のため、従来装置では検査することができないという不都合がある。
このような背景の下では、プリント基板の検査の開始に先立って、良品のプリント基板の撮像や基準データの登録を不要とし、1枚目のプリント基板から検査することができる新たな装置や方法の出現が望まれる。
On the other hand, in recent years, there is a demand for inspection of a prototype printed circuit board. In this case, since there are about several to ten printed circuit boards to be inspected, there is an inconvenience that the conventional apparatus cannot perform inspection. .
Under such a background, prior to the start of inspection of a printed circuit board, it is unnecessary to image a non-defective printed circuit board and register reference data, and a new apparatus and method capable of inspecting from the first printed circuit board The appearance of is desired.

特開2003−156448号公報JP 2003-156448 A

そこで、本発明の目的は、プリント基板の検査の開始に先立って、良品のプリント基板の撮像や基準データの登録を不要とし、1枚目から検査することができるプリント基板の検査装置およびその検査方法を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to eliminate the need for imaging a non-defective printed circuit board and register reference data before starting the inspection of the printed circuit board, and a printed circuit board inspection apparatus capable of inspecting from the first sheet. It is to provide a method.

上記課題を解決し、本発明の上記の目的を達成するために、各発明は、以下のように構成した。
すなわち、第1の発明は、検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する画像取得手段と、当該取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する領域分割手段と、当該分割された各領域内の色の特異な部分を特定する色検査手段と、前記分割された各領域の輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、当該抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する形状検査手段と、を備えている。
In order to solve the above-described problems and achieve the above object of the present invention, each invention is configured as follows.
That is, the first invention is an image acquisition unit that acquires a color image of a printed circuit board obtained by imaging a printed circuit board to be inspected, and the acquired color image of the printed circuit board is divided into a plurality of regions according to the color difference. Area dividing means, color inspecting means for specifying a unique portion of the color in each divided area, outline extracting means for extracting the outline of each divided area, and each extracted outline And a shape inspection means for inspecting whether there is an abnormality in the shape of each region.

第2の発明は、第1の発明において、一のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域の形状を特定するデータを、他のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域の形状を特定するデータと比較して、各領域の形状の良否を検査する領域比較検査手段を、さらに備えている。
第3の発明は、第2の発明において、前記色検査手段が検査した各領域の検査結果、前記形状検査手段が検査した各領域の検査結果、および前記領域比較検査手段が検査した各領域の検査結果に基づき、前記一のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域のうちの一部の領域について、前記他のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域のうちの一部の領域の形状を特定するデータと入れ替えるデータ更新手段を、さらに備えている。
According to a second invention, in the first invention, the data specifying the shape of each area divided by the area dividing means for the color image of one printed circuit board is used, and the area dividing means for the color image of another printed circuit board. Compared with the data for specifying the shape of each area divided in step (b), the apparatus further includes area comparison inspection means for inspecting the quality of the shape of each area.
According to a third aspect, in the second aspect, the inspection result of each region inspected by the color inspection unit, the inspection result of each region inspected by the shape inspection unit, and each region inspected by the region comparison inspection unit Based on the inspection result, a color image of the one printed circuit board is divided by the area dividing unit with respect to a part of each area divided by the area dividing unit. Data updating means for replacing the data specifying the shape of a part of each region with data is further provided.

第4の発明は、第1〜第3の発明において、前記画像取得手段で取得したカラー画像、前記色検査手段が検査した各領域の検査結果、および前記形状検査手段が検査した各領域の検査結果に基づき、検出必要情報および検出不要情報のうちのいずれか一方を設定する設定手段と、前記検出必要情報が設定されている場合には、前記色検査手段が検査した検査結果および前記形状検査手段が検査した検査結果について、その設定されている検出必要情報に基づいて検出必要部分を不具合な部分として処理する第1処理手段と、前記検出不要情報が設定されている場合には、前記色検査手段が検査した検査結果および前記形状検査手段が検査した検査結果について、その設定されている検出不要情報に基づいて検出不要部分を不具合でない部分として処理する第2処理手段と、をさらに備えている。   According to a fourth invention, in the first to third inventions, the color image acquired by the image acquisition means, the inspection result of each area inspected by the color inspection means, and the inspection of each area inspected by the shape inspection means Based on the result, setting means for setting one of detection necessary information and detection unnecessary information, and when the detection necessary information is set, the inspection result inspected by the color inspection means and the shape inspection A first processing means for processing a detection-necessary part as a defective part based on the detection-necessary information set for the inspection result inspected by the means; and when the detection-unnecessary information is set, the color About the inspection result inspected by the inspection means and the inspection result inspected by the shape inspection means, the detection unnecessary part is determined as a non-defective part based on the set detection unnecessary information. A second processing means for processing Te further comprises a.

第5の発明は、第1〜第4の発明において、前記領域分割手段は、前記取得したプリント基板のカラー画像の分割すべき複数の領域についてそれぞれ設定されている、その各領域を代表する代表色を取得する代表色取得手段と、前記プリント基板のカラー画像の各画素の色に基づき、前記代表色取得手段で取得した複数の領域の代表色をそれぞれ参照し、その複数の代表色のうちのいずれか1つに前記各画素の色を変更し、領域の分割を行なう第1の分割手段と、前記第1の分割手段で分割された領域のうち、所定の領域についてはその領域の色の明度の差異に応じて再分割する第2の分割手段と、を備えている。   According to a fifth invention, in the first to fourth inventions, the area dividing means is set for each of a plurality of areas to be divided of the obtained color image of the printed circuit board, and is representative of each area. Based on the color of each pixel of the color image of the printed circuit board, the representative color acquisition means for acquiring the color, and referring to the representative colors of the plurality of areas acquired by the representative color acquisition means, respectively, among the plurality of representative colors A first dividing unit that changes the color of each pixel to any one of the regions and divides the region; and among regions divided by the first dividing unit, a predetermined region has a color of the region Second dividing means for re-dividing according to the difference in brightness.

第6の発明は、検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する第1の工程と、前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する第2の工程と、前記第2の工程で分割された各領域内の色の特異な部分を特定する第3の工程と、前記第2の工程で分割された各領域の輪郭を抽出する第4の工程と、前記第4の工程で抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する第5の工程と、を備える。   According to a sixth aspect of the present invention, there are provided a first step of acquiring a color image of a printed circuit board obtained by imaging a printed circuit board to be inspected, and a plurality of color images of the printed circuit board acquired in the first step according to a color difference. A second step of dividing the region into a region, a third step of identifying a unique portion of the color in each region divided in the second step, and a step of each region divided in the second step A fourth step of extracting a contour; and a fifth step of inspecting whether there is an abnormality in the shape of each region based on each contour extracted in the fourth step.

第7の発明は、同一の複数のプリント基板を検査するプリント基板の検査方法であって、検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する第1の工程と、前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する第2の工程と、前記第2の工程で分割された各領域内の色の特異な部分を特定する第3の工程と、前記第2の工程で分割された各領域の輪郭を抽出する第4の工程と、前記第4の工程で抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する第5の工程と、を備え、一のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第5の工程までの各処理を行うようにし、他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第5の工程までの各処理の他に第6の工程の処理を含み、前記第6の工程では、前記一のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域の形状を特定するデータを、前記他のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域の形状を特定するデータと比較して、各領域の形状の良否を検査する。   A seventh invention is a printed circuit board inspection method for inspecting the same plurality of printed circuit boards, and includes a first step of acquiring a color image of a printed circuit board obtained by imaging a printed circuit board to be inspected, A second step of dividing the color image of the printed circuit board obtained in the step into a plurality of regions according to the difference in color, and specifying a unique portion of the color in each region divided in the second step A third step, a fourth step for extracting the contour of each region divided in the second step, and whether there is an abnormality in the shape of each region based on each contour extracted in the fourth step In the case of inspecting one printed circuit board, each process from the first to the fifth processes is performed, and in the case of inspecting another printed circuit board, In addition to the first to fifth steps, the sixth step In the sixth step, data specifying the shape of each region divided in the second step for the color image of the one printed circuit board is used for the color image of the other printed circuit board. The quality of the shape of each region is inspected by comparing with the data specifying the shape of each region divided in the step 2.

第8の発明は、第7の発明において、前記他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第6の工程までの各処理の他に第7の工程の処理を含み、前記第7の工程では、前記第3の工程で検査した各領域の検査結果、前記第5の工程で検査した各領域の検査結果、および前記第6の工程で検査した各領域の検査結果に基づき、前記一のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域のうちの一部の領域について、前記他のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域のうちの一部の領域の形状を特定するデータと入れ替える。   In an eighth invention, in the seventh invention, when the other printed circuit board is inspected, the eighth invention includes a process of a seventh process in addition to the processes of the first to sixth processes. In step 7, based on the inspection result of each region inspected in the third step, the inspection result of each region inspected in the fifth step, and the inspection result of each region inspected in the sixth step, For a part of the regions divided in the second step for the color image of the one printed circuit board, for each region divided in the second step for the color image of the other printed circuit board. It replaces with data specifying the shape of a part of the area.

第9の発明は、第8の発明において、前記他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第7の工程までの各処理の他に、前記6の工程と第7の工程との間に第8の工程の処理を含むようにし、前記第8の工程は、前記第3の工程で取得したカラー画像、前記第5の工程で検査した各領域の検査結果、および前記第6の工程で検査した各領域の検査結果に基づき、検出必要情報および検出不要情報のうちのいずれか一方が設定されているか否かを判定する判定工程と、前記検出必要情報が設定されていると判定された場合には、前記第5の工程で検査した検査結果および前記第6の工程で検査した検査結果について、その設定されている検出必要情報に基づいて検出必要部分を不具合な部分として処理する第1処理工程と、前記検出不要情報が設定されていると判定された場合には、前記第5の工程で検査した検査結果および前記第6の工程で検査した検査結果について、その設定されている検出不要情報に基づいて検出不要部分を不具合でない部分として処理する第2処理工程と、からなる。   In a ninth aspect based on the eighth aspect, in the case of inspecting the other printed circuit board, in addition to the processes up to the first to seventh steps, the sixth step and the seventh step The eighth step includes the color image acquired in the third step, the inspection result of each region inspected in the fifth step, and the sixth step. A determination step for determining whether or not one of detection-necessary information and detection-unnecessary information is set based on the inspection result of each region inspected in the step, and when the detection-necessary information is set If determined, the detection required part is processed as a defective part based on the set detection necessary information for the inspection result inspected in the fifth process and the inspection result inspected in the sixth process. First processing step to be performed and the detection is unnecessary If it is determined that the information has been set, the inspection result inspected in the fifth step and the inspection result inspected in the sixth step need not be detected based on the set detection-unnecessary information. And a second processing step for processing the part as a non-defective part.

第10の発明は、第6〜第9の発明において、前記第2の工程は、前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像の分割すべき複数の領域についてそれぞれ設定されている、その各領域を代表する代表色を取得する代表色取得工程と、前記プリント基板のカラー画像の各画素の色に基づき、前記代表色取得工程で取得した複数の領域の代表色をそれぞれ参照し、その複数の代表色のうちのいずれか1つに前記各画素の色を変更し、領域の分割を行なう第1の分割工程と、前記第1の分割工程で分割された領域のうち、所定の領域についてはその領域の色の明度の差異に応じて再分割する第2の分割工程と、からなる。   In a tenth aspect based on the sixth to ninth aspects, the second step is set for each of a plurality of regions to be divided in the color image of the printed circuit board obtained in the first step. Based on the representative color acquisition step of acquiring a representative color representing each region, and the color of each pixel of the color image of the printed circuit board, the representative colors of the plurality of regions acquired in the representative color acquisition step are respectively referred to. A first division step of changing the color of each pixel to any one of a plurality of representative colors and dividing the region, and a predetermined region among the regions divided in the first division step And a second dividing step of re-dividing according to the difference in lightness of the color of the area.

本発明によれば、プリント基板を検査する場合に、その検査の開始に先立って、良品のプリント基板の撮像や基準データの登録が不要となり、かつ、1枚目から検査することができる。
また、本発明によれば、プリント基板の検査枚数の増加に伴って、その検査精度を向上させることができる。
According to the present invention, when a printed circuit board is inspected, imaging of a non-defective printed circuit board and registration of reference data are not required prior to the start of the inspection, and inspection can be performed from the first sheet.
Further, according to the present invention, the inspection accuracy can be improved as the number of printed circuit boards to be inspected increases.

本発明装置の実施形態の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of embodiment of this invention apparatus. 本発明の検査に適用されるプリント基板の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the printed circuit board applied to the test | inspection of this invention. 本発明の実施形態において、1枚目のプリント基板の検査の手順を示すフローチャートである。4 is a flowchart illustrating a procedure for inspecting a first printed circuit board in the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態において、2枚目からのプリント基板の検査の手順を示すフローチャートである。In the embodiment of the present invention, it is a flowchart which shows the procedure of the inspection of the printed circuit board from the 2nd sheet. 色別に複数の領域に分割するための具体的な手順の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the specific procedure for dividing | segmenting into a several area | region according to color. 輪郭による各領域の形状の検査の具体的な手順の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the specific procedure of the test | inspection of the shape of each area | region by an outline. その手順などを説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the procedure. 各領域内の特異な部分の色検査の具体的な手順の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the specific procedure of the color test | inspection of the specific part in each area | region.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
(検査装置の説明)
本発明のプリント基板の検査装置の実施形態の構成について、図1を参照しながら説明する。
この実施形態は、図1に示すように、撮像装置1と、画像処理装置2と、画像メモリ3と、記憶装置4と、入力装置5と、表示装置6と、を少なくとも備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(Explanation of inspection equipment)
The configuration of an embodiment of the printed circuit board inspection apparatus of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 1, this embodiment includes at least an imaging device 1, an image processing device 2, an image memory 3, a storage device 4, an input device 5, and a display device 6.

撮像装置1は、図2に示すようなプリント基板の外観をCCDカメラなどの撮像素子で撮像してR信号、G信号およびB信号からなるカラー画像信号を取得し、そのカラー画像信号をA/D変換器(図示せず)でA/D変換してデジタル形態の画像データを生成して出力するものである。そのRGBの各カラー画像データは、例えば8ビット(0〜255)の濃淡値からなる。   The imaging device 1 captures the appearance of a printed circuit board as shown in FIG. 2 with an imaging device such as a CCD camera, acquires a color image signal composed of an R signal, a G signal, and a B signal. A / D conversion is performed by a D converter (not shown) to generate and output digital image data. Each of the RGB color image data is composed of, for example, a gray value of 8 bits (0 to 255).

画像処理装置2は、記憶装置4に格納される後述のような画像処理やプリント基板の検査の手順(プログラム)に基づき、後述のような各種の比較や演算などの処理を行うものである。このために、この画像処理装置2は、CPU(中央処理装置)、ワークメモリなどから構成されている。
画像メモリ3は、撮像装置1が撮像したプリント基板のカラー画像のR、G、Bデータ、およびそのカラー画像のR、G、Bの各データを変換したH、S、Vの各データなどを一時的に記憶する。
The image processing apparatus 2 performs processing such as various comparisons and calculations as described later based on image processing and printed circuit board inspection procedures (programs) stored in the storage device 4 as described later. For this purpose, the image processing apparatus 2 includes a CPU (central processing unit), a work memory, and the like.
The image memory 3 stores the R, G, B data of the color image of the printed circuit board imaged by the imaging device 1 and the H, S, V data converted from the R, G, B data of the color image. Memorize temporarily.

記憶装置4は、ハードディスク、フレキシブルディスク、または光ディスクからなり、画像処理装置2が行なう画像処理やプリント基板の検査の手順(プログラム)を記憶するとともに、後述のように画像データなどを大量に記憶する。
入力装置5は、画像処理装置2からの要求などに応じて画像処理装置2に対して後述のような指示や設定などを行うものであり、例えばキーボードなどから構成される。
表示装置6は、画像処理装置2がその画像処理中やプリント基板の検査中に所定の表示を行うものであり、CRTディスプレイや液晶ディスプレイなどにより構成される。
The storage device 4 is composed of a hard disk, a flexible disk, or an optical disk, stores image processing performed by the image processing apparatus 2 and a procedure (program) for inspecting a printed circuit board, and stores a large amount of image data as will be described later. .
The input device 5 gives instructions and settings as described later to the image processing device 2 in response to a request from the image processing device 2, and is composed of, for example, a keyboard.
The display device 6 performs a predetermined display during the image processing by the image processing device 2 or during the inspection of the printed circuit board, and includes a CRT display, a liquid crystal display, or the like.

(プリント基板の説明)
図2は、本発明の実施形態で検査対象となるプリント基板8の一例を模式的に示した平面図である。
このプリント基板8は、絶縁基板80を有し、絶縁基板80上にレジストが塗布された第1のレジスト領域801と、絶縁基板80上に形成された銅配線パターン上にレジストが塗布された第2のレジスト領域802と、絶縁基板80上にレジストが塗布された上に白色などで印刷された印刷領域803と、金メッキが施されたパッド領域804と、絶縁基板80が露出している基板領域805と、スルーホール806と、取り付け孔807と、を含んでいる。
(Description of printed circuit board)
FIG. 2 is a plan view schematically showing an example of the printed circuit board 8 to be inspected in the embodiment of the present invention.
This printed circuit board 8 has an insulating substrate 80, a first resist region 801 where a resist is applied on the insulating substrate 80, and a first resist region applied on the copper wiring pattern formed on the insulating substrate 80. Two resist regions 802, a print region 803 printed with white or the like on the insulating substrate 80, a pad region 804 plated with gold, and a substrate region where the insulating substrate 80 is exposed. 805, a through hole 806, and a mounting hole 807 are included.

(1枚目のプリント基板の検査の説明)
次に、本発明の実施形態において、1枚目のプリント基板8を検査するときの手順について、図3を参照して説明する。
ステップS1では、検査対象であるプリント基板8を撮像装置1で撮像し、その撮像して得たカラー画像を取得し、この取得したカラー画像のデータを画像メモリ3に記憶する。このとき得られるカラー画像のデータは、R画像、G画像、およびB画像の各データであり、これらの各データを画像メモリ3に記憶する。
(Explanation of inspection of the first printed circuit board)
Next, a procedure for inspecting the first printed circuit board 8 in the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
In step S <b> 1, the printed circuit board 8 to be inspected is imaged by the imaging device 1, a color image obtained by imaging is acquired, and the acquired color image data is stored in the image memory 3. The color image data obtained at this time is R image, G image, and B image data, and these data are stored in the image memory 3.

ステップS2では、その取得したプリント基板8のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する。この色別の領域分割は、ステップS1で取得したプリント基板のカラー画像の各画素の色に基づき、設定されている複数の各領域の代表色をそれぞれ参照し、その複数の代表色のうちのいずれか1つの各画素の色に変更することにより行なう。
ここで、色別の領域分割のときには、設定されている複数の各領域の代表色をそれぞれ参照することになるが、その複数の各領域の代表色の設定は以下のように行なう。
In step S2, the obtained color image of the printed circuit board 8 is divided into a plurality of regions according to the color difference. This area division for each color refers to the representative color of each of the plurality of set areas based on the color of each pixel of the color image of the printed circuit board acquired in step S1, and among the plurality of representative colors, This is done by changing the color to any one of the pixels.
Here, when the areas are divided by color, the set representative colors of the respective areas are referred to. The representative colors of the respective areas are set as follows.

例えばステップS1で得られたプリント基板8のカラー画像を表示装置6の表示画面に表示し、検査者が、入力装置5を使用してその表示されるカラー画像を見ながら分割したい領域をそれぞれ特定し、この特定した各領域内において任意の点の色を指定すると、その指定した任意の点の色が代表色として設定される。
なお、色別の領域分割の処理の具体例は図5に示し、その説明は後述する。
ステップS3では、その分割された各領域内の色の特異な部分を特定する色検査を行なう。この色検査は、ステップS1で取得されたカラー画像を使用して、ステップS2で分割された各領域内について、色の特異(異常)な部分を抽出し、この抽出された部分が所定の大きさの場合にその抽出された画素を不具合な画素とする。この色検査の処理の具体例は図8に示し、その説明は後述する。
For example, the color image of the printed circuit board 8 obtained in step S 1 is displayed on the display screen of the display device 6, and the inspector uses the input device 5 to identify each area to be divided while viewing the displayed color image. If the color of an arbitrary point is specified in each specified area, the color of the specified arbitrary point is set as a representative color.
A specific example of the process of dividing the area by color is shown in FIG. 5, and the description thereof will be described later.
In step S3, a color inspection is performed to specify a unique portion of the color in each of the divided areas. This color inspection uses the color image acquired in step S1 to extract a peculiar (abnormal) portion of the color in each region divided in step S2, and this extracted portion has a predetermined size. In this case, the extracted pixel is regarded as a defective pixel. A specific example of the color inspection process is shown in FIG. 8 and will be described later.

ステップS4では、その分割された各領域の輪郭を抽出する。ステップS5では、その抽出された各輪郭に基づいて、各領域の形状の異常の有無を検査する。この各領域の形状の異常の有無は、分割された各領域の輪郭画素をトレースしながらその各輪郭画素の方向を求め、この求めた各輪郭画素の方向に基づいて各領域の突起や異形部分に係る輪郭画素を不具合な画素とする。この処理の具体例は図6に示し、その説明は後述する。   In step S4, the outline of each divided area is extracted. In step S5, the presence / absence of an abnormality in the shape of each region is inspected based on each extracted contour. The presence / absence of an abnormality in the shape of each region is determined by tracing the contour pixel of each divided region while obtaining the direction of each contour pixel, and based on the obtained direction of each contour pixel, the protrusions and deformed portions of each region. The contour pixel according to is regarded as a defective pixel. A specific example of this process is shown in FIG. 6 and will be described later.

ステップS6では、ステップS3およびステップS5で得られた不具合な画素について、表示装置6の表示画面上に出力する。これにより、検査者は、色別に分割された各領域ごとに、領域の輪郭の突起や異形に係る部分の不具合な輪郭画素、および領域内の欠陥部分に係る不具合な検出画素を認識できる。
ステップS7では、分割された各領域に基づいて、比較検査用の各領域の形状を特定するデータを作成し、この作成したデータを画像メモリ3および記憶装置4に記憶(保存)する。
以上述べた手順によれば、その検査の開始に先立って、良品のプリント基板の撮像や基準データの登録が不要となり、かつ、1枚目から検査することができる。
In step S6, the defective pixels obtained in steps S3 and S5 are output on the display screen of the display device 6. As a result, the inspector can recognize, for each region divided by color, a defective contour pixel in a region related to a protrusion or an irregular shape of the region and a defective detection pixel related to a defective portion in the region.
In step S7, data specifying the shape of each area for comparison inspection is created based on each divided area, and the created data is stored (saved) in the image memory 3 and the storage device 4.
According to the procedure described above, prior to the start of the inspection, imaging of a non-defective printed circuit board and registration of reference data become unnecessary, and the inspection can be performed from the first sheet.

(2枚目以後のプリント基板の検査の説明)
次に、本発明の実施形態が同一の複数枚のプリント基板8について検査する場合、すなわち、2枚目以後のプリント基板8を検査するときの手順について、図4を参照して説明する。
この検査手順は、図4に示すように、1枚目の検査手順に新たな手順(ステップS101〜ステップS111)が追加されているので、以下ではこの追加された手順について主に説明する。
2枚目以後のプリント基板8の検査では、ステップS1〜ステップS5において、1枚目と同様の処理を行なうので、その説明は省略する。
(Explanation of inspection of printed circuit board after second sheet)
Next, a procedure for inspecting a plurality of identical printed boards 8 according to the embodiment of the present invention, that is, a procedure for inspecting the second and subsequent printed boards 8 will be described with reference to FIG.
In this inspection procedure, as shown in FIG. 4, since a new procedure (step S101 to step S111) is added to the first inspection procedure, the added procedure will be mainly described below.
In the inspection of the second and subsequent printed circuit boards 8, since the same processing as that of the first sheet is performed in step S1 to step S5, the description thereof is omitted.

ステップS101では、ステップS2で分割された各領域の形状を特定するデータと、1枚目のプリント基板8の検査により画像メモリ3または記憶装置4に記憶されている比較検査用の各領域の形状を特定するデータとの比較検査をする。この比較検査では、ステップS2で分割された各領域と画像メモリ3または記憶装置4に記憶されている比較検査用の各領域との位置合わせを行い、これに基づいて各領域の形状の差異を比較する検査を行なう。   In step S101, data for specifying the shape of each area divided in step S2 and the shape of each area for comparison inspection stored in the image memory 3 or the storage device 4 by inspection of the first printed circuit board 8 are obtained. A comparative inspection with data specifying In this comparison inspection, each region divided in step S2 is aligned with each region for comparison inspection stored in the image memory 3 or the storage device 4, and based on this, the difference in shape of each region is determined. Perform a comparison test.

ステップS102では、ステップS110で検出必要情報の設定があったか否かが判定され、その設定がある場合には次のステップS103に進み、その設定がない場合にはステップSS104に進む。
ステップS103では、ステップS3およびステップS5において不具合な画素として検出されているか否かにかかわらず、後述のステップS110で設定されている検出必要情報に基づいて、後述の検出必要部分の画素を検出(抽出)して不具合な画素とする。この結果、その検出必要部分の画素は、後述のステップS106において不具合の画素として出力されることになる。
In step S102, it is determined whether or not detection-necessary information has been set in step S110. If there is such setting, the process proceeds to the next step S103, and if there is no setting, the process proceeds to step SS104.
In step S103, regardless of whether or not the pixel is detected as a defective pixel in steps S3 and S5, a pixel in a detection necessary portion described later is detected based on the detection necessary information set in step S110 described later ( Extraction) to make defective pixels. As a result, the pixels of the necessary detection portion are output as defective pixels in step S106 described later.

ステップS104では、ステップS111で検出不要情報の設定があったか否かが判定され、その設定がある場合には次のステップS105に進み、その設定がない場合にはステップSS106に進む。
ステップS105では、ステップS3およびステップS5によって不具合な画素として検出されているか否かにかかわらず、後述のステップS110で設定されている検出不要情報に基づいて、後述の検出不要部分の画素を検出(抽出)して不具合でない画素とする。この結果、その検出不要部分の画素は、次のステップS106において不具合の画素として出力されることはない。
In step S104, it is determined whether or not detection unnecessary information has been set in step S111. If there is such setting, the process proceeds to the next step S105, and if there is no setting, the process proceeds to step SS106.
In step S105, a detection unnecessary portion pixel described later is detected based on the detection unnecessary information set in step S110 described later (regardless of whether or not it is detected as a defective pixel in steps S3 and S5). Extraction) and set it as a non-defective pixel. As a result, the pixel of the detection unnecessary portion is not output as a defective pixel in the next step S106.

ステップS106では、ステップS3およびステップS5において検出された不具合な画素、およびステップS103処理で得られた不具合な画素について、表示装置6の表示画面上に表示する。また、表示装置6の表示画面に、その不具合な検出画素の表示に加えて、ステップS101で得られた各領域の比較検査結果を表示する。
ステップS107では、この表示に基づいて、検査者は、入力装置5を使用することにより、各領域について、画像メモリ3と記憶装置4に記憶されている比較検査用のデータを今回の比較検査用のデータと更新するか否を選択する。
In step S106, the defective pixel detected in steps S3 and S5 and the defective pixel obtained in step S103 are displayed on the display screen of the display device 6. Further, in addition to displaying the defective detection pixel, the comparison inspection result of each region obtained in step S101 is displayed on the display screen of the display device 6.
In step S107, based on this display, the inspector uses the input device 5 to store the data for comparison inspection stored in the image memory 3 and the storage device 4 for each region for the current comparison inspection. Select whether to update the data.

ステップS108では、ステップS107において今回の比較検査用のデータと更新することが選択されているか否を判定し、更新が選択されている場合にはステップS109に進み、更新が選択されていない場合にはステップS110に進む。
ステップS109では、今回選択した領域についてのみ、その領域の形状を特定する比較検査用の今回をデータを、画像メモリ3と記憶装置4に記憶されている比較検査用のデータと入れ替えて更新する。
In step S108, it is determined in step S107 whether or not to update with the data for the current comparative inspection is selected. If update is selected, the process proceeds to step S109, and if update is not selected. Advances to step S110.
In step S109, only the region selected this time is updated by replacing the data for comparison inspection specifying the shape of the region with the data for comparison inspection stored in the image memory 3 and the storage device 4.

ステップS110では、表示装置6の表示画面上に表示される、ステップS1で得られたカラー画像とステップS106で表示した不具合な検出画素とを見ながら、検査者が検出必要情報の設定を入力装置5で行なう。これにより、設定した検出必要情報は画像メモリ3と記憶装置4に記憶される。
すなわち、検査者は、カラー画像上で不良と認識されて不具合な画素として検出されるべきであるが、不具合な画素として検出表示されていない同種の部分を見つけた場合に、その同種の部分について検出が必要な部分とみなして処理できるように、その同種の部分(検出必要部分)を検出(抽出)して不具合であるとして処理するための検出必要情報を設定する。
In step S110, the inspector sets the necessary detection information while viewing the color image obtained in step S1 and the defective detection pixel displayed in step S106 displayed on the display screen of the display device 6. Perform in step 5. Thereby, the set detection necessary information is stored in the image memory 3 and the storage device 4.
That is, the inspector should be detected as a defective pixel that is recognized as defective on the color image, but when the same type of part that is not detected and displayed as a defective pixel is found, In order to be able to process it as a part that needs to be detected, the same type of part (necessary part to be detected) is detected (extracted) and detection necessary information for processing as a defect is set.

ステップS111では、表示装置6の表示画面上に表示される、ステップS1で得られたカラー画像とステップS106で表示した不具合な検出画素とを見ながら、検査者が検出不要情報の設定を入力装置5で行なう。これにより、設定した検出不要情報が画像メモリ3と記憶装置4に記憶される。
すなわち、検査者は、カラー画像上で不良ではないと認識されて不具合な画素として検出されるべきではないが、不具合な画素として検出表示されてしまう同種の部分を見つけた場合に、その同種の部分について検出が不要な部分とみなして処理できるように、その同種の部分(検出不要部分)を検出(抽出)して不具合でないとして処理するための検出不要情報を設定する。
以上述べた手順によれば、プリント基板8の検査枚数の増加に伴って、その検査精度を向上させることができる。また、検査対象となるプリント基板が数枚から10程度であっても精度の良い検査が可能となる。
In step S111, the inspector sets the setting of detection-unnecessary information while viewing the color image obtained in step S1 displayed on the display screen of the display device 6 and the defective detection pixel displayed in step S106. Perform in step 5. Thereby, the set detection unnecessary information is stored in the image memory 3 and the storage device 4.
That is, the inspector should not be detected as a defective pixel on the color image and should not be detected as a defective pixel, but if he / she finds the same type of part that is detected and displayed as a defective pixel, Detection unnecessary information is set for detecting (extracting) the same type of part (detection unnecessary part) and processing the part as not defective so that the part can be regarded as an unnecessary part and can be processed.
According to the procedure described above, the inspection accuracy can be improved as the number of inspections of the printed circuit board 8 increases. Moreover, even if the number of printed circuit boards to be inspected is from several to about 10, accurate inspection can be performed.

(色別の領域分割の説明)
次に、図3のステップS2で説明した色別の領域分割の具体的な手順について、図5を参照して説明する。
ステップS21では、検査対象であるプリント基板8のカラー画像を画像メモリ3から入力する。この入力したカラー画像のデータはRGB成分からなる。
ステップS22では、そのRGB成分の画像データをHSV成分の画像データに変換し、この変換したHSV成分の画像データを画像メモリ3に記憶する。
ステップS23では、表示装置6の表示画面上に表示するされるカラー画像から分割したい複数の各領域について、設定されている領域の色を代表する代表色のHSV成分の各値を取得する。
(Description of area division by color)
Next, a specific procedure for color-based region division described in step S2 of FIG. 3 will be described with reference to FIG.
In step S21, a color image of the printed circuit board 8 to be inspected is input from the image memory 3. The input color image data consists of RGB components.
In step S22, the RGB component image data is converted into HSV component image data, and the converted HSV component image data is stored in the image memory 3.
In step S23, for each of a plurality of areas to be divided from the color image displayed on the display screen of the display device 6, each value of the HSV component of the representative color representing the color of the set area is acquired.

すなわち、ステップS23では、検査者が、その表示されるプリント基板8のカラー画像を見ながら入力装置5で分割したい領域をそれぞれ特定し、この特定した各領域内において任意の画素を指定すると、その指定した画素のHSV成分の各値が領域の代表色のHSV成分の各値となる。そして、その設定された分割したい各領域の代表色のHSV成分の各値を取得する。   That is, in step S23, the inspector specifies each area to be divided by the input device 5 while viewing the color image of the printed circuit board 8 displayed, and when an arbitrary pixel is specified in each specified area, Each value of the HSV component of the designated pixel becomes each value of the HSV component of the representative color of the region. Then, each value of the HSV component of the representative color of each set area to be divided is acquired.

次に、分割したい各領域の代表色のHSV成分の各値の設定について、図2を参照して具体的に説明する。
例えば、プリント基板8の絶縁基板80上にレジストが塗布された第1のレジスト領域801を分割したい場合には、第1のレジスト領域801内の任意の画素の色を使用者が指定すると、その指定した画素のHSV成分の各値が第1のレジスト領域801の代表色のHSV成分の各値となる。
Next, setting of each value of the HSV component of the representative color of each region to be divided will be specifically described with reference to FIG.
For example, when it is desired to divide the first resist region 801 where the resist is applied on the insulating substrate 80 of the printed circuit board 8, when the user designates the color of an arbitrary pixel in the first resist region 801, Each value of the HSV component of the designated pixel becomes each value of the HSV component of the representative color in the first resist region 801.

ここで、プリント基板8の絶縁基板80上にレジストが塗布された第1のレジスト領域801と、プリント基板8の絶縁基板80上に形成された銅配線パターン上にレジストが塗布された第2のレジスト領域802とは、その色の差異が微妙である。このため、この例では、第1のレジスト領域801と第2のレジスト領域802とは、いったん、レジスト領域として一括して分割するために、例えば第1のレジスト領域801の代表色を設定すると、第2のレジスト領域802についてもその同じ代表色が設定されるようになっている。この一括して分割されるレジスト領域は、後述のように第1のレジスト領域801と第2のレジスト領域802に再び分割されることになる。   Here, a first resist region 801 in which a resist is applied on the insulating substrate 80 of the printed circuit board 8 and a second in which a resist is applied on the copper wiring pattern formed on the insulating substrate 80 of the printed circuit board 8. The color difference from the resist region 802 is delicate. For this reason, in this example, when the first resist region 801 and the second resist region 802 are once divided as a resist region at once, for example, when the representative color of the first resist region 801 is set, The same representative color is set for the second resist region 802 as well. This collectively divided resist region is again divided into a first resist region 801 and a second resist region 802 as will be described later.

このような分割したい各領域の代表色の設定方法は、絶縁基板80上に塗布されるレジストの上に白色などで印刷された印刷領域803、金メッキが施されたパッド領域804、絶縁基板80が露出している基板領域805などにおいても同様である。
ステップS24では、プリント基板8のカラー画像の各画素のHSV成分の各値と、ステップS23で取得した複数の各領域の代表色のHSV成分の各値との近似度を調べ、各画素のHSV成分の各値を近似するHSV成分の各値に変更する。この処理が終了すると、例えば、図2の第1のレジスト領域801および第2のレジスト領域802の部分に相当する部分、印刷領域803の部分に相当する部分、パッド領域804の部分に相当する部分などは、それぞれ設定した代表色に変更される。
The method for setting the representative color of each region to be divided is that a print region 803 printed in white or the like on a resist applied on the insulating substrate 80, a pad region 804 plated with gold, and the insulating substrate 80 The same applies to the exposed substrate region 805 and the like.
In step S24, the degree of approximation between each value of the HSV component of each pixel of the color image on the printed circuit board 8 and each value of the HSV component of the representative color obtained in step S23 is checked, and the HSV of each pixel is checked. The component values are changed to approximate HSV component values. When this processing is completed, for example, a portion corresponding to the first resist region 801 and the second resist region 802 in FIG. 2, a portion corresponding to the print region 803, and a portion corresponding to the pad region 804 Are changed to the set representative colors.

この例では、第1のレジスト領域801および第2のレジスト領域802は、いったんレジスト領域として分割されるので、レジスト領域として一括して分割された領域を第1のレジスト領域801と第2のレジスト領域802に分割する必要がある。
そこで、ステップS25では、一括してレジスト領域として分割された領域内について、各画素のHSV成分のうちのV成分の値の大きさの差異に基づいて、第1のレジスト領域801と第2のレジスト領域802に再分割する。
In this example, since the first resist region 801 and the second resist region 802 are once divided as resist regions, the regions divided as the resist regions are collectively divided into the first resist region 801 and the second resist region. It is necessary to divide the area 802.
Therefore, in step S25, the first resist region 801 and the second resist region 801 are compared with the second resist region based on the difference in the value of the V component value among the HSV components of the pixels in the region divided as the resist region at once. Subdivided into resist regions 802.

ステップS26では、その再分割された画像のノイズの除去を行なう。
ステップS27では、カラー画像の各画素について、RGB成分のうちのG成分の値の大きさに基づいてカラー画像上の穴の領域を抽出し、この抽出した穴の領域の膨張処理を行なう。
ステップS28では、そのカラー画像上の背景領域を設定画素数分だけ膨張させて、非検査領域として設定する。ステップS28では、分割された領域の画像を表示装置6の表示画面上に表示出力する。
In step S26, noise of the subdivided image is removed.
In step S27, for each pixel of the color image, a hole region on the color image is extracted based on the value of the G component of the RGB components, and the expansion processing of the extracted hole region is performed.
In step S28, the background area on the color image is expanded by the set number of pixels and set as a non-inspection area. In step S28, the image of the divided area is displayed and output on the display screen of the display device 6.

(輪郭による各領域の形状の検査)
次に、図3のステップS5で説明した輪郭による各領域の形状の検査の具体的な手順について、図6および図7を参照して説明する。
ステップS31では、分割された領域の画像を入力する。ステップS32では、その入力された分割された領域の輪郭部分の輪郭画素をトレース(追跡)していき、この際に各輪郭画素の方向を調べる。
この輪郭画素の方向は、図7(A)に示すように、注目画素が次の輪郭画素をトレースするときに移動する方向である。この輪郭画素の方向は、図7(A)に示すように8つの方向で定義され、「北方向」、「北東方向」、「東方向」、「南東方向」、「南方向」、「南西方向」、「西方向」、および「北西方向」からなる。
(Inspecting the shape of each area by contour)
Next, a specific procedure for inspecting the shape of each region by the contour described in step S5 in FIG. 3 will be described with reference to FIGS.
In step S31, an image of the divided area is input. In step S32, the contour pixels of the contour portion of the inputted divided area are traced (tracked), and the direction of each contour pixel is examined at this time.
The direction of the contour pixel is a direction in which the target pixel moves when tracing the next contour pixel, as shown in FIG. The directions of the contour pixels are defined in eight directions as shown in FIG. 7A, and are “north direction”, “northeast direction”, “east direction”, “southeast direction”, “south direction”, “southwest direction”. It consists of “direction”, “west direction”, and “north direction”.

具体的には、この輪郭画素の方向は、画像の基準位置である左上から検索を開始し、分割された領域の輪郭画素を見つけると、その輪郭画素上を時計方向回りにトレースしていく。そして、このトレース時に、輪郭画素の方向を決定するために優先順位があり、輪郭画素の方向は、「東方向」、「南方向」、「西方向」、「北方向」、「南東方向」、「南西方向」、「北西方向」、および「北東方向」という順で決定されていく。   Specifically, for the direction of the contour pixel, the search is started from the upper left, which is the reference position of the image, and when the contour pixel of the divided area is found, the contour pixel is traced clockwise. At the time of tracing, there is a priority order for determining the direction of the contour pixel, and the directions of the contour pixel are “east”, “south”, “west”, “north”, “southeast”. , “Southwest direction”, “northwest direction”, and “north direction”.

図7(B)〜図7(E)は、10個の輪郭画素について、各輪郭画素の方向を調べた例を示す。
ステップS33では、その方向を調べた輪郭画素について、例えば10個を一単位として、輪郭画素の方向の総数と、その方向ごとの輪郭画素の総個数とを算出する。
図7(B)の例は、10個の輪郭画素の全てが「東方向」を示している場合である。この場合には、輪郭画素の方向は全て「東方向」で同じであるので、その方向の総数は「1」である。また、その方向のごとの輪郭画素の総個数は、「東方向」の「10」のみである。
FIGS. 7B to 7E show examples in which the direction of each contour pixel is examined for ten contour pixels.
In step S33, the total number of contour pixels in the direction and the total number of contour pixels in each direction are calculated, for example, for 10 contour pixels whose directions are examined.
The example of FIG. 7B is a case where all of the ten contour pixels indicate the “east direction”. In this case, since the directions of the contour pixels are all the same in the “east direction”, the total number of the directions is “1”. Further, the total number of contour pixels in each direction is only “10” in the “east direction”.

図7(C)の例は、10個の輪郭画素のうち「北方向」を示す輪郭画素の総個数が「4」であり、残りの輪郭画素が「東方向」を示しその総個数が「6」である。このため、方向の総数は、「北方向」と「東方向」の「2」である。また、方向ごとの輪郭画素の総個数は、「北方向」が「4」、「東方向」が「6」である。
図7(D)の例では、同様に、方向の総数は「東方向」、「南東方向」、および「北東方向」の「3」である。また、方向ごとの輪郭画素の総個数は、「東方向」が「8」、「南東方向」が「1」、および「北東方向」が「1」である。
In the example of FIG. 7C, the total number of contour pixels indicating “north direction” among the ten contour pixels is “4”, the remaining contour pixels indicate “east direction”, and the total number is “ 6 ”. For this reason, the total number of directions is “2” for “north direction” and “east direction”. The total number of contour pixels in each direction is “4” for “north direction” and “6” for “east direction”.
In the example of FIG. 7D, similarly, the total number of directions is “3” of “east direction”, “southeast direction”, and “north direction”. The total number of contour pixels in each direction is “8” for “east direction”, “1” for “southeast direction”, and “1” for “north direction”.

図7(E)の例では、方向の総数は「東方向」、「南方向」、および「北方向」の「3」である。また、方向ごとの輪郭画素の総個数は、「東方向」が「4」、「南方向」が「3」、および「北方向」が「3」である。
ステップS34では、その算出した方向の総数が3以上であり、かつ、算出した方向ごとの輪郭画素の総個数の中で、最も少ない総個数が設定値以上か否かを判定し、設定値以上の場合には、その最も少ない総個数に含まれる輪郭画素の近傍の輪郭画素を不具合な画素として検出する。ステップS35では、その不具合な画素を表示装置6の表示画面上に出力する。
In the example of FIG. 7E, the total number of directions is “3” in “east direction”, “south direction”, and “north direction”. The total number of contour pixels in each direction is “4” for “east”, “3” for “south”, and “3” for “north”.
In step S34, it is determined whether the calculated total number is 3 or more and the smallest total number of contour pixels in the calculated direction is equal to or greater than a set value. In this case, the contour pixels near the contour pixels included in the smallest total number are detected as defective pixels. In step S35, the defective pixel is output on the display screen of the display device 6.

ここで、上記の設定値が「1」である場合について、図7(B)〜(E)の場合に不具合な画素が検出されるが否かについて説明する。
図7(B)の例は、方向の総数が「1」であり、方向のごとの輪郭画素の総個数が「10」のみである。また、図7(C)の例は、方向の総数が「2」であり、方向ごとの輪郭画素の総個数が「4」と「6」である。このため、図7(B)(C)の例によれば、不具合な画素が検出されて出力されることはない。
Here, in the case where the set value is “1”, whether or not a defective pixel is detected in the case of FIGS. 7B to 7E will be described.
In the example of FIG. 7B, the total number of directions is “1”, and the total number of contour pixels for each direction is only “10”. In the example of FIG. 7C, the total number of directions is “2”, and the total number of contour pixels in each direction is “4” and “6”. Therefore, according to the examples of FIGS. 7B and 7C, defective pixels are not detected and output.

一方、図7(D)の例は、方向の総数が「3」であり、方向ごとの輪郭画素の総個数は、「8」、「1」、および「1」である。また、図7(E)の例は、方向の総数は「3」であり、方向ごとの輪郭画素の総個数は「4」、「3」、および「3」である。このため、図7(B)(C)の例によれば、不具合な画素が検出されて出力されることになる。   On the other hand, in the example of FIG. 7D, the total number of directions is “3”, and the total number of contour pixels in each direction is “8”, “1”, and “1”. In the example of FIG. 7E, the total number of directions is “3”, and the total number of contour pixels in each direction is “4”, “3”, and “3”. Therefore, according to the examples of FIGS. 7B and 7C, defective pixels are detected and output.

(各領域内の特異な部分の色検査の説明)
次に、図3のステップS3で説明した各領域内の特異な部分の色検査の具体的な手順について、図8を参照して説明する。
ステップS41では、検査対象のカラー画像および領域分割後のカラー画像を入力する。ステップS42では、その検査対象のカラー画像について減色処理をする。この減色処理は、例えば、減色前のカラー画像のRGBの各データが8ビットの場合に、そのRGBの8ビットの各データを3ビットの各データに変換するものである。
(Explanation of color inspection of unique parts in each area)
Next, a specific procedure for color inspection of a specific portion in each region described in step S3 in FIG. 3 will be described with reference to FIG.
In step S41, a color image to be inspected and a color image after region division are input. In step S42, color reduction processing is performed on the color image to be inspected. In this color reduction process, for example, when each RGB data of a color image before color reduction is 8 bits, each 8 bits of RGB data is converted into 3 bits of data.

ステップS43では、分割された領域ごとに、減色処理後の検査対象のカラー画像の色分布を調べる。ステップS44では、その調べた色分布に基づいて、所定の範囲外に属する色の画素を色が特異な画素として抽出する。
ステップS45では、抽出された画素の周囲の8近傍の画素のつながりを検出し、検出されたつながりが設定値以上のときには、その設定値以上の塊を不具合な画素として検出する。ステップS46では、その検出した不具合な画素を表示装置6の表示画面上に表示出力する。
In step S43, the color distribution of the color image to be inspected after the color reduction process is checked for each divided area. In step S44, based on the examined color distribution, a pixel having a color outside the predetermined range is extracted as a pixel having a unique color.
In step S45, a connection of eight neighboring pixels around the extracted pixel is detected, and when the detected connection is greater than or equal to a set value, a block larger than the set value is detected as a defective pixel. In step S46, the detected defective pixel is displayed and output on the display screen of the display device 6.

(その他の実施形態)
(1)図5のステップS25では、一括してレジスト領域として分割された領域内について、各画素のHSV成分のうちのV成分の値の大きさの差異に基づいて、第1のレジスト領域801と第2のレジスト領域802に再分割する処理を行なうようにした。
しかし、この処理の差異に、各画素のHSV成分のうちのV成分の値では、RGB成分のうちの一つの成分の値の差異に基づいて行なうようにしても良い。
(Other embodiments)
(1) In step S25 of FIG. 5, the first resist region 801 is determined based on the difference in the value of the V component of the HSV components of each pixel in the region divided as a resist region at once. And a process of re-dividing into the second resist region 802.
However, this processing difference may be performed based on the difference in the value of one of the RGB components in the value of the V component of the HSV components of each pixel.

1 撮像装置
2 画像処理装置
3 画像メモリ
4 記憶装置
5 入力装置
6 表示装置
8 プリント基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Imaging device 2 Image processing device 3 Image memory 4 Storage device 5 Input device 6 Display device 8 Printed circuit board

Claims (10)

検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する画像取得手段と、
当該取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する領域分割手段と、
当該分割された各領域内の色の特異な部分を特定する色検査手段と、
前記分割された各領域の輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、
当該抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する形状検査手段と、
を備えることを特徴とするプリント基板の検査装置。
Image acquisition means for acquiring a color image of a printed circuit board obtained by imaging the printed circuit board to be inspected;
Area dividing means for dividing the obtained color image of the printed circuit board into a plurality of areas according to the difference in color;
Color inspection means for specifying a unique portion of the color in each of the divided areas;
Contour extracting means for extracting the contour of each of the divided areas;
Shape inspection means for inspecting the presence or absence of shape abnormality of each region based on each extracted contour,
A printed circuit board inspection apparatus comprising:
一のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域の形状を特定するデータを、他のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域の形状を特定するデータと比較して、各領域の形状の良否を検査する領域比較検査手段を、
さらに備えることを特徴とする請求項1に記載のプリント基板の検査装置。
Data specifying the shape of each area divided by the area dividing unit for a color image of one printed circuit board, and data specifying the shape of each area divided by the area dividing unit for a color image of another printed circuit board Compared with the area comparison inspection means for inspecting the quality of the shape of each area,
The printed circuit board inspection apparatus according to claim 1, further comprising:
前記色検査手段が検査した各領域の検査結果、前記形状検査手段が検査した各領域の検査結果、および前記領域比較検査手段が検査した各領域の検査結果に基づき、前記一のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域のうちの一部の領域について、前記他のプリント基板のカラー画像について前記領域分割手段で分割された各領域のうちの一部の領域の形状を特定するデータと入れ替えるデータ更新手段を、
さらに備えることを特徴とする請求項2に記載のプリント基板の検査装置。
Based on the inspection result of each area inspected by the color inspection means, the inspection result of each area inspected by the shape inspection means, and the inspection result of each area inspected by the area comparison inspection means, the color of the one printed circuit board For a part of the areas divided by the area dividing unit for the image, the shape of a part of the areas divided by the area dividing unit for the color image of the other printed circuit board is set. Data update means to replace the data to be identified
The printed circuit board inspection apparatus according to claim 2, further comprising:
前記画像取得手段で取得したカラー画像、前記色検査手段が検査した各領域の検査結果、および前記形状検査手段が検査した各領域の検査結果に基づき、検出必要情報および検出不要情報のうちのいずれか一方を設定する設定手段と、
前記検出必要情報が設定されている場合には、前記色検査手段が検査した検査結果および前記形状検査手段が検査した検査結果について、その設定されている検出必要情報に基づいて検出必要部分を不具合な部分として処理する第1処理手段と、
前記検出不要情報が設定されている場合には、前記色検査手段が検査した検査結果および前記形状検査手段が検査した検査結果について、その設定されている検出不要情報に基づいて検出不要部分を不具合でない部分として処理する第2処理手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のうちのいずれか1項に記載のプリント基板の検査装置。
Based on the color image acquired by the image acquisition unit, the inspection result of each region inspected by the color inspection unit, and the inspection result of each region inspected by the shape inspection unit, any of detection necessary information and detection unnecessary information Setting means for setting one of them,
In the case where the detection necessary information is set, the inspection necessary part is defective based on the set necessary detection information for the inspection result inspected by the color inspection means and the inspection result inspected by the shape inspection means. First processing means for processing as a non-part,
When the detection-unnecessary information is set, the detection-unnecessary portion is inferior based on the set detection-unnecessary information for the inspection result inspected by the color inspection unit and the inspection result inspected by the shape inspection unit. Second processing means for processing as a non-part,
The printed circuit board inspection apparatus according to claim 1, further comprising:
前記領域分割手段は、
前記取得したプリント基板のカラー画像の分割すべき複数の領域についてそれぞれ設定されている、その各領域を代表する代表色を取得する代表色取得手段と、
前記プリント基板のカラー画像の各画素の色に基づき、前記代表色取得手段で取得した複数の領域の代表色をそれぞれ参照し、その複数の代表色のうちのいずれか1つに前記各画素の色を変更し、領域の分割を行なう第1の分割手段と、
前記第1の分割手段で分割された領域のうち、所定の領域についてはその領域の色の明度の差異に応じて再分割する第2の分割手段と、
を備えることを特徴とする請求項1乃至請求項4のうちのいずれか1項に記載のプリント基板の検査装置。
The region dividing means includes
Representative color acquisition means for acquiring a representative color representing each of the areas set for each of a plurality of areas to be divided in the color image of the acquired printed circuit board;
Based on the color of each pixel of the color image of the printed circuit board, each representative color of the plurality of regions acquired by the representative color acquisition unit is referred to, and any one of the plurality of representative colors is assigned to each pixel. First dividing means for changing a color and dividing an area;
Of the areas divided by the first dividing means, a second dividing means for re-dividing a predetermined area in accordance with a difference in color brightness of the area;
The printed circuit board inspection apparatus according to claim 1, further comprising:
検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する第1の工程と、
前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する第2の工程と、
前記第2の工程で分割された各領域内の色の特異な部分を特定する第3の工程と、
前記第2の工程で分割された各領域の輪郭を抽出する第4の工程と、
前記第4の工程で抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する第5の工程と、
を備えることを特徴とするプリント基板の検査方法。
A first step of acquiring a color image of a printed circuit board obtained by imaging the printed circuit board to be inspected;
A second step of dividing the color image of the printed circuit board acquired in the first step into a plurality of regions according to a difference in color;
A third step of identifying a unique portion of the color in each region divided in the second step;
A fourth step of extracting the contour of each region divided in the second step;
A fifth step of inspecting whether there is an abnormality in the shape of each region based on each contour extracted in the fourth step;
A printed circuit board inspection method comprising:
同一の複数のプリント基板を検査するプリント基板の検査方法であって、
検査対象であるプリント基板を撮像したプリント基板のカラー画像を取得する第1の工程と、
前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像を色の差異に応じて複数の領域に分割する第2の工程と、
前記第2の工程で分割された各領域内の色の特異な部分を特定する第3の工程と、
前記第2の工程で分割された各領域の輪郭を抽出する第4の工程と、
前記第4の工程で抽出された各輪郭に基づいて各領域の形状の異常の有無を検査する第5の工程と、を備え、
一のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第5の工程までの各処理を行うようにし、
他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第5の工程までの各処理の他に第6の工程の処理を含み、
前記第6の工程では、
前記一のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域の形状を特定するデータを、前記他のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域の形状を特定するデータと比較して、各領域の形状の良否を検査することを特徴とするプリント基板の検査方法。
A printed circuit board inspection method for inspecting a plurality of identical printed circuit boards,
A first step of acquiring a color image of a printed circuit board obtained by imaging the printed circuit board to be inspected;
A second step of dividing the color image of the printed circuit board acquired in the first step into a plurality of regions according to a difference in color;
A third step of identifying a unique portion of the color in each region divided in the second step;
A fourth step of extracting the contour of each region divided in the second step;
A fifth step of inspecting the presence or absence of an abnormality in the shape of each region based on each contour extracted in the fourth step,
When inspecting one printed circuit board, each process from the first to fifth steps is performed,
In the case of inspecting another printed circuit board, the process of the sixth process is included in addition to the processes of the first to fifth processes,
In the sixth step,
The data specifying the shape of each region divided in the second step for the color image of the one printed circuit board is used as the shape of each region divided in the second step for the color image of the other printed circuit board. A method for inspecting a printed circuit board, wherein the quality of each region is inspected for quality compared with data for specifying
前記他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第6の工程までの各処理の他に第7の工程の処理を含み、
前記第7の工程では、
前記第3の工程で検査した各領域の検査結果、前記第5の工程で検査した各領域の検査結果、および前記第6の工程で検査した各領域の検査結果に基づき、前記一のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域のうちの一部の領域について、前記他のプリント基板のカラー画像について前記第2の工程で分割された各領域のうちの一部の領域の形状を特定するデータと入れ替えることを特徴とする請求項7に記載のプリント基板の検査方法。
When inspecting the other printed circuit board, in addition to the processes from the first to sixth processes, the process of the seventh process,
In the seventh step,
The one printed circuit board based on the inspection result of each region inspected in the third step, the inspection result of each region inspected in the fifth step, and the inspection result of each region inspected in the sixth step As for a part of each region divided in the second step for the color image, a part of each region divided in the second step for the color image of the other printed circuit board. The printed circuit board inspection method according to claim 7, wherein the printed circuit board inspection method is replaced with data for specifying a shape of the region.
前記他のプリント基板を検査する場合には、前記第1〜第7の工程までの各処理の他に、前記6の工程と第7の工程との間に第8の工程の処理を含むようにし、
前記第8の工程は、
前記第3の工程で取得したカラー画像、前記第5の工程で検査した各領域の検査結果、および前記第6の工程で検査した各領域の検査結果に基づき、出必要情報および検出不要情報のうちのいずれか一方が設定されているか否かを判定する判定工程と、
前記検出必要情報が設定されていると判定された場合には、前記第5の工程で検査した検査結果および前記第6の工程で検査した検査結果について、その設定されている検出必要情報に基づいて検出必要部分を不具合な部分として処理する第1処理工程と、
前記検出不要情報が設定されていると判定された場合には、前記第5の工程で検査した検査結果および前記第6の工程で検査した検査結果について、その設定されている検出不要情報に基づいて検出不要部分を不具合でない部分として処理する第2処理工程と、
からなることを特徴とする請求項8に記載のプリント基板の検査方法。
When inspecting the other printed circuit board, in addition to the processes from the first to the seventh process, the process of the eighth process is included between the process of the sixth and the seventh process. West,
The eighth step includes
The third color image obtained in step, the inspection result of each area were examined in the fifth step, and on the basis of the sixth test results of each region examined in the step, the necessary information and detection unnecessary information detect A determination step of determining whether or not one of these is set;
When it is determined that the detection necessary information is set, the inspection result inspected in the fifth process and the inspection result inspected in the sixth process are based on the set detection necessary information. A first processing step for processing the necessary detection part as a defective part;
When it is determined that the detection unnecessary information is set, the inspection result inspected in the fifth process and the inspection result inspected in the sixth process are based on the detection unnecessary information set. A second processing step of processing the unnecessary detection portion as a non-defective portion;
The printed circuit board inspection method according to claim 8, comprising:
前記第2の工程は、
前記第1の工程で取得したプリント基板のカラー画像の分割すべき複数の領域についてそれぞれ設定されている、その各領域を代表する代表色を取得する代表色取得工程と、
前記プリント基板のカラー画像の各画素の色に基づき、前記代表色取得工程で取得した複数の領域の代表色をそれぞれ参照し、その複数の代表色のうちのいずれか1つに前記各画素の色を変更し、領域の分割を行なう第1の分割工程と、
前記第1の分割工程で分割された領域のうち、所定の領域についてはその領域の色の明度の差異に応じて再分割する第2の分割工程と、
を備えることを特徴とする請求項6乃至請求項9のうちのいずれか1項に記載のプリント基板の検査方法。
The second step includes
A representative color acquisition step of acquiring a representative color representing each of the regions set for each of a plurality of regions to be divided in the color image of the printed circuit board acquired in the first step;
Based on the color of each pixel of the color image of the printed circuit board, the representative colors of the plurality of regions acquired in the representative color acquisition step are respectively referred to, and any one of the plurality of representative colors is assigned to each pixel. A first dividing step of changing the color and dividing the area;
Among the areas divided in the first dividing step, a second dividing step of re-dividing a predetermined area according to a difference in brightness of the color of the area;
The printed circuit board inspection method according to claim 6, further comprising:
JP2010126233A 2010-06-01 2010-06-01 Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same Pending JP2011252770A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010126233A JP2011252770A (en) 2010-06-01 2010-06-01 Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010126233A JP2011252770A (en) 2010-06-01 2010-06-01 Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011252770A true JP2011252770A (en) 2011-12-15

Family

ID=45416822

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010126233A Pending JP2011252770A (en) 2010-06-01 2010-06-01 Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011252770A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106483145A (en) * 2016-11-29 2017-03-08 深圳宜美智科技有限公司 Pcb board automatic detection device and automatic testing method
CN111665264A (en) * 2019-03-07 2020-09-15 株式会社斯库林集团 Representative color determining method, inspection device, inspection method, and recording medium
KR20220129770A (en) * 2021-03-17 2022-09-26 주식회사 스피어테크 Apparatus for checking product

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106483145A (en) * 2016-11-29 2017-03-08 深圳宜美智科技有限公司 Pcb board automatic detection device and automatic testing method
CN106483145B (en) * 2016-11-29 2017-12-26 深圳宜美智科技有限公司 Pcb board automatic detection device and automatic testing method
CN111665264A (en) * 2019-03-07 2020-09-15 株式会社斯库林集团 Representative color determining method, inspection device, inspection method, and recording medium
KR20200107760A (en) * 2019-03-07 2020-09-16 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Representative color determination method, inspecting apparatus, inspecting method and program
KR102399373B1 (en) * 2019-03-07 2022-05-17 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Representative color determination method, inspecting apparatus, inspecting method and program
CN111665264B (en) * 2019-03-07 2023-07-04 株式会社斯库林集团 Representative color determining method, inspection device, inspection method, and recording medium
KR20220129770A (en) * 2021-03-17 2022-09-26 주식회사 스피어테크 Apparatus for checking product
KR102579473B1 (en) * 2021-03-17 2023-09-18 주식회사 스피어테크 Apparatus for checking product

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4399494B2 (en) Defect detection apparatus, defect detection method, image sensor device, and image sensor module
KR100846633B1 (en) Method and apparatus for detecting defects of patterns
WO2016039041A1 (en) Overlay measurement method, device and display device
KR20040026157A (en) Method of setting reference images, method and apparatus using the setting method for inspecting patterns on a wafer
KR20100053442A (en) Defect inspection device and defect inspection method
CN109472271B (en) Printed circuit board image contour extraction method and device
TWI758609B (en) Image generation device and image generation method
JP5364528B2 (en) Pattern matching method, pattern matching program, electronic computer, electronic device inspection device
JP5660861B2 (en) Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus on substrate
CN114972173A (en) Defect detection method, defect detection device and system
JP2011252770A (en) Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same
JP2011227748A (en) Image processing apparatus, image processing method, image processing program, and defect detection apparatus
JP2006098217A (en) Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program
CN114529500A (en) Defect inspection method for display substrate
JP2010145145A (en) Device and method for inspecting circuit pattern, and test pattern
JP2011008482A (en) Defect detection method, defect detection device and defect detection program
JP3691503B2 (en) Inspection method and inspection apparatus for printed matter
JP4131804B2 (en) Mounting component inspection method
JP2010091360A (en) Method and device for inspecting image
US11080860B2 (en) Image inspection method
JP2000249658A (en) Inspection apparatus
JPH05256791A (en) Inspecting apparatus of defect of board
JP5130257B2 (en) Image processing device
JP2006284543A (en) Method and device for inspecting mounted circuit board
JP2015219141A (en) Printed substrate inspection device and inspection method of the same